JP4523478B2 - 帯域通過フィルタ及び高周波モジュール、並びにこれを用いた無線通信機器 - Google Patents

帯域通過フィルタ及び高周波モジュール、並びにこれを用いた無線通信機器 Download PDF

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Description

本発明は、無線通信分野の超広帯域UWB(Ultra WideBand)に好適に使用される、広帯域でかつ急峻な減衰特性を持つ帯域通過フィルタ及びこれを用いた無線通信機器に関するものである。UWBは、PCアダプタ、外付け記憶装置、プリンタ、スキャナ、HubなどのPC周辺機器のデータ伝送媒体として、あるいはデジタルテレビ、プロジェクタ、5.1chスピーカシステム、ビデオカメラ等のデジタル家電のデータ伝送媒体としての利用が予想される。
近年、新しい通信手段として、超広帯域(UWB; Ultra Wide Band)が着目されている。
UWBは3.1GHz〜10.6GHzを通過帯域とし大容量のデータ転送を実現する。
このUWBと、データ通信手段の一つとして用いられる無線ローカルエリアネットワーク(以下W−LAN)とを比較すると、通信距離とデータ転送速度が違っている。W−LANでは、通信距離30〜100m、送信電力500mW、通信速度約11Mbpsであるのに対して、UWBでは通信距離は10mと短いが、送信電力は100mWと低消費電力であり、また通信速度は、通信距離10m前後で100Mbps、通信距離2m以下では480Mbpsとより高速のデータ通信が可能である。
米国FCCの規定によると、UWBに使われる周波数帯域は、いくつかの取り決めが定まっているが、3.1GHzから10.6GHzの広帯域が用いられる。
このように、UWBの一つの特徴は、広帯域を用いることである。その比帯域(帯域幅/中心周波数)は、40%以上、場合により110%が要求される。
また、UWBの平均送信電力密度は−41.25dBm/MHz未満と低い値に規定されている。ここで、−41.25dBm/MHzは、波源から3mの距離において電界強度54dBμV=500μV/mを発生する放射電力に相当する。
このように、UWBの他の特徴は、送信電力が低いことである。
FCCが規定した屋外環境下におけるスペクトルマスクの一例をあげると、3.16GHzから4.75GHzにかけての通過帯域の送信電力を基準(0dB)にして、3.1GHzで−20dB、1.61GHzで−30dBとなるように規定されている。また、実質的な使用条件においては、W−LAN(802.11.a)との間の影響を考慮する必要があり、5.15GHzの減衰が要求されている。
したがって、UWBのもう一つの特徴は、送信電力スペクトルが、通過帯域に隣接する短い帯域で急峻な減衰を要求されることである。
以上のことから、UWBの無線通信機器において、送受信信号の通過経路に挿入されるフィルタは、広帯域であること、低損失であること、通過帯域近傍での高減衰をとることが要求される。
近年、通信分野において、低損失かつ高減衰が必要な狭帯域フィルタとして、高いQ値が得られる水晶や圧電磁器をベース材料としたSAWフィルタやBAWフィルタが用いられているが、それらの比帯域は中心周波数2GHzにおいて3〜4%以下、帯域幅は0.06〜0.08GHzと、UWBの帯域幅と比べて2桁ほど狭い。これらの帯域幅は、水晶や圧電基板の電気機械結合係数より決まっており、帯域幅を広げることは材料的観点から困難である。
一般には、2〜5GHzの周波数帯域において、急峻な減衰特性をもつ帯域通過フィルタを得る手法として、誘電体共振器を複数個組み合わせた、誘電体フィルタが用いられる。誘電体共振器はQ値に優れており、これを用いた誘電体フィルタでは急峻な減衰特性が得られる。しかし、誘電体フィルタのサイズは大きくなる問題点があり、例えば、中心周波数5.25GHz、比帯域約4%の通過特性をもつ、誘電体共振器を3個組み合わせた3段誘電体フィルタにおいて、サイズは約6×3×2mmとなる。さらに、比帯域40%以上の広帯域化には、誘電体共振器の個数を増やす必要があるため、誘電体フィルタは、広帯域化と小型化を両立できない問題がある。
本発明は、UWBにおいて、広い通過帯域幅を持ち、小型かつ低損失で、狭い帯域において高い減衰量が得られる帯域通過フィルタ及び高周波モジュール、並びにこれを用いた無線通信機器を提供することを目的とする。
本発明の帯域通過フィルタは、それぞれ一端が接地され、長さが1/4波長である第1から第6の共振器と、前記第1の共振器の非接地端に結合される入力部と、前記第6の共振器の非接地端に結合される出力部とを備え、前記第2から前記第5の共振器は互いに電磁気的に結合され、前記第1の共振器の非接地端と前記第2の共振器の非接地端と第1のキャパシタ素子で容量結合され、前記第1の共振器の非接地端と前記第3の共振器の非接地端と第2のキャパシタ素子で容量結合され、前記第4の共振器の非接地端と前記第6の共振器の非接地端と第3のキャパシタ素子で容量結合され、前記第5の共振器の非接地端と前記第6の共振器の非接地端と第4のキャパシタ素子で容量結合され、前記入力部及び出力部は、第5及び第6のキャパシタ素子又は第1及び第2のインダクタ素子を介してそれぞれ前記第1及び第6の共振器に結合されるものである。
この構成の帯域通過フィルタは、第2から第5の共振器同士で電磁気的結合を実現できる。この結合は、エッジ結合であっても、面結合(ブロードサイド結合)であってもよい。この結合のため、各々の共振器の結合量を適切に選択することで、帯域通過フィルタの広帯域が可能となる。また共振器を複数個用意することで、減衰特性を急峻にすることが可能である。
一般的には、共振器には損失が存在するため、共振器の数を増やすと、通過帯域内での損失が増大する。例えば、3.16GHz〜4.75GHzを通過帯域とするチェビシェフ関数を用いた帯域通過フィルタの場合、リップル0.2dB、共振器Q=180とした場合、5段の共振器構成では、損失は−1.0dB程度であったが、減衰が−18dBと不十分であった。7段の共振器構成では、減衰は−32dB程度であるが、損失は−1.9dBと大きなものになった。6段の共振器構成の帯域通過フィルタでは、損失−1.6dB、減衰−25dBと両方ともを満足する結果が得られることが、理論的に確認された。
そこで本発明では、6段の共振器を用い、第2から第5の共振器の強い誘導結合を実現し、入出力部を形成するリアクタンス成分を適切に選ぶことで、広帯域を得ると共に、第1から第4のキャパシタとこれらの共振器との強い誘導結合にて、約300MHzで−20dB以上の減衰特性が要求される高周波側に、減衰極を形成することができる。これにより、高減衰特性を得ることができる。
また、本発明の6段の共振器を用いた帯域通過フィルタの構造は、3本目共振器と4本目共振器を中心に対称系とすることが好ましく、5本の共振器を用いた帯域通過フィルタや7本の共振器を用いた帯域通過フィルタに比べると、回路をパターンに落とし込みやすいというメリットもある。
前記入力部及び出力部には、第1及び第6の共振器に結合された第5及び第6のキャパシタ素子またはインダクタ素子を用いる。この場合、素子の定数を所定値に設定することにより、入力部及び出力部において信号の出し入れの際に強い結合を得ることができるので、帯域通過フィルタの通過損失を少なくすることができる。
前記第2から第5のいずれかの共振器の非接地端を、キャパシタ素子を介して接地すれば、当該共振器の長さを1/4波長未満とすることができるので、帯域通過フィルタの長さ方向の寸法を小さくでき、帯域通過フィルタをより高密度に実装できるようになる。一般に、一端が接地された共振器のエネルギー分布は、線路の長さ方向に対して、非接地端において電界エネルギーが最も高く、接地されたもう一端に進むにつれて電界エネルギーは弱くなっていく。一方、磁界エネルギーは接地された一端において最も高く、非接地端に進むにつれて磁界エネルギーは弱くなっていく。電界エネルギーはCV2/2で定義され(Cは静電容量、Vは電圧)、磁界エネルギーはLI2/2で定義される(Lはインダクタンス、Iは電流)。共振器長を短くするためには、同量のエネルギーが共振器以外で得られるように工夫すればよい。従って非接地端の容量を大きくするか、接地端のインダクタンスを大きくすることが挙げられる。本発明の帯域通過フィルタにおいても、共振器の非接地端の容量を設けることで、共振器長を短くすることができる。従って帯域通過フィルタの小型化が可能になる。
