JP4539311B2 - Laser ablation apparatus, laser ablation sample analysis system, and sample introduction method - Google Patents

Laser ablation apparatus, laser ablation sample analysis system, and sample introduction method Download PDF

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Description

本発明は、レーザアブレーション装置、レーザアブレーション試料分析システム及び試料導入方法に関するものである。   The present invention relates to a laser ablation apparatus, a laser ablation sample analysis system, and a sample introduction method.

従来のレーザアブレーション装置として、例えば特許文献1に記載されたものがある。このレーザアブレーション装置では、試料セル内に配置された試料にレーザ光が照射されて試料の一部が微粒子化され、その試料の一部がキャリアガスによってICP質量分析装置等に送られる。そして、試料セル内の試料を新たな試料に交換する際には、試料セル内に空気が入り込まないようにパージガスによって試料セル内のガスの置換が行われる。これは、試料セル内に空気が入り込むと、試料の分析において、空気を構成する成分が試料中に存在したものか否かが分からなくなるなどといった理由によるものである。
特開平11−201945号公報
As a conventional laser ablation apparatus, for example, there is one described in Patent Document 1. In this laser ablation apparatus, a sample placed in a sample cell is irradiated with laser light to make a part of the sample fine particles, and a part of the sample is sent to an ICP mass spectrometer or the like by a carrier gas. When replacing the sample in the sample cell with a new sample, the gas in the sample cell is replaced with a purge gas so that air does not enter the sample cell. This is because, when air enters the sample cell, it is not known whether or not the components constituting the air are present in the sample in the analysis of the sample.
JP-A-11-201945

しかしながら、上述したようなレーザアブレーション装置は、試料セル内の試料を新たな試料に交換する度にパージガスによって試料セル内のガスの置換を行うことが必要となるため、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートするのには不向きである。   However, since the laser ablation apparatus as described above needs to replace the gas in the sample cell with the purge gas every time the sample in the sample cell is replaced with a new sample, a plurality of samples are sequentially and efficiently removed. Not suitable for laser ablation.

そこで、本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができるレーザアブレーション装置、レーザアブレーション試料分析システム及び試料導入方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention has been made in view of such circumstances, and provides a laser ablation apparatus, a laser ablation sample analysis system, and a sample introduction method capable of sequentially and efficiently performing laser ablation of a plurality of samples. With the goal.

上記目的を達成するために、本発明に係るレーザアブレーション装置は、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置であって、レーザ光が照射される試料が配置されると共に、微粒子化された試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部と、レーザ光照射部に搬送される次位の試料が待機させられる試料待機部とを備え、試料待機部は、試料が流通する第1の流通路内に設けられ、レーザ光照射部は、大気圧より高いガス圧のキャリアガスが流通する第2の流通路内に設けられ、レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、第1の流通路と第2の流通路とを連通する搬送路を介して試料待機部からレーザ光照射部に次位の試料を搬送することを特徴とする。 In order to achieve the above object, a laser ablation apparatus according to the present invention is a laser ablation apparatus for pulverizing a part of a sample by irradiating the sample with a laser beam, and the sample to be irradiated with the laser beam is arranged. And a laser beam irradiation unit through which a carrier gas for carrying a part of the micronized sample flows, and a sample standby unit in which the next sample conveyed to the laser beam irradiation unit is made to wait, The sample standby unit is provided in the first flow path through which the sample flows, and the laser beam irradiation unit is provided in the second flow path through which the carrier gas having a gas pressure higher than atmospheric pressure flows, and the laser beam irradiation is performed. The next sample is transported from the sample standby section to the laser beam irradiation section via a transport path that communicates the first flow path and the second flow path while preventing air from flowing into the section. And

このレーザアブレーション装置においては、レーザ光照射部に搬送される次位の試料は、試料待機部で待機させられた後、レーザ光照射部への大気の流入が防止されつつ、試料待機部からレーザ光照射部に搬送され、レーザ光照射部でレーザアブレートされる。このように、試料待機部からレーザ光照射部への次位の試料の搬送に際してはレーザ光照射部への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部に次位の試料を導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部のガスの置換を行うことが不要となる。従って、このレーザアブレーション装置によれば、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができる。また、レーザ光照射部が設けられる第2の流通路内をキャリアガスが流通するため、試料待機部が設けられる第1の流通路内に大気が流入しても、キャリアガスのガス圧が高いので、第1の流通路と第2の流通路とを連通する搬送路を介して試料待機部からレーザ光照射部に次位の試料を搬送するに際し、レーザ光照射部への大気の流入を確実に防止することができる。 In this laser ablation apparatus, the next sample transported to the laser beam irradiation unit is made to wait from the sample standby unit, and then the atmosphere from flowing into the laser beam irradiation unit is prevented, while the laser beam is emitted from the sample standby unit. It is conveyed to the light irradiation unit and laser ablated by the laser light irradiation unit. In this way, when the next sample is transported from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit, the inflow of air to the laser beam irradiation unit is prevented. Therefore, every time the next sample is introduced into the laser beam irradiation unit. In addition, it is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation portion with the carrier gas. Therefore, according to this laser ablation apparatus, it is possible to sequentially laser ablate a plurality of samples efficiently. In addition, since the carrier gas flows in the second flow path in which the laser beam irradiation unit is provided, even if air flows into the first flow path in which the sample standby unit is provided, the gas pressure of the carrier gas is high. Therefore, when the next sample is transferred from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit via the transfer path that connects the first flow channel and the second flow channel, the inflow of air to the laser beam irradiation unit is prevented. It can be surely prevented.

なお、「試料をレーザアブレートする」とは、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化することを意味する。   Note that “laser ablating a sample” means that a part of the sample is made fine particles by irradiating the sample with laser light.

また、本発明に係るレーザアブレーション装置は、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置であって、レーザ光が照射される試料が配置されると共に、微粒子化された試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部と、レーザ光照射部に搬送される試料が複数載置される載置台と、載置台に載置された複数の試料が待機させられる試料待機部とを備え、試料待機部は、キャリアガスと同一のガスが充填される第1の室内に設けられ、レーザ光照射部は、第1の室に隣接する第2の室内に設けられ、載置台が移動させられて試料が第2の室の開口部から第2の室内に順次搬送されると共に、載置台によって開口部を塞ぐことにより、レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、試料待機部からレーザ光照射部に料が搬送されることを特徴とする。
このレーザアブレーション装置においては、レーザ光照射部に搬送される次位の試料は、試料待機部で待機させられた後、レーザ光照射部への大気の流入が防止されつつ、試料待機部からレーザ光照射部に搬送され、レーザ光照射部でレーザアブレートされる。このように、試料待機部からレーザ光照射部への次位の試料の搬送に際してはレーザ光照射部への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部に次位の試料を導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部のガスの置換を行うことが不要となる。従って、このレーザアブレーション装置によれば、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができる。また、試料待機部が設けられる第1の室内にはキャリアガスと同一のガスが充填されるため、載置台の移動によって試料待機部からレーザ光照射部に試料を搬送するに際し、レーザ光照射部への大気の流入を確実に防止することができる。
The laser ablation apparatus according to the present invention is a laser ablation apparatus for pulverizing a part of a sample by irradiating the sample with a laser beam, and the sample to be irradiated with the laser beam is arranged and pulverized. A laser beam irradiation unit through which a carrier gas for carrying a part of the sample is distributed, a mounting table on which a plurality of samples transported to the laser beam irradiation unit are mounted, and a plurality of samples mounted on the mounting table And a sample standby unit provided in a first chamber filled with the same gas as the carrier gas, and a laser beam irradiation unit adjacent to the first chamber. It is provided in the room, the mounting table is moved, and the sample is sequentially transferred from the opening of the second chamber to the second chamber, and the opening is closed by the mounting table, so that the atmosphere to the laser light irradiation unit is Preventing inflow Characterized in that the specimen is transported to the laser beam irradiation unit from the sample standby unit.
In this laser ablation apparatus, the next sample transported to the laser beam irradiation unit is made to wait from the sample standby unit, and then the atmosphere from flowing into the laser beam irradiation unit is prevented, while the laser beam is emitted from the sample standby unit. It is conveyed to the light irradiation unit and laser ablated by the laser light irradiation unit. In this way, when the next sample is transported from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit, the inflow of air to the laser beam irradiation unit is prevented. Therefore, every time the next sample is introduced into the laser beam irradiation unit. In addition, it is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation portion with the carrier gas. Therefore, according to this laser ablation apparatus, it is possible to sequentially laser ablate a plurality of samples efficiently. Further, when the first chamber the sample standby unit is provided for the same gas as the carrier gas is filled, to transport the specimen to the laser beam irradiation unit from the sample standby unit by the movement of the stage, the laser beam irradiation Inflow of air to the section can be reliably prevented.

また、本発明に係るレーザアブレーション装置は、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置であって、レーザ光が照射される試料が配置されると共に、微粒子化された試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部と、レーザ光照射部に搬送される次位の試料が待機させられる試料待機部とを備え、試料待機部は、所定の液体を貯留する第1の容器内に設けられ、レーザ光照射部は、液体の液面下に開口部が位置するキャップ状の第2の容器内に設けられ、レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、開口部を介して試料待機部からレーザ光照射部に次位の試料が搬送されることを特徴とする。
このレーザアブレーション装置においては、レーザ光照射部に搬送される次位の試料は、試料待機部で待機させられた後、レーザ光照射部への大気の流入が防止されつつ、試料待機部からレーザ光照射部に搬送され、レーザ光照射部でレーザアブレートされる。このように、試料待機部からレーザ光照射部への次位の試料の搬送に際してはレーザ光照射部への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部に次位の試料を導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部のガスの置換を行うことが不要となる。従って、このレーザアブレーション装置によれば、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができる。また、試料待機部が設けられる第1の容器内には液体が貯留されるため、液体の液面下に位置する第2の容器の開口部を介して試料待機部からレーザ光照射部に次位の試料を搬送するに際し、レーザ光照射部への大気の流入を確実に防止することができる。
The laser ablation apparatus according to the present invention is a laser ablation apparatus for pulverizing a part of a sample by irradiating the sample with a laser beam, and the sample to be irradiated with the laser beam is arranged and pulverized. A laser beam irradiating unit through which a carrier gas for carrying a part of the sample that has been distributed, and a sample standby unit for waiting for the next sample transported to the laser beam irradiating unit, The laser beam irradiating unit is provided in a cap-shaped second container having an opening positioned below the liquid level, and the atmosphere to the laser beam irradiating unit is provided. The next-order sample is transported from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit through the opening while preventing inflow of water .
In this laser ablation apparatus, the next sample transported to the laser beam irradiation unit is made to wait from the sample standby unit, and then the atmosphere from flowing into the laser beam irradiation unit is prevented, while the laser beam is emitted from the sample standby unit. It is conveyed to the light irradiation unit and laser ablated by the laser light irradiation unit. In this way, when the next sample is transported from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit, the inflow of air to the laser beam irradiation unit is prevented. Therefore, every time the next sample is introduced into the laser beam irradiation unit. In addition, it is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation portion with the carrier gas. Therefore, according to this laser ablation apparatus, it is possible to sequentially laser ablate a plurality of samples efficiently. In addition, since the liquid is stored in the first container provided with the sample standby part , the sample standby part is next to the laser beam irradiation part via the opening of the second container located below the liquid level of the liquid. When transporting the sample, the inflow of air to the laser beam irradiation unit can be reliably prevented.

