JP4585915B2 - X-ray inspection equipment - Google Patents

X-ray inspection equipment Download PDF

Info

Publication number
JP4585915B2
JP4585915B2 JP2005156615A JP2005156615A JP4585915B2 JP 4585915 B2 JP4585915 B2 JP 4585915B2 JP 2005156615 A JP2005156615 A JP 2005156615A JP 2005156615 A JP2005156615 A JP 2005156615A JP 4585915 B2 JP4585915 B2 JP 4585915B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
article
region
inspection apparatus
divided
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005156615A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2006329906A (en
Inventor
隆司 株本
修 廣瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ishida Co Ltd
Original Assignee
Ishida Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ishida Co Ltd filed Critical Ishida Co Ltd
Priority to JP2005156615A priority Critical patent/JP4585915B2/en
Publication of JP2006329906A publication Critical patent/JP2006329906A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4585915B2 publication Critical patent/JP4585915B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、搬送中の物品に対してX線を照射し、その透過したX線を検出して形成されるX線画像に基づいて異物混入の検査を行うX線検査装置に関する。   The present invention relates to an X-ray inspection apparatus that inspects foreign matter contamination based on an X-ray image formed by irradiating an article being conveyed with X-rays and detecting the transmitted X-rays.

従来より、食品などの商品の生産ラインにおいては、商品への異物混入や商品の割れ欠けがある場合にその不良商品が出荷されることを防止するために、X線検査装置を用いた商品不良検査が行われている。このX線検査装置では、搬送コンベアによって連続搬送されてくる物品に対してX線を照射し、そのX線の透過状態をX線受光部で検出して、物品中に異物が混入していないかを判別する。   Conventionally, in the production line of products such as food, in order to prevent the defective product from being shipped when foreign matter is mixed into the product or the product is cracked or broken, the product has failed using an X-ray inspection device. Inspection is being conducted. In this X-ray inspection apparatus, X-rays are irradiated to an article continuously conveyed by a conveyor, and the X-ray transmission state is detected by an X-ray light receiving unit so that no foreign matter is mixed in the article. Is determined.

このようなX線検査装置において、物品に混入した異物を正確に検出するためにマスク領域を設定して異物検出を行う場合がある。例えば、缶等の容器付きの物品について異物混入の検査を行う場合には、容器の縁部分に相当する部分はX線画像において異物像と同じように濃く表されるため、容器の縁近傍に存在する異物像を正確に検出することは難しい。   In such an X-ray inspection apparatus, there is a case where a foreign substance is detected by setting a mask region in order to accurately detect the foreign substance mixed in the article. For example, when inspecting foreign matter contamination for an article with a container such as a can, the portion corresponding to the edge portion of the container is expressed darkly in the X-ray image in the same manner as the foreign object image. It is difficult to accurately detect an existing foreign object image.

特許文献1には、搬送中の物品に対してX線を斜めに照射することで、物品の端部についてマスク領域を容易に設定することが可能なX線検査装置について開示されている。ここでは、このように物品に対して斜め方向からX線を照射することで、物品の端部にできる影部分の濃度について方向によって差が生じることを回避できるため、マスク領域の設定を容易化することができる。
特開2004−239753号公報(平成16年8月26日公開)
Patent Document 1 discloses an X-ray inspection apparatus capable of easily setting a mask region for an end portion of an article by irradiating the article being conveyed obliquely with X-rays. Here, by irradiating the article with X-rays from an oblique direction, it is possible to avoid a difference in the density of the shadow portion formed at the end of the article depending on the direction, so that the mask area can be easily set. can do.
JP 2004-239753 A (published August 26, 2004)

しかしながら、上記従来のX線検査装置では、以下に示すような問題点を有している。
すなわち、上記公報に開示されたX線検査装置では、検査対象である物品に対してX線を斜めに照射することで、物品の端部に形成される影部分の濃度が均一になるようにしているが、ここでは単にマスク領域の設定のために影部分に濃度差が生じないようにしているだけであるため、物品の端部に存在する異物の検出を正確に行うことができるとは言い難い。
However, the conventional X-ray inspection apparatus has the following problems.
That is, in the X-ray inspection apparatus disclosed in the above publication, X-rays are obliquely applied to the object to be inspected so that the density of the shadow portion formed at the end of the article becomes uniform. However, in this case, since only the density difference is not generated in the shadow portion for setting the mask area, it is possible to accurately detect the foreign matter present at the end of the article. It's hard to say.

特に、検査対象が容器付きの物品である場合には、容器の縁部分に相当するX線画像の部分は濃度が濃くなるため、容器の縁に当接するように存在する異物を同じ検出レベルで正確に検出することは困難になるおそれがある。
本発明の課題は、物品の端部に存在する異物の検出を高精度に行うことが可能なX線検査装置を提供することにある。
In particular, when the object to be inspected is an article with a container, the X-ray image portion corresponding to the edge portion of the container has a high density, and therefore foreign matter existing so as to contact the edge of the container is detected at the same detection level. It may be difficult to detect accurately.
The subject of this invention is providing the X-ray inspection apparatus which can detect the foreign material which exists in the edge part of articles | goods with high precision.

第1の発明に係るX線検査装置は、搬送中の物品に対してX線を照射し、透過したX線の検出信号に基づいて形成されるX線画像を画像処理して物品に異物が含まれているか否かの検査を行うX線検査装置であって、搬送部と、X線源と、X線検出部と、画像処理部とを備え、画像処理部は、X線画像における、物品の搬送方向における前後の縁領域と、物品の搬送方向に交差する左右の縁領域と、物品の縁領域を除く内部領域とに分割する。
搬送部は、物品を所定の方向に搬送する。X線源は、搬送部によって搬送される物品に対して斜めにX線を照射する。X線検出部は、物品の搬送方向に略直交する方向に沿って配置されており、X線源から照射されたX線を検出する。画像処理部は、X線検出部におけるX線の検出量に基づいてX線画像を作成し、X線画像を複数の領域に分割して分割した領域ごとに検出レベルを設定して異物混入の検査を行う。
The X-ray inspection apparatus according to the first aspect of the invention irradiates an article being conveyed with X-rays, performs image processing on an X-ray image formed based on a detection signal of the transmitted X-rays, and foreign matters are present on the article. An X-ray inspection apparatus that inspects whether or not the image is included, and includes a transport unit, an X-ray source, an X-ray detection unit, and an image processing unit . It is divided into front and rear edge regions in the article conveyance direction, left and right edge regions intersecting the article conveyance direction, and an inner region excluding the article edge region.
The conveyance unit conveys the article in a predetermined direction. The X-ray source irradiates X-rays obliquely with respect to the article conveyed by the conveyance unit. The X-ray detection unit is arranged along a direction substantially orthogonal to the conveyance direction of the article, and detects X-rays irradiated from the X-ray source. The image processing unit creates an X-ray image based on the detected amount of X-rays in the X-ray detection unit, divides the X-ray image into a plurality of regions, sets a detection level for each divided region, and mixes foreign matter. Perform an inspection.

ここでは、搬送される物品に対して斜めにX線を照射するとともに、このX線の透過光を検出して形成されるX線画像に含まれる背景部分を除く領域について、複数の領域に分割し、各分割領域について分割領域ごとに適正な検出レベルを設定して異物検査を行う。
通常、X線源からX線検出部に対して略鉛直方向に、例えば略扇形のX線が照射されている場合には、物品の搬送方向における前後の端部と左右の端部とで、X線画像の影部分に濃度差が生じてしまう。この場合、従来のX線検査装置では、濃度の濃くなった部分について他の部分と同じ検出レベルで異物検出を行ったのでは、物品の端部に存在する異物を正確に検出することができないおそれがある。
In this case, X-rays are obliquely applied to an article to be conveyed, and an area excluding a background portion included in an X-ray image formed by detecting transmitted light of the X-ray is divided into a plurality of areas. Then, the foreign object inspection is performed by setting an appropriate detection level for each divided region.
Normally, when X-rays are irradiated from the X-ray source in a substantially vertical direction, for example, in a substantially fan-shaped X-ray, at the front and rear ends and the left and right ends in the conveyance direction of the article, A density difference occurs in the shadow portion of the X-ray image. In this case, in the conventional X-ray inspection apparatus, the foreign matter present at the end portion of the article cannot be accurately detected if the foreign matter is detected at the same detection level as the other portions in the portion where the density is high. There is a fear.

そこで、本発明のX線検査装置では、第1に、検査対象となる物品に対して斜めにX線を照射する。これにより、物品の端部に相当する搬送方向における前後左右の両端部分のX線画像の影部分の濃度を均一化して検査を行うことができる。
そして、第2に、物品を透過したX線を検出して形成されるX線画像を、物品の搬送方向における前後左右の端部の影部分とそれ以外の部分とに分割し、各分割領域において適正な検出レベルを設定して異物混入の検査を行う。
Therefore, in the X-ray inspection apparatus of the present invention, first, X-rays are irradiated obliquely to an article to be inspected. Thereby, it is possible to perform the inspection by making uniform the density of the shadow portion of the X-ray image of the front, rear, left and right end portions in the conveyance direction corresponding to the end portion of the article.
Secondly, an X-ray image formed by detecting X-rays transmitted through the article is divided into shadow parts at the front, rear, left and right ends in the article conveyance direction and other parts, and each divided region is divided. In this case, an appropriate detection level is set to inspect for contamination.

