JP4687414B2 - パワー半導体モジュール - Google Patents
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Description
すなわち、3相交流電源6は、ダイオード(8a〜8f)のブリッジ回路で一旦直流に変換される。整流された直流電源を、電力用半導体素子としての例えばIGBT(絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ)10a〜10fにより、上下アーム交互にスイッチングして交流電力に変換し、負荷であるモータ3に交流電力を供給することにより、モータ3を可変周波数で駆動することができる。
IGBTのスイッチング方法としては、基準正弦波5aと出力電圧指令5bとの大小関係を比較演算部5cにて演算させて、スイッチングパターンを決定するPWM(パルス幅変調)制御が一般に行なわれ、その結果決定されるスイッチングパターンに基づき、駆動回路4を介してIGBT素子10a〜10fをスイッチングさせる。
15は放熱板、16a,16bは例えばセラミックス製の絶縁基板を示す。ここでは、絶縁基板16aには半導体素子8a〜8fからなる整流回路部が形成され、絶縁基板16bには半導体素子10a〜10f,11a〜11fからなるインバータ回路部が形成される。なお、71a〜71eは整流回路部の回路パターン、72a〜72eはインバータ回路部の回路パターンをそれぞれ示している。2a〜2dは上記の各端子である。
すなわち、落雷などによる雷サージや、同系統に接続されている機器の動作に伴う商用電源側からの大きなコモンモードノイズ電流がインバータ機器に印加される場合があり、このコモンモードノイズによりインバータの制御回路が誤動作する場合が生じる。このようなノイズによる誤動作を防止するために、インバータの交流電源入力側にノイズ吸収用コンデンサ(Cin)を接続するのが一般的である。図4aでは、このようなコモンモードノイズ電流Isの経路を点線矢印Lで示し、コンデンサCinを符号14a〜14cで示している。
i=√3×230×2π×60×Cin…(1)
により算出される。例えば、Cin=4700(pF)とすると、i=0.7mAとなる。
また、耐熱性の良い(半導体の使用温度は一般に最大150℃であるため、周辺に設置される部品も同じ温度仕様の部品が必要となる)高価なコンデンサが必要になるという問題もある。
したがって、この発明の課題は、フィルタとして使用するコンデンサを不要とすることで、部品を削減し装置の小型化を図ることにある。
上記請求項1および請求項2の発明に記載のパワー半導体モジュールを、共通の樹脂ケース内に収納することができる(請求項3の発明)。
図1は、先に図5で説明した3相インバータに対する回路パターン例のうち、特に3相交流電源入力部の回路パターンに特徴を持たせたものである。すなわち、3相交流電源入力部の回路パターン71b〜71dの面積を互いにほぼ等しくなるように、つまり互いの面積がコンデンサ部品の一般的な精度である±10%以内に収まるようにしたもので、このことは図5の3相交流電源入力部と比較すれば明瞭である。
図示のように、絶縁セラミックス基板16の表面には通常半導体素子を搭載する回路パターン71a,71b,71eが形成され、裏面にはベタパターン(導体パターン)19が形成され、このベタパターン19が放熱板15に接合されて用いられる。そして、回路パターン面17には、FWDチップ8a〜8dなどが実装され、各回路パターン71a,71b,71eと各チップとはアルミニウムワイヤ18などで接続(配線)されて、先の図1a,2aのような回路が構成される。
C=ε0×εr×S/d…(2)
ここで、ε0:8.854×10-12 εr:セラミックス材料固有の比誘電率
S:各回路パターンの面積 d:絶縁基板の厚さ
したがって、必要なC値が決まれば、上記(2)式に基づき必要材料特性・基板厚さ・回路パターン面積が決定される。因みに、Cin=4700pFとするためには、一般的なセラミックス材のεr≒10、基板厚さ0.2mmとすると、面積S=0.02m2=100cm2となる。
図2は、直流回路部としてのフィルタコンデンサ機能を、インバータ用モジュールの正極,負極側に対する回路パターンに持たせたもので、特に正極および負極側の各回路パターン72aと72eの面積をほぼ同じとなるようにしたものである。こうすることで、正極および負極側の各回路パターン72a,72eと絶縁セラミックス基板16を挟んで対向する裏面の導体パターンとの間で、図2aに示すように、コンデンサ92a,92bが形成される。しかも、これらのコンデンサは、一方の電極が絶縁セラミックス基板16の裏面の導体パターンによって相互に接続された構成となるので、図4bに示すコンデンサ14d,14eに相当する。したがって、直流側に設けた直流リアクトル12とともにコモンモードフィルタを構成し、モータ側からの高周波漏洩電流を低減するようにしている。この場合の絶縁基板に必要な容量は、図1と同じく上記(2)式により導出することができる。これにより、これまで高価なコンデンサ部品としてモジュール内に設置していた図4bに示すコンデンサ14d,14eを省略することが可能となる。
Claims (3)
- 単相または多相交流電源に接続され、樹脂ケース内部に半導体素子を内蔵したパワー半導体モジュールであって、放熱用金属ベースと前記半導体素子とを一枚または複数枚の絶縁基板により絶縁する構造を備え、この絶縁基板上に配置される交流入力側回路パターンの交流各相の電極面積の大きさの差が互いに±10%以内に収まるようにするとともに、前記絶縁基板を、その表面と裏面にそれぞれ導電パターンを有するセラミックス基板とし、その表面と裏面の導電パターンで各相ごとにコンデンサを形成し、裏面の導電パターンにより各相コンデンサの一方の電極を共通に接続して接地し、コモンモードノイズ吸収用フィルタを形成することを特徴とするパワー半導体モジュール。
- 直流電源に接続され、樹脂ケース内部に半導体素子を内蔵したパワー半導体モジュールであって、放熱用金属ベースと前記半導体素子とを一枚または複数枚の絶縁基板により絶縁する構造を備え、この絶縁基板上に配置された回路パターンの直流入力の正極側電極および負極側電極面積の大きさの差が互いに±10%以内に収まるようにするとともに、前記絶縁基板を、その表面と裏面にそれぞれ導電パターンを有するセラミックス基板とし、その表面と裏面の導電パターンで各相ごとにコンデンサを形成し、裏面の導電パターンにより各相コンデンサの一方の電極を共通に接続して接地し、コモンモードノイズ吸収用フィルタを形成することを特徴とするパワー半導体モジュール。
- 前記請求項1または請求項2に記載のパワー半導体モジュールを、共通の樹脂ケース内に収納することを特徴とするパワー半導体モジュール。
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Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4839096B2 (ja) * | 2006-02-13 | 2011-12-14 | 株式会社日立産機システム | 電力変換装置 |
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JP6053668B2 (ja) * | 2013-12-20 | 2016-12-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュールおよび電力変換装置 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH067260U (ja) * | 1992-06-29 | 1994-01-28 | 株式会社三社電機製作所 | 電力用半導体モジュール |
JP2001068622A (ja) * | 1999-08-25 | 2001-03-16 | Nippon Inter Electronics Corp | 複合半導体装置及びその製造方法 |
JP2005252305A (ja) * | 2005-05-16 | 2005-09-15 | Mitsubishi Electric Corp | 電力用半導体装置 |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH067260U (ja) * | 1992-06-29 | 1994-01-28 | 株式会社三社電機製作所 | 電力用半導体モジュール |
JP2001068622A (ja) * | 1999-08-25 | 2001-03-16 | Nippon Inter Electronics Corp | 複合半導体装置及びその製造方法 |
JP2005252305A (ja) * | 2005-05-16 | 2005-09-15 | Mitsubishi Electric Corp | 電力用半導体装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105493649A (zh) * | 2013-08-30 | 2016-04-13 | 株式会社京浜 | 电子控制装置 |
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