JP4686799B2

JP4686799B2 - Adhesive film for semiconductor, lead frame and semiconductor device using the same

Info

Publication number: JP4686799B2
Application number: JP18359999A
Authority: JP
Inventors: 忠司犬飼
Original assignee: Toyobo Co Ltd
Current assignee: Toyobo Co Ltd
Priority date: 1999-06-29
Filing date: 1999-06-29
Publication date: 2011-05-25
Anticipated expiration: 2019-06-29
Also published as: JP2001011421A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体用接着剤フィルム、これを用いたリードフレーム及び半導体装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
現在、ＬＯＣ（ＬｅａｄｏｎＣｈｉｐ）やＣＯＬ（ＣｈｉｐｏｎＬｅａｄ）構造の半導体パッケージ、枠ブタ構造の半導体パッケージ等において、リードフレームとチップの接着にはフィルム状の接着剤が用いられている。フィルム状の接着剤としては基材フィルムの片面、又は両面にエポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルアミドイミド樹脂等の接着剤をコーテイングした構造のものが主に用いられている。通常これらのフィルム状接着剤は、シアーカット、レーザーカット等のスリット方法で細幅にスリットされた後、所定の形状に切り抜かれてリードフレームの所定部分に貼り付けられ使用されるが、スリット時にフィルム状接着剤端部に切断バリや切り屑が多発し、接着剤フィルム付きリードフレーム製造において歩留まりが低下するという問題がある。
【０００３】
現在、これらの切断時の問題は、フィルムをスリットする刃の材質や形状、及び上刃と下刃のクリヤランスを調節することによって一部解決している。しかい、これらの方法では、クリヤランスの調節に時間がかかり、しかも、テープ材の種類によっては、クリヤランス調節後短時間でバリが発生し、再度クリヤランスの調節が必要になり、生産性が低下するといった問題点があり、切断性に優れた接着テープの開発が求められている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、前記の問題を改良し、切断性に優れた、切断時にバリや切り屑が発生しない半導体用接着剤フィルム、このフィルムを用いたリードフレーム及び半導体装置を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、切断時に発生するバリと接着剤フィルムの特性との関係について鋭意研究した結果、特定組成のポリアミドイミド樹脂を接着剤層に用いることにより信頼性を損なわずに切断時のバリの発生を押さえることができることを見いだし、この知見に基づき本発明を完成させた。
即ち、本発明は、支持フィルムの片面または両面に、接着剤層として対数粘度が０．１ｄｌ／ｇ以上でブタジエン系ゴムが共重合されたポリアミドイミド樹脂層を有する半導体用接着剤フィルムに関する。
本発明の好ましい態様は、該ブタジエン系ゴムが、重量平均分子量が１０００以上でカルボキシル基を含有する一種または二種以上の混合物であり、該ポリアミドイミド樹脂中の共重合量が１重量％以上である。また、該ポリアミドイミド樹脂が、酸成分としてシクロヘキサンジカルボン酸を有する。さらに、該ポリアミドイミド樹脂が、アミン残基として、ジシクロヘキシルメタン基及び／又はイソホロン基を含有する。そして、該支持体フィルムがポリイミドフィルム又はポリエステルフィルムに関する。
【０００６】
また、本発明は、前記半導体用接着フィルムを貼り付けたリードフレームに関し、リードフレームと半導体素子を前記半導体用接着剤フィルムを介して接着させてなる半導体装置に関する。
【０００７】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の半導体用接着剤フィルムについて詳しく説明する。本発明に用いられる支持体フィルムとしてはポリアミド、ポリイミド、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンサルファイド、ポリサルフォン等が用いられるが、耐熱性、絶縁性、価格などからポリイミド又はポリエステルが好ましい。支持体フィルムの厚さは５〜２００μｍが好ましく、２０〜７５μｍがさらに好ましい。支持体フィルムは通常そのまま用いられるが、接着剤層との接着性を改良するために表面処理をしたものを用いてもよい。支持体フィルムの表面処理としてはサンドマット加工やコロナ処理などの物理加工やシランカップリング剤やポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、アクリル樹脂等の溶液を塗布する化学処理がありいずれの方法を用いてもかまわない。
【０００８】
本発明の半導体用接着剤フィルムの接着剤層にはブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミド樹脂が用いられる。特開平１０−１５８５９９に記載されるように通常のポリアミドイミド樹脂でも半導体用接着剤フィルムの接着剤層として使用できる可能性はあるが、貼り合わせ温度が３００℃を超え、且つスリット時のバリ発生が激しいという問題があった。本発明ではブタジエン系ゴムをポリアミドイミド樹脂に共重合させることによって、ガラス転移温度を下げて貼り合わせ温度を低下させ、また弾性率を低下させること及び支持体フィルムへの接着性を向上させることによってスリット時のバリの発生を抑えることができた。
【０００９】
本発明のブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミド樹脂は、トリメリット酸無水物（酸塩化物）とジアミン或いはジイソシアネート及びブタジエン系ゴムとを重合溶剤に溶解して加熱攪拌することで容易に製造することができる。
【００１０】
重合温度は、通常５０℃〜２２０℃、好ましくは８０℃〜２００℃の範囲で行われる。
【００１１】
ジイソシアネート法で合成する場合、イソシアネートと酸成分中の活性水素との反応を促進するために、トリエチルアミンやルチジン、ピコリン、トリエチレンジアミン等のアミン類、リチウムメトキサイド、ナトリウムメトキサイド、カリウムブトキサイド、フッ化カリウム、フッ化ナトリウムなどのアルカリ金属、アルカリ土類金属化合物、或いはコバルト、チタニウム、スズ、亜鉛などの金属、半金族化合物の触媒の存在下に行ってもよい。
【００１２】
本発明のブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミドの合成に用いられる酸成分としてはトリメリット酸無水物が用いられるが、その一部を他の多価カルボン酸及びそれらの無水物に置き換えることができる。
多価カルボン酸無水物としては、ピロメリット酸無水物、ベンゾフェノンテトラカルボン酸無水物、３、３’、４、４’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸無水物、３、３’、４、４’−ジフェニルテトラカルボン酸無水物、４、４’−オキシジフタル酸無水物、エチレングリコールビスアンヒドロトリメリテート、プロピレングリコールビスアンヒドロトリメリテート、１、４−ブタンジオールビスアンヒドロトリメリテート、ヘキサメチレングリコールビスアンヒドロトリメリテート、ポリエチレングリコールビスアンヒドロトリメリテート、ポリプロピレングリコールビスアンヒドロトリメリテート等が挙げられるが、これらの中ではピロメリット酸無水物及びエチレングリコールビスアンヒドロトリメリテートが可とう性、密着性、重合性及びコストの点から好ましい。
