JP4029882B2 - 欠陥検査方法および欠陥検査システム - Google Patents
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5000倍以下においても容易にその存在を確認することができる。また、選択される欠陥の大きさの上限を規定しているので、観察視野をはみ出すこともない。この場合、検出画像から欠陥位置を自動的に知る方法としては、単に検出画像の明るさが周辺に比べて明るいかあるいは暗いかによって、欠陥の位置を知ることができる。
315からのステージの位置情報および画像上の欠陥の位置に対応付けて、欠陥判定器
316から出力する。さらに、属性判定器317により欠陥の属性5を合わせて出力する。
[請求項3−1]
請求項3の記載において、前記指標欠陥は、前記複数の欠陥の属性と予め定められた基準値とに基づいて選択されることを特徴とする欠陥検査方法。
[請求項3−2]
請求項3の記載において、前記検査装置と前記観察装置の少なくともいずれかは複数であり、前記相関関係は、欠陥毎にこれら複数の装置で定義される複数の位置座標から算出されることを特徴とする欠陥検査方法。
[請求項3−3]
請求項3の記載において、前記属性は、前記複数の欠陥の少なくとも寸法,種類,散乱光量,明るさの局所的な変化,輪郭形状のうちのひとつであることを特徴とする欠陥検査方法。
[請求項5−1]
請求項5の記載において、前記検査情報データは記憶媒体に格納されて前記観察装置に提供されることを特徴とする欠陥検査システム。
[請求項5−2]
請求項5の記載において、前記検査情報データは通信手段を介して前記観察装置に提供されることを特徴とする欠陥検査システム。
[請求項6−1]
請求項6の記載において、前記相関関係は、少なくとも3組の位置座標を用い、最小2乗近似を用いて算出されることを特徴とする欠陥検査システム。
[請求項6−2]
請求項6の記載において、前記指標欠陥は、前記複数の欠陥の属性と予め定められた基準値とに基づいて選択されることを特徴とする欠陥検査システム。
[請求項6−3]
請求項6の記載において、前記検査装置と前記観察装置の少なくともいずれかは複数であり、前記相関関係は、欠陥毎にこれら複数の装置で定義される複数の位置座標から算出されることを特徴とする欠陥検査システム。
[請求項6−4]
請求項6の記載において、前記属性は、前記複数の欠陥の少なくとも寸法,種類,散乱光量,明るさの局所的な変化,輪郭形状のうちのひとつであることを特徴とする欠陥検査システム。
Claims (8)
- 検査装置で検出された複数の欠陥の該検査装置で定義される検査位置座標と属性として欠陥の大きさを決定し記憶装置へ格納し、
前記欠陥の大きさと、観察装置で検出可能な予め定められた基準値として前記欠陥の大きさが一定基準内の大きさに相当するレーザ散乱光量、および前記検査装置で画像検出された該欠陥の画素数のいずれかに基づいて指標欠陥を前記欠陥の中から選択し、
該選択された指標欠陥を前記観察装置で検出し該観察装置で定義される観察位置座標を決定し、
前記観察位置座標と前記検査位置座標とから相関関係を算出し前記記憶装置へ格納し、
前記記憶装置に格納された前記指標欠陥の前記観察位置座標から前記相関関係を用いて変換された位置座標を演算し、
前記観察装置で該変換された位置座標に基づいて前記指標欠陥を検出し、該指標欠陥を指標として詳細に観察したい所望の欠陥を検出することを特徴とする欠陥検査方法。 - 請求項1の記載において、前記検査装置と前記観察装置の少なくともいずれかは複数であり、前記相関関係は、欠陥毎にこれら複数の装置で定義される複数の位置座標から算出されることを特徴とする欠陥検査方法。
- 検出された欠陥の少なくとも観察可能性情報を含む属性情報と前記欠陥の位置情報とを含む検査情報データを記憶する記憶装置と、
前記属性情報は前記欠陥の大きさであって、前記検査情報データと、観察装置で検出可能な予め定められた基準値として前記欠陥の大きさが一定基準内の大きさに相当するレーザ散乱光量、および前記検査装置で画像検出された該欠陥の画素数のいずれかに基づいて指標欠陥を前記欠陥の中から検出し、該検出よりも少なくとも3倍大きな倍率で、該指標欠陥を指標として前記検査情報データ内の詳細に観察したい所望の欠陥の位置の画像情報を取得し、表示、印刷あるいは記録のうち少なくとも1つを行う観察装置とを備えたことを特徴とする欠陥検査システム。 - 請求項3の記載において、前記検査情報データは記憶媒体に格納されて前記観察装置に提供されることを特徴とする欠陥検査システム。
- 請求項3の記載において、前記検査情報データは通信手段を介して前記観察装置に提供されることを特徴とする欠陥検査システム。
- 検査装置で検出された複数の欠陥の該検査装置で定義される検査位置座標と属性として欠陥の大きさを格納する記憶装置と、
前記欠陥の大きさと、観察装置で検出可能な予め定められた基準値として前記欠陥の大きさが一定基準内の大きさに相当するレーザ散乱光量、および前記検査装置で画像検出された該欠陥の画素数のいずれかに基づいて指標欠陥を前記欠陥の中から選択し、該選択された指標欠陥を前記観察装置で検出する場合に用いられる該観察装置で定義される観察位置座標を決定し、該観察位置座標と前記検査位置座標とから相関関係を算出する演算装置とを備え、
前記記憶装置は、さらに、前記相関関係を格納し、
前記演算装置は、さらに、前記観察装置が前記指標欠陥を検出する場合に用いられる位置座標を、前記観察位置座標から前記相関関係を用いて変換し、該変換された位置座標に基づいて前記指標欠陥を検出し、該指標欠陥を指標として詳細に観察したい所望の欠陥を検出することを特徴とする欠陥検査システム。 - 請求項6の記載において、前記相関関係は、少なくとも3組の位置座標を用い、最小2乗近似を用いて算出されることを特徴とする欠陥検査システム。
- 請求項6の記載において、前記検査装置と前記観察装置の少なくともいずれかは複数であり、前記相関関係は、欠陥毎にこれら複数の装置で定義される複数の位置座標から算出されることを特徴とする欠陥検査システム。
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