JP4433722B2 - Pattern forming method and wiring pattern forming method - Google Patents

Pattern forming method and wiring pattern forming method Download PDF

Info

Publication number
JP4433722B2
JP4433722B2 JP2003292469A JP2003292469A JP4433722B2 JP 4433722 B2 JP4433722 B2 JP 4433722B2 JP 2003292469 A JP2003292469 A JP 2003292469A JP 2003292469 A JP2003292469 A JP 2003292469A JP 4433722 B2 JP4433722 B2 JP 4433722B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
light
base material
irradiated
sublimable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003292469A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005058911A (en
Inventor
直之 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003292469A priority Critical patent/JP4433722B2/en
Priority to US10/898,344 priority patent/US7172912B2/en
Priority to TW093123499A priority patent/TWI242104B/en
Priority to CNB2004100560669A priority patent/CN100421532C/en
Priority to KR1020040063269A priority patent/KR100608122B1/en
Publication of JP2005058911A publication Critical patent/JP2005058911A/en
Priority to US11/519,762 priority patent/US20070010038A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4433722B2 publication Critical patent/JP4433722B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/20Deposition of semiconductor materials on a substrate, e.g. epitaxial growth solid phase epitaxy
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M5/00Duplicating or marking methods; Sheet materials for use therein
    • B41M5/24Ablative recording, e.g. by burning marks; Spark recording
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M2205/00Printing methods or features related to printing methods; Location or type of the layers
    • B41M2205/38Intermediate layers; Layers between substrate and imaging layer
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M5/00Duplicating or marking methods; Sheet materials for use therein
    • B41M5/26Thermography ; Marking by high energetic means, e.g. laser otherwise than by burning, and characterised by the material used
    • B41M5/40Thermography ; Marking by high energetic means, e.g. laser otherwise than by burning, and characterised by the material used characterised by the base backcoat, intermediate, or covering layers, e.g. for thermal transfer dye-donor or dye-receiver sheets; Heat, radiation filtering or absorbing means or layers; combined with other image registration layers or compositions; Special originals for reproduction by thermography
    • B41M5/46Thermography ; Marking by high energetic means, e.g. laser otherwise than by burning, and characterised by the material used characterised by the base backcoat, intermediate, or covering layers, e.g. for thermal transfer dye-donor or dye-receiver sheets; Heat, radiation filtering or absorbing means or layers; combined with other image registration layers or compositions; Special originals for reproduction by thermography characterised by the light-to-heat converting means; characterised by the heat or radiation filtering or absorbing means or layers

Description

本発明は、基材上に薄膜パターンを形成するパターンの形成方法、及びその薄膜パターンを使った配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器に関するものである。   The present invention relates to a pattern forming method for forming a thin film pattern on a substrate, a wiring pattern forming method using the thin film pattern, an electro-optical device, and an electronic apparatus.

従来より、半導体集積回路等の微細な配線パターンを有するデバイスの製造方法としてフォトリソグラフィ法が多用されているが、液滴吐出法(インクジェット法)を用いたデバイスの製造方法が注目されている。液滴吐出法を用いて微細な配線パターンを形成する場合、パターン線幅の精度を出すため、基材上に撥液領域と親液領域とを予めパターニングしておき、液滴を親液領域に選択的に配置する方法が提案されている。下記特許文献1には、化学気相蒸着法により基板上に設けた単分子膜をパターニングする技術が開示されている。
特開2000−282240号公報
Conventionally, a photolithography method has been widely used as a method for manufacturing a device having a fine wiring pattern such as a semiconductor integrated circuit, but a device manufacturing method using a droplet discharge method (inkjet method) has attracted attention. When forming a fine wiring pattern using the droplet discharge method, the liquid repellent region and the lyophilic region are patterned in advance on the base material in order to increase the accuracy of the pattern line width, and the droplets are lyophilic region. There has been proposed a method of selectively arranging the above. Patent Document 1 listed below discloses a technique for patterning a monomolecular film provided on a substrate by chemical vapor deposition.
JP 2000-282240 A

ところで、上記従来技術には以下に述べる問題が存在する。上記特許文献1に開示されている技術は、短波長の紫外線や電子ビームを照射して単分子膜を基板上から除去することによりパターニングする構成である。これは、パターニングする単分子膜の吸収帯が短波長に存在するためであり、吸収帯を持たない長波長の赤外線等では、どんなに高エネルギーの光を照射してもパターニングすることは困難である。このため、単分子膜等の有機薄膜のパターニングには、真空下での紫外線照射や電子線等の高価で大掛かりな装置を必要とした。   By the way, the above-described prior art has the following problems. The technique disclosed in Patent Document 1 has a configuration in which patterning is performed by removing a monomolecular film from a substrate by irradiating ultraviolet rays or an electron beam with a short wavelength. This is because the absorption band of the monomolecular film to be patterned exists at a short wavelength, and it is difficult to perform patterning no matter how high energy light is irradiated with long-wavelength infrared light that does not have an absorption band. . For this reason, patterning of an organic thin film such as a monomolecular film requires an expensive and large-scale apparatus such as ultraviolet irradiation under vacuum or an electron beam.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、簡易で低コストな手法により、薄膜を高精度にパターニングできるパターンの形成方法を提供することを目的とする。更に、その薄膜を使って配線パターンを形成する配線パターンの形成方法、その配線パターンを有する電気光学装置及び電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a pattern forming method capable of patterning a thin film with high accuracy by a simple and low-cost technique. It is another object of the present invention to provide a wiring pattern forming method for forming a wiring pattern using the thin film, an electro-optical device and an electronic apparatus having the wiring pattern.

本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記薄膜は光開始剤を有するモノマーを含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記基材に、前記昇華性材料が混在されていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、
前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記薄膜及び前記基材の少なくとも1つの光透過率に基づいて、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側及び前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側のどちらかから前記光を照射するかを決定することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、昇華性材料及び光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む基材の一方の面側に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記昇華性材料は、前記基材の表面側又は裏面側に、前記基材及び前記薄膜とは独立した昇華性色素層として形成されており、前記光熱変換材料を含む光熱変換層が、前記基材、前記薄膜及び前記昇華性色素層とは独立して設けられており、前記光熱変換層は、前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側に設けられていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記薄膜は光開始剤を有するモノマーを含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射することを特徴とすることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、前記薄膜及び前記基材の少なくとも1つの光透過率に基づいて、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側及び前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側のどちらかから前記光を照射するかを決定することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記昇華性材料は昇華性色素を含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記薄膜は有機薄膜を含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記薄膜は単分子膜を含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記薄膜は光開始剤を有するモノマーを含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記昇華性材料は、前記基材の表面側又は裏面側に、前記基材及び前記薄膜とは独立した昇華性色素層として形成されることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記昇華性色素層は、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側に設けられていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記昇華性色素層は、前記薄膜と隣接して設けられていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記昇華性色素層は、前記基材と前記薄膜との間に設けられていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記基材に、前記昇華性材料が混在されていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記基材は、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含むことを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記基材は、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含み、前記昇華性色素層に、前記光熱変換材料が混在されていることを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側から前記光を照射することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、前記光は、前記昇華性材料及び前記光熱変換材料の少なくとも一方に応じた波長を有することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係る配線パターンの形成方法は、請求項1〜請求項22のいずれか一項に記載の形成方法により形成された薄膜パターンを有する前記基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置することにより配線パターンを形成することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係る配線パターンの形成方法は、昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する位置の前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングする工程と、パターニングされた前記薄膜を有する前記基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置することにより配線パターンを形成する工程と、を有することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係る配線パターンの形成方法は、ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する位置の前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングする工程と、パターニングされた前記薄膜を有する前記基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置することにより配線パターンを形成する工程と、を有することを特徴とする。
また、本発明の一実施形態に係るパターンの形成方法は、昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングすることを特徴とする。ここで、前記昇華性材料は昇華性色素を含む。前記薄膜は有機薄膜、単分子膜、及び光開始剤を含むモノマーを含む。本発明によれば、基材上又は基材の中に昇華性材料を設けることにより、照射された光によって所望領域の昇華性材料が熱せられ、その昇華性材料の昇華により所望領域の薄膜を気化又は分解することができ、薄膜をパターニングすることができる。したがって、薄膜が直接吸収帯を持たない波長の光であっても、昇華性材料あるいは光熱変換材料の持つ吸収帯でのパターニングが可能となり、簡便にかつ高い解像度で薄膜をパターニングすることができる。すなわち、本発明によれば、使用する光照射装置の選択の幅が広がり、高価で大掛かりな光照射装置を用いなくても、基材上より薄膜を良好に除去して高精度にパターニングすることができる。
In the pattern forming method according to an embodiment of the present invention, a thin film is provided on a base material including a sublimable material, the base material is irradiated with light, and the heat in the desired region is irradiated with the light. A method of forming a pattern by sublimating a sublimable material to pattern the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region irradiated with the light, wherein the thin film contains a monomer having a photoinitiator. It is characterized by including.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a sublimable material, irradiating the base material with light, and generating a desired region by heat generated by the light irradiation. The sublimation material is sublimated to remove the thin film corresponding to the irradiation region irradiated with the light, thereby patterning the thin film. It is characterized by a mixture of materials.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a sublimable material, irradiating the base material with light, and generating a desired region by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region irradiated with the light by sublimating the sublimable material of
The light is irradiated from the other surface side of the base material on which the thin film is not provided.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a sublimable material, irradiating the base material with light, and generating a desired region by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiation region irradiated with the light by sublimating the sublimable material, wherein at least the thin film and the substrate Based on one light transmittance, whether to irradiate the light from one surface side of the base material where the thin film is provided or from the other surface side where the thin film of the base material is not provided It is characterized by determining.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes a sublimation material and a thin film provided on one surface side of a base material including a photothermal conversion material that converts light energy into heat energy. The thin film is patterned by removing the thin film corresponding to the irradiated region irradiated with light by sublimating the sublimable material in a desired region by heat generated by the light irradiation. A method for forming a pattern, wherein the sublimable material is formed as a sublimable dye layer independent of the base material and the thin film on the front surface side or the back surface side of the base material, and the photothermal conversion material is The photothermal conversion layer is provided independently of the substrate, the thin film, and the sublimable dye layer, and the photothermal conversion layer is on the other surface side of the substrate where the thin film is not provided. Provided It is characterized in.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a gas generating material, irradiating the base material with light, and applying the light to the gas in a desired region. A method of forming a pattern in which a gas is generated from a generating material to remove the thin film corresponding to an irradiation region irradiated with the light, thereby patterning the thin film, wherein the thin film has a photoinitiator. It is characterized by including.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a gas generating material, irradiating the base material with light, and applying the light to the gas in a desired region. A method of forming a pattern for patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region irradiated with the light by generating a gas from the generated material, wherein the thin film of the substrate is provided It is characterized by irradiating the said light from the other surface side which is not.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a gas generating material, irradiating the base material with light, and applying the light to the gas in a desired region. A method of forming a pattern for patterning a thin film by removing the thin film corresponding to an irradiation region irradiated with the light by generating a gas from the generated material, wherein the thin film and at least one of the base material Based on one light transmittance, it is determined whether to irradiate the light from one surface side of the base material where the thin film is provided or from the other surface side of the base material where the thin film is not provided It is characterized by doing.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the sublimable material includes a sublimable dye.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the thin film includes an organic thin film.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the thin film includes a monomolecular film.
In the pattern forming method according to an embodiment of the present invention, the thin film contains a monomer having a photoinitiator.
In the pattern forming method according to an embodiment of the present invention, the sublimable material is formed as a sublimable dye layer independent of the base material and the thin film on the front surface side or the back surface side of the base material. It is characterized by that.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the sublimable dye layer is provided on one surface side of the substrate on which the thin film is provided.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the sublimable dye layer is provided adjacent to the thin film.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the sublimable dye layer is provided between the substrate and the thin film.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the sublimation material is mixed in the base material.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the base material includes a photothermal conversion material that converts light energy into heat energy.
In the pattern forming method according to an embodiment of the present invention, the base material includes a photothermal conversion material that converts light energy into heat energy, and the photothermal conversion material is mixed in the sublimable dye layer. It is characterized by being.
Moreover, the pattern formation method which concerns on one Embodiment of this invention irradiates the said light from the one surface side in which the said thin film of the said base material was provided.
Moreover, the pattern formation method which concerns on one Embodiment of this invention irradiates the said light from the other surface side in which the said thin film of the said base material is not provided.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention is characterized in that the light has a wavelength corresponding to at least one of the sublimation material and the photothermal conversion material.
Moreover, the formation method of the wiring pattern which concerns on one Embodiment of this invention is a wiring pattern on the said base material which has the thin film pattern formed by the formation method as described in any one of Claims 1-22. A wiring pattern is formed by disposing droplets containing a forming material.
Also, the wiring pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a sublimable material, irradiating the base material with light, and applying heat generated by the light irradiation. Patterning the thin film by removing the thin film at a position corresponding to the irradiated region irradiated with the light by sublimating the sublimable material in the region, and the substrate having the patterned thin film And a step of forming a wiring pattern by disposing a droplet containing a wiring pattern forming material.
The wiring pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a gas generating material, irradiating the base material with light, and irradiating the light with the light in the desired region. A step of patterning the thin film by generating a gas from a gas generating material to remove the thin film at a position corresponding to the irradiation region irradiated with the light; and on the substrate having the patterned thin film. And forming a wiring pattern by disposing a droplet containing a wiring pattern forming material.
The pattern forming method according to an embodiment of the present invention includes providing a thin film on a base material including a sublimable material, irradiating the base material with light, and generating a desired region by heat generated by the light irradiation. By sublimating the sublimable material, the thin film corresponding to the irradiation region irradiated with the light is removed to pattern the thin film. Here, the sublimable material includes a sublimable dye. The thin film includes an organic thin film, a monomolecular film, and a monomer including a photoinitiator. According to the present invention, by providing a sublimable material on or in the substrate, the sublimable material in the desired region is heated by the irradiated light, and the thin film in the desired region is formed by sublimation of the sublimable material. It can be vaporized or decomposed and the thin film can be patterned. Therefore, even if the light has a wavelength that does not have a direct absorption band, patterning can be performed in the absorption band of the sublimation material or the photothermal conversion material, and the thin film can be patterned easily and with high resolution. That is, according to the present invention, the range of selection of the light irradiation device to be used is widened, and the thin film can be satisfactorily removed from the substrate and patterned with high accuracy without using an expensive and large-scale light irradiation device. Can do.

また、本発明のパターンの形成方法は、ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングすることを特徴とする。本発明によれば、基材上又は基材の中にガス発生材料を設けることにより、照射された光によって所望領域からガスを発生させ、そのガスの発生により所望領域の薄膜を基材上から除去することができ、薄膜をパターニングすることができる。したがって、薄膜が直接吸収帯を持たない波長の光であっても、昇華性材料あるいは光熱変換材料の持つ吸収帯でのパターニングが可能となり、簡便にかつ高い解像度で薄膜をパターニングすることができる。すなわち、本発明によれば、使用する光照射装置の選択の幅が広がり、真空化での紫外線照射や電子線等の高価で大掛かりな光照射装置を用いなくても、基材上より薄膜を良好に除去して高精度にパターニングすることができる。   In the pattern forming method of the present invention, a thin film is provided on a base material containing a gas generating material, the base material is irradiated with light, and gas is emitted from the gas generating material in a desired region by the light irradiation. The thin film is patterned by removing the thin film corresponding to the irradiation region irradiated with the light. According to the present invention, by providing a gas generating material on or in the base material, a gas is generated from the desired region by the irradiated light, and the thin film in the desired region is generated from the base material by the generation of the gas. It can be removed and the thin film can be patterned. Therefore, even if the light has a wavelength that does not have a direct absorption band, patterning can be performed in the absorption band of the sublimation material or the photothermal conversion material, and the thin film can be patterned easily and with high resolution. That is, according to the present invention, the range of selection of the light irradiation device to be used is widened, and a thin film can be formed on the substrate without using an expensive and large light irradiation device such as ultraviolet irradiation or electron beam in vacuum. It can be satisfactorily removed and patterned with high accuracy.

本発明のパターンの形成方法において、前記昇華性材料は、前記基材の表面側又は裏面側に、前記基材及び前記薄膜とは独立した昇華性色素層として形成してもよい。また、前記昇華性色素層は、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側に設けられている構成を採用することも可能であるし、前記昇華性色素層は、前記薄膜と隣接して設けられている構成を採用することも可能である。また、前記昇華性色素層が前記基材と前記薄膜との間に設けられている構成を採用することも可能であるし、前記基材に前記昇華性材料が混在されている構成を採用することも可能である。いずれの構成であっても、照射した光の光エネルギーによって昇華性材料を昇華させ、この昇華により所望領域の薄膜を気化又は分解することができる。ここで、昇華性色素層と薄膜とを隣接して設けることにより、昇華領域と薄膜を気化又は分解領域とを高精度に一致させることができ、より高い解像度で薄膜をパターニングすることができる。   In the pattern forming method of the present invention, the sublimable material may be formed as a sublimable dye layer independent of the base material and the thin film on the front surface side or the back surface side of the base material. Further, the sublimable dye layer may adopt a configuration provided on one surface side of the substrate on which the thin film is provided, and the sublimable dye layer is adjacent to the thin film. It is also possible to adopt a configuration provided as an example. It is also possible to adopt a configuration in which the sublimable dye layer is provided between the base material and the thin film, or a configuration in which the sublimable material is mixed in the base material. It is also possible. In any configuration, the sublimable material can be sublimated by the light energy of the irradiated light, and the thin film in a desired region can be vaporized or decomposed by this sublimation. Here, by providing the sublimable dye layer and the thin film adjacent to each other, the sublimation region and the thin film can be vaporized or decomposed with high precision, and the thin film can be patterned with higher resolution.

本発明のパターンの形成方法において、前記基材が光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含むことが好ましい。このようにすると、基材の所望領域に光を照射することにより、その光の光エネルギーを光熱変換材料が効率よく熱エネルギーに変換し、その熱エネルギーを所望領域の昇華性材料に供与することができる。そのため、電子ビームや紫外線などの高エネルギー源を用いなくても、昇華性材料を昇華させて薄膜を除去するための十分な熱エネルギーを簡便に得ることができる。したがって、本発明によれば、使用する光照射装置の選択の幅がさらに広がり、高価で大掛かりな光照射装置及びマスクを用いなくても、基材上より薄膜をさらに良好に除去してさらに高精度にパターニングすることができる。   In the pattern forming method of the present invention, it is preferable that the base material includes a photothermal conversion material that converts light energy into heat energy. In this way, by irradiating the desired region of the substrate with light, the photothermal conversion material efficiently converts the light energy of the light into thermal energy, and the thermal energy is provided to the sublimable material in the desired region. Can do. Therefore, sufficient thermal energy for sublimating the sublimable material and removing the thin film can be easily obtained without using a high energy source such as an electron beam or ultraviolet rays. Therefore, according to the present invention, the range of selection of the light irradiation device to be used is further expanded, and even without using an expensive and large-scale light irradiation device and a mask, the thin film can be removed more satisfactorily than on the base material and further increased. Patterning can be performed with high accuracy.

本発明のパターンの形成方法において、前記光熱変換材料を含む光熱変換層が、前記基材、前記薄膜及び前記昇華性色素層とは独立して設けられている構成を採用することも可能であるし、前記基材に前記光熱変換材料が混在されている構成を採用することも可能であり、いずれの構成であっても光の光エネルギーを熱エネルギーに変換し、その熱エネルギーを昇華性色素層に供与することができる。ここで、前記光熱変換層と前記昇華性色素層とは隣接して設けられていることが好ましい。このようにすると、光の照射による熱の発生部位と昇華性色素層とを密着させることができ、熱エネルギーを効率よく昇華性色素層に供与できるとともに、高精度に昇華性色素層の所望領域を昇華させることができる。   In the pattern forming method of the present invention, it is also possible to adopt a configuration in which the photothermal conversion layer containing the photothermal conversion material is provided independently of the base material, the thin film and the sublimable dye layer. It is also possible to adopt a configuration in which the photothermal conversion material is mixed in the base material. In any configuration, the light energy of light is converted into heat energy, and the heat energy is sublimable dye. Can be donated to the layer. Here, the photothermal conversion layer and the sublimable dye layer are preferably provided adjacent to each other. In this way, the site where heat is generated by light irradiation and the sublimable dye layer can be brought into close contact with each other, heat energy can be efficiently supplied to the sublimable dye layer, and the desired region of the sublimable dye layer can be accurately provided. Can be sublimated.

本発明のパターンの形成方法において、光熱変換層を独立して設ける構成の場合、前記光熱変換層は、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側に設けられている構成を採用することも可能であるし、前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側に設けられている構成を採用することも可能である。また、前記光熱変換層が前記基材と前記薄膜との間に設けられている構成を採用することも可能である。したがって、本発明のパターンの形成方法は、前記基材の表面及び裏面の少なくとも一方に前記光熱変換層を形成し、前記光熱変換層の上面に前記昇華性色素層を形成し、前記昇華性色素層の上面に前記薄膜を形成し、その後、前記光の照射をする手順で実行することができる。このようにすると、光の照射により光熱変換層の所望領域に熱が発生し、その熱が昇華性色素層の所望領域に供与され、その昇華性色素層の所望領域が昇華し、その昇華により薄膜の所望領域が除去され、パターニングされる。ここで、薄膜は外部に対して開放状態(露出状態)となっているので、昇華により除去される薄膜を外部に円滑に放出することができる。   In the pattern forming method of the present invention, when the photothermal conversion layer is provided independently, the photothermal conversion layer adopts a configuration provided on one surface side of the base material on which the thin film is provided. It is also possible to adopt a configuration provided on the other side of the base material on which the thin film is not provided. It is also possible to adopt a configuration in which the photothermal conversion layer is provided between the base material and the thin film. Therefore, in the pattern forming method of the present invention, the photothermal conversion layer is formed on at least one of the front surface and the back surface of the substrate, the sublimable dye layer is formed on the upper surface of the photothermal conversion layer, and the sublimable dye is formed. The thin film can be formed on the upper surface of the layer, and then the light irradiation can be performed. In this way, heat is generated in a desired region of the photothermal conversion layer by light irradiation, and the heat is supplied to the desired region of the sublimable dye layer, and the desired region of the sublimable dye layer is sublimated, and the sublimation causes The desired area of the thin film is removed and patterned. Here, since the thin film is in an open state (exposed state) with respect to the outside, the thin film removed by sublimation can be smoothly discharged to the outside.

本発明のパターンの形成方法において、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側から前記光を照射すること手法を採用することもできるし、前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射する手法を採用することもできる。一方の面側から光を照射する場合、基材を介さないで昇華性色素層あるいは光熱変換層などに光を照射することができるので、例えば基材を介したことに起因する光の回折や散乱による光照射位置のぶれ等の発生を無くし、所望の位置に光を照射して所望のパターンで高精度に薄膜をパターニングすることができる。また、他方の面側から光を照射する場合、基材と薄膜との間に昇華性色素層(及び光熱変換層)を設けておくことにより、光が薄膜を介することなく基材を介して昇華性色素層(及び光熱変換層)に対して直接的に照射することができ、光エネルギーを熱エネルギーに効率良く変換し、その熱エネルギーを昇華性色素層に供与することができる。   In the pattern forming method of the present invention, a method of irradiating the light from one side of the base material on which the thin film is provided can be employed, and the thin film of the base material is not provided. A method of irradiating the light from the other surface side can also be adopted. When irradiating light from one surface side, it is possible to irradiate light to the sublimable dye layer or the photothermal conversion layer without passing through the base material. It is possible to eliminate the occurrence of fluctuations in the light irradiation position due to scattering, and to irradiate light at a desired position and pattern the thin film with a desired pattern with high accuracy. Moreover, when irradiating light from the other surface side, by providing a sublimable dye layer (and a photothermal conversion layer) between the base material and the thin film, light passes through the base material without passing through the thin film. It is possible to directly irradiate the sublimable dye layer (and the photothermal conversion layer), efficiently convert light energy into heat energy, and donate the heat energy to the sublimable dye layer.

本発明のパターンの形成方法において、前記薄膜、前記昇華性色素層、前記光熱変換層及び前記基材の少なくとも1つの光透過率に基づいて、前記一方の面側及び他方の面側のどちらかから前記光を照射するかを決定するようにしてもよい。例えば、基材の光透過率が非常に低い場合は前記一方の面側(基材の表面側)から光を照射し、基材の光透過率が高く薄膜の光透過率が低い場合は他方の面側(基材の裏面側)から光を照射するようにしてもよい。すなわち、例えば照射する光の波長に対して薄膜がその波長の光を吸収する材料の場合であって、薄膜の下層側に昇華性色素層及び光熱変換層が設けられた構成の場合、薄膜の上層側から薄膜に直接的に光を照射すると、その光が薄膜に吸収されて下層側の光熱変換層に達しない不都合が生じる可能性がある。そこで、そのような場合には、薄膜の下層側(基材の裏面側)から光を照射するように決定すればよい。
本発明のパターンの形成方法において、前記光熱変換材料を前記昇華性色素層に混在させるようにしてもよい。このようにすると、昇華性材料が昇華したときに光熱変換材料も一緒に昇華して、その光熱変換材料も基材上から除去することができる。
本発明のパターンの形成方法において、前記基材又は前記光熱変換層と前記昇華性色素層との間に、光照射又は加熱によりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層が設けられている構成を採用することができる。このようにすると、光照射のみにより、加熱のみにより、又は光照射と加熱と両方により、ガスを発生させて、薄膜をパターニングすることができる。
In the pattern forming method of the present invention, either the one surface side or the other surface side based on at least one light transmittance of the thin film, the sublimable dye layer, the photothermal conversion layer, and the substrate. It may be determined whether to irradiate the light. For example, when the light transmittance of the substrate is very low, light is irradiated from the one surface side (the surface side of the substrate), and when the light transmittance of the substrate is high and the light transmittance of the thin film is low, the other You may make it irradiate light from the surface side (back side of a base material). That is, for example, in the case where the thin film is a material that absorbs light of that wavelength with respect to the wavelength of the irradiated light and the sublimation dye layer and the photothermal conversion layer are provided on the lower layer side of the thin film, When the thin film is directly irradiated with light from the upper layer side, there is a possibility that the light is absorbed by the thin film and does not reach the photothermal conversion layer on the lower layer side. Therefore, in such a case, the light may be determined to be irradiated from the lower layer side (back surface side of the base material) of the thin film.
In the pattern forming method of the present invention, the photothermal conversion material may be mixed in the sublimable dye layer. If it does in this way, when a sublimable material sublimates, a photothermal conversion material will also sublime together and the photothermal conversion material can also be removed from a base material.
In the pattern forming method of the present invention, a gas generating layer containing a gas generating material that generates gas by light irradiation or heating is provided between the substrate or the photothermal conversion layer and the sublimable dye layer. A configuration can be employed. If it does in this way, gas can be generated only by light irradiation, only by heating, or by both light irradiation and heating, and a thin film can be patterned.

本発明のパターンの形成方法において、前記光は、レーザ光であり、前記昇華性材料及び前記光熱変換材料の少なくとも一方に応じた波長を有することが好ましい。これにより、昇華性材料又は光熱変換材料に照射した光エネルギーを効率良く熱エネルギーに変換できる。特に、光として赤外線レーザ光を用いることにより、比較的安価な装置構成とすることができる。また、前記光の照射においては、その光が前記昇華性色素層又は前記光熱変換層に焦点が合うように行うことが好ましい。このようにすれば、昇華性色素層又は光熱変換層の所望領域に対して、高精度にかつ高解像度に光エネルギーを供与でき、高解像度の薄膜パターンを簡便に形成することができる。   In the pattern forming method of the present invention, it is preferable that the light is laser light and has a wavelength corresponding to at least one of the sublimable material and the photothermal conversion material. Thereby, the light energy irradiated to the sublimable material or the photothermal conversion material can be efficiently converted into thermal energy. In particular, by using infrared laser light as light, a relatively inexpensive apparatus configuration can be obtained. Further, the light irradiation is preferably performed so that the light is focused on the sublimable dye layer or the photothermal conversion layer. In this way, light energy can be provided with high accuracy and high resolution to a desired region of the sublimable dye layer or the photothermal conversion layer, and a high resolution thin film pattern can be easily formed.

本発明の配線パターンの形成方法は、上記記載のパターンの形成方法により形成された薄膜パターンを有する前記基材上に配線パターンを形成することを特徴とする。更に、本発明の配線パターンの形成方法において、前記薄膜パターンが形成された基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置する工程を有することを特徴とする。本発明によれば、液滴吐出法に基づいて、消費する材料の無駄を抑えつつ、微細な配線パターンを良好に高い解像度で形成することができる。   The wiring pattern forming method of the present invention is characterized in that a wiring pattern is formed on the substrate having a thin film pattern formed by the above-described pattern forming method. Furthermore, in the method for forming a wiring pattern according to the present invention, the method further comprises a step of disposing droplets containing a wiring pattern forming material on the substrate on which the thin film pattern is formed. According to the present invention, it is possible to form a fine wiring pattern with good high resolution while suppressing waste of consumed material based on the droplet discharge method.

本発明の電気光学装置は、上記記載の配線パターンの形成方法により形成された配線パターンを有することを特徴とする。また、本発明の電子機器は、上記記載の電気光学装置を有することを特徴とする。本発明によれば、液滴吐出法に基づいて形成された微細な配線パターンを有し、所望の性能を発揮できる電気光学装置及びそれを有する電気機器を提供することができる。なお、電気光学装置としては、液晶表示装置、有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示装置、及びプラズマ表示装置等が挙げられる。   The electro-optical device of the present invention includes a wiring pattern formed by the above-described wiring pattern forming method. According to another aspect of the invention, there is provided an electronic apparatus including the electro-optical device described above. According to the present invention, it is possible to provide an electro-optical device having a fine wiring pattern formed based on a droplet discharge method and exhibiting desired performance and an electric apparatus having the same. Examples of the electro-optical device include a liquid crystal display device, an organic EL (electroluminescence) display device, and a plasma display device.

また、本発明に係るパターンの形成方法により形成された薄膜パターンを使って、カラーフィルタ、液晶表示装置、有機EL装置、プラズマ表示装置、マイクロレンズ、及びDNAチップ等のそれぞれの各構成要素を形成することも可能である。   In addition, each component such as a color filter, a liquid crystal display device, an organic EL device, a plasma display device, a microlens, and a DNA chip is formed using the thin film pattern formed by the pattern forming method according to the present invention. It is also possible to do.

上述した液滴吐出法は、吐出ヘッドを備えた液滴吐出装置を使って実現され、該液滴吐出装置はインクジェットヘッドを備えたインクジェット装置を含む。インクジェット装置のインクジェットヘッドは、インクジェット法により機能液を含む液状体材料の液滴を定量的に吐出可能であり、例えば1ドットあたり1〜300ナノグラムの液状体材料を定量的に断続して滴下可能な装置である。なお、液滴吐出装置としてはディスペンサー装置であってもよい。   The above-described droplet discharge method is realized by using a droplet discharge device including an discharge head, and the droplet discharge device includes an inkjet device including an inkjet head. The ink jet head of the ink jet apparatus can quantitatively eject liquid material material containing functional liquid by the ink jet method. For example, 1 to 300 nanogram of liquid material per dot can be quantitatively intermittently dropped. Device. The droplet discharge device may be a dispenser device.

液状体材料とは、液滴吐出装置の吐出ヘッドの吐出ノズルから吐出可能(滴下可能)な粘度を備えた媒体をいう。水性であると油性であると問わない。吐出ノズル等から吐出可能な流動性(粘度)を備えていれば十分で、固体物質が混入していても全体として流動体であればよい。また、液状体材料に含まれる材料は融点以上に加熱されて溶解されたものでも、溶媒中に微粒子として攪拌されたものでもよく、溶媒の他に染料や顔料その他の機能性材料を添加したものであってもよい。   The liquid material refers to a medium having a viscosity that can be discharged (dropped) from a discharge nozzle of a discharge head of a droplet discharge device. It does not matter if it is aqueous or oily. It is sufficient if it has fluidity (viscosity) that can be discharged from a discharge nozzle or the like. In addition, the material included in the liquid material may be heated to a melting point or higher and dissolved, or may be stirred as fine particles in a solvent, and a dye, pigment or other functional material added in addition to the solvent It may be.

また、上記機構液とは機能性材料を含む液状体材料であって、基材上に配置されることにより所定の機能を発揮するものである。機能性材料としては、カラーフィルタを含む液晶表示装置を形成するための液晶表示装置形成用材料、有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示装置を形成するための有機EL表示装置形成用材料、プラズマ表示装置を形成するためのプラズマ表示装置形成用材料、及び電力を流通する配線パターンを形成するための金属を含む配線パターン形成用材料などが挙げられる。   The mechanism liquid is a liquid material containing a functional material, and exhibits a predetermined function by being disposed on a base material. Examples of the functional material include a liquid crystal display device forming material for forming a liquid crystal display device including a color filter, an organic EL display device forming material for forming an organic EL (electroluminescence) display device, and a plasma display device. Examples thereof include a plasma display device forming material for forming and a wiring pattern forming material containing a metal for forming a wiring pattern for distributing power.

<薄膜パターンの形成方法>
以下、本発明のパターンの形成方法について図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の薄膜パターンの形成方法に用いられるパターン形成装置の一実施形態を示す概略構成図である。図1において、パターン形成装置10は、所定の波長を有するレーザ光束を射出するレーザ光源11と、処理対象である基材1を支持するステージ12とを備えている。基材1の上面には光熱変換層4が設けられ、その光熱変換層4の上層には昇華性色素層5が設けられ、その昇華性色素層5の上層には薄膜2が設けられている。この基材1(上面側の各層)の構成においては、光熱変換層4を省略して、基材1の上面に昇華性色素層5が設けられ、その昇華性色素層5の上層に薄膜2が設けられているものとすることも可能である。本実施形態では、レーザ光源11として近赤外半導体レーザ(波長830nm)が使用される。
<Method for forming thin film pattern>
Hereinafter, a pattern forming method of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a pattern forming apparatus used in the thin film pattern forming method of the present invention. In FIG. 1, a pattern forming apparatus 10 includes a laser light source 11 that emits a laser beam having a predetermined wavelength, and a stage 12 that supports a substrate 1 that is a processing target. A photothermal conversion layer 4 is provided on the upper surface of the substrate 1, a sublimation dye layer 5 is provided on the photothermal conversion layer 4, and a thin film 2 is provided on the sublimation dye layer 5. . In the configuration of the substrate 1 (each layer on the upper surface side), the photothermal conversion layer 4 is omitted, and a sublimable dye layer 5 is provided on the upper surface of the substrate 1, and the thin film 2 is formed on the sublimable dye layer 5. It is also possible to be provided. In the present embodiment, a near-infrared semiconductor laser (wavelength 830 nm) is used as the laser light source 11.

ここで、以下の説明において、水平面内における所定方向をX軸方向、水平面内においてX軸方向と直交する方向をY軸方向、X軸及びY軸のそれぞれに直交する方向(鉛直方向)をZ軸方向とする。   Here, in the following description, the predetermined direction in the horizontal plane is the X axis direction, the direction orthogonal to the X axis direction in the horizontal plane is the Y axis direction, and the direction (vertical direction) orthogonal to each of the X axis and Y axis is Z. Axial direction.

ステージ12は、基材1を支持した状態でX軸方向及びY軸方向に移動可能に設けられており、基材1はステージ12の移動により光源11から射出された光束に対して移動可能となっている。また、ステージ12はZ軸方向にも移動可能となっている。ここで、光源11とステージ12に支持された基材1との間には不図示の光学系が配置されている。基材1を支持したステージ12はZ軸方向に移動することにより、前記光学系の焦点に対する基材1の位置を調整可能となっている。そして、光源11より射出された光束は、ステージ12に支持されている基材1(光熱変換層4)を照射するようになっている。前記光学系の焦点は、光熱変換層4に位置するのが好ましい。光熱変換層4が上記のように省略されている場合は、前記光学系の焦点を昇華性色素層5に位置させるのが好ましい。
なお、ここでは基材1をXY方向に並進移動するステージ12に支持させているが、基材1を回転ドラムに保持させる場合は、例えば光源11の走査方向をX軸方向、回転ドラムの回転方向をY軸方向とする。
The stage 12 is provided to be movable in the X-axis direction and the Y-axis direction while supporting the base material 1, and the base material 1 is movable with respect to the light beam emitted from the light source 11 by the movement of the stage 12. It has become. The stage 12 is also movable in the Z-axis direction. Here, an optical system (not shown) is arranged between the light source 11 and the substrate 1 supported by the stage 12. The stage 12 that supports the substrate 1 moves in the Z-axis direction so that the position of the substrate 1 with respect to the focal point of the optical system can be adjusted. The light beam emitted from the light source 11 irradiates the substrate 1 (photothermal conversion layer 4) supported by the stage 12. The focal point of the optical system is preferably located in the photothermal conversion layer 4. When the photothermal conversion layer 4 is omitted as described above, the focal point of the optical system is preferably positioned on the sublimable dye layer 5.
Here, the base material 1 is supported by the stage 12 that translates in the XY directions. However, when the base material 1 is held by the rotating drum, for example, the scanning direction of the light source 11 is the X-axis direction, and the rotating drum is rotated. The direction is the Y-axis direction.

基材1としては、例えばガラス基板や透明性高分子等を用いることができる。透明性高分子としては、ポリエチレンテレフタレートのようなポリエステル、ポリアクリル、ポリエポキシ、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリサルホン等が挙げられる。透明性高分子により基材1を形成した場合、その厚さは10〜500μmであることが好ましい。こうすることにより、例えば、基材1を帯状に形成してロール状に巻くことができ、回転ドラム等に保持させつつ搬送(移動)することもできる。   As the substrate 1, for example, a glass substrate or a transparent polymer can be used. Examples of the transparent polymer include polyester such as polyethylene terephthalate, polyacryl, polyepoxy, polyethylene, polystyrene, polycarbonate, and polysulfone. When the base material 1 is formed of a transparent polymer, the thickness is preferably 10 to 500 μm. By doing so, for example, the base material 1 can be formed in a band shape and wound in a roll shape, and can also be conveyed (moved) while being held on a rotating drum or the like.

光熱変換層4は、基材1、昇華性色素層5及び薄膜2とは独立して設けられており、本実施形態においては、基材1の薄膜2が設けられた表面側、具体的には、基材1と昇華性色素層5との間に設けられている。光熱変換層4は、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む層である。光熱変換層4を構成する光熱変換材料としては公知のものを使用することができ、レーザ光を効率よく熱に変換できる材料であれば特に限定されないが、例えば、アルミニウム、その酸化物及び/又はその硫化物よりなる金属層や、カーボンブラック、黒鉛又は赤外線吸収色素等が添加された高分子よりなる有機層等が挙げられる。赤外線吸収色素としては、アントラキノン系、ジチオールニッケル錯体系、シアニン系、アゾコバルト錯体系、ジインモニウム系、スクワリリウム系、フタロシアニン系、ナフタロシアニン系等が挙げられる。また、エポキシ樹脂等の合成樹脂をバインダとし、そのバインダ樹脂に前記光熱変換材料を溶解又は分散して基材1上に設けるようにしてもよい。また、バインダに溶解又は分散せずに、前記光熱変換材料を基材1上に設けることももちろん可能である。   The photothermal conversion layer 4 is provided independently of the substrate 1, the sublimable dye layer 5 and the thin film 2. In the present embodiment, the surface side of the substrate 1 on which the thin film 2 is provided, specifically, Is provided between the substrate 1 and the sublimable dye layer 5. The photothermal conversion layer 4 is a layer containing a photothermal conversion material that converts light energy into heat energy. As the photothermal conversion material constituting the photothermal conversion layer 4, a known material can be used, and is not particularly limited as long as it is a material that can efficiently convert laser light into heat. For example, aluminum, its oxide, and / or Examples thereof include a metal layer made of sulfide, and an organic layer made of a polymer to which carbon black, graphite, infrared absorbing dye or the like is added. Examples of the infrared absorbing dye include anthraquinone series, dithiol nickel complex series, cyanine series, azocobalt complex series, diimmonium series, squarilium series, phthalocyanine series, and naphthalocyanine series. Alternatively, a synthetic resin such as an epoxy resin may be used as a binder, and the photothermal conversion material may be dissolved or dispersed in the binder resin and provided on the substrate 1. It is of course possible to provide the photothermal conversion material on the substrate 1 without dissolving or dispersing in the binder.

光熱変換層4として前記金属層を用いる場合には、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、又はスパッタリングを利用して基材1上に形成することができる。光熱変換層4として前記有機層を用いる場合には、一般的なフィルムコーティング方法、例えば、押出コーティング方法、スピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、リバースロールコーティング方法、ロッドコーティング方法、マイクログラビアコーティング方法、ナイフコーティング方法などにより基材1上に形成することができる。   When the metal layer is used as the photothermal conversion layer 4, it can be formed on the substrate 1 using a vacuum vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, or sputtering. When the organic layer is used as the photothermal conversion layer 4, a general film coating method, for example, an extrusion coating method, a spin coating method, a gravure coating method, a reverse roll coating method, a rod coating method, a micro gravure coating method, a knife It can be formed on the substrate 1 by a coating method or the like.

昇華性色素層5は、基材1、光熱変換層4及び薄膜2とは独立して設けられている。そして、本実施形態において昇華性色素層5は、基材1の薄膜2が設けられた表面側、具体的には、光熱変換層4と薄膜2との間に設けられている。昇華性色素層5を構成する昇華性色素は、加熱されると昇華し、色素を気化させて放出する性質を有する。この性質を利用した昇華転写方式は従来より画像プリント装置などとして用いられている。また、最近、昇華性色素は、デジタルカメラからの画像打ち出し方法に最適なプリント方式として注目されている。この昇華性色素を用いた記録方式の基になったものは、繊維の染色法の1つである昇華捺印(色素を高温で気化させて染色する方法)である。その昇華捺印に利用されていた分散染料と呼ばれる色材をヒントとして、色相、感度(昇華性)、バインダー樹脂への溶解性などを改良したものが使用されている。   The sublimable dye layer 5 is provided independently of the substrate 1, the photothermal conversion layer 4 and the thin film 2. In this embodiment, the sublimable dye layer 5 is provided on the surface side of the substrate 1 on which the thin film 2 is provided, specifically, between the photothermal conversion layer 4 and the thin film 2. The sublimable dye constituting the sublimable dye layer 5 has a property of sublimating when heated and vaporizing and releasing the dye. A sublimation transfer system utilizing this property has been used as an image printing apparatus or the like. Recently, sublimable dyes have attracted attention as an optimal printing method for image launching from a digital camera. The basis of the recording system using this sublimable dye is sublimation printing (a method of dyeing by evaporating the dye at a high temperature), which is one of the dyeing methods of fibers. With a color material called a disperse dye used for the sublimation printing as a hint, those having improved hue, sensitivity (sublimation), solubility in a binder resin, and the like are used.

次に、昇華性色素層5を構成する昇華性色素の例について、昇華記録用三原色の例を挙げる。イエロー(Y)としては、ピリドンアゾ系、ジシアノスチリル系、キノフタロン系の材料が用いられる。マゼンダ(M)としては、アントラキノン系、トリシアノスチリル系、ベンゼンアゾ系の材料が用いられる。シアン(C)としては、アントラキノン系、インドフェノール系、インドナフトール系の材料が用いられる。
昇華性色素層5の所望領域を加熱して昇華させると、その昇華とともに、その所望領域に対応する部位の薄膜2を物理的に気化又は分解することができる。
Next, as an example of the sublimable dye constituting the sublimable dye layer 5, examples of the three primary colors for sublimation recording will be given. As yellow (Y), pyridoneazo, dicyanostyryl, and quinophthalone materials are used. As magenta (M), anthraquinone-based, tricyanostyryl-based, and benzeneazo-based materials are used. As cyan (C), anthraquinone-based, indophenol-based, and indonaphthol-based materials are used.
When a desired region of the sublimable dye layer 5 is heated and sublimated, the thin film 2 at a portion corresponding to the desired region can be physically vaporized or decomposed together with the sublimation.

基材1の上面に光熱変換層4が設けられ、その光熱変換層4の上層に昇華性色素層5が設けられている材料としては、例えば、レーザ熱転写プリンタ用フィルム(Imation製)がある。このレーザ熱転写プリンタ用フィルムはポリエチレンテレフタレート(PET)の中に光熱変換層を有し、その上に昇華性色素が塗布されている構成と解される。また、このレーザ熱転写プリンタ用フィルムについては、大気圧プラズマを10[mm/s]で処理して表面改質することが好ましい。   An example of a material in which the photothermal conversion layer 4 is provided on the upper surface of the substrate 1 and the sublimable dye layer 5 is provided on the photothermal conversion layer 4 is a film for laser thermal transfer printer (manufactured by Imation). This film for a laser thermal transfer printer is understood to have a photothermal conversion layer in polyethylene terephthalate (PET) and a sublimation dye applied thereon. The film for laser thermal transfer printer is preferably surface-modified by treating atmospheric pressure plasma at 10 [mm / s].

薄膜2は有機薄膜により構成されており、昇華性色素層5(基材1)上に、例えば化学気相蒸着法、浸漬法、蒸着法、スピンキャスト法、化学吸着法、自己組織膜形成法等により形成可能である。本実施形態において、薄膜2(有機薄膜)は、フルオロアルキルシラン(FAS)からなる単分子膜により構成されている。また、単分子膜を形成する材料としては、例えばヘブタデカフルオロ−1,1,2,2,−テトラヒドロデシルトリメチキシシラン(FAS−17)、あるいは界面活性剤に使われるオクタデシルアミン等も挙げられる。   The thin film 2 is composed of an organic thin film. For example, a chemical vapor deposition method, a dipping method, a vapor deposition method, a spin cast method, a chemical adsorption method, or a self-organized film forming method is formed on the sublimable dye layer 5 (base material 1). Or the like. In the present embodiment, the thin film 2 (organic thin film) is composed of a monomolecular film made of fluoroalkylsilane (FAS). As a material for forming a monomolecular film, for example, hebutadecafluoro-1,1,2,2, -tetrahydrodecyltrimethyoxysilane (FAS-17) or octadecylamine used as a surfactant is also available. Can be mentioned.

なお、薄膜2の形成方法としては、一般的なフィルムコーティング方法、例えば、押出コーティング方法、スピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、リバースロールコーティング方法、ロッドコーティング方法、マイクログラビアコーティング方法などにより、昇華性色素層5(基材1)上に形成することができる。この場合の薄膜2のコーティング方法においては、基材1の表面に帯電した静電気を除電して薄膜形成用機能液を均一に基材1に形成するのが好ましく、各方法に用いられる装置には除電装置が取り付けてあるのが好ましい。   The thin film 2 can be formed by a general film coating method such as an extrusion coating method, a spin coating method, a gravure coating method, a reverse roll coating method, a rod coating method, a micro gravure coating method, or the like. It can be formed on the layer 5 (base material 1). In the coating method of the thin film 2 in this case, it is preferable to remove static electricity charged on the surface of the base material 1 and form the thin film forming functional liquid uniformly on the base material 1. It is preferable that a static eliminator is attached.

次に、上記レーザ熱転写プリンタ用フィルム(基材1の上面に光熱変換層4が設けられその光熱変換層4の上層に昇華性色素層5が設けられているフィルム)に、薄膜2を形成する方法の一例について説明する。先ず、テフロン(登録商標)製容器の中に、FAS−17が入れられた容器と表面改質した上記レーザ熱転写プリンタ用フィルムとを入れる。次いで、そのテフロン(登録商標)製容器全体を電気炉の中に置き、電気炉内の温度を80℃まで上げて2時間保持する。次いで、電気炉の中からテフロン(登録商標)製容器を取り出して、一晩置く。これらにより、蒸発したFAS−17がレーザ熱転写プリンタ用フィルム上に化学気相蒸着して有機薄膜(薄膜2)を形成する。   Next, the thin film 2 is formed on the film for laser thermal transfer printer (a film in which the photothermal conversion layer 4 is provided on the upper surface of the substrate 1 and the sublimation dye layer 5 is provided on the upper layer of the photothermal conversion layer 4). An example of the method will be described. First, in a Teflon (registered trademark) container, a container in which FAS-17 is placed and the above-mentioned film for laser thermal transfer printer whose surface has been modified are placed. Next, the entire Teflon (registered trademark) container is placed in an electric furnace, and the temperature in the electric furnace is increased to 80 ° C. and held for 2 hours. Next, a Teflon (registered trademark) container is taken out of the electric furnace and placed overnight. As a result, the evaporated FAS-17 is subjected to chemical vapor deposition on the film for a laser thermal transfer printer to form an organic thin film (thin film 2).

例えば、上記のようにしてレーザ熱転写プリンタ用フィルム上に形成された薄膜2に対して、CTR用プレートセッターにて波長830nmの近赤外半導体レーザ(出力11W)を、ドラムの回転速度130rpmで任意の位置に照射する。すると、昇華性色素の色が消失し、レーザ熱転写プリンタ用フィルム自体の色が見えることとなり、昇華性色素(昇華性色素層5)が除去されたことが確認された。また、近赤外半導体レーザを照射後のレーザ熱転写プリンタ用フィルム表面の水に対する接触角(親液性・撥液性)の変化が109度から72度となったことから、昇華性色素層5の除去とともに薄膜2も除去されたことが確認された。   For example, for the thin film 2 formed on the film for a laser thermal transfer printer as described above, a near infrared semiconductor laser (output 11 W) having a wavelength of 830 nm is arbitrarily selected at a drum rotation speed of 130 rpm with a CTR plate setter. Irradiate the position. Then, the color of the sublimable dye disappeared, the color of the film for laser thermal transfer printer itself was visible, and it was confirmed that the sublimable dye (sublimable dye layer 5) was removed. Further, since the change in the contact angle (lyophilicity / liquid repellency) to the water on the film surface for laser thermal transfer printers after irradiation with the near infrared semiconductor laser was 109 degrees to 72 degrees, the sublimable dye layer 5 It was confirmed that the thin film 2 was also removed along with the removal of.

次に、図2を参照しながらパターンの形成手順について説明する。図2(a)に示すように、基材1の薄膜2が設けられた上面(表面)側から、所定の光束径を有するレーザ光束が照射される。レーザ光束が照射されることにより、その照射位置に対応する基材1及び基材1上の光熱変換層4が加熱される。光熱変換層4は照射されたレーザ光束を吸収し、その光エネルギーを熱エネルギーに変換する。光熱変換層4で生成された熱エネルギーは、その光熱変換層4と隣接する昇華性色素層5の一部を昇華し、その昇華により薄膜2の一部を気化あるいは分解し、基材1上より選択的に除去する。これにより、図2(b)に示すように、光が照射された照射領域(照射位置)に対応する薄膜2の一部及び昇華性色素層5の一部が基材1より除去され、薄膜2がパターニングされる。   Next, a pattern forming procedure will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 2A, a laser beam having a predetermined beam diameter is irradiated from the upper surface (front surface) side of the substrate 1 on which the thin film 2 is provided. By irradiating the laser beam, the substrate 1 corresponding to the irradiation position and the photothermal conversion layer 4 on the substrate 1 are heated. The photothermal conversion layer 4 absorbs the irradiated laser beam and converts the light energy into heat energy. The thermal energy generated in the photothermal conversion layer 4 sublimates a part of the sublimable dye layer 5 adjacent to the photothermal conversion layer 4 and vaporizes or decomposes a part of the thin film 2 by the sublimation. Remove more selectively. As a result, as shown in FIG. 2B, a part of the thin film 2 and a part of the sublimable dye layer 5 corresponding to the irradiation region (irradiation position) irradiated with light are removed from the substrate 1, and the thin film 2 is patterned.

光を照射することで、薄膜2及び昇華性色素層5が除去された除去領域3において光熱変換層4(なお、後述する図4の実施形態では基材1)が露出する。ここで、薄膜2及び昇華性色素層5を光熱変換層4(基材1)上に形成する前に、光熱変換層4(基材1)に対して親液化処理を施しておくことにより、光照射することで、親液性を有する光熱変換層4(基材1)が露出することになる。なお、親液化処理としては、紫外線(UV)照射処理、O2プラズマ処理などが挙げられる。そして、FAS(又はFAS−17)からなる薄膜(単分子膜)2は撥液性を有するため、薄膜2がパターニングされることにより、基材1上には撥液領域と親液領域とが形成される。   By irradiating with light, the photothermal conversion layer 4 (in the embodiment of FIG. 4 described later, the substrate 1) is exposed in the removal region 3 where the thin film 2 and the sublimable dye layer 5 are removed. Here, before the thin film 2 and the sublimable dye layer 5 are formed on the photothermal conversion layer 4 (base material 1), the photothermal conversion layer 4 (base material 1) is subjected to a lyophilic treatment, By irradiating with light, the photothermal conversion layer 4 (base material 1) having lyophilicity is exposed. Examples of the lyophilic process include an ultraviolet (UV) irradiation process and an O 2 plasma process. Since the thin film (monomolecular film) 2 made of FAS (or FAS-17) has liquid repellency, the thin film 2 is patterned to form a liquid repellent region and a lyophilic region on the substrate 1. It is formed.

このとき、照射するレーザ光束に対してステージ12をXY平面に沿って移動することにより、そのステージ12の移動軌跡に応じた除去領域3が描画される。こうして、基材1に薄膜パターンが形成される。   At this time, the removal region 3 corresponding to the movement locus of the stage 12 is drawn by moving the stage 12 along the XY plane with respect to the laser beam to be irradiated. Thus, a thin film pattern is formed on the substrate 1.

以上説明したように、基材1上に光熱変換材料を含む光熱変換層4を設け、光熱変換層4上に昇華性色素層5を設けることにより、照射された光の光エネルギーを効率良く熱エネルギーに変換し、その熱エネルギーを昇華性色素層5に供与することができ、その昇華性色素層5の昇華により除去領域3の薄膜2を気化又は分解することができ、薄膜2をパターニングすることができる。そのため、従来のような薄膜自身の持つ吸収帯の波長で光を照射しなくとも、パターニングが可能となる。また、必要とするエネルギーは薄膜2を除去するためのエネルギーではなく、昇華性色素層5の昇華に必要なエネルギーでパターニングを行うことができる。したがって、使用する光照射装置の選択の幅が広がり、高価で大掛かりな光照射装置を用いなくても、基材1上より薄膜2を良好に且つ高い解像度で除去してパターニングすることができる。   As described above, by providing the photothermal conversion layer 4 containing the photothermal conversion material on the substrate 1 and providing the sublimable dye layer 5 on the photothermal conversion layer 4, the light energy of the irradiated light can be efficiently heated. The energy can be converted into energy and the thermal energy can be provided to the sublimable dye layer 5, and the thin film 2 in the removal region 3 can be vaporized or decomposed by sublimation of the sublimable dye layer 5, and the thin film 2 is patterned. be able to. Therefore, patterning is possible without irradiating light with the wavelength of the absorption band of the conventional thin film itself. Further, the required energy is not the energy for removing the thin film 2 but can be patterned with the energy required for sublimation of the sublimable dye layer 5. Therefore, the range of selection of the light irradiation device to be used is widened, and the thin film 2 can be removed and patterned with good resolution at a high resolution without using an expensive and large-scale light irradiation device.

なお、薄膜2が光開始剤を含むモノマーにより形成されていてもよい。モノマーはレーザ光束の照射により基材1上より除去可能である。したがって、光開始剤及びモノマーを含む塗液(機能液)を基材1上に塗布し、レーザ光照射によって薄膜パターン形成後、光開始剤に応じた光照射により重合(光硬化)することで、パターニングされた薄膜2を形成することができる。なお、光開始剤及びモノマーを含む塗液は、上述したような一般的なフィルムコーティング方法(スピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、リバースロールコーティング方法、ロッドコーティング方法、マイクログラビアコーティング方法など)により昇華性色素層5(基材1)上に塗布することができる。   The thin film 2 may be formed of a monomer containing a photoinitiator. The monomer can be removed from the substrate 1 by irradiation with a laser beam. Therefore, a coating liquid (functional liquid) containing a photoinitiator and a monomer is applied onto the substrate 1, and after forming a thin film pattern by laser light irradiation, polymerization (photocuring) is performed by light irradiation according to the photoinitiator. The patterned thin film 2 can be formed. In addition, the coating liquid containing a photoinitiator and a monomer is sublimable by a general film coating method (spin coating method, gravure coating method, reverse roll coating method, rod coating method, micro gravure coating method, etc.) as described above. It can apply | coat on the pigment | dye layer 5 (base material 1).

なお、薄膜2(有機薄膜)を形成する化合物は、一部に基材1(昇華性色素層5)と化学的相互作用(水素結合、静電相互作用、酸塩基相互作用、疎水性相互作用、共有結合など)を生じる官能基を有していることが好ましい。官能基としては、アルデヒド基、ケトン基、アミド基、イミド基などが挙げられる。または、アルコキシ基、ハロゲン基、アルキル基、アミノ基を有するケイ素基などでもよい。さらには、アンモニウム基、ピリジニウム基などのイオン性基でもよい。   The compound forming the thin film 2 (organic thin film) is partially composed of the base material 1 (sublimable dye layer 5) and chemical interaction (hydrogen bond, electrostatic interaction, acid-base interaction, hydrophobic interaction). And a functional group that generates a covalent bond or the like. Examples of the functional group include an aldehyde group, a ketone group, an amide group, and an imide group. Alternatively, an alkoxy group, a halogen group, an alkyl group, a silicon group having an amino group, or the like may be used. Furthermore, an ionic group such as an ammonium group or a pyridinium group may be used.

なお本実施形態では、基材1を支持したステージ12を移動することで除去領域3を基材1上に描画しているが、もちろん、基材1を停止した状態で照射する光束を移動するようにしてもよいし、基材1と光束との双方を移動するようにしてもよい。また、基材1を移動する場合、ステージ12でXY平面内を移動する構成の他に、上述したように回転ドラムに保持させた状態で移動する構成も可能である。   In the present embodiment, the removal region 3 is drawn on the base material 1 by moving the stage 12 that supports the base material 1, but of course, the irradiation light beam is moved while the base material 1 is stopped. You may make it move, and you may make it move both the base material 1 and a light beam. Moreover, when moving the base material 1, the structure which moves in the state hold | maintained on the rotating drum other than the structure which moves in the XY plane with the stage 12 is also possible.

図3に示すように、光熱変換層4及び昇華性色素層5を基材1と薄膜2との間に設けた場合において、基材1の薄膜2が設けられていない裏面側から、基材1に対して光束を照射するようにしてもよい。この場合、基材1は光束を透過可能な透明材料により形成されている。こうすることにより、光を基材1を介して光熱変換層4に直接的に照射でき、光熱変換層4は照射された光の光エネルギーを熱エネルギーに円滑に変換し、隣接する昇華性色素層5の照射領域(照射位置)に対応した昇華性色素層5及び薄膜2一部を除去してパターンを形成することができる。また、光熱変換層4及び昇華性色素層5を基材1と薄膜2との間に設けて薄膜2を外部に対して開放状態(露出状態)としておくことにより、光照射領域に対応する薄膜2の一部は外部に円滑に放出される。   As shown in FIG. 3, when the photothermal conversion layer 4 and the sublimable dye layer 5 are provided between the base material 1 and the thin film 2, the base material 1 starts from the back side where the thin film 2 is not provided. 1 may be irradiated with a light beam. In this case, the substrate 1 is made of a transparent material that can transmit the light beam. By carrying out like this, light can be directly irradiated to the photothermal conversion layer 4 through the base material 1, and the photothermal conversion layer 4 smoothly converts the light energy of the irradiated light into heat energy, and the adjacent sublimation dye The sublimable dye layer 5 and a part of the thin film 2 corresponding to the irradiation region (irradiation position) of the layer 5 can be removed to form a pattern. Moreover, the thin film corresponding to a light irradiation area | region is provided by providing the photothermal conversion layer 4 and the sublimation dye layer 5 between the base material 1 and the thin film 2, and making the thin film 2 an open state (exposed state) with respect to the exterior. A part of 2 is smoothly discharged to the outside.

なお、基材1の裏面側から基材1を介して光熱変換層4に光を照射する構成の場合、光は基材1を通過するときに散乱(回折)する可能性があるため、その散乱状態を予め計測しておき、光熱変換層4の所望位置に光が照射されるように、前記計測結果に基づいて照射条件を調整しつつ基材1の裏面側から光を照射することが好ましい。また、基材1の表面側及び裏面側の双方から光を照射しても構わない。   In addition, in the case of a configuration in which the light-to-heat conversion layer 4 is irradiated with light from the back surface side of the base material 1 through the base material 1, light may be scattered (diffracted) when passing through the base material 1. The scattering state is measured in advance, and light is irradiated from the back side of the substrate 1 while adjusting the irradiation condition based on the measurement result so that light is irradiated to a desired position of the photothermal conversion layer 4. preferable. Moreover, you may irradiate light from both the surface side of the base material 1, and a back surface side.

また、薄膜2、昇華性色素層5、光熱変換層4又は基材1の特性(材料特性、例えば光透過率など)応じて、基材1の表面側及び裏面側のどちらから光を照射するかを決定するようにしてもよい。例えば照射する光の波長に対して薄膜2がその波長の光を吸収する材料の場合、図2に示すように表面側から光を照射すると、その光が薄膜2に吸収されて下層側の光熱変換層4(又は昇華性色素層5)に達しない不都合が生じる可能性がある。そこで、そのような場合には、基材1の裏面側から光を照射するように決定すればよい。   Moreover, light is irradiated from either the front surface side or the back surface side of the base material 1 according to the characteristics (material characteristics, for example, light transmittance) of the thin film 2, the sublimation dye layer 5, the photothermal conversion layer 4 or the base material 1. It may be determined. For example, in the case where the thin film 2 is a material that absorbs light of that wavelength with respect to the wavelength of the light to be irradiated, when the light is irradiated from the surface side as shown in FIG. There is a possibility that a disadvantage of not reaching the conversion layer 4 (or the sublimable dye layer 5) occurs. Therefore, in such a case, the light may be determined to be irradiated from the back side of the base material 1.

図4に示すように、光熱変換層4を、基材1の薄膜2及び昇華性色素層5が設けられていない裏面側に設ける構成を採用することも可能である。この場合、光は基材1の裏面側(光熱変換層4が設けられた面側)から照射することが好ましい。このとき、光熱変換層4より発生した熱エネルギーを、表面側に設けた昇華性色素層5に良好に伝えるために、基材1はその厚さ及び材料を最適に選択される。なお、光熱変換層4を基材1の表面側及び裏面側の双方に設けるようにしてもよい。   As shown in FIG. 4, it is also possible to employ a configuration in which the photothermal conversion layer 4 is provided on the back side where the thin film 2 and the sublimable dye layer 5 of the substrate 1 are not provided. In this case, it is preferable to irradiate light from the back surface side of the substrate 1 (the surface side on which the photothermal conversion layer 4 is provided). At this time, in order to satisfactorily transmit the heat energy generated from the photothermal conversion layer 4 to the sublimable dye layer 5 provided on the surface side, the thickness and material of the substrate 1 are optimally selected. In addition, you may make it provide the photothermal conversion layer 4 in both the surface side of the base material 1, and a back surface side.

なお、図1〜図4を参照して説明した実施形態では、光熱変換材料は、基材1、昇華性色素層5及び薄膜2とは独立した層(光熱変換層4)に設けられているが、基材1に光熱変換材料を混在させる構成も可能であり、薄膜2に光熱変換材料を混在させる構成も可能である。このような構成であっても、照射したレーザ光の光エネルギーを熱エネルギーに変換し、その熱エネルギーを昇華性色素層5に供与することができる。なお、光熱変換材料が混在された基材1に、それとは別に光熱変換層4を設けてもよい。
また、図1〜図4を参照して説明した実施形態では、昇華性色素は、基材1、光熱変換層4及び薄膜2とは独立した層(昇華性色素層5)に設けられているが、基材1に熱変換材料及び昇華性色素を混在させる構成も可能であり、薄膜2に昇華性色素を混在させる構成も可能である。このような構成であっても、照射された光によって所望領域の昇華性色素が熱せられ、その昇華性色素の昇華により所望領域の薄膜2を気化又は分解することができ、薄膜2をパターニングすることができる。
また、光熱変換材料を昇華性色素層5に混在させるようにしてもよい。このようにすると、昇華性色素が昇華したときに光熱変換材料も一緒に昇華して、その光熱変換材料も基材1上から除去することができる。
In addition, in embodiment described with reference to FIGS. 1-4, the photothermal conversion material is provided in the layer (photothermal conversion layer 4) independent from the base material 1, the sublimable dye layer 5, and the thin film 2. FIG. However, the structure which mixes a photothermal conversion material in the base material 1 is also possible, and the structure which mixes a photothermal conversion material in the thin film 2 is also possible. Even with such a configuration, the light energy of the irradiated laser light can be converted into heat energy, and the heat energy can be provided to the sublimable dye layer 5. In addition, you may provide the photothermal conversion layer 4 separately in the base material 1 with which the photothermal conversion material was mixed.
Moreover, in embodiment described with reference to FIGS. 1-4, the sublimation pigment | dye is provided in the layer (sublimation pigment | dye layer 5) independent from the base material 1, the photothermal conversion layer 4, and the thin film 2. FIG. However, a configuration in which the heat conversion material and the sublimation dye are mixed in the base material 1 is possible, and a configuration in which the sublimation dye is mixed in the thin film 2 is also possible. Even in such a configuration, the sublimable dye in the desired region is heated by the irradiated light, and the thin film 2 in the desired region can be vaporized or decomposed by sublimation of the sublimable dye, and the thin film 2 is patterned. be able to.
Further, a photothermal conversion material may be mixed in the sublimable dye layer 5. If it does in this way, when a sublimable pigment | dye sublimates, a photothermal conversion material will also sublime together and the photothermal conversion material can also be removed from the base material 1. FIG.

一方、光熱変換材料を含む光熱変換層4と昇華性色素層5と薄膜2とを別々に設けた場合、光を照射後も基材1上に光熱変換層4が残存する場合があるが、例えば光熱変換層4が残存する除去領域3に、熱処理又は光処理により導電性を発現する材料を含む機能液を配置し、基材1の裏面側から光熱変換層4に光を照射することで、光熱変換層4から発生する熱により前記材料に導電性を発現させることができる。ここで、熱処理又は光処理により導電性を発現する材料としては、後述する有機銀化合物などが挙げられる。   On the other hand, when the photothermal conversion layer 4 containing the photothermal conversion material, the sublimable dye layer 5 and the thin film 2 are provided separately, the photothermal conversion layer 4 may remain on the substrate 1 even after irradiation with light. For example, a functional liquid containing a material that develops conductivity by heat treatment or light treatment is disposed in the removal region 3 where the light-to-heat conversion layer 4 remains, and the light-to-heat conversion layer 4 is irradiated with light from the back side of the substrate 1. The material can be made electrically conductive by the heat generated from the photothermal conversion layer 4. Here, examples of the material that exhibits conductivity by heat treatment or light treatment include organic silver compounds described later.

光熱変換層4を設けた場合、光熱変換材料に応じた波長を有する光を照射することが好ましい。つまり、使用する光熱変換材料に応じて良好に吸収する光の波長帯域は異なるため、光変換材料に応じた波長を有する光を照射することにより、光エネルギーを熱エネルギーに効率良く変換できる。換言すれば、照射する光に応じて使用する光熱変換材料を選択する。本実施形態では、レーザ光源として近赤外半導体レーザ(波長830nm)を使用しているため、光熱変換材料としては、赤外線〜可視光線領域の光を吸収する性質を有している材料を用いることが好ましい。   When the photothermal conversion layer 4 is provided, it is preferable to irradiate light having a wavelength corresponding to the photothermal conversion material. That is, since the wavelength band of light that is favorably absorbed differs depending on the photothermal conversion material used, light energy can be efficiently converted into thermal energy by irradiating light having a wavelength corresponding to the light conversion material. In other words, the photothermal conversion material to be used is selected according to the light to be irradiated. In this embodiment, since a near-infrared semiconductor laser (wavelength 830 nm) is used as a laser light source, a material having a property of absorbing light in the infrared to visible light region is used as the photothermal conversion material. Is preferred.

なお、光熱変換層4が基材1と昇華性色素層5との間に設けられている場合には昇華性色素層5と薄膜2の間に(又は昇華性色素層5のなかに)、基材1上に薄膜2が形成されている場合には基材1と薄膜2との間に、光を照射されることによりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層を設けてもよい。ガス発生材料は、光を吸収したり光エネルギーから変換された熱エネルギーを吸収すると、分解反応を起こして窒素ガスや水素ガスなどを放出するものであって、発生したガスにより薄膜2を除去するエネルギーを提供する役割を有する。このようなガス発生材料としては、四窒酸ペンタエリトリトール(pentaerythritol tetranitrate :PETN)及びトリニトロトルエン(trinitrotoluene:TNT)なる群から選択された少なくとも一つの物質等、あるいはGAP(グリシジルアジドポリマー)等が挙げられる。   In addition, when the photothermal conversion layer 4 is provided between the base material 1 and the sublimable dye layer 5, between the sublimable dye layer 5 and the thin film 2 (or in the sublimable dye layer 5), When the thin film 2 is formed on the base material 1, a gas generation layer containing a gas generating material that generates gas when irradiated with light may be provided between the base material 1 and the thin film 2. . When the gas generating material absorbs light or absorbs thermal energy converted from light energy, it causes a decomposition reaction to release nitrogen gas, hydrogen gas, etc., and the thin film 2 is removed by the generated gas. Has the role of providing energy. Examples of such a gas generating material include at least one substance selected from the group consisting of pentaerythritol tetranitrate (PETN) and trinitrotoluene (TNT), GAP (glycidyl azide polymer), and the like. It is done.

また、光熱変換層4と昇華性色素層5との間に、光熱変換層4の光熱変換作用を均一化するための中間層を設けることができる。このような中間層形成材料としては、上記要件を満たすことのできる樹脂材料を挙げることができる。このような中間層は、所定の組成を有する樹脂組成物を例えばスピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、ダイコーティング法等の公知のコーティング方法に基づいて光熱変換層4の表面に塗布し、乾燥させることによって形成可能である。レーザ光束が照射されると、光熱変換層4の作用により、光エネルギーが熱エネルギーに変換され、さらにこの熱エネルギーが中間層の作用により均一化される。したがって、光照射領域に該当する部分の昇華性色素層5には均一な熱エネルギーが供与される。   Further, an intermediate layer for making the photothermal conversion action of the photothermal conversion layer 4 uniform can be provided between the photothermal conversion layer 4 and the sublimable dye layer 5. Examples of such an intermediate layer forming material include a resin material that can satisfy the above-described requirements. For such an intermediate layer, a resin composition having a predetermined composition is applied to the surface of the photothermal conversion layer 4 based on a known coating method such as a spin coating method, a gravure coating method, or a die coating method, and dried. Can be formed. When the laser beam is irradiated, the light energy is converted into heat energy by the action of the photothermal conversion layer 4, and this heat energy is made uniform by the action of the intermediate layer. Therefore, uniform heat energy is supplied to the sublimable dye layer 5 corresponding to the light irradiation region.

次に、薄膜(単分子膜)2の形成方法の一例として自己組織化膜形成法について説明する。自己組織化膜形成法では、基材1の表面に有機分子膜からなる自己組織化膜を形成する。有機分子膜は、基材1に結合可能な官能基と、分子間相互作用を誘起するための直鎖構造を備えており、基材1に結合して自己組織化して分子膜、例えば単分子膜を形成する。   Next, a self-assembled film forming method will be described as an example of a method for forming the thin film (monomolecular film) 2. In the self-assembled film forming method, a self-assembled film made of an organic molecular film is formed on the surface of the substrate 1. The organic molecular film has a functional group capable of binding to the base material 1 and a linear structure for inducing an intermolecular interaction. The organic molecular film binds to the base material 1 and self-assembles to form a molecular film such as a single molecule. A film is formed.

ここで、自己組織化膜(自己組織化単分子膜:SAM(Self Assembled Monolayer))とは、界面が活性な有機分子の極性部分と基板表面との相互作用により有機分子が表面に吸着すると共に、非極性部分に働く分子間相互作用によって有機分子同士が集合して表面上に整然と並ぶことで形成される高い配向性を有する単分子膜であり、従って、自己組織化膜は正確に一分子層の厚さを有し、また、種々の機能を有する有機分子を、自己組織化膜として用いることができる。   Here, the self-assembled film (self-assembled monolayer: SAM) means that the organic molecules are adsorbed on the surface due to the interaction between the polar part of the organic molecules whose interface is active and the substrate surface. , A monomolecular film having a high orientation formed by organic molecules gathering together due to intermolecular interaction acting on the non-polar part and orderly arranged on the surface. Therefore, the self-assembled film is exactly one molecule. Organic molecules having a layer thickness and various functions can be used as the self-assembled film.

上記の高い配向性を有する化合物として、上記フルオロアルキルシラン(FAS)を用いることにより、膜の表面にフルオロアルキル基が位置するように各化合物が配向されて自己組織化膜が形成され、膜の表面に均一な撥液性が付与される。このような自己組織化膜を形成する化合物であるFASとしては、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリエトキシシラン、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリメトキシシラン、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリクロロシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリエトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリメトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリクロロシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン等のフルオロアルキルシラン等が挙げられる。これらの化合物は単独で使用してもよく2種以上を組み合わせて使用してもよい。なお、FASを用いることにより基板との密着性と良好な撥液性とを得ることができる。   By using the above fluoroalkylsilane (FAS) as the compound having high orientation, each compound is oriented so that the fluoroalkyl group is located on the surface of the film to form a self-assembled film. Uniform liquid repellency is imparted to the surface. As FAS which is a compound which forms such a self-assembled film, heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltriethoxysilane, heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltrimethoxysilane Heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltrichlorosilane, tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltriethoxysilane, tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltrimethoxysilane And fluoroalkylsilanes such as tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltrichlorosilane and trifluoropropyltrimethoxysilane. These compounds may be used alone or in combination of two or more. By using FAS, adhesion to the substrate and good liquid repellency can be obtained.

FASは、一般的に構造式Rn−Si−X(4−n)で表される。ここでnは1以上3以下の整数を表し、Xはメトキシ基、エトキシ基、ハロゲン原子などの加水分解基である。またRはフルオロアルキル基であり、(CF3)(CF2)x(CH2)yの(ここでxは0以上の整数を、yは0以上の整数を表す)構造を持ち、複数個のR又はXがSiに結合している場合には、R又はXはそれぞれすべて同じでもよく異なっていてもよい。Xで表される加水分解基は加水分解によりシラノールを形成して、基板(ガラス、シリコン)の下地のヒドロキシル基と反応してシロキサン結合で基板と結合する。一方、Rは表面に(CF3)等のフルオロ基を有するため、基板の下地表面を濡れない(表面エネルギーが低い)表面に改質する。   FAS is generally represented by the structural formula Rn-Si-X (4-n). Here, n represents an integer of 1 to 3, and X is a hydrolyzable group such as a methoxy group, an ethoxy group, or a halogen atom. R is a fluoroalkyl group, and has a structure of (CF3) (CF2) x (CH2) y (where x represents an integer of 0 or more and y represents an integer of 0 or more), and a plurality of R or When X is bonded to Si, R or X may be the same or different from each other. The hydrolyzable group represented by X forms silanol by hydrolysis, reacts with the hydroxyl group of the base of the substrate (glass, silicon), and bonds to the substrate with a siloxane bond. On the other hand, since R has a fluoro group such as (CF3) on the surface, the base surface of the substrate is modified to a surface that does not get wet (surface energy is low).

図5は、基材1(昇華性色素層5)上にFASからなる自己組織化膜(FAS膜)を形成するFAS処理装置40の概略構成図である。FAS処理装置40は基材1(昇華性色素層5)にFASからなる自己組織化膜を形成する。図5に示すように、FAS処理装置40は、チャンバ41と、チャンバ41内に設けられ、基材1を保持するホルダ42と、液相状態のFAS(液体FAS)を収容する容器43とを備えている。そして、室温環境下で、チャンバ41内に基材1と液体FASを収容した容器43とを放置しておくことにより、容器43内の液体FASが容器43の開口部43aからチャンバ41に気相となって放出され、例えば2〜3日程度で、基材1(昇華性色素層5)上にFASからなる自己組織化膜が成膜される。また、チャンバ41全体を100℃程度に維持することにより、3時間程度で基材1(昇華性色素層5)上に自己組織化膜が成膜される。なおここでは気相からの形成法を説明したが、液相からも自己組織化膜を形成できる。例えば、原料化合物を含む溶液中に基材1を浸積し、洗浄、乾燥することで基材1上に自己組織化膜が形成される。   FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a FAS processing apparatus 40 that forms a self-assembled film (FAS film) made of FAS on the substrate 1 (sublimable dye layer 5). The FAS processing apparatus 40 forms a self-assembled film made of FAS on the substrate 1 (sublimable dye layer 5). As shown in FIG. 5, the FAS processing device 40 includes a chamber 41, a holder 42 that is provided in the chamber 41 and holds the base material 1, and a container 43 that stores a liquid phase FAS (liquid FAS). I have. Then, by leaving the base material 1 and the container 43 containing the liquid FAS in the chamber 41 in a room temperature environment, the liquid FAS in the container 43 is vapor-phased from the opening 43 a of the container 43 to the chamber 41. For example, in about 2 to 3 days, a self-assembled film made of FAS is formed on the substrate 1 (sublimable dye layer 5). Further, by maintaining the entire chamber 41 at about 100 ° C., a self-assembled film is formed on the substrate 1 (sublimable dye layer 5) in about 3 hours. Although the formation method from the gas phase has been described here, a self-assembled film can also be formed from the liquid phase. For example, the base material 1 is immersed in a solution containing a raw material compound, washed, and dried to form a self-assembled film on the base material 1.

なお、撥液性膜としてはプラズマ処理法により形成したフッ化処理膜であってもよい。プラズマ処理法では、常圧又は真空中で基板に対してプラズマ照射を行う。プラズマ処理に用いるガス種は、配線パターンを形成すべき基材1の表面材質等を考慮して種々選択できる。処理ガスとしては、例えば、4フッ化メタン、パーフルオロヘキサン、パーフルオロデカン等を例示できる。   Note that the lyophobic film may be a fluorinated film formed by a plasma processing method. In the plasma processing method, plasma irradiation is performed on the substrate in normal pressure or vacuum. Various types of gas used for the plasma treatment can be selected in consideration of the surface material of the substrate 1 on which the wiring pattern is to be formed. Examples of the processing gas include tetrafluoromethane, perfluorohexane, perfluorodecane, and the like.

図6は、FAS処理が施された基材1に対して、所定のパターンを有するマスク15を介して赤外線レーザ光を照射する様子を示す図である。図6に示すように、薄膜パターンを形成する際、形成しようとする薄膜パターンに応じたパターンを有するマスク15に対して光束を照射し、マスク15を介した光を光熱変換層4及び昇華性色素層5を有する基材1に照射するようにしてもよい。図6において、マスク15は、ステージ12に支持された基材1上の薄膜2に密着するように配置されている。光源11から射出された光束は、マスク15を照明する。マスク15を通過した光は、ステージ12に支持されている基材1を照射する。その照射された光に基づいて光熱変換層4から発生する熱により昇華性色素層5の昇華とともに薄膜2の一部が除去され、薄膜パターンが形成される。マスク15を用いることにより、レーザ光源11から射出された光束の径より微細な薄膜パターンを形成することができる。一方、図1を参照して説明したように、光束と基材1とを相対移動しつつ薄膜パターン(除去領域3)を描画することによりマスク15を製造する手間が省ける。   FIG. 6 is a diagram showing a state in which the base material 1 subjected to the FAS process is irradiated with infrared laser light through a mask 15 having a predetermined pattern. As shown in FIG. 6, when forming a thin film pattern, a mask 15 having a pattern corresponding to the thin film pattern to be formed is irradiated with a light beam, and the light passing through the mask 15 is converted into the photothermal conversion layer 4 and the sublimation property. The substrate 1 having the dye layer 5 may be irradiated. In FIG. 6, the mask 15 is disposed so as to be in close contact with the thin film 2 on the substrate 1 supported by the stage 12. The light beam emitted from the light source 11 illuminates the mask 15. The light that has passed through the mask 15 irradiates the substrate 1 supported by the stage 12. A part of the thin film 2 is removed together with sublimation of the sublimable dye layer 5 by heat generated from the photothermal conversion layer 4 based on the irradiated light, and a thin film pattern is formed. By using the mask 15, a thin film pattern finer than the diameter of the light beam emitted from the laser light source 11 can be formed. On the other hand, as described with reference to FIG. 1, the labor of manufacturing the mask 15 can be saved by drawing the thin film pattern (removal region 3) while relatively moving the light beam and the substrate 1.

なお、図6に示す例では、マスク15と基材1とを密着した状態で、マスク15に対して光を照射しているが、マスク15と基材1とを離した状態でマスク15に光を照射し、そのマスク15を介した光を基材1に照射するようにしてもよい。   In the example shown in FIG. 6, the mask 15 and the base material 1 are in close contact with each other, and the mask 15 is irradiated with light. However, the mask 15 and the base material 1 are separated from each other on the mask 15. You may make it irradiate light and irradiate the base material 1 with the light through the mask 15. FIG.

<配線パターンの形成方法>
以下、上記説明した方法により形成された薄膜パターンを有する基材1上に配線パターンを形成する方法について説明する。図7は、薄膜2のパターンが形成された基材1上に配線パターンを形成する方法を示す模式図である。本実施形態では、配線パターン形成用材料を基材1上に配置するために、配線パターン形成用材料を含む機能液の液滴を吐出する液滴吐出法(インクジェット法)を用いる。液滴吐出法では、吐出ヘッド20と基材1とを対向させた状態で、薄膜2の除去領域3に対して配線パターン形成用材料を含む機能液の液滴が吐出ヘッド20より吐出される。ここで、薄膜(単分子膜)2は撥液性を有しており、除去領域3は薄膜2が除去されて親液性を有している。また、本実施形態では、図7に示すように、基材1の表面側に薄膜2及び昇華性色素層5が設けられ、裏面側に光熱変換層4が設けられているものとする。
<Method for forming wiring pattern>
Hereinafter, a method for forming a wiring pattern on the substrate 1 having a thin film pattern formed by the above-described method will be described. FIG. 7 is a schematic diagram showing a method of forming a wiring pattern on the substrate 1 on which the pattern of the thin film 2 is formed. In this embodiment, in order to dispose the wiring pattern forming material on the substrate 1, a droplet discharge method (inkjet method) that discharges droplets of a functional liquid containing the wiring pattern forming material is used. In the droplet discharge method, a droplet of a functional liquid containing a wiring pattern forming material is discharged from the discharge head 20 to the removal region 3 of the thin film 2 in a state where the discharge head 20 and the substrate 1 face each other. . Here, the thin film (monomolecular film) 2 has liquid repellency, and the removal region 3 has lyophilicity after the thin film 2 is removed. Moreover, in this embodiment, as shown in FIG. 7, the thin film 2 and the sublimation dye layer 5 are provided in the surface side of the base material 1, and the photothermal conversion layer 4 shall be provided in the back surface side.

ここで、液滴吐出法の吐出技術としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気熱変換方式、静電吸引方式、電気機械変換方式等が挙げられる。帯電制御方式は、材料に帯電電極で電荷を付与し、偏向電極で材料の飛翔方向を制御して吐出ノズルから吐出させるものである。また、加圧振動方式は、材料に30kg/cm2程度の超高圧を印加してノズル先端側に材料を吐出させるものであり、制御電圧をかけない場合には材料が直進して吐出ノズルから吐出され、制御電圧をかけると材料間に静電的な反発が起こり、材料が飛散して吐出ノズルから吐出されない。また、電気熱変換方式は、材料を貯留した空間内に設けたヒータにより、材料を急激に気化させてバブル(泡)を発生させ、バブルの圧力によって空間内の材料を吐出させるものである。静電吸引方式は、材料を貯留した空間内に微小圧力を加え、吐出ノズルに材料のメニスカスを形成し、この状態で静電引力を加えてから材料を引き出すものである。電気機械変換方式は、ピエゾ素子(圧電素子)がパルス的な電気信号を受けて変形する性質を利用したもので、ピエゾ素子が変形することによって材料を貯留した空間に可撓物質を介して圧力を与え、この空間から材料を押し出して吐出ノズルから吐出させるものである。この他に、電場による流体の粘性変化を利用する方式や、放電火花で飛ばす方式などの技術も適用可能である。液滴吐出法は、材料の使用に無駄が少なく、しかも所望の位置に所望の量の材料を的確に配置できるという利点を有する。なお、液滴吐出法により吐出される液体材料の一滴の量は例えば1〜300ナノグラムである。本実施形態では、電気機械変換方式(ピエゾ方式)を用いる。   Here, examples of the discharge technique of the droplet discharge method include a charge control method, a pressure vibration method, an electrothermal conversion method, an electrostatic suction method, and an electromechanical conversion method. In the charge control method, a charge is applied to a material with a charging electrode, and the flight direction of the material is controlled with a deflection electrode to be discharged from a discharge nozzle. In addition, the pressure vibration method applies an ultra-high pressure of about 30 kg / cm 2 to the material and discharges the material to the nozzle tip side. When no control voltage is applied, the material goes straight and is discharged from the discharge nozzle. When a control voltage is applied, electrostatic repulsion occurs between the materials, and the materials are scattered and are not discharged from the discharge nozzle. In the electrothermal conversion method, a material is rapidly vaporized by a heater provided in a space in which the material is stored to generate bubbles, and the material in the space is discharged by the pressure of the bubbles. In the electrostatic attraction method, a minute pressure is applied to a space in which a material is stored, a meniscus of material is formed on the discharge nozzle, and an electrostatic attractive force is applied in this state before the material is drawn out. The electromechanical conversion method utilizes the property that a piezo element (piezoelectric element) deforms in response to a pulsed electric signal, and the piezoelectric element is deformed by pressure through a flexible substance in a space where material is stored. The material is extruded from this space and discharged from the discharge nozzle. In addition to this, it is also possible to apply a technique such as a system that uses a change in the viscosity of a fluid caused by an electric field or a system that uses a discharge spark. The droplet discharge method has an advantage that the use of the material is less wasteful and a desired amount of the material can be accurately disposed at a desired position. In addition, the amount of one drop of the liquid material discharged by the droplet discharge method is 1 to 300 nanograms, for example. In this embodiment, an electromechanical conversion method (piezo method) is used.

図8はピエゾ方式による機能液(液状体材料)の吐出原理を説明するための図である。図8において、吐出ヘッド20は、機能液(配線パターン形成用材料を含む液状体材料)を収容する液体室21と、その液体室21に隣接して設置されたピエゾ素子22とを備えている。液体室21には、機能液を収容する材料タンクを含む供給系23を介して機能液が供給される。ピエゾ素子22は駆動回路24に接続されており、この駆動回路24を介してピエゾ素子22に電圧を印加し、ピエゾ素子22を変形させることにより、液体室21が変形し、吐出ノズル25から機能液が吐出される。この場合、印加電圧の値を変化させることによりピエゾ素子22の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることによりピエゾ素子22の歪み速度が制御される。ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。   FIG. 8 is a diagram for explaining the discharge principle of the functional liquid (liquid material) by the piezo method. In FIG. 8, the ejection head 20 includes a liquid chamber 21 that stores a functional liquid (a liquid material including a wiring pattern forming material), and a piezoelectric element 22 that is installed adjacent to the liquid chamber 21. . The functional liquid is supplied to the liquid chamber 21 via a supply system 23 including a material tank that stores the functional liquid. The piezo element 22 is connected to a drive circuit 24, and a voltage is applied to the piezo element 22 via the drive circuit 24 to deform the piezo element 22, whereby the liquid chamber 21 is deformed and functions from the discharge nozzle 25. Liquid is discharged. In this case, the amount of distortion of the piezo element 22 is controlled by changing the value of the applied voltage. Further, the strain rate of the piezo element 22 is controlled by changing the frequency of the applied voltage. Since the droplet discharge by the piezo method does not apply heat to the material, it has an advantage of hardly affecting the composition of the material.

以下、配線パターンを形成する手順について説明する。所定の溶媒等を用いて基材1を洗浄した後、上述した方法で基材1に光熱変換層4を設ける。次いで、その基材1に対して、紫外線(UV)照射処理あるいはO2プラズマ処理により親液性を付与する。次いで、上記説明した方法により昇華性色素層5及び薄膜2を形成し、光を照射して薄膜パターンを形成する。これにより、基材1上の撥液性を有する薄膜2の一部に、親液性を有する除去領域3が形成される。   Hereinafter, a procedure for forming a wiring pattern will be described. After washing the substrate 1 using a predetermined solvent or the like, the photothermal conversion layer 4 is provided on the substrate 1 by the method described above. Next, lyophilicity is imparted to the substrate 1 by ultraviolet (UV) irradiation treatment or O2 plasma treatment. Next, the sublimable dye layer 5 and the thin film 2 are formed by the method described above, and a thin film pattern is formed by irradiating light. Thereby, the removal area | region 3 which has lyophilic property is formed in a part of thin film 2 which has the liquid repellency on the base material 1. FIG.

次に、吐出ヘッド20を用いて、基材1上の除去領域3に配線パターン形成用材料を含む機能液の液滴を配置する材料配置工程が行われる。ここでは、配線パターン形成用材料を構成する導電性材料として有機銀化合物を用い、溶媒としてジエチレングリコールジエチルエーテルを用い、その有機銀化合物を含む機能液を吐出する。材料配置工程では、図7に示したように、吐出ヘッド20から配線パターン形成用材料を含む機能液を液滴にして吐出する。吐出された液滴は、基材1上の除去領域3に配置される。このとき、親液性を有する除去領域3の周囲は、撥液性を有する薄膜2により囲まれているので、液滴が所定位置以外に拡がることを阻止できる。また、薄膜2の撥液性により、吐出された液滴の一部が薄膜2に乗っても除去領域3に流れ落ちるようになる。更に、基材1が露出している除去領域3は親液性を付与されているため、吐出された液滴が除去領域3においてより拡がり易くなり、これにより機能液は所定位置内で均一に配置される。   Next, using the ejection head 20, a material placement process is performed in which functional liquid droplets containing a wiring pattern forming material are placed in the removal region 3 on the substrate 1. Here, an organic silver compound is used as a conductive material constituting the wiring pattern forming material, diethylene glycol diethyl ether is used as a solvent, and a functional liquid containing the organic silver compound is discharged. In the material arrangement step, as shown in FIG. 7, the functional liquid containing the wiring pattern forming material is discharged as droplets from the discharge head 20. The discharged droplets are arranged in the removal region 3 on the substrate 1. At this time, since the periphery of the removal region 3 having lyophilicity is surrounded by the thin film 2 having liquid repellency, it is possible to prevent the liquid droplet from spreading to a position other than the predetermined position. Further, due to the liquid repellency of the thin film 2, even if a part of the ejected droplets gets on the thin film 2, it flows down to the removal region 3. Furthermore, since the removal region 3 where the base material 1 is exposed is given lyophilicity, the discharged droplets are more likely to spread in the removal region 3, so that the functional liquid is uniformly distributed within a predetermined position. Be placed.

なお、機能液としては、導電性微粒子を分散媒に分散した分散液を用いることも可能である。導電性微粒子としては、例えば、金、銀、銅、アルミニウム、パラジウム、及びニッケルのうちの少なくともいずれか1つを含有する金属微粒子の他、これらの酸化物、並びに導電性ポリマーや超電導体の微粒子などが用いられる。これらの導電性微粒子は、ガス中蒸発法、スパッタリング法、金属蒸気合成法、流動油状真空蒸発法、コロイド法、アルコキシド法、共沈法、均一沈殿法、有機化合物熱分解法、水素中還元法、溶媒蒸発法などにより作製され、粒子表面は凝集による2次粒子化を起こさせないために適宜、分散剤等の有機分子により被覆している。分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるもので凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、また液滴吐出法への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。   As the functional liquid, it is also possible to use a dispersion liquid in which conductive fine particles are dispersed in a dispersion medium. Examples of the conductive fine particles include metal fine particles containing at least one of gold, silver, copper, aluminum, palladium, and nickel, oxides thereof, and fine particles of conductive polymers and superconductors. Etc. are used. These conductive fine particles are obtained by gas evaporation method, sputtering method, metal vapor synthesis method, fluid oil vacuum evaporation method, colloid method, alkoxide method, coprecipitation method, homogeneous precipitation method, organic compound thermal decomposition method, reduction method in hydrogen The surface of the particles is appropriately coated with an organic molecule such as a dispersant so as not to cause secondary particle formation due to aggregation. The dispersion medium is not particularly limited as long as it can disperse the conductive fine particles and does not cause aggregation. For example, in addition to water, alcohols such as methanol, ethanol, propanol, butanol, n-heptane, n-octane, decane, dodecane, tetradecane, toluene, xylene, cymene, durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydro Hydrocarbon compounds such as naphthalene and cyclohexylbenzene, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2- Methoxyethyl) ether, ether compounds such as p-dioxane, propylene carbonate, γ- Butyrolactone, N- methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, can be exemplified polar compounds such as cyclohexanone. Of these, water, alcohols, hydrocarbon compounds, and ether compounds are preferable and more preferable dispersion media in terms of fine particle dispersibility, dispersion stability, and ease of application to the droplet discharge method. Examples thereof include water and hydrocarbon compounds.

材料配置工程(液滴吐出工程)の後、焼成工程が行われる。導電性材料を含む機能液に対して焼成処理を行うことにより導電性が得られる。特に有機銀化合物の場合、焼成処理を行ってその有機分を除去し銀粒子を残留させることで導電性が発現される。そのため、材料配置工程後の基材1に対して、焼成処理として熱処理及び光処理のうちの少なくとも一方が施される。熱処理・光処理は通常大気中で行なわれるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中で行なうこともできる。熱処理・光処理の処理温度は、溶媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や有機銀化合物、酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。たとえば、有機銀化合物の有機分を除去するためには、約200℃で焼成することが必要である。また、プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上100℃以下で行なうことが好ましい。以上の工程により吐出工程後の導電性材料(有機銀化合物)は、銀粒子の残留により、導電性を有する配線パターンに変換される。   A firing process is performed after a material arrangement process (droplet discharge process). Conductivity is obtained by performing a baking treatment on the functional liquid containing the conductive material. In particular, in the case of an organic silver compound, conductivity is developed by performing a baking treatment to remove the organic component and leave silver particles. Therefore, at least one of heat treatment and light treatment is performed as the baking treatment on the base material 1 after the material arranging step. The heat treatment and light treatment are usually performed in the air, but can be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon, helium or the like, if necessary. The heat treatment / light treatment temperature includes the boiling point of the solvent (vapor pressure), the type and pressure of the atmospheric gas, the dispersibility of the fine particles, the thermal behavior such as organic silver compounds and oxidation, the presence and amount of coating material, the substrate It is determined as appropriate in consideration of the heat-resistant temperature. For example, in order to remove the organic component of the organic silver compound, it is necessary to bake at about 200 ° C. Moreover, when using a board | substrate, such as a plastics, it is preferable to carry out at room temperature or more and 100 degrees C or less. Through the above steps, the conductive material (organic silver compound) after the discharging step is converted into a conductive wiring pattern due to the remaining silver particles.

なお、材料配置工程の後、中間乾燥工程(あるいは焼成工程)を行い、これら材料配置工程と中間乾燥工程(焼成工程)とを交互に複数回繰り返すことにより、配線パターン形成用材料を除去領域3で積層することができる。   After the material placement step, an intermediate drying step (or firing step) is performed, and the material placement step and the intermediate drying step (baking step) are alternately repeated a plurality of times to remove the wiring pattern forming material from the removal region 3. Can be laminated.

なお、焼成工程の後や、薄膜パターン(除去領域3)を形成するための光照射工程の後などの所定のタイミングで、基材1の裏面に設けられた光熱変換層4を除去することができる。例えば、所定の溶剤により洗浄することで光電変換層4を基材1から除去することができる。また、材料配置工程(液滴吐出工程)の後や焼成工程の後などの所定のタイミングで、基材1上の全ての薄膜2を除去することもできる。例えば、レーザ光を照射することで薄膜2の全てを基材1上から除去することができる。   The photothermal conversion layer 4 provided on the back surface of the substrate 1 may be removed at a predetermined timing such as after the baking process or after the light irradiation process for forming the thin film pattern (removal region 3). it can. For example, the photoelectric conversion layer 4 can be removed from the substrate 1 by washing with a predetermined solvent. In addition, all the thin films 2 on the base material 1 can be removed at a predetermined timing such as after the material placement step (droplet discharge step) or after the firing step. For example, all of the thin film 2 can be removed from the substrate 1 by irradiating the laser beam.

なお、本実施形態において、配線パターンを形成するために液滴吐出法を用いたが、例えばメッキ法により除去領域3に対して配線パターン形成用材料を配置することも可能である。   In this embodiment, the droplet discharge method is used to form the wiring pattern. However, it is also possible to dispose the wiring pattern forming material to the removal region 3 by, for example, a plating method.

<プラズマ表示装置>
次に、本発明の配線パターンの形成方法により形成された配線パターンを有する電気光学装置の一例として、プラズマディスプレイ(プラズマ表示装置)について図9を参照しながら説明する。図9は、アドレス電極511とバス電極512aとが製造されたプラズマディスプレイ500を示す分解斜視図である。このプラズマディスプレイ500は、互いに対向して配置されたガラス基板501とガラス基板502と、これらの間に形成された放電表示部510とから概略構成されている。
<Plasma display device>
Next, as an example of an electro-optical device having a wiring pattern formed by the wiring pattern forming method of the present invention, a plasma display (plasma display device) will be described with reference to FIG. FIG. 9 is an exploded perspective view showing the plasma display 500 in which the address electrodes 511 and the bus electrodes 512a are manufactured. The plasma display 500 is generally configured by a glass substrate 501 and a glass substrate 502 that are arranged to face each other, and a discharge display portion 510 that is formed therebetween.

放電表示部510は、複数の放電室516が集合されてなり、複数の放電室516のうち、赤色放電室516(R)、緑色放電室516(G)、青色放電室516(B)の3つの放電室516が対になって1画素を構成するように配置されている。前記(ガラス)基板501の上面には所定の間隔でストライプ状にアドレス電極511が形成され、それらアドレス電極511と基板501の上面とを覆うように誘電体層519が形成され、さらに誘電体層519上においてアドレス電極511、511間に位置して各アドレス電極511に沿うように隔壁515が形成されている。なお、隔壁515においてはその長手方向の所定位置においてアドレス電極511と直交する方向にも所定の間隔で仕切られており(図示略)、基本的にはアドレス電極511の幅方向左右両側に隣接する隔壁と、アドレス電極511と直交する方向に延設された隔壁により仕切られる長方形状の領域が形成され、これら長方形状の領域に対応するように放電室516が形成され、これら長方形状の領域が3つ対になって1画素が構成される。また、隔壁515で区画される長方形状の領域の内側には蛍光体517が配置されている。蛍光体517は、赤、緑、青の何れかの蛍光を発光するもので、赤色放電室516(R)の底部には赤色蛍光体517(R)が、緑色放電室516(G)の底部には緑色蛍光体517(G)が、青色放電室516(B)の底部には青色蛍光体517(B)が各々配置されている。   The discharge display unit 510 includes a plurality of discharge chambers 516, and among the plurality of discharge chambers 516, three of the red discharge chamber 516 (R), the green discharge chamber 516 (G), and the blue discharge chamber 516 (B). Two discharge chambers 516 are arranged in pairs to constitute one pixel. Address electrodes 511 are formed in stripes at predetermined intervals on the upper surface of the (glass) substrate 501, a dielectric layer 519 is formed so as to cover the address electrodes 511 and the upper surface of the substrate 501, and a dielectric layer A partition wall 515 is formed on the 519 between the address electrodes 511 and 511 and along the address electrodes 511. The partition wall 515 is also partitioned at a predetermined interval in a direction perpendicular to the address electrode 511 at a predetermined position in the longitudinal direction (not shown), and is basically adjacent to the left and right sides of the address electrode 511 in the width direction. A rectangular region partitioned by the barrier ribs and the barrier ribs extending in a direction orthogonal to the address electrodes 511 is formed, and discharge chambers 516 are formed so as to correspond to the rectangular regions. One pixel is composed of three pairs. In addition, a phosphor 517 is disposed inside a rectangular region partitioned by the partition 515. The phosphor 517 emits red, green, or blue fluorescence. The red phosphor 517 (R) is located at the bottom of the red discharge chamber 516 (R), and the bottom of the green discharge chamber 516 (G). Are arranged with a green phosphor 517 (G) and a blue phosphor 517 (B) at the bottom of the blue discharge chamber 516 (B).

次に、前記ガラス基板502側には、先のアドレス電極511と直交する方向に複数のITOからなる透明表示電極512がストライプ状に所定の間隔で形成されるとともに、高抵抗のITOを補うために金属からなるバス電極512aが形成されている。また、これらを覆って誘電体層513が形成され、さらにMgOなどからなる保護膜514が形成されている。そして、前記基板501とガラス基板502の基板2が、前記アドレス電極511…と表示電極512…を互いに直交させるように対向させて相互に貼り合わされ、基板501と隔壁515とガラス基板502側に形成されている保護膜514とで囲まれる空間部分を排気して希ガスを封入することで放電室516が形成されている。なお、ガラス基板502側に形成される表示電極512は各放電室516に対して2本ずつ配置されるように形成されている。 前記アドレス電極511と表示電極512は図示略の交流電源に接続され、各電極に通電することで必要な位置の放電表示部510において蛍光体517を励起発光させて、カラー表示ができるようになっている。   Next, on the glass substrate 502 side, transparent display electrodes 512 made of a plurality of ITO are formed in stripes at a predetermined interval in a direction orthogonal to the previous address electrode 511, and in order to compensate for the high resistance ITO. Further, a bus electrode 512a made of metal is formed. Further, a dielectric layer 513 is formed so as to cover them, and a protective film 514 made of MgO or the like is further formed. The substrate 501 and the substrate 2 of the glass substrate 502 are bonded to each other so that the address electrodes 511 and the display electrodes 512 are opposed to each other so as to be orthogonal to each other, and are formed on the substrate 501, the partition wall 515, and the glass substrate 502 side. A discharge chamber 516 is formed by evacuating a space surrounded by the protective film 514 and enclosing a rare gas. Note that two display electrodes 512 formed on the glass substrate 502 side are formed so as to be arranged two by two for each discharge chamber 516. The address electrode 511 and the display electrode 512 are connected to an alternating current power supply (not shown), and the phosphor 517 is excited to emit light in the discharge display portion 510 at a necessary position by energizing each electrode, thereby enabling color display. ing.

そして、本例では、特に前記アドレス電極511とバス電極512aとが、本発明に係る配線パターンの形成方法により形成される。すなわち、これらアドレス電極511やバス電極512aについては、特にそのパターニングに有利なことから、金属コロイド材料(例えば金コロイドや銀コロイド)や導電性微粒子(例えば金属微粒子)を分散させてなる機能液を吐出し、乾燥・焼成することによって形成している。また、蛍光体517についても、蛍光体材料を溶媒に溶解させあるいは分散媒に分散させた機能液を吐出ヘッド20より吐出し、乾燥・焼成することによって形成可能である。   In this example, the address electrodes 511 and the bus electrodes 512a are formed by the wiring pattern forming method according to the present invention. That is, since the address electrode 511 and the bus electrode 512a are particularly advantageous for patterning, a functional liquid in which a metal colloid material (for example, gold colloid or silver colloid) or conductive particles (for example, metal particles) is dispersed is used. It is formed by discharging, drying and baking. The phosphor 517 can also be formed by discharging a functional liquid in which a phosphor material is dissolved in a solvent or dispersed in a dispersion medium from the discharge head 20 and drying and baking.

<カラーフィルタ>
次に、本発明に係る薄膜を使って液晶表示装置のカラーフィルタを製造する手順について、図10を参照しながら説明する。なお、本実施形態における薄膜は単分子膜ではなく、所定の高さ(厚み)を有する有機薄膜により構成されており、基材上の所定領域を区画するバンク(ブラックマトリクス)を構成する。まず、図10(a)に示すように透明の基板(基材)Pの一方の面に対し、ブラックマトリックス(バンク)52を形成する。このブラックマトリックス52は、カラーフィルタ形成領域を区画するものであり、本発明に係るバンクの形成方法によって形成される。ブラックマトリクス(バンク)を形成するに際し、光開始剤およびモノマーとともに黒色の昇華性材料を使用することで、後の光照射工程においてブラックマトリクスを硬化することができる。
<Color filter>
Next, a procedure for manufacturing a color filter of a liquid crystal display device using the thin film according to the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the thin film in this embodiment is not a monomolecular film but is composed of an organic thin film having a predetermined height (thickness), and constitutes a bank (black matrix) that partitions a predetermined region on the substrate. First, a black matrix (bank) 52 is formed on one surface of a transparent substrate (base material) P as shown in FIG. The black matrix 52 defines a color filter forming region and is formed by the bank forming method according to the present invention. In forming the black matrix (bank), the black matrix can be cured in the subsequent light irradiation step by using a black sublimable material together with the photoinitiator and the monomer.

次に、図10(b)に示すように、前記吐出ヘッド20からカラーフィルタ用の機能液の液滴54を吐出し、これをフィルタエレメント53に着弾させる。吐出する機能液54の量については、加熱工程(乾燥・焼成工程)における機能液の体積減少を考慮した十分な量とする。   Next, as shown in FIG. 10B, the color filter functional liquid droplets 54 are ejected from the ejection head 20 and land on the filter element 53. The amount of the functional liquid 54 to be discharged is a sufficient quantity considering the volume reduction of the functional liquid in the heating process (drying / firing process).

このようにして基板P上のすべてのフィルタエレメント53に液滴54を充填した後、ヒータを用いて基板Pが所定の温度(例えば70℃程度)となるように加熱処理する。この加熱処理により、機能液の溶媒が蒸発して機能液の体積が減少する。この体積減少の激しい場合には、カラーフィルタとして十分な膜の厚みが得られるまで、液滴吐出工程と加熱工程とを繰り返す。この処理により、機能液に含まれる溶媒が蒸発して、最終的に機能液に含まれる固形分(機能性材料)のみが残留して膜化し、図10(c)に示すようにカラーフィルタ55となる。   In this way, after all the filter elements 53 on the substrate P are filled with the droplets 54, the substrate P is heated using a heater so that the substrate P reaches a predetermined temperature (eg, about 70 ° C.). By this heat treatment, the solvent of the functional liquid is evaporated and the volume of the functional liquid is reduced. When the volume reduction is severe, the droplet discharge process and the heating process are repeated until a sufficient film thickness for the color filter is obtained. By this treatment, the solvent contained in the functional liquid evaporates, and finally only the solid content (functional material) contained in the functional liquid remains to form a film, and the color filter 55 as shown in FIG. 10C. It becomes.

次いで、基板Pを平坦化し、且つカラーフィルタ55を保護するため、図10(d)に示すようにカラーフィルタ55やブラックマトリックス52を覆って基板P上に保護膜56を形成する。この保護膜56の形成にあたっては、スピンコート法、ロールコート法、リッピング法等の方法を採用することもできるが、カラーフィルタ55の場合と同様に、前記吐出装置を用いて行うこともできる。次いで、図10(e)に示すようにこの保護膜56の全面に、スパッタ法や真空蒸着法等によって透明導電膜57を形成する。その後、透明導電膜57をパターニングし、図10(f)に示すように画素電極58を前記フィルタエレメント53に対応させてパターニングする。なお、液晶表示パネルの駆動にTFT(Thin Film Transistor)を用いる場合には、このパターニングは不用となる。このようなカラーフィルタの製造において、前記吐出ヘッド20を用いているので、カラーフィルタ材料を支障なく連続的に吐出することができ、したがって良好なカラーフィルタを形成することができるとともに、生産性を向上することができる。   Next, in order to planarize the substrate P and protect the color filter 55, a protective film 56 is formed on the substrate P so as to cover the color filter 55 and the black matrix 52 as shown in FIG. In forming the protective film 56, a spin coating method, a roll coating method, a ripping method, or the like can be employed. However, as in the case of the color filter 55, the ejection device can also be used. Next, as shown in FIG. 10E, a transparent conductive film 57 is formed on the entire surface of the protective film 56 by sputtering, vacuum deposition, or the like. Thereafter, the transparent conductive film 57 is patterned, and the pixel electrode 58 is patterned corresponding to the filter element 53 as shown in FIG. Note that this patterning is not necessary when a TFT (Thin Film Transistor) is used to drive the liquid crystal display panel. In the manufacture of such a color filter, since the discharge head 20 is used, the color filter material can be discharged continuously without any trouble, and thus a good color filter can be formed and productivity can be improved. Can be improved.

<有機EL表示装置>
次に、本発明に係るバンクを使って有機EL表示装置を製造する手順について、図11を参照しながら説明する。なお、本実施形態における薄膜も単分子膜ではなく、所定の高さ(厚み)を有する有機薄膜により構成されており、基材上の所定領域を区画するバンクを構成する。図11は、前記吐出ヘッド20により一部の構成要素が製造された有機EL表示装置の側断面図であり、まずこの有機EL表示装置の概略構成を説明する。なお、ここで形成される有機EL表示装置は、本発明における電気光学装置の一実施形態となるものである。図11に示すようにこの有機EL装置301は、基板(基材)311、回路素子部321、画素電極331、バンク部341、発光素子351、陰極361(対向電極)、および封止基板371から構成された有機EL素子302に、フレキシブル基板(図示略)の配線および駆動IC(図示略)を接続したものである。回路素子部321は基板311上に形成され、複数の画素電極331が回路素子部321上に整列している。そして、各画素電極331間にはバンク部341が格子状に形成されており、バンク部341により生じた凹部開口344に、発光素子351が形成されている。陰極361は、バンク部341および発光素子351の上部全面に形成され、陰極361の上には封止用基板371が積層されている。
<Organic EL display device>
Next, a procedure for manufacturing an organic EL display device using the bank according to the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the thin film in this embodiment is not a monomolecular film, but is composed of an organic thin film having a predetermined height (thickness), and constitutes a bank that partitions a predetermined region on the substrate. FIG. 11 is a side sectional view of an organic EL display device in which some of the components are manufactured by the ejection head 20. First, a schematic configuration of the organic EL display device will be described. The organic EL display device formed here is an embodiment of the electro-optical device in the invention. As shown in FIG. 11, the organic EL device 301 includes a substrate (base material) 311, a circuit element portion 321, a pixel electrode 331, a bank portion 341, a light emitting element 351, a cathode 361 (counter electrode), and a sealing substrate 371. A wiring of a flexible substrate (not shown) and a driving IC (not shown) are connected to the configured organic EL element 302. The circuit element portion 321 is formed on the substrate 311, and a plurality of pixel electrodes 331 are aligned on the circuit element portion 321. Bank portions 341 are formed in a lattice shape between the pixel electrodes 331, and light emitting elements 351 are formed in the recess openings 344 generated by the bank portions 341. The cathode 361 is formed on the entire upper surface of the bank portion 341 and the light emitting element 351, and a sealing substrate 371 is laminated on the cathode 361.

バンク部341は、第1バンク342と、その上に積層される第2バンク343とから構成されている。そして、このバンク部341を形成する際に、本発明に係る薄膜パターンの形成方法が用いられる。   The bank unit 341 includes a first bank 342 and a second bank 343 stacked thereon. In forming the bank portion 341, the thin film pattern forming method according to the present invention is used.

有機EL素子を含む有機EL表示装置301の製造プロセスは、バンク部341を形成するバンク部形成工程と、発光素子351を適切に形成するためのプラズマ処理工程と、発光素子351を形成する発光素子形成工程と、陰極361を形成する対向電極形成工程と、封止用基板371を陰極361上に積層して封止する封止工程とを備えている。   The manufacturing process of the organic EL display device 301 including the organic EL element includes a bank part forming step for forming the bank part 341, a plasma processing step for appropriately forming the light emitting element 351, and a light emitting element for forming the light emitting element 351. A forming process; a counter electrode forming process for forming the cathode 361; and a sealing process for stacking and sealing the sealing substrate 371 on the cathode 361.

発光素子形成工程は、凹部開口344、すなわち画素電極331上に正孔注入層352および発光層353を形成することにより発光素子351を形成するもので、正孔注入層形成工程と発光層形成工程とを具備している。そして、正孔注入層形成工程は、正孔注入層352を形成するための第1機能液を各画素電極331上に吐出する第1吐出工程と、吐出された第1機能液を乾燥させて正孔注入層352を形成する第1乾燥工程とを有し、発光層形成工程は、発光層353を形成するための第2機能液を正孔注入層352の上に吐出する第2吐出工程と、吐出された第2機能液を乾燥させて発光層353を形成する第2乾燥工程とを有している。   The light emitting element forming step is to form the light emitting element 351 by forming the hole injection layer 352 and the light emitting layer 353 on the concave opening 344, that is, the pixel electrode 331. The hole injection layer forming step and the light emitting layer forming step It is equipped with. Then, in the hole injection layer forming step, the first functional liquid for forming the hole injection layer 352 is discharged onto each pixel electrode 331, and the discharged first functional liquid is dried. A first drying step of forming the hole injection layer 352, and the light emitting layer forming step includes discharging a second functional liquid for forming the light emitting layer 353 onto the hole injection layer 352. And a second drying step of drying the discharged second functional liquid to form the light emitting layer 353.

この発光素子形成工程において、正孔注入層形成工程における第1吐出工程と、発光層形成工程における第2吐出工程とで前記吐出ヘッド20を用いている。   In the light emitting element forming step, the discharge head 20 is used in the first discharging step in the hole injection layer forming step and the second discharging step in the light emitting layer forming step.

<電子機器>
以下、上記電気光学装置(液晶表示装置、有機EL表示装置、プラズマ表示装置等)を備えた電子機器の適用例について説明する。図12(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図12(a)において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は上記の電気光学装置を用いた表示部を示している。図12(b)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図12(b)において、符号1100は時計本体を示し、符号1101は上記の電気光学装置を用いた表示部を示している。図12(c)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図12(c)において、符号1200は情報処理装置、符号1202はキーボードなどの入力部、符号1204は情報処理装置本体、符号1206は上記の電気光学装置を用いた表示部を示している。図12(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施の形態の電気光学装置を備えているので、表示品位(特に解像度)に優れ、明るい画面の表示部を備えた電子機器を低コストで実現することができる。
<Electronic equipment>
Hereinafter, application examples of an electronic apparatus including the electro-optical device (a liquid crystal display device, an organic EL display device, a plasma display device, or the like) will be described. FIG. 12A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 12A, reference numeral 1000 denotes a mobile phone body, and reference numeral 1001 denotes a display unit using the electro-optical device. FIG. 12B is a perspective view showing an example of a wristwatch type electronic device. In FIG. 12B, reference numeral 1100 denotes a watch body, and reference numeral 1101 denotes a display unit using the electro-optical device. FIG. 12C is a perspective view illustrating an example of a portable information processing apparatus such as a word processor or a personal computer. In FIG. 12C, reference numeral 1200 denotes an information processing apparatus, reference numeral 1202 denotes an input unit such as a keyboard, reference numeral 1204 denotes an information processing apparatus body, and reference numeral 1206 denotes a display unit using the electro-optical device. The electronic devices shown in FIGS. 12A to 12C include the electro-optical device according to the above-described embodiment. Therefore, the electronic devices having excellent display quality (particularly resolution) and a bright screen display unit can be used. Can be realized at a cost.

なお、上述した例に加えて、他の例として、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、電子ペーパー、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。本発明の電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても適用できる。   In addition to the above-described examples, other examples include a liquid crystal television, a viewfinder type and a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a word processor, a workstation, a videophone, and a POS terminal. , Electronic paper, devices equipped with a touch panel, and the like. The electro-optical device of the present invention can also be applied as a display unit of such an electronic apparatus.

<マイクロレンズ>
図13は、本発明に係る薄膜パターンを使ってマイクロレンズを形成する工程の一例を示す図である。本実施形態における薄膜は、例えばFAS膜などからなる撥液性を有する単分子膜により構成される。
本例ではまず、図13(a)に示すように、吐出ヘッド20より基板(基材)P上に光透過性樹脂からなる液滴622aを吐出し、これを塗布する。なお、各吐出ヘッド20から液滴622aを吐出するに際しては、その吐出に先立ち、本発明に係る薄膜パターンが基板P上に形成されており、液滴622aは、親液性を有する除去領域3に配置される。
<Micro lens>
FIG. 13 is a diagram showing an example of a process of forming a microlens using the thin film pattern according to the present invention. The thin film in the present embodiment is constituted by a monomolecular film having liquid repellency, such as an FAS film.
In this example, first, as shown in FIG. 13A, a droplet 622a made of a light-transmitting resin is discharged from a discharge head 20 onto a substrate (base material) P and applied. In addition, when discharging the droplet 622a from each discharge head 20, the thin film pattern based on this invention is formed on the board | substrate P prior to the discharge, and the droplet 622a is the removal area | region 3 which has lyophilicity. Placed in.

基板Pとしては、得られるマイクロレンズを例えばスクリーン用の光学膜に適用する場合、酢酸セルロースやプロピルセルロース等のセルロース系樹脂、ポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエステルなどの透明樹脂(光透過性樹脂)からなる光透過性シートあるいは光透過性フィルムが用いられる。また、基板として、ガラス、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエーテルサルフォン、アモルファスポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート、ポリメチルメタクリレートなどの透明材料(光透過性材料)からなる基板も使用可能となる。   As the substrate P, when the obtained microlens is applied to an optical film for a screen, for example, a cellulose resin such as cellulose acetate or propyl cellulose, a transparent resin such as polyvinyl chloride, polyethylene, polypropylene, or polyester (light transmissive resin) ) Or a light transmissive film is used. In addition, a substrate made of a transparent material (light transmissive material) such as glass, polycarbonate, polyarylate, polyether sulfone, amorphous polyolefin, polyethylene terephthalate, polymethyl methacrylate, or the like can be used.

光透過性樹脂としては、ポリメチルメタクリレート、ポリヒドロキシエチルメタクリレート、ポリシクロヘキシルメタクリレートなどのアクリル系樹脂、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート、ポリカーボネートなどのアリル系樹脂、メタクリル樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリ酢酸ビニル系樹脂、セルロース系樹脂、ポリアミド系樹脂、フッ素系樹脂、ポリプロピレン系樹脂、ポリスチレン系樹脂などの熱可塑性または熱硬化性の樹脂が挙げられ、これらのうちの一種が用いられ、あるいは複数種が混合されて用いられる。   Examples of the light transmissive resin include acrylic resins such as polymethyl methacrylate, polyhydroxyethyl methacrylate, and polycyclohexyl methacrylate, allyl resins such as polydiethylene glycol bisallyl carbonate and polycarbonate, methacrylic resins, polyurethane resins, polyester resins, and polyresins. Thermoplastic or thermosetting resins such as vinyl chloride resins, polyvinyl acetate resins, cellulose resins, polyamide resins, fluorine resins, polypropylene resins, polystyrene resins, etc., are included. Used, or a mixture of a plurality of species.

ただし、本例では、特に光透過性樹脂として放射線照射硬化型のものが用いられる。この放射線照射硬化型のものは、前記の光透過性樹脂にビイミダゾール系化合物などの光重合開始剤が配合されてなるものであり、このような光重合開始剤が配合されたことにより、放射線照射硬化性が付与されたものである。放射線とは可視光線、紫外線、遠紫外線、X線、電子線等の総称であり、特に紫外線が一般的に用いられる。   However, in this example, a radiation curable resin is used as the light transmissive resin. This radiation irradiation curable type is obtained by blending a photopolymerization initiator such as a biimidazole compound with the light transmissive resin, and by incorporating such a photopolymerization initiator, Irradiation curability is imparted. Radiation is a general term for visible light, ultraviolet light, far ultraviolet light, X-rays, electron beams, etc., and particularly ultraviolet light is generally used.

このような放射線照射硬化型の光透過性樹脂の液滴622aを、所望する単一のマイクロレンズの大きさに応じて基板P上に1個あるいは複数個吐出する。すると、この液滴622からなる光透過性樹脂623は、その表面張力によって図13(a)に示すような凸形状(略半球状)のものとなる。このようにして、形成すべき単一のマイクロレンズに対して所定量の光透過性樹脂を吐出塗布し、さらにこの塗布処理を所望するマイクロレンズの個数分行ったら、これら光透過性樹脂623に紫外線等の放射線を照射し、図13(b)に示すようにこれを硬化させて硬化体623aとする。なお、吐出ヘッド20から吐出される液滴622aの一滴当たりの容量は、吐出ヘッド20や吐出するインク材料によっても異なるものの、通常は1pL〜20pL程度とされる。   One or a plurality of such radiation-irradiation-curing light-transmitting resin droplets 622a are discharged onto the substrate P in accordance with the size of a desired single microlens. Then, the light-transmitting resin 623 made of the droplets 622 has a convex shape (substantially hemispherical) as shown in FIG. Thus, when a predetermined amount of light-transmitting resin is discharged and applied to a single microlens to be formed, and this coating process is performed for the number of desired microlenses, the light-transmitting resin 623 is applied to the light-transmitting resin 623. Radiation such as ultraviolet rays is irradiated and cured as shown in FIG. 13B to obtain a cured body 623a. In addition, although the capacity | capacitance per drop of the droplet 622a discharged from the discharge head 20 changes also with the discharge head 20 and the ink material to discharge, it is normally about 1 pL-20 pL.

次いで、図13(c)に示すように吐出ヘッド20から、これら硬化体623aのそれぞれの上に多数の光拡散性微粒子626を分散させた液滴622bを所望個数吐出し、硬化体623aの表面に付着させる。光拡散性微粒子626としては、シリカ、アルミナ、チタニア、炭酸カルシウム、水酸化アルミニウム、アクリル樹脂、有機シリコーン樹脂、ポリスチレン、尿素樹脂、ホルムアルデヒド縮合物などの微粒子が挙げられ、これらのうちの一種が用いられ、あるいは複数種が混合されて用いられる。ただし、光拡散性微粒子626が十分な光拡散性を発揮するためには、この微粒子が光透過性である場合、その屈折率が前記光透過性樹脂の屈折率と十分に差がある必要がある。したがって、光拡散性微粒子626が光透過性である場合には、このような条件を満たすよう、使用する光透過性樹脂に応じて適宜に選定され用いられる。   Next, as shown in FIG. 13C, a desired number of droplets 622b in which a large number of light diffusing fine particles 626 are dispersed are ejected from the ejection head 20 onto each of the cured bodies 623a, and the surface of the cured body 623a. Adhere to. Examples of the light diffusing fine particles 626 include fine particles such as silica, alumina, titania, calcium carbonate, aluminum hydroxide, acrylic resin, organic silicone resin, polystyrene, urea resin, and formaldehyde condensate, and one of these is used. Or a mixture of a plurality of species. However, in order for the light diffusing fine particles 626 to exhibit sufficient light diffusibility, when the fine particles are light transmissive, the refractive index thereof needs to be sufficiently different from the refractive index of the light transmissive resin. is there. Therefore, when the light diffusing fine particles 626 are light transmissive, the light diffusing fine particles 626 are appropriately selected and used according to the light transmissive resin to be used so as to satisfy such a condition.

このような光拡散性微粒子626は、予め適宜な溶剤(例えば光透過性樹脂に用いられている溶剤)に分散されることにより、吐出ヘッド20から吐出可能なインクに調整されている。その際、光拡散性微粒子626の表面を界面活性剤で被覆処理したり、あるいは溶融樹脂で覆う処理を行うことによって光拡散性微粒子626の溶剤への分散性を高めておくのが好ましく、このような処理を行うことにより、吐出ヘッド20からの吐出が良好となる流動性を、光拡散性微粒子626に付加することができる。なお、表面処理を行うための界面活性剤としては、カチオン系、アニオン系、ノニオン系、両性、シリコーン系、フッ素樹脂系などのものが、光拡散微粒子624の種類に応じて適宜に選択され用いられる。   Such light diffusing fine particles 626 are preliminarily dispersed in an appropriate solvent (for example, a solvent used for a light-transmitting resin), so that ink that can be discharged from the discharge head 20 is adjusted. At that time, it is preferable to increase the dispersibility of the light diffusing fine particles 626 in a solvent by coating the surface of the light diffusing fine particles 626 with a surfactant or covering the surface with a molten resin. By performing such a process, the fluidity that improves the ejection from the ejection head 20 can be added to the light diffusing fine particles 626. In addition, as the surfactant for performing the surface treatment, cationic, anionic, nonionic, amphoteric, silicone-based, fluororesin-based, etc. are appropriately selected and used depending on the type of the light diffusing fine particles 624. It is done.

また、このような光拡散性微粒子626としては、その粒径が200nm以上、500nm以下のものを用いるのが好ましい。このような範囲にすれば、粒径が200nm以上であることによってその光拡散性が良好に確保され、また500nm以下であることによって吐出ヘッド20のノズルから良好に吐出できるようになるからである。   Further, as such light diffusing fine particles 626, those having a particle size of 200 nm or more and 500 nm or less are preferably used. In such a range, when the particle size is 200 nm or more, the light diffusibility is ensured well, and when it is 500 nm or less, the nozzles of the discharge head 20 can be discharged well. .

なお、光拡散性微粒子626を分散させた液滴622bの吐出については、光透過性樹脂の液滴622aを吐出した吐出ヘッド20と同じものを用いても良く、別のものを用いてもよい。同じものを用いた場合には、吐出ヘッド20を含む装置構成を簡略化することができる。一方、別のものを用いた場合には、各機能液(光透過性樹脂からなる機能液と光拡散性微粒子24からなる機能液)毎に専用のヘッドとすることができることから、塗布する機能液の切り換えの際にヘッドの洗浄等を行う必要がなくなり、生産性を向上することができる。   For the discharge of the liquid droplets 622b in which the light diffusing fine particles 626 are dispersed, the same one as the discharge head 20 that discharges the light transmitting resin liquid droplets 622a may be used, or another one may be used. . When the same one is used, the apparatus configuration including the ejection head 20 can be simplified. On the other hand, when a different one is used, a dedicated head can be used for each functional liquid (functional liquid made of light-transmitting resin and functional liquid made of light diffusing fine particles 24). When the liquid is switched, it is not necessary to clean the head, and the productivity can be improved.

その後、加熱処理、減圧処理、または加熱減圧処理を行うことにより、光拡散性微粒子624を分散させた液滴622b中の溶剤を蒸発させる。すると、硬化体623aの表面は液滴622bの溶剤によって軟化してここに光拡散性微粒子626が付着していることにより、溶剤が蒸発し硬化体623aの表面が再硬化するのに伴い、光拡散性微粒子624は光透過性樹脂の硬化体623a表面に固定される。そして、このように光拡散性微粒子624を硬化体623a表面に固定することにより、図13(d)に示すようにその表面部に光拡散性微粒子624を分散させてなる、本発明のマイクロレンズ625が得られる。   Thereafter, the solvent in the droplets 622b in which the light diffusing fine particles 624 are dispersed is evaporated by performing a heat treatment, a pressure reduction treatment, or a heat pressure reduction treatment. Then, the surface of the cured body 623a is softened by the solvent of the droplets 622b, and the light diffusing fine particles 626 adhere to the surface, so that the solvent evaporates and the surface of the cured body 623a is re-cured. The diffusible fine particles 624 are fixed to the surface of the light-transmitting resin cured body 623a. Then, by fixing the light diffusing fine particles 624 to the surface of the cured body 623a as described above, the light diffusing fine particles 624 are dispersed on the surface portion as shown in FIG. 13 (d). 625 is obtained.

インクジェット法を用いて光透過性樹脂623と光拡散性微粒子624とからなる凸形状(略半球状)のマイクロレンズ625を形成するので、金型成形法や射出成形法を用いた場合のように成形金型を必要とすることがなく、また材料のロスもほとんどなくなる。したがって、製造コストの低減化を図ることができる。また、得られるマイクロレンズ625が凸形状(略半球状)のものとなるので、このマイクロレンズを例えば360°といった広い角度範囲(方向)に亘ってほぼ均一に光拡散させるものとすることができ、しかも光拡散性微粒子626を複合化していることにより、得られるマイクロレンズに高い拡散性能を付与することができる。   Since the convex (substantially hemispherical) microlens 625 composed of the light transmissive resin 623 and the light diffusing fine particles 624 is formed by using an ink jet method, as in the case of using a mold molding method or an injection molding method. There is no need for a molding die and there is almost no loss of material. Therefore, the manufacturing cost can be reduced. Further, since the obtained microlens 625 has a convex shape (substantially hemispherical), the microlens can be diffused almost uniformly over a wide angle range (direction) such as 360 °. In addition, by combining the light diffusing fine particles 626, high diffusion performance can be imparted to the obtained microlens.

<DNAチップ>
図14は、本発明に係る薄膜パターンを使って、検査機としてのDNAチップを形成する実施形態を説明するための図であり、(a)は平面図、(b)及び(c)はA−A断面図である。なお、DNAチップに関する技術は、例えば、特開平10−168386号公報、特開2000−232883号公報などに記載されている。
図14(a)及び(b)において、本例のDNAチップは、基材900上に反応膜902が設けられた構成からなる。本実施形態においては、反応膜902の周囲に撥液性を有する薄膜903が設けられている。薄膜903は撥液性を有する単分子膜からなる。DNAチップ用の反応膜902を形成する反応剤としては、例えばDNA断片が用いられる。あらかじめ遺伝子配列の判明している数十から数百種類のDNA断片を溶液中に含ませ、基材900上に固定する。さらに、本例のDNAチップは、図13(c)に示すように、基材900の裏側から光が入射し、反応膜902を通過して取り出されるようになっている。本例のDNAチップの使用にあたっては、液状の遺伝子サンプル905を作成し、それをチップ上に配置する。サンプルに適合する遺伝子がある場合は、捕捉反応により反応膜902に反応し塩基配列が特定され、合成された蛍光染料により蛍光を発する。
<DNA chip>
FIG. 14 is a view for explaining an embodiment of forming a DNA chip as an inspection machine using the thin film pattern according to the present invention, wherein (a) is a plan view, and (b) and (c) are A It is -A sectional drawing. Techniques relating to DNA chips are described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 10-168386 and 2000-232883.
14A and 14B, the DNA chip of this example has a structure in which a reaction film 902 is provided on a substrate 900. In this embodiment, a thin film 903 having liquid repellency is provided around the reaction film 902. The thin film 903 is a monomolecular film having liquid repellency. For example, a DNA fragment is used as a reagent for forming the reaction film 902 for the DNA chip. Several tens to several hundreds of DNA fragments whose gene sequences are known in advance are contained in the solution and fixed on the substrate 900. Furthermore, as shown in FIG. 13C, the DNA chip of this example is designed such that light enters from the back side of the substrate 900 and passes through the reaction film 902 to be taken out. In using the DNA chip of this example, a liquid gene sample 905 is prepared and placed on the chip. When there is a gene suitable for the sample, it reacts with the reaction film 902 by the capture reaction, the base sequence is specified, and fluorescence is emitted by the synthesized fluorescent dye.

上記DNAチップの製造するには、まず、基材900上に薄膜903が形成され、次いで、除去領域3を有する薄膜パターンが、本発明に係る薄膜パターンの形成方法に基づいて形成される。次に、吐出ヘッド20により、除去領域3に吐出ヘッド20より反応剤が吐出されて基材900上に反応膜902が形成される。これによりDNAチップが製造される。   To manufacture the DNA chip, first, a thin film 903 is formed on a substrate 900, and then a thin film pattern having a removal region 3 is formed based on the method for forming a thin film pattern according to the present invention. Next, the reactant is ejected from the ejection head 20 to the removal region 3 by the ejection head 20, and a reaction film 902 is formed on the substrate 900. Thereby, a DNA chip is manufactured.

なお、光熱変換層を有する基材900上の全面に反応膜902を予め設けておき、この反応膜902に対して光を照射し、光が照射された照射領域に対応する反応膜902を除去することでパターニングし、基材900上に反応膜902を離散的に配置するようにしてもよい。そして、離散的に配置された反応膜902に対して遺伝子サンプル905を配置すればよい。   Note that a reaction film 902 is provided in advance on the entire surface of the substrate 900 having the photothermal conversion layer, and the reaction film 902 is irradiated with light, and the reaction film 902 corresponding to the irradiation region irradiated with the light is removed. By doing so, the reaction film 902 may be discretely arranged on the substrate 900. And the gene sample 905 should just be arrange | positioned with respect to the reaction film | membrane 902 arrange | positioned discretely.

<その他の実施の形態>
上記実施形態において、昇華性色素層5(又は昇華性色素)の代わりに、光を照射されることによりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層を設けてもよい。このようにすれば、基材1上又は基材1の中にガス発生材料を設けることにより、照射された光によって所望領域からガスを発生させ、そのガスの発生により所望領域の薄膜2を基材1上から除去することができ、薄膜2をパターニングすることができる。したがって、従来のパターニングのおけるマスクを必要とせず、また電子ビームや紫外線を用いることなく、簡便にかつ高い解像度で薄膜をパターニングすることができる。すなわち、本実施形態によっても、使用する光照射装置の選択の幅が広がり、高価で大掛かりな光照射装置及びマスクを用いなくても、基材上より薄膜を良好に除去して高精度にパターニングすることができる。
また、上記ガス発生層は、光が照射されることによりガスが発生するものではなく、加熱されることによりガスが発生するものであってもよい。そして、光熱変換層4に隣接してガス発生層を設け、光熱変換層4に光を照射して熱を発生させ、その熱でガス発生層からガスを発生させて、薄膜2をパターニングすることとしてもよい。そこで、上記実施の形態における基材1又は光熱変換層4と昇華性色素層5との間に、光照射又は加熱によりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層が設けられている構成を採用することもできる。このようにすると、光照射のみにより、加熱のみにより、又は光照射と加熱と両方により、ガスを発生させて、薄膜2をパターニングすることができる。
<Other embodiments>
In the above embodiment, instead of the sublimable dye layer 5 (or sublimable dye), a gas generation layer containing a gas generation material that generates gas when irradiated with light may be provided. In this way, by providing the gas generating material on or in the base material 1, gas is generated from the desired region by the irradiated light, and the thin film 2 in the desired region is formed by the generation of the gas. It can be removed from the material 1 and the thin film 2 can be patterned. Therefore, a thin film can be patterned easily and with high resolution without using a mask for conventional patterning and without using an electron beam or ultraviolet rays. That is, according to the present embodiment, the range of selection of the light irradiation device to be used is widened, and the thin film can be well removed from the base material with high accuracy without using an expensive and large-scale light irradiation device and mask. can do.
The gas generation layer may be one that does not generate gas when irradiated with light but generates gas when heated. Then, a gas generation layer is provided adjacent to the light-to-heat conversion layer 4, the light-to-heat conversion layer 4 is irradiated with light to generate heat, and the gas is generated from the gas generation layer by the heat, thereby patterning the thin film 2. It is good. Therefore, a configuration in which a gas generating layer containing a gas generating material that generates gas by light irradiation or heating is provided between the substrate 1 or the photothermal conversion layer 4 and the sublimable dye layer 5 in the above embodiment. It can also be adopted. In this way, the thin film 2 can be patterned by generating gas only by light irradiation, only by heating, or by both light irradiation and heating.

ガス発生材料は、光を吸収したり光エネルギーから変換された熱エネルギーを吸収すると、分解反応を起こして窒素ガスや水素ガスなどを放出するものであって、発生したガスにより薄膜2を除去するエネルギーを提供する役割を有する。このようなガス発生材料としては、四窒酸ペンタエリトリトール(pentaerythritol tetranitrate :PETN)及びトリニトロトルエン(trinitrotoluene:TNT)よりなる群から選択された少なくとも一つの物質等、あるいはGAP(グリシジルアジドポリマー)等が挙げられる。   When the gas generating material absorbs light or absorbs thermal energy converted from light energy, it causes a decomposition reaction to release nitrogen gas, hydrogen gas, etc., and the thin film 2 is removed by the generated gas. Has the role of providing energy. Examples of such a gas generating material include at least one substance selected from the group consisting of pentaerythritol tetranitrate (PETN) and trinitrotoluene (TNT), or GAP (glycidyl azide polymer). Can be mentioned.

本発明のパターンの形成方法に使うパターン形成装置の一実施形態を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows one Embodiment of the pattern formation apparatus used for the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の他の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows other embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の他の実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows other embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明に係る薄膜の形成手順の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the formation procedure of the thin film which concerns on this invention. 本発明のパターンの形成方法に使うパターン形成装置の他の実施形態を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows other embodiment of the pattern formation apparatus used for the formation method of the pattern of this invention. 本発明の配線パターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the wiring pattern of this invention. 本発明の配線パターンの形成方法に使う吐出ヘッドを示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the discharge head used for the formation method of the wiring pattern of this invention. 本発明の配線パターンの形成方法により形成された配線パターンを有する電気光学装置の一例を示すプラズマディスプレイの分解斜視図である。It is an exploded perspective view of a plasma display showing an example of an electro-optical device having a wiring pattern formed by the wiring pattern forming method of the present invention. 本発明のパターンの形成方法により形成された薄膜を使って製造される電気光学装置の一例を示す図であって、液晶表示装置のカラーフィルタの製造工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the electro-optical apparatus manufactured using the thin film formed by the formation method of the pattern of this invention, Comprising: It is a figure which shows an example of the manufacturing process of the color filter of a liquid crystal display device. 本発明のパターンの形成方法により形成された薄膜を使って製造される電気光学装置の一例を示す図であって、有機EL表示装置を示す側断面図である。It is a figure which shows an example of the electro-optical apparatus manufactured using the thin film formed by the formation method of the pattern of this invention, Comprising: It is a sectional side view which shows an organic electroluminescence display. 本発明の電気光学装置を有する電子機器の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of an electronic apparatus having the electro-optical device of the invention. 本発明に係る薄膜パターンを使ってマイクロレンズを形成する手順を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the procedure which forms a micro lens using the thin film pattern which concerns on this invention. 本発明に係る薄膜パターンを使って形成された遺伝子チップの一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram showing one embodiment of a gene chip formed using a thin film pattern according to the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…基材、2…薄膜(単分子膜)、3…除去領域、4…光熱変換層、5…昇華性色素層11…光源、15…マスク、20…吐出ヘッド

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Base material, 2 ... Thin film (monomolecular film), 3 ... Removal area | region, 4 ... Photothermal conversion layer, 5 ... Sublimation dye layer 11 ... Light source, 15 ... Mask, 20 ... Discharge head

Claims (25)

昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material containing a sublimable material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by sublimating the sublimable material in a desired region by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region,
前記薄膜は光開始剤を有するモノマーを含むことを特徴とするパターンの形成方法。  The method for forming a pattern, wherein the thin film contains a monomer having a photoinitiator.
昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material containing a sublimable material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by sublimating the sublimable material in a desired region by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region,
前記基材に、前記昇華性材料が混在されていることを特徴とするパターンの形成方法。  A method of forming a pattern, wherein the sublimation material is mixed in the base material.
昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material containing a sublimable material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by sublimating the sublimable material in a desired region by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region,
前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射することを特徴とするパターンの形成方法。  The pattern forming method, wherein the light is irradiated from the other surface side of the base material on which the thin film is not provided.
昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material containing a sublimable material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by sublimating the sublimable material in a desired region by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region,
前記薄膜及び前記基材の少なくとも1つの光透過率に基づいて、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側及び前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側のどちらかから前記光を照射するかを決定することを特徴とするパターンの形成方法。  Based on at least one light transmittance of the thin film and the base material, either the one surface side of the base material provided with the thin film or the other surface side of the base material not provided with the thin film Determining whether to irradiate the light.
昇華性材料及び光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む基材の一方の面側に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on one surface side of a substrate including a sublimable material and a light-to-heat conversion material that converts light energy into heat energy, light is irradiated onto the substrate, and a desired region is generated by heat generated by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to the irradiated region irradiated with the light by sublimating the sublimable material of
前記昇華性材料は、前記基材の表面側又は裏面側に、前記基材及び前記薄膜とは独立した昇華性色素層として形成されており、  The sublimable material is formed as a sublimable dye layer independent of the base material and the thin film on the front surface side or the back surface side of the base material,
前記光熱変換材料を含む光熱変換層が、前記基材、前記薄膜及び前記昇華性色素層とは独立して設けられており、  A photothermal conversion layer containing the photothermal conversion material is provided independently of the base material, the thin film and the sublimable dye layer,
前記光熱変換層は、前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側に設けられていることを特徴とするパターンの形成方法。  The method for forming a pattern, wherein the photothermal conversion layer is provided on the other surface side of the base material on which the thin film is not provided.
ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material including a gas generating material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by generating gas from the gas generating material in a desired region by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to an irradiation region,
前記薄膜は光開始剤を有するモノマーを含むことを特徴とするパターンの形成方法。  The method for forming a pattern, wherein the thin film contains a monomer having a photoinitiator.
ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material including a gas generating material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by generating gas from the gas generating material in a desired region by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to an irradiation region,
前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射することを特徴とすることを特徴とするパターンの形成方法。  The pattern is formed by irradiating the light from the other surface side of the base material on which the thin film is not provided.
ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングするパターンの形成方法であって、  A thin film is provided on a base material including a gas generating material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by generating gas from the gas generating material in a desired region by the light irradiation. A pattern forming method of patterning the thin film by removing the thin film corresponding to an irradiation region,
前記薄膜及び前記基材の少なくとも1つの光透過率に基づいて、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側及び前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側のどちらかから前記光を照射するかを決定することを特徴とするパターンの形成方法。  Based on at least one light transmittance of the thin film and the base material, either the one surface side of the base material provided with the thin film or the other surface side of the base material not provided with the thin film Determining whether to irradiate the light.
前記昇華性材料は昇華性色素を含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載のパターンの形成方法。 The said sublimable material contains a sublimable pigment | dye, The pattern formation method as described in any one of Claims 1-5 characterized by the above-mentioned. 前記薄膜は有機薄膜を含むことを特徴とする請求項1〜のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The thin film pattern forming method as set forth in any one of claims 1 to 9, characterized in that it comprises an organic thin film. 前記薄膜は単分子膜を含むことを特徴とする請求項1〜のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The thin film pattern forming method according to any one of claims 1 to 9, characterized in that it comprises a monolayer. 前記薄膜は光開始剤を有するモノマーを含むことを特徴とする請求項5、7及び9のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The thin film pattern forming method according to any one of claims 2 to 5, 7 and 9, characterized in that it comprises a monomer having a photoinitiator. 前記昇華性材料は、前記基材の表面側又は裏面側に、前記基材及び前記薄膜とは独立した昇華性色素層として形成されることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The sublimable material on a surface side or back side of the substrate, any one of claim 1 to 4, wherein the substrate and the thin film, characterized in that it is formed as an independent sublimable dye layer A method for forming the pattern according to 1. 前記昇華性色素層は、前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側に設けられていることを特徴とする請求項13に記載のパターンの形成方法。 The pattern forming method according to claim 13, wherein the sublimable dye layer is provided on one surface side of the base material on which the thin film is provided. 前記昇華性色素層は、前記薄膜と隣接して設けられていることを特徴とする請求項13または14に記載のパターンの形成方法。 The method for forming a pattern according to claim 13 or 14, wherein the sublimable dye layer is provided adjacent to the thin film. 前記昇華性色素層は、前記基材と前記薄膜との間に設けられていることを特徴とする請求項1315のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The pattern forming method according to any one of claims 13 to 15 , wherein the sublimable dye layer is provided between the substrate and the thin film. 前記基材に、前記昇華性材料が混在されていることを特徴とする請求項のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The pattern forming method according to any one of claims 3 to 5 , wherein the sublimable material is mixed in the base material. 前記基材は、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含むことを特徴とする請求項1〜4及び6〜7のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The substrate is a pattern forming method according to any one of claims 1-4 and 6-7 for the light energy, characterized in that it comprises a photothermal conversion material that converts into thermal energy. 前記基材は、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含み、前記昇華性色素層に、前記光熱変換材料が混在されていることを特徴とする請求項1316のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The substrate, the light energy comprises a photothermal conversion material that converts into thermal energy, to the sublimable dye layer, any one of claims 13 to 16, wherein the photothermal conversion material is mixed A method for forming the pattern according to 1. 前記基材の前記薄膜が設けられた一方の面側から前記光を照射することを特徴とする請求項1、2、5及び6のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The pattern forming method according to any one of claims 1 , 2, 5, and 6, wherein the light is irradiated from one surface side of the base material on which the thin film is provided. 前記基材の前記薄膜が設けられていない他方の面側から前記光を照射することを特徴とする請求項のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The pattern forming method according to any one of claims 5 to 8 , wherein the light is irradiated from the other surface side of the base material on which the thin film is not provided. 前記光は、前記昇華性材料及び前記光熱変換材料の少なくとも一方に応じた波長を有することを特徴とする請求項19に記載のパターンの形成方法。 The pattern forming method according to claim 19, wherein the light has a wavelength corresponding to at least one of the sublimable material and the photothermal conversion material. 請求項1〜請求項22のいずれか一項記載の形成方法により形成された薄膜パターンを有する前記基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置することにより配線パターンを形成することを特徴とする配線パターンの形成方法。 To claim 1 wherein the substrate on which has a thin film pattern formed by forming method according to any one of claims 22 to form a wiring pattern by placing a droplet containing a wiring pattern forming material A method for forming a wiring pattern. 昇華性材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって生じる熱により所望領域の前記昇華性材料を昇華させることで、前記光が照射された照射領域に対応する位置の前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングする工程と、  A thin film is provided on a base material containing a sublimable material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by sublimating the sublimable material in a desired region by heat generated by the light irradiation. Patterning the thin film by removing the thin film at a position corresponding to the irradiated region;
パターニングされた前記薄膜を有する前記基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置することにより配線パターンを形成する工程と、  Forming a wiring pattern by disposing a droplet containing a wiring pattern forming material on the substrate having the patterned thin film;
を有することを特徴とする配線パターンの形成方法。  A method of forming a wiring pattern, comprising:
ガス発生材料を含む基材上に薄膜を設け、前記基材に対して光を照射し、前記光の照射によって所望領域の前記ガス発生材料からガスを発生させることで、前記光が照射された照射領域に対応する位置の前記薄膜を除去することにより該薄膜をパターニングする工程と、  A thin film is provided on a base material including a gas generating material, the base material is irradiated with light, and the light is irradiated by generating gas from the gas generating material in a desired region by the light irradiation. Patterning the thin film by removing the thin film at a position corresponding to the irradiated region;
パターニングされた前記薄膜を有する前記基材上に、配線パターン形成用材料を含む液滴を配置することにより配線パターンを形成する工程と、  Forming a wiring pattern by disposing a droplet containing a wiring pattern forming material on the substrate having the patterned thin film;
を有することを特徴とする配線パターンの形成方法。  A method of forming a wiring pattern, comprising:
JP2003292469A 2003-08-12 2003-08-12 Pattern forming method and wiring pattern forming method Expired - Lifetime JP4433722B2 (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003292469A JP4433722B2 (en) 2003-08-12 2003-08-12 Pattern forming method and wiring pattern forming method
US10/898,344 US7172912B2 (en) 2003-08-12 2004-07-26 Pattern forming method and wiring pattern forming method, and electro-optic device and electronic equipment
TW093123499A TWI242104B (en) 2003-08-12 2004-08-05 Method for forming pattern and method for forming circuit pattern, electro-optical device, and electronic equipment
CNB2004100560669A CN100421532C (en) 2003-08-12 2004-08-10 Figure-forming method and wire-layout figure forming method, photoelectronic device and electronic apparatus
KR1020040063269A KR100608122B1 (en) 2003-08-12 2004-08-11 Pattern forming method and wiring pattern forming method
US11/519,762 US20070010038A1 (en) 2003-08-12 2006-09-13 Pattern forming method and wiring pattern forming method, and electro-optic device and electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003292469A JP4433722B2 (en) 2003-08-12 2003-08-12 Pattern forming method and wiring pattern forming method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005058911A JP2005058911A (en) 2005-03-10
JP4433722B2 true JP4433722B2 (en) 2010-03-17

Family

ID=34131720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003292469A Expired - Lifetime JP4433722B2 (en) 2003-08-12 2003-08-12 Pattern forming method and wiring pattern forming method

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7172912B2 (en)
JP (1) JP4433722B2 (en)
KR (1) KR100608122B1 (en)
CN (1) CN100421532C (en)
TW (1) TWI242104B (en)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004079450A1 (en) * 2003-03-06 2004-09-16 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Method for manufacturing a patterned structure
JP2005062356A (en) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp Method for forming pattern, method for forming wiring pattern, electro-optic apparatus and electronic appliance
JP4433722B2 (en) * 2003-08-12 2010-03-17 セイコーエプソン株式会社 Pattern forming method and wiring pattern forming method
JP2006147827A (en) * 2004-11-19 2006-06-08 Seiko Epson Corp Method for forming wiring pattern, process for manufacturing device, device, electrooptical device, and electronic apparatus
JP4752349B2 (en) * 2005-06-23 2011-08-17 大日本印刷株式会社 Pattern forming body and manufacturing method thereof
US7817175B2 (en) 2005-08-30 2010-10-19 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Laser induced thermal imaging apparatus and fabricating method of organic light emitting diode using the same
KR100713994B1 (en) * 2005-09-13 2007-05-04 삼성에스디아이 주식회사 Laser induced thermal imaging apparatus and laser induced thermal imaging method using the apparatus
JP2007128845A (en) 2005-11-04 2007-05-24 Samsung Sdi Co Ltd Laser heat transfer device and the laser heat transfer method
JP5167707B2 (en) * 2006-08-04 2013-03-21 株式会社リコー Multilayer structure, multilayer wiring board, active matrix substrate, and electronic display device
JP2008198574A (en) * 2007-02-15 2008-08-28 Fuji Electric Holdings Co Ltd Patterning method of color conversion layer, and manufacturing method of organic el-display
KR101563237B1 (en) * 2007-06-01 2015-10-26 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Manufacturing apparatus and manufacturing method of light-emitting device
JP5094535B2 (en) * 2008-05-07 2012-12-12 富士フイルム株式会社 Recess formation method, uneven product manufacturing method, light emitting element manufacturing method, and optical element manufacturing method
WO2010064386A1 (en) * 2008-12-04 2010-06-10 国立大学法人大阪大学 Pattern-forming method
KR101067345B1 (en) 2009-08-06 2011-09-23 한국과학기술원 Method and apparatus for fabricating pattern
KR101181307B1 (en) 2011-02-09 2012-09-11 한국과학기술원 Method for measuring plasma formation time
TW201431155A (en) * 2013-01-23 2014-08-01 Au Optronics Corp Method for forming patterned structural layer
WO2015047832A1 (en) * 2013-09-26 2015-04-02 Veeco Ald Inc. Printing of colored pattern using atommic layer deposition
CN103882374B (en) * 2014-03-03 2016-01-13 京东方科技集团股份有限公司 Mask, organic layer working method, display base plate preparation method
US9657404B2 (en) * 2014-06-27 2017-05-23 Wistron Neweb Corp. Method of forming metallic pattern on polymer substrate
CN104162500B (en) * 2014-08-21 2016-02-03 靖江市维益知识产权服务有限公司 For the base of mobile phone colored drawing dryer
CN104754875B (en) * 2015-03-08 2018-01-23 北京化工大学 The preparation method of copper@silver metal conducting films and its application on a printed circuit board
WO2017062202A1 (en) * 2015-10-08 2017-04-13 Massachusetts Institute Of Technology Carrier-substrate adhesive system
CN105489788B (en) * 2015-12-29 2017-07-21 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 OLED pixel pattern evaporation coating method and system
US10758655B2 (en) * 2016-08-11 2020-09-01 Cardiac Pacemakers, Inc. Systems and methods to reduce injury in the heart
JP2018053283A (en) * 2016-09-27 2018-04-05 セイコーエプソン株式会社 Method of pattern formation, and production methods of: ornament, wristwatch belt, wire mounting structure, semiconductor device, and printed wiring board
JP6574873B1 (en) * 2018-05-25 2019-09-11 株式会社三和スクリーン銘板 Panel member manufacturing method
CN109817827B (en) * 2019-01-22 2021-01-01 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Manufacturing equipment and manufacturing method of OLED display panel

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62276505A (en) 1986-05-23 1987-12-01 Mitsubishi Electric Corp Production of color filter
JPH0574704A (en) 1991-09-13 1993-03-26 Seiko Epson Corp Semiconductor layer forming method
GB2305509A (en) * 1995-09-19 1997-04-09 Minnesota Mining & Mfg Heat sensitive elements
JP3731632B2 (en) * 1998-10-30 2006-01-05 信越化学工業株式会社 Wiring board manufacturing method
US6121130A (en) * 1998-11-16 2000-09-19 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Laser curing of spin-on dielectric thin films
JP3879312B2 (en) 1999-03-31 2007-02-14 セイコーエプソン株式会社 Film forming method and device manufacturing method
US6521324B1 (en) * 1999-11-30 2003-02-18 3M Innovative Properties Company Thermal transfer of microstructured layers
JP3578110B2 (en) * 2000-06-15 2004-10-20 セイコーエプソン株式会社 Electro-optical devices and electronic equipment
US6734029B2 (en) * 2000-06-30 2004-05-11 Seiko Epson Corporation Method for forming conductive film pattern, and electro-optical device and electronic apparatus
JP2005062356A (en) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp Method for forming pattern, method for forming wiring pattern, electro-optic apparatus and electronic appliance
JP4433722B2 (en) * 2003-08-12 2010-03-17 セイコーエプソン株式会社 Pattern forming method and wiring pattern forming method

Also Published As

Publication number Publication date
US20070010038A1 (en) 2007-01-11
US20050037275A1 (en) 2005-02-17
KR100608122B1 (en) 2006-08-02
TW200506515A (en) 2005-02-16
US7172912B2 (en) 2007-02-06
KR20050017591A (en) 2005-02-22
JP2005058911A (en) 2005-03-10
CN100421532C (en) 2008-09-24
CN1582093A (en) 2005-02-16
TWI242104B (en) 2005-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4433722B2 (en) Pattern forming method and wiring pattern forming method
JP4400138B2 (en) Method for forming wiring pattern
JP2005062356A (en) Method for forming pattern, method for forming wiring pattern, electro-optic apparatus and electronic appliance
US7217334B2 (en) Method for forming film, method for forming wiring pattern, method for manufacturing semiconductor device, electro-optical device, and electronic device
KR100676155B1 (en) Method for forming patterned conductive film, electrooptical device, and electronic appliance
TWI285800B (en) Method for forming photoresist pattern, method for forming wiring pattern, method for making semiconductor devices, electro-optical device and electronic apparatus
JPH08216401A (en) Recording method and recording liquid
US7524764B2 (en) Method of forming film pattern, device, method of manufacturing the same, electro-optical apparatus, and electronic apparatus
JP2005081299A (en) Method for forming film, method for forming circuit pattern, method for producing semiconductor device, electro-optical apparatus, and electronic apparatus
US7094641B2 (en) Method for forming wiring pattern, method for manufacturing semiconductor device, electro-optic device and electronic equipment
US20050079338A1 (en) Method of heat treatment, method for forming wiring pattern, method for manufacturing electro-optic device, and electro-optic device and electronic apparatus
JP2005091849A (en) Photomask, method for manufacturing photomask, wiring board, color filter, and electrooptical equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060801

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090825

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091016

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091208

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091221

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4433722

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140108

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term