【００１３】
脂肪族及び脂環族ジカルボン酸としては、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ビメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、ウンデカン二酸、ドデカン二酸、トリデカン二酸、シクロヘキサンジカルボン酸及びこれらの酸塩化物などが挙げられ、これらの中では、重合性や溶解性、透明性、耐熱性、耐薬品性の点からシクロヘキサンジカルボン酸が好ましい。
【００１４】
芳香族ジカルボン酸としては、イソフタル酸、５ーｔｅｒｔーブチルー１、３ーベンゼンジカルボン酸、テレフタル酸、ジフェニルメタンー４、４’ジカルボン酸、ジフェニルメタンー２、４ージカルボン酸、ジフェニルメタンー３、４ージカルボン酸、ジフェニルメタンー３、３’ージカルボン酸、１、２ージフェニルエタンー４、４’ジカルボン酸、ジフェニルエタンー２、４ージカルボン酸、ジフェニルエタンー３、４ージカルボン酸、ジフェニルエタンー３、３’ージカルボン酸、２、２’ービスー（４ーカルボキシフェニル）プロパン、２ー（２ーカルボキシフェニル）ー２ー（４ーカルボキシフェニル）プロパン、２ー（３ーカルボキシフェニル）ー２ー（４ーカルボキシフェニル）プロパン、ジフェニルエーテルー４、４’ージカルボン酸、ジフェニルエーテルー２、４ージカルボン酸、ジフェニルエーテルー３、４ージカルボン酸、ジフェニルエーテルー３、３’ージカルボン酸、ジフェニルスルホン４、４’ジカルボン酸、ジフェニルスルホンー２、４ージカルボン酸、ジフェニルスルホンー３、４ージカルボン酸、ジフェニルスルホンー３、３’ジカルボン酸、ベンゾフェノンー４、４’ージカルボン酸、ベンゾフェノンー、３３’ージカルボン酸、ピリジンー２、６ージカルボン酸、ナフタレンジカルボン酸、ビスー［（４ーカルボキシ）フタルイミド］ー４、４’ージフェニルエーテル、ビスー［（４ーカルボキシ）フタルイミド］ーα、α’ーメタキシレン等及びこれらの酸塩化物が挙げられ、好ましくはイソフタル酸、テレフタル酸である。
【００１５】
トリカルボン酸としては、ブタンー１、２、４ートリカルボン酸、ナフタレン１、２、４ートリカルボン酸、トリメリット酸などが挙げられ、また、これらの酸塩化物が挙げられる。
【００１６】
テトラカルボン酸としては、ブタンー１、２、３、４ーテトラカルボン酸、ピロメリット酸、ベンゾフェノン３、３’、４、４’ーテトラカルボン酸、ジフェニルエーテルー３、３’、４、４’ーテトラカルボン酸、ジフェニルエーテルー３、３’、４、４’ーテトラカルボン酸、ビフェニルー３、３’、４、４’テトラカルボン酸、ナフタレンー２、３、６、７ーテトラカルボン酸、ナフタレンー１、２、４、５ーテトラカルボン酸、ナフタレンー１、４、５、８ーテトラカルボン酸等が挙げられる。
【００１７】
これらの酸成分は一種でも二種以上の混合物としても、トリメリット酸無水物と共に用いることができる。
【００１８】
一方、アミン成分としてはジアミンおよびジイソシアネートが挙げられ、本発明では特に制限はないが、具体的には、ｍ−フェニレンジアミン、ｐ−フェニレンジアミン、オキシジアニリン、メチレンジアミン、ヘキサフルオロイソプロピリデンジアミン、ジアミノｍ−キシリレン、ジアミノーｐ−キシリレン、１、４ーナフタレンジアミン、１、５ナフタレンジアミン、２、６ーナフタレンジアミン、２、７ーナフタレンジアミン、２、２’ービスー（４ーアミノフェニル）プロパン、２、２’ービスー（４ーアミノフェニル）ヘキサフルオロプロパン、４、４’ージアミノジフェニルスルホン、４、４’ージアミノジフェニルエーテル、３、３’ジアミノジフェニルスルホン、３、３’ジアミノジフェニルエーテル、３、４ージアミノビフェニル、４、４’ジアミノベンゾフェノン、３、４ージアミノジフェニルエーテル、イソプロピリデンジアニリン、３、３’ジアミノベンゾフェノン、ｏ−トリジン、２、４ートリレンジアミン、１、３ービスー（３ーアミノフェノキシ）ベンゼン、１、４ービスー（４ーアミノフェノキシ）ベンゼン、１、３ービスー（４ーアミノフェノキシ）ベンゼン、２、２ービスー［４ー（４ーアミノフェノキシ）フェニル］プロパン、ビスー［４ー（４ーアミノフェノキシ）フェニル］スルホン、ビスー［４ー（３ーアミノフェノキシ）フェニル］スルホン、４、４’ービスー（４ーアミノフェノキシ）ビフェニル、２、２’ービスー［４ー（４ーアミノフェノキシ）フェニル］ヘキサフルオロプロパン、４、４’ージアミノジフェニルスルフィド、３、３’ージアミノジフェニルスルフィド等の芳香族ジアミン、エチレンジアミン、プロピレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、等の脂肪族ジアミン、イソホロンジアミン、４、４’ジアミノジシクロヘキシルメタン等の脂環族ジアミン等が挙げられる。また、上記ジアミンのアミノ基をーＮ＝Ｃ＝Ｏ基で置き換えたイソシアネートが挙げられる。これらの中では、４、４’ジアミノジフェニルメタン（４、４’ジフェニルメタンジイソシアネート）と４、４’ジアミノジシクロヘキシルメタン（４、４’ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート）及び／又はイソホロンジアミン（イソホロンジイソシアネート）の単独又は混合物が反応性、コスト、溶解性、柔軟性の点から好ましい。
上記アミン成分は、単独で使用してもよいし、二種以上を混合して用いてもよい。
【００１９】
上記酸成分及びアミン成分は、通常、等モル混合で合成されるが、必要に応じて、一方の成分を多少増減させることもできる。
【００２０】
本発明では、ポリアミドイミド樹脂の柔軟性や接着性を更に改良してスリット時のバリの発生を抑える目的で、酸成分の一部をブタジエン系のゴムに置き換えることを特徴としている。。
【００２１】
ブタジエン系のゴムとしては、ブタジエン、アクリロニトリルーブタジエン、スチレンーブタジエンが好ましく、カルボキシル基を含有しているものが好ましい。カルボキシル基はブタジエン系のゴムの骨格分子中に存在していてもよいし、末端に存在していてもよい。
その共重合量は、１重量％以上、好ましくは５重量％以上である。共重合量が１重量％以下では本発明の目的である柔軟性や接着性、スリット時のバリの発生が十分改良されない。
【００２２】
ブタジエン系のゴムの分子量は上記目的を達成するためには１０００以上、好ましくは３０００以上必要である。
【００２３】
本発明のポリアミドイミド樹脂の重合に使用される溶剤としては、Ｎーメチルー２ーピロリドン、Ｎ，Ｎ’ージメチルアセトアミド、Ｎ，Ｎ’ージメチルホルムアミド、ジメチルイミダゾリジノン等のアミド系溶剤、ジメチルスルホキシド、スルホラン等の硫黄系溶剤、ニトロメタン、ニトロエタン等のニトロ系溶剤、ジグライム、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶剤、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン等のケトン系溶剤、アセトニトリル、プロピオニトリル等のニトリル系溶剤の他、γーブチロラクトンやテトラメチルウレア等の比較的誘電率の高い溶剤などが挙げられ、これらの中では、重合性の点から、Ｎーメチルー２ーピロリドン、ジメチルイミダゾリジノン、γブチロラクトンが好ましい。
これらは、単独でも、混合溶剤としても使用でき、さらにキシレン、トルエン等の比較的誘電率の低い溶剤を混合して用いても構わない。
【００２４】
このようにして得られたポリアミドイミド樹脂の対数粘度は、強靭性、屈曲性等の点から０．１ｄｌ／ｇ以上、好ましくは０．２ｄｌ／ｇ以上が必要である。当該対数粘度が０．１ｄｌ／ｇ以下であると、柔軟であっても樹脂は脆くなるため本発明の目的を達成できない。
【００２５】
本発明の、ブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミド樹脂は重合溶液をそのまま支持体フィルムへコーテイングする事も可能であるが、汎用で沸点の低い、乾燥が容易な溶剤に置換して用いることもできる。
