JP4767086B2 - 2光束干渉計の偏波依存性測定方法および装置 - Google Patents
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Description
・偏波変動に伴う、干渉強度のピーク波長のシフトの最大値
・偏波変動に伴う、消光比劣化の最悪値
また、本発明は、外部のパッチファイバや光コネクタに偏波依存性のロスがある場合でも、その影響を受けずに上記の偏波依存性を測定する方法および手段を提供することにある。
で表したときのθinをθjに設定するステップと、j>kなる整数kについて、θj−θk=nπとなったとき前記θjの値を他の値に変更するステップと、入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求めるステップと、前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得るステップと、得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求めるステップと、前記低損失側の交点の正規化損失RHと前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)から、RH/RLにより消光比の最悪値を求めるステップとを有するところにある。
で表したときのθinをθjに設定するステップと、j>kなる整数kについて、θj−θk=nπとなったとき前記θjの値を他の値に変更するステップと、入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求めるステップと、前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得るステップと、得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求めるステップと、前記低損失側の交点の光周波数FHと、前記低損失側の交点に隣接する前記大損失側の交点の光周波数FL(ここでFH>FL)から、(FH−FL)×2によりFSR(Free
Spectrum Range)を求めるステップとを有することを特徴とする。
で表したときのθinをθjに設定するステップと、j>kなる整数kについて、θj−θk=nπとなったとき前記θjの値を他の値に変更するステップと、入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求めるステップと、前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が0.5(−3dB)になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得るステップと、得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求めるステップと、前記低損失側の交点の正規化損失RHまたは前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)のどちらか一つを用い、
2×ΔF=FSR×Δθ/π
(ただし、Δθ=cos-1(2×RH−1)=cos-1(−2×RL+1))
から、入力光の偏波変動に伴う干渉強度のピークのシフト量の最悪値2×ΔFを求めるステップとを有することを特徴とする。
|Eout(FH)|2=1/2{1+cos(2πΔτ・FH)}≡RH
|Eout(FL)|2=1/2{1−cos(2πΔτ・FL)}≡RL
(ただし、Eout(FH)は、F=FHにおける2光束干渉計の出力の電場、Eout(FL)は、F=FLにおける2光束干渉計の出力の電場、Δτは光周波数Fに依存しない定数)
の対称性を利用して計算により求めるステップを含むことができる。
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
(ただし、ΔF≡Δτ×F/τAvg、FSR=1/τAvg、τAvgは光周波数Fに依存しない定数)
をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完するステップを含むことができる。
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
におけるΔFを光周波数Fに依存しない定数とみなして、測定データに当該数式をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完するステップを含むことができる。
θj=θk+2nπ+π/2(nは整数)
なる組み合わせが1つ以上存在するようにθjを設定するステップを含むことができる。
で表したときのθinをθjに設定する手段と、j>kなる整数kについて、θj−θk=nπとなったとき前記θjの値を他の値に変更する手段とを備え、前記損失スペクトル測定手段は、入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求める手段と、前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得る手段と、得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求める手段と、前記低損失側の交点の正規化損失RHと前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)から、RH/RLにより消光比の最悪値を求める手段とを含むところにある。
