JP4248527B2 - 回路装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は回路装置の製造方法に関し、特に、センサを含む複数の素子が内蔵された回路装置の製造方法に関する。
従来からジャイロセンサは、ビデオカメラ等の手ぶれ防止や、位置検出に於ける角速度センサとして用いられる。ビデオカメラに発生する手振れをジャイロセンサにより検出し、検出された手振れの程度に応じて画像を補正することにより、手振れが画像に与える悪影響を低減させることができる。ビデオカメラ等のセットに、ジャイロセンサが内蔵される場合は、セットの筐体内部または内蔵された実装基板にジャイロセンサが固着される。更にジャイロセンサは、船舶・航空機・自動車等の姿勢制御等にも用いられている。
図6を参照して、実装基板にジャイロセンサを取り付ける構造の一例を説明する(下記特許文献1を参照)。ここでは、ジャイロセンサである感知素子101が内蔵された回路装置100が、実装基板108の表面に固着されている。手振れを3次元的に検出する為には、水平方向と垂直方向の両方向に対して角速度を検出する必要がある。実装基板108が水平方向に載置された場合、水平方向に基準面を有する素子は実装基板108に対して直に固着することができる。しかしながら、垂直方向に基準面を有する素子を実装基板108に直に実装するのは困難である。そこで、特許文献1では、垂直方向に基準面を有する素子をパッケージ化して実装基板108に固着している。
回路装置100は感知素子101を樹脂モールドしたものであり、感知素子101と電気的に接続されたリード105が下方に導出している。回路装置100の外面は、感知素子102の基準面103に平行な最大面104が形成されている。ここで、基準面103は、感知素子101の検出軸102に対して直行する面である。ジャイロセンサである感知素子101は、検出軸102回りの角速度を求めることができる。
回路装置100は、実装基板108を貫通して設けたリードホール106にリード105が挿入されることで、実装基板108に固定されていた。ここでは、基準面103が実装基板108の表面に対して直角に固定されている。また、リード105は、実装基板108の表面に形成された導電路107に接続されている。
特開2004−361175号公報
しかしながら、上述した特許文献1記載の発明では、感知素子101が別パッケージとして実装基板108の表面に固着されていたので、回路装置100の実装に必要となる面積が大きくなる問題があった。このことが、感知素子101が内蔵されるビデオカメラ等のセットの小型化を阻害していた。
更に、感知素子101を内蔵する回路装置100は、リード105がリードホール106に差し込まれることにより、実装基板108に固着されていた。従って、実装基板108にリードホール106を製造する工程やリード105をリードホール106に差し込む工程が必要になる。このことが製造コストを上昇させていた。
本発明は、上記問題点を鑑みてなされ、本発明の主な目的は、小型化および接続信頼性の向上に寄与する回路装置の製造方法を提供することにある。
本発明の回路装置の製造方法は、導電箔の表面に分離溝を形成し導電パターンを形成する工程と、前記導電パターンに素子を固着して、前記素子と前記導電パターンとを電気的に接続する工程と、前記分離溝が設けられた箇所にて前記導電箔を曲折させる工程と、前記素子を被覆して前記分離溝に充填されるように封止樹脂を形成する工程と、前記分離溝に充填された前記封止樹脂が露出するまで、前記導電箔を裏面から除去する工程とを具備することを特徴とする。
更に本発明の回路装置の製造方法は、第1の導電パターンおよび第2の導電パターンが形成されるように導電箔の表面から第1の分離溝を形成し、曲折される部分の前記導電箔の表面から第2の分離溝を設ける工程と、前記第1の導電パターンに物理量を検出する第1の素子を電気的に接続し、前記第2の導電パターンに第2の素子を接続する工程と、前記第2の分離溝が設けられた箇所にて前記導電箔を曲折する工程と、前記両素子を被覆して前記第1の分離溝および前記第2の分離溝に充填されるように封止樹脂を形成する工程と、前記第1の分離溝および前記第2の分離溝に充填された前記封止樹脂が露出するまで、前記導電箔を裏面から除去する工程とを具備することを特徴とする。
更に、本発明の回路装置の製造方法では、前記導電箔を曲折する工程では、前記導電箔を直角に折り曲げることを特徴とする。
更に、本発明の回路装置の製造方法では、前記第2の分離溝を、前記第1の分離溝よりも幅を広く形成することを特徴とする。
更に、本発明の回路装置の製造方法では、前記第2の分離溝を、前記第1の分離溝よりも深く形成することを特徴とする。
本発明の回路装置の製造方法に依れば、回路装置の実装面に対して所定の角度を持って配置される素子を含む複数の素子を一体に封止樹脂にて封止された回路装置を製造することができる。
更に、本発明の回路装置の製造方法に依れば、導電箔を折り曲げる角度を調整することにより、内蔵される素子の実装面に対する角度を任意に設定することが可能となる。
更に、本発明の回路装置の製造方法に依れば、導電箔を直角に折り曲げることにより、回路装置の実装面に対して垂直方向に配置される素子を、装置に内蔵させることができる。
更に、本発明の回路装置の製造方法に依れば、物理量を検出する第1の素子と第2の素子とが一体して封止樹脂により被覆される。従って、物理量を検出する第1の素子を含む複数個の素子を1つの回路装置に内蔵させることが可能となり、素子の実装に必要な面積を低減させることができる。従って、回路装置が内蔵されるビデオカメラ等のセット全体を小型化することができる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1を参照して、回路装置10Aの構成を説明する。図1(A)は回路装置10Aの
斜視図であり、図1(B)は図1(A)の代表的な断面図である。
図1(A)および図1(B)を参照して、回路装置10Aは、第1の基準面16に対して平行に配置された第1の素子11と、第2の基準面17に対して平行に配置された第2の素子12とを具備する。更に、第1の素子11は、第1の基準面16に対して平行に延在する第1の導電パターン13に電気的に接続されている。また、第2の素子12は、第2の基準面17に対して平行に延在する第2の導電パターン14に電気的に接続されている。第1の導電パターン13および第2の導電パターン14は、裏面が露出された状態で、封止樹脂15に埋め込まれている。
第1の素子11としては、変位、移動、圧力、重力、地磁気、衝撃、速度、加速度又は角速度等の物理量を検出可能な素子を採用可能である。本形態では、一例として、角速度を検出するジャイロセンサを、第1の素子11として採用して説明する。
ジャイロセンサである第1の素子11は、中空構造を有し、水晶振動片等の各構成要素が内蔵される。紙面では、第1の素子11は、垂直方向に立てて配置されている。そして、第1の素子11は、第1の基準面16に対して直交する第1の検出軸23回りの角速度(回転速度)を検出することができる。即ち、紙面上では上下方向の回転の程度が第1の素子11により検出される。
第1の導電パターン13は、上述したように裏面が露出するように封止樹脂15に埋め込まれ、ジャイロセンサである第1の素子11に電気的に接続されている。ここでは、第1の導電パターン13は、第1の素子11が固着されるダイパッドおよび金属細線25が接続されるボンディングパッドから構成されている。第1の導電パターン13同士は、第1の分離溝36Aに充填された封止樹脂15により電気的に分離されている。
第2の素子12としては、第1の素子11と同様に、各種物理量を検出可能な素子を採用することができる。また、第2の素子12としてジャイロセンサを採用すると、第1の素子11とは異なる方向の角速度を検出することが可能となる。ここでは、水平方向に第2の素子12が載置される。従って、第2の素子12は、紙面上にて垂直方向に延在する第2の検出軸24回りの角速度を検出することができる。紙面上では、左右方向の回転の程度が第2の素子12により検出される。
更に、第2の素子12として、検出素子以外の素子を採用することも可能である。例えば、第1の素子11により出力された電気信号を処理するLSI(Large Scale Integration)を、第2の素子12として採用することもできる。この場合は、回路装置10Aの内部に於いて、第1の導電パターン13と第2の導電パターン14とを接続する配線パターンが形成される。この配線パターンにより、第1の素子11と第2の素子12とが電気的に接続される。
更に、コンデンサや抵抗等の受動素子を、第1の素子11または第2の素子12として採用することも可能である。
第1の基準面16は、第1の素子11の主面が平行に配置される面である。また、第1の素子11が接続される第1の導電パターン13も、第1の基準面16に対して平行に延在している。ここでは、第1の基準面16は、紙面上にて垂直方向(縦方向)に延在している。
第2の基準面17は、第2の素子12の主面及び第2の導電パターン14が平行に配置される面である。ここでは、第2の基準面17は、紙面上にて水平方向(横方向)に延在している。上述した第2の検出軸24は、第2の基準面17に対して垂直に延在している。
第1の基準面16と第2の基準面17とは、所定の角度(θ)にて交差している。これらの基準面が交差する角度θを直角(90度)にすることで、第1の素子11および第2の素子12により、水平方向および垂直方向の角速度を同時に検出することができる。ここで、角度θは、90度未満でも良いし90度以上でも良い。内蔵される回路素子の種類および使用目的により角度θは変化させることができる。
図1(B)に、回路装置10Aが実装基板20に実装された場合の断面図を示す。ここでは、第1の導電パターン13および第2の導電パターン14の露出面は、被覆樹脂18により被覆されている。更に、外部電極19が形成される領域の第2の導電パターン14の裏面は、被覆樹脂18から露出している。そして、露出する部分の第2の導電パターン14の裏面には、半田等の導電性接着剤から成る外部電極19が形成されている。この外部電極19を介して、回路装置10Aは、実装基板20の表面に形成された導電路21に固着されている。
ここでは、第2の基準面17が実装基板20の主面に対して平行になるように、実装基板20の表面に形成された導電路21に回路装置10Aが固着されている。従って、第2の素子12の主面が実装基板20に対して平行に配置される。そして、第1の基準面16と第2の基準面17とが直角に交差する場合は、第1の素子11の主面は、実装基板20に対して垂直に配置される。
このように回路装置10Aが実装基板20に対して固着されることで、第1の素子11がジャイロセンサの場合は、実装基板20の主面に対して垂直方向の角速度を検出することが可能となる。更に、第1の素子11および第2の素子12の両方がジャイロセンサである場合は、実装基板20の主面に対して水平方向および垂直方向の両方の角速度を検出することが可能となる。
回路装置10Aには、実装面に対して垂直に配置される第1の素子11を含む複数の素子が内蔵されている。従って、実装基板20に対して主面(最大面)が垂直に配置される素子を実装するために、個別のパッケージを用意する必要が無くなる。このことから、実装される部品の数を少なくすることができるので、実装基板20を小型化することができる。
更に回路装置10Aは、第2の導電パターン14の露出面に付着させた外部電極19を介して、実装基板20の導電路21に固着されている。このことから、回路装置10Aを固着させるために、実装基板20に差し込み口を設ける必要がないので、実装基板20の構成を簡略化させることができる。更に、外部電極19を溶融させるリフロー工程により、回路装置10Aを他の部品と共に実装基板20に対して実装可能なので、回路装置10Aを実装する工程を簡略化することができる。
次に、図2の断面図を参照して、他の構成の回路装置の構成を説明する。この図に示す回路装置の基本的構成は、図1を参照して説明した回路装置10Aと同様である。
図2(A)を参照して、回路装置10Bでは、第1の導電パターン13と第2の導電パターン14とを接続するように延在する配線パターン22が形成されている。配線パターン22は、第1の導電パターン13から、第2の導電パターン14まで、曲折して延在している。
配線パターン22を採用することにより、第1の素子11と第2の素子12とを電気的に接続することができる。従って、ジャイロセンサである第1の素子11により出力された角速度に基づく電気信号を、LSIである第2の素子12により処理することができる。
更に、配線パターン22を採用することにより、裏面に外部電極が形成される第2の導電パターン14と第1の素子11とを電気的に接続することもできる。従って、第1の素子11により出力された電気信号を、配線パターン22、第2の導電パターン14および外部電極19を介して、回路装置10Bの外部に取り出すことができる。
図2(B)を参照して、回路装置10Cでは、金属細線25Aにより、第1の導電パターン14と第2の導電パターンとを接続している。ここでの金属細線25Aの作用は、上述した配線パターン22と同様である。
次に、図3から図5を参照して、上記した回路装置の製造方法を説明する。
図3(A)を参照して、先ず、導電パターンの材料となる導電箔30を用意する。導電箔30の材料としては、Cu、Al、Fe−Niの合金等を成分とした金属が採用される。また、導電箔30の厚みは、形成予定の分離溝の深さよりも厚ければ良く、具体的には100μm〜300μm程度である。導電箔30の表面には、導電パターンとなる領域が被覆されるようにレジスト32が形成されている。
図3(B)を参照して、次に、レジスト32をエッチングマスクとしてウェットエッチングを行うことにより、導電箔30の表面に分離溝を形成して、凸状に突出する導電パターンを形成する。ここでは、導電パターンは、第1の導電パターン13および第2の導電パターン14とから成る。第1の導電パターン13は、後の工程で第1の素子と電気的に接続されるパターンである。第2の導電パターン14は、後の工程で第2の素子と電気的に接続されるパターンである。
本工程により、導電箔30の表面に第1の分離溝36Aおよび第2の分離溝36Bが形成される。第1の分離溝36Aは、第1の導電パターン13同士の間または第2の導電パターン14同士の間に形成される分離溝であり、各導電パターンを分離するために形成される。第2の導電パターン14は、折り曲げ予定の導電箔30の領域に形成されている。本形態では、第1の導電パターン13と第2の導電パターン14との境界で導電箔30が曲折される。従って、第2の分離溝36Bは、第1の導電パターン13と第2の導電パターン26Bとの境界に、直線状に延在している。
一例として、第1の分離溝36Aの幅は100μm〜200μm程度であり、その深さは40μm〜60μm程度である。それに対して、例えば、第2の分離溝36Bの幅は200μm〜300μm程度であり、その深さは60μm〜80μm程度である。
第2の分離溝36Bの幅および深さを充分に大きくすることにより、第2の分離溝36Bが設けられた部分にて導電箔30を曲折される後の工程にて、導電パターン同士が接触してショートすることを防止することができる。
また、第1の分離溝36Aと第2の分離溝36Bとを比較すると、第2の分離溝36Bの幅を第1の分離溝36Aよりも広くすることが好適である。このことにより、導電箔30を折り曲げる際の導電パターン同士のショートを防止して、更に、回路装置全体を小型化することができる。例えば、第1の分離溝36Aおよび第2の分離溝36Bの幅を、300μm程度に広くすると、導電箔30を折り曲げる際のショートは防止できるが、導電パターン同士が離間しすぎて、回路装置全体が大型化してしまう恐れがある。一方、第1の分離溝36Aおよび第2の分離溝36Bの幅を例えば100μm程度に狭くすると、導電パターン同士が互いに接近することにより回路装置の小型化には寄与するが、導電箔30を折り曲げる際にパターン同士がショートしてしまう恐れがある。従って、第2の分離溝36Bの幅を第1の分離溝36Aよりも広くすることが好適である。
しかしながら、導電箔30を曲折する際の導電パターン同士のショートが問題にならなければ、第1の分離溝36Aの幅と第2の分離溝36Bの幅を同一にしても良い。
本工程が終了した後に、レジスト32は剥離される。また、素子の実装およびワイヤボンディングが行われる部分の導電パターンの表面には、Au、Ag等のメッキ膜が形成される。
図3(C)を参照して、次に、各導電パターンに素子を電気的に接続する。具体的には、ランド状の第1の導電パターン13に、固着材を介して第1の素子11を固着する。ここで、固着材としては、半田、導電性ペーストまたは絶縁性の接着剤が採用される。第1の素子11としては、上述したように物理量を感知する素子が採用される。第1の素子11の表面に形成された電極(不図示)と、パッド状の第1の導電パターン13は、金属細線25により接続される。また、第2の素子12も、ダイパッド状の第2の導電パターン14に固着され、金属細線25を介してパッド状の第2の導電パターン14と接続される。
図3(D)を参照して、次に、第2の分離溝36Bが形成された部分にて、導電箔30を曲折させる。上述したように、第2の分離溝36Bは十分に広く且つ深く形成されていており、導電基板30を曲折させても、端部に位置する導電パターン同士は接触しないので、パターン同士のショートが防止されている。
このように導電箔30を曲折させることにより、第1の素子11と第2の素子12とを、所定の角度で交差する基準面に対して平行に配置させることができる。ここで、第1の素子11の主面が平行に配置される基準面を第1の基準面16とし、第2の素子12の主面が平行に配置される基準面を第2の基準面17とする。導電箔30を所定の箇所にて曲折させることで、第1の基準面16と第2の基準面17とを所定の角度(θ)にて交差させることができる。ここでは、一例として、第1の基準面16と第2の基準面17とを直交(θ=90度)させている。従って、第1の素子11および第2の素子の両方がジャイロセンサである場合は、水平方向および垂直方向の両方向に対して角速度を検出することが可能となる。また、角度θは、90度以上でも良いし、90度未満でも良い。
図4(A)を参照して、次に、分離溝に充填され且つ素子が被覆されるように封止樹脂15を形成する。具体的には、封止樹脂15は、第1の分離溝36Aおよび第2の分離溝36Bに充填される。更に、封止樹脂15は、第1の素子11、第2の素子12および金属細線25を被覆するように形成される。封止樹脂15の形成は、ポッティング、トランスファーモールド、インジェクションモールド等により行うことができる。封止樹脂15の材料としては、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂、ポリイミド樹脂等の熱可塑性樹脂を採用することができる。
図4(B)を参照して、次に、導電パターンが分離されるように導電箔30を裏面から除去する。具体的には、第1の分離溝36Aおよび第2の分離溝36Bに充填された封止樹脂15が露出して、第1の導電パターン13および第2の導電パターン14が互いに分離されるまで、導電箔30を裏面から除去する。導電箔30の除去は、導電箔30の裏面が一様に薄くなるように機械的に研削した後に、ウェットエッチングを行っても良い。更には、ウェットエッチングのみにより、導電箔30を裏面から除去しても良い。
図4(C)を参照して、次に、被覆樹脂18および外部電極19を形成する。先ず、第1の導電パターン13および第2の導電パターン14の露出面が被覆されるように被覆樹脂18を形成する。次に、第2の導電パターン14の裏面を部分的に被覆樹脂18から露出させた後に、露出する部分の第2の導電パターン14に外部電極19を形成する。外部電極19の形成は、半田ペーストを第2の導電パターン14の露出面に付着させた後に、この半田ペーストを溶融させることにより行うことができる。
上述した工程により図1に示すような回路装置10Aが製造される。更に、外部電極19を介して、この回路装置は、実装基板やセットの内壁等に実装される。外部電極19を介して回路装置10を実装することにより、内蔵される第1の素子11の主面を、実装面に対して垂直に配置することができる。
図5の各断面図を参照して、次に、他の形態の回路装置の製造方法を説明する。上述した製造方法では、導電箔30を裏面から全面的に除去することで、各導電パターンを分離していた。ここでは、導電箔30の裏面を部分的にレジスト27で被覆してからエッチングを行うことで、第1の導電パターン13と第2の導電パターン14とを接続する配線パターン22を形成している。
図5(A)を参照して、先ず、導電箔30の裏面を部分的にレジスト27にて被覆する。ここでは、第2の分離溝36Bに対応する領域の導電箔30の裏面に、部分的にレジスト27Aが形成されている。このレジスト27Aは、所望の第1の導電パターン13と第2の導電パターン14とを接続する配線パターンが形成されるように、導電箔30の裏面に形成されている。更に、ここでは、第1の導電パターン13および第2の導電パターン14に対応する領域の導電箔30の裏面も、レジスト27により被覆されている。
図5(B)を参照して、次に、レジスト27をエッチングマスクとしてウェットエッチングを行い、各導電パターンを分離する。ここでは、導電パターンの裏面を被覆した状態でエッチングを行うので、第1の導電パターン13および第2の導電パターン14の裏面は、封止樹脂15の裏面よりも外部に突出する。更に、レジスト27Aにより被覆された領域の導電箔30は、エッチングにより除去されず、配線パターン22として残存する。配線パターン22は、第1の導電パターン13と第2の導電パターン14とを接続するように延在している。
図5(C)を参照して、次に、被覆樹脂18により、露出する第1の導電パターン13、第2の導電パターン14および配線パターン22を被覆する。更に、部分的に第2の導電パターン14の裏面を被覆樹脂18から露出させ、外部電極19を形成する。
本発明の回路装置を示す図であり、(A)は斜視図、(B)は断面図である。 本発明の回路装置を示す図であり、(A)および(B)は断面図である。 本発明の回路装置の製造方法を示す図であり、(A)−(D)は断面図である。 本発明の回路装置の製造方法を示す図であり、(A)−(C)は断面図である。 本発明の回路装置の製造方法を示す図であり、(A)−(C)は断面図である。 従来の回路装置を示す斜視図である。
符号の説明
10A、10B、10C 回路装置
11 第1の素子
12 第2の素子
13 第1の導電パターン
14 第2の導電パターン
15 封止樹脂
16 第1の基準面
17 第2の基準面
18 被覆樹脂
19 外部電極
20 実装基板
21 導電路
22 配線パターン
23 第1の検出軸
24 第2の検出軸
25 金属細線
27 レジスト
30 導電箔
32 レジスト
36A 第1の分離溝
36B 第2の分離溝

Claims (5)

  1. 導電箔の表面に分離溝を形成し、導電パターンを形成する工程と、
    前記導電パターンに素子を固着して、前記素子と前記導電パターンとを電気的に接続する工程と、
    前記分離溝が設けられた箇所にて前記導電箔を曲折させる工程と、
    前記素子を被覆して前記分離溝に充填されるように封止樹脂を形成する工程と、
    前記分離溝に充填された前記封止樹脂が露出するまで、前記導電箔を裏面から除去する工程とを具備することを特徴とする回路装置の製造方法。
  2. 第1の導電パターンおよび第2の導電パターンが形成されるように導電箔の表面から第1の分離溝を形成し、曲折される部分の前記導電箔の表面から第2の分離溝を設ける工程と、
    前記第1の導電パターンに物理量を検出する第1の素子を電気的に接続し、前記第2の導電パターンに第2の素子を接続する工程と、
    前記第2の分離溝が設けられた箇所にて前記導電箔を曲折する工程と、
    前記両素子を被覆して前記第1の分離溝および前記第2の分離溝に充填されるように封止樹脂を形成する工程と、
    前記第1の分離溝および前記第2の分離溝に充填された前記封止樹脂が露出するまで、前記導電箔を裏面から除去する工程とを具備することを特徴とする回路装置の製造方法。
  3. 前記導電箔を曲折する工程では、
    前記導電箔を直角に折り曲げることを特徴とする請求項1または請求項2記載の回路装置の製造方法。
  4. 前記第2の分離溝を、前記第1の分離溝よりも幅を広く形成することを特徴とする請求項2記載の回路装置の製造方法。
  5. 前記第2の分離溝を、前記第1の分離溝よりも深く形成することを特徴とする請求項2記載の回路装置の製造方法。
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