JP4273871B2 - 配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP4273871B2
JP4273871B2 JP2003292465A JP2003292465A JP4273871B2 JP 4273871 B2 JP4273871 B2 JP 4273871B2 JP 2003292465 A JP2003292465 A JP 2003292465A JP 2003292465 A JP2003292465 A JP 2003292465A JP 4273871 B2 JP4273871 B2 JP 4273871B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
forming
sublimation
wiring pattern
photothermal conversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003292465A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005064249A (ja
Inventor
直之 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003292465A priority Critical patent/JP4273871B2/ja
Priority to US10/902,109 priority patent/US7094641B2/en
Priority to KR1020040062409A priority patent/KR100597348B1/ko
Priority to CNB2004100560654A priority patent/CN100420354C/zh
Priority to TW093124055A priority patent/TWI237299B/zh
Publication of JP2005064249A publication Critical patent/JP2005064249A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4273871B2 publication Critical patent/JP4273871B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67115Apparatus for thermal treatment mainly by radiation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1241Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1258Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by using a substrate provided with a shape pattern, e.g. grooves, banks, resist pattern

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Description

本発明は、配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器に関するものである。
ノートパソコン、携帯電話などの携帯機器の普及に伴い、薄くて軽量な液晶表示装置が幅広く用いられている。この種の液晶表示装置は、上基板及び下基板間に液晶層を挟持した構成を具備しており、具体的には、ガラス基板と、このガラス基板上に互いに交差するように配線されたゲート走査電極及びソース電極と、同じくガラス基板上に配線されたドレイン電極と、このドレイン電極に接続された画素電極(ITO)と、ゲート走査電極及びソース電極間に介在された絶縁層と、薄膜半導体からなるTFT(薄膜トランジスタ)とを備えて構成されている。
このような液晶表示装置に代表される電気光学装置においては、その配線パターンを形成するに際し、例えばドライプロセスとフォトリソエッチングを組み合わせた手法が従来より用いられている。ところが、このようなドライプロセスは製造コストが比較的高い上に製造する基板サイズの大型化に対応しづらいという欠点を有している。そこで、インクジェットを用いて配線パターンを基板上に描画する手法が採用されつつある(例えば特許文献1参照)。
特開2002−164635号公報
しかしながら、何れの手法においても、配線パターンを形成した後の基板上には多くの凹凸形状が残存する。このような凹凸形状が比較的大きくなってしまうと、例えば液晶表示装置として組み上げた際には、表示ムラを生じる惧れがある。すなわち、このような配線パターンを具備する基板を液晶表示装置に適用する場合には、その上面に配向膜を形成してからラビング処理を施すが、凹部分と凸部分でラビング処理のかかり具合に差が生じてしまう惧れがあり、このようなラビング処理の不均一化が生じると、液晶の配向規制力に領域毎に差が生じてしまい、結果として表示ムラを起こすことになる。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、液晶表示装置に限らず、配線パターンを必要とする電気光学装置等に適用可能な配線パターンの形成方法に関し、特に配線パターンを形成した基板表面に凹凸形状が形成され難く、表面形状が非常に平坦な配線パターンを形成することが可能な方法を提供することを目的としている。
上記の課題を解決するために、本発明の配線パターンの形成方法は、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む光熱変換層に、昇華性材料を含む昇華層を積層させる工程と、前記昇華層の所定領域に第1の光照射を行うことで前記昇華層の一部を昇華させ、該光照射領域以外の領域に前記昇華層からなるバンクを形成するバンク形成工程と、形成させたバンク間に導電層を配置させて、前記導電層及び前記バンクからなる導電パターン層を形成する導電パターン層形成工程と、前記導電パターン層と被処理基材とを対向させた状態で、前記導電パターン層が形成されていない側の前記光熱変換層の所定領域に対して第2の光照射を行うことで、該導電パターン層を当該被処理基材に転写する転写工程と、を含むことを特徴とする。
また、上記課題を解決するために、本発明の配線パターンの形成方法は、基材上に、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む光熱変換層を形成する光熱変換層形成工程と、前記光熱変換層上に、昇華性材料を含む昇華層を形成する昇華層形成工程と、前記昇華層の所定領域に対し、第1の光照射を行うことで昇華層の一部を昇華させ、該光照射領域以外の領域に前記昇華層からなるバンクを形成するバンク形成工程と、形成したバンク間に導電層を配置させて、前記導電層及び前記バンクからなる導電パターン層を形成する導電パターン層形成工程と、前記導電パターン層と被処理基材とを対向させた状態で、前記導電パターン層が形成されていない側の前記光熱変換層の所定領域に対して第2の光照射を行うことで、該導電パターン層を当該被処理基材に転写させる転写工程と、を含むことを特徴とする。
上述のような本発明の配線パターンの形成方法によると、まず、光熱変換層及び昇華層を有する基材の所定領域に選択的に光を照射(第1の光照射)することにより、その照射した光に基づき光熱変換層から熱が生じ、その熱に基づいて昇華層の光照射領域から昇華性材料が昇華して基材(或いは光熱変換層)上から除去することができ、該光照射領域に対応して昇華層から構成されるバンクパターンを基材(或いは光熱変換層)上に形成することができる。そして、形成したバンク内に導電層を配置するとともに、このバンクと導電層とを含む層である導電パターン層と被処理基材とを対向させ、該対向させた基材に対して光照射(第2の光照射)を行うことで、光熱変換層から導電パターン層の昇華層に熱が加わり、導電パターン層が被処理基材に転写され、その結果、被処理基材上に所定の導電パターン層が形成されることとなる。この場合、導電パターン層の導電層(配線パターン)の表層は、光熱変換層との界面であったため、凹凸が少なく非常に平坦性に優れた表面形状を有するものとなり、これを液晶表示装置等の電気光学装置に使用すれば表示特性向上に寄与することが可能となる。なお、本発明では、光照射領域に該当する部分の昇華性材料を除去することでバンクを形成するため、例えば転写工程によりバンクを形成する場合に比して、転写むら等に起因するバンク形状の劣化を防止することが可能である。
本発明の配線パターンの形成方法においては、前記基材に光熱変換材料が混在されていてもよく、また、前記昇華層に光熱変換材料が混在されていてもよい。これによりプロセスの簡略化を図ることができる。
また、本発明の配線パターンの形成方法において、前記昇華層形成工程は、該光熱変換層上に絶縁層を形成し、その絶縁層上に昇華層を形成する工程を含むものとすることができる。この場合、絶縁層と導電層との界面が、形成される配線パターンの表面となり、上記同様に該表面形状が非常に平坦なものとなり、電気光学装置等に適用するに際し、非常に信頼性の高いものとなる。
また、本発明の配線パターンの形成方法において、前記基材と前記昇華層との間に、光あるいは熱によりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層を設けることができる。さらに、前記基材と前記絶縁層との間に、光あるいは熱によりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層を設けることもできる。このようなガス発生層を設けることにより導電パターン層を被処理基材に対して一層確実に転写することが可能となる。
また、前記第1の光照射と前記第2の光照射とにおいて光照射条件を異ならせるものとすることができる。つまり、第1の光照射により昇華層の一部をアブレーションにより除去する場合と、第2の光照射により昇華層(バンク)を含む導電パターン層を転写する場合とにおいて、それぞれ好適な光照射条件を採用するものとするのが良い。具体的には、上記絶縁層を光熱変換層と昇華層との間に形成する場合には、第1の光照射時には該絶縁層が除去されない条件の光照射を行い、第2の光照射時には該絶縁層が被処理基材に転写される条件にて光照射を行うものとすることができる。
なお、第1の光照射及び/又は第2の光照射は、レーザ光にて行うことができ、具体的には光熱変換材料が発熱可能な波長を有する光にて行うものとする。そして、第1の光照射においては、所定のパターンを有するマスクを介して行ったり、照射光に対して昇華層が積層された第1基材を相対移動させながら行うことで、所定領域への光照射が可能となる。
また、第2の光照射は、導電パターン層を被処理基材に対して転写させるとともに、バンク間に配置した導電層を焼成可能な条件にて行うものとすることができる。バンク間に導電層を配置するに際しては、例えばインクジェット装置等の液滴吐出装置を用い、導電材料が含まれる液状物をバンク間に滴下する手法を採用することができる。そのようなバンク間に配置した導電層ペーストは焼成を必要とするが、これを第2の光照射による光熱変換層からの発熱を利用して行えば、焼成工程を削減することができ、ひいては製造コストの削減を実現することが可能となる。
また、前記転写工程は減圧下にて行うことができ、この場合、導電パターン層と被処理基材とが一層強固に貼り合わされることとなる。なお、光熱変換層と導電パターン層とを剥離する場合には、その減圧条件を解除するものとすればよい。
前記昇華層形成工程において、形成する昇華層に、液体に対する親和性を調整する調整材料を含ませることができる。この場合、バンクを形成後、そのバンクに対して導電材料が含まれる液状組成物を配置する場合において、配置する液状組成物の位置や濡れ拡がり具合を制御することができる。特に、昇華層形成工程において、液体に対する親和性がそれぞれ異なる複数の昇華層を形成することもでき、具体的には、第1の昇華層と該第1の昇華層より撥液性を有する第2の昇華層とをこの順に積層して形成するのがよい。これにより、配置する液状組成物の位置や濡れ拡がり具合を更に所望状態に制御可能となる。特に、第1の昇華層と該第1の昇華層より撥液性を有する第2の昇華層とがこの順に積層されている構成を採用することにより、例えば形成後のバンク間に液状組成物を配置する場合、バンク間の底部近傍において液状組成物を良好に濡れ拡がらせることができ、また、バンクの上面を含む上部近傍に液状組成物が配置された場合でも、上部の撥液領域によりその上部近傍の液状組成物をバンク間の底部に流れ落とすようにして配置することができる。
また、バンクを形成する昇華層に予め調整材料を混在させておく構成の他に、光照射によりバンクパターンを形成した後、液体に対する親和性を調整する表面処理を行うようにしてもよい。こうすることによっても、液状組成物をバンク間に良好に配置することができる。なお、バンク形成工程において、昇華層より昇華した材料を吸引除去する工程を含むものとすることで、導電層形成位置に昇華材料の残留物が滞留する等の不具合を回避することが可能となる。
次に、本発明の半導体装置の製造方法は、その配線パターンを形成するに際し、上述の形成方法を採用したことを特徴とする。この場合、表面に凹凸形状の少ない配線を具備した半導体装置を提供可能で、例えば配線における断線等の不具合発生を回避することが可能となる。なお、半導体装置を製造するに際し、上記配線パターンの形成方法を用いることで、配線が複数に積層された三次元実装化を実現することも可能である。
次に、本発明の電気光学装置は、上述の形成方法により形成された配線パターン、或いは上述の製造方法により得られた半導体装置を具備することを特徴とする。なお、電気光学装置としては、液晶表示装置、有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示装置、及びプラズマ表示装置等が例示することができる。また、本発明の電子機器は、上記電気光学装置を具備することを特徴とする。
なお、上述した液滴吐出装置による液滴吐出法は、吐出ヘッドを備えた液滴吐出装置を使って実現され、該液滴吐出装置はインクジェットヘッドを備えたインクジェット装置を含む。インクジェット装置のインクジェットヘッドは、インクジェット法により液状組成物の液滴を定量的に吐出可能であり、例えば1ドットあたり1〜300ナノグラムの液滴を定量的に断続して滴下可能な装置である。なお、液滴吐出装置としてはディスペンサー装置であってもよい。液状組成物としては、液滴吐出装置の吐出ヘッドの吐出ノズルから吐出可能(滴下可能)な粘度を備えるものが好ましく、所定の液状媒体(水性であると油性であると問わない)に対し導電材料を溶解ないし分散させて調整される。
<配線パターンの形成方法>
以下、本発明の配線パターンの形成方法について、その一実施の形態について図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の配線パターンの形成方法に用いられる光照射装置の一実施形態を示す概略構成図である。図1において、バンク形成装置10は、所定の波長を有するレーザ光束を射出するレーザ光源11と、処理対象である基材(第1基材)1を支持するステージ12とを備えている。レーザ光源11及び基材1を支持するステージ12はチャンバ14内に配置されている。チャンバ14には、このチャンバ14内のガスを吸引可能な吸引装置13が接続されている。本実施形態では、レーザ光源11として近赤外半導体レーザ(波長830nm)が使用される。
ここで、以下の説明において、水平面内における所定方向をX軸方向、水平面内においてX軸方向と直交する方向をY軸方向、X軸及びY軸のそれぞれに直交する方向(鉛直方向)をZ軸方向とする。
ステージ12は、基材1を支持した状態でX軸方向及びY軸方向に移動可能に設けられており、基材1はステージ12の移動により光源11から射出された光束に対して移動可能となっている。また、ステージ12はZ軸方向にも移動可能となっている。ここで、光源11とステージ12に支持された基材1との間には不図示の光学系が配置されている。基材1を支持したステージ12はZ軸方向に移動することにより、前記光学系の焦点に対する基材1の位置を調整可能となっている。そして、光源11より射出された光束は、ステージ12に支持されている基材1を照射するようになっている。
基材1には、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む光熱変換層8が形成され、その光熱変換層8上には、昇華性材料を含む昇華層9が形成されている。基材1としては、例えばガラス基板や透明性高分子等を用いることができる。透明性高分子としては、ポリエチレンテレフタレートのようなポリエステル、ポリイミド、ポリアクリル、ポリエポキシ、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリサルホン等が挙げられる。透明性高分子により基材1を形成した場合、その厚さは10〜500μmであることが好ましい。こうすることにより、例えば、基材1を帯状に形成してロール状に巻くことができ、回転ドラム等に保持させつつ搬送(移動)することもできる。
なお、ここでは基材1をXY方向に並進移動するステージ12に支持させているが、基材1を回転ドラムに保持させる場合、回転ドラムは、水平並進方向(走査方向、X方向)、回転方向(Y方向)、及び鉛直方向(Z軸方向)に移動可能である。
光熱変換層8を構成する光熱変換材料としては公知のものを使用することができ、レーザ光を効率よく熱に変換できる材料であれば特に限定されないが、例えば、アルミニウム、その酸化物及び/又はその硫化物よりなる金属層や、カーボンブラック、黒鉛又は赤外線吸収色素等が添加された高分子よりなる有機層等が挙げられる。赤外線吸収色素としては、アントラキノン系、ジチオールニッケル錯体系、シアニン系、アゾコバルト錯体系、ジインモニウム系、スクワリリウム系、フタロシアニン系、ナフタロシアニン系等が挙げられる。
光熱変換層8として前記金属層を用いる場合には、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、又はスパッタリングを利用して基材1上に形成することができる。光熱変換層8として前記有機層を用いる場合には、一般的なフィルムコーティング方法、例えば、押出コーティング方法、スピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、リバースロールコーティング方法、ロッドコーティング方法、マイクログラビアコーティング方法、ナイフコーティング方法などにより基材1上に形成することができる。
光熱変換層8を設けた場合、光熱変換材料に応じた波長を有する光を照射することが好ましい。つまり、使用する光熱変換材料に応じて良好に吸収する光の波長帯域は異なるため、光変換材料に応じた波長を有する光を照射することにより、光エネルギーを熱エネルギーに効率良く変換できる。換言すれば、照射する光に応じて使用する光熱変換材料を選択する。本実施形態では、レーザ光源として近赤外半導体レーザ(波長830nm)を使用しているため、光熱変換材料としては、赤外線〜可視光線領域の光を吸収する性質を有している材料を用いることが好ましい。
昇華層9は、バインダ樹脂に溶解又は分散された昇華性色素を含んでいる。なおバインダが無い構成も可能である。昇華性材料としては公知の昇華性材料(昇華性色素)を使用することが可能であり、例えば特開平6−99667号公報に開示されている分散染料、塩基性染料、油溶性染料、特開平9−127644号公報に開示されているような、シアニン、メロシアニン、アミンカチオンラジカル色素、スクアリリウム色素、クロコニウム色素、テトラアリールポリメチン色素、オキソノール色素、あるいは特開2001−514106号公報に開示されている材料を使用可能である。また、昇華層9は一層で形成されてもよいし、二層以上の複数層で形成されてもよい。
昇華層9にバインダ樹脂を使用する場合、公知のバインダ樹脂を使用することができ、例えば、ポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリアクリル系樹脂(例えばポリメチルメタクリレート、ポリアクリルアミド、ポリスチレン−2−アクリロニトリル)、ポリビニルピロリドンを始めとするビニル系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂(例えば塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体)、ポリカーボネート系樹脂、ポリスチレン、ポリフェニレンオキサイド、セルロース系樹脂(例えばメチルセルロース、エチルセルロース、カルボキシメチルセルロース、セルロースアセテート水素フタレート、酢酸セルロース、セルロースアセテートプロピオネート、セルロースアセテートブチレート、セルローストリアセテート)、ポリビニルアルコール系樹脂(例えばポリビニルアルコール、ポリビニルブチラールなどの部分ケン化ポリビニルアルコール)、石油系樹脂、ロジン誘導体、クマロン−インデン樹脂、テルペン系樹脂、ポリオレフィン系樹脂(例えばポリエチレン、ポリプロピレン)などが使用可能である。
上記色素およびバインダ樹脂を溶解または分散するための有機溶媒としては、一価アルコールを含むものが用いられる。例えば、n−ブチルアルコール(b.p.117.4℃)、イソブチルアルコール(b.p.108.1℃)、sec−ブチルアルコール(b.p.100℃)、n−アミルアルコール(b.p.138℃)、イソアミルアルコール(b.p.132℃)、ヘキシルアルコール(b.p.155.7℃)などである。また、上記のアルコール類と他の有機溶媒を混合して用いてもよい。混合して用いる有機溶媒としては、公知の溶剤が使用でき、具体的には、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、トルエン、キシレン等の芳香族類、ジクロルメタン、トリクロロエタン等のハロゲン類、酢酸エチル、酪酸プロピル等のエステル類、ジオキサン、テトラヒドロフラン等、およびこれらの混合物が挙げられる。
昇華層9は、一般的なフィルムコーティング方法、例えば、押出コーティング方法、スピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、リバースロールコーティング方法、ロッドコーティング方法、マイクログラビアコーティング方法などにより、光熱変換層8上に形成することができる。これらの昇華層9のコーティング方法においては、光熱変換層8の表面に帯電した静電気を除電して昇華層形成用機能液を均一に光熱変換層8上に形成するのが好ましく、各方法に用いられる装置には除電装置が取り付けてあるのが好ましい。
次に、図2を参照しながらバンクの形成手順について説明する。図2(a)に示すように、基材1の昇華層9が設けられた上面側から、所定の光束径を有するレーザ光束が照射される。レーザ光束が照射されることにより、その照射位置に対応する光熱変換層8が発熱し、その上層の昇華層9が加熱される。その熱により昇華層9の昇華性材料が昇華し、図2(b)に示すように、照射位置に対応する昇華性材料(昇華層9)が基材1より除去される。これにより、バンクB、Bが形成され、バンクB、B間の溝部3において光熱変換層8が露出される。
このとき、照射するレーザ光束に対してステージ12をXY平面に沿って移動することにより、そのステージ12の移動軌跡に応じた溝部3が描画される。こうして、基材1上の所定領域を区画するバンクパターンが基材1上に形成される。
光の照射により昇華した昇華性材料や、昇華性材料とともに基材1から分離した材料はチャンバ14内を浮遊するが、吸引装置13を駆動してチャンバ14内のガスを吸引することにより、その基材1から分離した材料を回収することができる。したがって、基材1から分離した材料が溝部3あるいはバンクBに再び付着してしまう不都合の発生が防止される。
以上説明したように、光熱変換層8及び昇華層9を有する基材1に光を照射することにより、その照射した光に基づく光熱変換層8からの発熱によって昇華性材料を昇華させ、基材1上から除去することができるので、形成しようとするバンクパターンに応じた領域に対して光を照射することにより、その照射領域の昇華性材料を除去して所望のパターンを有するバンクBを基材1上に形成することができる。
なお本実施形態では、基材1を支持したステージ12を移動することでバンクB(溝部3)を基材1上に描画しているが、もちろん、基材1を停止した状態で照射する光束を移動するようにしてもよいし、基材1と光束との双方を移動するようにしてもよい。また、基材1を移動する場合、ステージ12でXY平面内を移動する構成の他に、上述したように回転ドラムに保持させた状態で移動する構成も可能である。
バンクパターンを形成する際、図3に示すように、形成しようとするバンクパターンに応じたパターンを有するマスク15に対して光束を照射し、マスク15を介した光を基材1に照射するようにしてもよい。図3に示す例において、マスク15は、マスク15を透過した光を通過するための開口部16Aを有するマスク支持部16に支持されている。光源11から射出された光束は、光学系17により均一な照度分布を有する照明光に変換された後、マスク15を照明する。マスク15を通過した光は、ステージ12に支持されている基材1(昇華層9及び光熱変換層8)を照射し、その照射された光に基づいて光熱変換層8から発生する熱により昇華性材料が昇華され、バンクパターンが形成される。マスク15を用いることにより、レーザ光源11から射出された光束の径より微細なバンクパターンを形成することができる。なお、図3に示す例では、マスク15と基材1とを離した状態で、基材1に対して光を照射しているが、マスク15と基材1とを密着させた状態でマスク15に光を照射し、そのマスク15を介した光を基材1に照射するようにしてもよい。
以上のようなプロセスにより形成したバンクB,B間の溝部3に対して導電性ペーストを配置し、溝のパターンに応じた所定パターンの導電層を形成する。なお、導電層の配置工程については後述する。ここで、上述のようなバンクを形成する工程において、バンクとなる昇華層9には液体(ここでは導電性ペースト)に対する親和性を調整する調整材料を混在させておくことができる。例えば、昇華層形成用機能液に、液体に対する親和性を調整する調整材料を予め混在させておき、その後、その機能液を基材1上(ここでは光熱変換層8上)の溝部3に塗布することで、前記調整材料が混在された昇華層9を基材1上に形成することができる。
調整材料としては、撥液性を有する材料、例えば含フッ素化合物あるいはシリコン化合物が挙げられる。こうすることにより、昇華層9からなるバンクBに撥液性を付与することができる。そして、バンクBに撥液性を付与することにより、例えば液滴吐出法に基づいてバンクB、B間の溝部3に対して機能液を配置する場合において、バンクBの上面を含む上部近傍に機能液が配置された場合でも、その撥液性により機能液をバンクB、B間の溝部3の底部に流れ落とすようにして配置することができ、機能液を所望状態に配置することができる。
含フッ素化合物としては、例えば分子内にフッ素原子を含有するモノマー、オリゴマー又はポリマーや、フッ素含有の界面活性剤等が挙げられる。なお、このような含フッ素化合物は、昇華層9に含まれるバインダ樹脂に相溶するかもしくは分散するものが好ましい。また、シリコン化合物としては、例えば有機ポリシロキサンを主成分とする樹脂、ゴム、界面活性剤、カップリング剤等が挙げられる。これら含フッ素化合物及びシリコン化合物の双方を昇華層9に混在させてもよいし、いずれか一方を混在させてもよい。
また、液体(機能液)に対する親和性がそれぞれ異なる複数の昇華層を積層するものとしても良い。これにより、配置する機能液の位置や濡れ拡がり具合を更に所望状態に制御可能となる。特に、基材1上に、第1の昇華層と、それよりも相対的に高い撥液性を有する第2の昇華層とをこの順に積層することにより、例えば形成後のバンクB、B間に機能液を配置する場合、バンクB、B間の溝部3の底部近傍において機能液を良好に濡れ拡がらせることができ、また、バンクB、Bの上面を含む上部近傍に機能液が配置された場合でも、上部の撥液領域によりその上部近傍の機能液をバンクB、B間の溝部3の底部に流れ落とすようにして配置することができる。なお、各層の昇華層の撥液性を異ならせるためには、例えば各昇華層のそれぞれに混在させる前記調整材料(含フッ素化合物又はシリコン化合物)の量を異ならせるものとすればよい。
また、光熱変換層8と昇華層9との間に、光熱変換層8の光熱変換作用を均一化するための中間層を設けることができる。このような中間層形成材料としては樹脂材料を挙げることができる。このような中間層は、所定の組成を有する樹脂組成物を例えばスピンコーティング方法、グラビアコーティング方法、ダイコーティング法等の公知のコーティング方法に基づいて光熱変換層8の表面に塗布し、乾燥させることによって形成可能である。レーザ光束が照射されると、光熱変換層8の作用により、光エネルギーが熱エネルギーに変換され、さらにこの熱エネルギーが中間層の作用により均一化される。したがって、光照射領域に該当する部分の昇華層9には均一な熱エネルギーが供与される。
次に、形成したバンクB,B間の溝部3に対して導電性材料を配置し、溝のパターンに応じた所定パターンの導電層(導電パターン層)を形成する工程について説明する。図4は、形成されたバンクBを使って基材1上(ここでは光熱変換層8上)に導電パターン層を形成する方法を示す模式図である。本実施形態では、配線パターン形成用材料たる導電材料をバンクBの溝部3に配置するために、配線パターン形成用材料を含む機能液の液滴を吐出する液滴吐出法(インクジェット法)を用いる。バンクBは、基材1上に予め設定された配線パターン形成領域を区画するように設けられている。液滴吐出法では、吐出ヘッド20と基材1とを対向させた状態で、バンクB、B間の溝部3に対して配線パターン形成用材料を含む機能液の液滴が吐出ヘッド20より吐出される。
ここで、液滴吐出法の吐出技術としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気熱変換方式、静電吸引方式、電気機械変換方式等が挙げられる。帯電制御方式は、材料に帯電電極で電荷を付与し、偏向電極で材料の飛翔方向を制御して吐出ノズルから吐出させるものである。また、加圧振動方式は、材料に30kg/cm程度の超高圧を印加してノズル先端側に材料を吐出させるものであり、制御電圧をかけない場合には材料が直進して吐出ノズルから吐出され、制御電圧をかけると材料間に静電的な反発が起こり、材料が飛散して吐出ノズルから吐出されない。また、電気熱変換方式は、材料を貯留した空間内に設けたヒータにより、材料を急激に気化させてバブル(泡)を発生させ、バブルの圧力によって空間内の材料を吐出させるものである。静電吸引方式は、材料を貯留した空間内に微小圧力を加え、吐出ノズルに材料のメニスカスを形成し、この状態で静電引力を加えてから材料を引き出すものである。電気機械変換方式は、ピエゾ素子(圧電素子)がパルス的な電気信号を受けて変形する性質を利用したもので、ピエゾ素子が変形することによって材料を貯留した空間に可撓物質を介して圧力を与え、この空間から材料を押し出して吐出ノズルから吐出させるものである。この他に、電場による流体の粘性変化を利用する方式や、放電火花で飛ばす方式などの技術も適用可能である。液滴吐出法は、材料の使用に無駄が少なく、しかも所望の位置に所望の量の材料を的確に配置できるという利点を有する。なお、液滴吐出法により吐出される液体材料の一滴の量は例えば1〜300ナノグラムである。本実施形態では、電気機械変換方式(ピエゾ方式)を用いる。
図5はピエゾ方式による機能液(液状体材料)の吐出原理を説明するための図である。図5において、吐出ヘッド20は、機能液(配線パターン形成用材料を含む液状体材料)を収容する液体室21と、その液体室21に隣接して設置されたピエゾ素子22とを備えている。液体室21には、機能液を収容する材料タンクを含む供給系23を介して機能液が供給される。ピエゾ素子22は駆動回路24に接続されており、この駆動回路24を介してピエゾ素子22に電圧を印加し、ピエゾ素子22を変形させることにより、液体室21が変形し、吐出ノズル25から機能液が吐出される。この場合、印加電圧の値を変化させることによりピエゾ素子22の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることによりピエゾ素子22の歪み速度が制御される。ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。
以下、配線パターンを形成する手順について説明する。上記説明した方法により、昇華層9からなるバンクB、Bを形成した後、まず、バンクB、B間の溝部3の底部(光熱変換層8の露出部)の残渣を除去する残渣処理を行うことが好ましい。残渣処理としては、溝部3の底部に対して例えば紫外線(UV)等の光を照射することにより、光励起により、底部に残存する特に有機系の残渣を良好に除去することができる。
次に、吐出ヘッド20を用いて、光熱変換層8上のバンクB、B間に配線パターン形成用材料を含む機能液の液滴を配置する材料配置工程を行う。ここでは、配線パターン形成用材料を構成する導電性材料として有機銀化合物を用い、溶媒(分散媒)としてジエチレングリコールジエチルエーテルを用い、その有機銀化合物を含む機能液を吐出する。材料配置工程では、図7に示したように、吐出ヘッド20から配線パターン形成用材料を含む機能液を液滴にして吐出する。吐出された液滴は、光熱変化層8上のバンクB、B間の溝部3に配置される。このとき、液滴が吐出される配線パターン形成領域は、昇華層9からなるバンクBにより区画されているので、液滴が所定位置以外に拡がることを阻止できる。また、バンクB、Bには撥液性が付与されているため、吐出された液滴の一部がバンクB上に乗ってもバンク間の溝部3に流れ落ちるようになる。更に、光熱変換層8が露出している溝部3の底部に親液性を付与しておけば、吐出された液滴が底部にてより拡がり易くなり、これにより機能液は所定位置内で均一に配置することができる。具体的に、バンクBと溝部3の底部の濡れ性の差は、例えば水に対する静的接触角の値で40°以上が望ましい。
なお、機能液としては、導電性微粒子を分散媒に分散した分散液を用いることも可能である。導電性微粒子としては、例えば、金、銀、銅、アルミニウム、パラジウム、及びニッケルのうちの少なくともいずれか1つを含有する金属微粒子の他、これらの酸化物、並びに導電性ポリマーや超電導体の微粒子などが用いられる。分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるもので凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、また液滴吐出法への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。
材料配置工程(液滴吐出工程)の後、乾燥工程を行い、図6に示したような昇華層9からなるバンクB,B間に導電層7が配置された導電パターン層70を形成することができる。この乾燥工程は、液滴吐出に用いた溶媒が揮発する条件(温度、気圧)にて行うものとする。
以上のような方法により図6に示したような光熱変換層8上に導電パターン層70を備えた基材1を形成した後、図7に示すように異なる基材2(被処理基材:材質等は第1基材と同じ)に対して、導電パターン層70を転写する工程を行う。以下、転写の工程について説明する。
まず、図7に示したように基材2に対して導電パターン層70を対向させて仮貼り合わせを行い、これに対してレーザ光照射を行う。具体的には図1に示したような光照射装置10を用いて行い、この場合、基材2の全面に対して光照射を行うものとする。このような光照射に基づき、光熱変換層8から発熱が生じ、該発熱に基づいて導電パターン層70が基材2側に転写されることとなる。これはバンクBが昇華性材料を含んで構成されていることに基づくものである。また、このような光照射による光熱変換層8からの発熱に基づき、導電層7に対する焼成が行われる。導電層に対して焼成処理を行うことにより導電性が得られる。特に導電材料として有機銀化合物を用いた場合、焼成処理を行ってその有機分を除去し銀粒子を残留させることで導電性が発現される。なお、転写工程を行う前に、導電性材料を含む機能液を吐出した後に焼成工程を別途行うものとしてもよい。
このような転写工程を行うことで、図8に示すように基材2上に所定パターンの導電層7を含む配線パターン200が形成されることとなる。なお、転写工程の後、基材2上に存在するバンクBを除去(アッシング)することができる。例えば、バンクB(昇華層9)にレーザ光を照射したり、所定の溶剤により洗浄することでバンクBを基材2から除去することができる。また、アッシング処理としては、プラズマアッシングやオゾンアッシング等を採用することもできる。
以上、説明した本実施形態の配線パターンの形成方法によると、光熱変換層8及び昇華層9を有する第1基材1の所定領域に選択的に光照射することにより、該光照射領域に対応して昇華層9から構成されるバンクBを形成することができ、さらに形成したバンクB内に導電層7を配置するとともに、このバンクBと導電層7とを含む導電パターン層70と被処理基材2とを対向させ、該対向させた基材に対して光照射を再び行うことで、光熱変換層8から導電パターン層70の昇華層9(バンクB)に熱が加わり、導電パターン層70が被処理基材2に転写され、その結果、被処理基材2上に所定の導電パターン層70が形成されることとなる。したがって、導電パターン層70の導電層7の表層は、元々光熱変換層8との界面であったため、凹凸が少なく非常に平坦性に優れた表面形状を有するものとなり、このような方法により得られた配線パターンを液晶表示装置等の電気光学装置に使用すれば表示特性向上に寄与することが可能となる。なお、本実施の形態で示した配線パターンの形成方法を半導体装置に適用し、すなわち半導体装置の配線を形成する際に、上記配線パターンの形成方法を採用することが可能である。
<電気光学装置>
次に、本発明の配線パターンの形成方法により形成された配線パターンを有する電気光学装置の一例として、液晶表示装置について図9を参照しながら説明する。本実施の形態の液晶表示装置は、スイッチング素子としてTFT(薄膜トランジスタ)を用いたアクティブマトリクスタイプの液晶表示装置であって、図9はその断面構造を示す模式図である。
図9に示すように、本実施の形態の液晶表示装置は、TFTアレイ基板110と、これに対向配置される対向基板120との間に液晶層50が挟持された構成を具備している。TFTアレイ基板110は、石英等の透光性材料からなる基板本体110Aと、その液晶層50側表面に形成されたTFT素子30、画素電極9a、配向膜40を主体として構成されており、対向基板120はガラスや石英等の透光性材料からなる基板本体120Aと、その液晶層50側表面に形成された共通電極121と配向膜60とを主体として構成されている。そして、各基板110,120は、スペーサ115を介して所定の基板間隔(ギャップ)が保持されている。
TFTアレイ基板110において、基板本体110Aの液晶層50側表面には画素電極9aが設けられ、各画素電極9aに隣接する位置に、各画素電極9aをスイッチング制御する画素スイッチング用TFT素子(半導体装置)30が設けられている。画素スイッチング用TFT素子30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜2a、データ線6a、半導体層1aの低濃度ソース領域1bおよび低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃度ソース領域1dおよび高濃度ドレイン領域1eを備えている。
上記走査線3a上、ゲート絶縁膜2a上を含む基板本体110A上には、高濃度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール5a、及び高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール8aが開孔した第2層間絶縁膜4が形成されている。つまり、データ線6aは、第2層間絶縁膜4aを貫通するコンタクトホール5aを介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続されている。
さらに、データ線6a上および第2層間絶縁膜4a上には、高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール8aが開孔した第3層間絶縁膜7aが形成されている。すなわち、高濃度ドレイン領域1eは、第2層間絶縁膜4aおよび第3層間絶縁膜7aを貫通するコンタクトホール8aを介して画素電極9aに電気的に接続されている。
本実施の形態では、ゲート絶縁膜2aを走査線3aに対向する位置から延設して誘電体膜として用い、半導体膜1aを延設して第1蓄積容量電極1fとし、更にこれらに対向する容量線3bの一部を第2蓄積容量電極とすることにより、蓄積容量170が構成されている。
また、TFTアレイ基板110の基板本体110Aの液晶層50側表面において、各画素スイッチング用TFT素子30が形成された領域には、TFTアレイ基板110を透過し、TFTアレイ基板110の図示下面(TFTアレイ基板110と空気との界面)で反射されて、液晶層50側に戻る戻り光が、少なくとも半導体層1aのチャネル領域1a’および低濃度ソース、ドレイン領域1b、1cに入射することを防止するための第1遮光膜11aが設けられている。さらに、TFTアレイ基板110の液晶層50側最表面、すなわち、画素電極9aおよび第3層間絶縁膜7a上には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御する配向膜40が形成されている。
他方、対向基板120には、基板本体120Aの液晶層50側表面であって、データ線6a、走査線3a、画素スイッチング用TFT素子30の形成領域(非画素領域)に対向する領域に、入射光が画素スイッチング用TFT素子30の半導体層1aのチャネル領域1a’や低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1cに侵入することを防止するための第2遮光膜123が設けられている。さらに、第2遮光膜123が形成された基板本体120Aの液晶層50側には、その略全面にわたって、ITO等からなる共通電極121が形成され、その液晶層50側には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御する配向膜60が形成されている。
このような本実施の形態の液晶表示装置においては、半導体装置たるTFT素子30の各種配線、及び該TFT素子30に電気的信号を送信するための各種配線、並びに電極等を上述した本実施の形態の配線パターンの形成方法を用いて形成しているため、液晶層50を挟持するTFTアレイ基板110及び対向基板120の表面に凹凸が少なく、その結果、配向膜40,60におけるラビング処理の不均一化等の問題が生じ難いものとなっている。その結果、当該液晶表示装置は非常に表示特性に優れ、信頼性の高い電気光学装置となる。
<電子機器>
以下、上記液晶表示装置(電気光学装置)を備えた電子機器の適用例について説明する。図10は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図10において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は上記の電気光学装置を用いた表示部を示している。このような電子機器は、上記実施の形態の電気光学装置を備えているので、表示品位に優れ、明るい画面の表示部を備えた電子機器を実現することができる。
なお、上述した例に加えて、他の例として、腕時計、ワードプロセッサ、パソコンモニタ、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、電子ペーパー、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。本発明の電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても適用できる。
本発明の配線パターンの形成方法に使う光照射装置の一実施形態を示す概略構成図。 本発明の配線パターンの形成方法の一プロセスを示す工程模式図。 本発明の配線パターンの形成方法に使う光照射装置の他の実施形態を示す概略構成図。 図2に続くプロセスを示す工程模式図。 本発明の配線パターンの形成方法に使う吐出ヘッドの一例を示す概略構成図。 図4に続くプロセスを示す工程模式図。 図6に続くプロセスを示す工程模式図。 図7に続くプロセスを示す工程模式図。 本発明の電気光学装置の一例としての液晶表示装置の断面模式図。 本発明の電子機器の一例を模式的に示す斜視図。
符号の説明
1…基材(第1基材)、2…基材(被処理基材)、8…光熱変換層、9…昇華層、20…吐出ヘッド、70…導電パターン層、200…配線パターン、B…バンク

Claims (20)

  1. 光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む光熱変換層に、昇華性材料を含む昇華層を積層させる工程と、
    前記昇華層の所定領域に第1の光照射を行うことで前記昇華層の一部を昇華させ、該光照射領域以外の領域に前記昇華層からなるバンクを形成するバンク形成工程と、
    形成させたバンク間に導電層を配置させて、前記導電層及び前記バンクからなる導電パターン層をインクジェット法により形成する導電パターン層形成工程と、
    前記導電パターン層と被処理基材とを対向させた状態で、前記導電パターン層が形成されていない側の前記光熱変換層の所定領域に対して第2の光照射を行うことで、該導電パターン層を当該被処理基材に転写する転写工程と、
    を含むことを特徴とする配線パターンの形成方法。
  2. 基材上に、光エネルギーを熱エネルギーに変換する光熱変換材料を含む光熱変換層を形成する光熱変換層形成工程と、
    前記光熱変換層上に、昇華性材料を含む昇華層を形成する昇華層形成工程と、
    前記昇華層の所定領域に対し、第1の光照射を行うことで昇華層の一部を昇華させ、該光照射領域以外の領域に前記昇華層からなるバンクを形成するバンク形成工程と、
    形成したバンク間に導電層を配置させて、前記導電層及び前記バンクからなる導電パターン層をインクジェット法により形成する導電パターン層形成工程と、
    前記導電パターン層と被処理基材とを対向させた状態で、前記導電パターン層が形成されていない側の前記光熱変換層の所定領域に対して第2の光照射を行うことで、該導電パターン層を当該被処理基材に転写させる転写工程と、
    を含むことを特徴とする配線パターンの形成方法。
  3. 前記基材に、光熱変換材料が混在されていることを特徴とする請求項2に記載の配線パターンの形成方法。
  4. 前記昇華層に、光熱変換材料が混在されていることを特徴とする請求項2に記載の配線パターンの形成方法。
  5. 前記昇華層形成工程において、
    該光熱変換層上に絶縁層を形成し、その絶縁層上に昇華層を形成する工程を含むことを特徴とする請求項2に記載の配線パターンの形成方法。
  6. 前記基材と前記昇華層との間に、光あるいは熱によりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層が設けられていることを特徴とする請求項2ないし5のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  7. 前記基材と前記絶縁層との間に、光あるいは熱によりガスを発生するガス発生材料を含むガス発生層が設けられていることを特徴とする請求項5に記載の配線パターンの形成方法。
  8. 前記第1の光照射と前記第2の光照射とにおいて光照射条件を異ならせることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  9. 前記第1の光照射は、所定のパターンを有するマスクを介して行うことを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  10. 前記第1の光照射は、照射光に対して前記昇華層が積層された基材を相対移動させながら行うことを特徴とする請求項2ないし9のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  11. 前記第2の光照射は、前記導電パターン層を被処理基材に対して転写させるとともに、
    前記バンク間に配置した前記導電層を焼成可能な条件にて行うことを特徴とする請求項1ないし10のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  12. 前記転写工程を減圧下にて行うことを特徴とする請求項1ないし11のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  13. 前記光熱変換層と前記導電パターン層とを剥離するに際し、前記減圧を解除することを特徴とする請求項12に記載の配線パターンの形成方法。
  14. 前記昇華層に昇華性色素を含ませることを特徴とする請求項1ないし13のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  15. 前記昇華層にインクジェット法により配置される液体に対する親和性を調整する調整材料を含ませることを特徴とする請求項1ないし14のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  16. 前記昇華層に、インクジェット法により配置される液体に対する親和性がそれぞれ異なる複数の昇華層を含ませることを特徴とする請求項1ないし15のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  17. 前記バンク形成工程は、形成されたバンクに対して、インクジェット法により配置される液体に対する親和性を調整する表面処理を行う工程を含むことを特徴とする請求項1ないし16のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  18. 前記バンク形成工程において、前記昇華層より昇華した材料を吸引除去することを特徴とする請求項1ないし17のいずれか1項に記載の配線パターンの形成方法。
  19. 請求項1ないし18のいずれか1項に記載の形成方法を用いた配線パターンの形成工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  20. 請求項1ないし18のいずれか1項に記載の形成方法を用いて配線の三次元実装化を行う工程を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP2003292465A 2003-08-12 2003-08-12 配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器 Expired - Lifetime JP4273871B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003292465A JP4273871B2 (ja) 2003-08-12 2003-08-12 配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器
US10/902,109 US7094641B2 (en) 2003-08-12 2004-07-30 Method for forming wiring pattern, method for manufacturing semiconductor device, electro-optic device and electronic equipment
KR1020040062409A KR100597348B1 (ko) 2003-08-12 2004-08-09 배선 패턴의 형성 방법, 반도체 장치의 제조 방법, 전기광학 장치 및 전자 기기
CNB2004100560654A CN100420354C (zh) 2003-08-12 2004-08-10 布线图形形成方法、半导体装置制造方法以及电光学装置
TW093124055A TWI237299B (en) 2003-08-12 2004-08-11 Method of forming wiring pattern, method of manufacturing semiconductor device, and electro-optic device and electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003292465A JP4273871B2 (ja) 2003-08-12 2003-08-12 配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005064249A JP2005064249A (ja) 2005-03-10
JP4273871B2 true JP4273871B2 (ja) 2009-06-03

Family

ID=34308367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003292465A Expired - Lifetime JP4273871B2 (ja) 2003-08-12 2003-08-12 配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7094641B2 (ja)
JP (1) JP4273871B2 (ja)
KR (1) KR100597348B1 (ja)
CN (1) CN100420354C (ja)
TW (1) TWI237299B (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005062356A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp パターンの形成方法及び配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器
JP2006269599A (ja) 2005-03-23 2006-10-05 Sony Corp パターン形成方法、有機電界効果型トランジスタの製造方法、及び、フレキシブルプリント回路板の製造方法
JP4622626B2 (ja) * 2005-03-30 2011-02-02 凸版印刷株式会社 導電性パターンの形成方法
JP4200981B2 (ja) * 2005-05-16 2008-12-24 セイコーエプソン株式会社 バンク構造、配線パターン形成方法、デバイス、電気光学装置、及び電子機器
JP4200983B2 (ja) * 2005-05-24 2008-12-24 セイコーエプソン株式会社 膜パターンの形成方法、アクティブマトリクス基板、電気光学装置、及び電子機器
JP4439589B2 (ja) * 2007-12-28 2010-03-24 パナソニック株式会社 有機elデバイスおよび有機elディスプレイパネル、ならびにそれらの製造方法
KR101423670B1 (ko) * 2008-01-15 2014-07-28 삼성디스플레이 주식회사 금속 배선 제조 방법 및 금속 배선을 구비하는 표시 패널의제조 방법
CN106099657B (zh) * 2016-07-26 2018-05-22 中航光电科技股份有限公司 一种线缆组件布线方法及工装
JP7472742B2 (ja) 2020-09-29 2024-04-23 東レ株式会社 導電パターン付き基板の製造方法およびled実装回路基板の製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0699667A (ja) 1992-09-22 1994-04-12 Fuji Photo Film Co Ltd 熱転写色素供与材料
GB2305509A (en) 1995-09-19 1997-04-09 Minnesota Mining & Mfg Heat sensitive elements
EP1017570B1 (en) 1997-09-02 2004-08-25 Kodak Polychrome Graphics LLC Laser addressable black thermal transfer donor elements
JPH1197392A (ja) 1997-09-16 1999-04-09 Ebara Corp 微細窪みの充填方法及び装置
JP3731632B2 (ja) * 1998-10-30 2006-01-05 信越化学工業株式会社 配線基板の製造方法
US6121130A (en) * 1998-11-16 2000-09-19 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Laser curing of spin-on dielectric thin films
JP2000173948A (ja) 1998-12-02 2000-06-23 Ulvac Japan Ltd 塗布膜形成方法および塗布膜形成装置
US6730596B1 (en) * 1999-10-15 2004-05-04 Ebara Corporation Method of and apparatus for forming interconnection
US6734029B2 (en) 2000-06-30 2004-05-11 Seiko Epson Corporation Method for forming conductive film pattern, and electro-optical device and electronic apparatus
JP2005062356A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp パターンの形成方法及び配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器
JP2005079010A (ja) * 2003-09-02 2005-03-24 Seiko Epson Corp 導電膜パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
TW200507044A (en) 2005-02-16
US7094641B2 (en) 2006-08-22
CN100420354C (zh) 2008-09-17
KR100597348B1 (ko) 2006-07-10
US20050064648A1 (en) 2005-03-24
CN1582092A (zh) 2005-02-16
TWI237299B (en) 2005-08-01
JP2005064249A (ja) 2005-03-10
KR20050016214A (ko) 2005-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4400138B2 (ja) 配線パターンの形成方法
JP4052295B2 (ja) 多層配線基板の製造方法、電子デバイス及び電子機器
JP4433722B2 (ja) パターンの形成方法及び配線パターンの形成方法
TWI296945B (en) Thin film pattern substrate, method for manufacturing device, electro-optic device, and electronic apparatus
JP2005085799A (ja) 成膜方法、配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置、及び電子機器
JP4200983B2 (ja) 膜パターンの形成方法、アクティブマトリクス基板、電気光学装置、及び電子機器
JP2005005676A (ja) パターンの形成方法及びパターン形成装置、デバイスの製造方法、電気光学装置及び電子機器
US20050221524A1 (en) Method for forming film pattern, method for manufacturing device, electro-optical apparatus, electronic apparatus, and method for manufacturing active matrix substrate
JP2005062356A (ja) パターンの形成方法及び配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器
US7105264B2 (en) Method for forming patterned conductive film, electrooptical device, and electronic appliance
JP4273871B2 (ja) 配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器
JP2005064143A (ja) レジストパターンの形成方法、配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器
US20060183036A1 (en) Method of forming film pattern, method of manufacturing device, electro-optical device, and electronic apparatus
US7517735B2 (en) Method of manufacturing active matrix substrate, active matrix substrate, electro-optical device, and electronic apparatus
TW200425213A (en) Device, method of manufacturing the same, electro-optic device, and electronic equipment
CN1318154C (zh) 图案形成方法及器件的制造方法
JP2004349640A (ja) パターンの形成方法及びデバイスの製造方法、デバイス、電気光学装置及び電子機器
JP2005081299A (ja) 成膜方法、配線パターンの形成方法、半導体装置の製造方法、電気光学装置、及び電子機器
JP4539032B2 (ja) 膜パターン形成方法及びデバイスの製造方法
KR100679963B1 (ko) 열처리 방법, 배선 패턴의 형성 방법, 전기 광학 장치의제조 방법, 전기 광학 장치 및 전자 기기
US20070111507A1 (en) Active matrix substrate, manufacturing method thereof, electro-optical device, and electronic apparatus
US20060051500A1 (en) Method of forming wiring pattern, and method of forming source electrode and drain electrode for TFT
JP2004330166A (ja) 膜パターン形成方法、デバイス及びデバイスの製造方法、電気光学装置、並びに電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050527

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081209

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090114

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090210

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090223

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4273871

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130313

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130313

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140313

Year of fee payment: 5

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term