JP4615886B2 - 走査型光学顕微鏡 - Google Patents
走査型光学顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4615886B2 JP4615886B2 JP2004108803A JP2004108803A JP4615886B2 JP 4615886 B2 JP4615886 B2 JP 4615886B2 JP 2004108803 A JP2004108803 A JP 2004108803A JP 2004108803 A JP2004108803 A JP 2004108803A JP 4615886 B2 JP4615886 B2 JP 4615886B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavefront conversion
- conversion element
- image
- light
- aberration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
Description
前記制御装置は、照明光の集光位置を変更するのに必要な前記波面変換素子を変調するための制御データを備えており、その制御データに基づいて前記波面変換素子を変調して照明光の集光位置を変更するものであり、
前記波面変換素子を変調するための前記制御データは、測定物体の集光位置に対して予め集光するように設定されたデータに基づいて予備走査することで得られた画像に基づいて、補正可能になっていることを特徴とするものである。
3…光束走査手段
4…対物レンズ
11…レーザー光源
12…コリメータレンズ
22…形状可変ミラー(DFM)
51…ダイクロイックミラー
52…集光レンズ
53…検出器
54…CCDカメラ
55…励起光
56…分光手段
61…コントローラ
62…メモリ
63…フィードバックループ
71…第三のリレー光学系
72…第二のリレー光学系
73…第一のリレーレンズ
74…結像レンズ
81…平面ミラー
82…3次元構造の蛍光体
83…蛍光層
O…対象物(物体)
KPL…短パルス・レーザー
PCU…プリチャープ・ユニット
ST1、ST2、ST3…ビーム・スプリッター
AD1、AD2…アダプティブミラー
DBS…ビーム・スプリッター
SL、TL…光学部品
SP…ミラー
OL…対物レンズ
L…レンズ
PH…ピンホール
EF…フィルター
PMT…検出器
Claims (5)
- 光源と、前記光源から発する照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子と、前記波面変換素子を制御する制御装置と、前記波面変換素子から発する波面変換後の照明光を互いに直交する方向に走査する光束走査手段と、前記光束走査手段によって進行方向を変えた照明光を物体に集光する対物レンズと、前記物体から発する信号光を検出する検出器とを備えた走査型光学顕微鏡において、
前記制御装置は、照明光の集光位置を変更するのに必要な前記波面変換素子を変調するための制御データを備えており、その制御データに基づいて前記波面変換素子を変調して照明光の集光位置を変更するものであり、
前記波面変換素子を変調するための前記制御データは、測定物体の集光位置に対して予め集光するように設定されたデータに基づいて予備走査することで得られた画像に基づいて、補正可能になっていることを特徴とする走査型光学顕微鏡。 - 前記波面変換素子を変調するための前記制御データは、特定の参照サンプルに対して照明光の集光形状を最適化するものであることを特徴とする請求項1記載の走査型光学顕微鏡装置。
- 前記予備走査することで得られた画像が、測定物体に励起光を照射して蛍光撮像することにより得られた画像であることを特徴とする請求項1記載の走査型光学顕微鏡装置。
- 前記予備走査することで得られた画像が、分光画像であることを特徴とする請求項1記載の走査型光学顕微鏡装置。
- 前記予備走査することで得られた画像から予備走査時の光学系の収差量を求める収差量演算手段と、求められた収差量から前記波面変換素子の制御のための補正データを求める補正データ演算手段とを備えていることを特徴とする請求項1記載の走査型光学顕微鏡装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004108803A JP4615886B2 (ja) | 2004-04-01 | 2004-04-01 | 走査型光学顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004108803A JP4615886B2 (ja) | 2004-04-01 | 2004-04-01 | 走査型光学顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005292538A JP2005292538A (ja) | 2005-10-20 |
JP4615886B2 true JP4615886B2 (ja) | 2011-01-19 |
Family
ID=35325511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004108803A Expired - Fee Related JP4615886B2 (ja) | 2004-04-01 | 2004-04-01 | 走査型光学顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4615886B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008026643A (ja) * | 2006-07-21 | 2008-02-07 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
WO2009153919A1 (ja) * | 2008-06-17 | 2009-12-23 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム |
FR2941787B1 (fr) * | 2009-02-04 | 2011-04-15 | Ecole Polytech | Procede et dispositif d'acquisition de signaux en microscopie laser a balayage. |
JP5554965B2 (ja) * | 2009-11-06 | 2014-07-23 | オリンパス株式会社 | 位相変調型空間光変調器を用いたレーザ顕微鏡 |
WO2011125370A1 (ja) * | 2010-04-05 | 2011-10-13 | 国立大学法人大阪大学 | 観察装置及び観察方法 |
JP5721042B2 (ja) | 2010-10-20 | 2015-05-20 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
JP5757458B2 (ja) | 2011-04-12 | 2015-07-29 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム、サーバー及びプログラム |
DE102012201003A1 (de) * | 2012-01-24 | 2013-07-25 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren für die hochauflösende 3-D Fluoreszenzmikroskopie |
JP2013160893A (ja) * | 2012-02-03 | 2013-08-19 | Olympus Corp | 顕微鏡とその収差補正方法 |
WO2013130077A1 (en) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | Agilent Technologies, Inc. | Software defined microscope |
JP6127818B2 (ja) * | 2013-08-02 | 2017-05-17 | 株式会社ニコン | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 |
JP5971621B2 (ja) * | 2015-03-31 | 2016-08-17 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
JP6264715B2 (ja) * | 2016-07-15 | 2018-01-24 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
JPWO2019106730A1 (ja) | 2017-11-28 | 2020-11-19 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
JP7043885B2 (ja) * | 2018-02-26 | 2022-03-30 | セイコーエプソン株式会社 | 分光装置、温度特性導出装置、分光システム、分光方法、及び温度特性導出方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11101942A (ja) * | 1997-08-01 | 1999-04-13 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 顕微鏡におけるアダプティブ光学装置 |
JP2000121945A (ja) * | 1998-10-14 | 2000-04-28 | Olympus Optical Co Ltd | 集光装置 |
JP2001290081A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-10-19 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 試料照射装置 |
JP2002196246A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-12 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JP2003057555A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡 |
JP2003315650A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Olympus Optical Co Ltd | 光学装置 |
JP2004053922A (ja) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Olympus Corp | 走査画像の補正方法、そのプログラム、及びレーザ走査型顕微鏡 |
JP2004317265A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Institute Of Tsukuba Liaison Co Ltd | 情報エントロピーを用いた波面評価方法及び装置 |
-
2004
- 2004-04-01 JP JP2004108803A patent/JP4615886B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11101942A (ja) * | 1997-08-01 | 1999-04-13 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 顕微鏡におけるアダプティブ光学装置 |
JP2000121945A (ja) * | 1998-10-14 | 2000-04-28 | Olympus Optical Co Ltd | 集光装置 |
JP2001290081A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-10-19 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 試料照射装置 |
JP2002196246A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-12 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JP2003057555A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザ顕微鏡 |
JP2003315650A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Olympus Optical Co Ltd | 光学装置 |
JP2004053922A (ja) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Olympus Corp | 走査画像の補正方法、そのプログラム、及びレーザ走査型顕微鏡 |
JP2004317265A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Institute Of Tsukuba Liaison Co Ltd | 情報エントロピーを用いた波面評価方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005292538A (ja) | 2005-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4615886B2 (ja) | 走査型光学顕微鏡 | |
US10247934B2 (en) | Method for examining a specimen by means of light sheet microscopy | |
EP1744194B1 (en) | Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope | |
EP2452221B1 (en) | Microscopy with adaptive optics | |
CN106461925B (zh) | 用于具有自适应光学***的拉曼散射光学显微镜的***和方法 | |
US7733564B2 (en) | Applications of adaptive optics in microscopy | |
JP5381984B2 (ja) | 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム | |
US20150077842A1 (en) | High-resolution scanning microscopy | |
US20130176622A1 (en) | Multi-Dimensional Imaging Using Multi-Focus Microscopy | |
CA2267431A1 (en) | Microscope with adaptive optics | |
CN107850765B (zh) | 光束成形和光层显微技术的方法和组合件 | |
JP2008170969A (ja) | 顕微鏡対物レンズ及びそれを用いた蛍光観察装置 | |
JP2018517178A (ja) | ライトシート顕微鏡法のための構成及び方法 | |
JP2004239660A (ja) | 顕微鏡 | |
JP7481351B2 (ja) | 波面解析装置、蛍光顕微鏡画像化システムおよび対象を顕微鏡画像化する方法 | |
US20100264294A1 (en) | Multi-focal spot generator and multi-focal multi-spot scanning microscope | |
JPH06506538A (ja) | 可視光および紫外光の共焦点結像装置 | |
JP2019012270A (ja) | 顕微鏡装置及び画像取得方法 | |
Fuseler et al. | Types of confocal instruments: basic principles and advantages and disadvantages | |
JP2008026643A (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP4874012B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 | |
CN112912782B (zh) | 被配置用于生成线焦点的共焦激光扫描显微镜 | |
WO2017178538A1 (en) | Method and arrangement for identifying optical aberrations | |
JP2005345761A (ja) | 走査型光学顕微鏡装置及び走査型光学顕微鏡像から物体像の復元法 | |
JP6770616B2 (ja) | 画像取得装置、画像取得方法、及び空間光変調ユニット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070326 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100706 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100714 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100825 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100929 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101021 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4615886 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131029 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |