JP4609770B2 - 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、光ディスク記録再生プログラム、及び光ディスク - Google Patents
光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、光ディスク記録再生プログラム、及び光ディスク Download PDFInfo
- Publication number
- JP4609770B2 JP4609770B2 JP2006236027A JP2006236027A JP4609770B2 JP 4609770 B2 JP4609770 B2 JP 4609770B2 JP 2006236027 A JP2006236027 A JP 2006236027A JP 2006236027 A JP2006236027 A JP 2006236027A JP 4609770 B2 JP4609770 B2 JP 4609770B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- power
- optical disc
- erasing power
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
ィスクのデータ領域に対する実際の記録(実記録)の開始より前に、対象となる光ディス
クに対して記録条件を変えながら所定のテスト記録信号を試し書きし、試し書きした領域
を再生することにより、取得される再生テスト記録信号の特性に基づいて最適記録条件を
取得し、この最適記録条件によって実記録を行うようにしている。これにより、良好な記
録品質を得ることができる。試し書きした領域からの再生テスト記録信号に基づいて最適
記録条件を取得することを、最適記録パワー制御(OPC:Optimum Power Control)と
呼ぶ。
VD−RWディスクの開発が進められている。図15はこの2層DVD−Rディスク、2
層DVD−RWディスクの一例の概略構造断面図を示す。同図に示すように、片面2層の
DVD−Rディスク又はDVD−RWディスクは、一層目記録層301と二層目記録層3
02とが、記録再生時の光ビーム402の光軸方向に積層されており、光ビーム402は
光ピックアップ内の対物レンズ401により一層目記録層301に集光されるか、又は一
層目記録層301を透過して二層目記録層302に集光される。
かって、PCA領域(Power Calibration Area)311、RMA領域(Recording Manage
ment Area)312、リードイン領域(Lead-In)313、データ領域(Data Area)31
4及び中間領域(Middle Area)315に分割されている。
また、上記の二層目記録層302の記録領域は、内周から外周へ向かって、PCA領域3
21、RMA領域322、リードアウト領域(Lead-Out)323、データ領域(Data Are
a)324及び中間領域(Middle Area)325に分割されている。
用いて行われる。また、RMA領域312及びRMA領域322は記録管理領域であり、
前記したリードイン領域313とデータ領域314、324とリードアウト領域323の
記録状態の変遷やOPC情報を管理するための情報が記録される。リードイン領域313
の一部は、コントロールデータゾーンと呼ばれる領域を持ち、そこにはディスクの大きさ
等のディスク全体の情報及び記録パワーや記録波形パターン、消去パワーの比率等の記録
する際の参考条件が、ディスク製造時にプリピットデータ情報として予め記録されている
。
、ディスク製造時のプリフォーマットの段階でディスク上のアドレス情報等がトラック溝
情報(ランドプリピット:LPP)として記録されている(例えば、特許文献1参照)。
DVD−RディスクやDVD−RWディスクへの記録は、このLPPのアドレス情報を基
にして行われる。LPPには、アドレス情報の他に、記録パワーや記録波形パターン等の
記録する際の参考条件が格納されている。
域311でOPCを行い、二層目記録層302のデータ領域に実記録する前には、二層目
記録層302のPCA領域321でOPCを行う。最適記録パワーは一層目記録層301
と二層目記録層302の厚みが異なると共に、同じ光ディスクでも書込み時のパルススト
ラテジの違いやレーザ波形の違いなどにより最適パワーが異なる場合があり、OPCによ
って最適記録パワーを取得することが必要となる。
は相変化型の材料が用いられている。DVD−RWディスクの一層目記録層への記録には
、記録パワーが例えば図16(A)に示すように3値Pw,Pe,Pbに変化するレーザ
光が使用される。Pwは書込パワー(以下、記録パワーともいう)で、このパワーPwの
レーザ光によって光ディスクの記録層の状態が結晶状態からアモルファス状態に変化して
ピットが形成される。Peは消去パワーで、このパワーPeのレーザ光によって、記録層
がアモルファス状態にあるときは結晶状態に戻って古いピットが消去(オーバライト)さ
れる。Pbはバイアスパワーで、いわゆるパルス分割記録による分割パルスの底部のパワ
ーに相当し、このパワーPbのレーザ光により記録時にレーザ光照射による熱が拡散する
のを防ぐ働きをする。図16(A)のように、レーザ光に対するパワーが所定の順序で変
化することによって、光ディスク上には同図(B)に示すようなピットが形成される。
して、例えば、アシンメトリ値(高周波数信号の非対称性を表すパラメータ)あるいは変
調度から得られる値γが用いられる(例えば、特許文献2参照)。特許文献2では、まず
消去パワー、バイアスパワーを固定して、書込パワー(記録パワー)を変化させてテスト
用記録信号を記録し、テスト用信号記録部分を再生して記録状態の良否を判定する特性パ
ラメータを測定することで、最適な書込パワーを求める。
スト用記録信号を記録し、そのテスト用記録信号記録部分を再生して記録状態の良否を判
定する特性パラメータを測定することで、最適な消去パワーを求める。最後に、それらの
書込パワー、消去パワーを用い、バイアスパワーを変化させてテスト用記録信号を書込み
、そのテスト用記録信号記録部分を再生して記録状態の良否を判定する特性パラメータを
測定することで、最適なバイアスパワーを求める。
領域に実際のユーザデータの記録(実記録)を行う方法が特許文献2に記載されている。
また、特許文献2には記録状態の良否を判定する特性パラメータとして、アシンメトリ値
βあるいはγ値、あるいはエラーレートを用いることが述べられている。
献2記載の従来の単層のDVD−RWの光ディスクと同様な最適記録条件を取得する手法
を試みたところ、特に2層の記録層のうち光ピックアップに近い方の一層目記録層におい
て繰り返し記録の回数によりRF信号の再生特性が記録回数1回目と2回目と3回目で異
なる傾向を示し、このままの方法では検出した結果にバラツキがあるために最適な記録品
質の確保が難しいという問題が生じた。記録回数4〜5回目以降は安定したRF信号の再
生特性が得られている。
を示す。同図から分かるように、特に2回目の記録時の再生ジッタが比較的悪く、10回
目以降1000回以上にわたって比較的良好な再生ジッタとなっている。ここで、「再生
ジッタ」とは、一般には再生信号から位相同期ループ(PLL)回路で生成したクロック
と、再生信号を2値化した信号の、クロックに対する立ち上がりと立下りの両エッジの差
の時間を積分し平均化した値を、クロック周期で除算した値に100を乗じた値(単位%
)であり、再生ジッタの値が小さいほど良好な再生状態であるといえる。
パワーPeと再生ジッタとの測定結果を示す。図18(A)、(B)から分かるように、
記録パワーPw又は消去パワーPeの変化によって、再生ジッタが大きく変化することが
分かる。また、図18(B)に示す消去パワーと再生ジッタの特性では、1回目の記録時
(イニシャル時)の再生ジッタが最小となる最適な消去パワーPeと、書換え回数(オー
バーライト回数)1回目(DOW1)及び10回目(DOW10)の記録時の再生ジッタ
が最小となる最適な消去パワーPeには差があることが分かる。
る記録パワーの余裕度は、図18(A)から比較的広いことが分かる。これに対して消去
パワーの余裕度は図18(B)から書き換え回数により最適消去パワーが変化すると共に
、最適消去パワーの許容範囲が狭いことが分かる。例えば図18(A)及び(B)より書
き換え回数10回目(DOW10)の場合、ジッタ9%以内で許容される記録パワーと消
去パワーの設定誤差の範囲を見ると、記録パワーが約±2.2mW、消去パワーは約±0.
