JP4411139B2 - 光学フィルムの検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、ねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法及びこれに用いる欠陥検査用素子に関する。

携帯電話、ＰＤＡ等の携帯用小型電子機器においては、液晶の配向軸が厚さ方向に沿ってねじれたＳＴＮ（Super Twisted Nematic）液晶フィルムがよく用いられている。このようなねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムは、ねじれ配向液晶フィルムに欠陥が存在すると、携帯用小型電子機器の表示に悪影響を与える。このため、ねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムについて欠陥の検査を行い、欠陥が多い光学フィルムについては事前に排除しておくことが必要である。

しかし、ねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムについての欠陥検査方法は、本発明者らの知る限りでは知られていない。

一方、本発明者らは、これまで、上記光学フィルムにおける欠陥の検査を以下のように行ってきた。即ちバックライトから発せられる光を、偏光板を通して光学フィルムに照射し、その光学フィルムをもう一つの偏光板越しに覗くことにより行ってきた。

ところが、上記のような光学フィルムの検査方法は、以下に示す課題を有していた。

即ち、上記の本発明者らによる光学フィルムの検査方法では、光学フィルムを２枚の偏光板で適当な角度で挟み、光学フィルムの一側から偏光板を通して光を照射しても、欠陥部分から光が漏れてくるだけでなく、無欠陥部分からも光が漏れてくる。このため、欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストが低く、欠陥の視認性が良好とは言えず、欠陥を見逃してしまい、欠陥検査を的確に行うことができなくなるおそれがあった。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供することを目的とする。

本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、以下の発明により上記課題を解決しうることを見出し、本発明を完成するに至った。

即ち本発明は、液晶の配向軸が厚さ方向にねじれたねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、前記光源から前記光学フィルムに向かう方向に対し液晶の配向軸が前記ねじれ配向液晶フィルムと逆方向にねじれた逆ねじれ配向液晶フィルムと、第２の偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記逆ねじれ配向液晶フィルムが前記光学フィルム側に向けられるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。

この検査方法によれば、光源から、第１の偏光板及び光学フィルムに光を透過させると、光学フィルムに含まれるねじれ配向液晶フィルムを透過するときに、互いに直交する方向の光成分同士間で位相差が生じる。ここで、本発明の検査方法によれば、欠陥検査用素子を、逆ねじれ配向液晶フィルムと第２の偏光板とを積層した構成とし、且つ逆ねじれ配向液晶フィルムが光学フィルム側に向けられるように配置するため、ねじれ配向液晶フィルムを透過した光の直交する成分同士間の位相差を小さくすることが可能となる。このため、第１の偏光板と第２の偏光板とを適当な角度で配置すると、無欠陥部分を暗くすることが可能となり、無欠陥部分と欠陥部分とのコントラストを大きくすることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。

上記検査方法においては、前記欠陥検査用素子を、前記逆ねじれ配向液晶フィルムが前記光学フィルム側に向けられるように配置してＹ値を測定し、Ｙ値が３０以下となるように前記逆ねじれ配向液晶フィルム、前記光学フィルム、前記第１の偏光板及び前記第２の偏光板の軸配置を相対的に変化させる。この場合、無欠陥部分と欠陥部分とのコントラストをより大きくすることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性をより向上させることが可能となる。

また欠陥検査用素子は、液晶の配向軸が厚さ方向にねじれたねじれ配向液晶フィルムと、第２の偏光板とが積層されていることを特徴とする欠陥検査用素子である。

この欠陥検査用素子によれば、液晶の配向軸が厚さ方向にねじれたねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から光を照射し、この状態で、当該欠陥検査用素子を、上記ねじれ配向液晶フィルムが光学フィルム側に向けられるように且つ欠陥検査用素子に含まれるねじれ配向液晶フィルムのねじれ方向と光学フィルムに含まれるねじれ配向液晶フィルムのねじれ方向とが逆となるように配置させる。すると、欠陥検査用素子に含まれるねじれ配向液晶フィルムを透過した光の直交する成分同士間の位相差を小さくすることが可能となる。このため、第１の偏光板と第２の偏光板とが適当な角度で配置するように欠陥検査用素子が配置されると、無欠陥部分を暗くすることが可能となり、無欠陥部分と欠陥部分とのコントラストを大きくすることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。

