JP4398015B2 - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents
液晶表示装置及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4398015B2 JP4398015B2 JP22544499A JP22544499A JP4398015B2 JP 4398015 B2 JP4398015 B2 JP 4398015B2 JP 22544499 A JP22544499 A JP 22544499A JP 22544499 A JP22544499 A JP 22544499A JP 4398015 B2 JP4398015 B2 JP 4398015B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal display
- display device
- protrusion
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置(Liquid Crystal Display)及びその製造方法に関し、特に、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下、TFTという)をスイッチング素子として備えたアクティブマトリクス型の液晶表示装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
アクティブマトリクス型の液晶表示装置は、優れた画像品質が得られるフラットパネル・ディスプレイとしてコンピュータやOA機器等に多用されている。このアクティブマトリックス型の液晶表示装置は、TFT及び画素電極が形成されたアレイ基板と共通電極が形成された対向基板との間に封止した液晶層に対して両電極から電圧を印加して液晶を駆動するようになっている。
【0003】
図6は、従来の液晶表示装置のアレイ基板を液晶層側から見た基板面を示している。図6に示すように、ガラス基板100上に図中上下方向に延びる複数のデータ線(図では1本のみ表示している)101が形成されている。またガラス基板100上には、図中左右方向に延びる複数のゲート線103が形成されている。これらデータ線101とゲート線103とで画定される領域に画素が形成される。そして、各データ線101とゲート線103との交差位置近傍にTFTが形成されている。TFTのゲート電極104はゲート線103から引き出されて形成されている。TFTのドレイン電極117は、データ線101から引き出されて、その端部がゲート電極104上方に形成されたチャネル保護膜105上の一端辺側に位置するように形成されている。
【0004】
一方、ソース電極119はチャネル保護膜105上の他端辺側に位置してドレイン電極117に対向して形成されている。図示は省略しているが、ゲート電極104上にはゲート絶縁膜が形成され、その上にチャネルを構成する動作半導体層が形成されている。ソース電極119の上層には保護膜(図示せず)を介して透明電極からなる画素電極113が形成されている。画素電極113は、保護膜に設けられたコンタクトホール107を介してソース電極119と電気的に接続されている。
【0005】
画素電極113上には横断面中央部が凸状の細長い丘状の絶縁性の突起115が形成されている。突起115は画素領域内で直線的に三角波状に蛇行して形成されている。従って、1画素内で方向が異なる少なくとも4つの傾斜面が形成され、これにより負の誘電異方性を有する液晶分子の配向状態を異ならせた4分割配向のMVA(Multi−domain Vertical Alignment)モードによる液晶の配向制御を実現できるようになっている。
【0006】
次に図6に示した従来の液晶表示装置の製造方法について図7及び図8を用いて説明する。図7及び図8は、図6のA−A線で切断したアレイ基板のTFTを含む断面を示している。まず図7(a)に示すように、透明ガラス基板100上に例えばAl(アルミニウム)を全面に成膜して金属層を形成した後パターニングし、ゲート線103(図7及び図8には表されない)及びゲート電極104を形成する。次に、例えばシリコン窒化膜(SiN)をプラズマCVD法により基板全面に成膜してゲート絶縁膜123を形成する。次に、動作半導体層を形成するための例えばアモルファスシリコン(a−Si)層125をプラズマCVD法により基板全面に成膜する。さらに、チャネル保護膜を形成するための例えばシリコン窒化膜127をプラズマCVD法により全面に形成する。
【0007】
次に、全面にレジストを塗布した後、ゲート線103及びゲート電極104をマスクとして、透明ガラス基板100に対して背面露光を行い、ゲート線103、ゲート電極104上に自己整合的にレジストパターン(図示せず)を形成する。形成されたレジストパターンをマスクとしてシリコン窒化膜127をエッチングして、ゲート線103及びゲート電極104上にシリコン窒化膜127を残存させる。さらにゲート線103及びゲート電極104上のシリコン窒化膜127をパターニングしてTFT形成領域のゲート電極104上にチャネル保護膜105を形成する(図7(b)参照)。
【0008】
次に、図7(c)に示すように、オーミックコンタクト層を形成するためのn+a−Si層129をプラズマCVD法により全面に形成する。次いで、ドレイン電極117、ソース電極119、及びデータ線101を形成するための金属(例えばCr)層131をスパッタリングにより成膜する。
【0009】
次に、図7(d)に示すように、金属層131、n+a−Si層129、アモルファスシリコン層125をパターニングし、データ線101、ドレイン電極117、ソース電極119、及び動作半導体層106を形成する。このパターニングにおけるエッチング処理において、チャネル保護膜105はエッチングストッパとして機能し、その下層の動作半導体層106はエッチングされずに残存する。
【0010】
次に、図8(a)に示すように例えばシリコン窒化膜(あるいはシリコン酸化膜)からなる保護膜133をプラズマCVD法により形成してからパターニングし、ソース電極119上の保護膜133を開口して、ソース電極119上にコンタクトホール107を形成する。
【0011】
次に、図8(b)に示すように、透明ガラス基板100全面に例えばITO(インジウム・ティン・オキサイド)からなる画素電極材を成膜してからパターニングして画素電極113を形成する。画素電極113はコンタクトホール107を介してソース電極119と電気的に接続される。
【0012】
次いで、全面に絶縁性のノボラック樹脂系のレジストを形成してからパターニングし、画素電極113上に横断面中央部が凸状の細長い丘状の突起115を形成する。突起115は画素領域内で直線的に三角波状に蛇行するように形成し、1画素内で方向が異なる4つの傾斜面が形成される。以上説明した工程を経て、図8(c)に示したような、負の誘電異方性を有する液晶分子の配向状態を異ならせた4分割配向のMVAモードを実現できる液晶表示装置のアレイ基板が完成する。
【0013】
図示を省略したが対向基板側にも突起115と同様の突起を設け、アレイ基板と対向基板に垂直配向処理を施して誘電異方性が負の液晶を封止して液晶表示パネルが完成する。アレイ基板側の画素電極と対向基板側の共通電極との間に電圧を印加しないときには液晶分子の長軸方向は基板面にほぼ垂直になり、また突起115近傍の液晶分子の長軸方向は突起115の傾斜面に垂直に近い方に、基板面に対して傾斜するようになっている。両電極間に電圧が印加されると傾斜面付近の液晶の電圧無印加時の配向方向に沿って周囲の液晶の配向方向が決定される。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、アクティブ・マトリクス型の液晶表示装置の普及に伴い、高性能で低価格の液晶表示装置を市場に供給するには、製造コストをできるだけ低減させることが重要になってくる。製造コストを低減させるには、第1に液晶表示装置の製造歩留りを改善することが要求される。第2には液晶表示装置の製造におけるスループットを向上させることが必要である。
【0015】
この点に関し上述の従来のMVAモードの液晶表示装置では、ドレイン電極117及びドレイン電極119を形成した後、シリコン窒化膜(あるいはシリコン酸化膜)の保護膜133を形成し、その上に画素電極113を形成している。この保護膜133は、層間絶縁膜として例えばドレイン電極117と画素電極13との層間短絡等の発生を防止して製造歩留まりを向上させる機能を有している。ところが、保護膜133の形成には成膜工程とコンタクトホール107のパターニングが必須でありスループットを低下させる要因の一つとなっているという問題を有している。
【0016】
本発明の目的は、製造歩留まりを低下させずにスループットを向上させて製造コストの低減を図ることができる液晶表示装置及びその製造方法を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、複数の画素毎に薄膜トランジスタがスイッチング素子として形成されたアクティブマトリクス型の液晶表示装置において、前記薄膜トランジスタのソース電極の一部領域以外の前記薄膜トランジスタ上に形成された絶縁性の保護膜と、前記保護膜と同一の材料からなり、液晶の配向制御用に画素領域内に形成された突起部と、前記突起部の形成領域外の前記画素領域内に形成され、前記ソース電極の前記一部領域に直接接続された画素電極とを有することを特徴とする液晶表示装置によって達成される。
【0018】
また、上記本発明の液晶表示装置において、前記突起部は、前記画素領域内で当該突起部により分断された複数の前記画素電極を電気的に接続するための導通部を有していることを特徴とする。
【0019】
また、上記目的は、複数の画素毎に薄膜トランジスタをスイッチング素子として備えたアクティブマトリクス型の液晶表示装置の製造方法において、前記薄膜トランジスタのソース電極の一部領域以外の前記薄膜トランジスタ上に絶縁性の保護膜を形成し、前記保護膜の形成と同時に画素領域内に液晶の配向制御用の突起部を形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法によって達成される。
【0020】
上記本発明の液晶表示装置の製造方法において、前記突起部は、断面中央に向かって凸状に形成することを特徴とする。また、前記突起部は、前記画素領域内で頂角がほぼ90°の三角波状に蛇行するように形成され、前記画素領域内で方向が異なる4つの傾斜面を形成することを特徴とする。さらに、前記突起部の形成領域外の前記画素領域内に前記ソース電極と直接接続される画素電極を形成することを特徴とする。
【0021】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態による液晶表示装置及びその製造方法を図1乃至図5を用いて説明する。まず、本実施の形態による液晶表示装置の概略の構成を図1及乃至図3を用いて説明する。図1は本実施の形態による液晶表示装置のアレイ基板を液晶層側から見た基板面を示している。図1に示すように、ガラス基板1上に図中上下方向に延びる複数のデータ線(図では1本のみ表示している)11が形成されている。またガラス基板1上には、図中左右方向に延びる複数のゲート線3が形成されている。これらデータ線11とゲート線3とで画定される領域に画素が形成される。そして、各データ線11とゲート線3との交差位置近傍にTFTが形成されている。TFTのゲート電極4はゲート線3から引き出されて形成されている。TFTのドレイン電極17は、データ線11から引き出されて、その端部がゲート電極4上方に形成されたチャネル保護膜5上の一端辺側に位置するように形成されている。
【0022】
一方、ソース電極19はチャネル保護膜5上の他端辺側に位置してドレイン電極17に対向して形成されている。図示は省略しているが、ゲート電極4上にはゲート絶縁膜が形成され、その上にチャネルを構成する動作半導体層が形成されている。画素領域内にはソース電極19に直接接続されたITO等の透明電極からなる画素電極13が形成されている。また画素領域内には横断面中央部が凸状の細長い丘状の絶縁性の突起15が形成されている。突起15は画素領域内で頂角が90°の三角波状に蛇行して形成されている。従って、図1に示すように1画素内で方向が異なる少なくとも4つの傾斜面t1、t2、t3、t4が形成され、これにより負の誘電異方性を有する液晶分子の配向状態を異ならせた4分割配向のMVAモードによる液晶の配向制御を実現できるようになっている。
【0023】
ここで、画素電極13は突起15の形成領域には形成されていない。突起15の三角波状の各辺部には、辺部を一部削除した導通部18が設けられている。導通部18にも透明電極材が形成されており、これにより画素領域内で突起15により分断された複数の画素電極13が電気的に接続されている。
【0024】
さらに図2を用いて、本実施の形態による液晶表示装置の構造を説明する。図2は、図1のA−A線で切断したTFTを含む領域の液晶表示装置の断面を示している。透明ガラス基板1上に例えば厚さ150nmのAl(アルミニウム)及び厚さ50nmのTi(チタン)をこの順に積層したゲート電極4が形成されている。ゲート電極4の幅は例えば8μm程度に形成されている。ゲート電極4上及びガラス基板1上の全面には、例えば厚さ300nmのシリコン窒化膜(SiN)からなるゲート絶縁膜23が形成されている。ゲート電極4上のゲート絶縁膜23の上方には動作半導体層として機能する厚さ30nm程度のアモルファスシリコン(a−Si)層6が形成されている。
【0025】
ゲート電極4上のアモルファスシリコン層6上にはチャネルストッパとして機能する、例えば厚さ100nm程度のSiNからなるチャネル保護膜5が形成されている。ゲート電極4上の動作半導体層の両側のアモルファスシリコン層6上には、オーミックコンタクト層であるn+a−Si層(厚さ30nm程度)及び、その上にTi(厚さ約50nm)/Al(厚さ約150nm)/Ti(厚さ約50nm)をこの順に積層したドレイン電極17、データ線11、及びソース電極19が形成されている。ドレイン電極17及びソース電極19の端部は、チャネル保護膜5上に乗り上げて対向して形成されている。
【0026】
図2中に示すソース電極19の幅aは約5μmであり、チャネル保護膜5上のドレイン電極17とソース電極19との端部間の幅bは約3.5μmである。また、ドレイン電極17の幅cは約3μmであり、データ線11の幅dは約10μmである。
【0027】
TFTのソース電極19(一部領域を除く)、ドレイン電極17、及びデータ線11上には、これらを覆う保護膜34が形成されている。保護膜34は厚さ約1.5μmの絶縁性のノボラック樹脂系のレジストで形成されている。また、保護膜34と同一の材料で形成され、横断面中央部が凸状の細長い丘状の突起15が形成されている。突起15は図1に示したように画素領域内で頂角がほぼ90°の三角波状に蛇行するように形成されており、1画素内で方向が異なる4つの傾斜面を有している。突起15の幅eは約5μmであり高さは約1.5μmである。なお、図2に示した突起15は、突起形状を強調するため断面形状の縦横比は実際より縦方向を強調して表示している。
【0028】
また、例えばITOからなる画素電極13が厚さ約70nmに成膜されてソース電極19の一部領域に直接接続されている。画素電極13は、表示領域内の突起15上には形成されていない。図中では画素電極13が突起15側壁下方に接触しているように表示しているが、画素電極13端部が突起15側壁部に接触しないように形成してももちろんよい。図2には示されていないが、突起15の各辺部に設けられた導通部18上にも画素電極材が形成されており、画素領域内で突起15により分断される複数の画素電極13は電気的に接続されている。
以上が、本実施の形態における負の誘電異方性を有する液晶分子の配向状態を異ならせた4分割配向のMVAモードを実現できる液晶表示装置のアレイ基板の概略構成である。
【0029】
アレイ基板としてのガラス基板1のTFT形成側に所定のセルギャップで対向して対向基板としてのガラス基板2が配置されている。ガラス基板1とガラス基板2との間の空隙には誘電異方性が負の液晶20が封止されている。
ガラス基板2の液晶と接する側にはカラーフィルタ7が形成されている。カラーフィルタ7は、例えば樹脂に顔料を分散して形成した赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかのフィルタで構成され、ガラス基板1の画素領域毎に対応して設けられている。また、隣り合うカラーフィルタ7間には、TFTに入射する光を遮光するブラックマトリクス(BM)9が形成されている。ブラックマトリクス9の形成材料としては、例えばクロム(Cr)が用いられる。ブラックマトリクス9は、TFTへの光の入射を防止して光リーク電流の発生を抑制すると共に、各画素からの不要な漏光を遮光して画像のコントラストを向上させるために使用されている。
【0030】
カラーフィルタ7及びブラックマトリクス9上には例えばITOからなる共通電極8が形成されている。また、画素領域内の表示領域に対応した位置の共通電極8上には、突起15と同様の突起16が形成されている。図3は、図1に示したアレイ基板側のガラス基板1に対向基板側のガラス基板2を重ね合わせた状態を示している。図3に示すようにガラス基板の平面から見て、ガラス基板2側の複数の突起16は、ガラス基板1側の複数の突起15の配列ピッチに対して半ピッチずれて形成されている。このように、アレイ基板と対向基板の双方に互いに半ピッチずれた突起15、16を設けることにより、液晶の配向制御をより確実にすることができる。
【0031】
アレイ基板側の画素電極13と対向基板側の共通電極8との間に電圧を印加しないときには液晶20の液晶分子の長軸方向はガラス基板1面にほぼ垂直になり、また突起15近傍の液晶分子の長軸方向は突起15の傾斜面t1〜t4にほぼ垂直(実際には液晶の連続体性により、傾斜面に垂直な方向よりも基板面に垂直な方向に傾いている)になっている。両電極8、13間に電圧が印加されると傾斜面t1〜t4付近の液晶の電圧無印加時の配向方向に沿って周囲の液晶の配向方向が決定される。
このようなMVAモードによる液晶配向制御を行うことにより、広い視野角で表示品質の優れた画像を得ることができるようになる。
なお、図1乃至図3に示した本実施の形態による液晶表示装置の構成は概略であり、ガラス基板1、2に張り付けられた偏光板や所定のセルギャップを維持するためのスペーサの図示等は省略している。
【0032】
次に、図1乃至図3に示した本実施の形態による液晶表示装置の製造方法について図4及び図5を用いて説明する。図4及び図5は、図1のA−A線で切断したアレイ基板のTFTを含む断面を示している。まず図4(a)に示すように、透明ガラス基板1上に例えば厚さ150nmにAlを全面に成膜し、次いでTiを厚さ50nm程度成膜して金属層を形成した後パターニングし、幅8μm程度のゲート線3(図4及び図5には表れない)及びゲート電極4を形成する。次に、プラズマCVD法により例えば厚さ300nm程度のシリコン窒化膜を基板全面に成膜してゲート絶縁膜23を形成する。次に、動作半導体層6を形成するための例えばアモルファスシリコン(a−Si)層25をプラズマCVD法により厚さ30nm程度で基板全面に成膜する。さらに、チャネル保護膜5を形成するための例えば厚さ100nm程度のシリコン窒化膜27をプラズマCVD法により全面に形成する。
【0033】
次に、全面にレジストを塗布した後、ゲート線3及びゲート電極4をマスクとして、透明ガラス基板1に対して背面露光を行い、ゲート線3、ゲート電極4上に自己整合的にレジストパターン(図示せず)を形成する。形成されたレジストパターンをマスクとしてシリコン窒化膜27をエッチングして、ゲート線3及びゲート電極4上にシリコン窒化膜27を残存させる。さらにゲート線3及びゲート電極4上のシリコン窒化膜27をパターニングしてTFT形成領域のゲート電極4上にチャネル保護膜5を形成する(図4(b)参照)。
【0034】
次に、図4(c)に示すように、オーミックコンタクト層を形成するためのn+a−Si層29をプラズマCVD法により厚さ30nm程度で全面に形成する。次いで、ドレイン電極17、ソース電極19、及びデータ線11を形成するために、厚さ50nm程度のTi、厚さ150nm程度のAl、厚さ50nm程度のTiをこの順にスパッタリングにより成膜して金属層31を形成する。
【0035】
次に、図4(d)に示すように、金属層31、n+a−Si層29、アモルファスシリコン層25をパターニングし、データ線11、ドレイン電極17、ソース電極19、及び動作半導体層6を形成する。このパターニングにおけるエッチング処理でゲート電極4上方の金属層31をドレイン電極17とソース電極19とに分離する際、チャネル保護膜5はエッチングストッパとして機能し、その下層の動作半導体層6はエッチングされずに残存する。
【0036】
次に、図5(a)に示すように、例えば絶縁性を有する熱硬化性樹脂であるノボラック樹脂系のレジスト33を全面に厚さ約1.5μm程度形成する。次いで、レジスト33をパターニングして、200°C程度でアニールを行い硬化させることによりTFTのソース電極19(一部領域を除く)、ドレイン電極17、及びデータ線11を覆う保護膜34を形成すると共に、同時に横断面中央部が凸状の細長い丘状の突起15を形成する(図5(b)参照)。突起15は画素領域内で頂角がほぼ90°の三角波状に蛇行するように形成し、1画素内で方向が異なる4つの傾斜面を形成する。突起15の幅は約5μmであり高さは約1.5μmである。図5(b)に示した突起15も、突起形状を強調するため図2で説明したのと同様に断面形状の縦横比は変更して表示している。また、突起15の三角波状の各辺部は、図1に示した導通部18が形成されるようにパターニングされる。
【0037】
次に、図5(b)に示すように、透明ガラス基板1全面に例えばITOからなる画素電極材を厚さ約70nmに成膜してからパターニングして画素電極13を形成する。画素電極13はソース電極19の一部領域に直接接続され、また、突起15上には形成しないようにパターニングする。図1、図2及び図5(b)では、画素電極13が突起15側壁下方に接触しているように表示しているが、マスクパターンの露光における位置決め精度に応じて必要な位置合わせマージンを取って、画素電極13端部が突起15側壁部に接触しないように形成してももちろんよい。図5(b)には示されていないが、突起15の各辺部に設けられた導通部18上にも画素電極材が形成されるので、画素領域内で突起15により分断される複数の画素電極13は電気的に接続される。
以上説明した工程を経て、図5(b)に示したような、負の誘電異方性を有する液晶分子の配向状態を異ならせた4分割配向のMVAモードを実現できる液晶表示装置のアレイ基板が完成する。
【0038】
図示を省略したが対向基板側にも突起15と同様の突起を設け、アレイ基板と対向基板に垂直配向処理を施して誘電異方性が負の液晶を封止して、図2に示したような液晶表示パネルが完成する。このようなMVAモードによる液晶配向制御では突起15の形状だけで液晶の配向状態が決まるため、製造工程において、ラビング処理が不要となりいわゆるラビングレス・プロセスを実現することができる。
【0039】
本実施の形態による製造方法では、ドレイン電極17及びドレイン電極19を形成した後に突起15の形成材料で保護膜34と突起15とを同時に形成している点に特徴を有している。すなわち、図7及び図8に示した従来のMVAモードの液晶表示装置のような、ドレイン電極117及びドレイン電極119を形成した後に保護膜133を形成し、その上に画素電極113を形成する工程とは全く異なる。本実施の形態による製造方法では保護膜133の成膜工程とコンタクトホール107のパターニングが不要になり、このための工程数を減らしてスループットを向上させることが可能になる。また、本実施の形態での保護膜34は、従来の保護膜133と同様にドレイン電極17と画素電極13との層間短絡等の発生を防止する機能を有している。
従って、本実施の形態による液晶表示装置の製造方法によれば、製造歩留まりを低下させずにスループットを向上させて製造コストの低減を図ることができるようになる。
【0040】
本発明は、上記実施の形態に限らず種々の変形が可能である。
例えば、上記実施の形態では、ノボラック樹脂系のレジスト33を約1.5μmの厚さに形成して保護膜34を形成したが、保護膜34の膜厚はそれより薄くても問題ない。例えば、約0.5μm以上の厚さに保護膜34を形成すれば、画素電極13を形成する際に塵等によるパターン不良があっても、保護膜34端部で画素電極13の電極材の段切れが生じるため、他の導電材との間での短絡が発生するのを防止することができる。
また、上記実施の形態では、チャネル保護膜を備えた逆スタガ型のTFTを有するアレイ基板を用いて説明したが、本発明はこれに限られず、チャネル保護膜を有さない逆スタガ型のTFTを有する液晶表示装置にももちろん適用可能である。
【0041】
以上説明した実施形態に基づき、本発明は以下のようにまとめられる。
第1の発明として、複数の画素毎に薄膜トランジスタがスイッチング素子として形成されたアクティブマトリクス型の液晶表示装置において、前記薄膜トランジスタのソース電極の一部領域以外の前記薄膜トランジスタ上に形成された絶縁性の保護膜と、前記保護膜と同一の材料からなり、液晶の配向制御用に画素領域内に形成された突起部と、前記突起部の形成領域外の前記画素領域内に形成され、前記ソース電極の前記一部領域に直接接続された画素電極とを有することを特徴とする液晶表示装置。
【0042】
第2の発明として、上記第1の発明の液晶表示装置において、前記突起部は、断面中央部が凸状に形成されていることを特徴とする液晶表示装置。
【0043】
第3の発明として、上記第2の発明の液晶表示装置において、前記突起部は、前記画素領域内で頂角がほぼ90°の三角波状に蛇行するように形成され、前記画素領域内で方向が異なる4つの傾斜面を有していることを特徴とする液晶表示装置。
【0044】
第4の発明として、上記第2または第3の発明の液晶表示装置において、前記突起部は、前記画素領域内で当該突起部により分断された複数の前記画素電極を電気的に接続するための導通部を有していることを特徴とする液晶表示装置。
【0045】
第5の発明として、複数の画素毎に薄膜トランジスタをスイッチング素子として備えたアクティブマトリクス型の液晶表示装置の製造方法において、前記薄膜トランジスタのソース電極の一部領域以外の前記薄膜トランジスタ上に絶縁性の保護膜を形成し、前記保護膜の形成と同時に画素領域内に液晶の配向制御用の突起部を形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
【0046】
第6の発明として、上記第5の発明の液晶表示装置の製造方法において、前記突起部は、断面中央に向かって凸状に形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
【0047】
第7の発明として、上記第6の発明の液晶表示装置の製造方法において、前記突起部は、前記画素領域内で頂角がほぼ90°の三角波状に蛇行するように形成し、前記画素領域内で方向が異なる4つの傾斜面を形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
【0048】
第8の発明として、上記第5乃至第7の発明のいずれかの液晶表示装置の製造方法において、前記突起部の形成領域外の前記画素領域内に前記ソース電極と直接接続される画素電極を形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
【0049】
【発明の効果】
以上の通り、本発明によれば、製造歩留まりを低下させずにスループットを向上させて製造コストの低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による液晶表示装置のアレイ基板上の概略の構成を示す平面図である。
【図2】本発明の一実施の形態による液晶表示装置の概略の構成を示す断面図である。
【図3】本発明の一実施の形態による液晶表示装置の概略の構成を示す平面図である。
【図4】本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法を説明する工程断面図である。
【図5】本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法を説明する工程断面図である。
【図6】従来の液晶表示装置の概略の構成を示す平面図である。
【図7】従来の液晶表示装置の製造方法を説明する工程断面図である。
【図8】従来液晶表示装置の製造方法を説明する工程断面図である。
【符号の説明】
1、2、100 ガラス基板
3、103 ゲート線
4、104 ゲート電極
5、105 チャネル保護膜
6、106 動作半導体層
7 カラーフィルタ
8 共通電極
11、101 データ線
13、113 画素電極
15、16、115 突起
17、117 ドレイン電極
19、119 ソース電極
20 液晶
23、123 ゲート絶縁膜
25、125 アモルファスシリコン(a−Si)層
27、127 シリコン窒化膜
29、129 n+a−Si層
31、131 金属層
33 レジスト
34、133 保護膜
107 コンタクトホール
Claims (5)
- 複数の画素毎に薄膜トランジスタがスイッチング素子として形成されたアクティブマトリクス型の液晶表示装置において、
前記薄膜トランジスタのソース電極の一部領域以外の前記薄膜トランジスタ上に形成された絶縁性の保護膜と、
前記保護膜と同一の材料からなり、液晶の配向制御用に画素領域内に形成された突起部と、
前記突起部の形成領域を除く前記画素領域内に形成され、コンタクトホールを介さずに前記ソース電極の前記一部領域に直接接続された画素電極と
を有することを特徴とする液晶表示装置。 - 請求項1記載の液晶表示装置において、
前記突起部は、前記画素領域内で当該突起部により分断された複数の前記画素電極を電気的に接続するための導通部を有していること
を特徴とする液晶表示装置。 - 複数の画素毎に薄膜トランジスタをスイッチング素子として備えたアクティブマトリクス型の液晶表示装置の製造方法において、
前記薄膜トランジスタのソース電極の一部領域以外の前記薄膜トランジスタ上に絶縁性の保護膜を形成し、前記保護膜の形成と同時に画素領域内に液晶の配向制御用の突起部を形成し、
前記突起部の形成領域を除く前記画素領域内に、コンタクトホールを介さずに前記ソース電極と直接接続される画素電極を形成すること
を特徴とする液晶表示装置の製造方法。 - 請求項3記載の液晶表示装置の製造方法において、
前記突起部は、断面中央に向かって凸状に形成すること
を特徴とする液晶表示装置の製造方法。 - 請求項4記載の液晶表示装置の製造方法において、
前記突起部は、前記画素領域内で頂角がほぼ90°の三角波状に蛇行するように形成し、前記画素領域内で方向が異なる4つの傾斜面を形成すること
を特徴とする液晶表示装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22544499A JP4398015B2 (ja) | 1999-08-09 | 1999-08-09 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22544499A JP4398015B2 (ja) | 1999-08-09 | 1999-08-09 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001051298A JP2001051298A (ja) | 2001-02-23 |
JP4398015B2 true JP4398015B2 (ja) | 2010-01-13 |
Family
ID=16829464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22544499A Expired - Fee Related JP4398015B2 (ja) | 1999-08-09 | 1999-08-09 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4398015B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4248835B2 (ja) | 2002-04-15 | 2009-04-02 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置 |
KR101067947B1 (ko) | 2003-12-30 | 2011-09-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 수직배향모드 액정표시소자 및 그 제조방법 |
CN1605916B (zh) | 2003-10-10 | 2010-05-05 | 乐金显示有限公司 | 具有薄膜晶体管阵列基板的液晶显示板及它们的制造方法 |
KR20060070345A (ko) | 2004-12-20 | 2006-06-23 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 |
US8212953B2 (en) | 2005-12-26 | 2012-07-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
WO2011078173A1 (ja) * | 2009-12-25 | 2011-06-30 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
-
1999
- 1999-08-09 JP JP22544499A patent/JP4398015B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001051298A (ja) | 2001-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101905757B1 (ko) | 에프에프에스 방식 액정표시장치용 어레이기판 및 그 제조방법 | |
US7132305B2 (en) | Method of fabricating an in-plane switching liquid crystal display device | |
US7202498B2 (en) | Liquid crystal display, thin film transistor array panel therefor, and manufacturing method thereof | |
US8411244B2 (en) | Liquid crystal display device and fabricating method thereof with a simplified mask process | |
US6710836B2 (en) | Array substrate for in-plane switching mode liquid crystal display device and manufacturing method thereof | |
JP4356750B2 (ja) | 液晶表示装置及びその製造方法 | |
US6281953B1 (en) | Liquid crystal display having high aperture ratio and high transmittance and method of manufacturing the same | |
JP5100968B2 (ja) | 薄膜トランジスタ表示板及びこれを含む液晶表示装置 | |
EP2149813B1 (en) | Array substrate, methods of manufacturing the array substrate, and liquid crystal display device having the array substrate | |
US7671954B2 (en) | Liquid crystal display device and method for fabricating the same | |
US7538850B2 (en) | Panel for display device, manufacturing method thereof and liquid crystal display | |
US7196759B2 (en) | In-plane switching mode liquid crystal display device and method of fabrication thereof | |
US8351006B2 (en) | Liquid crystal display device and fabricating method thereof | |
WO2006022259A1 (ja) | アクティブマトリクス基板およびそれを備えた表示装置 | |
KR20070121966A (ko) | 액정표시장치 및 그 제조 방법 | |
US6091470A (en) | Active matrix substrate with concave portion in region at edge of pixel electrode and method for fabricating the same using ashing treatment | |
US7289180B2 (en) | Liquid crystal display device of a horizontal electric field applying type comprising a storage capacitor substantially parallel to the data line and fabricating method thereof | |
JP2003107508A (ja) | マルチドメイン垂直配向型液晶ディスプレイ | |
JP4398015B2 (ja) | 液晶表示装置及びその製造方法 | |
KR100942265B1 (ko) | 씨오티 구조 액정표시장치 및 제조방법 | |
KR20010056591A (ko) | 액정 표시장치 제조방법 및 그 제조방법에 따른액정표시장치 | |
JP5090133B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
KR101146490B1 (ko) | 횡전계 방식 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법 | |
KR101123452B1 (ko) | 횡전계 방식 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법 | |
JP2004046123A (ja) | 液晶表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050712 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050713 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20050722 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060323 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090130 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090331 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091020 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091022 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |