JP4714693B2 - 交番電磁界に影響を与える部品を区別するためのプロセスおよび装置 - Google Patents
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Claims (26)
- 材料の流れの中にあり交番電磁界に影響を与える部品を、それぞれに検出し区別するためのプロセスであって、
材料の流れの幅にわたって広がる交番電磁界を発生させることを有し、電磁界と材料の流れとの間の相対運動を発生させることを有し、および、逆向きに接続された2つの巻線(4a、4b)を持つ検出器コイル(4)によって、検出信号(DS)の位相信号部分(PS)と振幅信号部分(AS)とを検出することを有し、該検出器コイルは交番電磁界の有効範囲内に配置されており、該検出信号(DS)は、交番電磁界と、材料の流れの中に位置し該交番電磁界に影響を与える部品との間の相対運動によって生じる磁束の変化から誘導されるものであって、その特徴が、
検出信号(DS)の位相信号部分(PS)と振幅信号部分(AS)の進行を、それぞれの時点において変量の対として座標系内にプロットすることによって、軌跡曲線(15、20、30)が、検出信号(DS)の進行から形成されること、および、
軌跡曲線(15、20、30)が材料固有の特性に関して評価され、かつ、識別信号(ES)が材料固有の特性の検出に依って発せられることである、
前記プロセス。 - 軌跡曲線(15、20、30)が形成される座標系が、デカルト座標系または極座標系であることを特徴とする、請求項1記載のプロセス。
- 検出信号(DS)の位相信号部分(PS)および/または振幅信号部分(AS)の、絶対値が、軌跡曲線(15、20、30)を形成するために用いられることを特徴とする、請求項1または2記載のプロセス。
- 振幅信号部分(AS')が、非線形特性曲線を介して調節されることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載のプロセス。
- 軌跡曲線(15、20、30)の評価が、画像処理法を用いて行われることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載のプロセス。
- 軌跡曲線(15、20、30)の評価が、パターン認識法を用いて行われることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載のプロセス。
- パターン認識法が、予め定められた任意に調節可能な材料固有の曲線または曲線群と比較することを有しており、曲線群の個々の曲線が、交番電磁界に影響を与える検出部品の、異なる純度、幾何学的形状、またはサイズを、好ましく表していることを特徴とする、請求項6記載のプロセス。
- 形成された軌跡曲線(15、20、30)を、予め定められた曲線または曲線群と比較することが、類似点の少なくとも1つの測定値の検出を含んでおり、かつ、少なくとも1つの測定値を少なくとも1つの設定値と比較することを含んでいることを特徴とする、請求項7記載のプロセス。
- 軌跡曲線の評価法が、軌跡曲線の特徴を示す点のポジションを、好ましくはその変曲点(15a、15b;21;31、32)または極値(15c)のポジションを、判定することを含んでおり、かつ、これらポジションを、標準ポジションまたは限界値または外縁範囲(16a、16b)とそれぞれに比較することを含んでいることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載のプロセス。
- 識別信号(ES)が、材料固有の識別信号として構成されることを特徴とする、請求項1〜9のいずれか1項に記載のプロセス。
- 識別信号(ES)が、交番電磁界に影響を与える検出部品を材料の流れから分離するための手段を作動させることを特徴とする、請求項1〜10のいずれか1項に記載のプロセス。
- 複数の検出器コイル(4)が材料の流れをわたって配置され、それらの検出信号が、軌跡曲線の形成と評価とによって、お互いに独立して評価されることを特徴とする、請求項1〜11のいずれか1項に記載のプロセス。
- 材料の流れの中にあり交番電磁界に影響を与える部品を、それぞれに検出し区別するための装置であって、
材料の流れの運搬距離の幅にわたって広がる交番電磁界を発生させるための、発振器(1)と少なくとも1つの送信コイル(2)を有し、少なくとも1つの検出器コイル(4)を有し、該検出コイルは、交番電磁場を検出するための、および、検出信号を発生させるためのものであり、該検出信号は、交番電磁界と、材料の流れの中に位置し該交番電磁界に影響を与える部品との間の相対運動によって検出コイルに誘導されるものであり、加えて、当該装置は、位相信号部分(PS')を検出するための手段(7)を有するものであって、
検出信号から軌跡曲線を形成するための手段(12)によって特徴づけられ、その手段に、検出信号の位相信号部分(PS)と振幅信号部分(AS)とが供給され得、軌跡曲線を形成するための該手段(12)は、検出信号の位相信号部分と振幅信号部分の進行が、それぞれの時点において変量の対として座標系内にプロットされるように設計されており、該軌跡曲線(15、20、30)はそれらから構成され、かつ、
材料固有の特性に関連する軌跡曲線の評価を行うための、かつ、材料固有の特性の検出時に依って識別信号(ES)を発するための手段(14)によって特徴づけられている、前記装置。 - 軌跡曲線を形成するための手段(12)と、軌跡曲線を評価するための手段(14)とが、信号プロセッサー、特に、デジタル信号プロセッサー(DSP)として設計されており、ここで、軌跡曲線を形成するための手段(12)と、軌跡曲線を評価するための手段(14)とが、好ましくは、お互いに一体的になっていることを特徴とする、請求項13記載の装置。
- 振幅信号部分(AS')を非線形特性曲線を通して調節するための手段(6)が備えられていることを特徴とする、請求項13または14記載の装置。
- 検出信号(DS)の振幅信号部分(AS'')および/または位相信号部分の、絶対値を判定するための手段(8)が、好ましくは整流器として設計され、備えられていることを特徴とする、請求項13〜15のいずれか1項に記載の装置。
- 検出信号(DS)中の干渉信号をフィルターで取り除くためのフィルター(5)、好ましくは帯域通過フィルターが、備えられていることを特徴とする、請求項13〜16のいずれか1項に記載の装置。
- 検出信号(DS)の振幅信号部分(AS''')および/または位相信号部分を、形成するための低帯域通過フィルター(9)が備えられていることを特徴とする、請求項13〜17のいずれか1項に記載の装置。
- 軌跡曲線を評価するための手段(12)が、画像処理手段を有していることを特徴とする、請求項13〜18のいずれか1項に記載の装置。
- 軌跡曲線を評価するための手段(12)が、パターン認識手段を有していることを特徴とする、請求項13〜18のいずれか1項に記載の装置。
- 軌跡曲線を評価するための手段(12)が、軌跡曲線(15、20、30)を、予め定められた任意に調節可能な材料固有の曲線または曲線群と比較するために設計されており、曲線群の各曲線が、交番電磁界に影響を与える検出部品の、異なる純度、幾何学的形状、またはサイズを、好ましくは表していることを特徴とする、請求項20記載の装置。
- 軌跡曲線(15、20、30)を予め定められた曲線または曲線群と比較することが、類似点の少なくとも1つの測定値の検出を含んでおり、かつ、少なくとも1つの測定値を少なくとも1つの設定値と比較することを含んでいることを特徴とする、請求項21記載の装置。
- 軌跡曲線を評価するための手段(12)が、軌跡曲線(15、20、30)の特徴を示す点のポジションの判定、好ましくはその変曲点(15a、15b;21;31、32)または極値(15c)のポジションの判定のために設計されており、かつ、これらポジションを、標準ポジションまたは限界値または外縁範囲(16a、16b)とそれぞれに比較するために設計されていることを特徴とする、請求項13〜18のいずれか1項に記載の装置。
- 識別信号(ES)が、材料固有の識別信号であることを特徴とする、請求項13〜23のいずれか1項に記載の装置。
- 識別信号(ES)が、交番電磁界に影響を与える検出部品を材料の流れから分離するための手段を作動させることを特徴とする、請求項13〜24のいずれか1項に記載の装置。
- 複数の、送信コイル(2)と検出器コイル(4)とが、材料の流れの運搬距離を横切って配置されており、ある時点で送信コイル(2)が検出器コイル(4)に割り当てられ、かつ、検出器コイルの検出信号が、軌跡曲線へと形成されかつお互いに独立して評価されることを特徴とする、請求項13〜25のいずれか1項に記載の装置。
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