JP4553883B2

JP4553883B2 - 光ディスク記録装置、光ディスク記録方法及びプログラム

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Publication number: JP4553883B2
Application number: JP2006289699A
Authority: JP
Inventors: 冬樹宮澤; 博哉垣本; 慎生関口; 勝弘小山
Original assignee: Taiyo Yuden Co Ltd
Current assignee: Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date: 2006-10-25
Filing date: 2006-10-25
Publication date: 2010-09-29
Anticipated expiration: 2026-10-25
Also published as: JP2008108353A

Description

本発明は、光ディスク（光情報記録媒体とも呼ぶ。）に対する記録パワーの最適化技術に関する。

例えば、特開平５−１４４０００号公報には、情報の記録時にピットの形成状態に応じてレ−ザ光の強度を補正できる光情報記録装置が開示されている。具体的には、レ−ザ駆動回路により基準ディジタル信号Ａに対応してレ−ザ光の強度を変化させて情報の記録を行い、記録中における光ディスクからの反射光をフォトディテクタで受光し、光強度に比例した電圧をもつ信号Ｂを出力する。基準ディジタル信号に基づいてタイミングパルス発生回路から発生される、ピット部の後端部に対応するパルス信号Ｃと非ピット部の中央部に対応するパルス信号Ｄにより、信号ＢをＲＦアンプで増幅して得られた信号Ｂ’の電圧を、サンプルホ−ルド回路に保持させ、これらの電圧の差が常に基準値と一致するようにレ−ザダイオ−ドへの通電電流を制御する。本公報記載の技術では、データ記録中に記録パワーを調整するが、試し書き領域を用いた記録パワー最適化処理におけるデータは用いられていない。

また、特開２００１−３５１２４２号公報には、１枚の光ディスクの記録を行う際の記録層の変化やレーザ光の波長の変化等の状況の変化に対応して常に適正な記録状態が得られるようにするための技術が開示されている。具体的には、記録信号の品位を評価するパラメータであるアシンメトリは、ピットの記録深さによって変化する。一方、ピットの記録深さは記録用レーザ光照射開始当初の反射光パワーのピーク値ＨＳとその後の安定値ＨＬとの比ＨＬ／ＨＳに対応している。そして、ＨＬ／ＨＳは記録パワーによって変化する。そこで、光ディスクの記録時にＨＳとＨＬを検出し、これが試し書きに基づき比設定手段で設定した値に一致するように比較手段から記録パワー指令値を出力してＡＬＰＣ回路を介して光ヘッド内のレーザダイオードの出力パワーを制御する。本公報記載の技術では、アシンメトリについて触れているが、ＨＬ／ＨＳだけではアシンメトリ変動に適切に対応できない。
特開平５−１４４０００号公報特開２００１−３５１２４２号公報

上で述べた従来技術では、ＷＲＦ信号のピット形成部分又はスペース形成部分の信号振幅のみを検出しているため、記録時の変調（又は周知の評価指標であるβ）レベルの検出しかできない。検出された変調（又はβ）はディスク（メディアとも呼ぶ）や記録速度、記録パルス設定により変化するため、記録条件毎に補正係数が必要であったり、ディスク面内で記録速度が変動するＣＡＶ（Constant angular velocity：角速度一定）記録に向かないという問題点がある。

また、ＢＤ（Blu-ray Disc）やＨＤ（High Definition）−ＤＶＤといった規格のディスクではＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）処理を行うため、アシンメトリ（Asymmetry）の変動が記録特性に影響する。しかし、従来技術のような変調（又はβ）検出ではアシンメトリ変動を補正しきれないといった問題点も存在する。

従って、本発明の目的は、ディスク面内においてアシンメトリが一定となるように記録パワーの適応的制御を可能とするための新規な技術を提供することである。

また、本発明の他の目的は、ＣＡＶを採用する場合においてもディスク面内においてアシンメトリが一定となるように記録パワーの適応的制御を可能とするための新規な技術を提供することである。

本発明の第１の態様に係る光ディスク記録装置は、最適なアシンメトリ値に対応する最適な記録パワーを特定するために複数の記録パワーで所定のパターンをディスクに記録する間に、上記所定のパターンに基づいて特定されるタイミングでディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を各記録パワーについて検出する検出手段と、各記録パワーについて、検出手段によって検出された受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出手段と、最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに対してデータ記録を行っている間に、指標値算出手段によって算出された指標値に基づく記録パワーの補正を行うパワー補正手段とを有する。そして、上記検出手段は、最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに対してデータ記録を行っている間に、データ記録における記録パターンから特定されるタイミングでディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する。また、上記指標値算出手段は、最適な記録パワーとされる記録パワーでのデータ記録中における受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を現在指標値として算出する。さらに、上記パワー補正手段は、最適な記録パワーに対応する、特定の評価指標の評価値である最適指標値を基準として、現在指標値に応じて記録パワーの補正を行うものである。

このように所定のパターンに基づいて特定されるタイミングやデータ記録における記録パターンから特定されるタイミングで受光信号の値を検出するため、ピット及びスペースの形成パターンからアシンメトリを一定に保持するために必要なポイントで受光信号の値を検出し、特定指標の指標値を算出して記録パワー制御を行うことができるようになる。また、試し書き実施時において算出された特定の指標の指標値に基づいてデータ記録中に適応的な記録パワー制御が行われるので、ディスクの内周であっても外周であってもＣＡＶであっても容易に対処できるようになる。

例えば上記タイミングは、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第２の部分とを含む場合もある。例えば、ＢＤやＨＤ−ＤＶＤ用のディスクへの書き込みにおいて、ピット形成時のレーザ照射時間が長いほどレーザ照射終了時における反射光強度に対応する受光信号の変動量が大きくなるという性質があり、当該変動量がアシンメトリに大きく影響するため、上記のようなポイント（すなわち部分）に着目するものである。

このような場合には、上で述べた特定の評価指標を、スペース形成時の定常レベルと第２の部分におけるレベルとの中間からの、第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表すものとする場合もある。このような偏り度合いがアシンメトリとの相関が高いためである。

さらに、本発明の第１の態様において、各記録パワーについての上記指標値に基づき、記録パワーと上記指標値との関係（例えば直線近似できれば比例係数）を抽出する手段をさらに有するようにしてもよい。その際、パワー補正手段は、記録パワーと上記指標値との関係と、最適指標値からの、現在指標値の乖離とに基づき、補正後の記録パワーを決定するようにしてもよい。このようにすれば、記録パワーを適正量補正することができるようになる。

また、本発明の第１の態様において、最適なアシンメトリ値に対応する最適な記録パワーから、上記最適指標値を特定する手段をさらに含むようにしてもよい。最適指標値は、特定の評価指標によって、最適な記録パワーから特定される場合と、ある固定値となる場合とがある。

さらに、上記特定の評価指標が、複数の評価指標のうち記録パワーの影響を最も受けやすい評価指標である場合もある。記録パワーに対する感度が高ければ、調整がしやすいためである。

また、上で述べたタイミングが、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分である第２の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第３の部分とを含む場合もある。アシンメトリとの関係からこのようなポイントが特定される。

そして、上で述べた特定の評価指標を、スペース形成時の定常レベルと第３の部分におけるレベルとの中間からの、第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、スペース形成時の定常レベルと第３の部分におけるレベルとの中間からの、第２の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、第１の部分におけるレベルと第２の部分におけるレベルの比を表す第３の指標とのうち記録パワーの影響を最も受けやすい指標とする場合もある。

さらに、上で述べた特定の評価指標を、スペース形成時の定常レベルと第３の部分におけるレベルとの中間からの、第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、スペース形成時の定常レベルと第３の部分におけるレベルとの中間からの、第２の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、第１の部分におけるレベルと第２の部分におけるレベルの比を表す第３の指標とを統合した指標とする場合もある。

特定の評価指標については様々な変形が可能であるが、アシンメトリとの関係から上記３つの指標は有用である。

また、上で述べた特定の評価指標は、予め定められた複数の評価指標の、各々の目標値からの乖離の大きさを合計した値に関連する評価指標である場合もある。このようにすれば、複数の評価指標を目標に近づけるように記録パワーが補正されるようになり、結果としてアシンメトリ値を最適に近づけることができるようになる。

さらに、特定の評価指標の最適評価値に対する許容範囲に関するデータを、ディスク又は記録装置のメモリに格納しておいてもよい。そして、その際には、パワー補正手段が、現在評価値が許容範囲外となった場合に、パワーの補正を実施するようにしてもよい。頻繁な記録パワーの補正は好ましくない場合があるためである。

本発明の第２の態様に係る光ディスク記録方法は、最適なアシンメトリ値に対応する最適な記録パワーを特定するために複数の記録パワーで所定のパターンをディスクに記録する間に、所定のパターンに基づいて特定されるタイミングで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を各前記記録パワーについて検出する検出ステップと、各記録パワーについて、検出ステップにおいて検出された受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに対してデータ記録を行っている間に、データ記録における記録パターンから特定されるタイミングでディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出するステップと、最適な記録パワーとされる記録パワーでのデータ記録中における受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を現在指標値として算出するステップと、最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに対してデータ記録を行っている間に、最適な記録パワーに対応する特定の評価指標の評価値である最適指標値と現在指標値とを用いて、指標値算出ステップにおいて算出された指標値に基づく記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、を含む。

また、本発明の第３の態様に係る光ディスク記録装置のためのプログラムは、最適なアシンメトリ値に対応する最適な記録パワーを特定するために複数の記録パワーで所定のパターンをディスクに記録する間に、所定のパターンに基づいて特定されるタイミングでディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を各記録パワーについて検出した場合、各前記記録パワーについて、検出された前記受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに対してデータ記録を行っている間に、データ記録における記録パターンから特定されるタイミングでディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出した場合、最適な記録パワーとされる記録パワーでのデータ記録中における受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を現在指標値として算出するステップと、最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに対してデータ記録を行っている間に、最適な記録パワーに対応する特定の評価指標の評価値である最適指標値と現在指標値とを用いて、指標値算出ステップにおいて算出された指標値に基づく記録パワーの補正を行うパワー補正ステップとをプロセッサに実行させるものである

なお、上記プログラムは、例えばフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭなどの光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、ハードディスク等の記憶媒体又は記憶装置、メモリを有する中央演算装置に格納される。また、ネットワークなどを介してデジタル信号として配信される場合もある。尚、中間的な処理結果は各種装置のワークメモリ領域などに一時保管される。

本発明によれば、ディスク面内においてアシンメトリが一定となるように記録パワーの適応的制御が可能となる。

また、本発明の他の側面によれば、ＣＡＶを採用する場合においてもディスク面内においてアシンメトリが一定となるように記録パワーの適応的制御が可能となる。

本発明の実施の形態におけるドライブ・システムの機能ブロック図を図１を用いて説明する。本発明の実施の形態に係るドライブ・システムは、光ディスク記録再生装置１００と、テレビ受像器などの表示部１３１とリモートコントローラなどの操作部１３２とを含む入出力システム１３０とを含む。

光ディスク記録再生装置１００は、処理途中のデータ、処理結果のデータ、処理における参照データ（例えば各メディアＩＤに対応するストラテジデータ）などを格納するメモリ１２７と、以下で説明する処理を行わせるためのプログラムが記録されるメモリ回路１２５４を含むＣＰＵ（中央演算装置：Central Processing Unit）１２５と、入出力システム１３０とのインターフェースであるインターフェース部（Ｉ／Ｆ）１２８と、再生信号であるＲＦ信号及びＷＲＦ信号の所定タイミングの値等を検出する特性値検出部１２４と、再生信号であるＲＦ信号から例えば２Ｔ乃至１１Ｔ符号のいずれが読み出されたかを復号するための処理などを行うスライサ１２２及びデータ復調回路１２３と、ピックアップ部１１０と、レーザ・ダイオード（ＬＤ）ドライバ１２１と、図示しないディスク１５０の回転制御部及びモータ並びにピックアップ部１１０用のサーボ制御部等を含む。

また、ピックアップ部１１０は、対物レンズ１１４と、ビームスプリッタ１１６と、検出レンズ１１５と、コリメートレンズ１１３と、レーザ・ダイオード（ＬＤ）１１１と、フォトディテクタ（ＰＤ）１１２とを含む。ピックアップ部１１０では、図示しないサーボ制御部の制御に応じて図示しないアクチュエータが動作し、フォーカス及びトラッキングが行われる。