【００２６】
溶剤置換を行う方法は特に限定されず、乾式紡糸や湿式紡糸など、公知の技術を応用すればよい。例えば，湿式法の場合、本発明のポリアミドイミド樹脂の非溶剤で上記の重合溶剤と混和する溶剤、好ましくは水からなる凝固浴中に概ポリアミドイミド樹脂溶液をノズルから押し出して、凝固、脱溶剤した後、乾燥して、低沸点汎用溶剤に再溶解すればよい。
【００２７】
低沸点汎用溶剤としては、ポリマー組成によって異なってくるが、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン類、テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル類、メチルアルコール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、ブチルアルコール等のアルコール類、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素類の一種又は二種以上の混合溶剤が挙げられ、目的によっても選択することができるが、価格や溶解性、安全性などの点から最も好ましいのは、上記アルコール類と炭化水素系の混合溶剤である。
【００２８】
本発明のブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミド樹脂はそのまま使用しても優れた耐熱性、接着性、耐薬品性、柔軟性等を発揮して、半導体用接着フィルムに好適であるが必要に応じてアクリル系樹脂やポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、メラミン樹脂、多官能イソシアネート化合物、炭素粒子や酸化チタン、酸化珪素、炭酸カルシウムなどの無機フィラー、染料、顔料、界面活性剤などの帯電防止剤などをポリアミドイミド樹脂本来の性能を損なわない範囲で配合してもかまわない。
【００２９】
本発明の半導体用接着フィルムの製造方法としては、前記ブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミド樹脂溶液をポリイミド又はポリエステル支持体フィルムにコーテイング、乾燥して２層又は３層のフィルム状接着剤にする。
【００３０】
コーテイング方法には特に制限はないが、例えば、リバースロールコーター、グラビアロールコーター、コンマコーター、スリットダイコーター、バーコーター等が用いられる。コーテイング後溶剤を乾燥除去して接着剤層を形成させる。接着剤層の厚みは１〜７５μｍが好ましく、１０〜３０μｍが更に好ましい。
このようにして得られたフィルムは図１のような構成になる。このフィルムは、半導体用の接着フィルムとして使用することができる。図１において１は支持体フィルム、２は接着剤層である。
【００３１】
また、本発明の半導体用接着フィルムを用いると、信頼性に優れた接着剤付きリードフレームを作業性、歩留まりよく簡便に製造することができる。例えば、前期フィルムを所定の大きさに打ち抜くか切り取ったものを、リードフィルに１５０℃〜３００℃、５〜１００Ｋｇ／ｃｍで１秒〜５分圧着する方法がある。
【００３２】
また、本発明のフィルムを用いると信頼性に優れた高容量の半導体を作業性、歩留まりよく簡便に製造することができる。例えば、前期フィルムを所定の大きさに打ち抜くか、切り取ったものを、リードフレームと半導体素子との間に挟み１５０℃〜３００℃、５〜１００ｋｇ／ｃｍ²で１秒〜５分間加熱、圧着した後リードフレームと半導体素子を金線などで接合しエポキシ樹脂などの成形材料でトランスファ成形して封止する事により半導体装置を製造することができる。
【００３３】
【実施例】
以下に、実施例を示し、本発明を更に詳しく説明するが、本発明はこれらの実施例によって制限されるものではない。尚、実施例中のポリマーの特性は以下の方法で測定した。
【００３４】
１，対数粘度；ポリマー０．５ｇを１００ｍｌのＮ−メチル−２−ピロリドンに溶解し、ウベローデ粘度管によって測定した。
２，ガラス転移温度；レオロジー社製動的粘弾性測定装置を用いた。
３，接着力；東洋ボールドウイン社製テンシロンを用いてＴ型剥離強度を測定した。
【００３５】
（実施例１〜４）
反応容器に、トリメリット酸無水物（ＴＭＡ）、ジフェニルメタンジイソシアネート（ＭＤＩ）、カルボキシル基末端アクリロニトリルーブタジエンゴム（宇部興産製ＨＹＣＡＲ−ＣＴＢＮ１３００×１３：アクリロニトリル２７％）とＮ−メチルー２ーピロリドン（ＮＭＰ）を表１に示す処方で仕込み、１２０℃で約１時間反応させた後、１７０℃に昇温して５時間反応させた。冷却しながら更にＮ−メチル２−ピロリドンを加えて、固形分濃度が２０％のポリマー溶液を得た。このポリマーの物性を表１に示す。
これらのポリマー溶液を５０μのポリイミドフィルム（宇部興産製ユーピレックスＳ）の両面に乾燥膜厚が２５μとなるように塗布、１００℃で１０分乾燥後、２５０℃で１時間加熱を順次行い図１に示す構成の接着フィルムを得た。
得られた接着フィルムを５ｍｍ幅にスリットして端部を顕微鏡で観察した結果いずれもバリはなく、切断性は良好であった。さらにこのフィルムを短冊状に打ち抜き、厚さが０．２ｍｍの鉄ーニッケル合金製のリードフレームの上に０．２ｍｍ間隔、０．２ｍｍ幅のインナーリードが当たるように乗せて２５０℃で５０ｋｇ／ｃｍ²の圧力で５秒間加圧して圧着したところ、バリがないために接着フィルムとインナーリード間にバリが入り込むことなく良好な接着状態が得られた。また、このリードフレームの接着剤層面に半導体素子を３００℃、３０Ｋｇ／ｃｍ²の圧力で５秒間熱圧着し、その後リードフレームと半導体素子を金線でワイヤボンデイングしてエポキシ樹脂成形材料でトランスファ成形しモールドした。この半導体装置は接着フィルムとインナーリード間、接着フィルムと半導体素子間にバリによる接着不良はなく、ワイヤボンデイング性も良好であった。
【００３６】
（実施例５）
実施例３のトリメリット酸無水物の量を１．１倍にした以外は実施例３と同じ原料組成で重合を行った。このポリマーの物性を表１に示す。又このポリマーを用い実施例１と同じ方法で半導体用接着フィルム及びこれを用いたリードフレーム、半導体装置を作成した結果支持体フィルムや半導体素子に対する接着性が良好でスリット時のバリの発生もなくワイヤボンデイング性も良好であった。
【００３７】
（比較例１）
反応容器に、トリメリット酸無水物１９２ｇ、ジフェニルメタンジイソシアネート２５０ｇ、Ｎーメチルー２ーピロリドン５３１ｇを仕込み、実施例１と同じ条件で反応させた後、８８５ｇのＮーメチルー２ーピロリドンを加えて、固形分濃度が２０％のポリマー溶液を得た。このポリマーの物性を表１に示す。このポリマーを用いて実施例１と同じ方法で半導体用接着フィルム及びこれを用いたリードフレーム、半導体装置を作成したが支持体フィルムや半導体素子への接着性が不十分で接着フィルムのスリット時にバリが発生した。
【００３８】
（比較例２）
反応容器に、実施例３と同じ処方で原料を仕込み、８０℃で約１時間反応させた後ｎ−ブタノール／Ｎ−メチルー２ーピロリドン（１０／９０重量％）の混合溶液９７０ｇを加えて反応を停止させた固形分濃度が２０％のポリマー溶液を得たこのポリマーの物性を表１に示す。このポリマー溶液を用いて実施例１と同じ方法で半導体用接着フィルム作成したがこのポリマーの分子量が低いため脆く、支持体フィルムへの接着性が不十分で接着フィルムのスリット時にバリが発生した。
【００３９】
（実施例６）実施例３のカルボキシル基末端のアクリロニトリル−ブタジエンゴムをカルボキシル基を含有するブタジエンゴム（宇部興産製ＨＹＣＡＲ−ＣＴＢ２０００×１６２）に変えて実施例３と同じ条件で反応を行った。このポリマーの物性を表１に示す。このポリマー溶液を用いて実施例１と同じ方法で半導体用接着フィルム及びこれを用いたリードフレーム、半導体装置を作成した。このポリマーの支持体フィルム及び半導体素子に対する接着性は十分で、この接着フィルムをスリットしてもバリは発生せず、ワイヤボンデイングに耐える耐熱性を示した。
【００４０】
【表１】