前記共振器を構成する導体板の形状は矩形(長方形)状となる。
前記共振器は、例えばストリップ線路、マイクロストリップ線路又はコプレーナ線路で構成することができる。
また、前記共振器を、複数の誘電体層を積層した誘電体多層基板の内部に形成することができる。誘電率の高い誘電体を用いることによって、帯域通過フィルタの小型化、低背化を図ることができる。
前記誘電体の誘電率は、UWBの3.1GHz〜10.6GHzで10以下に設定することが好ましい。一般に共振周波数近傍での共振器は、図10に示すように、等価インダクタLpと等価キャパシタ素子Cpの並列接続回路で等価的に表現できる。このときの共振器のQは、周波数ωと等価キャパシタ素子Cpの静電容量に比例する。誘電率の高い誘電体を用いた場合、等価キャパシタ素子Cpが大きくなり、共振器のQが高くなる。共振器のQが高いことは、共振器の通過帯域が狭くなることを意味しており、Qの高い共振器を用いた帯域通過フィルタの通過帯域は狭くなる。このことを図11に図示すると、共振周波数が一定である場合、Cpが小さくなるほど通過帯域は広くなることがわかる。従って、誘電率は10以下とすることが望ましい。
また前記誘電体多層基板の上面及び下面にそれぞれグランド電極が配置されている構造とすれば、第1〜第6の共振器の接地端接地ることが容易にできる。また、誘電体多層基板の上下を挟むグランド電極により、電磁シールド効果も得られる。
記グランド電極同士の間隔Dは1.0mm以下であることが望ましい。これにより、誘電体多層基板の厚みを薄くすることができる。
前記第5及び第6のキャパシタ素子の静電容量は0.5p以上〜1.5pF未満であることが望ましい。本発明の帯域通過フィルタでは、回路と外部負荷との結合をリアクタンスで行う。従来の帯域通過フィルタでは、通過帯域が比較的狭いため、回路の急峻性を示す回路Q,Qeは高い値であることが望ましい。入出力負荷とフィルタ回路の結合を容量で行う場合、Qeは容量の逆数の関数であることから、0.1pF以下の小さな容量で結合される。一方、本発明の帯域通過フィルタでは、1.5GHz程度又はそれ以上の帯域幅が必要であるため、Qeは小さいことが望ましい。従って、第5のキャパシタ素子及び第6のキャパシタ素子としては、0.5p以上の大きな容量を必要とする。一方、第5のキャパシタ素子及び第6のキャパシタ素子の容量を大きくしすぎた場合、帯域が広くなる一方で減衰の急峻さが失われる。UWBで用いられる帯域通過フィルタは0.4GHz〜0.6GHzの狭い帯域において急峻な減衰特性が要求されることから、第5のキャパシタ素子及び第6のキャパシタ素子の容量は大きすぎても減衰特性の観点から不適切になる。したがって1.5pF未満であることが望ましい。
また、本発明は、前記帯域通過フィルタを搭載した、小型化可能な無線通信機器に係るものである。この無線通信機器によれば、受信感度の向上、広帯域通信、低消費電力、かつ無線LANなどとの相互干渉の防止が実現できる。
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の帯域通過フィルタの回路構成を示す図である。
帯域通過フィルタは、上下に積層された6枚の共振器21〜26を備えている。この共振器21〜26は、ストリップ線路、マイクロストリップ線路又はコプレーナ線路により構成される。
少なくとも前記4枚の共振器22〜25は、同一寸法の矩形導体板状であり、同一誘電体面上に並行して配置されていてもよく、積層方向から見て重ねて配置されていてもよい。
この配置により、4枚の共振器25〜25は、互いに電磁気的に結合し、特に誘導結合が強くなっている(図1にMで示している)。
前記6枚の各共振器21〜26の一方側(図1の下側)にある端部は、ともに接地されている(接地端という)。
共振器21,26の非接地端は、それぞれキャパシタ素子C5,C6を介して入力電極IN、出力電極OUTに容量結合されている。これらの容量結合された部分を「入力部」、「出力部」という。
入力部、出力部を構成するキャパシタ素子C5,C6は、集中回路定数であっても、分布定数線路であってもよい。
前記6枚の各共振器21〜26の長さは、すべて1/4波長としている。
この構造により、4枚の共振器22〜25同士で強い誘導結合を得ることができ、通過帯域の広帯域化を図ることができる。また、4枚の共振器22〜25を対向させて並べることにより、帯域通過フィルタの小型化を図ることもできる。
図2は、各共振器22〜25の非接地端を、それぞれキャパシタ素子C1〜C4を介して入力電極IN、出力電極OUTに容量結合させるとともに、共振器22〜25の非接地端を、キャパシタ素子C7〜C10を介して接地した構造を示す。キャパシタ素子C7〜C10は、集中定数であっても分布定数であってもよい。
この構成を、図1と比較すると、共振器22〜25の非接地端が、キャパシタ素子C7〜C10を介して接地されている。このことにより、共振器22〜25の実効長の一部がキャパシタ素子C7〜C10により置換され、当該共振器22〜25の長さを1/4波長未満とすることができる。
したがって、この帯域通過フィルタでは、共振器22〜25の長さを短くすることができ、小型化を図るのにさらに有利になる。
次に、図1、図2で説明した帯域通過フィルタの製造方法を説明する。
帯域通過フィルタは、複数の誘電体層を積層した誘電体多層基板の各誘電体層上に、前記共振器を形成した構造となっている。
誘電体多層基板は、同一寸法形状の複数の誘電体層が積層されて構成されており、各誘電体層上には、所定の導体パターンからなる導体層が形成されている。
各誘電体層は、例えば、低温焼成用のセラミックス(LTCC; Low Temperature Co-fired Ceramics)で形成され、各誘電体層に形成される導体層は、銅や銀などの低抵抗導体によって形成される。
このような多層基板は、周知の多層セラミック技術によって形成されるもので、例えば、セラミックグリーンシートの表面に導電ペーストを塗布して各共振器を構成する導体パターンをそれぞれ形成した後、積層し、所要の圧力と温度の下で熱圧着し焼成して形成されている。
また、各誘電体層には複数の層にわたって、上下の導体層を接続するために必要なビアホール導体が適宣形成される。
前記LTCCの誘電率は、例えば9.4程度、一層の誘電体の厚み(焼成前)は例えば0.075mmである。誘電体多層基板の厚みは0.9mmである。
なお、前記図1、図2の帯域通過フィルタでは、共振器21〜26の端部を接地する必要がある。
このため、以下に説明するように、各共振器21〜26の端部を接地するための接地パターンを、共振器21〜26を構成する各導体パターンの上下の誘電体層に設けるとよい。なお、接地パターンは、上面もしくは下面、また共振器と同一平面に形成してもよい。
図3、図4は本発明の帯域通過フィルタをチップ部品として構成した場合の外観図を示している。図3は正面からの外観図、図4は背面からの外観図である。
17は誘電体多層基板であり、その内部に、後に図5を用いて説明する配線パターンが引き回されている。
E1,E2はグランド電極であり、INは入力端子電極、OUTは出力端子電極を示す。入出力端子が反対になった場合でも本発明の帯域通過フィルタは同様に機能する。
各グランド電極E1,E2は、誘電体多層基板17の側面に設けられた側面電極E3を介して接続されている。側面電極E3は、各誘電体層内部に形成された導体パターンにも接続されている。
図5は、誘電体多層基板17の表裏面及び誘電体内部の配線パターンを分解して示す図である。上から表層、第2層〜第12層、裏面のパターンをそれぞれ示している。
表層にはグランド電極E1が形成されており、グランド電極E1は、誘電体の側面電極E3に接続されている。誘電体の側面電極E3は誘電体の側面を介して、7層目の導体パターン及び裏面のグランド電極E2に接続されている。
7層目には、矩形状の共振器21から共振器26までが、平行に配置されている。このうち、共振器21から共振器26までは、強い結合が得られるように、エッジ同士が近接して配置されている。共振器21〜26は、長さ方向の一端がグランド電極E3に接続されている。
2層目において、電極34,35(図2も参照)が形成されている。これらの電極34,35は表層のグランド電極E1との間で第8のキャパシタ素子C8、第9のキャパシタ素子C9の容量を形成する。電極34と電極35は、ビアを介して、7層目の共振器23と共振器24の非接地端に接続されている。
6層目において、入力電極INと出力電極OUTが形成されている。入力電極INは、誘電体の側面を介して裏面にまで延長され、出力電極OUTも同様に、誘電体の側面を介して裏面にまで延長されている。
入力電極INの一端は、キャパシタ素子C5を形成する電極31bに接続されている。また、出力電極OUTの一端は、キャパシタ素子C6を形成する電極32bと接続されている。
また、6層目において、7層目に配線した第1の共振器21と、第2の共振器22との間で、第1のキャパシタ素子C1を形成するための電極27が設けられている。また、7層目に配線した第5の共振器25と、第6の共振器26との間で第4のキャパシタ素子C4を形成するための電極29も設けられている。
7層目において、6層目の電極31b及び8層目の電極31bと間でキャパシタ素子C5を形成するための電極31aが形成されており、6層目の電極32b及び8層目の電極32bとの間でキャパシタ素子C6を形成するための電極32aが形成されている。
8層目において、入力電極INは、6層目と同様に、誘電体の側面を介して裏面の入力電極INに接続されている。出力電極OUTも同様に、誘電体の側面を介して裏面の出力電極OUTに接続されている。
8層目において、入力電極INは、キャパシタ素子C5を形成する電極31bに接続されている。出力電極OUTはキャパシタ素子C6を形成する電極32bに接続されている。
8層目に形成された電極28は、7層目の第1の共振器21と第3の共振器23との間で、第2のキャパシタ素子C2を形成するものである。電極30は、7層目の第4の共振器24と第6の共振器26との間で、第3のキャパシタ素子C3を形成するものである。
12層目の電極33は、裏面のグランド電極E2との間でキャパシタ素子C7を形成し、電極36は、裏面のグランド電極18との間でキャパシタ素子C10を形成している。
前記電極33は、7層目に配置された第2の共振器22とビアを介して接続されている。また、電極36は7層目に配置された第5の共振器25とビアを介して接続されている。
2層目〜11層目には、積層時の位置ずれによる非導通状態を防ぐランドパターンが配置されている。裏面にはグランド電極E2、入力電極IN、出力電極OUTが形成されている。
以上の構成により、通過帯域3.1〜4.9GHz、比帯域40%程度、5.15GHz、2.48GHzに高い減衰特性をもち、かつ小型である帯域通過フィルタを得ることができる。
次に、以上に説明した帯域通過フィルタを搭載する無線通信機器の構成例を、図6に示す。
図によれば、無線通信機器は、ベースバンド信号を処理するベースバンドIC45、高周波信号を処理するRFIC44、送受信を切り替える高周波スイッチ41、平衡信号と不平衡信号を変換するバラン43、帯域通過フィルタ42及びアンテナより構成される。
前記RFIC44は、ベースバンドIC45より取得される送信信号の周波数変換、高周波増幅を行うとともに、受信信号の低雑音増幅を行う。前記高周波スイッチ41は、送信と受信との経路を時間的に切り換えるスイッチである。
帯域通過フィルタ42は、UWBの送受信信号の帯域を通過させ、帯域外の信号をシャープに減衰させる本発明の帯域通過フィルタである。この機能により、送受信信号を減衰させることなく、他のシステムとの相互干渉を防止することができる。
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、前記の形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変更を施すことが可能である。
図1の回路構成にて形成した帯域通過フィルタの通過特性と反射特性を、Agilent Technologies社製のベクトルネットワークアナライザ8719ESを用いて測定した。
その結果、図7に示すように、通過特性S21及び反射特性S11のグラフが得られた。
図7によると、3.16GHz(m1で示す)から4.75GHz(m2で示す)の約1.5GHzの帯域内で通過損失が1.5dB未満である。また、W−LANのIEEE.802.11bが存在する2.5GHz(m3で示す)において30dB以上の減衰が得られた。従って、約0.6GHzの狭い周波数帯域で20dB以上の減衰量が得られている。一方、W−LANのIEEE.802.11.aが存在する5.15GHz(m4で示す)において38dBの高い減衰量を示しており、約0.4GHzの狭い周波数帯域で20dB以上の減衰量が得られている。さらに周波数5.15GHz以上においても20dB以上の減衰量を10GHzまでにわたって示した。
本発明の帯域通過フィルタの厚みは0.9mmであり、小型で、1.5GHzの広帯域において低損失、通過帯域前後の0.4GHzで急峻な減衰特性を持つフィルタが実現できた。
次に、本発明の帯域通過フィルタを、Agilent Technologies社の回路シミュレータADSを用いて、誘電率9.4のセラミック基板の条件にてシミュレーションした。
図8は誘電体の厚みと通過帯域内での損失の最大値との関係を示したグラフである。
図8によると、誘電率9.4、誘電体厚みが0.9mmの誘電体において、通過帯域内の損失が1.44dBとなる。また、誘電体厚み0.86mmにおいて、挿入損失が1.5dB以上となる。誘電体厚み0.9mmに換算した場合、誘電率9.83で挿入損失が1.5dBとなる。したがって、本発明の帯域通過フィルタに用いる誘電体の誘電率は、10以下であることが望ましいことが分かる。
一方、誘電体厚みを1.0mmとした場合、図8より、通過帯域内での損失は1.27dBとなり、通過特性が良好となる。これは、誘電体厚み0.9mmにおいて誘電率を8.46に下げた場合と同じである。誘電体厚みを厚くすれば、フィルタの通過帯域の損失は小さくなる。しかし、近年、部品の高さは、携帯電話への搭載を考慮に入れて、1.0mm以下であることが望まれている。よって誘電体厚みは1.0mmよりも大きくすることは好ましくない。
以上のことより本発明の帯域通過フィルタは、上下面グランドの間隔は1.0mm以下であることが望ましい。
ここでの検証には、Q=163の共振器を用いた。
図9は本発明の通過帯域フィルタの挿入損失と、分布定数線路のQの関係を示した図である。分布定数線路のQ値を上げることで、帯域通過フィルタの損失が小さくなることがわかる。分布定数線路のQ値は、線路の高周波における導電率をあげることで向上する。
本発明の帯域通過フィルタを回路シミュレータのADS上で構成して、通過特性を調べたところ、キャパシタ素子C5とキャパシタ素子C6の容量が0.8pFであった場合に、周波数3.16GHzから4.75GHzにおいて最大損失が−1.32dBで合ったのに対して、キャパシタ素子C5とキャパシタ素子C6の容量を0.4pFとしたところ通過帯域内にリップルが存在し、帯域が狭くなり、最大損失が1.68dBとなった。一方、キャパシタ素子C5とキャパシタ素子C6の容量を1.5pFとしたところ、減衰の急峻性が失われて3.1GHz未満の減衰量が高くなり、その現象につられて3.16GHzの通過特性が1.66dBへと悪化した。
以上のことから、また、本発明の帯域通過フィルタは、前記キャパシタ素子C5及び前記キャパシタ素子C6の静電容量は0.5pF以上1.5pF未満であることが望ましい。
なお、ここでは通過帯域として、UWBの一方式であるMB−OFDM方式を例にしてあげたが、別の方式であるDS−CDMA方式の低周波側の通過帯域である3.1GHzから4.9GHzにおいても同様に議論できる。本発明の帯域通過フィルタの、第1から第6の共振器の長さ、第1〜第10のキャパシタ素子の容量を調整することによって、DS−CDMA方式のUWBにおいても用いることが可能になる。
本発明の帯域通過フィルタの回路構成例を示す図である。 本発明の帯域通過フィルタの他の回路構成例を示す図である。 帯域通過フィルタの外観を示す図である。 帯域通過フィルタを他面からみた外観を示す図である。 帯域通過フィルタの各層配線パターンを上面から示した図である。 本発明の帯域通過フィルタを搭載する無線通信機器の構成例を示すブロック図である。 帯域通過フィルタの実施例の通過特性と反射特性を示すグラフである。 帯域通過フィルタの誘電体の厚みと通過帯域内での損失の最大値との関係を示したグラフである。 帯域通過フィルタを構成する電極の高周波導電率(Qに換算)と通過帯域内での損失との関係を示すグラフである。 一端が接地された共振器の共振周波数近傍での等価回路図である。 一端が接地された共振器の共振周波数近傍でのリアクタンスを示す図である。
符号の説明
21:第1の共振器、22:第2の共振器、23:第3の共振器、24:第4の共振器、25:第5の共振器、26:第6の共振器、C1:第1のキャパシタ素子、C2:第2のキャパシタ素子、C3:第3のキャパシタ素子、C4:第4のキャパシタ素子、C5:第5のキャパシタ素子、C6:第6のキャパシタ素子、C7:第7のキャパシタ素子、C8:第8のキャパシタ素子、C9:第9のキャパシタ素子、C10:第10のキャパシタ素子、17:誘電体、E1〜E3:グランド電極、IN:入力電極、OUT:出力電極、27〜36:配線パターン

Claims (11)

  1. それぞれ一端が接地され、長さが1/4波長である第1から第6の共振器と、前記第1の共振器の非接地端に結合される入力部と、前記第6の共振器の非接地端に結合される出力部とを備え、
    前記第2から前記第5の共振器は互いに電磁気的に結合され
    前記第1の共振器の非接地端と前記第2の共振器の非接地端と第1のキャパシタ素子で容量結合され、前記第1の共振器の非接地端と前記第3の共振器の非接地端と第2のキャパシタ素子で容量結合され、前記第4の共振器の非接地端と前記第6の共振器の非接地端と第3のキャパシタ素子で容量結合され、前記第5の共振器の非接地端と前記第6の共振器の非接地端と第4のキャパシタ素子で容量結合され
    前記入力部及び出力部は、第5及び第6のキャパシタ素子又は第1及び第2のインダクタ素子を介してそれぞれ前記第1及び第6の共振器に結合される帯域通過フィルタ。
  2. 前記第2から第5のいずれか共振器の非接地端キャパシタ素子を介して接地され、当該共振器の長さが1/4波長未満である請求項1記載の帯域通過フィルタ。
  3. 前記共振器を構成する導体板の形状矩形状である請求項1又は請求項2記載の帯域通過フィルタ。
  4. 前記共振器がストリップ線路、マイクロストリップ線路又はコプレーナ線路である請求項1又は請求項2記載の帯域通過フィルタ。
  5. 前記共振器が、複数の誘電体層を積層した誘電体多層基板の内部に形成されている請求項1又は請求項2記載の帯域通過フィルタ。
  6. 前記誘電体の誘電率、3.1GHz〜10.6GHzで10以下である請求項5記載の帯域通過フィルタ。
  7. 前記誘電体多層基板の上面及び下面にそれぞれグランド電極が配置されている請求項5記載の帯域通過フィルタ。
  8. 記グランド電極同士の間隔D1.0mm以下である請求項7記載の帯域通過フィルタ。
  9. 前記第5及び第6のキャパシタ素子の静電容量0.5p以上1.5pF未満である請求項1記載の帯域通過フィルタ。
  10. 請求項1から請求項9のいずれかに記載の帯域通過フィルタを有する高周波モジュール。
  11. 請求項1から請求項9のいずれかに記載の帯域通過フィルタ、又は請求項10に記載の高周波モジュールを用いた無線通信機器。
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