ＣＰＵ１２５は、メモリ１２７、特性値検出部１２４、Ｉ／Ｆ１２８、ＬＤドライバ１２１、図示しない回転制御部及びサーボ制御部などに接続されている。また、ＣＰＵ１２５は、メモリ回路１２５４に格納されているプログラムを実行することによって、検出値演算部１２５１、最適化判断部１２５２及びパワー制御部１２５３として機能するようになっている。さらに、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２、ＣＰＵ１２５などに接続されている。ＬＤドライバ１２１は、ＣＰＵ１２５及びＬＤ１１１に接続されている。ＣＰＵ１２５は、Ｉ／Ｆ１２８を介して入出力システム１３０にも接続されている。

次に、ディスク１５０に対してデータを記録する場合における処理の概要を説明する。まず、ＣＰＵ１２５又は別途設けられているデータ変調回路（図示せず）は、ディスク１５０に書き込むためのデータに対して変調処理などを実施し、変調処理後のデータをＬＤドライバ１２１に出力する。ＬＤドライバ１２１は、指定の記録条件に従って、受信したデータでＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介してディスク１５０に照射され、ディスク１５０にスペースとピットを形成する。

また、ディスク１５０に記録されたデータを再生する場合における処理の概要を説明する。ＣＰＵ１２５からの指示に従ってＬＤドライバ１２１は、ＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介してディスク１５０に照射される。ディスク１５０からの反射光は、対物レンズ１１４、ビームスプリッタ１１６、検出レンズ１１５を介してＰＤ１１２に入力される。ＰＤ１１２は、ディスク１５０からの反射光を電気信号に変換し、特性値検出部１２４及びスライサ１２２等に出力する。スライサ１２２及びデータ復調回路１２３等は、出力された再生信号に対して所定の復号処理を行い、復号されたデータをＣＰＵ１２５及びＩ／Ｆ１２８を介して、入出力システム１３０の表示部１３１に出力して、再生データを表示させる。特性値検出部１２４は、通常の再生では用いられない。

［実施の形態１］
次に、図２乃至図７を用いて、第１の実施の形態における光ディスク記録再生装置１００の動作について説明する。まず、光ディスク記録再生装置１００は、ユーザによるディスク１５０の挿入を受け付ける（ステップＳ１）。そして、ＣＰＵ１２５は、所定の領域に書き込まれているメディアＩＤのデータを、ＰＤ１１２、スライサ１２２及びデータ復調回路１２３を介して読み出し（ステップＳ３）、ＣＰＵ１２５は、例えばメモリ１２７に当該メディアＩＤに対応して格納されているストラテジのデータなどを読み出す（ステップＳ５）。ディスク１５０に、以下で説明する評価指標であるシンメトリズレ値の許容範囲に関するデータが記録されている場合には、当該許容範囲に関するデータをも読み出す。

さらに、ＣＰＵ１２５は、読み出したストラテジのデータに従って、ディスク１５０の試し書きの領域に、所定のピット及びスペースのパターンを形成するように書き込みを実施させる。なお、最適記録パワーを特定するために、所定のピット及びスペースのパターンについては、ＬＤドライバ１２１に異なる記録パワーを設定して所定回数書き込むようにする。同時に、ＰＤ１１２は、各記録パワーで書き込んでいる間におけるディスク１５０からの反射光を検出して対応するＷＲＦ信号を特性値検出部１２４に出力する。特性値検出部１２４は、図３に示すようなタイミングで、評価指標であるシンメトリズレ値を算出するのに必要な値を検出する。

図３は、８Ｔ、４Ｔ、２Ｔ及び７Ｔのピットを形成する際における（ａ）ＬＤ１１１から出力されるレーザ光のパルス出力波形、（ｂ）サンプリングのタイミングを指示するサンプリング信号、（ｃ）記録中の反射光をＰＤ１１２によって検出した結果であるＷＲＦ信号、及び（ｄ）形成されるピット及びスペースの一例を示す。

本実施の形態における評価指標であるシンメトリズレ値は、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔ（電圧値。以下同じ。）と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した直後のレベルｗＰ８Ｔとの中間からの、最も短いピットを書き込んだ直後のレベルｗＰ８Ｔの偏り度合いを表すものである。より具体的には、シンメトリズレ値γ＝｛（ｗＬ８Ｔ＋ｗＰ８Ｔ）／２−ｗＰ２Ｔ｝／（ｗＬ８Ｔ−ｗＰ８Ｔ）となる。すなわち、（ｗＬ８Ｔ−ｗＰ８Ｔ）で正規化している。この評価指標は、アシンメトリ値との相関が高いことが分かっている。

なお、ＢＤやＨＤ−ＤＶＤの場合には、ＲＦ信号が飽和するピット長は６Ｔ以上であり、図３の例では、８Ｔ及び７Ｔは、ＲＦ信号が飽和するピット長となる。また、最も短いピットは、ＢＤやＨＤ−ＤＶＤの場合には、２Ｔのピットである。従って、図３（ｂ）のように、８Ｔのピットを形成するＬＤ出力信号直後、２Ｔのピットを形成するＬＤ出力信号直後、７Ｔを形成するＬＤ出力信号直後にサンプリング信号がオンになる。サンプリング信号は、ＣＰＵ１２５自ら又はＣＰＵ１２５からの指示に応じて動作する回路によって生成される。なお、ＷＲＦ信号には、図３（ｃ）に示すように、ピット形成のためのＬＤ出力信号直後にスパイクが現れるが、このスパイクの溝の深さは、形成すべきピット長に応じて変化し、２Ｔのピット形成のためのＬＤ出力信号直後（タイミングＡ）のレベルをｗＰ２Ｔとして特定し、６Ｔ以上のピット形成のためのＬＤ出力信号直後（タイミングＢ及びＣ）のレベルをｗＰ８Ｔとして特定する。また、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔが必要となるので、定常状態になった所定のタイミング、すなわちＬＤ出力信号がスペース形成レベルになってからΔｔ後に、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔを検出するためにサンプリング信号をオン（タイミングＤ及びＥ）にして検出する。

ｗＰ２Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔも、特定の記録パワーにおいて何回か検出されるが、値が変化する場合もあるので平均値を算出して、当該平均値でシンメトリズレ値を算出するようにしても良い。

なお、図３（ｄ）に示すように、ピットは、ＬＤ出力信号から多少ずれた形で形成される。

このようにして特性値検出部１２４は、各記録パワーについて、ｗＰ２Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔを検出する。

ＣＰＵ１２５の検出値演算部１２５１は、特性値検出部１２４からｗＰ２Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔの値を受け取り、各記録パワーについてシンメトリズレ値γを算出し、例えばメモリ１２７等に記憶する（ステップＳ７）。

また、試し書き領域に対する書き込みが終了すると、ＣＰＵ１２５は、試し書きの結果を再生するためにＬＤドライバ１２１に再生パワーを設定する処理などを行う。ＰＤ１１２は、ディスク１５０からの反射光を検出してＲＦ信号を特性値検出部１２４に出力する。特性値検出部１２４は、アシンメトリ値を算出するために必要な値を検出し、ＣＰＵ１２５に出力する。ＣＰＵ１２５の検出値演算部１２５１は、特性値検出部１２４からの検出値から記録パワー毎にアシンメトリ値を算出し、例えばメモリ１２７に格納する（ステップＳ９）。

アシンメトリ値は、周知であるが、図４に示すようなＲＦ信号において、Ｉ１４Ｌ、Ｉ３Ｌ、Ｉ３Ｈ及びＩ１４Ｈの値を検出して、｛（Ｉ１４Ｈ＋Ｉ１４Ｌ）−（Ｉ３Ｈ＋Ｉ３Ｌ）｝／｛２×（Ｉ１４Ｈ−Ｉ１４Ｌ）｝によって算出される。

次に、最適化判断部１２５２は、アシンメトリ値が最適となる記録パワーを特定する（ステップＳ１１）。予め定められている最適アシンメトリ値に最も近いアシンメトリ値を最適として、対応する記録パワーを特定する。同様に、最適記録パワーに対応するシンメトリズレ値γも特定する。

さらに、パワー制御部１２５３は、メモリ１２７に格納されているシンメトリズレ値と対応する記録パワーの値とから回帰計算を実施し、シンメトリズレ値−記録パワーの比例係数を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ１３）。図５に示すように、記録パワーとシンメトリズレ値との関係を直線ａで近似して、直線ａの式γ＝αｘ＋β（ｘ：記録パワー）の比例係数αを算出する。なお、図５において、最適パワーｘ’とシンメトリズレ値γ’もステップＳ１１で特定される。

その後、ＣＰＵ１２５のパワー制御部１２５３は、最適記録パワーをＬＤドライバ１２１にセットして、データ記録を実施させる（ステップＳ１５）。このデータ記録における処理については図６及び図７を用いて説明する。

まず、データ記録を通常どおり最適記録パワーとされる記録パワーで実施している間に、ステップＳ７と同様に、現在のシンメトリズレ値γを算出する（ステップＳ２１）。ＣＰＵ１２５では、どのようなピット及びスペースを構成するのか分かるので、サンプリング信号を適切なタイミングで出力することができる。例えば、所定期間毎に、何回かサンプリングした値を平均して、シンメトリズレ値γを算出する。シンメトリズレ値γを計算できるだけのデータを取得する毎に計算しても良い。

そして、最適化判断部１２５２は、現在のシンメトリズレ値γが、例えばディスク１５０又はメモリ１２７に予め記録されているシンメトリズレ値の許容範囲に関するデータとステップＳ１１で特定された最適シンメトリズレ値とから特定される許容範囲に入っているか判断する（ステップＳ２３）。例えば、シンメトリズレ値の許容範囲に関するデータは、最適シンメトリズレ値からプラスマイナスｘ％という割合を示すデータであってもよいし、プラスマイナスｙといった値を示すデータであってもよい。

例えば、図７（ａ）が、最適シンメトリズレ値が算出された状態とすると、例えばデータ記録中アンダーパワーとなれば、図７（ｂ）に示すような状態となる。すなわち、ｗＰ２Ｔの値が、ｗＬ８ＴとｗＰ８Ｔの中間より上に上昇する状態となる。一方、データ記録中オーバーパワーとなれば、図７（ｃ）に示すような状態となる。すなわち、ｗＰ２Ｔの値が、ｗＬ８ＴとｗＰ８Ｔの中間より下に下降するような状態となる。いずれの場合も、アシンメトリ値に影響し、所定範囲以上変動すれば調整が必要となる。

現在のシンメトリズレ値γが、許容範囲に入っていると判断された場合にはステップＳ２１に戻る。一方、現在のシンメトリズレ値γが、許容範囲外である場合には、パワー制御部１２５３は、ステップＳ１３で算出された比例係数αを用いて、記録パワーを補正する（ステップＳ２５）。具体的には、現在の記録パワーをＰと表し、Δシンメトリズレ値＝（現在のシンメトリズレ値−最適シンメトリズレ値）とすると、補正後の記録パワーＰ’は、以下のように表される。
Ｐ’＝Ｐ−Δシンメトリズレ値／α

以上のような処理をデータ記録終了まで繰り返す（ステップＳ２７）。すなわち、データ記録が終了しなければステップＳ２１に戻り、データ記録が終了すれば、元の処理に戻る。

このような処理を実施すれば、メディアの面内の感度ばらつきや記録時の環境変化による外乱を吸収し、良好な記録特性を実現できるようになる。

また今回は、メディア特性がHigh-to-Low（記録後にPD上に戻る光量が低下する）の場合で実施例を示したが、Low-to-High（記録後にPD上に戻る光量が増加する）の場合でも良好な記録特性を実現できるようになる。

［実施の形態２］
次に、図８を用いて、第２の実施の形態における光ディスク記録再生装置１００の動作について説明する。まず、光ディスク記録再生装置１００は、ユーザによるディスク１５０の挿入を受け付ける（ステップＳ３１）。そして、ＣＰＵ１２５は、所定の領域に書き込まれているメディアＩＤのデータを、ＰＤ１１２、スライサ１２２及びデータ復調回路１２３を介して読み出し（ステップＳ３３）、ＣＰＵ１２５は、例えばメモリ１２７に当該メディアＩＤに対応して格納されているストラテジのデータなどを読み出す（ステップＳ３５）。ディスク１５０に、以下で説明する評価指標であるシンメトリズレ値の許容範囲に関するデータが記録されている場合には、当該許容範囲に関するデータをも読み出す。

さらに、ＣＰＵ１２５は、読み出したストラテジのデータに従って、ディスク１５０の試し書きの領域に、所定のピット及びスペースのパターンを形成するように書き込みを実施させる。なお、最適記録パワーを特定するために、所定のピット及びスペースのパターンについては、ＬＤドライバ１２１に異なる記録パワーを設定して所定回数書き込むようにする。同時に、ＰＤ１１２は、各記録パワーで書き込んでいる間におけるディスク１５０からの反射光を検出して対応するＷＲＦ信号を特性値検出部１２４に出力する。特性値検出部１２４は、図９に示すようなタイミングで、評価指標であるシンメトリズレ値を算出するのに必要な値を検出する。

図９は、８Ｔ、３Ｔ、２Ｔ及び７Ｔのピットを形成する際における（ａ）ＬＤ１１１から出力されるレーザ光のパルス出力波形、（ｂ）サンプリングのタイミングを指示するサンプリング信号、（ｃ）記録中の反射光をＰＤ１１２によって検出した結果であるＷＲＦ信号、及び（ｄ）形成されるピットの一例を示す。

本実施の形態における評価指標である第１のシンメトリズレ値γ₁は、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔと、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した直後のレベルｗＰ８Ｔとの中間からの、最も短いピットを書き込んだ直後のレベルｗＰ２Ｔの偏り度合いを表すものである。より具体的には、シンメトリズレ値γ₁＝｛（ｗＬ８Ｔ＋ｗＰ８Ｔ）／２−ｗＰ２Ｔ｝／（ｗＬ８Ｔ−ｗＰ８Ｔ）となる。すなわち、（ｗＬ８Ｔ−ｗＰ８Ｔ）で正規化している。この評価指標は、アシンメトリ値との相関が高いことが分かっている。

また、本実施の形態における評価指標である第２のシンメトリズレ値γ₂は、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔと、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した直後のレベルｗＰ８Ｔとの中間からの、２番目に短いピットを書き込んだ直後のレベルｗＰ３Ｔの偏り度合いを表すものである。より具体的には、シンメトリズレ値γ₂＝｛（ｗＬ８Ｔ＋ｗＰ８Ｔ）／２−ｗＰ３Ｔ｝／（ｗＬ８Ｔ−ｗＰ８Ｔ）となる。すなわち、（ｗＬ８Ｔ−ｗＰ８Ｔ）で正規化している。この評価指標も、アシンメトリ値との相関が高いことが分かっている。

さらに、本発明の形態における評価指標である第３のシンメトリズレ値γ₃は、最も短いピットを書き込んだ直後のレベルｗＰ２Ｔと２番目に短いピットを書き込んだ直後のレベルｗＰ３Ｔとの比である。具体的には、シンメトリズレ値γ₃＝ｗＰ２Ｔ／ｗＰ３Ｔとなる。この評価指標も、アシンメトリ値との相関が高いことが分かっている。

上でも述べたが、ＢＤやＨＤ−ＤＶＤの場合には、ＲＦ信号が飽和するピット長は６Ｔ以上であり、８Ｔ及び７Ｔは、ＲＦ信号が飽和するピット長となる。また、最も短いピットは、ＢＤやＨＤ−ＤＶＤの場合には、２Ｔのピットである。２番目に短いピットは、３Ｔのピットである。従って、図９（ｂ）のように、８Ｔのピットを形成するＬＤ出力信号直後、３Ｔのピットを形成するＬＤ出力信号直後、２Ｔのピットを形成するＬＤ出力信号直後、７Ｔを形成するＬＤ出力信号直後にサンプリング信号がオンになる。サンプリング信号は、ＣＰＵ１２５自ら又はＣＰＵ１２５からの指示に応じて動作する回路によって生成される。そして図９（ｃ）に示すように、２Ｔのピット形成のためのＬＤ出力信号直後（タイミングＢ２）のレベルをｗＰ２Ｔとして特定し、３Ｔのピット形成のためのＬＤ出力信号直後（タイミングＤ２）のレベルをｗＰ３Ｔとして特定し、６Ｔ以上のピット形成のためのＬＤ出力信号直後（タイミングＡ２及びＣ２）のレベルをｗＰ８Ｔとして特定する。また、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔが必要となるので、定常状態になった所定のタイミング、すなわちＬＤ出力信号がスペース形成レベルになってからΔｔ後に、スペース形成時の定常レベルｗＬ８Ｔを検出するためにサンプリング信号をオン（タイミングＥ２、Ｆ２及びＧ２）にして検出する。

ｗＰ２Ｔ、ｗＰ３Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔも、特定の記録パワーにおいて何回か検出されるが、値が変化する場合もあるので平均値を算出して、当該平均値でシンメトリズレ値を算出するようにしても良い。

なお、図９（ｄ）に示すように、ピットは、ＬＤ出力信号から多少ずれた形で形成される。

このようにして特性値検出部１２４は、各記録パワーについて、ｗＰ２Ｔ、ｗＰ３Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔを検出する。

ＣＰＵ１２５の検出値演算部１２５１は、特性値検出部１２４からｗＰ２Ｔ、ｗＰ３Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔの値を受け取り、各記録パワーについて第１乃至第３のシンメトリズレ値を算出し、例えばメモリ１２７等に記憶する（ステップＳ３７）。

そして、検出値演算部１２５１は、各シンメトリズレ値について、最小記録パワーの際の値と最大記録パワーの際の値の差などから、変化割合の最も高いシンメトリズレ値を特定する（ステップＳ３９）。例えば図１０に示すように、シンメトリズレ値γ₁と記録パワーとの関係を表す直線ｂ、シンメトリズレ値γ₂と記録パワーとの関係を表す直線ｃ、シンメトリズレ値γ₃と記録パワーとの関係を表す直線ｄとが得られた場合には、直線ｂが最も変化割合が大きく、シンメトリズレ値γ₁が選択される。なお、本ステップにおいて、回帰計算を実施してしまい、直線ｂを表す式γ₁＝α₁ｘ＋β₁、直線ｃを表す式γ₂＝α₂ｘ＋β₂、直線ｃを表す式γ₃＝α₃ｘ＋β₃を算出し、α₁、α₂、α₃のうち最も値が大きいシンメトリズレを特定するようにしてもよい。

さらに、試し書き領域に対する書き込みが終了すると、ＣＰＵ１２５は、試し書きの結果を再生するためにＬＤドライバ１２１に再生パワーを設定する処理などを行う。ＰＤ１１２は、ディスク１５０からの反射光を検出してＲＦ信号を特性値検出部１２４に出力する。特性値検出部１２４は、アシンメトリ値を算出するために必要な値を検出し、ＣＰＵ１２５に出力する。ＣＰＵ１２５の検出値演算部１２５１は、特性値検出部１２４からの検出値から記録パワー毎にアシンメトリ値を算出し、例えばメモリ１２７に格納する（ステップＳ４１）。