【００４１】
（実施例７）
反応容器に，トリメリット酸無水物９１ｇ、シクロヘキサンジカルボン酸８２ｇ、イソホロンジイソシアネート２２９ｇ、フッ化カリウム１．１６ｇ、ＨＹＣＡＲ−ＣＴＢＮ１３００×１３を１７５ｇをγ−ブチロラクトン４８９ｇと共に仕込み、１２０℃で１．５時間反応させた後、１８０℃に昇温して約３時間反応させた。冷却しながら６５２ｇのエタノールを加えて固形分濃度３０％のポリマー溶液を得た。このポリマー溶液を大量の水中に投入して凝固させ、十分洗浄した後乾燥させた白色のポリマー粉をエタノール／トルエン（５０／５０重量比）の混合溶剤に固形分濃度が２５％となるように溶解した。ポリマーの物性を表２に示す。このポリマー溶液を５０μのポリエステル（東洋紡Ａ４１００）フィルムの両面に乾燥膜厚が２５μとなるように塗布、１００℃で１０分乾燥を行い図１に示す構成の接着フィルムを作成した。この接着フィルムのスリット性、及びこの接着フィルムを用いたリードフレーム、半導体装置の製造を実施例１と同じ方法で行ったところ接着フィルムとインナーリード間及び半導体素子間の接着性は良好でワイヤボンデイングに耐える耐熱性を示した。
【００４２】
（比較例３）
反応容器に、トリメリット酸無水物を９６ｇ、シクロヘキサンジカルボン酸を８６ｇ、イソホロンジイソシアネートを２２９ｇ、フッ化カリウム１．１６ｇとγーブチロラクトン３２３ｇを仕込み実施例７と同じ条件でポリアミドイミド樹脂を合成、水中で凝固、洗浄、乾燥し、エタノール／トルエン（５０／５０重量％）に２５％となるように溶解した。このポリマーの物性を表２に示す。
このポリマー溶液を用いて実施例７と同様の条件で接着フィルムを作成しようとしたがこのポリマーはポリエステルフィルムに接着しないためスリット時に簡単に剥離してしまった。
【００４３】
【表２】

