JP4457370B2 - 長尺材の寸法測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、端部に曲がりを生じ得る管などの長尺材の寸法を精度良く測定可能な寸法測定装置に関する。
油井管や配管などの管は、端部同士が所謂ピン継手とボックス継手とからなる継手部によって連結された状態で使用される場合が多い。具体的には、管の端部外周面にネジ切り加工やベベル加工が施されることにより、ピン継手が形成される。そして、一対の管のそれぞれに形成された一対のピン継手が、内周面にネジ切り加工やベベル加工が施されたボックス継手に締結されることにより、一対の管同士が連結される。ピン継手の寸法精度が低いと、ピン継手とボックス継手との締結状態が緩み、管同士の連結が解除されて脱落したり、内部に流体が流れる油井管や配管の場合には継手部から流体が漏洩する虞がある。このため、管の端部に形成されるピン継手の寸法精度や品質保証レベルに対する要求は年々厳格化している。
ピン継手の寸法検査においては、専用の測定器具を用いて人手により寸法測定を行い、要求精度を満足しているか否かを検査しているのが現状である。ピン継手の形状が複雑になればなるほど、検査すべき寸法項目が多くなるため、多くの人手と長い検査時間が必要になる。このため、ピン継手の中でも近年の使用環境の過酷化に伴って多用されている複雑な形状を有する特殊継手については、管を大量生産する高能率の生産ライン上で全数の寸法検査を行うことが不可能になっている。
従って、大量生産される管の特殊継手に対しては、生産能率に見合う寸法検査方法として、一定頻度での抜き取り検査が一般的に採用されている。管のピン継手は、CNC旋盤を用いて加工形成されるのが一般的である。このCNC旋盤には加工精度に対する信頼性があるため、管のピン継手には、CNC旋盤が備える工具の摩耗に起因した緩やかな寸法変化しか生じないことを前提として、抜き取り検査が許容されている。もし、抜き取り検査で寸法不良が発見されれば、当該抜き取り検査以前に行った抜き取り検査で要求精度を満足した管のピン継手までを合格品として扱うことにより、全体として品質保証されているという考え方である。
しかしながら、実際には、抜き取り検査で発見できる工具の摩耗に起因した緩やかな寸法変化に限らず、他の要因による寸法変化が生じる虞も考えられる。
従って、管のピン継手、特に複雑な形状を有する特殊継手については、高速に測定でき全数の寸法検査を可能とする自動寸法測定装置の開発が望まれている。従来、ピン継手等のネジ部の寸法を自動測定する装置としては、例えば、日本国特開昭55−113907号公報(特許文献1)、日本国特開昭58−205809号公報(特許文献2)、日本国特開昭61−25001号公報(特許文献3)、日本国特開2001−293619号公報(特許文献4)に記載の装置が提案されている。
ところで、管のピン継手について検査すべき寸法は、主として管の長手方向端面を基準にした所定の長手方向位置における外径等の寸法である。換言すれば、管のピン継手について検査対象となる寸法は、管の端面を構成する点のうち、管の長手方向の最端点を通る平面(基準面)に対して垂直な方向の所定位置における寸法が主体である。このような寸法としては、例えば、シール径やネジ径が例示される。図6(a)に示すように、シール径は、管Pの端面Eを構成する最端点E1を通る基準面ESに対して垂直な方向に予め決められた距離SLだけ離れた位置におけるシール部Sの外径SDである。また、ネジ径は、管Pの基準面ESに対して垂直な方向に予め決められた距離TLだけ離れた位置におけるネジ部Tのネジ山上の外径(各ネジ山の頂部を通る仮想線V上の外径)TDである。
しかしながら、長尺な管については、端部に曲がりが生じているのが一般的である。管に曲がりが生じている場合、管の長手方向中央部について長手方向が水平となるように管を配置したとしても、管の前記基準面の方向は鉛直方向とはならず、曲がりの程度や方向に応じて、鉛直方向に対して傾斜する。従って、管の基準面の方向が鉛直方向であるとの前提で、ピン継手についての寸法を測定すると測定誤差が生じることになる。例えば、図6(b)に示すように、管の基準面の方向が鉛直方向である(すなわち、管の基準面がES’である)との前提でシール径を測定すると、基準面ES’から垂直な方向(水平方向)に距離SLだけ離れた位置における鉛直方向の距離SD’がシール径として測定されることになり、実際のシール径SD(図6(a))に対して測定誤差を生じる。同様に、基準面ES’から垂直な方向(水平方向)に距離TLだけ離れた位置における鉛直方向の距離TD’がネジ径として測定されることになり、実際のネジ径TD(図6(a))に対して測定誤差を生じる。従って、シール径やネジ径のような管の基準面に対して垂直な方向の所定位置における寸法を精度良く測定するには、管の基準面の方向及び位置を精度良く把握することが重要である。
上記の測定誤差を低減するため、前述した専用の測定器具は、管の端面(最端点)に当接させるための接触面を有する部材や、この部材の接触面に対して垂直な方向の所定位置における管の寸法を測定するための接触子等を具備する。そして、人手により、前記部材の接触面を管の端面(最端点)に当接させることによって基準面の方向及び位置を把握した状態で、前記接触子を用いて寸法測定を行っている。
しかしながら、従来の特許文献1〜4に記載のような自動寸法測定装置では、管の基準面の方向を精度良く把握することについて何ら提案されておらず、専ら管の端部に曲がりが生じていないことを前提とした寸法測定を行っている。従って、管の曲がりの程度によっては、大きな測定誤差を生じる虞があり、厳格化するピン継手の寸法精度に十分対応できないという問題がある。
本発明は、斯かる従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、端部に曲がりを生じ得る管などの長尺材の寸法を自動的に精度良く測定可能な寸法測定装置を提供することを課題とする。
長尺材の基準面(長尺材の長手方向端面を構成する点のうち、長尺材の長手方向の最端点を通る平面)の方向及び位置を把握するための手段として、例えば、レーザ距離計等の光学的手段を用いて、端面の形状を測定し、得られた端面形状から最端点を検出して、最端点を通る基準面の方向及び位置を把握することが考えられる。しかしながら、長尺材が肉厚の小さな管である場合には、管の中心軸を通る断面において、端面の径方向の寸法が小さいため、光学的手段で端面の径方向の断面形状を測定する際に、端面の存在するおおよその位置を何らかの手段で予め把握しておく必要が生じる。また、端面の存在するおおよその位置を把握できたとしても、端面の径方向の断面形状が平面ではなく、前述した図6に示すように曲面である場合には、最端点を検出するのに時間を要する。そして、基準面の方向及び位置を把握するには、端面を構成する少なくとも3つの最端点を検出し、これら少なくとも3つの最端点を通る基準面を3次元的に算出する必要があるため、基準面の方向及び位置を把握するのに非常に長い時間を要し、管の生産能率を低下させることになってしまう。
そこで、本発明者らは、長尺材の生産効率を低下させることなく基準面の位置及び方向を把握する手段として、長尺材の長手方向端面に当接する端面倣い機構を採用することに着眼した。そして、本発明者らは鋭意検討した結果、一の平面に沿ってそれぞれ配置され接触状態を検知する3つ以上の複数の接触センサを長尺材の長手方向端面に当接する側に具備すると共に、前記平面の法線方向に直交し且つ互いに直交する2軸周りに少なくとも回動可能な端面倣い機構とすることを考えた。この端面倣い機構を長尺材の長手方向端面に向けて押動して当接させることにより、長尺材の端部に曲がりが生じている場合に、この曲がりの方向が如何なる方向であっても、長手方向端面に倣って端面倣い機構が回動することになる。また、複数の接触センサのうち、少なくとも3つの接触センサによって端面倣い機構が長尺材の長手方向端面(端面の最端点)に当接していることが検知される状態となるように倣い機構を押動すれば、端面倣い機構を端面に確実に当接させることが可能である。そして、長尺材の寸法を測定する寸法測定機構が端面倣い機構と一体的に押動され且つ一体的に回動可能である構成とすれば、長尺材の端部に曲がりが生じている場合であっても、端面倣い機構を押動して長尺材の長手方向端面に向けて押動して当接させることにより、寸法測定機構も端面倣い機構と一体的に押動され、なお且つ、端部の曲がりに応じて端面倣い機構と一体的に回動するため、基準面に対して垂直な方向の所定位置における寸法を精度良く測定可能となることに想到した。
本発明は、上記本発明者らの知見に基づき完成された。すなわち、本発明は、長尺材の長手方向端面に当接する端面倣い機構と、前記端面倣い機構に接続され、長尺材の寸法を測定する寸法測定機構と、前記端面倣い機構を長尺材の長手方向端面に向けて押動する押動機構とを備え、前記端面倣い機構は、一の平面に沿ってそれぞれ配置され接触状態を検知する3つ以上の複数の接触センサを長尺材の長手方向端面に当接する側に具備すると共に、前記平面の法線方向に直交し且つ互いに直交する2軸周りに少なくとも回動可能とされ、前記押動機構は、前記複数の接触センサのうち、少なくとも3つの接触センサによって前記端面倣い機構が長尺材の長手方向端面に当接していることが検知される状態となるように、前記端面倣い機構を押動し、前記寸法測定機構は、前記端面倣い機構と一体的に押動され且つ一体的に回動可能であると共に、前記複数の接触センサのうち、少なくとも3つの接触センサによって前記端面倣い機構が長尺材の長手方向端面に当接していることが検知されている場合に、長尺材の寸法を測定することを特徴とする長尺材の寸法測定装置を提供する。
斯かる発明によれば、押動機構によって、端面倣い機構を長尺材の長手方向端面に向けて押動し、端面倣い機構が具備する少なくとも3つの接触センサを端面に当接させることにより、端部に曲がりが生じている場合であっても長尺材の基準面(長尺材の長手方向端面を構成する点のうち、長尺材の長手方向の最端点を通る平面)の方向及び位置を確実に把握することが可能である。そして、長尺材の基準面の方向及び位置に応じて端面倣い機構と一体的に押動され且つ一体的に回動する寸法測定機構によって、長尺材の基準面に対して垂直な方向の所定位置における寸法を自動的に精度良く測定可能である。
前記接触センサとしては、例えば、接触時に加わる圧力に応じて接触状態を検知する圧力検知式の接触センサを適用することも可能である。しかしながら、圧力検知式の接触センサを用いて接触状態を検知するには、比較的大きな押動力で押動する必要があるため、長尺材の材質等によっては端面の変形をもたらし、寸法測定精度の低下に通じる虞がある。また、圧力検知式の接触センサには、接触状態の検知にある程度の変動範囲が存在するため、接触センサが長尺材の長手方向端面に当接していることを検知する際に上記変動範囲に応じた誤差が生じ、寸法測定精度の低下に通じる虞がある。
長尺材が導電性材料から構成される場合、上記のような長尺材の変形や接触状態の検知誤差が生じる虞を抑制するには、前記接触センサは、一対の電極を具備し、該一対の電極間の通電の有無によって接触状態を検知する構成とすることが好ましい。
斯かる好ましい構成によれば、接触センサが具備する一対の電極に長尺材の端面が当接すれば、一方の電極から長尺材の端面を介して他方の電極へと通電が生じ、当接しなければ、一対の電極間に通電が生じない。このため、比較的小さな押動力で押動すればよく、接触状態の検知の変動範囲も小さいため、一対の電極間の通電の有無によって、接触状態を精度良く検知可能である。従って、長尺材の寸法測定精度をより一層高めることが可能である。
好ましくは、前記押動機構は、前記端面倣い機構を押動する押動力を調整可能とされる。
斯かる好ましい構成によれば、端面倣い機構を押動する押動力を調整可能であるため、長尺材の材質等に応じて適切な押動力とすることができ、長尺材の端面に過度に大きな押動力が加わって変形する虞をより一層低減可能である。従って、長尺材の寸法測定精度をより一層高めることが可能である。
また、好ましくは、前記端面倣い機構、前記寸法測定機構及び前記押動機構のうち、少なくとも一つの機構は、振動状態を検知する振動センサを備え、前記寸法測定機構は、前記振動センサによって検知された振動が所定の大きさ以下である場合に、長尺材の寸法を測定する構成とされる。
斯かる好ましい構成によれば、振動センサによって検知された振動が所定の大きさ以下である場合に、長尺材の寸法を測定するため、振動に起因した測定誤差が低減し、長尺材の寸法測定精度をより一層高めることが可能である。
以上に説明したように、本発明によれば、端部に曲がりを生じ得る管などの長尺材の寸法を自動的に精度良く測定可能である。