これにより、物品の搬送方向における前後左右の端部に形成される影部分の領域とそれ以外の物品の内部に相当する領域とでX線画像の濃度が異なる場合でも、それぞれの領域に応じた検出レベルで異物の検出を行うことができるため、物品の端部付近に存在する異物について高精度な検出が可能になる。
さらに、画像処理部は、X線画像における、物品の搬送方向に対する前後の縁領域と、物品の搬送方向に交差する左右の縁領域と、物品の前記縁領域を除く内部領域とに分割する。
Thereby, even when the density of the X-ray image is different between the area of the shadow portion formed at the front, rear, left, and right end parts in the conveyance direction of the article and the area corresponding to the inside of the other article, it corresponds to each area. Since the foreign matter can be detected at the detection level, the foreign matter existing near the end of the article can be detected with high accuracy.
Further, the image processing unit divides the X-ray image into front and rear edge regions with respect to the article conveyance direction, left and right edge regions intersecting the article conveyance direction, and an inner area excluding the edge region of the article .

ここでは、X線画像に含まれる背景部分を除く領域について、物品の搬送方向に対する前後の縁領域と、物品の搬送方向に交差する左右の縁領域と、物品の前記縁領域を除く内部領域とに分割する
従来のX線検査装置では、X線画像に含まれる搬送方向に対する前後左右の両端に形成される影の部分の濃度が異なり、その部分に含まれる異物の検出を行うことが困難であった。
Here, with respect to the region excluding the background portion included in the X-ray image, the front and rear edge regions with respect to the article conveyance direction, the left and right edge regions intersecting the article conveyance direction, and the inner region excluding the edge region of the article Divide into
In the conventional X-ray inspection apparatus, the density of shadow portions formed at the front, rear, left and right ends with respect to the transport direction included in the X-ray image is different, and it is difficult to detect foreign matter included in the portions.

そこで、本発明のX線検査装置では、物品に対してX線を斜め方向から照射することで、X線画像に現れる物品の前後左右の両端の画像の濃度に差が生じないようにすることができる。そして、画像処理部が、これらの領域に分割することができる。
この結果、X線画像に含まれる背景部分を除く領域について、搬送方向における前後左右の領域とそれ以外の領域とについて、それぞれ検出レベルを設定して異物混入の検査を行うことができるため、物品の端部においても高精度な異物検査を行うことができる。
Therefore, in the X-ray inspection apparatus of the present invention, by irradiating the article with X-rays from an oblique direction, the density of the images at the front, rear, left and right ends of the article appearing in the X-ray image is prevented from being different. Can do. The image processing unit can be divided into these areas.
As a result, with respect to the region excluding the background portion included in the X-ray image, the detection level can be set for each of the front, rear, left, and right regions in the transport direction and the other regions, so that the inspection for contamination can be performed. High-precision foreign substance inspection can be performed also at the end of each of the above.

の発明に係るX線検査装置は、第1の発明に係るX線検査装置であって、画像処理部は、分割した領域のうち、物品の搬送方向に対する前側の縁領域と後側の縁領域とについて、それぞれ検出レベルを設定して異物混入の検査を行う。
ここでは、X線画像に含まれる搬送方向における前後に形成される影部分の領域について、この前側の影部分の領域と後側の影部分の領域とで、それぞれ適正な検出レベルを設定して異物混入の検査を行う。
An X-ray inspection apparatus according to a second invention is the X-ray inspection apparatus according to the first invention, wherein the image processing unit includes a front edge region and a rear side of the divided regions in the article conveyance direction. A detection level is set for each of the edge regions, and foreign matter contamination is inspected.
Here, with respect to the shadow area formed before and after in the transport direction included in the X-ray image, an appropriate detection level is set for each of the front shadow area and the rear shadow area. Inspect for contamination.

これにより、物品の搬送方向における前後方向において若干異なる濃度の影部分が形成されている場合でも、それぞれの濃度に応じた適正な検出レベルを設定して異物混入の検査を実施することで、高精度な異物検査を実施することができる。
の発明に係るX線検査装置は、第1または2の発明のいずれか1つに係るX線検査装置であって、画像処理部は、分割した領域のうち、物品の搬送方向に対する前後の縁領域と左右の縁領域とについて異なった検出レベルを設定して異物混入の検査を行う。
As a result, even when shadow portions with slightly different concentrations are formed in the front-rear direction in the conveyance direction of the article, it is possible to set a proper detection level according to each concentration and perform a foreign matter inspection, thereby Accurate foreign matter inspection can be performed.
An X-ray inspection apparatus according to a third aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to any one of the first or second aspects of the present invention, wherein the image processing unit is arranged before and after the divided region in the conveyance direction of the article. Foreign matter inspection is performed by setting different detection levels for the edge region and the left and right edge regions .

ここでは、X線画像に含まれる搬送方向における前後左右に形成される影部分の領域について、この前後の影部分の領域と左右の影部分の領域とでそれぞれ検出レベルを設定して異物混入の検査を行う。
これにより、物品の搬送方向における前後方向と左右方向とで若干異なる濃度の影部分が形成されている場合でも、それぞれの濃度に応じた適正な検出レベルを設定して異物混入の検査を実施することで、高精度な異物検査を実施することができる。
Here, with respect to the shadow part areas formed on the front and rear and right and left in the transport direction included in the X-ray image, the detection levels are set in the front and rear shadow part areas and the left and right shadow part areas, respectively, and foreign matter contamination is detected. Perform an inspection.
As a result, even when shadow portions having slightly different densities are formed in the front-rear direction and the left-right direction in the article conveyance direction, an appropriate detection level corresponding to each density is set and inspection for contamination is performed. This makes it possible to carry out highly accurate foreign matter inspection.

の発明に係るX線検査装置は、第1から第の発明のいずれか1つに係るX線検査装置であって、物品は、容器付きである。
ここでは、例えば、缶詰等の容器付きの物品を搬送しながらX線を斜め方向から照射して異物混入の検査を行う。
これにより、容器付きの物品のように、物品の縁部分に相当する容器に当接するように存在する異物の検出を、縁部分に相当する領域については異なる検出レベルで行うため、高精度に異物検出を実施することができる。
An X-ray inspection apparatus according to a fourth invention is the X-ray inspection apparatus according to any one of the first to third inventions, wherein the article is provided with a container.
Here, for example, X-rays are irradiated from an oblique direction while conveying an article with a container such as a can, and inspection for contamination is performed.
As a result, foreign objects existing so as to come into contact with the container corresponding to the edge portion of the article, such as an article with a container, are detected at different detection levels in the area corresponding to the edge portion, so that the foreign object can be accurately detected. Detection can be performed.

の発明に係るX線検査装置は、第1から第の発明のいずれか1つに係るX線検査装置であって、物品は、前記搬送方向の幅方向の長さより高さ方向長さが大きい。
ここでは、背の高い物品を搬送しながらX線を斜め方向から照射して異物混入の検査を行う。
An X-ray inspection apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to any one of the first to fourth aspects of the present invention, wherein the article is higher in the height direction than the width in the transport direction . The length is large.
Here, X-rays are irradiated from an oblique direction while carrying a tall article to inspect for contamination.

これにより、背の高い物品のように、物品の縁部分に影となって現れる領域が大きい場合でも、そこに含まれる異物の検出を、その領域ごとに適正な検出レベルを設定して行うため、高精度に異物検査を実施することができる。   As a result, even when the area that appears as a shadow on the edge of the article is large, such as a tall article, the detection of the foreign matter contained therein is performed by setting an appropriate detection level for each area. The foreign substance inspection can be performed with high accuracy.

本発明のX線検査装置によれば、物品の搬送方向における前後左右の端部に形成される影部分の領域とそれ以外の物品の内部に相当する領域とでX線画像の濃度が異なる場合でも、物品の端部付近に存在する異物について高精度な検出が可能になる。   According to the X-ray inspection apparatus of the present invention, when the density of the X-ray image differs between the area of the shadow portion formed at the front, rear, left and right ends in the article conveyance direction and the area corresponding to the inside of the other article However, it is possible to detect the foreign matter existing near the end of the article with high accuracy.

本発明の一実施形態に係るX線検査装置について、図1〜図8を用いて説明すれば以下の通りである。
[X線検査装置10全体の構成]
本実施形態のX線検査装置10は、図1に示すように、食品等の商品の生産ラインにおいて品質検査を行う装置の1つである。X線検査装置10は、連続的に搬送されてくる商品に対してX線を照射し、商品を透過したX線量を検出して作成されるX線画像に基づいて商品に異物が混入しているか否かの検査を行う。
An X-ray inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
[Configuration of X-ray inspection apparatus 10 as a whole]
As shown in FIG. 1, the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment is one of apparatuses that perform quality inspection in a production line for products such as food. The X-ray inspection apparatus 10 irradiates X-rays on products that are continuously conveyed, detects X-rays transmitted through the products, and foreign matters are mixed into the products based on X-ray images that are created. Check if there is any.

X線検査装置10の被検査物である商品(容器入りの物品)Gは、図2に示すように、前段コンベア60によりX線検査装置10に運ばれてくる。商品Gは、X線検査装置10において異物混入の有無が判断される。このX線検査装置10での判断結果は、X線検査装置10の下流側に配置される振分機構70に送信される。振分機構70は、商品GがX線検査装置10において異物混入の無い良品と判断された場合には商品Gをそのまま正規のラインコンベア80へと送る。一方、商品GがX線検査装置10において異物混入のある不良品と判断された場合には、下流側の端部を回転軸とするアーム70aが搬送路を遮るように回動する。これにより、不良品と判断された商品Gを、搬送路から外れた位置に配置された不良品回収箱90によって回収することができる。   As shown in FIG. 2, a product (article in a container) G, which is an inspection object of the X-ray inspection apparatus 10, is carried to the X-ray inspection apparatus 10 by the front conveyor 60. The product G is determined by the X-ray inspection apparatus 10 for the presence or absence of contamination. The determination result in the X-ray inspection apparatus 10 is transmitted to a distribution mechanism 70 disposed on the downstream side of the X-ray inspection apparatus 10. The distribution mechanism 70 sends the product G to the regular line conveyor 80 as it is when the product G is determined to be a non-defective product in the X-ray inspection apparatus 10. On the other hand, when the product G is determined to be a defective product containing foreign matter in the X-ray inspection apparatus 10, the arm 70a having the downstream end as a rotation shaft rotates so as to block the conveyance path. As a result, the product G determined to be defective can be collected by the defective product collection box 90 arranged at a position off the conveyance path.

X線検査装置10は、図1に示すように、主として、シールドボックス11と、コンベア12と、遮蔽ノレン16と、タッチパネル機能付きのモニタ26と、を備えている。そして、その内部には、図3に示すように、X線照射器(X線源)13と、X線ラインセンサ(X線検出部)14と、制御コンピュータ(画像処理部)20(図5参照)とを備えている。   As shown in FIG. 1, the X-ray inspection apparatus 10 mainly includes a shield box 11, a conveyor 12, a shield noren 16, and a monitor 26 with a touch panel function. As shown in FIG. 3, an X-ray irradiator (X-ray source) 13, an X-ray line sensor (X-ray detection unit) 14, and a control computer (image processing unit) 20 (FIG. 5) are included therein. Reference).

なお、本実施形態で検査対象として用いられる商品Gは、容器の中に食物等が入れられた状態で密封された缶詰であって、幅方向の長さよりも高さ方向の長さが大きい比較的背の高い物品であるものとする。
[シールドボックス11]
シールドボックス11は、商品Gの入口側と出口側の双方の面に、商品を搬出入するための開口11aを有している。このシールドボックス11の中に、コンベア12、X線照射器13、X線ラインセンサ14、制御コンピュータ20などが収容されている。
The product G used as an inspection object in the present embodiment is a can that is sealed in a state where food or the like is placed in a container, and the length in the height direction is larger than the length in the width direction. Assume that the product is tall.
[Shield box 11]
The shield box 11 has an opening 11a for carrying in and out the product on both the entrance side and the exit side of the product G. In this shield box 11, a conveyor 12, an X-ray irradiator 13, an X-ray line sensor 14, a control computer 20 and the like are accommodated.

また、開口11aは、図1に示すように、シールドボックス11の外部へのX線の漏洩を防止するために、遮蔽ノレン16によって塞がれている。この遮蔽ノレン16は、鉛を含むゴム製のノレン部分を有しており、商品が搬出入される際に商品によって押しのけられる。
また、シールドボックス11の正面上部には、モニタ26の他、キーの差し込み口や電源スイッチ等が配置されている。
Further, as shown in FIG. 1, the opening 11 a is closed by a shield noren 16 in order to prevent leakage of X-rays to the outside of the shield box 11. This shielding nolen 16 has a rubber nolene portion containing lead and is pushed away by the product when the product is carried in and out.
In addition to the monitor 26, a key insertion slot, a power switch, and the like are disposed on the upper front portion of the shield box 11.

[コンベア12]
コンベア12は、シールドボックス11内において商品を搬送するものであって、図5の制御ブロックに含まれるコンベアモータ12fによって駆動される。コンベア12による搬送速度は、作業者が入力した設定速度になるように、制御コンピュータ20によるコンベアモータ12fのインバータ制御によって細かく制御される。
[Conveyor 12]
The conveyor 12 conveys commodities in the shield box 11, and is driven by a conveyor motor 12f included in the control block of FIG. The conveyance speed by the conveyor 12 is finely controlled by the inverter control of the conveyor motor 12f by the control computer 20 so as to be the set speed input by the operator.

また、コンベア12は、図3に示すように、コンベアベルト12a、コンベアフレーム12bを有しており、シールドボックス11に対して取り外し可能な状態で取り付けられている。これにより、食品等の検査を行う場合においてシールドボックス11内を清潔に保つために、コンベアを取り外して頻繁に洗浄することができる。
コンベアベルト12aは、無端状ベルトであって、ベルトの内側からコンベアフレーム12bによって支持されている。そして、コンベアモータ12fの駆動力を受けて回転することで、ベルト上に載置された物体を所定の方向に搬送する。
As shown in FIG. 3, the conveyor 12 includes a conveyor belt 12 a and a conveyor frame 12 b and is attached to the shield box 11 in a removable state. Thereby, in order to keep the inside of the shield box 11 clean when inspecting food or the like, the conveyor can be removed and frequently washed.
The conveyor belt 12a is an endless belt, and is supported by the conveyor frame 12b from the inside of the belt. And the object mounted on the belt is conveyed in a predetermined direction by receiving the driving force of the conveyor motor 12f and rotating.

コンベアフレーム12bは、無端状のベルトの内側からコンベアベルト12aを支持するとともに、図3に示すように、コンベアベルト12aの内側の面に対向する位置に、搬送方向に対して直角な方向に長く開口した開口部12cを有している。開口部12cは、コンベアフレーム12bにおける、X線照射器13とX線ラインセンサ14とを結ぶ線上に形成されている。換言すれば、開口部12cは、コンベアフレーム12bにおけるX線照射器13からのX線照射領域に、商品Gを透過したX線がコンベアフレーム12bによって遮蔽されないように形成されている。   The conveyor frame 12b supports the conveyor belt 12a from the inside of the endless belt, and is long in a direction perpendicular to the conveying direction at a position facing the inner surface of the conveyor belt 12a as shown in FIG. It has the opening part 12c opened. The opening 12c is formed on a line connecting the X-ray irradiator 13 and the X-ray line sensor 14 in the conveyor frame 12b. In other words, the opening 12c is formed in the X-ray irradiation region from the X-ray irradiator 13 in the conveyor frame 12b so that X-rays that have passed through the product G are not blocked by the conveyor frame 12b.

[X線照射器13]
X線照射器13は、図3に示すように、コンベア12の上方に配置されており、コンベアフレーム12bに形成された開口部12cを介して、コンベア12の下方に配置されたX線ラインセンサ14に向かって扇形形状にX線を照射する(図3の斜線部参照)。
また、X線照射器13は、図3に示すように、鉛直方向に対して角度θをつけて斜め方向にX線を照射する。
[X-ray irradiator 13]
As shown in FIG. 3, the X-ray irradiator 13 is disposed above the conveyor 12 and is disposed below the conveyor 12 through an opening 12c formed in the conveyor frame 12b. X-rays are irradiated in a fan shape toward 14 (see the hatched portion in FIG. 3).
Further, as shown in FIG. 3, the X-ray irradiator 13 irradiates X-rays in an oblique direction with an angle θ with respect to the vertical direction.

なお、この角度θについては、商品Gの高さ等の各種検査条件に応じて変更可能であって、例えば、後述するX線画像に含まれる縁領域Rbの濃度がほぼ均一に近くなるような角度に調整される。
[X線ラインセンサ14]
X線ラインセンサ14は、コンベア12(開口部12c)の下方に配置されており、商品Gやコンベアベルト12aを透過してくるX線を検出する。このX線ラインセンサ14は、図3および図4に示すように、コンベア12による搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置された複数の画素14aから構成されている。
The angle θ can be changed according to various inspection conditions such as the height of the product G. For example, the density of the edge region Rb included in the X-ray image to be described later is almost uniform. Adjusted to angle.
[X-ray line sensor 14]
The X-ray line sensor 14 is disposed below the conveyor 12 (opening 12c), and detects X-rays transmitted through the product G and the conveyor belt 12a. As shown in FIGS. 3 and 4, the X-ray line sensor 14 includes a plurality of pixels 14 a that are horizontally arranged in a straight line in a direction orthogonal to the conveying direction by the conveyor 12.

なお、図4には、X線検査装置10内におけるX線照射状態と、その時のラインセンサ14を構成する各画素14aにおいて検出されるX線量を示すグラフとがそれぞれ示されている。
[モニタ26]
モニタ26は、フルドット表示の液晶ディスプレイである。また、モニタ26は、タッチパネル機能を有しており、初期設定や異物検出の判定等に関するパラメータ入力などを促す画面を表示する。
4 shows an X-ray irradiation state in the X-ray inspection apparatus 10 and a graph showing the X-ray dose detected in each pixel 14a constituting the line sensor 14 at that time.
[Monitor 26]
The monitor 26 is a full dot display liquid crystal display. Further, the monitor 26 has a touch panel function, and displays a screen for prompting parameter input relating to initial setting, foreign object detection determination, and the like.

また、モニタ26は、後述する画像処理が施された後のX線画像を表示する。これにより、商品Gに含まれる異物の有無、場所、大きさ等を、ユーザに対して視覚的に認識させることができる。
[制御コンピュータ20]
制御コンピュータ20は、CPU21において、制御プログラムに含まれる画像処理ルーチン、検査判定処理ルーチンなどを実行する。また、制御コンピュータ20は、CF(コンパクトフラッシュ:登録商標)25等の記憶部に、不良商品に対応するX線画像や検査結果、X線画像の補正用データ等を保存蓄積する。
The monitor 26 displays an X-ray image after image processing described later is performed. As a result, the presence / absence, location, size, etc. of foreign matter contained in the product G can be visually recognized by the user.
[Control Computer 20]
In the CPU 21, the control computer 20 executes an image processing routine, an inspection determination processing routine, and the like included in the control program. The control computer 20 also stores and accumulates X-ray images corresponding to defective products, inspection results, X-ray image correction data, and the like in a storage unit such as a CF (Compact Flash: registered trademark) 25.

具体的な構成として、制御コンピュータ20は、図5に示すように、CPU21を搭載するとともに、このCPU21が制御する主記憶部としてROM22、RAM23、およびCF25を搭載している。
CF25には、後段にて詳述する異物混入検査の検査対象となるX線画像に関する情報や、設定された分割領域に関する情報、各分割領域においてそれぞれ設定された検出レベルに関する情報、あるいは検出された異物の位置等に関する情報が格納されている。
As a specific configuration, as shown in FIG. 5, the control computer 20 is equipped with a CPU 21, and a ROM 22, a RAM 23, and a CF 25 as a main storage unit controlled by the CPU 21.
In the CF 25, information related to an X-ray image to be inspected in the foreign substance contamination inspection described in detail later, information related to a set divided area, information related to a detection level set in each divided area, or detected Information on the position of the foreign matter is stored.

さらに、制御コンピュータ20は、モニタ26に対するデータ表示を制御する表示制御回路、モニタ26のタッチパネルからのキー入力データを取り込むキー入力回路、図示しないプリンタにおけるデータ印字の制御等を行うためのI/Oポート、外部接続端子としてのUSB24等を備えている。
本実施形態では、CF25等の記憶部に格納された各種プログラムをCPU21が読み込むことで、図6に示すような、画像形成部(画像処理部)31a、分割領域設定部(画像処理部)31b、検出レベル設定部(画像処理部)31c、異物判定部(画像処理部)31dを含む機能ブロックが形成される。
Further, the control computer 20 includes a display control circuit for controlling data display on the monitor 26, a key input circuit for fetching key input data from the touch panel of the monitor 26, and an I / O for controlling data printing in a printer (not shown). USB 24 as an external connection terminal is provided.
In the present embodiment, the CPU 21 reads various programs stored in the storage unit such as the CF 25, whereby an image forming unit (image processing unit) 31a and a divided region setting unit (image processing unit) 31b as illustrated in FIG. A functional block including a detection level setting unit (image processing unit) 31c and a foreign matter determination unit (image processing unit) 31d is formed.

画像形成部31aは、CPU21が画像形成プログラムを読み込むことで形成される機能ブロックであって、X線ラインセンサ14によるX線透視像信号を細かい時間間隔で取得して、それらのX線透視像信号に基づいて、X線ラインセンサ14の1ラインごとに商品Gとその背景部分とを含むX線画像を作成する。
分割領域設定部31bは、CPU21が画像処理プログラムを読み込むことで形成される機能ブロックであって、図8に示すように、画像形成部31aにおいて作成されたX線画像に含まれる背景部分および商品Gの縁部分(影の部分)を除く内部領域Gaと、商品Gの縁部分の領域(以下、縁領域と示す)Gbとを抽出する。さらに、分割領域設定部31bは、図8に示すように、商品Gの縁領域Gbを、商品Gの搬送方向における両端の領域(以下、前方領域Gb1、後方領域Gb2と示す)と、搬送方向に交差する方向における両端の領域(以下、右方領域Gb3および左方領域Gb4と示す)と、に分割する。
The image forming unit 31a is a functional block formed by the CPU 21 reading an image forming program, acquires X-ray fluoroscopic image signals from the X-ray line sensor 14 at fine time intervals, and those X-ray fluoroscopic images. Based on the signal, an X-ray image including the product G and its background portion is created for each line of the X-ray line sensor 14.
The divided area setting unit 31b is a functional block formed by the CPU 21 reading an image processing program, and as shown in FIG. 8, the background portion and the product included in the X-ray image created in the image forming unit 31a. An internal region Ga excluding an edge portion (shadow portion) of G and an edge portion region (hereinafter referred to as an edge region) Gb of the product G are extracted. Furthermore, as shown in FIG. 8, the divided region setting unit 31 b includes the edge region Gb of the product G in the regions at both ends in the transport direction of the product G (hereinafter, referred to as the front region Gb1 and the rear region Gb2), and the transport direction. Are divided into regions at both ends in the direction intersecting (hereinafter referred to as right region Gb3 and left region Gb4).

検出レベル設定部31cは、上記分割領域設定部31bにおいて設定された各分割領域Ga、Gb1〜Gb4について異物検査を実施する際の検出レベルについて、それぞれ適正な検出レベルを設定する。具体的には、例えば、前方領域Gb1と後方領域Gb2とを同じ検出レベルとし、右方領域Gb3と左方領域Gb4とを同じ検出レベルであって前後方領域Gb1,Gb2とは異なる検出レベルになるように設定する。   The detection level setting unit 31c sets an appropriate detection level for the detection level when the foreign substance inspection is performed on each of the divided areas Ga and Gb1 to Gb4 set in the divided area setting unit 31b. Specifically, for example, the front area Gb1 and the rear area Gb2 are set to the same detection level, and the right area Gb3 and the left area Gb4 are set to the same detection level and different from the front and rear areas Gb1 and Gb2. Set as follows.

異物判定部31dは、上記検出レベル設定部31cにおいて各分割領域Ga、Gb1〜Gb4について設定された検出レベルにより、各分割領域において異物が混入していないかの判定を行う。異物判定部31dによる判定方法としては、例えば、周辺の画素と比較して30%以上濃度の高い画素が存在する場合にこの画素を異物として判定する等の方法を採用することができる。この場合には、周辺画素との濃度差の割合を変更することで、各分割領域Ga,Gb1〜Gb4における検出レベルを変更することができる。   The foreign matter determination unit 31d determines whether foreign matter is not mixed in each divided region based on the detection levels set for the divided regions Ga and Gb1 to Gb4 in the detection level setting unit 31c. As a determination method by the foreign matter determination unit 31d, for example, a method of determining a pixel as a foreign matter when a pixel having a density of 30% or higher compared to surrounding pixels is present can be employed. In this case, the detection level in each of the divided areas Ga, Gb1 to Gb4 can be changed by changing the ratio of the density difference with the surrounding pixels.

そして、CPU21、ROM22、RAM23、CF25等は、アドレスバスやデータバス等のバスラインを介して相互に接続されている。
さらに、制御コンピュータ20は、コンベアモータ12f、ロータリーエンコーダ12g、X線照射器13、X線ラインセンサ14、光電センサ15等と接続されている。
制御コンピュータ20では、コンベアモータ12fに装着されたロータリーエンコーダ12gにおいて検出されたコンベア12の搬送速度を受信する。
The CPU 21, ROM 22, RAM 23, CF 25, and the like are connected to each other via a bus line such as an address bus or a data bus.
Furthermore, the control computer 20 is connected to a conveyor motor 12f, a rotary encoder 12g, an X-ray irradiator 13, an X-ray line sensor 14, a photoelectric sensor 15, and the like.
The control computer 20 receives the conveyance speed of the conveyor 12 detected by the rotary encoder 12g attached to the conveyor motor 12f.

また、制御コンピュータ20は、コンベアを挟んで配置される一対の投光器および受光器から構成される同期センサとしての光電センサ15からの信号を受信して、被検査物である商品GがX線ラインセンサ14の位置にくるタイミングを検出する。
<制御コンピュータ20による異物混入の判定>
[X線画像作成]
制御コンピュータ20は、光電センサ15からの信号を受けて、鉛直方向から角度θだけ傾斜させるように斜めに照射された扇状のX線照射部分(図3に示す斜線部分参照)を商品Gが通過するときに、X線ラインセンサ14によるX線透視像信号を細かい時間間隔で取得する。そして、制御コンピュータ20は、画像形成部31aとして、それらのX線透視像信号に基づいて、X線ラインセンサ14の1ラインごとに商品Gとその背景部分とを含むX線画像(図7参照)を作成する。すなわち、X線ラインセンサ14の各画素14aから細かい時間間隔をあけて各時刻のデータを得て、それぞれのデータからX線画像が作成される。そして、これら複数のX線画像を時間経過順に組み合わせることで、商品Gの全体とその背景部分とを含む全体の2次元画像が形成される。
Further, the control computer 20 receives a signal from the photoelectric sensor 15 as a synchronous sensor composed of a pair of light projectors and light receivers arranged with a conveyor interposed therebetween, and the product G as an inspection object is an X-ray line. The timing to come to the position of the sensor 14 is detected.
<Determination of contamination by the control computer 20>
[Create X-ray image]
The control computer 20 receives the signal from the photoelectric sensor 15 and the product G passes through the fan-shaped X-ray irradiation portion (see the hatched portion shown in FIG. 3) that is irradiated obliquely so as to be inclined by the angle θ from the vertical direction. The X-ray fluoroscopic image signal from the X-ray line sensor 14 is acquired at fine time intervals. Then, the control computer 20 serves as the image forming unit 31a based on the X-ray fluoroscopic image signals, and an X-ray image including the product G and its background portion for each line of the X-ray line sensor 14 (see FIG. 7). ). That is, data at each time is obtained from each pixel 14a of the X-ray line sensor 14 with a fine time interval, and an X-ray image is created from each data. Then, by combining the plurality of X-ray images in the order of time, an entire two-dimensional image including the entire product G and the background portion is formed.

[内部領域Ga、縁領域Gb等の抽出]
制御コンピュータ20では、缶の中の内容物に含まれる異物と缶の縁部分に存在する異物とを分けて異物検出を行うために、まず、図7に示すX線画像について、例えば各画素毎の濃淡を示すヒストグラムを作成する。このヒストグラムの基になるX線画像には、図7に示すように、主として、缶詰である商品Gの缶の縁の部分と、異物の部分と、缶の中にある内容物の部分と、背景部分とが含まれている。このため、ヒストグラムでは、各画素における濃度に基づいて、缶の縁または異物の部分、縁の内側の部分(内容物の部分)、背景部分が抽出される。
[Extraction of Internal Region Ga, Edge Region Gb, etc.]
In the control computer 20, in order to detect foreign matter by separating foreign matter contained in the contents of the can and foreign matter present at the edge of the can, first, for example, for each pixel, the X-ray image shown in FIG. A histogram showing the shading of the image is created. In the X-ray image that is the basis of this histogram, as shown in FIG. 7, mainly, the edge portion of the can of the product G that is canned, the portion of the foreign matter, the portion of the contents in the can, The background part is included. For this reason, in the histogram, based on the density in each pixel, the edge of the can or the part of foreign matter, the part inside the edge (content part), and the background part are extracted.

具体的には、制御コンピュータ20では、検査対象となる内部領域を設定するための2値化画像を形成するために、2つの閾値を用いて缶の中の内容物の部分を抜き出す。具体的には、以下に示す関係式(1)を用いて特定の濃度範囲の画素を抜き出す。
ヒストグラムのピーク位置の50%<抜き出す範囲<最大明るさの80%・・・(1)
上記関係式(1)の「ヒストグラムのピーク位置の50%」は、缶の縁または異物に相当する暗い画素に対応し、「最大明るさの80%」は、主に背景部分に対応する。このため、上記関係式によって所定の明るさの範囲の画素を抜き出すことで、X線画像から内部領域Gaを抽出することができる。
Specifically, the control computer 20 extracts a portion of the contents in the can using two threshold values in order to form a binarized image for setting an internal region to be inspected. Specifically, pixels in a specific density range are extracted using the following relational expression (1).
50% of peak position of histogram <extraction range <80% of maximum brightness (1)
In the relational expression (1), “50% of the peak position of the histogram” corresponds to a dark pixel corresponding to the edge of the can or a foreign object, and “80% of the maximum brightness” mainly corresponds to the background portion. For this reason, the internal region Ga can be extracted from the X-ray image by extracting pixels in a predetermined brightness range according to the above relational expression.

また、上記関係式(1)より、抜き出す範囲を最大明るさの80%以上と設定することで、X線画像から背景部分を抽出することができる。
そして、上記関係式(1)より、抜き出す範囲をヒストグラムのピーク値の50%以下と設定することで、異物像および商品Gの縁領域GaをX線画像から抽出することができる。
Further, from the relational expression (1), the background portion can be extracted from the X-ray image by setting the extraction range to be 80% or more of the maximum brightness.
Then, from the relational expression (1), by setting the extraction range to be 50% or less of the peak value of the histogram, the foreign substance image and the edge region Ga of the product G can be extracted from the X-ray image.

[マスク領域の設定]
本実施形態のX線検査装置10では、制御コンピュータ20によって形成された2次元画像に対して検査領域から除外するためのマスク領域の設定を行う。
具体的には、上述したヒストグラムを作成して抽出された縁領域Gb、背景部分を用いて、マスク領域を設定する。これにより、マスク領域を設定することで、まずは、内部領域Gaだけについて異物検査を実施することができる。
[Mask area setting]
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, a mask region for excluding from the inspection region is set for the two-dimensional image formed by the control computer 20.
Specifically, a mask region is set using the edge region Gb and the background portion extracted by creating the above-described histogram. Thus, by setting the mask area, first, the foreign substance inspection can be performed only on the internal area Ga.

[異物検出]
(内部領域Gaに含まれる異物の検出)
制御コンピュータ20では、上述したマスク領域が被せられて設定された缶の縁よりも内側の内部領域Gaについて、異物が含まれているか否かの検査を行う。
具体的な検出方法としては、X線画像に含まれる画素を、所定の濃度を閾値として2値化することで所定濃度よりも暗い画素を異物として検出する2値化処理による検出方法や、ある画素についてその周囲の画素の濃度の平均値との差をとることで孤立した濃度の濃い領域を抽出して異物を検出する微分処理による検出方法等を用いることができる。
[Foreign matter detection]
(Detection of foreign matter contained in internal region Ga)
The control computer 20 inspects whether or not a foreign substance is contained in the inner area Ga inside the can edge set with the mask area described above.
As a specific detection method, there is a detection method based on a binarization process in which pixels included in an X-ray image are binarized using a predetermined density as a threshold to detect a pixel darker than the predetermined density as a foreign object. It is possible to use a detection method or the like based on a differential process that detects a foreign object by extracting an isolated dark region by taking a difference from the average value of the density of surrounding pixels.

これにより、図7に示すように、缶の内部(缶の縁よりも内側の部分)の領域(内部領域Ga)に存在する比較的大きい異物を検出することができる。
(縁領域Gbに近接して存在する異物の検出)
本実施形態では、制御コンピュータ20が、検査対象となる領域を、上述した缶の内側の領域(内部領域Ga)と、以下で説明する缶の縁部分の領域(縁領域Gb)とに分けて異物検出を行う。
As a result, as shown in FIG. 7, it is possible to detect a relatively large foreign object present in the region (inner region Ga) inside the can (the portion inside the edge of the can).
(Detection of foreign matter existing in the vicinity of the edge region Gb)
In the present embodiment, the control computer 20 divides the area to be inspected into the above-described inner area (inner area Ga) of the can and the edge area (edge area Gb) of the can described below. Foreign matter detection is performed.

すなわち、制御コンピュータ20では、図8に示すように、上述した分割領域設定部31bによって設定された分割領域(各領域Gb1〜Gb4)について、検出レベル設定部31cがそれぞれの分割領域(各領域Gb1〜Gb4)について適正な検出レベルを設定する。
具体的には、各分割領域Gb1〜Gb4に含まれる画素の平均濃度を算出し、ここで算出された平均濃度に応じて各分割領域Gb1〜Gb4ごとの検出レベルを設定する。
That is, in the control computer 20, as shown in FIG. 8, the detection level setting unit 31c sets each divided region (each region Gb1) for each divided region (each region Gb1 to Gb4) set by the divided region setting unit 31b. To an appropriate detection level for .about.Gb4).
Specifically, the average density of the pixels included in each of the divided areas Gb1 to Gb4 is calculated, and the detection level for each of the divided areas Gb1 to Gb4 is set according to the calculated average density.

例えば、前方領域Gb1と後方領域Gb2とについては、X線画像において若干画素の濃度が高い前方領域Gb1の方を検出レベル4、後方領域Gb2の方を検出レベル3と設定する。そして、左右方領域Gb3,Gb4については、前後方領域Gb1,Gb2よりも画素の濃度が高いために、さらに検出レベルを上げて検出レベルをともに5に設定する。   For example, for the front area Gb1 and the rear area Gb2, the front area Gb1 having a slightly higher pixel density in the X-ray image is set to the detection level 4, and the rear area Gb2 is set to the detection level 3. In the left and right regions Gb3 and Gb4, since the pixel density is higher than in the front and rear regions Gb1 and Gb2, the detection level is further increased and both the detection levels are set to 5.

これにより、各分割領域Gb1〜Gb4に含まれる画素の平均濃度が高い領域については、検出レベルを上げて異物検査を行う一方、平均濃度が標準的、あるいは低い領域についてはそれよりも低めの検出レベルを設定して異物検査を行うことで、各領域において高精度な異物検査を実施することが可能になる。
(異物像の合成)
本実施形態のX線検査装置10では、上述のように、缶の縁よりも内側の内部領域Gaと、缶の縁部分の縁領域Gbとに分けて別々に異物検出を行う。
As a result, for the areas where the average density of the pixels included in each of the divided areas Gb1 to Gb4 is high, the detection level is increased and the foreign matter inspection is performed, while for the areas where the average density is standard or low, detection is lower than that. By performing the foreign substance inspection by setting the level, it becomes possible to carry out the high precision foreign substance inspection in each region.
(Composition of foreign matter image)
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, as described above, foreign matter detection is performed separately for the inner region Ga inside the can edge and the edge region Gb of the can edge portion.

このため、1つの商品Gから検出される異物像は、缶の縁部分の縁領域Gbで検出された異物像と、缶の縁よりも内側の内部領域Gaで検出された異物像とを合わせて作成される合成異物像を最終的な判定画像としてモニタ26に表示させる。
[本X線検査装置10の特徴]
(1)
本実施形態のX線検査装置10は、図3に示すように、搬送中の商品Gに対して斜め方向からX線を照射し、このX線の透過光を検出して作成される2次元のX線画像に基づいて異物検査を行うX線検査装置であって、図6に示す分割領域設定部31bが、X線画像に含まれる商品Gに相当する縁領域Gbを複数の領域(各分割領域Gb1〜Gb4)に分割し(図8参照)、検出レベル設定部31cが、各分割領域Gb1〜Gb4について適正な検出レベルを設定して異物検査を行う。
For this reason, the foreign object image detected from one product G is a combination of the foreign object image detected in the edge region Gb of the edge portion of the can and the foreign object image detected in the inner region Ga inside the edge of the can. The synthesized foreign object image created in this way is displayed on the monitor 26 as a final determination image.
[Features of the X-ray inspection apparatus 10]
(1)
As shown in FIG. 3, the X-ray inspection apparatus 10 according to the present embodiment irradiates a product G being conveyed with X-rays from an oblique direction, and detects the transmitted light of the X-rays to create two dimensions. 6 is an X-ray inspection apparatus for inspecting a foreign substance based on the X-ray image, and the divided region setting unit 31b shown in FIG. The detection level setting unit 31c sets an appropriate detection level for each of the divided areas Gb1 to Gb4 and performs a foreign substance inspection.

これにより、商品Gの縁領域Gbに相当する各分割領域Gb1〜Gb4については、各領域を構成する画素の平均濃度を基準にして各分割領域Gb1〜Gb4における検出レベルを設定することで、検出が難しい商品Gの縁部分(容器に近接する部分)に相当する各分割領域Gb1〜Gb4の濃度が異なる場合でも、そこに含まれる異物を高精度に検出することができる。   As a result, for each of the divided areas Gb1 to Gb4 corresponding to the edge area Gb of the product G, the detection level in each of the divided areas Gb1 to Gb4 is set based on the average density of the pixels constituting each area. Even when the density of each of the divided regions Gb1 to Gb4 corresponding to the edge portion (the portion close to the container) of the product G that is difficult to detect is different, the foreign matter contained therein can be detected with high accuracy.

(2)
本実施形態のX線検査装置10では、図6に示す分割領域設定部31bが、図8に示すように、縁領域Gbを、前後方領域Gb1,Gb2および左右方領域Gb3,Gb4に分割した分割領域Gb1〜Gb4を設定する。
これにより、特に、容器付きの物品のような縁部分の影の濃度に差が出やすい商品Gを検査対象とする場合でも、商品Gの搬送方向およびこれに交差する方向において縁領域Gbを複数の領域に分割された各領域について、各領域の濃度に応じて適正な検出レベルを設定することができる。この結果、商品Gの縁領域Gbに存在する異物を高精度に検出することが可能になる。
(2)
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, the divided region setting unit 31b shown in FIG. 6 divides the edge region Gb into front and rear regions Gb1, Gb2 and left and right regions Gb3, Gb4 as shown in FIG. The divided areas Gb1 to Gb4 are set.
As a result, in particular, even when a product G that tends to have a difference in shadow density at the edge portion, such as an article with a container, is to be inspected, a plurality of edge regions Gb are provided in the conveyance direction of the product G and in the direction intersecting with the product G. An appropriate detection level can be set according to the density of each region for each region divided into the regions. As a result, it becomes possible to detect the foreign matter existing in the edge region Gb of the product G with high accuracy.

(3)
本実施形態のX線検査装置10では、X線画像に含まれる縁領域Gbのうち、前方領域Gb1と後方領域Gb2とについて、図6に示す検出レベル設定部31cがそれぞれの画素の平均濃度に応じて適正な検出レベルを設定する。
これにより、商品Gの搬送方向における前後方向において各分割領域Gb1,Gb2の濃度分が若干異なる場合でも、それぞれの領域の濃度に対応させて適正な検出レベルで異物検査を実施することで、商品Gの容器の縁部分に近接するように存在する異物の検出を高精度に実施することができる。
(3)
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, the detection level setting unit 31c shown in FIG. 6 sets the average density of each pixel for the front region Gb1 and the rear region Gb2 in the edge region Gb included in the X-ray image. Set an appropriate detection level accordingly.
As a result, even if the density of each of the divided areas Gb1 and Gb2 is slightly different in the front-rear direction in the conveyance direction of the product G, it is possible to perform the foreign object inspection with an appropriate detection level corresponding to the density of each region. It is possible to detect the foreign matter existing so as to be close to the edge portion of the G container with high accuracy.

(4)
本実施形態のX線検査装置10では、X線画像に含まれる縁領域Gbのうち、前方領域Gb1および後方領域Gb2と、右方領域Gb3および左方領域Gb4とについて、図6に示す検出レベル設定部31cがそれぞれの画素の平均濃度に応じて適正な検出レベルを設定する。
(4)
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, the detection levels shown in FIG. 6 for the front region Gb1 and the rear region Gb2, the right region Gb3, and the left region Gb4 in the edge region Gb included in the X-ray image. The setting unit 31c sets an appropriate detection level according to the average density of each pixel.

これにより、商品Gについて、搬送方向における前後方向だけでなく、左右方向についても、各分割領域Gb1〜Gb4に含まれる画素の平均濃度に応じて適正な検出レベルを設定して異物検査を実施することができる。この結果、商品Gの縁部分(容器部分)に近接するように存在する異物を高精度に検出することが可能になる。
(5)
本実施形態のX線検査装置10では、検査対象として、容器付きの物品である商品Gを用いている。
As a result, for the product G, not only in the front-rear direction in the transport direction but also in the left-right direction, foreign matter inspection is performed by setting an appropriate detection level according to the average density of the pixels included in each of the divided regions Gb1 to Gb4. be able to. As a result, it is possible to detect the foreign matter existing so as to be close to the edge portion (container portion) of the product G with high accuracy.
(5)
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, a product G that is an article with a container is used as an inspection target.

通常、缶詰のような容器付きの物品を検査対象とする場合には、X線画像に含まれるその容器の部分の濃度が濃くなってしまうため、内部領域等の他の領域と同じ検出レベルで異物検査を行ったのでは、この容器付近に存在する異物を正確に検出できないおそれがある。
そこで、本実施形態のX線検査装置10では、商品Gの縁部分に相当する容器の部分に対応するX線画像の部分の濃度が濃くなる場合でも、この部分については他の部分よりも高い検出レベルに設定している。
Normally, when an object with a container such as canned food is to be inspected, the density of the part of the container included in the X-ray image is increased, so the detection level is the same as other areas such as the internal area. If foreign matter inspection is performed, there is a possibility that foreign matter existing in the vicinity of the container cannot be accurately detected.
Therefore, in the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, even when the density of the portion of the X-ray image corresponding to the portion of the container corresponding to the edge portion of the product G is high, this portion is higher than the other portions. The detection level is set.

これにより、容器の部分に近接するように存在する異物を効果的に検出して、高精度な異物検査を実施することが可能になる。
(6)
本実施形態のX線検査装置10では、図3に示すように、検査対象として、背の高い物品である商品Gを用いている。
As a result, it is possible to effectively detect the foreign matter present so as to be close to the container portion and perform a highly accurate foreign matter inspection.
(6)
In the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, as shown in FIG. 3, a product G that is a tall article is used as an inspection target.

通常、このような背の高い物品を検査対象とした場合には、X線画像に含まれる影の部分の面積が非常に大きくなるという特徴がある。この場合、この影の部分について内部領域等と同じ検出レベルで異物検査を行うと、影部分に含まれる異物の検出を正確に実施できないおそれがある。
そこで、本実施形態のX線検査装置10では、背の高い物品を検査対象とする場合でも、図8に示すように、物品の影部分に相当する商品Gの縁領域Gbを複数の領域に分割し、各分割領域Gb1〜Gb4について、それぞれ適正な検出レベルを設定して異物検査を行っている。
Usually, when such a tall article is an inspection object, the area of the shadow portion included in the X-ray image is very large. In this case, if the foreign matter inspection is performed on the shadow portion at the same detection level as the internal region or the like, the foreign matter included in the shadow portion may not be accurately detected.
Therefore, in the X-ray inspection apparatus 10 of the present embodiment, even when a tall article is to be inspected, as shown in FIG. 8, the edge area Gb of the product G corresponding to the shadow portion of the article is made into a plurality of areas. Divided, and the foreign matter inspection is performed by setting an appropriate detection level for each of the divided regions Gb1 to Gb4.

これにより、縁領域Gbに存在する異物を確実に検出して、高精度な異物検出を実施することが可能になる。
[他の実施形態]
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
As a result, it is possible to reliably detect foreign matter existing in the edge region Gb and perform highly accurate foreign matter detection.
[Other Embodiments]
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the said embodiment, A various change is possible in the range which does not deviate from the summary of invention.

(A)
上記実施形態では、商品GのX線画像に含まれる領域を、背景部分と縁部分とを除く内部領域Gaと縁領域Gbとに分割し、縁領域Gbについてはさらに商品Gの搬送方向と搬送方向に交差する方向とにおける各両端に位置する4つの領域Gb1〜Gb4に分割した例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
(A)
In the said embodiment, the area | region contained in the X-ray image of the goods G is divided | segmented into the internal area | region Ga and edge area | region Gb except a background part and an edge part, and also about the conveyance direction and conveyance of the goods G about the edge area | region Gb. The example divided into four regions Gb1 to Gb4 located at both ends in the direction intersecting the direction has been described. However, the present invention is not limited to this.

例えば、縁部分の分割の仕方としては、搬送方向とその交差する方向とにおける両端部分という分割ではなく、より細かく分割された分割領域を設定してもよい。この場合でも、各分割領域について異なる検出レベルで異物検査を実施することで、商品Gの内部領域Gaの外周部分に沿って存在する細かい異物を精度よく検出することができるという上記と同様の効果を得ることができる。   For example, as a method of dividing the edge portion, a divided region that is divided more finely may be set instead of the division of both end portions in the transport direction and the intersecting direction. Even in this case, the same effect as described above that the fine foreign matter existing along the outer peripheral portion of the inner region Ga of the product G can be accurately detected by performing the foreign matter inspection with different detection levels for each divided region. Can be obtained.

さらには、内部領域Gaについても、複数の領域に分割し、各分割領域について適正な異なる検出レベルを設定して異物検査を実施してもよい。この場合には、さらに高精度に異物検査を行うことが可能になる。
(B)
上記実施形態では、縁領域Gbについて、各領域Gb1〜Gb4に対して適正な検出レベルになるようにそれぞれの検出レベルを設定する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
Furthermore, the internal region Ga may also be divided into a plurality of regions, and foreign matter inspection may be performed by setting appropriate different detection levels for each divided region. In this case, the foreign object inspection can be performed with higher accuracy.
(B)
In the above embodiment, the edge region Gb has been described with an example in which each detection level is set so that the detection level is appropriate for each of the regions Gb1 to Gb4. However, the present invention is not limited to this.

例えば、縁領域Gbだけでなく、内部領域Gaと縁領域Gbとの間においても同様に、異なる検出レベルを設定して異物検査を実施してもよい。この場合には、縁領域Gbに加えて内部領域Gaについても適正な検出レベルによって異物検査を実施することができる。
(C)
上記実施形態では、各分割領域(前方領域Gb1、後方領域Gb2、右方領域Gb3および左方領域Gb4)のうち、左右方領域Gb3,Gb4について異なる検出レベルを設定し、さらに左右方領域Gb3,Gb4とは異なる検出レベルを、前後方領域Gb1,Gb2について設定する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
For example, the foreign substance inspection may be performed by setting different detection levels not only in the edge area Gb but also between the internal area Ga and the edge area Gb. In this case, the foreign object inspection can be performed with an appropriate detection level for the inner region Ga in addition to the edge region Gb.
(C)
In the above embodiment, different detection levels are set for the left and right regions Gb3 and Gb4 among the respective divided regions (the front region Gb1, the rear region Gb2, the right region Gb3, and the left region Gb4). The detection level different from Gb4 has been described with an example in which the front and rear regions Gb1 and Gb2 are set. However, the present invention is not limited to this.

例えば、前方領域Gb1と左方領域Gb4とについて同じ検出レベルを設定し、これとは異なる検出レベルを、後方領域Gb2と右方領域Gb3とについて設定してもよい。
このように、各分割領域についてそれぞれ設定される検出レベルは、必ずしも全ての分割領域で異なっている必要はなく、適正な検出レベルが同じ領域についてはほぼ同程度の検出レベルを設定して異物検査を行ってもよい。
For example, the same detection level may be set for the front area Gb1 and the left area Gb4, and different detection levels may be set for the rear area Gb2 and the right area Gb3.
In this way, the detection level set for each divided region does not necessarily have to be different for all divided regions, and foreign matter inspection is performed by setting almost the same detection level for regions having the same appropriate detection level. May be performed.

(D)
上記実施形態では、縁領域Gbの分割領域Gb1〜Gb4については、ほぼ均等に分割されている例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、分割領域Gb1〜Gb4のうち、前方領域Gb1と後方領域Gb2とを大きくし、左右方領域Gb3,Gb4の領域を小さく設定してもよい。
(D)
In the above-described embodiment, the divided areas Gb1 to Gb4 of the edge area Gb have been described with reference to an example in which the divided areas Gb1 to Gb4 are divided substantially equally. However, the present invention is not limited to this.
For example, among the divided regions Gb1 to Gb4, the front region Gb1 and the rear region Gb2 may be enlarged and the left and right regions Gb3 and Gb4 may be set small.

つまり、本発明において設定される分割領域は、X線画像に現れる各領域Ga,Gbを構成する画素の濃度が微妙に変化する領域ごとに分けて設定されることが好ましい。これにより、画素の濃度が所定の範囲内にある領域を1つの分割領域として設定することで、各領域における画素濃度に応じて適正な検出レベルを設定することで、高精度な異物検査を実施することが可能になる。   That is, the divided areas set in the present invention are preferably set separately for each area in which the density of the pixels constituting the areas Ga and Gb appearing in the X-ray image slightly changes. As a result, an area where the pixel density is within a predetermined range is set as one divided area, and an appropriate foreign matter inspection is performed by setting an appropriate detection level according to the pixel density in each area. It becomes possible to do.

(E)
上記実施形態では、X線画像に含まれる背景部分、内部領域Gaおよび縁領域Gbについて、X線画像に含まれる画素の濃度に基づいて作成されるヒストグラムを用いて抽出する例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、ヒストグラムを作成することなく、濃度範囲に基づいて直接各領域を抽出してもよい。
(E)
In the above-described embodiment, the background portion, the internal region Ga, and the edge region Gb included in the X-ray image have been described using an example of extraction using a histogram created based on the density of pixels included in the X-ray image. . However, the present invention is not limited to this.
For example, each region may be directly extracted based on the density range without creating a histogram.

(F)
上記実施形態では、検査対象である物品として、図3に示すような背の高い缶入りの商品Gを用いた例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、検査対象としては、必ずしも背の高い商品でなくてもよいし、缶入りの商品でなくてもよい。
(F)
In the said embodiment, the example using the tall canned goods G as shown in FIG. 3 was given and demonstrated as an article | item to be examined. However, the present invention is not limited to this.
For example, the inspection target is not necessarily a tall product, and may not be a canned product.

通常、背の高い商品Gを検査対象とした場合には、X線照射器13から照射されるX線によって形成されるX線画像に含まれる商品Gの影部分の面積が大きくなってしまう。しかし、上記実施形態のように、X線を斜めに照射することで影部分の濃度をほぼ均一にすることで、背の高い商品Gであっても縁部分に近接して存在する異物の検出を高精度に行うことができることから、上記実施形態のように、背の高い商品Gを検査対象とすることがより好ましい。   Normally, when a tall product G is an inspection object, the area of the shadow portion of the product G included in the X-ray image formed by the X-rays irradiated from the X-ray irradiator 13 becomes large. However, as in the above embodiment, X-rays are obliquely irradiated so that the density of the shadow portion is made almost uniform, so that foreign objects existing in the vicinity of the edge portion can be detected even in a tall product G. Therefore, it is more preferable that the tall product G is the inspection object as in the above embodiment.

一方、缶入りの商品Gを検査対象とした場合には、通常、缶の縁の部分(縁領域)に近接するように存在する異物の検出は困難であるが、本発明のX線検査装置によれば、縁領域に存在する異物を高精度に検出できることから、上記実施形態のように缶入り(容器入り)の商品Gを検査対象として異物検査を実施することがより好ましい。
(G)
上記実施形態では、缶入りの商品Gを検査対象として異物検査を行う例を挙げて説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。
On the other hand, when a canned product G is an inspection object, it is usually difficult to detect foreign matter present close to the edge portion (edge region) of the can, but the X-ray inspection apparatus of the present invention. Therefore, it is more preferable to carry out the foreign substance inspection using the canned (contained) product G as the inspection object as in the above-described embodiment because the foreign substance existing in the edge region can be detected with high accuracy.
(G)
In the said embodiment, the example which performs a foreign material test | inspection for the goods G in a can was examined and demonstrated. However, the present invention is not limited to this.

例えば、図9に示すように、上面G1がフィルムFで覆われており、側壁面G2および底面G3がともにプラスチックで構成されているプリンやヨーグルト等の容器付きの商品を検査対象として用いてもよい。
この場合には、X線の斜め照射によって影部分(縁領域)がほぼ均一に近い濃度になるようになっているものの、X線が容器のどの部分を透過して検出されたものであるかによって、X線画像に形成される容器の縁部分の影の濃度が異なってくる。具体例を挙げれば、上面G1のフィルム部分と側壁面G2のプラスチック部分とを透過したX線の検出結果に対応する影の部分と、側壁面G2のプラスチック部分と底面G3のプラスチック部分とを透過したX線の検出結果に対応する影の部分とでは、フィルム部分の方がプラスチック部分よりも後者の方が濃度が高くなる。
For example, as shown in FIG. 9, a product with a container such as pudding or yogurt in which the upper surface G1 is covered with a film F and the side wall surface G2 and the bottom surface G3 are both made of plastic may be used as an inspection target. Good.
In this case, although the shadow portion (edge region) has an almost uniform density by oblique X-ray irradiation, the portion of the container through which the X-ray is detected is detected. Therefore, the shadow density of the edge portion of the container formed in the X-ray image differs. For example, the shadow portion corresponding to the X-ray detection result transmitted through the film portion on the upper surface G1 and the plastic portion on the side wall surface G2, and the plastic portion on the side wall surface G2 and the plastic portion on the bottom surface G3 are transmitted. In the shadow portion corresponding to the X-ray detection result, the density of the film portion is higher than that of the plastic portion.

このため、上記実施形態のように、若干濃度の異なる縁領域Gbを濃度が異なる領域に分割してそれぞれ異なる検出レベルで異物検出を行うことで、各分割領域において適正な検出レベルを設定してより高精度な異物検出を実施することができる。   For this reason, as in the above embodiment, the edge region Gb having a slightly different concentration is divided into regions having different concentrations and foreign matter detection is performed at different detection levels, thereby setting an appropriate detection level in each divided region. More accurate foreign object detection can be performed.

本発明のX線検査装置は、物品の端部に存在する異物の検出を高精度に行うことができるという効果を奏することから、検査対象である物品に対してX線を照射して検査を行う各種検査装置に対して広く適用可能である。   Since the X-ray inspection apparatus of the present invention has an effect of being able to detect foreign matter present at the end of an article with high accuracy, the article to be inspected is irradiated with X-rays for inspection. The present invention can be widely applied to various inspection apparatuses to be performed.

