JP4719442B2 - Image signal processing circuit, camera, and image signal processing method - Google Patents
Image signal processing circuit, camera, and image signal processing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP4719442B2 JP4719442B2 JP2004252386A JP2004252386A JP4719442B2 JP 4719442 B2 JP4719442 B2 JP 4719442B2 JP 2004252386 A JP2004252386 A JP 2004252386A JP 2004252386 A JP2004252386 A JP 2004252386A JP 4719442 B2 JP4719442 B2 JP 4719442B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- average value
- image signal
- level
- pixels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
本発明は、固体撮像素子から出力される画像信号の画像信号処理技術に関し、詳しくは画像信号処理におけるクランプ手段の制御技術に関する。 The present invention relates to an image signal processing technique for an image signal output from a solid-state image sensor, and more particularly to a control technique for clamp means in image signal processing.
図7は、CCDやCMOSセンサ等の固体撮像素子から出力される画像信号に係る一般的な画像信号処理回路の回路構成を示すブロック図である。画像信号処理回路は、図7に示すように相関2重サンプリング(CDS)回路1、可変ゲインアンプ(PGA)2、ADコンバータ(ADC)3、比較回路4、クランプレベルレジスタ5、及びクランプ回路6から構成される。
FIG. 7 is a block diagram showing a circuit configuration of a general image signal processing circuit related to an image signal output from a solid-state imaging device such as a CCD or a CMOS sensor. As shown in FIG. 7, the image signal processing circuit includes a correlated double sampling (CDS) circuit 1, a variable gain amplifier (PGA) 2, an AD converter (ADC) 3, a comparison circuit 4, a
CCDやCMOSセンサ等の図示しない固体撮像素子の画像信号は、画像信号処理回路に入力端INを介して入力される。入力された画像信号は、CDS回路1及び可変ゲインアンプ2にてサンプルホールドや増幅等の所定の処理が施された後、ADコンバータ3にてアナログ信号からデジタル信号に変換されて出力端OUTより出力される。
An image signal of a solid-state imaging device (not shown) such as a CCD or CMOS sensor is input to an image signal processing circuit via an input terminal IN. The input image signal is subjected to predetermined processing such as sample hold and amplification by the CDS circuit 1 and the
また、図7に示す画像信号処理回路において、クランプ回路6は、固体撮像素子における遮光画素(OB)からの信号を用いて、黒レベルが所定のレベルになるように入力画像信号に加算するオフセット量を制御する。具体的には、まず、ADコンバータ3より出力される遮光画素からの信号と、クランプレベルレジスタ5にデータとして保持されているクランプレベルとが比較回路4で比較される。そして、クランプ回路6は、比較回路4での比較結果(差分レベル)に基づいた制御を行い、入力部であるCDS回路1に加算するオフセットレベルを調整して供給する。なお、遮光画素(OB)は、固体撮像素子において、フォトダイオード等の光電変換素子は形成されているが、被写体からの入射光が入射しない画素である。
In the image signal processing circuit shown in FIG. 7, the
上述した従来の画像信号処理回路には以下に述べる問題点があった。
例えば、図8(A)に示すように、固体撮像素子の遮光画素部HOB、VOBに欠陥81があって異常なレベルの信号が遮光画素からの信号として出力された場合には、クランプ回路6は、その異常なレベルの信号を用いてクランプ処理をするよう動作し、クランプレベルの誤差が生じてしまう。すなわち、固体撮像素子では遮光画素においてさえも無欠陥であることが要求され、固体撮像素子のイールドを低下させる要因ともなる。
The conventional image signal processing circuit described above has the following problems.
For example, as shown in FIG. 8A, when the light-shielding pixel portions HOB and VOB of the solid-state imaging device have a defect 81 and an abnormal level signal is output as a signal from the light-shielding pixel, the
また、例えば図8(B)に示すように、高輝度の被写体を撮影した場合等、固体撮像素子に過大な光量が入射し、その遮光画素部HOB、VOBにも多重反射などにより光が入射してしまうことで遮光画素からの信号が変動した場合にも、クランプ回路6は、その信号レベルを用いてクランプ処理をするよう動作するため、クランプレベルの誤差が発生してしまう。図8(B)に示したように高輝度領域82において遮光画素83からの信号レベルが高くなり、クランプ回路6は信号レベルを下げるように動作する。その結果、当該行(高輝度領域82)のレベルが全体的に下がるために、図示したように帯状にレベルが下がってしまう。
For example, as shown in FIG. 8B, when a high-luminance subject is photographed, an excessive amount of light is incident on the solid-state imaging device, and light is incident on the light-shielding pixel portions HOB and VOB due to multiple reflections. As a result, even when the signal from the light-shielded pixel fluctuates, the
それに対して、誤ったクランプ処理を回避する方法として、固体撮像素子における遮光画素からの信号を用いた第1のクランプレベルと、光電変換素子(画素)から信号を読み出していない水平ブランキング期間における信号レベルを用いた第2のクランプレベルとを設け、第1のクランプレベルが異常なレベルになった場合には、第2のクランプレベルに切り替えるものがある(例えば、特許文献1参照。)。 On the other hand, as a method for avoiding erroneous clamping processing, a first clamping level using a signal from a light-shielded pixel in a solid-state imaging device and a horizontal blanking period in which no signal is read from a photoelectric conversion device (pixel) are used. A second clamp level using a signal level is provided, and when the first clamp level becomes an abnormal level, there is a switch to the second clamp level (see, for example, Patent Document 1).
また、上述したこれらの課題に対し、クランプ回路6のゲイン値を十分小さくすることで、クランプレベルの誤差を小さくすることは有効な手法の1つである。しかしながら、クランプ回路6のゲインを小さく設定すると、電源を投入してから所望のレベルに到達するまでの時間が長くなってしまうとともに、固体撮像素子の垂直方向にオフセット量が変化するシェーディングが大きい場合にも補正が不十分となってしまうという問題が発生する。すなわち、実際上これらのトレードオフの関係でゲインが設定されるため、クランプ回路6のゲイン値を十分小さくすることは、上述した先の課題を解決するには十分なものではない。
Further, in order to solve these problems described above, it is an effective technique to reduce the error of the clamp level by sufficiently reducing the gain value of the
これらの問題点を解決するための既知たる方式として、遮光画素のうち欠陥のある画素のアドレスを記憶手段(一般的には不揮発性メモリーが用いられる)に記憶しておき、クランプレベルの決定に際し欠陥遮光画素からの信号を除外する方式がある。しかしながら、この方式では記憶手段を必要とするため回路規模が増大し、かつ固体撮像素子毎にそれぞれテストし調整する必要があり、さらには不揮発性メモリーのように特殊なプロセスの集積回路が必要であるという問題点があった。 As a known method for solving these problems, the address of the defective pixel among the light-shielded pixels is stored in a storage means (generally a nonvolatile memory is used), and the clamp level is determined. There is a method of excluding signals from defective light shielding pixels. However, since this method requires a storage means, the circuit scale increases, and it is necessary to test and adjust each solid-state imaging device. Further, an integrated circuit of a special process such as a nonvolatile memory is required. There was a problem that there was.
