JP4120085B2 - テープドライブ装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、使用するテープカセットの磁気テープの厚みに応じて、磁気テープに対する記録/再生の最適化を図る処理を行うことができるテープドライブ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
デジタルデータを磁気テープに記録/再生することのできるドライブ装置として、いわゆるテープストリーマドライブが知られている。このテープストリーマドライブは、ヘリカルスキャン方式が採用され、磁気ヘッドを有した回転ドラムに所定のラップ角で巻きつけた状態で、磁気テープを走行させさらに回転ドラムを所定の方向に回転させることにより、記録/再生などの動作が実現される。
このようなテープストリーマドライブは、メディアであるテープカセットのテープ長にもよるが、例えば数十〜数百ギガバイト程度の膨大な記録容量を有することが可能であり、このため、コンピュータ本体のハードディスク等のメディアに記録されたデータをバックアップするなどの用途に広く利用されている。また、データサイズの大きい画像データ等の保存に利用する場合にも好適とされている。
また、テープカセットはテープストリーマドライブから排出することができる、いわゆるリムーバブルなメディアとされている。したがって、同じテープカセットに記録されているデータを他のテープストリーマドライブで再生したり、またことなるテープストリーマドライブによってのデータ記録が可能となる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、テープカセットの容量増加を図るためには、テープカセット内により長いテープを収納していくことが必要になる。すなわち、テープをより薄い構造で形成することによりテープカセット内により長いテープを収納することができるようになる。これにより、ユーザは用途、目的などに応じて好適とされる容量のテープカセットを選択することも可能になる。
これによりテープストリーマドライブには、厚みの異なるテープが収納されたテープカセットが選択的に装填されることになるが、磁気テープは回転ヘッドに圧着された状態で走査するので、テープの厚みによって回転ヘッドに形成される磁気ヘッド(再生ヘッド、記録ヘッド)に対する負荷が変動する。
【0004】
図11は、回転ヘッド(図示せず)に備えられている磁気ヘッド70とこの磁気ヘッド70に当接する磁気テープの状態を説明する模式図であり、図11(a)は比較的厚く形成されている磁気テープ80、同じく図11(b)は図11(a)に示した磁気テープよりも薄く形成されている磁気テープ81を例に挙げている。なお、実際の磁気テープの厚みは例えばサブミクロンとされる微小な単位で形成されるので、この図に示す例は説明の便宜を図るために、厚みの差が解りやすいように示している。
【0005】
図11(a)に示されているように、磁気ヘッド70が磁気テープ80を走査する場合は、磁気ヘッド70の形状に沿ってほぼ全面に当接するようにされる。したがって、この状態で磁気ヘッド70が磨耗していくことになり、これにより磁気ヘッド70は厚い磁気テープ80になじんだ形状になる。
しかし、図11(a)に示したように磁気ヘッド70が磁気テープ80になじんだ状態で、図11(b)に示されているように磁気テープ80よりも薄く形成されている磁気テープ81を走査する場合は、磁気ヘッド70の中央部分に形成されているギャップ70a付近において中浮き現象が起こってしまう。この中浮き現象は磁気ヘッド70先端部分の曲率半径が大きい場合に生じる現象とされ、これにより、磁気ヘッド70と磁気テープ81の間に間隙85が生じて、記録/再生の性能が劣化してしまう。
【0006】
この場合、その劣化状態がテープストリーマドライブにおける許容範囲を超えてしまった場合、双方の磁気テープに対して互換性を保証することが困難な場合があるという問題がある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明はこのような問題点を解決するために、テープカセットに収納された記録媒体とされる磁気テープを走行させるテープ走行手段と、走行している前記磁気テープを走査することによって情報の記録または再生を行なう磁気ヘッドを備えた回転ドラムと、装填された前記テープカセットの種別を識別するテープカセット種別識別手段と、前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第一のテープカセットが装填されたと判別した場合に前記回転ドラムが回転動作を行った時間を計測する回転時間計測手段と、前記回転時間計測手段によって計測された前記回転ドラムの回転時間を記憶する回転時間記憶手段と、前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第二のテープカセットが装填されたと判別した場合に、前記回転時間記憶手段に記憶されている回転時間に応じて前記第二のテープカセットに収納されている磁気テープに対して所要の性能確認処理を行う性能確認処理手段と、前記性能確認処理制御手段の確認結果に基づいて、所要の性能回復処理を行う性能回復処理手段を備えてテープドライブ装置を構成する。
【0008】
本発明によれば、テープカセット識別手段の判別結果に基づいて、磁気テープの厚みを検出することができ、さらに磁気テープの厚みに応じて性能回復処理を行うことができる。これにより、厚い磁気テープを用いることによる磁気ヘッドの形状変化により、薄い磁気テープの記録/再生性能が劣化している場合でも、性能回復処理によって改善を図ることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の実施の形態のテープストリーマドライブの一構成例を示すブロック図である。この図に示すテープストリーマドライブ1は、装填されたテープカセットの磁気テープ2に対して、ヘリカルスキャン方式により記録/再生を行うようにされている。
回転ドラム3においては、その側面に対して、アジマス角の異なる2つの再生ヘッド4A、4Bが互いに180°対向するようにして設けられると共に、2つの記録ヘッド5A,5Bも互いに180°対向するようにして設けられる。なお以降、再生ヘッド4A、4B、及び記録ヘッド5A,5Bを総じて示す場合は単に磁気ヘッドということにする。
この回転ドラム3には、後で図2で説明するように当該テープストリーマドライブ1に対応するテープカセット(図示せず)から引き出された磁気テープ2が巻き付けられる。そして、この回転ドラム3はドラムモータ22により回転される。
また磁気テープ2を定速走行させるためのキャプスタン(図示せず)はキャプスタンモータ23により回転駆動される。
【0010】
またテープカセット内のリールハブ2A,2Bは、それぞれリールモータ24,25により、順方向及び逆方向に回転駆動される。
ローディングモータ26は、図示しないローディング機構を駆動し、磁気テープ2の回転ドラム3へのローディング/アンローディングを実行する。
【0011】
ドラムモータ22、キャプスタンモータ23、リールモータ24,25、ローディングモータ26は、それぞれメカドライバ21からの電力印加により回転駆動される。メカドライバ21はサーボコントローラ20からの制御に基づいて各モータを駆動する。サーボコントローラ20は各モータの回転速度制御を行って通常の記録再生時の走行や高速再生時のテープ走行、早送り、巻き戻し時のテープ走行、テープカセット装填動作、ローディング/アンローディング動作、テープテンション制御動作などを実行させる。
【0012】
サーボコントローラ20が各モータのサーボ制御を実行するために、例えば、ドラムモータ22には、FG(Frequency Generator)22a、及びPG(Pulse Generator)22bが設けられる。また、キャプスタンモータ23、リールモータ24,25、ローディングモータ26の各々に対しては、FG23a,FG24a,FG25a,FG26aが設けられる。これら、FG、PGから出力される信号によって、サーボコントローラ20においては、各モータの回転情報が検出できるようになっている。
【0013】
そしてサーボコントローラ20はこれらFG、PGから得られるパルスに基づいて各モータの回転速度や回転位相差を判別することで、各モータの回転動作について目的とする回転速度や位相の誤差を検出し、その誤差分に相当する印加電力制御をメカドライバ21に対して行うことで、回転速度制御を実現することができる。従って、記録/再生時の通常走行や、高速サーチ、早送り、巻き戻しなどの各種動作時に、サーボコントローラ20はそれぞれの動作に応じた目標回転速度により各モータが回転されるように制御を行うようにされている。
【0014】
また、上記サーボコントローラ20はテープフォーマットコントローラ11から内部バス30を介してシステム全体の制御処理を実行するシステムコントローラ19と双方向に通信可能に接続されている。
【0015】
ところで、回転ドラム3は磁気テープ2が一定時間走行しない場合に、その回転を停止するように制御される。つまり、サーボコントローラ20はリールモータ24、25を所定時間駆動しない場合にドラムモータ22が停止するように制御する。したがって、テープストリーマドライブ1では、例えば記録/再生、早送り/巻き戻しなどを行い、磁気テープ2が走行している時間、及び磁気テープ2が走行していなくても回転ドラム3が回転してる時間、すなわちテープストリーマドライブ1にテープカセットが装填された後に回転ドラム3が回転している時間を磁気テープ2の走行時間としている。
サーボプロセッサ20は回転ドラム3を回転させている時間の計測を行い、回転時間が前記所定時間に達した時点で、回転ドラム3の回転を停止させる制御を行うようにしている。
【0016】
本実施の形態では、比較的厚い磁気テープを備えたテープカセットが装填されたと判別した場合に回転ドラム3の回転時間を記憶しておき、比較的薄い磁気テープを備えたテープカセットが装填されたと判別した場合に、この回転時間を性能回復処理を行うか否かの判断を行うための値として用いるようにしている。なお、磁気テープの厚みの判別は、後で説明するカセット種別判別手段としてのホール検出機構28によって行われる。
回転時間の測定値は例えばワークRAM18において更新され、回転時間メモリ29に格納されることによって、例えばテープカセットが入れ換えられたときや、例えば電源がオフにされた場合などでも保持されるようにされている。
つまり、回転時間メモリ29には厚いテープが装填されている場合の回転時間が累積されて記憶される。
【0017】
テンションレギュレータ27は、ここでは図示していないテンションピックアップなどを備え、図4で説明するようにローディング機構における所要の位置において、磁気テープ2が回転ドラム3に巻き付けられている状態での、当該磁気テープのテンションを検出して所要のテンション値に換算してサーボコントローラ20に供給する。サーボコントローラ20は供給されたテンション値に基づいてリールモータ24、25の負荷トルクを制御するようにして、磁気テープ2を所要のテンションにするようにされている。
【0018】
ここで、図2に従い、本例のテープストリーマドライブ1内にテープカセット40が装填され、ローディングされた状態を説明する。
破線で示しているされているようにテープカセット40の内部にはリールハブ2A及びリールハブ2Bが設けられ、このリールハブ2A及び2B間に磁気テープ2が巻装される。そして、テープカセット40はメカデッキ部に着座された状態で、リールハブ2A,2Bがそれぞれ図示していないリールモータ24、25により正方向及び逆方向に駆動されるように係合される。また、このように着座されたテープカセット40からは、磁気テープ2が引き出され、回転ドラム3に所定角度巻装される状態となる。
即ち、着座されたテープカセット40は後述するガードパネルが開かれた状態となっており、移動式のローディングピン55,56が図中S方向及びX方向に移動されることによって、磁気テープ2がテープカセット40の筐体から導出され、ガイドローラ51,52,53,54によってテープパスが規定された状態で回転ドラム3に巻き付けられる。
【0019】
また、ピンチローラ58はガイドローラ53,54間のテープパスで、磁気テープ2に対して一定のテープテンションを与えるとともに、磁気テープ2をキャプスタン57の外周面に圧接するようにされている。これによりキャプスタン57の定速回転が行われることで、磁気テープ2が定速で走行される。
このようにして磁気テープ2が走行されるとともに、磁気ヘッドを配した回転ドラム3が回転されることで、磁気テープ2に対する記録再生動作が実行される。
【0020】
また、早送り、巻き戻しなどの高速走行時には、ピンチローラ58は矢印Z方向に所定の位置まで移動され、これによって磁気テープ2はピンチローラ58とキャプスタン57から開放される。
【0021】
テープ走行時には、テープのたるみが生じないようにバックテンションがかけられ、このバックテンションはリールハブ2A,2Bの回転駆動制御により得られるものとなる。
ここで、ガイドローラ51,52の間には図1に示したテンションレギュレータ27を構成するテンションピックアップ27aが配されている。このテンションピックアップ27はスピンドルリングで付勢されながら磁気テープ2に圧接していることで、磁気テープ2に与えられているテンションに応じて回動状態が変動する。従ってテンションレギュレータ27ではこのテンションピックアップ27aの回動状況(回動位置)を例えばホール素子などで電気的に検出することで、磁気テープ2に対してかけられているテンションに相当する検出信号を得ることができる。
つまり、この検出信号がテンションレギュレータ27からサーボプロセッサ20に供給され、リールハブ2A,2Bの回転駆動制御が行われる。
【0022】
図1に示すホール検出機構28は、装填されたテープカセット40に形成されている各種識別孔を検出するための機構部であり、例えば各種識別孔に応じたピンや、フォトセンサなどによって構成される。
テープカセット40には、予め定められた規格に従って、そのテープ種別や、ライトプロテクトの有無によって開閉する各種識別孔が形成されているが、ホール検出機構28では、これらの識別孔を検出する。
ホール検出機構28の検出情報は、システムコントローラ15に供給されることで、システムコントローラ19において、装填されたテープカセットの種別やライトプロテクト設定状況等を把握することが可能になる。
なお、本実施の形態としてのテープカセットに対して形成される識別孔については後述する。
【0023】
このテープストリーマドライブ1においては、データの入出力にSCSIコントローラ16が設けられる。つまり外部とのデータの授受はSCSI(Small Computer System Interface)が用いられる。例えばデータ記録時にはホストコンピュータ32から、SCSIバス31、SCSIコントローラ16を介してデータが入力され、インターナルバッファコントローラ14に供給される。
【0024】
インターナルバッファコントローラ14では、入力されたデータについて、バッファメモリ15を使用して一旦蓄積して、例えば単位データの時間軸的整合を図った後に、圧縮/伸長回路13に対して供給する。
【0025】
圧縮/伸長回路13では、入力されたデータについて必要があれば、所定方式によって圧縮処理を施すようにされる。圧縮方式の一例として、例えばLZ符号による圧縮方式を採用するのであれば、この方式では過去に処理した文字列に対して専用のコードが割り与えられて辞書の形で格納される。そして、以降に入力される文字列と辞書の内容とが比較されて、入力データの文字列が辞書のコードと一致すればこの文字列データを辞書のコードに置き換えるようにしていく。辞書と一致しなかった入力文字列のデータは逐次新たなコードが与えられて辞書に登録されていく。このようにして入力文字列のデータを辞書に登録し、文字列データを辞書のコードに置き換えていくことによりデータ圧縮が行われるようにされる。
【0026】
テープフォーマットコントローラ11においては、圧縮/伸長回路13の出力について、バッファメモリ12を作業領域として使用してテープフォーマットに従った所要のデータ処理、信号処理を実行する。ここでは、例えば、エラー訂正符号の付加、サブコードの付加、同期信号の付加等を実行すると共に、最終的には、テープ対する磁気記録に適合した変調処理を施して、デジタルイコライザ/ビタビデコーダ10に供給する。
また、後述する性能確認処理においては、記録/再生を行う場合のエラーレートの検出を行い、検出結果をシステムコントローラ19に供給する。
【0027】
デジタルイコライザ/ビタビデコーダ10は、記録時においては、必要があれば入力データに対して所要のイコライジング処理を行って、記録データとしてRF処理部8に出力する。
【0028】
RF処理部8では供給された記録データについて記録イコライジング等の処理を施して磁気記録のための記録信号を生成し、記録アンプ9に供給する。記録アンプ9では、入力された記録信号について増幅を行って、ロータリートランス7を介して記録ヘッド5A、5Bに供給する。これにより記録ヘッド5A、5Bから磁気テープ2に対して磁気印加が行われ、データの記録が行われることになる。
【0029】
また、データ再生動作について簡単に説明すると、磁気テープ2の記録データが再生ヘッド4A、4BによりRF再生信号として読み出される。その出力は、それぞれ再生アンプ6A,6Bにて増幅された後、ロータリートランス7を介するようにして、RF処理部8に対して出力される。
RF処理部8においては、再生イコライジング、再生クロック生成、2値化などの処理が行われる。
【0030】
RF処理部8において2値化されたRF再生信号は、デジタルイコライザ/ビタビデコーダ10に出力され、ここで、例えばビタビ復号に適合した波形等価(イコライジング処理)及びビタビ複合処理が実行され、テープフォーマットコントローラ11に供給される。
【0031】
テープフォーマットコントローラ11では、バッファメモリ12を利用して、入力されたデータについての誤り訂正処理、サブコードの抽出等を行い、圧縮/伸長回路13に出力する。
圧縮/伸長回路13では、システムコントローラ19の判断に基づいて、記録時に圧縮が施されたデータであればここでデータ伸長処理を行い、非圧縮データであればデータ伸長処理を行わずにそのままパスして出力する。
圧縮/伸長回路13の出力データは、一旦、インターナルバッファコントローラ14に供給される。インターナルバッファコントローラ14では、バッファメモリ15を使用して、例えば、入力データを所定のデータ単位に整えるなどして、SCSIコントローラ16に対して出力する。SCSIコントローラ16では、入力された再生データを、SCSIバス31を介してホストコンピュータ32に対して出力する。
【0032】
システムコントローラ19はマイクロコンピュータ等を備えて成り、内部バス30を介して、テープフォーマットコントローラ11、圧縮/伸長回路13、インターナルバッファコントローラ14,SCSIコントローラ16、フラッシュROM17、ワークRAM18と相互通信可能に接続されていることで、各機能回路部に対しての各種制御処理を実行する。
ここで、フラッシュROM17及びワークRAM18には、システムコントローラ19が各種処理に用いるデータが記憶される。フラッシュROM17には、システムコントローラ19が実行すべき各種制御処理のためのプログラムや、各種制御値等が記憶される。
ワークRAM18には、例えば、システムコントローラ19が行った処理結果や演算値等が一時的に格納される。
【0033】
なお、フラッシュROM17,ワークRAM18は、システムコントローラ19を構成するマイクロコンピュータの内部メモリとして構成してもよく、またバッファメモリ12(又はバッファメモリ15)の領域の一部をワークメモリとして用いる構成としてもよい。
また、図1では回転時間メモリ29を個別に示しているが、例えばフラッシュROM17の領域の一部に構成されるようにしても良い。
【0034】
2.テープカセットの外観
【0035】
図3はテープカセット40の外観例を下方側から示す図であり、筺体全体は上側ケース41、下側ケース42、及び前方に備えられるガードパネル43からなる。
【0036】
このテープカセット40の下面後方側近傍には、各種孔が形成されている。
例えば位置決め孔44、45は、テープカセット40がテープストリーマドライブ1の所定の位置に着座するための位置決めを行う孔とされ、テープストリーマドライブ1の所定の位置に形成されている位置決め部材に嵌合することができるようにされている。これによって、テープカセット40はテープストリーマ1内における所定の位置に着座するようにされる。
書き込み禁止孔46は、当該テープカセット40が記録可または記録不可とされているかの判別を行う孔として構成される。例えば書き込み禁止孔46が開状態である場合は書き込み禁止、また例えば書き込み禁止孔46が閉状態である場合には書き込み可とされる。書き込み禁止孔46の開閉状態はこれはホール検出機構28によって、記録可否判別情報として検出されてシステムコントローラ19に供給される。
【0037】
カセット種別識別孔47a、47b、47c、及びカセット種別識別孔47dは、テープカセット40の種別を識別することができるように形成されている。すなわち、これら4個のカセット種別識別孔47(a、b、c、d)の開閉状態の組み合わせによって、例えばDDS、DDS2、DDS3、DDS4などとしてとして規定されている磁気テープのフォーマット方式を識別することができるようにされている。したがって、ホール検出機構28はこれらのカセット種別識別孔47(a〜d)の開閉状態を検出して、DDS乃至DDS4のいずれのフォーマットであるかというフォーマット情報をシステムコントローラ19に供給すると、システムコントローラ19は各フォーマットに対応した各種動作を行うような制御を行う。
【0038】
また本実施の形態では、カセット種別識別孔47(a、b、c、d)の開閉状態に基づいて磁気テープ2の厚みを識別して、その厚みに対応した処理を行うようにされている。
ここで、図4に従い、カセット種別識別孔47(a〜d)の開閉状態の組み合わせと磁気テープ2の厚み、長さ及びフォーマット方式の関係を説明する。この図で「×」はカセット種別識別孔47(a〜d)の閉状態、「○」は同じく開状態を示している。したがって、このようなカセット種別識別孔47(a〜d)の開閉状態を検出することによって、磁気テープ2の厚み、長さ、及びフォーマットを検出することがでいる。
【0039】
開閉状態が例えば(a)に示されている「××××」とされている場合は、フォーマットはDDSとされテープ厚は例えば13μm、テープ長は60mとされている。また、(b)に示されている「×○××」とされている場合は、同じくDDSフォーマットとされテープ厚は例えば9μm、テープ長は90mとされている。
さらに、(c)に示されているように「○×××」の場合はDDS-2で6.9μm、テープ長は120m、(d)に示されているように「○×○×」の場合はDDS-3で6.9μm、テープ長は125m、また(e)に示されているように「○×○○」の場合はDDS-4で5.9μm、テープ長は150mとされている。
【0040】
本実施の形態では、例えばDDSとされる磁気テープを厚く形成されているものとして、カセット種別識別孔47a〜47dが例えば(a)(b)に示されている開閉状態である判別した場合は、第一のテープカセットとして比較的厚い磁気テープ2が収納されている構成であると識別する。また、カセット種別識別孔47a〜47dが例えば(e)に示されている開閉状態であると判別した場合は、第二のテープカセットとして比較的薄い磁気テープ2が収納されている構成であると識別する。
これによって、テープストリーマドライブ1ではテープの厚みに応じて変形(磨耗)した磁気ヘッドの形状に対応して、性能確認処理、性能回復処理などを行うことができるようになる。つまり、第二のテープカセット(DDS-4)が装填された場合には、それ以前に第一のテープカセット(DDS-1)が使用されていた時間に基づいて性能確認処理、性能回復処理を行い、磁気ヘッドを第二のテープカセット(DDS-4)に対応した形状になじませるようにしている。
【0041】
なお、(c)(d)に示されているDDS-2、DDS-3については、第二のテープカセットとされるDDS-4よりも厚く形成されている。しかしDDSよりも厚みの差が小さいことから、磁気ヘッド2に対する影響が小さいものとして、性能確認処理などを行う条件の対象としていない。しかし、必要に応じてDDS-2、DDS-3が使用された時間などを性能確認処理、性能回復処理を行う条件にするようにしても良い。
【0042】
性能確認処理は、例えば回転時間メモリ29に記憶されている第一のテープカセット(DDS)装填時における回転ドラム3の回転時間が所定時間以上とされ、この場合に第二のテープカセット(DDS-4)が装填されたことなどを条件として行われる。この性能確認処理は磁気テープ2上において自由使用が認められている所定の位置において、データとしての意味をなさないランダムデータの記録/再生を行い、記録/再生データのエラーレートを検出するものとされる。
【0043】
図5は磁気テープに形成されるデータ構成領域を説明する模式図であり、例えば1個のパーティションが形成されている例を示している。
図示されているように、磁気テープ2の最初の部分に対して物理的にリーダーテープが先頭に位置しており、次にテープカセットのローディング/アンローディングを行う領域となるデバイスエリアが設けられている。このデバイスエリアの先頭が物理的テープの先頭位置PBOT(Phisycal Bigining of Tape)とされる。
上記デバイスエリアに続いては、リファレンスエリア及びテープの使用履歴情報等が格納されるシステムエリア(以下、リファレンスエリアを含めてシステムエリアという)が設けられて、以降にデータエリアが設けられる。システムエリアの先頭が論理的テープの開始位置LBOT(Logical Bigining of Tape) とされる。
【0044】
データの記録が行われるデータエリアに続いては、パーティションのデータ領域の終了を示すEOD(End of Data)の領域が設けられる。そしてEODの最後が、論理的テープの終了位置LEOT(Logical End of Tape)とされる。
PEOT(Phisycal End of Tape) は、物理的テープの終了位置、又はパーティションの物理的終了位置を示すことになる。
【0045】
本実施の形態では、例えばデバイスエリアを利用して性能確認処理を行う。つまり、性能確認処理を行う場合、まずデバイスエリアに移動する制御が行われる。
図6はデバイスエリア及びシステムエリアが形成される長さの一例を説明する図である。
図6(a)に示されているようにデバイスエリアはPBOTを起点として、例えば500mmの長さで形成される。つまりPBOTからLBOTまでの長さが500mmということになる。また、システムエリアはLBOTを起点として例えば20mmの長さで形成される。
上記したように性能確認処理はデバイスエリアで行うようにされるが、この場合デバイスエリア内において例えばPBOTを起点として約350mm〜450mmの領域を性能確認領域とする。したがって、テープカセット40が装填された後に、性能確認処理を行う場合は、磁気テープ2のポジション検出を行い、性能確認領域まで移動することになる。
【0046】
図7にリールハブ2B、リールハブ2Aに磁気テープ2が巻装されて走行されている状態を示しているが、ここでリールハブ2A側のリール巻径をRt、Sリールハブ2B側のリール巻径をRs、リールハブ2B及びリールハブ2Aのリールハブ径をRoとする。またテープ速度をVtape、テープ長をLtape、テープ厚をDtapeとする。
当然ながらテープ長Ltape、テープ厚Dtapeは、そのテープカセット1についての固定値となり、図4で説明したようにカセット種別識別孔47(a〜d)の開閉状態によって把握することができる。従って磁気テープ2が巻装された状態のリールハブ2B側の投影面積とリールハブ2A側の投影面積の和はテープ走行位置に関わらず一定である。すると次の(数1)が成立する。
【数1】
つまり磁気テープ2が巻装された状態のリールハブ2B側の投影面積とリールハブ2A側の投影面積の和から、両リールハブ自体の投影面積を引いたものは、テープ長Ltapeとテープ厚Dtapeのみによる投影面積に相当する。
【0047】
ここで、リールハブ2A側の回転周期をTt、リールハブ2B側の回転周期をTsとしたときに、各回転周期Tt、Tsが測定できれば、各リールハブのリール巻径の比率がわかることになるため、次の(数2)が成り立つ。
【数2】
そして上記(数2)を上記(数1)に代入すると、
【数3】
が得られる。
【0048】
この(数3)において、テープ長Ltape、テープ厚Dtape、リールハブ径Roは、そのテープカセット1についての固有の値である。従って、あらかじめこのテープ長Ltape、テープ厚Dtape、リールハブ径Roがわかっているとすれば、FG24a、25aから供給されるリールモータ24、25の回転情報に基づいて、各リールハブの回転周期Tt、Tsを測定することができる。これにより、でテープポジション検出(両リールのリール巻径又はその比の検出)が可能であり、性能確認領域への移動が可能になる。
【0049】
また、図6(b)に示すFWD-RVS領域は、性能確認処理の結果として記録/再生性能が劣化している場合に磁気ヘッドを第二のテープカセット(薄型の磁気テープ)になじんだ形状にするために性能回復処理としてのFWD(順方向の倍速再生)、RVS(逆方向の倍速再生)を行う領域とされる。
性能回復処理とは、厚い磁気テープを所定時間使用した後に薄い磁気テープ2を使用する場合に生じていた、間隙85(図11(b))をなくすために、薄いテープが装填されてから或る程度の期間、磁気テープ2のテンションを上げた状態で、例えばFWD、RVSなどを行う処理とされる。この場合、磁気テープ2のテンションを上げた状態で、所定の位置から1往復で約10秒程度を要してFWD、RVSを行い、この動作を例えば5回程度繰り返して行うようにする。
【0050】
図8は性能回復処理の概要を説明する図であり、図8(a)は図11(b)に対応している。性能回復処理としては、図8(a)に破線円A、Aで囲んで示しているように、磁気ヘッド60(再生ヘッド4A、4B、記録ヘッド5A、5Bに対応する)において磁気テープ2が当接している部分を磨耗させて、その先端の曲率半径を小さくして尖った形状にさせる処理とされる。この場合、磁気テープ2のテンションを通常よりも上げた状態で磁気テープを例えばFWD及びRVSを行うことによって、より付加かけることにより磁気ヘッド60の先端部分を尖らすことができるようになる。
性能回復処理によって磁気ヘッド60が尖るようになると、図8(a)に示していた間隙85が無くなり、図8(b)に示されているように磁気テープ2と磁気ヘッド60がなじむようになる。これにより、薄型の磁気テープ2を使用する場合でも、安定した走査を行うことができるようになり、所定の記録/再生性能を得ることができるようになる。
【0051】
このように、性能確認処理の結果に基づいて図8で説明したような性能回復処理を行うために、FWD-RVS領域に移動する場合も、テープ長Ltape、テープ厚Dtape、リールハブ径Ro、及びリールモータ24、25の回転情報に基づいて所要の位置に移動することが可能になる。
なお、性能回復処理としてはこの他に、例えば早送り/巻き戻しを例えば1往復行うようにしても良いし、例えば回転ドラム3を逆回転させた上で磁気テープ2を走行させるようにしても良い。また、これらの動作を組み合わせて実行するようにしても良い。
【0052】
図9は性能回復処理を行う条件とされる、第一のテープカセットが装填された場合の回転ドラムの回転時間を測定するシステムコントローラ19の処理遷移の一例を説明する図である。
テープカセット40が装填され、ローディング処理が終了すると(S001)、通常動作状態に移行する(S002)。なお、ローディング処理とは、例えば図2示したように回転ヘッド3に磁気テープ2を巻きつけ、さらに磁気テープ2上のシステムエリアの読み込みなどを行う、テープカセット装填時一連の処理とされる。さらに、通常動作状態とはローディング処理が終了した後に例えば記録/再生などの各種動作を行うことができる状態とされる。
【0053】
通常動作状態に移行すると、回転ドラム3を回転させているか否かの判別を行い(S003)、回転ドラム3を回転させていると判別した場合は、回転時間nをカウントアップする(S004)。このカウントアップ処理は例えばワークRAMにおける所要のワークエリアで行われる。なお、上記したように回転ドラム3は所定時間磁気テープ2が走行しなかった場合は、回転を停止するようにされているので、その場合はステップS004のカウントアップ処理は行われない。
このように、ステップS003、S004において回転ドラム3の回転動作の監視とともに、さらに例えばホストコンピュータ32からのアンロード要求を受けたか否かの判別を行う(S005)。つまり、テープカセット40が装填されている場合は、ステップS003、S004、S005を繰り返すことで回転時間nの計測が行われることになる。
【0054】
アンロード要求を受けたと判別した場合は、現在装填されているテープカセット40のカセット種別識別孔47の開閉状態の判別を行う(S006)。このステップにおいて、カセット種別識別孔47の開閉状態が「××××」であった場合は、テープ厚が例えば13μmであることが解る。この場合は回転時間nに例えば4倍の係数を掛けたうえで(S007)、総回転時間Mに回転時間nを加え総回転時間Mの更新を行う(S008)。この総回転時間Mの更新は、例えばワークRAMなどにおいて行われ、更新が行われた後に、回転時間メモリ29に総回転時間Mを記憶する(S009)。
また、ステップS006でカセット種別識別孔47の開閉状態が「×○××」であった場合は、テープ厚が例えば9μmであることが解る。したがって、この場合は回転時間nに、ステップS007よりも小さい例えば2倍の係数を掛けたうえで(S010)、総回転時間Mの更新(S008)、総回転時間Mの記憶(S009)を行う。
【0055】
このように、テープストリーマドライブ1に例えばDDSのテープカセット40が装填された場合に、回転ドラム3の回転時間nを計測するようにしているが、この回転時間nを累積した総回転時間Mが磁気ヘッド60の減り具合に相当するものとされる。したがって、以降例えばDDS-4のテープカセットが装填された場合に、総回転時間Mに基づいて性能確認処理を行い、さらに性能確認結果に基づいて性能回復処理を行うようにする。
【0056】
図10は性能確認処理及び性能回復処理を行う場合のシステムコントローラ19の処理遷移の一例を説明するフローチャートである。
テープストリーマドライブ1にテープカセット40が装填され、所定の位置に着座すると(S101)、カセット種別識別孔47の開閉状態の判別を行う(S102)。そして、カセット種別識別孔47の開閉状態が「○×○○」、すなわちDDS-4のテープカセットが装填されていると判別した場合は、回転時間メモリ29に記憶されている、総回転時間Mが所定時間以上か否かを判別する(S103)。ここでの所定時間とは、例えば24時間程度とする。したがって、例えば総回転時間Mが24時間以下であった場合は、以降の処理を省略して通常動作状態に移行する(S109)。
【0057】
総回転時間Mが例えば24時間以上であった場合は、例えば図7に示したデバイスエリアにおける性能確認領域で、記録/再生動作を行いエラーレートの測定を行う(S104)。そして、エラーレートが所要の閾値(例えば2×10E-2)を超えているか否かの判別を行い(S105)、エラーレートが閾値を超えていた場合は性能回復処理に移行する(S106)。この性能回復処理は、前記したように磁気テープ2のテンションを上げた状態でのFWD、RVSなどの動作とされる。なお、エラーレートが前記閾値を越えていなかった場合は、所望する性能が得られたとして、以降の処理を省略して通常動作状態に移行する(S109)。
【0058】
また性能回復処理が開始された場合はその処理過程を監視して、性能回復処理が終了した可否かの判別を行う(S107)。そして、性能回復処理が終了したと判別した場合は、総回転時間Mを所定の割合で減じる処理を行う(S108)。なお、ここで、総回転時間Mをリセットしない理由として、例えば1回の性能回復処理では完全に性能を回復させることが困難な場合があると考えられるためとされる。したがって、例えば1回の性能回復処理でほぼ完全に性能を回復させることができると想定した場合は、総回転時間Mをリセットすることも可能である。
このように、性能回復処理が終了して総回転時間Mを所定の割合で減じた時点で、通常処理状態に移行する(S109)。
【0059】
なお、図10ではテープカセットが装填されて通常動作状態に移行する以前(ローディング処理が完了する以前)に性能確認処理、性能回復処理を行う処理行程を例に挙げて説明しているが、通常動作状態に移行した後に、例えば再生などのコマンドが供給された時点で、実際の動作に移行する前に行うようにしても良い。
【0060】
本実施の形態では、例えば図9、図10に示したフローチャートの処理行程で説明したように、例えばDDS-4とされる薄型の磁気テープを利用する場合でも、回転ドラム3の回転時間やエラーレートの測定結果などに基づいて、性能回復処理を行うことができるようになり。これにより、薄型の磁気テープ2を使用する場合でも、ユーザはそれを意識することなく通常の使用手順で所要の記録/再生性能を得ることができるようになる。
また、磁気ヘッド60を薄型の磁気テープになじんだ形状にするために、例えばクリーニングテープなどのように、例えば製造過程におけるカレンダー処理(磁気テープ2をローラなどでつぶしてその表面性を上げる行程)を行わないことで、磁気テープとの摺接面が比較的粗とされるテープを用いてヘッド形状をなじませることも考えられる。しかし、本発明はこのような他の媒体を必要とせず、前記したようにユーザが磁気テープの構成を意識しないで利用することに利点を有している。
【0061】
なお、図10のフローチャートの処理行程において、ステップS105でエラーレートが閾値を超えていたと判別した場合に、前記した例えばクリーニングテープなどとされる他の媒体を使用することをユーザに促して、ステップS106及びステップS107に示す処理行程を、前記クリーニングテープなどとされる他の媒体で行うことも可能である。
【0062】
また、上記実施の形態では、例えばテープストリーマドライブを例に挙げて説明したが、ヘリカルスキャン方式で磁気テープを走査するように構成されている機器であれば、本発明を適用することがでいる。
【0063】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明のテープドライブ装置は、薄い磁気テープを収納して構成されている第二のテープカセットが装填された場合に、その時点の磁気ヘッドの形状で、薄い磁気テープに対して所望する記録/再生性能が得られるかを判別することができ、さらに所望する記録/再生性能が得られなかった場合には、磁気ヘッドの形状をなじませるための性能回復処理を行うことができるようにされている。
したがって、テープドライブ装置において例えば再生などの動作を実行する前に、薄い磁気テープに対して所望する記録/再生性能を得ることができるようになる。これにより、ユーザは厚い磁気テープと薄い磁気テープを意識せずに使用することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態のテープストリーマドライブの構成例を説明するブロック図である。
【図2】実施の形態のテープストリーマドライブのローディング機構を説明する図である。
【図3】テープカセットの外観を説明する図である。
【図4】テープカセットにおけるカセット種別識別孔の定義を説明する図である。
【図5】磁気テープのフォーマット例を説明する図である。
【図6】デバイスエリアにおけるFWD-RVS領域及び性能回復領域を説明する図である。
【図7】磁気テープのポジション検出を説明する図である。
【図8】性能回復処理について説明する図である。
【図9】回転ヘッドの回転時間を計測する処理行程の一例を説明するフローチャートを示す図である。
【図10】性能確認処理、及び性能回復処理を行う場合の処理行程の一例を説明するフローチャートを示す図である。
【図11】テープ厚と磁気ヘッドの形状の関係を説明する図である。
【符号の説明】
1 テープストリーマドライブ、2 磁気テープ、2A,2B リールハブ、3 回転ドラム、4A,4B 再生ヘッド、5A,5B 記録ヘッド、6A,6B、再生アンプ、7 ロータリートランス、8 RF処理部、9 記録アンプ、10 デジタルイコライザ/ビタビデコーダ、11 テープフォーマットコントローラ、12 バッファメモリ、13 圧縮/伸長回路、14 インターナルバッファコントローラ、15 バッファメモリ、16 SCSIコントローラ、17 フラッシュROM、18 ワークRAM、19 システムコントローラ、20 サーボコントローラ、21 メカドライバ、22 ドラムモータ、23 キャプスタンモータ、24,25 リールモータ、26 ローディングモータ、22a〜26a FG、22b PG、27 テンションレギュレータ、28 ホール検出機構、29 回転時間メモリ、30 内部バス、31 SCSIバス、32 ホストコンピュータ、40 テープカセット、47a、47b、47c、47d カセット種別識別孔
Claims (1)
- テープカセットに収納された記録媒体とされる磁気テープを走行させるテープ走行手段と、
走行している前記磁気テープを走査することによって情報の記録または再生を行なう磁気ヘッドを備えた回転ドラムと、
装填された前記テープカセットの種別を識別するテープカセット種別識別手段と、
前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第一のテープカセットが装填されたと判別した場合に前記回転ドラムが回転動作を行った時間を計測する回転時間計測手段と、
前記回転時間計測手段によって計測された前記回転ドラムの回転時間を記憶する回転時間記憶手段と、
前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第二のテープカセットが装填されたと判別した場合に、前記回転時間記憶手段に記憶されている回転時間に応じて前記第二のテープカセットに収納されている磁気テープに対して所要の性能確認処理を行う性能確認処理手段と、
前記性能確認処理制御手段の確認結果に基づいて、所要の性能回復処理を行う性能回復処理手段と、
を備えたことを特徴とするテープドライブ装置。
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