JP4479339B2 - 設計製造支援システム，方法及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、機械製品等の設計製造支援システムにおいて、製品の形状データに対する呼び寸法や寸法公差データを加工の管理および表示するシステム，方法及びプログラムに関する。

機械製品等の形状設計を行う設計者を支援する従来のＣＡＤ(Computer Aided Design）システムにおいては、製品の幾何的な形状を表す形状データに対して製品形状の加工や組立の仕上り仕様を他の設計者，製造者，検査者を含む生産関係者に伝えるための基準となる加工や組立の許容誤差を含まない呼び寸法データ，製品形状の仕上り仕様の許容誤差を規定する寸法公差データ（以下、単に公差データと呼ぶ）とを合せて扱い図面や３次元モデルを作成することができる。ＣＡＤシステムでは、図面や３次元モデルの形状データと付与された呼び寸法データが拘束関係を保持しながら連動し、形状データあるいは呼び寸法データの一方を編集することで、双方の整合性を保ちながら製品の形状データおよび呼び寸法データを変更することができるパラメトリック設計機能を備えている。

製造側では、設計が作成した図面あるいは３次元モデルの形状データ，呼び寸法データ，公差データ，その他の注記データ等を元に、製品をＮＣ工作機械で加工する場合に必要な加工用形状データを工程設計者がＣＡＭ（Computer Aided Manufacturing）システムを用いて作成している。加工用形状データとは、ＣＡＭシステムでＮＣツールパスデータを生成する際の入力となる形状データのことを指す。設計が作成した図面あるいは３次元モデルの形状データである設計形状データを加工用形状データに変換することは、設計形状データに対応する呼び寸法データを公差データの上下許容差内でＮＣ加工の目標とする一意な寸法値、すなわち加工目標値データに変換することに他ならない。

工程設計者は製品を設計仕様どおりに加工するため、製品形状，材質等を考慮してとり得る最適な製造設備と製造方法を選択して加工目標値データを公差データの上下許容差内で一意に決定する製造ノウハウを必要とする。しかし、この加工目標値は一般に図面，３次元モデル、あるいは製造作業者に対する作業指示書等には記載されず、工程設計者あるいは製造作業者が持つ個人ノウハウとなりがちである。設計で決められる形状データ，呼び寸法データ，公差データに対応付けて加工目標値データを一元的に記録し、表示して確認できる仕組みは未だない。

特開平７−１０５２７１号公報（以下、特許文献１と称す）には、図面上の公差データの上下許容差がどちらかに片寄っている寸法を探して、その部分の形状データが上下許容差のちょうど中間値となるように形状データを自動的に修正する寸法公差中間値処理を施し、市販のＣＡＤシステム上で中間値を呼び寸法データとして表示できるようにする提案がある。この際、公差データの上下許容差は中間値から上下に均等になるように計算しなおして呼び寸法データと共に表示する。

特許２９４７３６７号公報（以下、特許文献２と称す）には、加工後の寸法測定検査における検査図面において、測定対象を示す２次元形状データと形状データに対応する呼び寸法データと公差データと測定結果の値を対応付けて記憶し、対応する公差データと近接して検査結果の値を配置する提案がある。

特開平７−１０５２７１号公報 特許２９４７３６７号公報

特許文献１の提案では、公差データの上下許容差内で任意の値を加工目標値とした場合の形状データの編集ができず、複雑なはめ合い部をもつような部品の形状によっては、前記の寸法公差中間値処理だけでは加工用形状データの作成に対応できないといった課題がある。また、特許文献１の提案では、設計者が図面等に記した元の呼び寸法および上下に片寄りのある公差データが残らない。上下どちらかに片寄りのある公差データは、はめ合い部がある部品のほか、複雑な形状部分の加工指示には必要不可欠な設計意図を寸法公差に表現する重要な方法のひとつであるが、この設計意図が残らないことで、製造部門が設計意図を解した上で、様々な精度能力の加工機や工具といった製造設備から、適した設備を選択するといった判断ができないという問題がある。

特許文献２の提案では、処理の対象は検査図面に限られており、検査結果の値と対応する形状データ間の関係のみ付けられ、形状データと検査結果の値とが連動するよう作用しないため、ＣＡＭシステムの入力とするような加工用形状データと加工目標値とを対応付けて表示することができない。また、特許文献２の提案では、３次元モデルの形状データに付与された呼び寸法データ，公差データ，形状データに連動した加工目標値を対応付けて記憶することができないため、設計，製造，検査において共有できる一元的な設計製造データとしては活用できないという課題がある。

本発明の目的は、上述した問題点を克服し、設計，製造，検査において共有できる一元的な設計製造データとして、製品の形状データ，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データを記憶し、設計意図となる公差データ，製造ノウハウとなる加工目標値データを、それぞれ製造，検査にまで伝達して共有することのできる設計製造支援システムを提供することにある。

設計製造支援システムにおいて、図面もしくは３次元モデルの形状データと、形状データに付与した呼び寸法データと、呼び寸法データの上下許容差を規定する公差データと、加工の目標となる寸法値として加工時に一意に決定する加工目標値データとを対応付けて記憶処理を行う記憶処理部と、前記呼び寸法データと前記公差データと前記加工目標値データとを対応する形状データと併記して表示装置に表示する手段とを備えることを特徴とする。

また、前記設計製造支援システムにおいて、前記加工目標値データが、前記上下許容差の範囲を超えているかどうかを判定する手段を備えることを特徴とする。

また、前記設計製造支援システムにおいて、前記加工目標値と前記呼び寸法データおよび対応する公差データとを区別して表示する手段を備えることを特徴とする。

本発明によれば、設計で作成した製品の図面あるいは３次元モデルの形状データ，呼び寸法データ，公差データから、加工目標値データをＣＡＤシステム上で編集および表示ができるので、これを加工用形状データとして製造のＣＡＭシステムに転送することで、
ＮＣデータ作成が効率よく行え、製造側での加工用形状データの再作成といった手間が削減できる。

以下、本発明の実施例を説明する。

以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、本発明の設計製造支援システムの一実施例を示す構成図である。設計製造支援システム１は形状データ記憶領域３や呼び寸法データ記憶領域４や公差データ記憶領域５や加工目標値データ記憶領域６を持ち前記各データの記憶処理を行う設計製造データ記憶処理手段２，前記各データの表示処理を行う寸法公差表示処理手段７，各データを入力するキーボード８やマウス９といった入力装置，寸法公差表示処理を出力する表示装置１０といった出力装置から構成される。

設計製造支援システム１において、形状データ，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データは、キーボード８やマウス９の入力装置により入力され、設計製造データ記憶処理手段２により各記憶領域に記憶される。

図２に各データの一例を示す。本発明で扱う形状データとは、円柱型部品の底面円形状や側面円筒形状の２次元投影形状データあるいは３次元モデルデータのことである。本実施例で扱う呼び寸法データとは、設計者が決める製品の仕上り仕様の寸法で加工許容誤差を含まない値のことである。また、本実施例で扱う公差データとは、前記呼び寸法に対して加工許容誤差を規定する値のことである。例えば図２（ａ）において、円柱形状部品の底面直径を表す径寸法には、５０.０mm の呼び寸法データが付けられている。また、公差の上の許容差値に＋０.２ 、下の許容差値に０が付けられており、これらを合せて公差データとしている。

図３に寸法公差表示処理手段７における加工目標値データの表示処理結果の一例を示す。本実施例で扱う加工目標値データとは、工程設計者あるいはＮＣデータ作成者が製造部門の製造設備や製造方法を考慮した上で、設計者が決めた呼び寸法データの上下許容差内にある加工の目標値を決定した値のことである。図３（ａ）に示すように加工目標値データは、呼び寸法データおよび上下許容差値を示す公差データと隣接した位置に識別できるように、例えば、角括弧文字のような区切り文字で呼び寸法データおよび公差データと区切って表示する。図３（ａ）では、寸法公差表示処理部が製品の３次元モデルの形状データに付与された寸法について加工目標値データの表示処理を行った例であるが、図３(ｃ)に示すように、製品図面における２次元の形状データに付与された寸法についても同様に表示処理を行う。

本実施例によれば、加工目標値を呼び寸法データ，公差データと併記して同時に表示するので、製造担当者は加工目標値と公差データを考慮して製造製品に適した製造設備，製造方法を選択することができる。

図４に形状データ，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データの各データ構造について説明する。図４（ａ）に形状データ構造の例を示す。形状データは、形状ＩＤ，形状タイプ，幾何データ，対応寸法ＩＤで構成される。形状ＩＤは、円筒面や平面といった形状を指すＩＤである。形状タイプは、円筒面や平面といった形状の種類を表す。幾何データは、例えば円筒面であれば、基準点，軸ベクトル，直径，高さといった幾何的なパラメータを表す。対応寸法ＩＤは、形状に寸法が付いている場合の対応する呼び寸法データのＩＤを表す。図４（ｅ）に前記データ構造に対応する円柱形状を示す。円柱形状は形状ＩＤ＝Ｇ１０００１の円筒面形状と形状ＩＤ＝Ｇ１０００２と形状ＩＤ＝Ｇ１０００３の平面形状で構成される。円筒面形状は、基準点ｐ１，軸ベクトルｖ１，直径ｄ，高さｈといった幾何データで構成される。平面形状は、基準点ｐ２，法線ベクトルｖ２といった幾何データから構成される。

図４（ｂ）に前記形状データに対応する呼び寸法データの例を示す。前記形状ＩＤ＝Ｇ１０００１の円筒面形状は、寸法ＩＤ＝Ｄ２０００１の呼び寸法データに対応し、前記形状ＩＤ＝Ｇ１０００２および形状ＩＤ＝Ｇ１０００３の平面は、寸法ＩＤ＝Ｄ２０００２の呼び寸法データに対応する。呼び寸法データは、寸法タイプ，基準位置，寸法値，対応公差ＩＤで構成される。寸法タイプは、距離寸法，径寸法、角度寸法といった寸法の種類を表す。基準位置は、呼び寸法データを表示する基準位置を表すもので、２次元図面では、２次元座標値、３次元モデルでは、３次元座標値で表す。寸法値は、呼び寸法値である。対応公差ＩＤは、呼び寸法に公差が付く場合の公差データのＩＤである。

図４（ｃ）に前記呼び寸法データに対応する公差データの例を示す。前記寸法ＩＤ＝Ｄ２０００１の呼び寸法は公差ＩＤ＝Ｔ３０００１に対応し、前記寸法ＩＤ＝Ｄ２０００２の呼び寸法は公差ＩＤ＝Ｔ３０００２に対応する。公差データは、公差タイプ，基準位置，公差値，対応加工目標値ＩＤで構成される。公差タイプは、上の寸法許容差を＋０.２ 、下の寸法許容差を０といったように表す上下許容差タイプと、最大許容寸法を５０.２ 、最小許容寸法を５０.０ といったように表す大小許容寸法タイプとがある。基準位置は、呼び寸法データの基準位置より、寸法値を文字列で表示した後方の所定の位置に対する点座標値を記憶する。公差値は、前記公差タイプに従って、上下許容差タイプなら、上の寸法許容差＋０.２ 、下の寸法許容差０といったように表し、大小許容寸法タイプなら、最大許容寸法５０.２ 、最小許容寸法５０.０ といったように表す。対応加工目標値ＩＤは、公差に対応した加工目標値のＩＤである。

図４（ｄ）に前記公差データに対応する加工目標値データの例を示す。前記公差ＩＤ＝Ｔ３０００１の公差は加工目標値ＩＤ＝Ｍ４０００１に対応し、前記公差ＩＤ＝Ｔ30002の公差は加工目標値ＩＤ＝Ｍ４０００２に対応する。加工目標値データは、基準位置と加工目標値で構成される。

基準位置は、呼び寸法データの基準位置および公差データの基準位置より、例えば、寸法値および公差値を文字列で表示した後方の所定の位置に対する点座標値を記憶する。

図５に本発明による設計製造支援システムにおける設計製造データ記憶処理部の処理の流れを示す。本発明における設計製造支援システムにおいて、設計製造データ記憶処理手段２は、設計者や工程設計者といったユーザーが、キーボード８あるいはマウス９といった入力装置により入力した処理対象となる製品の形状データを記憶する(ステップＳ101)。さらに、形状データに対応する呼び寸法データを記憶し（ステップＳ１０２）、呼び寸法データに対応する上下許容差値を規定する公差データを記憶し（ステップＳ１０３）、ならびに許容差内に収まる加工目標値データを対応付けて記憶する（ステップＳ１０４）。

図６に本発明による設計製造支援システムにおける寸法公差表示処理部の処理の流れを示す。設計製造支援システムは、まず、設計対象製品の形状データを例えばディスプレイといった出力装置を通して表示する（ステップＳ２０１）。寸法公差表示処理手段７は、前記形状データに対応する呼び寸法データを設計製造データ記憶処理部から呼び出す（ステップＳ２０２）。続いて、呼び寸法データが存在するかどうかを判定し(ステップS203)、呼び寸法データが存在する場合は、形状データの対応する所定の位置に呼び寸法データを表示し(ステップＳ２０４)、呼び寸法データが存在しない場合は、以降の表示処理をしない。ステップＳ２０３において、呼び寸法データが存在する場合は、引き続き対応する公差データを設計製造データ記憶処理部から呼び出す（ステップＳ２０５）。続いて、公差データが存在するかどうかを判定し（ステップＳ２０６）、公差データが存在する場合は、対応する呼び寸法データ近辺の所定の位置に公差データを表示する（ステップＳ207)。呼び寸法データに対応する公差データが存在しない場合は、以降の表示処理をしない。ステップＳ２０６において、公差データ存在する場合は、引き続き対応する加工目標値データを設計製造データ記憶処理部から呼び出す（ステップＳ２０８）。続いて、加工目標値データが存在するかどうかを判定し（ステップＳ２０９）、加工目標値データが存在する場合は、対応する公差データに近接する位置に加工目標値データを表示する（ステップＳ２１０）。

図７に形状データに対応する呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データの表示位置について説明する。呼び寸法データおよび公差データを表示する位置は、２次元形状ならＩＳＯ，ＪＩＳ、３次元形状ならＡＳＭＥ，ＩＳＯといった標準規格の定めた寸法表記規則に準拠した設計対象製品の対応する形状データの種類（距離寸法，径寸法，角度寸法等）に応じた寸法引き出し線や寸法線に隣接する所定の位置のことである。加工目標値データを表示する位置は、呼び寸法データおよび公差データを表示する位置に隣接する、例えば、図７（ａ）に示すように公差データに続く後方位置や図７（ｂ）に示すように公差データの下方位置に表示する。また、径寸法であれば、図７（ｃ）に示すように、角度寸法であれば図７（ｄ）に示すように寸法公差データに近接する位置に表示する。

図８（ａ）に本発明における加工目標値判定処理手段１１を加えた構成を示す。図９に加工目標値判定処理手段の処理の流れを示す。加工目標値判定処理手段１１は、まず、設計者等のユーザーが表示装置に表示された呼び寸法データあるいは対応する公差データあるいは対応する加工目標値データ、あるいは、これらに対応する形状データを参照し、入力装置を通して前記データのうちいずれかを選択することにより、加工目標値データの選択を受け付ける（ステップＳ３０１）。続いて設計製造データ記憶部における選択された加工目標値データに対応した呼び寸法データおよび公差データを呼び出す(ステップS302)。呼び出された寸法データおよび公差データから最大許容寸法値および最小許容寸法値を計算しておく（ステップＳ３０３）。最大許容寸法値と最小許容寸法値の相加平均により公差の中間寸法値を算出し、ユーザーに加工目標値として提示する（ステップＳ３０３−１）。続いてユーザーからの加工目標値の編集を受け付ける（ステップＳ３０４）。

加工目標値が前記最大許容寸法値および最小許容寸法値の大小を比較し（ステップ
Ｓ３０５）、加工目標値が最小許容寸法値以上かつ最大許容寸法値以下の場合には、入力装置を通してユーザーから加工目標値が入力値で良いかどうかの確認を受け付け（ステップＳ３０６）、確認結果がＹＥＳの場合は加工目標値を設計製造データ記憶処理部の加工目標値データ記憶領域に記憶し(ステップＳ３０７)、処理を終了する。ステップＳ３０５で加工目標値が最大許容寸法値と最小許容寸法値の範囲から外れている場合には、表示装置を通して設計者等のユーザーにその旨を警告メッセージとして提示し（ステップＳ308)、処理の中断か否かを確認し（ステップＳ３０９）、処理が中断ではない場合は、加工目標値の入力／編集のステップＳ３０４に戻る。ステップＳ３０９において処理中断の場合は、入力編集処理を終了する。

図１０（ａ）および（ｂ）に公差・加工目標値データの入力編集ダイアログの例を示す。図１０（ａ）は公差データを上下許容差で表示する場合であり、図１０（ｂ）は公差データを最大最小許容寸法値で表示する場合である。

図８（ｂ）に本発明における寸法公差付与処理手段１２を加えた構成を示す。図１１に寸法公差付与処理手段の処理の流れを示す。寸法公差付与処理手段１２は、まず、寸法公差の付与対象となる面の形状データの選択処理をユーザーに促す（ステップＳ４０１）。寸法公差の付与対象となる面が選択されると、面の形状タイプにより、付与する寸法タイプを決定する（ステップＳ４０２）。例えば、選択された面が円筒面や円環面といった径を含む幾何データの面でかつ単体で選択された場合は寸法タイプを径寸法タイプと決定し、平面や円形の稜線といった面が複数選択された場合は寸法タイプを距離寸法タイプあるいはユーザーの確認により角度寸法タイプと決定する。続いて、公差・加工目標値編集ダイアログを表示し（ステップＳ４０３）、ユーザーによる公差データの入力編集を受け付ける（ステップＳ４０４）。対応する呼び寸法データを参照し、公差データの上下許容差値から、最大許容寸法値および最小許容寸法値を計算した後（ステップＳ４０５）、加工目標値データの入力編集を受け付ける（ステップＳ４０６）。加工目標値データが最小許容寸法値以上でかつ最大許容寸法値以下であるかを判定し（ステップＳ４０７）、範囲内である場合はユーザーに加工目標値の確認を行った上（ステップＳ４０８）で、公差データおよび加工目標値データを設計製造データ記憶処理部の各々の記憶領域に記憶する（ステップＳ４０９）。続いて、加工目標値データの値に応じて、形状データの幾何値を変換する（ステップＳ４１０）。例えば直径の呼び寸法データが５０.０ の円筒面形状データに対応する加工目標値データが５０.１ に編集された場合は、円筒面形状データの直径の幾何値を５０.１ に変換する。これによって、設計製造支援システムにおいて前記円筒面形状データは、表示装置を通して直径５０.１ の円筒面形状として表示される。続いて、対象形状データに応じた寸法線を付与し（ステップＳ４１１）、呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データを各々の基準位置に従って付与する（ステップＳ４１２）。

製品の形状データに付与した寸法線，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データの表示例を図４（ｅ）に示す。

図１２に本発明における加工目標値データの他の表示例を示す。図１２（ａ）は、加工目標値データは対応する呼び寸法データに対する差分値として、呼び寸法データおよび公差データと併記する表示例である。図１２（ｂ）は、加工目標値データを呼び寸法データや公差データと識別する表示上の区切り文字を、寸法表示規格で未使用な括弧文字を使用して表示した例である。図１２（ｃ）は、公差データの上下許容差値の絶対値が等しい場合の表示例である。区切り文字には、製図規格で用いられる参考寸法としての丸括弧文字を除き、呼び寸法データおよび公差データと加工目標値データを識別できるような記号を用いても良い。また、識別させる方法として、加工目標値データの表示文字の書体あるいは書式を呼び寸法データおよび公差データの表示文字の書体を変えて表示させても良い。図１２（ｄ）は、加工目標値データの表示文字の書体を呼び寸法データおよび公差データと区別できるように変えて表示した例である。図１２（ｅ）は、加工目標値データの表示文字の書式を呼び寸法データおよび公差データと区別できるように変えて表示した例である。図１２（ｃ）は、加工目標値データの表示文字の色を呼び寸法データおよび公差データと区別できるように変えて表示した例である。

図１３（ａ）に、本発明における実施例として、加工目標値データの構成に加工目標値判定処理手段１１の判定結果を許容差内判定結果として加えたデータ構成例を示す。図
１３（ａ）に示す加工目標値データの構成において、加工目標値ＩＤ＝Ｍ４０００１の加工目標値は５０.１ で対応する公差データの上下許容差内の場合、判定結果が適と記憶される。加工目標値ＩＤ＝Ｍ４０００２の加工目標値は１００.６ で対応する公差データの上下許容差外の場合、判定結果が否と記憶される。図１３（ｂ）に、前記加工目標値データの構成を用いて寸法公差表示処理手段７が判定結果をユーザーに対して提示する例を示す。ここでは、許容差内判定結果が否である加工目標値ＩＤ＝Ｍ４０００２の許容差外加工目標値データ１３に対応した寸法線，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データを他のデータと識別できるように色を付けて提示する例である。この他、許容差内判定結果が否である加工目標値データの文字をハイライト表示や枠線による囲み表示や点滅表示をしても良い。また、本発明による設計製造支援システムにおける設計製造データ記憶処理手段２に記憶される形状データ，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データを
ＮＣデータ作成のできる他ＣＡＭシステム等にテキストファイル形式で出力する際、加工目標値データの許容差内判定結果を合せて出力し、ＮＣデータ作成の適否を判断することに利用することも可能である。

上記実施例によれば、図面あるいは３次元モデルの形状データ，呼び寸法データ，公差データ，加工目標値データを製造作業指示や検査要領書等に一元的なデータとして利用できることにより、設計，製造，検査間の加工用形状データの不整合がなくなり、製品生産プロセスにおける製品設計製造データの品質が向上する。

パラメトリックな３次元モデルを扱えるＣＡＤシステムに本発明を利用することで、加工目標値を寸法や寸法公差と対応付けて確認することができ、３次元モデルの審査承認のための寸法チェックに利用することができる。

本発明の一実施例における設計製造支援システムの構成図。 （ａ）製品３次元モデルに付いた呼び寸法および公差の表示を示す説明図、 （ｂ）（ｃ）製品図面投影図に付いた呼び寸法および公差の表示を示す説明図。 （ａ）製品３次元モデルに付いた加工目標値データの表示を示す説明図、 （ｂ）（ｃ）製品図面投影図に付いた加工目標値データの表示を示す説明図。 （ａ）形状データのデータ構造を示す説明図、（ｂ）呼び寸法データのデータ構造を示す説明図、（ｃ）公差データのデータ構造を示す説明図、（ｄ）加工目標値データのデータ構造を示す説明図、（ｅ）各データの表示位置の例を示す説明図。 一実施例による各データの記憶処理の処理フロー図。 一実施例による各データの表示処理の処理フロー図。 一実施例による加工目標値データの表示位置を示す説明図。 （ａ）本発明の第二の実施例における設計製造支援システムの構成図、(ｂ)本発明の第三の実施例における設計製造支援システムの構成図。 第二の実施例による加工目標値データ編集処理の処理フロー図。 本発明の一実施例における公差データおよび加工目標値データの入力編集ダイアログインタフェース図。 第三の実施例による寸法公差付与処理の処理フロー図。 本発明の一実施例における加工目標値データの公差データとの併記例。 （ａ）本発明の一実施例における加工目標値データの構成を示す図、(ｂ)本発明の一実施例における加工目標値データの表示例。

符号の説明

１…設計製造支援システム、２…設計製造データ記憶処理手段、３…形状データ記憶領域、４…呼び寸法データ記憶領域、５…公差データ記憶領域、６…加工目標値データ記憶領域、７…寸法公差表示処理手段、８…キーボード、９…マウス、１０…表示装置、１１…加工目標値判定処理手段、１２…寸法公差付与処理手段、１３…許容差外加工目標値データ。

Claims (9)

1. 図面もしくは３次元モデルの形状データ、形状データに付与した呼び寸法データ、呼び寸法データの上下許容差を規定する公差データ及び加工の目標となる寸法値に関する加工目標値データを対応付けて記憶処理する設計製造データ記憶処理手段と、前記設計製造データ記憶処理手段から読み出した前記呼び寸法データ、前記公差データ及び前記加工目標値データを対応する形状データと併記して表示装置に表示処理する寸法公差表示処理手段とを備えていることを特徴とする設計製造支援システム。
2. 請求項１に記載の設計製造支援システムにおいて、
   前記設計製造データ記憶処理手段から読み出した前記加工目標値データが、前記設計製造データ記憶処理手段から読み出した前記上下許容差の範囲を超えているかどうかを判定する判定手段を備えることを特徴とする設計製造支援システム。
3. 請求項１に記載の設計製造支援システムにおいて、
   前記表示手段は、前記加工目標値データ、前記呼び寸法データ及び対応する公差データのうち少なくともいずれか２つを区別して表示することを特徴とする設計製造支援システム。
4. 図面もしくは３次元モデルの形状データ、形状データに付与した呼び寸法データ、呼び寸法データの上下許容差を規定する公差データ及び加工の目標となる寸法値に関する加工目標値データを、設計製造データ記憶処理手段により対応付けて記憶手段に記憶処理する設計製造データ記憶手順と、前記記憶手段から読み出した前記呼び寸法データ、前記公差データ及び前記加工目標値データを、寸法公差表示処理手段により対応する形状データと併記して表示手段に表示処理する寸法公差表示手順とを、コンピュータにより実行することを特徴とする設計製造支援方法。
5. 請求項４に記載の設計製造支援方法において、
   前記記憶手段から読み出した前記加工目標値データが、前記上下許容差の範囲を超えているかどうかを判定手段により判定する判定手順を有することを特徴とする設計製造支援方法。
6. 請求項４に記載の設計製造支援方法において、
   前記寸法公差表示手順は、前記加工目標値データ、前記呼び寸法データ及び対応する公差データのうち少なくともいずれか２つを区別して表示することを特徴とする設計製造支援方法。
7. コンピュータを図面もしくは３次元モデルの形状データ、形状データに付与した呼び寸法データ、呼び寸法データの上下許容差を規定する公差データ及び加工の目標となる寸法値に関する加工目標値データを対応付けて記憶処理する設計製造データ記憶処理手段、前記設計製造データ記憶処理手段から読み出した前記呼び寸法データ、前記公差データ及び前記加工目標値データを対応する形状データと併記して表示装置に表示処理する寸法公差表示処理手段として機能させることを特徴とする設計製造支援プログラム。
8. 請求項７に記載の設計製造支援プログラムにおいて、
   コンピュータを前記設計製造データ記憶処理手段から読み出した前記加工目標値データが、前記設計製造データ記憶処理手段から読み出した前記上下許容差の範囲を超えているかどうかを判定する判定手段として機能させることを特徴とする設計製造支援プログラム。
9. 請求項７に記載の設計製造支援プログラムにおいて、
   前記寸法公差表示処理手段は、前記加工目標値データ、前記呼び寸法データ及び対応する公差データのうち少なくともいずれか２つを区別して表示することを特徴とする設計製造支援プログラム。

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