JP4018151B2 - 無線周波とマイクロ波とを利用した材料の処理 - Google Patents
無線周波とマイクロ波とを利用した材料の処理 Download PDFInfo
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Description
マイクロ波誘電加熱を伴う従来の放射加熱及び/もしくは対流加熱を組み合わせたハイブリッド炉が出願人の国際特許出願第PCT/GB94/01730号に記載されており、それは1995年2月16日付けの国際特許公開第WO95/05058号によって開示されている。更に、前記国際出願はセラミックやガラスの従来の焼成に関連する問題、セラミックやガラスのマイクロ波のみの焼成に関連する問題、及びマイクロ波と材料間に発生する様々な相互作用について詳細に記載している。このため、過度の繰り返しを避けるために、国際特許出願第PCT/GB94/01730号の内容を引用してここに組み込み、本明細書と共に読まれるものとする。
従来の放射加熱または対流加熱はサンプルの表面を加熱し、サンプルの表面からサンプルの体積の隅から隅まで熱を伝えるために熱伝導を頼みとする。サンプルがあまりに速く加熱されすぎると、温度勾配が作り出され、それは熱応力となり、ついには材料の破損を導き得る。サンプルのサイズが増大するにつれて、この影響が激化するので、一般にサンプルのサイズが大きくなるにつれて、サンプルをゆっくりと加熱しなければならない。
更に、温度勾配の存在は、同じ温度-時間スケジュールを使用してサンプル全体を処理できないことを意味する。次には、このことが時にはサンプル全体のミクロ構造(例えば粒子径)の変動を導くことがあり、サンプルの全ての部分を最適に処理できるとは限らないので、密度、強度等の全体の特性が劣ることになる。
対照的に、従来の表面加熱とマイクロ波加熱(つまり、容量加熱)を注意深く均衡させることで、温度勾配を生じさせることなく全表面を均一に加熱し、熱応力発生の危険性なしに(特に大きなサンプルに関して)急速加熱の可能性に導くことが保証される。更に、全サンプルを最適の温度-時間スケジュールで処理することができるので、増大した密度と増大した材料強度の高度に均質のミクロ構造を作り出すことができる。出願人の以前の国際特許出願第PCT/GB94/01730号の課題を形成するものは、相対的な量の表面と容量加熱を制御するこの方法であった。
マイクロ波加熱の容量性によって生じる熱的な利点に加えて、焼結中のいわゆる非熱的マイクロ波効果の存在を支持する証拠が増大しつつある。これは従来の熱がマイクロ波のエネルギーと同じ容量的方法で何とかしてサンプルに導入されたとしても観察されないであろう効果である。マイクロ波炉内で処理されるサンプルは、従来のシステム内において処理されるものより、速い速度で、あるいは低い温度で焼結することが観察されている。例えば、ウィルソン(Wilson)及びクンツ(Kunz)はジェイ.アメリカン セラミック ソサイエティ(j.Am. Ceram. Soc)71(1)(1988年)40−41の中で、最終的な粒子径に重大な差を生じさせずに、2.45GHzのマイクロ波を使用して、如何にして(3モル%のイットリアを含む)部分的に安定化されたジルコニアを急速に焼結させ得るかについて記載している。焼結時間は2時間から約10分まで短縮された。これは焼結中に発生する拡散プロセス用の効果的な活性化エネルギーを参照して説明されており、例えば、ジャニー(Janney)及びキムリー(Kimrey)がマテリアル リサーチ シンポジウム プロック.ボリューム(Mat. Res. Symp. Proc. Vol.)189(1991年)、マテリアル リサーチ ソサイエティ(Materials Research Society)において、28GHzにおいて、活性化エネルギーが575kJ/molから160kJ/molまで減少するかのように、マイクロ波で高められた高純度アルミナの高密度化が進行すると記載している。
セラミック業界において可能性のある示唆があるにも関わらず、この効果を生じさせる物理的メカニズムが解明されていない。マイクロ波は実際の活性化エネルギーを低下させるか、あるいは拡散しつつある核種が受ける効果的な駆動力を増大させるように、セラミックと相互作用しなければならない。可能性のあるこの2つのメカニズムは各々支持者を持っているが、本出願人は駆動力の向上が存在することを支持する。これは少なくともフィジックス レビュー ビー.(Phys. Rev. B.)49(1)(1994年)64−68において、高周波電界の存在下に表面または境界付近で空隙運動に対する駆動力を高めることができることを示した、リバコフ(Rybakov)とセメノフ(Semenov)の計算と一致する。
マイクロ波電界によって加熱されるサンプル内で消散する電力密度Pvは、下記の式(1)によって示される:
式中、fは印加される電界の周波数であり、ε0は自由空間の誘電率であり、εr”は材料の誘電損率であり、Eは電界強度である。この式を再配列すると、電界は以下の式(2)によって示される:
残念ながら、アルミナ、ジルコニア等の多くの低損失のセラミック材料の誘電損率は、温度上昇と共にほとんど指数関数的に増大する。加熱に要する電力密度がプロセスの間一定であると仮定すると、式(2)は材料の電界強度が温度上昇と共に急速に低下しなければならないことを意味する。その結果、拡散係数が温度上昇と共に指数関数的に増大するので、拡散しつつある核種がほとんど自由に材料中を動き回る時のより高温では、電界の存在による非熱的効果の大きさも減少するであろう。
同様に、誘電材料内で伝搬するマイクロ波等の電磁波に対する侵入度(つまり、電力密度が表面における値の1/eにまで低下する距離)は、以下の式(3)によって示される:
式中、εr’は材料の誘電率であり、cは真空中での光速である。イットリアで安定化されたジルコニア(8%YSZ)を考慮すると、低温(つまりほぼ200℃)及び標準のマイクロ波周波数である2.45GHzにおいて、誘電率εr’は約20、また誘電損率εr”は0.2である。これらの値を式(3)に挿入すると、侵入度は45cmとなる。ほぼ1,000℃の高温では、εr’は約34、そしてεr”は約40となり、侵入度はたったの0.3cmとなる。このように、高温では2.45GHzのマイクロ波は約1cmを上回る厚みのイットリアで安定化されたジルコニアのサンプルを加熱するのに特に効果的ではないが、表面しか加熱しない従来の加熱方法よりはるかにましである。しかしながら、非熱的マイクロ波効果も侵入度に制限されるであろう。
これらの問題を克服する一方で、非熱的効果を最適に使用するために、本発明の第1の側面によれば、マイクロ波源と、マイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を閉じ込めるため、また被加熱物を包含するための閉じ込め包囲体と、前記マイクロ波源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段と、前記被加熱物を誘電加熱するためのRF源と、前記RF源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段と、前記被加熱物にマイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を同時に印加させるとともに、前記被加熱物が曝されるマイクロ波エネルギーとRFエネルギーの量を制御するように構成された制御手段とを備えるハイブリッド炉が提供される。
ハイブリッド炉は付加的に、閉じ込め包囲体内で適当である放射熱及び/もしくは対流熱を提供するために、閉じ込め包囲体に関して配置される放射及び/もしくは対流加熱手段、及び放射熱及び/もしくは対流熱によって物体内で発生する熱量を制御する手段を備えるのが有利である。
本発明の第2の側面によれば、マイクロ波源と、マイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を閉じ込めるため、また被加熱物を包含するための閉じ込め包囲体と、マイクロ波源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段と、前記被加熱物を誘電加熱するためのRF源と、RF源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段とを備える炉を操作する方法が提供され、該方法は、前記被加熱物を加熱するためのマイクロ波源を作動させるとともに、前記被加熱物を誘電加熱するためのRF源を作動させて、マイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を前記被加熱物に同時に印加させるステップを含む。
炉は付加的に放射及び/もしくは対流加熱手段を備えるのが有利であり、また前記方法は、実質的に物体の加熱サイクルを通して放射熱及び/もしくは対流熱を発生させるために、放射及び/もしくは対流加熱手段を作動させ、物体内に所望の熱プロフィルを提供するために、マイクロ波エネルギー及び放射熱及び/もしくは対流熱の一方または両方によって、物体内に発生される熱量を制御する付加的なステップを備えているのが有利である。
無線周波数(RF)は高周波電界を含む誘電加熱の別の形態であり、やはり式(1)から(3)によって説明される。しかし、無線周波数はマイクロ波のものよりはるかに低く、典型的に13.56MHz(つまり、2.45GHzより181倍も小さい因数)である。このように、εr”とPvの同じ値に対して、式(2)はRFの場合はマイクロ波の場合より電界が13倍も高くなることを示唆している。実際、無線周波数におけるセラミックの誘電損率はマイクロ波周波数における誘電損率より通常はるかに小さく、事実電界は一層高くなるであろう。
同様に、式(3)の点検によって、侵入度が1/fに比例するこが明らかになった。従って、全ての他のパラメーターが同じであるとすると、RFの場合においてdpはマイクロ波の場合より181倍大きくなり、結果的に生じる電界は非常に高温であっても材料に深く侵入するであろう。
あいにく、多くのセラミック材は単にRF電界に置かれた場合、効果的に加熱されない。この周波数において合理的なエネルギー消散を作り出すために必要な電界は、しばしば炉内で電気的破壊を起こすであろうものより大きい。しかしながら、マイクロ波加熱とRF容量加熱の両方を使用するハイブリッドシステムを提供することによって、この問題を克服することができる。従来の表面加熱技術と組み合わせた場合、はるかに大きな利点を得ることができる。
本発明の多数の態様について、例として添付図面を参照して説明する。
図1は先行技術の典型的なマイクロ波加熱システムの概略図である。
図2は先行技術の従来のRF加熱システムの概略図である。
図3は先行技術の典型的な50ΩRF加熱システムの概略図である。
図4は簡単なスルーフィールドアプリケーターの概略図である。
図5はコンデンサーに対する誘電体の影響を図示する概略図である。
図6は電界を印加する前後の微視的双極子の集合で作られた誘電体の概略図である。
図7はRFアプリケーター内の電界を示す概略図である。
図8は従来の(放射熱のみの)焼結と、マイクロ波援用焼結に対する温度の関数としてプロットしたジルコニア(3モル%のイットリア)の正規化された線形収縮を示すグラフである。
図9は本発明の第1の態様によるRFとマイクロ波とを利用したハイブリッド炉の概略図である。
図10は本発明の第2の態様によるRFとマイクロ波とを利用したハイブリッド炉の概略図である。
図11は従来の(放射熱のみの)焼結と、マイクロ波を利用した焼結、及びRFとマイクロ波とを利用した焼結に対する温度の関数としてプロットしたジルコニア(8モル%のイットリア)の正規化された線形収縮を示すグラフである。
誘電加熱という用語は無線周波システムまたはマイクロ波システムに同様に適用でき、両者の場合、加熱は誘電絶縁体(または小さいが、測定可能な導電率を有する材料)が高周波電界に置かれた時、エネルギーを吸収するという事実のためである。
RF放射とマイクロ波放射とは電磁スペクトルの隣接する部分を占め、マイクロ波が無線波より高い周波数を有する。しかし、2つの周波数帯域間の区別はしばしばあいまいであり、例えば約900MHzの携帯電話等のアプリケーションが無線周波数と説明され、誘電加熱等がマイクロ波と説明されたりする。それにも関わらず、無線周波数とマイクロ波誘電加熱は必要な高周波電界を作り出すために使用される技術によって区別され得る。RF加熱システムは高電力電気弁、伝送線路、及びコンデンサーの形態のアプリケーターを使用する一方、マイクロ波システムは磁電管、導波管、及び共振空胴または非共振空胴に基づいている。
ISM帯域または工業/科学/医学帯域として知られる、RF加熱及びマイクロ波加熱のために使用することができる、国際的に合意され認識されている周波数帯域がある。無線周波数では、これらは:
(i) 13.56MHz±0.05% (±0.00678MHz)
(ii) 27.12MHz±0.6% (±0.16272MHz)
(iii) 40.68MHz±0.05% (±0.02034MHz)
であり、一方マイクロ波周波数では、これらは:
(i) 900MHz (関連する国により異なる)
(ii) 2450MHz±50MHzである。
電磁適合性(EMC)要件はこれらの帯域外での放射に対して厳しい制限を課している。これらの制限は健康/安全問題によって課される制限よりはるかに低く、典型的に、認められている帯域外の周波数での電力のμWsに等しい。ほとんどの国では、関連するEMC要件の遵守が法的要件となっている。
マイクロ波加熱システム、及び従来の放射及び/もしくは対流加熱システムと組み合わせたマイクロ波加熱システムについては、出願人の国際特許出願第PCT/GB94/01730号に詳細に記載されており、この出願の内容を既に引用してここに組み込む。その結果、ここではマイクロ波加熱システムについては、RF加熱システムとの比較を可能にするために要約して説明するに留める。図1に示すように、マイクロ波加熱システムは一般に高周波電源10、送電媒体12、同調システム14、及びアプリケーター16で構成される。一般にマイクロ波加熱システムにおいて使用される高周波電源は磁電管である。2.45MHzでは、磁電管は典型的に500Wから2kWの間の電力と共に利用でき、最大で6〜10kWに達することができる。900MHzでは、磁電管は数十kWまでの高電力出力に備えて構成することができ、RF加熱システムに使用される1つの弁が数百kWを発生させることができる。磁電管によって作られる電力は負荷の状態とほぼ無関係である。
磁電管はアンテナまたは開口ラジエーターを励磁し、アンテナまたは開口ラジエーターが次にシステムのその他の部分に電力を伝送する。アンテナは電磁波を発生させ、その電磁波は導波管を移動し、導波管は送電媒体12として作用し、電磁波をマイクロ波アプリケーター16に向けるために使用される。一部のアプリケーションでは、導波管自体がアプリケーターを形成することができる。
アプリケーター16から高周波電源10への実質的な電力の反射が損傷を生じさせることがあり、これを防止するために、サーキュレーター18として知られる装置を電源と送電媒体12の間に挿入する。サーキュレーター18は基本的に一方向弁であり、電源10からの電力がアプリケーター16に達するようにするが、電源に達する反射電力を妨げる。その代わりに、反射電力がサーキュレーター18に取付けられた水負荷20において散逸される。
同調システム14は送電媒体12とアプリケーター16の間に挿入され、反射電力を最低のレベルに調整するために使用され、それによってシステムが効率的に作動する。
マイクロ波アプリケーター16の最も一般的な形態は、家庭用電子レンジに使用されているような金属箱または空胴である。被加熱材22はこの空胴内のターンテーブル24の上に置かれ、ターンテーブル24は問題の材料に存在するかもしれない電界の経時変化を平均させるために使用される。更に、被加熱材に存在する定在波パターンを周期的に変化させるために、モード撹拌器(図示せず)も空胴内に取り込まれている。ターンテーブル24もモード撹拌器も材料の加熱の均一性を改善する働きをする。
空胴アプリケーターと共に使用できるマイクロ波アプリケーター16には多くのデザインがある。しかし、これらのデザインの内、最も一般的にアプリケーターとして使用されるものは変更された導波管部分である。
外観では、RF加熱システムはマイクロ波システムとは非常に異なっている。RF電力を作り出し、誘電加熱アプリケーターに伝送するために利用できるシステムは、2つの独特な群、すなわち、広く普及した従来のRF加熱設備と、より最近の50ΩのRF加熱設備とに分けることができる。従来のRF設備は長年に亙って首尾良く利用されてきたが、常に強化されるEMC規則、またプロセス制御の改善の必要性により、50Ω技術に基づくRF加熱システムが導入された。
従来のシステムでは、RFアプリケーター(つまり、高周波電界を製品に印加するシステム)が変圧器の二次回路部分を形成し、該変圧器は一次回路としてRF発生器の出力回路を有している。従って、RFアプリケーターはRF発生器回路の一部であると考えることができ、発生器によって供給されるRF電力量を制御するためにしばしば使用される。多くのシステムでは、アプリケーター回路の構成要素(通常は、RFアプリケータープレート自体)を調節して、電力を設定限度以内に保持する。あるいは、加熱システムは公知の状態の標準負荷へとある量の電力を送り、製品の状態が変化するにつれて、自動的に上下に移動させるように設定させる。事実上、全ての従来のシステムにおいて、送られるRF電力量は高電力弁、通常は三極管を通って流れる発生器内の直流電流によって示されるだけである。
典型的な従来のRF加熱システムが図2に概略的に図示されており、RF発生器26とRFアプリケーター28を備えている。被加熱材30がRFアプリケーター28のプレート間に置かれ、一方のプレート32がシステムを同調する手段を提供するために、他方のプレートに対して移動できるように適合される。
50Ω設備に基づくRF加熱システムはかなり異なっており、高電力同軸ケーブルによってRF発生器がRFアプリケーターから物理的に分離されるという事実によって直ちに認識され得る。このような例が図3に示されており、前者と同様に、RF発生器34とRFアプリケーター36を備えている。高電力同軸ケーブルに参照番号38が付けられている。
50ΩRF発生器の操作周波数は水晶発振器によって制御され、本質的に13.56MHzまたは27.12MHzに固定される(40.68MHzはあまり使用されない)。一旦周波数が固定されると、RF発生器34の出力インピーダンスを便利な値に設定するのは比較的簡単である。高電力同軸ケーブル38やRF電力計40等の標準設備を使用できるように、50Ωが選択されている。RF発生器34が効率的に電力を伝送するために、RF発生器34はやはり50Ωのインピーダンスを有する負荷に接続されなければならない。従って、RFアプリケーター36のインピーダンスを50Ωに変換するインピーダンス整合ネットワーク42がシステムに含まれている。事実、この整合ネットワーク42は精巧な同調システムであって、RFアプリケータープレート自体を最適の位置に固定することができる。
従来のシステムに優るこの技術の主な利点は以下の通りである:
(i) 固定された操作周波数によりわずらわしい国際EMC規則に準拠することが容易になる。
(ii) 50Ωケーブルの使用により、RFアプリケーター36から離れた便利な位置にRF34発生器を設置できるようになる。
(iii) RFアプリケーター36を最適の性能のために設計することができ、それ自体同調システムの一部ではない。
(iv) インピーダンス整合ネットワーク42の使用により、進歩したプロセス制御システムが可能となる。整合ネットワーク内の成分の位置が、その平均湿度等の誘電負荷の状態に関するオンライン情報を与える。この情報を使用して、RF電力、コンベヤの速度、アプリケーター内の空気温度等を適当に制御することができる。
従来の誘電加熱システム、または50Ω誘電加熱システムのいずれを使用しても、RFアプリケーターは加熱または乾燥すべき特定の製品のために設計されなければならない。概念的には、スルーフィールドRFアプリケーターが最も簡単で、最も一般的なデザインであり、電界は平行平板コンデンサーの2つの電極を横切って印加される高周波電圧から発生する。この配置の一例が図4に示されており、2つの電極が参照番号44と46で特定されており、被加熱物が参照番号48で特定されている。このタイプのアプリケーターは主として、比較的厚い製品または材料片と共に使用され、先に述べた態様において使用されるアプリケーターである。
それがRFであろうと、マイクロ波であろうと、誘電加熱は誘電材が高周波電界に置かれた場合、誘電材によってエネルギーが吸収されるという原理に依拠している。RF及びマイクロ波加熱及び/もしくは乾燥を完全に理解するためには、誘電体によって吸収される実際のエネルギー量(または電力量)の計算が必須である。
本質において、RF誘電加熱に使用される全てのアプリケーターはコンデンサーである。これらのコンデンサーは、複素インピーダンスZc、または1/Zcに等しい複素アドミタンスYcによって表わすことができる。空である場合、理想的なコンデンサーはゼロ電気抵抗で純粋にリアクタンスであるインピーダンスを有し、RF電位がそれを横切って印加される時、如何なる電力も消費されない。誘電体が無い場合、アプリケーターの複素インピーダンスは以下の式(4)によって示され:
同等のアドミタンスは以下の式(5)によって示される:
Yc=0+jωCo (5)
式中、ω=2πfであり、Coは空のアプリケーターのキャパシタンスである。
時には複素誘電率とも呼ばれる誘電体の相対的誘電率εrは以下の式(6)によって示される:
εr=εr'-εr"j (6)
式中、εr’は材料の誘電率であり、εr”は誘電損率である。簡単な平行平板コンデンサーにこのような誘電体を詰める場合、新しいアドミタンスは以下の式(7)によって与えられ:
Yc'=εrYc=ωCoεr"+jωCoωr' (7)
1/Ycに等しい対応する新しいインピーダンスは:
となる。式(8)から明らかなように、誘電体の存在は2つの方法でRFアプリケーターのインピーダンスを変える。まず第一に、1/(ωC0εr”)に等しい有限の抵抗Rがコンデンサーを横切って現われており、第二に、定義によってεr’は常に1より大きいので、新しい効果的なキャパシタンスCは、誘電体を持たないキャパシタンスC0よりεr’の因数だけ大きい。この状況が図5において概略的に図示されている。有限の抵抗の存在が誘電体内の熱の発生の可能性を生じさせる一方で、RFアプリケーター内の電荷分布の変動から、キャパシタンスの増大が起こる。抵抗体内で消費される電力PをV2/Rに等しいとすると、誘電体を含むコンデンサーに対する電力は以下の通りである:
P=ωεr"CoV2 (9)
C0=ε0A/dであり、Aはプレート面積、dはプレート間距離、及びε0は自由空間の誘電率である。平行平板コンデンサーに対して、電界強度E=V/dであるので、式(9)を以下のように書き換えることができる:
P=ωεoεr"E2(Ad) (10)
積Adはコンデンサーの体積に等しいので、単位体積当たりの電力消費もしくは電力密度Pvは以下の式(11)によって示される:
このように、電力密度は印加される電界の周波数と誘電損率に比例し、局部電界の平方に比例する。この式は誘電体が高周波電界に置かれた時、どのようにエネルギーを吸収するかを決定する際に重大である。所定のシステムに対して、周波数が固定され、πとε0が定数であり、原則的に誘電損率εr’を測定することができる。従って、式(11)において未知のまま残されるものは電界Eだけである。これを評価するために、RFアプリケーターを横切るRF電圧による、印加される電界に対する誘電体の影響を考慮しなければならない。
マイクロ波誘電加熱の場合、アプリケーターはもはや簡単なコンデンサーであると考えることができず、材料内の電界は:
E=Eoej(wt-kz) (12)
の形態の伝搬する電磁波によるものであり、式中、kはz方向の伝搬定数であり、tは時間である。
誘電媒体を流れる変位電流密度JDは:
によって定義され、それは式(12)と組み合わせると、
JD=jωεoεrE (14)
となり、εr=εr’−jεr”で置き換えると以下のようになる:
JD=ωεoεr"E+jωεoεr'E (15)
Jが全体の電流密度であり、伝導電流密度Jcと変位電流密度JDの合計に等しい場合、またJcをゼロと仮定すると、JはJDに等しくなり、式(15)によって示される。
断面積dSの誘電体の小さな体積成分dV及び長さdzを考慮すると、体積成分を横切る電圧降下はE・dzで示され、そこを通過する電流はJ・dSで示される。その結果、単位体積当たりの電力消費は:
で示され、式中<>は時間平均を表わす。
εrが実数である(つまり、εr”がゼロに等しい)とすると、EとJは常にπ/2違相であり、dP/dVは常にゼロに等しくなるであろう。εr”がゼロに等しくない場合、
となり、式中E*はEの複素共役である。Eを製品中を通じて一定であると仮定できる特殊な場合には、式(17)は、
まで減少し、それはRF誘電加熱の場合(式11)のために引き出されたものと同じである。
誘電材は電界の作用によって整列または分極され得る多数の微視的電気双極子の集合で構成される。外界と誘電体との相互作用を評価するためには、この分極の効果を理解することが必要である。
電気双極子は、わずかな距離rだけ陰電荷領域−qから分離された陽電荷領域+qである。このような双極子は双極子モーメントを有していると言われ、pは、
p=qr (19)
によって示される。この双極子モーメントは陽電荷中心から陰電荷中心までの線に沿った方向のベクトル量である。電気双極子は以下の2つのタイプに分けることができる:
(i) 印加された電界が存在する場合にのみ現われる誘導双極子、例えば、二酸化炭素分子及び原子;及び
(ii) 印加された電界が存在しない場合でも存在する永久双極子、例えば、水の分子。
材料の分極Pは巨視的性質であり、単位体積当たりの双極子モーメントとして定義される。電界が存在しない場合、誘導双極子の集合の双極子モーメントはゼロであり、従って、Pもゼロである。永久電気双極子は常に双極子モーメントを有するが、印加された電界が存在しない場合、これらのモーメントは空間内で無作為に方位付けられ、全体としての材料の分極Pはやはりゼロに等しい。
材料内の境界における空間電荷構築により巨視的分極もまた可能である。このような負電荷と陽電荷の分離が、時には空間電荷分極として知られる。全材料に対する双極子モーメントへと導く。
式(11)と(18)が明らかにするように、吸収された電力密度が材料内部の電界の平方に比例するので、それは主として材料内部(及び外部)の電界、及び加熱率を決定する誘電体の分極である。
外部の電界E0が存在すると仮定すると、微視的電気双極子はE0の方向と反対方向にそれらを整列させる傾向にあるトルクを受けるであろう。双極子の負の端は印加された電界の正側に引き付けられ、双極子の正の端は印加された電界の負側に引き付けられる。
誘電体の本体内で、陽電荷の数は陰電荷の数に等しいので、電荷全体は中性である。しかし、誘電体の片側において、陽電荷の正味過剰がある一方、他方の側では正味陰電荷がある。これは図6において概略的に図示された状況である。
このように、電界E0を誘電体に印加した結果が、材料の対向する側での陽と陰の電荷の展開である。これらの電荷による電界は印加された電界に対して反対方向にあり、減極電界E1と呼ばれる。誘電体本体内の電気双極子は局部電界Elocalを受け、それは印加された減極電界のベクトル合計である。このように、
Elocal=Eo+E1 (20)
であり、
|Elocal|=Eo|-|E1| (21)
によって示される大きさを有する。
RFアプリケーター内に存在する電界に対する誘電体の影響が図7に概略的に図示されている。局部電界は印加された電界より小さいが、誘電体を囲むエアギャップ内の電界E”は、印加された電界より大きい。これは誘電体表面上の電荷の展開によるものである。事実、周囲の媒体が空気である場合、E’はεr’E0にほぼ等しく、εr’が常に1より大きいので、E’は常にE0より大きい。
式(2)に関連して指摘したように、多くのセラミック材内の電界強度は温度が上昇するにつれて急速に低下する。従って、拡散係数は温度上昇と共に指数関数的に増大するので、材料内で拡散する種がほとんど自由に拡散するより高温では、電界強度による非熱的効果の大きさもまた低下するであろう。図8は、従来の焼結(つまり、単に放射熱及び/もしくは対流熱だけを使用する焼結)に対して、また一部安定化されたジルコニア(3モル%イットリア)のマイクロ波を利用した焼結に対して、温度の関数としてプロットされた正規化された線形収縮、△1/10を示しており、10は元のサンプル長である。
マイクロ波を利用した場合の曲線がほぼ80℃従来の収縮曲線から転置されていることで、焼結の向上が明らかに立証されている。更に、マイクロ波を利用した場合に全体の収縮が大きくなっており、最終的なサンプル密度の増大を導いている。約1,250℃でマイクロ波を利用した場合の曲線に重大な勾配の変化が現われている。マイクロ波を利用した焼結の終了に向かって、印加されたマイクロ波電力はまだほぼ一定であるが、誘電損率εr”の増大のために、電界が低下するであろう。従って、拡散プロセスを働かせるマイクロ波誘導電界も急速に低下し、焼結は従来の毛細管駆動力によってのみ支配されて進行するであろう。マイクロ波電力密度はサンプルが収縮するにつれて増大するが、電界に及ぼすこの影響は、εr”における指数関数的増大のためにそれよりはるかに小さいであろう。
初期に式(3)に関連して指摘したように、高温におけるマイクロ波の侵入度の減少は、特に約1センチメートルを上回る厚さのサンプルに対して、拡散プロセスを働かせるマイクロ波誘導電界の能力に有害な影響を有するであろう。しかしながら、無線周波数とマイクロ波を利用した加熱とを同時に使用する炉を構築することによって、高温における拡散プロセスの重大な低下なしに、容量加熱の利点を享受することができる。これは、RFがマイクロ波と同程度にはサンプルの加熱に適していないかもしれないが、サンプル内で高い電界を発生させ維持することができ、それによって拡散プロセスを助けるからである。
同じ炉内でRF源とマイクロ波源を放射及び/もしくは対流加熱手段と組み合わせる際に克服すべき実際的な問題は簡単な問題ではない。2つの高周波加熱源は互いに相互作用し、注意しなければ、操作上の問題を引き起こす。この問題は従来の放射及び/もしくは対流加熱手段をいずれかの加熱源が妨害するという問題に加えて発生する。
それにも関わらず、本発明を具体化するRF及びマイクロ波を利用したハイブリッド炉が図9に概略的に示されている。
図から解るように、炉はマイクロ波空胴50、マイクロ波発生器52、及びマイクロ波をマイクロ波発生器52からマイクロ波空胴50へと輸送するための導波管54を備える。1つの好適態様では、マイクロ波発生器52は電源装置56に接続された2.45GHz、1kWの磁電管であってよく、導波管54はサーキュレーター58、擬似負荷60及び同調器62を含むことができる。対照的に、好適態様では、マイクロ波空胴50は540mmの幅と、455mmの深さと、480mmの高さを有する。これは次に190mm×190mm×190mmのサンプル体積を提供し、それは使用に際して、四分の一波長のチョークマイクロ波シールを組み込むドアを閉じることによって閉じられる。モード撹拌機(図示せず)は、モード撹拌機が故障した場合にマイクロ波電力を切るためのフェイルセーフメカニズムを備えて、マイクロ波空胴50内に組み込まれる。
複数の非格納式の、放射カンタル抵抗加熱素子64がマイクロ波空胴50の壁を突き抜けてサンプル体積内へと突出している。加熱素子64が高度に伝導性であることを保証することによって、表皮厚さが最低に保たれ、それと共にサンプルが吸収するマイクロ波電力量が最低に保たれる。この配置を使用することで、炉は、加熱素子64または炉のライニングのいずれも損傷することなく、3kWの放射加熱と2kWのマイクロ波電力を使用して、1,750℃を超える温度を達成することができることを示している。特に、加熱素子64間に、あるいは加熱素子とマイクロ波空胴50の壁間にアーチ状の動きが見られない。
マイクロ波空胴50からのマイクロ波の漏れを防止するために、加熱素子64の各々が各々の容量性リードスルーを通ってサンプル体積内へと進んでいる。このようなリードスルーの一例が、出願人の以前の国際特許出願第PCT/GB94/01730号に記載されており、その内容を既に引用して本明細書に組み込む。
RF電界は絶縁体72外部の、平行平板コンデンサー、あるいは2つの金属プレート68と70によって形成されるアプリケーターの電極内で、システム内へと導入される。あるいは、2つのプレート68、70は絶縁体72内に、あるいはホットゾーン内に埋め込むことができるが、但し使用する金属はそれが曝される温度に耐えることができるものでなければならない。2つの金属プレート68、70は、伝送線路74と可変コイル76を通して、自動インピーダンス整合ネットワーク78に接続される。このインピーダンス整合ネットワーク78はシステムのインピーダンスを絶えず50Ωに同調させる。50Ωの出力インピーダンスを備えた13.56MHz、1kWの半導体無線周波発生器80が、標準の50Ω同軸ケーブル82によって自動インピーダンス整合ネットワーク78に接続される。
2つの金属プレート68と70間の伝送線路74の一部と、可変コイル76が低域フィルター84を含み、それはマイクロ波フィルターとして作用し、RF電力の通過を許す一方で、マイクロ波エネルギーの流れを制限する。付加的な並列コンデンサー86が加熱素子64と炉の空胴上部との間に接続され、加熱素子を通って流れるRF電流をアースに短絡させる。
被加熱サンプル88がマイクロ波空胴内に置かれ、耐火スタンド90の上に支持される。炉内の接地された熱電対92を使用して放射、RF、及びマイクロ波電力レベルを別個に制御することができる。あるいは、3つの電源全てを手動で制御することもできる。典型的に、自動と手動の制御の組み合わせが使用される。例えば、放射電源とマイクロ波電源を何らかの所定の温度-時間スケジュールに制御し、一方RF電源を手動で制御してもよい。被加熱材を十分に評価した後、制御を完全に自動にしてもよい。
その内容を引用して本明細書に組み込む、出願人の以前の国際特許出願第PCT/GB94/01730号に記載したような直接的あるいは間接的な構成で、放射加熱素子64を1つかそれ以上のガスバーナー94で置き換えることができることが当業者には明らかであろう。このような配列の一例が図10に示されており、図9の炉にも共通している特徴は同じ参照番号を使用して特定している。
放射熱及び/もしくは対流熱源としてガスバーナーを使用することの1つの利点は、結果的に生じる炉が特にバッチ処理もしくは連続処理のいずれにも適していることである。更に、かかる炉によって得ることができる最高温度はその構成材料によってのみ制限される。
いずれの炉においても、マイクロ波電力に対する従来の電力の比は典型的に2:1未満であり、通常は10:1から5:1の範囲である。同時に、マイクロ波電力に対するRF電力の比は典型的に2:1未満であり、通常は10:1から4:1の範囲である。
上述のタイプの炉はイットリア(8%)で安定化されたジルコニア(8YSZ)の小片を焼結させるために使用されている。先駆物質粉末サンプルは円筒形サンプルを形成するために加圧された冷間ダイであり、それらを次に以下のスケジュールを使用して加熱した:
(i) 1分当たり10℃で室温から1300℃まで加熱する;
(ii) 1300℃で1時間保持する;そして
(iii) 1分当たり−10℃で1300℃から室温まで冷却する。
このスケジュールに対して温度を制御するために、放射電力レベルを使用し、RF電力とマイクロ波電力の様々な組み合わせを使用した。いずれの場合にも、サンプルの最終密度を測定し、約2.85gcm−3の開始密度と比較した。その結果を以下の表1に要約した。
上記のものよりわずかばかり低い2.67gcm−3の開始密度を有する同じ材料の大きなペレットに対して、第2シリーズの実験を実施した。この第2シリーズの実験結果を下記の表2に要約した。
表から解るように、これら第2シリーズの実験から、イットリア安定化ジルコニアの焼結に対して以下のことが結論付けられる:
(i) RFを利用した加熱またはマイクロ波を利用した加熱の使用により、従来の放射または対流加熱のみを使用する場合より高い最終密度が得られる;
(ii) マイクロ波を利用した加熱の使用により、RFを利用した加熱を使用した場合より高い密度が得られる;
(iii) RFとマイクロ波とを利用した加熱の使用により、最高の最終密度が得られる。
これらの結論が図11にグラフ表示されており、図中、ジルコニア(8モル%イットリア)の正規化された線形収縮が、従来の焼結(放射熱のみの)と、マイクロ波を利用した焼結、及びRFとマイクロ波とを利用した焼結に対する温度の関数としてプロットされている。このグラフから解るように、マイクロ波を利用した焼結は図8に示したものと同様の焼結向上の縮小を示すが、RFとマイクロ波とを利用した焼結曲線にはこのような焼結向上の低下が検出されていない。
上述の結果はイットリア安定化ジルコニアに関するものであるが、同様の結果が広範囲のセラミック材料に適用できることが示されており、上述の特定の材料に制限されないことが当業者には自明であろう。
Claims (9)
- マイクロ波源と、マイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を閉じ込めるとともに、セラミック、セラミック金属複合材、金属粉末成分およびエンジニアリングセラミックからなる群より選択される被加熱物を包含するための閉じ込め包囲体と、前記マイクロ波源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段と、前記被加熱物を誘電加熱するためのRF源と、前記RF源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段と、前記被加熱物にマイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を同時に印加させるとともに、前記被加熱物が曝されるマイクロ波エネルギーとRFエネルギーの量を制御するように構成された制御手段とを備えることを特徴とするハイブリッド炉。
- 前記被加熱物が曝されるRFエネルギーを、前記マイクロ波エネルギーとは別に制御するための手段が設けられる、請求項1に記載のハイブリッド炉。
- 前記閉じ込め包囲体内で放射熱及び/もしくは対流熱を提供するために、前記閉じ込め包囲体に関連して配置される放射及び/もしくは対流加熱手段と、前記放射熱及び/もしくは対流熱によって前記被加熱物に発生する熱量を制御する手段を付加的に備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のハイブリッド炉。
- 前記マイクロ波エネルギーとは別に、前記放射熱及び/もしくは対流熱によって前記被加熱物に発生する熱量を制御するための手段が設けられる、請求項3に記載のハイブリッド炉。
- 前記RFエネルギーとは別に、前記放射熱及び/もしくは対流熱によって前記被加熱物に発生する熱量を制御するための手段が設けられる、請求項3または4に記載のハイブリッド炉。
- 前記放射及び/もしくは対流加熱手段が少なくとも1つの抵抗型加熱素子を備える、請求項3から5のいずれかに記載のハイブリッド炉。
- 前記放射及び/もしくは対流加熱手段が化石燃料の燃焼用手段を備える、請求項3から5のいずれかに記載のハイブリッド炉。
- マイクロ波源と、マイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を閉じ込めるとともに、セラミック、セラミック金属複合材、金属粉末成分およびエンジニアリングセラミックからなる群より選択される被加熱物を包含するための閉じ込め包囲体と、マイクロ波源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段と、前記被加熱物を誘電加熱するためのRF源と、RF源を前記閉じ込め包囲体に結合するための手段とを備える炉を操作する方法であって、前記被加熱物を加熱するためのマイクロ波源を作動させるとともに、前記被加熱物を誘電過熱するためのRF源を作動させて、マイクロ波エネルギー及びRFエネルギーの両方を前記被加熱物に同時に印加させるステップを含む方法。
- 前記被加熱物が曝されるRFエネルギーを前記マイクロ波エネルギーとは別に制御する付加的なステップを備える請求項8に記載の炉を操作する方法。
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