本発明の光学フィルムの検査方法によれば、欠陥の検査を的確に行うことができる。

以下、添付図面とともに、本発明の光学フィルムの検査方法の実施形態について詳細に説明する。

まず本発明による光学フィルムの検査方法において検査対象となる光学フィルムについて図１を参照して説明する。

図１は、光学フィルムの検査前の形態である剥離性フィルム付き光学フィルム１２を示す側面図である。図１に示すように、光学フィルム１は、液晶の配向軸が厚さ方向に沿ってねじれたねじれ配向液晶フィルム２を含む。

光学フィルム１は、ねじれ配向液晶フィルム（以下、必要に応じて、単に「液晶フィルム」という）２を含むものであればよく、従って、液晶フィルム２のほかに、他のフィルムを含んでいてもよい。他のフィルムには通常、図１に示すように、液晶フィルム２を挟むオーバーコート層４及びアンダーコート層６のほか、液晶フィルム２、オーバーコート層４及びアンダーコート層６からなる積層体８と貼り合わせられる支持フィルム１０、などがある。支持フィルム１０としては、元来複屈折を持たないため光学材料の支持基板としてよく用いられる、ＴＡＣフィルム、ＰＣフィルムや、ゼオノア（日本ゼオン社製）やアートン（ＪＳＲ社製）などのようなポリシクロオレフィン系フィルムだけでなく、ＰＥＴ、ＰＥＮのような複屈折を持つフィルムでもよい。ただし、支持フィルム１０、オーバーコート層４およびアンダーコート層６は、検査の妨げにならない程度の高度な透明性を持っていることが必要である。

一方、本発明の検査方法では、図１に示す剥離性フィルム付き光学フィルム１２から剥離性フィルム１４を剥離する。剥離性フィルム付き光学フィルム１２においては、剥離性フィルム１４は、光学フィルム１の運搬中、その表面を保護するために直接、光学フィルム１に貼り合わせられている。剥離性フィルム１４としては一般にはＰＥＴが用いられるが、ＰＥＴのほか、例えばポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、ポリエチレンサルファイド、アモルファスポリエチレン、トリアセチルセルロース、ポリエチレンＥＶＡ共押し出し品なども用いることができる。
ここで、ねじれ配向液晶フィルム２における欠陥検査方法について図２及び図３を用いて説明する。図２は、光学フィルム１が、剥離性フィルム１４を剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図、図３は、本実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。

欠陥検査にあたっては、図２及び図３に示すように、まず光学フィルム１にバックライト２０を対向配置し、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板（第１の偏光板）１８ａを配置する。

光学フィルム１中の支持フィルム１０が20nm以上の複屈折を持つフィルムである場合は、支持フィルム１０がねじれ配向液晶フィルム２から見て、偏光板１８ａと同じ側となるように光学フィルム１を配置する必要がある。なお、支持フィルム１０が、ＴＡＣフィルムなど20nm未満しか複屈折を持たないフィルムの場合は、ねじれ配向液晶フィルム2に対し、どちら側に光学フィルム１を配置してもかまわない。

そして、バックライト２０を点灯し、光学フィルム１に対してバックライト２０と反対側で、欠陥検査用素子２９を用いて光学フィルム１を覗き込み、光学フィルム１に含まれる液晶フィルム２における液晶欠陥を検査する。

つづいて、本実施形態における光学フィルム１の配向軸、遅相軸および偏光板の透過軸の配置関係を説明する。

支持フィルム１０が20nm未満の複屈折を持つフィルムの場合は、光学フィルム１に含まれるねじれ配向液晶フィルム２に対し、偏光板１８ａの透過軸４１はどのように配置してもかまわない。

一方、光学フィルム１中の支持フィルム１０が２０ｎｍ以上の複屈折を持つフィルムである場合は、本実施形態では、偏光板１８ａの透過軸４１は、支持フィルム１０の複屈折の遅相軸もしくは進相軸とおおむね一致させるように調整する。この場合、ねじれ配向液晶フィルム２の配向軸は、支持フィルム１０とねじれ配向液晶フィルム２との貼りあわせ角度によって規定されてしまっている。

ここで、欠陥検査に用いる、ねじれ配向液晶フィルム２、逆ねじれ配向液晶フィルム３１および偏光板１８ｂの角度配置について、詳細に説明する。

請求項１記載の配置で測定したＹ値が30以下、望ましくは20以下、さらに望ましくは10以下であれば、ねじれ配向液晶フィルム２における欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストをより大きくすることができ、検査が良好に行えるのであるが、そのような配置を指針なく探し出すことは困難である。よって、以下に述べる方法で、検査を良好に行える配置を探し出す。

まず、支持フィルム１０が20nm未満の複屈折を持ち、事実上無視してよい場合の最適配置について述べる。この場合、複屈折を持つのは、ねじれ配向液晶フィルム２、逆ねじれ配向液晶フィルム３１のみなので、ねじれ配向液晶フィルム２、逆ねじれ配向液晶フィルム３１および偏光板１８ａ、１８ｂの軸角度配置のみを考慮すればよい。

なお、以下の説明において、フィルムの配向軸、偏光板の透過軸などについては、光源２０と反対側から見て、反時計回りに角度を表現することとする。また、ねじれ配向液晶フィルムのねじれ角は、光源２０と反対側から見て、右ねじれ（右ねじの方向に液晶分子がねじれている状態）を負として角度を表現することとする。

まず、旋光配置について説明する。

被検査ねじれ配向液晶フィルム２を２枚の偏光板１８ａ、１８ｂにはさんで、片方の偏光板１８ａから光を略垂直に入射し、反対側の偏光板１８ｂからの出射光を分光器（図示せず）で検出する。

入射側の偏光板１８ａの透過軸を動かさずに、ねじれ配向液晶フィルム２と出射側偏光板１８ｂを回転させて、550nmの光の透過率が0.1%以下となる軸配置を探す。このときの軸配置を旋光配置と呼ぶ（図４参照）。

このとき、実際の測定によらず、ジョーンズマトリックス法などのシミュレーションでそのような軸配置を求めても良い。

このようにして求まった軸配置においては、入射側偏光板１８ａの透過軸を０°、ねじれ配向液晶フィルム２の入射側の配向軸をα₁°、出側偏光板１８ｂの透過軸をβ₁＋９０°とし、ねじれ配向液晶フィルムのねじれ角を-Tw₁°とすると、一般的に、
２×α₁＋Tw₁＝β₁＋１８０×ｎ （ｎは適当な整数）
の関係がある（右ねじれの場合、Tw₁は正の値）。

ねじれ配向液晶フィルム２のパラメータ（光学膜厚、ねじれ角および波長分散）によっては、このような軸配置が見つからない場合がある。そのようなフィルムは、一般に使われる光学フィルムとしてはパラメータのずれに伴う欠陥が目視では目立たないフィルムである。

検査用の逆ねじれ配向液晶フィルム３１についても、同様の方法で旋光配置を探す。逆ねじれ配向液晶フィルム３１の入射側の配向軸をα₂°出側偏光板の透過軸をβ₂＋９０°とし、ねじれ配向液晶フィルム２のねじれ角を-Tw₂°とする。ここでも、
２×α₂＋Tw₂＝β₂＋１８０×ｎ （ｎは適当な整数）
が成立する。ここで、Tw₂はTw₁と反対の符号を持つことに注意する。

続いて、擬似完全補償配置について説明する。

これは、２枚の偏光板の間に、ねじれ配向液晶フィルムと検査用の逆ねじれ配向液晶フィルムをはさんで、550nmの光の透過率が０．１％以下となる軸配置のひとつであり、ねじれ配向液晶フィルムと検査用の逆ねじれ配向液晶フィルムの旋光配置を組み合わせたものである。

旋光配置から求めたα₁、β₁、Tw₁、α₂、β₂、Tw₂を用いて、図５（ａ）に示すような軸配置と図５（ｂ）に示すような軸配置の２通りがある。

すなわち図５（ａ）に示すような軸配置においては、逆ねじれ配向液晶フィルム３１において、光源２０側の配向軸は、２×α₁＋Tw₁＋α₂−９０°であり、光源２０と反対側の配向軸は、２×α₁＋Tw₁＋α₂−９０°＋Tw₂である。一方、図５（ｂ）に示すような軸配置においては、逆ねじれ配向液晶フィルム３１において、光源２０側の配向軸は、２×α₁＋Tw₁＋α₂であり、光源２０と反対側の配向軸は、２×α₁＋Tw₁＋α₂＋Tw₂である。そして、図５（ａ）及び図５（ｂ）のいずれの軸配置においても、偏光板１８ｂの透過軸は、２×α₁＋Tw₁＋２×α₂＋Tw₂−９０°である。

このような軸配置で、一般に、請求項２におけるＹ値が３０以下、望ましくは２０以下、さらに望ましくは１０以下が達成できる。また、請求項２におけるＹ値が３０以下、望ましくは２０以下、さらに望ましくは１０以下が達成できるなら、これらの軸配置から各々のフィルムおよび偏光板の軸角度がそれぞれ独立に、２０°以下、望ましくは１０°以下ずれてもかまわない。また、実際の欠点検査用の配置は、擬似完全補償配置よりも、各々のフィルムおよび偏光板の軸角度が１０°以下ずれたところのほうが欠点を検査しやすい傾向にある。

次に、光学フィルム１中の支持フィルム１０が２０ｎｍ以上の複屈折を持ち、光学的に無視できない場合の最適配置について述べる。

支持フィルム１０の複屈折の影響を最小限に抑えるためには、支持フィルム１０の光学軸（遅相軸もしくは進相軸）を入射側偏光板の透過軸と一致させる必要がある。ところが、光学フィルム１中で、支持フィルム１０とねじれ配向液晶フィルム２は、特定の角度で貼り合わさってしまっているので、先に述べた擬似完全補償配置のような軸配置を取れるとは限らないことになる。

これを解消するために、次のような操作を行う。

擬似完全補償配置では、２枚の偏光板を組み合わせて、その軸を同じ方向に回転させても光の透過率がほとんど変化しないことを利用する。

すなわち次のような方法で、軸配置を決定する。

ねじれ配向液晶フィルム２側から観察して、支持フィルム１０の光学軸（遅相軸もしくは進相軸）からねじれ配向液晶フィルム２の支持フィルム１０側の配向軸がなす角度を、反時計回りに測定して、ω°とする。

まず、支持フィルム１０がないものとして、上記同様の方法で擬似完全補償配置を探し出す。つづいて、支持フィルム１０の光学軸と入射側偏光板の透過軸を一致させるように、入射側、出射側２枚の偏光板の軸を同じ方向に回転させる。これが、求める軸配置である。

例示すると、図５（ａ）のような擬似完全補償配置が見つかった場合、入射側、出射側２枚の偏光板の軸をα₁−ω°回転させることで、支持フィルム１０の光学軸と入射側偏光板の透過軸を一致させ、図６のような配置とする。これを回転擬似完全補償配置と呼ぶ。

この回転擬似完全補償配置で、一般に、請求項２記載のＹ値が３０以下、望ましくは２０以下、さらに望ましくは１０以下が達成できる。また、請求項２記載のＹ値が３０以下、望ましくは２０以下、さらに望ましくは１０以下が達成できるなら、これらの軸配置から各々のフィルムおよび偏光板の軸角度がそれぞれ独立に、２０°以下、望ましくは１０°以下ずれてもかまわない。また、実際の欠点検査用の配置は、擬似完全補償配置よりも、各々のフィルムおよび偏光板の軸角度が１０°以下ずれたところのほうが欠点を検査しやすい傾向にある。

次に、欠陥検査用素子２９について詳細に説明する。

欠陥検査用素子２９は、偏光板１８ｂと、逆ねじれ配向液晶フィルム３１とを積層したものである。

上記の擬似完全補償配置、もしくは回転擬似完全補償配置の軸配置で、逆ねじれ液晶フィルム３１と出射側偏光板１８ｂとを貼り合わせたものが欠陥検査用素子２９となる。これを手にもち、流れる光学フィルム１を検査する。

各配置で、貼り合わせ角は、10°程度ずれても、Ｙ値が30以下、望ましくは20以下、さらに望ましくは10以下が達成されればよい。

逆ねじれ配向液晶フィルム３１のパラメータ（光学膜厚、ねじれ角及び波長分散）については、検査するねじれ配向液晶フィルムとねじれの向きが逆で、旋光配置が見つかるフィルムであれば、パラメータが異なっていても使用可能である。

そして、上記欠陥検査用素子２９を、光学フィルム１に対向配置する。このとき、逆ねじれ配向液晶フィルム３１を光学フィルム１側に向け、偏光板１８ｂを光学フィルム１と反対側に向ける

こうして欠陥検査用素子２９を光学フィルム１に対して配置すると、光学フィルム１におけるねじれ配向液晶フィルム２で生じた位相差が、逆ねじれ配向液晶フィルム３１によって打ち消され無欠陥部分は暗くなる。一方、ねじれ配向液晶フィルム２における欠陥部分は輝点として現れる。従って、無欠陥部分と欠陥部分とのコントラストを大きくすることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となり、ねじれ配向液晶フィルム２における欠陥の検査を的確に行うことができる。

無欠陥部分と欠陥部分のコントラストが大きければ、必ずしも無欠陥部分の明るさ（Ｙ値）が低い必要はない。このため、欠陥検査用素子２９を手元で20°以下の範囲で、軸を回転させることによって、擬似完全補償配置、もしくは回転擬似完全補償配置の軸配置と少しずれた軸配置で、目視で欠陥検査がしやすい軸配置を探すことも可能である。

上記のようにして欠陥が発見されたら、図２に示すように、マーカー１７を使用してマーキングを行い、マーキングインクを、ロール１６Ｆの近傍に配置される乾燥装置１９で乾燥させる。こうしてねじれ配向液晶フィルム２の欠陥検査が行われる。

以下、実施例及び比較例を挙げて、本発明の内容をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。

（実施例１）
以下に実施例を示す。複屈折は550nmの光に対する値である。図２のような連続欠陥検査装置を用いて、富士写真フイルム製TACフィルム（リタデーションは５ｎｍ以下）を支持フィルムとするねじれ配向液晶フィルム(101)の連続欠陥検査を行った。ここで、被検査フィルムは、支持フィルムであるTACフィルムの側を光源２０側の偏光板に近いほうの面になるように配置した。

ねじれ配向液晶フィルム(101)のパラメータは、リタデーションが660nm、ねじれ角が-190°(右ねじれ)、TACフィルムに近い側の液晶分子の配向軸が20°である。軸角度は、光源と反対側からフィルムを見て、フィルムの流れ方向を0°として、反時計回りに測定した。

まず、ジョーンズマトリックス法のシミュレーションにより、ねじれ配向液晶フィルム(101)に対する旋光配置を求めた。

入射側偏光板の透過軸角度が0°、入射側のねじれ配向液晶フィルム(101)の液晶分子の配向軸が34°、出射側偏光板の透過軸角度が-12°の時に、550nmの光の透過率が0.03%となり、旋光配置を実現した。

続いて、TACフィルムを支持フィルムとする逆ねじれ配向液晶フィルム(102)を用意した。逆ねじれ配向液晶フィルム(102)のパラメータは、リタデーションが750nm、ねじれ角が180°(左ねじれ)、TACフィルムに近い側の液晶分子の配向軸が0°である。

上記と同様の方法で、逆ねじれ配向液晶フィルム(102)の旋光配置を求めたところ、入射側偏光板の透過軸角度が0°、入射側の逆ねじれ配向液晶フィルム（１０２）の液晶分子の配向軸が-20°、出射側偏光板の透過軸角度が50°の時に、550nmの光の透過率が0.01%となり、旋光配置を実現した。

偏光板１８ｂ側から見て、偏光板１８ｂの透過軸が、逆ねじれ配向液晶フィルム(102)のTACフィルム１０側の液晶分子の配向軸から測って、20°の角度をなすように、偏光板１８ｂと逆ねじれ配向液晶フィルム（１０２）のTACフィルム１０側を貼りあわせて、欠陥検査用素子(103)とした。

図２に示すような連続検査装置で、光源側(入射側)偏光板18aの透過軸角度を約-14°に設定し、先に作成した欠陥検査用素子(103)を、偏光板１８ｂ側が手前に来るように手に持ち、欠陥検査用素子（１０３）を通して、被検査フィルムを観察した（図７参照）。

欠陥検査用素子(103)の偏光板１８ｂの透過軸が、被検査フィルムのMD方向と、約114°の角度をなすときに、フィルム全体がもっとも暗くなり、その周辺の軸配置で、欠陥が輝点としてはっきりと確認できた。

（比較例１）
TACフィルムを支持フィルムとするねじれ配向液晶フィルム(101)を、２枚の（逆ねじれ配向液晶フィルムつきでない）偏光板１８ａ、１８ｂにはさんで連続欠陥検査を行った。

入射側（奥側）偏光板１８ａの透過軸角度が約-14°、出射側（手前側）偏光板１８ｂの透過軸角度が約-26°となるところで、もっとも暗くなった（図８参照）が、実施例１の場合と比較して、フィルム全体から、光抜けが発生しており、やや青みがかっているため、欠陥観察が困難であった。

（実施例２）
図２のような連続欠陥検査装置を用いて、一軸延伸PETフィルムを支持フィルムとするねじれ配向液晶フィルム(104)の連続欠陥検査を行った。ここで、被検査フィルムは、支持フィルムであるTACフィルム１０の側を光源側の偏光板１８ａに近いほうの面になるように配置した。

ねじれ配向液晶フィルム(104)のパラメータは、リタデーションが660nm、ねじれ角が-190°(右ねじれ)、TACフィルムに近い側の液晶分子の配向軸が20°である。

一軸延伸PETフィルム１０は、1400nmのリタデーションで、フィルムの流れ方向に光学軸を有していた。

実施例１と同様のシミュレーションを行い、ねじれ配向液晶フィルム(104)に対する旋光配置を実現した。このとき、旋光配置のパラメータは、入射側偏光板１８ａの透過軸角度が0°、入射側のねじれ配向液晶フィルム(104)の液晶分子の配向軸が34°、出射側偏光板の透過軸角度が-12°であった。

実施例１と同様に、TACフィルムを支持フィルムとする、リタデーションが750nm、ねじれ角が180°(左ねじれ)、TACフィルムに近い側の液晶分子の配向軸が0°である逆ねじれ配向液晶フィルム(102)を用意した。この逆ねじれ配向液晶フィルム(102)の旋光配置のパラメータは、入射側偏光板の透過軸角度が0°、入射側のねじれ配向液晶フィルム(101)の液晶分子の配向軸が-20°、出射側偏光板の透過軸角度が50°である。

偏光板側から見て、偏光板の透過軸が、逆ねじれ配向液晶フィルム(102)のTACフィルム側の液晶分子の配向軸から測って、6°の角度をなすように、偏光板と逆ねじれ配向液晶フィルムのTACフィルム側を貼りあわせて、欠陥検査用素子(105)とした。

図２に示すような連続検査装置で、光源２０側(入射側)偏光板18aの透過軸角度を、0°に設定し、先に作成した欠陥検査用素子(105)を、偏光板１８ｂ側が手前に来るように手に持ち、欠陥検査用素子（１０５）を通して、ねじれ配向液晶フィルム(104)を観察した（図９参照）。

欠陥検査用素子(105)の偏光板１８ｂの透過軸が、被検査フィルムのMD方向と、127°の角度をなすときに、支持フィルムである一軸PET１０の影響が最も少なくなり、かつ、フィルム全体がもっとも暗くなり、欠陥が輝点としてはっきりと確認できた。

（比較例２）
一軸PETフィルムを支持フィルムとするねじれ配向液晶フィルム(104)を、２枚の（逆ねじれ配向液晶フィルムつきでない）偏光板にはさんで連続欠陥検査を行った。

入射側（奥側）偏光板の透過軸角度が約0°もしくは約90°でない場合は、一軸PETフィルムのリタデーションの影響を受けて、欠陥観察が不可能であった。

また、入射側（奥側）偏光板の透過軸角度が約0°もしくは約90°の場合は、フィルム全体が明るくなり、欠陥を発見することが著しく困難であった。

本発明の光学フィルムの検査方法に用いる剥離性フィルム付き光学フィルムの一例を示す概略側面図である。 本発明の光学フィルムの検査方法に用いる光学フィルムが、剥離性フィルムを剥離されて欠陥検査されるまでの流れを示す工程図である。 本発明の光学フィルムの検査方法の一実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。 ねじれ配向液晶フィルム、及び偏光板を用いた旋光配置を示す概略図である。 （ａ）（ｂ）はいずれも、ねじれ配向液晶フィルム、偏光板及び逆ねじれ配向液晶フィルムを用いた擬似完全補償配置を示す概略図である。 ねじれ配向液晶フィルム、偏光板、逆ねじれ配向液晶フィルム及び支持フィルムを用いた回転擬似完全補償配置を示す概略図である。 実施例１に係る偏光板の透過軸、ねじれ配向液晶フィルムの配向軸、逆ねじれ配向フィルムの配向軸及び偏光板の透過軸の角度関係を示す図である。 比較例１に係る偏光板の透過軸、ねじれ配向液晶フィルムの配向軸及び偏光板の透過軸の角度関係を示す図である。 実施例２に係る偏光板の透過軸、ねじれ配向液晶フィルムの配向軸、逆ねじれ配向フィルムの配向軸及び偏光板の透過軸の角度関係を示す図である。

符号の説明

１…光学フィルム、２…ねじれ配向液晶フィルム、１８ａ…偏光板（第１の偏光板）、１８ｂ…偏光板（第２の偏光板）、２０…バックライト（光源）、２９…欠陥検査用素子、３１…逆ねじれ配向液晶フィルム。

Claims (1)

1. 液晶の配向軸が厚さ方向にねじれたねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第１の偏光板を通して光を照射し、
   前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、前記光源から前記光学フィルムに向かう方向に対し液晶の配向軸が前記ねじれ配向液晶フィルムと逆方向にねじれた逆ねじれ配向液晶フィルムと、第２の偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記逆ねじれ配向液晶フィルムが前記光学フィルム側に向けられるように配置して前記光学フィルムを検査し、
   前記欠陥検査用素子を、前記逆ねじれ配向液晶フィルムが前記光学フィルム側に向けられるように配置してＹ値を測定し、Ｙ値が３０以下となるように前記逆ねじれ配向液晶フィルム、前記光学フィルム、前記第１の偏光板及び前記第２の偏光板の軸配置を相対的に変化させることを特徴とする光学フィルムの検査方法。

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