また、本発明に係るレーザアブレーション試料分析システムは、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置と、微粒子化された試料の一部に対して所定の分析を行う試料分析装置とを具備するレーザアブレーション試料分析システムであって、レーザアブレーション装置は、上記のいずれか一つのレーザアブレーション装置である、ことを特徴とする。   In addition, the laser ablation sample analysis system according to the present invention includes a laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with laser light, and performing a predetermined analysis on the part of the pulverized sample. A laser ablation sample analysis system including a sample analysis device to perform, wherein the laser ablation device is any one of the laser ablation devices described above.

このレーザアブレーション試料分析システムは、上述したレーザアブレーション装置を具備するため、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができる。   Since this laser ablation sample analysis system includes the laser ablation apparatus described above, a plurality of samples can be laser ablated efficiently and sequentially.

また、本発明に係る試料導入方法は、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置において、レーザ光が照射される試料が配置されると共に、微粒子化された試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通する第2の流通路内に設けられたレーザ光照射部に次位の試料を導入する試料導入方法であって、試料が流通する第1の流通路内に設けられた試料待機部で次位の試料を待機させる工程と、キャリアガスが大気圧より高いガス圧で充填されたレーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、第1の流通路と第2の流通路とを連通する搬送路を介して、試料待機部からレーザ光照射部に次位の試料を搬送する工程とを含むことを特徴とする。
また、本発明に係る試料導入方法は、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置において、レーザ光が照射される試料が配置されると共に、微粒子化された試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通する第2の室内に設けられたレーザ光照射部に試料を導入する試料導入方法であって、載置台に載置された複数の試料を第2の室に隣接する第1の室内に設けられた試料待機部で待機させる工程と、載置台を移動させて試料を第2の室の開口部から第2の室内に順次搬送すると共に、載置台によって開口部を塞ぐことにより、キャリアガスが充填されたレーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、試料待機部からレーザ光照射部に試料を搬送する工程とを含むことを特徴とする。
また、本発明に係る試料導入方法は、試料にレーザ光を照射することにより試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置において、第1の容器内に貯留された所定の液体の液面下に開口部が位置するキャップ状の第2の容器内に設けられ、レーザ光が照射される試料が配置されると共に微粒子化された試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部に次位の試料を導入する試料導入方法であって、次位の試料を第1の容器内に設けられた試料待機部で待機させる工程と、キャリアガスが充填されたレーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、試料待機部からレーザ光照射部に次位の試料を搬送する工程とを含むことを特徴とする。
Further, the sample introduction method according to the present invention is arranged such that a sample to be irradiated with laser light is arranged and atomized in a laser ablation apparatus in which a part of the sample is atomized by irradiating the sample with laser light. A sample introduction method for introducing a second-order sample into a laser beam irradiation unit provided in a second flow path through which a carrier gas for carrying a part of the sample flows, and the first flow through which the sample flows The step of waiting the next sample in the sample standby section provided in the path, and the inflow of the atmosphere to the laser beam irradiation section filled with the carrier gas at a gas pressure higher than atmospheric pressure, And a step of transporting the next-order sample from the sample standby section to the laser beam irradiation section via a transport path that connects the flow path and the second flow path.
Further, the sample introduction method according to the present invention is arranged such that a sample to be irradiated with laser light is arranged and atomized in a laser ablation apparatus in which a part of the sample is atomized by irradiating the sample with laser light. A sample introduction method for introducing a sample into a laser beam irradiation unit provided in a second chamber through which a carrier gas for carrying a part of the sample flows, wherein a plurality of samples placed on a placing table are secondly A step of waiting in a sample standby section provided in a first chamber adjacent to the chamber, and moving the mounting table to sequentially transport the sample from the opening of the second chamber to the second chamber, and the mounting table And a step of transporting the sample from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit while preventing the air from flowing into the laser beam irradiation unit filled with the carrier gas by closing the opening. .
Moreover, the sample introduction method according to the present invention is a laser ablation apparatus for pulverizing a part of a sample by irradiating the sample with laser light, and below a predetermined liquid level stored in a first container. A laser beam irradiation unit that is provided in a cap-shaped second container in which an opening is located, and in which a sample to be irradiated with laser light is arranged and a carrier gas for carrying a part of the micronized sample flows A sample introduction method for introducing a next-order sample into a sample standby unit provided in a first standby unit provided in the first container, and a laser beam irradiation unit filled with a carrier gas. And transporting the next sample from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit while preventing the inflow of the atmosphere.

この試料導入方法においては、レーザ光照射部に搬送される次位の試料は、試料待機部で待機させられた後、キャリアガスが充填されたレーザ光照射部への大気の流入が防止されつつ、試料待機部からレーザ光照射部に搬送される。このように、試料待機部からレーザ光照射部への次位の試料の搬送に際してはレーザ光照射部への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部に次位の試料を導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部のガスの置換を行うことが不要となる。従って、この試料導入方法によれば、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができる。   In this sample introduction method, the next sample transported to the laser beam irradiation unit is kept waiting at the sample standby unit, and then the inflow of air to the laser beam irradiation unit filled with the carrier gas is prevented. Then, the sample is transferred from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit. In this way, when the next sample is transported from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit, the inflow of air to the laser beam irradiation unit is prevented. Therefore, every time the next sample is introduced into the laser beam irradiation unit. In addition, it is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation portion with the carrier gas. Therefore, according to this sample introduction method, a plurality of samples can be sequentially laser ablated efficiently.

本発明によれば、複数の試料を順次効率良くレーザアブレートすることができる。   According to the present invention, a plurality of samples can be sequentially laser ablated efficiently.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
[第1の実施形態]
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected to the same or an equivalent part, and the overlapping description is abbreviate | omitted.
[First Embodiment]

図1に示されるように、レーザアブレーションICP質量分析システム(レーザアブレーション試料分析システム)1は、試料Sにレーザ光Lを照射することにより試料Sの一部を微粒子化するレーザアブレーション装置2と、その微粒子化された試料Sの一部をプラズマPでイオン化して質量分析を行うICP質量分析装置(試料分析装置)3とを具備している。   As shown in FIG. 1, a laser ablation ICP mass analysis system (laser ablation sample analysis system) 1 includes a laser ablation device 2 that irradiates a sample S with laser light L to make a part of the sample S fine particles, An ICP mass spectrometer (sample analyzer) 3 that performs mass spectrometry by ionizing a part of the micronized sample S with plasma P is provided.

レーザアブレーション装置2は、レーザ光Lが照射される試料Sが配置されるレーザ光照射部4と、このレーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sが待機させられる試料待機部5とを備えている。レーザ光照射部4はレーザ光照射室(第2の室)6内に設けられており、試料待機部5は、レーザ光照射室6に隣接する試料待機室(第1の室)7内に設けられている。   The laser ablation apparatus 2 includes a laser beam irradiation unit 4 in which a sample S irradiated with a laser beam L is disposed, and a sample standby unit 5 in which a next sample S conveyed to the laser beam irradiation unit 4 is waited. It has. The laser beam irradiation unit 4 is provided in a laser beam irradiation chamber (second chamber) 6, and the sample standby unit 5 is in a sample standby chamber (first chamber) 7 adjacent to the laser beam irradiation chamber 6. Is provided.

レーザ光照射室6には、レーザアブレートされて微粒子化された試料Sの一部を運ぶためのキャリアガスをレーザ光照射室6内に導入する導入管8、及びレーザ光照射室6外に導出する導出管9が接続されている。これにより、微粒子化された試料Sの一部を運ぶためのキャリアガスがレーザ光照射部4を流通することになる。   In the laser beam irradiation chamber 6, a carrier gas for carrying a part of the sample S which has been ablated by laser ablation is introduced into the laser beam irradiation chamber 6, and outside the laser beam irradiation chamber 6. A lead-out pipe 9 to be led out is connected. As a result, a carrier gas for carrying a part of the micronized sample S flows through the laser beam irradiation unit 4.

試料待機室7には、ガスの置換を行うためのパージガスを試料待機室7内に導入する導入管11、及び試料待機室7外に導出する導出管12が接続されている。これにより、試料待機室7内にはパージガスが充填されることになる。なお、キャリアガス及びパージガスには、例えばアルゴンガス等の同一のガスが用いられる。   Connected to the sample standby chamber 7 are an introduction pipe 11 for introducing a purge gas for gas replacement into the sample standby chamber 7 and a lead-out pipe 12 for extracting the purge gas to the outside of the sample standby chamber 7. Thereby, the sample standby chamber 7 is filled with the purge gas. Note that the same gas such as argon gas is used for the carrier gas and the purge gas.

また、レーザアブレーション装置2は、所定の波長でレーザ光Lを出射するレーザユニット13を備えている。このレーザユニット13から出射されたレーザ光Lは、ミラー14,15により反射されて波長変換素子16に入射する。この波長変換素子16により波長が半減されたレーザ光Lは、波長変換素子17により更に波長が半減される。その後、レーザ光Lは、ミラー18,19,21により反射されてレンズ22を通り、ビームスプリッタ23により反射されて、レーザ光照射室6内のレーザ光照射部4に配置された試料Sに向かって進行する。   The laser ablation apparatus 2 includes a laser unit 13 that emits laser light L at a predetermined wavelength. The laser light L emitted from the laser unit 13 is reflected by the mirrors 14 and 15 and enters the wavelength conversion element 16. The wavelength of the laser light L whose wavelength is reduced by half by the wavelength conversion element 16 is further reduced by half by the wavelength conversion element 17. Thereafter, the laser beam L is reflected by the mirrors 18, 19, 21, passes through the lens 22, is reflected by the beam splitter 23, and travels toward the sample S disposed in the laser beam irradiation unit 4 in the laser beam irradiation chamber 6. And proceed.

一例として、波長1064nmのレーザ光Lを出射するNd−YAGレーザをレーザユニット13が搭載しているものとする。このとき、波長1064nmのレーザ光Lは、波長変換素子16により波長532nmのレーザ光L(2次高調波)に変換され、この波長532nmのレーザ光Lは、波長変換素子17により波長266nmのレーザ光L(3次高調波)に変換される。このように、レーザ光Lを短波長にすることで、種々の試料Sをレーザアブレートすることが可能になる。   As an example, it is assumed that the laser unit 13 includes an Nd-YAG laser that emits laser light L having a wavelength of 1064 nm. At this time, the laser light L having a wavelength of 1064 nm is converted into laser light L having a wavelength of 532 nm (second harmonic) by the wavelength conversion element 16, and the laser light L having a wavelength of 532 nm is converted into a laser having a wavelength of 266 nm by the wavelength conversion element 17. It is converted into light L (third harmonic). In this way, by making the laser light L have a short wavelength, various samples S can be laser ablated.

