JP4106193B2 - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に係り、特に薄膜トランジスタ型の液晶表示装置における薄膜トランジスタの機能検査、走査線引出線や信号線引出線の断線検査を容易にした液晶表示装置及びその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ノート型コンピユータやディスプレイモニター用の高精細かつカラー表示が可能な表示装置として液晶表示装置が広く採用されている。
【０００３】
液晶表示装置には、各内面に互いに交差する如く形成された平行電極を形成した一対の基板で液晶層を挟持した液晶パネルを用いた単純マトリクス型と、一対の基板の一方に画素単位で選択するためのスイッチング素子を有する液晶表示素子（以下、液晶パネルとも言う）を用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置とが知られている。
【０００４】
アクティブマトリクス型液晶表示装置は、ツイステッドネマチック（ＴＮ）方式に代表されるように、画素選択用の電極群が上下一対の基板のそれぞれに形成した液晶パネルを用いた、所謂縦電界方式液晶表示装置（一般に、ＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置と称する）と、画素選択用の電極群が上下一対の基板の一方のみに形成されている液晶パネルを用いた、所謂横電界方式液晶表示装置（一般に、ＩＰＳ方式液晶表示装置と称する）とがある。
【０００５】
前者のＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置を構成する液晶パネルは、一対（第１の基板（下基板）と第２の基板（上基板）からなる２枚）の基板内で液晶が９０°ねじれて配向されており、その液晶パネルの上下基板の外面に吸収軸方向をクロスニコル配置し、かつ入射側の吸収軸をラビング方向に平行または直交させた２枚の偏光板を積層している。
【０００６】
このようなＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置は、電圧無印加時で入射光は入射側偏光板で直線偏光となり、この直線偏光は液晶層のねじれに沿って伝播し、出射側偏光板の透過軸が当該直線偏光の方位角と一致している場合は直線偏光は全て出射して白表示となる（所謂、ノーマリオープンモード）。
【０００７】
また、電圧印加時は、液晶層を構成する液晶分子軸の平均的な配向方向を示す単位ベクトルの向き（ダイレクター）は基板面と垂直な方向を向き、入射側直線偏光の方位角は変わらないため出射側偏光板の吸収軸と一致するため黒表示となる。（１９９１年、工業調査会発行「液晶の基礎と応用」参照）。
【０００８】
一方、一対の基板の一方にのみ画素選択用の電極群や電極配線群を形成し、当該基板上で隣接する電極間（画素電極と対向電極の間）に電圧を印加して液晶層を基板面と平行な方向にスイッチングするＩＰＳ方式の液晶表示装置では、電圧無印加時に黒表示となるように偏光板が配置されている（所謂、ノーマリクローズモード）。
【０００９】
ＩＰＳ方式液晶表示装置の液晶層は、初期状態で基板面と平行なホモジニアス配向で、かつ基板と平行な平面で液晶層のダイレクターは電圧無印加時で電極配線方向と平行または幾分角度を有し、電圧印加時で液晶層のダイレクターの向きが電圧の印加に伴い電極配線方向と垂直な方向に移行し、液晶層のダイレクター方向が電圧無印加時のダイレクター方向に比べて４５°電極配線方向に傾斜したとき、当該電圧印加時の液晶層は、まるで１／２波長板のように偏光の方位角を９０°回転させ、出射側偏向板の透過軸と偏光の方位角が一致して白表示となる。
【００１０】
このＩＰＳ方式液晶表示装置は視野角においても色相やコントラストの変化が少なく、広視野角化が図られるという特徴を有している（特開平５−５０５２４７号公報参照）。
【００１１】
上記した各種の液晶表示装置のフルカラー化ではカラーフィルタ方式が主流である。これは、カラー表示の１ドットに相当する画素を３分割し、それぞれの単位画素に３原色、例えば赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各々に相当するカラーフィルタを配置することにより実現するものである。
【００１２】
本発明は、上記した各種の液晶表示装置に適用できるものであるが、以下、ＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置を例としてその概略を説明する。
【００１３】
前記したように、ＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置（簡単のため、以降では単にアクティブマトリクス型液晶表示装置と称する）を構成する液晶表示素子（液晶パネル）では、液晶層を介して互いに対向配置したガラス等からなる２枚の透明絶縁基板の一方の基板の液晶層側の面に、そのｘ方向に延在し、ｙ方向に並設される走査信号線（以下、ゲート線と言う）群と、このゲート線群と絶縁されてｙ方向に延在し、ｘ方向に並設されるドレイン線（以下、映像信号線と言う）群とが形成されている。
【００１４】
これらのゲート線群とドレイン線群とで囲まれた各領域がそれぞれ画素領域となり、この画素領域にアクティブ素子（スイッチング素子）として例えば薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）と透明画素電極とが形成されている。
【００１５】
ゲート線に走査信号が供給されることにより、薄膜トランジスタがオンされ、このオンされた薄膜トランジスタを介してドレイン線からの映像信号が画素電極に供給される。
【００１６】
なお、ドレイン線群の各ドレイン線は勿論のこと、ゲート線群の各ゲート線においても、それぞれ基板の周辺まで延在されて外部端子を構成し、この外部端子にそれぞれ接続されて映像駆動回路、ゲート走査駆動回路、すなわち、これらを構成する複数個の駆動ＩＣチップ（半導体集積回路、以下、単に駆動ＩＣまたはＩＣとも言う）が基板の周辺に外付けされるようになっている。つまり、これらの各駆動ＩＣを搭載したテープキャリアパッケージ（ＴＣＰ）を基板の周辺に複数個外付けする。
【００１７】
しかし、このような基板は、その周辺に駆動ＩＣが搭載されたＴＣＰが外付けされる構成となっているので、基板のゲート線群とドレイン線群との交差領域によって構成される表示領域の輪郭と、基板の外枠との間の領域（通常、額縁と称する）の占める面積が大きくなってしまい、液晶表示素子と照明光源（バックライト）その他の光学素子と共に一体化した液晶表示モジュールの外形寸法を小さくしたいという要望に反する。
【００１８】
それゆえ、このような問題を少しでも解消するために、すなわち、液晶表示素子の高密度実装化と液晶表示モジュールの外形小型化の要求から、ＴＣＰ部品を使用せずに、映像駆動用の駆動ＩＣや走査駆動用の駆動ＩＣを一方の基板（下基板）上に直接搭載する、所謂フリップチップ方式またはチップオングラス（ＣＯＧ）方式が提案された。そして、上記駆動ＩＣは、当該駆動ＩＣチップの背面に形成した電極を基板上に形成した配線に直接接続する、所謂ＦＣＡ方式が採用される。
【００１９】
図１０はＦＣＡ実装方式の液晶表示装置の要部を説明する斜視図である。この液晶表示装置は薄膜トランジスタをマトリクス状に形成した一方の基板ＳＵＢ１とカラーフィルタを形成した他方の基板ＳＵＢ２の間に液晶層を挟持してある。
【００２０】
一方の基板ＳＵＢ１の周辺の一辺には走査線駆動ＩＣ（以下、ゲートドライバ）ＧＤＲがＦＣＡ方式で搭載されている。また、他辺には信号線駆動回路ＩＣ（ドレインドライバ）ＤＤＲが同様にＦＣＡ方式で搭載されている。
【００２１】
ゲートドライバＧＤＲの出力は走査線引出線ＧＴＭに接続し、入力はフレキシブルプリント基板ＦＰＣ１の配線に接続している。ドレインドライバＤＤＲの出力は信号線引出線ＤＴＭに接続し、入力はフレキシブルプリント基板ＦＰＣ２の配線に接続している。
【００２２】
フレキシブルプリント基板ＦＰＣ１，ＦＰＣ２は図中の矢印で示したように、フレキシブルプリント基板ＦＰＣ１をＢＥＮＴ１方向に一方の基板ＳＵＢ１の背面に折り曲げ、次いでフレキシブルプリント基板ＦＰＣ２の屈曲部ＪＴ２を折り線ＢＴＬに沿ってＢＥＮＴ１方向に畳んだ後、ＢＥＮＴ３方向に折り曲げてフレキシブルプリント基板ＦＰＣ１の背面に折り畳む。
【００２３】
この状態で、フレキシブルプリント基板ＦＰＣ２のコネクタＣＴ４をフレキシブルプリント基板ＦＰＣ１に設けた図示しないコネクタに接続する。フレキシブルプリント基板ＦＰＣ２の折り曲げ部分の内面には粘着テープＢＡＴが介在され、フレキシブルプリント基板ＦＰＣ２に固定される。
【００２４】
なお、ＣＨＧ，ＣＨＤはコンデンサ等の電子部品、ＡＬＭＧ，ＡＬＭＤはアライメントマーク、ＰＯＬ２は偏光板、ＡＲは表示領域を示す。
【００２５】
このような構成とした液晶表示装置において、一方の基板ＳＵＢ１に形成した薄膜トランジスタから延びるゲート線の引出線、ドレイン線の引出線に検査装置のプローブを当てて、薄膜トランジスタの特性、各配線の断線などの検査、他方の基板と貼り合わせた後の点灯検査が行われる。
【００２６】
図１１は従来の液晶表示装置における検査端子の配置説明図であり、（ａ）はゲートドライバ側、（ｂ）はドレインドライバ側の配線を示す模式図である。
【００２７】
（ａ）において、ＧＴＭはゲート線引出線、ＴＰＣは検査端子、ＧＤＲはゲートドライバ搭載部分（点線で示す）、ＬＣＴはレーザ切断線、ＡＳＣＬはゲート線側の静電気抑制共通線、ＧＴＭはゲートドライバＧＤＲの入力端子を示す。
【００２８】
一方の基板ＳＵＢ１（薄膜トランジスタ基板）の製作工程では、ゲート線引出線ＧＴＭは静電気抑制共通線ＡＳＣＬで短絡してあり、静電気の侵入による薄膜トランジスタや配線のダメージを防止している。その後、ゲート線引出線ＧＴＭをレーザ切断線ＬＣＴで個々に切断し、検査端子ＴＰＣにプローブを当てて断線検査を行い、また信号を印加して点灯検査を行う。
【００２９】
（ｂ）において、ＤＴＭはドレイン線引出線、ＴＰＣは検査端子、ＤＤＲはドレインドライバ搭載部分（点線で示す）、ＬＣＴはレーザ切断線、ＡＳＣＬはドレイン線側の静電気抑制共通線、ＴＴＢはゲートドライバＧＤＲの入力端子を示す。
【００３０】
ドレインドライバ側でも同様に、その基板の製作工程では、ドレイン線引出線ＤＴＭは静電気抑制共通線ＡＳＣＬで短絡してあり、静電気の侵入による薄膜トランジスタや配線のダメージを防止している。その後、ドレイン線引出線ＤＴＭをレーザ切断線ＬＣＴで個々に切断し、検査端子ＴＰＣに一括してプローブを当てて断線検査を行い、また信号を印加して点灯検査を行う。
【００３１】
このフリップチップ方式の液晶表示装置に関しては、同一出願人にかかる特願平６−２５６４２６号がある。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】
上記した従来の検査端子の配置では、表示の高精細化に伴いゲートドライバやドレインドライバ、特にドレインドライバの数が増大し、その出力端子のピッチ（図１１のＧＴＭ、ＤＴＭのピッチ）が小さくなっている。
【００３３】
その結果、検査端子（図１１のＴＰＣ）の幅、および長さを十分にとることができなくなって、従来のようにプローブを一括してコンタクトさせることが困難になっており、外部から当該検査端子に検査電圧を印加して断線検査、点灯検査を行う際のプローブのずれで検査精度が低下するという問題があった。また、このような狭いピッチの出力端子に適用するプローブの製作も困難となっている。
【００３４】
本発明の目的は、上記従来技術の諸問題を解消し、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することにある。
【００３５】
また本発明の目的は、上記プローブの製作を容易にし、かつ低コスト化を実現した液晶表示装置及びその製造方法を提供することにある。
【００３６】
さらに本発明の目的は、上記液晶表示装置及びその製造方法において、検査時の表示不良に関する検出能力低下を抑制することのできる液晶表示装置及びその製造方法を提供することにある。
【００３７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、その代表的手段としてドレインドライバの出力端子（引出線）を赤、緑、青の３色について、赤の正極、赤の負極、緑の正極、緑の負極、青の正極、青の負極の６系統に分け、それぞれをまとめてドレイン線共通線に接続し、このドレイン線共通線をドレインドライバ搭載領域の外側に引出し、このドレイン線共通線に設けた検査端子にプローブを当てて検査を行うようにした。
【００３８】
また、ゲートドライバ側については、代表的手段としてゲートドライバの出力端子（引出線）を前段、次段、後段の３系統又は、各ドット毎に極性が逆になる様に４系統に分け、それぞれをまとめてゲート線共通線に接続し、このゲート線共通線をゲートドライバ搭載領域の外側に引出し、このゲート線共通線に設けた検査端子にプローブを当てて検査を行うようにした。
【００３９】
本発明の代表的な構成を記述すれば、下記のとおりである。すなわち、（１）マトリクス状に配置した薄膜トランジスタと薄膜トランジスタで駆動される画素電極と薄膜トランジスタに画素形成のための電圧信号を供給する走査線および信号線を有する一方の基板と、赤色、緑色、青色３色のカラーフィルタを備えた他方の基板の貼り合わせ間隙に液晶層を挟持し、上記一方の基板の一周辺に走査線引出し端子と、他周辺に信号線引き出し端子と、
上記液晶パネルの上記走査線引出端子および信号線引出端子のそれぞれに出力端子を接続して上記一方の基板上に走査線駆動ＩＣおよび信号線駆動ＩＣを直接搭載する走査線駆動ＩＣ搭載領域および信号線駆動ＩＣ搭載領域を有し、
上記走査線引出し端子と信号線引き出し端子を共通に接続する静電気抑制共通線を切断除去領域に有する液晶表示装置であって、
上記静電気抑制共通線に接続する上記信号線引出端子の上記信号線駆動ＩＣ搭載領域で、上記信号線引出端子を赤色の正極、赤色の負極、緑色の正極、緑色の負極、青色の正極、青色の負極の６系統にまとめて接続した６本の信号線側共通線を備え、
上記信号線駆動ＩＣ搭載領域を外れた上記一方の基板上に、上記６本の信号線側共通線に接続する検査パッドを具備した。
【００４０】
この構成により、信号線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、プローブの製作が容易となり、コンタクト精度が高くなる。
（２）前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置した。
【００４１】
検査パッドのパターンの標準化を図ることができ、多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
（３）マトリクス状に配置した薄膜トランジスタと薄膜トランジスタで駆動される画素電極と薄膜トランジスタに画素形成のための電圧信号を供給する走査線および信号線を有する一方の基板と、赤色、緑色、青色３色のカラーフィルタを備えた他方の基板の貼り合わせ間隙に液晶層を挟持し、上記一方の基板の一周辺に走査線引出し端子と、他周辺に信号線引き出し端子と、
上記液晶パネルの上記走査線引出端子および信号線引出端子のそれぞれに出力端子を接続して上記一方の基板上に走査線駆動ＩＣおよび信号線駆動ＩＣを直接搭載する走査線駆動ＩＣ搭載領域および信号線駆動ＩＣ搭載領域を有し、
上記走査線引出し端子と信号線引き出し端子を共通に接続する静電気抑制共通線を基板切断除去領域に有する液晶表示装置であって、
上記静電気抑制共通線に接続する上記走査線引出端子の上記走査線駆動ＩＣ搭載領域で、上記走査信号線引出端子を前段、次段および後段の３系統又は、各ドット毎に極性が逆になるようにするため、４系統にまとめて接続した３本の走査線側共通線を備え、
上記静電気抑制共通線に接続する上記信号線引出端子の上記信号線駆動ＩＣ搭載領域で、上記信号線引出端子を赤色の正極、赤色の負極、緑色の正極、緑色の負極、青色の正極、青色の負極の６系統にまとめて接続した６本の信号線側共通線を備え、
上記走査線駆動ＩＣ搭載領域と上記信号線駆動ＩＣ搭載領域を外れた上記一方も基板上に、上記３本の走査線側共通線と上記６本の信号線側共通線のそれぞれに検査パッドを具備した。
【００４２】
この構成により、信号線引出線および走査線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、プローブの製作が容易となり、コンタクト精度が高くなる。
（４）前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置した。
（５）前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に等間隔で配置した。
【００４３】
走査引出線も含めた検査パッドのパターンの標準化を図ることができ、多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
（６）前記他方の基板に対向電極を有し、前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置すると共に上記対向電極の引出し線に接続する検査パッドを上記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドと共に配置した。
【００４４】
走査引出線も含めた検査パッドのパターンの標準化をさらに押し進めることができ、多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
（７）前記一方の基板に対向電極を有し、前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置すると共に上記対向電極の引出し線に接続する検査パッドを上記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドと共に配置した。
【００４５】
点灯検査に必要な対向電極の引出線も上記走査線側共通線と信号線側共通線の検査パッドと共に標準パターンで配置できるため、検査パッドのパターンの標準化をさらに押し進めることができ、より簡単に多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
【００４６】
本願では上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離したことを大きな特徴とする。本願では、各色に関連する映像信号線に常に同一の信号のみを入力し検査を行う構成を除外するものではない。
【００４７】
しかし、上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離することにより、検査パッド数削減によるプローブコストの低減を図り、高精細品での検査を可能にしつつ、色を表示させての検査を実現することが出来る。カラーフィルターが赤、緑、青の3色であれば各色同時点灯での白表示はむろん、各色毎の点灯による赤、緑、青の個別検査、さらには各色の階調を制御して点灯することにより製品で表示するほぼ全ての色に関する検査が可能となる。
【００４８】
これは、各色の色純度の検査が可能となることを意味し、本発明の構成の大きな利点である。さらに、表示むらの検査精度が大幅に向上するという、全色同時点灯のみでは実現不能な効果が実現する。カラーフィルターはその色毎に個別に塗布、露光、現像を行い、もしくは個別の色を含浸させることにより形成する。したがって、各色毎に、その色濃度の面内均一性、あるいは膜厚の面内での分布が生じることになる。
【００４９】
各色同時に点灯した場合には、これらの影響は通常見え難くなる。例えば赤の膜厚のみが局所的に変化した場合では、赤、緑、青の3色全ての同時点灯では赤の膜厚の局所的変化が輝度への及ぼす影響は、赤単色表示時の約１／３になる。したがって、全色同時点灯のみでは、輝度むら、特に色むらに関する検査感度が低下し、不良品が市場に流出する恐れが出てしまう。
【００５０】
本発明では上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離することにより、各色の個別点灯検査を可能とし、輝度むら、色むらに関する検査精度を維持したまま、プローブコストの低減、検査コストの低減、高精細品の点灯検査を実現することができる。
【００５１】
本検査方式はＦＣＡで特に有利であるが、ＴＣＰ方式でも上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離することで同様の効果を実現できる。
【００５２】
さらに本願では、少なくともカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を分離したことを別の大きな特徴とする。
【００５３】