図1は、本発明の一実施形態に係る長尺材の寸法測定装置の概略構成を示す側面図である。 図2は、図1に示す寸法測定装置が備える端面倣い機構、寸法測定機構及び押動機構の一部を詳細に示す図である。 図3は、図1に示す寸法測定装置による寸法測定動作について説明する説明図である。 図4は、図1に示す寸法測定装置による寸法算出方法について説明する説明図である。 図5は、図2に示す端面倣い機構及び寸法測定機構が回動している状態を示す図である。 図6は、シール径及びネジ径を説明する説明図である。
以下、添付図面を適宜参照しつつ、本発明に係る長尺材の寸法測定装置の一実施形態について、長尺材が導電性材料からなる管であり、管の端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定する場合を例に挙げて説明する。
<A.全体構成>
図1は、本発明の一実施形態に係る寸法測定装置の概略構成を示す側面図である。図2は、図1に示す寸法測定装置が備える端面倣い機構、寸法測定機構及び押動機構の一部を詳細に示す図であり、図2(a)は部分的に断面で表した側面図を、図2(b)は正面図(図1に示すZ軸方向から見た図)を示す。
図1に示すように、本実施形態に係る寸法測定装置100は、チャック部材Cで拘束された管Pの長手方向端面Eに当接する端面倣い機構1と、端面倣い機構1に接続され、管Pの寸法(本実施形態では、シール径及びネジ径)を測定する寸法測定機構2と、端面倣い機構1を管Pの長手方向端面Eに向けて押動する押動機構3とを備えている。また、寸法測定装置100は、端面倣い機構1、寸法測定機構2及び押動機構3をそれぞれ駆動制御するための制御装置4を備えている。さらに、寸法測定装置100は、好ましい構成として、加速度計等の振動センサ5を備えている。なお、図1及び図2(a)において、寸法測定機構2には斜線のハッチングを施し、押動機構3には灰色のハッチングを施している。また、実際には、制御装置4と、各機構1〜3及び振動センサ5との間に電気配線等が接続されているが、便宜上、ここでは電気配線等の図示を省略している。
<B.端面倣い機構>
図1又は図2に示すように、端面倣い機構1は、一の平面114Sに沿ってそれぞれ配置され(管Pの端面Eとの接触面が平面114S上に存在するように配置され)接触状態を検知する3つ以上の複数(本実施形態では4つ)の接触センサ114a、114b、114c、114dを管Pの長手方向端面Eに当接する側に具備すると共に、平面114Sの法線方向(Z軸方向)に直交し且つ互いに直交する2軸(X軸及びY軸)周りに回動可能とされている。以下、本実施形態に係る端面倣い機構1のより具体的な構成について説明する。
本実施形態に係る端面倣い機構1は、端面倣い部11と、筒状部12と、第1平板部14と、第2平板部15と、第3平板部16と、第1リニアステージ17と、第2リニアステージ18とを具備する。
<B−1.端面倣い部>
端面倣い部11は、平板部材111と、平板部材111のX軸方向両端部からZ軸方向に突設された一対の突設部材112と、一対の突設部材112をそれぞれ筒状部12に連結する一対の軸部材113とを具備する。端面倣い部11は、一対の軸部材113により、筒状部12に対してX軸周りに回動可能に連結されている。具体的には、一対の突設部材112が、一対の軸部材113を介して、筒状部12に対してそれぞれX軸周りに回動可能に連結されている。また、端面倣い部11は、平板部材111の管Pの端面Eに当接する側の面上に放射状に配置された4つの接触センサ114a、114b、114c、114dを具備する。さらに、端面倣い部11は、平板部材111の接触センサ114a〜114dが配置された側とは反対側の面に接続され、Z軸方向に延びる複数の棒状部材115を具備する。
上記の構成を有する端面倣い部11の接触センサ114a〜114dを管Pの端面Eに向けて押動し、接触センサ114a〜114dの何れかに管Pの端面Eが当接すると、管Pの基準面(管Pの端面Eを構成する点のうち、管Pの長手方向の最端点を通る平面)の方向に応じて、端面倣い部11はX軸周りに回動することになる。すなわち、管Pの端面Eから接触センサ114a〜114dの何れかに対してX軸周りに回動させる反力が付加された場合、接触センサ114a〜114dと、接触センサ114〜114dが取り付けらた平板部材111と、平板部材111に取り付けられた突設部材112及び棒状部材115と、突設部材112に取り付けられた軸部材113との全てに上記の反力が作用し、これらが一体的にX軸周りに回動することになる。
なお、本実施形態では、好ましい構成として、接触センサ114a〜114dが、それぞれ一対の電極(図2(b)において「+」で示す正電極及び「−」で示す負電極)を具備し、この一対の電極間の通電の有無によって接触状態を検知する形式とされている。具体的には、制御装置4から一対の電極に電圧が供給され、一対の電極に管Pの端面Eが当接すれば、正電極から管Pの端面Eを介して負電極へと通電が生じ、当接しなければ、一対の電極間に通電が生じないことを利用して、接触状態を検知する形式である。接触センサ114a〜114dは、寸法測定装置100による寸法測定を繰り返すことにより管Pの端面Eに繰り返し接触すると共に、そのうち少なくとも1つが管Pの端面Eに初めて当接した状態から、少なくとも3つが管Pの端面Eに当接する状態(後述するように、管Pの寸法を測定する状態)となるまで、管Pの端面Eに沿って摺動することになる。このため、管Pの端面Eの荒れや変形を防止すると共に、管Pの材料の凝着による寸法測定精度の低下を防止する観点より、上記の電極としては、導電性、耐摩耗性を有する他、表面粗さが小さく、耐凝着性に優れた材料から形成することが望ましい。このような電極としては、例えば、高硬度の金属材料の表面(管Pの端面Eに接触する側の表面)に、導電性、耐摩耗性、耐凝着性に優れ、表面粗さを小さくすることができるTiN等の金属化合物のコーティングを施した電極を例示することができる。
<B−2.筒状部>
筒状部12(図2(a)では断面で図示)は、端面倣い部11及び後述する押動機構3の支持部31の一部を囲繞するように、端面倣い部11及び支持部31の外方に配置されている。筒状部12は、前述のように、一対の軸部材113によって、端面倣い部11をX軸周りに回動可能に連結している。また、筒状部12は、一対の軸部材313によって、支持部31に対してY軸周りに回動可能に連結されている。
上記の構成を有する筒状部12により、端面倣い部11はY軸周りに回動可能となる。すなわち、端面倣い部11の接触センサ114a〜114dを管Pの端面Eに向けて押動し、接触センサ114a〜114dの何れかに管Pの端面Eが当接すると、管Pの基準面の方向に応じて、端面倣い部11はY軸周りに回動することになる。具体的には、管Pの端面Eから接触センサ114a〜114dの何れかに対してY軸周りに回動させる反力が付加された場合、この反力が平板部材111、突設部材112、軸部材113にも作用し、軸部材113を通じて筒状部12にも作用する。これにより、筒状部12は、支持部31に対してY軸周りに回動する。筒状部12がY軸周りに回動すると、軸部材113によって筒状部12に連結された端面倣い部11も、筒状部12と一体的にY軸周りに回動することになる。また、支持部31が水平方向(図1に示す状態ではZ軸方向)に押動されることにより、支持部31に連結された筒状部12が水平方向に押動され、筒状部12に連結された端面倣い部11も水平方向に押動されることになる。
<B−3.端面倣い機構のその他の構成>
第1平板部14は、棒状部材115に固定接続されている。具体的には、第1平板部14には、棒状部材115が貫通する部位に貫通孔が設けられている。この貫通孔の寸法は、棒状部材115の断面寸法と略同等とされており、棒状部材115がこの貫通孔に密接嵌合している。このように、第1平板部14は、棒状部材115に固定接続されているため、端面倣い部11がX軸周り及びY軸周りに回動する際に、第1平板部14も端面倣い部11と一体的に回動する。また、端面倣い部11が水平方向に押動されることにより、第1平板部14も端面倣い部11と一体的に押動される。なお、第1平板部14には、後述する押動機構3の軸部32が貫通する部位にも貫通孔が設けられている。上記のように、端面倣い部11がX軸周り及びY軸周りに回動する際に、第1平板部14も端面倣い部11と一体的に回動する。このため、前記貫通孔(軸部32が貫通する部位に設けられた貫通孔)は、第1平板部14の回動が干渉されないように、第1平板部14の回動範囲に応じた寸法とされている。
第2平板部15は、第1リニアステージ17によって、第1平板部14に対してα軸方向に移動可能に連結されている。α軸は、平面114Sの法線方向(Z軸方向)に直交する軸である。第1リニアステージ17は、制御装置4からの制御信号によって駆動される。前述のように、第1平板部14は、端面倣い部11と一体的にX軸周り及びY軸周りに回動するため、第1平板部14に連結された第2平板部15も、端面倣い部11と一体的に回動する。また、端面倣い部11が水平方向に押動されることにより、第2平板部15も端面倣い部11と一体的に押動される。なお、第2平板部15には、端面倣い部11の棒状部材115が貫通する部位に貫通孔が設けられている。前述のように、第2平板部15は、第1リニアステージ17によって、第1平板部14に対してα軸方向に移動可能とされている。このため、前記貫通孔は、第2平板部15のα軸方向への移動が干渉されないように、第2平板部15の移動範囲に応じた寸法とされている。また、第2平板部15には、後述する押動機構3の軸部32が貫通する部位にも貫通孔が設けられている。前述のように、端面倣い部11がX軸周り及びY軸周りに回動する際に、第2平板部15も端面倣い部11と一体的に回動する。また、前述のように、第2平板部15は、第1リニアステージ17によって、第1平板部14に対してα軸方向に移動可能とされている。このため、前記貫通孔(軸部32が貫通する部位に設けられた貫通孔)は、第2平板部15の回動及びα軸方向への移動が干渉されないように、第2平板部15の回動範囲及び移動範囲に応じた寸法とされている。
第3平板部16は、第2リニアステージ18によって、第2平板部15に対してβ軸方向(平面114Sの法線方向及びα軸方向に直交する方向)に移動可能に連結されている。第2リニアステージ18は、制御装置4からの制御信号によって駆動される。前述のように、第2平板部15は、第1平板部14に対してα軸方向に移動可能であるため、第3平板部16は、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向にそれぞれ移動可能である。前述のように、第2平板部15は、端面倣い部11と一体的にX軸周り及びY軸周りに回動するため、第2平板部15に連結された第3平板部16も、端面倣い部11と一体的に回動する。また、端面倣い部11が水平方向に押動されることにより、第3平板部16も端面倣い部11と一体的に押動される。なお、第3平板部16には、端面倣い部11の棒状部材115が貫通する部位に貫通孔が設けられている。前述のように、第3平板部16は、第1リニアステージ17及び第2リニアステージ18によって、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向に移動可能とされている。このため、前記貫通孔は、第3平板部16のα軸方向及びβ軸方向への移動が干渉されないように、第3平板部16の移動範囲に応じた寸法とされている。また、第3平板部16には、後述する押動機構3の軸部32が貫通する部位にも貫通孔が設けられている。前述のように、端面倣い部11がX軸周り及びY軸周りに回動する際に、第3平板部16も端面倣い部11と一体的に回動する。また、前述のように、第3平板部16は、第1リニアステージ17及び第2リニアステージ18によって、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向に移動可能とされている。このため、前記貫通孔(軸部32が貫通する部位に設けられた貫通孔)は、第3平板部16の回動及びα軸方向及びβ軸方向への移動が干渉されないように、第3平板部16の回動範囲及び移動範囲に応じた寸法とされている。
以上に説明した構成を有する端面倣い機構1を管Pの端面Eに向けて押動して当接させることにより、管Pの端部に曲がりが生じている場合に、この曲がりの方向が如何なる方向であっても、端面Eに倣って端面倣い機構1が回動することになる。
<C.寸法測定機構>
図1又は図2に示すように、寸法測定機構2は、端面倣い機構1と一体的に押動され且つ一体的に回動可能であると共に、4つの接触センサ114a〜114dのうち、少なくとも3つの接触センサによって端面倣い機構1が管Pの長手方向端面Eに当接していることが検知されている場合に、管Pの寸法(シール径及びネジ径)を測定するように構成されている。具体的には、4つの接触センサ114a〜114dによる接触状態の検知結果がそれぞれ制御装置4に送信され、制御装置4は、少なくとも3つの接触センサによって端面倣い機構1が管Pの端面Eに当接していることが検知されている場合にのみ、寸法測定機構2を駆動制御するように構成されている。また、好ましい構成として、寸法測定機構2は、振動センサ5によって検知された振動が所定の大きさ以下である場合に、管Pの寸法を測定するように構成されている。具体的には、振動センサ5による振動の検知結果が制御装置4に送信され、制御装置4は、検知された振動が所定の大きさ以下である場合にのみ、寸法測定機構2を駆動制御するように構成されている。以下、本実施形態に係る寸法測定機構2のより具体的な構成について説明する。
本実施形態に係る寸法測定機構2は、基部21と、シール径測定用接触子22a、22b、22c、22dと、ネジ径測定用接触子23a、23b、23c、23dとを具備する。
<C−1.基部>
基部21は、端面倣い機構1の第3平板部16に固定接続されている。前述のように、第3平板部16は、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向にそれぞれ移動可能であるため、第3平板部16に固定接続された基部21も、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向にそれぞれ移動可能である。また、前述のように、第3平板部16は、端面倣い部11と一体的にX軸周り及びY軸周りに回動するため、基部21も端面倣い部11と一体的に回動する。さらに、前述のように、第3平板部16は、端面倣い部11と一体的に押動されるため、基部21も端面倣い部11と一体的に押動される。
<C−2.シール径測定用接触子及びネジ径測定用接触子>
シール径測定用接触子22a〜22dは、その先端部が、接触センサ114a〜114dの接触面114Sに対して垂直な方向に予め決められた距離SL(図6参照)だけ離れた位置となるように基部21に取り付けられている。シール径測定用接触子22a、22cは、制御装置4からの制御信号によって駆動されるエアシリンダやリニアステージ等の一軸駆動機構に取り付けられ、基部21に対してα軸方向に進退動可能に構成されている。同様に、シール径測定用接触子22b、22dは、制御装置4からの制御信号によって駆動されるエアシリンダやリニアステージ等の一軸駆動機構に取り付けられ、基部21に対してβ軸方向に進退動可能に構成されている。シール径測定用接触子22a、22cのα軸方向の変位量及びシール径測定用接触子22b、22dのβ軸方向の変位量は、それぞれ一軸駆動機構に取り付けられたマグネスケール等の変位量測定器によって測定可能とされている。
ネジ径測定用接触子23a〜23dは、その先端部が、接触センサ114a〜114dの接触面114Sに対して垂直な方向に予め決められた距離TL(図6参照)だけ離れた位置となるように基部21に取り付けられている。ネジ径測定用接触子23a、23cは、制御装置4からの制御信号によって駆動されるエアシリンダやリニアステージ等の一軸駆動機構に取り付けられ、基部21に対してα軸方向に進退動可能に構成されている。同様に、ネジ径測定用接触子23b、23dは、制御装置4からの制御信号によって駆動されるエアシリンダやリニアステージ等の一軸駆動機構に取り付けられ、基部21に対してβ軸方向に進退動可能に構成されている。ネジ径測定用接触子23a、23cのα軸方向の変位量及びネジ径測定用接触子23b、23dのβ軸方向の変位量は、それぞれ一軸駆動機構に取り付けられたマグネスケール等の変位量測定器によって測定可能とされている。
前述のように、基部21は、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向にそれぞれ移動可能であるため、基部21に取り付けられたシール径測定用接触子22a〜22d及びネジ径測定用接触子23a〜23dも、基部21の移動に伴って、第1平板部14に対してα軸方向及びβ軸方向にそれぞれ移動可能である。さらには、前述のように、シール径測定用接触子22a、22c及びネジ径測定用接触子23a、23cは基部21に対してα軸方向に移動可能である。シール径測定用接触子22b、22d及びネジ径測定用接触子23b、23dは基部21に対してβ軸方向に移動可能である。また、前述のように、基部21は、端面倣い部11と一体的にX軸周り及びY軸周りに回動するため、シール径測定用接触子22a〜22d及びネジ径測定用接触子23a〜23dも、端面倣い部11と一体的に回動する。さらに、前述のように、基部21は、端面倣い部11と一体的に押動されるため、シール径測定用接触子22a〜22d及びネジ径測定用接触子23a〜23dも端面倣い部11と一体的に押動される。
<C−3.寸法測定動作>
以下、図3を適宜参照しつつ、上記の構成を有する寸法測定機構2による寸法測定動作について説明する。なお、シール径測定用接触子22a〜22dによるシール径測定動作と、ネジ径測定用接触子23a〜23dによるネジ径測定動作とは、同様の動作であるため、ここでは、ネジ径測定用接触子23a〜23dによるネジ径測定動作についてのみ説明する。
まず最初に、後述する押動機構3によって端面倣い機構1を管Pの端面Eに向けて押動して当接させた直後の初期状態(図3(a))から、第3平板部16をα軸方向に適宜の移動量だけ移動させる(図3(b))。具体的には、制御装置4からの制御信号によって第1リニアステージ17を駆動制御することにより、第2平板部15をα軸方向に適宜の移動量だけ移動させる。これにより、第2平板部15に連結された第3平板部16も、第2平板部15と一体的にα軸方向に移動することになる。また、基部21を介して第3平板部16に連結されたネジ径測定用接触子23a〜23dも、第3平板部16と一体的にα軸方向に移動することになる。
次に、制御装置4からの制御信号によってネジ径測定用接触子23b、23dが取り付けられた一軸駆動機構を駆動制御することにより、ネジ径測定用接触子23b、23dをβ軸方向に移動させ、その先端部を管Pのネジ部に当接させる(図3(c))。この際、初期状態(図3(a))から管Pのネジ部に当接した状態(図3(c))になるまでのネジ径測定用接触子23b、23dのβ軸方向の変位量が、一軸駆動機構に取り付けられた変位量測定器によって測定される。
次に、第3平板部16をα軸方向(ただし、図3(b)に示す方向とは逆向き)に適宜の移動量だけ移動させながら、先端部が管Pのネジ部に当接した状態となるように、ネジ径測定用接触子23b、23dをβ軸方向に移動させる(図3(d))。この際にも、前述したのと同様に、ネジ径測定用接触子23b、23dのβ軸方向の変位量が、一軸駆動機構に取り付けられた変位量測定器によって測定される。
上記のようにして第3平板部16がα軸方向に移動する過程で逐次測定されたネジ径測定用接触子23b、23dのβ軸方向の変位量は、制御装置4に送信される。図4に示すように、制御装置4は、ネジ径測定用接触子23b、23dのβ軸方向の変位量の分布(α軸方向の分布)のピーク値DP、DPや、予め記憶された初期状態(図3(a))におけるネジ径測定用接触子23bと23dとのβ軸方向の離間距離に基づき、β軸方向のネジ径SDを算出する。より具体的には、初期状態におけるネジ径測定用接触子23bと23dとのβ軸方向の離間距離をDとすると、β軸方向のネジ径SDは、例えば、以下の式(1)によって算出される。
SD=D−(DP+DP) ・・(1)
以上に説明した一連の動作と同様の動作がネジ径測定用接触子23a、23cについても実行され、これにより、α軸方向のネジ径が算出される。
以上に説明した構成を有する寸法測定機構2は、図5に示すように、管Pの基準面の方向及び位置に応じて端面倣い機構1と一体的に押動され且つ一体的に回動するため、管Pの基準面に対して垂直な方向の所定位置における寸法を自動的に精度良く測定可能である。なお、図5では、管Pの端部が鉛直方向に曲がっているため、端面倣い機構1及び寸法測定機構2が、管Pの端面に倣って、X軸周り(軸部材113周り)に回動している状態を示している。管Pの端部が水平方向に曲がっている場合には、端面倣い機構1及び寸法測定機構2は、管Pの端面に倣って、Y軸周り(軸部材313周り)に回動することになる。また、管Pの端部が鉛直方向及び水平方向の双方に曲がっている場合には、端面倣い機構1及び寸法測定機構2は、管Pの端面に倣って、X軸周り(軸部材113周り)及びY軸周り(軸部材313周り)の双方に回動することになる。
<D.押動機構>
図1又は図2に示すように、押動機構3は、4つの接触センサ114a〜114dのうち、少なくとも3つの接触センサによって端面倣い機構1が管Pの長手方向端面Eに当接していることが検知される状態となるように、端面倣い機構1を水平方向(図1に示す状態ではZ軸方向)に押動する。具体的には、4つの接触センサ114a〜114dによる接触状態の検知結果がそれぞれ制御装置4に送信され、制御装置4は、少なくとも3つの接触センサによって端面倣い機構1が管Pの端面Eに当接していることが検知される状態となるように、押動機構3を駆動制御して、端面倣い機構1を水平方向に押動させる。以下、本実施形態に係る押動機構3のより具体的な構成について説明する。
本実施形態に係る押動機構3は、支持部31と、軸部32と、台車部33と、駆動部34とを具備する。
<D−1.支持部及び軸部>
支持部31は、平板部材311と、平板部材311のY軸方向両端部からZ軸方向に突設された一対の突設部材312と、一対の突設部材312をそれぞれ筒状部12に連結する一対の軸部材313とを具備する。支持部31は、前述のように、一対の軸部材313によって、筒状部12をY軸周りに回動可能に連結している。具体的には、一対の突設部材312が、一対の軸部材313を介して、筒状部12をY軸周りに回動可能に連結している。
支持部31は、軸部32に固定接続されており、支持部31及び軸部32は、端面倣い機構1及び寸法測定機構2がX軸周り及びY軸周りに回動したとしても、回動しない構成となっている(図5参照)。支持部31が軸部32によって水平方向に押動されることにより、支持部31に連結された筒状部12が水平方向に押動され、筒状部12に連結された端面倣い部11も水平方向に押動されることになる。なお、平板部材311には、端面倣い部11の棒状部材115が貫通する部位に貫通孔が設けられている。前述のように、接触センサ114a〜114dが管Pの基準面の方向に応じてX軸周り及びY軸周りに回動する際に、棒状部材115も接触センサ114a〜114dと一体的に回動する。このため、前記貫通孔は、棒状部材115の回動が干渉されないように、棒状部材115の回動範囲に応じた寸法とされている。
<D−2.押動機構のその他の構成>
軸部32は、台車部33に固定接続されるか、或いは、必要に応じてエアシリンダやリニアステージ等の一軸駆動機構を介して台車部33に連結されている。上記の一軸駆動機構は、台車部33に対して、軸部32及び支持部31を鉛直方向に昇降させる必要がある場合に設けられる。
台車部33には、台車部33を水平方向に押動するためのエアシリンダ等から構成された駆動部34が取り付けられている。制御装置4からの制御信号によって駆動部34を駆動制御することにより、台車部33が水平方向に押動され、台車部33に接続された軸部32や、軸部32に接続された支持部31も水平方向に押動されることになる。
なお、本実施形態に係る押動機構3は、好ましい構成として、端面倣い機構1を押動する押動力を調整可能とされている。具体的には、駆動部34を構成するエアシリンダの圧力が適宜のセンサによって測定され、この圧力測定値が制御装置4に送信される。制御装置4は、圧力測定値から算出される押動力が予め定めた値となるように、駆動部34を駆動制御する。
以上に説明した構成を有する押動機構3による端面倣い機構1の押動は、寸法測定機構2によって管Pの寸法を測定する前の段階(端面倣い機構1が管Pの端面に当接していない状態から当接する状態に遷移させる段階)に限るものではなく、寸法測定中にも継続される。このため、端面倣い機構1が管Pの端面に当接している状態を安定的に維持しながら、管Pの寸法測定が可能である。
なお、本実施形態では、押動機構3の台車部33に振動センサ5が取り付けられているが、これに限るものではなく、押動機構3の他の部位や、或いは、端面倣い機構1や寸法測定機構2に取り付ける構成を採用することも可能である。
以下、実施例及び比較例を示すことにより、本発明の特徴をより一層明らかにする。
<実施例1>
図1及び図2に概略構成を示す寸法測定装置100を用いて、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定した。測定対象とした管Pは、外径73.0mm、肉厚5.51mm、長さ9500mmであり、管Pの端面から約500mmの位置をチャック部材Cで拘束し、管Pの当該拘束した部位の軸方向が端面倣い部11の押動方向とほぼ平行となるようにした。管Pの端部の曲がり量(=管Pの断面中心のズレ量/ズレ量測定部位の長さ)は、β軸方向に最大で1.2mm/1000mmであった。シール径の測定位置(距離SL、図6参照)は、基準面から1.9mm、ネジ径の測定位置(距離TL、図6参照)は、基準面から19.0mmとした。また、上記と同じ管Pについて、専用の測定器具を用いて人手によりシール径及びネジ径を測定した。そして、寸法測定装置100を用いて測定したシール径及びネジ径と、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。
<比較例1>
以下の条件が異なる点を除き、実施例1と同様の条件で、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定し、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。すなわち、実施例1と同じ寸法測定装置100において、端面倣い部11の平面114Sの法線方向が端面倣い部11の押動方向とほぼ平行となるようにした状態(図1に示す状態)で、端面倣い機構1が回動しないように固定した。この端面倣い機構1が回動しない寸法測定装置100を用いて、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定した。そして、端面倣い機構1が回動しない寸法測定装置100を用いて測定したシール径及びネジ径と、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。
<実施例2>
測定対象とした管Pの端部の曲がり量が、α軸方向に最大で2.1mm/1000mmである点を除き、実施例1と同様の条件で、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定し、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。
<比較例2>
測定対象とした管Pの端部の曲がり量が、α軸方向に最大で2.1mm/1000mmである点を除き、比較例1と同様の条件で、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定し、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。
<実施例3>
測定対象とした管Pの端部の曲がり量が、β軸方向に最大で2.8mm/1000mmである点を除き、実施例1と同様の条件で、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定し、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。
<比較例3>
測定対象とした管Pの端部の曲がり量が、β軸方向に最大で2.8mm/1000mmである点を除き、比較例1と同様の条件で、管Pの端部に形成されたピン継手のシール径及びネジ径を測定し、専用の測定器具を用いて人手により測定したシール径及びネジ径との差を評価結果とした。
<評価結果>
以上に説明した実施例1〜3及び比較例1〜3の評価結果を表1に示す。なお、表1に示す数値の単位はμmである。
表1に示すように、比較例1〜3では、α軸方向のシール径、β軸方向のシール径、α軸方向のネジ径及びβ軸方向のネジ径の評価結果のうち、少なくともいずれか一つの評価結果(表1でハッチングを施した評価結果)については大きくなることが分かる。すなわち、寸法測定装置を用いた測定値と、専用の測定器具を用いた人手による測定値との差が大きくなることが分かる。これに対し、実施例1〜3では、α軸方向のシール径、β軸方向のシール径、α軸方向のネジ径及びβ軸方向のネジ径の全ての評価結果について小さくなることが分かる。すなわち、寸法測定装置を用いた測定値と、専用の測定器具を用いた人手による測定値との差が小さくなることが分かる。つまり、本発明に係る寸法測定装置によれば、端部に曲がりを生じている管であっても、専用の測定器具を用いた人手による測定と同程度に精度良くシール径及びネジ径を測定できるといえる。

Claims (4)

  1. 長尺材の長手方向端面に当接する端面倣い機構と、
    前記端面倣い機構に接続され、長尺材の寸法を測定する寸法測定機構と、
    前記端面倣い機構を長尺材の長手方向端面に向けて押動する押動機構とを備え、
    前記端面倣い機構は、一の平面に沿ってそれぞれ配置され接触状態を検知する3つ以上の複数の接触センサを長尺材の長手方向端面に当接する側に具備すると共に、前記平面の法線方向に直交し且つ互いに直交する2軸周りに少なくとも回動可能とされ、
    前記押動機構は、前記複数の接触センサのうち、少なくとも3つの接触センサによって前記端面倣い機構が長尺材の長手方向端面に当接していることが検知される状態となるように、前記端面倣い機構を押動し、
    前記寸法測定機構は、前記端面倣い機構と一体的に押動され且つ一体的に回動可能であると共に、前記複数の接触センサのうち、少なくとも3つの接触センサによって前記端面倣い機構が長尺材の長手方向端面に当接していることが検知されている場合に、長尺材の寸法を測定することを特徴とする長尺材の寸法測定装置。
  2. 前記接触センサは、一対の電極を具備し、該一対の電極間の通電の有無によって接触状態を検知することを特徴とする請求項1に記載の長尺材の寸法測定装置。
  3. 前記押動機構は、前記端面倣い機構を押動する押動力を調整可能であることを特徴とする請求項1又は2に記載の長尺材の寸法測定装置。
  4. 前記端面倣い機構、前記寸法測定機構及び前記押動機構のうち、少なくとも一つの機構は、振動状態を検知する振動センサを備え、
    前記寸法測定機構は、前記振動センサによって検知された振動が所定の大きさ以下である場合に、長尺材の寸法を測定することを特徴とする請求項1から3の何れかに記載の長尺材の寸法測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013100004A1 (ja) 2011-12-27 2013-07-04 新日鐵住金株式会社 ねじ付き管の端部形状測定方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4457370B2 (ja) * 2008-07-30 2010-04-28 住友金属工業株式会社 長尺材の寸法測定装置
JP5281386B2 (ja) * 2008-12-22 2013-09-04 株式会社日立製作所 高分子薄膜及びパターン媒体並びにこれらの製造方法
CN106501281A (zh) * 2016-10-21 2017-03-15 广东技术师范学院 一种全自动精密短钢管质量检测***
US11162771B2 (en) 2018-01-22 2021-11-02 Reginald Galestien Method and apparatus for measuring diameters of cylindrical measuring pins
CN109724496A (zh) * 2019-01-15 2019-05-07 联动天翼新能源有限公司 一种圆柱电芯直径检测工装
CN114923449B (zh) * 2022-05-13 2023-08-22 南京工程学院 一种用于球墨铸管壁厚检测的双轮自适应行走机构

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6125001A (ja) * 1984-07-13 1986-02-03 Nippon Kokan Kk <Nkk> ネジの検査装置
JPS62191709A (ja) * 1986-02-19 1987-08-22 Sanseki Eng Kk 管外径測定装置
JPH0238901A (ja) * 1988-07-29 1990-02-08 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 伸縮管継手の角度変位計測装置
JPH08178605A (ja) * 1992-01-06 1996-07-12 Soc Ind Liaisons Electr (Silec) 物体の寸法を検査するための検査装置
JP2001293619A (ja) * 2000-04-17 2001-10-23 Tokyo Seimitsu Co Ltd ねじ寸法測定装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55113907A (en) 1979-02-26 1980-09-02 Nippon Steel Corp Method of measuring shape of screw
GB2052065B (en) * 1979-06-25 1983-08-24 Hydril Co Thread gauging apparatus and method
DE3217995A1 (de) 1982-05-13 1983-11-17 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Verfahren und vorrichtung zum vermessen von gewinden
US4672750A (en) * 1984-02-17 1987-06-16 Amf, Inc. Thread measurement tool
GB9120029D0 (en) * 1991-09-19 1991-11-06 System E Controls Ltd Measuring apparatus and method
US6954991B2 (en) * 2002-09-12 2005-10-18 Showa Denko K.K. Method and apparatus for measuring shape of tubular body
ITMI20031860A1 (it) * 2003-09-29 2005-03-30 Tenaris Connections Ag Apparecchiatura per la misura automatica del profilo esterno ed interno di tubi in corrispondenza delle loro estremita'.
WO2007015484A1 (ja) * 2005-08-02 2007-02-08 Sumitomo Metal Industries, Ltd. 管のきず検出装置及び方法
AR071076A1 (es) * 2008-03-27 2010-05-26 Sumitomo Metal Ind Aparato, disposicion y metodo para medir caracteristicas de una rosca en un extremo de cano o tuberia
JP4457370B2 (ja) * 2008-07-30 2010-04-28 住友金属工業株式会社 長尺材の寸法測定装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6125001A (ja) * 1984-07-13 1986-02-03 Nippon Kokan Kk <Nkk> ネジの検査装置
JPS62191709A (ja) * 1986-02-19 1987-08-22 Sanseki Eng Kk 管外径測定装置
JPH0238901A (ja) * 1988-07-29 1990-02-08 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 伸縮管継手の角度変位計測装置
JPH08178605A (ja) * 1992-01-06 1996-07-12 Soc Ind Liaisons Electr (Silec) 物体の寸法を検査するための検査装置
JP2001293619A (ja) * 2000-04-17 2001-10-23 Tokyo Seimitsu Co Ltd ねじ寸法測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013100004A1 (ja) 2011-12-27 2013-07-04 新日鐵住金株式会社 ねじ付き管の端部形状測定方法
US9557165B2 (en) 2011-12-27 2017-01-31 Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation Method for measuring end portion shape of threaded pipe or tube

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