JP4417889B2 - Optical disc apparatus, optical information recording method and program - Google Patents
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Description
本発明は、ＣＤやＤＶＤ等の光記録媒体に情報を記録し、再生する光ディスク装置および光情報記録方法およびプログラムに関する。 The present invention relates to an optical disc apparatus, an optical information recording method, and a program for recording and reproducing information on an optical recording medium such as a CD and a DVD.
近年、情報通信技術の発達により、インターネット等が目覚しい勢いで普及したことにより、ネットワークを介して多くの情報がさかんにやり取りされている。こうした状況の中、近年、情報記録装置の分野において、ＣＤ−Ｒなどの追記型光ディスクやＣＤ−ＲＷなどの書き換え型光ディスクが記録媒体として注目を浴びており、最近では、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化、高い開口数（Numerical Aperture)を有する高ＮＡ対物レンズによるスポット径の小径化、及び薄型基板の採用などにより、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量の光ディスクが情報記録装置において用いられている。 In recent years, due to the development of information communication technology, the Internet and the like have been spread at a remarkable speed, so that a lot of information is exchanged over a network. Under these circumstances, in recent years, in the field of information recording apparatuses, write-once optical discs such as CD-R and rewritable optical discs such as CD-RW have attracted attention as recording media. Recently, semiconductor lasers as laser light sources have been attracting attention. Large-capacity optical discs such as DVD-R, DVD-RW, and DVD-RAM by shortening the wavelength, reducing the spot diameter with a high NA objective lens having a high numerical aperture, and adopting a thin substrate Are used in information recording devices.
ＣＤ−Ｒ等への情報の記録は、ＰＣ（ＰＣ：Personal Computer）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（ＥＦＭ：Eight to Fourteen Modulation)信号に変換して行われるが、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いから、記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のランドやスペースを形成することはできない。
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスク固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて良好な記録品質を維持する方式が採用されている。
Recording of information on a CD-R or the like is performed by converting recording information given from a PC (PC: Personal Computer) or the like into an EFM (Eight: Fourteen Modulation) signal, which constitutes an optical disk to be used. Due to the difference in the composition of the dye recording layer and the like, problems such as poor mark formation due to insufficient heat storage and cooling rate of the recording medium occur. Even if an EFM signal is recorded as it is, a desired land or space is formed. I can't do it.
For this reason, a method is adopted in which a recording parameter specific to each optical disc to be used (hereinafter referred to as a write strategy) is determined for a reference recording waveform to maintain good recording quality.
このライトストラテジは、上記のように、光ディスクの色素、相変化材料、色素の膜厚あるいは溝の形状等ばかりでなく、記録速度とも密接な関係があることが知られている。一般に、代表的なライトストラテジは、ピットとランドの比率を可変する方法、記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法、ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法、記録パルスをマルチパルス化する方法等がある。 As described above, it is known that this write strategy is closely related not only to the dye of the optical disk, the phase change material, the film thickness of the dye or the shape of the groove, but also to the recording speed. In general, typical write strategies include a method of changing the ratio of pits and lands, a method of adding an additional pulse to the tip of a recording pulse, a method of changing the rising or falling position of a pulse by a combination of pits and lands, and recording. There is a method of making a pulse into a multi-pulse.
ピットとランドの比率を可変する方法は、低速記録時にピットの長さを短くすることにより、強い記録パワーで短いパルスを光ディスクに照射することで、生成されるピットの先端および終端の形状を良くする作用がある。
記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法は、レーザの照射が熱に変換されにくいピットの先端部に対して、付加的に記録パワーを与えることにより、形成されるピット先端部の形状を良くする作用がある。
The method of changing the ratio of pits and lands is to reduce the length of the pits during low-speed recording, and irradiate the optical disc with a short pulse with a strong recording power, so that the shape of the leading and trailing ends of the generated pits is improved. Has the effect of
The method of applying an additional pulse to the tip of the recording pulse is to improve the shape of the formed pit tip by additionally giving a recording power to the tip of the pit where the laser irradiation is difficult to convert to heat. Has the effect of
ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法は、例えば、ひとつ前のピットの熱がランドを伝わって次のピットに影響を与えることから、前のランドの長さに応じて、ランドの終端位置を変えたり、記録ピットの熱が前方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの先端位置を変えたり、記録ピットの熱が後方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの終端位置を変えたり、ひとつ後ろのピットの熱が、後のランドを伝わって影響を及ぼすために、後ろのランドの長さに従ってランドの先端位置を変えることにより、形成されるピットおよびランドの長さのばらつきを均一化できる作用がある。 The method of changing the rising or falling position of the pulse by combining the pit and land is, for example, that the heat of the previous pit is transmitted to the land and affects the next pit. In order to change the end position of the land or to transfer the heat of the recording pit to the front, depending on the length of the recording pit, to change the tip position of the pit or to transmit the heat of the recording pit to the rear, Depending on the length of the recorded pit, the end position of the pit is changed. By changing, there is an effect that the variation in the length of the formed pits and lands can be made uniform.
記録パルスをマルチパルス化する方法は、ＣＤ−ＲＷ等の相変化型ディスクあるいはＤＶＤに用いられる方法である。相変化型ディスクに連続したパルスで情報の記録を行うと、自身の熱の作用によって記録したピットの先端部分を消去してしまうため、ピット間に冷却期間を設けたマルチパルスが用いられるのである。 The method of making the recording pulse multipulse is a method used for a phase change disk such as a CD-RW or a DVD. When information is recorded on the phase change disk with continuous pulses, the tip portion of the recorded pit is erased by the action of its own heat, so a multi-pulse with a cooling period between the pits is used. .
このようなライトストラテジは、上述のように、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いや記録速度の違いにより、使用する光ディスクごとに最適化されて用いられるが、このライトストラテジの最適化を行うドライブメーカは、このために大変な時間と工数を要しているのが現状である。
また、市場には、ドライブメーカが把握しきれないほどの大量の種類におよぶ光ディスクが流通していることから、市場に流通しているすべての光ディスクについて予め適切なライトストラテジを用意することは不可能である。
As described above, such a write strategy is optimized for each optical disk to be used due to the difference in the composition of the dye recording layer and the like constituting the optical disk to be used and the difference in the recording speed. The current situation is that drive manufacturers that perform optimization require a lot of time and man-hours for this purpose.
In addition, since there are a large number of types of optical discs in the market that cannot be grasped by drive manufacturers, it is not possible to prepare appropriate write strategies in advance for all optical discs in the market. Is possible.
このような問題に対して、光ディスクのテストエリアにおいて、複数のトラックにライトストラテジを変化させた複数の情報を記録し、再生ジッタが最小となるストラテジを選択する方法（例えば、特許文献１参照。）や特殊な記録パターンにより情報を記録した後に、マークとスペースとの組み合わせによるジッタ値あるいはデビエーション値が最も小さくなる組み合わせを求める方法（例えば、特許文献２参照。）が提案されている。
しかしながら、前者の方法では、最終的に選択されるライトストラテジが、設定したライトストラテジの中で最良のライトストラテジであるにすぎず、必ずしも、使用する光ディスクに最適なライトストラテジとは言えない。また、テストに要する記録領域だけトラックを使用してしまうという問題がある。
また、後者の方法では、特殊な記録パターンを使用する関係上、特定のマークあるいはスペースを変化させたときの他のマークあるいはスペースへの影響が十分考慮されないために、一度の記録再生テストにより、使用する光ディスクに最適なライトストラテジを設定することは極めて困難であるという問題がある。
さらに、ＤＶＤ−Ｒの規格に従えば、可変できるマークおよびスペースの組み合わせが３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔの3通りしかなく、かつ各パラメータの可変範囲が−０．１Ｔ〜＋０．０５Ｔの狭い範囲に制限されているため、マークおよびスペースをずらしながらデビエーションを０に近づけていく方法のみでは限界がある。
However, in the former method, the finally selected write strategy is only the best write strategy among the set write strategies, and is not necessarily the optimum write strategy for the optical disc to be used. There is also a problem that tracks are used only in the recording area required for the test.
In the latter method, because of the use of a special recording pattern, the influence on other marks or spaces when a specific mark or space is changed is not sufficiently considered. There is a problem that it is extremely difficult to set an optimal write strategy for the optical disk to be used.
Furthermore, according to the DVD-R standard, there are only three combinations of marks and spaces that can be changed: 3T, 4T, and 5-14T, and the variable range of each parameter is a narrow range of -0.1T to + 0.05T. Therefore, there is a limit only in the method of making the
そこで、本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、可変できるマークおよびスペースの組み合わせが制限され、かつ、パラメータの可変範囲が狭い場合にも、使用する光ディスクに最適なパラメータを短時間で設定することができる光ディスク装置、光情報記録方法およびプログラムを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the above-described problems, and the optimum parameter for an optical disc to be used is limited even when the combination of variable marks and spaces is limited and the variable range of parameters is narrow. It is an object of the present invention to provide an optical disc apparatus, an optical information recording method, and a program that can set the recording time in a short time.
上記の課題を解決するために、本発明は以下の事項を提案している。
請求項１に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、該光情報記録媒体に基準ライトストラテジおよび基準ライトストラテジに対して、特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長を計測する第１の計測手段と、該第１の計測手段の計測結果を記憶する第１の計測値記憶手段と、各マークあるいはスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、前記第１の計測値記憶手段に記憶されたマーク長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出する第１のデビエーション値算出手段と、該算出されたデビエーション値と、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量を算出する第１の伸縮量算出手段と、該算出されたすべてのマーク固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定する第１のライトストラテジ設定手段と、特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたときに、各マークの前後のスペース長の変化量を各マークの存在確率に基づいて算出する変化量算出手段と、前記第１のライトストラテジ設定手段により設定されたライトストラテジに前記変化量算出手段において算出された変化量を付加して、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジを更新するライトストラテジ更新手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
In order to solve the above problems, the present invention proposes the following matters.
The invention according to
請求項３に係る発明は、光情報記録媒体に基準ライトストラテジおよび基準ライトストラテジに対して、特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長を計測するステップと、該各マーク長の計測結果を記憶するステップと、予め記憶されたマーク長と前記記憶されたマーク長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量を算出するステップと、該算出されたすべてのマーク固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップと、前記ライトストラテジを設定ステップにおいて設定されたライトストラテジに、各マークの存在確率に基づいて算出される特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたときの各マークの前後のスペース長の変化量を付加するとともに、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジを更新するステップとを有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。 According to a third aspect of the present invention, each mark when information is recorded on an optical information recording medium using a write strategy in which the pulse width of a specific mark and a powered pulse is changed with respect to the reference write strategy and the reference write strategy. A step of measuring a length; a step of storing a measurement result of each mark length; and a deviation of each mark by changing the write strategy based on the previously stored mark length and the stored mark length A step of calculating a value, a step of calculating an expansion / contraction amount specific to all marks from the calculated deviation value and the probability of existence of each mark, and based on the calculated expansion / contraction amount and existence probability of all the marks To compensate for the reference write strategy so that the deviation values of all marks are within the specified range. A value is calculated and an optimum write strategy is set, and the write strategy set in the write strategy is set to a specific mark and a pulse width of a powered pulse calculated based on the existence probability of each mark. Adding a change amount of the space length before and after each mark when changed, and updating the write strategy by shifting each mark so that the change amount of the space length before and after each mark becomes equal. An optical information recording method characterized by the above is proposed.
請求項５に係る発明は、光情報記録媒体に基準ライトストラテジおよび基準ライトストラテジに対して、特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長を計測するステップと、該各マーク長の計測結果を記憶するステップと、予め記憶されたマーク長と前記記憶されたマーク長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量を算出するステップと、該算出されたすべてのマーク固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップと、前記ライトストラテジを設定ステップにおいて設定されたライトストラテジに、各マークの存在確率に基づいて算出される特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたときの各マークの前後のスペース長の変化量を付加するとともに、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジを更新するステップとをコンピュータに実行させるためのプログラムを提案している。 According to the fifth aspect of the present invention, each mark when information is recorded on an optical information recording medium using a write strategy in which the pulse width of a specific mark and a powered pulse is changed with respect to the reference write strategy and the reference write strategy. A step of measuring a length; a step of storing a measurement result of each mark length; and a deviation of each mark by changing the write strategy based on the previously stored mark length and the stored mark length A step of calculating a value, a step of calculating an expansion / contraction amount specific to all marks from the calculated deviation value and the probability of existence of each mark, and based on the calculated expansion / contraction amount and existence probability of all the marks To compensate for the reference write strategy so that the deviation values of all marks are within the specified range. A value is calculated and an optimum write strategy is set, and the write strategy set in the write strategy is set to a specific mark and a pulse width of a powered pulse calculated based on the existence probability of each mark. The step of updating the write strategy by adding the amount of change in the space length before and after each mark at the time of change and shifting each mark so that the amount of change in the space length before and after each mark becomes equal A program to execute it is proposed.
これらの発明によれば、第１の計測手段の作動により、光情報記録媒体に基準ライトストラテジおよび基準ライトストラテジに対して、特定のマークおよびパワードにパルスを変化させたライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長が計測される。測定された各マーク長は、第１のデビエーション値算出手段の作動により、予め記憶されている各マークの理論長に基づいて、ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出される。算出されたデビエーション値は、第１の伸縮量算出手段の作動により、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量が算出される。そして、第１のライトストラテジ設定手段の作動により、算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジが設定される。次に、このライトストラテジに各マークの存在確率に基づいて算出される特定のマークおよびパワードにパルスを変化させたときの各マークの前後のスペース長の変化量が付加され、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジが更新される。 According to these inventions, by the operation of the first measuring means, information is obtained using the reference write strategy on the optical information recording medium and the write strategy in which the pulse is changed to a specific mark and powered with respect to the reference write strategy. Each mark length at the time of recording is measured. Each measured mark length is calculated as a deviation value of each mark by changing the write strategy based on the theoretical length of each mark stored in advance by the operation of the first deviation value calculating means. . With respect to the calculated deviation value, the expansion / contraction amount unique to all marks is calculated from the existence probability of each mark by the operation of the first expansion / contraction amount calculation means. Then, by operating the first write strategy setting means, the reference write strategy is set so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range based on the calculated expansion / contraction amount and existence probability unique to all the marks and spaces. The correction value for is calculated, and an optimal write strategy is set. Next, a specific mark calculated based on the existence probability of each mark and the amount of change in space length before and after each mark when the pulse is changed to power are added to this write strategy, and the space before and after each mark is added. The write strategy is updated by shifting each mark so that the amount of change in length becomes equal.
請求項２に係る発明は、請求項１に記載された光ディスク装置について、前記更新されたライトストラテジおよび更新されたライトストラテジに対して、所定のマークあるいはスペースを変化させたときのライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長あるいはスペース長を計測する第２の計測手段と、該第２の計測手段の計測結果を記憶する第２の計測値記憶手段と、前記第２の計測値記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークあるいはスペース長のデビエーション値を算出する第２のデビエーション値算出手段と、該算出されたデビエーション値と、各マークあるいはスペース長の存在確率からすべてのマークあるいはスペース長固有の伸縮量を算出する第２の伸縮量算出手段と、該算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、前記更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定する第２のライトストラテジ設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
The invention according to
請求項４に係る発明は、請求項３に記載された光情報記録方法について、前記更新されたライトストラテジおよび更新されたライトストラテジに対して、所定のマークあるいはスペースを変化させたときのライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長あるいはスペース長を計測するステップと、該計測結果を記憶するステップと、該記憶されたマーク長あるいはスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークあるいはスペース長のデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークあるいはスペース長の存在確率からすべてのマークあるいはスペース長固有の伸縮量を算出するステップと、該算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、前記更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップとを有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the optical information recording method according to the third aspect, wherein the write strategy when a predetermined mark or space is changed with respect to the updated write strategy and the updated write strategy. A step of measuring each mark length or space length when information is recorded using the method, a step of storing the measurement result, a mark length stored in the theoretical length storage means and the stored mark length or space length Based on the length or space length, a step of calculating a deviation value of each mark or space length by changing the write strategy, and from the calculated deviation value and the existence probability of each mark or space length, Calculating an amount of expansion or contraction specific to the mark or space length; and Based on the amount of expansion and contraction unique to all the marks and spaces and the existence probability, the correction values for the updated write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and the optimum write strategy is calculated. An optical information recording method has been proposed.
請求項６に係る発明は、請求項５に記載されたプログラムについて、前記更新されたライトストラテジおよび更新されたライトストラテジに対して、所定のマークあるいはスペースを変化させたときのライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長あるいはスペース長を計測するステップと、該計測結果を記憶するステップと、該記憶されたマーク長あるいはスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークあるいはスペース長のデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークあるいはスペース長の存在確率からすべてのマークあるいはスペース長固有の伸縮量を算出するステップと、該算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、前記更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップとをコンピュータに実行させるための請求項５に記載されたプログラムを提案している。
The invention according to
これらの発明によれば、第２の計測手段の作動により、更新されたライトストラテジおよび更新されたライトストラテジに対して、所定のマークあるいはスペースを変化させたときのライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長あるいはスペース長が計測される。計測された各マーク長あるいはスペース長は、第２のデビエーション値算出手段の作動により、予め記憶されている各マークあるいはスペースの理論長に基づいて、ライトストラテジが変化したことによる各マークあるいはスペースのデビエーション値を算出される。算出されたデビエーション値は、第２の伸縮量算出手段の作動により、各マークあるいはスペースの存在確率からすべてのマークあるいはスペース固有の伸縮量が算出される。そして、第２のライトストラテジ設定手段の作動により、算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークあるいはスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジが設定される。 According to these inventions, the information is recorded using the write strategy when the predetermined mark or space is changed with respect to the updated write strategy and the updated write strategy by the operation of the second measuring means. Each mark length or space length is measured. The measured mark length or space length is determined by the operation of the second deviation value calculating means based on the theoretical length of each mark or space stored in advance, and the mark or space length due to the change in the write strategy. A deviation value is calculated. With respect to the calculated deviation value, the expansion / contraction amount specific to all the marks or spaces is calculated from the existence probability of each mark or space by the operation of the second expansion / contraction amount calculation means. Then, by the operation of the second write strategy setting means, the deviation values of all the marks or spaces are updated within a predetermined range based on the calculated expansion / contraction amount and existence probability unique to all the marks and spaces. A correction value for the written write strategy is calculated, and an optimal write strategy is set.
本発明によれば、例えば、ＤＶＤ−Ｒの規格書に書いてあるような調整できるマークおよびスペースの組み合わせが少なく、かつ各パラメータの可変範囲が狭い場合においても、最適なライトストラテジを設定することができるという効果がある。
また、求めたマーク幅に、光記録装置固有の所定マーク前後のスペースに与える影響を付加し、所定マーク前後のスペース長を等しくするように、マークのシフト量を求めるため、光記録装置の計算負荷やメモリに対する負荷を軽減できるという効果がある。
According to the present invention, for example, an optimum write strategy can be set even when there are few combinations of marks and spaces that can be adjusted as described in the DVD-R standard and the variable range of each parameter is narrow. There is an effect that can be.
In addition, an effect on the space before and after the predetermined mark unique to the optical recording apparatus is added to the obtained mark width, and the shift amount of the mark is calculated so that the space lengths before and after the predetermined mark are equal. This has the effect of reducing the load on the memory and memory.
本発明の実施形態に係る光ディスク装置およびライトストラテジの設定方法について図面を参照して詳細に説明する。 An optical disc apparatus and a write strategy setting method according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
本発明の実施形態に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ディスク１と、光ピックアップ２と、ヘッドアンプ３と、データデコーダ４と、記録長検出部５と、ＲＯＭ６と、ＲＡＭ７と、デビエーション算出部８と、パラメータ調整部９と、記録パルス列補正部１０と、制御部１１と、補正値算出順序決定部１２と、コントローラ１３と、データエンコーダ１４と、レーザ駆動部１５とから構成されている。
As shown in FIG. 1, an optical disc apparatus according to an embodiment of the present invention includes an
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える光情報記録媒体であり、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。
光ピックアップ２は、図示しないレーザダイオード等のレーザ光源や、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータとによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等の光学部品、及びＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割され、光を電気信号に変換する４分割あるいは２分割のフォトディテクタ（ＰＤ）あるいは記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオード等を備えている。
The
The
ヘッドアンプ３は、光ディスク１からの反射光を検出し、検出した反射光より反射光量を演算して、４分割ＰＤの各領域への反射光量の総和を示すＲＦ信号を生成するとともに、光ピックアップ２の照射レーザの焦点ずれを検出した信号であるフォーカスエラー信号（ＦＥ）を非点収差法によって生成し、さらに光ピックアップ２の照射レーザのトラックずれを検出した信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ）をプッシュプル法によって生成する。また、本実施形態においては、生成したＲＦ信号のジッタ値を測定する機能およびＲＦ信号からアシンメトリを検出する機能をも有している。
The
データデコーダ４は、ヘッドアンプ３において生成されたＲＦ信号からＥＦＭ信号を生成し、さらにこれを所望の形式の信号に変換してコントローラ１３に出力する。
記録長検出部５は、データデコーダ４からＥＦＭ信号を入力し、図示しない時間計測回路により、入力したＥＦＭ信号のパルス幅を測定する。ＲＯＭ６は、書き換え不能の記憶装置であり、光ディスク装置全体を制御するための制御プログラムや基準ライトストラテジ、各マークおよびスペースの理論長あるいは各マークおよびスペースの組合せにおける存在確率あるいはマーク幅によるマーク前後のスペースの影響を示す値等が記憶されている。
The
The
ＲＡＭ７は書き換え可能な記憶装置であり、光ディスクごとの補正量、記録長検出部５から入力した記録長の測定結果、記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とのデビエーション値、各マークおよびスペース固有の伸縮量あるいは測定したジッタ値等が一時的に記憶される。
デビエーション算出部８は、ＲＡＭ７内に記憶された記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とのデビエーション値、さらに、すでにデビエーション値を算出した結果同士を対比してさらにデビエーション値を算出する。
The RAM 7 is a rewritable storage device, the correction amount for each optical disc, the measurement result of the recording length input from the
The
パラメータ調整部９は、ＲＡＭ７に記憶されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量とＲＯＭ６に記憶された存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出する。
記録パルス列補正部１０は、パラメータ調整部９から補正値を入力し、これに基づいて記録パルス列を使用する光ディスクに最適な記録パルス列に補正する。
The parameter adjustment unit 9 sets the reference values so that the deviation values of all the marks and spaces are within a predetermined range based on the expansion / contraction amounts unique to all the marks and spaces stored in the RAM 7 and the existence probability stored in the
The recording pulse
制御部１１は、光ディスク装置全体を制御プログラムにしたがって光ディスクに対する情報の記録および再生動作に関する制御を行う。
補正値算出順序決定部１２は、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各エッジ前後のデビエーション値と、各設定パラメータを変化させて記録した信号のジッタ値とに基づいて、各設定パラメータに対応したすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定する。
The
The correction value calculation
コントローラ１３は、記録信号をデータエンコーダ４に供給し、また、データデコーダ４から記録信号の読み出す装置であり、データエンコーダ１４は、コントローラ１３からの記録信号をＥＦＭ信号等に変換して記録パルス列補正部１０に出力する。レーザ駆動部１５は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給する。
The
次に、図２から図２１を用いて、本実施形態の処理手順について説明する。
本実施形態においては、例えば、ＤＶＤ−Ｒのように、パラメータを可変できるマークおよびスペースの組合せが少なくなく、しかもパラメータの可変量が狭い光ディスクに対して、最適なライトストラテジを設定できる方法を提供するものである。その具体的な手法について、以下、説明する。
Next, the processing procedure of this embodiment will be described with reference to FIGS.
In the present embodiment, for example, there is provided a method capable of setting an optimum write strategy for an optical disc having a small number of combinations of marks and spaces whose parameters can be varied, such as a DVD-R, and which has a narrow parameter variable amount. To do. The specific method will be described below.
図２及び図３は、本実施形態の概念を示した図である。本実施形態では、基準ライトストラテジおよび基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ−１４Ｔのマークおよびパワードパルスのパルス幅を可変したライトストラテジ（図２参照）で記録したマーク長と各マークの理論長とから求められるデビエーションおよび各マークの存在確率に基づいて各マーク幅を調整する。一方、マーク幅を調整することにより影響を受ける各マークの前後にあるスペース長を補正し、この前後のスペース長の変化量が等しくなるように、マークをシフトする操作を行う（図３参照。）。 2 and 3 are diagrams showing the concept of the present embodiment. In the present embodiment, the mark length recorded by the write strategy (see FIG. 2) in which the pulse width of the 3T, 4T, 5T-14T mark and the powered pulse is changed with respect to the reference write strategy and the reference write strategy, and the theory of each mark. Each mark width is adjusted based on the deviation obtained from the length and the existence probability of each mark. On the other hand, by adjusting the mark width, the space length before and after each affected mark is corrected, and the operation of shifting the mark is performed so that the amount of change in the space length before and after this becomes equal (see FIG. 3). ).
この処理の流れについて、図４を用いて詳細に説明する。
まず、コントローラ１３から基準ライトストラテジをレーザ駆動部１５に出力して、基準ライトストラテジで情報を光ディスクの所定のエリアに記録する（ステップ１０１）。次に、基準ライトストラテジに対して各マーク（図２の例では、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ−１４Ｔのマーク）およびパワードパルス（図２の例では、５Ｔのパワードパルス）に所定幅のパルスを付加したライトストラテジで情報を記録する（ステップ１０２）。情報の記録が終了すると、それぞれの記録情報を再生し、記録長検出部５がデータデコーダ４からの信号に基づいて各マークのマーク長を測定し、その測定結果をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０３）。
The flow of this process will be described in detail with reference to FIG.
First, a reference write strategy is output from the
マーク長の測定が終了すると、デビエーション算出部８がＲＯＭ６に格納した各マークの理論長とＲＡＭ７に格納した測定値に基づいて、デビエーションを算出する（ステップ１０４）。算出されたデビエーションは、パラメータ調整部９に出力される。パラメータ調整部９では、入力した各マークの２つデビエーションについて差分値を算出するとともに（ステップ１０５）、算出した差分の平均値と各マークの存在確率とから各マークの固有伸縮量を算出する（ステップ１０６）。
When the measurement of the mark length is completed, the
ここで、各マークの固有伸縮量の算出方法を図８を用いて説明する。
図８（ａ）の「Ｒｅｆ（１）」は、基準ライトストラテジで情報を記録した場合の３Ｔから１１Ｔおよび１４Ｔマークの理論長とのデビエーションを、「＋３、４、５Ｔ（２）」は、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔのマーク幅と５Ｔのパワードパルス幅とに最小分解能の２倍分付加したライトストラテジで情報を記録した場合の３Ｔから１１Ｔおよび１４Ｔマークの理論長とのデビエーションを示している。また、図８（ｂ）は、各マークの図８（ａ）におけるデビエーションの差分値の平均を示している。なお、図８の例では、６Ｔから１４Ｔまでのデビエーションの差分値の平均（ＡＶＥ（６Ｔ〜１４Ｔ））は−３．０４となる。
Here, a method of calculating the inherent expansion / contraction amount of each mark will be described with reference to FIG.
“Ref (1)” in FIG. 8A represents a deviation from the theoretical length of 3T to 11T and 14T marks when information is recorded with the reference write strategy, and “+3, 4, 5T (2)” Deviations from the theoretical lengths of 3T to 11T and 14T marks when information is recorded with a write strategy in which 2 times the minimum resolution is added to the 3T, 4T mark width and 5T powered pulse width with respect to the reference write strategy Show. FIG. 8B shows the average of the difference values of the deviations in FIG. 8A for each mark. In the example of FIG. 8, the average difference value (AVE (6T to 14T)) of deviations from 6T to 14T is −3.04.
いま、３Ｔ、４Ｔのマーク幅と５Ｔのパワードパルス幅の固有伸縮量をそれぞれ、Δ３Ｔ、Δ４Ｔ、Δ５Ｔとし、それぞれの存在確率をＲ（３）、Ｒ（４）、Ｒ（５）とし、さらに、各マークのデビエーションの平均値をｄ３Ｔ、ｄ４Ｔ、ｄ５Ｔとすると、３Ｔから５Ｔマークについて、以下の数１が成り立つ。
Now, the inherent expansion / contraction amounts of the mark width of 3T, 4T and the powered pulse width of 5T are respectively Δ3T, Δ4T, Δ5T, the respective existence probabilities are R (3), R (4), R (5), and Assuming that the average value of the deviation of each mark is d3T, d4T, and d5T, the following
数１は、各マークのデビエーションの平均値ｄ３Ｔ、ｄ４Ｔ、ｄ５Ｔが、各マークの固有伸縮量に他のマークからの影響を加味したものになるということを示している。数１において、Ｒ（３）、Ｒ（４）、Ｒ（５）は、既知の値であり、ｄ３Ｔ、ｄ４Ｔ、ｄ５Ｔは測定済みであることから３元連立方程式であることを考えれば、これらを解いて、Δ３Ｔ、Δ４Ｔ、Δ５Ｔを求めることができる。
ところで、図８の例では、マーク幅を変化させたのは、３Ｔから５Ｔマークのみであり、６Ｔから１４Ｔまでについては、このような操作を行わなかったわけであるから、逆に言えば、６Ｔから１４Ｔまでのデビエーションの差分値の平均（ＡＶＥ（６Ｔ〜１４Ｔ））は、３Ｔから５Ｔマークを変化させたがために生じたデビエーションであるといえる。すなわち、ＡＶＥ（６Ｔ〜１４Ｔ）は、Δ３Ｔ、Δ４Ｔ、Δ５ＴおよびＲ（３）、Ｒ（４）、Ｒ（５）を用いて、数２のように表すことができる。
By the way, in the example of FIG. 8, the mark width is changed only for the 3T to 5T marks, and for 6T to 14T, such an operation is not performed. It can be said that the average difference value (AVE (6T to 14T)) of deviations from 1 to 14T is a deviation caused by changing the 5T mark from 3T. That is, AVE (6T to 14T) can be expressed as
この数２を数１に代入して整理すると、数３のようになり、数３から、３Ｔ、４Ｔのマーク幅と５Ｔのパワードパルス幅の固有伸縮量Δ３Ｔ、Δ４Ｔ、Δ５Ｔを求めると、数４のようになる。したがって、Ｒ（３）、Ｒ（４）、Ｒ（５）は、既知の値であることから、ｄ３Ｔ、ｄ４Ｔ、ｄ５Ｔを測定すれば、３Ｔ、４Ｔのマーク幅と５Ｔのパワードパルス幅の固有伸縮量Δ３Ｔ、Δ４Ｔ、Δ５Ｔを求めることができる。
Substituting this
各マークの固有伸縮量の算出が終了すると、次に、各マークの固有伸縮量等に基づいて、デビエーションが０に近づくように、付加パルス幅を調整する（ステップ１０７）。この具体的な処理に関して、図５から図７を用いて説明する。
図５は、３Ｔマーク幅を変化させたときの他のマークのデビエーションとジッタの変化を示しており、図６は、同様に４Ｔマーク幅を変化させたときの影響を示している。図５から、３Ｔマークの幅を一定量ずつ変化させていくと、マーク幅が増加するにつれて、他のマークのデビエーションがプラスのデビエーションからマイナスのデビエーションへとリニアに変化することがわかる。
When the calculation of the inherent expansion / contraction amount of each mark is completed, the additional pulse width is adjusted so that the deviation approaches 0 based on the inherent expansion / contraction amount of each mark (step 107). This specific process will be described with reference to FIGS.
FIG. 5 shows the deviation of other marks and the change of jitter when the 3T mark width is changed, and FIG. 6 shows the effect when the 4T mark width is similarly changed. FIG. 5 shows that when the width of the 3T mark is changed by a certain amount, the deviation of other marks linearly changes from a positive deviation to a negative deviation as the mark width increases.
また、各マークのデビエーションの絶対値が最小のときに、ジッタ値が最もよいことがわかる。この傾向は、図６に示すように、４Ｔマークを変化させたときも同様である。すなわち、本発明は、上記の事実に基づいて、各マークのデビエーションの絶対値が最小となるように処理を行うことにより、好適なライトストラテジを設定するものである。 It can also be seen that the jitter value is the best when the absolute value of the deviation of each mark is minimum. This tendency is the same when the 4T mark is changed as shown in FIG. That is, according to the present invention, a suitable write strategy is set by performing processing so that the absolute value of the deviation of each mark is minimized based on the above facts.
具体的な処理としては、図７に示すように、パラメータ調整部９がＲＡＭ７に格納された３Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値と３Ｔマークの固有伸縮量とを読出し、３Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が３Ｔマークの固有伸縮量よりも大きいか否かが判断される（ステップ２０１）。ここで、３Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が３Ｔマークの固有伸縮量よりも大きいと判断される場合には、３Ｔマークのデビエーションを補正し、加えて他のマークのデビエーションも各マークの存在確率に基づいて補正する（ステップ２０２）。そして、ステップ２０１に戻って、再び、３Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が３Ｔマークの固有伸縮量よりも大きいか否かが判断される。 Specifically, as shown in FIG. 7, the parameter adjustment unit 9 reads the absolute value of the deviation for the 3T mark reference write strategy stored in the RAM 7 and the 3T mark's inherent expansion / contraction amount, and the 3T mark reference It is determined whether or not the absolute value of the deviation with respect to the write strategy is larger than the inherent expansion / contraction amount of the 3T mark (step 201). Here, if it is determined that the absolute value of the deviation of the 3T mark with respect to the reference write strategy is larger than the inherent expansion / contraction amount of the 3T mark, the deviation of the 3T mark is corrected, and each of the other mark deviations is also corrected. Is corrected based on the existence probability (step 202). Then, returning to step 201, it is determined again whether or not the absolute value of the deviation with respect to the reference write strategy of the 3T mark is larger than the inherent expansion / contraction amount of the 3T mark.
一方、３Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が３Ｔマークの固有伸縮量よりも小さいと判断される場合には、次に、パラメータ調整部９がＲＡＭ７に格納された４Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値と４Ｔマークの固有伸縮量とを読出し、４Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が４Ｔマークの固有伸縮量よりも大きいか否かが判断される（ステップ２０３）。ここでも、３Ｔマークの場合と同様な判断処理がなされ、４Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が４Ｔマークの固有伸縮量よりも大きいと判断される場合には、４Ｔマークのデビエーションを補正し、加えて他のマークのデビエーションも各マークの存在確率に基づいて補正する（ステップ２０４）。そして、ステップ２０１に戻って、再び、３Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が３Ｔマークの固有伸縮量よりも大きいか否かが判断される。こうした処理が５Ｔ−１４Ｔマークおよび５Ｔマークについても行われ、５Ｔマークの基準ライトストラテジに対するデビエーションの絶対値が５Ｔマークの固有伸縮量よりも小さいと判断される場合に、処理が終了し、一連の処理動作により補正されたパルス幅がＲＡＭ７に格納される。 On the other hand, if it is determined that the absolute value of the deviation with respect to the 3T mark reference write strategy is smaller than the inherent expansion amount of the 3T mark, then the parameter adjustment unit 9 stores the 4T mark reference write strategy stored in the RAM 7. The absolute value of the deviation for the 4T mark and the natural expansion / contraction amount of the 4T mark are read out, and it is determined whether or not the absolute value of the deviation for the reference write strategy of the 4T mark is larger than the natural expansion / contraction amount of the 4T mark (step 203). Here, the same determination process is performed as in the case of the 3T mark, and when it is determined that the absolute value of the deviation with respect to the reference write strategy of the 4T mark is larger than the inherent expansion / contraction amount of the 4T mark, the deviation of the 4T mark is corrected. In addition, deviations of other marks are also corrected based on the existence probability of each mark (step 204). Then, returning to step 201, it is determined again whether or not the absolute value of the deviation with respect to the reference write strategy of the 3T mark is larger than the inherent expansion / contraction amount of the 3T mark. Such a process is also performed for the 5T-14T mark and the 5T mark, and when it is determined that the absolute value of the deviation with respect to the reference write strategy of the 5T mark is smaller than the intrinsic expansion / contraction amount of the 5T mark, the process ends, and a series of The pulse width corrected by the processing operation is stored in the RAM 7.
ところで、ステップ１０７までの処理で、マークに関してはデビエーションを最小にすることができたが、マーク幅を操作することにより、マークの前後のスペースに与える影響は残ってしまう。そこで、特定のマーク幅を変化させたときのそのマーク前後にあるスペースに対する影響について図９および図１０を用いて説明する。 By the way, in the process up to step 107, the deviation for the mark can be minimized, but the influence on the space before and after the mark remains by manipulating the mark width. Therefore, the effect on the space before and after the mark when a specific mark width is changed will be described with reference to FIGS.
図９は、３Ｔマーク幅を変化させたときのその前後にあるスペースのデビエーションの変化を示しており、図１０は、同様に４Ｔマーク幅を変化させたときの影響を示している。図９から、３Ｔマークの幅を一定量ずつ変化させていくと、変化率は異なるものの３Ｔマークの前後にあるスペースの幅が同じようにリニアに変化する（図９では、スペースのデビエーションをＹ軸、３Ｔマーク幅をＸ軸とすれば、３Ｔマークの前にあるスペース幅は、ｙ＝−２３．６４３ｘ＋４９．８７９の直線上で変化し、３Ｔマークの後にあるスペース幅は、ｙ＝−４２．５７１ｘ＋８８．６１４の直線上で変化する。）この傾向は、図１０に示すように、４Ｔマークを変化させたときも同様である（図１０では、スペースのデビエーションをＹ軸、４Ｔマーク幅をＸ軸とすれば、４Ｔマークの前にあるスペース幅は、ｙ＝−３２．７８６ｘ＋８４．１８２の直線上で変化し、４Ｔマークの後にあるスペース幅は、ｙ＝−９．７１４３ｘ＋２５．２８６の直線上で変化する。）。 FIG. 9 shows the change in the deviation of the space before and after the 3T mark width is changed, and FIG. 10 shows the effect when the 4T mark width is similarly changed. From FIG. 9, when the width of the 3T mark is changed by a certain amount, the width of the space before and after the 3T mark changes in a linear manner in the same manner although the rate of change is different (in FIG. If the axis and the 3T mark width are the X axis, the space width before the 3T mark changes on a straight line of y = −23.643x + 49.879, and the space width after the 3T mark is y = −42. .571x + 88.614.) This tendency is the same when the 4T mark is changed as shown in FIG. 10 (in FIG. 10, the space deviation is changed to the Y axis, the 4T mark width). For the X axis, the space width in front of the 4T mark changes on a straight line y = −32.786x + 84.182, and the space width after the 4T mark is y = −9.7143. Tasu25.286 to change on a straight line of.).
なお、図９および図１０に示すように、３Ｔマーク幅を変化させたときと、４Ｔマーク幅を変化させたときのその前後のスペースに与える影響は異なっている。また、上述のように、特定のマーク幅を変化させたときのマークの前後のスペースに与えられる影響度合いも異なる。さらに、特定のマーク幅を変化させたときのマーク前後のスペースに与える影響度合いの傾きは光記録装置の分解能に依存することがわかっている。 As shown in FIGS. 9 and 10, the influence on the space before and after the change of the 3T mark width and the change of the 4T mark width are different. In addition, as described above, the degree of influence given to the space before and after the mark when the specific mark width is changed is also different. Furthermore, it has been found that the slope of the degree of influence on the space before and after the mark when the specific mark width is changed depends on the resolution of the optical recording apparatus.
したがって、逆に言えば、光記録装置ごとに、特定のマーク幅を変化させたときのそのマーク前後のスペースに対する影響の度合いを図９および図１０に示すように調べておき、これを記憶していれば、特定のマーク幅を変化した場合に、そのマークの前後のスペースに与える影響を計算により求めることができる。 Therefore, conversely, for each optical recording apparatus, the degree of influence on the space before and after the mark when a specific mark width is changed is examined as shown in FIGS. 9 and 10 and stored. If the specific mark width is changed, the influence on the space before and after the mark can be obtained by calculation.
本発明においては、このことに着目し、上記の関係を予め記憶し、ステップ１０７においてデビエーションが０に近づくような付加パルス幅を決定した後に、この付加パルスを加えたことにより、そのマーク前後のスペースに与える影響を計算により求めて、これをスペ−スに付加する（ステップ１０８）。
In the present invention, paying attention to this, the above relationship is stored in advance, and after adding an additional pulse width at which the deviation approaches 0 in
次に、各マークの前後のスペースのデビエーションが等しくなるように、各マークをシフトする（ステップ１０９）。これは、図１１および図１２からも明らかなように、各マークの前後のスペースのデビエーションが等しくなるときが、ジッタ値が最もよくなるためである。 Next, each mark is shifted so that the deviation of the space before and after each mark becomes equal (step 109). This is because, as is clear from FIGS. 11 and 12, the jitter value is best when the deviations of the spaces before and after each mark are equal.
ただし、実際には、シフトさせる特定のマークにより、他のマークの前後に存在するスペースへの影響度は異なる。図１３は、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔマーク、５−１４Ｔマークをシフトした場合に、これらのマークの後ろにあるスペースの影響度をデビエーションの平均値として示したものである。図１３によれば、いずれの場合もリニアな変化となっているが、どのマークをシフトさせるかによって、その変化の傾きが異なっている。 However, in practice, the degree of influence on the spaces existing before and after other marks differs depending on the specific mark to be shifted. FIG. 13 shows the influence of the space behind these marks as an average value of the deviation when the 3T mark, 4T mark, 5T mark, and 5-14T mark are shifted. According to FIG. 13, the change is linear in any case, but the slope of the change differs depending on which mark is shifted.
これは、各マークの前後に存在するスペースへの影響係数Ｋ（ｎ）が数５に示すように、光記録装置における１Ｔの幅Ｄと各マークの存在確率Ｒ（ｎ）に依存するためである。すなわち、図１２に示すように、３Ｔマークを後方にシフトする場合、３Ｔマークに挟まれたスペースについては何ら変化がないが、３Ｔマークと他のｎＴマークに挟まれたスペースについては、このｎＴマークの存在確率に応じて、挟まれたスペースの長さが短くなることになる。したがって、数５に示した関係に基づいて、各マークの前後に存在するスペースへの影響係数Ｋ（ｎ）を算出し、この影響も加味した上で、マーク前後のスペース長に対する変化量（デビエーション）が等しくなるように、各マークのシフト量を算出し（ステップ１０９）、これらに基づいて好適なライトストラテジを設定する（ステップ１１０）。
This is because the influence coefficient K (n) for the space existing before and after each mark depends on the width D of 1T and the existence probability R (n) of each mark as shown in
なお、図１５は、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、５Ｔ〜１４Ｔの存在確率をそれぞれ３１．５％、２３．８％、１７．１％、４４．７％とし、１Ｔの幅を３７ｎｓとして数５により求めた各マーク前後のスペースについての影響係数と実測値との関係を示している。この図によれば、計算値と実測値とが極めて近い値になっていることがわかる。また、図１６は、図４の処理フローに基づいて設定したライトストラテジ（図中、Ａｕｔｏ ＷＳが相当する。）を用いて情報を記録した場合と、市販製品により情報を記録した場合のジッタ値をメディア別に示したものである。この図によれば、本実施形態におけるライトストラテジで記録された情報の記録品質は、どのメディアにおいても大変良好な結果を示していることがわかる。 In FIG. 15, the existence probabilities of 3T, 4T, 5T, and 5T to 14T are 31.5%, 23.8%, 17.1%, and 44.7%, respectively, and the width of 1T is 37 ns. The relationship between the influence coefficient and the actual measurement value for the space before and after each obtained mark is shown. According to this figure, it can be seen that the calculated value and the actually measured value are extremely close to each other. FIG. 16 shows jitter values when information is recorded using a write strategy (in the figure, Auto WS corresponds) set based on the processing flow of FIG. 4 and when information is recorded by a commercial product. Is shown by media. According to this figure, it can be seen that the recording quality of the information recorded by the write strategy in this embodiment shows a very good result in any medium.
図１６等に示したように、いままで述べてきた方法により、従来よりも好適なライトストラテジを設定することができるが、以下の処理を引き続き実行することにより、さらに最適なライトストラテジを設定することが可能となる。
以下では、図１７から図２１を用いて、この処理について説明する。
As shown in FIG. 16 and the like, it is possible to set a more suitable write strategy than the conventional method by the method described so far. However, by further executing the following processing, a more optimal write strategy is set. It becomes possible.
Hereinafter, this process will be described with reference to FIGS.
図１７から図２１に示した処理においては、各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を利用して、他のスペースあるいはマークの長さが変化したときの影響度を求め、これを利用して各マークおよびスペース固有の伸縮量を算定している。
本来、ＥＦＭ信号のマークとスペースは、マーク長の総和とスペース長の総和が等しくなるように構成されている。したがって、例えば、あるスペースの長さが長くなると、マークとスペースの分布バランスが崩れてしまい、これを補正するために、変化した特定のスペースを含め、全体的にスペースの長さが短くなる。この現象は、実際の再生波形（ＲＦ信号）においては、スライスレベルが変化した状態で現われることになる。
In the processing shown in FIG. 17 to FIG. 21, by using the existence probability due to the combination of each mark and space, the degree of influence when the length of another space or mark changes is obtained, The amount of expansion and contraction specific to marks and spaces is calculated.
Originally, the mark and space of the EFM signal are configured so that the total mark length and the total space length are equal. Therefore, for example, when the length of a certain space is increased, the distribution balance of the mark and the space is lost, and in order to correct this, the length of the space is shortened as a whole including the changed specific space. This phenomenon appears with the slice level changed in the actual reproduction waveform (RF signal).
例えば、ＣＤの場合を例に、具体的に、ＥＦＭ信号のうち、３ＴマークをΔＴ（３Ｔ）だけ伸ばした場合の他のスペース、すなわち、４Ｔから１１Ｔのマーク長の変化をみてみると、図１８（ａ）のようになる。なお、図１８（ａ）は、縦軸に理論長に対するデビエーションを、横軸に３Ｔから１１Ｔを割り当てたものであり、各線は、３Ｔマークのパルス付加が０の場合、１４．４ｎｓ、２８．８ｎｓ、４３．２ｎｓのパルス付加をそれぞれ加えた場合におけるそれぞれのデビエーションの変化を示している。 For example, taking the case of a CD as an example, when the change in the mark length from 4T to 11T, specifically, the other space when the 3T mark is extended by ΔT (3T) in the EFM signal, 18 (a). In FIG. 18A, a deviation from the theoretical length is assigned to the vertical axis, and 3T to 11T are assigned to the horizontal axis, and each line is 14.4 ns, 28. The variation of each deviation is shown when pulse addition of 8 ns and 43.2 ns is added.
いま、ＥＦＭ信号における３Ｔマークの存在確率を３３％とすれば、４Ｔから１１Ｔマークの変化量との間には、数６の関係が成り立つ。
Now, assuming that the existence probability of the 3T mark in the EFM signal is 33%, the relationship of
これから、４Ｔから１１Ｔマークの変化量は、３Ｔマークの変化量の約半分になることがわかる。このことは、図１８（ａ）に示す実測結果によっても裏付けられており、図１８（ｂ）に示すように、存在確率の低い６Ｔマークを同様に変化させた場合には、他のマークあるいはスペースの長さに与える影響度合いは極めて小さいことがわかる。
よって、各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を利用すれば、特定のマークあるいはスペースの長さが変化した場合の他のマークあるいはスペースの長さに関する影響度を把握することが可能となる。
From this, it can be seen that the change amount of the 4T to 11T mark is about half of the change amount of the 3T mark. This is supported by the actual measurement result shown in FIG. 18 (a). As shown in FIG. 18 (b), when the 6T mark having a low existence probability is changed in the same manner, It can be seen that the degree of influence on the length of the space is extremely small.
Therefore, if the existence probability based on the combination of each mark and space is used, it is possible to grasp the degree of influence related to the length of another mark or space when the length of a specific mark or space changes.
この考え方をベースとして、本実施形態における各マークおよびスペース固有の伸縮量を算定する方法を図１７および図１８を用いて説明すると、制御部１１は、ＲＡＭ７に格納してある前段で設定したライトストラテジを記録パルス列補正部１０にセットして、記録動作を実行する（ステップ３０１）。次に、このライトストラテジに対して、他のマークおよびスペースに対して影響度の高い、存在確率の高い３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークをライトストラテジを設定できる最小分解能の整数倍だけのばしたライトストラテジで記録動作を実行する（ステップ３０２）。なお、後の処理を考慮すれば、伸張量は、最小分解能であるほうが良いが、最小分解能が極めて小さい値であることを考えれば、誤差の影響を小さくする意味でも最小分解能の整数倍とすることが望ましい。また、ライトストラテジの設定を行うＬＳＩは、所定のクロックをベースに動作していることから、ライトストラテジの変更もアナログ的に連続して変化させることは不可能であり、１クロックを最小の変化量とする離散的な変更を行う。ここでは、この最小の変化量を最小分解能という。
Based on this concept, a method for calculating the expansion / contraction amount specific to each mark and space in the present embodiment will be described with reference to FIGS. 17 and 18. The
それぞれの記録動作が完了すると、それぞれの記録信号を再生し、記録長検出部５において、すべてのマークおよびスペースの組合せにおける記録長を測定し、測定結果をライトストラテジごとに、ＲＡＭ７に格納する（ステップ３０３）。
デビエーション算出部８は、ＲＡＭ７に格納された前段で設定されたストラテジで記録したときの記録長とＲＯＭ６に格納されたすべてのマークおよびスペースの組合せにおける理論長とのデビエーションおよび上記の所定のマークおよびスペースを最小分解能の整数倍だけのばしたライトストラテジで記録した場合の記録長とＲＯＭ６に格納されたすべてのマークおよびスペースの組合せにおける理論長とのデビエーションを算出し（ステップ３０４）、さらに両者のデビエーション値を算出する（ステップ３０５）。
When each recording operation is completed, the respective recording signals are reproduced, the
The
ここで、算出したデビエーション値から各マークおよびスペース固有の伸縮量を算出するためには、上記で説明した各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を用いて行う（ステップ３０６）。 Here, in order to calculate the expansion / contraction amount specific to each mark and space from the calculated deviation value, the existence probability based on the combination of each mark and space described above is used (step 306).
ステップ３０６において、各マークおよびスペースの組合せにおける固有の伸縮量が求まると、図１９に示すように、デビエーションをゼロに近づけるような補正値の算出を行う。
本実施形態の補正値算出方法は、先程、説明した最小分解能に相当する伸縮に対応する固有の伸縮量を用いて、前段で設定したライトストラテジで情報を記録した場合のストラテジを最小分解能以下に押さえ込むことにより、最適なライトストラテジを設定するものである。
In
The correction value calculation method of the present embodiment uses a unique expansion / contraction amount corresponding to the expansion / contraction corresponding to the minimum resolution described earlier, and the strategy when the information is recorded with the write strategy set in the previous stage is set to the minimum resolution or less. By pressing down, the optimum light strategy is set.
また、各マークおよびスペースの補正値の追い込みは、存在確率が高い順番に処理することを特徴としている。すなわち、存在確率の高いマークおよびスペースの組合せを補正すると、その影響が他のマークおよびスペースの組合せに大きく作用することから、こうした処理を行うことにより、短時間で、各補正値を収束することができる。 Further, it is characterized in that the correction values of the marks and spaces are processed in the order of the existence probability. In other words, if a combination of a mark and space with a high probability of existence is corrected, the effect of this will greatly affect the combination of other marks and spaces. By performing such processing, each correction value can be converged in a short time. Can do.
具体的には、図１９に示すように、存在確率の最も高い３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせについて、前段で設定したストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より大きいか否かを判断する（ステップ４０１）。判断の結果、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より大きいときには、デビエーションを補正するとともに、他のマークおよびスペースの組合せについても存在確率に基づいてデビエーション値を補正する（ステップ４０２）。 Specifically, as shown in FIG. 19, for the combination of 3T mark and 3T space having the highest existence probability, it is determined whether or not the absolute value of the deviation for the strategy set in the previous stage is larger than the inherent expansion / contraction amount. (Step 401). As a result of the determination, when the absolute value of the deviation with respect to the reference strategy is larger than the inherent expansion / contraction amount, the deviation is corrected, and the deviation value is also corrected based on the existence probability for other combinations of marks and spaces (step 402).
一方で、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より小さいときには、次に存在確率の高い３Ｔマークと４Ｔスペースの組合わせについて補正を行う（ステップ４０３）。なお、３Ｔマークと４Ｔスペースの組合わせについて補正についても、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせと同様の処理が行われ（ステップ４０３、４０４）、こうした処理が１４Ｔマークと１４Ｔスペースの組合わせについてまで実行される。
On the other hand, when the absolute value of the deviation with respect to the reference strategy is smaller than the inherent expansion / contraction amount, correction is performed for the combination of the 3T mark and 4T space having the next highest probability of existence (step 403). As for the combination of the 3T mark and the 4T space, the same processing as the combination of the 3T mark and the 3T space is performed (
したがって、本実施形態によれば、上記の処理によって、可変できるマークおよびスペースの組み合わせが制限され、かつ、パラメータの可変範囲が狭い場合にも、使用する光ディスクに最適なパラメータを短時間で設定することができる。 Therefore, according to the present embodiment, the combinations of marks and spaces that can be varied are limited by the above processing, and even when the variable range of parameters is narrow, the optimum parameters for the optical disk to be used are set in a short time. be able to.
以上、図面を参照して本発明の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。 As described above, the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings, but the specific configuration is not limited to these embodiments, and includes design changes and the like within a scope not departing from the gist of the present invention. It is.
１・・・光ディスク、２・・・光ピックアップ、３・・・ヘッドアンプ、４・・・データデコーダ、５・・・記録長検出部、６・・・ＲＯＭ、７・・・ＲＡＭ、８・・・デビエーション算出部、９・・・パラメータ調整部、１０・・・記録パルス列補正部、１１・・・制御部、１２・・・補正値算出順序決定部、１３・・・コントローラ、１４・・・データエンコーダ、１５・・・レーザ駆動部、
DESCRIPTION OF
Claims (6)
該光情報記録媒体に基準ライトストラテジおよび基準ライトストラテジに対して、特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたライトストラテジを用いて情報を記録したときの各マーク長を計測する第１の計測手段と、
該第１の計測手段の計測結果を記憶する第１の計測値記憶手段と、
各マークあるいはスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、
前記第１の計測値記憶手段に記憶されたマーク長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出する第１のデビエーション値算出手段と、
該算出されたデビエーション値と、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量を算出する第１の伸縮量算出手段と、
該算出されたすべてのマーク固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定する第１のライトストラテジ設定手段と、
特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたときに、各マークの前後のスペース長の変化量を各マークの存在確率に基づいて算出する変化量算出手段と、
前記第１のライトストラテジ設定手段により設定されたライトストラテジに前記変化量算出手段において算出された変化量を付加して、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジを更新するライトストラテジ更新手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 An optical disc apparatus for recording or reproducing information by forming marks and spaces on an optical information recording medium,
A first length for measuring each mark length when information is recorded on the optical information recording medium using a write strategy in which the pulse width of a specific mark and powered pulse is changed with respect to the reference write strategy and the reference write strategy. Measuring means;
First measurement value storage means for storing a measurement result of the first measurement means;
A theoretical length storage means for storing the theoretical length of each mark or space;
Based on the mark length stored in the first measured value storage unit and the mark length stored in the theoretical length storage unit, a deviation value of each mark is calculated by changing the write strategy. A deviation value calculation means;
A first expansion / contraction amount calculating means for calculating an expansion / contraction amount specific to all marks from the calculated deviation value and the existence probability of each mark;
Based on the calculated expansion / contraction amounts and existence probabilities of all the marks, correction values for the reference write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and an optimal write strategy is set. First write strategy setting means;
A change amount calculating means for calculating a change amount of the space length before and after each mark based on the existence probability of each mark when the pulse width of the specific mark and the powered pulse is changed;
The change amount calculated by the change amount calculation means is added to the write strategy set by the first write strategy setting means, and each mark is shifted so that the change amount of the space length before and after each mark becomes equal. Write strategy update means for updating the write strategy,
An optical disc apparatus comprising:
該第２の計測手段の計測結果を記憶する第２の計測値記憶手段と、
前記第２の計測値記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークあるいはスペース長のデビエーション値を算出する第２のデビエーション値算出手段と、
該算出されたデビエーション値と、各マークあるいはスペース長の存在確率からすべてのマークあるいはスペース長固有の伸縮量を算出する第２の伸縮量算出手段と、
該算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、前記更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定する第２のライトストラテジ設定手段と
を有することを特徴とする請求項１に記載された光ディスク装置。 A second length for measuring each mark length or space length when information is recorded using a write strategy when a predetermined mark or space is changed with respect to the updated write strategy and the updated write strategy. Measuring means;
Second measurement value storage means for storing the measurement result of the second measurement means;
Each mark or space length by changing the write strategy based on the mark length or space length stored in the second measured value storage means and the mark length or space length stored in the theoretical length storage means Second deviation value calculating means for calculating the deviation value of
A second expansion / contraction amount calculating means for calculating an expansion / contraction amount specific to all marks or space lengths from the calculated deviation value and the existence probability of each mark or space length;
Based on the calculated expansion / contraction amounts and existence probabilities inherent to all the marks and spaces, correction values for the updated write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and the optimal write 2. The optical disc apparatus according to claim 1, further comprising second write strategy setting means for setting a strategy.
該各マーク長の計測結果を記憶するステップと、
予め記憶されたマーク長と前記記憶されたマーク長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量を算出するステップと、
該算出されたすべてのマーク固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップと、
前記ライトストラテジを設定ステップにおいて設定されたライトストラテジに、各マークの存在確率に基づいて算出される特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたときの各マークの前後のスペース長の変化量を付加するとともに、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジを更新するステップと、
を有することを特徴とする光情報記録方法。 Measuring each mark length when information is recorded using a write strategy in which the pulse width of a specific mark and powered pulse is changed with respect to the reference write strategy and the reference write strategy on the optical information recording medium;
Storing a measurement result of each mark length;
Calculating a deviation value of each mark by changing the write strategy based on the previously stored mark length and the stored mark length;
Calculating the amount of expansion and contraction unique to all marks from the calculated deviation value and the existence probability of each mark;
Based on the calculated expansion / contraction amounts and existence probabilities of all the marks, correction values for the reference write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and an optimal write strategy is set. Steps,
The amount of change in the space length before and after each mark when the pulse width of a specific mark and powered pulse calculated based on the existence probability of each mark is changed to the write strategy set in the setting step of the write strategy And updating the write strategy by shifting each mark so that the amount of change in the space length before and after each mark becomes equal,
An optical information recording method comprising:
該計測結果を記憶するステップと、
該記憶されたマーク長あるいはスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークあるいはスペース長のデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークあるいはスペース長の存在確率からすべてのマークあるいはスペース長固有の伸縮量を算出するステップと、
該算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、前記更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップと、
を有することを特徴とする請求項３に記載された光情報記録方法。 Measuring each mark length or space length when recording information using a write strategy when a predetermined mark or space is changed with respect to the updated write strategy and the updated write strategy;
Storing the measurement results;
Calculating a deviation value of each mark or space length by changing the write strategy based on the stored mark length or space length and the mark length or space length stored in the theoretical length storage means; ,
Calculating the expansion / contraction amount specific to all marks or space lengths from the calculated deviation value and the existence probability of each mark or space length;
Based on the calculated expansion / contraction amounts and existence probabilities inherent to all the marks and spaces, correction values for the updated write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and the optimal write Setting the strategy, and
The optical information recording method according to claim 3, further comprising:
該各マーク長の計測結果を記憶するステップと、
予め記憶されたマーク長と前記記憶されたマーク長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークのデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークの存在確率からすべてのマーク固有の伸縮量を算出するステップと、
該算出されたすべてのマーク固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップと、
前記ライトストラテジを設定ステップにおいて設定されたライトストラテジに、各マークの存在確率に基づいて算出される特定のマークおよびパワードパルスのパルス幅を変化させたときの各マークの前後のスペース長の変化量を付加するとともに、各マーク前後のスペース長の変化量が等しくなるように各マークをシフトしてライトストラテジを更新するステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。 Measuring each mark length when information is recorded using a write strategy in which the pulse width of a specific mark and powered pulse is changed with respect to the reference write strategy and the reference write strategy on the optical information recording medium;
Storing a measurement result of each mark length;
Calculating a deviation value of each mark by changing the write strategy based on the previously stored mark length and the stored mark length;
Calculating the amount of expansion and contraction unique to all marks from the calculated deviation value and the existence probability of each mark;
Based on the calculated expansion / contraction amounts and existence probabilities of all the marks, correction values for the reference write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and an optimum write strategy is set. Steps,
The amount of change in the space length before and after each mark when the pulse width of the specific mark and powered pulse calculated based on the existence probability of each mark is changed to the write strategy set in the setting step of the write strategy. And updating the write strategy by shifting each mark so that the amount of change in the space length before and after each mark becomes equal,
A program that causes a computer to execute.
該計測結果を記憶するステップと、
該記憶されたマーク長あるいはスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長あるいはスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークあるいはスペース長のデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークあるいはスペース長の存在確率からすべてのマークあるいはスペース長固有の伸縮量を算出するステップと、
該算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークのデビエーション値が所定の範囲になるように、前記更新したライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップと、
をコンピュータに実行させるための請求項５に記載されたプログラム。
Measuring each mark length or space length when recording information using a write strategy when a predetermined mark or space is changed with respect to the updated write strategy and the updated write strategy;
Storing the measurement results;
Calculating a deviation value of each mark or space length by changing the write strategy based on the stored mark length or space length and the mark length or space length stored in the theoretical length storage means; ,
Calculating the expansion / contraction amount specific to all marks or space lengths from the calculated deviation value and the existence probability of each mark or space length;
Based on the calculated expansion / contraction amounts and existence probabilities inherent to all the marks and spaces, correction values for the updated write strategy are calculated so that the deviation values of all the marks fall within a predetermined range, and the optimal write Setting the strategy, and
6. A program according to claim 5, for causing a computer to execute.
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