更に、レーザアブレーション装置2は、レーザ光照射室6内のレーザ光照射部4に配置された試料Sを観察するためのCCDカメラ24を備えている。このCCDカメラは、ビームスプリッタ23を介して、例えば、試料Sの表面においてレーザ光Lが照射されている部分を撮像する。   Further, the laser ablation apparatus 2 includes a CCD camera 24 for observing the sample S disposed in the laser beam irradiation unit 4 in the laser beam irradiation chamber 6. For example, the CCD camera images a portion of the surface of the sample S irradiated with the laser light L via the beam splitter 23.

ICP質量分析装置3は、レーザアブレーション装置2の導出管9に接続される導入管25と、この導入管25を介してキャリアガスにより運ばれてきた試料Sの一部をイオン化するためのプラズマPを発生させるプラズマトーチ26と、このプラズマトーチ26の先端部近傍に位置するイオン導入部27を有する質量分析部28とを備えている。   The ICP mass spectrometer 3 has an introduction tube 25 connected to the lead-out tube 9 of the laser ablation device 2 and a plasma P for ionizing a part of the sample S carried by the carrier gas through the introduction tube 25. And a mass spectrometer 28 having an ion introduction portion 27 located in the vicinity of the tip of the plasma torch 26.

プラズマトーチ26は3重管構造となっており、このプラズマトーチ26には、導入管25からキャリアガスが導入され、管29からプラズマP形成用のプラズマガスが導入され、管31からプラズマトーチ26の壁面を冷却するためのクーラントガスが導入される。なお、キャリアガス、プラズマガス及びクーラントガスには、例えばアルゴンガス等が用いられる。   The plasma torch 26 has a triple tube structure. A carrier gas is introduced from the introduction tube 25 to the plasma torch 26, a plasma gas for forming plasma P is introduced from the tube 29, and the plasma torch 26 is introduced from the tube 31. A coolant gas is introduced to cool the wall surface. In addition, argon gas etc. are used for carrier gas, plasma gas, and coolant gas, for example.

プラズマトーチ26の先端側には、高周波電源に接続された高周波コイル32が設けられている。そして、この高周波コイル32に電圧が印加されると、プラズマトーチ26の先端側の内部にプラズマPが形成される。   A high frequency coil 32 connected to a high frequency power source is provided on the tip side of the plasma torch 26. When a voltage is applied to the high frequency coil 32, plasma P is formed inside the plasma torch 26 on the tip side.

質量分析部28のイオン導入部27は、プラズマトーチ26の先端に対向する導入孔33を有しており、この導入孔33を介して、プラズマPからの光やイオンが筐体34内に導入される。なお、導入孔33の直径は、例えば1mm程度である。   The ion introduction part 27 of the mass analysis part 28 has an introduction hole 33 facing the tip of the plasma torch 26, and light and ions from the plasma P are introduced into the housing 34 through the introduction hole 33. Is done. The diameter of the introduction hole 33 is, for example, about 1 mm.

筐体34内は、真空ポンプ35,36によって真空引きされ、イオン導入部27側が低真空室、その反対側が高真空室というように、真空度が異なる二室に仕切られている。この筐体34内においては、プラズマPからの光とイオンとがイオンレンズ37により分離されてイオンのみが通過させられ、質量多重極部38で特定のイオンのみが取り出されて検出器39で検出される。そして、検出器39の検出結果に基づいて、試料Sの質量分析が行われることになる。   The inside of the housing 34 is evacuated by vacuum pumps 35 and 36 and is partitioned into two chambers having different degrees of vacuum, such that the ion introduction portion 27 side is a low vacuum chamber and the opposite side is a high vacuum chamber. In the housing 34, light and ions from the plasma P are separated by an ion lens 37 and only ions are allowed to pass through. Only specific ions are taken out by the mass multipole unit 38 and detected by a detector 39. Is done. Then, based on the detection result of the detector 39, mass analysis of the sample S is performed.

次に、上述したレーザ光照射部4及び試料待機部5について、より詳細に説明する。   Next, the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 described above will be described in more detail.

図2に示されるように、レーザ光照射室6の上壁には、レーザ光Lを透過させるためのレーザ光透過部材41が設けられている。このレーザ光透過部材41は、レーザ光Lに対して透過性を有する材料(例えば、石英等)からなる。また、試料待機室7の側壁には、外部と試料待機室7内とを隔てることが可能な開閉扉42が設けられている。   As shown in FIG. 2, a laser beam transmitting member 41 for transmitting the laser beam L is provided on the upper wall of the laser beam irradiation chamber 6. The laser beam transmitting member 41 is made of a material that is transparent to the laser beam L (for example, quartz). An opening / closing door 42 that can separate the outside from the inside of the sample waiting chamber 7 is provided on the side wall of the sample waiting chamber 7.

更に、互いに隣接するレーザ光照射室6と試料待機室7との間の側壁には、レーザ光照射室6内と試料待機室7内とを隔てることが可能な開閉扉43が設けられている。そして、この開閉扉43を介して、搬送手段(例えば、ベルトコンベア、ターンテーブル、両側に試料把持機構を備えた回転アーム等)44がレーザ光照射室6内と試料待機室7内とに渡って設けられている。   Furthermore, an opening / closing door 43 capable of separating the inside of the laser beam irradiation chamber 6 from the inside of the sample waiting chamber 7 is provided on the side wall between the laser beam irradiation chamber 6 and the sample waiting chamber 7 adjacent to each other. . Then, a conveying means (for example, a belt conveyor, a turntable, a rotating arm equipped with a sample gripping mechanism on both sides) 44 passes through the open / close door 43 into the laser beam irradiation chamber 6 and the sample standby chamber 7. Is provided.

以上のように構成されたレーザ光照射部4及び試料待機部5においては、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   In the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 configured as described above, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図3(a)に示されるように、開閉扉42が開けられて、試料待機室7内に試料Sが導入され、試料待機部5で試料Sが待機させられる。続いて、図3(b)に示されるように、開閉扉42が閉じられて、導入管11を介して試料待機室7内にパージガスが導入される。これにより、試料Sが導入される際に試料待機室7内に流入した大気(すなわち、レーザアブレーション装置2の外部雰囲気(空気))は導出管12を介して試料待機室7外に排出され、試料待機室7内はパージガスで満たされることになる。   First, as shown in FIG. 3A, the open / close door 42 is opened, the sample S is introduced into the sample standby chamber 7, and the sample S is made to wait in the sample standby unit 5. Subsequently, as shown in FIG. 3B, the open / close door 42 is closed, and the purge gas is introduced into the sample standby chamber 7 through the introduction pipe 11. Thereby, the atmosphere (that is, the external atmosphere (air) of the laser ablation apparatus 2) that flows into the sample standby chamber 7 when the sample S is introduced is discharged to the outside of the sample standby chamber 7 via the lead-out pipe 12. The inside of the sample waiting chamber 7 is filled with the purge gas.

その後、図4(a)に示されるように、開閉扉43が開けられて、キャリアガスで満たされたレーザ光照射室6内に試料待機室7内から試料Sが搬送手段44により搬送され、レーザ光照射室6内のレーザ光照射部4に試料Sが配置される。このとき、開閉扉42は閉じられているため、キャリアガスが充填されたレーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に試料Sが搬送されることになる。   Thereafter, as shown in FIG. 4A, the opening / closing door 43 is opened, and the sample S is transported by the transport means 44 from the sample standby chamber 7 into the laser beam irradiation chamber 6 filled with the carrier gas. A sample S is disposed in the laser beam irradiation unit 4 in the laser beam irradiation chamber 6. At this time, since the open / close door 42 is closed, the sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit 4 filled with the carrier gas. Will be.

続いて、図4(b)に示されるように、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射室6内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化(気化等を含む)された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。   Subsequently, as shown in FIG. 4B, the sample S arranged in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L to laser ablate the sample S, and the laser is introduced through the introduction tube 8. A carrier gas is introduced into the light irradiation chamber 6. As a result, a part of the sample S that has been atomized (including vaporized) is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9.

一方、試料Sがレーザアブレートされている最中には、開閉扉42が開けられて、試料待機室7内に新たな次位の試料Sが導入され、試料待機部5で次位の試料Sが待機させられる。そして、開閉扉42が閉じられて、導入管11を介して試料待機室7内にパージガスが導入され、試料待機室7内がパージガスで満たされる。   On the other hand, while the sample S is being laser ablated, the open / close door 42 is opened, and a new next sample S is introduced into the sample standby chamber 7. S is made to wait. Then, the open / close door 42 is closed, purge gas is introduced into the sample standby chamber 7 through the introduction pipe 11, and the sample standby chamber 7 is filled with the purge gas.

そして、試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、図5(a)に示されるように、開閉扉43が開けられて、キャリアガスで満たされたレーザ光照射室6内に試料待機室7内から次位の試料Sが搬送手段44により搬送され、レーザ光照射室6内のレーザ光照射部4に次位の試料Sが配置される。このとき、開閉扉42は閉じられているため、キャリアガスが充填されたレーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sが搬送されることになる。   When the laser ablation on the sample S is completed, as shown in FIG. 5A, the open / close door 43 is opened, and the laser beam irradiation chamber 6 filled with the carrier gas is inserted into the laser beam irradiation chamber 6 from the sample standby chamber 7. The next sample S is transported by the transport means 44, and the next sample S is placed in the laser light irradiation unit 4 in the laser light irradiation chamber 6. At this time, since the open / close door 42 is closed, the second sample S is transferred from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit 4 filled with the carrier gas. Will be transported.

それと同時に、レーザアブレートされた試料Sがレーザ光照射室6内から試料待機室7内に搬送手段44により搬送され、レーザアブレートされた試料Sが試料待機室7内の試料待機部5に配置される。   At the same time, the laser ablated sample S is transported from the laser beam irradiation chamber 6 into the sample standby chamber 7 by the transport means 44, and the laser ablated sample S is transferred to the sample standby portion 5 in the sample standby chamber 7. Be placed.

続いて、図5(b)に示されるように、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射室6内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。   Subsequently, as shown in FIG. 5 (b), the sample S disposed in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, the sample S is laser ablated, and the laser is introduced through the introduction tube 8. A carrier gas is introduced into the light irradiation chamber 6. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9.

一方、試料Sがレーザアブレートされている最中には、開閉扉42が開けられて、レーザアブレートされた試料Sが試料待機室7外に導出されると共に、試料待機室7内に新たな次位の試料Sが導入され、試料待機部5で次位の試料Sが待機させられる。そして、開閉扉42が閉じられて、導入管11を介して試料待機室7内にパージガスが導入され、試料待機室7内がパージガスで満たされる。   On the other hand, while the sample S is being laser ablated, the open / close door 42 is opened, and the laser ablated sample S is led out of the sample waiting chamber 7 and newly put into the sample waiting chamber 7. The next-order sample S is introduced, and the next-order sample S is made to wait in the sample standby section 5. Then, the open / close door 42 is closed, purge gas is introduced into the sample standby chamber 7 through the introduction pipe 11, and the sample standby chamber 7 is filled with the purge gas.