これにより例えばカラーフィルターが3色であれば、信号側共通線は6本になる。液晶表示装置の駆動方法としてはコモン反転駆動、ドット反転駆動の2種が多く知られている。コモン反転駆動では、通常走査信号線延在方向に隣接する画素同士は基準信号電位に対し同極性であるため、上記のように信号側共通線は少なくとも3本あればよい。
【００５４】
しかしドット反転駆動では、走査信号線延在方向に隣接する画素間は、基準信号電位に対し通常逆極性として駆動される。
【００５５】
このため、ドット反転で信号側共通線が3本の場合、例えば走査線延在方向に隣接するＲＧＢＲＧＢの6つの画素を考えると、その極性は例えば＋−＋＋−＋となり、ＢとＲ間で極性の反転が実現できない。この場合でも上記の輝度むら、色むらの検出感度はほぼ維持できる。
【００５６】
しかし、点灯検査で調べるべきフリッカ、すなわち画面のちらつきを正確に検査することが困難になる。通常このフリッカは特殊パターンもしくは特殊なタイミングでのみ問題となるものであり、上記の色むら、輝度むらよりも実使用時の影響は少ないが、しかし顧客との規定以上のレベルでは不良品であることに変わりはない。
【００５７】
したがって、本願ではカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を分離、例えばカラーフィルターが3色であれば、信号側共通線を6本とすることによりＲＧＢＲＧＢの６つの画素に対しその極性を例えば＋−＋−＋−と画素間で逆極性とすることが可能となった。
【００５８】
さらに特にフリッカの検査精度は、画素間の微少な電圧差により影響を受けるため、検査時の信号波形の遅延を抑制することが必要である。したがって、信号線側共通線に検査用信号を入力する検査用パッドをチップ搭載領域、もしくは信号配線の集約領域を単位として、その数がｎの場合、各信号線毎に（ｎ−１）／２個以上設けることが望ましい。またプローブコストの増大を抑制するためには、２×（ｎ＋１）個以下であることが望ましい。
【００５９】
また映像信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数より、走査信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数が多い方が望ましい。
【００６０】
これは、検査時の映像信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数が、走査信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数以上とすることが上記構成で検査を行う上で必要であり、このため映像信号線側の入力抵抗を低減するという要請によるものである。
【００６１】
また検査用信号の入力抵抗低減は、信号線側共通線、もしくは信号線側と検査パッド間の配線、あるいは走査線側共通線、もしくは走査線側共通線と検査パッドの間のいずれかに、液晶表示装置中の最も低抵抗な配線層で形成された領域を設けることで、低抵抗化の効果を図ることができる。
【００６２】
さらに本願では、走査線側共通線を２本以上とした。１本でも全ライン同時点灯は可能である。
【００６３】
しかし、特に上記のフリッカの点灯検査に関し困難が生じる。すなわち、コモン反転駆動及びドット反転駆動のいずれにしても、実使用状態では映像信号線延在方向に隣接する２画素の極性が互いに逆転するよう駆動される。これはフリッカを抑制するためである。
【００６４】
したがって、フリッカに関し検査を行うためには、検査時にも映像信号線延在方向に隣接する２画素の極性が互いに逆転するよう駆動する必要が有る。走査側共通線が１本では、必然的に該２画素の極性は同一となってしまうため、フリッカの検査が実使用相当の状態で検査出来ないという問題がある。
【００６５】
そこで、隣接する２画素の書き込みタイミングをずらせるように少なくとも２本とすることにより、映像信号線延在方向に隣接する２画素の極性が互いに逆転するよう駆動することが出来、フリッカの検査が可能となる。
【００６６】
また、フリッカに関しては、ＴＦＴへの書き込み時の飛び込み電圧の影響も存在する。これを実使用状態により近づけるには、特に画素電極と後段の走査信号線との間に画素電極に書き込まれた電荷の保持用の容量を形成する、いわゆるＣａｄｄ方式の液晶表示装置において走査線側共通線が３本以上あることが望ましい。
【００６７】
この方式では、前段の画素のＣａｄｄが自段の走査信号線上に形成され、さらに自段の画素のＣａｄｄが後段の走査信号線上に形成されるため、自段及びその前後の画素を実使用時同様の順序で走査することにより、実使用時に準じた画素への書き込みが実現する。
【００６８】
またＣａｄｄを構成していない方式、例えばＣｓｔｇ方式などでは走査線側共通線が２本でも実使用時に準じた書き込みが可能であるが、画素間の容量結合による電位の影響に関しては、同様に走査線側共通線を３本以上にすることでより実使用状態に近づける効果を示す。
【００６９】
但し、３本の場合には、映像信号線延在方向の６つの画素ＡＢＣＤＥＦで、基準信号電位に対する各画素の極性は、例えば＋−＋＋−＋となり、例えば画素ＣとＤが同極性になるという問題がある。これを回避するには、走査線側共通線が偶数であることが望ましく、上記Ｃａｄｄ方式での課題を考慮すると、上記Ｃａｄｄ方式では４本、Ｃｓｔｇ方式では２本もしくは４本を最小数として構成することが最も効果的である。
【００７０】
本発明は上記の構成あるいは後述する実施例の構成及びその中で開示される思想に限定されるものではなく、本発明の技術思想を逸脱することなく、種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００７１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、実施例の図面を参照して詳細に説明する。以下の実施例は所謂ＴＮ型の液晶表示装置について説明するが、ＩＰＳ（横電界）方式についても、その対向電極引出線が薄膜トランジスタ基板側で引き出されている点を除いて本発明を適用する部分の基本的な構成は同じである。
また、以下の説明でも、信号線はドレイン線とも、また走査線はゲート線とも称する。
【００７２】
図１は本発明による液晶表示装置の１実施例を説明する平面図である。この液晶表示装置は、一方の基板ＳＵＢ１と他方の基板ＳＵＢ２を液晶層を介して貼り合わせてなり、一方の基板ＳＵＢ１の内面には図示しない薄膜トランジスタがマトリクス状に形成されている。他方の基板ＳＵＢ２の内面には赤、緑、青の３色のカラーフィルタと対向電極が形成されている。対向電極には一方の基板ＳＵＢ１の内面に形成した図示しない配線を介して対向電圧が供給される。
【００７３】
一方の基板ＳＵＢ１は図の左側と下側において他方の基板ＳＵＢ２の周辺からはみ出しており、左側の周辺には１１個の走査駆動ＩＣ（ゲートドライバ）ＧＤＲが、また下側の周辺には１１個の信号駆動ＩＣ（ドレインドライバ）ＤＤＲがＦＣＡ方式で搭載される（図では、その搭載位置で示してある）。
【００７４】
一方の基板ＳＵＢ１には検査パッド形成領域ＴＴＰを有している。この検査パッド形成領域ＴＴＰを配置した部分は、液晶表示装置の完成後に切断線ＣＴＬで切断除去される部分である。
【００７５】
図２は図１の検査パッド形成領域ＴＴＰを詳細に説明するための要部拡大図である。検査パッド形成領域ＴＴＰは、一方の基板ＳＵＢ１の最終製品で切断線ＣＴＬで切断される切断除去領域に形成されている。この検査パッド形成領域ＴＴＰはゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰとドレインドライバ側の検査パッドＤＬＴＰ、および対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍを等間隔で一列に配列してある。
【００７６】
ゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰは３又は４系統にまとめられ、ドレインドライバ側の検査パッドＤＬＴＰは６系統にまとめられて、対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍと共に計１０〜１１個の検査パッドで構成されている。
【００７７】
したがって、本実施例では等間隔の１０〜１１個のプローブを用いて全ての検査を一括で行うことができる。
【００７８】
なお、上記のゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰとドレインドライバ側の検査パッドＤＬＴＰとを互いに分離して配置することもでき、これらの検査パッドと適宜の位置に設けた対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍとでゲートドライバ側の検査とドレインドライバ側の検査を個別に行うように構成することも可能である。
【００７９】
このように、上記実施例では、信号線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、コンタクト精度が高くなると共にプローブの製作が容易となる。また、プローブを基準化することで多品種に対応可能な検査装置を製作できる。
【００８０】
図３は本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図であり、（ａ）はゲート線側配線、（ｂ）はドレイン線側配線を示す。図中、ＧＤＲはゲートドライバの搭載位置、ＧＴＭはゲートドライバの出力端子（ゲート線引出端子）、ＴＴＡはゲートドライバの入力端子、ＡＳＣＬは静電気抑制共通線、Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３は複数のゲートドライバのゲート線引出線の前段、次段、後段をの３系統又は、ドット毎に極性をかえるために４系統にまとめて共通に接続した３本の走査線側共通線、ＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）は各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に形成した検査パッド、ＰＢはプローブ、ＬＣＴ１とＬＣＴ２はレーザ切断線を示す。各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に形成した検査パッドＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）は図２に示した位置に配列される。
【００８１】
この配線構成において、ゲートドライバ側の（ａ）では、一方の基板ＳＵＢ１の製作を終了した後、レーザ切断線ＬＣＴ１で走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離す。走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離すことで、各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３は独立した３又は４系統の検査配線となる。
【００８２】
この状態で各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に形成した検査パッドＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）にプローブＰＢを当てて断線検査や点灯検査を実行する。
【００８３】
検査終了後、レーザ切断線ＬＣＴ２でゲートドライバの出力端子ＧＴＭから各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を分離し、出力端子ＧＴＭとゲートドライバの入力端子ＴＴＡの間にゲートドライバをＦＣＡ実装する。
【００８４】
同様に、ドレインドライバ側の（ｂ）では、一方の基板ＳＵＢ１の製作を終了した後、レーザ切断線ＬＣＴ１で信号線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離す。信号線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離すことで、各信号線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９は独立した６系統の検査配線となる。
【００８５】
この状態で各走査線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９に形成した検査パッドＤＬＴＰ（Ｂ１，Ｂ２，Ｇ１，Ｇ２，Ｒ１，Ｒ２）にプローブＰＢを当てて断線検査や点灯検査を実行する。
【００８６】
検査終了後、レーザ切断線ＬＣＴ２でドレインドライバの出力端子ＤＴＭから各走査線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を分離し、出力端子ＤＴＭとドレインドライバの入力端子ＴＴＢの間にドレインドライバをＦＣＡ実装する。
【００８７】
なお、点灯検査では図２に示した対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍにプローブを当て、所定の電圧を印加しすることで薄膜トランジスタの出力電極に接続した画素電極との間に液晶の配向を制御する電界を生成して画素の点灯の有無を検査する。
【００８８】
また、上記レーザ切断線ＬＣＴ１，ＬＣＴ２は、エッチング処理で分離するエッチング切断線とすることもできる。その他の既知の切断方法を用いてもよい。
【００８９】
図４は本発明による液晶表示装置の１実施例の点灯検査でドレイン検査パッドＤＬＴＰ（Ｂ１，Ｂ２，Ｇ１，Ｇ２，Ｒ１，Ｒ２）とゲート検査パッドＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）に印加する検査信号の一例を説明する波形図である。なお、この検査信号は、所謂ドット反転駆動方式であり、図示した電圧値パルス幅、パルス間隔等は一例である。
【００９０】
図４に示した検査信号を各検査パッドに印加することにより、所定の表示パターンの点灯で各系統毎の点灯検査を実行できる。
【００９１】
本実施例により、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することができる。
【００９２】
図５は本発明による液晶表示装置の他の実施例の要部配線を説明する模式図であり、（ａ）はゲート線側配線、（ｂ）はドレイン線側配線を示す。図中、図３と同一符号は同一機能部分に対応する。
【００９３】
本実施例では、ゲート走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３をゲートドライバの入力端子ＴＴＡではなく、切断線ＣＴＬの外側で静電気抑制共通線ＡＳＣＬに接続してある。
【００９４】
同様に、ドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９をドレインドライバの入力端子ＴＴＢではなく、切断線ＣＴＬの外側で静電気抑制共通線ＡＳＣＬに接続してある。
【００９５】
このように構成したことで、基板ＳＵＢ１の製作後に静電気抑制共通線ＡＳＣＬを切断除去する際に同時にゲート走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３およびドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９の各系統を独立させることができ、レーザ切断（あるいはエッチング切断）の工程を１工程削減できる。
【００９６】
本実施例によっても、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することができる。
【００９７】
本発明の他の実施例として、図３の（ｂ）におけるドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を各ブロック間でばらばらにし、各ブロック間に検査パッドを設ける。これにより、検査で用いる表示パターンの種類を増やすことができる。
【００９８】
なお、上記した各実施例ではゲート側について３又は４系統に纏めて共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３としたが、ゲート側端子はドレイン側端子に比べて比較的端子幅やピッチを大きくとれるので、本発明のさらに他の実施例として、ゲート線側については従来と同様に全端子にプローブを一括して当てて検査を行うようにすることもできる。その構成は図１１の（ａ）に示したものとなる。
【００９９】
また、本発明のさらにまた他の実施例として、図３または図５に示したゲート走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３およびドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９とゲートドライバの出力端子（ゲート線引出端子）ＧＴＭおよびドレインドライバの出力端子（ドレイン線引出端子）ＤＴＭの間にトランジスタあるいはダイオードを配置して各配線間を検査信号に対して分離するように構成した。
【０１００】
上記したそれぞれの実施例によっても、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することができる。
【０１０１】
以上の実施例では、所謂ＦＣＡ実装方式でゲートドライバやドレインドライバを搭載した液晶表示装置についてのみ説明したが、従来からのＴＣＰを用いてドライバを搭載する方式の液晶表示装置についても本発明の検査用回路を適用することができる。
【０１０２】
次に、本発明による液晶表示装置の全体構成の一例について、その駆動システムおよび適用機器例を説明する。
【０１０３】
図６は本発明を適用した一般的なアクティブ・マトリクス型液晶表示装置の駆動システムの構成を説明するブロック図である。この液晶表示装置は、２枚の基板で液晶層を挟持した液晶パネルＰＮＬと、この液晶パネルＰＮＬの周辺にデータ線（ドレイン信号線またはドレイン線）駆動回路（ＩＣチップ）すなわち前記したドレインドライバＤＤＲ、走査線（ゲート信号線またはゲート線）駆動回路（ＩＣチップ）すなわち前記したゲートドライバＧＤＲを有し、これらドレインドライバＤＤＲとゲートドライバＧＤＲに画像表示のための表示データやクロック信号、階調電圧などを供給する表示制御手段である表示制御装置ＣＲＬ、電源回路ＰＷＵを備えている。
【０１０４】
コンピュータ、パソコンやテレビ受像回路などの外部信号ソースからの表示データ（前記の表示信号）と制御信号クロック、表示タイミング信号、同期信号は表示制御装置ＣＲＬに入力する。表示制御装置ＣＲＬには、階調基準電圧生成部、タイミングコンバータＴＣＯＮなどが備えられており、外部からの表示データを液晶パネルＰＮＬでの表示に適合した形式のデータに変換する。
【０１０５】
ゲートドライバＧＤＲとドレインドライバＤＤＲに対する表示データとクロック信号は図示したように供給される。ドレインドライバＤＤＲの前段のキャリー出力は、そのまま次段のドレインドライバのキャリー入力に与えられる。
図７は液晶パネルの各ドライバの概略構成と信号の流れを示すブロック図である。ドレインドライバＤＤＲは映像（画像）信号等の表示データ（表示信号）のデータラッチ部と出力電圧発生回路とから構成される。
また、階調基準電圧生成部ＨＴＶ、マルチプレクサＭＰＸ、コモン電圧生成部ＣＶＤ、コモンドライバＣＤＤ、レベルシフト回路ＬＳＴ、ゲートオン電圧生成部ＧＯＶ、ゲートオフ電圧生成部ＧＦＤ、およびＤＣ−ＤＣコンバータＤ／Ｄは図７の表示制御装置ＣＲＬ、電源回路ＰＷＵを搭載した基板に設けられる。
【０１０６】
図８は信号ソース（本体）から表示制御装置に入力される表示データおよび表示制御装置からドレインドライバとゲートドライバに出力される信号を示すタイミング図である。表示制御装置ＣＲＬは信号ソースからの制御信号（クロック信号、表示タイミング信号、同期信号）を受けて、ドレインドライバＤＤＲへの制御信号としてクロックＤ１（ＣＬ１）、シフトクロックＤ２（ＣＬ２）および表示データを生成し、同時にゲートドライバＧＤＲへの制御信号として、フレーム開始指示信号ＦＬＭ、クロックＧ（ＣＬ３）および表示データを生成する。
【０１０７】
なお、信号ソースからの表示データの伝送に低電圧差動信号（ＬＶＤＳ信号）を用いる方式では、当該信号ソースからのＬＶＤＳ信号を上記表示制御装置を搭載する基板（インターフェイス基板）に搭載したＬＶＤＳ受信回路で元の信号に変換してからゲートドライバＧＤＲおよびドレインドライバＤＤＲに供給する。
【０１０８】
図８から明らかなように、ドレインドライバのシフト用クロック信号Ｄ２（ＣＬ２）は本体コンピュータ等から入力されるクロック信号（ＤＣＬＫ）および表示データの周波数と同じであり、ＸＧＡ表示素子では約65ＭＨｚ（メガヘルツ）の高周波となる。このような構成の液晶表示装置は薄形、低消費電力といった特徴を有し、今後は各分野における表示デバイスとして広く採用される傾向にある。
【０１０９】
図９は本発明による液晶表示装置を実装した電子機器としてのディスプレイモニターの一例を示す外観図である。このモニターの画面すなわち表示部に実装する。このディスプレイモニターを構成する液晶表示装置は前記実施例で説明した検査回路により、その断線検査や点灯検査を実施したものであるため、信頼性が高く、高品質の画像表示を長期間にわたって得ることができる。
【０１１０】
なお、本発明による液晶表示装置は、上記のようなディスプレイモニターに限るものではなく、デスクトップパソコンのモニターやノートパソコン、テレビ受像機、その他の機器の表示デバイスにも使用できる。
【０１１１】
次に、本発明のより詳細な要部実施構成例に付き説明する。
【０１１２】
まず、走査線側共通線に関して説明する。
【０１１３】
図１２（ａ）は走査線側共通線としてＣ１、Ｃ２の2本を形成した例である。手段として述べたように、隣接する走査信号線を同一の走査線側共通線に接続しても全ライン同時点灯は可能である。しかし、フリッカの点灯検査に関し困難が生じる。
【０１１４】
そこで、図１２（ａ）のように、少なくとも２本の走査線側共通線を設けた。
【０１１５】
なお上記効果は図１２（ｂ）に示すように、走査信号線と静電気抑制共通線ＡＳＣＬがつながっていない構成でも同様の効果が有る。
【０１１６】
さらに、走査信号線は走査線側共通線Ｃ１、Ｃ２のいずれかに複数本毎につながっているため、静電気が加わった場合でも走査信号線が単独で存在する場合よりその影響を軽減できる。この場合、ＡＳＣＬの切断工程が不要となるため、工程削減による低コストが実現できる。
【０１１７】
画素の保持容量の構成としてはＣａｄｄ、Ｃｓｔｇのいずれでも良い。
【０１１８】
図１３（ａ）は走査線側共通線としてＣ１、Ｃ２、Ｃ３の３本を形成した例であり、図１３（ｂ）はそのＡＳＣＬを持たない例である。
【０１１９】
手段として述べたように、フリッカに関しては、ＴＦＴへの書き込み時の飛び込み電圧の影響も存在する。これを実使用状態により近づけるには、特に画素電極と後段の走査信号線との間に画素電極に書き込まれた電荷の保持用の容量を形成する、いわゆるＣａｄｄ方式の液晶表示装置において走査線側共通線が３本以上あることが望ましい。
【０１２０】
そこで本実施例では、前段の画素のＣａｄｄが自段の走査信号線上に形成し、さらに自段の画素のＣａｄｄを後段の走査信号線上に形成した。むろんｃＳＴＧでも良い。但し、この構成では、手段として述べたように映像信号線延在方向の６つの画素ＡＢＣＤＥＦで、基準信号電位に対する各画素の極性は、例えば＋−＋＋−＋となり、例えば画素ＣとＤが同極性になるという問題があるため、望ましくは次に示す４本、あるいは前に示した２本が良く、特にＣａｄｄ方式の容量部を有する画素構造を有する液晶表示装置では次に示す４本がより望ましい。
【０１２１】
図１４（ａ）は走査線側共通線としてＣ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ１０の４本を形成した例であり、図１４（ｂ）はそのＡＳＣＬを持たない例である。
【０１２２】
これにより上述のように映像信号線延在方向で画素間で互いに逆極性とすることができ、より実使用状態に近い検査が可能となり、検査精度が向上する。
【０１２３】
次に、信号線側共通線に関して説明する。
【０１２４】
図１５（ａ）は信号線側共通線としてＣ４、Ｃ６、Ｃ８の３本を形成した例である。
【０１２５】
前記解決手段にて説明のように、本発明は少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離したことを大きな特徴とし、これにより検査パッド数削減によるプローブコストの低減を図り、高精細品での検査を可能にしつつ、色を表示させての検査を実現するものである。
【０１２６】
そして検査パターンとして、カラーフィルターが赤、緑、青の3色であれば各色同時点灯での白表示はむろん、各色毎の点灯による赤、緑、青の個別検査、さらには各色の階調を制御して点灯することにより製品で表示するほぼ全ての色に関する検査が可能となる。
【０１２７】
むろん色は赤、緑、青に限るものではなく、シアン（黄緑）、マゼンダ（紫）、イエロー（黄）の３色による、いわゆる補色型のカラーフィルターを用いた液晶表示装置であっても同様である。この点に関しては、本発明及び明細書全文に関し共通である。
【０１２８】
本発明により、各色の色純度の検査が可能とり、さらに全色同時点灯のみの検査しかできない液晶表示装置に対し、表示むらの検査精度が大幅に向上した。カラーフィルターはその色毎に個別に塗布、露光、現像を行い、もしくは個別の色を含浸させることにより形成する。
【０１２９】
したがって、各色毎に、その色濃度の面内均一性、あるいは膜厚の面内での分布が生じることになる。各色同時に点灯した場合には、これらの影響は通常見え難くなる。例えば赤の膜厚のみが局所的に変化した場合では、赤、緑、青の3色全ての同時点灯では赤の膜厚の局所的変化が輝度への及ぼす影響は、赤単色表示時の約１／３になる。したがって、全色同時点灯のみでは、輝度むら、特に色むらに関する検査感度が低下するためである。
【０１３０】
図１５（ｂ）はＡＳＣＬを持たない例であるが、図１２（ｂ）の走査側共通線が一定の静電気抑制効果を奏するのと同様に、本構成でも一定の静電気抑制効果が実現し、また工数低減が実現する。
【０１３１】
図１６（ａ）は信号線側共通線としてＣ４、Ｃ５、Ｃ６、Ｃ７、Ｃ８、Ｃ９の６本を形成した例である。本構成では少なくともカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を分離したことを特徴とする。すなわち赤、緑、青の３色のカラーフィルターに対し、信号側共通線は6本になる。
【０１３２】
液晶表示装置の駆動方法としてはコモン反転駆動、ドット反転駆動の2種が多く知られている。コモン反転駆動では、通常走査信号線延在方向に隣接する画素同士は基準信号電位に対し同極性であるため、上記のように信号側共通線は少なくとも3本あればよい。
【０１３３】
しかしドット反転駆動では、走査信号線延在方向に隣接する画素間は、基準信号電位に対し通常逆極性として駆動される。このため、ドット反転で信号側共通線が3本の場合、例えば走査線延在方向に隣接するＲＧＢＲＧＢの6つの画素を考えると、その極性は例えば＋−＋＋−＋となり、ＢとＲ間で極性の反転が実現できない。
【０１３４】
このため、点灯検査でフリッカ、すなわち画面のちらつきを正確に検査することが困難になる。そこでカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を6本とすることによりＲＧＢＲＧＢの６つの画素に対しその極性を例えば＋−＋−＋−と画素間で逆極性とし、フリッカの検査精度の向上を実現した。
【０１３５】
上記走査線側共通線の構成である図１２、図１３、図１４、及び信号線側共通線の構成である図１５、図１６は組み合わせて構成することにより、その双方の効果が実現する。
【０１３６】
次に、図１２乃至図１６各図のＬＣＴ１、ＬＣＴ２の切断に関して説明する。
【０１３７】
図１７（ａ）はＴＣＰ方式の場合の一例である。基板端の内側にＡＳＣＬが形成され、走査信号線に電気的に接続されている。
【０１３８】
検査前の段階で領域ＬＣＴ１にてＡＳＣＬと各走査信号線を分離する。これは、各色毎の検査を行うためである。ＡＳＣＬに繋がったままでは走査線側信号線経由で各走査信号線が繋がっているため、単色の検査ができないからである。
【０１３９】
分離は、レーザー光線で行う手法、エッチングにより行う手法、さらには基板を概領域で切断する手法のいずれでも良い。レーザー光線で行う手法では位置精度が最も高いため、走査側信号線とＡＳＣＬの距離を近づけることが可能であり、その分マザーガラス基板の面積を有効活用でき、同一基板からより大型の製品を実現できるという利点を有する。
【０１４０】
エッチングによる手法では、多数の基板を同時にエッチング液に入れての一括処理が可能である。この場合、分離すべき領域で、予め分離する層を露出させておく構造が必要であり、かつその部分では導電層は１層であることが望ましい。
【０１４１】
例えば端子部をＩＴＯのような透明導電材料単層、もしくはそれにより被覆して形成し、エッチング部を金属で形成し、かつ両者のエッチング液が異なる構成であれば端子部が誤って除去されるが如き弊害も防止できる。しかし、レーザー光線による手法よりは、大きい領域が必要となる。
【０１４２】
基板自体の切断により行う手法では、通常スクライブ用の刃、もしくはレーザー光線で溝を形成し、その後圧力を加え概領域で基板を分断する手法がとられる。この場合、物理的に完全に分離されるため、分離不十分となる危険性は最小にできる。
【０１４３】
しかし、切断時に本来切断してはならない領域、例えば走査線側共通線まで切断されてしまう場合も生じうる。いずれの手法を用いるかは主に製造ラインの構成による。しかし収益最大の観点からは１枚のマザーガラスから取得できる製品の数、あるいはサイズを最大にするのが最も有効であり、この目的にはレーザー切断による手法を用いることが合致する。
【０１４４】
またＡＳＣＬと走査信号線が予め分離されている構成では該工程は不要であるが、走査線側共通線により一定の静電気抑制効果があるとはいえ、完全を期すにはＡＳＣＬがある方が望ましい。
【０１４５】
分離後、走査線側共通線に接続されて設けられた走査線側検査端子ＧＬＴＰに検査プローブＰＢを接触させ、検査用信号を入力し、検査を行う。この検査にて不良と判定されたものは、例えばレーザー光線による修正等で良品にし得るものに関しては修正工程に回り、その後再度検査を行い、欠陥が修正されていればその液晶表示素子は良品として扱うことができるため不良率が低減できる。
【０１４６】
ここで本発明は単色の検査に対応していることが大きな意味を持つ。すなわち、隣接する２画素の連続点欠陥等に関しては、全色同時点灯しかできない場合、検出できない場合があるからである。例えば、赤の画素と隣接する緑の画素が短絡していた場合、全色同時点灯では異常なしと判定される。
【０１４７】
一方単色検査では、赤を点灯した場合に赤の画素のみならず隣接する緑の画素も同時に点灯し、輝点欠陥として不良として判定される。
【０１４８】
この工程で不良として判定出来れば、例えば赤と緑の画素間の短絡個所をレーザー光線で切断することにより欠陥が修正され、良品にすることができる。しかし全色同時点灯検査しか出来ない場合は、この欠陥はその後駆動回路と接続されるまで検出されない。
【０１４９】
この段階で修正するには、偏光板添付後であれば偏光板を一度はがす必要が有り、またさその必要が無い場合でも修正装置への搬送過程、修正作業などで駆動回路が破壊される危険が生じ、いずれの場合でも修正に要するコストは増大する。あるいは、修正過程でギャップ不良など他の不良を誘発し、修正に失敗する率が増大する。したがって、セルの段階で単色の検査に対応していることが歩留まり、コストの両面で大きな意義を持つのである。
【０１５０】
検査により良品と判定された基板は、次に走査線側共通線Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３とＴＣＰの接続用パッドＴＣＰＤ間をＬＣＴ２で分離する。この分離は、基板自体の物理的切断により行う。したがって、ＬＣＴ２がこの辺の製品の状態での基板の一端となる。その後、図１７（ｂ）に示すように、ＴＣＰを実装し、外部駆動回路と走査信号線を接続する。
【０１５１】
以上は走査信号線側に関する説明であるが、映像信号線側に関しては図１７（ａ）に相当する図を図１８（ａ）に、図１７（ｂ）に相当する図を図１８（ｂ）に示す。基本的な工程及び思想は同様である。
【０１５２】
また図１７（ｂ）あるいは図１８（ｂ）を見れば判明するが、ＴＣＰ方式では液晶表示装置が完成した状態では、本発明で開示の手法あるいは思想による検査を行う構成が、適用している場合でも残留しないように構成することが可能である。
【０１５３】
しかし本発明は、上記手法による液晶表示装置、あるいは上記手法による液晶表示装置の製造方法を開示するものであり、製品に構成として残留せずとも本発明開示の手法もしくは思想を適用し製造されたＴＣＰ方式の液晶表示装置も本願の対象とするものである。
【０１５４】
また図１７、図１８ではＴＣＰ方式を例として説明したが、ＦＣＡ方式の場合の違いはＬＣＴ１あるいはＬＣＴ２での分離に基板の物理的切断の代わりにレーザー光線、あるいはエッチングのいずれかを用いる点を除けばほぼ同じである。但し、ＦＣＡ方式の場合は例えば図３に示されるように、液晶表示装置が完成した段階でも基板の一部に少なくとも共通線の一部が残留する為、本発明で開示の手法もしくは思想を適用し製造されたか否かの判定が相対的に容易であるという違いが有る。
【０１５５】
次に、検査パッドの配置方法をＦＣＡの走査信号線引き出し側で共通線が３本の場合を例に説明する。ＴＣＰの場合でも基本的概念は同様である。また共通線の本数が異なっても同様の概念が適用できる。
【０１５６】
図１９（ａ）は１つのチップＧＤＲ、もしくはＴＣＰの場合であれば端子が集約された１領域に対し、ゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰを片側に設けた例であり、プローブＰＢの製作が容易である。
【０１５７】
次に、図１９（ｂ）は交互に設けた例であり、１個毎の検査パッドＧＬＴＰを大きく構成することが可能となり、プローブＰＢの位置合わせが容易となり検査時間が短縮できる。
【０１５８】
図１９（ｃ）は走査線側共通線の引き出し領域とは別の領域に検査パッドＰＢを設けた例であり、配置、サイズ両面で設計の自由度が増す。
【０１５９】
図１９（ｄ）は両側に設けた例であり、走査線への走査線側共通線から供給される検査用信号の波形鈍りを抑制でき、より実際の駆動状態に近い検査が実現する。
【０１６０】
映像信号線引き出し側でも走査信号線引き出し側の場合とその思想は同様である。信号線側共通線が６本の場合の１例を、図２０に示す。図２０（ａ）片側に検査パッドＰＢを構成した例である。図２０（ｂ）は両側に交互に引き出した例である。
【０１６１】
ＰＢの数が多い分図１９の場合よりＰＢのサイズを拡大することによる位置合わせ精度へのメリットは大きい。図２０（ｃ）は正極、負極単位でＰＢを構成した例である。図２０（ｄ）は両側に構成した例である。
【０１６２】
次にＦＣＡの場合であれば複数のチップ搭載領域、またＴＣＰの場合であれば端子が集約された１領域の複数に渡る領域でのＰＢの配置の例を、ＦＣＡでの走査線側領域を例にそのいくつかの例を説明する。むろん共通線の数が異なる場合、及びドレイン側にも同様の思想が適用できるこというまでもなく、それらの一例としての説明である。
【０１６３】
図２１（ａ）は、各走査駆動ＩＣ搭載領域ＧＤＲの両側にゲートドライバ側検査パッドＧＬＴＰを配置した例である。この場合、給電抵抗を最小とすることが出来、より実際の駆動に近い状態での検査が実現できる。
【０１６４】
図２１（ｂ）は、複数のＧＤＲ単位でＧＬＴＰを設けた例である。この場合、プローブの数が減らせるため、プローブの製作コストが低減できる。
【０１６５】
図２１（ｃ）は複数のＧＤＲ間で、複数の信号線側共通線に対し、交互にＧＬＴＰを設けた例である。この場合、プローブコストの低減と１個あたりのＧＬＴＰの面積の増大が可能である。
【０１６６】
図２１（ｄ）はＧＬＴＰを信号線側共通線形成領域から外れた領域に形成したものである。これにより、設計の自由度が増大すると共に、プローブの位置決めが容易となる。またこの構成では端子ピッチの違う多品種間で、基板上の一端面に対し同一のピッチとなるようＧＬＴＰを配置することで品種間でのプローブの兼用が可能となり、検査装置の台数低減、プローブコストの低減が合わせて実現する。
【０１６７】
図２１（ｅ）は一端のＧＤＲの信号線側共通線からＧＬＴＰへの引き回しを変更したものである。図２１（ｄ）の構成では、一番端の一個のみ、ＧＬＴＰ内の端子の配置が他の部分と逆転してしまう。図２１（ｅ）の構成によりこれが防止でき、特に多品種対応のプローブ実現の上で、効果的である。
【０１６８】
もしくは、図２１（ｄ）でその他の部分と逆転する部分のＧＬＴＰそのものを除去した場合が図２１（ｆ）であり、図２１（ｅ）と同様の効果が実現し、またプローブ数も低減できるが、該ＧＤＲのみ片側からの信号給電となるため、該ＧＤＲに関する画素領域の検査精度が他の領域に比べ相対的に、特にフリッカに関して低下するという課題がある。
【０１６９】
次に、ドレインを例とし、更なる例と思想を示す。
【０１７０】
図２２（ａ）は信号駆動ＩＣ搭載領域ＤＤＲに対するドレインドライバ側検査パッドの例を示すものである。ＤＤＲ間でＤＬＴＰが互いにずれるように配置している。
【０１７１】
これにより、１個あたりの検査パッドＤＬＴＰの面積の拡大が可能となり、ＰＢの位置合わせが容易となる。
【０１７２】
図２２（ｂ）端面のＤＬＴＰも同様の配置としたものである。この場合、同じ構成のプローブを複数個構成することによりプローブユニットが構成できるため、プローブの制作費が低減できる。
【０１７３】
図２２（ｃ）は図２２（ｂ）の構成に、信号線側共通線毎に交互にＤＬＴＰを構成する思想を追加したものであり、さらに１個当たりのＤＬＴＰが拡大できる。特にドレイン側は、ゲート側に比べ本数が多く、かつその増加量が液晶表示装置のアスペクト比の増加量より多いため、ゲート側に比べチップ間の間隔が狭くなる。
【０１７４】
したがって、ＤＬＴＰを形成する十分な領域を確保すること自体が困難な場合が有り、そのような場合でも図２２（Ｃ）の構成によりＤＬＴＰの配置を可能とすることとができる。図２２（ｄ）は、図２１（ｄ）と同様の思想によるものであり、ＤＬＴＰを走査線側線側共通線形成領域から外れた領域に形成したものである。
【０１７５】
図２１（ｆ）と同様の思想により端面のＤＬＴＰを除去した構成が図２２（ｅ）である。 図２２（ｆ）は図２１（ｅ）と同様の思想によるものである。
【０１７６】
前記解決手段にて説明したように、フリッカの検査精度は、画素間の微少な電圧差により影響を受けるため、検査時の信号波形の遅延を抑制することが必要である。
【０１７７】
したがって、信号線側共通線に検査用信号を入力する検査用パッドをチップ搭載領域、もしくは信号配線の集約領域を単位として、その数がｎの場合、各信号線毎に（ｎ−１）／２個以上設けることが望ましい。またプローブコストの増大を抑制するためには、２×（ｎ＋１）個以下であることが望ましい。上述の各種の例はこの思想も合わせて開示したものである。
【０１７８】
また映像信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数より、走査信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数が多い方が望ましい。これは、検査時の映像信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数が、走査信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数以上とすることが上記構成で検査を行う上で必要であり、このため映像信号線側の入力抵抗を低減するという要請によるものである。
【０１７９】
また検査用信号の入力抵抗低減は、信号線側共通線、もしくは信号線側と検査パッド間の配線、あるいは走査線側共通線、もしくは走査線側共通線と検査パッドの間のいずれかに、液晶表示装置中の最も低抵抗な配線層で形成された領域を設けることで、低抵抗化の効果を図ることができる。
【０１８０】
次に、検査パッド数をさらに低減する例を説明する。 ゲート側を例に説明するが、ドレイン側でも同様の思想は適用でき、またＴＣＰでも同様の思想が適用できる。これらの代表として、ＦＣＡのゲート側を例緒として説明する。
【０１８１】
図２３は信号線側共通線から引き出された配線により、別の共通線に各々の引き出された配線が接続され、その少なくとも一端にＧＬＴＰを構成した例である。これにより、ＧＬＴＰの数を、ゲート側であれば走査線側共通線の数に、またドレイン側であれば信号線側共通線の数に至るまで低減することが可能となる。
【０１８２】
したがって、プローブコストが大幅に低減できるのみならず、その位置合わせが容易となるため検査時間の削減も可能となる。
【０１８３】
しかし本構成ではＧＬＴＰを多数設ける場合に比べ、配線抵抗の影響による波形遅延の悪化は不可避である。その影響を抑制する上で、該別の共通線は液晶表示装置の中で最も低抵抗な材料層、あるいは同一の材料であっても線幅を広くすることにより画素内の配線より低抵抗化した層を、少なくともその一部に有して構成することが望ましい。
【０１８４】
次に、ＬＣＴ１の切断をより効率的に行う手法、特にレーザー切断にて行う場合に効率的に行える構成の思想をその１例と共に示す。
【０１８５】
図２４（ａ）は、図２１（ｆ）がＬＣＴ１で切断される前、ずなわちＡＳＣＬに繋がっている状態である。レーザー光線による分離は、通常レーザー光線の光学系を固定し、基板を移動することにより行われる。これはレーザー光線に関わる光学系は精密であるため、これを頻繁に移動させた場合光学系にずれが生じ、レーザー光線の光軸がずれ、所定の領域外を分断してしまう危険があるためである。
【０１８６】
またその際の修理にも精密であるがゆえに時間を要すため、レーザー光線は固定し、代わりに基板側を移動するのである。この際、切断すべき領域と切断してはならない領域との間に、より余裕が有るほど分断に要する時間は短く出来る。なぜなら、移動は機械的機構により行われるため、素早く基板を移動させる場合にはそれだけ移動によるずれも拡大しやすいからである。
【０１８７】
そこで、ＬＣＴ１領域をチップ領域外に形成することにより該余裕の領域を拡大できるため、その分レーザー光線による分断に要する時間を低減でき、スループット改善、歩留まり改善、コスト低減が図れる。さらに、切断領域を一直線上に形成することにより、より高速化が実現する。
【０１８８】
図２４（ｂ）は図２３のようにＧＬＴＰ数を低減し、その先にＬＣＴ１を設けた例である。切断すべき領域の長さが低減できるため、大幅に時間短縮が可能である。図２４（ｃ）は図２４（ｂ）のＧＬＴＰ位置の別例である。
【０１８９】
さらに図２４（ｄ）は図２３の思想を走査線側、ゲート線側の双方に適用し、さらにＧＬＴＰとＤＬＴＰを集中配置した例である。これによりさらに時間短縮が可能である。特に基板の一端に集中させて構成した場合には、基板全体としても１次元の切断のみＬＣＴ１が分離できるため、レーザー切断のための基板の位置合わせが１回で済み、さらに時間低減が可能となる。
【０１９０】
また、このように検査パッドを一辺に集中する構成は、図２に示すように多品種共用のプローブ作成が容易に実現できる、プローブの位置合わせが容易であるなど多くの利点を有する。
【０１９１】
次に、検査時の信号波形に関する思想を例と共に示す。図２５はドレイン側の信号線側共通線がＲＧＢ各色１本、走査線側共通線が２本である場合の例である。ドット反転駆動を例に説明する。
【０１９２】
図２５（ａ）は駆動波形の概念、図２５（ｂ）及び図２５（ｃ）はこのときの第１フレーム、第２フレームでのＲＧＢ及び第１、第２の走査線で構成される６画素分の画素の基準電位Ｖｃｏｍに対する極性を示すものである。
【０１９３】
図２５（ｂ）及び（ｃ）を比較すると明らかなように、本構成では常に画素に同極性の電位が加わり、液晶が劣化してしまう。
【０１９４】
これを対策する検査用の波形が図２６に示すものである。図２６（ａ）に示すように映像信号線に入力する信号の周波数を図２５（ａ）の場合の１／２とする。これにより、図２６（ｂ）、図２６（ｃ）に示すように第１フレーム、第２フレームで画素の極性が反転でき、液晶に直流が乗ることを防止出来る。
【０１９５】
図２７はドレイン側の信号線側共通線としてＲＧＢ毎に正極、負極の２本形成し、合計６本とした場合である。
【０１９６】
本構成では図２７（ｂ）、図２７（ｃ）に示す第１フレーム、第２フレームでの画素の電位はフレーム毎に互いに反転し、かつ隣接する画素間でも常に反転した、通常のドット反転駆動の状態が実現できる。これにより、実際の使用状態に近い高精度にてフリッカの検査が実現できる。
【０１９７】
図２８はコモン反転の場合の一例である。
【０１９８】
この場合は、信号線側共通線がＲＧＢ各１本、走査線側共通線が２本有れば、図２８（ｂ）、図２８（ｃ）にそれぞれ第１フレーム、第２フレームを示すように、ライン反転駆動が実現する。したがって、コモン反転の場合には信号線側共通線が３本、走査線側共通線が２本有れば実際の使用状態に近い高精度にてフリッカの検査が実現できる。
【０１９９】
図２９は図２７の構成で走査線側共通線が３本の場合の例である。
【０２００】
この場合、Ｃａｄｄに関する説明として前述のように、前段、自段、後段の３ラインで駆動できるため、ＴＦＴでの飛び込み電圧の影響をより製品に近い状態として検査が可能である。しかし、ＧＡとＧＣで極性が同じとなるため、完全なドット反転とはならないという欠点がある。
【０２０１】
図３０は、図２５の弊害である画素への直流印加を防止する手法の別方式であり、図２６と同様の効果となる。なお本項の効果はＲＧＢ各１本で奏することが出来る、さらにＲＧＢ毎に正極用、負極用の２本を設ければフリッカ対策も同時に実現する。
【０２０２】
本構成では図３０（ａ）に示すように映像信号線の周波数を図２５（ａ）の場合より早く構成し、第１フレームと第２フレームに逆極性の信号が加わるようなタイミングでＧＡ，ＧＢをｈｉｇｈにして画素に電圧を書き込むことにより、図３０（ｂ）、（ｃ）にそれぞれ第１フレーム、第２フレームを示すように、直流の重畳を防止したものである。
【０２０３】
図３１はドット反転駆動用として検査精度、プローブコスト、額縁領域縮小など総合的に勘案して最も望ましいと考える検査波形であり、ドレイン側の信号線側共通線はＲＧＢ各色毎に正極用、負極用で２本、合計６本として構成した。
【０２０４】
また、ゲート側の走査線側共通線は４本で構成し、前段、自段、後段の関係を常に維持できると共にフリッカの抑制も実現する。駆動波形を図３１（ａ）に示す。
【０２０５】
これにより第１フレーム及び第２フレームの画素の極性はそれぞれ図３１（ｂ）、及び図３１（ｃ）に示すようになり、隣接画素間で極性が反転したドット反転駆動が実現できる。むろん、コモン反転に用いても問題ない。
【０２０６】
このような波形による検査が実現できる共通線を有する液晶表示装置、あるいは検査手法により、ドット反転駆動において検査パッドを低減し高精細に対応しつつ、かつ十分な検査を実現することができる。
【０２０７】
またプローブを本構成に対応した形として形成することにより、ドット反転のみならずコモン反転にも適用でき、汎用性の高い検査装置とすることが出来る。
【０２０８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ドレインドライバやゲートドライバを接続する液晶表示装置の信号線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、高精彩表示の上記ドライバを用いた場合でも、その断線検査や点灯検査のためのプローブの製作が容易となり。また、プローブと検査パッドのコンタクトを正確にとれるため、検査精度が向上し、信頼性の高い液晶表示装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による液晶表示装置の１実施例を説明する平面図である。
【図２】図１の検査パッド形成領域ＴＴＰを詳細に説明するための要部拡大図である。
【図３】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図４】本発明による液晶表示装置の１実施例の点灯検査でドレイン検査パッドとゲート検査パッドに印加する検査信号の一例を説明する波形図である。
【図５】本発明による液晶表示装置の他の実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図６】本発明を適用した一般的なアクティブ・マトリクス型液晶表示装置の駆動システムの構成を説明するブロック図である。
【図７】液晶パネルの各ドライバの概略構成と信号の流れを示すブロック図である。
【図８】信号ソース（本体）から表示制御装置に入力される表示データおよび表示制御装置からドレインドライバとゲートドライバに出力される信号を示すタイミング図である。
【図９】本発明による液晶表示装置を実装した電子機器としてのディスプレイモニターの一例を示す外観図である。
【図１０】ＦＣＡ実装方式の液晶表示装置の要部を説明する斜視図である。
【図１１】従来の液晶表示装置における検査端子の配置説明図である。
【図１２】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１３】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１４】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１５】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１６】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１７】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１８】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１９】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２０】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２１】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２２】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２３】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２４】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２５】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２６】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２７】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２８】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２９】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図３０】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図３１】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【符号の説明】
ＳＵＢ１ 一方の基板
ＳＵＢ２ 他方の基板
ＧＤＲ 走査駆動ＩＣ（ゲートドライバ）およびその搭載位置
ＤＤＲ 信号駆動ＩＣ（ドレインドライバ）およびその搭載位置
ＴＴＰ 検査パッド形成領域
ＣＴＬ 切断線
ＧＬＴＰ ゲートドライバ側の検査パッド
ＤＬＴＰ ドレインドライバ側の検査パッド
Ｖｃｏｍ 対向電極の引出線の検査パッド
ＰＢ プローブ
ＧＴＭ ゲートドライバの出力端子（ゲート線引出端子）
ＤＴＭ ドレインドライバの出力端子
ＴＴＡ ゲートドライバの入力端子
ＴＴＢ ドレインドライバの入力端子
ＡＳＣＬ 静電気抑制共通線
Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３、Ｃ１０ 走査線側共通線
ＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ、ＧＤ） 走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３、Ｃ１０に形成した検査パッド
ＬＣＴ１，ＬＣＴ２ 切断線
Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９ 信号線側共通線。
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に係り、特に薄膜トランジスタ型の液晶表示装置における薄膜トランジスタの機能検査、走査線引出線や信号線引出線の断線検査を容易にした液晶表示装置及びその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ノート型コンピユータやディスプレイモニター用の高精細かつカラー表示が可能な表示装置として液晶表示装置が広く採用されている。
【０００３】
液晶表示装置には、各内面に互いに交差する如く形成された平行電極を形成した一対の基板で液晶層を挟持した液晶パネルを用いた単純マトリクス型と、一対の基板の一方に画素単位で選択するためのスイッチング素子を有する液晶表示素子（以下、液晶パネルとも言う）を用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置とが知られている。
【０００４】
アクティブマトリクス型液晶表示装置は、ツイステッドネマチック（ＴＮ）方式に代表されるように、画素選択用の電極群が上下一対の基板のそれぞれに形成した液晶パネルを用いた、所謂縦電界方式液晶表示装置（一般に、ＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置と称する）と、画素選択用の電極群が上下一対の基板の一方のみに形成されている液晶パネルを用いた、所謂横電界方式液晶表示装置（一般に、ＩＰＳ方式液晶表示装置と称する）とがある。
【０００５】
前者のＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置を構成する液晶パネルは、一対（第１の基板（下基板）と第２の基板（上基板）からなる２枚）の基板内で液晶が９０°ねじれて配向されており、その液晶パネルの上下基板の外面に吸収軸方向をクロスニコル配置し、かつ入射側の吸収軸をラビング方向に平行または直交させた２枚の偏光板を積層している。
【０００６】
このようなＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置は、電圧無印加時で入射光は入射側偏光板で直線偏光となり、この直線偏光は液晶層のねじれに沿って伝播し、出射側偏光板の透過軸が当該直線偏光の方位角と一致している場合は直線偏光は全て出射して白表示となる（所謂、ノーマリオープンモード）。
【０００７】
また、電圧印加時は、液晶層を構成する液晶分子軸の平均的な配向方向を示す単位ベクトルの向き（ダイレクター）は基板面と垂直な方向を向き、入射側直線偏光の方位角は変わらないため出射側偏光板の吸収軸と一致するため黒表示となる。（１９９１年、工業調査会発行「液晶の基礎と応用」参照）。
【０００８】
一方、一対の基板の一方にのみ画素選択用の電極群や電極配線群を形成し、当該基板上で隣接する電極間（画素電極と対向電極の間）に電圧を印加して液晶層を基板面と平行な方向にスイッチングするＩＰＳ方式の液晶表示装置では、電圧無印加時に黒表示となるように偏光板が配置されている（所謂、ノーマリクローズモード）。
【０００９】
ＩＰＳ方式液晶表示装置の液晶層は、初期状態で基板面と平行なホモジニアス配向で、かつ基板と平行な平面で液晶層のダイレクターは電圧無印加時で電極配線方向と平行または幾分角度を有し、電圧印加時で液晶層のダイレクターの向きが電圧の印加に伴い電極配線方向と垂直な方向に移行し、液晶層のダイレクター方向が電圧無印加時のダイレクター方向に比べて４５°電極配線方向に傾斜したとき、当該電圧印加時の液晶層は、まるで１／２波長板のように偏光の方位角を９０°回転させ、出射側偏向板の透過軸と偏光の方位角が一致して白表示となる。
【００１０】
このＩＰＳ方式液晶表示装置は視野角においても色相やコントラストの変化が少なく、広視野角化が図られるという特徴を有している（特開平５−５０５２４７号公報参照）。
【００１１】
上記した各種の液晶表示装置のフルカラー化ではカラーフィルタ方式が主流である。これは、カラー表示の１ドットに相当する画素を３分割し、それぞれの単位画素に３原色、例えば赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各々に相当するカラーフィルタを配置することにより実現するものである。
【００１２】
本発明は、上記した各種の液晶表示装置に適用できるものであるが、以下、ＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置を例としてその概略を説明する。
【００１３】
前記したように、ＴＮ方式アクティブマトリクス型液晶表示装置（簡単のため、以降では単にアクティブマトリクス型液晶表示装置と称する）を構成する液晶表示素子（液晶パネル）では、液晶層を介して互いに対向配置したガラス等からなる２枚の透明絶縁基板の一方の基板の液晶層側の面に、そのｘ方向に延在し、ｙ方向に並設される走査信号線（以下、ゲート線と言う）群と、このゲート線群と絶縁されてｙ方向に延在し、ｘ方向に並設されるドレイン線（以下、映像信号線と言う）群とが形成されている。
【００１４】
これらのゲート線群とドレイン線群とで囲まれた各領域がそれぞれ画素領域となり、この画素領域にアクティブ素子（スイッチング素子）として例えば薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）と透明画素電極とが形成されている。
【００１５】
ゲート線に走査信号が供給されることにより、薄膜トランジスタがオンされ、このオンされた薄膜トランジスタを介してドレイン線からの映像信号が画素電極に供給される。
【００１６】
なお、ドレイン線群の各ドレイン線は勿論のこと、ゲート線群の各ゲート線においても、それぞれ基板の周辺まで延在されて外部端子を構成し、この外部端子にそれぞれ接続されて映像駆動回路、ゲート走査駆動回路、すなわち、これらを構成する複数個の駆動ＩＣチップ（半導体集積回路、以下、単に駆動ＩＣまたはＩＣとも言う）が基板の周辺に外付けされるようになっている。つまり、これらの各駆動ＩＣを搭載したテープキャリアパッケージ（ＴＣＰ）を基板の周辺に複数個外付けする。
【００１７】
しかし、このような基板は、その周辺に駆動ＩＣが搭載されたＴＣＰが外付けされる構成となっているので、基板のゲート線群とドレイン線群との交差領域によって構成される表示領域の輪郭と、基板の外枠との間の領域（通常、額縁と称する）の占める面積が大きくなってしまい、液晶表示素子と照明光源（バックライト）その他の光学素子と共に一体化した液晶表示モジュールの外形寸法を小さくしたいという要望に反する。
【００１８】
それゆえ、このような問題を少しでも解消するために、すなわち、液晶表示素子の高密度実装化と液晶表示モジュールの外形小型化の要求から、ＴＣＰ部品を使用せずに、映像駆動用の駆動ＩＣや走査駆動用の駆動ＩＣを一方の基板（下基板）上に直接搭載する、所謂フリップチップ方式またはチップオングラス（ＣＯＧ）方式が提案された。そして、上記駆動ＩＣは、当該駆動ＩＣチップの背面に形成した電極を基板上に形成した配線に直接接続する、所謂ＦＣＡ方式が採用される。
【００１９】
図１０はＦＣＡ実装方式の液晶表示装置の要部を説明する斜視図である。この液晶表示装置は薄膜トランジスタをマトリクス状に形成した一方の基板ＳＵＢ１とカラーフィルタを形成した他方の基板ＳＵＢ２の間に液晶層を挟持してある。
【００２０】
一方の基板ＳＵＢ１の周辺の一辺には走査線駆動ＩＣ（以下、ゲートドライバ）ＧＤＲがＦＣＡ方式で搭載されている。また、他辺には信号線駆動回路ＩＣ（ドレインドライバ）ＤＤＲが同様にＦＣＡ方式で搭載されている。
【００２１】
ゲートドライバＧＤＲの出力は走査線引出線ＧＴＭに接続し、入力はフレキシブルプリント基板ＦＰＣ１の配線に接続している。ドレインドライバＤＤＲの出力は信号線引出線ＤＴＭに接続し、入力はフレキシブルプリント基板ＦＰＣ２の配線に接続している。
【００２２】
フレキシブルプリント基板ＦＰＣ１，ＦＰＣ２は図中の矢印で示したように、フレキシブルプリント基板ＦＰＣ１をＢＥＮＴ１方向に一方の基板ＳＵＢ１の背面に折り曲げ、次いでフレキシブルプリント基板ＦＰＣ２の屈曲部ＪＴ２を折り線ＢＴＬに沿ってＢＥＮＴ１方向に畳んだ後、ＢＥＮＴ３方向に折り曲げてフレキシブルプリント基板ＦＰＣ１の背面に折り畳む。
【００２３】
この状態で、フレキシブルプリント基板ＦＰＣ２のコネクタＣＴ４をフレキシブルプリント基板ＦＰＣ１に設けた図示しないコネクタに接続する。フレキシブルプリント基板ＦＰＣ２の折り曲げ部分の内面には粘着テープＢＡＴが介在され、フレキシブルプリント基板ＦＰＣ２に固定される。
【００２４】
なお、ＣＨＧ，ＣＨＤはコンデンサ等の電子部品、ＡＬＭＧ，ＡＬＭＤはアライメントマーク、ＰＯＬ２は偏光板、ＡＲは表示領域を示す。
【００２５】
このような構成とした液晶表示装置において、一方の基板ＳＵＢ１に形成した薄膜トランジスタから延びるゲート線の引出線、ドレイン線の引出線に検査装置のプローブを当てて、薄膜トランジスタの特性、各配線の断線などの検査、他方の基板と貼り合わせた後の点灯検査が行われる。
【００２６】
図１１は従来の液晶表示装置における検査端子の配置説明図であり、（ａ）はゲートドライバ側、（ｂ）はドレインドライバ側の配線を示す模式図である。
【００２７】
（ａ）において、ＧＴＭはゲート線引出線、ＴＰＣは検査端子、ＧＤＲはゲートドライバ搭載部分（点線で示す）、ＬＣＴはレーザ切断線、ＡＳＣＬはゲート線側の静電気抑制共通線、ＧＴＭはゲートドライバＧＤＲの入力端子を示す。
【００２８】
一方の基板ＳＵＢ１（薄膜トランジスタ基板）の製作工程では、ゲート線引出線ＧＴＭは静電気抑制共通線ＡＳＣＬで短絡してあり、静電気の侵入による薄膜トランジスタや配線のダメージを防止している。その後、ゲート線引出線ＧＴＭをレーザ切断線ＬＣＴで個々に切断し、検査端子ＴＰＣにプローブを当てて断線検査を行い、また信号を印加して点灯検査を行う。
【００２９】
（ｂ）において、ＤＴＭはドレイン線引出線、ＴＰＣは検査端子、ＤＤＲはドレインドライバ搭載部分（点線で示す）、ＬＣＴはレーザ切断線、ＡＳＣＬはドレイン線側の静電気抑制共通線、ＴＴＢはゲートドライバＧＤＲの入力端子を示す。
【００３０】
ドレインドライバ側でも同様に、その基板の製作工程では、ドレイン線引出線ＤＴＭは静電気抑制共通線ＡＳＣＬで短絡してあり、静電気の侵入による薄膜トランジスタや配線のダメージを防止している。その後、ドレイン線引出線ＤＴＭをレーザ切断線ＬＣＴで個々に切断し、検査端子ＴＰＣに一括してプローブを当てて断線検査を行い、また信号を印加して点灯検査を行う。
【００３１】
このフリップチップ方式の液晶表示装置に関しては、同一出願人にかかる特願平６−２５６４２６号がある。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】
上記した従来の検査端子の配置では、表示の高精細化に伴いゲートドライバやドレインドライバ、特にドレインドライバの数が増大し、その出力端子のピッチ（図１１のＧＴＭ、ＤＴＭのピッチ）が小さくなっている。
【００３３】
その結果、検査端子（図１１のＴＰＣ）の幅、および長さを十分にとることができなくなって、従来のようにプローブを一括してコンタクトさせることが困難になっており、外部から当該検査端子に検査電圧を印加して断線検査、点灯検査を行う際のプローブのずれで検査精度が低下するという問題があった。また、このような狭いピッチの出力端子に適用するプローブの製作も困難となっている。
【００３４】
本発明の目的は、上記従来技術の諸問題を解消し、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することにある。
【００３５】
また本発明の目的は、上記プローブの製作を容易にし、かつ低コスト化を実現した液晶表示装置及びその製造方法を提供することにある。
【００３６】
さらに本発明の目的は、上記液晶表示装置及びその製造方法において、検査時の表示不良に関する検出能力低下を抑制することのできる液晶表示装置及びその製造方法を提供することにある。
【００３７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、その代表的手段としてドレインドライバの出力端子（引出線）を赤、緑、青の３色について、赤の正極、赤の負極、緑の正極、緑の負極、青の正極、青の負極の６系統に分け、それぞれをまとめてドレイン線共通線に接続し、このドレイン線共通線をドレインドライバ搭載領域の外側に引出し、このドレイン線共通線に設けた検査端子にプローブを当てて検査を行うようにした。
【００３８】
また、ゲートドライバ側については、代表的手段としてゲートドライバの出力端子（引出線）を前段、次段、後段の３系統又は、各ドット毎に極性が逆になる様に４系統に分け、それぞれをまとめてゲート線共通線に接続し、このゲート線共通線をゲートドライバ搭載領域の外側に引出し、このゲート線共通線に設けた検査端子にプローブを当てて検査を行うようにした。
【００３９】
本発明の代表的な構成を記述すれば、下記のとおりである。すなわち、（１）マトリクス状に配置した薄膜トランジスタと薄膜トランジスタで駆動される画素電極と薄膜トランジスタに画素形成のための電圧信号を供給する走査線および信号線を有する一方の基板と、赤色、緑色、青色３色のカラーフィルタを備えた他方の基板の貼り合わせ間隙に液晶層を挟持し、上記一方の基板の一周辺に走査線引出し端子と、他周辺に信号線引き出し端子と、
上記液晶パネルの上記走査線引出端子および信号線引出端子のそれぞれに出力端子を接続して上記一方の基板上に走査線駆動ＩＣおよび信号線駆動ＩＣを直接搭載する走査線駆動ＩＣ搭載領域および信号線駆動ＩＣ搭載領域を有し、
上記走査線引出し端子と信号線引き出し端子を共通に接続する静電気抑制共通線を切断除去領域に有する液晶表示装置であって、
上記静電気抑制共通線に接続する上記信号線引出端子の上記信号線駆動ＩＣ搭載領域で、上記信号線引出端子を赤色の正極、赤色の負極、緑色の正極、緑色の負極、青色の正極、青色の負極の６系統にまとめて接続した６本の信号線側共通線を備え、
上記信号線駆動ＩＣ搭載領域を外れた上記一方の基板上に、上記６本の信号線側共通線に接続する検査パッドを具備した。
【００４０】
この構成により、信号線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、プローブの製作が容易となり、コンタクト精度が高くなる。
（２）前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置した。
【００４１】
検査パッドのパターンの標準化を図ることができ、多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
（３）マトリクス状に配置した薄膜トランジスタと薄膜トランジスタで駆動される画素電極と薄膜トランジスタに画素形成のための電圧信号を供給する走査線および信号線を有する一方の基板と、赤色、緑色、青色３色のカラーフィルタを備えた他方の基板の貼り合わせ間隙に液晶層を挟持し、上記一方の基板の一周辺に走査線引出し端子と、他周辺に信号線引き出し端子と、
上記液晶パネルの上記走査線引出端子および信号線引出端子のそれぞれに出力端子を接続して上記一方の基板上に走査線駆動ＩＣおよび信号線駆動ＩＣを直接搭載する走査線駆動ＩＣ搭載領域および信号線駆動ＩＣ搭載領域を有し、
上記走査線引出し端子と信号線引き出し端子を共通に接続する静電気抑制共通線を基板切断除去領域に有する液晶表示装置であって、
上記静電気抑制共通線に接続する上記走査線引出端子の上記走査線駆動ＩＣ搭載領域で、上記走査信号線引出端子を前段、次段および後段の３系統又は、各ドット毎に極性が逆になるようにするため、４系統にまとめて接続した３本の走査線側共通線を備え、
上記静電気抑制共通線に接続する上記信号線引出端子の上記信号線駆動ＩＣ搭載領域で、上記信号線引出端子を赤色の正極、赤色の負極、緑色の正極、緑色の負極、青色の正極、青色の負極の６系統にまとめて接続した６本の信号線側共通線を備え、
上記走査線駆動ＩＣ搭載領域と上記信号線駆動ＩＣ搭載領域を外れた上記一方も基板上に、上記３本の走査線側共通線と上記６本の信号線側共通線のそれぞれに検査パッドを具備した。
【００４２】
この構成により、信号線引出線および走査線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、プローブの製作が容易となり、コンタクト精度が高くなる。
（４）前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置した。
（５）前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に等間隔で配置した。
【００４３】
走査引出線も含めた検査パッドのパターンの標準化を図ることができ、多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
（６）前記他方の基板に対向電極を有し、前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置すると共に上記対向電極の引出し線に接続する検査パッドを上記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドと共に配置した。
【００４４】
走査引出線も含めた検査パッドのパターンの標準化をさらに押し進めることができ、多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
（７）前記一方の基板に対向電極を有し、前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置すると共に上記対向電極の引出し線に接続する検査パッドを上記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の検査パッドと共に配置した。
【００４５】
点灯検査に必要な対向電極の引出線も上記走査線側共通線と信号線側共通線の検査パッドと共に標準パターンで配置できるため、検査パッドのパターンの標準化をさらに押し進めることができ、より簡単に多品種の液晶表示装置の検査を共通のプローブをもつ検査装置で検査することが可能となる。
【００４６】
本願では上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離したことを大きな特徴とする。本願では、各色に関連する映像信号線に常に同一の信号のみを入力し検査を行う構成を除外するものではない。
【００４７】
しかし、上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離することにより、検査パッド数削減によるプローブコストの低減を図り、高精細品での検査を可能にしつつ、色を表示させての検査を実現することが出来る。カラーフィルターが赤、緑、青の3色であれば各色同時点灯での白表示はむろん、各色毎の点灯による赤、緑、青の個別検査、さらには各色の階調を制御して点灯することにより製品で表示するほぼ全ての色に関する検査が可能となる。
【００４８】
これは、各色の色純度の検査が可能となることを意味し、本発明の構成の大きな利点である。さらに、表示むらの検査精度が大幅に向上するという、全色同時点灯のみでは実現不能な効果が実現する。カラーフィルターはその色毎に個別に塗布、露光、現像を行い、もしくは個別の色を含浸させることにより形成する。したがって、各色毎に、その色濃度の面内均一性、あるいは膜厚の面内での分布が生じることになる。
【００４９】
各色同時に点灯した場合には、これらの影響は通常見え難くなる。例えば赤の膜厚のみが局所的に変化した場合では、赤、緑、青の3色全ての同時点灯では赤の膜厚の局所的変化が輝度への及ぼす影響は、赤単色表示時の約１／３になる。したがって、全色同時点灯のみでは、輝度むら、特に色むらに関する検査感度が低下し、不良品が市場に流出する恐れが出てしまう。
【００５０】
本発明では上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離することにより、各色の個別点灯検査を可能とし、輝度むら、色むらに関する検査精度を維持したまま、プローブコストの低減、検査コストの低減、高精細品の点灯検査を実現することができる。
【００５１】
本検査方式はＦＣＡで特に有利であるが、ＴＣＰ方式でも上記のように少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離することで同様の効果を実現できる。
【００５２】
さらに本願では、少なくともカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を分離したことを別の大きな特徴とする。
【００５３】
これにより例えばカラーフィルターが3色であれば、信号側共通線は6本になる。液晶表示装置の駆動方法としてはコモン反転駆動、ドット反転駆動の2種が多く知られている。コモン反転駆動では、通常走査信号線延在方向に隣接する画素同士は基準信号電位に対し同極性であるため、上記のように信号側共通線は少なくとも3本あればよい。
【００５４】
しかしドット反転駆動では、走査信号線延在方向に隣接する画素間は、基準信号電位に対し通常逆極性として駆動される。
【００５５】
このため、ドット反転で信号側共通線が3本の場合、例えば走査線延在方向に隣接するＲＧＢＲＧＢの6つの画素を考えると、その極性は例えば＋−＋＋−＋となり、ＢとＲ間で極性の反転が実現できない。この場合でも上記の輝度むら、色むらの検出感度はほぼ維持できる。
【００５６】
しかし、点灯検査で調べるべきフリッカ、すなわち画面のちらつきを正確に検査することが困難になる。通常このフリッカは特殊パターンもしくは特殊なタイミングでのみ問題となるものであり、上記の色むら、輝度むらよりも実使用時の影響は少ないが、しかし顧客との規定以上のレベルでは不良品であることに変わりはない。
【００５７】
したがって、本願ではカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を分離、例えばカラーフィルターが3色であれば、信号側共通線を6本とすることによりＲＧＢＲＧＢの６つの画素に対しその極性を例えば＋−＋−＋−と画素間で逆極性とすることが可能となった。
【００５８】
さらに特にフリッカの検査精度は、画素間の微少な電圧差により影響を受けるため、検査時の信号波形の遅延を抑制することが必要である。したがって、信号線側共通線に検査用信号を入力する検査用パッドをチップ搭載領域、もしくは信号配線の集約領域を単位として、その数がｎの場合、各信号線毎に（ｎ−１）／２個以上設けることが望ましい。またプローブコストの増大を抑制するためには、２×（ｎ＋１）個以下であることが望ましい。
【００５９】
また映像信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数より、走査信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数が多い方が望ましい。
【００６０】
これは、検査時の映像信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数が、走査信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数以上とすることが上記構成で検査を行う上で必要であり、このため映像信号線側の入力抵抗を低減するという要請によるものである。
【００６１】
また検査用信号の入力抵抗低減は、信号線側共通線、もしくは信号線側と検査パッド間の配線、あるいは走査線側共通線、もしくは走査線側共通線と検査パッドの間のいずれかに、液晶表示装置中の最も低抵抗な配線層で形成された領域を設けることで、低抵抗化の効果を図ることができる。
【００６２】
さらに本願では、走査線側共通線を２本以上とした。１本でも全ライン同時点灯は可能である。
【００６３】
しかし、特に上記のフリッカの点灯検査に関し困難が生じる。すなわち、コモン反転駆動及びドット反転駆動のいずれにしても、実使用状態では映像信号線延在方向に隣接する２画素の極性が互いに逆転するよう駆動される。これはフリッカを抑制するためである。
【００６４】
したがって、フリッカに関し検査を行うためには、検査時にも映像信号線延在方向に隣接する２画素の極性が互いに逆転するよう駆動する必要が有る。走査側共通線が１本では、必然的に該２画素の極性は同一となってしまうため、フリッカの検査が実使用相当の状態で検査出来ないという問題がある。
【００６５】
そこで、隣接する２画素の書き込みタイミングをずらせるように少なくとも２本とすることにより、映像信号線延在方向に隣接する２画素の極性が互いに逆転するよう駆動することが出来、フリッカの検査が可能となる。
【００６６】
また、フリッカに関しては、ＴＦＴへの書き込み時の飛び込み電圧の影響も存在する。これを実使用状態により近づけるには、特に画素電極と後段の走査信号線との間に画素電極に書き込まれた電荷の保持用の容量を形成する、いわゆるＣａｄｄ方式の液晶表示装置において走査線側共通線が３本以上あることが望ましい。
【００６７】
この方式では、前段の画素のＣａｄｄが自段の走査信号線上に形成され、さらに自段の画素のＣａｄｄが後段の走査信号線上に形成されるため、自段及びその前後の画素を実使用時同様の順序で走査することにより、実使用時に準じた画素への書き込みが実現する。
【００６８】
またＣａｄｄを構成していない方式、例えばＣｓｔｇ方式などでは走査線側共通線が２本でも実使用時に準じた書き込みが可能であるが、画素間の容量結合による電位の影響に関しては、同様に走査線側共通線を３本以上にすることでより実使用状態に近づける効果を示す。
【００６９】
但し、３本の場合には、映像信号線延在方向の６つの画素ＡＢＣＤＥＦで、基準信号電位に対する各画素の極性は、例えば＋−＋＋−＋となり、例えば画素ＣとＤが同極性になるという問題がある。これを回避するには、走査線側共通線が偶数であることが望ましく、上記Ｃａｄｄ方式での課題を考慮すると、上記Ｃａｄｄ方式では４本、Ｃｓｔｇ方式では２本もしくは４本を最小数として構成することが最も効果的である。
【００７０】
本発明は上記の構成あるいは後述する実施例の構成及びその中で開示される思想に限定されるものではなく、本発明の技術思想を逸脱することなく、種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００７１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、実施例の図面を参照して詳細に説明する。以下の実施例は所謂ＴＮ型の液晶表示装置について説明するが、ＩＰＳ（横電界）方式についても、その対向電極引出線が薄膜トランジスタ基板側で引き出されている点を除いて本発明を適用する部分の基本的な構成は同じである。
また、以下の説明でも、信号線はドレイン線とも、また走査線はゲート線とも称する。
【００７２】
図１は本発明による液晶表示装置の１実施例を説明する平面図である。この液晶表示装置は、一方の基板ＳＵＢ１と他方の基板ＳＵＢ２を液晶層を介して貼り合わせてなり、一方の基板ＳＵＢ１の内面には図示しない薄膜トランジスタがマトリクス状に形成されている。他方の基板ＳＵＢ２の内面には赤、緑、青の３色のカラーフィルタと対向電極が形成されている。対向電極には一方の基板ＳＵＢ１の内面に形成した図示しない配線を介して対向電圧が供給される。
【００７３】
一方の基板ＳＵＢ１は図の左側と下側において他方の基板ＳＵＢ２の周辺からはみ出しており、左側の周辺には１１個の走査駆動ＩＣ（ゲートドライバ）ＧＤＲが、また下側の周辺には１１個の信号駆動ＩＣ（ドレインドライバ）ＤＤＲがＦＣＡ方式で搭載される（図では、その搭載位置で示してある）。
【００７４】
一方の基板ＳＵＢ１には検査パッド形成領域ＴＴＰを有している。この検査パッド形成領域ＴＴＰを配置した部分は、液晶表示装置の完成後に切断線ＣＴＬで切断除去される部分である。
【００７５】
図２は図１の検査パッド形成領域ＴＴＰを詳細に説明するための要部拡大図である。検査パッド形成領域ＴＴＰは、一方の基板ＳＵＢ１の最終製品で切断線ＣＴＬで切断される切断除去領域に形成されている。この検査パッド形成領域ＴＴＰはゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰとドレインドライバ側の検査パッドＤＬＴＰ、および対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍを等間隔で一列に配列してある。
【００７６】
ゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰは３又は４系統にまとめられ、ドレインドライバ側の検査パッドＤＬＴＰは６系統にまとめられて、対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍと共に計１０〜１１個の検査パッドで構成されている。
【００７７】
したがって、本実施例では等間隔の１０〜１１個のプローブを用いて全ての検査を一括で行うことができる。
【００７８】
なお、上記のゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰとドレインドライバ側の検査パッドＤＬＴＰとを互いに分離して配置することもでき、これらの検査パッドと適宜の位置に設けた対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍとでゲートドライバ側の検査とドレインドライバ側の検査を個別に行うように構成することも可能である。
【００７９】
このように、上記実施例では、信号線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、コンタクト精度が高くなると共にプローブの製作が容易となる。また、プローブを基準化することで多品種に対応可能な検査装置を製作できる。
【００８０】
図３は本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図であり、（ａ）はゲート線側配線、（ｂ）はドレイン線側配線を示す。図中、ＧＤＲはゲートドライバの搭載位置、ＧＴＭはゲートドライバの出力端子（ゲート線引出端子）、ＴＴＡはゲートドライバの入力端子、ＡＳＣＬは静電気抑制共通線、Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３は複数のゲートドライバのゲート線引出線の前段、次段、後段をの３系統又は、ドット毎に極性をかえるために４系統にまとめて共通に接続した３本の走査線側共通線、ＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）は各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に形成した検査パッド、ＰＢはプローブ、ＬＣＴ１とＬＣＴ２はレーザ切断線を示す。各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に形成した検査パッドＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）は図２に示した位置に配列される。
【００８１】
この配線構成において、ゲートドライバ側の（ａ）では、一方の基板ＳＵＢ１の製作を終了した後、レーザ切断線ＬＣＴ１で走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離す。走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離すことで、各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３は独立した３又は４系統の検査配線となる。
【００８２】
この状態で各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３に形成した検査パッドＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）にプローブＰＢを当てて断線検査や点灯検査を実行する。
【００８３】
検査終了後、レーザ切断線ＬＣＴ２でゲートドライバの出力端子ＧＴＭから各走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を分離し、出力端子ＧＴＭとゲートドライバの入力端子ＴＴＡの間にゲートドライバをＦＣＡ実装する。
【００８４】
同様に、ドレインドライバ側の（ｂ）では、一方の基板ＳＵＢ１の製作を終了した後、レーザ切断線ＬＣＴ１で信号線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離す。信号線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を静電気抑制共通線ＡＳＣＬから切り離すことで、各信号線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９は独立した６系統の検査配線となる。
【００８５】
この状態で各走査線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９に形成した検査パッドＤＬＴＰ（Ｂ１，Ｂ２，Ｇ１，Ｇ２，Ｒ１，Ｒ２）にプローブＰＢを当てて断線検査や点灯検査を実行する。
【００８６】
検査終了後、レーザ切断線ＬＣＴ２でドレインドライバの出力端子ＤＴＭから各走査線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を分離し、出力端子ＤＴＭとドレインドライバの入力端子ＴＴＢの間にドレインドライバをＦＣＡ実装する。
【００８７】
なお、点灯検査では図２に示した対向電極の引出線の検査パッドＶｃｏｍにプローブを当て、所定の電圧を印加しすることで薄膜トランジスタの出力電極に接続した画素電極との間に液晶の配向を制御する電界を生成して画素の点灯の有無を検査する。
【００８８】
また、上記レーザ切断線ＬＣＴ１，ＬＣＴ２は、エッチング処理で分離するエッチング切断線とすることもできる。その他の既知の切断方法を用いてもよい。
【００８９】
図４は本発明による液晶表示装置の１実施例の点灯検査でドレイン検査パッドＤＬＴＰ（Ｂ１，Ｂ２，Ｇ１，Ｇ２，Ｒ１，Ｒ２）とゲート検査パッドＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ）に印加する検査信号の一例を説明する波形図である。なお、この検査信号は、所謂ドット反転駆動方式であり、図示した電圧値パルス幅、パルス間隔等は一例である。
【００９０】
図４に示した検査信号を各検査パッドに印加することにより、所定の表示パターンの点灯で各系統毎の点灯検査を実行できる。
【００９１】
本実施例により、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することができる。
【００９２】
図５は本発明による液晶表示装置の他の実施例の要部配線を説明する模式図であり、（ａ）はゲート線側配線、（ｂ）はドレイン線側配線を示す。図中、図３と同一符号は同一機能部分に対応する。
【００９３】
本実施例では、ゲート走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３をゲートドライバの入力端子ＴＴＡではなく、切断線ＣＴＬの外側で静電気抑制共通線ＡＳＣＬに接続してある。
【００９４】
同様に、ドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９をドレインドライバの入力端子ＴＴＢではなく、切断線ＣＴＬの外側で静電気抑制共通線ＡＳＣＬに接続してある。
【００９５】
このように構成したことで、基板ＳＵＢ１の製作後に静電気抑制共通線ＡＳＣＬを切断除去する際に同時にゲート走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３およびドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９の各系統を独立させることができ、レーザ切断（あるいはエッチング切断）の工程を１工程削減できる。
【００９６】
本実施例によっても、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することができる。
【００９７】
本発明の他の実施例として、図３の（ｂ）におけるドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９を各ブロック間でばらばらにし、各ブロック間に検査パッドを設ける。これにより、検査で用いる表示パターンの種類を増やすことができる。
【００９８】
なお、上記した各実施例ではゲート側について３又は４系統に纏めて共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３としたが、ゲート側端子はドレイン側端子に比べて比較的端子幅やピッチを大きくとれるので、本発明のさらに他の実施例として、ゲート線側については従来と同様に全端子にプローブを一括して当てて検査を行うようにすることもできる。その構成は図１１の（ａ）に示したものとなる。
【００９９】
また、本発明のさらにまた他の実施例として、図３または図５に示したゲート走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３およびドレイン線側共通線Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９とゲートドライバの出力端子（ゲート線引出端子）ＧＴＭおよびドレインドライバの出力端子（ドレイン線引出端子）ＤＴＭの間にトランジスタあるいはダイオードを配置して各配線間を検査信号に対して分離するように構成した。
【０１００】
上記したそれぞれの実施例によっても、全端子プローブ一括コンタクトで各種の検査を可能とし、また検査端子のパターンを標準化することで多品種に共通なプローブを有する検査装置を使用可能とする配線引出配線構造をもった液晶表示装置を提供することができる。
【０１０１】
以上の実施例では、所謂ＦＣＡ実装方式でゲートドライバやドレインドライバを搭載した液晶表示装置についてのみ説明したが、従来からのＴＣＰを用いてドライバを搭載する方式の液晶表示装置についても本発明の検査用回路を適用することができる。
【０１０２】
次に、本発明による液晶表示装置の全体構成の一例について、その駆動システムおよび適用機器例を説明する。
【０１０３】
図６は本発明を適用した一般的なアクティブ・マトリクス型液晶表示装置の駆動システムの構成を説明するブロック図である。この液晶表示装置は、２枚の基板で液晶層を挟持した液晶パネルＰＮＬと、この液晶パネルＰＮＬの周辺にデータ線（ドレイン信号線またはドレイン線）駆動回路（ＩＣチップ）すなわち前記したドレインドライバＤＤＲ、走査線（ゲート信号線またはゲート線）駆動回路（ＩＣチップ）すなわち前記したゲートドライバＧＤＲを有し、これらドレインドライバＤＤＲとゲートドライバＧＤＲに画像表示のための表示データやクロック信号、階調電圧などを供給する表示制御手段である表示制御装置ＣＲＬ、電源回路ＰＷＵを備えている。
【０１０４】
コンピュータ、パソコンやテレビ受像回路などの外部信号ソースからの表示データ（前記の表示信号）と制御信号クロック、表示タイミング信号、同期信号は表示制御装置ＣＲＬに入力する。表示制御装置ＣＲＬには、階調基準電圧生成部、タイミングコンバータＴＣＯＮなどが備えられており、外部からの表示データを液晶パネルＰＮＬでの表示に適合した形式のデータに変換する。
【０１０５】
ゲートドライバＧＤＲとドレインドライバＤＤＲに対する表示データとクロック信号は図示したように供給される。ドレインドライバＤＤＲの前段のキャリー出力は、そのまま次段のドレインドライバのキャリー入力に与えられる。
図７は液晶パネルの各ドライバの概略構成と信号の流れを示すブロック図である。ドレインドライバＤＤＲは映像（画像）信号等の表示データ（表示信号）のデータラッチ部と出力電圧発生回路とから構成される。
また、階調基準電圧生成部ＨＴＶ、マルチプレクサＭＰＸ、コモン電圧生成部ＣＶＤ、コモンドライバＣＤＤ、レベルシフト回路ＬＳＴ、ゲートオン電圧生成部ＧＯＶ、ゲートオフ電圧生成部ＧＦＤ、およびＤＣ−ＤＣコンバータＤ／Ｄは図７の表示制御装置ＣＲＬ、電源回路ＰＷＵを搭載した基板に設けられる。
【０１０６】
図８は信号ソース（本体）から表示制御装置に入力される表示データおよび表示制御装置からドレインドライバとゲートドライバに出力される信号を示すタイミング図である。表示制御装置ＣＲＬは信号ソースからの制御信号（クロック信号、表示タイミング信号、同期信号）を受けて、ドレインドライバＤＤＲへの制御信号としてクロックＤ１（ＣＬ１）、シフトクロックＤ２（ＣＬ２）および表示データを生成し、同時にゲートドライバＧＤＲへの制御信号として、フレーム開始指示信号ＦＬＭ、クロックＧ（ＣＬ３）および表示データを生成する。
【０１０７】
なお、信号ソースからの表示データの伝送に低電圧差動信号（ＬＶＤＳ信号）を用いる方式では、当該信号ソースからのＬＶＤＳ信号を上記表示制御装置を搭載する基板（インターフェイス基板）に搭載したＬＶＤＳ受信回路で元の信号に変換してからゲートドライバＧＤＲおよびドレインドライバＤＤＲに供給する。
【０１０８】
図８から明らかなように、ドレインドライバのシフト用クロック信号Ｄ２（ＣＬ２）は本体コンピュータ等から入力されるクロック信号（ＤＣＬＫ）および表示データの周波数と同じであり、ＸＧＡ表示素子では約65ＭＨｚ（メガヘルツ）の高周波となる。このような構成の液晶表示装置は薄形、低消費電力といった特徴を有し、今後は各分野における表示デバイスとして広く採用される傾向にある。
【０１０９】
図９は本発明による液晶表示装置を実装した電子機器としてのディスプレイモニターの一例を示す外観図である。このモニターの画面すなわち表示部に実装する。このディスプレイモニターを構成する液晶表示装置は前記実施例で説明した検査回路により、その断線検査や点灯検査を実施したものであるため、信頼性が高く、高品質の画像表示を長期間にわたって得ることができる。
【０１１０】
なお、本発明による液晶表示装置は、上記のようなディスプレイモニターに限るものではなく、デスクトップパソコンのモニターやノートパソコン、テレビ受像機、その他の機器の表示デバイスにも使用できる。
【０１１１】
次に、本発明のより詳細な要部実施構成例に付き説明する。
【０１１２】
まず、走査線側共通線に関して説明する。
【０１１３】
図１２（ａ）は走査線側共通線としてＣ１、Ｃ２の2本を形成した例である。手段として述べたように、隣接する走査信号線を同一の走査線側共通線に接続しても全ライン同時点灯は可能である。しかし、フリッカの点灯検査に関し困難が生じる。
【０１１４】
そこで、図１２（ａ）のように、少なくとも２本の走査線側共通線を設けた。
【０１１５】
なお上記効果は図１２（ｂ）に示すように、走査信号線と静電気抑制共通線ＡＳＣＬがつながっていない構成でも同様の効果が有る。
【０１１６】
さらに、走査信号線は走査線側共通線Ｃ１、Ｃ２のいずれかに複数本毎につながっているため、静電気が加わった場合でも走査信号線が単独で存在する場合よりその影響を軽減できる。この場合、ＡＳＣＬの切断工程が不要となるため、工程削減による低コストが実現できる。
【０１１７】
画素の保持容量の構成としてはＣａｄｄ、Ｃｓｔｇのいずれでも良い。
【０１１８】
図１３（ａ）は走査線側共通線としてＣ１、Ｃ２、Ｃ３の３本を形成した例であり、図１３（ｂ）はそのＡＳＣＬを持たない例である。
【０１１９】
手段として述べたように、フリッカに関しては、ＴＦＴへの書き込み時の飛び込み電圧の影響も存在する。これを実使用状態により近づけるには、特に画素電極と後段の走査信号線との間に画素電極に書き込まれた電荷の保持用の容量を形成する、いわゆるＣａｄｄ方式の液晶表示装置において走査線側共通線が３本以上あることが望ましい。
【０１２０】
そこで本実施例では、前段の画素のＣａｄｄが自段の走査信号線上に形成し、さらに自段の画素のＣａｄｄを後段の走査信号線上に形成した。むろんｃＳＴＧでも良い。但し、この構成では、手段として述べたように映像信号線延在方向の６つの画素ＡＢＣＤＥＦで、基準信号電位に対する各画素の極性は、例えば＋−＋＋−＋となり、例えば画素ＣとＤが同極性になるという問題があるため、望ましくは次に示す４本、あるいは前に示した２本が良く、特にＣａｄｄ方式の容量部を有する画素構造を有する液晶表示装置では次に示す４本がより望ましい。
【０１２１】
図１４（ａ）は走査線側共通線としてＣ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ１０の４本を形成した例であり、図１４（ｂ）はそのＡＳＣＬを持たない例である。
【０１２２】
これにより上述のように映像信号線延在方向で画素間で互いに逆極性とすることができ、より実使用状態に近い検査が可能となり、検査精度が向上する。
【０１２３】
次に、信号線側共通線に関して説明する。
【０１２４】
図１５（ａ）は信号線側共通線としてＣ４、Ｃ６、Ｃ８の３本を形成した例である。
【０１２５】
前記解決手段にて説明のように、本発明は少なくともカラーフィルターの色毎に信号側共通線を分離したことを大きな特徴とし、これにより検査パッド数削減によるプローブコストの低減を図り、高精細品での検査を可能にしつつ、色を表示させての検査を実現するものである。
【０１２６】
そして検査パターンとして、カラーフィルターが赤、緑、青の3色であれば各色同時点灯での白表示はむろん、各色毎の点灯による赤、緑、青の個別検査、さらには各色の階調を制御して点灯することにより製品で表示するほぼ全ての色に関する検査が可能となる。
【０１２７】
むろん色は赤、緑、青に限るものではなく、シアン（黄緑）、マゼンダ（紫）、イエロー（黄）の３色による、いわゆる補色型のカラーフィルターを用いた液晶表示装置であっても同様である。この点に関しては、本発明及び明細書全文に関し共通である。
【０１２８】
本発明により、各色の色純度の検査が可能とり、さらに全色同時点灯のみの検査しかできない液晶表示装置に対し、表示むらの検査精度が大幅に向上した。カラーフィルターはその色毎に個別に塗布、露光、現像を行い、もしくは個別の色を含浸させることにより形成する。
【０１２９】
したがって、各色毎に、その色濃度の面内均一性、あるいは膜厚の面内での分布が生じることになる。各色同時に点灯した場合には、これらの影響は通常見え難くなる。例えば赤の膜厚のみが局所的に変化した場合では、赤、緑、青の3色全ての同時点灯では赤の膜厚の局所的変化が輝度への及ぼす影響は、赤単色表示時の約１／３になる。したがって、全色同時点灯のみでは、輝度むら、特に色むらに関する検査感度が低下するためである。
【０１３０】
図１５（ｂ）はＡＳＣＬを持たない例であるが、図１２（ｂ）の走査側共通線が一定の静電気抑制効果を奏するのと同様に、本構成でも一定の静電気抑制効果が実現し、また工数低減が実現する。
【０１３１】
図１６（ａ）は信号線側共通線としてＣ４、Ｃ５、Ｃ６、Ｃ７、Ｃ８、Ｃ９の６本を形成した例である。本構成では少なくともカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を分離したことを特徴とする。すなわち赤、緑、青の３色のカラーフィルターに対し、信号側共通線は6本になる。
【０１３２】
液晶表示装置の駆動方法としてはコモン反転駆動、ドット反転駆動の2種が多く知られている。コモン反転駆動では、通常走査信号線延在方向に隣接する画素同士は基準信号電位に対し同極性であるため、上記のように信号側共通線は少なくとも3本あればよい。
【０１３３】
しかしドット反転駆動では、走査信号線延在方向に隣接する画素間は、基準信号電位に対し通常逆極性として駆動される。このため、ドット反転で信号側共通線が3本の場合、例えば走査線延在方向に隣接するＲＧＢＲＧＢの6つの画素を考えると、その極性は例えば＋−＋＋−＋となり、ＢとＲ間で極性の反転が実現できない。
【０１３４】
このため、点灯検査でフリッカ、すなわち画面のちらつきを正確に検査することが困難になる。そこでカラーフィルターの色毎に、かつ正極用、負極用として信号側共通線を6本とすることによりＲＧＢＲＧＢの６つの画素に対しその極性を例えば＋−＋−＋−と画素間で逆極性とし、フリッカの検査精度の向上を実現した。
【０１３５】
上記走査線側共通線の構成である図１２、図１３、図１４、及び信号線側共通線の構成である図１５、図１６は組み合わせて構成することにより、その双方の効果が実現する。
【０１３６】
次に、図１２乃至図１６各図のＬＣＴ１、ＬＣＴ２の切断に関して説明する。
【０１３７】
図１７（ａ）はＴＣＰ方式の場合の一例である。基板端の内側にＡＳＣＬが形成され、走査信号線に電気的に接続されている。
【０１３８】
検査前の段階で領域ＬＣＴ１にてＡＳＣＬと各走査信号線を分離する。これは、各色毎の検査を行うためである。ＡＳＣＬに繋がったままでは走査線側信号線経由で各走査信号線が繋がっているため、単色の検査ができないからである。
【０１３９】
分離は、レーザー光線で行う手法、エッチングにより行う手法、さらには基板を概領域で切断する手法のいずれでも良い。レーザー光線で行う手法では位置精度が最も高いため、走査側信号線とＡＳＣＬの距離を近づけることが可能であり、その分マザーガラス基板の面積を有効活用でき、同一基板からより大型の製品を実現できるという利点を有する。
【０１４０】
エッチングによる手法では、多数の基板を同時にエッチング液に入れての一括処理が可能である。この場合、分離すべき領域で、予め分離する層を露出させておく構造が必要であり、かつその部分では導電層は１層であることが望ましい。
【０１４１】
例えば端子部をＩＴＯのような透明導電材料単層、もしくはそれにより被覆して形成し、エッチング部を金属で形成し、かつ両者のエッチング液が異なる構成であれば端子部が誤って除去されるが如き弊害も防止できる。しかし、レーザー光線による手法よりは、大きい領域が必要となる。
【０１４２】
基板自体の切断により行う手法では、通常スクライブ用の刃、もしくはレーザー光線で溝を形成し、その後圧力を加え概領域で基板を分断する手法がとられる。この場合、物理的に完全に分離されるため、分離不十分となる危険性は最小にできる。
【０１４３】
しかし、切断時に本来切断してはならない領域、例えば走査線側共通線まで切断されてしまう場合も生じうる。いずれの手法を用いるかは主に製造ラインの構成による。しかし収益最大の観点からは１枚のマザーガラスから取得できる製品の数、あるいはサイズを最大にするのが最も有効であり、この目的にはレーザー切断による手法を用いることが合致する。
【０１４４】
またＡＳＣＬと走査信号線が予め分離されている構成では該工程は不要であるが、走査線側共通線により一定の静電気抑制効果があるとはいえ、完全を期すにはＡＳＣＬがある方が望ましい。
【０１４５】
分離後、走査線側共通線に接続されて設けられた走査線側検査端子ＧＬＴＰに検査プローブＰＢを接触させ、検査用信号を入力し、検査を行う。この検査にて不良と判定されたものは、例えばレーザー光線による修正等で良品にし得るものに関しては修正工程に回り、その後再度検査を行い、欠陥が修正されていればその液晶表示素子は良品として扱うことができるため不良率が低減できる。
【０１４６】
ここで本発明は単色の検査に対応していることが大きな意味を持つ。すなわち、隣接する２画素の連続点欠陥等に関しては、全色同時点灯しかできない場合、検出できない場合があるからである。例えば、赤の画素と隣接する緑の画素が短絡していた場合、全色同時点灯では異常なしと判定される。
【０１４７】
一方単色検査では、赤を点灯した場合に赤の画素のみならず隣接する緑の画素も同時に点灯し、輝点欠陥として不良として判定される。
【０１４８】
この工程で不良として判定出来れば、例えば赤と緑の画素間の短絡個所をレーザー光線で切断することにより欠陥が修正され、良品にすることができる。しかし全色同時点灯検査しか出来ない場合は、この欠陥はその後駆動回路と接続されるまで検出されない。
【０１４９】
この段階で修正するには、偏光板添付後であれば偏光板を一度はがす必要が有り、またさその必要が無い場合でも修正装置への搬送過程、修正作業などで駆動回路が破壊される危険が生じ、いずれの場合でも修正に要するコストは増大する。あるいは、修正過程でギャップ不良など他の不良を誘発し、修正に失敗する率が増大する。したがって、セルの段階で単色の検査に対応していることが歩留まり、コストの両面で大きな意義を持つのである。
【０１５０】
検査により良品と判定された基板は、次に走査線側共通線Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３とＴＣＰの接続用パッドＴＣＰＤ間をＬＣＴ２で分離する。この分離は、基板自体の物理的切断により行う。したがって、ＬＣＴ２がこの辺の製品の状態での基板の一端となる。その後、図１７（ｂ）に示すように、ＴＣＰを実装し、外部駆動回路と走査信号線を接続する。
【０１５１】
以上は走査信号線側に関する説明であるが、映像信号線側に関しては図１７（ａ）に相当する図を図１８（ａ）に、図１７（ｂ）に相当する図を図１８（ｂ）に示す。基本的な工程及び思想は同様である。
【０１５２】
また図１７（ｂ）あるいは図１８（ｂ）を見れば判明するが、ＴＣＰ方式では液晶表示装置が完成した状態では、本発明で開示の手法あるいは思想による検査を行う構成が、適用している場合でも残留しないように構成することが可能である。
【０１５３】
しかし本発明は、上記手法による液晶表示装置、あるいは上記手法による液晶表示装置の製造方法を開示するものであり、製品に構成として残留せずとも本発明開示の手法もしくは思想を適用し製造されたＴＣＰ方式の液晶表示装置も本願の対象とするものである。
【０１５４】
また図１７、図１８ではＴＣＰ方式を例として説明したが、ＦＣＡ方式の場合の違いはＬＣＴ１あるいはＬＣＴ２での分離に基板の物理的切断の代わりにレーザー光線、あるいはエッチングのいずれかを用いる点を除けばほぼ同じである。但し、ＦＣＡ方式の場合は例えば図３に示されるように、液晶表示装置が完成した段階でも基板の一部に少なくとも共通線の一部が残留する為、本発明で開示の手法もしくは思想を適用し製造されたか否かの判定が相対的に容易であるという違いが有る。
【０１５５】
次に、検査パッドの配置方法をＦＣＡの走査信号線引き出し側で共通線が３本の場合を例に説明する。ＴＣＰの場合でも基本的概念は同様である。また共通線の本数が異なっても同様の概念が適用できる。
【０１５６】
図１９（ａ）は１つのチップＧＤＲ、もしくはＴＣＰの場合であれば端子が集約された１領域に対し、ゲートドライバ側の検査パッドＧＬＴＰを片側に設けた例であり、プローブＰＢの製作が容易である。
【０１５７】
次に、図１９（ｂ）は交互に設けた例であり、１個毎の検査パッドＧＬＴＰを大きく構成することが可能となり、プローブＰＢの位置合わせが容易となり検査時間が短縮できる。
【０１５８】
図１９（ｃ）は走査線側共通線の引き出し領域とは別の領域に検査パッドＰＢを設けた例であり、配置、サイズ両面で設計の自由度が増す。
【０１５９】
図１９（ｄ）は両側に設けた例であり、走査線への走査線側共通線から供給される検査用信号の波形鈍りを抑制でき、より実際の駆動状態に近い検査が実現する。
【０１６０】
映像信号線引き出し側でも走査信号線引き出し側の場合とその思想は同様である。信号線側共通線が６本の場合の１例を、図２０に示す。図２０（ａ）片側に検査パッドＰＢを構成した例である。図２０（ｂ）は両側に交互に引き出した例である。
【０１６１】
ＰＢの数が多い分図１９の場合よりＰＢのサイズを拡大することによる位置合わせ精度へのメリットは大きい。図２０（ｃ）は正極、負極単位でＰＢを構成した例である。図２０（ｄ）は両側に構成した例である。
【０１６２】
次にＦＣＡの場合であれば複数のチップ搭載領域、またＴＣＰの場合であれば端子が集約された１領域の複数に渡る領域でのＰＢの配置の例を、ＦＣＡでの走査線側領域を例にそのいくつかの例を説明する。むろん共通線の数が異なる場合、及びドレイン側にも同様の思想が適用できるこというまでもなく、それらの一例としての説明である。
【０１６３】
図２１（ａ）は、各走査駆動ＩＣ搭載領域ＧＤＲの両側にゲートドライバ側検査パッドＧＬＴＰを配置した例である。この場合、給電抵抗を最小とすることが出来、より実際の駆動に近い状態での検査が実現できる。
【０１６４】
図２１（ｂ）は、複数のＧＤＲ単位でＧＬＴＰを設けた例である。この場合、プローブの数が減らせるため、プローブの製作コストが低減できる。
【０１６５】
図２１（ｃ）は複数のＧＤＲ間で、複数の信号線側共通線に対し、交互にＧＬＴＰを設けた例である。この場合、プローブコストの低減と１個あたりのＧＬＴＰの面積の増大が可能である。
【０１６６】
図２１（ｄ）はＧＬＴＰを信号線側共通線形成領域から外れた領域に形成したものである。これにより、設計の自由度が増大すると共に、プローブの位置決めが容易となる。またこの構成では端子ピッチの違う多品種間で、基板上の一端面に対し同一のピッチとなるようＧＬＴＰを配置することで品種間でのプローブの兼用が可能となり、検査装置の台数低減、プローブコストの低減が合わせて実現する。
【０１６７】
図２１（ｅ）は一端のＧＤＲの信号線側共通線からＧＬＴＰへの引き回しを変更したものである。図２１（ｄ）の構成では、一番端の一個のみ、ＧＬＴＰ内の端子の配置が他の部分と逆転してしまう。図２１（ｅ）の構成によりこれが防止でき、特に多品種対応のプローブ実現の上で、効果的である。
【０１６８】
もしくは、図２１（ｄ）でその他の部分と逆転する部分のＧＬＴＰそのものを除去した場合が図２１（ｆ）であり、図２１（ｅ）と同様の効果が実現し、またプローブ数も低減できるが、該ＧＤＲのみ片側からの信号給電となるため、該ＧＤＲに関する画素領域の検査精度が他の領域に比べ相対的に、特にフリッカに関して低下するという課題がある。
【０１６９】
次に、ドレインを例とし、更なる例と思想を示す。
【０１７０】
図２２（ａ）は信号駆動ＩＣ搭載領域ＤＤＲに対するドレインドライバ側検査パッドの例を示すものである。ＤＤＲ間でＤＬＴＰが互いにずれるように配置している。
【０１７１】
これにより、１個あたりの検査パッドＤＬＴＰの面積の拡大が可能となり、ＰＢの位置合わせが容易となる。
【０１７２】
図２２（ｂ）端面のＤＬＴＰも同様の配置としたものである。この場合、同じ構成のプローブを複数個構成することによりプローブユニットが構成できるため、プローブの制作費が低減できる。
【０１７３】
図２２（ｃ）は図２２（ｂ）の構成に、信号線側共通線毎に交互にＤＬＴＰを構成する思想を追加したものであり、さらに１個当たりのＤＬＴＰが拡大できる。特にドレイン側は、ゲート側に比べ本数が多く、かつその増加量が液晶表示装置のアスペクト比の増加量より多いため、ゲート側に比べチップ間の間隔が狭くなる。
【０１７４】
したがって、ＤＬＴＰを形成する十分な領域を確保すること自体が困難な場合が有り、そのような場合でも図２２（Ｃ）の構成によりＤＬＴＰの配置を可能とすることとができる。図２２（ｄ）は、図２１（ｄ）と同様の思想によるものであり、ＤＬＴＰを走査線側線側共通線形成領域から外れた領域に形成したものである。
【０１７５】
図２１（ｆ）と同様の思想により端面のＤＬＴＰを除去した構成が図２２（ｅ）である。 図２２（ｆ）は図２１（ｅ）と同様の思想によるものである。
【０１７６】
前記解決手段にて説明したように、フリッカの検査精度は、画素間の微少な電圧差により影響を受けるため、検査時の信号波形の遅延を抑制することが必要である。
【０１７７】
したがって、信号線側共通線に検査用信号を入力する検査用パッドをチップ搭載領域、もしくは信号配線の集約領域を単位として、その数がｎの場合、各信号線毎に（ｎ−１）／２個以上設けることが望ましい。またプローブコストの増大を抑制するためには、２×（ｎ＋１）個以下であることが望ましい。上述の各種の例はこの思想も合わせて開示したものである。
【０１７８】
また映像信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数より、走査信号線へ検査信号を入力する検査信号端子数が多い方が望ましい。これは、検査時の映像信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数が、走査信号線へ印加する必要のある検査信号の入力周波数以上とすることが上記構成で検査を行う上で必要であり、このため映像信号線側の入力抵抗を低減するという要請によるものである。
【０１７９】
また検査用信号の入力抵抗低減は、信号線側共通線、もしくは信号線側と検査パッド間の配線、あるいは走査線側共通線、もしくは走査線側共通線と検査パッドの間のいずれかに、液晶表示装置中の最も低抵抗な配線層で形成された領域を設けることで、低抵抗化の効果を図ることができる。
【０１８０】
次に、検査パッド数をさらに低減する例を説明する。 ゲート側を例に説明するが、ドレイン側でも同様の思想は適用でき、またＴＣＰでも同様の思想が適用できる。これらの代表として、ＦＣＡのゲート側を例緒として説明する。
【０１８１】
図２３は信号線側共通線から引き出された配線により、別の共通線に各々の引き出された配線が接続され、その少なくとも一端にＧＬＴＰを構成した例である。これにより、ＧＬＴＰの数を、ゲート側であれば走査線側共通線の数に、またドレイン側であれば信号線側共通線の数に至るまで低減することが可能となる。
【０１８２】
したがって、プローブコストが大幅に低減できるのみならず、その位置合わせが容易となるため検査時間の削減も可能となる。
【０１８３】
しかし本構成ではＧＬＴＰを多数設ける場合に比べ、配線抵抗の影響による波形遅延の悪化は不可避である。その影響を抑制する上で、該別の共通線は液晶表示装置の中で最も低抵抗な材料層、あるいは同一の材料であっても線幅を広くすることにより画素内の配線より低抵抗化した層を、少なくともその一部に有して構成することが望ましい。
【０１８４】
次に、ＬＣＴ１の切断をより効率的に行う手法、特にレーザー切断にて行う場合に効率的に行える構成の思想をその１例と共に示す。
【０１８５】
図２４（ａ）は、図２１（ｆ）がＬＣＴ１で切断される前、ずなわちＡＳＣＬに繋がっている状態である。レーザー光線による分離は、通常レーザー光線の光学系を固定し、基板を移動することにより行われる。これはレーザー光線に関わる光学系は精密であるため、これを頻繁に移動させた場合光学系にずれが生じ、レーザー光線の光軸がずれ、所定の領域外を分断してしまう危険があるためである。
【０１８６】
またその際の修理にも精密であるがゆえに時間を要すため、レーザー光線は固定し、代わりに基板側を移動するのである。この際、切断すべき領域と切断してはならない領域との間に、より余裕が有るほど分断に要する時間は短く出来る。なぜなら、移動は機械的機構により行われるため、素早く基板を移動させる場合にはそれだけ移動によるずれも拡大しやすいからである。
【０１８７】
そこで、ＬＣＴ１領域をチップ領域外に形成することにより該余裕の領域を拡大できるため、その分レーザー光線による分断に要する時間を低減でき、スループット改善、歩留まり改善、コスト低減が図れる。さらに、切断領域を一直線上に形成することにより、より高速化が実現する。
【０１８８】
図２４（ｂ）は図２３のようにＧＬＴＰ数を低減し、その先にＬＣＴ１を設けた例である。切断すべき領域の長さが低減できるため、大幅に時間短縮が可能である。図２４（ｃ）は図２４（ｂ）のＧＬＴＰ位置の別例である。
【０１８９】
さらに図２４（ｄ）は図２３の思想を走査線側、ゲート線側の双方に適用し、さらにＧＬＴＰとＤＬＴＰを集中配置した例である。これによりさらに時間短縮が可能である。特に基板の一端に集中させて構成した場合には、基板全体としても１次元の切断のみＬＣＴ１が分離できるため、レーザー切断のための基板の位置合わせが１回で済み、さらに時間低減が可能となる。
【０１９０】
また、このように検査パッドを一辺に集中する構成は、図２に示すように多品種共用のプローブ作成が容易に実現できる、プローブの位置合わせが容易であるなど多くの利点を有する。
【０１９１】
次に、検査時の信号波形に関する思想を例と共に示す。図２５はドレイン側の信号線側共通線がＲＧＢ各色１本、走査線側共通線が２本である場合の例である。ドット反転駆動を例に説明する。
【０１９２】
図２５（ａ）は駆動波形の概念、図２５（ｂ）及び図２５（ｃ）はこのときの第１フレーム、第２フレームでのＲＧＢ及び第１、第２の走査線で構成される６画素分の画素の基準電位Ｖｃｏｍに対する極性を示すものである。
【０１９３】
図２５（ｂ）及び（ｃ）を比較すると明らかなように、本構成では常に画素に同極性の電位が加わり、液晶が劣化してしまう。
【０１９４】
これを対策する検査用の波形が図２６に示すものである。図２６（ａ）に示すように映像信号線に入力する信号の周波数を図２５（ａ）の場合の１／２とする。これにより、図２６（ｂ）、図２６（ｃ）に示すように第１フレーム、第２フレームで画素の極性が反転でき、液晶に直流が乗ることを防止出来る。
【０１９５】
図２７はドレイン側の信号線側共通線としてＲＧＢ毎に正極、負極の２本形成し、合計６本とした場合である。
【０１９６】
本構成では図２７（ｂ）、図２７（ｃ）に示す第１フレーム、第２フレームでの画素の電位はフレーム毎に互いに反転し、かつ隣接する画素間でも常に反転した、通常のドット反転駆動の状態が実現できる。これにより、実際の使用状態に近い高精度にてフリッカの検査が実現できる。
【０１９７】
図２８はコモン反転の場合の一例である。
【０１９８】
この場合は、信号線側共通線がＲＧＢ各１本、走査線側共通線が２本有れば、図２８（ｂ）、図２８（ｃ）にそれぞれ第１フレーム、第２フレームを示すように、ライン反転駆動が実現する。したがって、コモン反転の場合には信号線側共通線が３本、走査線側共通線が２本有れば実際の使用状態に近い高精度にてフリッカの検査が実現できる。
【０１９９】
図２９は図２７の構成で走査線側共通線が３本の場合の例である。
【０２００】
この場合、Ｃａｄｄに関する説明として前述のように、前段、自段、後段の３ラインで駆動できるため、ＴＦＴでの飛び込み電圧の影響をより製品に近い状態として検査が可能である。しかし、ＧＡとＧＣで極性が同じとなるため、完全なドット反転とはならないという欠点がある。
【０２０１】
図３０は、図２５の弊害である画素への直流印加を防止する手法の別方式であり、図２６と同様の効果となる。なお本項の効果はＲＧＢ各１本で奏することが出来る、さらにＲＧＢ毎に正極用、負極用の２本を設ければフリッカ対策も同時に実現する。
【０２０２】
本構成では図３０（ａ）に示すように映像信号線の周波数を図２５（ａ）の場合より早く構成し、第１フレームと第２フレームに逆極性の信号が加わるようなタイミングでＧＡ，ＧＢをｈｉｇｈにして画素に電圧を書き込むことにより、図３０（ｂ）、（ｃ）にそれぞれ第１フレーム、第２フレームを示すように、直流の重畳を防止したものである。
【０２０３】
図３１はドット反転駆動用として検査精度、プローブコスト、額縁領域縮小など総合的に勘案して最も望ましいと考える検査波形であり、ドレイン側の信号線側共通線はＲＧＢ各色毎に正極用、負極用で２本、合計６本として構成した。
【０２０４】
また、ゲート側の走査線側共通線は４本で構成し、前段、自段、後段の関係を常に維持できると共にフリッカの抑制も実現する。駆動波形を図３１（ａ）に示す。
【０２０５】
これにより第１フレーム及び第２フレームの画素の極性はそれぞれ図３１（ｂ）、及び図３１（ｃ）に示すようになり、隣接画素間で極性が反転したドット反転駆動が実現できる。むろん、コモン反転に用いても問題ない。
【０２０６】
このような波形による検査が実現できる共通線を有する液晶表示装置、あるいは検査手法により、ドット反転駆動において検査パッドを低減し高精細に対応しつつ、かつ十分な検査を実現することができる。
【０２０７】
またプローブを本構成に対応した形として形成することにより、ドット反転のみならずコモン反転にも適用でき、汎用性の高い検査装置とすることが出来る。
【０２０８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ドレインドライバやゲートドライバを接続する液晶表示装置の信号線引出線に接続する検査パッドの幅、長さ、ピッチを大きくとることが可能であるため、高精彩表示の上記ドライバを用いた場合でも、その断線検査や点灯検査のためのプローブの製作が容易となり。また、プローブと検査パッドのコンタクトを正確にとれるため、検査精度が向上し、信頼性の高い液晶表示装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による液晶表示装置の１実施例を説明する平面図である。
【図２】図１の検査パッド形成領域ＴＴＰを詳細に説明するための要部拡大図である。
【図３】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図４】本発明による液晶表示装置の１実施例の点灯検査でドレイン検査パッドとゲート検査パッドに印加する検査信号の一例を説明する波形図である。
【図５】本発明による液晶表示装置の他の実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図６】本発明を適用した一般的なアクティブ・マトリクス型液晶表示装置の駆動システムの構成を説明するブロック図である。
【図７】液晶パネルの各ドライバの概略構成と信号の流れを示すブロック図である。
【図８】信号ソース（本体）から表示制御装置に入力される表示データおよび表示制御装置からドレインドライバとゲートドライバに出力される信号を示すタイミング図である。
【図９】本発明による液晶表示装置を実装した電子機器としてのディスプレイモニターの一例を示す外観図である。
【図１０】ＦＣＡ実装方式の液晶表示装置の要部を説明する斜視図である。
【図１１】従来の液晶表示装置における検査端子の配置説明図である。
【図１２】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１３】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１４】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１５】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１６】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１７】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１８】本発明による液晶表示装置の１実施例の要部配線を説明する模式図である。
【図１９】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２０】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２１】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２２】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２３】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２４】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査パッド配置を説明する模式図である。
【図２５】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２６】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２７】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２８】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図２９】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図３０】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【図３１】本発明による液晶表示装置の１実施例の検査用信号を説明する模式図である。
【符号の説明】
ＳＵＢ１ 一方の基板
ＳＵＢ２ 他方の基板
ＧＤＲ 走査駆動ＩＣ（ゲートドライバ）およびその搭載位置
ＤＤＲ 信号駆動ＩＣ（ドレインドライバ）およびその搭載位置
ＴＴＰ 検査パッド形成領域
ＣＴＬ 切断線
ＧＬＴＰ ゲートドライバ側の検査パッド
ＤＬＴＰ ドレインドライバ側の検査パッド
Ｖｃｏｍ 対向電極の引出線の検査パッド
ＰＢ プローブ
ＧＴＭ ゲートドライバの出力端子（ゲート線引出端子）
ＤＴＭ ドレインドライバの出力端子
ＴＴＡ ゲートドライバの入力端子
ＴＴＢ ドレインドライバの入力端子
ＡＳＣＬ 静電気抑制共通線
Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３、Ｃ１０ 走査線側共通線
ＧＬＴＰ（ＧＡ，ＧＢ，ＧＣ、ＧＤ） 走査線側共通線Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３、Ｃ１０に形成した検査パッド
ＬＣＴ１，ＬＣＴ２ 切断線
Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９ 信号線側共通線。
Claims (27)
- マトリクス状に配置した薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタで駆動される画素電極と、前記薄膜トランジスタに画素形成のための電圧信号を供給する走査線および信号線を有する一方の基板と、
赤色、緑色、青色３色のカラーフィルタを備えた他方の基板と、
前記一方の基板と前記他方の基板の貼り合わせ間隙に液晶層を挟持し、
上記一方の基板の一周辺に配置した走査線引出端子と、他周辺に配置した信号線引出端子とを有し、
上記液晶パネルの上記走査線引出端子および信号線引出端子のそれぞれに出力端子を接続して上記一方の基板上に走査線駆動ＩＣおよび信号線駆動ＩＣを直接搭載する走査線駆動ＩＣ搭載領域および信号線駆動ＩＣ搭載領域を有し、
上記走査線引出端子と信号線引出端子を共通に接続する静電気抑制共通線を切断除去領域に有する液晶表示装置であって、
上記静電気抑制共通線に接続する上記信号線引出端子の上記信号線駆動ＩＣ搭載領域で、上記信号線引出端子を赤色の正極、赤色の負極、緑色の正極、緑色の負極、青色の正極、青色の負極の６系統にまとめて接続した６本の信号線側共通線を備え、
上記信号線駆動ＩＣ搭載領域を外れた上記一方の基板上に、上記６本の信号線側共通線に接続する検査用パッドを具備したことを特徴とする液晶表示装置。 - 前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置したことを特徴とする請求項１記載の液晶表示装置。
- マトリクス状に配置した薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタで駆動される画素電極と、前記薄膜トランジスタに画素形成のための電圧信号を供給する走査線および信号線を有する一方の基板と、
赤色、緑色、青色３色のカラーフィルタを備えた他方の基板と、
前記一方の基板と前記他方の基板の貼り合わせ間隙に液晶層を挟持し、
上記一方の基板の一周辺に走査線引出端子と、他周辺に信号線引出端子とを有し、
上記液晶パネルの上記走査線引出端子および信号線引出端子のそれぞれに出力端子を接続して上記一方の基板上に走査線駆動ＩＣおよび信号線駆動ＩＣを直接搭載する走査線駆動ＩＣ搭載領域および信号線駆動ＩＣ搭載領域を有し、
上記走査線引出端子と信号線引出端子を共通に接続する静電気抑制共通線を基板切断除去領域に有する液晶表示装置であって、
上記静電気抑制共通線に接続する上記走査線引出端子の上記走査線駆動ＩＣ搭載領域で、上記走査信号線引出端子を前段、次段および後段の３系統または、ドット毎に極性をかえるために４系統にまとめて接続した３または４本の走査線側共通線を備え、
上記静電気抑制共通線に接続する上記信号線引出端子の上記信号線駆動ＩＣ搭載領域で、上記信号線引出端子を赤色の正極、赤色の負極、緑色の正極、緑色の負極、青色の正極、青色の負極の６系統にまとめて接続した６本の信号線側共通線を備え、
上記走査線駆動ＩＣ搭載領域と上記信号線駆動ＩＣ搭載領域を外れた上記一方も基板上に、上記３〜４本の走査線側共通線と上記６本の信号線側共通線のそれぞれに検査用パッドを具備したことを特徴とする液晶表示装置。 - 前記３〜４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置したことを特徴とする請求項３記載の液晶表示装置。
- 前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドを前記一方の基板の切断除去領域に等間隔で配置したことを特徴とする請求項３記載の液晶表示装置。
- 前記他方の基板に対向電極を有し、前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置すると共に上記対向電極の引出線に接続する前記検査用パッドを上記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドと共に配置したことを特徴とする請求項３記載の液晶表示装置。
- 前記一方の基板に対向電極を有し、前記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドを前記一方の基板の切断除去領域に配置すると共に上記対向電極の引出線に接続する前記検査用パッドを上記３又は４本の走査線側共通線と前記６本の信号線側共通線の前記検査用パッドと共に配置したことを特徴とする請求項３記載の液晶表示装置。
- 対向配置された一対の基板間に液晶材料層を有し、
前記基板のうちの一方の基板もしくは他方の基板に第１の色、第２の色、第３の色の３つの色のカラーフィルタを有し、
前記基板のうちの一方の基板に、マトリクス状に配置された複数の映像信号線と複数の走査信号線を有し、前記複数の映像信号線の内の隣接する２本と、前記複数の走査信号線の内の隣接する２本とが交差して形成された画素領域を複数有し、
各画素領域には少なくとも１つの薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタにより前記映像信号線から前記第１、第２あるいは第３の色のいずれかの色の表示を制御する電圧が入力される画素電極を有し、前記映像信号線は前記一方の基板の前記液晶層外に延在された領域に一体もしくは離間して映像信号線引出端子を該基板の少なくとも一周辺に有する液晶表示装置において、
少なくとも前記一方の基板上に第１の信号線共通線、第２の信号線共通線、第３の信号線共通線、第４の信号線共通線、第５の信号線共通線、第６の信号線共通線を備え、
第１の信号線共通線は前記第１の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する一方に一体もしくは離間して設けられた前記映像信号線引出端子に接続され、
第２の信号線共通線は前記第２の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する一方に一体もしくは離間して設けられた前記映像信号線引出端子に接続され、
第３の信号線共通線は前記第３の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する一方に一体もしくは離間して設けられた前記映像信号線引出端子に接続され、
第４の信号線共通線は前記第１の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する他方に一体もしくは離間して設けられた前記映像信号線引出端子に接続され、第５の信号線共通線は前記第２の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する他方に一体もしくは離間して設けられた前記映像信号線引出端子に接続され、
第６の信号線共通線は前記第３の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する他方に一体もしくは離間して設けられた前記映像信号線引出端子に接続された構成を有することを特徴とする液晶表示装置。 - 対向配置された一対の基板間に液晶材料層を有し、
前記基板のうちの一方の基板もしくは他方の基板に第１の色、第２の色、第３の色の３つの色のカラーフィルタを有し、
前記基板のうちの一方の基板に、マトリクス状に配置された複数の映像信号線と複数の走査信号線を有し、前記複数の映像信号線の内の隣接する２本と、前記複数の走査信号線の内の隣接する２本とが交差して形成された画素領域を複数有し、
各画素領域には少なくとも１つの薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタにより前記映像信号線から前記第１、第２あるいは第３の色のいずれかの色の表示を制御する電圧が入力される画素電極を有し、
前記走査信号線は前記一方の基板の前記液晶層外に延在された領域に一体もしくは離間して走査信号線引出端子を該基板の少なくとも一周辺に有する液晶表示装置において、
少なくとも前記一方の基板上に２本、３本、もしくは４本の信号線共通線を備え、
前記信号線共通線は前記走査信号線に一体もしくは離間して設けられた前記走査信号線引出端子のいずれかに接続され、かつ隣接する信号線共通線は互いに隣接する走査信号線の内の異なった走査信号線引出端子に接続されていることを特徴とする液晶表示装置。 - 前記一方の基板上に前記映像信号線もしくは前記走査信号線の少なくとも一方の信号線駆動用ＩＣが搭載され、前記駆動用ＩＣが搭載される領域内で、前記信号線共通線と前記映像信号線引出端子もしくは前記走査信号線引出端子とが接続されていることを特徴とする、請求項８又は９に記載の液晶表示装置。
- 前記信号線共通線が、前記駆動用ＩＣが搭載される領域外の領域に検査用パッドを有することを特徴とする、請求項８乃至１０の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記信号線共通線の一端が前記一方の基板の端面近傍まで延在していることを特徴とする、請求項８乃至１０の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記検査用パッドが設けられた領域を複数有し、かつ少なくとも２つの検査用パッドが設けられた領域同士で、検査用パッドの配置が等しいことを特徴とする、請求項１２記載の液晶表示装置。
- 前記検査用パッドが設けられた領域がほぼ等間隔で配置されていることを特徴とする、請求項１１に記載の液晶表示装置。
- 前記映像信号線もしくは前記走査信号線と、前記映像信号線引出端子もしくは前記走査信号線引出端子が離間され、かつ該離間がレーザーもしくはエッチングにより該映像信号線もしくは走査信号線を切断することにより為されていることを特徴とする、請求項８乃至１４の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記第１の色、第２の色、第３の色がそれぞれ赤、緑、青であることを特徴とする、請求項８乃至１４の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記第１の色、第２の色、第３の色がそれぞれ青緑、紫、黄であることを特徴とする、請求項８乃至１５の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 基準電極及び基準信号引出配線を前記一方の基板上に有することを特徴とする請求項８乃至１７の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 基準電極及び基準信号引出配線を前記一方の基板上に有し、前記基準信号引出配線と接続されたパッドが前記検査用パッドの近傍に配置されていることを特徴とする、請求項１１乃至１５の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 基準電極を前記他方の基板上に有し、基準信号引出配線を前記一方の基板上に有することを特徴とする請求項８乃至１７の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 基準電極を前記他方の基板上に有し、基準信号引出配線を前記一方の基板上に有し、前記基準信号引出配線と接続されたパッドが前記検査用パッドの近傍に配置されていることを特徴とする、請求項１１乃至１５の何れか一項に記載の液晶表示装置。
- 対向配置された一対の基板間に液晶材料層を有し、
前記基板のうちの一方の基板もしくは他方の基板に第１の色、第２の色、第３の色の３つの色のカラーフィルタを有し、
前記基板のうちの一方の基板に、マトリクス状に配置された複数の映像信号線と複数の走査信号線を有し、前記複数の映像信号線の内の隣接する２本と、前記複数の走査信号線の内の隣接する２本とが交差して形成された画素領域を複数有し、
各画素領域には少なくとも１つの薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタにより前記映像信号線から前記第１、第２あるいは第３の色のいずれかの色の表示を制御する電圧が入力される画素電極を有し、前記映像信号線は前記一方の基板の前記液晶層外に外部駆動回路との接続用端子領域を有する液晶表示装置において、
少なくとも前記一方の基板上の前記接続用端子領域以遠に第１の信号線共通線、第２の信号線共通線、第3の信号線共通線を形成し、
前記第１の信号線共通線は前記第１の色の表示に関する映像信号線と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第２の信号線共通線は前記第２の色の表示に関する映像信号線と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第３の信号線共通線は前記第３の色の表示に関する映像信号線と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第１、第２、第３の信号線共通線は検査用パッドにそれぞれ接続し、
該パッドに検査用信号を入力することにより液晶表示装置の点灯検査を行った後、前記信号線共通線が形成された領域を切断除去し形成されたことを特徴とする液晶表示装置。 - 対向配置された一対の基板間に液晶材料層を有し、
前記基板のうちの一方の基板もしくは他方の基板に第１の色、第２の色、第３の色の３つの色のカラーフィルタを有し、
前記基板のうちの一方の基板に、マトリクス状に配置された複数の映像信号線と複数の走査信号線を有し、前記複数の映像信号線の内の隣接する２本と、前記複数の走査信号線の内の隣接する２本とが交差して形成された画素領域を複数有し、
各画素領域には少なくとも１つの薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタにより前記映像信号線から前記第１、第２あるいは第３の色のいずれかの色の表示を制御する電圧が入力される画素電極を有し、前記映像信号線は前記一方の基板の前記液晶層外に外部駆動回路との接続用端子領域を有する液晶表示装置において、
少なくとも前記一方の基板上に第１の信号線共通線、第２の信号線共通線、第３の信号線共通線、第４の信号線共通線、第５の信号線共通線、第６の信号線共通線を備え、
前記第１の信号線共通線は前記第１の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する一方と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第２の信号線共通線は前記第２の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する一方と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第３の信号線共通線は前記第３の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する一方と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第４の信号線共通線は前記第１の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する他方と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第５の信号線共通線は前記第２の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する他方と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第６の信号線共通線は前記第３の色の表示に関する映像信号線の内の隣接する他方と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第１、第２、第３、第４、第５、第６の信号線共通線は検査用パッドにそれぞれ接続し、
該パッドに検査用信号を入力することにより液晶表示装置の点灯検査を行った後、前記信号線共通線が形成された領域を切断除去し形成されたことを特徴とする液晶表示装置。 - 前記外部駆動回路がＴＣＰ上に実装されたドライバＩＣであることを特徴とする、請求項２２又は２３に記載の液晶表示装置。
- 対向配置された一対の基板間に液晶材料層を有し、
前記基板のうちの一方の基板もしくは他方の基板に第１の色、第２の色、第３の色の３つの色のカラーフィルタを有し、
前記基板のうちの一方の基板に、マトリクス状に配置された複数の映像信号線と複数の走査信号線を有し、前記複数の映像信号線の内の隣接する２本と、前記複数の走査信号線の内の隣接する２本とが交差して形成された画素領域を複数有し、
各画素領域には少なくとも１つの薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタにより前記映像信号線から前記第１、第２あるいは第３の色のいずれかの色の表示を制御する電圧が入力される画素電極を有し、前記映像信号線は前記一方の基板の前記液晶層外に外部駆動回路との接続用端子領域を有する液晶表示装置の製造方法において、
少なくとも前記一方の基板上の前記接続用端子領域以遠に第１の信号線共通線、第２の信号線共通線、第３の信号線共通線を形成し、
前記第１の信号線共通線は前記第１の色の表示に関する映像信号線と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第２の信号線共通線は前記第２の色の表示に関する映像信号線と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第３の信号線共通線は前記第３の色の表示に関する映像信号線と、前記接続用端子領域以遠で接続し、
前記第１、第２、第３の信号線共通線は検査用パッドにそれぞれ接続し、
該パッドに検査用信号を入力することにより液晶表示装置の点灯検査を行った後、前記信号線共通線が形成された領域を切断除去し形成されたことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。 - 対向配置された一対の基板間に液晶材料層を有し、
前記基板のうちの一方の基板もしくは他方の基板に第１の色、第２の色、第３の色の３つの色のカラーフィルタを有し、
前記基板のうちの一方の基板に、マトリクス状に配置された複数の映像信号線と複数の走査信号線を有し、前記複数の映像信号線の内の隣接する２本と、前記複数の走査信号線の内の隣接する２本とが交差して形成された画素領域を複数有し、
各画素領域には少なくとも１つの薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタにより前記映像信号線から前記第１、第２あるいは第３の色のいずれかの色の表示を制御する電圧が入力される画素電極を有し、
前記走査信号線は前記一方の基板の前記液晶層外に外部駆動回路との接続用端子領域を有する液晶表示装置の製造方法において、
少なくとも前記一方の基板上に２本、３本、もしくは４本の信号線共通線を備え、
前記信号線共通線は前記走査信号線のいずれかと前記接続用端子領域以遠で接続し、かつ隣接する信号線共通線は互いに隣接する走査信号線の内の異なった走査信号線引出端子に接続し、
前記信号線共通線は検査用パッドにそれぞれ接続し、
該パッドに検査用信号を入力することにより液晶表示装置の点灯検査を行った後、前記信号線共通線が形成された領域を切断除去し形成されたことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。 - 前記外部駆動回路がＴＣＰ上に実装されたドライバＩＣであることを特徴とする、請求項２５又は２６に記載の液晶表示装置の製造方法。
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