JP4501900B2 - Optical disk device - Google Patents
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Description
本発明は光ディスク装置に関し、特にデータ記録時の記録条件最適化に関する。 The present invention relates to an optical disc apparatus, and more particularly to optimization of recording conditions during data recording.
光ディスクにデータを記録する場合、多くのパラメータを調整する必要がある。例えば、光ディスク装置（光ディスクドライブ）設計時にＡＰＣ（オートパワーコントロール）設計、ＲＯＰＣ（ランニングＯＰＣ）設計、ストラテジ設計を行い、実際にユーザがデータを記録する時にＯＰＣ（Optimum Power Control）により記録パワーの最適化を図っている。ＯＰＣでは、光ディスクのテストエリア（ＰＣＡ）にて記録パワーを複数段階に変化させつつテストデータを試し書きし、該テストデータを再生して得られるβ値が目標β値となる記録パワーを選択して最適記録パワーに設定する。目標β値は、一般に光ディスク装置設計時の検証により設定される。 When recording data on an optical disc, it is necessary to adjust many parameters. For example, APC (auto power control) design, ROPC (running OPC) design, and strategy design are performed when designing an optical disc device (optical disc drive), and the recording power is optimized by OPC (Optimum Power Control) when the user actually records data. We are trying to make it. In OPC, test data is test-written while changing the recording power in a plurality of stages in the test area (PCA) of the optical disc, and the recording power at which the β value obtained by reproducing the test data becomes the target β value is selected. To set the optimum recording power. The target β value is generally set by verification at the time of designing the optical disc apparatus.
ところが、実際にユーザがデータを記録する際に実行されるＯＰＣでは、光ディスク装置のピックアップや光ディスクの特性バラツキあるいは温度環境により、設定された目標β値がその光ディスクにとっての最適なβ値である保証はなく、目標β値が得られる記録パワーが必ずしも最適記録パワーにならない問題がある。特に、ＤＶＤ−Ｒ等の有機色素記録膜を用いた光ディスクでは、設定された目標β値は最適β値よりも大きくなる傾向にあり、結果として設定された記録パワーは過剰パワー気味となって記録品質の低下を招く。 However, in the OPC executed when the user actually records data, the set target β value is guaranteed to be the optimum β value for the optical disc depending on the pickup of the optical disc apparatus, the characteristic variation of the optical disc or the temperature environment. However, there is a problem that the recording power for obtaining the target β value is not necessarily the optimum recording power. In particular, in an optical disk using an organic dye recording film such as a DVD-R, the set target β value tends to be larger than the optimum β value, and as a result, the set recording power tends to be excessive power. Incurs quality degradation.
下記の特許文献１には、再生信号に応じて符号間干渉の存在を判断し、符号間干渉が存在する場合には目標値を変更することが開示されている。また、再生信号のジッタから符号間干渉を判断することが開示されている。
また、特許文献２には、記録パワー対ジッタ特性に基づいて、記録レーザパワー値が取り得る範囲ＪＰｍを特定し、β値から求めた記録レーザパワー値ＰｔがＪＰｍ内に収まるかを判断し、ＪＰｍ内に収まらない場合には再度ＯＰＣを行うことが開示されている。
Further,
また、特許文献３には、アシンメトリが予め設定された所定範囲にあるか否かを判定し、所定範囲にあると判定された場合にＯＰＣで求めた最適記録パワーが適正範囲内であるとすることが開示されている。
Further, in
上記従来技術は、ジッタやアシンメトリから記録パワーを調整するものであるが、十分は調整方法とはいえない問題がある。特に、記録レーザパワーが過剰な場合、ピットが隣接ピット形成時の熱の影響を受けてピット形状が歪んでしまう（これを熱干渉と称する）場合があり、このような熱干渉を精度良く評価して記録パワーを調整できることが望まれている。 Although the above conventional technique adjusts the recording power from jitter and asymmetry, there is a problem that it cannot be said to be a sufficient adjustment method. In particular, when the recording laser power is excessive, the pits may be distorted due to the influence of heat at the time of adjacent pit formation (this is referred to as thermal interference), and such thermal interference is accurately evaluated. Therefore, it is desired that the recording power can be adjusted.
本発明の目的は、光ディスクにデータを記録する際の熱干渉を高精度に評価し、これによりデータ記録品質を向上させることができる光ディスク装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide an optical disc apparatus capable of accurately evaluating thermal interference when data is recorded on an optical disc and thereby improving data recording quality.
本発明は、光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、複数の記録パワーでテストデータを試し書きし、該テストデータを再生して各記録パワー毎にβ値とジッタ分布を検出する手段と、前記ジッタ分布の対称性からのずれ量を表す歪度を各記録パワー毎に算出する手段と、前記歪度が所定の許容限界値となる記録パワーＰｓを求める手段と、前記β値が所定のβ値となる記録パワーＰｏを求める手段と、前記記録パワーＰｏを前記記録パワーＰｓと大小比較し、Ｐｏ≦Ｐｓであれば前記記録パワーＰｏを最適記録パワーに設定し、Ｐｏ＞Ｐｓであれば前記記録パワーＰｏ以外を最適記録パワーに設定する最適記録パワー設定手段と、前記β値が所定の許容範囲となる記録パワー範囲Ｍを求める手段とを有し、前記最適記録パワー設定手段は、Ｐｏ＞Ｐｓであり前記記録パワーＰｓが前記記録パワー範囲Ｍの範囲内である場合に前記記録パワーＰｓを前記最適記録パワーに設定することを特徴とする。 The present invention is an optical disc apparatus for recording data on an optical disc, wherein test data is test-written with a plurality of recording powers, the test data is reproduced, and a β value and a jitter distribution are detected for each recording power, and Means for calculating a skewness representing an amount of deviation from the symmetry of the jitter distribution for each recording power, means for obtaining a recording power Ps at which the skewness becomes a predetermined allowable limit value, and the β value is predetermined. The recording power Po, which is a β value of the above, is compared with the recording power Ps. If Po ≦ Ps, the recording power Po is set to the optimum recording power, and Po> Ps. has the optimum recording power setting means for setting the optimum recording power than play the recording power Po, and means for determining the recording power range M of the β value becomes the predetermined allowable range, the optimum recording power Constant means, and sets the recording power Ps to the optimum recording power when the recording power Ps is Po> Ps is in the range of the recording power range M.
本発明によれば、データ記録時の熱干渉を精度よく評価し、データ記録品質を向上することができる。 According to the present invention, it is possible to accurately evaluate thermal interference during data recording and improve data recording quality.
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
＜基本構成＞
図１に、本実施形態における光ディスク装置の機能ブロック図を示す。本実施形態の光ディスク装置は、ＤＶＤ±Ｒ等のデータ記録可能な光ディスク１０にレーザ光を照射してデータを記録するとともに、光ディスク１０からの反射光を受光して光ディスク１０に記録されたデータを再生する光ピックアップ１、光ピックアップ１に記録系信号を供給するとともに光ピックアップ１からの再生信号を入力して処理する信号処理部２、及び各部の動作を制御するコントローラ３を含んで構成される。
<Basic configuration>
FIG. 1 shows a functional block diagram of the optical disc apparatus in the present embodiment. The optical disk apparatus of the present embodiment records data by irradiating laser light onto an
光ピックアップ１は、再生時には再生パワーのレーザ光を光ディスク１０に照射しその反射光を受光し、記録時には記録パワーのレーザ光を光ディスク１０に照射してデータを記録する。光ディスク１０がＤＶＤ−Ｒ等の有機色素記録膜を有する光ディスクである場合、記録時には再生パワーに記録パワーを重畳したレーザ光を照射する。記録パワーのタイミングでピットが形成され、再生パワーのタイミングでランドが形成される。光ディスク１０がＤＶＤ±ＲＷ等の書換可能な光ディスクである場合、記録時には再生パワーに消去パワー及び記録パワーを重畳したレーザ光を照射する。光ディスク１０がＣＤ系の場合には３Ｔ〜１１Ｔのピット長のデータを記録し、光ディスク１０がＤＶＤ系の場合には３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのピット長のデータを記録する。本実施形態は、ＣＤあるいはＤＶＤに限定されず、ＨＤ ＤＶＤやＢｌｕ−ｒａｙ等の次世代ディスクも含む。
The
信号処理部２は、エンコーダ及びデコーダを含み、記録時にはコントローラ３から供給された記録すべきデータをエンコードしてピックアップに供給し、再生時にはピックアップ２から供給された再生信号をデコードしてコントローラ３に供給する。記録時の記録波形は任意であるが、例えばマルチパルスで記録する。すなわち、先頭パルス及び先頭パルスに続く後続パルスでデータを記録する。また、３Ｔのピットは単パルスで記録し、４Ｔ以上のピットはマルチパルスで記録してもよい。マルチパルスのパルスレベル及びパルス幅から記録ストラテジが決定される。記録ストラテジは所定のストラテジとしてもよいが、複数の記録ストラテジから光ディスク１０の種類や回転速度に応じたストラテジを選択してもよい。
The
コントローラ３は、システム全体を制御するが、本実施形態では特に記録パワーを調整する。すなわち、光ディスク１０にデータを記録する際、記録パワーが適正か否かを判定し、適正でないと判定した場合には記録パワーを変更する。記録パワーが適正か否かは、光ディスク１０に任意のピット長のテストデータを試し書きし、該テストデータを再生してジッタを検出し、検出したジッタの分布を算出し、算出したジッタ分布の対称性からのずれを算出することで判定する。テストデータは３Ｔのみから構成されていてもよく、ランダムなピット長でもよく、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのピット長を含んでいてもよい。ジッタ分布は、テストデータの特定のピット長のジッタ分布であり、あるいはテストデータの全ピット長のジッタ分布である。テストデータの全ピット長のジッタ分布は、各ピット長のジッタ分布の重ね合わせとして定義される。ジッタ分布の対称性からのずれは、ジッタ分布の平均値に対する＋側及び−側の分布の度合いの相違であり、左右対称な分布の一例を正規分布とすると、正規分布からのずれである。
The
図２に、コントローラ３の機能ブロック図を示す。コントローラ３は、ジッタ検出部３ａ、ジッタ分布算出部３ｂ、歪度算出部３ｃ、メモリ３ｄ及び記録パワー調整部３ｅを含んで構成される。ジッタ検出部３ａは、２値化された再生信号と基準クロック信号との位相ずれであるジッタを検出する。テストデータが３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔで構成される場合、各ピット長毎にジッタを検出する。各ピット長毎に検出されたジッタはメモリ３ｄに順次格納される。なお、基準クロックは信号処理部２において再生信号から生成されてジッタ検出部３ａに供給される。
FIG. 2 shows a functional block diagram of the
ジッタ分布算出部３ｂは、各ピット長毎に検出されたジッタをメモリ３ｄから読み出し、特定のピット長、例えば３Ｔについてのみジッタ分布を算出する。あるいは各ピット長毎にジッタ分布を算出してもよい。ジッタ分布は、統計学で公知のとおりジッタ群の平均値μ及び標準偏差σで特定される。算出された３Ｔのジッタ分布、すなわち平均値μと標準偏差σはメモリ３ｄに格納される。
The jitter
歪度算出部３ｃは、メモリ３ｄに格納されたジッタ分布を読み出して、正規分布からのずれ量を歪度Ｓとして算出する。歪度Ｓは、以下のように定義される。
歪度Ｓ＝Σ（Ｘｉ−μ）3／ｎσ3
ここに、Ｘｉはジッタの各検出値であり、ｎはジッタの検出個数である。歪度Ｓは特定のピット長、例えば３Ｔについてのみ算出する。あるいは各ピット長について算出してもよい。
The
Skewness S = Σ (Xi−μ) 3 / nσ 3
Here, Xi is each detected value of jitter, and n is the number of detected jitters. The skewness S is calculated only for a specific pit length, for example, 3T. Or you may calculate about each pit length.
各ピット長について歪度Ｓを算出した場合、全ピット長の歪度は各ピット長の歪度の加算で算出される。３Ｔの歪度Ｓは、３Ｔピットの熱干渉の度合いを示す。例えば、３Ｔピット、３Ｔランド、４Ｔピットの配列でデータを記録する場合、記録パワーによっては４Ｔピットを形成する際の熱が３Ｔランドを介して３Ｔピットまで伝達され、３Ｔピット形状に影響を及ぼす。記録パワーが過剰であればあるほど、３Ｔピットに伝達される熱量が増大するから３Ｔピット形状に与える影響が大きくなり、３Ｔピットの形状が変化する。ピット形状の変化はジッタの増大として顕在化し、ジッタ分布が正規分布からずれる。コントローラ３は、歪度Ｓを特定ピット長、あるいは全ピット長の熱干渉の程度を示す指標として算出する。
When the skewness S is calculated for each pit length, the skewness of all pit lengths is calculated by adding the skewness of each pit length. The 3T distortion S indicates the degree of thermal interference of 3T pits. For example, when data is recorded in an array of 3T pits, 3T lands, and 4T pits, depending on the recording power, heat when forming the 4T pits is transmitted to the 3T pits via the 3T lands, and the 3T pit shape is affected. . As the recording power is excessive, the amount of heat transferred to the 3T pit increases, so the influence on the 3T pit shape increases and the 3T pit shape changes. The change in the pit shape becomes manifest as an increase in jitter, and the jitter distribution deviates from the normal distribution. The
記録パワー調整部３ｅは、歪度算出部３ｃで算出された歪度Ｓを所定のしきい値と大小比較する。なお、所定のしきい値は、予め歪度と記録品質、例えばエラーレート等との関係から設定された、十分な記録品質が確保できるための歪度であり、光ディスク装置の設計時に予めメモリ３ｄに格納されている。この所定のしきい値は、特定のピット長に対するしきい値であってもよく、全ピット長に対するしきい値であってもよい。いずれのしきい値を用いるかは、歪度算出部３ｃで特定のピット長の歪度を算出するか、あるいは全ピット長の歪度を算出するかで決定されることは当業者には自明であろう。また、記録パワー調整部３ｅは、算出された歪度Ｓと所定のしきい値との比較結果に応じてテストデータを記録した記録パワーの適否を判定する。そして、記録パワーが適正でないと判定した場合、記録パワー調整部３ｅは記録パワーを増減して適正値に調整する。記録パワーを増減する他、記録パワーは一定として記録ストラテジ、すなわちマルチパルスのパルス幅を増減調整してもよい。光ピックアップ１から光ディスク１０に照射されるエネルギは記録パワーと照射時間の積で与えられるから、パワーあるいは照射時間、つまりパルス幅のいずれかあるいは両方を調整すればよい。
The recording power adjustment unit 3e compares the skewness S calculated by the
図３に、本実施形態の処理フローチャートを示す。まず、光ディスク１０にユーザデータを記録するに先立って、ある記録パワーでテストデータを試し書きし、該テストデータを再生してそのジッタを検出する（Ｓ１０１）。そして、検出されたジッタからジッタ分布を算出する（Ｓ１０２）。上記のとおり、ジッタ分布はジッタ群の平均値μ及び標準偏差σで特定されるから、具体的には平均値μ及び標準偏差σを算出する。次に、平均値μ及び標準偏差σから歪度Ｓを算出する（Ｓ１０３）。
FIG. 3 shows a processing flowchart of the present embodiment. First, prior to recording user data on the
歪度Ｓを算出した後、歪度Ｓを所定のしきい値と比較し、歪度Ｓが所定のしきい値以下であるか否かを判定する（Ｓ１０４）。歪度Ｓがしきい値以下である場合には、熱干渉がないか、あるいは熱干渉があっても記録品質を劣化させる程度の値ではないとして記録パワーは適正であると判定する（Ｓ１０５）。 After calculating the skewness S, the skewness S is compared with a predetermined threshold value to determine whether the skewness S is equal to or lower than the predetermined threshold value (S104). If the skewness S is less than or equal to the threshold value, it is determined that there is no thermal interference, or that the recording power is appropriate because the recording quality is not deteriorated even if there is thermal interference (S105). .
一方、歪度Ｓが所定のしきい値より大きい場合には、熱干渉が大きい、つまり記録品質を劣化させるほどの熱干渉があるとして記録パワーは適正でないと判定する（Ｓ１０６）。記録パワーが適正でないと判定された場合、記録パワーを増減する、あるいはパルス幅を増減する等の適正化処理を実行する（Ｓ１０７）。熱干渉が大きい場合、一般的には記録パワーが過剰であることを意味するから、記録パワーを減少する、あるいはパルス幅を小さくすることで照射エネルギを小さくする。 On the other hand, when the skewness S is larger than the predetermined threshold value, it is determined that the recording power is not appropriate because the thermal interference is large, that is, there is thermal interference enough to degrade the recording quality (S106). If it is determined that the recording power is not appropriate, an optimization process such as increasing or decreasing the recording power or increasing or decreasing the pulse width is executed (S107). If the thermal interference is large, it generally means that the recording power is excessive. Therefore, the irradiation energy is reduced by reducing the recording power or reducing the pulse width.
本実施形態では、テストデータを記録することで記録パワーの適否を判定しており、この判定処理はＯＰＣ動作中に実行することができる。ＯＰＣでは最適記録パワーを設定するが、このようにして設定された最適記録パワーが適正か否かを判定するために用いることが可能である。あるいは、テストデータではなくユーザデータエリアに真のデータを記録する際に実行してもよい。すなわち、真のデータを記録した後に該データを再生してジッタを検出し、Ｓ１０２〜Ｓ１０６の処理を実行して現在の記録パワーが適正か否かを判定する。 In this embodiment, whether or not the recording power is appropriate is determined by recording test data, and this determination process can be executed during the OPC operation. In OPC, the optimum recording power is set, and can be used to determine whether or not the optimum recording power set in this way is appropriate. Alternatively, it may be executed when true data is recorded in the user data area instead of the test data. That is, after recording the true data, the data is reproduced to detect jitter, and the processing of S102 to S106 is executed to determine whether or not the current recording power is appropriate.
＜詳細構成＞
図４に、光ディスク装置の全体構成図を示す。ＤＶＤ±Ｒ等の記録可能な光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により回転駆動される。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
<Detailed configuration>
FIG. 4 shows an overall configuration diagram of the optical disc apparatus. A recordable
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりＬＤの発光量を制御する。図ではドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。
The
光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。
When data recorded on the
アドレス信号の１つの例はウォブル信号であり、光ディスク１０の絶対アドレスを示す時間情報の変調信号で光ディスク１０のトラックをウォブルさせ、このウォブル信号を再生信号から抽出しデコードすることでアドレスデータ（ＡＴＩＰ）を得ることができる。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
One example of the address signal is a wobble signal. A wobble signal is wobbled by a modulated signal of time information indicating the absolute address of the
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは記録品質に影響することから、データ記録に先立って最適化が行われる。すなわち、光ディスク１０の所定のテストエリアにおいて記録ストラテジを種々変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生してその信号品質を評価する。そして、評価結果に基づいて最適な記録ストラテジが選択される。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化されたデータはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、変調データをデコードし、バッファメモリ３８に格納されている記録データと照合する（ベリファイ）。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。システムコントローラ３２はベリファイの結果に応じて引き続きデータを記録するか、あるいは光ディスク１０の交替処理を実行するかを決定する。
When recording data on the
システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御し、特に記録に先立つＯＰＣ（Optimum Power Control：記録パワーの最適化）を実行する。ＯＰＣでは、光ディスク１０のテストエリアに記録パワーを階段状に変化させてテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生してβ値やγ値、エラーレート、変調度、ジッタ等を測定する。そして、これらの再生信号品質に基づき最適記録パワーＰｏを設定する。システムコントローラ３２は、選択した記録パワーＰｏとなるようにドライバ２２を制御する。
The
このような構成において、ＯＰＣでβ値に基づいて最適記録パワーＰｏを設定するには、各記録パワーにおけるテストデータの再生信号のβ値を測定し、予めドライブの設計段階で設定されフラッシュメモリ等の不揮発性メモリに格納された目標β値と比較し、目標β値が得られる、あるいは目標β値に最も近いβ値が得られる記録パワーを選択し、該記録パワーを最適記録パワーＰｏに設定する。 In such a configuration, in order to set the optimum recording power Po based on the β value by OPC, the β value of the reproduction signal of the test data at each recording power is measured, and is set in advance at the design stage of the drive such as a flash memory. Is compared with the target β value stored in the non-volatile memory, and the recording power at which the target β value is obtained or the β value closest to the target β value is selected, and the recording power is set to the optimum recording power Po. To do.
但し、目標β値を設計した際の基準光ディスク装置と実際にデータを記録する光ディスク装置のピックアップ特性の相違や光ディスクの特性の相違、あるいは温度環境の相違などに起因し、予めメモリに格納されている目標β値が必ずしも最適のβ値であるとは限らず、ＯＰＣで設定した最適記録パワーＰｏでデータを記録すると熱干渉を起こす可能性がある。 However, it is stored in advance in the memory due to the difference in pickup characteristics between the reference optical disk apparatus when the target β value is designed and the optical disk apparatus that actually records data, the characteristics of the optical disk, or the temperature environment. The target β value is not necessarily the optimum β value, and if data is recorded with the optimum recording power Po set by OPC, there is a possibility of causing thermal interference.
図５に、適正記録パワーでピット長が３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのデータを記録し、該記録されたピット長毎のジッタを測定した結果を示す。図５（ａ）は、各ピット長におけるジッタ測定結果であり、図５（ｂ）は各ピット長におけるジッタの中心同士を重ね合わせた結果、つまり３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの全ピット長のジッタ分布１００である。記録パワーが適正である場合にはジッタ分布１００はほぼ正規分布あるいはこれに類似する分布状態となる。これは記録パワーは単独のピット形状に影響を与え得るものの、隣接ピットへの影響はほとんどないと考えられるからである。ところが、記録パワーが適正でなく過剰である場合、ある部位に形成されるピットの熱が隣接形成されたピットの形状に影響を及ぼすことになる。
FIG. 5 shows the results of recording data with pit lengths of 3T to 11T and 14T with appropriate recording power and measuring jitter for each recorded pit length. FIG. 5 (a) shows the jitter measurement result at each pit length, and FIG. 5 (b) shows the result of overlapping the jitter centers at each pit length, that is, the jitter distribution of all pit lengths of 3T to 11T and 14T. 100. When the recording power is appropriate, the
図６に、記録パワーが過剰である場合のピットの形状と記録波形とを示す。記録波形は、ピット形成時に記録パワーレベルまで増大し、ピット非形成時（ランドあるいはスペース形成時）に記録パワーよりも小さい再生パワーレベルあるいは消去パワーレベルとなる。図は、３Ｔピット、３Ｔランド、ｎＴピット（ｎ＝３〜１１、１４）を形成するための記録波形を示す。記録パワーがほぼ適正であれば、記録波形に沿ったピットが形成されることとなるが、記録パワーが過剰の場合には、ｎＴピットを形成する際の熱が３Ｔランドを通じて３Ｔピットまで伝達し、３Ｔピットの形成に影響を及ぼして本来のピット形状と異なるピット形状となる。具体的には、図に示すように３Ｔピットのうち、ｎＴピット側の境界が熱伝達の影響を受けて実線から破線のように変化してピット形状が歪んでしまう。このような熱干渉の影響は、ピット長の短い３Ｔに特に顕著に現れる。３Ｔピット形状の歪みにより、ジッタ分布も正規分布からずれることになる。 FIG. 6 shows the pit shape and recording waveform when the recording power is excessive. The recording waveform increases to the recording power level when the pit is formed, and becomes a reproduction power level or an erasing power level smaller than the recording power when the pit is not formed (land or space formation). The figure shows recording waveforms for forming 3T pits, 3T lands, and nT pits (n = 3 to 11, 14). If the recording power is almost appropriate, pits along the recording waveform will be formed. However, if the recording power is excessive, heat for forming the nT pit is transferred to the 3T pit through the 3T land. It affects the formation of 3T pits, resulting in a pit shape different from the original pit shape. Specifically, as shown in the figure, among the 3T pits, the nT pit side boundary changes from a solid line to a broken line due to the influence of heat transfer, and the pit shape is distorted. Such an influence of thermal interference is particularly noticeable in 3T having a short pit length. The jitter distribution also deviates from the normal distribution due to the distortion of the 3T pit shape.
図７に、記録パワーが過剰な場合のジッタ測定結果を示す。図７（ａ）は３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの各ピット長のジッタ測定結果であり、図７（ｂ）は３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのジッタの中心同士を重ね合わせた全ピット長のジッタ分布２００である。特に３Ｔにおいてジッタが左右非対称となるためジッタ分布２００も左右対称性からのずれが大きくなる。あるいは、適正記録パワー時のジッタ分布１００が正規分布であるとすると、ジッタ分布２００の正規分布からのずれが大きくなる。なお、記録パワーによっては３Ｔのみならず、よりピット長の長いデータ（４Ｔあるいはそれ以上）においてもジッタが左右非対称となる。また、記録パワーが過剰になるほどジッタ分布のずれもそれに伴って大きくなる。そこで、本実施形態のシステムコントローラ３２は、単にジッタの大小のみを評価するのではなく、ジッタ分布の左右対称性からのずれ、あるいは正規分布からのずれを評価することで、より正確に記録パワーの適性度を評価する。
FIG. 7 shows the jitter measurement result when the recording power is excessive. FIG. 7A shows the jitter measurement results for the pit lengths of 3T to 11T and 14T, and FIG. 7B shows the
図８に、本実施形態の処理フローチャートを示す。まず、光ディスク１０を光ディスク装置に装着し、光ディスク１０のリードインエリアに格納されている各種情報を取得する。各種情報はメーカ名や光ディスクの種類、目標β値、許容β値範囲、歪度許容限界値Ｓｍｉｎ等である。取得した情報はシステムコントローラ３２のメモリに格納される。なお、目標β値や許容β値範囲、歪度許容限界値Ｓｍｉｎ等は予めシステムコントローラ３２のメモリにファームウェアパラメータとして格納していてもよい。次に、ＯＰＣを実行すべく、光ピックアップ１６を光ディスク１０の内周側テストエリア（ＰＣＡ）まで搬送し、記録パワーを複数段階に変化させながらテストデータを試し書きする（Ｓ２０１）。テストデータを試し書きした後、該テストデータを再生し、各記録パワーにおけるβ値とジッタ分布を検出する（Ｓ２０２）。β値はＡＣ結合された再生ＲＦ信号のピークレベルをＡ、ボトムレベルをＢとすると、β＝（Ａ＋Ｂ）／（Ａ−Ｂ）で定義される。ジッタ分布は平均値μと標準偏差σである。次に、各記録パワーのジッタ分布から記録パワー毎の歪度Ｓを算出する（Ｓ２０３）。歪度Ｓは、
歪度Ｓ＝Σ（Ｘｉ−μ）3／ｎσ3
で算出される。本実施形態における歪度Ｓは、全ピット長における歪度Ｓであり、テストデータの各ピット長における歪度Ｓの加算でもよいし、各ピット長のジッタ分布を重ね合わせて１つの母集団としてから歪度Ｓを求めてもよい。各記録パワー毎に算出された歪度Ｓはシステムコントローラ３２のメモリに格納される。以上のようにして、各記録パワーＰｋ毎に歪度Ｓｋが算出されてメモリに格納される。なお、記録パワーＰｋの添字ｋは各記録パワーを区別するためのものであり、例えば５段階に記録パワーを変化させて試し書きする場合はｋは１〜５の整数である。また、歪度Ｓｋの添字ｋは対応する記録パワーを示すものである。
FIG. 8 shows a processing flowchart of the present embodiment. First, the
Skewness S = Σ (Xi−μ) 3 / nσ 3
Is calculated by The skewness S in the present embodiment is the skewness S for all pit lengths, and may be the addition of the skewness S for each pit length of the test data, or the jitter distribution of each pit length is overlapped to form one population. The skewness S may be obtained from the above. The skewness S calculated for each recording power is stored in the memory of the
次に、各記録パワーＰｋ毎の歪度Ｓｋから、歪度許容限界値Ｓｍｉｎとなる記録パワーＰｓを求める（Ｓ２０４）。離散的な記録パワーＰｋのうち、Ｓｍｉｎに最も近い歪度Ｓｋを有する記録パワーを記録パワーＰｓとしてもよく、歪度Ｓｋを任意の近似式で近似し、歪度Ｓｍｉｎが得られる記録パワーＰｓを算出してもよい。歪度Ｓｍｉｎに最も近い歪度を有する２つの記録パワーの内挿から記録パワーＰｓを算出してもよい。 Next, from the skewness Sk for each recording power Pk, the recording power Ps that is the distortion allowable limit value Smin is obtained (S204). Of the discrete recording power Pk, the recording power having the skewness Sk closest to Smin may be used as the recording power Ps, and the recording power Ps that approximates the skewness Sk with an arbitrary approximate expression to obtain the distortion Smin. It may be calculated. The recording power Ps may be calculated from the interpolation of two recording powers having the skewness closest to the skewness Smin.
記録パワーＰｓを求めた後、Ｓ２０２で検出した各記録パワーにおけるβ値から目標β値となる仮の最適記録パワーＰｏを求める（Ｓ２０５）。この処理自体は従来のＯＰＣにおける処理と同様であり、従来では目標β値が得られる記録パワーを最適記録パワーに設定しているが、本実施形態では目標β値が得られる記録パワーを仮の最適記録パワーとして後で増減調整する場合があることを前提としている。目標β値は上記のとおり、光ディスク１０から読み出して取得してもよく、予めメモリに格納しておいてもよい。次に、各記録パワーにおけるβ値から、許容されるβ値範囲が得られる記録パワー範囲Ｍを求める（Ｓ２０６）。許容されるβ値範囲は、目標β値に対して所定の幅をもって設定される許容値であり、光ディスク関連の規格に基づいて設定してもよく、あるいは目標β値に対して±１０％等という形式で与えてもよい。許容されるβ値範囲を満たす記録パワー範囲Ｍは、目標β値は得られないものの、ほぼβ値を満足できると考えられる記録パワー範囲としての意義があり、仮の最適記録パワーＰｏを増減調整できる範囲としての意義もある。
このことは、仮の最適記録パワーＰｏを増減調整する場合においても、β値がある範囲内にあるとの条件下で増減調整することを意味する。β値が目標β値から大きく乖離してしまうと記録品質を確保することが困難だからである。
After obtaining the recording power Ps, a provisional optimum recording power Po that becomes the target β value is obtained from the β value at each recording power detected in S202 (S205). This process itself is the same as the process in the conventional OPC. Conventionally, the recording power at which the target β value can be obtained is set to the optimum recording power. However, in this embodiment, the recording power at which the target β value can be obtained is temporarily set. It is assumed that the optimum recording power may be increased or decreased later. As described above, the target β value may be obtained by reading from the
This means that even when the provisional optimum recording power Po is increased or decreased, the increase or decrease is adjusted under the condition that the β value is within a certain range. This is because it is difficult to ensure recording quality if the β value deviates greatly from the target β value.
以上のようにして、記録パワーＰｓ、仮の最適記録パワーＰｏ、及び記録パワー範囲Ｍを求めた後、システムコントローラ３２はこれらを用いて仮の最適記録パワーＰｏを調整する。すなわち、まず、仮の最適記録パワーＰｏとＰｓとを大小比較し、Ｐｏ≦Ｐｓか否かを判定する（Ｓ２０７）。記録パワーＰｓは歪度許容限界値が得られる記録パワーであってこれより歪度の絶対値が大きいと熱干渉の度合いが大きく記録品質が劣化すると考えられるパワーであるから、仮の最適記録パワーＰｏがＰｓ以下であれば熱干渉の度合いが小さいと判定でき、仮の最適記録パワーＰｏを最適記録パワーとして確定する（Ｓ２０８）。
After obtaining the recording power Ps, the provisional optimum recording power Po, and the recording power range M as described above, the
一方、ＰｏがＰｓを超える場合、つまりＰｏ＞Ｐｓである場合には、熱干渉の度合いが大きく記録品質が劣化する、より具体的には目標β値が必ずしも最適β値ではなく仮の最適記録パワーＰｏは過剰パワー気味であると判定し、次にＰｓがパワー範囲Ｍの範囲内にあるか否かを判定する（Ｓ２０９）。この判定は、Ｓ２０７でＰｏが最適記録パワーとして不適当である以上、熱干渉の度合いの観点からＰｓを最適記録パワーとすることになるが、このＰｓがβ値の観点から満足し得るパワーであるか否かを確認するための処理である。そして、ＰｓがＭの範囲内であれば、Ｐｓはβ値の観点からも熱干渉の観点からも満足できるパワーであるから、Ｐｏに代えてＰｓを最適記録パワーとする（Ｓ２１０）。Ｐｏを増減調整してＰｓとすると言い換えることもできる。この場合、Ｐｏ＞Ｐｓであるから、Ｐｏを減少調整してＰｓに設定する。また、ＰｓがＭの範囲内にない場合、Ｐｓは熱干渉の観点からは満足できるがβ値の観点からは満足できないことになるので、最適記録パワーに設定できず、ストラテジを変更して再びＳ２０１以降の処理を繰り返す（Ｓ２１１）。ストラテジの変更は、具体的にはマルチパルスのパルス幅の変更である。 On the other hand, when Po exceeds Ps, that is, when Po> Ps, the degree of thermal interference is large and the recording quality deteriorates. More specifically, the target β value is not necessarily the optimal β value, but temporary optimal recording. It is determined that the power Po is excessive power, and then it is determined whether or not Ps is within the power range M (S209). In this determination, since Po is inappropriate as the optimum recording power in S207, Ps is set as the optimum recording power from the viewpoint of the degree of thermal interference, but this Ps is a power that can be satisfied from the viewpoint of β value. This is a process for confirming whether or not there is. If Ps is within the range of M, Ps is sufficient power from the viewpoint of β value and from the viewpoint of thermal interference, so Ps is set as the optimum recording power instead of Po (S210). In other words, Po can be adjusted to increase or decrease to Ps. In this case, since Po> Ps, Po is reduced and set to Ps. If Ps is not within the range of M, Ps can be satisfied from the viewpoint of thermal interference but cannot be satisfied from the viewpoint of β value. Therefore, the optimum recording power cannot be set, and the strategy is changed again. The processes after S201 are repeated (S211). Specifically, the strategy is changed by changing the pulse width of the multi-pulse.
図９に、図８におけるＳ２０５の処理を模式的に示す。従来のＯＰＣで実行している、各記録パワーでテストデータを試し書きし、各記録パワー毎にβ値を検出して目標β値が得られる記録パワーを抽出する処理である。記録パワーがＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４，Ｐ５と順次増大するに従ってβ値は増加していく。目標β値が得られる記録パワーを仮の最適記録パワーＰｏとする。仮の最適記録パワーＰｏは熱干渉を考慮したものではなく、目標β値自体が適当でなく熱干渉が大きい場合には調整されるべき記録パワーである。 FIG. 9 schematically shows the process of S205 in FIG. This is a process of performing test writing of test data with each recording power, which is executed in the conventional OPC, and detecting the β value for each recording power and extracting the recording power for obtaining the target β value. The β value increases as the recording power sequentially increases as P1, P2, P3, P4, and P5. The recording power at which the target β value is obtained is assumed to be a temporary optimum recording power Po. The provisional optimum recording power Po does not consider thermal interference, but is the recording power to be adjusted when the target β value itself is not appropriate and thermal interference is large.
図１０に、図８におけるＳ２０７の処理を模式的に示す。Ｓ２０３で算出される各記録パワー毎の歪度Ｓ、Ｓ２０４で求められる歪度許容限界値Ｓｍｉｎとなる記録パワーＰｓも同時に示す。記録パワーが増大すると、ジッタ分布は−側に非対称に延びていくため歪度は−側に大きくなる。あるいは−の絶対値が増大するとも云える。歪度許容限界値Ｓｍｉｎはこれを超えて歪度の絶対値が増大する（−側に大きくなる）と熱干渉の度合いが大きくなり記録品質が劣化する指標であり、図のように仮の最適記録パワーＰｏがＰｓ以下であれば仮の最適記録パワーＰｏでは熱干渉の度合いは小さく問題ない（図では記録パワーＰｏで歪度はほぼ０となる）。 FIG. 10 schematically shows the process of S207 in FIG. The distortion power S for each recording power calculated in S203 and the recording power Ps that is the distortion tolerance limit value Smin obtained in S204 are also shown. As the recording power increases, the jitter distribution extends asymmetrically toward the minus side, so that the distortion increases toward the minus side. Or it can be said that the absolute value of-increases. The skewness tolerance limit value Smin exceeds this value, and if the absolute value of the skewness increases (increases on the negative side), the degree of thermal interference increases and the recording quality deteriorates. If the recording power Po is less than or equal to Ps, the temporary optimum recording power Po has a small degree of thermal interference and there is no problem (in the figure, the distortion is almost zero at the recording power Po).
図１１及び図１２に、図８におけるＳ２０９の処理を模式的に示す。図１１はＰｓが記録パワー範囲Ｍの範囲内にある場合、図１２はＰｓが記録パワー範囲Ｍの範囲外にある場合である。図１１の場合、Ｐｓを最適記録パワーに設定する。図１２の場合、Ｐｓを最適記録パワーに設定することはできない。β値が許容β値範囲を超えてしまうからである。図１２の場合、Ｐｏ及びＰｓのいずれも最適記録パワーとせず、記録ストラテジ自体を変化させて再度ＯＰＣを実行する。 11 and 12 schematically show the process of S209 in FIG. 11 shows a case where Ps is within the recording power range M, and FIG. 12 shows a case where Ps is outside the recording power range M. In the case of FIG. 11, Ps is set to the optimum recording power. In the case of FIG. 12, Ps cannot be set to the optimum recording power. This is because the β value exceeds the allowable β value range. In the case of FIG. 12, neither Po nor Ps is set to the optimum recording power, and the OPC is executed again by changing the recording strategy itself.
図１３に、記録ストラテジの変更方法の一例を示す。３Ｔピット、３Ｔランド、ｎＴピットを形成するためのストラテジである。図１３（ａ）は基本ストラテジであり、当初はこのようなストラテジで図８のＳ２０１〜Ｓ２１０の処理を実行する。図１３では、一例として図６に示すストラテジと比較して、ｎＴピットを形成するための波形をその始端と終端にブーストパルスを付加した所謂キャッスル型とした。図１３（ｂ）〜図１３（ｄ）は図１３（ａ）の基本ストラテジを変更したストラテジである。図１３（ｂ）は基本ストラテジのうち３Ｔピットを形成するパルスの終端のクーリングパルスのパルス幅ＴｃをΔｔ１だけ伸長したストラテジである。クーリングパルスのパルス幅Ｔｃを伸長させることで熱干渉の影響を抑制し得る。図１３（ｃ）は基本ストラテジのうちＮＴピットを形成するパルスの始端タイミングをΔｔ２だけ遅延させたストラテジである。図１３（ｄ）は３Ｔランドを形成するパルスのパルスレベルをΔＬだけ低下させたストラテジである。Δｔ１、Δｔ２、ΔＬは予め調整してシステムコントローラ３２のメモリに格納させておけばよい。
FIG. 13 shows an example of a method for changing the recording strategy. This is a strategy for forming 3T pits, 3T lands, and nT pits. FIG. 13A shows a basic strategy. Initially, the processing of S201 to S210 in FIG. 8 is executed with such a strategy. In FIG. 13, as an example, compared with the strategy shown in FIG. 6, the waveform for forming the nT pit is a so-called castle type in which a boost pulse is added at the start and end. FIG. 13B to FIG. 13D are strategies obtained by changing the basic strategy of FIG. FIG. 13B shows a strategy in which the pulse width Tc of the cooling pulse at the end of the pulse forming the 3T pit in the basic strategy is extended by Δt1. The influence of thermal interference can be suppressed by extending the pulse width Tc of the cooling pulse. FIG. 13C shows a strategy obtained by delaying the start timing of a pulse for forming an NT pit among the basic strategies by Δt2. FIG. 13D shows a strategy in which the pulse level of the pulse forming the 3T land is lowered by ΔL. Δt1, Δt2, and ΔL may be adjusted in advance and stored in the memory of the
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、種々の変更が可能である。例えば、本実施形態では、
歪度Ｓ＝Σ（Ｘｉ−μ）3／ｎσ3
により熱干渉の度合い、すなわちジッタ分布の対称性を評価しているが、他の任意の評価式を用いることができる。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to said embodiment, A various change is possible. For example, in this embodiment,
Skewness S = Σ (Xi−μ) 3 / nσ 3
Thus, the degree of thermal interference, that is, the symmetry of the jitter distribution is evaluated, but any other evaluation formula can be used.
また、本実施形態では、特定のピット長（例えば３Ｔ）の歪度Ｓ、あるいは全ピット長の歪度Ｓを所定のしきい値と比較しているが、特定のピット長としては３Ｔと４Ｔ等、複数のピット長としてもよい。熱干渉の影響が顕在化するのは短いピット長であるから、所定長以下のピット長としてもよいし、最短の３Ｔのみでもよい。また、特定のランドとの組み合わせでもよい。例えば、３Ｔランドと隣接するピットの歪度でもよい。また、特定のピット長の歪度Ｓと全ピット長の歪度Ｓをともに算出し、それぞれを所定のしきい値と比較してもよい。いずれの歪度Ｓも所定のしきい値以下であれば記録パワーを適正と判定し、少なくともいずれかの歪度Ｓが所定のしきい値を超えた場合に記録パワーは適正ではないと判定してもよい。 In this embodiment, the degree of distortion S of a specific pit length (for example, 3T) or the degree of distortion S of the total pit length is compared with a predetermined threshold value. As specific pit lengths, 3T and 4T are used. Or a plurality of pit lengths. Since it is a short pit length that the influence of thermal interference becomes obvious, the pit length may be a predetermined length or less, or only the shortest 3T. Also, a combination with a specific land may be used. For example, the skewness of the pit adjacent to the 3T land may be used. Alternatively, the skewness S of a specific pit length and the skewness S of all pit lengths may be calculated and compared with a predetermined threshold value. If any skewness S is equal to or less than a predetermined threshold value, the recording power is determined to be appropriate, and if at least any skewness S exceeds the predetermined threshold value, it is determined that the recording power is not appropriate. May be.
また、本実施形態ではＳ１０７、Ｓ２１１で記録ストラテジを変更しているが、回転速度を低速に変更してもよい。例えば、４倍速での記録のために上記のようにして熱干渉の度合いを評価し、熱干渉が大きいと判断した場合に４倍速での記録をあきらめて２倍速での記録を試みるという具合である。また、Ｓ１０７、Ｓ２１１での記録ストラテジを変更してもなお熱干渉が大きい場合に回転速度を低速にする様にしてもよい。 In this embodiment, the recording strategy is changed in S107 and S211, but the rotation speed may be changed to a low speed. For example, for recording at 4 × speed, the degree of thermal interference is evaluated as described above, and when it is determined that the thermal interference is large, the recording at 4 × speed is given up and recording at 2 × speed is attempted. is there. In addition, even if the recording strategy in S107 and S211 is changed, the rotation speed may be lowered when the thermal interference is still large.
また、本実施形態では、ピットについての歪度を求めたが、ピットの代わりにランドでもよい。この場合、熱干渉でピットの歪度が−側になるならば、ランドの歪度は＋側というように歪度は反対極性になる。 Further, in the present embodiment, the skewness of the pit is obtained, but a land may be used instead of the pit. In this case, if the pit skewness is on the minus side due to thermal interference, the land skewness is on the plus side, and the skewness has the opposite polarity.
１、１６ 光ピックアップ、２ 信号処理部、３ コントローラ、１０ 光ディスク、３２ システムコントローラ。 1, 16 Optical pickup, 2 signal processing unit, 3 controller, 10 optical disk, 32 system controller.
Claims (2)
複数の記録パワーでテストデータを試し書きし、該テストデータを再生して各記録パワー毎にβ値とジッタ分布を検出する手段と、
前記ジッタ分布の対称性からのずれ量を表す歪度を各記録パワー毎に算出する手段と、
前記歪度が所定の許容限界値となる記録パワーＰｓを求める手段と、
前記β値が所定のβ値となる記録パワーＰｏを求める手段と、
前記記録パワーＰｏを前記記録パワーＰｓと大小比較し、Ｐｏ≦Ｐｓであれば前記記録パワーＰｏを最適記録パワーに設定し、Ｐｏ＞Ｐｓであれば前記記録パワーＰｏ以外を最適記録パワーに設定する最適記録パワー設定手段と、
前記β値が所定の許容範囲となる記録パワー範囲Ｍを求める手段と、
を有し、前記最適記録パワー設定手段は、Ｐｏ＞Ｐｓであり前記記録パワーＰｓが前記記録パワー範囲Ｍの範囲内である場合に前記記録パワーＰｓを前記最適記録パワーに設定することを特徴とする光ディスク装置。 An optical disk device for recording data on an optical disk,
Means for trial writing test data with a plurality of recording powers, reproducing the test data and detecting a β value and a jitter distribution for each recording power;
Means for calculating for each recording power a skewness representing an amount of deviation from the symmetry of the jitter distribution;
Means for obtaining a recording power Ps at which the skewness is a predetermined allowable limit value;
Means for obtaining a recording power Po at which the β value becomes a predetermined β value;
The recording power Po is compared with the recording power Ps. If Po ≦ Ps, the recording power Po is set to the optimum recording power, and if Po> Ps, other than the recording power Po is set to the optimum recording power. Optimal recording power setting means;
Means for obtaining a recording power range M in which the β value falls within a predetermined allowable range;
And the optimum recording power setting means sets the recording power Ps to the optimum recording power when Po> Ps and the recording power Ps is within the recording power range M. Optical disk device to perform.
前記最適記録パワー設定手段は、Ｐｏ＞Ｐｓであり前記記録パワーＰｓが前記記録パワー範囲Ｍの範囲外である場合に記録ストラテジを変更することを特徴とする光ディスク装置。 The apparatus of claim 1 .
The optical disc apparatus characterized in that the optimum recording power setting means changes the recording strategy when Po> Ps and the recording power Ps is outside the recording power range M.
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