以降、上述した工程が繰り返され、複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S are sequentially laser ablated.

以上説明したように、第1の実施形態においては、レーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sは、試料待機部5で待機させられた後、キャリアガスが充填されたレーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、開閉扉43を介して試料待機部5からレーザ光照射部4に搬送手段44により搬送され、レーザ光照射部4でレーザアブレートされる。このように、試料待機部5からレーザ光照射部4への次位の試料Sの搬送に際してはレーザ光照射部4への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部4に次位の試料Sを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部4のガスの置換を行うことが不要となる。従って、第1の実施形態によれば、複数の試料Sを順次効率良くレーザアブレートすることができる。なお、レーザ光照射部4への大気の流入の防止は、最低でも、プラズマトーチ26のプラズマPが消えない程度は必要である。   As described above, in the first embodiment, the next sample S transported to the laser beam irradiation unit 4 is waited by the sample waiting unit 5 and then irradiated with the laser beam filled with the carrier gas. While being prevented from flowing into the unit 4, the sample is transferred from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 by the transfer unit 44 through the open / close door 43, and laser ablated by the laser beam irradiation unit 4. In this way, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4, the inflow of air to the laser beam irradiation unit 4 is prevented, so It is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation unit 4 with the carrier gas each time the sample S is introduced. Therefore, according to the first embodiment, a plurality of samples S can be sequentially laser ablated efficiently. In order to prevent the air from flowing into the laser beam irradiation unit 4, it is necessary to prevent the plasma P of the plasma torch 26 from disappearing at a minimum.

また、試料待機部5が設けられた試料待機室7内にはキャリアガスと同一のパージガスが充填される。そのため、開閉扉43を介して試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sを搬送するに際し、レーザ光照射部4への大気の流入を確実に防止することができる。
[第2の実施形態]
The sample standby chamber 7 provided with the sample standby unit 5 is filled with the same purge gas as the carrier gas. Therefore, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 via the open / close door 43, the inflow of air into the laser beam irradiation unit 4 can be reliably prevented.
[Second Embodiment]

第2の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1は、レーザアブレーション装置2のレーザ光照射部4及び試料待機部5の構成において、第1の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1と異なっている。以下、相異点であるレーザ光照射部4及び試料待機部5について説明する。   The laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the second embodiment is different from the laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the first embodiment in the configuration of the laser light irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 of the laser ablation apparatus 2. Is different. Hereinafter, the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 which are different points will be described.

図6に示されるように、レーザ光照射部4は、開口部を下方に向けたキャップ状のレーザ光照射室6内に設けられている。また、試料待機部5は、レーザ光照射室6を収容する試料待機室7内に設けられている。   As shown in FIG. 6, the laser beam irradiation unit 4 is provided in a cap-shaped laser beam irradiation chamber 6 with the opening facing downward. Further, the sample standby unit 5 is provided in a sample standby chamber 7 that houses the laser beam irradiation chamber 6.

レーザ光照射室6には、キャリアガスをレーザ光照射室6内に導入する導入管8、及びレーザ光照射室6外に導出する導出管9が接続されている。また、試料待機室7には、パージガスを試料待機室7内に導入する導入管11、及び試料待機室7外に導出する導出管12が接続されている。なお、キャリアガス及びパージガスには、例えばアルゴンガス等の同一のガスが用いられる。   Connected to the laser beam irradiation chamber 6 are an introduction tube 8 that introduces a carrier gas into the laser beam irradiation chamber 6 and a lead-out tube 9 that leads out of the laser beam irradiation chamber 6. The sample standby chamber 7 is connected to an introduction pipe 11 that introduces purge gas into the sample standby chamber 7 and a lead-out pipe 12 that leads out of the sample standby chamber 7. Note that the same gas such as argon gas is used for the carrier gas and the purge gas.

レーザ光照射室6の上壁には、レーザ光Lを透過させるためのレーザ光透過部材41が設けられている。また、試料待機室7の側壁には、外部と試料待機室7内とを隔てることが可能な開閉扉42が設けられている。更に、試料待機室7内には、リンク機構45によって上下方向及び左右方向に移動可能な載置台46が設けられている。   A laser beam transmitting member 41 for transmitting the laser beam L is provided on the upper wall of the laser beam irradiation chamber 6. An opening / closing door 42 that can separate the outside from the inside of the sample waiting chamber 7 is provided on the side wall of the sample waiting chamber 7. Further, a mounting table 46 that can be moved in the vertical direction and the horizontal direction by the link mechanism 45 is provided in the sample standby chamber 7.

以上のように構成されたレーザ光照射部4及び試料待機部5においては、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   In the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 configured as described above, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図7(a)に示されるように、開閉扉42が開けられて、複数の試料Sが並べられたトレイ47が載置台46上に載せられ、試料待機部5で複数の試料Sが待機させられる。続いて、図7(b)に示されるように、開閉扉42が閉じられて、導入管11を介して試料待機室7内にパージガスが導入される。これにより、トレイ47が載置台46上に載せられる際に試料待機室7内に流入した大気は導出管12を介して試料待機室7外に排出され、試料待機室7内はパージガスで満たされることになる。   First, as shown in FIG. 7A, the opening / closing door 42 is opened, and a tray 47 on which a plurality of samples S are arranged is placed on the mounting table 46. It is made to wait. Subsequently, as shown in FIG. 7B, the open / close door 42 is closed, and the purge gas is introduced into the sample standby chamber 7 through the introduction pipe 11. As a result, when the tray 47 is placed on the mounting table 46, the air that has flowed into the sample standby chamber 7 is discharged out of the sample standby chamber 7 through the outlet tube 12, and the sample standby chamber 7 is filled with the purge gas. It will be.

その後、図8(a)に示されるように、所定の試料Sがレーザ光照射部4に配置されるように、リンク機構45によって載置台46が移動させられ、レーザ光照射室6の開口部がトレイ47によって塞がれる。このとき、開閉扉42は閉じられているため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に試料Sが搬送されることになる。   After that, as shown in FIG. 8A, the mounting table 46 is moved by the link mechanism 45 so that the predetermined sample S is placed in the laser light irradiation unit 4, and the opening of the laser light irradiation chamber 6. Is blocked by the tray 47. At this time, since the open / close door 42 is closed, the sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit 4.

そして、レーザ光照射室6の開口部がトレイ47によって塞がれた状態で、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射室6内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。   Then, in a state where the opening of the laser beam irradiation chamber 6 is closed by the tray 47, the sample S disposed in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, and the sample S is laser ablated. A carrier gas is introduced into the laser beam irradiation chamber 6 through the introduction tube 8. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9.

この試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、図8(b)に示されるように、新たな次位の試料Sがレーザ光照射部4に配置されるように、リンク機構45によって載置台46が移動させられ、レーザ光照射室6の開口部がトレイ47によって塞がれる。このとき、開閉扉42は閉じられているため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sが搬送されることになる。   When the laser ablation on the sample S is completed, the mounting table 46 is moved by the link mechanism 45 so that a new next-order sample S is arranged in the laser beam irradiation unit 4 as shown in FIG. As a result, the opening of the laser beam irradiation chamber 6 is closed by the tray 47. At this time, since the open / close door 42 is closed, the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 while preventing the air from flowing into the laser beam irradiation unit 4. Become.

そして、レーザ光照射室6の開口部がトレイ47によって塞がれた状態で、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射室6内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。   Then, in a state where the opening of the laser beam irradiation chamber 6 is closed by the tray 47, the sample S disposed in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, and the sample S is laser ablated. A carrier gas is introduced into the laser beam irradiation chamber 6 through the introduction tube 8. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9.

以降、上述した工程が繰り返され、トレイ47上に並べられた複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。そして、トレイ47上に並べられた全ての試料Sのレーザアブレーションが終了すると、図9に示されるように、開閉扉42が開けられて、レーザアブレートされた複数の試料Sが並べられたトレイ47が試料待機室7外に導出される。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S arranged on the tray 47 are sequentially laser ablated. When laser ablation of all the samples S arranged on the tray 47 is completed, as shown in FIG. 9, the opening / closing door 42 is opened, and a tray on which a plurality of laser ablated samples S are arranged. 47 is led out of the sample waiting chamber 7.

以上説明したように、第2の実施形態においては、レーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sは、試料待機部5で待機させられた後、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4にリンク機構45及び載置台46により搬送され、レーザ光照射部4でレーザアブレートされる。このように、試料待機部5からレーザ光照射部4への次位の試料Sの搬送に際してはレーザ光照射部4への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部4に次位の試料Sを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部4のガスの置換を行うことが不要となる。従って、第2の実施形態によれば、複数の試料Sを順次効率良くレーザアブレートすることができる。   As described above, in the second embodiment, the next sample S transported to the laser beam irradiation unit 4 is made to wait for the sample standby unit 5 and then the atmosphere to the laser beam irradiation unit 4 is reduced. While being prevented from flowing in, it is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 by the link mechanism 45 and the mounting table 46, and laser ablated by the laser beam irradiation unit 4. In this way, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4, the inflow of air to the laser beam irradiation unit 4 is prevented, so It is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation unit 4 with the carrier gas each time the sample S is introduced. Therefore, according to the second embodiment, a plurality of samples S can be sequentially laser ablated efficiently.

ところで、上述したリンク機構45及び載置台46に替えて、図10(a)及び図10(b)に示されるように、上下方向に移動可能な一対のローラ48、及びそれらに巻き掛けられたキャリアフィルム49を用いてもよい。この場合、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   By the way, instead of the link mechanism 45 and the mounting table 46 described above, as shown in FIGS. 10 (a) and 10 (b), a pair of rollers 48 that are movable in the vertical direction and wound around them. A carrier film 49 may be used. In this case, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図10(a)に示されるように、キャリアフィルム49上に複数の試料Sが取り付けられる。そして、所定の試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、一対のローラ48が回転すると共に、図10(b)に示されるように、新たな次位の試料Sがレーザ光照射部4に配置されるように、一対のローラ48が上方に移動させられ、レーザ光照射室6の開口部がキャリアフィルム49によって塞がれる。   First, as shown in FIG. 10A, a plurality of samples S are attached on the carrier film 49. When the laser ablation for the predetermined sample S is completed, the pair of rollers 48 are rotated, and a new next-order sample S is arranged in the laser beam irradiation unit 4 as shown in FIG. As described above, the pair of rollers 48 is moved upward, and the opening of the laser beam irradiation chamber 6 is closed by the carrier film 49.

そして、レーザ光照射室6の開口部がキャリアフィルム49によって塞がれた状態で、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射室6内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。   Then, with the opening of the laser beam irradiation chamber 6 closed by the carrier film 49, the sample S disposed in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, and the sample S is laser ablated. The carrier gas is introduced into the laser beam irradiation chamber 6 through the introduction tube 8. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9.

以降、上述した工程が繰り返され、キャリアフィルム49上に取り付けられた複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S attached on the carrier film 49 are sequentially laser ablated.

また、上述したリンク機構45及び載置台46に替えて、図11(a)及び図11(b)に示されるように、上下方向に進退可能なシャッタ50、及びローラ51を用いてもよい。この場合、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Further, in place of the link mechanism 45 and the mounting table 46 described above, as shown in FIGS. 11A and 11B, a shutter 50 and a roller 51 that can be moved back and forth in the vertical direction may be used. In this case, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図11(a)に示されるように、ローラ51の周面に複数の試料Sが取り付けられる。そして、所定の試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、ローラ51が回転した後、図11(b)に示されるように、新たな次位の試料Sがレーザ光照射部4に配置されるように、シャッタ50が降下して、レーザ光照射室6の開口部がローラ51の周面によって塞がれる。   First, as shown in FIG. 11A, a plurality of samples S are attached to the peripheral surface of the roller 51. When the laser ablation on the predetermined sample S is completed, after the roller 51 is rotated, a new next-order sample S is arranged in the laser beam irradiation unit 4 as shown in FIG. The shutter 50 is lowered, and the opening of the laser beam irradiation chamber 6 is blocked by the peripheral surface of the roller 51.

そして、レーザ光照射室6の開口部がローラ51の周面によって塞がれた状態で、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射室6内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。   Then, in a state where the opening of the laser beam irradiation chamber 6 is blocked by the peripheral surface of the roller 51, the sample S arranged in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, and the sample S is laser ablated. At the same time, a carrier gas is introduced into the laser beam irradiation chamber 6 through the introduction tube 8. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9.

この試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、シャッタ50が上昇して、次位の試料Sをレーザアブレートするためにローラ51が回転する。   When the laser ablation with respect to the sample S is completed, the shutter 50 is raised, and the roller 51 rotates to laser ablate the next sample S.

以降、上述した工程が繰り返され、ローラ51の周面に取り付けられた複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。
[第3の実施形態]
Thereafter, the above-described steps are repeated, and the plurality of samples S attached to the peripheral surface of the roller 51 are sequentially laser ablated.
[Third Embodiment]

第3の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1は、レーザアブレーション装置2のレーザ光照射部4及び試料待機部5の構成において、第1の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1と異なっている。以下、相異点であるレーザ光照射部4及び試料待機部5について説明する。   The laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the third embodiment is different from the laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the first embodiment in the configuration of the laser light irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 of the laser ablation apparatus 2. Is different. Hereinafter, the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 which are different points will be described.

図12に示されるように、レーザ光照射部4は、キャリアガスが流通するキャリアガス流通路(第2の流通路)52内に設けられている。また、試料待機部5は、試料Sが流通する試料流通路(第1の流通路)53内に設けられている。そして、レーザ光照射部4と試料待機部5とを結ぶライン上には、キャリアガス流通路52と試料流通路53とを連通する搬送路54が設けられている。   As shown in FIG. 12, the laser beam irradiation unit 4 is provided in a carrier gas flow path (second flow path) 52 through which the carrier gas flows. The sample standby unit 5 is provided in a sample flow path (first flow path) 53 through which the sample S flows. On the line connecting the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5, a conveyance path 54 that connects the carrier gas flow path 52 and the sample flow path 53 is provided.

キャリアガス流通路52の上壁において、レーザ光照射部4と試料待機部5とを結ぶライン上には、レーザ光Lを透過させるためのレーザ光透過部材41が設けられている。また、試料流通路53の下壁において、レーザ光照射部4と試料待機部5とを結ぶライン上には、搬送路54内を上下方向に移動可能な載置台55が待機させられている。   On the upper wall of the carrier gas flow path 52, a laser beam transmitting member 41 for transmitting the laser beam L is provided on a line connecting the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5. In addition, on the lower wall of the sample flow path 53, on the line connecting the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5, a mounting table 55 that can move up and down in the transport path 54 is placed on standby.

搬送路54の上端部には、載置台55が上方に移動した際に当接する内向きフランジ56が形成されている。これにより、載置台55が上方に移動して内向きフランジ56に当接すると、キャリアガス流通路52と搬送路54とは気密に隔てられることになる。   An inward flange 56 that abuts when the mounting table 55 moves upward is formed at the upper end of the conveyance path 54. Thus, when the mounting table 55 moves upward and contacts the inward flange 56, the carrier gas flow path 52 and the transport path 54 are airtightly separated.

なお、レーザアブレーション装置2の動作中、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通している。そのため、試料流通路53内に大気が流入しても、搬送路54を介してキャリアガス流通路52内に大気が流入することはない。   During the operation of the laser ablation apparatus 2, the carrier gas always circulates in the carrier gas flow passage 52 at a gas pressure higher than atmospheric pressure. Therefore, even if the air flows into the sample flow path 53, the air does not flow into the carrier gas flow path 52 via the transport path 54.

以上のように構成されたレーザ光照射部4及び試料待機部5においては、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   In the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 configured as described above, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図13(a)に示されるように、試料把持機構を備えたアーム(図示せず)等によって試料Sが試料搬送路53内を一方側から移動させられてきて載置台55上に載せられ、試料待機部5で待機させられる。続いて、図13(b)に示されるように、載置台55が上方に移動して内向きフランジ56に当接し、試料Sがキャリアガス流通路52内のレーザ光照射部4に配置される。このとき、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通しているため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に試料Sが搬送されることになる。   First, as shown in FIG. 13A, the sample S is moved from one side of the sample transport path 53 by an arm (not shown) provided with a sample gripping mechanism or the like and placed on the mounting table 55. The sample standby unit 5 is made to wait. Subsequently, as shown in FIG. 13B, the mounting table 55 moves upward and comes into contact with the inward flange 56, and the sample S is disposed in the laser light irradiation unit 4 in the carrier gas flow path 52. . At this time, since the carrier gas always flows in the carrier gas flow passage 52 at a gas pressure higher than atmospheric pressure, the sample standby unit 5 irradiates the laser beam while preventing the atmosphere from flowing into the laser beam irradiating unit 4. The sample S is transported to the part 4.

そして、試料Sがレーザ光照射部4に配置された状態で、試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされる。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、キャリアガス流通路52を介してICP質量分析装置3に送られる。   Then, in a state where the sample S is disposed in the laser beam irradiation unit 4, the sample S is irradiated with the laser beam L, and the sample S is laser ablated. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the carrier gas flow path 52.

この試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、図14(a)に示されるように、載置台55が下方に移動して、レーザアブレートされた試料Sが試料流通路53内の試料待機部5に配置された後、試料把持機構を備えたアーム(図示せず)等によって試料搬送路53内を他方側に移動させられていく。続いて、図14(b)に示されるように、新たな次位の試料Sが試料搬送路53内を一方側から移動させられてきて載置台55上に載せられ、試料待機部5で待機させられる。   When the laser ablation with respect to the sample S is completed, the mounting table 55 moves downward as shown in FIG. 14A, and the laser ablated sample S enters the sample standby section 5 in the sample flow path 53. After the arrangement, the inside of the sample transport path 53 is moved to the other side by an arm (not shown) provided with a sample gripping mechanism. Subsequently, as shown in FIG. 14 (b), a new next-order sample S is moved from one side in the sample transport path 53 and placed on the mounting table 55, and the sample standby unit 5 waits. Be made.

以降、上述した工程が繰り返され、複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S are sequentially laser ablated.

以上説明したように、第3の実施形態においては、レーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sは、試料待機部5で待機させられた後、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、搬送路54を介して試料待機部5からレーザ光照射部4に載置台55により搬送され、レーザ光照射部4でレーザアブレートされる。このように、試料待機部5からレーザ光照射部4への次位の試料Sの搬送に際してはレーザ光照射部4への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部4に次位の試料Sを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部4のガスの置換を行うことが不要となる。従って、第3の実施形態によれば、複数の試料Sを順次効率良くレーザアブレートすることができる。   As described above, in the third embodiment, the next-order sample S transported to the laser beam irradiation unit 4 is made to wait for the sample standby unit 5, and then the atmosphere to the laser beam irradiation unit 4 is reduced. While being prevented from flowing in, the sample is transferred from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 via the transfer path 54 by the mounting table 55 and laser ablated by the laser beam irradiation unit 4. In this way, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4, the inflow of air to the laser beam irradiation unit 4 is prevented, so It is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation unit 4 with the carrier gas each time the sample S is introduced. Therefore, according to the third embodiment, a plurality of samples S can be sequentially laser ablated efficiently.

また、レーザアブレーション装置2の動作中、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通している。そのため、試料流通路53内に大気が流入しても、搬送路54を介して試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sを搬送するに際し、レーザ光照射部4への大気の流入を確実に防止することができる。なお、キャリアガスと同一のガスを試料流通路53内にも流通させておけば、レーザ光照射部4への大気の流入をより一層確実に防止することが可能になる。
[第4の実施形態]
Further, during the operation of the laser ablation apparatus 2, the carrier gas always flows through the carrier gas flow passage 52 at a gas pressure higher than the atmospheric pressure. Therefore, even when the atmosphere flows into the sample flow path 53, the atmosphere to the laser light irradiation unit 4 is transported when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser light irradiation unit 4 through the transport path 54. Inflow can be reliably prevented. If the same gas as the carrier gas is also circulated in the sample flow path 53, it is possible to more reliably prevent the atmosphere from flowing into the laser beam irradiation unit 4.
[Fourth Embodiment]

第4の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1は、レーザアブレーション装置2のレーザ光照射部4及び試料待機部5の構成において、第1の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1と異なっている。以下、相異点であるレーザ光照射部4及び試料待機部5について説明する。   The laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the fourth embodiment is different from the laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the first embodiment in the configuration of the laser light irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 of the laser ablation apparatus 2. Is different. Hereinafter, the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 which are different points will be described.

図15に示されるように、レーザ光照射部4は、キャリアガスが流通するキャリアガス流通路52内に設けられている。また、試料待機部5は、試料Sが流通する試料流通路53内に設けられている。そして、レーザ光照射部4と試料待機部5とを結ぶライン上には、キャリアガス流通路52と試料流通路53とを連通する搬送空間57が設けられている。   As shown in FIG. 15, the laser beam irradiation unit 4 is provided in a carrier gas flow path 52 through which a carrier gas flows. The sample standby unit 5 is provided in a sample flow path 53 through which the sample S flows. On the line connecting the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5, a transfer space 57 that connects the carrier gas flow path 52 and the sample flow path 53 is provided.

キャリアガス流通路52の上壁において、レーザ光照射部4と試料待機部5とを結ぶライン上には、レーザ光Lを透過させるためのレーザ光透過部材41が設けられている。また、搬送空間57には、複数のフィン58が形成されたローラ59が配置されている。フィン58は、弾性を有する材料(例えば、ゴム等)からなり、キャリアガス流通路52と搬送空間57との接続部において、キャリアガス流通路52と搬送空間57とが気密に隔てられるように、ローラ59の周面に等間隔置きに形成されている。   On the upper wall of the carrier gas flow path 52, a laser beam transmitting member 41 for transmitting the laser beam L is provided on a line connecting the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5. A roller 59 having a plurality of fins 58 is disposed in the conveyance space 57. The fin 58 is made of an elastic material (for example, rubber), and the carrier gas flow path 52 and the transfer space 57 are hermetically separated at the connection portion between the carrier gas flow path 52 and the transfer space 57. It is formed on the circumferential surface of the roller 59 at regular intervals.

なお、レーザアブレーション装置2の動作中、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通しているため、試料流通路53内に大気が流入しても、搬送空間57を介してキャリアガス流通路52内に大気が流入することはない。   During the operation of the laser ablation apparatus 2, the carrier gas always flows through the carrier gas flow path 52 at a gas pressure higher than atmospheric pressure. Therefore, even if the atmosphere flows into the sample flow path 53, the transfer space 57 The atmosphere does not flow into the carrier gas flow path 52 via the.

以上のように構成されたレーザ光照射部4及び試料待機部5においては、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   In the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 configured as described above, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図16(a)に示されるように、試料Sがベルトコンベア等によって試料搬送路53内を一方側から移動させられてきてローラ59の周面に真空吸着等により固定され、試料待機部5で待機させられる。続いて、図16(b)に示されるように、ローラ59が回転して試料Sがキャリアガス流通路52内のレーザ光照射部4に配置され、試料Sを挟んで隣り合う一対のフィン58によってキャリアガス流通路52と搬送空間57とが気密に隔てられる。このとき、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通しているため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に試料Sが搬送されることになる。   First, as shown in FIG. 16A, the sample S is moved from one side of the sample transport path 53 by a belt conveyor or the like and fixed to the peripheral surface of the roller 59 by vacuum suction or the like. 5 is made to wait. Subsequently, as shown in FIG. 16B, the roller 59 rotates and the sample S is arranged in the laser light irradiation unit 4 in the carrier gas flow path 52, and a pair of adjacent fins 58 sandwiching the sample S therebetween. As a result, the carrier gas flow passage 52 and the transfer space 57 are hermetically separated. At this time, since the carrier gas always flows in the carrier gas flow passage 52 at a gas pressure higher than atmospheric pressure, the sample standby unit 5 irradiates the laser beam while preventing the atmosphere from flowing into the laser beam irradiating unit 4. The sample S is transported to the part 4.

そして、試料Sがレーザ光照射部4に配置された状態で、試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされる。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、キャリアガス流通路52を介してICP質量分析装置3に送られる。   Then, in a state where the sample S is disposed in the laser beam irradiation unit 4, the sample S is irradiated with the laser beam L, and the sample S is laser ablated. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the carrier gas flow path 52.

一方、試料Sがレーザアブレートされている最中には、新たな次位の試料Sがベルトコンベア等によって試料搬送路53内を一方側から移動させられてきてローラ59の周面に真空吸着等により固定され、試料待機部5で待機させられる。   On the other hand, while the sample S is being laser ablated, a new next-order sample S is moved from the one side of the sample transport path 53 by a belt conveyor or the like, and is vacuum-sucked on the peripheral surface of the roller 59. The sample is held by the sample waiting unit 5.

試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、図17(a)に示されるように、ローラ59が回転して次位の試料Sがキャリアガス流通路52内のレーザ光照射部4に配置されると共に、レーザアブレートされた試料Sが試料搬送路53内の試料待機部5に配置される。このとき、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通しているため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sが搬送されることになる。そして、レーザアブレートされた試料Sがベルトコンベア等によって試料搬送路53内を他方側に移動させられていく。   When the laser ablation with respect to the sample S is completed, as shown in FIG. 17A, the roller 59 rotates and the next-order sample S is arranged in the laser beam irradiation unit 4 in the carrier gas flow path 52, and The laser ablated sample S is placed in the sample standby unit 5 in the sample transport path 53. At this time, since the carrier gas always flows in the carrier gas flow passage 52 at a gas pressure higher than atmospheric pressure, the sample standby unit 5 irradiates the laser beam while preventing the atmosphere from flowing into the laser beam irradiating unit 4. The next sample S is transported to the section 4. Then, the laser ablated sample S is moved to the other side in the sample transport path 53 by a belt conveyor or the like.

続いて、図17(b)に示されるように、試料Sがレーザ光照射部4に配置された状態で、試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされる。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、キャリアガス流通路52を介してICP質量分析装置3に送られる。   Subsequently, as illustrated in FIG. 17B, the sample S is irradiated with the laser light L in a state where the sample S is disposed in the laser light irradiation unit 4, and the sample S is laser ablated. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the carrier gas flow path 52.

一方、試料Sがレーザアブレートされている最中には、新たな次位の試料Sがベルトコンベア等によって試料搬送路53内を一方側から移動させられてきてローラ59の周面に真空吸着等により固定され、試料待機部5で待機させられる。   On the other hand, while the sample S is being laser ablated, a new next-order sample S is moved from the one side of the sample transport path 53 by a belt conveyor or the like, and is vacuum-sucked on the peripheral surface of the roller 59. The sample is held by the sample waiting unit 5.

以降、上述した工程が繰り返され、複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S are sequentially laser ablated.

以上説明したように、第4の実施形態においては、レーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sは、試料待機部5で待機させられた後、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、搬送空間57を介して試料待機部5からレーザ光照射部4にローラ59により搬送され、レーザ光照射部4でレーザアブレートされる。このように、試料待機部5からレーザ光照射部4への次位の試料Sの搬送に際してはレーザ光照射部4への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部4に次位の試料Sを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部4のガスの置換を行うことが不要となる。従って、第4の実施形態によれば、複数の試料Sを順次効率良くレーザアブレートすることができる。   As described above, in the fourth embodiment, the next-order sample S transported to the laser light irradiation unit 4 is made to stand by the sample standby unit 5, and then the atmosphere to the laser light irradiation unit 4 is While being prevented from flowing in, the roller 59 is transported from the sample standby section 5 to the laser light irradiation section 4 through the transport space 57 and laser ablated by the laser light irradiation section 4. In this way, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4, the inflow of air to the laser beam irradiation unit 4 is prevented, so It is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation unit 4 with the carrier gas each time the sample S is introduced. Therefore, according to the fourth embodiment, a plurality of samples S can be sequentially laser ablated efficiently.

また、レーザアブレーション装置2の動作中、キャリアガスは大気圧より高いガス圧で常にキャリアガス流通路52内を流通している。そのため、試料流通路53内に大気が流入しても、搬送空間57を介して試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sを搬送するに際し、レーザ光照射部4への大気の流入を確実に防止することができる。なお、キャリアガスと同一のガスを試料流通路53内にも流通させておけば、レーザ光照射部4への大気の流入をより一層確実に防止することが可能になる。
[第5の実施形態]
Further, during the operation of the laser ablation apparatus 2, the carrier gas always flows through the carrier gas flow passage 52 at a gas pressure higher than the atmospheric pressure. Therefore, even when the atmosphere flows into the sample flow path 53, the atmosphere to the laser beam irradiation unit 4 is transported when the next sample S is transferred from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 through the transfer space 57. Inflow can be reliably prevented. If the same gas as the carrier gas is also circulated in the sample flow path 53, it is possible to more reliably prevent the atmosphere from flowing into the laser beam irradiation unit 4.
[Fifth Embodiment]

第5の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1は、レーザアブレーション装置2のレーザ光照射部4及び試料待機部5の構成において、第1の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1と異なっている。以下、相異点であるレーザ光照射部4及び試料待機部5について説明する。   The laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the fifth embodiment is different from the laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the first embodiment in the configuration of the laser light irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 of the laser ablation apparatus 2. Is different. Hereinafter, the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 which are different points will be described.

図18に示されるように、試料待機部5は、試料Sを洗浄するための洗浄液(例えば、アルコール等)が貯留された洗浄液容器(第1の容器)61内に設けられている。また、レーザ光照射部4は、キャップ状のレーザ光照射容器(第2の容器)62内に設けられており、その開口部62aは洗浄液の液面下に位置している。ここで、開口部62aとは、レーザ光照射容器62により形成される内部空間の入口部分を意味する。そして、洗浄液容器61の一方側から他方側にはベルトコンベア63が掛け渡されている。このベルトコンベア63は、洗浄液容器61の一方側において洗浄液中に入り、レーザ光照射容器62内において洗浄液の液面上に一旦現われ、洗浄液容器61の他方側において洗浄液中から出ている。   As shown in FIG. 18, the sample standby unit 5 is provided in a cleaning liquid container (first container) 61 in which a cleaning liquid (for example, alcohol) for cleaning the sample S is stored. The laser beam irradiation unit 4 is provided in a cap-shaped laser beam irradiation container (second container) 62, and the opening 62a is located below the surface of the cleaning liquid. Here, the opening 62 a means an entrance portion of the internal space formed by the laser beam irradiation container 62. A belt conveyor 63 is stretched from one side of the cleaning liquid container 61 to the other side. The belt conveyor 63 enters the cleaning liquid on one side of the cleaning liquid container 61, temporarily appears on the surface of the cleaning liquid in the laser light irradiation container 62, and comes out of the cleaning liquid on the other side of the cleaning liquid container 61.

レーザ光照射容器62には、キャリアガスをレーザ光照射容器62内に導入する導入管8、及びレーザ光照射容器62外に導出する導出管9が接続されている。また、レーザ光照射容器62の上壁には、レーザ光Lを透過させるためのレーザ光透過部材41が設けられている。   Connected to the laser light irradiation container 62 are an introduction pipe 8 for introducing a carrier gas into the laser light irradiation container 62 and a lead-out pipe 9 for extracting the carrier gas out of the laser light irradiation container 62. A laser light transmitting member 41 for transmitting the laser light L is provided on the upper wall of the laser light irradiation container 62.

以上のように構成されたレーザ光照射部4及び試料待機部5においては、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   In the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 configured as described above, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図19に示されるように、複数の試料Sがベルトコンベア63上に取り付けられた状態で、所定の試料Sが、洗浄液容器61の一方側において洗浄液中に入り、レーザ光照射容器62内において洗浄液の液面上に一旦現われて、レーザ光照射容器62内のレーザ光照射部4に配置される。   First, as shown in FIG. 19, with a plurality of samples S mounted on the belt conveyor 63, the predetermined sample S enters the cleaning liquid on one side of the cleaning liquid container 61, and enters the laser light irradiation container 62. 1 once appears on the surface of the cleaning liquid and is disposed in the laser light irradiation unit 4 in the laser light irradiation container 62.

