JP4197251B2 - 光源駆動装置と情報記録装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、画像形成装置又は情報記録装置に搭載される多値レベル化及びマルチパルス化された光変調波形を駆動及び制御するレーザ駆動制御装置等の光源駆動装置と、その光源駆動装置を搭載したＭＤドライブ装置，ＭＯドライブ装置，ＣＤ−Ｒドライブ装置，ＣＤ−ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ−Ｒドライブ装置，ＤＶＤ−ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ＋ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ装置などの情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光変調によって記録を行う光ディスク装置においては、１ビームオーバーライト技術や高密度化のための記録マーク形状制御のため、レーザ光の光変調波形をマルチパルス化，多値レベル化して制御する技術が必須となっており、それにともなって光源駆動部（以下「ＬＤドライバ」とも称する）においては複数のＬＤ駆動電流を切り換える（スイッチングする）必要があり、入力される信号線が増加する。
また、今後さらに情報記録媒体に対して高速記録及び高密度記録を行うためには、データの転送レートの増大，パルス分割幅のより細分化，さらにパワーのレベル数の増加が避けられない。
【０００３】
レーザ光を照射するピックアップは情報記録媒体の半径方向に可動（この動作を「シーク動作」と呼ぶ）させるため、ピックアップと信号処理部等が搭載されている回路基板とはフレキシブルプリント回路（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ ＰｒｉｎｔＣｉｒｃｕｉｔ：ＦＰＣ）基板と呼ばれる曲げの可能な基板で接続されるのが一般的であり、ＬＤドライバはピックアップに搭載された光源（レーザダイオード：ＬＤ）の近傍に配置し、信号制御部からＬＤドライバまではこのＦＰＣ基板を用いて配線している。
しかし、光変調制御信号を供給するＦＰＣ基板はある程度の長さとなることは避けられないので、光変調制御信号波形の歪み，遅延（特に複数の制御信号間の遅延差（「スキュー」と称する））等によるＬＤ駆動電流のスイッチタイミングのずれが生じ、ＬＤ駆動電流を切り換えるスイッチが同時に切り換わる時点で波形に乱れが生じ、所望の光波形でレーザ発光させることができなくなる。
【０００４】
図２５は、その説明図である。
同図の（ａ）の電流源３００のＩｂ，Ｉｅ，Ｉｗは、光源ＬＤ３０３の照射レベルに対応した電流を供給し、スイッチ３０１のＳＷ１とＳＷ２はそれぞれ信号Ｓ１とＳ２に従って各電流を選択後、その各電流は加算回路３０２で加算され、その電流が光源ＬＤ３０３を駆動する。信号Ｓ１がハイで信号Ｓ２がローの時は光源ＬＤ３０３には電流Ｉｂ＋Ｉｅが流れてイレースパワーＰｅで照射する。また、信号Ｓ１がローで信号Ｓ２がハイの時は光源ＬＤ３０３には電流Ｉｂ＋Ｉｗが流れてライトパワーＰｗで照射する。ところが、同図の（ｂ）にｍで矢示するように、信号Ｓ１に遅延が発生して信号Ｓ１とＳ２の間にスキューが生じると、Ｐｅ→Ｐｗへの照射レベル変化の際に光波形に乱れ（同図の（ｂ）に破線枠で囲んだ部分）が生じる。
【０００５】
上述のように所望の光波形でレーザ発光させることができなくなると、マーク形状やマークの位置の精度が損なわれ、その結果としてデータエラーの原因になる。特に光ディスク装置固有のスキューに対して高速化記録を行う際にはこの影響はより顕著に現れる。
例えば、１ｎｓ程度のスキューが生じている光ディスク装置において、ＣＤ１倍速記録を行う際には、１チャネルクロック周期Ｔは約２３０ｎｓであり、通常このチャネルクロック周期Ｔに対してＴ／３２程度の分解能（〜７ｎｓ）でパルス幅を設定する必要があり（なお、情報記録媒体によってはＴ／４０の分解能が必要なものもある）、スキューが１ｎｓ程度あったとしてもさほど影響は生じない。
【０００６】
しかし、ＣＤ４８倍速記録を行う際にはＴ＝約４．８ｎｓであり、約１５０ｐｓ程度のパルス幅設定分解能が必要になり、１ｎｓものスキューは許容できるものではなく、上述のように所望の光波形でレーザ発光させることができなくなってマーク形状やマークの位置の精度が損なわれ、その結果としてデータエラーの原因になるという問題があった。
そこで、このような問題を解決するものとして、複数の電流源の電流を切り換えるスイッチ手段を介してＬＤに供給するＬＤ駆動手段と、情報記録媒体に記録する２値化記録信号に対応してＬＤを駆動する駆動波形（光変調波形）を復元し、スイッチ手段を制御する駆動波形復元手段とを同一のレーザ駆動集積回路に設けることにより、ＬＤ駆動手段と駆動波形復元手段との間の配線を短くしてスキュー発生を防止した光源駆動装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００７】
【特許文献１】
特開平１１−２８３２４９号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の光源駆動装置では、ＬＤ駆動手段と駆動波形復元手段とを同一集積回路に設けたとしても、各スイッチング制御信号を生成する回路やスイッチの遅延，制御信号線の線路長，負荷条件など全てを等価にすることは困難であり、少なからずはスキューが発生する。今後のより高速化の要求に対してはこの微小なスキューであっても無視できなくなる恐れもあり、根本的な解決にならないという問題があった。
【０００９】
また、今後さらに情報記録媒体への高速化，高密度化記録が求められると、光変調制御信号生成部（駆動波形復元手段）では、より高速動作及び高集積化が求められるため微細なＣＭＯＳプロセスが好適となるが、一方では、ＬＤ駆動部には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖなど）が要求される。
【００１０】
しかしながら、通常、微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難である（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しかない）ので、高速化の実現が困難であったり、あるいは大幅なコストアップを招き、消費電力が増大し、集積回路サイズの増大するなどの多くの不具合が生じるという問題もあった。さらには、上記スキュー量はデバイスのバラツキなどによって個体間で異なることもある。
【００１１】
さらには、光変調制御信号を伝送する際（特にＦＰＣ基板上を伝送する際は顕著となるが）、理想的な二値化信号波形で伝送されず、受信側では信号波形のなまりが生じ、その信号波形のなまりが立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまう。
つまり、光波形を所望の光波形で発光させることができなくなり、マーク形状やマークの位置の精度が損なわれた結果としてデータエラーの原因になる。
【００１２】
図２６はその問題を説明するための信号波形図である。
同図の（ａ）は理想的な二値化波形を示しており、同図の（ｂ）は波形のなまりが生じて立上り時間と立下り時間が異なった場合の波形例を示しており、同図の（ｃ）は同図の（ｂ）の波形を図示したスライスレベルで二値化した場合の波形を示している。立下り時間が異なるとパルス幅が理想値と異なる。
また、同図の（ｅ）は、同図の（ｄ）に示すなまりの生じた波形に対して異なるスライスレベル（ｉ）〜（ｉｉｉ）で二値化した場合の波形を示している。その実線，破線，一点鎖線で示す部分はそれぞれスライスレベル（ｉ）（ｉｉ）（ｉｉｉ）に対応する。
【００１３】
このようにスライスレベルが異なると、二値化した信号のパルス幅が変動する。また、スライスレベルが一定であっても、伝送時の損失などによって入力電圧振幅が変動しても同様の問題が生じる。
このようなパルス幅変動量は伝送路などによって決まるため、光ディスク装置によって固定であり、変調信号の立上り／立下り時間が必要なパルス幅精度に対して十分短い場合は大きな問題とはならないが、高速記録の際にパルス幅が狭くなりパルス幅精度も短いものが要求されると、１ｎｓｅｃ程度の立上り時間でのパルス幅変動による影響は無視できず、この問題はより顕著に現れる。
さらには、高速化が進んでよりパルス幅が短くなり、パルス幅Ｔｗ＜立上り時間Ｔｒ，立下り時間Ｔｆとなると、二値化した際パルス幅が変動してしまう（同図の（ｆ）〜（ｈ）参照）。つまり、あるパルス幅以下のパルスのみパルス幅が変動してしまうという問題も生じる。
【００１４】
また、複数の光変調制御信号間で立上り時間や立下り時間あるいはスライスレベルや入力電圧振幅の差があると、光変調制御信号間のスキューが生じ、上述したスキューによる光波形の乱れの問題が起こる。
このような問題を解決する手段として、光変調制御信号を差動信号で転送する技術が提案されている。
しかしながら、その従来の技術では光変調制御信号の信号線数が二倍になるため、ＦＰＣ基板幅が拡大し、ピックアップの小型化を妨げてしまう。また、集積回路のピン数も増加するためコストアップになるという問題があった。
【００１５】
この発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、情報記録媒体に対する高速記録及び高密度記録時、光変調制御信号波形の歪み，スキュー，信号伝送によるパルス幅の変動等によって光変調波形が所望値からずれるのを抑制し、高速化などの要求に対してもコスト，性能などを犠牲にすることなく実現できる光源駆動装置を提供することを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記の目的を達成するため、次の（１）〜（７）の各光源駆動装置を提供する。
（１）光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、その変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、その電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、その生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、上記変調信号生成手段から出力された変調信号の出力電圧を調整する出力電圧調整手段と、その出力電圧調整手段によって調整された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、そのパルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記出力電圧調整手段による調整時の出力電圧を制御する出力電圧制御手段を備えた光源駆動装置。
【００１９】
（２）光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、その変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、その電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、その生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、上記変調信号生成手段から出力された変調信号を所定のスライスレベルに基づいて二値化する二値化手段と、その二値化手段によって二値化された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、そのパルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記二値化手段による二値化時のスライスレベルを制御するスライスレベル制御手段を備え、上記スライスレベル制御手段を、上記パルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記二値化手段による二値化時の各変調信号毎にそれぞれのスライスレベルを個々に制御する手段にした光源駆動装置。
（３）（１）の光源駆動装置において、上記パルス幅検出手段を、上記光源の出射光量の一部を受光素子でモニタして生成されるモニタ受光信号を平滑化することによって上記出力電圧調整手段によって調整された変調信号のパルス幅を検出する手段にした光源駆動装置。
（４）（２）の光源駆動装置において、上記パルス幅検出手段を、上記光源の出射光量の一部を受光素子でモニタして生成されるモニタ受光信号を平滑化することによって変調信号のパルス幅を検出する手段にした光源駆動装置。
（５）光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、その変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、その電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、その生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、上記変調信号生成手段から出力された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、そのパルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記駆動波形生成情報を変更することにより上記変調信号のパルス幅を調整するパルス幅制御手段を備えた光源駆動装置。
【００２３】
（６）（１）乃至（５）のいずれかの光源駆動装置において、上記電流源選択手段で上記各変調信号によって複数の電流を選択するタイミングの差を検出する遅延検出手段と、その遅延検出手段の検出結果に基づいて上記電流源選択手段による上記各変調信号によって複数の電流を選択するタイミングの差がほぼ０になるように各々の変調信号の遅延量を制御する遅延制御手段とを設けた光源駆動装置。
（７）（１）乃至（６）のいずれかの光源駆動装置において、上記変調信号のハイレベル出力電圧及びローレベル電圧電圧を任意に定めるようにした光源駆動装置。
【００２４】
また、次の（８）の情報記録装置も提供する。
（８）（１）乃至（７）のいずれかの光源駆動装置を搭載した情報記録装置。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の参考技術と実施形態を図面に基づいて具体的に説明する。
まず、この発明と参考技術の光源駆動装置を適用する情報記録再生装置の全体構成及び動作概要について説明する。
図１は、この発明の参考技術と一実施形態である情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
情報記録媒体１００は再生すべき情報が記録された光ディスク又は情報の記録が行われる光ディスク（例えば、ＣＤ−ＲＯＭディスク，ＤＶＤ−ＲＯＭディスク，ＣＤ−Ｒディスク，ＣＤ−ＲＷディスク，ＤＶＤ−Ｒディスク，ＤＶＤ−ＲＡＭディスク，ＭＤディスク，ＭＯディスクなどの光ディスク等）である。
【００２６】
ピックアップ１０１は、光源（例えば半導体レーザ（ＬＤ））１０２からの出射光を情報記録媒体１００に照射して情報の記録を行ったり、情報記録媒体１００からの反射光を受光して受光信号に変換するものであり、光源１０２や光源１０２を駆動する光源駆動部（ここでは図示を省略する），反射光を受光して受光信号に変換する受光部１０３などが配置されている。また、ピックアップ１０１には光源１０２の出射光の一部をモニタするモニタ受光部も配置され、そのモニタ受光部からの出力であるモニタ信号によって光源１０２の出射光量変動が制御される。さらに、情報記録媒体１００の照射光に対する傾き（「チルト」と呼ぶ）を検知するためのチルト検出受光部などが配置される場合もある。さらにまた、異なる媒体フォーマットが定められた複数種類の情報記録媒体に対応する情報記録再生装置の場合（例えば、ＤＶＤ及びＣＤ両対応装置など）、それぞれの情報記録媒体に好適な波長の光源を持つ場合があり、それぞれの光源出射時に情報記録媒体からの反射光を受光する受光部やモニタ受光部を別個に備える場合もある。
【００２７】
信号処理部１０４は、ピックアップ１０１に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様々な信号処理が行われる。例えば、受光信号から情報を再生したり、情報記録媒体の回転に伴う面振れやトラックの半径方向の振れなどの変動に対して常に所定の誤差内で光を照射するように制御（フォーカスサーボ制御及びトラックサーボ制御）するために受光信号からサーボエラー信号を生成し、そのサーボエラー信号に基づいてピックアップ１０１を制御する。また、記録すべき情報を所定の規則に従って変調し、記録信号として光源１０２（または光源駆動部）に出力したり、光源１０２の出力光量制御を行う。
【００２８】
回転駆動部１０５は、データ記録及び再生時に情報記録媒体１００を所定の回転速度で回転させるものであり、信号処理部１０４によって回転速度が制御（スピンドルサーボ制御）される。例えば、ＣＬＶ回転制御を行う際には、より精度よく回転制御をするために情報記録媒体１００に埋め込まれた回転制御信号をピックアップ１０１を介して検出し、その回転制御信号に基づいて回転制御を行う。回転制御信号には、例えば再生専用の情報記録媒体などでは記録された情報に所定間隔で配置された同期信号などを用い、記録可能な情報記録媒体では記録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルなどを用いる。
コントローラ１０６は、図示を省略したホストコンピュータとの記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行うと共に、この情報記録再生装置の全体の制御を行う。
【００２９】
ピックアップ１０１は情報記録媒体１００の半径方向にシーク動作させるため、ピックアップ１０１と信号処理部１０４等が搭載されている回路基板とはＦＰＣ基板（またはケーブル）と呼ばれる基板（またはケーブル）で接続しており、光源１０２や受光部１０３等のピックアップ１０１に搭載される部品はこのＦＰＣ基板に実装することもできる。
【００３０】
次に、上記情報記録再生装置の信号処理部の構成及び動作概略について説明する。
図２は、図１に示した情報記録再生装置の信号処理部１０４の構成を示すブロック図である。
この実施形態では、異なるフォーマットの情報記録媒体へ対応させるために二つの光源ＬＤ１と光源ＬＤ２（図１の光源１０２に相当する）を備えており、受光部ＰＤ２及び受光部ＰＤ５（図１の受光部１０３に相当する）によってそれぞれの光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の照射光の一部をモニタする。
【００３１】
受光部ＰＤ１では光源ＬＤ１の照射時に情報記録媒体からの反射光を受光し、受光部ＰＤ４では光源ＬＤ２の照射時に情報記録媒体からの反射光を受光する。受光部ＰＤ３はチルト量を検知する。受光部ＰＤ１，受光部ＰＤ３，受光部ＰＤ４（図１の受光部１０３に相当する）は、複数に分割された分割受光素子によって受光している。
なお、ピックアップによっては光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の出射光を同一の受光部でモニタする場合もある。同様に、情報記録媒体からの反射光を受光する受光部も同一とする場合もある。
【００３２】
受光信号処理部４は、受光部ＰＤ１，受光部ＰＤ３，受光部ＰＤ４がそれぞれ出力する各受光信号を入力し、その各受光信号のオフセット調整及びゲイン調整などの処理を行う。
サーボ信号演算処理部１３は、受光信号処理部４から供給される各受光信号からサーボエラー信号を生成する。同時に、オフセット調整とゲイン調整も行い、生成したサーボエラー信号をサーボプロセッサ１４へ供給する。
ＲＦ選択部５は、受光部ＰＤ１及び受光部ＰＤ４の出力する受光信号を入力し、後段の回路に必要な信号を選択あるいは一部加減算などの演算を行って供給する。
ウォブル信号生成部６は、ＲＦ選択部５から入力される信号に基づいて記録可能な情報記録媒体にプリフォーマットされたウォブルを検出するものである。
【００３３】
ウォブル信号処理部１５は、ウォブル信号生成部６によって生成されたウォブル信号から二値化ウォブル信号を抽出し、ＷＣＫ生成部１７及び回転制御部１８へ供給する。また、ウォブルに情報記録媒体毎に所定の規則で変調されたアドレス情報を復調し、コントローラ１９（図１のコントローラ１０６に相当する）へ供給する。
ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６は、ＲＦ選択部５から入力された再生ＲＦ信号から二値化ＲＦ信号を生成し、再生している情報記録媒体の変調方式規則に則って復調を行う。また、ＰＬＬ回路によって二値化ＲＦ信号から再生クロックを抽出する。復調したデータはコントローラ１９へ供給する。さらに、二値化ＲＦ信号に所定間隔で挿入された同期信号より回転制御信号を抽出して回転制御部１８へ供給する。
【００３４】
回転制御部１８は、ウォブル信号処理部１５又はＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６から入力される信号から回転制御を行うためのスピンドルエラー信号を生成し、サーボプロセッサ１４へ供給する。また、情報記録媒体を角速度一定（ＣＡＶ）で回転させる場合は回転制御駆動部（図示を省略）から出力されるディスク回転を示す信号（図示を省略）によってスピンドルエラー信号を生成する。
サーボプロセッサ１４は、コントローラ１９からの指令に基づいて入力される各種サーボエラー信号からサーボ制御信号を生成し、サーボドライバ７へ出力する。
サーボドライバ７は、サーボプロセッサ１４から入力されるサーボ制御信号に基づいてサーボドライブ信号を生成する。各駆動部は供給されたサーボドライブ信号によってサーボ制御動作が行われる。ここでは、フォーカス制御，トラック制御，シーク制御，スピンドル制御，チルト制御である。
【００３５】
ＷＣＫ生成部１７は、ウォブル信号処理部１５から供給された二値化ウォブル信号に基づいて記録クロック信号ＷＣＫを生成し、ＬＤ変調信号生成部集積回路２のＬＤ変調信号生成部１０とコントローラ１９の各部へ供給する。記録時にはその記録クロック信号ＷＣＫを基準にして記録データの生成などが行われる。
記録時には、コントローラ１９から記録クロック信号ＷＣＫに同期して記録データ信号ＷｄａｔａがＬＤ変調信号生成部１０へ供給される。その記録データ信号Ｗｄａｔａは記録すべき情報が所定の規則に従って変調されている。
ＬＤ変調信号生成部１０は、ＷＣＫ生成部１７から入力される記録クロック信号ＷＣＫ及びコントローラ１９から入力される記録データ信号Ｗｄａｔａから光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を変調するためのＬＤ変調信号を生成し、ＬＤ駆動集積回路３のＬＤ駆動部１２へ供給する。
【００３６】
ＬＤ制御部９は、受光部ＰＤ２あるいは受光部ＰＤ５からのモニタ受光信号を入力し、そのモニタ受光信号に基づいて光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の出射光量が所望の値になるようにＬＤ駆動部１２へＬＤ制御信号を供給する（いわゆる自動記録パワー（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ：ＡＰＣ）制御を行う）。
ＬＤ駆動部１２は、ＬＤ制御部９から入力されるＬＤ制御信号及びＬＤ変調信号生成部１０から入力されるＬＤ変調信号に基づいて光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を電流駆動して発光させる。
また、コントローラ１９からは各部の制御信号が出力される。
【００３７】
次に、上記駆動・制御対象となる光源ＬＤ１と光源ＬＤ２について説明する。通常、ＬＤの駆動電流ＩＬＤに対する光出力Ｐｏは次の数１に示す演算式に基づく演算処理によって近似することができる。ここで、η：微分量子効率、Ｉｔｈ：閾値電流である。
図３は、光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の駆動電流−光出力特性の一例を示す線図である。
【００３８】
図３の（ａ）は、ＬＤの駆動電流ＩＬＤに対する光出力Ｐｏの特性を示す線図であり、（ｉ）と（ｉｉ）は微分量子効率（η，η′）と閾値電流（Ｉｔｈ，Ｉｔｈ′）がそれぞれ変動した場合を示す。同図の（ｃ）は駆動電流ＩＬＤの電流量を示す図であり、一定のバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍ（時間ｔに対する波形を示す）とを加算した値となる。光源ＬＤの特性が（ｉ）である場合は、同図の（ｃ）に示した駆動電流を流すと、同図の（ｂ）に示す光波形Ｐが得られる。同様にして、光源ＬＤが（ｉｉ）の特性の場合には、同図の（ｄ）に示すようにバイアス電流Ｉｂ′と変調電流Ｉｍ′を加算した電流をＬＤに駆動すると、同図の（ｂ）に示す光波形Ｐが得られる。
【００３９】
【数１】
Ｐｏ＝η・（ＩＬＤ−Ｉｔｈ）
【００４０】
つまり、図３の（ａ）に示すように、所望の光変調波形Ｐを得るためには、ＬＤ駆動電流ＩＬＤをバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍの和（Ｉｂ＋Ｉｍ）とした場合、バイアス電流Ｉｂは閾値電流Ｉｔｈにほぼ等しく、変調電流Ｉｍは図３の（ｂ）に示すような光変調波形Ｐ＝η・Ｉｍとなる電流を駆動すればよい。
しかし、一般に、この閾値電流Ｉｔｈと微分量子効率ηは個体間のばらつきのみならず、温度変化によっても変動するため、所望の光変調波形Ｐを常時得るためには、閾値電流Ｉｔｈ及び微分量子効率ηの変動に伴ってバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍを制御することが望ましい。
【００４１】
例えば、図３の（ａ）に示す（ｉ）の閾値電流Ｉｔｈと微分量子効率ηが、（ｉｉ）のように閾値電流がＩｔｈ′に、微分量子効率がη′にそれぞれ変動した場合、所望の光変調波形Ｐを得るためには、バイアス電流Ｉｂ′を閾値電流Ｉｔｈ′に、変調電流Ｉｍ′を図３の（ｃ）に示すように光変調波形Ｐ＝η′・Ｉｍ′となるように制御すればよい。
すなわち、図２に示したＬＤ制御部９がこの制御機能を果たす。
【００４２】
次に、この発明の光源駆動装置の参考技術と一実施形態を図面に基づいて説明する。
図４は、この発明の参考技術の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
この光源駆動装置は、ＬＤ変調信号生成部１０を含むＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ制御部９及びＬＤ駆動部１２からなるＬＤ駆動集積回路３とからなっており、異なるプロセスで作製される集積回路である。ＬＤ駆動集積回路３は駆動するＬＤ１０２の近傍に配置し、ピックアップ１０１に搭載する。
【００４３】
ＬＤ変調信号生成部集積回路２のＬＤ変調信号生成部１０は、記録クロック信号ＷＣＫからｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫ及びＰＣＫと所定量づつ位相の異なる複数のクロックＣＫ０〜ＣＫ７を生成するフェーズロックループ部（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ：ＰＬＬ）２０と、コントローラ１９（図１のコントローラ１０６に相当する）から供給される記録データ信号Ｗｄａｔａのランレングスを検出してランレングス信号Ｌｅｎを供給し、所定量記録データ信号を遅延させた遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａを出力するランレングス検出部２１を備えている。
【００４４】
さらに、光源ＬＤの駆動波形に基づく駆動波形生成情報を格納しておき、ランレングス信号Ｌｅｎに対応した情報を遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａに合わせて出力する駆動波形生成情報保持部２２と、その駆動波形生成情報から変調信号Ｍ０〜Ｍ２を生成する変調信号生成部２３と、その変調信号Ｍ０〜Ｍ２をそれぞれ所定量パルス幅を増加又は減少させて変調信号ＭＯＤ０〜ＭＯＤ２を供給するパルス幅調整部５０と、変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅を制御するパルス幅制御信号をパルス幅調整部５０へ供給するパルス幅制御部５２と、遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ（又は記録データ信号Ｗｄａｔａ）からＬＤ制御用タイミング信号を生成するＬＤ制御タイミング信号生成部２６と、コントローラ１９から供給される制御コマンドを受け各部へ制御信号を供給する制御部２５を備えている。また、パルス幅制御を行う際にパルス幅検出のためのテスト信号を生成するテスト信号生成部５３も備えている。
【００４５】
一方、ＬＤ駆動集積回路３は、光源ＬＤ（図２の光源ＬＤ１と光源ＬＤ２に相当する）の照射レベルＰ０，Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ対応した照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａ及び変調信号Ｍｏｄ０，Ｍｏｄ１，Ｍｏｄ２に基づいてＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを生成する変調部２７と、光源ＬＤの出射光の一部をモニタするモニタ受光部ＰＤ（図２の受光部ＰＤ２，ＰＤ５に相当する）からのモニタ受光信号を入力し、そのモニタ受光信号に基づいて光源ＬＤの出射光量が所望の値になるようにバイアス電流Ｉｂｉａｓ及び変調電流のスケールを指示するスケール信号Ｉｓｃｌを制御するＬＤ制御部３３と、ＬＤ変調電流Ｉｍｏｄとバイアス電流Ｉｂｉａｓを加算する加算部３１と、加算部３１から供給される電流を増幅して光源ＬＤの駆動電流ＩＬＤを供給する電流駆動部３２と、コントローラ１９から（あるいは制御部２５を介して）供給される制御コマンドを受けて各部へ制御信号を供給する制御部３４とから構成されている。
【００４６】
また、変調部２７は、照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａに基づいてそれぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２を供給する３個の電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜２８ｃからなる電流源２８と、変調信号Ｍｏｄ０，Ｍｏｄ１，Ｍｏｄ２に従ってそれぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２をオンオフ制御する３個のスイッチ２９ａ〜２９ｃからなるスイッチ（ＳＷ）２９と、スイッチ２９の出力する各電流を加算してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを供給する加算部３０とから構成される。
上記ＬＤ制御部３３が図２のＬＤ制御部９に相当し、上記２７〜３２，３４が図２のＬＤ駆動部１２の内部構成である。
【００４７】
この光源駆動装置においては、電流源２８とスイッチ２９及び変調信号Ｍｏｄの組み合わせを増やすことによって対応できる。
ここでは説明を簡単にするため、図５に示すように三値レベルで記録する場合について説明する。
図５は、図４に示した各部の出力信号の信号波形の一例を示す図であり、ここで想定する情報記録媒体は相変化型情報記録媒体（例えば、ＣＤ−ＲＷディスク，ＤＶＤ−ＲＷディスク，ＤＶＤ＋ＲＷディスクなど）とし、同図の（ｃ）に示す記録データ信号Ｗｄａｔａ及び同図の（ｂ）に示す記録クロック信号ＷＣＫに基づいて、同図の（ｄ）に示すような光変調波形Ｐで光源ＬＤを発光させて、情報記録媒体の記録面に同図の（ｅ）に示す記録マークを形成する。
【００４８】
また、同図の（ａ）に示すライトゲート信号ＷＧは記録／再生の切換えを指示し、ローの期間は再生を（再生パワーＰｒ）、ハイの期間は記録データ信号Ｗｄａｔａ及び記録クロック信号ＷＣＫに基づいて光源ＬＤを発光させる。
同図の（ｇ−１）〜（ｇ−３）に示したＭｏｄ０〜Ｍｏｄ２は、スイッチ２９をスイッチングする変調信号であり、スキューのない状態を示す。
同図の（ｈ−１）〜（ｈ−３）に示したＭ０′，Ｍ１′，Ｍ２′は、従来技術の装置での変調信号の波形の一例であり、Ｍ０′とＭ１′間にスキューΔ１が、Ｍ１′とＭ２′間にスキューΔ２が発生しているものとする。
そして、上記スキューΔ１とΔ２を補正すると、変調信号が同図の（ｇ−１）〜（ｇ−３）に示したＭｏｄ０〜Ｍｏｄ２の状態になる。
【００４９】
なお、スキューの発生には変調信号生成部２３の出力時に生じるものと、スイッチ２９への伝送中に生じるものと、スイッチ２９のスイッチング時に生じるものなどがあり、配線長差，線路インピーダンス差，負荷特性，デバイスバラツキなどが原因となる。この光源駆動装置の説明ではこれらを含んだものとする。
【００５０】
相変化型情報記録媒体は、一般には、光変調波形ＰのライトパワーＰｗ，イレースパワーＰｅ，ボトムパワーＰｂの三値のマルチパルスで記録マークが形成される。それぞれＬＤ駆動電流ＩＬＤが、つまりは増幅前の電流ＩＬＤ′がＩｂｉａｓ，Ｉｂｉａｓ＋Ｉ１，Ｉｂｉａｓ＋Ｉ２となる照射レベルである。
また、再生時のパワーＰｒは電流ＩＬＤ′がＩｂｉａｓ＋Ｉ０となる照射レベルである。つまり、照射レベルは電流値Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２をそれぞれ設定する照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａにより決められる。この時、記録パワーレベル及び各パルスのパルス幅・パルス間隔を精度よく制御することによって正確な記録がなされる。
【００５１】
この際、記録媒体あるいはその記録線速度によってはマークが形成されるとき、隣接のスペース長によって媒体上で熱的影響を受け、マークのエッジが隣接スペース長によってさまざまに変動する場合がある。これを避けるために、従来では隣接のスペース長を考慮して光変調波形の各パルス幅を変えている。また、上記に加えて、隣接のスペース長を考慮してパワーを変えられるようにすれば、媒体に与える熱量としては隣接スペース長に応じてパルス幅補正をするのと等価となるので、実質的にパルス幅制御分解能の細分化を行っているのと同等となり、高速記録化対応に適したものとなる。
この光源駆動装置においては、電流源２８とスイッチ２９及び変調信号Ｍｏｄの組み合わせを増やすことによって対応できる。ここでは説明を簡単にするため、図５に示すように三値レベルで記録する場合について説明する。
【００５２】
次に、図４に示した各部の動作と詳細構成について説明する。
［ＰＬＬ］
図６は、図４のＰＬＬ２０の内部の詳細な構成を示すブロック図である。
ＰＬＬ２０は、Ｍ分周器（１／Ｍ）２０１，位相比較器（ＰＣ）２０２，ループフィルタ２０３，発振器（ＶＣＯ）２０４，Ｎ分周器（１／Ｎ）２０５，分周器（Ｍ／Ｎ）２０６からなり、各部動作は通常のＰＬＬ回路と同様であるので詳細な説明は省略する。
このＰＬＬ２０は、記録クロック信号ＷＣＫからｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫを生成し、クロック信号ＰＣＫと所定量づつ位相の異なる複数のクロック（この光源駆動装置ではＣＫ０〜ＣＫ７の８つのクロックとし、ＣＫ０をＰＣＫとする）を生成する。また、チャネルクロック信号ＣＬＫも生成する。
【００５３】
Ｍ分周器２０１は、記録クロック信号ＷＣＫをＭ分周する。その分周比１／Ｍは設定可能とし（例えば、Ｍ＝２，４）、記録クロック信号が記録チャネルクロックを分周した信号で供給される場合に対応する。記録クロック信号の周波数を下げて転送をすることによってノイズの発生を低減できる。
発振器２０４は、所定量づつ位相の異なるｍ個のクロック（この光源駆動装置ではＣＫ０〜ＣＫ７の８つのクロック（ｍ＝８）とし、ＣＫ０をＰＣＫとする）を生成し、変調信号生成部２３へ出力する。これは例えばリングオシレータなどによって構成される。
【００５４】
Ｎ分周器２０５は、発振器２０４の出力する一つのクロック信号（例えば、ＣＫ０）をＮ分周する。その分周比１／Ｎは設定可能とし、Ｎ／Ｍが記録クロックＷＣＫに対するクロック信号ＰＣＫの逓倍数ｎとなる。
また、分周器２０６によってＰＣＫ信号をＭ／Ｎ分周して記録チャネルクロックＣＬＫを生成してランレングス検出部２１へ供給する。
後述するように、ＬＤ変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２はクロック信号ＣＫ０〜ＣＫ７を基準に生成する。
【００５５】
つまり、分周比１／Ｎ，１／Ｍを設定することによってＬＤ変調信号Ｍｏｄのパルス幅設定分解能を設定できる。例えば、供給される記録クロック信号ＷＣＫが記録チャネルクロックと同一周波数で転送されるものとし、Ｍ＝４，Ｎ＝１６と設定すると、クロック信号ＰＣＫはチャネルクロックの４逓倍の周波数となり、ＬＤ変調信号ＷＳＰはチャネルクロックに対して１／３２（＝ｍ・Ｍ／Ｎ）のパルス幅設定分解能で生成できる。以下、これをパルス幅設定ステップと称する（また適宜、単にステップと省略する）。上記例の場合、３２ステップが１チャネルクロック周期に相当する。
【００５６】
［ランレングス検出部］
ランレングス検出部２１は、コントローラ１９から供給される記録データ信号Ｗｄａｔａのランレングスを検出し、駆動波形生成情報保持部２２へランレングス信号Ｌｅｎを供給する。記録データ信号ＷｄａｔａはＮＲＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）の二値化信号でハイ区間が記録マークを、ロー区間がスペースをそれぞれ表すものとする。つまり、このランレングス検出部２１は記録データのマーク長及びスペース長を検出する。ここでは、ランレングス信号Ｌｅｎ１がマーク長を、ランレングス信号Ｌｅｎ０が直前スペース長を、ランレングス信号Ｌｅｎ２が直後スペース長をそれぞれ供給するものとする。
【００５７】
また、ランレングス検出部２１は適用する記録データ信号の最小最大ランレングスに応じて構成され、この第一実施形態ではＤＶＤフォーマットの情報記録媒体（ＤＶＤ＋ＲＷディスク，ＤＶＤ−Ｒディスク，ＤＶＤ−ＲＡＭディスクなど）に記録を行う光情報記録装置への適用を想定し、記録データ信号ＷｄａｔａはＥＦＭ＋変調を行った信号を想定して説明する。つまり、ランレングスは３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔはチャネルクロック周期）となる。
さらに、ランレングス検出部２１は、ランレングスを検出するのに必要な所定時間及び各回路の遅延時間差などを考慮して記録データを所定量遅延させて遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａを変調信号生成部２３とＬＤ制御タイミング信号生成部２６へ出力する。
【００５８】
［駆動波形生成情報保持部］
駆動波形生成情報保持部２２は、駆動波形生成情報を格納しておくメモリであり、ランレングス検出部２１から出力されるランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に対応した情報を遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａに合わせて変調信号生成部２３へ出力する。
図７は、この参考技術の光源駆動装置における駆動波形生成情報と光波形との関係の一例を示す図である。
【００５９】
駆動波形生成情報は光波形の照射レベル変化タイミングを表すタイミング情報などからなる。このタイミング情報はパルス幅設定ステップ数で表され、図７に示すように、各タイミング情報（ＴＳＳ，ＴＳＰ，ＴＭＳ，ＴＭＰ，ＴＬＳ，ＴＬＰ）を基準時刻（例えば、遅延記録データ立上りエッジ）から累積していくことによって変化タイミングを決めていく。また、図中のＮＭＰはＴＭＳ及びＴＭＰの繰り返し回数である（図７ではＮＭＰ＝２の例を示す）。
このようにして、マルチパルス周期及びデューティを任意に設定することができる。
【００６０】
また、この光源駆動装置では、駆動波形を記録データ信号Ｗｄａｔａのマーク長とその隣接するスペース長によって変化させ、形成する記録マークエッジ位置を高精度に制御するようにしている。
記録マークが形成される時、隣接のスペース長によって媒体上で熱的影響を受け、エッジが隣接スペース長によって変化する。これを避けるために、隣接のスペース長を考慮して駆動波形を変化させるものである。
つまり、マーク長及び直前直後のスペース長の各組み合わせに対応した駆動波形生成情報を格納しておき、ランレングス検出部２１によって検出したランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に応じて対応した駆動波形生成情報を供給する。
【００６１】
なお、マーク長及び隣接スペース長が所定値以上の場合は熱的影響やその変化分は少ない。そのため、全ての組み合わせに対応した駆動波形生成情報を用意する必要はなく、影響度の大きい組み合わせのみ用意すれば情報の保持に必要なメモリ容量を低減できる。また、この光源駆動装置では、各パラメータに応じて用意する組み合わせも変え、メモリ容量の低減化とマーク形状制御の高精度化の両立を図っている。
【００６２】
［変調信号生成部］
変調信号生成部２３は、駆動波形生成情報保持部２２からの駆動波形生成情報（タイミング情報）に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２を生成し、パルス幅調整部５０へ出力する。図５の（ｆ−１）〜（ｆ−３）がそれぞれ変調信号Ｍ０〜Ｍ２の一例を示す波形図である。その変調信号Ｍ０〜Ｍ２の生成の際はクロック信号ＣＫ０〜ＣＫ７を基準とし、それらのクロック信号の位相差に相当する時間が変調信号のパルス幅設定分解能となる。
【００６３】
［ＬＤ制御タイミング信号生成部］
ＬＤ制御タイミング信号生成部２６は、記録データ信号Ｗｄａｔａからサンプルホールド方式のＡＰＣ制御用サンプル信号などのＬＤ制御用のタイミング信号を生成する。光源の発光波形は記録データ信号Ｗｄａｔａに対してランレングス検出部２１での遅延分遅れるので、発光波形に合わせてサンプル信号を生成する。
【００６４】
［変調部］
変調部２７は、光源ＬＤの照射レベルＰ０，Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ対応した照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａに基づいて、それぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２を供給する各電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜２８ｃからなる電流源（ＤＡＣ）２８と、変調信号Ｍｏｄ０，Ｍｏｄ１，Ｍｏｄ２に従ってそれぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２をオンオフ制御する各スイッチ２９ａ〜２９ｃからなるスイッチ２９と、スイッチ２９の出力する各電流を加算してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを供給する加算部３０とから構成される。
【００６５】
図８は、光源ＬＤの駆動電流−光出力特性の例と変調部２７の各部電流との関係を示す図である。
電流源（ＤＡＣ）２８ａは照射レベルデータＰ０Ｄａｔａに基づいて電流Ｉ０を供給する電流出力ＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）であり、同様に電流源（ＤＡＣ）２８ｂ，電流源（ＤＡＣ）２８ｃはそれぞれ照射レベルデータＰ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａに基づいて電流Ｉ１，Ｉ２を供給する電流出力ＤＡＣであり、電流源（ＤＡＣ）２８としての機能を果たす。また、電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜電流源（ＤＡＣ）２８ｃのフルスケールＩｓｃｌはＬＤ制御部３３から供給され、微分量子効率ηの変動に応じて制御される。よって、電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜電流源（ＤＡＣ）２８ｃの出力電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２はそれぞれ次の数２〜数４の演算式に基づく処理で得られる。ここでは、電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜電流源（ＤＡＣ）２８ｃは８ビット（ｂｉｔ）ＤＡＣとしている。
【００６６】
【数２】
Ｉ０＝（Ｐ０Ｄａｔａ／２５５）＊Ｉｓｃｌ
【００６７】
【数３】
Ｉ１＝（Ｐ１Ｄａｔａ／２５５）＊Ｉｓｃｌ
【００６８】
【数４】
Ｉ２＝（Ｐ２Ｄａｔａ／２５５）＊Ｉｓｃｌ
【００６９】
なお、図８においては、後述する電流駆動部３２での増幅率Ａｉをかけた電流値Ｉ０′，Ｉ１′，Ｉ２′を図示している。
スイッチ２９ａ〜２９ｃは、それぞれ変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２に従って電流Ｉ０〜Ｉ２をオンオフ制御する。図５の波形図において、変調信号が「ハイ（Ｈｉｇｈ）」の時にスイッチはオンとなるものとする。そして、スイッチ２９ａ〜２９ｃでオンになった電流が加算部３０によって加算され、変調電流Ｉｍｏｄを得る。つまり、次の数５に示す演算式に基づく処理で変調電流Ｉｍｏｄを求めることができる。
なお、「×Ｍｏｄ（ｎ）」（（ｎ）は０，１，２）はＭｏｄ（ｎ）が「ハイ（Ｈｉｇｈ）」の時に×１を、「ロー（Ｌｏｗ）」の時に×０を意味する。
【００７０】
【数５】
Ｉｍｏｄ＝Ｉ０×Ｍｏｄ０＋Ｉ１×Ｍｏｄ１＋Ｉ２×Ｍｏｄ２
【００７１】
図８において、電流ＩｂはＬＤ制御部３３で制御されたバイアス電流Ｉｂｉａｓに増幅率Ａｉをかけた電流値であり、その電流Ｉｂに対してボトムレベルＰｂで発光するように制御されている。
そして、再生レベルＰｒで発光させるには、Ｍｏｄ０＝１，Ｍｏｄ１＝０，Ｍｏｄ２＝０として、Ｉｍｏｄ＝Ｉ０となるように変調信号を生成し、光源ＬＤに駆動電流Ｉｂ＋Ｉ０′を流す。この時、照射レベルデータＰ０Ｄａｔａには、Ｐ０（＝Ｐｒ−Ｐｂ）に相当する値を設定しておく。
【００７２】
同様にして、イレースレベルＰｅ，ライトレベルＰｗを照射する。なお、温度変動などにより、光源ＬＤの閾値電流Ｉｔｈと微分量子効率ηが（ｉ）→（ｉｉ）のように変動した場合は、ＬＤ制御部３３によってバイアス電流Ｉｂ及びスケール信号Ｉｓｃｌが制御され所望の光量が得られる。つまり、図８の（ｉｉ）に示す各電流Ｉｂ，Ｉ０′〜Ｉ２′を生成し、所望の光波形（a）を得る。
また、ボトムレベルＰｂに相当する電流Ｉｂ′を常時ＬＤ駆動電流に加算しておき、バイアス電流Ｉｂが閾値電流Ｉｔｈ相当になるように制御してもよい。
つまり、図８の（ア）に示すようにＩｂ＋Ｉｂ′により、ボトムレベルＰｂで発光する。なお、電流Ｉｂ′は他の電流源と同様にスケール信号Ｉｓｃｌによって制御する。
【００７３】
［ＬＤ制御部］
ＬＤ制御部３３は、光源ＬＤの出射光の一部をモニタするモニタ受光部ＰＤからのモニタ受光信号が入力され、そのモニタ受光信号に基づいて光源ＬＤの出射光量が所望の値になるようにバイアス電流Ｉｂｉａｓ及び変調電流のスケールを指示するスケール信号Ｉｓｃｌを制御するものである。
すなわち、温度変動などによって光源ＬＤの閾値電流Ｉｔｈや微分量子効率ηが変動した場合、閾値電流Ｉｔｈの変動に対してバイアス電流Ｉｂｉａｓを、微分量子効率ηの変動に対してスケール信号Ｉｓｃｌをそれぞれ制御する。
また、所定照射レベル時のモニタ受光信号をサンプルホールドして制御を行う場合は、ＬＤ制御タイミング信号生成部２６から供給されるＬＤ制御信号に従って行う。
【００７４】
なお、このＬＤ制御自体は、公知技術を適用すればよいので、詳細な構成や動作説明は省略する。
また、このＬＤ制御部３３はＬＤ駆動集積回路３内に設けず、別途設けるものであってもよい。その際はバイアス電流Ｉｂｉａｓ及びスケール信号Ｉｓｃｌを直接または制御部３４を介して供給するようにすればよい。
【００７５】
［電流駆動部］
電流駆動部３２は、加算部３１から供給される電流を所定の増幅率Ａｉで増幅しＬＤの駆動電流ＩＬＤを供給する。この時、ＬＤ駆動電流ＩＬＤは次の数６の演算式に基づく処理で得られる。
【００７６】
【数６】
ＩＬＤ＝Ａｉ＊（Ｉｂｉａｓ＋Ｉｍｏｄ）
【００７７】
次に、パルス幅調整部５０，パルス幅検出部５１及びパルス幅制御部５２の各部構成と、それらの各部による変調信号のパルス幅補正動作を説明する。
図９は、パルス幅調整部５０から変調部２７への伝送経路中の各点ａ，ｂ，ｃでの変調信号Ｍｏｄ０の各信号波形（図４中のそれぞれａ，ｂ，ｃ点に対応する信号波形）の一例を示す波形図である。
同図の（ａ）のＭ０ａは、パルス幅調整部５０（ＬＤ変調信号生成部集積回路２）の出力端での波形を示し、同図の（ｂ）のＭ０ｂは、ＬＤ駆動集積回路３の入力端での波形を（ＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ駆動集積回路３との間の伝送により波形のなまりが生じる）示し、同図の（ｃ）のＭ０ｃはＬＤ駆動集積回路３の入力部５５により二値化した波形を示し、Ｍ０ｃが変調部２７でのスイッチング信号及びパルス幅検出部５１への入力になる。
ここでは、パルス幅補正時の信号波形例を示しており、変調信号生成部２３は所定の周波数で所定のデューティの（同図ではＤｕｔｙ＝５０％の例を示す）信号を出力している。
【００７８】
［パルス幅調整部］
パルス幅調整部５０は、パルス幅制御部５２から出力されるパルス幅設定信号に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅をそれぞれ増加又は減少させ、変調部２７の入力端（Ｍ０ｃ）でのパルス幅が変調信号生成部２３でのパルス幅とほぼ等しくなるように調整するものである。変調電流は変調部２７の入力端での変調信号のスイッチングタイミングによって変調されるため、上述したようにパルス幅の変動が生じると変調電流つまりは光波形が所望の波形とはならない。
【００７９】
図１０は、パルス幅調整部５０の内部構成例を示すブロック図である。
パルス幅調整部５０は、各信号を遅延させる遅延部２６３ａ〜２６３ｃからなり、各遅延部２６３ａ〜２６３ｃは変調信号を所定量遅延させるｎ個（ｎは正の整数）の遅延素子２６１ａ〜２６１ｎが縦列接続されており、その各遅延素子２６１ａ〜２６１ｎの出力の何れかをパルス幅制御部５２からのパルス幅設定信号ＰＷＳ０〜ＰＷＳ２に基づいて選択し、その選択された出力の論理和または論理積を出力する組み合わせ選択部２６２とからなる。
どの遅延素子２６１ａ〜２６１ｎの出力を選択し、論理和または論理積をするかによってパルス幅を調整することができる。
図１１は、３個の遅延素子２６１ａ〜２６１ｃがそれぞれ出力した出力信号ａ〜ｃの論理和信号（ｂ ｏｒ ｃ）と論理積信号（ｂ ａｎｄ ｃ）の信号波形例を示す図である。同図の（１）〜（３）に示すように、各出力信号ａ〜ｃの論理和信号は同図の（４）に示すようになり、各出力信号ａ〜ｃの論理積信号は同図の（５）に示すようになる。
【００８０】
［パルス幅検出部］
パルス幅検出部５１は、パルス幅調整部５０から出力された変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２の変調部２７の入力端でのパルス幅を検出するものであり、その検出結果をパルス幅制御部５２へ供給する。所定周期の信号のＤＣレベルを検出するようにすれば変調信号のパルス幅を簡単に検出することができる。
図１２は、パルス幅検出部５１の詳細な内部構成例を示すブロック図であり、ローパスフィルタなどによって構成され、変調信号Ｍｏｄ０のＤＣレベルＶｍｄｃを検出する平滑部２７１と、平滑部２７１から出力される変調信号Ｍｏｄ０のＤＣレベルＶｍｄｃをアナログからデジタルへＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２７２とからなり、そのＡ／Ｄ変換器２７２から出力されるパルス幅検出信号をパルス幅制御部５２へ供給する。
【００８１】
例えば、送信側でデューティー（Ｄｕｔｙ）＝５０％の信号を送り、伝送の際パルス幅変動が生じた場合には、ＤＣレベルＶｍｄｃの変動として検出される。変調信号Ｍｏｄ１と変調信号Ｍｏｄ２のパルス幅もそれぞれ同様にして検出できる。また、平滑部２７１への入力を切換えるようにしてもよい。さらに、通常、Ａ／Ｄ変換器は装置内に別途設けられていることも多く、ＤＣレベルＶｍｄｃを出力するようにし、そのＡ／Ｄ変換器を利用してもよい。
【００８２】
［パルス幅制御部］
パルス幅制御部５２は、パルス幅補正時には、パルス幅検出部５１から供給されるパルス幅検出信号に基づいて各変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅を制御する。そして通常時には、その制御されたパルス幅の調整値をパルス幅設定信号としてパルス幅調整部５０に供給する。
図１３は、パルス幅補正時の処理の一例を示すフローチャート図である。以下、図１３と図９に基づいてパルス幅補正処理を詳しく説明する。
まず、パルス幅補正時には、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１の初期化ステップで、コントローラ１９より、制御部２５を介してパルス幅補正動作開始の指示がなされ、各部はパルス幅補正動作に移行する。すなわち、パルス幅設定信号を全て０に初期化し、所定の周期Ｔｐで所定のデューティ（例えば５０％（Ｔ１＝Ｔｐ／２）にする）であるパルス幅調整用の変調信号Ｍ０を出力する（図９の（ａ）の実線（ｉ）参照）。
【００８３】
次に、ステップ２において、パルス幅検出部５１により変調信号のパルス幅を検出し、その検出した変調信号のＤＣレベルＶｍｄｃ（図９のＶ（ｉ）参照）がほぼ所定値（１／２・Ｖｄｄ）であるＯＫか所定値と異なるＮＯかを判断し、ＯＫであればステップ４へ進み、所定値と異なるＮＯならばステップ３へ移行する。
図９の信号波形図では、変調信号は伝送する際、立上り時間と立下り時間が異なり（Ｍ０ｂ）、二値化した信号Ｍ０ｃは正パルス幅が長くなり、ＤＣレベルＶ（ｉ）が所定値１／２・Ｖｄｄより、高くなっている波形を例示している。
次に、ステップ３において、パルス幅検出信号に基づいてパルス幅設定信号を増減する。図９の例では、ＤＣレベルＶ（ｉ）が所定値１／２・Ｖｄｄよりも高いので、正パルス幅Ｔ１を短くするようにパルス幅調整を行う（（ａ）の破線（ｉｉ）参照）。
【００８４】
そして、ステップ２の判定が真となるまで、ステップ２と３の処理を繰り返す。図９の例では（ｉｉ）の状態でＤＣレベルＶ（ｉｉ）はほぼ所定値となるので、これで調整を終える。これにより、信号伝送によるパルス幅変動を調整できる。同様にしてＭ１，Ｍ２に対しても調整を行う。
最後にステップ４において、現在のパルス幅設定信号を設定値として保持し、通常時はこれを供給する。またテスト信号の供給を停止する。
なお、ここでは立上り時間と立下り時間の差異によるパルス幅変動について説明したが、スライスレベルの変動などやその複合によって生じるパルス幅変動であっても同様に調整できる。
【００８５】
このパルス幅補正時には、光源ＬＤの駆動電流を停止し、発光させないようにしておくと光源ＬＤの異常発光を防げ、光源ＬＤの破壊や劣化を保護できる。これは照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａを０に設定することによっても行える。
また、パルス幅制御部５２をコントローラ１９内部に設け、パルス幅検出信号及びパルス幅設定信号の授受をそれぞれ制御部３４と２５を介して行うようにし、上述のパルス幅制御をコントローラ１９内部のＣＰＵで行うようにしてもよい。
【００８６】
以上からわかるように、この光源駆動装置によれば、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまり立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正するので光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成できる。
【００８７】
したがって、ＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ駆動集積回路３とは別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。すなわち、変調信号生成部２３では高速動作及び高集積化が求められるため微細なＣＭＯＳプロセスが好適である。一方、電流駆動部３２には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つ光源ＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖなど）が要求されており、通常、微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難である（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しかない）が、それぞれを好適なプロセスで構成できるようになる。
そして、この二つの集積回路間はＦＰＣ基板やワイヤなどの伝送線で接続されるため少なからずパルス幅変動が発生し、特に高速化した際にはこの光源駆動装置の効果が好適に作用する。
【００８８】
さらには、自動的にパルス幅を補正する機構を設けたので、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどによって装置毎にこのパルス幅変動量が異なっても、それぞれパルス幅変動を調整できる。
したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
また、ＬＤ駆動集積回路３を光源ＬＤの近傍、つまりピックアップ上に配置し、ＬＤ変調信号生成部集積回路２を記録データを生成するコントローラやＷＣＫ生成部と同一の集積回路で構成するようにしてもよい。このように構成してもＦＰＣ基板での変調信号伝送におけるスキューの発生は上述の通り調整できるので、光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成でき、コストも低減できる。さらに、ＰＬＬ２０をＷＣＫ生成部１７と共通化することも可能となる。
【００８９】
また、パルス幅調整部５０によってパルス幅を調整するのではなく、駆動波形生成情報保持部２２に保持する駆動波形生成情報のパルス幅を持つ情報を変更するようにしてもよい。すなわち、図７に示した駆動波形情報の場合、パルス幅調整工程で算出されたパルス幅補正値をＴＳＰ，ＴＭＰ，ＴＬＰに加え、ＴＭＳ，ＴＭＬから引くように変更するとよい。
さらに、上述したようにパルス幅が立上り時間や立下り時間より短くなると、そのパルス幅の変動量は他のパルスと異なる場合もある。このような場合にはそのパルス幅のパルスを別途調整するようにすればよい。
【００９０】
例えば、図７のＴＬＰのみ変更するようにする。また、どのパルス幅からパルス幅変動量が変化するかを検出するには、パルス幅調整用のテスト信号のパルス幅（図９のＴ１参照）を変更して検出すればよい。
また、パルス幅検出は、パルス幅検出部５１によらず、光源ＬＤの出射光の一部をモニタするモニタ受光部ＰＤからのモニタ受光信号をローパスフィルタ（ＬＰＦ）５４によって平滑化してＤＣレベルを求めるようにしてもよい。Ａ／Ｄ変換器２７２などは同様であるので説明を省略する。
このようにすれば、光変調波形でのパルス幅を検出し、これが所望の値となるように調整できるので、変調部２７や電流駆動部３２などで生じるパルス幅変動までも補正できるようになり、より正確な記録マークが形成できる。
これは、以降の実施形態でも同様に利用できる。
【００９１】
この光源駆動装置によれば、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまり立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正するため、光波形には影響を及ぼさず、所望の光波形が得られる。
また、各部は別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
さらに、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどにより装置毎にこのパルス幅変動量が異なっても、それぞれパルス幅変動を調整できる。したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
【００９２】
また、光変調波形でのパルス幅を検出し、これが所望の値となるように調整できるので、変調部２７や電流駆動部３２などで生じるパルス幅変動までも補正できるようになり、より正確な光波形が得られる。
さらに、パルス幅が立上り時間や立下り時間より短くなりパルス幅によって変動量が異なっても、それに応じた補正をするので、より正確な光波形が得られる。特に高速化し、パルス幅が短くなった時には好適に作用する。
さらにまた、常時基準信号を補正し、これにより変調信号のパルス幅も補正しているので、例えば電源電圧などの変動によりパルス幅が動的に変動しても、光波形には影響を及ぼさず、常に正確な光波形が得られる。
【００９３】
次に、この発明の光源駆動装置の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１４は、この発明の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
図１５は、この実施形態の光源駆動装置におけるパルス幅補正動作時の各部信号波形図である。
図１４に示すように、二値化部５６はスライスレベルＶｔｈに基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２を二値化し、変調部２７に供給するものである。
スライスレベル制御部５７は、パルス幅補正時には、パルス幅検出部５１から供給されるパルス幅検出信号に基づいてスライスレベルＶｔｈを制御する。そして通常時には、その制御されたスライスレベルを二値化部５６に供給する。
【００９４】
図１５に示すように、調整前のスライスレベルＶｔｈ（ｉ）に対し、スライスレベルＶｔｈ（ｉｉ）へ調整することにより、同図の（ｃ）に示す二値化した変調信号Ｍ０ｃのパルス幅が適正値に調整される。その調整方法は上述と同様に行えばよいのでその説明を省略する。また、そのスライスレベルは変調信号毎調整するようにしてもよい。
このようにすれば、上述の光源駆動装置と同様の効果が得られ、特にスライスレベルの変動（二つの集積回路間でのスライスレベルの差異など）によりパルス幅が変動する場合により好適に作用する。
また、上述の光源駆動装置と同様の効果をより精度よく得られる。
【００９５】
次に、この発明の他の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１６は、この発明の他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４，図１４と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
出力電圧調整部５８は、出力電圧制御部５９からの出力電圧設定信号に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２の出力電圧を、すなわちハイレベル出力電圧またはローレベル出力電圧あるいは双方の出力電圧を調整するものである。
出力電圧制御部５９は、パルス幅補正時には、パルス幅検出部５１から供給されるパルス幅検出信号に基づいて変調信号の出力電圧を制御し、出力電圧調整部５８へ出力電圧設定信号を供給する。
【００９６】
このようにすれば、上述と同様の効果を簡便な構成で得ることができる。
また、この実施形態と上記参考技術を組み合わせたものにしてもよい。
さらに、これらの実施形態によれば、図１７に示すように、ハイレベル出力電圧Ｖｈｉ，ローレベル出力電圧Ｖｌｏを任意に定めることができる。
なぜならば、二つの集積回路でのデバイスバラツキや電源電圧差などの影響によりパルス幅変動が生じる場合であっても、パルス幅やスライスレベルや出力電圧を調整することによって補正できるからである。つまり、伝送する変調信号振幅は小振幅でよく、このようにすれば不要電磁輻射を低減でき、立上り立下り時間も低減できる。
【００９７】
次にこの発明の光源駆動装置のまた他の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１８は、この発明の他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４，図１４，図１６と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
基準信号生成部６１は、図９の（ａ）実線（ｉ）に示すパルス幅調整用の変調信号と同様の波形を装置の動作時には常時、基準信号Ｍｒｅｆとして供給するものである。
パルス幅調整部６０は、図４のパルス幅調整部と同様に変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅の調整と、基準信号Ｍｒｅｆのパルス幅調整を行う。
【００９８】
パルス幅検出部５１は、伝送後二値化した基準信号ＭｏｄＲのパルス幅を検出し、検出結果をパルス幅制御部５２に供給する。
パルス幅制御部５２では、基準信号のパルス幅検出結果に応じて、基準信号のパルス幅と変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅を同量分補正するように制御する。
このようにすれば、常時基準信号を補正し、これにより変調信号のパルス幅も補正しているので、例えば電源電圧などの変動によってパルス幅が動的に変動しても、光波形には影響を及ぼさず、さらに正確な記録マークが形成できる。
また、図示は省くが上記参考技術と上記実施形態に対しても同様に適用すればよい。
【００９９】
次に、この発明の光源駆動装置のまた他の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１９は、この発明のまた他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４，図１４，図１６，図１８と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
図２０は、スキュー補正動作時の各部信号波形図である。
また、パルス幅の調整は上述したように駆動波形生成情報を変更することによって行うものとし、パルス幅の制御はパルス幅・遅延制御部６４が上述と同様の処理で行うものとする。
遅延量調整部２４と遅延検出部６５とパルス幅・遅延制御部６４とにより、変調信号間のスキューを補正するための調整機能を果たす。以下、この各部構成とそれらによる変調信号のスキュー補正動作について説明する。
【０１００】
［遅延量調整部］
遅延量調整部２４は、パルス幅・遅延制御部６４からの遅延設定信号に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２をそれぞれ遅延させ、その遅延させた変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２が変調部２７の入力端で（図５の（ｇ−１）〜（ｇ−３）に例示する）遅延差が所定値以内になるように遅延させるものである。
変調電流は変調部２７の入力端での変調信号のスイッチングタイミングにより変調されるため、複数の変調信号が同時に変化しないと変調電流、つまりは光波形が所望の波形とはならない。つまり、変調信号生成部２３において同時にスイッチングするように変調信号Ｍ０〜Ｍ２を生成しても（図５の（ｆ−１）〜（ｆ−３）参照）、伝送中に配線長差などによってスキュー（遅延差）が生じ、変調部２７の入力端でずれが生じると上述の問題が生じる。
【０１０１】
図５の（ｈ−１）〜（ｈ−３）のＭ０′，Ｍ１′，Ｍ２′は、この遅延量調整部２４がない場合、つまり従来の装置での変調部２７の入力端での変調信号の一例であり、複数の変調信号が同時に変化しないため、変調電流つまりは光波形が所望の波形にはならない。
また、上述した立上り立下り時間やスライスレベル等の差異によって生じるパルス幅変動を各変調信号毎に補正する場合にも若干のスキューが発生することもある。
【０１０２】
図２１は、図１９に示した遅延量調整部２４の内部の詳細な構成例を示すブロック図である。
図２１において、遅延量調整部２４は、各信号を遅延させる遅延部２４３ａ〜２４３ｃからなり、各遅延部２４３ａ〜２４３ｃは信号を所定量遅延させる遅延素子２４１ａ〜２４１ｎ（ｎは正の整数）が縦列接続されており、その各遅延素子２４１ａ〜２４１ｎの出力の何れかを遅延設定信号ＤｌｙＳ０〜ＤｌｙＳ２に基づいて選択して出力する選択部２４２とからなる。
このように構成することにより、どの遅延素子２４１ａ〜２４１ｎの出力を選択するかによって遅延量を調整できる。また、各遅延部２４３ａ〜２４３ｃは供給する電流（または電圧）によって遅延量の変化する遅延バッファで構成し、この供給電流を変化させることによって遅延量を調整するようにしてもよい。
【０１０３】
［遅延検出部］
遅延検出部６５は、変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２の変調部２７の入力端での遅延差（スキュー）を検出するものであり、その検出結果をパルス幅・遅延制御部６４へ供給する。遅延検出部６５及び変調部２７の入力端を近傍に配置することにより、遅延検出部６５の入力端での各変調信号間のスキューは、変調部２７の入力端でのスキューとほぼ等しくなる。
【０１０４】
図２２は、遅延検出部６５の内部構成例を示すブロック図である。ここでは、変調信号Ｍｏｄ０とＭｏｄ１とのスキューを検出する構成例を示している。
位相比較部２５１は、変調信号Ｍｏｄ０とＭｏｄ１との位相差を検出するものであり、ＥｘＯＲ回路などによって簡単に構成できる。
図２０に示したように、同図の（ａ）のＭ０と（ｂ）のＭ１の二つの変調信号を同一周波数の信号とすれば、スキュー量に応じた時間だけ「ハイ（Ｈ）」になる信号Ｄｉｆｆが得られる。また、位相比較信号Ｄｉｆｆは正負２つの信号からなり、Ｍｏｄ０の方が位相が進んでいれば同図の（ｅ−１）の位相比較信号Ｄｉｆｆ＋に、遅れていれば同図の（ｅ−２）の位相比較信号Ｄｉｆｆ−にパルスがそれぞれ出力される。
【０１０５】
平滑部２５２は、位相比較信号Ｄｉｆｆを平滑化するものであり、スキュー量に応じた電圧Ｖｄｉｆｆが得られる。これは例えば、チャージポンプ回路によって構成し、位相比較信号Ｄｉｆｆ＋及び位相比較信号Ｄｉｆｆ−をアップ（Ｕｐ）／ダウン（Ｄｏｗｎ）信号とすればよい。ここでは、変調信号Ｍｏｄ０の方が位相が進んでいれば正電圧として、遅れていれば負電圧（基準電圧に対して）として生成される。
【０１０６】
比較部２５３は、平滑部２５２の出力する電圧Ｖｄｉｆｆと基準値を比較し、基準値以上なら「＋」を、基準値以下なら「−」をそれぞれ出力し、基準値とほぼ等しければ何れも出力しない。なお、単純なコンパレータとして、＋／−何れかを出力するものとしてもよい。これらを遅延検出信号とする。
あるいは、図２３に示すように、平滑部２５２の出力する電圧ＶｄｉｆｆをＡ／Ｄ変換器２５４によってＡ／Ｄ変換し、パルス幅・遅延制御部６４に供給するようにしてもよい。
さらには、位相比較部２５１を単純なＥｘＯＲ回路とし（つまり位相差の絶対値のみ検出して極性は検出しないものとし）、Ａ／Ｄ変換器２５４で検出する電圧Ｖｄｉｆｆが最小になる遅延量を求めるようにしてもよい。
変調信号Ｍｏｄ０（あるいは変調信号Ｍｏｄ１）と変調信号Ｍｏｄ２とのスキューも同様にして検出することができる。また、位相比較部２５１への入力を切り換えるようにしてもよい。
【０１０７】
［パルス幅・遅延制御部］
パルス幅・遅延制御部６４は、上述したパルス幅補正動作の後、スキュー補正動作を行う。スキュー補正時には、遅延検出部６５から供給される遅延検出信号に基づいて後述するスキュー補正処理によって各変調信号の遅延量を制御する。そして、通常時には、この制御された遅延量を遅延設定信号として遅延量調整部２４に供給する。
【０１０８】
次に、上記スキュー補正処理についてさらに詳しく説明する。
図２４は、この実施形態の光源駆動装置におけるスキュー補正処理の一例を示すフローチャート図である。
まず、スキュー補正処理時には、コントローラ１９より、制御部２５を介してスキュー補正動作開始の指示がなされ、各部はスキュー補正動作に移行する。すなわち、このテスト信号に基づいてスキュー検出用の変調信号Ｍ０〜Ｍ２を出力する。
ステップ（図中「Ｓ」で示す）１１の初期化処理において、変調信号生成部２３は、このテスト信号に基づいてスキュー検出用の変調信号Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２を出力する（図２０の（ａ）と（ｂ）を参照）。パルス幅・遅延制御部６４は遅延設定信号を全て“０”に初期化する。
【０１０９】
次に、ステップ１２において、遅延検出部６５によって変調信号間の遅延差δ（Δ）を検出し、その遅延差δがほぼ“０”か否か（各変調信号間の入力タイミングの差が所定値内か否か）を判断し、遅延差δがほぼ“０”であればステップ１４へ、遅延差δがほぼ“０”でない（所定値を超えている）ならばステップ１３へそれぞれ移行する。
【０１１０】
図２０の信号波形図では、変調信号Ｍｏｄ０とＭｏｄ１の場合を示している。
同図の（ｃ）と（ｄ）にそれぞれ示すｄ０，ｄ１はそれぞれ遅延量調整部２４での遅延量を示し、Δ０，Δ１は変調信号生成部２３の出力端から遅延検出部６５（変調部２７）の入力端までのそれぞれの伝送遅延量を示している。これらの差（＝（ｄ０＋Δ０）−（ｄ１＋Δ１））が遅延差δである。
ステップ１３では、遅延検出信号に従って遅延設定信号を増減することにより、一方の遅延量を＋１ステップ又は−１ステップ変更する。
すなわち、遅延検出信号が「＋」ならば（Ｍｏｄ０の位相がＭｏｄ１よりも進んでいれば）、Ｍ０の遅延量ｄ０を１ステップ遅らせ、「−」ならばＭ１の遅延量ｄ１を１ステップ遅らせる（なお、何れかを１ステップ早めるように調整してもよい）。
【０１１１】
そして、ステップ１２の判定が真となるまで、すなわち、遅延差δがほぼ“０”と判断されるまで、ステップ１２と１３の処理を繰り返す。さらにＭｏｄ２に対しても上述と同様の処理を行う。このようにして、変調信号Ｍｏｄ０ｂ〜Ｍｏｄ２ｂの変調部２７の入力端での遅延差がなくなるように調整する。
最後にステップ１４の遅延量保持処理では、現在の遅延設定信号（つまり遅延量ｄ０〜ｄ２）を保持し、通常時はこれを供給する。またテスト信号の供給を停止する。
また、スキュー補正時のスキュー検出用の変調信号Ｍ０〜Ｍ２を同一周波数で位相を４５°ずらした信号にしておくと、遅延差が微小な時の検出精度を向上できる。これは、遅延差が微小になると位相比較信号Ｄｉｆｆのパルス幅が微小となって検出できなくなること（位相比較部２５１の不感帯）を避けるためである。
あるいは、パルス幅・遅延制御部６４をコントローラ１９内部に設け、遅延検出信号及び遅延設定信号の授受をそれぞれ制御部３４と２５を介して行うようにしてもよい。
【０１１２】
以上からわかるように、この実施形態によれば、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまって立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正し、さらには各変調信号間に、このパルス幅変動補正の際生じるスキューや伝送路自体でのスキューがあっても、このスキューを補正するため光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成できる。
したがって、ＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ駆動集積回路３とは別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
【０１１３】
すなわち、変調信号生成部では高速動作及び高集積化が求められるために微細なＣＭＯＳプロセスが好適である。一方、ＬＤ駆動部には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つ光源ＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖなど）が要求されており、通常、微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難である（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しかない）が、それぞれを好適なプロセスで構成できるようになる。
そして、この二つの集積回路間はＦＰＣ基板やワイヤなどの伝送線で接続されるため少なからずパルス幅変動やスキューが発生し、特に高速化した際にはこの発明に係る効果が好適に作用する。
さらには、自動的にパルス幅及びスキューを補正する機構を設けたので、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどによって装置毎にこのパルス幅変動量やスキューが異なっても、それぞれパルス幅変動及びスキューを調整できる。
【０１１４】
したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
また、ＬＤ駆動集積回路３を光源ＬＤの近傍、つまりピックアップ上に配置し、ＬＤ変調信号生成部集積回路２を記録データを生成するコントローラやＷＣＫ生成部と同一の集積回路で構成するようにしてもよい。
このように構成しても、ＦＰＣ基板での変調信号伝送におけるスキューの発生は上述の通り調整できるので、光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成でき、コストも低減できる。さらに、ＰＬＬ２０をＷＣＫ生成部１７と共通化することも可能となる。
また、パルス幅調整と遅延調整は図１０と同様の構成にしたパルス幅・遅延調整部によって行ってもよい。
【０１１５】
つまり、例えば、ｂ＆ａとすることによりパルス幅調整した後、ｃ＆ｂを選択することにより１ステップ遅延させることができる。このようにすればパルス幅調整と遅延調整の両方を行える。
また、上述した遅延調整機構と上記参考技術または上記実施形態を組み合わせてもよい。
【０１１６】
このようにして、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまり立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正し、さらには各変調信号間に、このパルス幅変動補正の際生じるスキューや伝送路自体でのスキューがあっても、このスキューを補正するため光波形には影響を及ぼさず、所望の光波形が得られる。
また、各部は別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
【０１１７】
さらに、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどにより装置毎にこのパルス幅変動量やスキューが異なっても、それぞれパルス幅変動及びスキューを調整できる。
したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
また、伝送する変調信号振幅を小振幅としているので、不要電磁輻射を低減でき、変調信号の立上がり立下り時間も低減でき、よってパルス幅変動分も抑制できる。
さらに、各変調信号間にスキューがあっても光波形には影響を及ぼさず所望の光波形が得られ、正確な記録マークが形成できる。さらにまた、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスで構成できるようになり、コスト・性能に見合った装置が実現できる。特に、光情報記録装置の高速記録化する際に適している。
【０１１８】
【発明の効果】
以上説明してきたように、この発明の光源駆動装置と情報記録装置によれば、情報記録媒体に対する高速記録及び高密度記録時、光変調制御信号波形の歪み，スキュー，信号伝送によるパルス幅の変動等によって光変調波形が所望値からずれるのを抑制し、高速化などの要求に対してもコスト，性能などを犠牲にすることなく実現できる光源駆動装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明の参考技術と一実施形態である情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した情報記録再生装置の信号処理部１０４の構成を示すブロック図である。
【図３】光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の駆動電流−光出力特性の一例を示す線図である。
【図４】 この発明の参考技術の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図５】図４に示した各部の出力信号の信号波形の一例を示す図である。
【図６】図４のＰＬＬ２０の内部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図７】 この参考技術における駆動波形生成情報と光波形との関係の一例を示す図である。
【図８】光源ＬＤの駆動電流−光出力特性の例と変調部２７の各部電流との関係を示す図である。
【図９】パルス幅調整部５０から変調部２７への伝送経路中の各点ａ，ｂ，ｃでの変調信号Ｍｏｄ０の各信号波形の一例を示す波形図である。
【図１０】図４に示すパルス幅調整部５０の内部構成例を示すブロック図である。
【図１１】図１０に示す３個の遅延素子２６１ａ〜２６１ｃがそれぞれ出力した出力信号ａ〜ｃの論理和信号と論理積信号の信号波形例を示す図である。
【図１２】パルス幅検出部５１の詳細な内部構成例を示すブロック図である。
【図１３】パルス幅補正時の処理の一例を示すフローチャート図である。
【図１４】 この発明の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図１５】 この発明の実施形態の光源駆動装置におけるパルス幅補正動作時の各部信号波形図である。
【図１６】 この発明の他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】ハイレベル出力電圧Ｖｈｉ，ローレベル出力電圧Ｖｌｏの一例を示す波形図である。
【図１８】 この発明のさらに他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図１９】 この発明のまた他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図２０】 この発明のまた他の実施形態の光源駆動装置におけるスキュー補正動作時の各部信号波形図である。
【図２１】図１９に示した遅延量調整部２４の内部の詳細な構成例を示すブロック図である。
【図２２】図２１に示した遅延検出部６５の内部構成例を示すブロック図である。
【図２３】図２１に示した遅延検出部６５の他の内部構成例を示すブロック図である。
【図２４】 このまた他の実施形態の光源駆動装置におけるスキュー補正処理の一例を示すフローチャート図である。
【図２５】従来の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図２６】従来の問題を説明するための信号波形図である。
【符号の説明】
２：ＬＤ変調信号生成部集積回路
３：ＬＤ駆動集積回路 ４：受光信号処理部
５：ＲＦ選択部 ６：ウォブル信号生成部
７：サーボドライバ ９：ＬＤ制御部
１０：ＬＤ変調信号生成部 １２：ＬＤ駆動部
１３：サーボ信号演算処理部 １４：サーボプロセッサ
１５：ウォブル信号処理部
１６：ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部
１７：ＷＣＫ生成部 １８：回転制御部
１９：コントローラ ２０：ＰＬＬ
２１：ランレングス検出部
２２：駆動波形生成情報保持部
２３：変調信号生成部
２４：遅延量調整部 ２５，３４：制御部
２６：ＬＤ制御タイミング信号生成部
２７：変調部
２８，２８ａ〜２８ｃ：電流源
２９，２９ａ〜２９ｃ：スイッチ
３０，３１：加算部 ３２：電流駆動部
３３：ＬＤ制御部
５０，６０：パルス幅調整部 ５１：パルス幅検出部
５２：パルス幅制御部 ５３：テスト信号生成部
５４：ローパスフィルタ（ＬＰＦ） ５５：入力部
５６：二値化部 ５７：スライスレベル制御部
５８：出力電圧調整部 ５９：出力電圧制御部
６１：基準信号生成部 ６４：パルス幅・遅延制御部
６５：遅延検出部
１００：情報記録媒体 １０１：ピックアップ
１０２：光源（ＬＤ） １０３：受光部
１０４：信号処理部 １０５：回転駆動部
１０６：コントローラ ２０１：Ｍ分周器（１／Ｍ）
２０２：位相比較器（ＰＣ） ２０３：ループフィルタ
２０４：発振器（ＶＣＯ） ２０５：Ｎ分周器（１／Ｎ）
２０６：分周器（Ｍ／Ｎ）
２４１ａ〜２４１ｎ，２６１ａ〜２６１ｎ：遅延素子
２４３ａ〜２４３ｃ：遅延部 ２４２，２６２：選択部
２５１：位相比較部 ２５２，２７１：平滑部
２５３：比較部 ２５４，２７２：Ａ／Ｄ変換器
ＬＤ，ＬＤ１〜ＬＤ２：光源
ＰＤ，ＰＤ１〜ＰＤ５：受光部
【発明の属する技術分野】
この発明は、画像形成装置又は情報記録装置に搭載される多値レベル化及びマルチパルス化された光変調波形を駆動及び制御するレーザ駆動制御装置等の光源駆動装置と、その光源駆動装置を搭載したＭＤドライブ装置，ＭＯドライブ装置，ＣＤ−Ｒドライブ装置，ＣＤ−ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ−Ｒドライブ装置，ＤＶＤ−ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ＋ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ−ＲＡＭドライブ装置などの情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光変調によって記録を行う光ディスク装置においては、１ビームオーバーライト技術や高密度化のための記録マーク形状制御のため、レーザ光の光変調波形をマルチパルス化，多値レベル化して制御する技術が必須となっており、それにともなって光源駆動部（以下「ＬＤドライバ」とも称する）においては複数のＬＤ駆動電流を切り換える（スイッチングする）必要があり、入力される信号線が増加する。
また、今後さらに情報記録媒体に対して高速記録及び高密度記録を行うためには、データの転送レートの増大，パルス分割幅のより細分化，さらにパワーのレベル数の増加が避けられない。
【０００３】
レーザ光を照射するピックアップは情報記録媒体の半径方向に可動（この動作を「シーク動作」と呼ぶ）させるため、ピックアップと信号処理部等が搭載されている回路基板とはフレキシブルプリント回路（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ ＰｒｉｎｔＣｉｒｃｕｉｔ：ＦＰＣ）基板と呼ばれる曲げの可能な基板で接続されるのが一般的であり、ＬＤドライバはピックアップに搭載された光源（レーザダイオード：ＬＤ）の近傍に配置し、信号制御部からＬＤドライバまではこのＦＰＣ基板を用いて配線している。
しかし、光変調制御信号を供給するＦＰＣ基板はある程度の長さとなることは避けられないので、光変調制御信号波形の歪み，遅延（特に複数の制御信号間の遅延差（「スキュー」と称する））等によるＬＤ駆動電流のスイッチタイミングのずれが生じ、ＬＤ駆動電流を切り換えるスイッチが同時に切り換わる時点で波形に乱れが生じ、所望の光波形でレーザ発光させることができなくなる。
【０００４】
図２５は、その説明図である。
同図の（ａ）の電流源３００のＩｂ，Ｉｅ，Ｉｗは、光源ＬＤ３０３の照射レベルに対応した電流を供給し、スイッチ３０１のＳＷ１とＳＷ２はそれぞれ信号Ｓ１とＳ２に従って各電流を選択後、その各電流は加算回路３０２で加算され、その電流が光源ＬＤ３０３を駆動する。信号Ｓ１がハイで信号Ｓ２がローの時は光源ＬＤ３０３には電流Ｉｂ＋Ｉｅが流れてイレースパワーＰｅで照射する。また、信号Ｓ１がローで信号Ｓ２がハイの時は光源ＬＤ３０３には電流Ｉｂ＋Ｉｗが流れてライトパワーＰｗで照射する。ところが、同図の（ｂ）にｍで矢示するように、信号Ｓ１に遅延が発生して信号Ｓ１とＳ２の間にスキューが生じると、Ｐｅ→Ｐｗへの照射レベル変化の際に光波形に乱れ（同図の（ｂ）に破線枠で囲んだ部分）が生じる。
【０００５】
上述のように所望の光波形でレーザ発光させることができなくなると、マーク形状やマークの位置の精度が損なわれ、その結果としてデータエラーの原因になる。特に光ディスク装置固有のスキューに対して高速化記録を行う際にはこの影響はより顕著に現れる。
例えば、１ｎｓ程度のスキューが生じている光ディスク装置において、ＣＤ１倍速記録を行う際には、１チャネルクロック周期Ｔは約２３０ｎｓであり、通常このチャネルクロック周期Ｔに対してＴ／３２程度の分解能（〜７ｎｓ）でパルス幅を設定する必要があり（なお、情報記録媒体によってはＴ／４０の分解能が必要なものもある）、スキューが１ｎｓ程度あったとしてもさほど影響は生じない。
【０００６】
しかし、ＣＤ４８倍速記録を行う際にはＴ＝約４．８ｎｓであり、約１５０ｐｓ程度のパルス幅設定分解能が必要になり、１ｎｓものスキューは許容できるものではなく、上述のように所望の光波形でレーザ発光させることができなくなってマーク形状やマークの位置の精度が損なわれ、その結果としてデータエラーの原因になるという問題があった。
そこで、このような問題を解決するものとして、複数の電流源の電流を切り換えるスイッチ手段を介してＬＤに供給するＬＤ駆動手段と、情報記録媒体に記録する２値化記録信号に対応してＬＤを駆動する駆動波形（光変調波形）を復元し、スイッチ手段を制御する駆動波形復元手段とを同一のレーザ駆動集積回路に設けることにより、ＬＤ駆動手段と駆動波形復元手段との間の配線を短くしてスキュー発生を防止した光源駆動装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００７】
【特許文献１】
特開平１１−２８３２４９号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の光源駆動装置では、ＬＤ駆動手段と駆動波形復元手段とを同一集積回路に設けたとしても、各スイッチング制御信号を生成する回路やスイッチの遅延，制御信号線の線路長，負荷条件など全てを等価にすることは困難であり、少なからずはスキューが発生する。今後のより高速化の要求に対してはこの微小なスキューであっても無視できなくなる恐れもあり、根本的な解決にならないという問題があった。
【０００９】
また、今後さらに情報記録媒体への高速化，高密度化記録が求められると、光変調制御信号生成部（駆動波形復元手段）では、より高速動作及び高集積化が求められるため微細なＣＭＯＳプロセスが好適となるが、一方では、ＬＤ駆動部には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖなど）が要求される。
【００１０】
しかしながら、通常、微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難である（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しかない）ので、高速化の実現が困難であったり、あるいは大幅なコストアップを招き、消費電力が増大し、集積回路サイズの増大するなどの多くの不具合が生じるという問題もあった。さらには、上記スキュー量はデバイスのバラツキなどによって個体間で異なることもある。
【００１１】
さらには、光変調制御信号を伝送する際（特にＦＰＣ基板上を伝送する際は顕著となるが）、理想的な二値化信号波形で伝送されず、受信側では信号波形のなまりが生じ、その信号波形のなまりが立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまう。
つまり、光波形を所望の光波形で発光させることができなくなり、マーク形状やマークの位置の精度が損なわれた結果としてデータエラーの原因になる。
【００１２】
図２６はその問題を説明するための信号波形図である。
同図の（ａ）は理想的な二値化波形を示しており、同図の（ｂ）は波形のなまりが生じて立上り時間と立下り時間が異なった場合の波形例を示しており、同図の（ｃ）は同図の（ｂ）の波形を図示したスライスレベルで二値化した場合の波形を示している。立下り時間が異なるとパルス幅が理想値と異なる。
また、同図の（ｅ）は、同図の（ｄ）に示すなまりの生じた波形に対して異なるスライスレベル（ｉ）〜（ｉｉｉ）で二値化した場合の波形を示している。その実線，破線，一点鎖線で示す部分はそれぞれスライスレベル（ｉ）（ｉｉ）（ｉｉｉ）に対応する。
【００１３】
このようにスライスレベルが異なると、二値化した信号のパルス幅が変動する。また、スライスレベルが一定であっても、伝送時の損失などによって入力電圧振幅が変動しても同様の問題が生じる。
このようなパルス幅変動量は伝送路などによって決まるため、光ディスク装置によって固定であり、変調信号の立上り／立下り時間が必要なパルス幅精度に対して十分短い場合は大きな問題とはならないが、高速記録の際にパルス幅が狭くなりパルス幅精度も短いものが要求されると、１ｎｓｅｃ程度の立上り時間でのパルス幅変動による影響は無視できず、この問題はより顕著に現れる。
さらには、高速化が進んでよりパルス幅が短くなり、パルス幅Ｔｗ＜立上り時間Ｔｒ，立下り時間Ｔｆとなると、二値化した際パルス幅が変動してしまう（同図の（ｆ）〜（ｈ）参照）。つまり、あるパルス幅以下のパルスのみパルス幅が変動してしまうという問題も生じる。
【００１４】
また、複数の光変調制御信号間で立上り時間や立下り時間あるいはスライスレベルや入力電圧振幅の差があると、光変調制御信号間のスキューが生じ、上述したスキューによる光波形の乱れの問題が起こる。
このような問題を解決する手段として、光変調制御信号を差動信号で転送する技術が提案されている。
しかしながら、その従来の技術では光変調制御信号の信号線数が二倍になるため、ＦＰＣ基板幅が拡大し、ピックアップの小型化を妨げてしまう。また、集積回路のピン数も増加するためコストアップになるという問題があった。
【００１５】
この発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、情報記録媒体に対する高速記録及び高密度記録時、光変調制御信号波形の歪み，スキュー，信号伝送によるパルス幅の変動等によって光変調波形が所望値からずれるのを抑制し、高速化などの要求に対してもコスト，性能などを犠牲にすることなく実現できる光源駆動装置を提供することを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記の目的を達成するため、次の（１）〜（７）の各光源駆動装置を提供する。
（１）光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、その変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、その電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、その生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、上記変調信号生成手段から出力された変調信号の出力電圧を調整する出力電圧調整手段と、その出力電圧調整手段によって調整された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、そのパルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記出力電圧調整手段による調整時の出力電圧を制御する出力電圧制御手段を備えた光源駆動装置。
【００１９】
（２）光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、その変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、その電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、その生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、上記変調信号生成手段から出力された変調信号を所定のスライスレベルに基づいて二値化する二値化手段と、その二値化手段によって二値化された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、そのパルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記二値化手段による二値化時のスライスレベルを制御するスライスレベル制御手段を備え、上記スライスレベル制御手段を、上記パルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記二値化手段による二値化時の各変調信号毎にそれぞれのスライスレベルを個々に制御する手段にした光源駆動装置。
（３）（１）の光源駆動装置において、上記パルス幅検出手段を、上記光源の出射光量の一部を受光素子でモニタして生成されるモニタ受光信号を平滑化することによって上記出力電圧調整手段によって調整された変調信号のパルス幅を検出する手段にした光源駆動装置。
（４）（２）の光源駆動装置において、上記パルス幅検出手段を、上記光源の出射光量の一部を受光素子でモニタして生成されるモニタ受光信号を平滑化することによって変調信号のパルス幅を検出する手段にした光源駆動装置。
（５）光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、その変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、その電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、その生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、上記変調信号生成手段から出力された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、そのパルス幅検出手段の検出結果に基づいて上記駆動波形生成情報を変更することにより上記変調信号のパルス幅を調整するパルス幅制御手段を備えた光源駆動装置。
【００２３】
（６）（１）乃至（５）のいずれかの光源駆動装置において、上記電流源選択手段で上記各変調信号によって複数の電流を選択するタイミングの差を検出する遅延検出手段と、その遅延検出手段の検出結果に基づいて上記電流源選択手段による上記各変調信号によって複数の電流を選択するタイミングの差がほぼ０になるように各々の変調信号の遅延量を制御する遅延制御手段とを設けた光源駆動装置。
（７）（１）乃至（６）のいずれかの光源駆動装置において、上記変調信号のハイレベル出力電圧及びローレベル電圧電圧を任意に定めるようにした光源駆動装置。
【００２４】
また、次の（８）の情報記録装置も提供する。
（８）（１）乃至（７）のいずれかの光源駆動装置を搭載した情報記録装置。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の参考技術と実施形態を図面に基づいて具体的に説明する。
まず、この発明と参考技術の光源駆動装置を適用する情報記録再生装置の全体構成及び動作概要について説明する。
図１は、この発明の参考技術と一実施形態である情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
情報記録媒体１００は再生すべき情報が記録された光ディスク又は情報の記録が行われる光ディスク（例えば、ＣＤ−ＲＯＭディスク，ＤＶＤ−ＲＯＭディスク，ＣＤ−Ｒディスク，ＣＤ−ＲＷディスク，ＤＶＤ−Ｒディスク，ＤＶＤ−ＲＡＭディスク，ＭＤディスク，ＭＯディスクなどの光ディスク等）である。
【００２６】
ピックアップ１０１は、光源（例えば半導体レーザ（ＬＤ））１０２からの出射光を情報記録媒体１００に照射して情報の記録を行ったり、情報記録媒体１００からの反射光を受光して受光信号に変換するものであり、光源１０２や光源１０２を駆動する光源駆動部（ここでは図示を省略する），反射光を受光して受光信号に変換する受光部１０３などが配置されている。また、ピックアップ１０１には光源１０２の出射光の一部をモニタするモニタ受光部も配置され、そのモニタ受光部からの出力であるモニタ信号によって光源１０２の出射光量変動が制御される。さらに、情報記録媒体１００の照射光に対する傾き（「チルト」と呼ぶ）を検知するためのチルト検出受光部などが配置される場合もある。さらにまた、異なる媒体フォーマットが定められた複数種類の情報記録媒体に対応する情報記録再生装置の場合（例えば、ＤＶＤ及びＣＤ両対応装置など）、それぞれの情報記録媒体に好適な波長の光源を持つ場合があり、それぞれの光源出射時に情報記録媒体からの反射光を受光する受光部やモニタ受光部を別個に備える場合もある。
【００２７】
信号処理部１０４は、ピックアップ１０１に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様々な信号処理が行われる。例えば、受光信号から情報を再生したり、情報記録媒体の回転に伴う面振れやトラックの半径方向の振れなどの変動に対して常に所定の誤差内で光を照射するように制御（フォーカスサーボ制御及びトラックサーボ制御）するために受光信号からサーボエラー信号を生成し、そのサーボエラー信号に基づいてピックアップ１０１を制御する。また、記録すべき情報を所定の規則に従って変調し、記録信号として光源１０２（または光源駆動部）に出力したり、光源１０２の出力光量制御を行う。
【００２８】
回転駆動部１０５は、データ記録及び再生時に情報記録媒体１００を所定の回転速度で回転させるものであり、信号処理部１０４によって回転速度が制御（スピンドルサーボ制御）される。例えば、ＣＬＶ回転制御を行う際には、より精度よく回転制御をするために情報記録媒体１００に埋め込まれた回転制御信号をピックアップ１０１を介して検出し、その回転制御信号に基づいて回転制御を行う。回転制御信号には、例えば再生専用の情報記録媒体などでは記録された情報に所定間隔で配置された同期信号などを用い、記録可能な情報記録媒体では記録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルなどを用いる。
コントローラ１０６は、図示を省略したホストコンピュータとの記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行うと共に、この情報記録再生装置の全体の制御を行う。
【００２９】
ピックアップ１０１は情報記録媒体１００の半径方向にシーク動作させるため、ピックアップ１０１と信号処理部１０４等が搭載されている回路基板とはＦＰＣ基板（またはケーブル）と呼ばれる基板（またはケーブル）で接続しており、光源１０２や受光部１０３等のピックアップ１０１に搭載される部品はこのＦＰＣ基板に実装することもできる。
【００３０】
次に、上記情報記録再生装置の信号処理部の構成及び動作概略について説明する。
図２は、図１に示した情報記録再生装置の信号処理部１０４の構成を示すブロック図である。
この実施形態では、異なるフォーマットの情報記録媒体へ対応させるために二つの光源ＬＤ１と光源ＬＤ２（図１の光源１０２に相当する）を備えており、受光部ＰＤ２及び受光部ＰＤ５（図１の受光部１０３に相当する）によってそれぞれの光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の照射光の一部をモニタする。
【００３１】
受光部ＰＤ１では光源ＬＤ１の照射時に情報記録媒体からの反射光を受光し、受光部ＰＤ４では光源ＬＤ２の照射時に情報記録媒体からの反射光を受光する。受光部ＰＤ３はチルト量を検知する。受光部ＰＤ１，受光部ＰＤ３，受光部ＰＤ４（図１の受光部１０３に相当する）は、複数に分割された分割受光素子によって受光している。
なお、ピックアップによっては光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の出射光を同一の受光部でモニタする場合もある。同様に、情報記録媒体からの反射光を受光する受光部も同一とする場合もある。
【００３２】
受光信号処理部４は、受光部ＰＤ１，受光部ＰＤ３，受光部ＰＤ４がそれぞれ出力する各受光信号を入力し、その各受光信号のオフセット調整及びゲイン調整などの処理を行う。
サーボ信号演算処理部１３は、受光信号処理部４から供給される各受光信号からサーボエラー信号を生成する。同時に、オフセット調整とゲイン調整も行い、生成したサーボエラー信号をサーボプロセッサ１４へ供給する。
ＲＦ選択部５は、受光部ＰＤ１及び受光部ＰＤ４の出力する受光信号を入力し、後段の回路に必要な信号を選択あるいは一部加減算などの演算を行って供給する。
ウォブル信号生成部６は、ＲＦ選択部５から入力される信号に基づいて記録可能な情報記録媒体にプリフォーマットされたウォブルを検出するものである。
【００３３】
ウォブル信号処理部１５は、ウォブル信号生成部６によって生成されたウォブル信号から二値化ウォブル信号を抽出し、ＷＣＫ生成部１７及び回転制御部１８へ供給する。また、ウォブルに情報記録媒体毎に所定の規則で変調されたアドレス情報を復調し、コントローラ１９（図１のコントローラ１０６に相当する）へ供給する。
ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６は、ＲＦ選択部５から入力された再生ＲＦ信号から二値化ＲＦ信号を生成し、再生している情報記録媒体の変調方式規則に則って復調を行う。また、ＰＬＬ回路によって二値化ＲＦ信号から再生クロックを抽出する。復調したデータはコントローラ１９へ供給する。さらに、二値化ＲＦ信号に所定間隔で挿入された同期信号より回転制御信号を抽出して回転制御部１８へ供給する。
【００３４】
回転制御部１８は、ウォブル信号処理部１５又はＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６から入力される信号から回転制御を行うためのスピンドルエラー信号を生成し、サーボプロセッサ１４へ供給する。また、情報記録媒体を角速度一定（ＣＡＶ）で回転させる場合は回転制御駆動部（図示を省略）から出力されるディスク回転を示す信号（図示を省略）によってスピンドルエラー信号を生成する。
サーボプロセッサ１４は、コントローラ１９からの指令に基づいて入力される各種サーボエラー信号からサーボ制御信号を生成し、サーボドライバ７へ出力する。
サーボドライバ７は、サーボプロセッサ１４から入力されるサーボ制御信号に基づいてサーボドライブ信号を生成する。各駆動部は供給されたサーボドライブ信号によってサーボ制御動作が行われる。ここでは、フォーカス制御，トラック制御，シーク制御，スピンドル制御，チルト制御である。
【００３５】
ＷＣＫ生成部１７は、ウォブル信号処理部１５から供給された二値化ウォブル信号に基づいて記録クロック信号ＷＣＫを生成し、ＬＤ変調信号生成部集積回路２のＬＤ変調信号生成部１０とコントローラ１９の各部へ供給する。記録時にはその記録クロック信号ＷＣＫを基準にして記録データの生成などが行われる。
記録時には、コントローラ１９から記録クロック信号ＷＣＫに同期して記録データ信号ＷｄａｔａがＬＤ変調信号生成部１０へ供給される。その記録データ信号Ｗｄａｔａは記録すべき情報が所定の規則に従って変調されている。
ＬＤ変調信号生成部１０は、ＷＣＫ生成部１７から入力される記録クロック信号ＷＣＫ及びコントローラ１９から入力される記録データ信号Ｗｄａｔａから光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を変調するためのＬＤ変調信号を生成し、ＬＤ駆動集積回路３のＬＤ駆動部１２へ供給する。
【００３６】
ＬＤ制御部９は、受光部ＰＤ２あるいは受光部ＰＤ５からのモニタ受光信号を入力し、そのモニタ受光信号に基づいて光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の出射光量が所望の値になるようにＬＤ駆動部１２へＬＤ制御信号を供給する（いわゆる自動記録パワー（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ：ＡＰＣ）制御を行う）。
ＬＤ駆動部１２は、ＬＤ制御部９から入力されるＬＤ制御信号及びＬＤ変調信号生成部１０から入力されるＬＤ変調信号に基づいて光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を電流駆動して発光させる。
また、コントローラ１９からは各部の制御信号が出力される。
【００３７】
次に、上記駆動・制御対象となる光源ＬＤ１と光源ＬＤ２について説明する。通常、ＬＤの駆動電流ＩＬＤに対する光出力Ｐｏは次の数１に示す演算式に基づく演算処理によって近似することができる。ここで、η：微分量子効率、Ｉｔｈ：閾値電流である。
図３は、光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の駆動電流−光出力特性の一例を示す線図である。
【００３８】
図３の（ａ）は、ＬＤの駆動電流ＩＬＤに対する光出力Ｐｏの特性を示す線図であり、（ｉ）と（ｉｉ）は微分量子効率（η，η′）と閾値電流（Ｉｔｈ，Ｉｔｈ′）がそれぞれ変動した場合を示す。同図の（ｃ）は駆動電流ＩＬＤの電流量を示す図であり、一定のバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍ（時間ｔに対する波形を示す）とを加算した値となる。光源ＬＤの特性が（ｉ）である場合は、同図の（ｃ）に示した駆動電流を流すと、同図の（ｂ）に示す光波形Ｐが得られる。同様にして、光源ＬＤが（ｉｉ）の特性の場合には、同図の（ｄ）に示すようにバイアス電流Ｉｂ′と変調電流Ｉｍ′を加算した電流をＬＤに駆動すると、同図の（ｂ）に示す光波形Ｐが得られる。
【００３９】
【数１】
Ｐｏ＝η・（ＩＬＤ−Ｉｔｈ）
【００４０】
つまり、図３の（ａ）に示すように、所望の光変調波形Ｐを得るためには、ＬＤ駆動電流ＩＬＤをバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍの和（Ｉｂ＋Ｉｍ）とした場合、バイアス電流Ｉｂは閾値電流Ｉｔｈにほぼ等しく、変調電流Ｉｍは図３の（ｂ）に示すような光変調波形Ｐ＝η・Ｉｍとなる電流を駆動すればよい。
しかし、一般に、この閾値電流Ｉｔｈと微分量子効率ηは個体間のばらつきのみならず、温度変化によっても変動するため、所望の光変調波形Ｐを常時得るためには、閾値電流Ｉｔｈ及び微分量子効率ηの変動に伴ってバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍを制御することが望ましい。
【００４１】
例えば、図３の（ａ）に示す（ｉ）の閾値電流Ｉｔｈと微分量子効率ηが、（ｉｉ）のように閾値電流がＩｔｈ′に、微分量子効率がη′にそれぞれ変動した場合、所望の光変調波形Ｐを得るためには、バイアス電流Ｉｂ′を閾値電流Ｉｔｈ′に、変調電流Ｉｍ′を図３の（ｃ）に示すように光変調波形Ｐ＝η′・Ｉｍ′となるように制御すればよい。
すなわち、図２に示したＬＤ制御部９がこの制御機能を果たす。
【００４２】
次に、この発明の光源駆動装置の参考技術と一実施形態を図面に基づいて説明する。
図４は、この発明の参考技術の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
この光源駆動装置は、ＬＤ変調信号生成部１０を含むＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ制御部９及びＬＤ駆動部１２からなるＬＤ駆動集積回路３とからなっており、異なるプロセスで作製される集積回路である。ＬＤ駆動集積回路３は駆動するＬＤ１０２の近傍に配置し、ピックアップ１０１に搭載する。
【００４３】
ＬＤ変調信号生成部集積回路２のＬＤ変調信号生成部１０は、記録クロック信号ＷＣＫからｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫ及びＰＣＫと所定量づつ位相の異なる複数のクロックＣＫ０〜ＣＫ７を生成するフェーズロックループ部（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ：ＰＬＬ）２０と、コントローラ１９（図１のコントローラ１０６に相当する）から供給される記録データ信号Ｗｄａｔａのランレングスを検出してランレングス信号Ｌｅｎを供給し、所定量記録データ信号を遅延させた遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａを出力するランレングス検出部２１を備えている。
【００４４】
さらに、光源ＬＤの駆動波形に基づく駆動波形生成情報を格納しておき、ランレングス信号Ｌｅｎに対応した情報を遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａに合わせて出力する駆動波形生成情報保持部２２と、その駆動波形生成情報から変調信号Ｍ０〜Ｍ２を生成する変調信号生成部２３と、その変調信号Ｍ０〜Ｍ２をそれぞれ所定量パルス幅を増加又は減少させて変調信号ＭＯＤ０〜ＭＯＤ２を供給するパルス幅調整部５０と、変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅を制御するパルス幅制御信号をパルス幅調整部５０へ供給するパルス幅制御部５２と、遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ（又は記録データ信号Ｗｄａｔａ）からＬＤ制御用タイミング信号を生成するＬＤ制御タイミング信号生成部２６と、コントローラ１９から供給される制御コマンドを受け各部へ制御信号を供給する制御部２５を備えている。また、パルス幅制御を行う際にパルス幅検出のためのテスト信号を生成するテスト信号生成部５３も備えている。
【００４５】
一方、ＬＤ駆動集積回路３は、光源ＬＤ（図２の光源ＬＤ１と光源ＬＤ２に相当する）の照射レベルＰ０，Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ対応した照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａ及び変調信号Ｍｏｄ０，Ｍｏｄ１，Ｍｏｄ２に基づいてＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを生成する変調部２７と、光源ＬＤの出射光の一部をモニタするモニタ受光部ＰＤ（図２の受光部ＰＤ２，ＰＤ５に相当する）からのモニタ受光信号を入力し、そのモニタ受光信号に基づいて光源ＬＤの出射光量が所望の値になるようにバイアス電流Ｉｂｉａｓ及び変調電流のスケールを指示するスケール信号Ｉｓｃｌを制御するＬＤ制御部３３と、ＬＤ変調電流Ｉｍｏｄとバイアス電流Ｉｂｉａｓを加算する加算部３１と、加算部３１から供給される電流を増幅して光源ＬＤの駆動電流ＩＬＤを供給する電流駆動部３２と、コントローラ１９から（あるいは制御部２５を介して）供給される制御コマンドを受けて各部へ制御信号を供給する制御部３４とから構成されている。
【００４６】
また、変調部２７は、照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａに基づいてそれぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２を供給する３個の電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜２８ｃからなる電流源２８と、変調信号Ｍｏｄ０，Ｍｏｄ１，Ｍｏｄ２に従ってそれぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２をオンオフ制御する３個のスイッチ２９ａ〜２９ｃからなるスイッチ（ＳＷ）２９と、スイッチ２９の出力する各電流を加算してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを供給する加算部３０とから構成される。
上記ＬＤ制御部３３が図２のＬＤ制御部９に相当し、上記２７〜３２，３４が図２のＬＤ駆動部１２の内部構成である。
【００４７】
この光源駆動装置においては、電流源２８とスイッチ２９及び変調信号Ｍｏｄの組み合わせを増やすことによって対応できる。
ここでは説明を簡単にするため、図５に示すように三値レベルで記録する場合について説明する。
図５は、図４に示した各部の出力信号の信号波形の一例を示す図であり、ここで想定する情報記録媒体は相変化型情報記録媒体（例えば、ＣＤ−ＲＷディスク，ＤＶＤ−ＲＷディスク，ＤＶＤ＋ＲＷディスクなど）とし、同図の（ｃ）に示す記録データ信号Ｗｄａｔａ及び同図の（ｂ）に示す記録クロック信号ＷＣＫに基づいて、同図の（ｄ）に示すような光変調波形Ｐで光源ＬＤを発光させて、情報記録媒体の記録面に同図の（ｅ）に示す記録マークを形成する。
【００４８】
また、同図の（ａ）に示すライトゲート信号ＷＧは記録／再生の切換えを指示し、ローの期間は再生を（再生パワーＰｒ）、ハイの期間は記録データ信号Ｗｄａｔａ及び記録クロック信号ＷＣＫに基づいて光源ＬＤを発光させる。
同図の（ｇ−１）〜（ｇ−３）に示したＭｏｄ０〜Ｍｏｄ２は、スイッチ２９をスイッチングする変調信号であり、スキューのない状態を示す。
同図の（ｈ−１）〜（ｈ−３）に示したＭ０′，Ｍ１′，Ｍ２′は、従来技術の装置での変調信号の波形の一例であり、Ｍ０′とＭ１′間にスキューΔ１が、Ｍ１′とＭ２′間にスキューΔ２が発生しているものとする。
そして、上記スキューΔ１とΔ２を補正すると、変調信号が同図の（ｇ−１）〜（ｇ−３）に示したＭｏｄ０〜Ｍｏｄ２の状態になる。
【００４９】
なお、スキューの発生には変調信号生成部２３の出力時に生じるものと、スイッチ２９への伝送中に生じるものと、スイッチ２９のスイッチング時に生じるものなどがあり、配線長差，線路インピーダンス差，負荷特性，デバイスバラツキなどが原因となる。この光源駆動装置の説明ではこれらを含んだものとする。
【００５０】
相変化型情報記録媒体は、一般には、光変調波形ＰのライトパワーＰｗ，イレースパワーＰｅ，ボトムパワーＰｂの三値のマルチパルスで記録マークが形成される。それぞれＬＤ駆動電流ＩＬＤが、つまりは増幅前の電流ＩＬＤ′がＩｂｉａｓ，Ｉｂｉａｓ＋Ｉ１，Ｉｂｉａｓ＋Ｉ２となる照射レベルである。
また、再生時のパワーＰｒは電流ＩＬＤ′がＩｂｉａｓ＋Ｉ０となる照射レベルである。つまり、照射レベルは電流値Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２をそれぞれ設定する照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａにより決められる。この時、記録パワーレベル及び各パルスのパルス幅・パルス間隔を精度よく制御することによって正確な記録がなされる。
【００５１】
この際、記録媒体あるいはその記録線速度によってはマークが形成されるとき、隣接のスペース長によって媒体上で熱的影響を受け、マークのエッジが隣接スペース長によってさまざまに変動する場合がある。これを避けるために、従来では隣接のスペース長を考慮して光変調波形の各パルス幅を変えている。また、上記に加えて、隣接のスペース長を考慮してパワーを変えられるようにすれば、媒体に与える熱量としては隣接スペース長に応じてパルス幅補正をするのと等価となるので、実質的にパルス幅制御分解能の細分化を行っているのと同等となり、高速記録化対応に適したものとなる。
この光源駆動装置においては、電流源２８とスイッチ２９及び変調信号Ｍｏｄの組み合わせを増やすことによって対応できる。ここでは説明を簡単にするため、図５に示すように三値レベルで記録する場合について説明する。
【００５２】
次に、図４に示した各部の動作と詳細構成について説明する。
［ＰＬＬ］
図６は、図４のＰＬＬ２０の内部の詳細な構成を示すブロック図である。
ＰＬＬ２０は、Ｍ分周器（１／Ｍ）２０１，位相比較器（ＰＣ）２０２，ループフィルタ２０３，発振器（ＶＣＯ）２０４，Ｎ分周器（１／Ｎ）２０５，分周器（Ｍ／Ｎ）２０６からなり、各部動作は通常のＰＬＬ回路と同様であるので詳細な説明は省略する。
このＰＬＬ２０は、記録クロック信号ＷＣＫからｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫを生成し、クロック信号ＰＣＫと所定量づつ位相の異なる複数のクロック（この光源駆動装置ではＣＫ０〜ＣＫ７の８つのクロックとし、ＣＫ０をＰＣＫとする）を生成する。また、チャネルクロック信号ＣＬＫも生成する。
【００５３】
Ｍ分周器２０１は、記録クロック信号ＷＣＫをＭ分周する。その分周比１／Ｍは設定可能とし（例えば、Ｍ＝２，４）、記録クロック信号が記録チャネルクロックを分周した信号で供給される場合に対応する。記録クロック信号の周波数を下げて転送をすることによってノイズの発生を低減できる。
発振器２０４は、所定量づつ位相の異なるｍ個のクロック（この光源駆動装置ではＣＫ０〜ＣＫ７の８つのクロック（ｍ＝８）とし、ＣＫ０をＰＣＫとする）を生成し、変調信号生成部２３へ出力する。これは例えばリングオシレータなどによって構成される。
【００５４】
Ｎ分周器２０５は、発振器２０４の出力する一つのクロック信号（例えば、ＣＫ０）をＮ分周する。その分周比１／Ｎは設定可能とし、Ｎ／Ｍが記録クロックＷＣＫに対するクロック信号ＰＣＫの逓倍数ｎとなる。
また、分周器２０６によってＰＣＫ信号をＭ／Ｎ分周して記録チャネルクロックＣＬＫを生成してランレングス検出部２１へ供給する。
後述するように、ＬＤ変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２はクロック信号ＣＫ０〜ＣＫ７を基準に生成する。
【００５５】
つまり、分周比１／Ｎ，１／Ｍを設定することによってＬＤ変調信号Ｍｏｄのパルス幅設定分解能を設定できる。例えば、供給される記録クロック信号ＷＣＫが記録チャネルクロックと同一周波数で転送されるものとし、Ｍ＝４，Ｎ＝１６と設定すると、クロック信号ＰＣＫはチャネルクロックの４逓倍の周波数となり、ＬＤ変調信号ＷＳＰはチャネルクロックに対して１／３２（＝ｍ・Ｍ／Ｎ）のパルス幅設定分解能で生成できる。以下、これをパルス幅設定ステップと称する（また適宜、単にステップと省略する）。上記例の場合、３２ステップが１チャネルクロック周期に相当する。
【００５６】
［ランレングス検出部］
ランレングス検出部２１は、コントローラ１９から供給される記録データ信号Ｗｄａｔａのランレングスを検出し、駆動波形生成情報保持部２２へランレングス信号Ｌｅｎを供給する。記録データ信号ＷｄａｔａはＮＲＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）の二値化信号でハイ区間が記録マークを、ロー区間がスペースをそれぞれ表すものとする。つまり、このランレングス検出部２１は記録データのマーク長及びスペース長を検出する。ここでは、ランレングス信号Ｌｅｎ１がマーク長を、ランレングス信号Ｌｅｎ０が直前スペース長を、ランレングス信号Ｌｅｎ２が直後スペース長をそれぞれ供給するものとする。
【００５７】
また、ランレングス検出部２１は適用する記録データ信号の最小最大ランレングスに応じて構成され、この第一実施形態ではＤＶＤフォーマットの情報記録媒体（ＤＶＤ＋ＲＷディスク，ＤＶＤ−Ｒディスク，ＤＶＤ−ＲＡＭディスクなど）に記録を行う光情報記録装置への適用を想定し、記録データ信号ＷｄａｔａはＥＦＭ＋変調を行った信号を想定して説明する。つまり、ランレングスは３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔはチャネルクロック周期）となる。
さらに、ランレングス検出部２１は、ランレングスを検出するのに必要な所定時間及び各回路の遅延時間差などを考慮して記録データを所定量遅延させて遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａを変調信号生成部２３とＬＤ制御タイミング信号生成部２６へ出力する。
【００５８】
［駆動波形生成情報保持部］
駆動波形生成情報保持部２２は、駆動波形生成情報を格納しておくメモリであり、ランレングス検出部２１から出力されるランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に対応した情報を遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａに合わせて変調信号生成部２３へ出力する。
図７は、この参考技術の光源駆動装置における駆動波形生成情報と光波形との関係の一例を示す図である。
【００５９】
駆動波形生成情報は光波形の照射レベル変化タイミングを表すタイミング情報などからなる。このタイミング情報はパルス幅設定ステップ数で表され、図７に示すように、各タイミング情報（ＴＳＳ，ＴＳＰ，ＴＭＳ，ＴＭＰ，ＴＬＳ，ＴＬＰ）を基準時刻（例えば、遅延記録データ立上りエッジ）から累積していくことによって変化タイミングを決めていく。また、図中のＮＭＰはＴＭＳ及びＴＭＰの繰り返し回数である（図７ではＮＭＰ＝２の例を示す）。
このようにして、マルチパルス周期及びデューティを任意に設定することができる。
【００６０】
また、この光源駆動装置では、駆動波形を記録データ信号Ｗｄａｔａのマーク長とその隣接するスペース長によって変化させ、形成する記録マークエッジ位置を高精度に制御するようにしている。
記録マークが形成される時、隣接のスペース長によって媒体上で熱的影響を受け、エッジが隣接スペース長によって変化する。これを避けるために、隣接のスペース長を考慮して駆動波形を変化させるものである。
つまり、マーク長及び直前直後のスペース長の各組み合わせに対応した駆動波形生成情報を格納しておき、ランレングス検出部２１によって検出したランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に応じて対応した駆動波形生成情報を供給する。
【００６１】
なお、マーク長及び隣接スペース長が所定値以上の場合は熱的影響やその変化分は少ない。そのため、全ての組み合わせに対応した駆動波形生成情報を用意する必要はなく、影響度の大きい組み合わせのみ用意すれば情報の保持に必要なメモリ容量を低減できる。また、この光源駆動装置では、各パラメータに応じて用意する組み合わせも変え、メモリ容量の低減化とマーク形状制御の高精度化の両立を図っている。
【００６２】
［変調信号生成部］
変調信号生成部２３は、駆動波形生成情報保持部２２からの駆動波形生成情報（タイミング情報）に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２を生成し、パルス幅調整部５０へ出力する。図５の（ｆ−１）〜（ｆ−３）がそれぞれ変調信号Ｍ０〜Ｍ２の一例を示す波形図である。その変調信号Ｍ０〜Ｍ２の生成の際はクロック信号ＣＫ０〜ＣＫ７を基準とし、それらのクロック信号の位相差に相当する時間が変調信号のパルス幅設定分解能となる。
【００６３】
［ＬＤ制御タイミング信号生成部］
ＬＤ制御タイミング信号生成部２６は、記録データ信号Ｗｄａｔａからサンプルホールド方式のＡＰＣ制御用サンプル信号などのＬＤ制御用のタイミング信号を生成する。光源の発光波形は記録データ信号Ｗｄａｔａに対してランレングス検出部２１での遅延分遅れるので、発光波形に合わせてサンプル信号を生成する。
【００６４】
［変調部］
変調部２７は、光源ＬＤの照射レベルＰ０，Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ対応した照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａに基づいて、それぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２を供給する各電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜２８ｃからなる電流源（ＤＡＣ）２８と、変調信号Ｍｏｄ０，Ｍｏｄ１，Ｍｏｄ２に従ってそれぞれ電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２をオンオフ制御する各スイッチ２９ａ〜２９ｃからなるスイッチ２９と、スイッチ２９の出力する各電流を加算してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを供給する加算部３０とから構成される。
【００６５】
図８は、光源ＬＤの駆動電流−光出力特性の例と変調部２７の各部電流との関係を示す図である。
電流源（ＤＡＣ）２８ａは照射レベルデータＰ０Ｄａｔａに基づいて電流Ｉ０を供給する電流出力ＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）であり、同様に電流源（ＤＡＣ）２８ｂ，電流源（ＤＡＣ）２８ｃはそれぞれ照射レベルデータＰ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａに基づいて電流Ｉ１，Ｉ２を供給する電流出力ＤＡＣであり、電流源（ＤＡＣ）２８としての機能を果たす。また、電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜電流源（ＤＡＣ）２８ｃのフルスケールＩｓｃｌはＬＤ制御部３３から供給され、微分量子効率ηの変動に応じて制御される。よって、電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜電流源（ＤＡＣ）２８ｃの出力電流Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２はそれぞれ次の数２〜数４の演算式に基づく処理で得られる。ここでは、電流源（ＤＡＣ）２８ａ〜電流源（ＤＡＣ）２８ｃは８ビット（ｂｉｔ）ＤＡＣとしている。
【００６６】
【数２】
Ｉ０＝（Ｐ０Ｄａｔａ／２５５）＊Ｉｓｃｌ
【００６７】
【数３】
Ｉ１＝（Ｐ１Ｄａｔａ／２５５）＊Ｉｓｃｌ
【００６８】
【数４】
Ｉ２＝（Ｐ２Ｄａｔａ／２５５）＊Ｉｓｃｌ
【００６９】
なお、図８においては、後述する電流駆動部３２での増幅率Ａｉをかけた電流値Ｉ０′，Ｉ１′，Ｉ２′を図示している。
スイッチ２９ａ〜２９ｃは、それぞれ変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２に従って電流Ｉ０〜Ｉ２をオンオフ制御する。図５の波形図において、変調信号が「ハイ（Ｈｉｇｈ）」の時にスイッチはオンとなるものとする。そして、スイッチ２９ａ〜２９ｃでオンになった電流が加算部３０によって加算され、変調電流Ｉｍｏｄを得る。つまり、次の数５に示す演算式に基づく処理で変調電流Ｉｍｏｄを求めることができる。
なお、「×Ｍｏｄ（ｎ）」（（ｎ）は０，１，２）はＭｏｄ（ｎ）が「ハイ（Ｈｉｇｈ）」の時に×１を、「ロー（Ｌｏｗ）」の時に×０を意味する。
【００７０】
【数５】
Ｉｍｏｄ＝Ｉ０×Ｍｏｄ０＋Ｉ１×Ｍｏｄ１＋Ｉ２×Ｍｏｄ２
【００７１】
図８において、電流ＩｂはＬＤ制御部３３で制御されたバイアス電流Ｉｂｉａｓに増幅率Ａｉをかけた電流値であり、その電流Ｉｂに対してボトムレベルＰｂで発光するように制御されている。
そして、再生レベルＰｒで発光させるには、Ｍｏｄ０＝１，Ｍｏｄ１＝０，Ｍｏｄ２＝０として、Ｉｍｏｄ＝Ｉ０となるように変調信号を生成し、光源ＬＤに駆動電流Ｉｂ＋Ｉ０′を流す。この時、照射レベルデータＰ０Ｄａｔａには、Ｐ０（＝Ｐｒ−Ｐｂ）に相当する値を設定しておく。
【００７２】
同様にして、イレースレベルＰｅ，ライトレベルＰｗを照射する。なお、温度変動などにより、光源ＬＤの閾値電流Ｉｔｈと微分量子効率ηが（ｉ）→（ｉｉ）のように変動した場合は、ＬＤ制御部３３によってバイアス電流Ｉｂ及びスケール信号Ｉｓｃｌが制御され所望の光量が得られる。つまり、図８の（ｉｉ）に示す各電流Ｉｂ，Ｉ０′〜Ｉ２′を生成し、所望の光波形（a）を得る。
また、ボトムレベルＰｂに相当する電流Ｉｂ′を常時ＬＤ駆動電流に加算しておき、バイアス電流Ｉｂが閾値電流Ｉｔｈ相当になるように制御してもよい。
つまり、図８の（ア）に示すようにＩｂ＋Ｉｂ′により、ボトムレベルＰｂで発光する。なお、電流Ｉｂ′は他の電流源と同様にスケール信号Ｉｓｃｌによって制御する。
【００７３】
［ＬＤ制御部］
ＬＤ制御部３３は、光源ＬＤの出射光の一部をモニタするモニタ受光部ＰＤからのモニタ受光信号が入力され、そのモニタ受光信号に基づいて光源ＬＤの出射光量が所望の値になるようにバイアス電流Ｉｂｉａｓ及び変調電流のスケールを指示するスケール信号Ｉｓｃｌを制御するものである。
すなわち、温度変動などによって光源ＬＤの閾値電流Ｉｔｈや微分量子効率ηが変動した場合、閾値電流Ｉｔｈの変動に対してバイアス電流Ｉｂｉａｓを、微分量子効率ηの変動に対してスケール信号Ｉｓｃｌをそれぞれ制御する。
また、所定照射レベル時のモニタ受光信号をサンプルホールドして制御を行う場合は、ＬＤ制御タイミング信号生成部２６から供給されるＬＤ制御信号に従って行う。
【００７４】
なお、このＬＤ制御自体は、公知技術を適用すればよいので、詳細な構成や動作説明は省略する。
また、このＬＤ制御部３３はＬＤ駆動集積回路３内に設けず、別途設けるものであってもよい。その際はバイアス電流Ｉｂｉａｓ及びスケール信号Ｉｓｃｌを直接または制御部３４を介して供給するようにすればよい。
【００７５】
［電流駆動部］
電流駆動部３２は、加算部３１から供給される電流を所定の増幅率Ａｉで増幅しＬＤの駆動電流ＩＬＤを供給する。この時、ＬＤ駆動電流ＩＬＤは次の数６の演算式に基づく処理で得られる。
【００７６】
【数６】
ＩＬＤ＝Ａｉ＊（Ｉｂｉａｓ＋Ｉｍｏｄ）
【００７７】
次に、パルス幅調整部５０，パルス幅検出部５１及びパルス幅制御部５２の各部構成と、それらの各部による変調信号のパルス幅補正動作を説明する。
図９は、パルス幅調整部５０から変調部２７への伝送経路中の各点ａ，ｂ，ｃでの変調信号Ｍｏｄ０の各信号波形（図４中のそれぞれａ，ｂ，ｃ点に対応する信号波形）の一例を示す波形図である。
同図の（ａ）のＭ０ａは、パルス幅調整部５０（ＬＤ変調信号生成部集積回路２）の出力端での波形を示し、同図の（ｂ）のＭ０ｂは、ＬＤ駆動集積回路３の入力端での波形を（ＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ駆動集積回路３との間の伝送により波形のなまりが生じる）示し、同図の（ｃ）のＭ０ｃはＬＤ駆動集積回路３の入力部５５により二値化した波形を示し、Ｍ０ｃが変調部２７でのスイッチング信号及びパルス幅検出部５１への入力になる。
ここでは、パルス幅補正時の信号波形例を示しており、変調信号生成部２３は所定の周波数で所定のデューティの（同図ではＤｕｔｙ＝５０％の例を示す）信号を出力している。
【００７８】
［パルス幅調整部］
パルス幅調整部５０は、パルス幅制御部５２から出力されるパルス幅設定信号に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅をそれぞれ増加又は減少させ、変調部２７の入力端（Ｍ０ｃ）でのパルス幅が変調信号生成部２３でのパルス幅とほぼ等しくなるように調整するものである。変調電流は変調部２７の入力端での変調信号のスイッチングタイミングによって変調されるため、上述したようにパルス幅の変動が生じると変調電流つまりは光波形が所望の波形とはならない。
【００７９】
図１０は、パルス幅調整部５０の内部構成例を示すブロック図である。
パルス幅調整部５０は、各信号を遅延させる遅延部２６３ａ〜２６３ｃからなり、各遅延部２６３ａ〜２６３ｃは変調信号を所定量遅延させるｎ個（ｎは正の整数）の遅延素子２６１ａ〜２６１ｎが縦列接続されており、その各遅延素子２６１ａ〜２６１ｎの出力の何れかをパルス幅制御部５２からのパルス幅設定信号ＰＷＳ０〜ＰＷＳ２に基づいて選択し、その選択された出力の論理和または論理積を出力する組み合わせ選択部２６２とからなる。
どの遅延素子２６１ａ〜２６１ｎの出力を選択し、論理和または論理積をするかによってパルス幅を調整することができる。
図１１は、３個の遅延素子２６１ａ〜２６１ｃがそれぞれ出力した出力信号ａ〜ｃの論理和信号（ｂ ｏｒ ｃ）と論理積信号（ｂ ａｎｄ ｃ）の信号波形例を示す図である。同図の（１）〜（３）に示すように、各出力信号ａ〜ｃの論理和信号は同図の（４）に示すようになり、各出力信号ａ〜ｃの論理積信号は同図の（５）に示すようになる。
【００８０】
［パルス幅検出部］
パルス幅検出部５１は、パルス幅調整部５０から出力された変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２の変調部２７の入力端でのパルス幅を検出するものであり、その検出結果をパルス幅制御部５２へ供給する。所定周期の信号のＤＣレベルを検出するようにすれば変調信号のパルス幅を簡単に検出することができる。
図１２は、パルス幅検出部５１の詳細な内部構成例を示すブロック図であり、ローパスフィルタなどによって構成され、変調信号Ｍｏｄ０のＤＣレベルＶｍｄｃを検出する平滑部２７１と、平滑部２７１から出力される変調信号Ｍｏｄ０のＤＣレベルＶｍｄｃをアナログからデジタルへＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２７２とからなり、そのＡ／Ｄ変換器２７２から出力されるパルス幅検出信号をパルス幅制御部５２へ供給する。
【００８１】
例えば、送信側でデューティー（Ｄｕｔｙ）＝５０％の信号を送り、伝送の際パルス幅変動が生じた場合には、ＤＣレベルＶｍｄｃの変動として検出される。変調信号Ｍｏｄ１と変調信号Ｍｏｄ２のパルス幅もそれぞれ同様にして検出できる。また、平滑部２７１への入力を切換えるようにしてもよい。さらに、通常、Ａ／Ｄ変換器は装置内に別途設けられていることも多く、ＤＣレベルＶｍｄｃを出力するようにし、そのＡ／Ｄ変換器を利用してもよい。
【００８２】
［パルス幅制御部］
パルス幅制御部５２は、パルス幅補正時には、パルス幅検出部５１から供給されるパルス幅検出信号に基づいて各変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅を制御する。そして通常時には、その制御されたパルス幅の調整値をパルス幅設定信号としてパルス幅調整部５０に供給する。
図１３は、パルス幅補正時の処理の一例を示すフローチャート図である。以下、図１３と図９に基づいてパルス幅補正処理を詳しく説明する。
まず、パルス幅補正時には、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１の初期化ステップで、コントローラ１９より、制御部２５を介してパルス幅補正動作開始の指示がなされ、各部はパルス幅補正動作に移行する。すなわち、パルス幅設定信号を全て０に初期化し、所定の周期Ｔｐで所定のデューティ（例えば５０％（Ｔ１＝Ｔｐ／２）にする）であるパルス幅調整用の変調信号Ｍ０を出力する（図９の（ａ）の実線（ｉ）参照）。
【００８３】
次に、ステップ２において、パルス幅検出部５１により変調信号のパルス幅を検出し、その検出した変調信号のＤＣレベルＶｍｄｃ（図９のＶ（ｉ）参照）がほぼ所定値（１／２・Ｖｄｄ）であるＯＫか所定値と異なるＮＯかを判断し、ＯＫであればステップ４へ進み、所定値と異なるＮＯならばステップ３へ移行する。
図９の信号波形図では、変調信号は伝送する際、立上り時間と立下り時間が異なり（Ｍ０ｂ）、二値化した信号Ｍ０ｃは正パルス幅が長くなり、ＤＣレベルＶ（ｉ）が所定値１／２・Ｖｄｄより、高くなっている波形を例示している。
次に、ステップ３において、パルス幅検出信号に基づいてパルス幅設定信号を増減する。図９の例では、ＤＣレベルＶ（ｉ）が所定値１／２・Ｖｄｄよりも高いので、正パルス幅Ｔ１を短くするようにパルス幅調整を行う（（ａ）の破線（ｉｉ）参照）。
【００８４】
そして、ステップ２の判定が真となるまで、ステップ２と３の処理を繰り返す。図９の例では（ｉｉ）の状態でＤＣレベルＶ（ｉｉ）はほぼ所定値となるので、これで調整を終える。これにより、信号伝送によるパルス幅変動を調整できる。同様にしてＭ１，Ｍ２に対しても調整を行う。
最後にステップ４において、現在のパルス幅設定信号を設定値として保持し、通常時はこれを供給する。またテスト信号の供給を停止する。
なお、ここでは立上り時間と立下り時間の差異によるパルス幅変動について説明したが、スライスレベルの変動などやその複合によって生じるパルス幅変動であっても同様に調整できる。
【００８５】
このパルス幅補正時には、光源ＬＤの駆動電流を停止し、発光させないようにしておくと光源ＬＤの異常発光を防げ、光源ＬＤの破壊や劣化を保護できる。これは照射レベルデータＰ０Ｄａｔａ，Ｐ１Ｄａｔａ，Ｐ２Ｄａｔａを０に設定することによっても行える。
また、パルス幅制御部５２をコントローラ１９内部に設け、パルス幅検出信号及びパルス幅設定信号の授受をそれぞれ制御部３４と２５を介して行うようにし、上述のパルス幅制御をコントローラ１９内部のＣＰＵで行うようにしてもよい。
【００８６】
以上からわかるように、この光源駆動装置によれば、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまり立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正するので光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成できる。
【００８７】
したがって、ＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ駆動集積回路３とは別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。すなわち、変調信号生成部２３では高速動作及び高集積化が求められるため微細なＣＭＯＳプロセスが好適である。一方、電流駆動部３２には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つ光源ＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖなど）が要求されており、通常、微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難である（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しかない）が、それぞれを好適なプロセスで構成できるようになる。
そして、この二つの集積回路間はＦＰＣ基板やワイヤなどの伝送線で接続されるため少なからずパルス幅変動が発生し、特に高速化した際にはこの光源駆動装置の効果が好適に作用する。
【００８８】
さらには、自動的にパルス幅を補正する機構を設けたので、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどによって装置毎にこのパルス幅変動量が異なっても、それぞれパルス幅変動を調整できる。
したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
また、ＬＤ駆動集積回路３を光源ＬＤの近傍、つまりピックアップ上に配置し、ＬＤ変調信号生成部集積回路２を記録データを生成するコントローラやＷＣＫ生成部と同一の集積回路で構成するようにしてもよい。このように構成してもＦＰＣ基板での変調信号伝送におけるスキューの発生は上述の通り調整できるので、光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成でき、コストも低減できる。さらに、ＰＬＬ２０をＷＣＫ生成部１７と共通化することも可能となる。
【００８９】
また、パルス幅調整部５０によってパルス幅を調整するのではなく、駆動波形生成情報保持部２２に保持する駆動波形生成情報のパルス幅を持つ情報を変更するようにしてもよい。すなわち、図７に示した駆動波形情報の場合、パルス幅調整工程で算出されたパルス幅補正値をＴＳＰ，ＴＭＰ，ＴＬＰに加え、ＴＭＳ，ＴＭＬから引くように変更するとよい。
さらに、上述したようにパルス幅が立上り時間や立下り時間より短くなると、そのパルス幅の変動量は他のパルスと異なる場合もある。このような場合にはそのパルス幅のパルスを別途調整するようにすればよい。
【００９０】
例えば、図７のＴＬＰのみ変更するようにする。また、どのパルス幅からパルス幅変動量が変化するかを検出するには、パルス幅調整用のテスト信号のパルス幅（図９のＴ１参照）を変更して検出すればよい。
また、パルス幅検出は、パルス幅検出部５１によらず、光源ＬＤの出射光の一部をモニタするモニタ受光部ＰＤからのモニタ受光信号をローパスフィルタ（ＬＰＦ）５４によって平滑化してＤＣレベルを求めるようにしてもよい。Ａ／Ｄ変換器２７２などは同様であるので説明を省略する。
このようにすれば、光変調波形でのパルス幅を検出し、これが所望の値となるように調整できるので、変調部２７や電流駆動部３２などで生じるパルス幅変動までも補正できるようになり、より正確な記録マークが形成できる。
これは、以降の実施形態でも同様に利用できる。
【００９１】
この光源駆動装置によれば、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまり立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正するため、光波形には影響を及ぼさず、所望の光波形が得られる。
また、各部は別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
さらに、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどにより装置毎にこのパルス幅変動量が異なっても、それぞれパルス幅変動を調整できる。したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
【００９２】
また、光変調波形でのパルス幅を検出し、これが所望の値となるように調整できるので、変調部２７や電流駆動部３２などで生じるパルス幅変動までも補正できるようになり、より正確な光波形が得られる。
さらに、パルス幅が立上り時間や立下り時間より短くなりパルス幅によって変動量が異なっても、それに応じた補正をするので、より正確な光波形が得られる。特に高速化し、パルス幅が短くなった時には好適に作用する。
さらにまた、常時基準信号を補正し、これにより変調信号のパルス幅も補正しているので、例えば電源電圧などの変動によりパルス幅が動的に変動しても、光波形には影響を及ぼさず、常に正確な光波形が得られる。
【００９３】
次に、この発明の光源駆動装置の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１４は、この発明の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
図１５は、この実施形態の光源駆動装置におけるパルス幅補正動作時の各部信号波形図である。
図１４に示すように、二値化部５６はスライスレベルＶｔｈに基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２を二値化し、変調部２７に供給するものである。
スライスレベル制御部５７は、パルス幅補正時には、パルス幅検出部５１から供給されるパルス幅検出信号に基づいてスライスレベルＶｔｈを制御する。そして通常時には、その制御されたスライスレベルを二値化部５６に供給する。
【００９４】
図１５に示すように、調整前のスライスレベルＶｔｈ（ｉ）に対し、スライスレベルＶｔｈ（ｉｉ）へ調整することにより、同図の（ｃ）に示す二値化した変調信号Ｍ０ｃのパルス幅が適正値に調整される。その調整方法は上述と同様に行えばよいのでその説明を省略する。また、そのスライスレベルは変調信号毎調整するようにしてもよい。
このようにすれば、上述の光源駆動装置と同様の効果が得られ、特にスライスレベルの変動（二つの集積回路間でのスライスレベルの差異など）によりパルス幅が変動する場合により好適に作用する。
また、上述の光源駆動装置と同様の効果をより精度よく得られる。
【００９５】
次に、この発明の他の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１６は、この発明の他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４，図１４と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
出力電圧調整部５８は、出力電圧制御部５９からの出力電圧設定信号に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２の出力電圧を、すなわちハイレベル出力電圧またはローレベル出力電圧あるいは双方の出力電圧を調整するものである。
出力電圧制御部５９は、パルス幅補正時には、パルス幅検出部５１から供給されるパルス幅検出信号に基づいて変調信号の出力電圧を制御し、出力電圧調整部５８へ出力電圧設定信号を供給する。
【００９６】
このようにすれば、上述と同様の効果を簡便な構成で得ることができる。
また、この実施形態と上記参考技術を組み合わせたものにしてもよい。
さらに、これらの実施形態によれば、図１７に示すように、ハイレベル出力電圧Ｖｈｉ，ローレベル出力電圧Ｖｌｏを任意に定めることができる。
なぜならば、二つの集積回路でのデバイスバラツキや電源電圧差などの影響によりパルス幅変動が生じる場合であっても、パルス幅やスライスレベルや出力電圧を調整することによって補正できるからである。つまり、伝送する変調信号振幅は小振幅でよく、このようにすれば不要電磁輻射を低減でき、立上り立下り時間も低減できる。
【００９７】
次にこの発明の光源駆動装置のまた他の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１８は、この発明の他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４，図１４，図１６と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
基準信号生成部６１は、図９の（ａ）実線（ｉ）に示すパルス幅調整用の変調信号と同様の波形を装置の動作時には常時、基準信号Ｍｒｅｆとして供給するものである。
パルス幅調整部６０は、図４のパルス幅調整部と同様に変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅の調整と、基準信号Ｍｒｅｆのパルス幅調整を行う。
【００９８】
パルス幅検出部５１は、伝送後二値化した基準信号ＭｏｄＲのパルス幅を検出し、検出結果をパルス幅制御部５２に供給する。
パルス幅制御部５２では、基準信号のパルス幅検出結果に応じて、基準信号のパルス幅と変調信号Ｍ０〜Ｍ２のパルス幅を同量分補正するように制御する。
このようにすれば、常時基準信号を補正し、これにより変調信号のパルス幅も補正しているので、例えば電源電圧などの変動によってパルス幅が動的に変動しても、光波形には影響を及ぼさず、さらに正確な記録マークが形成できる。
また、図示は省くが上記参考技術と上記実施形態に対しても同様に適用すればよい。
【００９９】
次に、この発明の光源駆動装置のまた他の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１９は、この発明のまた他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。図４，図１４，図１６，図１８と同一符号のブロックは前述と同様の動作・機能を果たすので詳細な説明は省略する。
図２０は、スキュー補正動作時の各部信号波形図である。
また、パルス幅の調整は上述したように駆動波形生成情報を変更することによって行うものとし、パルス幅の制御はパルス幅・遅延制御部６４が上述と同様の処理で行うものとする。
遅延量調整部２４と遅延検出部６５とパルス幅・遅延制御部６４とにより、変調信号間のスキューを補正するための調整機能を果たす。以下、この各部構成とそれらによる変調信号のスキュー補正動作について説明する。
【０１００】
［遅延量調整部］
遅延量調整部２４は、パルス幅・遅延制御部６４からの遅延設定信号に基づいて変調信号Ｍ０〜Ｍ２をそれぞれ遅延させ、その遅延させた変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２が変調部２７の入力端で（図５の（ｇ−１）〜（ｇ−３）に例示する）遅延差が所定値以内になるように遅延させるものである。
変調電流は変調部２７の入力端での変調信号のスイッチングタイミングにより変調されるため、複数の変調信号が同時に変化しないと変調電流、つまりは光波形が所望の波形とはならない。つまり、変調信号生成部２３において同時にスイッチングするように変調信号Ｍ０〜Ｍ２を生成しても（図５の（ｆ−１）〜（ｆ−３）参照）、伝送中に配線長差などによってスキュー（遅延差）が生じ、変調部２７の入力端でずれが生じると上述の問題が生じる。
【０１０１】
図５の（ｈ−１）〜（ｈ−３）のＭ０′，Ｍ１′，Ｍ２′は、この遅延量調整部２４がない場合、つまり従来の装置での変調部２７の入力端での変調信号の一例であり、複数の変調信号が同時に変化しないため、変調電流つまりは光波形が所望の波形にはならない。
また、上述した立上り立下り時間やスライスレベル等の差異によって生じるパルス幅変動を各変調信号毎に補正する場合にも若干のスキューが発生することもある。
【０１０２】
図２１は、図１９に示した遅延量調整部２４の内部の詳細な構成例を示すブロック図である。
図２１において、遅延量調整部２４は、各信号を遅延させる遅延部２４３ａ〜２４３ｃからなり、各遅延部２４３ａ〜２４３ｃは信号を所定量遅延させる遅延素子２４１ａ〜２４１ｎ（ｎは正の整数）が縦列接続されており、その各遅延素子２４１ａ〜２４１ｎの出力の何れかを遅延設定信号ＤｌｙＳ０〜ＤｌｙＳ２に基づいて選択して出力する選択部２４２とからなる。
このように構成することにより、どの遅延素子２４１ａ〜２４１ｎの出力を選択するかによって遅延量を調整できる。また、各遅延部２４３ａ〜２４３ｃは供給する電流（または電圧）によって遅延量の変化する遅延バッファで構成し、この供給電流を変化させることによって遅延量を調整するようにしてもよい。
【０１０３】
［遅延検出部］
遅延検出部６５は、変調信号Ｍｏｄ０〜Ｍｏｄ２の変調部２７の入力端での遅延差（スキュー）を検出するものであり、その検出結果をパルス幅・遅延制御部６４へ供給する。遅延検出部６５及び変調部２７の入力端を近傍に配置することにより、遅延検出部６５の入力端での各変調信号間のスキューは、変調部２７の入力端でのスキューとほぼ等しくなる。
【０１０４】
図２２は、遅延検出部６５の内部構成例を示すブロック図である。ここでは、変調信号Ｍｏｄ０とＭｏｄ１とのスキューを検出する構成例を示している。
位相比較部２５１は、変調信号Ｍｏｄ０とＭｏｄ１との位相差を検出するものであり、ＥｘＯＲ回路などによって簡単に構成できる。
図２０に示したように、同図の（ａ）のＭ０と（ｂ）のＭ１の二つの変調信号を同一周波数の信号とすれば、スキュー量に応じた時間だけ「ハイ（Ｈ）」になる信号Ｄｉｆｆが得られる。また、位相比較信号Ｄｉｆｆは正負２つの信号からなり、Ｍｏｄ０の方が位相が進んでいれば同図の（ｅ−１）の位相比較信号Ｄｉｆｆ＋に、遅れていれば同図の（ｅ−２）の位相比較信号Ｄｉｆｆ−にパルスがそれぞれ出力される。
【０１０５】
平滑部２５２は、位相比較信号Ｄｉｆｆを平滑化するものであり、スキュー量に応じた電圧Ｖｄｉｆｆが得られる。これは例えば、チャージポンプ回路によって構成し、位相比較信号Ｄｉｆｆ＋及び位相比較信号Ｄｉｆｆ−をアップ（Ｕｐ）／ダウン（Ｄｏｗｎ）信号とすればよい。ここでは、変調信号Ｍｏｄ０の方が位相が進んでいれば正電圧として、遅れていれば負電圧（基準電圧に対して）として生成される。
【０１０６】
比較部２５３は、平滑部２５２の出力する電圧Ｖｄｉｆｆと基準値を比較し、基準値以上なら「＋」を、基準値以下なら「−」をそれぞれ出力し、基準値とほぼ等しければ何れも出力しない。なお、単純なコンパレータとして、＋／−何れかを出力するものとしてもよい。これらを遅延検出信号とする。
あるいは、図２３に示すように、平滑部２５２の出力する電圧ＶｄｉｆｆをＡ／Ｄ変換器２５４によってＡ／Ｄ変換し、パルス幅・遅延制御部６４に供給するようにしてもよい。
さらには、位相比較部２５１を単純なＥｘＯＲ回路とし（つまり位相差の絶対値のみ検出して極性は検出しないものとし）、Ａ／Ｄ変換器２５４で検出する電圧Ｖｄｉｆｆが最小になる遅延量を求めるようにしてもよい。
変調信号Ｍｏｄ０（あるいは変調信号Ｍｏｄ１）と変調信号Ｍｏｄ２とのスキューも同様にして検出することができる。また、位相比較部２５１への入力を切り換えるようにしてもよい。
【０１０７】
［パルス幅・遅延制御部］
パルス幅・遅延制御部６４は、上述したパルス幅補正動作の後、スキュー補正動作を行う。スキュー補正時には、遅延検出部６５から供給される遅延検出信号に基づいて後述するスキュー補正処理によって各変調信号の遅延量を制御する。そして、通常時には、この制御された遅延量を遅延設定信号として遅延量調整部２４に供給する。
【０１０８】
次に、上記スキュー補正処理についてさらに詳しく説明する。
図２４は、この実施形態の光源駆動装置におけるスキュー補正処理の一例を示すフローチャート図である。
まず、スキュー補正処理時には、コントローラ１９より、制御部２５を介してスキュー補正動作開始の指示がなされ、各部はスキュー補正動作に移行する。すなわち、このテスト信号に基づいてスキュー検出用の変調信号Ｍ０〜Ｍ２を出力する。
ステップ（図中「Ｓ」で示す）１１の初期化処理において、変調信号生成部２３は、このテスト信号に基づいてスキュー検出用の変調信号Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２を出力する（図２０の（ａ）と（ｂ）を参照）。パルス幅・遅延制御部６４は遅延設定信号を全て“０”に初期化する。
【０１０９】
次に、ステップ１２において、遅延検出部６５によって変調信号間の遅延差δ（Δ）を検出し、その遅延差δがほぼ“０”か否か（各変調信号間の入力タイミングの差が所定値内か否か）を判断し、遅延差δがほぼ“０”であればステップ１４へ、遅延差δがほぼ“０”でない（所定値を超えている）ならばステップ１３へそれぞれ移行する。
【０１１０】
図２０の信号波形図では、変調信号Ｍｏｄ０とＭｏｄ１の場合を示している。
同図の（ｃ）と（ｄ）にそれぞれ示すｄ０，ｄ１はそれぞれ遅延量調整部２４での遅延量を示し、Δ０，Δ１は変調信号生成部２３の出力端から遅延検出部６５（変調部２７）の入力端までのそれぞれの伝送遅延量を示している。これらの差（＝（ｄ０＋Δ０）−（ｄ１＋Δ１））が遅延差δである。
ステップ１３では、遅延検出信号に従って遅延設定信号を増減することにより、一方の遅延量を＋１ステップ又は−１ステップ変更する。
すなわち、遅延検出信号が「＋」ならば（Ｍｏｄ０の位相がＭｏｄ１よりも進んでいれば）、Ｍ０の遅延量ｄ０を１ステップ遅らせ、「−」ならばＭ１の遅延量ｄ１を１ステップ遅らせる（なお、何れかを１ステップ早めるように調整してもよい）。
【０１１１】
そして、ステップ１２の判定が真となるまで、すなわち、遅延差δがほぼ“０”と判断されるまで、ステップ１２と１３の処理を繰り返す。さらにＭｏｄ２に対しても上述と同様の処理を行う。このようにして、変調信号Ｍｏｄ０ｂ〜Ｍｏｄ２ｂの変調部２７の入力端での遅延差がなくなるように調整する。
最後にステップ１４の遅延量保持処理では、現在の遅延設定信号（つまり遅延量ｄ０〜ｄ２）を保持し、通常時はこれを供給する。またテスト信号の供給を停止する。
また、スキュー補正時のスキュー検出用の変調信号Ｍ０〜Ｍ２を同一周波数で位相を４５°ずらした信号にしておくと、遅延差が微小な時の検出精度を向上できる。これは、遅延差が微小になると位相比較信号Ｄｉｆｆのパルス幅が微小となって検出できなくなること（位相比較部２５１の不感帯）を避けるためである。
あるいは、パルス幅・遅延制御部６４をコントローラ１９内部に設け、遅延検出信号及び遅延設定信号の授受をそれぞれ制御部３４と２５を介して行うようにしてもよい。
【０１１２】
以上からわかるように、この実施形態によれば、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまって立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正し、さらには各変調信号間に、このパルス幅変動補正の際生じるスキューや伝送路自体でのスキューがあっても、このスキューを補正するため光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成できる。
したがって、ＬＤ変調信号生成部集積回路２とＬＤ駆動集積回路３とは別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
【０１１３】
すなわち、変調信号生成部では高速動作及び高集積化が求められるために微細なＣＭＯＳプロセスが好適である。一方、ＬＤ駆動部には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つ光源ＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖなど）が要求されており、通常、微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難である（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しかない）が、それぞれを好適なプロセスで構成できるようになる。
そして、この二つの集積回路間はＦＰＣ基板やワイヤなどの伝送線で接続されるため少なからずパルス幅変動やスキューが発生し、特に高速化した際にはこの発明に係る効果が好適に作用する。
さらには、自動的にパルス幅及びスキューを補正する機構を設けたので、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどによって装置毎にこのパルス幅変動量やスキューが異なっても、それぞれパルス幅変動及びスキューを調整できる。
【０１１４】
したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
また、ＬＤ駆動集積回路３を光源ＬＤの近傍、つまりピックアップ上に配置し、ＬＤ変調信号生成部集積回路２を記録データを生成するコントローラやＷＣＫ生成部と同一の集積回路で構成するようにしてもよい。
このように構成しても、ＦＰＣ基板での変調信号伝送におけるスキューの発生は上述の通り調整できるので、光波形には影響を及ぼさず、正確な記録マークが形成でき、コストも低減できる。さらに、ＰＬＬ２０をＷＣＫ生成部１７と共通化することも可能となる。
また、パルス幅調整と遅延調整は図１０と同様の構成にしたパルス幅・遅延調整部によって行ってもよい。
【０１１５】
つまり、例えば、ｂ＆ａとすることによりパルス幅調整した後、ｃ＆ｂを選択することにより１ステップ遅延させることができる。このようにすればパルス幅調整と遅延調整の両方を行える。
また、上述した遅延調整機構と上記参考技術または上記実施形態を組み合わせてもよい。
【０１１６】
このようにして、各変調信号が伝送の際、信号波形がなまり立上りと立下りで異なる場合や、受信側で二値化する際のスライスレベルの変動や入力電圧振幅の低下などにより、送信側でのパルス幅と受信側でのパルス幅は異なってしまっても、このパルス幅変動を補正し、さらには各変調信号間に、このパルス幅変動補正の際生じるスキューや伝送路自体でのスキューがあっても、このスキューを補正するため光波形には影響を及ぼさず、所望の光波形が得られる。
また、各部は別の集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
【０１１７】
さらに、デバイスのバラツキや寄生容量・寄生インダクタンスなどにより装置毎にこのパルス幅変動量やスキューが異なっても、それぞれパルス幅変動及びスキューを調整できる。
したがって、デバイスバラツキを特別に抑制する必要もなく、伝送線の製造も容易となるので、コストを低減することができる。
また、伝送する変調信号振幅を小振幅としているので、不要電磁輻射を低減でき、変調信号の立上がり立下り時間も低減でき、よってパルス幅変動分も抑制できる。
さらに、各変調信号間にスキューがあっても光波形には影響を及ぼさず所望の光波形が得られ、正確な記録マークが形成できる。さらにまた、それぞれ要望される回路特性にあった半導体プロセスで構成できるようになり、コスト・性能に見合った装置が実現できる。特に、光情報記録装置の高速記録化する際に適している。
【０１１８】
【発明の効果】
以上説明してきたように、この発明の光源駆動装置と情報記録装置によれば、情報記録媒体に対する高速記録及び高密度記録時、光変調制御信号波形の歪み，スキュー，信号伝送によるパルス幅の変動等によって光変調波形が所望値からずれるのを抑制し、高速化などの要求に対してもコスト，性能などを犠牲にすることなく実現できる光源駆動装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明の参考技術と一実施形態である情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した情報記録再生装置の信号処理部１０４の構成を示すブロック図である。
【図３】光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の駆動電流−光出力特性の一例を示す線図である。
【図４】 この発明の参考技術の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図５】図４に示した各部の出力信号の信号波形の一例を示す図である。
【図６】図４のＰＬＬ２０の内部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図７】 この参考技術における駆動波形生成情報と光波形との関係の一例を示す図である。
【図８】光源ＬＤの駆動電流−光出力特性の例と変調部２７の各部電流との関係を示す図である。
【図９】パルス幅調整部５０から変調部２７への伝送経路中の各点ａ，ｂ，ｃでの変調信号Ｍｏｄ０の各信号波形の一例を示す波形図である。
【図１０】図４に示すパルス幅調整部５０の内部構成例を示すブロック図である。
【図１１】図１０に示す３個の遅延素子２６１ａ〜２６１ｃがそれぞれ出力した出力信号ａ〜ｃの論理和信号と論理積信号の信号波形例を示す図である。
【図１２】パルス幅検出部５１の詳細な内部構成例を示すブロック図である。
【図１３】パルス幅補正時の処理の一例を示すフローチャート図である。
【図１４】 この発明の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図１５】 この発明の実施形態の光源駆動装置におけるパルス幅補正動作時の各部信号波形図である。
【図１６】 この発明の他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】ハイレベル出力電圧Ｖｈｉ，ローレベル出力電圧Ｖｌｏの一例を示す波形図である。
【図１８】 この発明のさらに他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図１９】 この発明のまた他の実施形態の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図２０】 この発明のまた他の実施形態の光源駆動装置におけるスキュー補正動作時の各部信号波形図である。
【図２１】図１９に示した遅延量調整部２４の内部の詳細な構成例を示すブロック図である。
【図２２】図２１に示した遅延検出部６５の内部構成例を示すブロック図である。
【図２３】図２１に示した遅延検出部６５の他の内部構成例を示すブロック図である。
【図２４】 このまた他の実施形態の光源駆動装置におけるスキュー補正処理の一例を示すフローチャート図である。
【図２５】従来の光源駆動装置の構成を示すブロック図である。
【図２６】従来の問題を説明するための信号波形図である。
【符号の説明】
２：ＬＤ変調信号生成部集積回路
３：ＬＤ駆動集積回路 ４：受光信号処理部
５：ＲＦ選択部 ６：ウォブル信号生成部
７：サーボドライバ ９：ＬＤ制御部
１０：ＬＤ変調信号生成部 １２：ＬＤ駆動部
１３：サーボ信号演算処理部 １４：サーボプロセッサ
１５：ウォブル信号処理部
１６：ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部
１７：ＷＣＫ生成部 １８：回転制御部
１９：コントローラ ２０：ＰＬＬ
２１：ランレングス検出部
２２：駆動波形生成情報保持部
２３：変調信号生成部
２４：遅延量調整部 ２５，３４：制御部
２６：ＬＤ制御タイミング信号生成部
２７：変調部
２８，２８ａ〜２８ｃ：電流源
２９，２９ａ〜２９ｃ：スイッチ
３０，３１：加算部 ３２：電流駆動部
３３：ＬＤ制御部
５０，６０：パルス幅調整部 ５１：パルス幅検出部
５２：パルス幅制御部 ５３：テスト信号生成部
５４：ローパスフィルタ（ＬＰＦ） ５５：入力部
５６：二値化部 ５７：スライスレベル制御部
５８：出力電圧調整部 ５９：出力電圧制御部
６１：基準信号生成部 ６４：パルス幅・遅延制御部
６５：遅延検出部
１００：情報記録媒体 １０１：ピックアップ
１０２：光源（ＬＤ） １０３：受光部
１０４：信号処理部 １０５：回転駆動部
１０６：コントローラ ２０１：Ｍ分周器（１／Ｍ）
２０２：位相比較器（ＰＣ） ２０３：ループフィルタ
２０４：発振器（ＶＣＯ） ２０５：Ｎ分周器（１／Ｎ）
２０６：分周器（Ｍ／Ｎ）
２４１ａ〜２４１ｎ，２６１ａ〜２６１ｎ：遅延素子
２４３ａ〜２４３ｃ：遅延部 ２４２，２６２：選択部
２５１：位相比較部 ２５２，２７１：平滑部
２５３：比較部 ２５４，２７２：Ａ／Ｄ変換器
ＬＤ，ＬＤ１〜ＬＤ２：光源
ＰＤ，ＰＤ１〜ＰＤ５：受光部
Claims (8)
- 光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、
該変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、
該電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、該生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、
前記変調信号生成手段から出力された変調信号の出力電圧を調整する出力電圧調整手段と、該出力電圧調整手段によって調整された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、該パルス幅検出手段の検出結果に基づいて前記出力電圧調整手段による調整時の出力電圧を制御する出力電圧制御手段とを備えたことを特徴とする光源駆動装置。 - 光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、
該変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、
該電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、該生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、
前記変調信号生成手段から出力された変調信号を所定のスライスレベルに基づいて二値化する二値化手段と、該二値化手段によって二値化された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、該パルス幅検出手段の検出結果に基づいて前記二値化手段による二値化時のスライスレベルを制御するスライスレベル制御手段とを備え、
前記スライスレベル制御手段は、前記パルス幅検出手段の検出結果に基づいて前記二値化手段による二値化時の各変調信号毎にそれぞれのスライスレベルを個々に制御する手段であることを特徴とする光源駆動装置。 - 請求項１記載の光源駆動装置において、前記パルス幅検出手段は、前記光源の出射光量の一部を受光素子でモニタして生成されるモニタ受光信号を平滑化することによって前記出力電圧調整手段によって調整された変調信号のパルス幅を検出する手段であることを特徴とする光源駆動装置。
- 請求項２記載の光源駆動装置において、前記パルス幅検出手段は、前記光源の出射光量の一部を受光素子でモニタして生成されるモニタ受光信号を平滑化することによって変調信号のパルス幅を検出する手段であることを特徴とする光源駆動装置。
- 光源の駆動波形生成情報に基づいて複数の変調信号を生成する変調信号生成手段と、
該変調信号生成手段によって生成された変調信号に基づいて複数個の電流源から出力される電流のいずれか１つ又は複数を選択する電流源選択手段と、
該電流源選択手段によって選択された１つ又は複数の電流に基づいて多段階の電流量の電流を生成し、該生成した電流を光源に供給して多値レベルの光を発生させて駆動する光源駆動手段と、
前記変調信号生成手段から出力された変調信号のパルス幅を検出するパルス幅検出手段と、該パルス幅検出手段の検出結果に基づいて前記駆動波形生成情報を変更することにより前記変調信号のパルス幅を調整するパルス幅制御手段とを備えたことを特徴とする光源駆動装置。 - 請求項１乃至５のいずれか一項に記載の光源駆動装置において、
前記電流源選択手段で前記各変調信号によって複数の電流を選択するタイミングの差を検出する遅延検出手段と、該遅延検出手段の検出結果に基づいて前記電流源選択手段による前記各変調信号によって複数の電流を選択するタイミングの差がほぼ０になるように各々の変調信号の遅延量を制御する遅延制御手段とを設けたことを特徴とする光源駆動装置。 - 請求項１乃至６のいずれか一項に記載の光源駆動装置において、
前記変調信号のハイレベル出力電圧及びローレベル電圧電圧を任意に定めるようにしたことを特徴とする光源駆動装置。 - 請求項１乃至７のいずれか一項に記載の光源駆動装置を搭載したことを特徴とする情報記録装置。
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