本発明の一実施形態に係るX線検査装置の外観斜視図。1 is an external perspective view of an X-ray inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 図1のX線検査装置の前後の構成を示す図。The figure which shows the structure before and behind the X-ray inspection apparatus of FIG. 図1のX線検査装置のシールドボックス内部の簡易構成図。FIG. 2 is a simplified configuration diagram inside a shield box of the X-ray inspection apparatus of FIG. 1. 図1のX線検査装置による異物混入検査の原理を示す模式図。The schematic diagram which shows the principle of the foreign material mixing inspection by the X-ray inspection apparatus of FIG. 図1のX線検査装置が備えている制御コンピュータの構成を示す制御ブロック図。The control block diagram which shows the structure of the control computer with which the X-ray inspection apparatus of FIG. 1 is provided. 図5の制御コンピュータに形成される機能ブロック図。The functional block diagram formed in the control computer of FIG. 図1の制御コンピュータにおいて作成されるX線画像を示す図。The figure which shows the X-ray image produced in the control computer of FIG. 図7のX線画像について設定される各分割領域を示す図。The figure which shows each division area set about the X-ray image of FIG. 本発明の他の実施形態に係るX線検査装置において検査対象として用いる物品の他の例を示す斜視図。The perspective view which shows the other example of the articles | goods used as a test object in the X-ray inspection apparatus which concerns on other embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 X線検査装置
11 シールドボックス
11a 開口
12 コンベア
12a コンベアベルト
12b コンベアフレーム
12c 開口部
12f コンベアモータ
12g ロータリーエンコーダ
13 X線照射器(X線源)
14 X線ラインセンサ(X線検出部)
14a 画素
15 光電センサ
16 遮蔽ノレン
20 制御コンピュータ
21 CPU
22 ROM
23 RAM
24 USB(外部接続端子)
25 CF(コンパクトフラッシュ:登録商標)
26 モニタ
31a 画像形成部(画像処理部)
31b 分割領域設定部(画像処理部)
31c 検出レベル設定部(画像処理部)
31d 異物判定部(画像処理部)
60 前段コンベア
70 振分機構
70a アーム
80 ラインコンベア
F フィルム
G 商品(容器付きの物品)
Ga 内部領域(分割領域)
Gb 縁領域(分割領域)
Gb1 前方領域(分割領域)
Gb2 後方領域(分割領域)
Gb3 右方領域(分割領域)
Gb4 左方領域(分割領域)
G1 上面
G2 側壁面
G3 底面
θ 角度
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 X-ray inspection apparatus 11 Shield box 11a Opening 12 Conveyor 12a Conveyor belt 12b Conveyor frame 12c Opening part 12f Conveyor motor 12g Rotary encoder 13 X-ray irradiator (X-ray source)
14 X-ray line sensor (X-ray detector)
14a pixel 15 photoelectric sensor 16 shielding nolen 20 control computer 21 CPU
22 ROM
23 RAM
24 USB (external connection terminal)
25 CF (Compact Flash: registered trademark)
26 Monitor 31a Image forming unit (image processing unit)
31b Division area setting unit (image processing unit)
31c Detection level setting unit (image processing unit)
31d Foreign matter determination unit (image processing unit)
60 Pre-stage conveyor 70 Sorting mechanism 70a Arm 80 Line conveyor F Film G Product (article with container)
Ga internal region (divided region)
Gb border area (divided area)
Gb1 front area (divided area)
Gb2 rear area (divided area)
Gb3 right area (divided area)
Gb4 left area (divided area)
G1 Upper surface G2 Side wall surface G3 Bottom surface θ Angle

Claims (5)

搬送中の物品に対してX線を照射し、透過したX線の検出信号に基づいて形成されるX線画像に基づいて前記物品に異物が含まれているか否かの検査を行うX線検査装置であって、
前記物品を所定の方向に搬送する搬送部と、
前記搬送部によって搬送される前記物品に対して斜めにX線を照射するX線源と、
前記物品の搬送方向に略直交する方向に沿って配置されており、前記X線源から照射されたX線を検出するX線検出部と、
前記X線検出部におけるX線の検出量に基づいてX線画像を作成し、前記X線画像を複数の領域に分割して前記分割した領域ごとに検出レベルを設定して異物混入の検査を行う画像処理部とを備え
前記画像処理部は、前記X線画像における、前記物品の搬送方向における前後の縁領域と、前記物品の前記搬送方向に交差する左右の縁領域と、前記物品の前記縁領域を除く内部領域とに分割することを特徴とするX線検査装置。
X-ray inspection that irradiates an article being conveyed with X-rays and inspects whether or not the article contains foreign matter based on an X-ray image formed based on a transmitted X-ray detection signal A device,
A transport unit for transporting the article in a predetermined direction;
An X-ray source that irradiates X-rays obliquely to the article conveyed by the conveying unit;
An X-ray detector that is disposed along a direction substantially perpendicular to the conveying direction of the article and detects X-rays emitted from the X-ray source;
An X-ray image is created based on the detected amount of X-rays in the X-ray detection unit, the X-ray image is divided into a plurality of areas, and a detection level is set for each of the divided areas to inspect for contamination. An image processing unit to perform ,
The image processing unit includes front and rear edge areas in the conveyance direction of the article, left and right edge areas intersecting the conveyance direction of the article, and an internal area excluding the edge area of the article in the X-ray image. X-ray inspection apparatus characterized by being divided into two .
前記画像処理部は、前記前側の縁領域と前記後側の縁領域とについて、それぞれ検出レベルを設定して異物混入の検査を行う、
請求項1記載のX線検査装置。
The image processing unit sets a detection level for each of the front edge region and the rear edge region, and performs a foreign substance inspection;
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記画像処理部は、前記分割した領域のうち、前記前後の縁領域と前記左右の縁領域とは異なった検出レベルを設定して異物混入の検査を行う、
請求項1または2に記載のX線検査装置。
The image processing unit performs a foreign matter inspection by setting different detection levels for the front and rear edge regions and the left and right edge regions among the divided regions.
The X-ray inspection apparatus according to claim 1 or 2 .
前記物品は、容器付きである、
請求項1からのいずれか1項に記載のX線検査装置。
The article has a container,
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3 .
前記物品は、前記搬送方向の幅方向の長さより高さ方向長さが大きい、
請求項1からのいずれか1項に記載のX線検査装置。
The article has a greater length in the height direction than the length in the width direction of the conveying direction,
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4 .
JP2005156615A 2005-05-30 2005-05-30 X-ray inspection equipment Expired - Fee Related JP4585915B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005156615A JP4585915B2 (en) 2005-05-30 2005-05-30 X-ray inspection equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005156615A JP4585915B2 (en) 2005-05-30 2005-05-30 X-ray inspection equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006329906A JP2006329906A (en) 2006-12-07
JP4585915B2 true JP4585915B2 (en) 2010-11-24

Family

ID=37551729

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005156615A Expired - Fee Related JP4585915B2 (en) 2005-05-30 2005-05-30 X-ray inspection equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4585915B2 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101802595B (en) 2007-09-26 2013-09-04 株式会社石田 Examination apparatus
JP5156546B2 (en) * 2008-08-28 2013-03-06 株式会社イシダ X-ray inspection equipment
JP5947674B2 (en) * 2012-08-30 2016-07-06 株式会社イシダ X-ray inspection equipment
JP2016170110A (en) * 2015-03-13 2016-09-23 株式会社イシダ X-ray inspection device
JP6920988B2 (en) * 2015-03-20 2021-08-18 株式会社イシダ Inspection equipment
JP6629776B2 (en) * 2017-02-28 2020-01-15 アンリツインフィビス株式会社 X-ray inspection apparatus and X-ray inspection method
WO2020209313A1 (en) * 2019-04-09 2020-10-15 朝日レントゲン工業株式会社 Image processing device, and image processing method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004028768A (en) * 2002-06-25 2004-01-29 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray foreign matter detection method and x-ray foreign matter detection system
JP2004239753A (en) * 2003-02-06 2004-08-26 Shimadzu Corp X-ray foreign substance inspection apparatus
JP2006317259A (en) * 2005-05-12 2006-11-24 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray foreign matter detector

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004028768A (en) * 2002-06-25 2004-01-29 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray foreign matter detection method and x-ray foreign matter detection system
JP2004239753A (en) * 2003-02-06 2004-08-26 Shimadzu Corp X-ray foreign substance inspection apparatus
JP2006317259A (en) * 2005-05-12 2006-11-24 Anritsu Sanki System Co Ltd X-ray foreign matter detector

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006329906A (en) 2006-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4585907B2 (en) X-ray inspection equipment
JP4585915B2 (en) X-ray inspection equipment
WO2019159440A1 (en) Inspection device
US7593504B2 (en) X-ray inspection apparatus
KR102387529B1 (en) inspection device
JP2009139230A (en) X-ray foreign-material detecting device
JPWO2019235022A1 (en) Inspection equipment
JP2005031069A (en) X-ray inspection apparatus
JP4491602B2 (en) X-ray inspection equipment
JP2009080030A (en) X-ray inspection device
JP4170366B2 (en) X-ray inspection equipment
JP4291123B2 (en) Radiation foreign matter inspection apparatus and radiation foreign matter inspection method
JP2004239753A (en) X-ray foreign substance inspection apparatus
JP2007114092A (en) Inspection system and inspection device
WO2017159856A1 (en) X-ray inspection apparatus
JP2006329822A (en) Electromagnetic wave detector and inspection device therewith
JP3860144B2 (en) X-ray inspection equipment
JP3955559B2 (en) X-ray inspection equipment
JP5336758B2 (en) X-ray inspection equipment
WO2017159855A1 (en) X-ray inspection device
JP2008175691A (en) X-ray inspection apparatus and inspection method
JP2006071423A (en) X-ray inspection device
JP5947674B2 (en) X-ray inspection equipment
JP2009270866A (en) X-ray inspection device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080523

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100601

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100717

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100717

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100810

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100906

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees