JP4528850B2 - 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Description
本発明の一実施形態について図1から図9に基づいて説明すると以下の通りである。本実施形態の欠陥検出装置は、検査対象物を撮像した画像の画素の1つ1つについて、当該画素の周辺画素と輝度値を比較することによって、輝度値の異常な画素(正常値と異なる輝度値を有する画素)を特定し、これにより検査対象物の点・線欠陥を検出する。以下では、輝度値が正常であるか否かを判定する対象となる画素を被検査画素と呼び、被検査画素との比較の対象となる画素を比較対象画素と呼ぶ。また、正常な(設定された通りの)輝度値を正常値、異常な(設定された輝度値よりも高い、または低い)輝度値を異常値と呼ぶ。
ここでは、まず、検査対象物を撮像した画像、及び該画像中の被検査画素と比較対象画素との位置関係について図2に基づいて説明する。図2は、検査対象物と該検査対象物を撮像した画像との関係、及び検査対象物を撮像した画像における、被検査画素と比較対象画素との位置関係を説明する図である。
本実施形態の欠陥検出装置は、検査対象となる表示装置Pの表示画素に対して、上記のように撮像画素が割り当てられるように撮像を行って得られた画像を用いて、上記表示装置Pの欠陥の検出を行う。
続いて、本実施形態の検査システム100の概要について、図4に基づいて説明する。図4は、本実施形態の検査システム100の要部構成を示すブロック図である。図示のように、検査システム100には、欠陥検出装置1と撮像装置2とが含まれており、欠陥検出装置1には、画像入力部10、画像メモリ11、差分値算出部12、欠陥判定部(欠陥判定手段)13、及び表示制御部14が含まれている。そして、撮像装置2の撮像範囲内には、表示装置Pが配置されており、表示装置Pには、表示装置駆動回路4が接続しており、表示装置駆動回路4には、パターンジェネレータ3が接続している。
続いて、欠陥検出装置1のより詳細な構成について、図1に基づいて説明する。図1は、欠陥検出装置1の要部構成を示すブロック図であり、特に差分値算出部12と欠陥判定部13との詳細を示している。
続いて、欠陥検出装置1で行われる欠陥検出処理の流れについて、図5に基づいて説明する。図5は、欠陥検出処理の一例を示すフローチャートである。なお、図5のフローチャートは、表示装置Pに欠陥検出用の表示パターンが表示され、該表示パターンが撮像装置2によって撮像され、撮像によって得られた画像が画像入力部10を介して画像メモリ11に格納された後の処理を示している。
すなわち、第1アドレス制御回路20は、垂直アドレスカウンタ(Vcnt)を1だけインクリメントする(S16)。
上述のように、比較対象画素の位置は、被検査画素の位置に応じて予め定められており、被検査画素の位置に対応する比較対象画素の位置は、比較画素位置決定テーブル25に格納されている。比較対象画素の位置は、被検査画素の画像中の位置を考慮せずに決定してもよいが、比較対象画素の位置を被検査画素の画像中の位置に応じて変えることによって、欠陥の検出精度を高めることができる。
上述のように、検査対象物である表示装置Pのサイズが大きい場合には、該表示装置Pを撮像した画像に歪が生じることがあり、歪が生じた画像を用いて欠陥検出を行う場合には、比較対象画素の位置を被検査画素の位置に応じて変えることが有効である。
上記実施形態では、2組(または3組以上)の比較対象画素のそれぞれと被検査画素との差分演算を行い、差分演算結果の中から、最も絶対値が小さい差分演算結果を用いて欠陥検出の判定を行う例について説明した。上記の構成によれば、複数の差分演算結果の中から、最も擬似欠陥が発生し難い差分演算結果が用いられるので、比較対象画素の中に、輝度値が異常値であるものが含まれている場合であっても、擬似欠陥の発生を抑えることができる。
ここでは、本実施形態の欠陥検出装置1’が行う欠陥検出方法の概要について、図10に基づいて説明する。図10は、本実施形態の欠陥検出方法の概要を説明する図である。なお、同図では、被検査画素をP0、比較対象画素1をP1〜P8、比較対象画素2をP1a〜P8a、比較対象画素3をP1b〜P8bで示している。
続いて、上記の欠陥検出方法を実行する欠陥検出装置1’の詳細な構成について、図12に基づいて説明する。図12は、本実施形態の欠陥検出装置1’の要部構成を示すブロック図である。なお、図1に示す上記実施形態の欠陥検出装置1と同様の構成については、同一の参照番号を付し、その説明を省略する。
欠陥位置と一致する位置の比較対象画素を、欠陥位置以外の位置の画素と差し替えて比較対象画素を決定する処理は、例えば図13に示すようにして実現することもできる。図13は、比較対象画素を決定する処理の一例を示すフローチャートである。
欠陥位置メモリ27に格納する欠陥位置を予め求めておく場合には、上述の欠陥検出処理(図5参照)を行う前に、表示装置Pを撮像した画像から、欠陥を検出する処理を行っておく必要がある。この処理は、画像から点欠陥及び線欠陥を検出できるものであればよく、従来から用いられている一般的な手法を用いることもできる。
ここで、上記のように、欠陥検出処理の前処理として欠陥の検出を行う場合には、処理時間が長くなるという難点がある。そこで、図12に示す欠陥検出装置1’では、欠陥検出結果を比較対象画素の設定処理にフィードバックすることによって、比較対象画素から欠陥位置の画素を除外することもできるようになっている。
上述の例では、比較演算処理を、比較対象画素の輝度値の算術平均(相加平均)値と被検査画素の輝度値との差分を算出することによって行う例について説明した。算術平均値を用いる場合には、演算処理が単純であるため、比較演算処理の高速化が容易である。また、算術平均値を用いる場合には、比較対象画素の数を増やすことにより、簡単に比較演算処理の結果の信頼性を高めることができる。
12 差分値算出部
13 欠陥判定部(欠陥判定手段)
20 第1アドレス制御回路(比較対象画素設定手段、抽出位置補正手段)
21 画像データ読込み回路
22a〜22i’ バッファ
