JP4367336B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
光を導電性物質に照射して光電子を発生させる光電子発生手段と、
発生した光電子をプリカーサイオンに接触させることで該プリカーサイオンの開裂を促進させるイオン開裂空間と、
を備えることを特徴としている。
Ek=hν−φ
hν:光のエネルギー
ν:光の振動数
φ:導電性物質(リング電極)仕事関数
したがって、光電子の運動エネルギーEkは光の波長とリング電極21の物質の種類に依存し、これらを適宜組み合わせることで光電子の運動エネルギーEkを選択することができる。一般にECDに適切な運動エネルギーEkは1eV程度であり、リング電極21としてステンレスを使用した場合には照射光を紫外光とすると最適な運動エネルギーEkを得ることができる。
2…イオントラップ
21…リング電極
21…電極
22、23…エンドキャップ電極
24…イオン捕捉空間
25…入射孔
26…出射孔
27…光照射孔
28…光源部
29…電圧発生部
3…飛行時間型質量分析装置(TOFMS)
31…飛行空間
32…検出器
4…制御部
Claims (2)
- 分析対象である試料に由来するプリカーサイオンを開裂させ、該開裂によって発生したプロダクトイオンを質量分析する質量分析装置において、
光を導電性物質に照射して光電子を発生させる光電子発生手段と、
発生した光電子をプリカーサイオンに接触させることで該プリカーサイオンの開裂を促進させるイオン開裂空間と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - イオントラップ型の質量分析装置であって、前記導電性物質はイオントラップを構成するリング電極又はエンドキャップ電極であり、前記イオン開裂空間はそのイオントラップ内部の空間であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
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