JP4698136B2 - 帯域分布検査装置、および帯域分布検査方法 - Google Patents
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Description
また、図7中(B)の場合は、第1実施形態の帯域分布検査装置(図1)に備えられているコンデンサC1をなくし、デジタイザ51を備える。デジタイザ51からの出力信号を判定部52で判定することにより、平滑器19からの実効値出力のデューティを検出する。
例えば、本実施形態においては、デバイス11から出力されるスペクトラム拡散されて周期的に周波数変動する拡散発振信号SSSの帯域分布を検査する場合を例にとり説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、発振信号に付加されるジッタ等の不定期な周波数変動についても同様に検査することができることは言うまでもない。
また、本実施形態では、バンドパスフィルタの出力を平滑することにより、平均化された信号について検査を行い、周波数変動の周期や周波数変動における波形の乱れ等を検査する場合を説明した。本発明はこれに限定されるものではなく、バンドパスフィルタの出力にピークホールド回路を備えてやれば、バンドパスフィルタを介して出力される通過帯域での信号における信号振幅の最大値を検出することができる。これにより、拡散発振信号SSSの帯域分布を検査することも可能である。
(付記1) 基本発振信号の基本周波数を基本とし基本周波数からの周波数変動を含んで発振する拡散発振信号に関し、帯域分布を検査する帯域分布検査装置において、
前記拡散発振信号が入力され、帯域分布に比して所定狭帯域幅の所定通過帯域を有するバンドパスフィルタと、
前記バンドパスフィルタから出力される所定帯域通過信号を受け、信号振幅に応じた帯域強度信号を出力する信号強度検出器とを備え、
基本周波数が変化する前記基本発振信号に応じて帯域分布がシフトして所定帯域通過信号との位置が変化することにより、帯域分布が検査されることを特徴とする帯域分布検査装置。
(付記2) 前記基本発振信号の基本周波数を調整可能に設定する発振部を備えることを特徴とする付記1に記載の帯域分布検査装置。
(付記3) 基本周波数を基本とし基本周波数からの周波数変動を含んで発振する拡散発振信号に関し、帯域分布を検査する帯域分布検査装置において、
帯域分布における帯域位置ごとに所定狭帯域幅の通過帯域を有して備えられ、前記拡散発振信号が入力される、複数のバンドパスフィルタと、
前記バンドパスフィルタから出力される帯域通過信号を受け、信号振幅に応じた帯域強度信号を出力する信号強度検出器とを備え、
個々の前記バンドパスフィルタからの帯域通過信号に応じて、帯域分布が検査されることを特徴とする帯域分布検査装置。
(付記4) 前記複数のバンドパスフィルタから一つのバンドパスフィルタを選択し、前記拡散発振信号に対して選択された通過帯域の帯域通過信号を前記信号強度検出器に送出する切替部を備えることを特徴とする付記3に記載の帯域分布検査装置。
(付記5) 前記信号強度検出器は前記バンドパスフィルタごとに備えられ、通過帯域の異なる帯域通過信号ごとに帯域強度信号が並列出力されることを特徴とする付記3に記載の帯域分布検査装置。
(付記6) 前記信号強度検出器は、帯域通過信号の信号振幅を増幅する振幅増幅器を備えることを特徴とする付記1乃至5の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査装置。(付記7) 前記信号強度検出器は、帯域通過信号あるいは前記振幅増幅器からの出力信号を、前記拡散発振信号の発振周波数帯域において平滑する第1平滑器を備えることを特徴とする付記1乃至6の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査装置。
(付記8) 前記信号強度検出器からの出力信号は、周波数計数器、または/および周波数解析器に入力されることを特徴とする付記7に記載の帯域分布検査装置。
(付記9) 前記信号強度検出器は、帯域通過信号、前記振幅増幅器からの出力信号、あるいは前記第1平滑器からの出力信号を、前記拡散発振信号の周波数変動の周期において平滑する第2平滑器を備えることを特徴とする付記1乃至8の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査装置。
(付記10) 前記信号強度検出器は、帯域通過信号のピーク値または前記振幅増幅器からの出力信号のピーク値を保持するピーク値保持回路を備えることを特徴とする付記1乃至6の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査装置。
(付記11) 基本発振信号の基本周波数を基本とし基本周波数からの周波数変動を含んで発振する拡散発振信号に関し、帯域分布を検査する帯域分布検査方法であって、
前記基本発振信号の基本周波数を順次変化させる周波数設定ステップを有し、
設定された基本周波数ごとに、
前記拡散発振信号のうち、所定帯域位置にあって帯域分布に比して所定狭帯域幅の所定帯域信号を選択する所定帯域選択ステップと、
選択された所定帯域信号の信号振幅に応じた帯域強度信号を出力する信号強度検出ステップとを有して、帯域分布が検査されることを特徴とする帯域分布検査方法。
(付記12) 基本周波数を基本とし基本周波数からの周波数変動を含んで発振する拡散発振信号に関し、帯域分布を検査する帯域分布検査方法であって、
前記拡散発振信号のうち、帯域分布に比して所定狭帯域幅の帯域信号を、帯域位置ごとに選択する帯域選択ステップと、
選択された帯域信号ごとに、帯域信号の信号振幅に応じた帯域強度信号を出力する信号強度検出ステップとを有して、帯域分布が検査されることを特徴とする帯域分布検査方法。
(付記13) 前記帯域選択ステップでは、帯域位置ごとの選択が順次行われ、
前記信号強度検出ステップが、選択された帯域信号ごとに順次行われることを特徴とする付記12に記載の帯域分布検査方法。
(付記14) 前記帯域選択ステップでは、帯域位置ごとの選択が並列して行われ、
前記信号強度検出ステップでは、選択された帯域信号が並列に処理されることを特徴とする付記12に記載の帯域分布検査方法。
(付記15) 前記信号強度検出ステップでは、帯域信号が前記拡散発振信号の発振周波数帯域において平滑された第1平滑信号に応じて、帯域強度信号が出力されることを特徴とする付記11乃至14の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査方法。
(付記16) 帯域強度信号の発振周期または/および発振デューティを計測する周波数変動特性検査ステップを有することを特徴とする付記15に記載の帯域分布検査方法。
(付記17) 前記信号強度検出ステップでは、帯域信号、または第1平滑信号が前記拡散発振信号の周波数変動の周期において平滑された第2平滑信号に応じて、帯域強度信号が出力されることを特徴とする付記11乃至16の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査方法。
(付記18) 前記信号強度検出ステップでは、帯域信号のピーク値を保持するピーク値保持ステップを有することを特徴とする付記11乃至14の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査方法。
12A乃至12E、14A乃至14E
切替スイッチ
13、62−1乃至62−3、63、64−1乃至64−3
リレー
15 整合部
17、17A乃至17E、17−1乃至17−3
バンドパスフィルタ
19 平滑器
21 汎用検査装置
22 帯域分布検出部
23 発振部
25、41 比較器
27、43、52 判定部
31 発振器
42 周波数カウンタ
51 デジタイザ
61 モジュール基板
C1 コンデンサ
CTL 制御信号
Δf 所定狭帯域幅
fS 周波数ステップ
ΔfSS 変動幅
J 判定信号
S0 基本発振信号
SAV DC信号
SBP 所定帯域通過信号
SSS 拡散発振信号
Claims (6)
- 基本発振信号の基本周波数を基本とし基本周波数からの周波数変動を含んで発振する拡散発振信号に関し、帯域分布を検査する帯域分布検査装置において、
前記拡散発振信号が入力され、帯域分布に比して所定狭帯域幅の所定通過帯域を有するバンドパスフィルタと、
前記バンドパスフィルタから出力される所定帯域通過信号を受け、信号振幅に応じた帯域強度信号を出力する信号強度検出器とを備え、
基本周波数が変化する前記基本発振信号に応じて帯域分布がシフトして所定帯域通過信号との位置が変化することにより、帯域分布が検査されることを特徴とする帯域分布検査装置。 - 前記信号強度検出器は、帯域通過信号の信号振幅を増幅する振幅増幅器を備えることを特徴とする請求項1に記載の帯域分布検査装置。
- 前記信号強度検出器は、帯域通過信号あるいは前記振幅増幅器からの出力信号を、前記拡散発振信号の発振周波数帯域において平滑する第1平滑器を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の帯域分布検査装置。
- 前記信号強度検出器からの出力信号は、周波数計数器、または/および周波数解析器に入力されることを特徴とする請求項3に記載の帯域分布検査装置。
- 前記信号強度検出器は、帯域通過信号、前記振幅増幅器からの出力信号、あるいは前記第1平滑器からの出力信号を、前記拡散発振信号の周波数変動の周期において平滑する第2平滑器を備えることを特徴とする請求項1乃至3の少なくとも何れか1項に記載の帯域分布検査装置。
- 基本発振信号の基本周波数を基本とし基本周波数からの周波数変動を含んで発振する拡散発振信号に関し、帯域分布を検査する帯域分布検査方法であって、
前記基本発振信号の基本周波数を順次変化させる周波数設定ステップを有し、
設定された基本周波数ごとに、
前記拡散発振信号のうち、所定帯域位置にあって帯域分布に比して所定狭帯域幅の所定帯域信号を選択する所定帯域選択ステップと、
選択された所定帯域信号の信号振幅に応じた帯域強度信号を出力する信号強度検出ステップとを有して、帯域分布が検査されることを特徴とする帯域分布検査方法。
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CN111913170B (zh) * | 2020-08-12 | 2023-08-08 | 南京英锐创电子科技有限公司 | 信号发送装置 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61108973A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-27 | Pioneer Electronic Corp | 周波数特性検出装置 |
JPH04295772A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Dx Antenna Co Ltd | レベル測定装置 |
JPH0658807A (ja) * | 1992-08-12 | 1994-03-04 | Unisia Jecs Corp | 周波数検出装置 |
JPH0694766A (ja) * | 1992-09-16 | 1994-04-08 | Anritsu Corp | 電子回路の周波数特性測定装置 |
JPH0735789A (ja) * | 1993-07-16 | 1995-02-07 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザの電力測定装置及び方法 |
JPH0998152A (ja) * | 1995-04-20 | 1997-04-08 | Lexmark Internatl Inc | 拡散スペクトル・クロック生成装置 |
JPH10300800A (ja) * | 1997-04-25 | 1998-11-13 | New Japan Radio Co Ltd | 信号スペクトル計測装置 |
JPH11153631A (ja) * | 1997-11-21 | 1999-06-08 | Nec Corp | 周波数測定回路 |
JP2000258477A (ja) * | 1999-03-08 | 2000-09-22 | Advantest Corp | スペクトラム同時測定装置 |
JP2001069017A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-16 | Nec Saitama Ltd | 無線通信装置、周波数検出回路および周波数検出方法 |
JP2003207544A (ja) * | 2002-01-15 | 2003-07-25 | Mitsubishi Electric Corp | Ic内蔵発振回路のテスト装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4339711A (en) * | 1979-07-10 | 1982-07-13 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Spectrum displaying apparatus for multichannel signals |
US6811291B1 (en) * | 1984-03-28 | 2004-11-02 | Lockheed Martin Corporation | Detector for signals with harmonically related components |
JPH01296169A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Sony Corp | スペクトラムアナライザ |
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61108973A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-27 | Pioneer Electronic Corp | 周波数特性検出装置 |
JPH04295772A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-20 | Dx Antenna Co Ltd | レベル測定装置 |
JPH0658807A (ja) * | 1992-08-12 | 1994-03-04 | Unisia Jecs Corp | 周波数検出装置 |
JPH0694766A (ja) * | 1992-09-16 | 1994-04-08 | Anritsu Corp | 電子回路の周波数特性測定装置 |
JPH0735789A (ja) * | 1993-07-16 | 1995-02-07 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザの電力測定装置及び方法 |
JPH0998152A (ja) * | 1995-04-20 | 1997-04-08 | Lexmark Internatl Inc | 拡散スペクトル・クロック生成装置 |
JPH10300800A (ja) * | 1997-04-25 | 1998-11-13 | New Japan Radio Co Ltd | 信号スペクトル計測装置 |
JPH11153631A (ja) * | 1997-11-21 | 1999-06-08 | Nec Corp | 周波数測定回路 |
JP2000258477A (ja) * | 1999-03-08 | 2000-09-22 | Advantest Corp | スペクトラム同時測定装置 |
JP2001069017A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-16 | Nec Saitama Ltd | 無線通信装置、周波数検出回路および周波数検出方法 |
JP2003207544A (ja) * | 2002-01-15 | 2003-07-25 | Mitsubishi Electric Corp | Ic内蔵発振回路のテスト装置 |
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