JP4448139B2 - Method and apparatus for detection of physically uncloned functions based on speckle - Google Patents

Method and apparatus for detection of physically uncloned functions based on speckle Download PDF

Info

Publication number
JP4448139B2
JP4448139B2 JP2006543670A JP2006543670A JP4448139B2 JP 4448139 B2 JP4448139 B2 JP 4448139B2 JP 2006543670 A JP2006543670 A JP 2006543670A JP 2006543670 A JP2006543670 A JP 2006543670A JP 4448139 B2 JP4448139 B2 JP 4448139B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photodetector
optical
optical device
coherent radiation
scattering object
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006543670A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2007519944A (en
Inventor
スタリンハ，シュールド
スコリク，ボリス
テー テュイルス，ピム
ヘー オフェイ，ウィレム
ハー エム アケルマンス，アントニウス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips NV
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips NV, Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips NV
Publication of JP2007519944A publication Critical patent/JP2007519944A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4448139B2 publication Critical patent/JP4448139B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/48—Laser speckle optics
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L9/00—Cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communications; Network security protocols
    • H04L9/32—Cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communications; Network security protocols including means for verifying the identity or authority of a user of the system or for message authentication, e.g. authorization, entity authentication, data integrity or data verification, non-repudiation, key authentication or verification of credentials
    • H04L9/3271—Cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communications; Network security protocols including means for verifying the identity or authority of a user of the system or for message authentication, e.g. authorization, entity authentication, data integrity or data verification, non-repudiation, key authentication or verification of credentials using challenge-response
    • H04L9/3278—Cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communications; Network security protocols including means for verifying the identity or authority of a user of the system or for message authentication, e.g. authorization, entity authentication, data integrity or data verification, non-repudiation, key authentication or verification of credentials using challenge-response using physically unclonable functions [PUF]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Description

この発明は、例えば、暗号の用途に用いるスペックルに基づいた物理的にクローニング不能な機能（physically unclonable function）の検出用の方法及び装置に関する。   The present invention relates to a method and apparatus for the detection of physically unclonable functions based on speckles used for cryptographic purposes, for example.

情報セキュリティは、符号化された情報の意図された及び意図されてない使用をするために要求される行動において顕著な非対称性を提供する機構を要求する。このような保護は、経済活動の増大する部分が、電子的に通信されるにつれて、重みが増している；インターネット上でクレジットカードの番号を送ること又はスマートカードメモリーに蓄積されたマネーを消費することは、このデータを容易には複製することができないことを仮定する。   Information security requires mechanisms that provide significant asymmetries in the behavior required to make the intended and unintended use of encoded information. Such protection is gaining weight as an increasing portion of economic activity is electronically communicated; sending credit card numbers over the Internet or consuming money stored in smart card memory This assumes that this data cannot be easily replicated.

現代の暗号の実際は、一方向の機能の使用に基礎を置くものである。これらは、順方向に評価することは容易であるが、付加的な情報無しに逆方向に算定することは実行不可能である機能である。アルゴリズム的な一方向の機能が、広範に使用されるとはいえ、それらは、多くの課題に直面しており、それらの課題に、一方向の機能を実施するための数論というよりもむしろ不均質な構造からのコヒーレントな多重散乱を使用することによって、取り組むことができる。   The reality of modern cryptography is based on the use of one-way functions. These are functions that are easy to evaluate in the forward direction but are not feasible to calculate in the reverse direction without additional information. Although algorithmic one-way functions are widely used, they are faced with a number of challenges, rather than number theory for performing one-way functions. This can be addressed by using coherent multiple scattering from inhomogeneous structures.

レーザーのスペックルの揺らぎは、不均質な媒体の構造へのコヒーレントな放射の散乱の感度のよく知られた証拠である。歪曲した媒体の微細構造におけるどんな変化も、それのスペックルパターンにおけるオーダー単位の変化を引き起こすので、スペックル強度の離散的に標本抽出された像は、散乱体の３Ｄ空間分布の仕様を台無しにする固定長のキーを提供する。   Laser speckle fluctuations are well-known evidence of the sensitivity of scattering of coherent radiation into the structure of inhomogeneous media. Any change in the microstructure of the distorted medium will cause an order-of-order change in its speckle pattern, so a discrete sampled image of speckle intensity will ruin the specification of the 3D spatial distribution of the scatterer Provide a fixed-length key.

アルゴリズム的な一方向の機能と関連した問題を解決するための知られたアプローチは、物理的な無作為の機能又は物理的なクローニング不能な機能（ＰＵＦ）の使用であり、それら機能は、本質的に、その機能の出力を、それを物理的なデバイスを使用して現実に評価することなく、予想することが、計算的に及び物理的に実行不可能であるように、物理的なデバイスへ束縛される無作為な機能である。   A known approach to solving the problems associated with algorithmic one-way functions is the use of physical random functions or physical unclondable functions (PUF), which are essentially Thus, a physical device so that it is computationally and physically infeasible to predict its function output without actually evaluating it using a physical device. It is a random function that is bound to.

このように、本発明は、スペックルパターンに基づいた物理的にクローニング不能な機能（ＰＵＦ）に関する。知られたシステムにおいて、光を強く散乱させる対象は、波長λのコヒーレントな光源（例えば、レーザー）で照明される。ビーム半径ａを備えた入力ビームを、振幅及び／又は位相を変動させるチェッカー盤の光のパターンをそのビームに与える、空間光変調器（ＳＬＭ）で変更してもよい。このチェッカー盤のパターンは、そのビームが、散乱構造を伝わってしまったとき、十分に不鮮明にさせられる。ピクセル化された検出器（例えば、ＣＣＤ又はＣＭＯＳデバイス）は、散乱構造の後方の距離ｚに置かれ、且つ、いわゆるスペックルパターンを記録する。   Thus, the present invention relates to a physically non-cloning function (PUF) based on speckle patterns. In known systems, objects that strongly scatter light are illuminated with a coherent light source (eg, a laser) of wavelength λ. The input beam with beam radius a may be modified with a spatial light modulator (SLM) that gives the beam a checkerboard light pattern that varies in amplitude and / or phase. The checkerboard pattern is sufficiently blurred when the beam travels through the scattering structure. A pixelated detector (eg a CCD or CMOS device) is placed at a distance z behind the scattering structure and records a so-called speckle pattern.