23a 第1差分演算回路(指標算出手段)
23b 第2差分演算回路(指標算出手段)
24 比較/選択回路(指標選択手段)
27 欠陥位置メモリ
28 選択回路(比較対象画素変更手段)
Claims (9)
- 検査対象物を撮像した画像であって、輝度値が一定の周期で繰り返すパターンを有する画像から抽出した被検査画素の輝度値と、上記被検査画素に対して上記一定の周期だけ離れた画素から選択された比較対象画素の、上記画像から抽出した輝度値とに基づいて、上記検査対象物の欠陥を検出する欠陥検出装置であって、
上記被検査画素には、複数の上記比較対象画素よりなり、互いに異なる複数の比較対象画素群が対応付けられており、
上記比較対象画素群に含まれる各比較対象画素の輝度値と、上記被検査画素の輝度値とのずれの大きさを示す指標を、上記複数の比較対象画素群のそれぞれについて算出する指標算出手段と、
上記指標算出手段が算出した指標のうち、絶対値が最も小さい指標を欠陥検出用指標として選択する指標選択手段と、
上記指標選択手段が選択した欠陥検出用指標と、予め定めた閾値との大小関係から、上記検査対象物の上記被検査画素に対応する位置における欠陥の有無を判定する欠陥判定手段とを備え、
上記指標算出手段は、上記被検査画素が、上記画像のコーナー部または端部に含まれる場合に、上記指標として、上記比較対象画素群に含まれる比較対象画素の輝度値を線形補間して求めた、上記被検査画素の位置における輝度値と、被検査画素の輝度値との差を算出することを特徴とする欠陥検出装置。 - 上記比較対象画素を上記画像の外縁部を避けて設定する比較対象画素設定手段を備えていることを特徴とする請求項1に記載の欠陥検出装置。
- 上記検査対象物の欠陥位置に対応する上記画像上の位置を示す欠陥位置データを格納する欠陥位置記憶部を備え、
上記比較対象画素が、上記欠陥位置記憶部に格納されている欠陥位置データが示す位置と一致する場合に、当該比較対象画素を、上記欠陥位置データが示す位置以外の画素に変更する比較対象画素変更手段を備えていることを特徴とする請求項1または2に記載の欠陥検出装置。 - 上記欠陥判定手段は、上記検査対象物に欠陥があると判定したときの、被検査画素の上記画像上の位置を、上記欠陥位置データとして欠陥位置記憶部に格納し、
上記比較対象画素変更手段は、上記欠陥判定手段が上記欠陥位置記憶部に格納した欠陥位置データを用いて、比較対象画素の変更を行うことを特徴とする請求項3に記載の欠陥検出装置。 - 上記画像において、撮像時に撮像装置に最も近接していた部位である最近接部位以外に位置する被検査画素及び比較対象画素の少なくとも1つについて、当該被検査画素及び比較対象画素の少なくとも1つの輝度値の抽出位置が、上記最近傍部位寄りとなるように補正すると共に、その補正量が上記最近傍部位から遠い位置となるにつれて大きくなるようにする抽出位置補正手段を備えていることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の欠陥検出装置。
- 上記指標算出手段は、上記被検査画素が、上記画像のコーナー部または端部に含まれない場合に、上記指標として、
上記比較対象画素群に含まれる各比較対象画素の輝度値の平均値と被検査画素の輝度値との差、
上記比較対象画素群から、当該比較対象画素群において、輝度値が最大となる比較対象画素、または最小となる比較対象画素の少なくとも一方を除いた残りの比較対象画素における輝度値の平均値と被検査画素の輝度値の差、
または、上記比較対象画素群に含まれる比較対象画素のうち、輝度値の偏差値が所定値よりも大きい比較対象画素を除いた残りの比較対象画素における輝度値の平均値と、被検査画素の輝度値との差、
を算出することを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載の欠陥検出装置。 - 検査対象物を撮像した画像であって、輝度値が一定の周期で繰り返すパターンを有する画像から抽出した被検査画素の輝度値と、上記被検査画素に対して上記一定の周期だけ離れた画素から選択された比較対象画素の、上記画像から抽出した輝度値とに基づいて、上記検査対象物の欠陥を検出する欠陥検出装置が実行する欠陥検出方法であって、
上記被検査画素には、複数の上記比較対象画素を含み、互いに異なる複数の比較対象画素群が対応付けられており、
上記比較対象画素群に含まれる各比較対象画素の輝度値と、上記被検査画素の輝度値とのずれの大きさを示す指標を、上記複数の比較対象画素群のそれぞれについて算出する指標算出ステップと、
上記指標算出ステップにおいて算出した指標のうち、絶対値が最も小さい指標を欠陥検出用指標として選択する指標選択ステップと、
上記指標選択ステップにおいて選択した欠陥検出用指標と、予め定めた閾値との大小関係から、上記検査対象物の上記被検査画素に対応する位置における欠陥の有無を判定する欠陥判定ステップとを含み、
上記指標算出ステップでは、上記被検査画素が、上記画像のコーナー部または端部に含まれる場合に、上記指標として、上記比較対象画素群に含まれる比較対象画素の輝度値を線形補間して求めた、上記被検査画素の位置における輝度値と、被検査画素の輝度値との差を算出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 請求項1から6の何れか1項に記載の欠陥検出装置を動作させるための欠陥検出プログラムであって、
コンピュータを上記各手段として機能させるための欠陥検出プログラム。 - 請求項8に記載の欠陥検出プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008217392A JP4528850B2 (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
CN200980134131.6A CN102132147B (zh) | 2008-08-26 | 2009-08-26 | 缺陷检测装置 |
PCT/JP2009/064892 WO2010024303A1 (ja) | 2008-08-26 | 2009-08-26 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008217392A JP4528850B2 (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010054247A JP2010054247A (ja) | 2010-03-11 |
JP4528850B2 true JP4528850B2 (ja) | 2010-08-25 |
Family
ID=41721470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008217392A Active JP4528850B2 (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4528850B2 (ja) |
CN (1) | CN102132147B (ja) |
WO (1) | WO2010024303A1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5589472B2 (ja) * | 2010-03-19 | 2014-09-17 | 凸版印刷株式会社 | 有機el基板検査装置及び検査方法 |
JP2012088199A (ja) * | 2010-10-20 | 2012-05-10 | Yamaha Motor Co Ltd | 異物検査装置および異物検査方法 |
WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
CN104412089B (zh) * | 2012-07-27 | 2017-03-15 | 夏普株式会社 | 液晶显示面板的检查方法和液晶显示面板的检查装置 |
JP5846100B2 (ja) * | 2012-11-01 | 2016-01-20 | 三菱電機株式会社 | 表示装置の欠陥検査方法 |
WO2014167641A1 (ja) * | 2013-04-08 | 2014-10-16 | 株式会社イクス | 輝度測定方法、輝度測定装置及びこれらを用いた画質調整技術 |
CN106205437A (zh) * | 2015-05-05 | 2016-12-07 | 联想(北京)有限公司 | 一种坏点检测方法、电子设备及装置 |
CN106686372A (zh) * | 2015-11-11 | 2017-05-17 | 天津三星电子有限公司 | 一种显示终端图像显示的检测方法及其显示终端 |
CN105974616A (zh) * | 2015-11-18 | 2016-09-28 | 乐视致新电子科技(天津)有限公司 | 液晶屏幕缺陷的检测方法及*** |
CN105430382A (zh) * | 2015-12-02 | 2016-03-23 | 厦门雅迅网络股份有限公司 | 一种视频图像检测黑边的方法和装置 |
CN106056608A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-10-26 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 一种图像点线缺陷检测方法及装置 |
JP6265253B1 (ja) * | 2016-12-15 | 2018-01-24 | オムロン株式会社 | 検査装置および検査方法 |
CN107144993B (zh) * | 2017-06-30 | 2020-05-05 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板检测方法及装置 |
CN107402218A (zh) * | 2017-09-25 | 2017-11-28 | 武汉华星光电技术有限公司 | Cf基板的微观缺陷检测方法、装置及设备 |
US10783629B2 (en) * | 2017-09-29 | 2020-09-22 | Align Technology, Inc. | Aligner image based quality control system |
JP2019106590A (ja) * | 2017-12-11 | 2019-06-27 | シャープ株式会社 | 異常判定装置、異常判定方法、および制御プログラム |
CN108508637B (zh) * | 2018-03-08 | 2020-09-11 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备 |
JP7173763B2 (ja) * | 2018-06-20 | 2022-11-16 | 株式会社日本マイクロニクス | 画像生成装置および画像生成方法 |
CN109584214A (zh) * | 2018-11-08 | 2019-04-05 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种背光检中图像管理方法与*** |
WO2020189189A1 (ja) * | 2019-03-15 | 2020-09-24 | オムロン株式会社 | 検査装置及び方法 |
US11158042B2 (en) * | 2019-07-10 | 2021-10-26 | International Business Machines Corporation | Object defect detection |
JP2021051015A (ja) * | 2019-09-25 | 2021-04-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 測距装置、測距方法、並びにプログラム |
CN112748118B (zh) * | 2020-12-29 | 2024-06-25 | 乐金显示光电科技(中国)有限公司 | 一种显示面板的检测***和检测方法 |
JP2022105404A (ja) * | 2021-01-04 | 2022-07-14 | 株式会社東芝 | 処理装置、溶接システム、処理方法、プログラム、及び記憶媒体 |
