JP4750314B2 - 圧痕形成機構および硬さ試験機 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、昇降自在に配設される圧子を押圧させて試料表面に圧痕を形成させる圧痕形成機構および硬さ試験機に関する。
【0002】
【従来の技術】
圧子により試料表面に試験力を負荷して圧痕を形成させることに基づいて、試料の特性を評価する試験機が知られている。これらの試験機として、例えばロックウェル硬さ試験機やブリネル硬さ試験機等の硬さ試験機がある。
【0003】
これら硬さ試験機では、例えば圧子の下方に備えられる試料台に試料を載置させ、下降させた圧子を試料表面に押圧させることにより試料表面に所定の試験力を付与して圧痕を形成する。
ところで、試料と圧子との位置関係が、所望の位置に圧痕を形成させる正しい配置になっているか否かは、圧子を試料表面の近傍まで下降させて初めて目視によって判断できる。そして正しい配置になっていないと、圧子を再び上昇させて試料を設置し直す。その後、再び圧子を試料表面の近傍まで下降させて正しい配置となっているか否かを確認する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような作業を、試料と圧子とが正しい配置となるまでくり返し行うと、多くの手間がかかり迅速な測定に支障をきたす。特に、手で持ちきれないような重量物を試料とする場合には、試料を設置し直す作業にかかる負担は極めて大きくなってしまう。
【0005】
本発明の課題は、試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる圧痕形成装置および硬さ試験機を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
以上の課題を解決するため、請求項1記載の発明は、例えば、図1、2に示すように、
昇降自在に配設される圧子2cを押圧させて試料表面Qに圧痕を形成させる圧痕形成機構2であって、
下降させた前記圧子の先端が前記試料表面に接触する位置を認識するための指標を該試料表面に形成させる指標形成手段(例えば、光源21)を備え、
前記指標形成手段は、前記圧子が移動する方向と略平行に前記試料表面を照光し、該試料表面の照光された部分を前記指標として表示させる照光手段(例えば、光源21)であり、且つ、前記圧子が下端に設けられてなる圧子軸の外周面と略同心円状に配設される支持部材(例えば、指示部材20)により支持されており、
前記指標は、各光源によって前記試料表面の照光された部分を辿ることにより所定の図形(例えば、リング状)が形成される照光パターンPであり、
該照光パターンの図形の中心と、前記圧子の先端が試料表面に接触する位置とが対応するように設定されていることを特徴とする。
【0007】
請求項1記載の発明によれば、指標形成手段によって試料表面に形成される指標から、圧子を下降させた時にその先端が接触する位置を認識できる。これにより作業者は、圧子を試料表面から遠ざけた状態で、この指標に基づいて試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる。
また、照光手段によって形成される指標に基づいて、試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる。また、照光手段によって試料表面を照らすことにより指標を形成させるので、この指標を消した後の試料表面には何ら痕跡が残らない。
また、複数の光源によって試料表面に照光パターンが表示される。この照光パターンによって示される図形の中心は、圧子の先端が接触する位置に対応している。従って作業者は、照光パターンの図形の中心を視覚的に把握し、試料の圧痕を形成させるべき位置が照光パターンの図形の中心となるように位置合わせすることで、試料の位置決めがより容易となる。
【0008】
請求項2記載の発明は、例えば、図1、2に示すように、昇降自在に配設される圧子2cを押圧させて試料表面Qに圧痕を形成させる圧痕形成機構2であって、
下降させた前記圧子の先端が前記試料表面に接触する位置を認識するための指標を該試料表面に形成させる指標形成手段(例えば、光源21)を備え、
前記指標形成手段は、前記圧子が移動する方向と略平行に前記試料表面を照光し、該試料表面の照光された部分を前記指標として表示させる照光手段(例えば、光源21)であり、
前記指標は、各光源によって前記試料表面の照光された部分を辿ることにより所定の図形(例えば、リング状)が形成される照光パターンPであり、
該照光パターンの図形の中心と、前記圧子の先端が試料表面に接触する位置とが対応するように設定されていることを特徴とする。
【0009】
請求項2記載の発明によれば、請求項1と同様の効果を奏することができる。
【0012】
請求項3記載の発明は、請求項1又は2記載の圧痕形成機構において、例えば、図1、2に示すように、
前記複数の光源は、前記圧子を囲むようにリング状に配設されており、
該リングの中心は、前記圧子の先端が移動する方向の軸線上にあることを特徴とする。
【0013】
請求項3記載の発明によれば、請求項1又は2と同様の効果を奏することができると共に、圧子の先端が接触する位置を中心とするリング状の指標が試料表面に形成される。また指標がリング状に形成されるので、その中心を視覚的に把握することも容易である。そしてこのリング状の指標の中心が、圧痕を形成させるべき位置となるように試料を位置合わせすることで、試料の位置決めがより容易となる。
【0014】
請求項4記載の発明は、例えば、図1に示すように、請求項1〜3のいずれか一つに記載の圧痕形成機構を備える硬さ試験機1であることを特徴とする。
【0015】
請求項4記載の発明によれば、請求項1〜3のいずれか一つと同様の効果を奏することができると共に、試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる硬さ試験機が得られる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図1、2を参照して、本発明の実施の形態の硬さ試験機1を詳細に説明する。
この硬さ試験機1は、手作業により持ち運びできないような重量物である試料Sの硬さを測定するものであり、図1に模式的に示すように、作業台10と、この作業台10の上面から垂直に起立する柱材11aに水平に支持される板状のアーム11と、このアーム11に上下動可能に支持される圧痕形成機構2とから概略構成される。
この圧痕形成機構2は、アーム11の一側面に上下動自在に配設される支持部2aと、この支持部2aの下端から垂直下方に延在する圧子軸2bと、この圧子軸2bの下端から下方に突出する圧子2cとを備える。また、圧痕形成機構2には、硬さ試験機1の一連の動作を制御する図示しない制御部が接続されている。
【0017】
そして圧子軸2bには、図2にその要部を拡大して示すように、リング状の支持部材20が固定的に設けられている。この支持部材20は、そのリング状の内面から圧子軸2bの外周面に至る複数本のスポーク状部材20aによって、圧子軸2bに固定されている。この支持部材20は圧子軸2bの外周面と略同心円状に配設されると共に、この支持部材20の中心は圧子2cの先端を通る垂線上にある。
この支持部材20には、発光ダイオード(light emitting diode:LED)やレーザビーム等からなる多数の光源(指標形成手段、照光手段)21が支持されている。これら光源21は支持部材20のリングに沿って互いに等間隔に離間している。それぞれの光源21は、ある程度離れていても光が届き、その垂直下方を明瞭に照光できるものが選択されている。これにより圧子2cの下方に試料Sを配置すると、その試料表面Qにはそれぞれの光源21によって照光された部分21aを辿ってなるリング状の照光パターン(指標)P(点線により図示)が表示される。
【0018】
この硬さ試験機1を使用して以下の通りにして試料Sの硬さを測定する。
始めに、試料Sを作業台10に載置させるために、圧痕形成機構2を上昇させて圧子2cと作業台10の上面との間に充分な間隔を空けておく。
次いで、図示しない天井クレーン等により重量物である試料Sを作業台10上で圧子2cの下方に載置させる。
ここで光源21を照光させて試料Sの表面Qに照光パターンPを表示させる。各光源21によって照光された部分21aから試料表面Qにリング状の照光パターンPが表示される。そして、試料表面Qの圧痕を形成すべき位置(図2に測定位置Aとして図示)が照光パターンPの中心となるように、試料Sを作業台10上で微調整して位置合わせする。こうして圧痕を形成する位置を一度で確実に位置決めできる。
【0019】
この状態で圧痕形成機構2を下降させると、リング状の照光パターンPの中心である測定位置Aに圧子21が正確に接触する。さらに圧痕形成機構2を下降させ、圧子2cを試料表面Qに押圧させて所定の試験力を付与することにより、測定位置Aに圧痕を形成させる。こうして圧痕を形成する過程で、硬さ試験機1に備えられる図示しない制御部は、試料Sに侵入する圧子2cの深さを所定条件で取得し、予め定められた算出式に基づいて試料Sの硬さを評価する。
【0020】
また、同一の試料Sの異なる箇所で硬さを測定するには、再び圧子2cを遠ざけて試料表面Qに照光パターンPを表示させる。次いで、この照光パターンPに基づいて試料Sの位置を調整し、既に形成された圧痕を避けるように試料を位置決めする。このように、既に多数の圧痕が形成されている試料表面Qにおいても、未だ圧痕が形成されていない箇所を選んで新たな圧痕を形成できる。
【0021】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されるものではない。
例えば、指標形成手段の具体的な構成およびこの指標形成手段によって表示される照光パターンPは適宜に変形可能であることは勿論である。
本実施の形態では、指標形成手段として多数の光源21により照光されてなる照光パターンPを表示するように構成したが、1つのスポット照明のみから指標を表示させる構成としても良い。この場合には、前記スポット照明の位置が圧子2cの先端から水平に離間する距離(以下「補正距離」と称す)を予め把握しておく。これにより作業者はスポット照明によって照光される指標から前記補正距離だけずれた位置に圧子2cの先端が下降することを認識できる。また、このようなスポット照明を複数箇所に配設しても良い。この場合には、これらスポット照明によって照光される複数の部分によって、作業者は圧子2cの先端が下降する位置をより正確に認識できる。
【0022】
また、本実施の形態では、照光パターンPをリング状に表示させたが、圧子2cの先端が試料表面Qに下降する位置が認識できれば、矩形状、多角形状の指標を表示させても良い。これらの場合にも、圧痕を形成すべき位置がこれらの指標の中心となるように、試料Sを位置合わせして作業台10に載置すれば良い。
【0023】
また、本実施の形態では、リング状の支持部材20は圧子軸2bに固定的に配設したが、アーム11等の機枠に固定的に配設しても良い。この場合には、圧子2cの周辺が昇降する時にリング状の支持部材20と干渉しないように、例えば、リング状の支持部材20の内径を圧子軸2bの外径より大きく構成する。
さらに、本実施の形態では、リング状の支持部材20によって各光源21を同一面上に配設したが、それぞれの光源21を異なる高さに配設しても試料表面Qにはリング状の照光パターンPが表示される。即ち、それぞれの光源21が設けられる位置の試料表面Qへの正射影が照光パターンとなる。例えば、圧子軸2bの外周面から異なる高さで水平に延在する支持棒を各光源21に対応して配設すると共に、これら支持棒に各光源21を支持させる。
【0024】
さらに、各光源21の下方に各光源21から届く光を反射・集光させ、圧子2cの下降する位置そのものが照光されるように構成しても良い。例えば、各光源21からの光を圧子2cが試料表面Qに下降する位置に向かう方向に反射させるミラーと、このミラーにより反射された光を集光するレンズとをそれぞれ所定の高さに設け、これらミラーおよびレンズを、試料表面Qの圧子2cが下降する位置そのものを照光できるように配設する。この場合には、試料Sの位置決めがさらに容易となる。
【0025】
また、本実施の形態では、手作業により持ち運びできないような大型の試料Sの硬さを測定する硬さ試験機1に適用したが、ロックウェル硬さ試験機、ブリネル硬さ試験機等の従来の硬さ試験機にも適用可能であることは勿論である。
その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、適宜に変更可能であることは勿論である。
【0026】
【発明の効果】
請求項1記載の発明によれば、指標形成手段によって試料表面に形成される指標に基づいて、圧子を試料表面から遠ざけた状態で、試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる。
また、照光手段によって形成される指標に基づいて、試料表面に圧痕を形成させる位置を一度で確実に決めることができる。
また、照光パターンの図形の中心を把握し、この中心が試料の圧痕を形成させるべき位置となるように位置合わせすることで、試料の位置決めがより容易となる。
【0027】
請求項2記載の発明によれば、請求項1と同様の効果を奏することができる。
【0029】
請求項3記載の発明によれば、請求項1又は2と同様の効果を奏することができると共に、圧痕を形成させるべき位置が、試料表面に表示されるリング状の指標の中心となるように位置合わせすることで、試料の位置決めがより容易となる。
【0030】
請求項4記載の発明によれば、請求項1〜3のいずれか一つと同様の効果を奏することができると共に、試料表面に圧痕を形成させる位置を正確に決めることができる硬さ試験機が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した一実施の形態の硬さ試験機1を示す図である。
【図2】図1の照光パターンPが表示される様子を示す図である。
【符号の説明】
1 硬さ試験機
2 圧痕形成機構
12c 圧子
21 光源(指標形成手段、照光手段)
P 照光パターン(指標)
S 試料
Claims (4)
- 昇降自在に配設される圧子を押圧させて試料表面に圧痕を形成させる圧痕形成機構であって、
下降させた前記圧子の先端が前記試料表面に接触する位置を認識するための指標を該試料表面に形成させる指標形成手段を備え、
前記指標形成手段は、前記圧子が移動する方向と略平行に前記試料表面を照光し、該試料表面の照光された部分を前記指標として形成させる照光手段であり、且つ、前記圧子が下端に設けられてなる圧子軸の外周面と略同心円状に配設される支持部材により支持されており、
前記照光手段は、前記試料表面をそれぞれ照光する複数の光源を備え、
前記指標は、各光源によって前記試料表面の照光された部分を辿ることにより所定の図形が形成される照光パターンであり、
該照光パターンの図形の中心と、前記圧子の先端が試料表面に接触する位置とが対応するように設定されていることを特徴とする圧痕形成機構。 - 昇降自在に配設される圧子を押圧させて試料表面に圧痕を形成させる圧痕形成機構であって、
下降させた前記圧子の先端が前記試料表面に接触する位置を認識するための指標を該試料表面に形成させる指標形成手段を備え、
前記指標形成手段は、前記圧子が移動する方向と略平行に前記試料表面を照光し、該試料表面の照光された部分を前記指標として形成させる照光手段であり、
前記照光手段は、前記試料表面をそれぞれ照光する複数の光源を備え、
前記指標は、各光源によって前記試料表面の照光された部分を辿ることにより所定の図形が形成される照光パターンであり、
該照光パターンの図形の中心と、前記圧子の先端が試料表面に接触する位置とが対応するように設定されていることを特徴とする圧痕形成機構。 - 請求項1又は2に記載の圧痕形成機構において、
前記複数の光源は、前記圧子を囲むようにリング状に配設されており、
該リングの中心は、前記圧子の先端が移動する方向の軸線上にあることを特徴とする圧痕形成機構。 - 請求項1〜3のいずれか一つに記載の圧痕形成機構を備えることを特徴とする硬さ試験機。
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Cited By (3)
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