【００４４】
【発明の効果】
本発明のブタジエン系ゴムを共重合したポリアミドイミド樹脂は耐熱性、支持対フィルムへの接着性に優れ、バリの発生がないため歩留まりよく半導体用接着フィルムを製造することができ、このフィルムを用いることにより信頼性の高いリードフレーム及び半導体装置を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る半導体用接着剤フィルムの１例の構成図である。
【符号の説明】
１接着剤層
２支持体フィルム[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor adhesive film, a lead frame using the same, and a semiconductor device.
[0002]
[Prior art]
Currently, a film-like adhesive is used for bonding a lead frame and a chip in a semiconductor package having a LOC (Lead on Chip) or COL (Chip on Lead) structure, a semiconductor package having a frame lid structure, or the like. The film-like adhesive mainly has a structure in which an adhesive such as epoxy resin, polyester resin, polyether resin, polyamide resin, polyimide resin, polyether amide imide resin is coated on one side or both sides of the base film. It is used. Usually, these film adhesives are slit to a narrow width by a slitting method such as shear cutting or laser cutting, then cut into a predetermined shape and attached to a predetermined part of a lead frame. There is a problem in that cutting burrs and chips frequently occur at the end of the film adhesive, resulting in a decrease in yield in the production of a lead frame with an adhesive film.
[0003]
Currently, these cutting problems are partially solved by adjusting the material and shape of the blade that slits the film and the clearance of the upper and lower blades. However, in these methods, it takes time to adjust the clearance, and depending on the type of the tape material, burrs are generated in a short time after the clearance is adjusted, and it is necessary to adjust the clearance again, thereby reducing productivity. However, there is a need to develop an adhesive tape with excellent cutting properties.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention provides an adhesive film for a semiconductor that improves the above-described problems and has excellent cutting properties and does not generate burrs or chips during cutting, a lead frame using the film, and a semiconductor device.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
As a result of earnest research on the relationship between the burrs generated at the time of cutting and the properties of the adhesive film, the present inventor has used the polyamideimide resin having a specific composition for the adhesive layer to reduce the burrs at the time of cutting without impairing the reliability. The inventors have found that the occurrence can be suppressed, and have completed the present invention based on this finding.
That is, the present invention relates to an adhesive film for a semiconductor having a polyamideimide resin layer having a logarithmic viscosity of 0.1 dl / g or more and copolymerized with butadiene rubber on one or both sides of a support film.
In a preferred embodiment of the present invention, the butadiene rubber is one or a mixture of two or more having a weight average molecular weight of 1000 or more and containing a carboxyl group, and the amount of copolymerization in the polyamideimide resin is 1% by weight or more. is there. The polyamideimide resin has cyclohexanedicarboxylic acid as an acid component. Further, the polyamideimide resin contains a dicyclohexylmethane group and / or an isophorone group as an amine residue. And this support body film is related with a polyimide film or a polyester film.
[0006]
The present invention also relates to a lead frame having the semiconductor adhesive film attached thereto, and relates to a semiconductor device in which a lead frame and a semiconductor element are bonded via the semiconductor adhesive film.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, the semiconductor adhesive film of the present invention will be described in detail. As the support film used in the present invention, polyamide, polyimide, polyester, polycarbonate, polyarylate, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, polysulfone, etc. are used, but polyimide or polyester is preferable from the viewpoint of heat resistance, insulation, price, etc. . The thickness of the support film is preferably 5 to 200 μm, more preferably 20 to 75 μm. The support film is usually used as it is, but a surface-treated film may be used in order to improve the adhesion with the adhesive layer. Surface treatment of the support film includes physical treatment such as sand mat processing and corona treatment, and chemical treatment to apply a solution of silane coupling agent, polyester resin, polyurethane resin, acrylic resin, etc. Any method can be used. Absent.
[0008]
A polyamide-imide resin copolymerized with butadiene rubber is used for the adhesive layer of the adhesive film for semiconductors of the present invention. As described in JP-A-10-158599, there is a possibility that even an ordinary polyamide-imide resin can be used as an adhesive layer of a semiconductor adhesive film, but the bonding temperature exceeds 300 ° C. and burrs are generated at the time of slitting. There was a problem that was intense. In the present invention, by copolymerizing butadiene-based rubber with a polyamide-imide resin, the glass transition temperature is lowered to lower the bonding temperature, and the elastic modulus is lowered and the adhesion to the support film is improved. Generation of burrs at the time of slitting could be suppressed.
[0009]
The polyamide-imide resin copolymerized with the butadiene rubber of the present invention is easily produced by dissolving trimellitic anhydride (acid chloride) and diamine or diisocyanate and butadiene rubber in a polymerization solvent and stirring them with heating. be able to.
[0010]
The polymerization temperature is usually 50 ° C to 220 ° C, preferably 80 ° C to 200 ° C.
[0011]
When synthesizing by the diisocyanate method, amines such as triethylamine, lutidine, picoline, triethylenediamine, lithium methoxide, sodium methoxide, potassium butoxide, in order to promote the reaction between isocyanate and active hydrogen in the acid component, The reaction may be performed in the presence of a catalyst of an alkali metal such as potassium fluoride or sodium fluoride, an alkaline earth metal compound, a metal such as cobalt, titanium, tin, or zinc, or a metalloid compound.
[0012]
Trimellitic anhydride is used as the acid component used for the synthesis of the polyamideimide copolymerized with the butadiene rubber of the present invention, but some of them may be replaced with other polycarboxylic acids and their anhydrides. it can.
Examples of the polyvalent carboxylic acid anhydride include pyromellitic acid anhydride, benzophenone tetracarboxylic acid anhydride, 3, 3 ′, 4, 4′-diphenylsulfone tetracarboxylic acid anhydride, 3, 3 ′, 4, 4′-. Diphenyltetracarboxylic anhydride, 4,4'-oxydiphthalic anhydride, ethylene glycol bisanhydro trimellitate, propylene glycol bisan hydrotrimellitate, 1,4-butanediol bisanhydro trimellitate, hexamethylene Glycol bisanhydro trimellitate, polyethylene glycol bis anhydro trimellitate, polypropylene glycol bis anhydro trimellitate and the like. Among these, pyromellitic anhydride and ethylene glycol bis anhydro trimellitate are used. Flexibility, adhesion, heavy It preferred in view of sex and cost.
[0013]
Aliphatic and alicyclic dicarboxylic acids include oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, vimelic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, undecanedioic acid, dodecanedioic acid, tridecanedioic acid, Examples thereof include cyclohexanedicarboxylic acid and acid chlorides thereof. Among these, cyclohexanedicarboxylic acid is preferable from the viewpoints of polymerizability, solubility, transparency, heat resistance, and chemical resistance.
[0014]
Aromatic dicarboxylic acids include isophthalic acid, 5-tert-butyl-1,3-benzenedicarboxylic acid, terephthalic acid, diphenylmethane-4,4′dicarboxylic acid, diphenylmethane-2,4-dicarboxylic acid, diphenylmethane-3,4-dicarboxylic acid, Diphenylmethane-3, 3'-dicarboxylic acid, 1,2-diphenylethane-4, 4 'dicarboxylic acid, diphenylethane-2, 4-dicarboxylic acid, diphenylethane-3, 4-dicarboxylic acid, diphenylethane-3, 3'-