そして、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介してレーザ光照射容器62内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。このとき、新たな次位の試料Sは、洗浄液容器61内の洗浄液中、すなわち試料待機部5で待機させられる。   Then, the sample S arranged in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, the sample S is laser ablated, and the carrier gas is introduced into the laser beam irradiation container 62 through the introduction tube 8. . As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9. At this time, the new next-order sample S is made to wait in the cleaning liquid in the cleaning liquid container 61, that is, in the sample standby unit 5.

試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、ベルトコンベア63が動作して次位の試料Sがレーザ光照射容器62内のレーザ光照射部4に配置されると共に、レーザアブレートされた試料Sがベルトコンベア63によって洗浄液容器61の他方側に移動させられる。このとき、次位の試料Sは、洗浄液の液面下に位置するレーザ光照射容器62の開口部62aを介して試料待機部5からレーザ光照射部4に搬送されるため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されることになる。   When the laser ablation on the sample S is completed, the belt conveyor 63 operates to place the next sample S on the laser beam irradiation unit 4 in the laser beam irradiation container 62, and the laser ablated sample S is transferred to the belt conveyor. 63, the cleaning liquid container 61 is moved to the other side. At this time, since the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 through the opening 62a of the laser beam irradiation container 62 positioned below the surface of the cleaning liquid, the laser beam irradiation unit Inflow of air to 4 is prevented.

以降、上述した工程が繰り返され、複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S are sequentially laser ablated.

以上説明したように、第5の実施形態においては、レーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sは、試料待機部5で待機させられた後、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、レーザ光照射容器62の開口部62aを介して試料待機部5からレーザ光照射部4にベルトコンベア63により搬送され、レーザ光照射部4でレーザアブレートされる。このように、試料待機部5からレーザ光照射部4への次位の試料Sの搬送に際してはレーザ光照射部4への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部4に次位の試料Sを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部4のガスの置換を行うことが不要となる。従って、第5の実施形態によれば、複数の試料Sを順次効率良くレーザアブレートすることができる。   As described above, in the fifth embodiment, the next sample S transported to the laser light irradiation unit 4 is made to wait for the sample standby unit 5 and then the atmosphere to the laser light irradiation unit 4 is reduced. While being prevented from flowing in, it is conveyed from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4 via the opening 62 a of the laser beam irradiation container 62 by the belt conveyor 63, and laser ablated by the laser beam irradiation unit 4. In this way, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4, the inflow of air to the laser beam irradiation unit 4 is prevented, so It is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation unit 4 with the carrier gas each time the sample S is introduced. Therefore, according to the fifth embodiment, a plurality of samples S can be sequentially laser ablated efficiently.

また、試料待機部5が設けられる洗浄液容器61内には洗浄液が貯留されているため、洗浄液の液面下に位置するレーザ光照射容器62の開口部62aを介して試料待機部5からレーザ光照射部4に次位の試料Sを搬送するに際し、レーザ光照射部4への大気の流入を確実に防止することができる。更に、試料待機部5が設けられる洗浄液容器61内には洗浄液が貯留されているため、試料Sをレーザアブレートするだけでなく、試料Sを洗浄することができる。
[第6の実施形態]
In addition, since the cleaning liquid is stored in the cleaning liquid container 61 in which the sample standby part 5 is provided, the laser light is emitted from the sample standby part 5 through the opening 62a of the laser light irradiation container 62 positioned below the surface of the cleaning liquid. When the next-order sample S is transported to the irradiation unit 4, it is possible to reliably prevent air from flowing into the laser beam irradiation unit 4. Furthermore, since the cleaning liquid is stored in the cleaning liquid container 61 in which the sample standby unit 5 is provided, the sample S can be cleaned as well as the sample S is laser ablated.
[Sixth Embodiment]

第6の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1は、レーザアブレーション装置2のレーザ光照射部4及び試料待機部5の構成において、第1の実施形態に係るレーザアブレーションICP質量分析システム1と異なっている。以下、相異点であるレーザ光照射部4及び試料待機部5について説明する。   The laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the sixth embodiment is different from the laser ablation ICP mass spectrometry system 1 according to the first embodiment in the configuration of the laser light irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 of the laser ablation apparatus 2. Is different. Hereinafter, the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 which are different points will be described.

図20に示されるように、試料待機部5は、試料Sを洗浄するための洗浄液(例えば、アルコール等)が貯留された洗浄液タンク64内において、洗浄液の液面下、すなわち洗浄液中に設けられている。また、レーザ光照射部4は、洗浄液タンク64内において、洗浄液の液面上に形成された上部空間内に設けられている。そして、洗浄液タンク64内には、洗浄液の液面上に周面の一部が位置した状態でローラ65が設置されている。   As shown in FIG. 20, the sample standby unit 5 is provided below the surface of the cleaning liquid, that is, in the cleaning liquid, in the cleaning liquid tank 64 in which the cleaning liquid (for example, alcohol) for cleaning the sample S is stored. ing. The laser beam irradiation unit 4 is provided in an upper space formed on the liquid surface of the cleaning liquid in the cleaning liquid tank 64. In the cleaning liquid tank 64, a roller 65 is installed in a state where a part of the peripheral surface is positioned on the liquid surface of the cleaning liquid.

洗浄液タンク64には、キャリアガスを洗浄液タンク64の上部空間内に導入する導入管8、及び洗浄液タンク64の上部空間外に導出する導出管9が接続されている。また、洗浄液タンク64の上壁には、レーザ光Lを透過させるためのレーザ光透過部材41が設けられている。   Connected to the cleaning liquid tank 64 are an introduction pipe 8 for introducing a carrier gas into the upper space of the cleaning liquid tank 64, and a lead-out pipe 9 for extracting the carrier gas out of the upper space of the cleaning liquid tank 64. A laser light transmitting member 41 for transmitting the laser light L is provided on the upper wall of the cleaning liquid tank 64.

以上のように構成されたレーザ光照射部4及び試料待機部5においては、次のように複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   In the laser beam irradiation unit 4 and the sample standby unit 5 configured as described above, a plurality of samples S are sequentially laser ablated as follows.

まず、図21(a)に示されるように、複数の試料Sがローラ65の周面に取り付けられた状態で、洗浄液タンク64内の上部空間内に設けられたレーザ光照射部4に所定の試料Sが配置される。   First, as shown in FIG. 21A, in a state where a plurality of samples S are attached to the peripheral surface of the roller 65, the laser beam irradiation unit 4 provided in the upper space in the cleaning liquid tank 64 is subjected to a predetermined process. Sample S is placed.

そして、レーザ光照射部4に配置された試料Sにレーザ光Lが照射されて試料Sがレーザアブレートされると共に、導入管8を介して洗浄液タンク64内の上部空間内にキャリアガスが導入される。これにより、微粒子化された試料Sの一部は、キャリアガスにより運ばれて、導出管9を介してICP質量分析装置3に送られる。このとき、新たな次位の試料Sは、洗浄液タンク64内の洗浄液中、すなわち試料待機部5で待機させられる。   Then, the sample S arranged in the laser beam irradiation unit 4 is irradiated with the laser beam L, the sample S is laser ablated, and the carrier gas is introduced into the upper space in the cleaning liquid tank 64 through the introduction pipe 8. Is done. As a result, a part of the micronized sample S is carried by the carrier gas and sent to the ICP mass spectrometer 3 through the outlet tube 9. At this time, the new next-order sample S is made to wait in the cleaning liquid in the cleaning liquid tank 64, that is, in the sample standby unit 5.

試料Sに対するレーザアブレーションが終了すると、ローラ65が回転して、図21(b)に示されるように、洗浄液タンク64内の上部空間内に設けられたレーザ光照射部4に次位の試料Sが配置される。このとき、次位の試料Sは、洗浄液タンク64内において、洗浄液中の試料待機部5から上部空間内のレーザ光照射部4に搬送されるため、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されることになる。   When the laser ablation with respect to the sample S is completed, the roller 65 is rotated, and as shown in FIG. 21B, the next sample S is placed in the laser beam irradiation unit 4 provided in the upper space in the cleaning liquid tank 64. Is placed. At this time, since the next sample S is transported from the sample standby part 5 in the cleaning liquid to the laser light irradiation part 4 in the upper space in the cleaning liquid tank 64, the inflow of air to the laser light irradiation part 4 is prevented. Will be prevented.

以降、上述した工程が繰り返され、複数の試料Sが順次レーザアブレートされる。   Thereafter, the above-described steps are repeated, and a plurality of samples S are sequentially laser ablated.

以上説明したように、第6の実施形態においては、レーザ光照射部4に搬送される次位の試料Sは、試料待機部5で待機させられた後、レーザ光照射部4への大気の流入が防止されつつ、試料待機部5からレーザ光照射部4にローラ65により搬送され、レーザ光照射部4でレーザアブレートされる。このように、試料待機部5からレーザ光照射部4への次位の試料Sの搬送に際してはレーザ光照射部4への大気の流入が防止されるため、レーザ光照射部4に次位の試料Sを導入する度にキャリアガスによってレーザ光照射部4のガスの置換を行うことが不要となる。従って、第6の実施形態によれば、複数の試料Sを順次効率良くレーザアブレートすることができる。   As described above, in the sixth embodiment, the next-order sample S transported to the laser beam irradiation unit 4 is made to stand by the sample standby unit 5, and then the atmosphere to the laser beam irradiation unit 4 is While being prevented from flowing in, the sample standby unit 5 transports the sample to the laser beam irradiation unit 4 by the roller 65 and laser ablate the laser beam irradiation unit 4. In this way, when the next sample S is transported from the sample standby unit 5 to the laser beam irradiation unit 4, the inflow of air to the laser beam irradiation unit 4 is prevented, so It is not necessary to replace the gas in the laser beam irradiation unit 4 with the carrier gas each time the sample S is introduced. Therefore, according to the sixth embodiment, a plurality of samples S can be sequentially laser ablated efficiently.

本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではない。例えば、試料分析装置は、ICP質量分析装置に限定されず、ICP発光分析装置や原子吸光分析装置等であってもよい。   The present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, the sample analyzer is not limited to the ICP mass spectrometer, and may be an ICP emission analyzer, an atomic absorption analyzer, or the like.

第1の実施形態のレーザアブレーションICP質量分析システムの構成図である。It is a block diagram of the laser ablation ICP mass spectrometry system of 1st Embodiment. 第1の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の構成図である。It is a block diagram of the laser beam irradiation part and sample standby part of 1st Embodiment. 第1の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部におけるレーザアブレーションの工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the laser ablation in the laser beam irradiation part and sample standby part of 1st Embodiment. 図3に示されたレーザアブレーションの工程の次工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the next process of the process of the laser ablation shown by FIG. 図4に示されたレーザアブレーションの工程の次工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the next process of the process of the laser ablation shown by FIG. 第2の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の構成図である。It is a block diagram of the laser beam irradiation part and sample standby part of 2nd Embodiment. 第2の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部におけるレーザアブレーションの工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the laser ablation in the laser beam irradiation part and sample standby part of 2nd Embodiment. 図7に示されたレーザアブレーションの工程の次工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the next process of the process of the laser ablation shown by FIG. 図8に示されたレーザアブレーションの工程の次工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the next process of the process of the laser ablation shown by FIG. 第2の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の一変形例の構成図である。It is a block diagram of the modification of the laser beam irradiation part and sample waiting part of 2nd Embodiment. 第2の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の一変形例の構成図である。It is a block diagram of the modification of the laser beam irradiation part and sample waiting part of 2nd Embodiment. 第3の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の構成図である。It is a block diagram of the laser beam irradiation part and sample standby part of 3rd Embodiment. 第3の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部におけるレーザアブレーションの工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the laser ablation in the laser beam irradiation part and sample standby part of 3rd Embodiment. 図13に示されたレーザアブレーションの工程の次工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the next process of the process of the laser ablation shown by FIG. 第4の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の構成図である。It is a block diagram of the laser beam irradiation part and sample standby part of 4th Embodiment. 第4の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部におけるレーザアブレーションの工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the laser ablation in the laser beam irradiation part of 4th Embodiment, and a sample standby part. 図16に示されたレーザアブレーションの工程の次工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the next process of the process of the laser ablation shown by FIG. 第5の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の構成図である。It is a block diagram of the laser beam irradiation part and sample standby part of 5th Embodiment. 第5の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部におけるレーザアブレーションの工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the laser ablation in the laser beam irradiation part and sample standby part of 5th Embodiment. 第6の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部の構成図である。It is a block diagram of the laser beam irradiation part and sample standby part of 6th Embodiment. 第6の実施形態のレーザ光照射部及び試料待機部におけるレーザアブレーションの工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the laser ablation in the laser beam irradiation part of 6th Embodiment, and a sample standby part.

符号の説明Explanation of symbols

1…レーザアブレーションICP質量分析システム(レーザアブレーション試料分析システム)、2…レーザアブレーション装置、3…ICP質量分析装置(試料分析装置)、4…レーザ光照射部、5…試料待機部、6…レーザ光照射室(第2の室)、7…試料待機室(第1の室)、43…開閉扉、52…キャリアガス流通路(第2の流通路)、53…試料流通路(第1の流通路)、54…搬送路、61…洗浄液容器(第1の容器)、62…レーザ光照射容器(第2の容器)、62a…開口部、L…レーザ光、S…試料。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Laser ablation ICP mass spectrometry system (laser ablation sample analysis system), 2 ... Laser ablation apparatus, 3 ... ICP mass spectrometry apparatus (sample analysis apparatus), 4 ... Laser beam irradiation part, 5 ... Sample standby part, 6 ... Laser Light irradiation chamber (second chamber), 7 ... sample standby chamber (first chamber), 43 ... opening / closing door, 52 ... carrier gas flow path (second flow path), 53 ... sample flow path (first flow path) (Flow path), 54 ... conveyance path, 61 ... cleaning liquid container (first container), 62 ... laser light irradiation container (second container), 62a ... opening, L ... laser light, S ... sample.

Claims (7)

試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置であって、
前記レーザ光が照射される前記試料が配置されると共に、微粒子化された前記試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部と、
前記レーザ光照射部に搬送される次位の試料が待機させられる試料待機部とを備え、
前記試料待機部は、前記試料が流通する第1の流通路内に設けられ、
前記レーザ光照射部は、大気圧より高いガス圧の前記キャリアガスが流通する第2の流通路内に設けられ、
前記レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、前記第1の流通路と前記第2の流通路とを連通する搬送路を介して前記試料待機部から前記レーザ光照射部に前記次位の試料を搬送することを特徴とするレーザアブレーション装置。
A laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with laser light,
A laser beam irradiation unit in which the sample to be irradiated with the laser beam is arranged and a carrier gas for carrying a part of the micronized sample is circulated;
A sample standby unit for waiting for the next sample transported to the laser beam irradiation unit,
The sample standby part is provided in a first flow path through which the sample flows,
The laser beam irradiation unit is provided in a second flow path through which the carrier gas having a gas pressure higher than atmospheric pressure flows,
While preventing the air from flowing into the laser beam irradiation unit, the next from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit via a conveyance path that communicates the first flow path and the second flow path. A laser ablation apparatus for transporting a specimen of a position.
試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置であって、
前記レーザ光が照射される前記試料が配置されると共に、微粒子化された前記試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部と、
前記レーザ光照射部に搬送される前記試料が複数載置される載置台と、
前記載置台に載置された複数の前記試料が待機させられる試料待機部とを備え、
前記試料待機部は、前記キャリアガスと同一のガスが充填される第1の室内に設けられ、
前記レーザ光照射部は、前記第1の室に隣接する第2の室内に設けられ、
前記載置台が移動させられて前記試料が前記第2の室の開口部から前記第2の室内に順次搬送されると共に、前記載置台によって前記開口部を塞ぐことにより、前記レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、前記試料待機部から前記レーザ光照射部に前記試料が搬送されることを特徴とするレーザアブレーション装置。
A laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with laser light,
A laser beam irradiation unit in which the sample to be irradiated with the laser beam is arranged and a carrier gas for carrying a part of the micronized sample is circulated;
A mounting table on which a plurality of the samples conveyed to the laser beam irradiation unit are mounted;
A sample waiting section for waiting for a plurality of the samples placed on the mounting table,
The sample standby section is provided in a first chamber filled with the same gas as the carrier gas,
The laser beam irradiation unit is provided in a second chamber adjacent to the first chamber,
The mounting table is moved so that the sample is sequentially transported from the opening of the second chamber into the second chamber, and the opening is closed by the mounting table to the laser light irradiation unit. the while preventing the inflow of air, features and, Relais chromatography the ablation device that pre Ki試 charge is conveyed to the laser beam irradiation unit from the sample standby unit.
試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置であって、A laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with laser light,
前記レーザ光が照射される前記試料が配置されると共に、微粒子化された前記試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部と、A laser beam irradiation unit in which the sample to be irradiated with the laser beam is arranged and a carrier gas for carrying a part of the micronized sample is circulated;
前記レーザ光照射部に搬送される次位の試料が待機させられる試料待機部とを備え、A sample standby unit for waiting for the next sample transported to the laser beam irradiation unit,
前記試料待機部は、所定の液体を貯留する第1の容器内に設けられ、The sample standby unit is provided in a first container that stores a predetermined liquid,
前記レーザ光照射部は、前記液体の液面下に開口部が位置するキャップ状の第2の容器内に設けられ、The laser beam irradiation unit is provided in a cap-shaped second container in which an opening is located below the liquid level,
前記レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、前記開口部を介して前記試料待機部から前記レーザ光照射部に前記次位の試料が搬送されることを特徴とするレーザアブレーション装置。The laser ablation apparatus, wherein the next sample is transported from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit through the opening while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit.
試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置と、微粒子化された前記試料の一部に対して所定の分析を行う試料分析装置とを具備するレーザアブレーション試料分析システムであって、
前記レーザアブレーション装置は、
請求項1〜3のいずれか一つに記載のレーザアブレーション装置である、
ことを特徴とするレーザアブレーション試料分析システム。
A laser ablation sample comprising: a laser ablation device that pulverizes a part of the sample by irradiating the sample with laser light; and a sample analysis device that performs a predetermined analysis on a part of the sample that has been atomized An analysis system,
The laser ablation apparatus is
The laser ablation apparatus according to any one of claims 1 to 3,
Laser ablation sample analysis system characterized by the above.
試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置において、前記レーザ光が照射される前記試料が配置されると共に、微粒子化された前記試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通する第2の流通路内に設けられたレーザ光照射部に次位の試料を導入する試料導入方法であって、
前記試料が流通する第1の流通路内に設けられた試料待機部で前記次位の試料を待機させる工程と、
前記キャリアガスが大気圧より高いガス圧で充填された前記レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、前記第1の流通路と前記第2の流通路とを連通する搬送路を介して、前記試料待機部から前記レーザ光照射部に前記次位の試料を搬送する工程とを含むことを特徴とする試料導入方法。
In a laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with a laser beam, the sample to be irradiated with the laser light is arranged and also carries a part of the pulverized sample A sample introduction method for introducing a next-order sample into a laser beam irradiation section provided in a second flow path through which the carrier gas flows.
Waiting the next sample in a sample standby section provided in a first flow path through which the sample flows;
Via a conveyance path that connects the first flow path and the second flow path while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit filled with the carrier gas at a gas pressure higher than atmospheric pressure. And a step of transporting the next-order sample from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit.
試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置において、前記レーザ光が照射される前記試料が配置されると共に、微粒子化された前記試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通する第2の室内に設けられたレーザ光照射部に前記試料を導入する試料導入方法であって、
載置台に載置された複数の前記試料を前記第2の室に隣接する第1の室内に設けられた試料待機部で待機させる工程と、
前記載置台を移動させて前記試料を前記第2の室の開口部から前記第2の室内に順次搬送すると共に、前記載置台によって前記開口部を塞ぐことにより、前記キャリアガスが充填された前記レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、前記試料待機部から前記レーザ光照射部に前記試料を搬送する工程とを含むことを特徴とする試料導入方法。
In a laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with a laser beam, the sample to be irradiated with the laser light is arranged and also carries a part of the pulverized sample A sample introduction method for introducing the sample into a laser beam irradiation section provided in a second chamber through which a carrier gas of
A step of waiting a plurality of the samples mounted on a mounting table in a sample standby section provided in a first chamber adjacent to the second chamber;
The carrier is filled with the carrier gas by moving the mounting table and sequentially transporting the sample from the opening of the second chamber into the second chamber, and closing the opening with the mounting table. And a step of conveying the sample from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit.
試料にレーザ光を照射することにより前記試料の一部を微粒子化するレーザアブレーション装置において、第1の容器内に貯留された所定の液体の液面下に開口部が位置するキャップ状の第2の容器内に設けられ、前記レーザ光が照射される前記試料が配置されると共に微粒子化された前記試料の一部を運ぶためのキャリアガスが流通するレーザ光照射部に次位の試料を導入する試料導入方法であって、
前記次位の試料を前記第1の容器内に設けられた試料待機部で待機させる工程と、
前記キャリアガスが充填された前記レーザ光照射部への大気の流入を防止しつつ、前記試料待機部から前記レーザ光照射部に前記次位の試料を搬送する工程とを含むことを特徴とする試料導入方法。
In a laser ablation apparatus for pulverizing a part of the sample by irradiating the sample with laser light, a cap-shaped second in which an opening is located below the surface of a predetermined liquid stored in the first container. The next sample is introduced into the laser beam irradiation section where the sample to be irradiated with the laser beam is disposed and the carrier gas for carrying a part of the micronized sample is circulated. A sample introduction method for
Waiting for the next-order sample in a sample standby section provided in the first container;
And transporting the next sample from the sample standby unit to the laser beam irradiation unit while preventing air from flowing into the laser beam irradiation unit filled with the carrier gas. Sample introduction method.
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