次に、最適化判断部１２５２は、アシンメトリ値が最適となる記録パワーを特定する（ステップＳ４３）。予め定められている最適アシンメトリ値に最も近いアシンメトリ値を最適として、対応する記録パワーを特定する。同様に、ステップＳ３９で特定されたシンメトリズレ値（図１０の例ではγ₁）についても、最適記録パワーに対応する最適値（図１０の例ではγ’₁）も特定する。

さらに、パワー制御部１２５３は、メモリ１２７に格納されており且つステップＳ３９で特定されたシンメトリズレ値と対応する記録パワーの値とから回帰計算を実施し、上記シンメトリズレ値−記録パワーの比例係数を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ４５）。図１０に示したような直線を、ステップＳ３９で特定されたシンメトリズレ値について特定する。なお、ステップＳ３９で回帰計算を実施している場合には本ステップはスキップされる。

その後、ＣＰＵ１２５のパワー制御部１２５３は、最適記録パワーをＬＤドライバ１２１にセットして、データ記録を実施させる（ステップＳ４７）。このデータ記録における処理については図６と同様である。但し、ステップＳ３９で特定されたシンメトリズレ値のみを算出すればよく、それに必要な値のみをＷＲＦ信号から検出すればよい。

このような処理を実施すれば、メディアの面内の感度ばらつきや記録時の環境変化による外乱を吸収し、良好な記録特性を実現できるようになる。特に、より多くの評価指標から、最も記録パワーに影響を受けるシンメトリズレ値を用いて記録パワーの適応的制御を実施するので、アシンメトリ値変動を早期に対処できるようになる。

［実施の形態３］
次に、図１１を用いて、第３の実施の形態における光ディスク記録再生装置１００の動作について説明する。まず、光ディスク記録再生装置１００は、ユーザによるディスク１５０の挿入を受け付ける（ステップＳ５１）。そして、ＣＰＵ１２５は、所定の領域に書き込まれているメディアＩＤのデータを、ＰＤ１１２、スライサ１２２及びデータ復調回路１２３を介して読み出し（ステップＳ５３）、ＣＰＵ１２５は、例えばメモリ１２７に当該メディアＩＤに対応して格納されているストラテジのデータなどを読み出す（ステップＳ５５）。ディスク１５０に、以下で説明する評価指標であるシンメトリズレ値の標準偏差σの閾値に関するデータが記録されている場合には、当該閾値に関するデータをも読み出す。

さらに、ＣＰＵ１２５は、読み出したストラテジのデータに従って、ディスク１５０の試し書きの領域に、所定のピット及びスペースのパターンを形成するように書き込みを実施させる。なお、最適記録パワーを特定するために、所定のピット及びスペースのパターンについては、ＬＤドライバ１２１に異なる記録パワーを設定して所定回数書き込むようにする。同時に、ＰＤ１１２は、各記録パワーで書き込んでいる間におけるディスク１５０からの反射光を検出して対応するＷＲＦ信号を特性値検出部１２４に出力する。特性値検出部１２４は、図９に示すようなタイミングで、シンメトリズレ値を算出するのに必要な値を検出する。すなわち、特性値検出部１２４は、各記録パワーについて、ｗＰ２Ｔ、ｗＰ３Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔを検出する。

ＣＰＵ１２５の検出値演算部１２５１は、特性値検出部１２４からｗＰ２Ｔ、ｗＰ３Ｔ、ｗＰ８Ｔ、ｗＬ８Ｔの値を受け取り、各記録パワーについて第１乃至第３のシンメトリズレ値を算出し、例えばメモリ１２７等に記憶する（ステップＳ５７）。第１乃至第３のシンメトリズレ値の定義は、第２の実施の形態と同じである。

また、試し書き領域に対する書き込みが終了すると、ＣＰＵ１２５は、試し書きの結果を再生するためにＬＤドライバ１２１に再生パワーを設定する処理などを行う。ＰＤ１１２は、ディスク１５０からの反射光を検出してＲＦ信号を特性値検出部１２４に出力する。特性値検出部１２４は、アシンメトリ値を算出するために必要な値を検出し、ＣＰＵ１２５に出力する。ＣＰＵ１２５の検出値演算部１２５１は、特性値検出部１２４からの検出値から記録パワー毎にアシンメトリ値を算出し、例えばメモリ１２７に格納する（ステップＳ５９）。

次に、最適化判断部１２５２は、アシンメトリ値が最適となる記録パワーを特定する（ステップＳ６１）。予め定められている最適アシンメトリ値に最も近いアシンメトリ値を最適として、対応する記録パワーを特定する。

また、検出値演算部１２５１は、各記録パワーについてシンメトリズレ値の標準偏差σを算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ６３）。この際、検出値演算部１２５１は、最適記録パワーにおける各シンメトリズレ値を特定する。ここでは、第１のシンメトリズレ値γ₁の最適値をγ’₁とし、第２のシンメトリズレ値γ₂の最適値をγ’₂とし、第３のシンメトリズレ値γ₃の最適値をγ’₃とする。そして、シンメトリズレ値の標準偏差σは、以下のとおりである。

なお、標準偏差σは、各記録パワーについて算出され、最適記録パワーにおける標準偏差σは０となる。

そうすると、図１２に示すようなグラフを描くことができる。最適記録パワーにおける標準偏差σは０となり、標準偏差σの定義から負の値はないので、図１２に示すように、Ｖの字型の線ｅを描くことができる。

さらに、パワー制御部１２５３は、メモリ１２７に格納されている標準偏差σの値と対応する記録パワーの値とから回帰計算を実施し、標準偏差σ−記録パワーの比例係数を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ６５）。基本的には、最適記録パワー以上の記録パワーの場合の比例係数α₁と、最適記録パワー以下の記録パワーの場合の比例係数α₂と分けて回帰計算を行う。簡易的には、例えば最適記録パワー以上の記録パワーの場合の比例係数α₁を用いて、最適記録パワー以下の記録パワーの場合の比例係数を−α₁にしてもよい。α₂を算出して、α₁を−α₂としてもよい。

その後、ＣＰＵ１２５のパワー制御部１２５３は、最適記録パワーをＬＤドライバ１２１にセットして、データ記録を実施させる（ステップＳ６７）。このデータ記録における処理については図１３を用いて説明する。

まず、データ記録を通常どおり最適記録パワーとされる記録パワーで実施している間に、ステップＳ５７と同様に、現在の第１乃至第３のシンメトリズレ値を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ７１）。ＣＰＵ１２５では、どのようなピット及びスペースを構成するのか分かるので、サンプリング信号を適切なタイミングで出力することができる。例えば、所定期間毎に、何回かサンプリングした値を平均して、各シンメトリズレ値を算出する。各シンメトリズレ値を計算できるだけのデータを取得する毎に計算しても良い。

また、検出値演算部１２５１は、現在の第１乃至第３のシンメトリズレ値から現在の標準偏差σを算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ７３）。

そして、最適化判断部１２５２は、現在の標準偏差σが、例えばディスク１５０又はメモリ１２７に予め記録されている標準偏差σの閾値以下であるか判断する（ステップＳ７５）。標準偏差σの定義からすると、σは０以上なので、正の値の閾値が設定される。

現在の標準偏差σが、閾値以下であると判断された場合にはステップＳ７１に戻る。一方、現在の標準偏差σが、閾値を超える場合には、パワー制御部１２５３は、ステップＳ６５で算出された比例係数α₁又はα₂を用いて、記録パワーを補正する（ステップＳ７７）。具体的には、γ₁−γ’₁の符号が正であればα₁を用い、負であればα₂を用いる。γ₂−γ’₂の符号に基づくようにしても良い。そして、現在の記録パワーはＰと表し、Δ標準偏差＝（現在の標準偏差−標準偏差σの最適値）とすると、補正後の記録パワ−Ｐ’は、以下のように表される。
Ｐ’＝Ｐ−Δ標準偏差／α
但し、αは、α₁又はα₂である。

以上のような処理をデータ記録終了まで繰り返す（ステップＳ７９）。すなわち、データ記録が終了しなければステップＳ７１に戻り、データ記録が終了すれば、元の処理に戻る。

以上のように、第１乃至第３のシンメトリズレ値を統合した評価指標を用いても、それらを最適化するように記録パワーを適応的に制御することによって、シンメトリ値を適切な値に近づけることができるようになる。

以上本発明の発明の実施の形態を説明したが、これらは一例に過ぎない。

すなわち、標準偏差σを用いるのは一例であって、第１乃至第３のシンメトリズレ値を統合する他の評価指標を採用するようにしても良い。また、第１乃至第３のシンメトリズレ値を使用する例を示したが、他のシンメトリズレ値を定義して用いるようにしても良い。

また、図１の機能ブロック図の機能ブロックは一例であって、必ずしも実際のモジュール構成と対応しない場合もある。

さらに、図１の例では、入出力システム１３０としてテレビ受像器及びリモートコントローラを想定した例を示したが、例えば、代わりにパーソナルコンピュータが接続される場合もある。また光ディスク記録再生装置１００がパーソナルコンピュータと一体化される場合もある。

本発明の実施の形態に係る機能ブロック図である。本発明の第１の実施の形態におけるメイン処理フローを示す図である。（ａ）乃至（ｄ）は、本発明の第１の実施の形態におけるサンプリングを説明するためのタイミングチャートを示す図である。アシンメトリ値を説明するための図である。記録パワーとシンメトリズレ値との関係を示す図である。本発明の第１の実施の形態におけるデータ記録処理の処理フローを示す図である。（ａ）は最適状態のＷＲＦ信号の状態を示し、（ｂ）はアンダーパワー時のＷＲＦ信号の状態を示し、（ｃ）はオーバーパワー時のＷＲＦ信号の状態を示す図である。本発明の第２の実施の形態におけるメインの処理フローを示す図である。（ａ）乃至（ｄ）は、本発明の第２及び第３の実施の形態におけるサンプリングを説明するためのタイミングチャートを示す図である。記録パワーと第１乃至第３のシンメトリズレ値との関係を示す図である。本発明の第３の実施の形態におけるメインの処理フローを示す図である。記録パワーとシンメトリズレ値の標準偏差σの関係を表す図である。本発明の第３の実施の形態におけるデータ記録処理の処理フローを示す図である。

符号の説明

１００光デイスク記録再生装置
１１０ピックアップ部１１１ＬＤ
１１２ＰＤ１１３コリメートレンズ
１１４対物レンズ１１５検出レンズ
１１６ビームスプリッタ１２１ＬＤドライバ
１２２スライサ１２３データ復調回路
１２４特性値検出部１２５ＣＰＵ
１２７メモリ１２８Ｉ／Ｆ
１３０入出力システム１３１表示部
１３２操作部
１５０ディスク
１２５１検出値演算部１２５２最適化判断部
１２５３パワー制御部１２５４メモリ回路

Claims

最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第２の部分と、スペース形成開始後所定時間経過後の部分である第３の部分とで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された前記受光信号の値から、前記第３の部分において得られるスペース形成時の定常レベルと前記第２の部分におけるレベルとの中間からの、前記第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出手段と、
前記指標値算出手段によって算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正手段と、
を有する光ディスク記録装置。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、所定のタイミングで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された前記受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出手段と、
前記指標値算出手段によって算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正手段と、
を有し、
第１のタイミングは、最も短いピットを記録した後の部分であり、第２のタイミングは、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分であり、第３のタイミングは、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分であり、第４のタイミングは、スペース形成開始後所定時間経過後の部分であり、
前記特定の評価指標は、前記第４のタイミングにおいて得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３のタイミングにおけるレベルとの中間からの、前記第１のタイミングにおけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、前記第４のタイミングにおいて得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３のタイミングにおけるレベルとの中間からの、前記第２のタイミングにおけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、前記第１のタイミングにおけるレベルと前記第２のタイミングにおけるレベルの比を表す第３の指標とのうち前記記録パワーの影響を最も受けやすい指標であり、
前記第１の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第４、第３及び第１のタイミングを含み、前記第２の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第４、第３及び第２のタイミングを含み、前記第３の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第１及び第２のタイミングを含む、
光ディスク記録装置。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分である第２の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第３の部分と、スペース形成開始後所定時間経過後の部分である第４の部分とで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された前記受光信号の値から、前記第４の部分において得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３の部分におけるレベルとの中間からの、前記第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、前記第４の部分において得られる前記スペース形成時の定常レベルと前記第３の部分におけるレベルとの中間からの、前記第２の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、前記第１の部分におけるレベルと前記第２の部分におけるレベルの比を表す第３の指標とを統合した特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出手段と、
前記指標値算出手段によって算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正手段と、
を有する光ディスク記録装置。
最適なアシンメトリ値に対応する初期的な最適記録パワーを特定するために行うディスクへの記録に用いられる複数の記録パワーについての、前記特定の評価指標の指標値に基づき、前記記録パワーと前記特定の評価指標の指標値との関係を抽出する抽出手段
をさらに有し、
前記パワー補正手段は、
前記抽出手段によって抽出された関係と、前記初期的な最適記録パワーに対応する、前記特定の評価指標の評価値である最適指標値からの、前記指標値算出手段によって算出された前記特定の評価指標の指標値の乖離とに基づき、補正後の記録パワーを決定する
請求項１乃至３のいずれか１つ記載の光ディスク記録装置。
前記複数の記録パワーについての前記特定の評価指標の指標値に基づき、前記初期的な最適記録パワーから、前記最適指標値を特定する手段
をさらに含む請求項４記載の光ディスク記録装置。
前記特定の評価指標が、
前記第１の指標の指標値と前記第１の指標の目標値との乖離の大きさと、前記第２の指標の指標値と前記第２の指標の目標値との乖離の大きさと、前記第３の指標の指標値と前記第３の指標の目標値との乖離の大きさとを合計した値に関連する評価指標である
請求項３記載の光ディスク記録装置。
前記特定の評価指標の最適指標値に対する許容範囲に関するデータを、前記ディスク又はメモリに格納しており、
前記パワー補正手段は、
前記指標値算出手段によって算出された前記特定の評価指標の指標値が前記許容範囲外となった場合に、パワーの補正を実施する
請求項１乃至３のいずれか１つ記載の光ディスク記録装置。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第２の部分と、スペース形成開始後所定時間経過後の部分である第３の部分とで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する検出ステップと、
前記検出ステップにおいて検出された前記受光信号の値から、前記第３の部分において得られるスペース形成時の定常レベルと前記第２の部分におけるレベルとの中間からの、前記第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、
前記指標値算出ステップにおいて算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、
を含む光ディスク記録方法。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、所定のタイミングで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する検出ステップと、
前記検出ステップにおいて検出された前記受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、
前記指標値算出ステップにおいて算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、
を含み、
第１のタイミングは、最も短いピットを記録した後の部分であり、第２のタイミングは、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分であり、第３のタイミングは、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分であり、第４のタイミングは、スペース形成開始後所定時間経過後の部分であり、
前記特定の評価指標は、前記第４のタイミングにおいて得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３のタイミングにおけるレベルとの中間からの、前記第１のタイミングにおけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、前記第４のタイミングにおいて得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３のタイミングにおけるレベルとの中間からの、前記第２のタイミングにおけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、前記第１のタイミングにおけるレベルと前記第２のタイミングにおけるレベルの比を表す第３の指標とのうち前記記録パワーの影響を最も受けやすい指標であり、
前記第１の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第４、第３及び第１のタイミングを含み、前記第２の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第４、第３及び第２のタイミングを含み、前記第３の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第１及び第２のタイミングを含む、
光ディスク記録方法。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分である第２の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第３の部分と、スペース形成開始後所定時間経過後の部分である第４の部分とで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出する検出ステップと、
前記検出ステップにおいて検出された前記受光信号の値から、前記第４の部分において得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３の部分におけるレベルとの中間からの、前記第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、前記第４の部分において得られる前記スペース形成時の定常レベルと前記第３の部分におけるレベルとの中間からの、前記第２の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、前記第１の部分におけるレベルと前記第２の部分におけるレベルの比を表す第３の指標とを統合した特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、
前記指標値算出ステップにおいて算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、
を含む光ディスク記録方法。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第２の部分と、スペース形成開始後所定時間経過後の部分である第３の部分とで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出した場合、検出された前記受光信号の値から、前記第３の部分において得られるスペース形成時の定常レベルと前記第２の部分におけるレベルとの中間からの、前記第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、
前記指標値算出ステップによって算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、
をプロセッサに実行させるためのプログラム。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、所定のタイミングで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出した場合、検出された前記受光信号の値から、特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、
前記指標値算出ステップにおいて算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、
をプロセッサに実行させ、
第１のタイミングは、最も短いピットを記録した後の部分であり、第２のタイミングは、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分であり、第３のタイミングは、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分であり、第４のタイミングは、スペース形成開始後所定時間経過後の部分であり、
前記特定の評価指標は、前記第４のタイミングにおいて得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３のタイミングにおけるレベルとの中間からの、前記第１のタイミングにおけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、前記第４のタイミングにおいて得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３のタイミングにおけるレベルとの中間からの、前記第２のタイミングにおけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、前記第１のタイミングにおけるレベルと前記第２のタイミングにおけるレベルの比を表す第３の指標とのうち前記記録パワーの影響を最も受けやすい指標であり、
前記第１の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第４、第３及び第１のタイミングを含み、前記第２の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第４、第３及び第２のタイミングを含み、前記第３の指標が採用される場合、前記所定のタイミングは、前記第１及び第２のタイミングを含む、
プログラム。
最適な記録パワーとされる記録パワーでディスクに記録する間に、最も短いピットを記録した後の部分である第１の部分と、前記最も短いピットに次いで短いピットを記録した後の部分である第２の部分と、ＲＦ信号が飽和するような長さのピットを記録した後の部分である第３の部分と、スペース形成開始後所定時間経過後の部分である第４の部分とで前記ディスクからの反射光強度に対応する受光信号の値を検出した場合、検出された前記受光信号の値から、前記第４の部分において得られるスペース形成時の定常レベルと前記第３の部分におけるレベルとの中間からの、前記第１の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第１の指標と、前記第４の部分において得られる前記スペース形成時の定常レベルと前記第３の部分におけるレベルとの中間からの、前記第２の部分におけるレベルの偏り度合いを表す第２の指標と、前記第１の部分におけるレベルと前記第２の部分におけるレベルの比を表す第３の指標とを統合した特定の評価指標の指標値を算出する指標値算出ステップと、
前記指標値算出ステップにおいて算出された前記特定の評価指標の指標値に応じて、前記最適な記録パワーとされる記録パワーの補正を行うパワー補正ステップと、
をプロセッサに実行させるためのプログラム。