で表したときのθinをθjに設定する手段と、j>kなる整数kについて、θj−θk=nπとなったとき前記θjの値を他の値に変更する手段とを備え、損失スペクトル測定手段は、入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求める手段と、前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得る手段と、得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求める手段と、前記低損失側の交点の光周波数FHと、前記低損失側の交点に隣接する前記大損失側の交点の光周波数FL(ここでFH>FL)から、(FH−FL)×2によりFSRを求める手段とを含むことを特徴とする。
で表したときのθinをθjに設定する手段と、j>kなる整数kについて、θj−θk=nπとなったとき前記θjの値を他の値に変更する手段とを備え、前記損失スペクトル測定手段は、入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求める手段と、前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が0.5(−3dB)になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得る手段と、得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求める手段と、前記低損失側の交点の正規化損失RHまたは前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)のどちらか一つを用い、
2×ΔF=FSR×Δθ/π
(ただし、Δθ=cos-1(2×RH−1)=cos-1(−2×RL+1))
から、干渉強度のピークのシフト量の最悪値2×ΔFを求める手段とを含むことを特徴とする。
|Eout(FH)|2=1/2{1+cos(2πΔτ・FH)}≡RH
|Eout(FL)|2=1/2{1−cos(2πΔτ・FL)}≡RL
(ただし、Eout(FH)は、F=FHにおける2光束干渉計の出力の電場、Eout(FL)は、F=FLにおける2光束干渉計の出力の電場、Δτは光周波数Fに依存しない定数)
の対称性を利用して計算により求める手段を含むことができる。
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
(ただし、ΔF≡Δτ×F/τAvg、FSR=1/τAvg、τAvgは光周波数Fに依存しない定数)
をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完する手段を含むことができる。
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
におけるΔFを光周波数Fに依存しない定数とみなして、測定データに当該数式をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完する手段を含むことができる。
θj=θk+2nπ+π/2(nは整数)
なる組み合わせが1つ以上存在するようにθjを設定する手段を含むことができる。
で表すことができる。光の強度は電場の内積に比例するが、ここでは内積が1となるように正規化してある。Einの第1行はfast軸に平行な電場成分であり、第2行はslow軸に平行な電場成分である。θinやφinは入力光の偏波状態を表す。出力時の電場は、
であり、出力時の光の強度は、
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(τ1s−τ2s)F)+sin2θin・cos(2π(τ1f−τ2f)F} …(式3)
となる。ここで、(τ1s−τ2s)と(τ1f−τ2f)の平均値をτAvgとして
τ2s−τ1s=τAvg+Δτ
τ2f−τ2f=τAvg−Δτ …(式4)
τAvg×FH=n(nは整数)
τAvg×FL=1/2+m(mは整数) …(式5)
を満たすΔτおよびFL、FHを考える。
cos(2π(τ1s−τ2s)FL)=cos(2π(τ1f−τ2f)FL)=−cos(2π・Δτ・FL) …(式7)
であるから、式3より、F=FLおよびF=FHにおいて光出力強度は、
|Eout|2=1/2{1+cos(2π・Δτ・FH)}≡RH …(式8)
|Eout|2=1/2{1−cos(2π・Δτ・FL)}≡RL …(式9)
となる。このとき出力光の強度はθinやφinに依存しない。
(a)入力がθin=0またはθin=π/2の直線偏波であるとき、干渉強度の山(または谷)が1(または0)となる。
(b)入力がθin=0のとき、干渉強度のピークは最も低周波数側にシフトし、入力がθin=π/2のとき、干渉強度のピークは最も高周波数側にシフトする。
(c)入力偏波がいかなる状態であろうと、光周波数がF=FLおよびF=FHであるとき干渉強度は各々RL、RHとなる。
(d)入力偏波のθinがπ/2変化すると、干渉強度の山(または谷)はFL(またはFH)を挟んで対称的な位置に移動する。
(e)入力偏波のθinを固定して光周波数Fを変更したとき、干渉強度は0.5を中心として変動する。
と定義し、式4を用いて、
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
ただし、ΔF≡Δτ×F/τAvg、FSR≡1/τAvg …(式10)
を得る。FSRはFree Spectrum Rangの周波数表記に相当し、2×ΔFは、偏波変動に伴う干渉強度のピークのシフト量の最大値に相当する(図2参照)。式10と測定された不動点の位置から、干渉計の光学特性に関して、以下の情報を得ることができる。
(f)消光比の最悪値は、RH/RLである(図2のθin=π/4のカーブ参照)。
(g)隣接するFH、FLから、FSR=(FH−FL)×2が求まる。
(h)ピークのシフト量の最悪値は2×ΔF=FSR×Δθ/πである。
次に、干渉計内外の光学パーツの光損失や、測定器の偏波依存性が無視できないという、より現実的な状態について説明する。実験によって得られる干渉強度は、光学パーツのデッドロスその他の原因により、入力光の強度より必ず小さくなる。また、出力光の強度を測定する測定器の感度や、パッチファイバの損失に偏波依存性があると、図2に示した不動点に誤差が生じる。