dicarboxylic acid

2,2′-bis- (4-carboxyphenyl) propane, 2- (2-carboxyphenyl) -2- (4-carboxyphenyl) propane, 2- (3-carboxyphenyl) -2- (4-carboxyphenyl) Propane, diphenyl ether-4,4'-dicarbo Acid, diphenyl ether-2, 4-dicarboxylic acid, diphenyl ether-3, 4-dicarboxylic acid, diphenyl ether-3, 3'-dicarboxylic acid, diphenylsulfone 4, 4 'dicarboxylic acid, diphenylsulfone-2, 4-dicarboxylic acid, diphenylsulfone-3, 4-dicarboxylic acid, diphenylsulfone-3, 3′dicarboxylic acid, benzophenone-4, 4′-dicarboxylic acid, benzophenone-33′-dicarboxylic acid, pyridine-2,6-dicarboxylic acid, naphthalenedicarboxylic acid, bis-[(4-carboxy) phthalimide] -4,4'-diphenyl ether, bis-[(4-carboxy) phthalimide] -α, α'-metaxylene and the like, and acid chlorides thereof, preferably isophthalic acid and terephthalic acid.
[0015]
Examples of the tricarboxylic acid include butane-1,2,4-tricarboxylic acid,

naphthalene

1,2,4-tricarboxylic acid, trimellitic acid, and the like, and acid chlorides thereof.
[0016]
Tetracarboxylic acids include butane-1,2,3,4-tetracarboxylic acid, pyromellitic acid, benzophenone 3,3 ′, 4,4′-tetracarboxylic acid, diphenyl ether-3,3 ′, 4,4′-tetracarboxylic acid, diphenyl ether 3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic acid, biphenyl-3,3', 4,4'tetracarboxylic acid, naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid, naphthalene-1,2,4,5-tetracarboxylic acid, naphthalene-1 4, 5, 8-tetracarboxylic acid and the like.
[0017]
These acid components can be used together with trimellitic anhydride, either alone or as a mixture of two or more.
[0018]
On the other hand, examples of the amine component include diamine and diisocyanate, and there is no particular limitation in the present invention. Specifically, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, oxydianiline, methylenediamine, hexafluoroisopropylidenediamine, Diamino m-xylylene, diamino-p-xylylene, 1,4-naphthalenediamine, 1,5 naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine, 2,7-naphthalenediamine, 2,2′-bis (4-aminophenyl) propane, 2, 2'-bis- (4-aminophenyl) hexafluoropropane, 4, 4'-diaminodiphenyl sulfone, 4, 4'-diaminodiphenyl ether, 3, 3 'diaminodiphenyl sulfone, 3, 3' diaminodiphenyl ether, 3, 4-diaminobiphenyl 4,4′diaminobenzophenone, 3,4-diaminodiphenyl ether, isopropylidenedianiline, 3,3′diaminobenzophenone, o-tolidine, 2,4-tolylenediamine, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis- (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis- (4-aminophenoxy) benzene, 2,2-bis- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, bis- [4- (4-aminophenoxy) ) Phenyl] sulfone, bis- [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 4,4′-bis- (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2′-bis- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoro Propane, 4, 4'-diaminodiphenyl sulfide, 3, 3'-di Mino aromatic diamines such as diphenyl sulfide, ethylene diamine, propylene diamine, tetramethylene diamine, hexamethylene diamine, aliphatic diamine etc., isophorone diamine, 4,4 'alicyclic diamines such as diaminodicyclohexylmethane can be mentioned. Moreover, the isocyanate which replaced the amino group of the said diamine with -N = C = O group is mentioned. Among these, 4,4′diaminodiphenylmethane (4,4′diphenylmethane diisocyanate) and 4,4′diaminodicyclohexylmethane (4,4′dicyclohexylmethane diisocyanate) and / or isophoronediamine (isophorone diisocyanate) are used alone or as a mixture. It is preferable from the viewpoint of reactivity, cost, solubility, and flexibility.
The said amine component may be used independently and may be used in mixture of 2 or more types.
[0019]
The acid component and amine component are usually synthesized by equimolar mixing, but one component can be slightly increased or decreased as necessary.
[0020]
The present invention is characterized in that a part of the acid component is replaced with a butadiene-based rubber for the purpose of further improving the flexibility and adhesiveness of the polyamideimide resin and suppressing the occurrence of burrs at the time of slitting. .
[0021]
As the butadiene rubber, butadiene, acrylonitrile-butadiene, and styrene-butadiene are preferable, and those containing a carboxyl group are preferable. The carboxyl group may be present in the skeleton molecule of the butadiene rubber or may be present at the terminal.
The copolymerization amount is 1% by weight or more, preferably 5% by weight or more. When the copolymerization amount is 1% by weight or less, the flexibility and adhesiveness, which are the objects of the present invention, and the occurrence of burrs when slitting are not sufficiently improved.
[0022]
The molecular weight of the butadiene rubber needs to be 1000 or more, preferably 3000 or more in order to achieve the above object.
[0023]
Examples of the solvent used for the polymerization of the polyamideimide resin of the present invention include N-methyl-2-pyrrolidone, N, N′-dimethylacetamide, N, N′-dimethylformamide, amide solvents such as dimethylimidazolidinone, dimethyl sulfoxide, Sulfur solvents such as sulfolane, nitro solvents such as nitromethane and nitroethane, ether solvents such as diglyme and tetrahydrofuran, ketone solvents such as cyclohexanone and methyl ethyl ketone, nitrile solvents such as acetonitrile and propionitrile, and γ-butyrolactone And solvents having a relatively high dielectric constant such as tetramethylurea. Among these, N-methyl-2-pyrrolidone, dimethylimidazolidinone and γ-butyrolactone are preferred from the viewpoint of polymerizability.
These can be used alone or as a mixed solvent, and a solvent having a relatively low dielectric constant such as xylene or toluene may be mixed and used.
[0024]
The logarithmic viscosity of the polyamideimide resin thus obtained is required to be 0.1 dl / g or more, preferably 0.2 dl / g or more from the viewpoint of toughness and flexibility. If the logarithmic viscosity is 0.1 dl / g or less, the resin becomes brittle even if it is flexible, and thus the object of the present invention cannot be achieved.
[0025]
The polyamide-imide resin copolymerized with butadiene rubber of the present invention can be used to coat the polymerization solution as it is on the support film, but it can also be used by replacing it with a general-purpose, low boiling point, easy-to-dry solvent. it can.
[0026]
A method for performing solvent replacement is not particularly limited, and a known technique such as dry spinning or wet spinning may be applied. For example, in the case of a wet method, the polyamideimide resin solution is a non-solvent of the polyamideimide resin of the present invention and is mixed with the above polymerization solvent, preferably a coagulation bath made of water, and the polyamideimide resin solution is extruded from a nozzle to coagulate and remove the solvent Then, it may be dried and redissolved in a low boiling point general-purpose solvent.
[0027]
Low-boiling general-purpose solvents vary depending on the polymer composition, but ketones such as cyclohexanone, cyclopentanone, methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone, ethers such as tetrahydrofuran and dioxane, methyl alcohol, ethyl alcohol, isopropyl alcohol and butyl alcohol Alcohols such as benzene, toluene, xylene and one or more mixed solvents such as xylene can be selected depending on the purpose, but the most in terms of price, solubility, safety, etc. Preferred is a mixed solvent of the above alcohols and hydrocarbon.
[0028]
The polyamide-imide resin copolymerized with the butadiene rubber of the present invention exhibits excellent heat resistance, adhesiveness, chemical resistance, flexibility, etc. even if it is used as it is, but it is suitable for adhesive films for semiconductors. Depending on acrylic resin, polyester resin, epoxy resin, melamine resin, polyfunctional isocyanate compound, carbon particles, inorganic fillers such as titanium oxide, silicon oxide, calcium carbonate, antistatic agents such as dyes, pigments, surfactants, etc. You may mix | blend in the range which does not impair the original performance of a polyamide-imide resin.
[0029]
As a method for producing an adhesive film for a semiconductor of the present invention, a polyamideimide resin solution obtained by copolymerizing the butadiene rubber is coated on a polyimide or polyester support film and dried to form a two-layer or three-layer film adhesive. .
[0030]
The coating method is not particularly limited, and for example, a reverse roll coater, a gravure roll coater, a comma coater, a slit die coater, a bar coater, or the like is used. After coating, the solvent is removed by drying to form an adhesive layer. 1-75 micrometers is preferable and, as for the thickness of an adhesive bond layer, 10-30 micrometers is still more preferable.
The film thus obtained has a structure as shown in FIG. This film can be used as an adhesive film for semiconductors. In FIG. 1, 1 is a support film and 2 is an adhesive layer.
[0031]
Moreover, if the adhesive film for semiconductors of this invention is used, the lead frame with an adhesive excellent in reliability can be easily manufactured with good workability and yield. For example, there is a method in which a film obtained by punching or cutting out a film of a predetermined size is pressure-bonded to a lead fill at 150 to 300 ° C. and 5 to 100 Kg / cm for 1 second to 5 minutes.
[0032]
In addition, when the film of the present invention is used, a high-capacity semiconductor having excellent reliability can be easily manufactured with good workability and yield. For example, the film is punched into a predetermined size or is cut and sandwiched between a lead frame and a semiconductor element, and heated and pressure-bonded at 150 to 300 ° C. and 5 to 100 kg / cm ² for 1 second to 5 minutes. The semiconductor device can be manufactured by bonding the rear lead frame and the semiconductor element with a gold wire or the like, transfer molding with a molding material such as epoxy resin, and sealing.
[0033]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. However, the present invention is not limited to these examples. In addition, the characteristic of the polymer in an Example was measured with the following method.
[0034]
1. Logarithmic viscosity: 0.5 g of polymer was dissolved in 100 ml of N-methyl-2-pyrrolidone and measured with an Ubbelohde viscosity tube.
2. Glass transition temperature: A dynamic viscoelasticity measuring device manufactured by Rheology was used.
3. Adhesive strength; T-type peel strength was measured using Tensilon manufactured by Toyo Baldwin.
[0035]
(Examples 1-4)
In a reaction vessel, trimellitic anhydride (TMA), diphenylmethane diisocyanate (MDI), carboxyl-terminated acrylonitrile-butadiene rubber (Ube Industries HYCAR-CTBN 1300 × 13: acrylonitrile 27%) and N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) After charging with the formulation shown in Table 1 and reacting at 120 ° C. for about 1 hour, the temperature was raised to 170 ° C. and reacted for 5 hours. While cooling, N-methyl 2-pyrrolidone was further added to obtain a polymer solution having a solid concentration of 20%. Table 1 shows the physical properties of this polymer.
These polymer solutions were applied to both sides of a 50μ polyimide film (Ube Industries Upilex S) so that the dry film thickness was 25μ, dried at 100 ° C for 10 minutes, and then heated at 250 ° C for 1 hour in order. An adhesive film having the structure shown was obtained.
As a result of slitting the obtained adhesive film to a width of 5 mm and observing the end portion with a microscope, there were no burrs and the cutting property was good. Further, this film was punched into a strip shape and placed on an iron-nickel alloy lead frame having a thickness of 0.2 mm so that an inner lead having a 0.2 mm interval and a width of 0.2 mm hits it, and 50 kg / cm at 250 ° C. ^When pressurizing with pressure of ² for 5 seconds, there was no burrs, so no good burrs entered between the adhesive film and the inner leads, and a good adhesion state was obtained. Further, the semiconductor element is thermocompression bonded to the adhesive layer surface of the lead frame at 300 ° C. and a pressure of 30 kg / cm ² for 5 seconds, and then the lead frame and the semiconductor element are wire bonded with a gold wire and transfer molded with an epoxy resin molding material. And molded. This semiconductor device had no adhesion failure due to burrs between the adhesive film and the inner lead, and between the adhesive film and the semiconductor element, and the wire bonding property was also good.
[0036]
(Example 5)
Polymerization was carried out with the same raw material composition as in Example 3 except that the amount of trimellitic anhydride in Example 3 was 1.1 times. Table 1 shows the physical properties of this polymer. In addition, as a result of producing an adhesive film for a semiconductor, a lead frame using the same, and a semiconductor device using this polymer in the same manner as in Example 1, the adhesion to the support film and the semiconductor element is good, and no burrs are generated when slitting. The wire bonding property was also good.
[0037]
(Comparative Example 1)
A reaction vessel was charged with 192 g of trimellitic anhydride, 250 g of diphenylmethane diisocyanate, and 531 g of N-methyl-2-pyrrolidone, and reacted under the same conditions as in Example 1. Then, 885 g of N-methyl-2-pyrrolidone was added and the solid content concentration was 20 % Polymer solution was obtained. Table 1 shows the physical properties of this polymer. Using this polymer, an adhesive film for a semiconductor, a lead frame using the same, and a semiconductor device were prepared in the same manner as in Example 1. There has occurred.
[0038]
(Comparative Example 2)
Into the reaction vessel, the raw materials were charged with the same formulation as in Example 3 and reacted at 80 ° C. for about 1 hour. After that, 970 g of a mixed solution of n-butanol / N-methyl-2-pyrrolidone (10/90 wt%) was added to react. Table 1 shows the physical properties of the polymer from which a polymer solution having a stopped solid content concentration of 20% was obtained. Using this polymer solution, an adhesive film for a semiconductor was prepared in the same manner as in Example 1. However, since the polymer had a low molecular weight, it was brittle, and the adhesiveness to the support film was insufficient, and burrs were generated when the adhesive film was slit.
[0039]
(Example 6) The reaction was carried out under the same conditions as in Example 3, except that the carboxyl group-terminated acrylonitrile-butadiene rubber in Example 3 was replaced with a butadiene rubber containing a carboxyl group (HYCAR-CTB2000 × 162 manufactured by Ube Industries). Table 1 shows the physical properties of this polymer. Using this polymer solution, an adhesive film for a semiconductor, a lead frame using the same, and a semiconductor device were prepared in the same manner as in Example 1. Adhesion of the polymer to the support film and the semiconductor element was sufficient, and no burrs were generated even when the adhesive film was slitted, indicating heat resistance that withstands wire bonding.
[0040]
[Table 1]