また、他の既知たる方式として、複数の遮光画素部からの信号を平均化し、その平均として得られた信号レベルを用いてクランプ処理を行うという方式もある。この方式では、遮光画素の欠陥や光入射による信号レベルずれの影響をある程度低減し、かつランダムノイズの少ない条件でクランプ動作を行うことができる。しかしながら、遮光画素からの信号のレベルのずれが大きい場合には、平均化により影響をある程度低減はできるものの、クランプレベルの誤差を十分には低減することができないという問題点があった。 As another known method, there is a method in which signals from a plurality of light-shielding pixel portions are averaged, and a clamping process is performed using a signal level obtained as the average. According to this method, it is possible to reduce the influence of the signal level shift due to the defect of the light-shielding pixel and the light incidence to some extent, and to perform the clamping operation under the condition with less random noise. However, when the level deviation of the signal from the light-shielded pixel is large, although the influence can be reduced to some extent by averaging, there is a problem that the error of the clamp level cannot be sufficiently reduced.
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、回路規模を極端に大きくすることなく、遮光画素からの信号にレベルずれが生じたとしてもクランプレベルの誤差を抑制できるようにすることを目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem, and makes it possible to suppress a clamp level error even if a level shift occurs in a signal from a light-shielded pixel without extremely increasing the circuit scale. For the purpose.
本発明の画像信号処理回路は、複数の有効画素と複数の遮光画素とを有する固体撮像素子からの画像信号に所定の処理を施す画像信号処理回路であって、上記複数の遮光画素からの信号の平均値を算出して出力するとともに、算出した平均値を保持する平均化処理手段と、上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとを比較する比較手段と、上記平均化処理手段により算出された平均値に基づいて、上記遮光画素からの信号を所定のレベルに調整するクランプ手段とを備え、上記比較手段による比較結果に応じて、上記複数の遮光画素からの信号又は上記平均化処理手段に保持されている平均値を選択的に上記平均化処理手段に供給し、かつ上記比較手段による比較の結果、上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとの差が予め設定したしきい値より大きい場合には、上記複数の遮光画素からの信号にかえて、上記平均化処理手段に保持されている平均値を上記平均化処理手段に供給することを特徴とする。
本発明の画像信号処理回路は、複数の有効画素と複数の遮光画素とを有する固体撮像素子の上記遮光画素からの信号を所定のレベルに調整するクランプ処理を行うクランプ手段を有する画像信号処理回路であって、上記複数の遮光画素からの信号の平均値を算出して出力するとともに、前回の上記クランプ処理にて用いた上記複数の遮光画素からの信号の平均値を保持する平均化処理手段と、上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとを比較する比較手段とを備え、上記比較手段による比較の結果、上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとの差が予め設定したしきい値より大きい場合には、上記複数の遮光画素からの信号にかえて、上記平均化処理手段に保持されている前回のクランプ処理にて用いた上記複数の遮光画素からの信号の平均値を上記平均化処理手段に供給することを特徴とする。
また、本発明のカメラは、上述した画像信号処理回路と、光学像を固体撮像素子に結像させるためのレンズと、上記レンズを通る光量を可変するための絞りとを備えることを特徴とする。
また、本発明の画像信号処理方法は、複数の有効画素と複数の遮光画素とを有する固体撮像素子からの画像信号に所定の処理を施す画像信号処理方法であって、上記複数の遮光画素からの信号の平均値を算出して出力するとともに、算出した平均値を保持する平均化処理工程と、上記平均化処理工程にて保持された平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとを比較する比較工程と、上記平均化処理工程にて算出された平均値に基づいて、上記遮光画素からの信号を所定のレベルに調整するクランプ工程とを有し、上記比較工程での比較の結果、上記平均化処理工程にて保持された平均値と上記複数の遮光画素からの信号のレベルとの差が予め設定したしきい値より大きい場合には、上記平均化処理工程にて用いる上記複数の遮光画素からの信号にかえて上記平均化処理工程にて保持された平均値を供給することを特徴とする。
An image signal processing circuit of the present invention is an image signal processing circuit that performs predetermined processing on an image signal from a solid-state imaging device having a plurality of effective pixels and a plurality of light-shielding pixels, and the signals from the plurality of light-shielding pixels. An average processing unit that calculates and outputs an average value of the output, and holds an average processing unit that holds the calculated average value, an average value that is stored in the averaging processing unit, and levels of signals from the plurality of light-shielded pixels Comparing comparing means, and clamping means for adjusting the signal from the light-shielded pixel to a predetermined level based on the average value calculated by the averaging processing means, according to the comparison result by the comparing means, the plurality of the average value held in the signal or the averaging means from the light-shielded pixel selectively supplied to the averaging means, and the result of the comparison by the comparing means, the averaging means If the difference between the held average value and the level of the signal from the plurality of light-shielded pixels is larger than a preset threshold value, the averaging process is performed instead of the signal from the plurality of light-shielded pixels. The average value held in the means is supplied to the averaging processing means .
An image signal processing circuit of the present invention includes an image signal processing circuit having clamping means for performing clamping processing for adjusting a signal from the light-shielding pixel of a solid-state imaging device having a plurality of effective pixels and a plurality of light-shielding pixels to a predetermined level. An averaging processing means for calculating and outputting an average value of signals from the plurality of light shielding pixels and holding an average value of signals from the plurality of light shielding pixels used in the previous clamping process. And comparing means for comparing the average value held in the averaging processing means and the levels of the signals from the plurality of light-shielded pixels. As a result of the comparison by the comparing means, the averaging processing means When the difference between the held average value and the level of the signal from the plurality of light-shielded pixels is larger than a preset threshold value, the average value is replaced with the signal from the plurality of light-shielded pixels. The average value of the signals from the plurality of light shielding pixels used in the previous clamping process held by the processing means and supplying to said averaging means.
According to another aspect of the present invention, there is provided a camera comprising the above-described image signal processing circuit, a lens for forming an optical image on a solid-state imaging device, and a diaphragm for changing the amount of light passing through the lens. .
The image signal processing method of the present invention is an image signal processing method for performing a predetermined process on an image signal from a solid-state imaging device having a plurality of effective pixels and a plurality of light-shielding pixels. An average processing step for calculating and outputting an average value of the signal of the signal, holding the calculated average value, an average value held in the averaging processing step, and a level of the signal from the plurality of light shielding pixels And a clamping step for adjusting the signal from the light-shielded pixel to a predetermined level based on the average value calculated in the averaging processing step, and the comparison in the comparison step As a result, when the difference between the average value held in the averaging process step and the level of the signal from the plurality of light-shielding pixels is larger than a preset threshold value, it is used in the averaging process step. Multiple shaded images above Instead of the signals from and supplying the average value held in the averaging process.
本発明によれば、わずかな回路を付加することで、固体撮像素子の遮光画素における欠陥や光入射により複数の遮光画素からの信号の一部にレベルずれが生じたとしても、レベルずれが生じた信号を除く、もしくはレベルずれが生じた信号を他の信号に置き換えることが可能であるため、固体撮像素子からの信号に加算するオフセット量を適切に調整することができる。したがって、遮光画素からの信号にレベルずれが生じても、回路規模を極端に大きくすることなく、クランプレベル誤差が発生することを抑制することができ、良好な画像信号処理を施すことが可能となる。また、固体撮像素子の遮光画素部におけるある程度の欠陥は許容することができるようになり、選別基準を緩和し、イールドを高めることができる。 According to the present invention, even if a slight circuit is added, even if a level shift occurs in some of the signals from the plurality of light-shielded pixels due to defects or light incidence in the light-shielded pixels of the solid-state imaging device, a level shift occurs. Therefore, the offset amount to be added to the signal from the solid-state imaging device can be appropriately adjusted. Therefore, even if a level shift occurs in the signal from the light-shielded pixel, it is possible to suppress occurrence of a clamp level error without extremely increasing the circuit scale, and to perform good image signal processing. Become. In addition, a certain amount of defects in the light-shielding pixel portion of the solid-state imaging device can be tolerated, the selection criteria can be relaxed, and the yield can be increased.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
なお、以下に説明する本発明の第1〜第5の実施形態による画像信号処理回路は、その回路構成例を示す図1〜図5において相関2重サンプリング(CDS)回路及び可変ゲインアンプ(PGA)を図示していないが、図7に示した画像信号処理回路と同様に相関2重サンプリング(CDS)回路及び可変ゲインアンプ(PGA)をADコンバータの前段に具備している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
The image signal processing circuits according to the first to fifth embodiments of the present invention to be described below are correlated double sampling (CDS) circuits and variable gain amplifiers (PGA) in FIGS. ) Is not shown, but similarly to the image signal processing circuit shown in FIG. 7, a correlated double sampling (CDS) circuit and a variable gain amplifier (PGA) are provided before the AD converter.
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態による画像信号処理回路の回路構成例を示すブロック図である。この図1において、図7に示したブロック等と同一の機能を有するブロック等には同一の符号を付している。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration example of an image signal processing circuit according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1, blocks having the same functions as those shown in FIG. 7 are denoted by the same reference numerals.
図1において、3はアナログ信号をデジタル信号(デジタルデータ)に変換するADコンバータである。ADコンバータ3は、複数の有効画素と複数の遮光画素とを有する固体撮像素子(例えばCCDやCMOSセンサ等)からの画像信号が図示しないCDS回路及び可変ゲインアンプを介して入力され、当該画像信号をデジタル信号(デジタルデータ)に変換して出力する。
In FIG. 1,
11はデジタルフィルタであり、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号のうち、レベルがずれている(異常レベルの)信号を検出して除去する。すなわち、デジタルフィルタ11は、信号のレベルが所定範囲外である場合には当該信号を除去し、所定範囲内である場合には当該信号をそのまま通過させる。
4Aは比較回路、より詳しくはデジタル減算器である。比較回路4Aは、デジタルフィルタ11によりフィルタ処理された遮光画素からの信号と、クランプレベルレジスタ5に保持されているクランプ設定レベルとが入力され、その差分レベルに応じた信号を出力する。
6はクランプ回路であり、比較回路4Aから供給される差分レベルに応じた信号に基づいて制御され、入力部(図示しないCDS回路)にて加算する入力画像信号に加算するオフセット量(オフセットレベル)を調整する。
上述した第1の実施形態による画像信号処理回路において、固体撮像素子からの信号は図示しないCDS回路及び可変ゲインアンプを介してADコンバータ3に入力され、デジタル信号(デジタルデータ)に変換されて画像信号処理回路外部に出力される。また、ADコンバータ3から出力されるデジタル信号は、デジタルフィルタ11を介して比較回路4にも供給され、そのなかの遮光画素からの信号とクランプレベルレジスタ5からのクランプ設定レベルとが比較回路4Aにて比較され、その差分レベルに応じた信号が出力される。比較回路4Aから出力される差分レベルに応じた信号によりクランプ回路6を制御し、回路のオフセット量を調整する。
In the image signal processing circuit according to the first embodiment described above, a signal from the solid-state imaging device is input to the
ここで、固体撮像素子の遮光画素からの信号のうち、画素欠陥や光もれこみによってレベルがずれた異常レベルの信号は、ADコンバータ3より出力されるが、デジタルフィルタ11が通過させず(除去し)、結果としてクランプ回路6へは入力されない。
Here, of the signals from the light-shielded pixels of the solid-state image sensor, an abnormal level signal whose level is shifted due to a pixel defect or light leakage is output from the
これにより、第1の実施形態によれば、固体撮像素子の遮光画素からの信号のうちレベルがずれた異常レベルの信号はデジタルフィルタ11により検出され除去されるので、異常レベルの信号を除く遮光画素からの信号だけに基づいて回路のオフセット量を適切に調整することができる。したがって、デジタルフィルタ11を付加するだけで良いので回路規模を極端に大きくすることなく、固体撮像素子の画素欠陥や光もれこみにより発生するクランプ誤差を抑制することができ、固体撮像素子からの信号に対して良好な画像信号処理を施すことができる。また、固体撮像素子の遮光画素部の欠陥をある程度は容認することができ、選別基準(選択規格)を緩和してイールドを高めることができる。
As a result, according to the first embodiment, out of the signals from the light-shielding pixels of the solid-state imaging device, the abnormal level signal whose level is shifted is detected and removed by the
(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態について説明する
図2は、本発明の第2の実施形態による画像信号処理回路の回路構成例を示すブロック図である。この図2において、図1に示したブロック等と同一の機能を有するブロック等には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment will be described. FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration example of an image signal processing circuit according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 2, blocks having the same functions as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
図2において、21は比較回路(デジタル減算器)であり、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号と、最大値レジスタ22に保持されている信号レベルとが入力され、その比較結果に応じてスイッチ23を制御する。具体的には、比較回路21は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が、最大値レジスタ22に保持されている信号レベルより大きい場合にはスイッチ23を閉じ、そうでない場合にはスイッチ23を開くように制御する。また、スイッチ23は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号を最大値レジスタ22に選択的に供給するためのものである。
In FIG. 2,
すなわち、比較回路21での比較の結果、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が、最大値レジスタ22に保持されている信号レベルより大きい場合には、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が更新値として最大値レジスタ22に供給され保持される。このようにして、比較回路21、最大値レジスタ22、及びスイッチ23からなる回路は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号における最大値を検出する。
That is, as a result of the comparison in the
24は比較回路であり、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号と、最小値レジスタ25に保持されている信号レベルとが入力され、それらの比較を行う。この比較の結果、比較回路24は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が、最小値レジスタ25に保持されている信号レベルより小さい場合にはスイッチ26を閉じ、そうでない場合にはスイッチ26を開くように制御する。また、スイッチ26は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号を最小値レジスタ25に選択的に供給するためのものである。
A
すなわち、比較回路24での比較の結果、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が、最小値レジスタ25に保持されている信号レベルより小さい場合には、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が更新値として最小値レジスタ25に供給され保持される。このようにして、比較回路24、最小値レジスタ25、及びスイッチ26からなる回路は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号における最小値を検出する。
That is, as a result of the comparison in the
27は総和(Σ)レジスタであり、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が入力され、入力された遮光画素からの信号を順次加算して、その総和を算出し保持する。
A sum (Σ) register 27 receives a signal from the light-shielded pixel output from the
28は減算器であり、最大値レジスタ22、最小値レジスタ25、及び総和レジスタ27のレジスタ値が供給され、それらを用いて所定の演算処理を行って演算結果を出力する。具体的には、減算器28は、各レジスタのレジスタ値を基に、[(総和)−(最大値)−(最小値)]の値を算出し出力する。
29は除算器であり、減算器28の出力値を(遮光画像数−2)で除算する。
A
A
4Bは比較回路であり、図1に示した比較回路4Aに相当する。比較回路4Bは、除算器29からの出力信号と、クランプレベルレジスタ5に保持されているクランプ設定レベルとが入力され、その差分レベルに応じた信号を出力する。
上述した第2の実施形態による画像信号処理回路において、固体撮像素子からの信号は図示しないCDS回路及び可変ゲインアンプを介してADコンバータ3に入力され、デジタル信号に変換されて画像信号処理回路外部に出力される。また、ADコンバータ3から出力されるデジタル信号のうち遮光画素からの信号を、随時総和レジスタ27のレジスタ値に加算して更新すると同時に、最大値レジスタ22及び最小値レジスタ25の各レジスタ値との比較を行うことで遮光画素からの信号における最大値及び最小値の検出を行う。
In the image signal processing circuit according to the second embodiment described above, a signal from the solid-state imaging device is input to the
そして、所定の遮光画素数分のデータを処理した結果、その総和、最大値及び最小値が各レジスタ22、25、27に格納された状態で、{(総和)−(最大値)−(最小値)}/(画素数−2)の演算を減算器28及び除算器29により行い、遮光画素からの信号のうち、最大値と最小値とを除く信号の平均値を算出する。この演算結果とクランプレベルレジスタ5からのクランプ設定レベルとが比較回路4Bにて比較され、その差分レベルに応じた信号が出力される。比較回路4Bから出力される差分レベルに応じた信号によりクランプ回路6を動作させ、回路のオフセット量を調整する。
Then, as a result of processing data for a predetermined number of light-shielded pixels, the sum, maximum value, and minimum value are stored in the
以上のように、第2の実施形態によれば、複数の遮光画素からの信号のうち、最も信号レベルが高い信号及び最も信号レベルが低い信号を除去することで、これら最大値及び最小値の信号を除いた遮光画素からの信号の平均値に基づいて回路のオフセット量を適切に調整でき、わずかな回路を付加するだけで、よりクランプ誤差が小さいクランプ動作が可能となる。したがって、固体撮像素子からの信号に対して、より良好な画像信号処理を施すことができるとともに、固体撮像素子の選別基準(選択規格)を緩和してイールドを高めることができる。 As described above, according to the second embodiment, by removing the signal having the highest signal level and the signal having the lowest signal level from among the signals from the plurality of light-shielding pixels, the maximum value and the minimum value are obtained. The offset amount of the circuit can be appropriately adjusted based on the average value of the signal from the light-shielded pixel excluding the signal, and a clamping operation with a smaller clamping error can be achieved by adding a few circuits. Therefore, it is possible to perform better image signal processing on the signal from the solid-state image sensor, and to ease the selection criteria (selection standard) of the solid-state image sensor and increase the yield.
(第3の実施形態)
次に、第3の実施形態について説明する。
図3は、本発明の第3の実施形態による画像信号処理回路の回路構成例を示すブロック図である。この図3において、図1に示したブロック等と同一の機能を有するブロック等には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment will be described.
FIG. 3 is a block diagram showing a circuit configuration example of an image signal processing circuit according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 3, blocks having the same functions as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
図3において、31、33は入力される信号(データ値)を3つ保持するレジスタである。32、34は、レジスタ31、33に保持されている3つの信号(データ値)からその中のメジアン値(中間値)を抽出するメジアンフィルタである。
In FIG. 3, 31 and 33 are registers that hold three input signals (data values).
レジスタ31及びメジアンフィルタ32により、ADコンバータ3から出力される3つ分の遮光画素からの信号の中から、そのメジアン値を抽出する第1のメジアンフィルタブロックが構成される。また、レジスタ33及びメジアンフィルタ34により、第1のメジアンフィルタブロックで抽出された3つのメジアン値から、それらにおけるメジアン値を抽出する第2のメジアンフィルタブロックが構成される。
The
すなわち、レジスタ31、33及びメジアンフィルタ32、34(第1及び第2のメジアンフィルタブロック)により、9画素分の遮光画素からの信号におけるメジアン値もしくは正確には中間値ではないがほほメジアン値に相当する略中間値が抽出される。
In other words, the
4Cは比較回路であり、図1に示した比較回路4Aに相当する。比較回路4Cは、メジアンフィルタ34からの出力信号と、クランプレベルレジスタ5に保持されているクランプ設定レベルとが入力され、その差分レベルに応じた信号を出力する。
上述した第3の実施形態による画像信号処理回路において、固体撮像素子からの信号は図示しないCDS回路及び可変ゲインアンプを介してADコンバータ3に入力され、デジタル信号に変換されて画像信号処理回路外部に出力される。
In the image signal processing circuit according to the third embodiment described above, a signal from the solid-state imaging device is input to the
また、ADコンバータ3から出力されるデジタル信号のうち遮光画素からの信号は、9画素分の信号に関して、まずレジスタ31とメジアンフィルタ32で構成される第1のメジアンフィルタブロックにて、連続する3画素分の信号を一群として随時中間値抽出が行われ、抽出された3つの中間値がレジスタ33に格納される。さらに、レジスタ33とメジアンフィルタ34で構成される第2のメジアンフィルタブロックにて、レジスタ33に格納された3つの値を用いて中間値抽出が行われ、抽出された中間値が比較回路4Cに出力される。
Of the digital signals output from the
メジアンフィルタ34の出力値(9画素分の遮光画素からの信号の中間値あるいは略中間値)とクランプレベルレジスタ5からのクランプ設定レベルとが比較回路4Cにて比較され、その結果として出力される差分レベルに応じた信号に応じた信号によりクランプ回路6を動作させ、回路のオフセット量を調整する。
The output value of the median filter 34 (the intermediate value or the substantially intermediate value of the signals from the light-shielding pixels for nine pixels) and the clamp setting level from the
以上のように、第3の実施形態によれば、9画素分の遮光画素からの信号を3画素分ずつの3組に分けてメジアンフィルタ32によりメジアン値を抽出し、さらに各組にて抽出された総計3つのメジアン値を用いて、その中のメジアン値をメジアンフィルタ34により抽出することで、9画素分の遮光画素からの信号のうち擬似的な中間値を抽出する。そして、この擬似的な中間値に基づいて回路のオフセット量を適切に調整する。
As described above, according to the third embodiment, the signals from the light-shielding pixels for nine pixels are divided into three sets of three pixels, and the median value is extracted by the
ここで、9つの要素そのものから1つのメジアン値を抽出する9→1メジアンフィルタは回路規模が大きくなる。このため、本実施形態においては3つの要素から1つのメジアン値を抽出する3→1メジアンフィルタを縦属接続して2段構成とすることにより、回路規模を極端に大きくすることなく複数(9画素分)の遮光画素からの信号のうち擬似的な中間値を抽出可能としている。この抽出した擬似的な中間値を用いてクランプ動作を行うため、クランプ誤差の発生を抑制し、より誤差の小さいクランプ動作が可能となり、固体撮像素子からの信号に対して良好な画像信号処理を施すことができる。また、固体撮像素子の遮光画素部の欠陥を、より容認することができ、選別基準(選択規格)を著しく緩和してイールドを高めることができる。 Here, the circuit scale of the 9 → 1 median filter that extracts one median value from the nine elements themselves increases. For this reason, in the present embodiment, a 3 → 1 median filter for extracting one median value from three elements is cascaded to form a two-stage configuration, so that a plurality of (9 It is possible to extract a pseudo intermediate value from signals from the light-shielded pixels (for pixels). Since the clamp operation is performed using the extracted pseudo intermediate value, it is possible to suppress the occurrence of a clamp error and to perform a clamp operation with a smaller error, and to perform a good image signal processing on a signal from a solid-state image sensor. Can be applied. In addition, defects in the light-shielding pixel portion of the solid-state imaging device can be more tolerated, and the selection criterion (selection standard) can be remarkably relaxed to increase the yield.
なお、上述した説明では、9画素分の遮光画素からの信号を用いて処理する場合を一例として示しているが、これに限定されるものではなく、用いる遮光画素からの信号の数(画素数)は任意であり、レジスタ31、32及びメジアンフィルタ32、34を信号の数に応じて適宜変更することで、任意の複数画素分の遮光画素からの信号を用いて処理することが可能である。
In the above description, a case where processing is performed using signals from light-shielding pixels for nine pixels is shown as an example, but the present invention is not limited to this, and the number of signals from light-shielding pixels to be used (number of pixels) ) Is optional, and by appropriately changing the
(第4の実施形態)
次に、第4の実施形態について説明する。
図4は、本発明の第4の実施形態による画像信号処理回路の回路構成例を示すブロック図である。この図4において、図1に示したブロック等と同一の機能を有するブロック等には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
(Fourth embodiment)
Next, a fourth embodiment will be described.
FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration example of an image signal processing circuit according to the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 4, blocks having the same functions as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
図4において、41は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号又は1H前OB平均レジスタ43からの出力値を、選択的にOBレベル平均化回路42に供給するためのスイッチである。
In FIG. 4, reference numeral 41 denotes a switch for selectively supplying the signal from the light-shielded pixel output from the
OBレベル平均化回路42は、ADコンバータ3から出力され、スイッチ41を介して供給される遮光画素からの信号(1H前レジスタ43からの出力値を一部あるいは全部に含むこともある。)の平均値を算出し出力する。1H前OB平均レジスタ43は、前回のクランプ処理時に用いたOBレベル平均化回路42で算出された平均値を保持するレジスタである。
The OB
44は加算器であり、1H前OB平均レジスタ43に保持されている前回のクランプ処理時に用いた平均値と、キズしきい値レジスタ45に保持されているキズしきい値との加算処理を行って演算結果を出力する。
46は比較回路であり、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号と、加算器44の出力値とが入力され、それらの比較を行う。この比較の結果、比較回路46は、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が、加算器44の出力値(1フレーム前の平均値+キズしきい値)以下の場合には、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号がOBレベル平均化回路42に供給されるようスイッチ41を制御する。一方、ADコンバータ3から出力された遮光画素からの信号が、加算器44の出力値より大きい場合には、1H前OB平均レジスタ43からの出力値がOBレベル平均化回路42に供給されるようスイッチ41を制御する。
A
4Dは比較回路であり、図1に示した比較回路4Aに相当する。比較回路4Dは、OBレベル平均化回路42より出力される平均値と、クランプレベルレジスタ5に保持されているクランプ設定レベルとが入力され、その差分レベルに応じた信号を出力する。
Reference numeral 4D denotes a comparison circuit, which corresponds to the
上述した第4の実施形態による画像信号処理回路において、固体撮像素子からの信号は図示しないCDS回路及び可変ゲインアンプを介してADコンバータ3に入力され、デジタル信号に変換されて画像信号処理回路外部に出力される。また、ADコンバータ3から出力されるデジタル信号のうち遮光画素からの信号は、OBレベル平均化回路42で平均化される。このとき、前回(1フレーム前)の処理に用いた平均値が1H前OB平均レジスタ43に格納されており、各画素毎に(前回の平均値+キズしきい値)と現在のADコンバータ3から出力される遮光画素からの信号のレベルとの比較を比較回路46で行う。
In the image signal processing circuit according to the fourth embodiment described above, a signal from the solid-state imaging device is input to the
この比較回路46での比較の結果、現在の遮光画素からの信号レベルが(前回の平均値+キズしきい値)より大きい場合、言い換えれば前回の平均値と現在の遮光画素からの信号レベルとの差がキズしきい値より大きい場合には、現在の遮光画素からの信号が欠陥や光漏れこみの影響により異常レベルであると判断して、OBレベル平均化回路42には入力せず、かわりに前回の平均値をOBレベル平均化回路42に入力する。なお、この現在の遮光画素からの信号と前回の平均値との入れ替えも画素毎に行われる。
As a result of the comparison by the
また、OBレベル平均化回路42にて算出した平均値は比較回路4Dにも供給され、当該平均値とクランプレベルレジスタ5からのクランプ設定レベルとが比較回路4Dにて比較され、その結果として出力される差分レベルに応じた信号に応じた信号によりクランプ回路6を動作させ、回路のオフセット量を調整する。
The average value calculated by the OB
以上のように、第4の実施形態によれば、固体撮像素子の複数の遮光画素からの信号を平均化し、平均化された信号レベルに基づいて回路のオフセット量を適切に調整することにより、クランプ誤差の発生を抑制でき、かつランダムノイズの影響を低減することができる。また、前回の平均値と現在の遮光画素からの信号レベルとの差がキズしきい値より大きい場合には、当該遮光画素からの信号を異常レベルと判断して前回の平均値をかわりに用いることで、異常レベルと判定された遮光画素からの信号をクランプ動作に使用せず、より誤差の小さいクランプ動作が可能となり、固体撮像素子からの信号に対して良好な画像信号処理を施すことができる。また、固体撮像素子の遮光画素部の欠陥をある程度は容認することができ、選別基準(選択規格)を緩和してイールドを高めることができる。 As described above, according to the fourth embodiment, by averaging the signals from the plurality of light-shielding pixels of the solid-state imaging device and appropriately adjusting the offset amount of the circuit based on the averaged signal level, The occurrence of clamping error can be suppressed, and the influence of random noise can be reduced. If the difference between the previous average value and the signal level from the current light-shielded pixel is larger than the scratch threshold, the signal from the light-shielded pixel is determined to be an abnormal level and the previous average value is used instead. Thus, a signal from a light-shielded pixel determined to be an abnormal level is not used for the clamping operation, and a clamping operation with a smaller error becomes possible, and a good image signal processing can be performed on the signal from the solid-state imaging device. it can. In addition, a defect in the light-shielding pixel portion of the solid-state imaging device can be accepted to some extent, and the selection criteria (selection standard) can be relaxed to increase the yield.