補正係数
=1/(干渉強度の最大値+干渉強度の最小値)
=1/(損失スペクトルの最大値+損失スペクトルの最小値)…(式11)
となる。一例として、あるθinにおいて、損失スペクトルの最大値が0.553(約−3dB)、最小値が0.0527(約−13dB)であったならば、補正係数は1/(0.553+0.0527)=1.65となる。補正後の損失スペクトルは、最大値が0.553×1.65=0.912、最小値が0.0527×1.65=0.087であり、平均値は0.5に正規化される。ここでは干渉計外部のPDLについて説明したが、測定器の感度の偏波依存性や、コネクタのデッドロスなど偏波に無依存な干渉計外部の損失についても同様の手順で補正することができる。
図4に、本発明の2光束干渉計の偏波依存性測定手段の基本構成を示す。プローブ光発生手段1は、複数の波長の光を出力することができる。これら複数の光は同時に出力してもよいし、あるいは、別々に出力してもよい。
Under Test)3は、測定対象となる2光束干渉計である。損失スペクトル測定手段4は、DUT3の光損失の光周波数依存性を測定する機能を有する。各デバイスは空間系あるいは光導波路により図4のごとく接続されている。
図6に、本発明の2光束干渉計の偏波依存性測定手段の第一の実施形態を示す。この例では、プローブ光発生手段としてASE光源11を用い、偏波変更手段として回転式ポラライザ12を用い、損失スペクトル測定手段として光スペクトルアナライザ14を用いる。また、DUTはMZI13である。
で表される。光ファイバは一般に偏波を保持しないため、E0が直線偏波であっても出力時には位相のずれφinが発生する。また、座標軸の取り方によってはθinとθ0とは異なる。しかし、θ0がΔθ変化すると、θinもまたΔθ変化する。
図8に、本発明の2光束干渉計の偏波依存性測定手段の第二の実施形態を示す。この例ではプローブ光発生手段として波長可変光源21を用い、偏波偏光手段として偏波コントローラ22を用い、損失スペクトル測定手段としてパワメータ23および波長計24を用いる。
図10に、本発明の2光束干渉計の偏波依存性測定手段の第三の実施形態を示す。第一および第二の実施形態では、2光束干渉計の有する2つの光路の長さは各々一定であるものとして説明を行ってきた。しかし、現実の2光束干渉計は、光学特性を可変にするために、2つの光路長の微調整手段を持たせるのが一般的である。2本の光路長の差をdとすると、干渉強度は、プローブ光の波長λとdとの比率によって定まる。
2 偏波変更手段
3 DUT
4 損失スペクトル測定手段
11 ASE光源
12 回転式ポラライザ
13、33 MZI
14 光スペクトルアナライザ
21 波長可変光源
22、32 偏波コントローラ
23、36 パワメータ
24 波長計
31 単一波長光源
34 ヒータ
35 光路長調整手段
Claims (23)
- 2光束干渉計の偏波依存性を測定する方法であって、
2以上の整数Nと、1≦j≦Nなる整数jと、0を含む整数nについて、
測定対象の2光束干渉計の入力の偏波状態を
入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求めるステップと、
前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得るステップと、
得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求めるステップと、
前記低損失側の交点の正規化損失RHと前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)から、RH/RLにより消光比の最悪値を求めるステップと
を有することを特徴とする2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - 2光束干渉計の偏波依存性を測定する方法であって、
2以上の整数Nと、1≦j≦Nなる整数jと、0を含む整数nについて、
測定対象の2光束干渉計の入力の偏波状態を
入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求めるステップと、
前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得るステップと、
得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求めるステップと、
前記低損失側の交点の光周波数FHと、前記低損失側の交点に隣接する前記大損失側の交点の光周波数FL(ここでFH>FL)から、(FH−FL)×2によりFSR(Free Spectrum Range)を求めるステップと
を有することを特徴とする2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - 2光束干渉計の偏波依存性を測定する方法であって、
2以上の整数Nと、1≦j≦Nなる整数jと、0を含む整数nについて、
測定対象の2光束干渉計の入力の偏波状態を
入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求めるステップと、
前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が0.5(−3dB)になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得るステップと、
得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求めるステップと、
前記低損失側の交点の正規化損失RHまたは前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)のどちらか一つを用い、
2×ΔF=FSR×Δθ/π
(ただし、Δθ=cos-1(2×RH−1)=cos-1(−2×RL+1))
から、入力光の偏波変動に伴う干渉強度のピークのシフト量の最悪値2×ΔFを求めるステップと
を有することを特徴とする2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - 前記交点を求めるステップは、N種類の前記正規化損失スペクトルが1つの交点で交わらないときには、N種類の前記正規化損失スペクトルからいずれか2つを選択し、その交点の光周波数と損失とを求める作業を複数の異なる正規化損失スペクトルの組み合わせについてそれぞれ実行し、得られた各光周波数および損失の平均値から前記RH、RL、FH、FLをそれぞれ求めるステップを含む請求項1ないし3のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定方法。
- 前記交点を求めるステップは、先に求めた前記N種類の正規化損失スペクトルの交点から前記RHまたはRLのうちの片方のみを求め、他の一つは、数式
|Eout(FH)|2=1/2{1+cos(2πΔτ・FH)}≡RH
|Eout(FL)|2=1/2{1−cos(2πΔτ・FL)}≡RL
(ただし、Eout(FH)は、F=FHにおける2光束干渉計の出力の電場、Eout(FL)は、F=FLにおける2光束干渉計の出力の電場、Δτは光周波数Fに依存しない定数)
の対称性を利用して計算により求めるステップを含む請求項1ないし3のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - 前記測定するステップは、測定データに、数式
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
(ただし、ΔF≡Δτ×F/τAvg、FSR=1/τAvg、τAvgは光周波数Fに依存しない定数)
をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完するステップを含む請求項1ないし3のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - 前記測定するステップは、数式
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
におけるΔFを光周波数Fに依存しない定数とみなして、測定データに当該数式をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完するステップを含む請求項6記載の2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - 前記θinをθjに設定するステップは、異なるj、kについて、
θj=θk+2nπ+π/2(nは整数)
なる組み合わせが1つ以上存在するようにθjを設定するステップを含む請求項1ないし3のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定方法。 - プローブ光発生手段と、
このプローブ光発生手段から出射されたプローブ光の偏波を変更して測定対象の2光束干渉計に入射させる偏波変更手段と、
前記2光束干渉計からの出射光の損失スペクトルを測定する損失スペクトル測定手段と
を備えた、2光束干渉計の偏波依存性を測定する偏波依存性測定装置であって、
前記偏波変更手段は、
2以上の整数Nと、1≦j≦Nなる整数jと、0を含む整数nについて、
測定対象の2光束干渉計の入力の偏波状態を
前記損失スペクトル測定手段は、
入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求める手段と、
前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得る手段と、
得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求める手段と、
前記低損失側の交点の正規化損失RHと前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)から、RH/RLにより消光比の最悪値を求める手段と
を含むことを特徴とする2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - プローブ光発生手段と、
このプローブ光発生手段から出射されたプローブ光の偏波を変更して測定対象の2光束干渉計に入射させる偏波変更手段と、
前記2光束干渉計からの出射光の損失スペクトルを測定する損失スペクトル測定手段と
を備えた、2光束干渉計の偏波依存性を測定する偏波依存性測定装置であって、
前記偏波変更手段は、
2以上の整数Nと、1≦j≦Nなる整数jと、0を含む整数nについて、
測定対象の2光束干渉計の入力の偏波状態を
損失スペクトル測定手段は、
入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求める手段と、
前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が所定の定数になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得る手段と、
得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求める手段と、
前記低損失側の交点の光周波数FHと、前記低損失側の交点に隣接する前記大損失側の交点の光周波数FL(ここでFH>FL)から、(FH−FL)×2によりFSR(Free Spectrum Range)を求める手段と
を含むことを特徴とする2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - プローブ光発生手段と、
このプローブ光発生手段から出射されたプローブ光の偏波を変更して測定対象の2光束干渉計に入射させる偏波変更手段と、
前記2光束干渉計からの出射光の損失スペクトルを測定する損失スペクトル測定手段と
を備えた、2光束干渉計の偏波依存性を測定する偏波依存性測定装置であって、
前記偏波変更手段は、
2以上の整数Nと、1≦j≦Nなる整数jと、0を含む整数nについて、
測定対象の2光束干渉計の入力の偏波状態を
前記損失スペクトル測定手段は、
入力光の偏波がθin=θjにおける、前記2光束干渉計の損失スペクトルを求める手段と、
前記損失スペクトルの正弦波状のカーブの最大値と最小値との平均が0.5(−3dB)になるよう、損失スペクトルに補正係数を掛けて、θin=θjにおける正規化損失スペクトルを得る手段と、
得られたN種類の前記正規化損失スペクトルが、干渉強度が最小となる光周波数近傍で作る大損失側の交点または干渉強度が最大となる光周波数近傍で作る低損失側の交点を求める手段と、
前記低損失側の交点の正規化損失RHまたは前記大損失側の交点の正規化損失RL(ここで1≧RH>RL≧0)のどちらか一つを用い、
2×ΔF=FSR×Δθ/π
(ただし、Δθ=cos-1(2×RH−1)=cos-1(−2×RL+1))
から、干渉強度のピークのシフト量の最悪値2×ΔFを求める手段と
を含むことを特徴とする2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - 前記交点を求める手段は、N種類の前記正規化損失スペクトルが1つの交点で交わらないときには、N種類の前記正規化損失スペクトルからいずれか2つを選択し、その交点の光周波数と損失とを求める作業を複数の異なる正規化損失スペクトルの組み合わせについてそれぞれ実行し、得られた各光周波数および損失の平均値から前記RH、RL、FH、FLをそれぞれ求める手段を含む請求項9ないし11のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
- 前記交点を求める手段は、先に求めた前記N種類の正規化損失スペクトルの交点から前記RHまたはRLのうちの片方のみを求め、他の一つは、数式
|Eout(FH)|2=1/2{1+cos(2πΔτ・FH)}≡RH
|Eout(FL)|2=1/2{1−cos(2πΔτ・FL)}≡RL
(ただし、Eout(FH)は、F=FHにおける2光束干渉計の出力の電場、Eout(FL)は、F=FLにおける2光束干渉計の出力の電場、Δτは光周波数Fに依存しない定数)
の対称性を利用して計算により求める手段を含む請求項9ないし11のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - 前記損失スペクトル測定手段は、測定データに、数式
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
(ただし、ΔF≡Δτ×F/τAvg、FSR=1/τAvg、τAvgは光周波数Fに依存しない定数)
をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完する手段を含む請求項9ないし11のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - 前記損失スペクトル測定手段は、数式
|Eout|2=1/2{1+cos2θin・cos(2π(F+ΔF)/FSR)+sin2θin・cos(2π(F−ΔF)/FSR)}
におけるΔFを光周波数Fに依存しない定数とみなして、測定データに当該数式をフィッティングすることにより、測定領域外または各測定値間の間隙を補完する手段を含む請求項14記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - 前記θinをθjに設定する手段は、異なるj、kについて、
θj=θk+2nπ+π/2(nは整数)
なる組み合わせが1つ以上存在するようにθjを設定する手段を含む請求項9ないし11のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - 前記プローブ光発生手段は、ASE光源であり、前記偏波変更手段は、回転式ポラライザである請求項9ないし16のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
- 前記プローブ光発生手段は、波長可変光源であり、前記偏波変更手段は、偏波コントローラである請求項9ないし16のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
- 前記損失スペクトル測定装置は、光スペクトルアナライザである請求項9ないし16のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
- 前記損失スペクトル測定手段は、光パワメータと波長計とにより構成される請求項9ないし16のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
- 前記光パワメータと前記波長計とは、前記2光束干渉計の有する2つの出力ポートのそれぞれに接続される請求項20記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
- 前記プローブ光発生手段と、前記偏波変更手段と、前記2光束干渉計と、前記損失スペクトル測定手段とは、相互に光導波路により接続され、
この光導波路は、偏波保持ファイバである
請求項9ないし21のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。 - 前記プローブ光発生手段は単一波長光源であり、前記損失スペクトル測定手段はパワメータおよび光路長調整手段からなり、前記損失スペクトル測定手段は2光束干渉計の有する光導波路の長さを連続的に変更することによって損失スペクトルの測定を行う請求項9ないし16のいずれかに記載の2光束干渉計の偏波依存性測定装置。
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