[0041]
(Example 7)
A reaction vessel was charged with 91 g of trimellitic anhydride, 82 g of cyclohexanedicarboxylic acid, 229 g of isophorone diisocyanate, 1.16 g of potassium fluoride, 175 g of HYCAR-CTBN1300 × 13 together with 489 g of γ-butyrolactone, and reacted at 120 ° C. for 1.5 hours. Then, the temperature was raised to 180 ° C. and reacted for about 3 hours. While cooling, 652 g of ethanol was added to obtain a polymer solution having a solid content of 30%. This polymer solution is poured into a large amount of water to coagulate, thoroughly washed, and dried white polymer powder in a mixed solvent of ethanol / toluene (50/50 weight ratio) so that the solid content concentration becomes 25%. Dissolved. Table 2 shows the physical properties of the polymer. This polymer solution was applied on both sides of a 50 μ polyester (Toyobo A4100) film so that the dry film thickness was 25 μm, and dried at 100 ° C. for 10 minutes to produce an adhesive film having the structure shown in FIG. The slitting property of this adhesive film, and the lead frame and semiconductor device using this adhesive film were manufactured by the same method as in Example 1. The adhesiveness between the adhesive film and the inner leads and between the semiconductor elements was good, and the wire bonding. Showed heat resistance.
[0042]
(Comparative Example 3)
A reaction vessel was charged with 96 g of trimellitic anhydride, 86 g of cyclohexanedicarboxylic acid, 229 g of isophorone diisocyanate, 1.16 g of potassium fluoride and 323 g of γ-butyrolactone, and a polyamideimide resin was synthesized under the same conditions as in Example 7, The solution was coagulated, washed, dried, and dissolved in ethanol / toluene (50/50% by weight) to 25%. Table 2 shows the physical properties of this polymer.
An attempt was made to create an adhesive film using this polymer solution under the same conditions as in Example 7. However, this polymer did not adhere to the polyester film, so it was easily peeled off when slitting.
[0043]
[Table 2]

[0044]
【The invention's effect】
The polyamide-imide resin copolymerized with the butadiene rubber of the present invention is excellent in heat resistance and adhesion to the support film, and since there is no generation of burrs, an adhesive film for semiconductors can be produced with a high yield. Thus, a highly reliable lead frame and semiconductor device can be manufactured.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an example of a semiconductor adhesive film according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1 Adhesive layer 2 Support film

Claims

支持フィルムの片面または両面に、接着剤層として対数粘度が０．１ｄｌ／ｇ以上でカルボキシル基を含有するブタジエン系ゴムが共重合されたポリアミドイミド樹脂層を有する半導体用接着剤フィルム。An adhesive film for a semiconductor having a polyamideimide resin layer copolymerized with a butadiene-based rubber having a logarithmic viscosity of 0.1 dl / g or more and containing a carboxyl group as an adhesive layer on one side or both sides of a support film.

該ブタジエン系ゴムが、重量平均分子量が１０００以上でカルボキシル基を含有する一種または二種以上の混合物であり、該ポリアミドイミド樹脂中の共重合量が１重量％以上であることを特徴とする請求項１に記載の半導体用接着剤フィルム。 The butadiene rubber is one or a mixture of two or more having a weight average molecular weight of 1000 or more and containing a carboxyl group, and a copolymerization amount in the polyamideimide resin is 1% by weight or more. Item 2. An adhesive film for a semiconductor according to Item 1.

該ポリアミドイミド樹脂が、酸成分としてシクロヘキサンジカルボン酸を有することを特徴とする請求項１〜２のいずれかに記載の半導体用接着剤フィルム。 The adhesive film for semiconductor according to claim 1, wherein the polyamideimide resin has cyclohexanedicarboxylic acid as an acid component.

該ポリアミドイミド樹脂が、アミン残基として、ジシクロヘキシルメタン基及び／又はイソホロン基を含有することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の半導体用接着剤フィルム。 The adhesive film for a semiconductor according to any one of claims 1 to 3, wherein the polyamide-imide resin contains a dicyclohexylmethane group and / or an isophorone group as an amine residue.

該支持体フィルムがポリイミドフィルム又はポリエステルフィルムであることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の半導体用接着剤フィルム。 The adhesive film for semiconductor according to any one of claims 1 to 4, wherein the support film is a polyimide film or a polyester film.

請求項１〜５のいずれかに記載の半導体用接着剤フィルムを貼り付けたリードフレーム。 The lead frame which affixed the adhesive film for semiconductors in any one of Claims 1-5.

請求項１〜５のいずれかに記載の半導体用接着剤フィルムを介してリードフレームと半導体素子を接着させてなる半導体装置。 A semiconductor device in which a lead frame and a semiconductor element are bonded via the semiconductor adhesive film according to claim 1.