4mWであり、特に消去パワーのパワー設定の誤差がジッタの悪化に影響し易いことが分
かる。
生ジッタとの関係を、単層DVD−RWと、A社とB社とC社の各2層のDVD−RWの
一層目記録層のそれぞれについて示した特性図である。図19から分かるように、εは単
層DVD−RWの再生ジッタに比べて、2層のDVD−RWの一層目記録層に対する再生
ジッタの許容範囲の余裕度が極めて狭く、また、2層のDVD−RW同士でもメーカー(
A社、B社、C社)によって上記の余裕度が若干異なる。
(1)多層の記録層を持つ書き換え可能な光ディスクに対して、パワーを設定したレーザ光を用いて記録/再生を行う光ディスク記録再生装置において、
所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとを設定し、設定した前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により前記光ディスクの所定領域にテスト記録信号を記録する記録手段と、
前記記録手段により前記テスト記録信号を記録した前記光ディスクの領域を、設定した前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行うDC消去手段と、
前記DC消去手段により記録を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出する記録状態検出手段と、
前記記録状態検出手段で検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、前記光ディスクに対応した消去パワーの基準値として判定する判定手段と、
前記判定手段で判定した前記消去パワーの基準値に、前記光ディスクに対応して予め定められた係数を乗算して光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を求める演算手段とを備え、
光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を導き出すようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
(2)多層の記録層を持つ書き換え可能な光ディスクに対して、パワーを設定したレーザ光を用いて記録/再生を行う光ディスク記録再生法方法において、
所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとを設定し、設定した前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により前記光ディスクの所定領域にテスト記録信号を記録する第1のステップと、
前記第1のステップにより前記テスト記録信号を記録した前記光ディスクの領域を、設定した前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行う第2のステップと、
前記第2のステップにより記録を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出する第3のステップと、
前記第3のステップにより検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、前記光ディスクに対応した消去パワーの基準値として判定する第4のステップと、
前記第4のステップで判定した前記消去パワーの基準値に、前記光ディスクに対応して予め定められた係数を乗算して光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を求める第5のステップとを含み、
光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を導き出すようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
(3)多層の記録層を持つ書き換え可能な光ディスクに対して、レーザ光による記録/再生を行う記録再生手段をコンピュータにより制御するための光ディスク記録再生プログラムであって、
所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとを設定し、設定した前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により前記光ディスクの所定領域にテスト記録信号を記録するように前記記録再生手段に指示する第1のステップと、
前記第1のステップにより前記テスト記録信号を記録した前記光ディスクの領域を、設定した前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行うように前記記録再生手段に指示する第2のステップと、
前記第2のステップにより記録を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出するように前記記録再生手段に指示する第3のステップと、
前記第3のステップにより検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、前記光ディスクに対応した消去パワーの基準値として判定する第4のステップと、
前記第4のステップで判定した前記消去パワーの基準値に、前記光ディスクに対応して予め定められた係数を乗算して光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を求める第5のステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とする光ディスク記録再生プログラム。
(4)情報が記録又は再生される記録層が、記録又は再生用のレーザ光の光軸方向に複数積層された多層構造の書き換え可能な光ディスクであって、
前記複数の記録層の内の少なくとも1つの記録層は、前記レーザ光の最適な消去パワーを求めるためのテスト記録信号が記録され再生される第1の領域と、記録管理情報が記録される第2の領域と、ユーザデータが記録され再生される第3の領域とを有し、
前記第1の領域は、所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとが設定され、設定された前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により、前記テスト記録信号が記録される領域であり、
前記第1の領域に記録されDC消去された後に再生された前記テスト記録信号から得られる消去パワーの基準値に乗算して当該光ディスクへの記録時の最適な消去パワーを求めるための、当該光ディスクに対応して予め定められた係数の値が、前記第1乃至第3の領域の内の少なくとも1つの領域内のプリピットエリア又はトラック溝に消去されない形態で記録されており、
記録再生装置により前記最適な消去パワーを求める際には、前記テスト記録信号が記録された前記第1の領域を、設定された前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行ってDC消去し、前記DC消去を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出し、検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、当該光ディスクに対応した前記消去パワーの基準値として判定し、判定した前記消去パワーの基準値に、当該光ディスクから読み出した前記予め定められた係数の値を乗算して前記最適な消去パワーの値を求められるようにしたことを特徴とする光ディスク。
のDC消去パワーを可変しながら記録を行った、DC消去パワーが互いに異なる複数の領
域から記録状態検出手段がそれぞれ検出した値の中で、検出値がDC消去パワー用の所定
の検出値もしくは検出条件と一致した領域に対して記録したDC消去パワー値に、所定の
係数を乗算して最適な消去パワーのレベルを求めることにより、光ディスク記録時の最適
な消去パワーの値を導き出すようにしたため、特に多層光ディスクの光ピックアップに最
も近い一層目記録層の消去パワーのマージンが少なく最適な記録を行うためには精度の良
い消去パワーの検出技術が必要であるという要求を満たすことができ、これによりジッタ
の良い記録ができる。
マークを消去した後、その領域を再生して、その再生信号の変調度、変調度の正規化され
た傾き特性を示すパラメータであるγ値、及び再生信号の非対称性を表すパラメータ(β
値又はアシンメトリ値)のうちの少なくとも1つを検出し、その検出特性が急峻に変化し
消去が急激に行われるポイントが繰り返し記録特性に殆ど影響がなく検出できることを利
用し、このポイントの消去パワーを基準にして所定の係数を乗算することにより、高精度
な消去パワーを導き出すことができる(この精度は高く最適な消去パワーに対して誤差が
2%以内という実験結果が得られている)。
リから記録パワーに対する消去パワーの比率εを用いて記録パワーを計算するようにした
ため、最適な記録パワーのOPC処理が省略でき、OPC処理の回数を減らせると共にド
ライブ装置の起動時間を短くできる。
ころのDC消去パワーを基準値として、その基準値と乗算することで消去パワーを求める
ための所定の係数を、光ディスクのプリピットエリアもしくはトラック溝に、製造段階で
予め記録させる構成をとるようにしているため、新しく参入した光ディスクメーカーの光
ディスクや装置メモリにデータがない光ディスクのOPC処理をするような場合でも、光
ディスク内の情報を用いて最適な消去パワーを求めることができる。
(第1の実施の形態)
図1は本発明になる光ディスク記録再生装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図
に示す本実施の形態の書き換え可能型光ディスク記録再生装置15は、この発明に係る部
分の制御ブロック構成を主に示したものである。光ディスク記録再生装置15は、複数の
記録層が記録再生用レーザ光の光軸方向に積層された書き換え可能型光ディスク1に対し
て、光ピックアップ(PU)2を用いてRF信号の再生及び記録マークの書き込みを行う
。ここでは、一例として光ディスク1は、図15に示した断面構造の片面2層光ディスク
であるものとして説明する。光ピックアップ2により光ディスク1から再生されたRF信
号は信号処理回路3に入力され、データ復調(図示せず)されて外部インターフェースを
介してコンピュータ又はDVDレコーダなどのシステム制御装置(図示せず)へ出力され
る。
おり、光ピックアップ2により光ディスク1から再生されたRF信号から内部の復調手段
(図示せず)で復調して光ディスク1の情報(ディスク構造、推奨記録パワー、記録スト
ラテジ、記録パワーと消去パワーの比率εなど)を得て、内部バス10及び制御回路11
を介して装置メモリ14に保存する。データを光ディスク1に記録する際は、制御回路1
1より記録手段6に書き込みアドレスと書き込みパワー(記録パワー、消去パワー、バイ
アスパワー)及び記録ストラテジの設定情報が信号処理回路3内の内部バス10を介して
記録手段6へ伝送される。記録手段6はこれらの設定情報を基に、光ピックアップ2によ
り光ディスク1の所定のアドレスに書込みを行う。
クの短いマーク(例えば、8/16変調信号の場合には3T(Tはチャネルクロックの周
期:以下同じ)から7Tの任意のマーク信号)と長いマーク(例えば、8/16変調信号
の場合には8Tから14Tの任意のマーク信号)とが混在したテスト記録信号、又は記録
波形パターンのランダムパターン信号を用いて光ディスク1にテスト記録を行う。
波形(記録パワーPw、消去パワーPe、バイアスパワーPb及び記録ストラテジ)を用
いて行い、記録マークを形成していく。光ピックアップ2から出射されるレーザ光のパワ
ーは記録手段6の内部のALPC(Automatic Laser Power Control)手段(図示せず)
によって設定された書き込みパワー値に高精度に制御される。通常のOPC処理は、光デ
ィスク1のOPC領域の所定ブロックのアドレスに書き込みパワーを段階的に変化させて
記録するが、この動作を記録手段6で行うことができる。また実際の記録(実記録)を行
う場合は、記録手段6に最適な書き込みパワーの設定をすることにより連続したデータの
記録が行える。
した書き込みパワーと記録ストラテジでOPC領域をテスト記録する。記録条件を一定に
した書き込みパワーは記録手段6で設定され、例えば光ディスク1又は装置メモリ14か
ら読み出した推奨記録パワーの値(以下、Pindという)を記録パワーの固定値として
設定し、同じく光ディスク1又は装置メモリ14から読み出した記録パワーと消去パワー
の比率εの値と前記推奨記録パワーの値(Pind)から演算により求めた消去パワーの
値(=ε・Pind)を消去パワーの固定値として設定し、装置メモリ14から読み出し
た推奨バイアスパワーの値をバイアスパワーの固定値として設定して、レーザ光によりテ
スト記録信号を記録する(テスト記録を行う)。装置メモリ14から読み出した推奨バイ
アスパワーの値は、例えば0.7mW以下の固定値であるものとする。
テスト記録を行った所定のOPCアドレス領域に対し、同じ領域にレーザ光の消去パワー
のみを図2に示すように段階的にパワーレベルを可変しながら記録する。この場合、DC
消去手段5は、前記推奨記録パワーの値(Pind)と、前記記録パワーと消去パワーの
比率εの値と、同じく光ディスク1又は装置メモリ14から読み出した最適な消去パワー
算出のために乗算する所定の係数(以下、係数Sという)の値とから、演算により基準に
近いDC消去パワーの値(=ε・Pind/S)を求め、該基準の値の周辺においてDC
消去パワー値を可変する。尚、装置メモリ14から読み出した記録パワーと消去パワーの
比率εの値、推奨記録パワーの値(Pind)、最適な消去パワー算出のために乗算する
所定の係数Sは、光ディスクの種類に合わせてこの光ディスク記録再生装置に対応して設
定された値である。光ディスク記録再生装置は学習機能や制御プログラムのアップデート
により、より信頼性の高い値が装置メモリ14に格納されている場合には、装置メモリ1
4に格納されている値の方を優先して選択するようにしてもよい。
的に消去パワーを可変して記録した領域毎に、記録状態の変化を、記録状態検出手段4に
よって光ディスク1からの再生RF信号の変調度又は変調度の特性を微分したパラメータ
(以下γ値という)又はRF信号の非対称性を表すパラメータのアシンメトリ値又はβ値
(以下、アシンメトリ用β値ともいう)の測定を行うことで検出する。
構成で行う(このブロック図の構成及び動作については後ほど詳細に説明する)。記録状
態検出手段4によって検出された記録状態の測定結果は、図1の信号処理回路3内の内部
バス10を介して制御回路11に転送される。制御回路11は、装置メモリ14に格納さ
れた制御プログラムで予め定めた所定の値(変調度、γ値の条件、アシンメトリ用β値)
と、信号処理回路3から入力された検出された記録状態の測定結果とを判定手段13で比
較し、一致若しくは一番近い値を示した光ディスク1のDC消去領域を確定すると共に、
そのDC消去領域で行った消去パワーの値を求める。
メモリ14に予め保存してあるこの種の光ディスク1に最適な所定の係数Sを用いて乗算
処理を行い、最適消去パワーの値を求める。以上のようにして、この光ディスク1に最適
な消去パワーを本発明のOPC処理により求めることができる。
3乃至図6と共に説明する。図3は記録状態検出手段4及び制御回路11の一部の一実施
の形態のブロック図を示す。この記録状態検出手段4等により、再生RF信号の変調度又
はγ値又はアシンメトリ用β値を検出・測定することができる。図3において、図1の光
ピックアップ2により光ディスク1のDC消去パワーを段階的に可変して記録した複数の
DC消去領域からの再生RF信号は、高域フィルタ(HPF)100によりACカップル
した状態で0Vを基準に正側(上側)の振幅レベルをピークレベル検出回路101で検出
され、次段の低域フィルタ(LPF)104でピークレベル検出回路101のドループ特
性による信号の変動が平均化されて信号A1として出力される。
側)の振幅レベルをボトムレベル検出回路102で検出され、次段のLPF105でボト
ムレベル検出回路102のドループ特性による信号の変動を平均化されて信号A2として
出力される。RF信号の非対称性を表すパラメータのアシンメトリ用β値は、上記信号A
1と信号A2から下記のような式で算出される。この演算は演算手段107で行われる。
演算手段107で算出されたアシンメトリ用β値は、比較判定回路110で所定のアシン
メトリ用β値と比較される。比較判定回路110は判定手段13の処理内容を示している
。
、図4(B)乃至図4(D)はDVD−RWの2層光ディスクの特性を測定したものであ
る。図4(B)は記録パワーを可変してアシンメトリ用β値をグラフ化したもので、特性
としては一層目記録層へのテスト記録信号の記録を1回(イニシャル)、2回(DOW1
)、11回(DOW10)と繰り返し行った場合、繰り返し記録の回数の違いによる特性
差はあるものの、ピークの位置が同じ付近にある。このことからアシンメトリ用β値検出
でも使用できる可能性があることが分かる。すなわち、図4(B)の各カーブの振幅最大
点を記録後の再生ジッタの最良点として、この位置を最適な記録パワーの位置とほぼ見做
すようにすることにより、繰り返し記録の回数の違いの影響がない最適な記録パワーとし
て算出に使用できる。
用β値をグラフ化したものを示す。すなわち、図16(A)のパルスのうち、書込パワー
(記録パワー)Pwと、バイアスパワーPbとをそれぞれ一定値で固定し、消去パワーP
eのみを可変して記録した場合の消去パワーとアシンメトリ用β値との特性図を示す。こ
の特性は上記繰り返し記録回数による記録特性の差が大きく出ており、グラフの位置にバ
ラツキが多い。例えば、β=0の点の消去パワーPeを求めた場合、約0.8mWの誤差
を持つ。図18(B)の消去パワー対ジッタのグラフからわかるように消去パワーのマー
ジンは非常に少なく、±0.4mW以内の高い精度で設定することが必要であり、検出バ
ラツキを考慮すると、このアシンメトリ用β値の検出では実用に難点がある。
ー対β値特性図を示す。この特性図は2層光ディスクの1層目記録層のOPC領域内の1
回記録(イニシャル)、2回の繰り返し記録(DOW1)、11回の繰り返し記録(DO
W10)の各記録領域を、図2に示すようにレベルが可変される消去パワーのみで記録し
た(DC消去した)後、その領域を再生して得た再生RF信号からアシンメトリ用β値を
検出したものであるが、繰り返し記録回数による記録特性の差が殆どなく、それぞれの特
性がほぼ一致していることが分かる。
にて演算手段107からのβ値と比較する所定のβ値として、図4(D)の例えば「−4
0」という値を使用することにより、誤差の少ない消去パワーの基準値の値が検出できる
。そして、この基準の消去パワーに最適消去パワーを求める係数Sを係数Sbとして乗算
することにより、最適な消去パワーを求めることができる。実験によれば最適な消去パワ
ーとの誤差は4%以内であった。
れて、一方はHPF100に入力され、他方はピークレベル検出回路103に入力される
。ピークレベル検出回路103は、再生RF信号の振幅電圧をDCレベルの基準電圧から
測定し、その検出電圧を次段のLPF106に供給してピークレベル検出回路103のド
ループ特性による信号の変動を平均化して、信号A3を出力させる。
信号A3とから演算手段108により次式で算出される。
変調度 m=I14/I14H
=(A1−A2)/A3 (2)
上式中、I14はRF信号(具体的には8/16変調方式の14T信号)の振幅値であり
、I14HはDCレベルの基準値から上記RF信号の上側包絡線までの振幅値を意味して
いる。
度の値と比較判定される。なお、図3中の比較判定回路111は図1の判定手段13の処
理内容を示している。
基準値からRF信号の上側の包絡線までの振幅値I14Hの各レベルを同図中に示す。図
5(B)は記録パワーを可変して変調度mをグラフ化した記録パワー対変調度特性を示す
。図5(B)に示すように、テスト記録信号の一層目記録層への記録を1回(イニシャル
)、2回(DOW1)、11回(DOW10)と繰り返し行った場合、DVD−RWの2
層光ディスクの問題点として挙げた繰り返し記録の回数により記録パワー対変調度特性に
、差が若干ある(0.2mW程度の差)ものの、最適な消去パワーが仮に±0.4mW程度
は問題ない範囲とすると、十分使えるレベルであることが分かる。
た消去パワー対変調度特性を示す。すなわち、図16(A)のパルスのうち、書込パワー
(記録パワー)Pwと、バイアスパワーPbとをそれぞれ一定値で固定し、消去パワーP
eのみを可変して記録した場合の消去パワーと変調度の特性を示す。図5(C)に示すよ
うに、記録を1回目(イニシャル)、2回目(DOW1)、11回目(DOW10)と繰
り返し行った場合、消去パワーを可変しても変調度がほぼ一定であるため、この方法は最
適な消去パワーの検出には使えないことが分かる。
。すなわち、図5(D)に示す特性は、記録を1回目(イニシャル)、2回目(DOW1
)、11回目(DOW10)と繰り返し行ったそれぞれの領域を、消去パワーのみで、か
つ、そのレベルを可変して記録した(DC消去した)場合、繰り返し記録回数による記録
特性の差は多少はあるが、それぞれの特性がほぼ一致していることが分かる。
として、図5(D)の例えば「0.3」という値を使用することにより、比較的誤差の少
ない消去パワーの基準値の値が検出できる。そして、この基準の消去パワーに最適消去パ
ワーを求める係数Sを係数Smodとして乗算することにより最適な消去パワーを求めるこ
とができる。実験によれば、最適な消去パワーとの誤差は5%以内であった。
説明をもって省略するが、同様な検出と効果が期待できる。このアシンメトリ値を検出す
る構成は、上記β値の検出構成と変調度の検出構成を用いることができる。つまり、アシ
ンメトリ値は上記信号A1と信号A2と信号A3を用いて次式で算出される。この演算は
演算手段12で行われる(図3には図示せず)。
2[(I14H−I14L)] (3)
上式中、I14H、I14L、I3H、I3Lは、図5(A)に示したRF信号の波形中
に示してあり、これらは前記信号A1、A2、A3を用いて下記の式で表される。
I14L=A3−(A1−A2) (5)
I3H=A3 (6)
I3L=A3−(A1−A2) (7)
この検出をする場合、テスト記録信号の記録波形パターンを例えば8/16変調とした
とき、3T及び14Tの単一パターンを一組として交互に出力しながら記録をPCA領域
(図15のPCA領域311に相当)内の所定のアドレスからの領域に行う。そして、上
記同じアドレスからの領域にDC消去パワーを行うとき上記一組毎に段階的にパワーを変
えながら記録を行う。なお、上記の記録は2層光ディスクに対しては、1層目記録層に対
する記録である。
14Tの書き込み領域に対応したタイミングでそれぞれのRF信号のレベルを再生して信
号A1、信号A2及び信号A3を検出することにより、上記の計算を実現することができ
る。なお、判定手段13で一致を検出したときのDC消去パワーと演算する係数Sは係数
Saとする。
に示すようなDC消去パワーを段階的に1ステップずつ可変しながら記録し、同じ領域を
再生して記録状態検出手段4より得られる変調度mの検出信号を、各ステップ毎にDC消
去パワーに対応した変調度mを図1の装置メモリ14に記憶していく。そして、図3に示
すように、装置メモリ14よりのデータを基に“変調度mの1ステップ先との変化量(d
m)”113と、“消去パワーの1ステップ先との変化量(dPe)”114と、“現在
のステップでの変調度mの値(m)”115と、“現在のステップでのDC消去パワーの
値(Pe)”116とを得る。
テップ後の変化量(dm)”と、参照内容114を“消去パワーの1ステップ先と1ステ
ップ後の変化量(dPe)”としてもよい。
り次式で算出される。
γ(Pe)=(dm/dPe)/(m/Pe) (8)
演算手段109により算出された消去パワーのパラメータγは、判定回路112に供給さ
れてγ値の最小ピーク点が判定される。
〜116を下記のように読み替えることで同様に計算される。
113:“変調度mの1ステップ先と1ステップ後の変化量(dm)”
114:“記録パワーの1ステップ先と1ステップ後の変化量(dPw)”
115:“現在のステップでの変調度mの値(m)”
116:“現在のステップでの記録パワーの値(Pw)”
これらの値から記録パワーのパラメータγ(Pw)が次式で算出される。
記録パワー(書込パワー)Pwに対する変調度と、上記のパラメータγ(Pw)との一
般的な特性図を図6(A)に示す。最適な記録パワーPoを求めるためには、図6(A)
中のγターゲット(γtarget)を定め、検出したγ特性がこのγターゲットと一致したと
ころの記録パワー(Ptarget)を求め、この値を基準値として係数ρを乗算して計算で求
める。なお、係数ρは、前記図17の特性図に鑑み、DOW1のジッタが最小となる記録
パワーと消去パワーに合わせる。記録再生装置の設計では一番不利となる記録条件(DO
W1)で最良の記録(再生ジッタ最小)ができるようにするためである。
2層光ディスクの記録パワーとパラメータγ(Pw)とを測定した結果を図6(B)に示
す。特性としては2層光ディスクの1層目記録層への記録を1回目(イニシャル)、2回
目(DOW1)、11回目(DOW10)と繰り返し行っても、DVD−RWの2層光デ
ィスクの問題点として挙げた繰り返し記録回数による記録特性の変化については、比較的
少なく、図6(A)と共に説明した方法(γ法)で十分検出できることが分かる。
を再生してパラメータγ(Pe)を測定した特性図を示す。この特性は、図6(C)に示
すように、記録を1回目(イニシャル)、2回目(DOW1)、11回目(DOW10)
と繰り返し行っても、消去パワーによりγ(Pe)があまり変化せず、最適な消去パワー
の検出には使えないことが分かる。
ル)、2回目(DOW1)、11回目(DOW10)でそれぞれ記録した領域から測定し
たDC消去パワーとパラメータγ(Pe)との測定結果を示す。この特性は変調度の特性
を微分したグラフ(変調度の正規化された傾き特性)である。図6(D)から特に急激に
DC消去されて変調度が減衰したところが大きくピーク(ディップ)を持っていることが
分かる。このピークの頂点部分の位置は繰り返し記録回数による記録状態の変化に影響な
くほぼ同じポイントで生じていることが分かる。本発明のOPCはDC消去したテスト記
録信号の残留振幅が完全に消えてしまわない領域の特性で検出を行っている。
予め定めた最適な消去パワーを求めるための係数Sgで乗算することにより、最適な消去
パワーを求めることができる。実験によれば最適な消去パワーとの誤差は3%以内であっ
た。
え回数の2回目のジッタが最良になる消去パワーを求める値に予め決めている。これは、
図17に示したように、2回目の記録時の再生ジッタが比較的悪いことに鑑みて決められ
たものであり、これにより短時間で最適な消去パワーを設定することができる。なお、上
記の各係数の値は光ディスクの記録層の特性により変わる値である。
1.6付近までにすること(より余裕を見る場合は1.7付近までにすること)で最適な消
去パワーが得られることが分かった。測定は3種類のサンプルディスクをRW2層A、R
W2層B、RW2層Cとして、それぞれの光ディスクを4台の異なる記録装置(装置A、
装置B、装置C、装置D)でテスト記録をし、11回繰り返してテスト記録した後DC消
去を行い(DOW10)、記録信号の残留振幅よりγ値を求め、ピーク点からDC消去パ
ワーの基準値を求めている。そして、このDC消去パワーの基準値と実際に最適な記録が
行える条件での消去パワー値とから下記のような計算式で係数Sgを求めている。
係数Sgの実測値は図20のグラフより、最小1.0〜最大1.22であった。RW2層
の各ディスクの係数Sgのバラツキは±10%以内に入っている。ディスクの製造バラツ
キや将来発売されるRW2層のディスク特性を考慮して係数Sgの最大1.22に対して
20%〜30%のマージンを見込むと、係数Sgは1.5〜1.6付近まであれば足りるこ
とが分かる。更に余裕を見て40%までマージンを見込むと、係数Sgは1.7付近まで
あれば足りることが分かる。また、係数Sgの最小値については、検出したDC消去パワ
ーより実際の最適な記録条件での消去パワーが低いと消去残りが発生するなどの問題が生
じることから1.0より小さい値は現実的ではない。そこで、係数Sgの設定範囲の最小
値は1.0とした。
ートを参照して説明する。OPC処理のテスト記録モードが指示されると、図1の制御回
路11は最適な記録パワーを求めるためのテスト記録の処理に入るが、その前にPCA領
域を初期化する処理(サブルーチンA)を実行してもよい。その後、光ディスク1から又
は装置メモリ14から推奨の記録パワー値を読み出し固定値とし、消去パワーは同じく光
ディスク1から又は装置メモリ14から読み出したε(記録パワーに対する消去パワーの
比率)の値を基に、記録パワーと乗算して求め、バイアスパワーは装置メモリ14から読
み出した値を固定値として、図1の記録手段6に設定する(ステップ201)。
信号)に設定し、記録ストラテジ及び書き込みパワー(記録パワーPw、消去パワーPe
、バイアスパワーPb)を一定条件にして、2層光ディスク1の1層目記録層のOPC領
域(図15の311に相当)にテスト記録する(ステップ202)。続いて、テスト記録
したOPC領域と同じ領域をDC消去パワーで段階的(例えば10ステップ)に可変しな
がら記録する(DC消去する)。このときのDC消去パワーの値は、装置メモリ14に各
ステップ毎に記録する(ステップ203)。
再生する(ステップ204)。再生して得られたRF信号のうち、OPC領域をDC消去
パワーのステップ毎にレベルを変えて記録したエリア毎のRF信号から、変調度mを算出
し、さらにγ値を算出する。またはアシンメトリ用β値を算出する。求めた値は装置メモ
リ14に格納する(ステップ205)。
リ用β値、変調度m、γ値が所定の値と一致したかを判定する(ステップ206)。判定
の結果、一致したステップでのDC消去パワー値を求め、このDC消去パワー値を基準値
として、係数Sbまたは係数Smod又は係数Sgを掛けて最適な消去パワーを算出する
(ステップ207)。
は装置メモリ14から読み出したεの値によって算出して固定値とし、バイアスパワーは
装置メモリ14から読み出した値を固定値として記録手段6に設定する(ステップ208
)。最後に、最適な書き込みパワー(記録パワーPw、消去パワーPe、バイアスパワー
Pb)のすべてが決まりOPC動作を終了する(ステップ209)。
的広いことと、2層光ディスクの1層目記録層の消去パワーの設定許容度が図18(B)
および図19から極めて狭いことから、まず最適な消去パワーの検出を精密に行い、求め
られた消去パワーからεを用いて記録パワーを求めるようにしたため、光ディスクにOP
C処理のためにテスト記録する回数を減らし、実質的にはドライブ装置の起動時間の短縮
を行うことができる特徴がある。
上記の第1の実施の形態においては、テスト記録信号として、記録波形パターンの記録
マークの短いマークと長いマークが混在したテスト記録信号又は記録波形パターンのラン
ダムパターン信号を用いて光ディスクにテスト記録を行ったが、そのテスト記録領域をD
C消去パワーを段階的に上げて消去すると、短いマークから最初に消去され、RF信号の
振幅が減衰していくことから、消え残りの度合いは長いマークの方が高いことが分かる。
このことはピークレベル検出とボトムレベル検出で検出している記録マークの振幅は長い
マークの消え残り度合いを主に検出しているのではないかと思われる。
長の長いマークのみ(8/16変調信号の場合には14T信号)を用いてテスト記録を行
うものである。なお、光ディスク記録再生装置の基本的な構成、及びその記録処理の手順
は、図1〜図3、図7に示した構成と同じであるので省略し、第2の実施の形態特有の構
成について説明する。
DC消去パワーを段階的に可変して記録(消去)した後、そのDC消去個所を再生して得
られた消去パワーのパラメータγ(Pe)値との関係を示す本実施の形態の特性図である
。図8では、14T信号を1回記録した個所をDC消去パワーで段階的に可変しながらD
C消去した場合(イニシャル)、14T信号を計2回繰り返して記録した個所をDC消去
パワーで段階的に可変しながらDC消去した場合(DOW1)、14T信号を計11回繰
り返して記録した個所をDC消去パワーで段階的に可変しながらDC消去した場合(DO
W10)のそれぞれについて、パラメータγ(Pe)と変調度の正規化された傾き特性を
示すパラメータであるγ値とを測定した実験結果を示す。
が急激に行われるポイントがある。本実施の形態はこのポイントが繰り返し記録特性に殆
ど影響がなく検出できることを利用し、このポイントの消去パワーを基準にして所定の係
数を乗算することにより最適な消去パワーを導き出している。この場合の最適な消去パワ
ーとの誤差は2%以内であった。
最長マーク信号を含む長いマーク(例えば、8/16変調信号の場合には8Tから14T
の任意のマーク信号)又は単一の長いマーク(例えば、8/16変調信号の場合には8T
から14Tの任意のマーク信号)を用いて光ディスクにテスト記録を行うと良好な結果が
得られることが分かる。
上記の第1の実施の形態及び第2の実施の形態においては、最適な書き込みパワーを求
めるために判定手段13で所定値と一致したところのDC消去パワーを基準値として、装
置メモリ14内の所定の係数Sb又は係数Smod又は係数Sgと乗算して最適な消去パ
ワーを求めるように構成している。しかし、この場合、新しく参入した光ディスクメーカ
ーの光ディスクや装置メモリ14にデータが無い光ディスクのOPC処理をする必要が生
じた場合に、OPC処理ができないという不具合が生じてしまう。
び係数Smod及び係数Sgの値を光ディスク内のプリピットエリアもしくはトラック溝
情報に予め記録させておくようにしたもので、光ディスクの構成に特徴がある。この場合
、記録状態検出手段4で用いた変調度法またはアシンメトリ用β法またはγ法の検出手段
の種類に対応させるための区別もできる管理が必要となり、光ディスク情報の参照時に予
め定義しておく必要がある。
データゾーンの所定のアドレスに予め消去されない形態で記録される。LPPとしての記
録位置はPCA領域やRMA領域が考えられるが、これに限らず光ディスク上のどこでも
差し支えない。このコードは図9(B)のDC消去パワー係数表に示すように、DC消去
パワー係数コードによってDC消去パワー係数S(係数Sbおよび係数Smodおよび係
数SgおよびSaに相当する値)が定められる。DC消去パワー係数表は装置メモリ14
にプログラムとして格納される。
応しており、DC消去パワー係数が格納されているアドレス部分を示す。アドレスのバイ
ト位置はN〜N+3で表され、アドレスNの内容は変調度法用の係数Smodのコード、
アドレスN+1の内容はβ法用の係数Sbのコード、アドレスN+2はγ法用の係数Sg
のコード、アドレスN+3はアシンメトリ法の係数Saのコードを意味している。例えば
、バイト位置Nに06hが格納されているが、これは変調度法用の係数Smodで、その
値が図9(B)から「1.30」であることを示す。
うな演算式を予め定めておき、前記係数のアドレス内のコードをその演算式に代入して係
数Sgを算出してもよい。
(ただし、係数Sgのコードは16進数で01hから3Fhまでとする。)
具体的には、係数Sgのコードの設定範囲を上記演算式に代入すると、係数Sgは1.
0〜1.62の値として求めることができる。
のOPC処理を光ディスクからの情報で実行できるようになり、未知の光ディスクなどに
対しても最適な書き込みパワーの設定が行えるようになる。なお、本実施の形態も光ディ
スク記録再生装置の基本的な構成、及びその記録処理の手順は、図1〜図3、図7に示し
た第1の実施の形態の構成と同じである。
本実施の形態は、最適な消去パワーを検出するためにより精度の高い検出を行うための
手段を備えた例である。この手段はPCA領域を予めDC消去パワーで初期化させてから
最適な消去パワーを検出する処理を行うものである。既にγ値に基づいて最適な記録がで
きることを上記の実施の形態で説明したが、特にその他の変調度やβ値のパラメータで検
出性能を向上することができる。なお、光ディスク記録再生装置の基本的な構成、及びそ
の記録処理の手順は、図1〜図3、図7に示した構成と同じであるので省略し、第4の実
施の形態特有の構成について説明する。
記録する1層目記録層のPCA領域を予めDC消去パワーのパワーを可変して初期化処理
した後に、アシンメトリ用β値の繰返し記録特性を測定した場合を示す。図10において
、初期化処理するときのDC消去パワー(初期化パワー)が0mW時は初期化を行わずに
アシンメトリ用β値を測定した場合に相当する。このような場合、繰り返し記録の特性(
初回記録、繰返し記録1回目、繰返し記録10回目)は一致せず大きくずれていることが
わかる。このように繰り返し記録で変化が大きいとこのままではアシンメトリ用β値を指
標に最適な記録パワーを検出することは難しくなる。
してくることが分かる。よって、この光ディスクの場合、最適な消去パワー(Pe)が5
.85mWであったことから、初期化処理のDC消去パワーとしては、最適な消去パワー
(Pe)よりもやや高い9mWから14.5mW程度(図10のW)あれば、繰返し記録
の依存性の少ない状態を得られることが分かる。目安として最適な消去パワーの1.5倍
から2.5倍のパワーがあればよい(以下この処理を高パワー初期化処理という)。そし
て、OPCを行う1層目記録層のPCA領域を最適な消去パワーの約2倍の13mWで1
回だけ高パワー初期化処理した後に、変調度、γ値、アシンメトリ用β値について特性の
確認を行った結果を示す。
初期化なしで図11(B)は初期化ありの特性を示している。図12(A)と図12(B
)はDC消去パワーと変調度の特性図を示し、図12(A)は初期化なしで図12(B)
は初期化ありの特性を示している。図13(A)と図13(B)はDC消去パワーとγ値
の特性図を示し、図13(A)は初期化なしで図13(B)は初期化ありの特性をそれぞ
れ示している。
ト記録信号を記録した個所をDC消去パワーを可変してDC消去した場合(イニシャル)
、テスト記録信号を計2回繰り返して記録した個所をDC消去パワーを可変してDC消去
した場合(DOW1)、テスト記録信号を計11回繰り返して記録した個所をDC消去パ
ワーを可変してDC消去した場合(DOW10)のそれぞれについて、β値又は変調度又
はγ値を測定した実験結果を示している。
よるバラツキが少なくなり、初期化しない場合に比べて検出性能が向上していることが分
かる。また、初期化した方の図13(B)は検出性能が良好でバラツキが元々少ないので
、大きな性能向上は見られないが、ピークの振幅が一致していることから安定した検出特
性になっているものと思われる。このように、高パワー初期化処理をOPCの前に1回行
っておけば、光ディスクの記録層の特性が均一化される。なお、図11(B)、図12(
B)、図13(B)の特性は、2層のDVD−RWディスクを用い、2倍速のディスク回
転速度で高パワー初期化処理した場合を示す。
。図14は、必要な場合には図7のステップ201の直前に適宜追加処理することができ
るサブルーチンに相当し、上記の高パワー初期化処理を行うかどうかを、記録管理エリア
の判別用フラグで管理するようにした動作例を示したものである。
ィスクの記録管理エリア(例えば、図15のRMA領域312に相当)から読み出したフ
ラグ情報から光ディスクのPCA領域(図15のPCA領域311に相当)に高パワー初
期化処理がされているかを確認する(ステップ501)。PCA領域の高パワー初期化処
理がされている場合(Y)は、PCA領域を使い果たしたかどうかが判断され(ステップ
506)、PCA領域を使い果たしている場合(Y)は、PCA領域すべてを推奨の消去
パワーの値(=ε・Pind)または最適な消去パワー(Pe)のDC消去パワーで初期
化を行い(ステップ507)、サブルーチンAを終了する(ステップ508)。
PCA領域が最初から使用される状態であるか、又はPCA領域が使い果たしかどうかを
判別し(ステップ502)、PCA領域が最初から使用される状態であるならば(Y)、
算出した推奨の消去パワーの値(=ε・Pind)または最適な消去パワー(Pe)の約
2倍のDC消去パワーでPCA領域の初期化を行う(ステップ503)。そして、高パワ
ー初期化処理済みとして記録管理エリア(RMA領域)にフラグを記録し(ステップ50
5)、サブルーチンAを終了する(ステップ508)。この場合、PCA領域すべてが高
パワー初期化処理される。
果たされていないと判定された場合(N)、つまり、PCA領域を高パワー初期化処理せ
ずに使用されている場合、使用するOPC領域のみを推奨の消去パワーの値(=ε・Pi
nd)又は最適な消去パワー(Pe)の約2倍のDC消去パワーでPCA領域の高パワー
初期化処理を行い(ステップ504)、サブルーチンAを終了する(ステップ508)。
この場合も、すべてPCA領域が使い果たされたときに、ステップ502を経由してステ
ップ503でPCA領域全体を高パワー初期化処理とすることができる。
図15に示した断面構造のような片面2層光ディスクに限定されるものではなく、3層以
上、レーザービームの光軸方向に積層された多層光ディスクの1層目記録層の記録再生に
適用することができる。また、本発明は、図1の構成、図7のフローチャート、あるいは
図14のフローチャートをコンピュータにより実行させるコンピュータプログラムも包含
するものである。この場合、コンピュータプログラムは、記録されている記録媒体からコ
ンピュータに取り込まれてもよいし、ネットワークを介して配信されてコンピュータに取
り込まれてもよい。更に、装置内にファームウェアとして元々組み込まれていてもよい。
2 光ピックアップ
3 信号処理回路
4 記録状態検出手段
5 DC消去手段
6 記録手段
10 内部バス
11 制御回路
12 演算手段
13 判定手段
14 装置メモリ
100 高域フィルタ(HPF)
101、103 ピークレベル検出回路
102 ボトムレベル検出回路
104、105、106 低域フィルタ(LPF)
107、108、109 演算手段
110、111 比較判定回路
112 γ値の最小ピーク点判定回路
Claims (4)
- 多層の記録層を持つ書き換え可能な光ディスクに対して、パワーを設定したレーザ光を用いて記録/再生を行う光ディスク記録再生装置において、
所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとを設定し、設定した前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により前記光ディスクの所定領域にテスト記録信号を記録する記録手段と、
前記記録手段により前記テスト記録信号を記録した前記光ディスクの領域を、設定した前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行うDC消去手段と、
前記DC消去手段により記録を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出する記録状態検出手段と、
前記記録状態検出手段で検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、前記光ディスクに対応した消去パワーの基準値として判定する判定手段と、
前記判定手段で判定した前記消去パワーの基準値に、前記光ディスクに対応して予め定められた係数を乗算して光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を求める演算手段とを備え、
光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を導き出すようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。 - 多層の記録層を持つ書き換え可能な光ディスクに対して、パワーを設定したレーザ光を用いて記録/再生を行う光ディスク記録再生法方法において、
所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとを設定し、設定した前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により前記光ディスクの所定領域にテスト記録信号を記録する第1のステップと、
前記第1のステップにより前記テスト記録信号を記録した前記光ディスクの領域を、設定した前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行う第2のステップと、
前記第2のステップにより記録を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出する第3のステップと、
前記第3のステップにより検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、前記光ディスクに対応した消去パワーの基準値として判定する第4のステップと、
前記第4のステップで判定した前記消去パワーの基準値に、前記光ディスクに対応して予め定められた係数を乗算して光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を求める第5のステップとを含み、
光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を導き出すようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生方法。 - 多層の記録層を持つ書き換え可能な光ディスクに対して、レーザ光による記録/再生を行う記録再生手段をコンピュータにより制御するための光ディスク記録再生プログラムであって、
所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとを設定し、設定した前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により前記光ディスクの所定領域にテスト記録信号を記録するように前記記録再生手段に指示する第1のステップと、
前記第1のステップにより前記テスト記録信号を記録した前記光ディスクの領域を、設定した前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行うように前記記録再生手段に指示する第2のステップと、
前記第2のステップにより記録を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出するように前記記録再生手段に指示する第3のステップと、
前記第3のステップにより検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、前記光ディスクに対応した消去パワーの基準値として判定する第4のステップと、
前記第4のステップで判定した前記消去パワーの基準値に、前記光ディスクに対応して予め定められた係数を乗算して光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を求める第5のステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とする光ディスク記録再生プログラム。 - 情報が記録又は再生される記録層が、記録又は再生用のレーザ光の光軸方向に複数積層された多層構造の書き換え可能な光ディスクであって、
前記複数の記録層の内の少なくとも1つの記録層は、前記レーザ光の最適な消去パワーを求めるためのテスト記録信号が記録され再生される第1の領域と、記録管理情報が記録される第2の領域と、ユーザデータが記録され再生される第3の領域とを有し、
前記第1の領域は、所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとが設定され、設定された前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により、前記テスト記録信号が記録される領域であり、
前記第1の領域に記録されDC消去された後に再生された前記テスト記録信号から得られる消去パワーの基準値に乗算して当該光ディスクへの記録時の最適な消去パワーを求めるための、当該光ディスクに対応して予め定められた係数の値が、前記第1乃至第3の領域の内の少なくとも1つの領域内のプリピットエリア又はトラック溝に消去されない形態で記録されており、
記録再生装置により前記最適な消去パワーを求める際には、前記テスト記録信号が記録された前記第1の領域を、設定された前記消去パワーに関連したパワーを中心値として、パワー値が変化するDC消去パワーのみの前記レーザ光により記録を行ってDC消去し、前記DC消去を行った領域を再生して、その再生信号のレベルである残留振幅の減衰特性における傾き変化点を検出し、検出した前記傾き変化点に相当するDC消去パワー値を、当該光ディスクに対応した前記消去パワーの基準値として判定し、判定した前記消去パワーの基準値に、当該光ディスクから読み出した前記予め定められた係数の値を乗算して前記最適な消去パワーの値を求められるようにしたことを特徴とする光ディスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006236027A JP4609770B2 (ja) | 2005-09-29 | 2006-08-31 | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、光ディスク記録再生プログラム、及び光ディスク |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005284119 | 2005-09-29 | ||
JP2006002747 | 2006-01-10 | ||
JP2006236027A JP4609770B2 (ja) | 2005-09-29 | 2006-08-31 | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、光ディスク記録再生プログラム、及び光ディスク |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006201536A Division JP4613891B2 (ja) | 2005-09-29 | 2006-07-25 | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法及び光ディスク記録再生プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007213758A JP2007213758A (ja) | 2007-08-23 |
JP4609770B2 true JP4609770B2 (ja) | 2011-01-12 |
Family
ID=38492031
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006236027A Active JP4609770B2 (ja) | 2005-09-29 | 2006-08-31 | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、光ディスク記録再生プログラム、及び光ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4609770B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010055743A (ja) * | 2005-10-31 | 2010-03-11 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007213802A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-08-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク |
JP4613891B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2011-01-19 | 日本ビクター株式会社 | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法及び光ディスク記録再生プログラム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003045031A (ja) * | 2001-05-21 | 2003-02-14 | Teac Corp | 光ディスク装置 |
JP2003162821A (ja) * | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Tdk Corp | 光記録媒体および光記録方法 |
JP2007213757A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-08-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法及び光記録媒体並びに光ディスク記録再生プログラム |
JP2007213802A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-08-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク |
-
2006
- 2006-08-31 JP JP2006236027A patent/JP4609770B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003045031A (ja) * | 2001-05-21 | 2003-02-14 | Teac Corp | 光ディスク装置 |
JP2003162821A (ja) * | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Tdk Corp | 光記録媒体および光記録方法 |
JP2007213757A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-08-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法及び光記録媒体並びに光ディスク記録再生プログラム |
JP2007213802A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-08-23 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010055743A (ja) * | 2005-10-31 | 2010-03-11 | Victor Co Of Japan Ltd | 光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007213758A (ja) | 2007-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI358724B (ja) | ||
JP4613891B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP4609770B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、光ディスク記録再生プログラム、及び光ディスク | |
JP4609774B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007172693A (ja) | 光ディスク、記録再生方法および記録再生装置 | |
JP2007323702A (ja) | 記録方法及び光ディスク装置 | |
JP4609772B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP4609771B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213767A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213802A (ja) | 光ディスク | |
JP5035329B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP4560798B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光記録媒体 | |
JP4492543B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法及び光記録媒体並びに光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213794A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213759A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213795A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213796A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213797A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213760A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213766A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213776A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213775A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213777A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007213761A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム | |
JP2007257836A (ja) | 光ディスク記録再生装置、光ディスク記録再生方法、及び光ディスク記録再生プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090724 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100319 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100517 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132 Effective date: 20100615 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100813 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100902 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100917 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100930 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4609770 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131022 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |