JP4393897B2 - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4393897B2
JP4393897B2 JP2004070524A JP2004070524A JP4393897B2 JP 4393897 B2 JP4393897 B2 JP 4393897B2 JP 2004070524 A JP2004070524 A JP 2004070524A JP 2004070524 A JP2004070524 A JP 2004070524A JP 4393897 B2 JP4393897 B2 JP 4393897B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
forming apparatus
film forming
hole
mold
port
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004070524A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005256106A5 (ja
JP2005256106A (ja
Inventor
信夫 米山
孝 中山
志朗 瀧川
隆男 梅澤
資右 石澤
博史 高野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinmaywa Industries Ltd
Original Assignee
Shinmaywa Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2004070524A priority Critical patent/JP4393897B2/ja
Application filed by Shinmaywa Industries Ltd filed Critical Shinmaywa Industries Ltd
Priority to EP05720487A priority patent/EP1752558A4/en
Priority to US10/592,556 priority patent/US20070277732A1/en
Priority to CNB2005800078490A priority patent/CN100529166C/zh
Priority to PCT/JP2005/004216 priority patent/WO2005087972A1/ja
Priority to KR1020067020955A priority patent/KR101131313B1/ko
Priority to TW094107462A priority patent/TW200532042A/zh
Publication of JP2005256106A publication Critical patent/JP2005256106A/ja
Publication of JP2005256106A5 publication Critical patent/JP2005256106A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4393897B2 publication Critical patent/JP4393897B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32458Vessel
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/3435Target holders (includes backing plates and endblocks)

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Description

本発明は、成膜装置に関する。さらに詳しくは、成形加工後、金型に残置されたままの基材に成膜加工を行うことができる成膜装置に関する。
従来の成膜装置は、基材を成膜装置用のキャリア、あるいは成膜装置自体(成膜装置等)に装着して成膜を行っていた。したがって、自動車等に用いるランプのリフレクター等の基材は、成形加工後に、金型から取り外し、成膜装置等に装着して成膜を行っていた。
上記のように、従来の成膜装置では、成形加工後に、金型から基材を回収し、成膜装置等に装着して成膜加工を行う段取りを要する。
本発明は、成形加工後、成形加工用の金型に装着されたままの基材に成膜加工を行うことによって、金型から基材を取り外し、成膜装置等に装着するという段取りを不要とし、製品の加工工程を削減し、ひいては製品の加工時間及び加工コストを低減することができる成膜装置を提供することを目的としている。
上記課題を解決するために、本発明に係る成膜装置は、両端を有し、一端が底部によって閉鎖され、他端が開放された筒状の枠体と、前記底部内面に配設されたターゲットと、前記枠体の壁部を貫通するように形成されたポートと、を有し、前記枠体の他端の端面には、金型に残置された基材の周囲の金型接合面に接合可能な接合面が構成されていて、前記金型に前記基材を残置させたまま前記金型接合面と前記接合面とが接合して構成される(請求項1)。かかる構成とすると、金型に装着されたままの基材に成膜加工を行うことができるので、製品の加工工程の削減、ひいては製品の加工時間及び加工コストを低減することが可能となる。
前記ターゲットは、前記壁部と電気的に絶縁して配設されていてもよい(請求項2)。
前記底部は、導電性を有していてもよい(請求項3)。かかる構成とすると、前基底部を経由して、前記ターゲットへの電位印加が可能となるので、成膜装置の電気系統を簡略化することができる。
前記底部の外面に電気接続端子を有していてもよい(請求項4)。
前記枠体の開放された他端と前記ターゲットとの連通を開閉するようにゲート弁が前記壁部に配設されていてもよい(請求項5)。かかる構成とすると、前記ターゲット主面を囲んで予備的な閉鎖空間を形成することができるので、真空引きの時間短縮と前記ターゲットの防護を図ることができる。
前面に前記ターゲットが配設されかつ後面に前記電気接続端子が配設された装置部と、
壁部を貫通するように前記ポートが形成された筒状のポート部と、電気絶縁性を有する環状の絶縁スペーサと、貫通孔が形成された枠体を有しかつ該貫通孔には開閉可能なゲート弁が配設されたゲート弁部と、貫通孔が形成された枠体を有しかつ該貫通孔の周囲の該枠体外面には金型接合面との接合面が形成されたアダプタ部とを有し、前記ポート部の後端が前記装置部の前面の前記ターゲットの周囲部分に前記絶縁スペーサを介して接合され、かつ該ポート部の前端に前記ゲート弁部及び前記アダプタ部が順に接合され、前記絶縁スペーサの内孔、前記ポート部の内孔、前記ゲート弁部の貫通孔、及び前記アダプタ部の貫通孔が互いに連通し、かつ前記アダプタ部の前記接合面が前端に位置するように構成され、該接合面が残置された基材の周囲の金型接合面と接合可能に形成されていてもよい(請求項6)。
前記装置部は、前記ターゲットの背後にマグネットと、冷却系統とを有していてもよい(請求項7)。かかる構成とすると、マグネトロンスパッタリングを実施することができる。
前記アダプタ部の前記貫通孔の周囲の前記枠体外面には、前記残置された基材の周囲の金型接合面との接合時において前記基材の所定の一部を被覆可能な防着部が形成されていてもよい(請求項8)。かかる構成とすると、所定の場所を成膜しないようにすることが可能となる。
前記ポートには、バルブ、減圧用チャンバ及び真空ポンプを有する配管が接続され、前記配管が、選択的に真空ポンプと減圧用チャンバとの接続を切り換え可能なように構成されていてもよい(請求項9)。かかる構成とすると、減圧用チャンバによって、真空引きの時間の短縮が可能となる。
以上のように、本発明は、成形加工後、成形加工用の金型に装着されたままの基材に成膜加工を行うことができるので、製品の加工工程の削減、ひいては製品の加工時間及び加工コストを低減するという効果を奏する。
以下、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る成膜装置100の概略の構成を示す図であって、(a)は正面図、(b)は側面図、(c)は背面図である。図2は、図1の成膜装置100の結合構造を示す分解斜視図である。説明の便宜上、構成要素を分解して示している。図3は、図1のIII−III線断面における、成膜装置100と、金型Pと、基材Wとの接合構造を示す断面図である。また、図3において、ボルト7,8,9及び絶縁ガイド11は一部のみを記載し、同種のボルト等の記載は省略している。
まず、全体の構成を説明する。図1乃至図3に示すように、成膜装置100は、全体として、一端が底部(すなわち装置部1)によって閉鎖され、他端が開放された筒状の形状を有し、底部内面にターゲット1aが配設され、開口側端面5fは環状の接合面を有している。ターゲット1aは、後述するように、筒状の成膜装置100の内孔2cの壁面、内孔3cの壁面、貫通孔4cの壁面、貫通孔5cの壁面及び開放側端面5fとは電気的に絶縁して配設されている。また、成膜装置100には、閉鎖空間Bと成膜装置100の外部との間を連通する単数又は複数のポート3aが形成されている。
ここで、成膜装置100は、装置部1と、絶縁スペーサ2と、ポート部3と、ゲート弁部4と、アダプタ部5とに分割して構成されている。これら部材はボルト7,8、9により互いに緊結して一体化されている。そして、装置部1のターゲット1aの主面、スペーサ2の内孔2c、ポート部3の内孔3c、ゲート弁部4の貫通孔4c、及びアダプタ部5の貫通孔5cが、中心軸50を共有するようにして配設されている。これにより、閉鎖空間Bがターゲット1aを底面とする柱状に形成されている。また、これら部材は、その接合面に、Oリング等のシール材(図示せず)を介在せしめて一体化されている。これにより、閉鎖空間Bは気密構造にされる。
以下、装置部1からアダプタ部5へ向かう方向を前方向として、各部材の構造を詳細に説明する。
装置部1は剛性素材からなる枠体1hを有している。枠体1hは、図3に示すように、大径部の前端面に小径部が中心軸50を共有するように突接されてなる段付き円柱形状を有している。そして、小径部の前端面に、ターゲット1aが配設されている。すなわち、小径部の前端面には、段部15aを有する凹部15が形成され、段部15aにターゲット1aが液密的に配設されている。そして、ターゲット1aの背面にマグネット1bが凹部15の内面との間に隙間(冷却液流路1c)を有するようにして配設されている。凹部15の底面には一対の冷却液流路1p,1pが大径部の後端面に至るように形成されている。そして、一対の冷却液流路1p,1pの開口部には、大径部の後端面、すなわち、装置部1の後面に突出するように一対の冷却液配管接続部1d、1dがそれぞれ配設されている。冷却液配管接続部1dは、冷却液入口用と出口用の一対からなっている。これにより、一方の冷却液配管接続部1dから一方の冷却液流路1pを経て冷却液流路1cに至り、他方の冷却液流路1pを経て他方の冷却液配管接続部1dに至るように冷却液の流路が形成され、ターゲット1a及びマグネット1bの冷却が可能となる。
そして、装置部1の段面が接合面1eを構成している。この接合面1eには大径部を貫通するように複数のボルト挿通孔1gが形成されている。
また、枠体1hの後面には電気接続端子1fが突設されている。電気接続端子1fは、ターゲット1aと電気的に接続されている。ここでは、枠体1hが導電率の高い金属で構成され、それにより、電気接続端子1fとターゲット1aとが電気的に接続されている。
ポート部3は筒状の形状を有している。ポート部3の後端面である第1の端面3eは、装置部1の接合面1eと接合可能な環状の形状、すなわち、装置部1の大径部と略同一の外径を有しかつ装置部1の小径部より大きな内径(内孔3cの径)を有するように形成されている。そして、第1の端面3eには、装置部1のボルト挿通孔1gと対応するようにネジ孔3gが形成されている。ポート部3の壁部には、これを貫通するようにポート3aが形成されている。ここでは、ポート3aは周方向に3つ形成されているが、単数でも複数でもよい。ポート3aの、ポート部3の外周面への開口部には、配管接続部3bが配設されている。また、ポート部3の壁部は前端部が内方に延設されていて、この延設部分を貫通するように、ボルト挿通孔3jが複数形成されている。
絶縁スペーサ2は、ポート部3の第1の端面3eと略同一の外径及び内径(内孔2cの径)を有する中空円板状に形成されている。また、絶縁スペーサ2には、装置部1のボルト挿通孔1gに対応するようボルト挿通孔2gが形成されている。また、絶縁スペーサ2は、装置部1の接合面1eとポート部3の第1の端面3eとの間を電気的に絶縁しかつシールするために、ゴム製パッキン等の電気絶縁性及び弾性を有する材料で構成されている。
ここで、装置部1と、絶縁スペーサ2と、ポート部3との結合構造について説明する。装置部1とポート部3とは、絶縁スペーサ2を接合面1eと第1の端面3eとの間に介在させて、ボルト9で互いを締結することにより一体化されている。これにより、装置部1とポート部3とは、互いに接触せず、かつ、絶縁スペーサ2が接合面1eと第1の端面3eとの互いに対向する全ての部分間に介在するように構成されている。また、ボルト9の締結に際しては、ボルト挿通孔1g及び2gに鍔つき円筒形状を有する電気絶縁性の絶縁ガイド11が挿通され、この絶縁ガイド11を挿通するようにしてボルト9がポート部3のネジ孔3gに螺止されている。これにより、ボルト9を通じて装置部1とポート部3とが電気的に導通するのが防止されている。
ゲート弁部4は、全体が中央に貫通孔4cを有する矩形の板状に形成されている。ゲート弁部4の内部には貫通孔4cを横切るように板状の弁体移動空間4bが形成されている。弁体移動空間4bには、板状の弁体4aが弁体移動空間4b内をスライド移動して貫通孔4cを開閉可能なように収容されている。弁体4aは、図示されないエアシリンダのピストンロッド等のアクチュエータに接続されおり、このアクチュエータによりスライド駆動されて、貫通孔4cを開閉する。このアクチュエータとゲート弁部との摺動部は適宜シールされており、それにより弁体移動空間4bは、弁体4aのスライド移動においても外気が流入しないように外部に対し気密に保持されている。また、貫通孔4cは、基材Wの成膜面Waよりも大きい断面積を有するように設定されている。そして、貫通孔4cの両開口の周囲にはそれぞれボス部4n,4mが設けられ、該ボス部の端面が接合面4e,4fを構成している。接合面4eには、ポート部3のボルト挿通孔3jに対応するようにネジ孔4jが形成されている。また、接合面4fには、ネジ孔4kが形成されている。このゲート弁部4は、具体的には、実施の形態1においては、公知の真空設備用のゲート弁(エス・ケイ・ケイ・バキュウム エンジニアリング株式会社製高真空ゲートバルブ(プロテクトリング付き))で構成されている。
ゲート弁部4はポート部3に対し、貫通孔4cとポート部3の内孔3cとが中心軸50を共有し、かつ接合面4eとポート部3の第2の接合面3fとが接合するようにして、ボルト8で締結されて一体化されている。ボルト8は、ポート部3のボルト挿通孔3jを挿通しゲート弁部4のネジ孔4jに螺止されている。また、ポート部3の第2の端面3fとゲート弁部4の接合面4eとの接合部は図示さないシール部材によってシールされている。
アダプタ部5は、ここでは、正方形の板状に形成され、中央部に貫通孔5cが形成されている。そして、アダプタ部5の後面である第1の面5eがゲート弁部4の接合面4fとの接合面を構成している。また、アダプタ部5の前面である第2の面5fが金型Pの金型接合面Paとの接合面を構成している。この第2の面5fには貫通孔5cの開口の周囲に環状の防着部5aが突設されている。
すなわち、金型Pの金型接合面Paには、部品成形用凹部61が形成されており、この部品成形用凹部61中に基材Wが形成されている。アダプタ部5の貫通孔5cの開口は、アダプタ部5が金型Pに接合されたときに、この基材Wの成膜すべき表面(以下、成膜面という)Waが貫通孔5c(換言すれば成膜装置100の閉鎖空間B)に曝露されるように形成されている。あるいは、金型接合面Paに成膜が生じないように、貫通孔5cの壁面が成膜面Waの外周に一致するように形成される。一方、基材Wによっては、成膜面Waの外縁部に成膜すべきでない表面(以下、非成膜面という)を有する場合があるので、アダプタ部5の貫通孔5cの開口の周囲には、アダプタ部5が金型Pに接合されたときにこの基材Wの非成膜面に当接してこれを覆うように環状の防着部5aが形成されている。このような基材Wの非成膜面とは、例えば、基材Wが他の部品と接合して用いられる部品である場合のその接合面である。また、基材Wの成形において、基材Wの外縁部が金型接合面Paよりも前方側の位置、すなわち金型接合面Paよりも引っ込んだ位置に形成される場合がある。このため、防着部5aは凸部の形状に形成されている。
アダプタ部5の第2の面5fにはゲート弁部4のネジ孔4kに対応する位置にボルト7の頭部を収容するためのザグリ(凹部)が設けられ、このザグリにボルト挿通孔5kが形成されている。また、第2の面5fには防着部5aを囲むようにOリング5bが配設されている。
アダプタ部5はゲート弁4に対し、貫通孔5cとゲート弁部4の貫通孔4cとが中心軸50を共有し、かつ第1の面5eとゲート弁部4の接合面4fとが接合するようにして、ボルト7で締結されて一体化されている。ボルト7は、アダプタ部5のボルト挿通孔5kを挿通しゲート弁部4のネジ孔4kに螺止されている。このボルト7の頭部はボルト挿通孔5kのザグリに収容されているので、金型Pとアダプタ部5との接合時にボルト7の頭部が金型Pに接触するのが防止される。また、アダプタ部5の第1の面5eとゲート弁部4の接合面4fとの接合部は図示さないシール部材によってシールされている。
以上のようにして、成膜装置100は、装置部1、絶縁スペーサ2、ポート部3、ゲート弁部4、及びアダプタ部5が、順に接合されて構築されている。
次に、このように構成された成膜装置100の動作について説明する。
図4は、図1の成膜装置100を用いた成膜工程の概略を示すフロー図である。図中、成膜装置100は、図3の断面図を簡略化して示している。
まず、図4(a)に示すように、基材Wが、金型P、P’により成形される。
次に、図4(b)に示すように、成形後、金型P、P’の金型接合面を離間させる。基材Wは金型Pに残り、成膜面Waが露出される。
一方、成膜装置100では、所定の操作によりアクチュエータ(図示せず)に駆動されて弁体4aが貫通孔4cを閉鎖し、弁体4a、内孔2c、内孔3c、貫通孔4c及び装置部1によって、予備的閉鎖空間Aが構成される。配管接続部3bは、配管(図示せず)と公知の真空ポンプ(図示せず)とが接続され、この真空ポンプによって、予備的閉鎖空間Aは、所定圧力の真空状態にされる。予め、真空状態にしておくことにより、基材Wとの接合後の、真空引きの所要時間を短縮することができる。また、成膜以外の時において、ゲート弁部4を閉止状態にし、ターゲット1aを真空雰囲気下におくことによって、ターゲット1aの損傷、特に酸化を防止することができる。
また、冷却液配管接続部1d、1dに、外部から配管が接続され、冷却液が冷却液流路1p、1cを流通する。
なお、配管接続部3bの一部は、真空ポンプと接続せず、開閉弁を介して公知のガス供給装置と接続することもできる。アルゴンガス等の放電ガス及びメタンガス等の反応性ガスを供給することができるようにするためである。
次に、図4(c)に示すように、金型P、あるいは成膜装置100の何れか一方又は双方を移動させて、成膜装置100のアダプタ部5の第2の面5fと金型Pの金型接合面Paとを接合させる。金型接合面Paと成膜装置100との接合においては、基材Wの成膜面Waが貫通孔5cに対向し、Oリング5bが全周にわたって金型接合面Paと接合し、かつ、防着部5aが基材Wの所定の箇所に当接(所定の箇所を被覆)するようにする。ここで、成膜装置100は、機枠等の支持構造物(図示せず)に支持されて、後方より接合力を付与されている。かかる支持の構造においては、装置部1はスパッタ用の電圧が印加されることから、成膜装置100を支持するには、装置部1以外の場所を支持する必要がある。例えば、アダプタ部5を支持することができる。
次に、図4(d)に示すように、所定の操作によりアクチュエータに駆動されて弁体4aが貫通孔4cから退去し、成膜面Wa、防着部5a、貫通孔5c、貫通孔4c、内孔3c、内孔2c及び装置部1によって、閉鎖空間Bが形成される。そして、ポート3a及び配管接続部3bを経由して、真空ポンプによる排気が行われ、閉鎖空間Bは所定の高い真空状態となる。ここで、予め、予備的閉鎖空間Aが真空状態にされていたことから、弁体4a開放後の真空引きは短い時間で行うことができる。また、金型接合面Paとアダプタ部5との間は、Oリング5bによって外気の流入が防止されている。
そして、ターゲット1a(正確には電気接続端子1fとポート部3との間)に所定の電圧が印加され、ターゲット1aからスパッタされた成膜材料が閉鎖空間B内を移動して基材Wの成膜面Waに析出することにより、成膜面Waに成膜が行われる。つまり、閉鎖空間Bは真空チャンバとしての機能を果たすことになる。ここで、装置部1以外の構成要素及び基材Wは、絶縁スペーサ2及び絶縁ガイド11によって装置部1とは電気的に絶縁されているので、装置部1の電気接続端子1fに電圧を印加することで、ターゲット1aと装置部1以外の構成要素及び基材Wとの間に電位差を生じさせることができる。また、ここでは、ターゲット1aの背後にマグネット1bが配設されているため、マグネトロンスパッタリングが遂行される。
この成膜過程は公知の成膜装置と同様である。なお、必要に応じ、一部のポート3aから放電ガスや反応性ガスを注入することもできる。
次に、図4(e)に示すように、成膜の完了後、所定の操作によりアクチュエータに駆動されて弁体4aが貫通孔4cを閉鎖する。これにより、予備的閉鎖空間Aの真空状態が維持される。
その後、図4(f)に示すように、金型Pと成膜装置100とは離隔される。
次に、図4(g)に示すように、金型Pから成膜された基材Wが取り外される。
なお、上記では、マグネトロンスパッタリングを例示したが、本発明は、閉鎖空間Bを真空チャンバとして活用することができるので、基材Wの成膜面Waと対向して位置する閉鎖空間Bの壁面、すなわちターゲット1aの配設場所における装置類の配設を変更することによって、様々な真空成膜法を遂行することができる。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2は、実施の形態1のゲート弁部4を省略した成膜装置110を例示する。
図5は、図3と同じ断面における、成膜装置110と、金型Pと、基材Wとの接合構造を示す断面図である。
成膜装置110は、装置部1と、絶縁スペーサ2と、ポート部13と、アダプタ部5とを順に接合するようにして、ボルト7,9により一体化して構成されている。実施の形態1の成膜装置100とは、ゲート弁部4を有していない点、及び、ポート部3の形状が変更されてなるポート部13を有している点を除いては、同じである。
ここで、ポート部13は、第2の端面13fが、アダプタ部5の第1の面5eと接合するように構成されている。第2の端面13fには、ボルト挿通孔5kに対応するようにして、ネジ孔13kが形成されている。また第2の端面13fの内方への延設部の肉厚は、実施の形態1の第2の端面3fの内方への延設部よりも厚くなっている。
他の構成要素については、成膜装置100と同様であるので説明を省略する。
アダプタ部5はポート部13に対し、貫通孔5cとポート13の内孔13cとが中心軸50を共有しかつ第1の面5eとポート部13の第2の端面13fとが接合するようにして、ボルト7で締結されて一体化されている。ボルト7は、アダプタ部5のボルト挿通孔5kを挿通しポート部13のネジ孔13kに螺止されている。
第1の面5eと第2の端面13fとの接合部は適宜シールされている。
また、このように構成された実施の形態2の成膜装置110の動作は、ゲート弁部4の動作がない点を除いては、実施の形態1の成膜装置100と同様である。
成膜装置110は、金型Pと成膜装置110との接合後に、成膜面Wa、防着部5a、貫通孔5c、内孔13c、内孔2c及び装置部1によって形成される閉鎖空間Cを、ポート13a及び配管接続部13bを経由した真空引きをする。
ここで、図6は、図5の成膜装置110に接続される排気系統200の概略構成を例示する配管図である。
排気系統200は、配管21,22,23と真空ポンプP1,P2と減圧用チャンバ24とバルブV1,V2,V3とを有して構成されている。
配管21は、一端が配管接続部13bに接続され、他端が配管22,23の一端とそれぞれ接続されている。
配管22の他端は第2の真空ポンプP2の吸入ポートに接続されている。また、配管22には、前記一端側から順に、バルブV2と、減圧用チャンバ24と、第1の真空ポンプP1と、バルブV3とが配設されている。第1の真空ポンプP1は、吸入ポートが減圧用チャンバ24に接続されている。
配管23は途中にバルブV1を有し、他端が第2の真空ポンプP2の吸入ポートに接続されている。
このように構成された排気系統200の動作について説明する。
図6において、まず、バルブV1、V2が閉鎖され、バルブV3が開放される。そして、第1の真空ポンプP1及び第2の真空ポンプP2が作動されて、バルブV2と真空ポンプP1との間に位置する配管(22)及び減圧用チャンバ24内は高度の真空状態にされ、真空ポンプP1及びバルブV1と第2の真空ポンプP2との間に位置する配管(22,23)内とが真空状態にされる。
その後、バルブV3が閉鎖され、バルブV1が開放される。そして閉鎖空間Cが一定の真空度に到達すると、バルブV1を閉鎖するとともにバルブV2が開放され、閉鎖空間Cが減圧用チャンバ24と連通する。これにより、閉鎖空間Cの真空引きの時間を短縮することができる。
本発明は、成形加工後、成形加工用の金型に装着されたままの基材に成膜加工を行うことができるので、製品の加工工程の削減、ひいては製品の加工時間を短縮する成膜装置として有用である。
本発明の実施の形態1に係る成膜装置の概略の構成を示す図であって、(a)は正面図、(b)は側面図、(c)は背面図である。 図1の成膜装置の結合構造を示す分解斜視図である。 図1のIII−III線断面における、成膜装置と、金型と、基材との接合構造を示す断面図である。 図1の成膜装置を用いた成膜工程の概略を示すフロー図である。 図3と同じ断面線における、本発明の実施の形態2に係る成膜装置と、金型と、基材との接合構造を示す断面図である。 図5の成膜装置に接続される排気系統の概略構成を例示する配管図である。
符号の説明
1 装置部
1a ターゲット
1b マグネット
1c、1p 冷却液流路
1d 冷却液配管接続部
1e 接合面
1f 電気接続端子
1g ボルト挿通孔
1h 枠体
2 絶縁スペーサ
2c 内孔
2g ボルト挿通孔
3 ポート部
3a ポート
3b 配管接続部
3c 内孔
3e 第1の端面
3f 第2の端面
3g ネジ孔
3j ボルト挿通孔
4 ゲート弁部
4a 弁体
4b 弁体移動空間
4c 貫通孔
4e、4f 接合面
4j ネジ孔
4k ネジ孔
4n、4m ボス部
5 アダプタ部
5a 防着部
5b Oリング
5c 貫通孔
5e 第1の面
5f 開口側端面(第2の面)
5k ボルト挿通孔
7,8、9 ボルト
11 絶縁ガイド
13 ポート部
13a ポート
13b 配管接続部
13c 内孔
13e 第1の端面
13f 第2の端面
13k ネジ孔
15 凹部
15a 段部
21、22,23 配管
24 減圧用チャンバ
50 中心軸
61 部品成型用凹部
100、110 成膜装置
200 排気系統
A 予備的閉鎖空間
B 閉鎖空間
C 閉鎖空間
V1、V2、V3 バルブ
P1 第1の真空ポンプ
P2 第2の真空ポンプ
W 基材
Wa 成膜面
P 金型
Pa 金型接合面
P’金型

Claims (9)

  1. 両端を有し、一端が底部によって閉鎖され、他端が開放された筒状の枠体と、
    前記底部内面に配設されたターゲットと、
    前記枠体の壁部を貫通するように形成されたポートと、を有し、
    前記枠体の他端の端面には、金型に残置された基材の周囲の金型接合面に接合可能な接合面が構成されていて、前記金型に前記基材を残置させたまま前記金型接合面と前記接合面とが接合して構成される、成膜装置。
  2. 前記ターゲットは、前記壁部と電気的に絶縁して配設された、請求項1に記載の成膜装置。
  3. 前記底部は導電性を有する、請求項2に記載の成膜装置。
  4. 前記底部の外面に電気接続端子を有する、請求項3に記載の成膜装置。
  5. 前記枠体の開放された他端と前記ターゲットとの連通を開閉するようにゲート弁が前記壁部に配設された、請求項1に記載の成膜装置。
  6. 前面に前記ターゲットが配設されかつ後面に前記電気接続端子が配設された装置部と、
    壁部を貫通するように前記ポートが形成された筒状のポート部と、
    電気絶縁性を有する環状の絶縁スペーサと、
    貫通孔が形成された枠体を有しかつ該貫通孔には開閉可能なゲート弁が配設されたゲート弁部と、
    貫通孔が形成された枠体を有しかつ該貫通孔の周囲の該枠体外面には金型接合面との接合面が形成されたアダプタ部とを有し、
    前記ポート部の後端が前記装置部の前面の前記ターゲットの周囲部分に前記絶縁スペーサを介して接合され、かつ該ポート部の前端に前記ゲート弁部及び前記アダプタ部が順に接合され、
    前記絶縁スペーサの内孔、前記ポート部の内孔、前記ゲート弁部の貫通孔、及び前記アダプタ部の貫通孔が互いに連通し、かつ前記アダプタ部の前記接合面が前端に位置するように構成され、該接合面が残置された基材の周囲の金型接合面と接合可能に形成された、請求項5に記載の成膜装置。
  7. 前記装置部は、前記ターゲットの背後にマグネットと、冷却系統とを有する、請求項6に記載の成膜装置。
  8. 前記アダプタ部の前記貫通孔の周囲の前記枠体外面には、前記残置された基材の周囲の金型接合面との接合時において前記基材の所定の一部を被覆可能な防着部が形成された、請求項6に記載の成膜装置。
  9. 前記ポートには、バルブ、減圧用チャンバ及び真空ポンプを有する配管が接続され、
    前記配管が、選択的に真空ポンプと減圧用チャンバとの接続を切り換え可能なように構成された、請求項1に記載の成膜装置。


JP2004070524A 2004-03-12 2004-03-12 成膜装置 Expired - Lifetime JP4393897B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004070524A JP4393897B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 成膜装置
US10/592,556 US20070277732A1 (en) 2004-03-12 2005-03-10 Film Forming Apparatus
CNB2005800078490A CN100529166C (zh) 2004-03-12 2005-03-10 成膜装置
PCT/JP2005/004216 WO2005087972A1 (ja) 2004-03-12 2005-03-10 成膜装置
EP05720487A EP1752558A4 (en) 2004-03-12 2005-03-10 FILMOGENE APPARATUS
KR1020067020955A KR101131313B1 (ko) 2004-03-12 2005-03-10 성막장치
TW094107462A TW200532042A (en) 2004-03-12 2005-03-11 Film forming apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004070524A JP4393897B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 成膜装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005256106A JP2005256106A (ja) 2005-09-22
JP2005256106A5 JP2005256106A5 (ja) 2006-06-01
JP4393897B2 true JP4393897B2 (ja) 2010-01-06

Family

ID=34975609

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004070524A Expired - Lifetime JP4393897B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 成膜装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20070277732A1 (ja)
EP (1) EP1752558A4 (ja)
JP (1) JP4393897B2 (ja)
KR (1) KR101131313B1 (ja)
CN (1) CN100529166C (ja)
TW (1) TW200532042A (ja)
WO (1) WO2005087972A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007112119A (ja) * 2005-09-22 2007-05-10 Igari Mold Kk 中空成形品を成形する金型装置および中空成形品の成形方法
CN104637766B (zh) * 2013-11-14 2017-02-08 中微半导体设备(上海)有限公司 反应腔结构及半导体等离子处理***

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2635289A (en) * 1945-11-16 1953-04-21 Freeman H Owens Method and means for producing optical and other precision elements and the products thereof
CA1104712A (en) * 1978-09-08 1981-07-07 Robert Milne Broadband shaped beam antenna
JPS6454733A (en) * 1987-08-26 1989-03-02 Toshiba Corp Production device for semiconductor
US5135629A (en) * 1989-06-12 1992-08-04 Nippon Mining Co., Ltd. Thin film deposition system
JPH0489546U (ja) * 1990-12-12 1992-08-05
JPH08507326A (ja) 1993-02-19 1996-08-06 コナー ペリフェラルズ,インコーポレイティド 基板上に組成物をスパッタするためのシステム
JPH07258839A (ja) 1994-03-18 1995-10-09 Hitachi Ltd スパッタリング装置
JPH0931642A (ja) 1995-07-20 1997-02-04 Hitachi Ltd 真空処理装置及びその部品の交換方法
US6376807B1 (en) * 1999-07-09 2002-04-23 Applied Materials, Inc. Enhanced cooling IMP coil support
JP4205294B2 (ja) * 2000-08-01 2009-01-07 キヤノンアネルバ株式会社 基板処理装置及び方法
US6764580B2 (en) * 2001-11-15 2004-07-20 Chungwa Picture Tubes, Ltd. Application of multi-layer antistatic/antireflective coating to video display screen by sputtering
JP2003228894A (ja) * 2002-02-04 2003-08-15 Tdk Corp ディスク状光記録媒体の製造方法及び光記録媒体用ディスク状基材

Also Published As

Publication number Publication date
KR20060128049A (ko) 2006-12-13
EP1752558A1 (en) 2007-02-14
CN1930319A (zh) 2007-03-14
KR101131313B1 (ko) 2012-04-04
WO2005087972A1 (ja) 2005-09-22
EP1752558A4 (en) 2008-07-30
CN100529166C (zh) 2009-08-19
JP2005256106A (ja) 2005-09-22
US20070277732A1 (en) 2007-12-06
TWI357934B (ja) 2012-02-11
TW200532042A (en) 2005-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11430640B2 (en) Substrate processing apparatus
JP3677033B2 (ja) 成膜用金型、金型を用いた成膜方法および成膜制御システム
TW200848642A (en) Slit valve
TW200512793A (en) Substrate heating apparatus and multi-chamber substrate processing system
JP5515894B2 (ja) 型内コーティング成形装置及び型内コーティング成形方法
JP6691636B2 (ja) スパッタリング装置用のカソードユニット
JP4393897B2 (ja) 成膜装置
KR102459904B1 (ko) 차세대의 진보된 플라즈마 기술을 위한 챔버 바디 설계 아키텍처
US20020030171A1 (en) Opening/closing valve
JP2004131837A (ja) 連続被覆装置
JP4906448B2 (ja) プラズマガンの中間電極ユニット及びそれを備えるプラズマガン
WO2010058726A1 (ja) ダイヤフラムバルブ
KR101713983B1 (ko) 차등 배기 구조를 갖는 플라즈마 발생 장치
JP2004322240A (ja) 真空バルブユニット
JP2008115445A (ja) ターゲットホルダ及び成膜装置並びに成膜方法
JP3458327B2 (ja) イオンプレーティング装置
CN212713736U (zh) 一种磁控溅射设备的溅射靶
JPH083902Y2 (ja) 肉薄部における冷却流路構造
US6182973B1 (en) Intermediate metallic layer for flat packing and process for the production of a flat packing with such an intermediate layer
JP2003136217A (ja) 真空ダイカスト鋳造用押出しピン
JPH09260409A (ja) 半導体樹脂封止装置
CN106740796B (zh) 一种港口机械制动***挂车控制阀
JPH0771649A (ja) 真空バルブ及びそのバルブを用いた真空排気方法
JPH08135826A (ja) 高真空圧用バルブボディのマスキング方法
JP4789013B2 (ja) 減圧鋳型造型用の模型箱の真空源等への接続装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060410

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060410

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090811

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090907

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091006

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091014

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4393897

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131023

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term