JP4141082B2

JP4141082B2 - Printed matter inspection method and apparatus

Info

Publication number: JP4141082B2
Application number: JP2000113405A
Authority: JP
Inventors: 淑人阿部; 博佐藤; 英人坂田; 和明渡辺
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd; Omron Corp
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd; Omron Corp
Priority date: 2000-04-14
Filing date: 2000-04-14
Publication date: 2008-08-27
Anticipated expiration: 2020-04-14
Also published as: JP2001297321A

Description

【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、印刷物検査方法及び装置、特にカラー印刷した際に発生する点状欠陥を検出する際に適用して好適な、印刷物検査方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
輪転印刷機で印刷されて連続的に走行するウェブ（印刷物）から、所定位置に設置されているカメラにより、印刷絵柄を検査画像として入力し、該検査画像と予め作成してある基準画像とを比較して、印刷欠陥を検査することが行われている。
【０００３】
このように、検査画像を基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査装置としては、これら両画像の差分画像に対して所定の矩形領域内で、所定のレベル差以上の画素数を計測し、その画素数が所定の値を超えた場合に不良と判定するものが、特開平９−７６４７０に開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記公報に開示されている検査技術には、輪郭（エッジ）が明瞭な点状欠陥等の検査に適用する場合には、以下のような問題があることが明らかになった。
【０００５】
モノクロ（白黒）カメラを使って印刷物を撮像して得られるモノクロの検査画像による検出処理では、Ｋ（墨）に対する検出能力に比べ、Ｃ（藍）、Ｍ（紅）、Ｙ（黄）に対する能力が劣っている。そこで、検査画像上では存在が明瞭である点状欠陥に対する検査能力を上げようとすると、特にオフセット印刷では必然的に生じるために許容されている印刷絵柄の微妙な濃度変化を過度に検出してしまい、その印刷絵柄を不良として検出することが起こる。
【０００６】
一方、カラーカメラを使って撮像して得られる検査画像を使用する場合、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に独立した検出処理を行うと、印刷絵柄の微小な色間見当ずれや、カメラレンズの色収差等が原因で発生する、絵柄エッジ部分の微妙な色変動を過度に検出してしまうことがある上に、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に独立して画像処理を行うことになるため、モノクロ検査に比べ３倍の回路規模が必要である。
【０００７】
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、印刷物を撮像して得られる検査画像上に絵柄と共に明瞭に存在する点状欠陥を容易且つ確実に検査することができる、印刷物検査方法及び装置を提供することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法において、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各検査画像から絵柄のエッジを抽出して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をそれぞれ作成すると共に、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各基準画像から、前記エッジ画像の絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成し、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像について、対応する各画素の画素値の中から最大値を求め、該最大値を該当する画素の画素値として１つの合成閾値画像を作成し、該合成閾値画像により前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をマスク処理して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を作成し、作成された各マスク済エッジ画像に基づいて印刷不良を検出することにより、前記課題を解決したものである。
【０００９】
本発明は、又、印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査装置において、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各検査画像から絵柄のエッジを抽出して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をそれぞれ作成する手段と、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各基準画像から、前記エッジ画像の絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成する手段と、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像について、対応する各画素の画素値の中から最大値を求め、該最大値を該当する画素の画素値として１つの合成閾値画像を作成する手段と、該合成閾値画像により前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をマスク処理して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を作成する手段と、作成された各マスク済エッジ画像に基づいて印刷不良を検出する手段とを備えたことにより、同様に前記課題を解決したものである。
【００１０】
即ち、本発明においては、基準画像から得られるＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像において、対応する各画素の画素値の中で最大値を選択し、それを対応する画素の画素値に置き換えた合成閾値画像を作成するようにしたので、該合成閾値画像には絵柄のエッジ部分をマスクする領域のみが残り、色間見当ずれ等に起因する微妙な色変動部分は排除されることになる。従って、この合成閾値画像を使って、カラーカメラで撮像して得られるＲ、Ｇ、Ｂの各検査画像から抽出したエッジを、マスク処理するようにしたことから、各マスク済エッジ画像には、基準画像には存在しない不良部分のエッジのみが残ることになるため、微妙な色変動に影響されることなく、印刷物上に孤立している点状欠陥等を容易且つ確実に検出することができるようになる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本発明に係る一実施形態の印刷欠陥検査装置の概略を示す要部構成図である。
【００１３】
本実施形態の印刷欠陥検査装置は、機能部としてカメラ１０、画像入力ボード１２、位置ずれ演算ボード１４、第１欠陥検出ボード１６、第２欠陥検出ボード１８をそれぞれ備えており、カメラ１０以外の各機能部はそれぞれのコネクタ１２Ａ〜１８Ａを介して電気的な接続が行われるようになっている。
【００１４】
又、上記印刷欠陥検査装置は、マザーボード２０を備えており、このマザーボード２０には、上から順に将来の拡張用バス、位置ずれ量バス、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像バス、モノクロ画像バスの各データバスがそれぞれ敷設されており、又、これら各データバスと電気的に接続可能な複数のコネクタ２２Ａ〜２２Ｅが付設されている。
【００１５】
コネクタ２２Ａは、上記画像入力ボード１２のコネクタ１２Ａと接続され、カメラ１０で印刷物を撮像すると、上記Ｒ、Ｇ、Ｂ及びモノクロ画像の各バスにそれぞれ対応する画像信号が出力されるようになっている。
【００１６】
コネクタ２２Ｂは、前記位置ずれ演算ボード１４とそのコネクタ１４Ａを介して接続され、該演算ボード１４ではモノクロ画像バスから入力される画像信号に基づいて検査画像の位置ずれ量を演算し、その演算結果を前記位置ずれ量バスに出力するようになっている。モノクロ画像は本来Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像が合成されたものに相当するので、モノクロ画像の位置ずれ量とカラー画像の位置ずれ量とは同一である。
【００１７】
コネクタ２２Ｃは、第１欠陥検出ボード１６とそのコネクタ１６Ａを介して接続され、該第１欠陥検出ボード１６では、上記位置ずれ量バスから入力される位置ずれ量に基づいて、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像バスから入力される検査画像を位置補正するとともに、各色の画像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。
【００１８】
一方、コネクタ２２Ｄは、第２欠陥検出ボード１８とそのコネクタ１８Ａを介して接続され、該第２欠陥検出ボード１８では、同様に位置ずれ量バスから入力される位置ずれ量に基づいて、上記モノクロ画像バスから入力される検査画像を位置補正するとともに、モノクロ画像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。
【００１９】
コネクタ２２Ｅは、将来検査機能を拡張する場合に、新たな機能部の接続に使用するものであり、前記拡張用バスも同様の用途に用いられるものである。便宜上、ここでは拡張用のコネクタとバスがそれぞれ１つである場合が示してあるが、いずれも２以上であってもよいことは言うまでもない。
【００２０】
図２は、本実施形態における前記ラインセンサカメラ（１次元ＣＣＤカメラ）のハード構成の概略を示したブロック図である。
【００２１】
本実施形態のカメラ１０は、受光部である１次元ＣＣＤセンサ１０Ａと、該センサ１０Ａの画素（ＣＣＤ素子）の奇数番目と偶数番目から別々に出力される受光信号（奇数信号・偶数信号）を増幅する２つのアンプ（Ａｍｐ）と、ここで増幅された信号について奇数信号の奇数画素レベルと偶数信号の偶数画素レベルを交互に合成するＳ／Ｈ回路１０Ｂと、合成処理された信号の黒レベルを補正する黒レベル補正回路１０Ｃと、その補正信号を増幅してビデオ信号として出力するアンプ（Ａｍｐ）と、これらＣＣＤセンサ１０Ａ、閾値回路１０Ｂ、黒レベル補正回路１０Ｃに対して、図示しない制御装置から入力される外部駆動信号に基づいて、それぞれ信号処理のタイミングをとるための信号を出力するタイミング生成回路１０Ｄとを備えている。このように、本実施形態のラインセンサカメラ１０では、入力される受光信号の処理の高速化を図るために、奇数番目と偶数番目の画素について交互に増幅等の電気的処理を行っている。
【００２２】
又、図３は、本実施形態の印刷物検査装置が備えている印刷欠陥検出部の要部構成を示すブロック図である。
【００２３】
この印刷欠陥検出部は、便宜上、Ｒ画像を代表させ、Ｇ、Ｂの画像については明示していないが、前記図１に示した第１欠陥検出ボード１８に相当し、前記カメラ１０から、画像入力ボード１２を介して取り込まれたＲ、Ｇ、Ｂの画像信号が、各画像バスを介してそれぞれ入力されるようになっている。この欠陥検出部は、前記カメラ１０から上記画像バスを介して順次入力される検査画像を格納する検査画像メモリ３０と、予め正常な印刷絵柄を同カメラ１０で撮像すると共に、適宜新しく撮影し直して更新される基準画像を格納するＡ、Ｂの２つの基準画像メモリ３２とを備えている。
【００２４】
又、この欠陥検出部では、上記検査画像メモリ３０から読み出される検査画像に対してエッジ抽出処理を行ってエッジ画像を作成するエッジ画像生成回路３４と、上記基準画像メモリ３２から読み出される基準画像から閾値画像を作成する閾値生成回路３６と、作成された閾値画像を格納するＡ、Ｂの２つの閾値画像メモリ３８とを備えている。又、各メモリ３８から読み出されたＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像において、対応する各画素の中から輝度値の最大値を選択し、その最大値で該当する画素の画素値を置き換えて１つの合成閾値画像を作成するＲＧＢ最大値選択回路４０と、該合成閾値画像により前記エッジ画像生成回路３４により作成された前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をそれぞれ画素を単位にマスク処理して、対応するマスク済画像を作成するマスク回路４２とを備えてる。更に、このマスク回路４２で作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像において、対応する各画素の中から輝度値の最大値を選択し、その最大値で該当する画素の画素値を置き換えて合成エッジ画像を作成するＲＧＢ合成回路４４と、作成された合成エッジ画像を所定の設定値で２値化して２値画像を作成する２値化回路４６と、作成された２値画像について２値化された画素の数を欠陥画素数として計数し、その計数値が判定レベル以上の時に不良発生と判定する欠陥画素数計数回路４８とを備えている。
【００２５】
なお、ここで前記基準画像メモリ３２、閾値画像メモリ３８がそれぞれＡ、Ｂの２組ずつあるのは、一方のメモリに格納されている基準画像、閾値画像に基づいて検査を行っている間に、必要に応じて入力される基準更新信号により、新たな基準画像を入力して保存すると共に、それに基づいて作成される閾値画像を格納するためである。図中、閾値画像メモリ３８側の基準更新信号に１画面遅延とあるのは、最初の基準更新信号で基準画像メモリＡ又はＢの書き込み、読み出しを切替え、読み出された基準画像を閾値生成回路３６で処理して閾値画像が生成され、閾値画像メモリＡ又はＢに書き込みが終了した一画面後に、同メモリの読み出しを切替ることを意味する。
【００２６】
本実施形態における上記印刷欠陥検出部について更に詳述する。但し、ここでは、図示は省略するが、前記ラインセンサカメラ１０を水平方向に所定の間隔で操作することにより、所定数の画素からなる水平ライン画像が、例えば１ライン（画素）／ｍｍのピッチで垂直方向に走査数分配列されてなる検査画像が入力されるようになっている。
【００２７】
前記エッジ画像生成回路３４では、前記検査画像メモリ３０から入力される検査画像と、前記基準画像メモリ３２から入力される基準画像に対して、図４（Ａ）〜（Ｄ）にそれぞれ示すような空間フィルタを適用して、絵柄のエッジ抽出が行われるようになっている。具体的には、いずれかのフィルタを、注目画素を中心にして画像に重ね合わせた場合の、各係数を対応する各画素値に乗じてた値を加算した値を、該注目画素の画素値に設定し直す処理を、全画素に対して行うことにより、エッジが抽出された画像が作成される。
【００２８】
前記閾値生成回路３６は、図５に示すように、ｍ画素×ｎ画素の領域内で画素値の最大値を選択する最大値フィルタ回路３６Ａと、同領域内で画素値の最小値を選択する最小値フィルタ回路３６Ｂと、選択された最大値maxと最小値minの差を求める差分回路３６Ｃとで構成されている。便宜上、ｍ＝３、ｎ＝５の場合を、以下に説明する。
【００２９】
この閾値生成回路３６では、基準画像メモリ３２から入力された基準画像に対して、水平方向ｉ番目、垂直方向にｊ番目（以下、座標（ｉ，ｊ）ともいう）を中心画素とする３×５の矩形領域からなるウィンドウを設定し、図６に模式的に示すような画素値（輝度値）Ｈの中心画素に対して、該画素とその周囲の１４画素の画素値Ａ〜Ｏから、次の（１）式により算出される閾値ｔijを設定する。但し、この式でＭax｛｝は、列挙した画素値から最大値をとり、又Ｍin｛｝は、同画素値から最小値をとることを表わしている。
【００３０】
ｔij＝Ｍax｛Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ，
Ｍ，Ｎ，Ｏ｝−Ｍin｛Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，
Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ，Ｍ，Ｎ，Ｏ｝ …（１）
【００３１】
なお、上記中心画素に対して設定する閾値ｔijとしては、次の（２）式を用いて算出する方法を採用することもできる。
【００３２】
ｔij＝Ｍax｛｜Ａ−Ｈ｜，｜Ｂ−Ｈ｜，｜Ｃ−Ｈ｜，｜Ｄ−Ｈ｜，
｜Ｅ−Ｈ｜，｜Ｆ−Ｈ｜，｜Ｇ−Ｈ｜，｜Ｉ−Ｈ｜，｜Ｊ−Ｈ｜，
｜Ｋ−Ｈ｜，｜Ｌ−Ｈ｜，｜Ｍ−Ｈ｜，｜Ｎ−Ｈ｜，｜Ｏ−Ｈ｜｝…（２）
【００３３】
上記中心画素に対する閾値処理は、計算不能の画素を除き、基準画像の全画素に対して行う。このようにして得られた全ての閾値ｔijに対し、所定の定数α、βを用いて次の（３）式により、最終的な閾値画像の画素値として設定する閾値Ｔijを求める。
【００３４】
Ｔij＝α・ｔij＋β …（３）
【００３５】
この式で、定数αは全体的な明度変化が出ないようにするためのものであり、又、定数βは、全体のノイズレベルをオフセットを入れて隠すためのもので、最低閾値あるいはチューニング閾値等と呼ばれる。このように、上記（３）式を用いることにより、全体的な光量変動やノイズレベルを考慮した閾値からなる閾値画像を得ることができる。
【００３６】
ここで、上記閾値設定処理を、図７に示した中心画素の画素値が７５であるウィンドウの場合を具体例として説明すると、このウィンドウ中での輝度値の最大値は１７２であり、最小値は２１であることから、これらの値を（１）式に当て嵌めると、ｔij＝１７２−２１＝１５１となる。又、（３）式における定数をα＝１．２、β＝１０とすると、上記中心画素に対応する閾値画像の画素に設定する最終的な画素値である閾値ＴijはＴij＝１．２×１５１＋１０＝１９１となる。なお、上記のように中心画素に対して設定するウィンドウの矩形範囲を横方向±１、縦方向±２とているのは、縦方向の方が原反の伸縮や画像取込みタイミングのずれによって画像の歪みが大きいことによるが、これに限定されないことはいうまでもない。
【００３７】
以上詳述した閾値設定処理を、水平方向と垂直方向にそれぞれ１画素（１ライン）ずつずらしながら全体について行うことにより、閾値画像が作成され、その画像データは前記閾値画像メモリ３８に格納される。
【００３８】
前記ＲＧＢ最大値選択回路４０では、前記閾値画像メモリ３８から入力されるＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像の対応する画素の中で最大の画素値を、同位置の画素に設定することにより、１つの合成閾値画像を生成するようになっている。このように、各閾値画像において、対応する各画素の画素値の中で最大値を選択し、それを対応する画素の画素値に置き換えた合成閾値画像を作成するようにしたので、該合成閾値画像には絵柄のエッジ部分をマスクする領域のみが残り、色間見当ずれ等に起因する微妙な色変動部分を排除することができる。
【００３９】
前記マスク回路４２では、前記検査画像から得られた前記エッジ画像に対する合成閾値画像によるマスク処理が行われる。これは、エッジ画像の１つの画素が前記図６に示した座標（ｉ，ｊ）の中心画素に対応している場合であれば、該エッジ画像の画素値Ｓの絶対値が、対応する合成閾値画像の画素値Ｔijと比較し、｜Ｓ｜≦ＴijならばＳ＝０とし、逆の場合には絶対値のままにすることにより、欠陥候補画素を抽出する処理である。このように、Ｒ、Ｇ、Ｂの各検査画像から抽出したエッジを、合成閾値画像を使ってマスク処理するようにしたことから、各マスク済エッジ画像には、基準画像には存在しない不良部分のエッジのみが残ることになるため、微妙な色変動に影響されることなく、印刷物上に孤立している点状欠陥等を確実に検出することができる。
【００４０】
以上詳述した本実施形態によれば、図８、図９に概念的に示したように、エッジ部分で輝度値が大きく変化する点状欠陥を、印刷絵柄の微小な色間見当ずれや、カメラレンズの色収差等が原因で発生する絵柄エッジ部分の微妙な色変動を過度に検出したりすることなく、容易且つ確実に検出することができる。
【００４１】
即ち、予め作成されているカラーの基準画像（Ａ）から、前記閾値生成回路３６によりＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像（Ｂ）が作成され、前記閾値画像メモリ３８に格納される。この閾値画像（Ｂ）には、前述した閾値設定処理により、絵柄のエッジ部分が広い幅で抽出されている。次いで、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像から、前記ＲＧＢ最大値選択回路４０により、対応する画素の輝度値の中で最大値を選択し、それを該当する画素に設定して合成閾値画像（Ｃ）を作成する。
【００４２】
その一方で、前記画像バスから、図１０（Ｄ）に示す、点状欠陥（図中欠点）が存在する検査画像に対応するＲ、Ｇ、Ｂの各画像（Ｅ）が前記検査画像メモリ３０に格納されると、これら各検査画像（Ｅ）について、前記エッジ画像生成回路３４によりエッジ画像（Ｆ）が作成される。このエッジ画像（Ｆ）には、絵柄のエッジと共に、点状欠陥のエッジが抽出されている。なお、添付図面では、入力装置の性能の関係で、点状欠陥のエッジが明示されていない。以下に説明する（Ｇ）の画像も、多少は見える（Ｈ）、（Ｉ）の画像も同様である。
【００４３】
次いで、前記マスク回路４２より、上記各エッジ画像（Ｆ）に対して前記ＲＧＢ最大値選択回路４０から入力される合成閾値画像（Ｃ）を用いてそれぞれマスク処理することにより、Ｒ、Ｇ、Ｂにそれぞれ対応するマスク済画像（Ｇ）が作成される。この段階では、エッジ画像（Ｆ）にあった絵柄のエッジ部分は、合成閾値画像（Ｃ）のエッジ領域によりマスクされて消え、点状欠陥のエッジのみがＧ画像に残っている。上記Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を、前記ＲＧＢ合成回路４４により合成し、得られる合成画像を所定の設定値で２値化し、２値化された白の画素数を、前記計数回路４８で計数し、その数、即ち面積が予め設定されている判定レベル以上である場合に不良発生と判定する。
【００４４】
以上詳述した本実施形態によれば、前記合成閾値画像を用いて各エッジ画像をマスク処理するようにしたので、微妙な色ずれを除外して検査できることから、絵柄エッジ部分に発生する色ずれを過度に検出することなく、安定した状態で検査能力を十分に発揮することができるカラー検査処理を実現することができる。
【００４５】
以上、本発明について具体的に説明したが、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【００４６】
例えば、前記実施形態では、閾値画像を作成する際の処理単位として画素数等を具体的に示したが、これに限定されない。又、エッジ抽出に使用する空間フィルタも前記実施形態に示したものに限定されない。
【００４７】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、印刷物を撮像して得られる検査画像上に絵柄と共に明瞭に存在する点状欠陥を容易且つ確実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る一実施形態の検査装置全体の概略構成を示す説明図
【図２】実施形態におけるラインセンサカメラのハード構成を示す回路図
【図３】実施形態の要部構成を示すブロック図
【図４】エッジ抽出に使用する空間フィルタの例を示す説明図
【図５】閾値生成回路の詳細を示すブロック図
【図６】閾値処理に使用するウィンドウを概念的に示す説明図
【図７】閾値処理に使用するウィンドウを設定した画素値の具体例を示す説明図
【図８】実施形態の作用を示すイメージ図
【図９】実施形態の作用を示す他のイメージ図
【符号の説明】
３０…検査画像メモリ
３２…基準画像メモリ
３４…エッジ画像生成回路
３６…閾値生成回路
３８…閾値画像メモリ
４０…ＲＧＢ最大値選択回路
４２…マスク回路
４４…ＲＧＢ合成回路[0001]
[Technical field to which the invention belongs]
The present invention relates to a printed matter inspection method and apparatus, and more particularly, to a printed matter inspection method and apparatus suitable for application when detecting point-like defects that occur during color printing.
[0002]
[Prior art]
A printed image is input as an inspection image from a web (printed material) printed on a rotary printing press and continuously running, and the inspection image and a reference image created in advance are input. In comparison, printing defects are inspected.
[0003]
As described above, the printed matter inspection apparatus that detects the print defect by comparing the inspection image with the reference image measures the number of pixels equal to or greater than a predetermined level difference within a predetermined rectangular area with respect to the difference image between these two images. Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-76470 discloses that a pixel is determined to be defective when the number of pixels exceeds a predetermined value.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, it has been clarified that the inspection technique disclosed in the above publication has the following problems when applied to inspection of point-like defects with clear outlines (edges).
[0005]
In the detection process using a monochrome inspection image obtained by imaging a printed matter using a monochrome (black and white) camera, the ability for C (blue), M (red), and Y (yellow) compared to the detection ability for K (black) Is inferior. Therefore, when trying to increase the inspection capability for point-like defects that are clearly present on the inspection image, it is possible to detect excessively subtle changes in the density of the printed pattern that is allowed to occur, especially in offset printing. As a result, the printed pattern is detected as defective.
[0006]
On the other hand, when using an inspection image obtained by imaging using a color camera, if independent detection processing is performed for each of R, G, and B, minute misregistration between printed colors, chromatic aberration of a camera lens, etc. May cause excessive detection of subtle color fluctuations in the pattern edge, and image processing is performed independently for each of R, G, and B. Three times the circuit scale is required.
[0007]
The present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and can easily and reliably inspect a point defect that clearly exists together with a pattern on an inspection image obtained by imaging the printed matter. It is an object to provide an inspection method and apparatus.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The present invention relates to a printed matter inspection method for detecting a print defect by comparing an inspection image input for each of R, G, and B with a reference image prepared in advance by imaging a printed matter with a color camera. The edge of the pattern is extracted from each inspection image of G and B, and each edge image of R, G, and B is created, and the edge of the pattern of the edge image is extracted from each of the reference images of R, G, and B A threshold image that masks a portion is created, and for each of the created R, G, and B threshold images, a maximum value is obtained from the pixel values of the corresponding pixels, and the maximum value is determined as the pixel value of the corresponding pixel. Each of the R, G, B edge images by masking each of the R, G, B edge images with the combined threshold image, Print defects based on masked edge images By leaving, it is obtained by solving the above problems.
[0009]
The present invention also provides a printed matter inspection apparatus for detecting a print defect by imaging a printed matter with a color camera and comparing an inspection image input for each of R, G, and B with a reference image created in advance. Means for extracting an edge of a pattern from each inspection image of R, G, B and creating each edge image of R, G, B; and from each of the R, G, B reference images, For each of the generated threshold images for R, G, and B, each of which creates a threshold image for masking the edge portion of the pattern, the maximum value is obtained from the pixel values of the corresponding pixels, and the maximum value is determined. Means for creating one composite threshold image as the pixel value of the pixel to be masked, and masking each of the R, G, B edge images with the composite threshold image, to obtain each masked edge image of R, G, B The means to create and each masked error created By having a means for detecting a print defect based on the di-image is obtained by solving the above problems as well.
[0010]
That is, in the present invention, in each of the R, G, and B threshold images obtained from the reference image, the maximum value is selected from the pixel values of the corresponding pixels and replaced with the pixel values of the corresponding pixels. Since the synthesis threshold image is created, only the area for masking the edge portion of the pattern remains in the synthesis threshold image, and the subtle color fluctuation portion caused by the misregistration between colors is excluded. Therefore, since the edge extracted from each inspection image of R, G, B obtained by imaging with a color camera is masked using this composite threshold image, each masked edge image has Since only the edges of defective portions that do not exist in the reference image remain, it is possible to easily and reliably detect point-like defects isolated on the printed matter without being affected by subtle color fluctuations. It becomes like this.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0012]
FIG. 1 is a main part configuration diagram showing an outline of a printing defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
[0013]
The printing defect inspection apparatus of the present embodiment includes a camera 10, an image input board 12, a misregistration calculation board 14, a first defect detection board 16, and a second defect detection board 18 as functional units. Each functional unit is electrically connected through the respective connectors 12A to 18A.
[0014]
The printing defect inspection apparatus includes a mother board 20. The mother board 20 includes a future expansion bus, a misregistration amount bus, R, G, and B image buses and a monochrome image bus in order from the top. Each data bus is laid, and a plurality of connectors 22A to 22E that can be electrically connected to each data bus are provided.
[0015]
The connector 22 </ b> A is connected to the connector 12 </ b> A of the image input board 12, and when a printed matter is captured by the camera 10, image signals corresponding to the R, G, B, and monochrome image buses are output. Yes.
[0016]
The connector 22B is connected to the displacement calculation board 14 via the connector 14A. The calculation board 14 calculates the displacement amount of the inspection image based on the image signal input from the monochrome image bus, and the calculation result. Is output to the misregistration amount bus. Since a monochrome image originally corresponds to a combination of R, G, and B color images, the displacement amount of the monochrome image and the displacement amount of the color image are the same.
[0017]
The connector 22C is connected to the first defect detection board 16 via the connector 16A. In the first defect detection board 16, R, G, B based on the positional deviation amount input from the positional deviation amount bus. The position of the inspection image input from each image bus is corrected, and a print defect is detected based on the image of each color.
[0018]
On the other hand, the connector 22D is connected to the second defect detection board 18 via its connector 18A, and the second defect detection board 18 similarly uses the above-mentioned monochrome based on the positional deviation amount input from the positional deviation amount bus. The position of the inspection image input from the image bus is corrected, and printing defects are detected based on the monochrome image.
[0019]
The connector 22E is used to connect a new functional unit when the inspection function is expanded in the future, and the expansion bus is also used for the same purpose. For the sake of convenience, the case where there is one expansion connector and one bus is shown here, but it goes without saying that both may be two or more.
[0020]
FIG. 2 is a block diagram showing an outline of a hardware configuration of the line sensor camera (one-dimensional CCD camera) in the present embodiment.
[0021]
The camera 10 of this embodiment receives a one-dimensional CCD sensor 10A that is a light receiving unit and light reception signals (odd number signal / even number signal) that are output separately from odd-numbered and even-numbered pixels (CCD elements) of the sensor 10A. Two amplifiers (Amp) for amplifying, an S / H circuit 10B for alternately synthesizing the odd pixel level of the odd signal and the even pixel level of the even signal for the amplified signal, and the black level of the synthesized signal A black level correction circuit 10C for correcting the above, an amplifier (Amp) that amplifies the correction signal and outputs it as a video signal, and a control device (not shown) for these CCD sensor 10A, threshold circuit 10B, and black level correction circuit 10C. And a timing generation circuit 10D that outputs a signal for timing each signal processing based on an external drive signal input from There. As described above, in the line sensor camera 10 of the present embodiment, electrical processing such as amplification is alternately performed on the odd-numbered and even-numbered pixels in order to increase the processing speed of the received light reception signal.
[0022]
FIG. 3 is a block diagram showing the main configuration of a print defect detection unit provided in the printed matter inspection apparatus according to the present embodiment.
[0023]
For convenience, this print defect detection unit represents the R image and does not clearly indicate the G and B images, but corresponds to the first defect detection board 18 shown in FIG. R, G, and B image signals captured via the input board 12 are input via the image buses. The defect detection unit captures an inspection image memory 30 for storing inspection images sequentially input from the camera 10 via the image bus, and captures a normal print pattern with the camera 10 in advance, and appropriately re-captures the image. And A and B reference image memories 32 for storing reference images to be updated.
[0024]
The defect detection unit performs edge extraction processing on the inspection image read from the inspection image memory 30 to create an edge image, and the reference image read from the reference image memory 32. A threshold generation circuit 36 for creating a threshold image, and two threshold image memories A and B for storing the created threshold image are provided. Further, in each of the R, G, and B threshold images read from each memory 38, the maximum luminance value is selected from the corresponding pixels, and the pixel value of the corresponding pixel is replaced with the maximum value. The RGB maximum value selection circuit 40 that creates one composite threshold image, and the R, G, and B edge images created by the edge image generation circuit 34 using the composite threshold image are masked in units of pixels. And a mask circuit 42 for creating a corresponding masked image. Further, in each of the R, G, B masked edge images created by the mask circuit 42, the maximum value of the luminance value is selected from the corresponding pixels, and the pixel value of the corresponding pixel is determined by the maximum value. An RGB composition circuit 44 that creates a composite edge image by replacement, a binarization circuit 46 that creates a binary image by binarizing the created composite edge image with a predetermined set value, and the created binary image A defective pixel number counting circuit 48 that counts the number of binarized pixels as the number of defective pixels and determines that a defect has occurred when the counted value is equal to or higher than a determination level is provided.
[0025]
Here, the reference image memory 32 and the threshold image memory 38 have two sets of A and B, respectively, while the inspection is performed based on the reference image and the threshold image stored in one memory. This is because a new reference image is inputted and stored by a reference update signal inputted as needed, and a threshold image created based on the new reference image is stored. In the figure, the reference update signal on the threshold image memory 38 side has one screen delay because the first reference update signal switches between writing and reading of the reference image memory A or B, and the read reference image is used as a threshold generation circuit. This means that the threshold image is generated by processing in 36 and the reading of the memory is switched one screen after the writing to the threshold image memory A or B is completed.
[0026]
The print defect detection unit in the present embodiment will be further described in detail. However, although illustration is omitted here, by operating the line sensor camera 10 at a predetermined interval in the horizontal direction, a horizontal line image composed of a predetermined number of pixels becomes, for example, a pitch of 1 line (pixel) / mm. Thus, inspection images arranged in the number of scans in the vertical direction are input.
[0027]
In the edge image generation circuit 34, the inspection image input from the inspection image memory 30 and the reference image input from the reference image memory 32 are respectively shown in FIGS. 4A to 4D. A spatial filter is applied to perform pattern edge extraction. Specifically, when one of the filters is superimposed on the image around the target pixel, the value obtained by multiplying the corresponding pixel value by each coefficient is added to the pixel value of the target pixel. By performing the process of resetting to all pixels, an image from which an edge has been extracted is created.
[0028]
As shown in FIG. 5, the threshold value generation circuit 36 selects a maximum value filter circuit 36A that selects the maximum value of pixel values in an area of m pixels × n pixels, and selects a minimum value of pixel values in the same area. A minimum value filter circuit 36B and a difference circuit 36C for obtaining a difference between the selected maximum value max and minimum value min are configured. For convenience, the case where m = 3 and n = 5 will be described below.
[0029]
In this threshold value generation circuit 36, 3 × with respect to the reference image input from the reference image memory 32, the center pixel is i-th in the horizontal direction and j-th in the vertical direction (hereinafter also referred to as coordinates (i, j)). A window consisting of five rectangular areas is set, and the pixel values A to O of the pixel and its surrounding 14 pixels are obtained from the central pixel of the pixel value (luminance value) H as schematically shown in FIG. A threshold value tij calculated by the following equation (1) is set. However, in this expression, Max {} represents the maximum value from the listed pixel values, and Min {} represents the minimum value from the pixel values.
[0030]
tij = Max {A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L,
M, N, O} -Min {A, B, C, D, E, F, G, H,
I, J, K, L, M, N, O} (1)
[0031]
As the threshold value tij set for the center pixel, a method of calculating using the following equation (2) can also be adopted.
[0032]
tij = Max {| A−H |, | B−H |, | C−H |, | D−H |,
| EH |, | FH |, | GH |, | IH |, | JH |,
| K-H |, | L-H |, | M-H |, | N-H |, | O-H |} (2)
[0033]
The threshold processing for the center pixel is performed on all pixels of the reference image except for pixels that cannot be calculated. For all the threshold values tij obtained in this way, a threshold value Tij to be set as a pixel value of the final threshold image is obtained by the following equation (3) using predetermined constants α and β.
[0034]
Tij = α · tij + β (3)
[0035]
In this equation, the constant α is for preventing the overall brightness change from occurring, and the constant β is for hiding the entire noise level with an offset, and is a minimum threshold value or tuning threshold value. Called etc. Thus, by using the above equation (3), it is possible to obtain a threshold image composed of threshold values in consideration of the overall light quantity fluctuation and noise level.
[0036]
Here, the threshold value setting process will be described as a specific example in the case where the pixel value of the central pixel shown in FIG. 7 is 75. The maximum luminance value in this window is 172, and the minimum value Therefore, when these values are applied to the equation (1), tij = 172-21 = 151. If the constants in the expression (3) are α = 1.2 and β = 10, the threshold Tij that is the final pixel value set for the pixel of the threshold image corresponding to the central pixel is Tij = 1.2 ×. 151 + 10 = 191. As described above, the rectangular range of the window set for the center pixel is set to ± 1 in the horizontal direction and ± 2 in the vertical direction. Needless to say, the distortion is not limited to this.
[0037]
The threshold value setting process described in detail above is performed for the whole while shifting each pixel (one line) in the horizontal direction and the vertical direction, whereby a threshold image is created, and the image data is stored in the threshold image memory 38. .
[0038]
In the RGB maximum value selection circuit 40, by setting the maximum pixel value among the corresponding pixels of the R, G, B threshold images input from the threshold image memory 38 to the pixels at the same position, One composite threshold image is generated. In this way, in each threshold image, the maximum value is selected from the pixel values of the corresponding pixels, and the composite threshold image is created by replacing it with the pixel value of the corresponding pixel. Only an area for masking the edge portion of the pattern remains in the image, and a subtle color variation portion caused by a misregistration between colors can be eliminated.
[0039]
In the mask circuit 42, a mask process is performed by a composite threshold image for the edge image obtained from the inspection image. If one pixel of the edge image corresponds to the center pixel of the coordinates (i, j) shown in FIG. 6, the absolute value of the pixel value S of the edge image corresponds to the corresponding composition. This is a process of extracting defective candidate pixels by comparing with the pixel value Tij of the threshold image and setting S = 0 if | S | ≦ Tij, and keeping the absolute value in the opposite case. As described above, since the edge extracted from each of the R, G, and B inspection images is masked using the composite threshold image, each masked edge image has a defective portion that does not exist in the reference image. Therefore, it is possible to reliably detect a point-like defect or the like isolated on the printed matter without being affected by subtle color fluctuations.
[0040]
According to the embodiment described in detail above, as conceptually shown in FIG. 8 and FIG. 9, a point-like defect whose luminance value greatly changes at the edge portion, a minute inter-color misregistration of the printed pattern, It is possible to detect easily and reliably without excessively detecting subtle color fluctuations at the pattern edge portion caused by chromatic aberration of the camera lens.
[0041]
That is, R, G, and B threshold images (B) are created from the color reference image (A) created in advance by the threshold generation circuit 36 and stored in the threshold image memory 38. In the threshold image (B), the edge portion of the pattern is extracted with a wide width by the threshold setting process described above. Next, the RGB maximum value selection circuit 40 selects the maximum value among the luminance values of the corresponding pixels from the generated R, G, and B threshold images, and sets them to the corresponding pixels to synthesize them. A threshold image (C) is created.
[0042]
On the other hand, from the image bus, R, G, and B images (E) corresponding to the inspection image in which the point-like defect (defect in the drawing) shown in FIG. Are stored, the edge image (F) is created by the edge image generation circuit 34 for each inspection image (E). In this edge image (F), the edge of the point defect is extracted together with the edge of the pattern. In the attached drawings, the edge of the point defect is not clearly shown due to the performance of the input device. The image (G) described below is the same for the images (H) and (I) that are somewhat visible.
[0043]
Next, the mask circuit 42 masks each edge image (F) using the combined threshold image (C) input from the RGB maximum value selection circuit 40, thereby R, G, B A masked image (G) corresponding to each is created. At this stage, the edge portion of the pattern in the edge image (F) is masked by the edge region of the composite threshold image (C) and disappears, and only the edge of the point defect remains in the G image. The R, G, and B masked edge images are synthesized by the RGB synthesis circuit 44, the resulting synthesized image is binarized with a predetermined set value, and the number of binarized white pixels is counted. Counting is performed by the circuit 48, and when the number, that is, the area is equal to or higher than a predetermined determination level, it is determined that a defect has occurred.
[0044]
According to the present embodiment described in detail above, each edge image is masked using the composite threshold image, and therefore, it is possible to inspect the subtle color misregistration. Therefore, it is possible to realize a color inspection process capable of sufficiently exhibiting the inspection ability in a stable state without excessively detecting.
[0045]
Although the present invention has been specifically described above, the present invention is not limited to that shown in the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.
[0046]
For example, in the above-described embodiment, the number of pixels or the like is specifically shown as a processing unit when creating a threshold image, but the present invention is not limited to this. Further, the spatial filter used for edge extraction is not limited to that shown in the embodiment.
[0047]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to easily and reliably detect a point-like defect that clearly exists together with a pattern on an inspection image obtained by imaging a printed matter.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating a schematic configuration of an entire inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a hardware configuration of a line sensor camera according to the embodiment. FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a spatial filter used for edge extraction. FIG. 5 is a block diagram showing details of a threshold generation circuit. FIG. 6 is an explanatory diagram conceptually showing a window used for threshold processing. FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating a specific example of a pixel value in which a window used for threshold processing is set. FIG. 8 is an image diagram illustrating an operation of the embodiment. FIG. 9 is another image diagram illustrating an operation of the embodiment. ]
30 ... Inspection image memory 32 ... Reference image memory 34 ... Edge image generation circuit 36 ... Threshold generation circuit 38 ... Threshold image memory 40 ... RGB maximum value selection circuit 42 ... Mask circuit 44 ... RGB composition circuit

Claims

印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法において、
前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各検査画像から絵柄のエッジを抽出して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をそれぞれ作成すると共に、
前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各基準画像から、前記エッジ画像の絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成し、
作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像について、対応する各画素の画素値の中から最大値を求め、該最大値を該当する画素の画素値として１つの合成閾値画像を作成し、
該合成閾値画像により前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をマスク処理して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を作成し、
作成された各マスク済エッジ画像に基づいて印刷不良を検出することを特徴とする印刷物検査方法。In a printed matter inspection method for detecting a print defect by comparing an inspection image input for each of R, G, and B by imaging a printed matter with a color camera and a reference image created in advance.
Extracting pattern edges from the R, G, and B inspection images to create R, G, and B edge images,
A threshold image that masks the edge portion of the pattern of the edge image is created from each of the R, G, and B reference images,
For each of the created R, G, and B threshold images, a maximum value is obtained from the pixel values of the corresponding pixels, and one combined threshold image is created using the maximum value as the pixel value of the corresponding pixel.
Masking each of the R, G, and B edge images with the composite threshold image to create R, G, and B masked edge images,
A printed matter inspection method, comprising: detecting defective printing based on each created masked edge image.

請求項１において、
前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範囲から画素値の差が最も大きくなる２つの画素を選択し、その２つの画素値の差の絶対値ｔ ij から、α、βを定数とする次式
Ｔ ij ＝α・ｔ ij ＋β
により求まるＴ ij を、座標（ｉ，ｊ）の中心画素の画素値に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。In claim 1,
As the threshold image, for the reference image, two pixels having the largest difference in pixel value from a predetermined neighborhood range are selected , and α and β are set as constants from the absolute value t ij of the difference between the two pixel values. The following formula
T ij = α · t ij + β
A printed matter inspection method, wherein T ij obtained by the above is set to the pixel value of the center pixel of coordinates (i, j) .

請求項１において、
前記マスク処理を、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像を構成する各画素について、画素値の絶対値が前記合成閾値画像の対応する画素の画素値以下の場合は０を、逆に超えている場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴とする印刷物検査方法。In claim 1,
If the absolute value of the pixel value is less than or equal to the pixel value of the corresponding pixel in the composite threshold image, the mask processing exceeds 0 if the absolute value of the pixel value of each pixel constituting each of the R, G, and B edge images If so, the printed pixel inspection method is performed by setting the original pixel values.

請求項１において、
前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を合成して合成エッジ画像を作成し、該合成エッジ画像を２値化して２値画像を作成し、該２値画像に基づいて欠陥発生を判定することを特徴とする印刷物検査方法。In claim 1,
The R, G, B masked edge images are combined to create a combined edge image, the combined edge image is binarized to generate a binary image, and defect occurrence is determined based on the binary image And a printed matter inspection method.

請求項４において、
前記合成エッジ画像を、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像の対応する画素の中で最大の画素値を、同画素に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。In claim 4,
A printed matter inspection method, wherein the composite edge image is created by setting a maximum pixel value among the corresponding pixels of the R, G, and B masked edge images to the same pixel.

印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査装置において、
前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各検査画像から絵柄のエッジを抽出して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をそれぞれ作成する手段と、
前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各基準画像から、前記エッジ画像の絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成する手段と、
作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各閾値画像について、対応する各画素の画素値の中から最大値を求め、該最大値を該当する画素の画素値として１つの合成閾値画像を作成する手段と、
該合成閾値画像により前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像をマスク処理して、Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を作成する手段と、
作成された各マスク済エッジ画像に基づいて印刷不良を検出する手段とを備えていることを特徴とする印刷物検査装置。In a printed matter inspection apparatus that detects a print defect by comparing an inspection image input for each of R, G, and B by imaging a printed matter with a color camera and a reference image created in advance.
Means for extracting an edge of a pattern from each inspection image of R, G, B and creating each edge image of R, G, B;
Means for creating a threshold image for masking an edge portion of the pattern of the edge image from each of the R, G, and B reference images;
Means for determining a maximum value from the pixel values of the corresponding pixels for each of the generated threshold images of R, G, and B, and generating one composite threshold image using the maximum value as the pixel value of the corresponding pixel; ,
Means for masking each of the R, G, and B edge images with the composite threshold image to create each of the R, G, and B masked edge images;
A printed matter inspection apparatus comprising: means for detecting a print defect based on each created masked edge image.

請求項６において、
前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範囲から画素値の差が最も大きくなる２つの画素を選択し、その２つの画素値の差の絶対値ｔ ij から、α、βを定数とする次式
Ｔ ij ＝α・ｔ ij ＋β
により求まるＴ ij を、座標（ｉ，ｊ）の中心画素の画素値に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。In claim 6,
As the threshold image, for the reference image, two pixels having the largest difference in pixel value from a predetermined neighborhood range are selected , and α and β are set as constants from the absolute value t ij of the difference between the two pixel values. The following formula
T ij = α · t ij + β
The printed matter inspection apparatus is characterized in that T ij obtained by the above is set to the pixel value of the center pixel of the coordinates (i, j) .

請求項６において、
前記マスク処理を、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各エッジ画像を構成する各画素について、画素値の絶対値が前記合成閾値画像の対応する画素の画素値以下の場合は０を、逆に超えている場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴とする印刷物検査装置。In claim 6,
If the absolute value of the pixel value is less than or equal to the pixel value of the corresponding pixel in the composite threshold image, the mask processing exceeds 0 if the absolute value of the pixel value of each pixel constituting each of the R, G, and B edge images If so, the printed pixel inspection apparatus is characterized in that each original pixel value is set.

請求項６において、
前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像を合成して合成エッジ画像を作成する手段と、該合成エッジ画像を２値化して２値画像を作成する手段と、該２値画像に基づいて欠陥発生を判定する手段とを、更に備えたことを特徴とする印刷物検査装置。In claim 6,
Based on the binary image, means for synthesizing the R, G, B masked edge images to create a composite edge image, binarizing the composite edge image to create a binary image, and A printed matter inspection apparatus, further comprising means for determining occurrence of a defect.

請求項９において、
前記合成エッジ画像を、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの各マスク済エッジ画像の対応する画素の中で最大の画素値を、同画素に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。In claim 9,
The printed material inspection apparatus, wherein the composite edge image is created by setting the maximum pixel value among the corresponding pixels of the masked edge images of R, G, and B to the same pixel.