なお、上記図4に示した画像信号処理回路は、固体撮像素子の遮光画素における白キズに相当する欠陥を除去するようにしたものであるが、黒キズに相当する欠陥を除去するようにする場合には、加算器46に換えて減算器を用いるようにすれば良い。
Note that the image signal processing circuit shown in FIG. 4 is designed to remove defects corresponding to white flaws in the light-shielding pixels of the solid-state imaging device, but to remove defects corresponding to black flaws. In this case, a subtractor may be used instead of the
(第5の実施形態)
次に、第5の実施形態について説明する。
図5は、本発明の第5の実施形態による画像信号処理回路の回路構成例を示すブロック図である。以下に説明する第5の実施形態による画像信号処理回路は、上述した第4の実施形態による画像信号処理回路にキズしきい値の設定に係る回路ブロックを追加したものである。この図5において、図1及び図4に示したブロック等と同一の機能を有するブロック等には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
(Fifth embodiment)
Next, a fifth embodiment will be described.
FIG. 5 is a block diagram showing a circuit configuration example of an image signal processing circuit according to the fifth embodiment of the present invention. The image signal processing circuit according to the fifth embodiment described below is obtained by adding a circuit block related to setting of a scratch threshold to the image signal processing circuit according to the fourth embodiment described above. In FIG. 5, blocks having the same functions as those shown in FIGS. 1 and 4 are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
図5において、47は乗算器であり、クランプ誤差(比較回路4Dの出力である差分レベルに応じた信号)を4倍にする。
In FIG. 5,
48は比較回路であり、乗算器47の出力信号と、基準レベルレジスタ49に保持されているキズしきい値の基準レベルとが入力され、それらの比較を行う。この比較の結果、比較回路48は、乗算器47の出力信号が基準レベル以上の場合には、乗算器47の出力信号が加算器44A(図4に示した加算器44に相当)に供給されるようスイッチ50を制御する。一方、乗算器47の出力信号が基準レベルより小さい場合には、基準レベルレジスタ49に保持されている基準レベルが加算器44Aに供給されるようスイッチ50を制御する。
A
上述した第5の実施形態による画像信号処理回路は、第4の実施形態による画像信号処理回路と同様に動作し、第4の実施形態と同様の効果が得られる。ただし、第5の実施形態による画像信号処理回路では、クランプ動作は電源投入後から複数回繰り返すことによって目標のクランプレベルに到達するので、クランプ動作の最初の数回においては目標のクランプレベルと実際の遮光画素からの出力信号との差が大きく、クランプ処理1回あたりの補正量も大きい。このため前回の処理に用いた平均値と現在のレベルとの差は、この補正量分だけ必ず差として存在する。したがって、キズしきい値として補正量分よりも大きな値を設定していない場合には、現在のレベルがすべて異常レベルとして判定されることになり、クランプ動作が正常に行えない。 The image signal processing circuit according to the fifth embodiment described above operates in the same manner as the image signal processing circuit according to the fourth embodiment, and the same effects as those of the fourth embodiment can be obtained. However, in the image signal processing circuit according to the fifth embodiment, the clamp operation reaches the target clamp level by repeating the operation a plurality of times after the power is turned on. The difference from the output signal from the light-shielding pixel is large, and the correction amount per clamping process is large. Therefore, the difference between the average value used in the previous process and the current level always exists as a difference by this correction amount. Therefore, if a value larger than the correction amount is not set as the scratch threshold value, all the current levels are determined as abnormal levels, and the clamping operation cannot be performed normally.
そこで、上記図5に示した例では、現在のクランプ誤差に比例させて、現在のクランプ誤差の4倍をキズしきい値として使用する。なお、上述した例ではゲイン値を4倍としているが、これに限定されるものではなく、ゲイン値は固体撮像素子の特性などを含めたシステムによって最適な値が異なるので、各特性を考慮した上でゲイン値を設定すれば良い。 Therefore, in the example shown in FIG. 5, four times the current clamping error is used as the scratch threshold value in proportion to the current clamping error. In the above-described example, the gain value is set to four times. However, the gain value is not limited to this, and the optimum value varies depending on the system including the characteristics of the solid-state imaging device. The gain value should be set above.
上記図5に示した画像信号処理回路では、この(クランプ誤差)×4(ゲイン)のレベルと基準レベルレジスタ49に保持されている基準レベルとを比較して、そのうち大きい方をキズしきい値として加算器44Aに供給するよう構成している。ここで、基準レベルは、キズしきい値として必要最小のレベルを意味している。
In the image signal processing circuit shown in FIG. 5, the level of (clamp error) × 4 (gain) is compared with the reference level held in the
仮に、基準レベルとの比較処理を行わずに、必ず(クランプ誤差)×4のレベルをキズしきい値としてしまうと、クランプ誤差が小さくなり0となった場合に、キズしきい値が0となってしまい、現在のレベルがすべて異常レベルであると判定される。このため、第5の実施形態による画像信号処理回路は、基準レベルを保持するレジスタ49を設け、(クランプ誤差)×4のレベルと基準レベルとを比較することで、キズしきい値が基準値以下になることを確実に回避することができるように構成している。
If the level of (clamp error) × 4 is always set as the scratch threshold without performing the comparison process with the reference level, the scratch threshold becomes 0 when the clamp error is reduced to zero. Thus, it is determined that all the current levels are abnormal levels. For this reason, the image signal processing circuit according to the fifth embodiment is provided with the
(本発明の他の実施形態)
次に、上述した各実施形態における画像信号処理回路をカメラに適用した場合について説明する。
図6は、各実施形態における画像信号処理回路を「スチルビデオカメラ」に適用した場合の構成例を示すブロック図である。
(Other embodiments of the present invention)
Next, a case where the image signal processing circuit in each of the above-described embodiments is applied to a camera will be described.
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration example when the image signal processing circuit in each embodiment is applied to a “still video camera”.
図6において、61はレンズのプロテクトとメインスイッチを兼ねるバリア、62は被写体の光学像を固体撮像素子64に結像させるレンズ、63はレンズ62を通った光量を可変するための絞り、64はレンズ62で結像された被写体を画像信号として取り込むための固体撮像素子、65は任意の上述した実施形態による画像信号処理回路、66は画像信号処理回路65より出力された画像データに各種の補正を行ったりデータを圧縮したりする信号処理部、67は固体撮像素子64、画像信号処理回路65、信号処理部66に、各種タイミング信号を出力するタイミング発生部、68は各種演算とスチルビデオカメラ全体を制御する全体制御・演算部、69は画像データを一時的に記憶する為のメモリ部、70は記録媒体に記録または読み出しを行うためのインターフェース部、71は画像データの記録または読み出しを行う為の半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体、72は外部コンピュータ等と通信する為のインターフェース部である。
In FIG. 6, 61 is a barrier that serves as a lens switch and a main switch, 62 is a lens that forms an optical image of a subject on the solid-
次に、上述の構成における撮影時のスチルビデオカメラの動作について説明する。
バリア61がオープンされるとメイン電源がオンされ、次にコントロール系の電源がオンし、更に画像信号処理回路65などの撮像系回路の電源がオンされる。
Next, the operation of the still video camera at the time of shooting in the above configuration will be described.
When the
それから、露光量を制御する為に、全体制御・演算部68は絞り63を開放にし、固体撮像素子64から出力された信号は画像信号処理回路65で所定の処理が施された後、信号処理部66に入力される。
そのデータを基に露出の演算を全体制御・演算部68で行う。
この測光を行った結果により明るさを判断し、その結果に応じて全体制御・演算部68は絞りを制御する。
Then, in order to control the exposure amount, the overall control /
Based on the data, exposure calculation is performed by the overall control /
The brightness is determined based on the result of the photometry, and the overall control /
次に、固体撮像素子64から出力された信号をもとに、高周波成分を取り出し被写体までの距離の演算を全体制御・演算部68で行う。その後、レンズ62を駆動して合焦か否かを判断し、合焦していないと判断した時は、再びレンズ62を駆動し測距を行う。
Next, based on the signal output from the solid-
そして、合焦が確認された後に本露光が始まる。
露光が終了すると、固体撮像素子64から出力された画像信号は、画像信号処理回路65でA/D変換等を含む所定の処理がなされ、信号処理部66を通り全体制御・演算部68によりメモリ部69に書き込まれる。
Then, after the in-focus state is confirmed, the main exposure starts.
When the exposure is completed, the image signal output from the solid-
その後、メモリ部69に蓄積されたデータは、全体制御・演算部68の制御により記録媒体制御I/F部70を通り半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体71に記録される。
また、外部I/F部72を通り直接コンピュータ等に入力して画像の加工を行ってもよい。
Thereafter, the data stored in the
Further, the image may be processed by directly inputting to a computer or the like through the external I /
なお、上記実施形態では、回路のオフセット量を調整する処理において、ADコンバータ3より出力される固体撮像素子の遮光画素からの信号を用いるようにしているが、ADコンバータ3に入力される前の固体撮像素子からの信号を用いるようにしても良く、この場合には、各回路を適宜アナログ回路で構成すれは良い。
また、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
In the above embodiment, in the process of adjusting the offset amount of the circuit, a signal from the light-shielded pixel of the solid-state imaging device output from the
In addition, each of the above-described embodiments is merely an example of implementation in carrying out the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed as being limited thereto. That is, the present invention can be implemented in various forms without departing from the technical idea or the main features thereof.
3 ADコンバータ
4A〜4D 比較回路
5 クランプレベルレジスタ
6 クランプ回路
42 OBレベル平均化回路
43 1H前OB平均レジスタ
44 加算器
45 キズしきい値レジスタ
46 比較回路
3
Claims (10)
上記複数の遮光画素からの信号の平均値を算出して出力するとともに、算出した平均値を保持する平均化処理手段と、
上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとを比較する比較手段と、
上記平均化処理手段により算出された平均値に基づいて、上記遮光画素からの信号を所定のレベルに調整するクランプ手段とを備え、
上記比較手段による比較結果に応じて、上記複数の遮光画素からの信号又は上記平均化処理手段に保持されている平均値を選択的に上記平均化処理手段に供給し、かつ上記比較手段による比較の結果、上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとの差が予め設定したしきい値より大きい場合には、上記複数の遮光画素からの信号にかえて、上記平均化処理手段に保持されている平均値を上記平均化処理手段に供給することを特徴とする画像信号処理回路。 An image signal processing circuit that performs predetermined processing on an image signal from a solid-state imaging device having a plurality of effective pixels and a plurality of light-shielding pixels,
An average value processing means for calculating and outputting an average value of signals from the plurality of light-shielding pixels and holding the calculated average value;
Comparison means for comparing the average value held in the averaging processing means with the levels of signals from the plurality of light-shielding pixels;
Clamping means for adjusting the signal from the light-shielded pixel to a predetermined level based on the average value calculated by the averaging processing means;
In accordance with the comparison result by the comparison means, the signals from the plurality of light-shielded pixels or the average value held in the averaging processing means are selectively supplied to the averaging processing means , and the comparison by the comparison means is performed. As a result, if the difference between the average value held in the averaging processing means and the level of the signal from the plurality of light shielding pixels is larger than a preset threshold value, An image signal processing circuit for supplying an average value held in the averaging processing means to the averaging processing means in place of a signal.
上記しきい値レベル比較手段による比較結果に応じて、上記k倍したクランプ誤差のレベル又は上記基準レベルを選択的に上記しきい値として設定することを特徴とする請求項2記載の画像信号処理回路。 Threshold level comparison means for comparing a level obtained by multiplying the clamping error by the clamping means by k times (k is a number of 1 or more) and a reference level related to the threshold value;
3. The image signal processing according to claim 2, wherein the clamp error level multiplied by k or the reference level is selectively set as the threshold value in accordance with a comparison result by the threshold level comparison means. circuit.
上記平均算出手段により算出した平均値を記憶する平均記憶手段とを備えることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の画像信号処理回路。 The averaging processing means calculates and outputs an average value of signals from the plurality of light-shielding pixels; and
The image signal processing circuit according to claim 1, further comprising an average storage unit that stores an average value calculated by the average calculation unit.
上記複数の遮光画素からの信号の平均値を算出して出力するとともに、前回の上記クランプ処理にて用いた上記複数の遮光画素からの信号の平均値を保持する平均化処理手段と、
上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとを比較する比較手段とを備え、
上記比較手段による比較の結果、上記平均化処理手段に保持されている平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとの差が予め設定したしきい値より大きい場合には、上記複数の遮光画素からの信号にかえて、上記平均化処理手段に保持されている前回のクランプ処理にて用いた上記複数の遮光画素からの信号の平均値を上記平均化処理手段に供給することを特徴とする画像信号処理回路。 An image signal processing circuit having clamp means for performing clamp processing for adjusting a signal from the light-shielded pixel of a solid-state imaging device having a plurality of effective pixels and a plurality of light-shielded pixels to a predetermined level,
An average processing means for calculating and outputting an average value of signals from the plurality of light shielding pixels and holding an average value of signals from the plurality of light shielding pixels used in the previous clamping process;
Comparing means for comparing the average value held in the averaging processing means and the signal levels from the plurality of light-shielding pixels,
As a result of the comparison by the comparison means, if the difference between the average value held in the averaging processing means and the level of the signal from the plurality of light shielding pixels is larger than a preset threshold value, the plurality of In place of the signal from the light-shielded pixels, the average value of the signals from the plurality of light-shielded pixels used in the previous clamping process held in the averaging processing means is supplied to the averaging processing means. A characteristic image signal processing circuit.
光学像を固体撮像素子に結像させるためのレンズと、
上記レンズを通る光量を可変するための絞りとを備えることを特徴とするカメラ。 The image signal processing circuit according to claim 1 or 7,
A lens for forming an optical image on a solid-state imaging device;
A camera comprising: an aperture for changing the amount of light passing through the lens.
上記複数の遮光画素からの信号の平均値を算出して出力するとともに、算出した平均値を保持する平均化処理工程と、
上記平均化処理工程にて保持された平均値と、上記複数の遮光画素からの信号のレベルとを比較する比較工程と、
上記平均化処理工程にて算出された平均値に基づいて、上記遮光画素からの信号を所定のレベルに調整するクランプ工程とを有し、
上記比較工程での比較の結果、上記平均化処理工程にて保持された平均値と上記複数の遮光画素からの信号のレベルとの差が予め設定したしきい値より大きい場合には、上記平均化処理工程にて用いる上記複数の遮光画素からの信号にかえて上記平均化処理工程にて保持された平均値を供給することを特徴とする画像信号処理方法。 An image signal processing method for performing predetermined processing on an image signal from a solid-state imaging device having a plurality of effective pixels and a plurality of light-shielding pixels,
An average processing step for calculating and outputting an average value of signals from the plurality of light-shielding pixels and holding the calculated average value;
A comparison step for comparing the average value held in the averaging processing step with the signal levels from the plurality of light-shielding pixels;
A clamping step of adjusting the signal from the light-shielding pixel to a predetermined level based on the average value calculated in the averaging processing step;
As a result of the comparison in the comparison step, if the difference between the average value held in the averaging process step and the level of the signal from the plurality of light shielding pixels is larger than a preset threshold value, the average An image signal processing method comprising: supplying an average value held in the averaging processing step in place of signals from the plurality of light shielding pixels used in the averaging processing step.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004252386A JP4719442B2 (en) | 2004-08-31 | 2004-08-31 | Image signal processing circuit, camera, and image signal processing method |
US11/212,636 US7750955B2 (en) | 2004-08-31 | 2005-08-29 | Image signal processing apparatus, image signal processing method and camera using the image signal processing apparatus |
US12/783,323 US8223228B2 (en) | 2004-08-31 | 2010-05-19 | Image signal processing apparatus, image signal processing method and camera using the image signal processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004252386A JP4719442B2 (en) | 2004-08-31 | 2004-08-31 | Image signal processing circuit, camera, and image signal processing method |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010106637A Division JP2010178384A (en) | 2010-05-06 | 2010-05-06 | Image signal processing circuit, camera and image signal processing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006074172A JP2006074172A (en) | 2006-03-16 |
JP4719442B2 true JP4719442B2 (en) | 2011-07-06 |
Family
ID=36154354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004252386A Active JP4719442B2 (en) | 2004-08-31 | 2004-08-31 | Image signal processing circuit, camera, and image signal processing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4719442B2 (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007295260A (en) * | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Fujifilm Corp | Image processing method and digital camera |
JP2008054281A (en) * | 2006-07-26 | 2008-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Automatic adjuster for image capture circuit |
JP2008109639A (en) * | 2006-09-25 | 2008-05-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Imaging device and imaging method |
US7800663B2 (en) * | 2006-09-25 | 2010-09-21 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Image pickup device and image pickup method |
JP5045245B2 (en) * | 2007-05-31 | 2012-10-10 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Imaging apparatus and image processing method |
JP2008311985A (en) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Panasonic Corp | Phase adjustment apparatus and digital camera |
US8665350B2 (en) * | 2008-05-08 | 2014-03-04 | Altasens, Inc. | Method for fixed pattern noise (FPN) correction |
EP3236652A4 (en) * | 2014-12-19 | 2018-07-11 | Olympus Corporation | Endoscope and endoscope system |
WO2016185698A1 (en) * | 2015-05-21 | 2016-11-24 | 富士フイルム株式会社 | Infrared imaging device |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2812126B2 (en) * | 1993-01-13 | 1998-10-22 | 住友金属工業株式会社 | Rank order filter |
JP2002077738A (en) * | 2000-08-28 | 2002-03-15 | Nikon Corp | Clamp device |
JP2003143487A (en) * | 2001-11-02 | 2003-05-16 | Olympus Optical Co Ltd | Image pickup device |
JP4194336B2 (en) * | 2002-07-25 | 2008-12-10 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | Semiconductor integrated circuit, defective pixel correction method, and image processor |
JP2004147247A (en) * | 2002-10-28 | 2004-05-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Imaging apparatus |
JP3963449B2 (en) * | 2002-10-31 | 2007-08-22 | キヤノン株式会社 | Imaging device |
-
2004
- 2004-08-31 JP JP2004252386A patent/JP4719442B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006074172A (en) | 2006-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7692699B2 (en) | Image pickup apparatus for preventing linearity defect | |
US7508975B2 (en) | Image sensor | |
JP4768448B2 (en) | Imaging device | |
JP4742652B2 (en) | Imaging device | |
JP5852324B2 (en) | Imaging apparatus, control method therefor, and program | |
JP5526014B2 (en) | Imaging device | |
JP2006157882A (en) | Solid state imaging device | |
US20060197853A1 (en) | Solid-state image pickup apparatus for correcting a seam between divided images and a method therefor | |
JP4719442B2 (en) | Image signal processing circuit, camera, and image signal processing method | |
US8379116B2 (en) | Image pick-up apparatus and image processing method | |
JP5207926B2 (en) | Imaging apparatus and control method thereof | |
JP2010200109A (en) | Imaging device, control method, and program | |
US10623674B2 (en) | Image processing device, image processing method and computer readable recording medium | |
JP2008148063A (en) | Imaging apparatus | |
JP2010178384A (en) | Image signal processing circuit, camera and image signal processing method | |
JP4732795B2 (en) | Solid-state imaging device and image correction method | |
JP2017142484A (en) | Imaging device, controlling method of the same, program and storage medium | |
JP7134786B2 (en) | Imaging device and control method | |
JP2007295260A (en) | Image processing method and digital camera | |
JP2009302850A (en) | Noise removal device of solid-state image sensor, image capturing apparatus, noise removal method of solid-state image sensor | |
JP2011009834A (en) | Imager and imaging method | |
JP4725052B2 (en) | Imaging device | |
JP6704611B2 (en) | Imaging device and imaging method | |
JP2007096607A (en) | Image processing apparatus | |
JP2007281759A (en) | Imaging device and imaging apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070830 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100302 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100506 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110329 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110404 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4719442 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140408 Year of fee payment: 3 |