そのスペックルパターンは、無作為の明るいパッチ及び暗いパッチからなる。その散乱構造は、質問対応答をマッピングする物理的な機能である。その構造は、複製を作ることができないように、よってクローニング不能に、製造される。例えば、その構造は、ホストの媒体とは異なる屈折率の無作為に分散させられた粒子を備えた層を含んでもよい。手短に言えば、その散乱構造は、ＰＵＦの実施形態であり、且つ、非特許文献１によって詳細に立案されたような、暗号システム及び暗号学的システムにＰＵＦを適用することができることは、認識されると思われる。   The speckle pattern consists of random bright and dark patches. The scattering structure is a physical function that maps the query-to-response. The structure is manufactured so that no replica can be made, and thus not cloned. For example, the structure may include a layer with randomly dispersed particles of different refractive index than the host medium. In short, it is recognized that the scattering structure is an embodiment of a PUF, and the PUF can be applied to cryptographic systems and cryptographic systems, such as those proposed in detail by NPL 1. It seems to be done.

ピクセル化された検出器のピクセルが、スペックルパターンの明るいパッチ及び暗いパッチの典型的な大きさよりもずっと大きいものであるとき、その強度は、平均になることになり、且つ、関連した情報は、喪失させられることになり、ＰＵＦの劣化した使用に帰着する。一方、それらピクセルが、そのスペックルパターンの明るいパッチ及び暗いパッチの典型的な大きさよりもずっと小さなものであるとき、隣接したピクセルは、本質的に、同じ情報を記録する。この重複性は、根本的な問題ではないが、それは、処理の要件を増加させるという悪影響を有する。
Ｒａｖｉｋａｎｔｈ Ｐａｐｐｕ ｅｔ ａｌ，Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｏｎｅ−Ｗａｙ Ｆｕｎｃｔｉｏｎｓ，Ｓｃｉｅｎｃｅ ２９７，ｐ２０２６（２００２） When the pixelated detector pixels are much larger than the typical size of the bright and dark patches of the speckle pattern, the intensity will be averaged and the relevant information is Will be lost, resulting in degraded use of PUF. On the other hand, when the pixels are much smaller than the typical size of the bright and dark patches of the speckle pattern, adjacent pixels essentially record the same information. This duplication is not a fundamental problem, but it has the detrimental effect of increasing processing requirements.
Ravikanth Pappu et al, Physical One-Way Functions, Science 297, p2026 (2002)

従って、本発明の目的は、過剰な量の重複性無しに（すなわち、ピクセルが十分に大きいものある）全ての関連したビットの検出を生じることになる（すなわち、ピクセルが、十分に小さいものである）検出器のピクセルの大きさを決定するための規準が用いられる、光学的な方法及び装置を提供することである。   Thus, the object of the present invention will result in the detection of all relevant bits without an excessive amount of redundancy (i.e. the pixels are large enough) (i.e. the pixels are small enough). It is to provide an optical method and apparatus in which criteria for determining the pixel size of the detector are used.

このように、本発明によれば、コヒーレントな放射源を提供するための光学系、前記のコヒーレントな放射の経路に位置した強く散乱する対象、及び、入射するスペックルパターンを検出するためのピクセル化された光検出器を含む、光学的な装置であって、前記のスペックルパターンが、前記の強く散乱する対象に入射する前記のコヒーレント放射によって生じさせられ、ここで、前記の光検出器のピクセルの大きさが、前記の強く散乱する対象に対する前記の光学的な装置におけるそれの位置によって決定されると共にλ／ＮＡによって決定されるような前記のスペックルパターンに存在する明るいパッチ及び暗いパッチのものと実質的に同じ大きさに設定され、ここで、λは、前記のコヒーレントな放射の波長であると共にＮＡは、前記の光学系の開口数である、光学的な装置が提供される。   Thus, according to the present invention, an optical system for providing a coherent radiation source, a strongly scattering object located in the path of the coherent radiation, and a pixel for detecting an incident speckle pattern An optical device comprising an optical detector, wherein the speckle pattern is generated by the coherent radiation incident on the strongly scattering object, wherein the optical detector The bright patches and darkness present in the speckle pattern as determined by its position in the optical device relative to the strongly scattering object and as determined by λ / NA Set to substantially the same size as that of the patch, where λ is the wavelength of the coherent radiation and NA is the An optical device having a numerical aperture of the optical system is provided.

また、本発明によれば、強く散乱する対象をコヒーレントな放射で照射すること、及び、結果として生じるスペックルパターンを受けるためのピクセル化された光検出器を提供することを含む、スペックルパターンを検出する方法であって、ここで、前記の光検出器のピクセルの大きさは、前記の強く散乱する対象に対するそれの位置によって決定されると共にλ／ＮＡによって決定されるような前記のスペックルパターンに存在する明るいパッチ及び暗いパッチのものと実質的に同じ大きさに設定され、ここで、λは、前記のコヒーレントな放射の波長であると共にＮＡは、前記の光学系の開口数である、方法が提供される。   Also, according to the present invention, a speckle pattern comprising irradiating a strongly scattering object with coherent radiation and providing a pixelated photodetector for receiving the resulting speckle pattern Wherein the pixel size of the photodetector is determined by its position relative to the strongly scattering object and the spec as determined by λ / NA. And λ is the wavelength of the coherent radiation, and NA is the numerical aperture of the optical system. A method is provided.

本発明の一つの例示的な実施形態において、その光学系は、半径ａのコヒーレントな放射ビームを提供するためのコヒーレントな放射源を含み、その光検出器は、前記の強く散乱する対象から距離ｚに位置させられ、ここで、ＮＡ＝ａ／ｚである。本発明の代替の例示的な実施形態において、その光学系は、半径ａを有するコヒーレントな放射ビームを提供するためのコヒーレントな放射源、及び、その強く散乱する対象とその光検出器との間におけるそのコヒーレントな放射ビームの経路に、レンズ又は同様のもののような焦点距離ｆを有する一つ以上の収束光学素子を含んでもよく、ここで、ＮＡ＝ａ／ｆである。この場合には、その一つ以上の光学素子は、その強く散乱する対象から距離ｖに且つその光検出器から距離ｂに位置させられ、ここで、１／ｖ＋１／ｂ＝１／ｆである。   In one exemplary embodiment of the present invention, the optical system includes a coherent radiation source for providing a coherent radiation beam of radius a, and the photodetector is a distance from the strongly scattering object. z, where NA = a / z. In an alternative exemplary embodiment of the present invention, the optical system includes a coherent radiation source for providing a coherent radiation beam having a radius a, and between the strongly scattering object and the photodetector. The coherent radiation beam path at may include one or more converging optical elements having a focal length f, such as a lens or the like, where NA = a / f. In this case, the one or more optical elements are located at a distance v from the strongly scattering object and at a distance b from the photodetector, where 1 / v + 1 / b = 1 / f. .

両方の場合には、空間光変調器を、その強く散乱する対象とそのコヒーレントな放射源との間に提供してもよい。また、レンズ又は同様のもののような、光学的なパワー（すなわち、光を屈折させる能力）を備えた一つ以上の素子を、その強く散乱する対象とそのコヒーレントな放射源との間の放射の経路に提供してもよい。好ましくは、その強く散乱する対象によるスペックルパターンの形成は、物理的にクローニング不能な機能の実施である。   In both cases, a spatial light modulator may be provided between the strongly scattering object and the coherent radiation source. Also, one or more elements with optical power (ie, the ability to refract light), such as a lens or the like, can be used to transmit radiation between the strongly scattering object and the coherent radiation source. It may be provided on the route. Preferably, the formation of the speckle pattern by the strongly scattering object is an implementation of a function that cannot be physically cloned.

有益には、その光検出器のピクセルは、少なくとも、ηｍａｘλ／ＮＡよりも小さいものであり、ここで、ηｍａｘは、１から２０までの、より好ましくは、１から１０までの、及び、さらにより好ましいことには、５から１０までの範囲における数である。本発明の一つの具体的な実施形態においては、ηｍａｘは、５であってもよい。同様に、その光検出器のピクセルは、好ましくは、ηｍｉｎλ／ＮＡよりも大きいものであり、ここで、ηｍｉｎは、０と２との間の、より好ましくは、０と１との間の、及び、さらにより好ましいことには、０．０５と０．５との間の数である。本発明の一つの具体的な実施形態においては、ηｍｉｎは、０．０５であってもよい。 Beneficially, the pixels of the photodetector are at least smaller than η max λ / NA, where η max is from 1 to 20, more preferably from 1 to 10, and Even more preferred is a number in the range of 5 to 10. In one specific embodiment of the invention, η max may be 5. Similarly, the photodetector pixel is preferably greater than η min λ / NA, where η min is between 0 and 2, more preferably between 0 and 1. Between and even more preferred is a number between 0.05 and 0.5. In one specific embodiment of the invention, η min may be 0.05.

本発明のこれらの態様及び他の態様は、ここに記載した実施形態から明らかなものであると共にここに記載した実施形態を参照して解明されると思われる。   These and other aspects of the invention are apparent from and will be elucidated with reference to the embodiments described herein.

ここで、本発明の実施形態を、ほんの一例として、且つ、添付する図面を参照して、記載することにする。   Embodiments of the present invention will now be described by way of example only and with reference to the accompanying drawings.

このように、上に述べたように、本発明の目的は、過剰な量の重複性無しに（すなわち、ピクセルが十分に大きいものである）全ての関連したビットの検出を生じさせることになる（すなわち、ピクセルは、十分に小さいものである）検出器のピクセルの大きさを決定するための規準が用いられる、光学的な方法及び装置を提供することである。しかしながら、実際には、それらピクセルの大きさは、固定されてもよく、且つ、それは、ピクセルの大きさをスペックルパッチの大きさに調和させるように変動させられる、ＰＵＦと検出器との間の距離である。   Thus, as stated above, the purpose of the present invention will result in the detection of all relevant bits without an excessive amount of redundancy (ie, the pixels are large enough) It is to provide an optical method and apparatus in which a criterion for determining the pixel size of the detector is used (ie, the pixel is small enough). In practice, however, the pixel sizes may be fixed and it is varied between the PUF and the detector to vary the pixel size to match the speckle patch size. Is the distance.

このように、本発明は、それの目的として、それらピクセルを、そのスペックルパターンの明るいパッチ及び暗いパッチに対して、大きさについて同等のものにする必要がある。これらのパッチの典型的な大きさは、実際の事例である可能性が高そうである、ａがｚよりもはるかに小さいものであるとの条件で、λｚ／ａであることが、見出されてきた。   Thus, the present invention requires, for that purpose, the pixels to be equivalent in size to the bright and dark patches of the speckle pattern. The typical size of these patches is found to be λz / a, provided that it is likely to be the actual case, a being much smaller than z. It has been.

それらピクセルの最大の大きさを、帯域制限関数の標本化定理を使用して、見積もってもよい。ｚが十分に大きいものであるとすれば、検出器平面での視野は、ＰＵＦの射出表面での視野のフーリエ変換である。この領域は、遠視野又はフラウンホーファー回折領域として知られる。その場合には、検出器における視野の最高の空間周波数は、結局ａ／λｚであることが判明する。そして、ナイキスト基準に従って、この空間周波数の帯域の少なくとも二倍を備えた信号を標本抽出することが、必要であり、そのことは、ピクセルが、距離λｚ／２ａ以下で離間されるべきであることを暗示する。実際には、ピクセルは、有限の大きさを有し、且つ、このように、ある点での強度を測定せずに、その代わりに、ピクセル面積にわたる平均強度を測定する。   The maximum size of these pixels may be estimated using the sampling theorem of the band limiting function. If z is sufficiently large, the field at the detector plane is the Fourier transform of the field at the exit surface of the PUF. This region is known as the far field or Fraunhofer diffraction region. In that case, it turns out that the highest spatial frequency of the field of view at the detector is eventually a / λz. It is then necessary to sample a signal with at least twice this spatial frequency band according to the Nyquist criterion, which means that the pixels should be separated by a distance λz / 2a or less. Is implied. In practice, the pixels have a finite size and thus do not measure the intensity at a point, but instead measure the average intensity over the pixel area.

そのピクセル面積にわたって平均する効果を、その強度の確率分布から評価してもよい。（Ｌａｓｅｒ Ｓｐｅｃｋｌｅ ａｎｄ Ｒｅｌａｔｅｄ Ｐｈｅｎｏｍｅｎａ，Ｊ．Ｃ．Ｄａｉｎｔｙ ｅｄ．，Ｓｐｒｉｎｇｅｒ−Ｖｅｒｌａｇ，１９７５における）Ｊ．Ｗ．Ｇｏｏｄｍａｎ，Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ Ｐｒｏｐｅｒｔｉｅｓ ｏｆ Ｌａｓｅｒ Ｓｐｅｃｋｌｅ Ｐａｔｔｅｒｎｓに従って、規格化された強度ｘ＝Ｉ／Ｉ０を測定するための確率密度は、ここで、Ｉは、その強度であると共にＩ０は、その平均強度であるが、 The effect of averaging over the pixel area may be evaluated from the probability distribution of the intensity. (In Laser Speckle and Related Phenomena, J. C. Dainty ed., Springer-Verlag, 1975). W. According to Goodman, Statistical Properties of Laser Speckle Patterns, the probability density for measuring the normalized intensity x = I / I 0 is where I is its intensity and I 0 is its average intensity But,

Figure 0004448139
によって与えられ、ここで、Ｍは、おおよそ、
Figure 0004448139
 Where M is approximately

Figure 0004448139
によってピクセル面積Ｓｍに関係したものであり、ここでＳｃ〜（λｚ／ａ）２、スペックルパッチの典型的な面積である。さらに、Γ（Ｍ）は、
Figure 0004448139
 Is related to the pixel area S m , where Sc˜ (λz / a) 2 , which is a typical area of a speckle patch. Furthermore, Γ (M) is

Figure 0004448139
によって定義された、いわゆるガンマ関数である。
Figure 0004448139
 This is the so-called gamma function defined by.

その確率関数は、Ｍ＝１．００２５（指数関数的に減衰する関数）、Ｍ＝２６（尖った関数）及びＭ＝１．２５（中間のほぼ指数関数的に減衰する関数）について図面の図２で説明される。これらの場合は、それぞれ、ナイキスト標本抽出周波数の１／１０、１０及び１倍のピクセルの大きさに対応する。明らかに、小さいピクセル面積について、その分布は、相対的に滑らかなものであるのに対して、大きいピクセル面積について、それは、平均値の周囲に、より尖ったものであり、非常に大きいピクセル面積値の極限でガウス分布に近づく。   The probability function is shown in the figure for M = 1.0025 (exponentially decaying function), M = 26 (pointed function) and M = 1.25 (intermediate almost exponentially decaying function). 2. These cases correspond to pixel sizes 1/10, 10 and 1 times the Nyquist sampling frequency, respectively. Obviously, for small pixel areas, the distribution is relatively smooth, whereas for large pixel areas, it is sharper around the average value and very large pixel area It approaches a Gaussian distribution at the limit of values.

従って、示したように、強度確率分布は、小さい面積値について相対的に滑らかな分布であると共に大きいピクセル面積値について鋭く尖った分布である。強度の測定が常に雑音のあるものであると、当然、Ｍについての上限がなければならないということになり、そのＭより上では、尖った分布の幅が、その雑音から区別がつかない。明らかに、全ての有用なビットを抽出するために、この上限より下に良好にとどまることは、必要なことである。   Thus, as shown, the intensity probability distribution is a relatively smooth distribution for small area values and a sharply pointed distribution for large pixel area values. If the intensity measurement is always noisy, then of course, there must be an upper bound on M, above which point the width of the sharp distribution is indistinguishable from the noise. Obviously, it is necessary to stay well below this upper limit in order to extract all useful bits.

例として、５λｚ／ａを、ピクセルの大きさについての暫定的な上限として採用してもよい。ピクセルの大きさについての減少が、有用なビットの量をもはや増加させない下限は、確率分布が限定的な事例Ｍ＝１における値からほとんど逸脱しない、Ｍについての値から得られる。一つの例示的な実施形態において、０．０５λｚ／ａを、ピクセルの大きさについての暫定的な下限として採用してもよい。   As an example, 5λz / a may be employed as a provisional upper limit for pixel size. A lower bound where the reduction in pixel size no longer increases the amount of useful bits is derived from the value for M, where the probability distribution hardly deviates from the value in the limited case M = 1. In one exemplary embodiment, 0.05λz / a may be employed as a provisional lower limit for pixel size.

図面の図１を参照して、本発明の第一の例示的な実施形態による光学的配置が、説明され、その配置は、ここでは“自由空間幾何学配置”と呼ばれる。代替の実施形態は、ここでは、ＰＵＦの射出表面及び検出器が、レンズの共役平面又はより一般的には光学系にある、“結像幾何学配置”と呼ばれる。図１の自由空間幾何学配置において、ＮＡ＝ａ／ｚを定義することは、可能なことであり、それによってスペックルパッチの大きさをλ／ＮＡにする。その配置は、波長λのコヒーレントな光ビーム２を放出する源１、ビーム２を半径ａのビームへ収束するレンズ３、そのビームへチェッカー盤パターンを与えるＳＬＭ４、ＰＵＦ５、及びそのＰＵＦの後方の距離ｚに置かれたピクセル化された検出器６を含む。   With reference to FIG. 1 of the drawings, an optical arrangement according to a first exemplary embodiment of the present invention will be described, which arrangement is referred to herein as a “free space geometry”. An alternative embodiment is referred to herein as an “imaging geometry” where the PUF exit surface and detector are in the conjugate plane of the lens or more generally in the optical system. In the free space geometry of FIG. 1, it is possible to define NA = a / z, thereby making the speckle patch size λ / NA. The arrangement consists of a source 1 that emits a coherent light beam 2 of wavelength λ, a lens 3 that focuses the beam 2 into a beam of radius a, a SLM 4 that gives the beam a checkerboard pattern, a PUF 5 and the distance behind the PUF. It includes a pixelated detector 6 placed at z.

図面の図３を参照して、本発明の代替の例示的な実施形態には、ＰＵＦの射出表面の後方の距離ｖに及び検出器の前方における距離ｂに置かれた、焦点距離ｆを備えた付加的なレンズ７がさらに補われ、ここで、１／ｖ＋１／ｂ＝１／ｆであり、すなわち、その検出器は、ＰＵＦの射出表面の像平面に置かれる。上に説明したように、本発明のこの例示的な実施形態において、射出表面及び検出器は、レンズ７又はより一般には光学系の共役平面にある。共役平面は、二つの平面が、対象及び相互の像平面であることを意味する。そのスペックルパターンにおけるパッチの典型的な大きさは、またしてもλ／ＮＡであり、ここで、開口数は、（ａがｆよりもはるかに小さいものである、すなわち、それが、小さいＮＡの値についてのみ有効であるとの条件で）ＮＡ＝ａ／ｆとして定義され、ここで、ａは、レンズにおけるビームの半径であると共にｆは、レンズの焦点距離である。   With reference to FIG. 3 of the drawings, an alternative exemplary embodiment of the present invention comprises a focal length f placed at a distance v behind the PUF injection surface and at a distance b in front of the detector. The additional lens 7 is further supplemented, where 1 / v + 1 / b = 1 / f, ie the detector is placed in the image plane of the exit surface of the PUF. As explained above, in this exemplary embodiment of the invention, the exit surface and detector are in the lens 7 or more generally in the conjugate plane of the optical system. The conjugate plane means that the two planes are the object and the mutual image plane. The typical size of the patch in the speckle pattern is again λ / NA, where the numerical aperture is (a is much smaller than f, ie it is small NA = a / f (provided that it is only valid for the value of NA), where a is the radius of the beam at the lens and f is the focal length of the lens.

例えば、ＰＵＦに先行する光学的な結像系を備えた本発明の他の例示的な実施形態は、また、想像できるものである。   For example, other exemplary embodiments of the present invention with an optical imaging system preceding the PUF are also conceivable.

このように、要約すれば、本発明は、少なくともコヒーレントな光源の光学的配置、強く散乱する対象（ＰＵＦ）、及び、ピクセル化された光検出器を提供し、ここで、ピクセルは、そのスペックルパターンの明るいパッチ及び暗いパッチを備えた大きさについて同等のものである。定量的に、上で説明したように、そのピクセルの大きさは、大体、λ／ＮＡであるべきであり、ここでλは、波長であり、且つ、（ｉ）上述した自由空間幾何学配置についてのＮＡ＝ａ／ｚであり、且つａは、ビームの半径であると共にｚはＰＵＦの射出表面とピクセル化された検出器との間の距離であるか、又は（ｉｉ）ＮＡは、上述した結像幾何学配置におけるレンズ７の開口数である。本発明の好適な実施形態において、ピクセルが、少なくとも、ηｍａｘλ／ＮＡよりも小さいものであり、且つ、好ましくは、ηｍｉｎλ／ＮＡよりも大きいものであるべきであり、ここでηｍａｘ＝５且つηｍｉｎ＝０．０５であるという暫定的な要件がある。本発明が光検出器それ自体よりもむしろＰＵＦ及び光検出器の光学的な配置と関係があることは、当業者によって、理解されると思われる。 Thus, in summary, the present invention provides an optical arrangement of at least a coherent light source, a strongly scattering object (PUF), and a pixelated photodetector, wherein the pixel is its spec. The size of the light pattern with the bright and dark patches is equivalent. Quantitatively, as explained above, the pixel size should be approximately λ / NA, where λ is the wavelength, and (i) the free space geometry described above. And NA is the radius of the beam and z is the distance between the exit surface of the PUF and the pixelated detector, or (ii) NA is It is the numerical aperture of the lens 7 in the imaging geometric arrangement. In a preferred embodiment of the present invention, the pixels should be at least smaller than η max λ / NA and preferably larger than η min λ / NA, where η max There is a provisional requirement that = 5 and η min = 0.05. It will be appreciated by those skilled in the art that the present invention relates to the optical arrangement of the PUF and photodetector rather than the photodetector itself.

上述した実施形態は、本発明を限定するというよりもむしる説明するものであること、及び、当業者が、添付した特許請求の範囲によって定義されるような本発明の範囲から逸脱することなく多くの代替の実施形態を設計することが可能なことであることは、留意されるべきである。特許請求の範囲において、括弧内に置かれたいずれの符号も、特許請求の範囲を限定するものと解釈されないものとする。用語“を含む”及び同様のものは、いずれの請求項又は全体として明細書に挙げられたもの以外の要素又はステップの存在を排除するものではない。要素の単数の参照は、このような要素の複数の参照を排除するものではなく、且つ逆もまた同様である。本発明を、数々の別個の要素を含むハードウェアによって、及び、適切にプログラム化されたコンピューターによって、実施してもよい。数々の手段を列挙するデバイス請求項において、これらの手段のいくつかを、ハードウェアの一つ且つ同じアイテムによって、具体化してもよい。ある一定の尺度が、相互に異なる従属請求項に記載されるという単なる事実は、これらの尺度の組み合わせを都合よく使用することができないことを示すものではない。   The embodiments described above are intended to be illustrative rather than limiting on the present invention, and many persons skilled in the art will be able to depart from the scope of the invention as defined by the appended claims. It should be noted that it is possible to design alternative embodiments. In the claims, any reference signs placed between parentheses shall not be construed as limiting the claim. The word “comprising” and the like does not exclude the presence of elements or steps other than those listed in any claim or in their entirety. A single reference to an element does not exclude a plurality of references to such an element and vice versa. The present invention may be implemented by hardware including a number of separate elements and by a suitably programmed computer. In the device claim enumerating several means, several of these means may be embodied by one and the same item of hardware. The mere fact that certain measures are recited in mutually different dependent claims does not indicate that a combination of these measures cannot be used to advantage.

本発明の第一の例示的な実施形態による光学的な装置を説明する概略図である。1 is a schematic diagram illustrating an optical device according to a first exemplary embodiment of the present invention. 図１の装置に関する規格化された強度の確率分布のグラフ表示である。2 is a graphical representation of a normalized intensity probability distribution for the apparatus of FIG. 本発明の第二の例示的な実施形態による光学的な装置を説明する概略図である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an optical device according to a second exemplary embodiment of the present invention.

Claims (16)

光学的な装置であって、
コヒーレントな放射ビームを提供する光学系、
該コヒーレントな放射の経路に位置した強く散乱する対象、及び、
入射するスペックルパターンを検出するピクセル化された光検出器を含み、
該スペックルパターンは、該強く散乱する対象に入射する該コヒーレントな放射によって生じさせられ、
該光検出器のピクセルの大きさは、該強く散乱する対象に対する当該光学的な装置におけるそれの位置によって決定され且つλ／ＮＡによって決定されるような該スペックルパターンに存在する明るいパッチ及び暗いパッチのものと実質的に同じ大きさに設定され、
λは、該コヒーレントな放射の波長であると共にＮＡは、該光学系の開口数である、光学的な装置。An optical device,
An optical system that provides a coherent beam of radiation,
A strongly scattering object located in the path of the coherent radiation; and
Including a pixelated photodetector for detecting an incident speckle pattern;
The speckle pattern is caused by the coherent radiation incident on the strongly scattering object,
The pixel size of the photodetector is determined by its position in the optical device relative to the strongly scattering object and bright patches and darks present in the speckle pattern as determined by λ / NA Set to be substantially the same size as the patch,
An optical device where λ is the wavelength of the coherent radiation and NA is the numerical aperture of the optical system. 前記光学系は、半径ａのコヒーレントな放射ビームを提供するコヒーレントな放射源を含み、前記光検出器は、前記強く散乱する対象から距離ｚに位置させられ、ＮＡ＝ａ／ｚである、請求項１に記載の光学的な装置。  The optical system includes a coherent radiation source that provides a coherent radiation beam of radius a, and the photodetector is located at a distance z from the strongly scattering object and NA = a / z. Item 4. The optical device according to Item 1. 当該光学系は、半径ａのコヒーレントな放射ビームを提供するコヒーレントな放射源及び前記強く散乱する対象と前記光検出器との間における前記コヒーレントな放射ビームの経路に、焦点距離ｆを有する一つ以上の収束光学素子を含み、ＮＡ＝ａ／ｆである、請求項１に記載の光学的な装置。  The optical system includes a coherent radiation source that provides a coherent radiation beam of radius a and a focal length f in the path of the coherent radiation beam between the strongly scattered object and the photodetector. The optical apparatus according to claim 1, comprising the above focusing optical elements, wherein NA = a / f. 前記一つ以上の光学素子は、前記強く散乱する対象から距離ｖに且つ前記光検出器から距離ｂに位置させられ、１／ｖ＋１／ｂ＝１／ｆである、請求項３に記載の光学的な装置。  4. The optical of claim 3, wherein the one or more optical elements are located at a distance v from the strongly scattering object and at a distance b from the photodetector, wherein 1 / v + 1 / b = 1 / f. Equipment. 空間光変調器が、前記コヒーレントな放射源と前記強く散乱する対象との間に提供される、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の光学的な装置。  The optical device according to any one of the preceding claims, wherein a spatial light modulator is provided between the coherent radiation source and the strongly scattering object. 光学的なパワーを備えた一つ以上の素子が、前記コヒーレントな放射源と前記強く散乱する対象との間の放射の経路に提供される、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の光学的な装置。  6. One or more elements with optical power are provided in a radiation path between the coherent radiation source and the strongly scattering object. Optical device. 前記強く散乱する対象によるスペックルパターンの形成は、物理的にクローニング不能な機能の実施である、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の光学的な装置。  The optical device according to any one of claims 1 to 6, wherein the formation of a speckle pattern by the strongly scattering object is an implementation of a function that cannot be physically cloned. 前記光検出器及び前記強く散乱する対象は、前記光検出器のピクセルが、少なくとも、ηｍａｘλ／ＮＡよりも小さいものであるように、相互に対して位置させられ、ηｍａｘは、１から２０までの範囲における数である、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の光学的な装置。The photodetector and the strongly scattering object are positioned relative to each other such that the pixels of the photodetector are at least smaller than η max λ / NA, and η max is from 1 8. An optical device according to any one of the preceding claims, which is a number in the range up to 20. ηｍａｘは、１から１０までの範囲における数である、請求項８に記載の光学的な装置。9. The optical device according to claim 8, wherein [eta] max is a number in the range from 1 to 10. ηｍａｘは、５から１０までの範囲における数である、請求項９に記載の光学的な装置。The optical apparatus according to claim 9, wherein η max is a number in the range of 5 to 10. ηｍａｘ＝５である、請求項１０に記載の光学的な装置。The optical device according to claim 10, wherein η max = 5. 前記光検出器及び前記強く散乱する対象は、前記光検出器のピクセルが、ηｍｉｎλ／ＮＡよりも大きいものであるように、相互に対して位置させられ、ηｍｉｎは、０と２との間の数である、請求項１乃至１１のいずれか一項に記載の光学的な装置。The photodetector and the strongly scattering object are positioned relative to each other such that the pixels of the photodetector are larger than η min λ / NA, and η min is 0 and 2 12. An optical device according to any one of the preceding claims, wherein the number is between. ηｍｉｎは、０と１との間の数である、請求項１２に記載の光学的な装置。The optical apparatus according to claim 12, wherein η min is a number between 0 and 1. ηｍｉｎは、０．０５及び０．５の範囲における数である、請求項１３に記載の光学的な装置。14. The optical device according to claim 13, wherein [eta] min is a number in the range of 0.05 and 0.5. ηｍｉｎ＝０．０５である、請求項１４に記載の光学的な装置。The optical device according to claim 14, wherein η min = 0.05. スペックルパターンを検出する方法であって、
強く散乱する対象をコヒーレントな放射で照射すること及び結果として生じるスペックルパターンを受けるピクセル化された光検出器を提供することを含み、
前記光検出器のピクセルの大きさは、前記強く散乱する対象に対するそれの位置によって決定され且つλ／ＮＡによって決定されるような前記スペックルパターンに存在する明るいパッチ及び暗いパッチのものと実質的に同じ大きさに設定され、
λは、前記コヒーレントな放射の波長であり、且つ、ＮＡは、前記光学系の開口数である、方法。A method for detecting speckle patterns,
Illuminating a strongly scattering object with coherent radiation and providing a pixelated photodetector that receives the resulting speckle pattern;
The pixel size of the photodetector is determined by its position relative to the strongly scattering object and is substantially that of the bright and dark patches present in the speckle pattern as determined by λ / NA. Are set to the same size as
λ is the wavelength of the coherent radiation, and NA is the numerical aperture of the optical system.
JP2006543670A 2003-12-12 2004-11-24 Method and apparatus for detection of physically uncloned functions based on speckle Expired - Fee Related JP4448139B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP03104677 2003-12-12
PCT/IB2004/052527 WO2005059629A1 (en) 2003-12-12 2004-11-24 A method and apparatus for detection of a speckle based physically unclonable function

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007519944A JP2007519944A (en) 2007-07-19
JP4448139B2 true JP4448139B2 (en) 2010-04-07

Family

ID=34684575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006543670A Expired - Fee Related JP4448139B2 (en) 2003-12-12 2004-11-24 Method and apparatus for detection of physically uncloned functions based on speckle

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7432485B2 (en)
EP (1) EP1695136A1 (en)
JP (1) JP4448139B2 (en)
KR (1) KR20060123278A (en)
CN (1) CN100449354C (en)
TW (1) TW200535456A (en)
WO (1) WO2005059629A1 (en)

Families Citing this family (65)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8447077B2 (en) * 2006-09-11 2013-05-21 Validity Sensors, Inc. Method and apparatus for fingerprint motion tracking using an in-line array
US8358815B2 (en) * 2004-04-16 2013-01-22 Validity Sensors, Inc. Method and apparatus for two-dimensional finger motion tracking and control
US8131026B2 (en) 2004-04-16 2012-03-06 Validity Sensors, Inc. Method and apparatus for fingerprint image reconstruction
US8229184B2 (en) * 2004-04-16 2012-07-24 Validity Sensors, Inc. Method and algorithm for accurate finger motion tracking
US8165355B2 (en) * 2006-09-11 2012-04-24 Validity Sensors, Inc. Method and apparatus for fingerprint motion tracking using an in-line array for use in navigation applications
US8077935B2 (en) 2004-04-23 2011-12-13 Validity Sensors, Inc. Methods and apparatus for acquiring a swiped fingerprint image
US8175345B2 (en) 2004-04-16 2012-05-08 Validity Sensors, Inc. Unitized ergonomic two-dimensional fingerprint motion tracking device and method
WO2006041780A1 (en) 2004-10-04 2006-04-20 Validity Sensors, Inc. Fingerprint sensing assemblies comprising a substrate
WO2006053304A2 (en) 2004-11-12 2006-05-18 Pufco, Inc. Volatile device keys and applications thereof
EP1977511B1 (en) 2006-01-24 2011-04-06 Verayo, Inc. Signal generator based device security
JP5468898B2 (en) 2006-06-30 2014-04-09 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Method and apparatus for encrypting / decrypting data
US8107212B2 (en) * 2007-04-30 2012-01-31 Validity Sensors, Inc. Apparatus and method for protecting fingerprint sensing circuitry from electrostatic discharge
US8290150B2 (en) * 2007-05-11 2012-10-16 Validity Sensors, Inc. Method and system for electronically securing an electronic device using physically unclonable functions
US20110002461A1 (en) * 2007-05-11 2011-01-06 Validity Sensors, Inc. Method and System for Electronically Securing an Electronic Biometric Device Using Physically Unclonable Functions
EP2183695B1 (en) 2007-07-20 2014-11-12 Nxp B.V. Device with a secure virtual machine
EP2214117B1 (en) 2007-09-19 2012-02-01 Verayo, Inc. Authentication with physical unclonable functions
US8204281B2 (en) * 2007-12-14 2012-06-19 Validity Sensors, Inc. System and method to remove artifacts from fingerprint sensor scans
US8276816B2 (en) * 2007-12-14 2012-10-02 Validity Sensors, Inc. Smart card system with ergonomic fingerprint sensor and method of using
US8005276B2 (en) * 2008-04-04 2011-08-23 Validity Sensors, Inc. Apparatus and method for reducing parasitic capacitive coupling and noise in fingerprint sensing circuits
US8116540B2 (en) 2008-04-04 2012-02-14 Validity Sensors, Inc. Apparatus and method for reducing noise in fingerprint sensing circuits
DE112009001794T5 (en) 2008-07-22 2012-01-26 Validity Sensors, Inc. System, apparatus and method for securing a device component
JP5531458B2 (en) 2008-08-01 2014-06-25 株式会社リコー Speed detection device and multicolor image forming apparatus
US8391568B2 (en) * 2008-11-10 2013-03-05 Validity Sensors, Inc. System and method for improved scanning of fingerprint edges
US8278946B2 (en) 2009-01-15 2012-10-02 Validity Sensors, Inc. Apparatus and method for detecting finger activity on a fingerprint sensor
US8600122B2 (en) 2009-01-15 2013-12-03 Validity Sensors, Inc. Apparatus and method for culling substantially redundant data in fingerprint sensing circuits
US8374407B2 (en) 2009-01-28 2013-02-12 Validity Sensors, Inc. Live finger detection
US9274553B2 (en) 2009-10-30 2016-03-01 Synaptics Incorporated Fingerprint sensor and integratable electronic display
US9400911B2 (en) 2009-10-30 2016-07-26 Synaptics Incorporated Fingerprint sensor and integratable electronic display
US9336428B2 (en) 2009-10-30 2016-05-10 Synaptics Incorporated Integrated fingerprint sensor and display
US8866347B2 (en) 2010-01-15 2014-10-21 Idex Asa Biometric image sensing
US8421890B2 (en) 2010-01-15 2013-04-16 Picofield Technologies, Inc. Electronic imager using an impedance sensor grid array and method of making
US8791792B2 (en) 2010-01-15 2014-07-29 Idex Asa Electronic imager using an impedance sensor grid array mounted on or about a switch and method of making
US9666635B2 (en) 2010-02-19 2017-05-30 Synaptics Incorporated Fingerprint sensing circuit
US8716613B2 (en) * 2010-03-02 2014-05-06 Synaptics Incoporated Apparatus and method for electrostatic discharge protection
US9001040B2 (en) 2010-06-02 2015-04-07 Synaptics Incorporated Integrated fingerprint sensor and navigation device
US8842827B2 (en) 2010-07-16 2014-09-23 Intryca, Inc. Mobile phone aided operations system and method
US8694687B2 (en) 2010-07-16 2014-04-08 Intryca, Inc. Computing-system identifier using software extraction of manufacturing variability
US8331096B2 (en) 2010-08-20 2012-12-11 Validity Sensors, Inc. Fingerprint acquisition expansion card apparatus
US8538097B2 (en) 2011-01-26 2013-09-17 Validity Sensors, Inc. User input utilizing dual line scanner apparatus and method
US8594393B2 (en) 2011-01-26 2013-11-26 Validity Sensors System for and method of image reconstruction with dual line scanner using line counts
GB2489100A (en) 2011-03-16 2012-09-19 Validity Sensors Inc Wafer-level packaging for a fingerprint sensor
US10043052B2 (en) 2011-10-27 2018-08-07 Synaptics Incorporated Electronic device packages and methods
US9195877B2 (en) 2011-12-23 2015-11-24 Synaptics Incorporated Methods and devices for capacitive image sensing
US9785299B2 (en) 2012-01-03 2017-10-10 Synaptics Incorporated Structures and manufacturing methods for glass covered electronic devices
US8525549B1 (en) 2012-02-23 2013-09-03 International Business Machines Corporation Physical unclonable function cell and array
US9331012B2 (en) 2012-03-08 2016-05-03 International Business Machines Corporation Method for fabricating a physical unclonable interconnect function array
US9268991B2 (en) 2012-03-27 2016-02-23 Synaptics Incorporated Method of and system for enrolling and matching biometric data
US9137438B2 (en) 2012-03-27 2015-09-15 Synaptics Incorporated Biometric object sensor and method
US9251329B2 (en) 2012-03-27 2016-02-02 Synaptics Incorporated Button depress wakeup and wakeup strategy
US9600709B2 (en) 2012-03-28 2017-03-21 Synaptics Incorporated Methods and systems for enrolling biometric data
US9152838B2 (en) 2012-03-29 2015-10-06 Synaptics Incorporated Fingerprint sensor packagings and methods
EP2836960B1 (en) 2012-04-10 2018-09-26 Idex Asa Biometric sensing
EP2693685B1 (en) 2012-07-30 2017-09-06 Universiteit Twente Quantum secure device, system and method for verifying challenge-response pairs using a physically unclonable function (PUF)
US8941405B2 (en) 2012-08-03 2015-01-27 International Business Machines Corporation FET pair based physically unclonable function (PUF) circuit with a constant common mode voltage
US9279856B2 (en) * 2012-10-22 2016-03-08 Infineon Technologies Ag Die, chip, method for driving a die or a chip and method for manufacturing a die or a chip
US9665762B2 (en) 2013-01-11 2017-05-30 Synaptics Incorporated Tiered wakeup strategy
US9189654B2 (en) 2013-12-04 2015-11-17 International Business Machines Corporation On-chip structure for security application
US9166588B2 (en) 2014-01-20 2015-10-20 Globalfoundires Inc. Semiconductor device including enhanced variability
USD776664S1 (en) * 2015-05-20 2017-01-17 Chaya Coleena Hendrick Smart card
WO2017079704A1 (en) * 2015-11-05 2017-05-11 Arizona Board Of Regents Acting For And On Behalf Of Northern Arizona University Nanomaterial physically unclonable function systems and related methods
CN105515779A (en) * 2015-12-31 2016-04-20 中国工程物理研究院电子工程研究所 Quantum security authentication system based on optical PUF
DE102017115658A1 (en) * 2017-07-12 2019-01-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Flickering at angle-variable illumination
GR20170100352A (en) 2017-07-26 2019-04-04 Eulambia Advanced Technologies Μον. Επε Optical physical unclonable function based on a multimodal waveguide
US11889001B2 (en) * 2019-03-19 2024-01-30 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Optical interferometric-based physically unclonable function device
GR20210100723A (en) 2021-10-21 2023-05-10 Eulambia Advanced Technologies Μονοπροσωπη Επε, Authentication system and method for authentication

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6891951B2 (en) * 2000-01-21 2005-05-10 Victor Company Of Japan, Ltd. Cryptosystem-related method and apparatus
JP2002049293A (en) * 2000-07-31 2002-02-15 Art Nau:Kk Method for forming hologram
US6918538B2 (en) * 2002-12-18 2005-07-19 Symbol Technologies, Inc. Image scanning device having a system for determining distance to a target

Also Published As

Publication number Publication date
WO2005059629A1 (en) 2005-06-30
US7432485B2 (en) 2008-10-07
CN1890595A (en) 2007-01-03
EP1695136A1 (en) 2006-08-30
JP2007519944A (en) 2007-07-19
CN100449354C (en) 2009-01-07
TW200535456A (en) 2005-11-01
US20070090312A1 (en) 2007-04-26
KR20060123278A (en) 2006-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4448139B2 (en) Method and apparatus for detection of physically uncloned functions based on speckle
WO2017179243A1 (en) Device for capturing image of object to be inspected, method for capturing image of object to be inspected, surface inspecting device and surface inspecting method
JP2008511037A (en) Optical identification element position and orientation detection
CN101288105A (en) Method and system for object reconstruction
JP7190354B2 (en) A method for identifying and/or checking the integrity of a subject
US20200150266A1 (en) Synthetic Apertures for Long-Range, Sub-Diffraction Limited Visible Imaging Using Fourier Ptychography
JP2010025927A (en) Device and method for finding 3d shape of object
CN109344942B (en) Optical speckle PUF system for anti-counterfeit label
EP3139307B1 (en) Method for characterising a material by speckle analysis
Wang et al. Authentication of optical physical unclonable functions based on single-pixel detection
EP3388976A1 (en) Method for detecting fraud
US20050073682A1 (en) Systems and methods for modeling the impact of a medium on the appearances of encompassed light sources
FR3078793A1 (en) METHOD OF AUTHENTICATING A FACE BASED ON REFLECTANCE
EP3073441B1 (en) Method for correcting an image of at least one object presented remotely to an imager and illuminated by an illumination system and camera system for carrying out said method
EP1269423B1 (en) Apparatus for counting people or objects
Packard et al. Measuring the detector-observed impact of optical blurring due to aerosols in a laboratory cloud chamber
US20190005758A1 (en) Object and system for duplication prevention using random media, and duplication prevention method using same
Jenkin Comparison of detectability index and contrast detection probability
US11853408B2 (en) Authentication of a physical credential
Graft On reconciling quantum mechanics and local realism
Zhang et al. Event-Driven Imaging in Turbid Media: A Confluence of Optoelectronics and Neuromorphic Computation
Wynne et al. Enhanced optical alignment of a digital micro mirror device through Bayesian adaptive exploration
Lucat et al. Diffraction Prediction in HDR measurements
Prabhakaran et al. Robust 3D Surveillance
Paliska et al. An attempt to attain new information in reconstruction of road traffic accidents applying digital image processing

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100112

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100121

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees