JP4674875B2 - 質量分析方法 - Google Patents
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Description
a)ナノレベルの微細な凹凸面を有する基板と、
b)レーザー光源と、該レーザー光源により出射されたレーザー光を50μm以下の径に集光可能な集光光学系と、を含み、前記基板上の試料に対し前記集光したレーザー光を照射するレーザー照射手段と、
c)前記レーザー照射により前記試料から発生したイオンを質量分離して検出する質量分析手段と、
を備える質量分析装置を用いた質量分析方法であって、
分析対象である試料を前記基板の微細凹凸面に転写により付着させ、その付着された試料に対して前記レーザー照射手段より集光したレーザ光を照射し、発生したイオンを前記質量分析手段により分析することを特徴としている。
d)前記レーザー照射手段による前記試料上のレーザー照射位置を2次元的に走査するための走査手段と、
e)該走査手段によりレーザー照射位置を移動させる毎にレーザー光を照射するべく前記レーザー照射手段を制御する制御手段と、
f)前記2次元的な走査に伴って前記質量分析手段により得られる検出信号に基づいて、2次元的な物質分布画像を作成するデータ処理手段と、
を備える構成とすることができる。
Claims (5)
- a)ナノレベルの微細な凹凸面を有する基板と、
b)レーザー光源と、該レーザー光源により出射されたレーザー光を50μm以下の径に集光可能な集光光学系と、を含み、前記基板上の試料に対し前記集光したレーザー光を照射するレーザー照射手段と、
c)前記レーザー照射により前記試料から発生したイオンを質量分離して検出する質量分析手段と、
を備える質量分析装置を用いた質量分析方法であって、
分析対象である試料を前記基板の微細凹凸面に転写により付着させ、その付着された試料に対して前記レーザー照射手段より集光したレーザ光を照射し、発生したイオンを前記質量分析手段により分析することを特徴とする質量分析方法。 - 前記質量分析装置は、
d)前記レーザー照射手段による前記試料上のレーザー照射位置を2次元的に走査するための走査手段と、
e)該走査手段によりレーザー照射位置を移動させる毎にレーザー光を照射するべく前記レーザー照射手段を制御する制御手段と、
f)前記2次元的な走査に伴って前記質量分析手段により得られる検出信号に基づいて、2次元的な物質分布画像を作成するデータ処理手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の質量分析方法。 - 前記走査手段は、前記基板をその基板の延展方向に移動させる移動手段であることを特徴とする請求項2に記載の質量分析方法。
- 前記集光光学系によるレーザー光の集光径を10μm以下としたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析方法。
- 前記質量分析装置は、前記基板上の試料を拡大観察可能な顕微手段と、該顕微手段で得られた2次元観察画像を表示する表示手段と、該表示手段に表示されている2次元観察画像上で質量分析位置又はその範囲を設定するための設定手段と、をさらに備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の質量分析方法。
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