JP4733808B2 - 欠陥検査装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、トウバンド、不織布などの繊維状物など反射率が不均一な被検査体、高い光透過性を有していたり、貫通孔を有していたりする被検査体、あるいは複数の被検査体が間隙を有して配置され、これら複数の被検査体を同時に検査する欠陥検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
不織布などの地合い密度が不均一なものの欠陥検出を行なう技術として、例えば特公平5−40863号公報に記載された欠陥検出方法がある。これは、不織布の下方に、不織布とグレー階調度が略同一の反射体を配置し、不織布の地合い斑の影響を防止し、グレー階調度が低い欠陥検出を行うものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような欠陥検出方法では、不織布の地合い斑の影響は防止できるものの、不織布などに付着した油汚れなどの淡黄色の欠陥は、白色の不織布表面の反射率と差がほとんどなく、検出することが困難であった。
また、このような欠陥検出方法では、不織布とグレー階調度が略同一の反射体を配置するため、不織布と反射体との区別がつかないので、反射体に付着した異物を欠陥と誤判定したり、高速走行するシートの蛇行に追従できないという問題を有していた。
【0004】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、反射体に付着した汚れを欠陥と誤判定することなく、被検査体の地合い斑の影響を防止するとともに、被検査体が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、このような欠陥を検出することができ欠陥検査装置を提供することを目的とする。
また、反射体に付着した汚れを欠陥と誤判定することなく、かつ欠陥検出精度の向上を図った被検査体の欠陥検査装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の欠陥検査装置は、被検査体の一方の表面に近接するように設置された反射体と、前記被検査体を、前記反射体とは反対の方向から照明を行う照明装置と、前記照明装置から照明された前記被検査体からの反射光を受光し、欠陥の吸収波長以外の波長領域における透過率が低い色を有するフィルタが前面に取り付けられたセンサと、前記センサの検知信号を処理し、前記被検査体に含まれる欠陥を検出する画像処理装置とを有することを特徴とする。
【0006】
本発明のシートの欠陥検査装置では、欠陥の吸収波長以外の波長領域における透過率が低い色を有するフィルタがをセンサの前面に取り付けることにより、被検査体が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、欠陥を見掛け上顕著化することができる。
【0007】
また、本発明は、欠陥検査装置において、フィルタが取り付けられていない第2のセンサをさらに有することを特徴とする。
本発明の欠陥検査装置は、フィルタの取り付けられていない第2のセンサをさらに設けることにより、被検査体のエッジ座標を検出でき、検出したエッジ座標に基づいて検査領域を設定できるため、反射体に付着した汚れなどを被検査体の欠陥として検出することを防止できる。
【0008】
また、本発明は、欠陥検査装置において、前記画像処理装置は、前記2つのセンサの検知信号を処理し、前記第2のセンサの検知出力に基づいて前記被検査体のエッジ座標を検出し該エッジ座標に基づいて前記被検査体の検査範囲を設定すると共に、該設定された検査範囲内において前記第1のセンサの検知出力に基づいて前記被検査体に含まれる欠陥を検出することを特徴とする。
本発明の欠陥検査装置は、上記のような画像処理装置により、検出したエッジ座標に基づいて検査領域を設定できるため、反射体に付着した汚れなどを被検査体の欠陥として検出することを防止できる。
【0009】
また、本発明は、欠陥検査装置において、前記フィルタは、欠陥とは補色関係にある色を有することを特徴とする。
本発明の欠陥検査装置は、センサの前面に取り付けるフィルタを欠陥とは補色関係にある色とすることにより、被検査体が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、欠陥を見掛け上著しく顕著化することができ欠陥を検出することができる。
【0010】
また、本発明は、欠陥検査装置において、前記反射体は、前記被検査体に含まれる欠陥の吸収波長領域以外の波長領域における反射率が低いことを特徴とする。
本発明のシートの欠陥検査装置では、反射体の反射率を被検査体に含まれる欠陥の吸収波長領域以外の波長領域において低くすることにより、被検査体が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、欠陥を見掛け上顕著化することができ欠陥を検出することができる。
【0011】
また、本発明は、欠陥検査装置において、前記被検査体は、照明装置から照明された光の一部を透過し、前記反射体でされた反射光を再度透過することを特徴とする。
本発明の欠陥検査装置は、照明装置から照明された光の一部を透過し、前記反射体でされた反射光を再度透過するような被検査体の検査を行う欠陥検査装置に特に適している。
【0012】
また、本発明は、欠陥検査装置において、複数の被検査体が間隙を有して配置され、これら複数の被検査体を同時に検査することを特徴とする。
本発明の欠陥検査装置は、複数の被検査体が間隙を有して配置され、これら複数の被検査体を同時に検査する欠陥検査装置に特に適している。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。本発明の実施の形態に係るシートの欠陥検査装置の構成を図1に示す。同図において、本発明の実施の形態に係るシートの欠陥検査装置は、走行するシート2に接触するように設置された反射体1と、走行するシート2を、反射体1とは反対の方向から照明を行う照明装置3と、照明装置3から照明されたシート2からの反射光を受光する、欠陥とは補色関係にある色を有するフィルタ4が表面に取り付けられたセンサ5と、センサ5の検知信号を処理し、シート2に含まれる欠陥を検出する画像処理装置6と、ホストコンピュータ7と、ディスプレイ8とを有している。
【0014】
なお、図1に示す実施形態においては、被検査体であるシート2が反射体1と照明装置3との間を走行する場合を示しているが、本発明においては、被検査体が固定され照明装置3およびセンサ5あるいは反射体1が被検査体上を移動するような構造のものであってもよい。
本発明の欠陥検査装置により検査される被検査体としては、トウバンド、不織布などの繊維状物など反射率が不均一な被検査体、高い光透過性を有する被検査体、貫通孔を有する被検査体などに特に適している。あるいは、複数の被検査体が間隙を有して配置され、これら複数の被検査体を同時に検査する場合にも、本発明の欠陥検査装置は特に適している。
【0015】
反射体1は、欠陥9(図2)の吸収波長領域以外の色の反射率が低い色を使用することが好ましい。これは、反射体1の反射率をこのようにすることによって、被検査体2が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差が小さい欠陥が存在するような場合にも、センサに取り付けたフィルタを通した際の被検査体2と反射体1とのセンサ出力差よりも、欠陥9と被検査体2とのセンサ出力差を大きくし欠陥を見掛け上顕著化することができ、被検査体との反射率の差が小さい欠陥でも検出することができる。例えば、不織布のような白い被検査体2に油汚れなどの淡黄色の欠陥9がある場合には、反射体1は青色とすることが好ましい。また、反射体1の色は、フィルタ4の波長特性に応じて適正な色を選択することが好ましい。
【0016】
ここで、適正な色とは、フィルタ4を使用しないとき、反射体1からの反射光によるセンサ5の出力値と、シート2からの反射光によるセンサ5の出力値との差が大きく、フィルタ4を使用したとき、反射体1からの反射光によるセンサ5の出力値と、シート2からの反射光によるセンサ5の出力値との差が少ない色をいう。
反射体1は、シート2に接触するように設置することで、シートのバタツキを少なくしている。なお、反射体1とシート2の位置関係は、本実施の形態のように接触させることもできるが、数mm程度の間隙を有して設置してもよい。
【0017】
また、反射体1としては、目的に応じて種々の形態のものを使用できるが、板状または円筒状のものが好ましい。
センサ5の前面に取り付けられたフィルタ4としては、欠陥9の吸収波長以外の波長領域における透過率が低い色を有するものを使用する。このようなフィルタ4を使用することによって、被検査体が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差が小さく、通常のセンサだけでは検出が困難な欠陥であっても、フィルタ4を通すことによって欠陥を見掛け上顕著化することができ、センサ出力を大きくすることができる。特に、欠陥と補色関係にある色のフィルタ4を用いることが、センサ出力を最大とすることができ好ましい。
【0018】
反射体1、シート2、欠陥のそれぞれからの反射光によるセンサ5の検知出力(以下、センサ出力という。)は、次式に示すように、照明装置3による照明光、フィルタ4、センサ5の波長特性により変化する。次式のセンサ出力は、それぞれ、各波長毎の積算値の合計値となる。
Drk=Lk×Rk×Ck (1)
Dfrk=Lk×Rk×Ck×Fk (2)
Dsk= Lk×Sk×Ck (3)
Dfsk=Lk×Sk×Ck×Fk (4)
Ddk= Lk×Dk×Ck (5)
Dfdk=Lk×Dk×Ck×Fk (6)
ここで、
Drk :反射体のセンサ出力(フィルタ無し)
Dfrk:反射体のセンサ出力(フィルタ有り)
Dsk :シートのセンサ出力(フィルタ無し)
Dfsk:シートのセンサ出力(フィルタ有り)
Ddk :欠陥のセンサ出力(フィルタ無し)
Dfdk:欠陥のセンサ出力(フィルタ有り)
Lk :照明の波長特性(k:波長)
Rk :反射体の波長特性(k:波長)
Sk :シートの波長特性(k:波長)
Dk :欠陥の波長特性(k:波長)
Fk :フィルタの波長特性(k:波長)
Ck :センサの波長特性(k:波長)
である。
【0019】
本発明で使用する反射体1、フィルタ5は、次式を満足する範囲である。
Drk < Dsk (7)
Dfrk ≒ Dfsk (8)
Dfdk < Dfsk (9)
センサ5としては、ラインCCDカメラなどを使用することができ、幅方向の分解能や流れ方向の分解能に応じて、適切な走査周期を設定する。
【0020】
また、画像処理装置6は、センサ5の検知信号を処理し、シート2に含まれる欠陥を検出する。画像処理装置6は、センサ5の検知信号であるアナログビデオ信号をA/D変換、2値化、ランレングス符号化を行った後、シート2における欠陥の大きさ、位置などを測定する。画像処理装置6から転送されたシート2に含まれる欠陥の測定値は、ホストコンピュータ7を用いてディスプレイ8に表示する。ディスプレイ8には、各欠陥の位置(幅方向、流れ方向)、欠陥のサイズ(面積、幅、長さ)などを表示する。
【0021】
図2に、シート2と検査位置との関係を示す。同図において、シート2は、3本(2−1、2−2、2−3)走行している。11はセンサ読取位置である。反射体1は、これらのシート2に接触するようにしてセンサ読取位置11の下方に設置されている。9は、反射体1の上に付着している欠陥であり、検出対象ではなく、10がシート2上に存在する検出対象となる欠陥である。
図3は、シート2と検査領域の関係を示している。同図において、センサ5の視野は、始点(S0)から終点(E0)までである。
【0022】
上記構成において、シート2及び反射体1は照明装置3ににより照明され、その照明光の反射光はセンサ5により受光される。
シート2と反射体1は、それぞれ白色と青色であり色調が異なるため、センサ5にフィルタ4を取り付けない場合は、シート2の反射光によるセンサ5の検知出力と、反射体1の反射光によるセンサ5の検知出力とで十分な出力差がある。このため、画像処理装置6で、各シート(2−1、2−2、2−3)における反射体1との境界位置を示すエッジ座標(始点:S1,S2,S3、終点:E1,E2,E3)を検出し、フィルタ4を使用した場合におけるセンサ5側の検査領域を設定する。
【0023】
検査領域内は指定した閾値、検査領域外は欠陥を検出しない閾値、例えば、暗欠陥の場合は0を設定する。検査領域は、エッジ座標より、指定した素子数分だけ外側に設定することで、シート2の周辺部にある欠陥も検出できる。このように、センサ5にフィルタ4を取り付けない状態で、各シート(2−1、2−2、2−3)のエッジ座標を検出することによって、各シート毎の検査領域を設定することで、シート2から外れた位置に付着した欠陥9を検出せず、シート2内に付着している欠陥10のみを検出することができる。
【0024】
次に、図6を参照しながら、本発明の他の実施形態について説明する。同図において、この欠陥検査装置は、フィルタ4を取り付けた第1のセンサ5−1(図1のセンサ5に相当)の他に、フィルタ4を取り付けない第2のセンサ5−2を追加した点で、図1に示す欠陥検査装置と異なる。
図6において、欠陥検査装置は、走行するシート2に接触するように設置された反射体1と、走行するシート2を前記反射体とは反対の方向から照明を行う照明装置3と、照明装置3から照明されたシート2からの反射光を受光する欠陥とは補色関係にある色を有するフィルタ4が前面に取り付けられた第1のセンサ5−1と、照明装置3から照明されたシート2からの反射光を受光するフィルタが取り付けられていない第2のセンサ5−2と、画像処理装置6と、ホストコンピュータ7と、ディスプレイ8から構成されている。
【0025】
第2のセンサ5−2は、第1のセンサ5−1と同じ位置からの反射光を読み取っているが、フィルタを取り付けていないため、シート2からの反射光によるセンサ5−2の検知出力と、反射体1からの反射光によるセンサ5−2の検知出力とのセンサ出力差が大きくなる。このため、反射体1とシート2との境界位置を示すエッジ座標(始点:S1,S2,S3、終点:E1,E2,E3)を求める。
第2のセンサ5−2により検出したエッジ座標に基づいて、第1のセンサ5−1による検査領域を設定する。
【0026】
なお、設定する検査領域を検出したエッジ座標の数画素分外側とすることで、シート2の周辺部の欠陥も安定して検出することができるようになる。第1のセンサ5−1と第2のセンサ5−2は同じ位置からの反射光を読み取っているので、シート2に蛇行があっても、検査領域のズレは発生しない。また、反射板1に異物が付着しても、検査領域から除外できる。
第2のセンサ5−1、5−2の検知信号は画像処理装置6で処理され、画像処理装置6から転送されたシート2に含まれる欠陥の測定値は、ホストコンピュータ7を用いてディスプレイ8に表示する。
【0027】
【実施例】
実施例1
図1に示した検査装置を用いて、連続繊維を数千〜数万本集合させたシート状のトウ2の欠陥検査を行った。トウシート2は、白色で、幅が約50mmであり、図2に示したように3本のトウシート(2−1、2−2、2−3)がセンサ読取領域11を走行速度が約600m/分で走行している。
照明装置3は、トウシート2の凹凸による影の影響を少なくするツインタイプの32W白色蛍光灯を使用した京都電機器社製反射用照明装置(形名:FLT−32)を用いた照明装置3とシート2との間の距離は、50mmとした。
【0028】
また、センサ5は、三菱レイヨン社製ラインCCDカメラ(型名:SCD−2048B)を使用した。センサ5の素子数は2048、素子方向の分解能は0.4mm/素子とした。センサ5の読取範囲は約800mmであり、トウシート2の3本の範囲をカバーしている。センサ5のレンズは、焦点距離50mmペンタックス社製のものを使用した。センサ5とトウシート2の間の距離は1595mmである。センサ5の走査周期は0.133msで、トウシート2の走行速度が600m分の場合、トウシート2の走行方向の分解能は1.33mm/画素となる。
【0029】
センサ5の表面には、淡黄色の欠陥とは補色となる青色のフィルタ4を取り付けた。各種青色のフィルタ4の中から、欠陥とシート2のセンサ5出力差が大となる、ケンコー(株)青フィルタ(型名:B−440)を採用した。
画像処理装置6は、三菱レイヨン社製ライン画像処理装置(型名:LSC−300)を使用した。
ホストコンピュータ7は、日本電気社製PC−9821を使用し、ディスプレイ8に各欠陥の位置(幅方向、流れ方向)、欠陥のサイズ(面積、幅、長さ)などを表示するようにしてある。
【0030】
反射体1は青色(9B7.5/5.5)のものを、センサ読取位置11の下方に、3本のトウシート2に接触するように設置されている。
トウシート2は、高速走行しており数mm程度蛇行しているため、あらかじめフィルタを取り付けていない状態でセンサ5により、各トウシート毎のエッジ(始点:S1,S2,S3、終点:E1,E2,E3)を検出して検査領域を設定した。
図4にフィルタ4を使用した場合におけるセンサ5により撮像された画像を示した。、同図において、12は波形読取位置であり、10は欠陥である。青色の反射体1および青色のフィルタ4を使用しているため、トウシート2の範囲14と反射体1の範囲の明るさの差が少なく、欠陥10のみがコントラストの大きい状態で撮像されている。
【0031】
図5は、図4における波形表示位置12のセンサ5の出力波形15を示している。同図において、14はトウシート2の範囲であり、13は欠陥10の部分の出力波形である。欠陥部分では、油汚れである淡黄色の欠陥と補色関係にある色のフィルタ4により、欠陥10からの反射光が吸収されるので、センサ5への入力は欠陥部分だけ受光レベルが低くなっている。欠陥以外の部分では反射体1とトウシート2のセンサ出力の差が少ないので、全体を同じ比率の閾値に設定しても、問題なく欠陥を検出できた。
【0032】
使用した装置の構成を表1に示した。
【表1】
また、検査は、表2に示した条件で行った。
【表2】
【0033】
実施例2
図2に示した欠陥検査装置を用いて、実施例1と同じトウシート2の欠陥検査を行った。この欠陥検査装置は、実施例1のフィルタ4を使用する第1のセンサ5−1(図1のセンサ5に相当)の他に、フィルタ4を使用しない第2のセンサ5−2を追加したこと以外は同一である。また、検査条件についても実施例1と同様とした。
【0034】
この欠陥検査装置においては、第2のセンサ5−2によって反射体1とトウシート2との境界位置を示すエッジ座標(始点:S1,S2,S3、終点:E1,E2,E3)を求め、トウシート2の第1のセンサ5−1による検査領域を設定しながら、設定された検査範囲内において第1のセンサ5−1の検知出力に基づいてトウシート2に含まれる欠陥を検出する。第1のセンサ5−1と第2のセンサ5−2は同じ位置からの反射光を読み取っているので、トウシート2に蛇行があっても、検査領域のズレは発生しなかった。
このように検査領域設定を欠陥検出と並行して行うことで、トウシート2のに追従して検査領域を設定できるため、反射板1付着していた異物を検出することなく、トウシート2の欠陥のみを検出できた。
【0035】
比較例
図1と類似の欠陥検査装置でシートの欠陥検査を行った。実施例1との相違点は、センサ5にフィルタ4を取り付けず、反射体1としてトウシート2と同程度の反射率の白色シートを使用したこと以外は、実施例1と同様の欠陥検査装置を用いて同様のトウシート2の欠陥検査を行った。
濃黄色の欠陥を検出できたが、淡黄色の欠陥を検出することはできなかった。また、トウシート2の欠陥9と、シート外の欠陥10を区別することはできなかった。
【0036】
【発明の効果】
本発明によれば、欠陥の吸収波長以外の波長領域における透過率が低い色を有するフィルタをセンサの前面に取り付けることにより、被検査体の地合い斑の影響を防止するとともに、被検査体が白色の場合に被検査体に含まれる淡黄色などの被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、このような欠陥を検出可能な検出精度の高い欠陥検査装置を提供するができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態に係る欠陥検査装置の構成の一例を示すブロック図。
【図2】 シートと検査位置との位置関係を示す説明図。
【図3】 シートと検査領域との位置関係を示す説明図。
【図4】 シートに欠陥がある状態を示す画像の説明図。
【図5】 図4における欠陥部分のセンサの出力波形を示す波形図。
【図6】 本発明の実施の形態に係る欠陥検査装置の構成の他の例を示すブロック図。
【符号の説明】
1 反射体
2 シート、トウシート(被検査体)
3 照明装置
4 フィルタ
5 センサ
6 画像処理装置
7 ホストコンピュータ
8 ディスプレイ
9 欠陥(シート外)
10 欠陥(シート内)
11 センサ読取位置
12 波形表示位置
13 欠陥部の出力
14 トウシートの範囲
15 センサの出力波形
Claims (1)
- 被検査体の一方の表面に近接するように設置された青色の反射体と、
前記被検査体を、前記反射体とは反対の方向から照明を行う照明装置と、
青色のフィルタが前面に取り付けられ、前記照明装置から照明された前記被検査体及び前記反射体からの反射光を受光する第1のセンサと、
前記青色のフィルタが取り付けられておらず、前記第1のセンサと同じ位置からの前記反射光を受光する第2のセンサと、
前記2つのセンサの検知信号を処理し、前記反射体からの反射光と、前記被検査体からの反射光との前記第2のセンサの検知出力差に基づき前記被検査体のエッジ座標を検出し該エッジ座標に基づいて前記被検査体の検査範囲を設定すると共に、該設定された検査範囲内において前記第1のセンサの検知出力に基づいて前記被検査体に含まれる前記青色フィルタの補色関係にある色の欠陥を検出する画像処理装置と、
を有することを特徴とする欠陥検査装置。
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Family Cites Families (6)
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