CN116843602B (zh) * | 2022-03-25 | 2024-05-14 | 广州镭晨智能装备科技有限公司 | 一种缺陷检测方法及视觉检测设备 |
CN114764790B (zh) * | 2022-03-31 | 2023-05-12 | 河北鹰眼智能科技有限公司 | 一种基于霍夫圆检测的齿轮断齿检测方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001243473A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Toppan Printing Co Ltd | 画像濃淡ムラ検出方法 |
JP2003149160A (ja) * | 2001-11-13 | 2003-05-21 | Nec Corp | 外観検査方法及び外観検査装置 |
JP2004028836A (ja) * | 2002-06-26 | 2004-01-29 | V Technology Co Ltd | 撮像検査装置における8近傍点隣接比較方式による欠陥検出方法、欠陥検出システム |
JP2005045514A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Olympus Corp | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP2005229200A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-08-25 | Fujitsu Ltd | ディストーション補正回路 |
JP2007086056A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 |
JP2008092602A (ja) * | 2007-12-10 | 2008-04-17 | Sony Corp | 画像処理装置とカメラシステム及び画像処理方法 |
JP2008171142A (ja) * | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Seiko Epson Corp | シミ欠陥検出方法及び装置 |
JP2008170325A (ja) * | 2007-01-12 | 2008-07-24 | Seiko Epson Corp | シミ欠陥検出方法およびシミ欠陥検出装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62108378A (ja) * | 1985-11-07 | 1987-05-19 | Hitachi Ltd | 画像補正方式 |
-
2008
- 2008-08-26 JP JP2008217392A patent/JP4528850B2/ja active Active
-
2009
- 2009-08-26 WO PCT/JP2009/064892 patent/WO2010024303A1/ja active Application Filing
- 2009-08-26 CN CN200980134131.6A patent/CN102132147B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001243473A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Toppan Printing Co Ltd | 画像濃淡ムラ検出方法 |
JP2003149160A (ja) * | 2001-11-13 | 2003-05-21 | Nec Corp | 外観検査方法及び外観検査装置 |
JP2004028836A (ja) * | 2002-06-26 | 2004-01-29 | V Technology Co Ltd | 撮像検査装置における8近傍点隣接比較方式による欠陥検出方法、欠陥検出システム |
JP2005045514A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Olympus Corp | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP2005229200A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-08-25 | Fujitsu Ltd | ディストーション補正回路 |
JP2007086056A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 |
JP2008171142A (ja) * | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Seiko Epson Corp | シミ欠陥検出方法及び装置 |
JP2008170325A (ja) * | 2007-01-12 | 2008-07-24 | Seiko Epson Corp | シミ欠陥検出方法およびシミ欠陥検出装置 |
JP2008092602A (ja) * | 2007-12-10 | 2008-04-17 | Sony Corp | 画像処理装置とカメラシステム及び画像処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010054247A (ja) | 2010-03-11 |
WO2010024303A1 (ja) | 2010-03-04 |
CN102132147B (zh) | 2013-10-16 |
CN102132147A (zh) | 2011-07-20 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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