JP3960439B2

JP3960439B2 - Multilayer ceramic capacitor

Info

Publication number: JP3960439B2
Application number: JP11870097A
Authority: JP
Inventors: 泰彦亀山; 秀雄和崎
Original assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1997-04-21
Filing date: 1997-04-21
Publication date: 2007-08-15
Anticipated expiration: 2017-04-21
Also published as: JPH10294238A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は積層セラミックコンデンサに関し、詳しくは、表面実装型の低容量積層セラミックコンデンサに関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
表面実装型の積層セラミックコンデンサは、例えば、図３に示すように、誘電体であるセラミック１中に複数の内部電極２，２…が、セラミック層１ａを介して互いに対向するように配設されているとともに、内部電極２，２…の一端側が交互に逆側に引き出された構造を有するコンデンサ素子３の両端側に、内部電極２，２…と導通する外部電極４ａ，４ｂを配設することにより形成されている。
【０００３】
そして、この積層セラミックコンデンサは、通常、セラミックグリーンシートと内部電極を積層、圧着してなる積層ブロックを焼成することにより得られるコンデンサ素子３に外部電極ペーストを塗布して焼き付ける工程を経て製造されている。
【０００４】
ところで、積層セラミックコンデンサは、小型で大きな容量を得ることができるという特徴を有しているが、用途によっては小型で低容量の表面実装型積層セラミックコンデンサが必要になる場合がある。そして、取得される静電容量が１０ｎＦ程度の低容量品では、図４に示すように、内部電極２の積み枚数が数枚程度で足りる場合がある。
【０００５】
しかし、内部電極の積み枚数が少なくなると、取得される静電容量が目標を下回ること（いわゆるＣ落ち不良が発生すること）がある。これは、セラミックグリーンシートと内部電極を積層、圧着してなる積層ブロックを焼成する工程で、内部電極が収縮し、内部電極切れが生じることによるものと考えられている。
【０００６】
本発明は、上記問題点を解決するものであり、所望の低容量を確実に取得することが可能な表面実装型の積層セラミックコンデンサを提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の積層セラミックコンデンサは、
コンデンサ素子を構成するセラミック中に容量形成用の内部電極が配設され、かつ、内部電極が一層おきに互いにコンデンサ素子の逆側の端部に引き出された構造を有する表面実装型の積層セラミックコンデンサであって、
(ａ)取得される静電容量が１００ｎＦ以下であること、
(ｂ)コンデンサ素子の前記内部電極の引出し方向の長さＬに対する、交互に積層された内部電極の重なり部分の長さＬ１の割合（Ｌ１／Ｌ）が０．５０以下であること、
(ｃ)コンデンサ素子の体積Ｖに対する内部電極の総体積Ｖ１の割合（Ｖ１／Ｖ）が１．２〜１．８７％であること、
(ｄ)コンデンサ素子の側面が凹状に湾曲していること、
( ｅ ) セラミック層を介して対向する一対の内部電極により形成される、静電容量を発生させる素子の数である素子数が１２〜１６であること
の各要件を満たすこと
を特徴としている。
【０００８】
セラミック層を介して対向する一対の内部電極により形成される、静電容量を発生させる素子の数である素子数が１２〜１６、取得される静電容量が１００ｎＦ以下の要件を満たす積層セラミックコンデンサにおいて、コンデンサ素子の長さＬに対する内部電極の重なり部分の長さＬ１の割合（Ｌ１／Ｌ）を０．５０以下とし、コンデンサ素子の体積Ｖに対する内部電極の総体積Ｖ１の割合（Ｖ１／Ｖ）を１．２〜１．８７％とすることにより、内部電極の積み枚数（素子数）が極端に小さくなることを避けるとともに、焼成時に内部電極のみが収縮することを減らして、コンデンサ素子全体を収縮させることが可能になり、従来のように主に内部電極だけが収縮する場合に比べて、内部電極の引出し部分などにおける電極切れの発生を防止することが可能になる。その結果、内部電極切れなどによる静電容量不足の発生を防止し、低容量で所望の特性を有する積層セラミックコンデンサを得ることが可能になる。
すなわち、焼成時に内部電極のみが収縮するのではなく、コンデンサ素子全体が収縮し、コンデンサ素子の側面が凹状に湾曲した形状となることにより、内部電極だけが収縮する場合に比べて、内部電極の引出し部分などに応力が加わることによる内部電極切れの発生が抑制、防止され、所望の静電容量を得ることが可能になる。
なお、本発明は、内部電極の引出し方向の長さＬ＝２．００mm以下、幅Ｗ＝１．２５mm以下の寸法を有するコンデンサ素子の場合に、内部電極切れなどによる静電容量不足の発生を防止して、低容量で所望の特性を有する積層セラミックコンデンサを確実に得ることが可能になり、特に有意義である。
【０００９】
すなわち、本発明においては、内部電極が、導電体として機能材料的に働くとともに、内部電極の体積をコンデンサ素子の体積の１．２〜１．８７％とすることにより、内部電極自らが収縮することにより、セラミック中に内部電極が配設された構造を有するコンデンサ素子を強制的に収縮させるという構造材料としても機能する。その結果、内部電極だけが収縮することを抑制して、内部電極切れの発生を防止することが可能になる。
【００１０】
なお、取得される静電容量が１００ｎＦ以下であることを要件としたのは、静電容量が１００ｎＦ以下の積層セラミックコンデンサにおいては、内部電極の積み枚数が少ないことにより電極切れが発生し、取得される静電容量が目標を下回る、いわゆるＣ落ち不良の発生率が高容量品に比べて高くなることから、本発明の意義が大きくなることによる。
【００１１】
また、本発明の積層セラミックコンデンサは、前記内部電極として卑金属からなる電極が用いられていることを特徴としている。
【００１２】
本発明の積層セラミックコンデンサにおいては、内部電極の総体積がコンデンサ素子の体積に対して所定の割合以上になるようにしているので、内部電極材料の使用量が増大する傾向にある。したがって、安価な卑金属内部電極を用いる積層セラミックコンデンサに適用した場合に特に有意義である。但し、本発明は貴金属内部電極を用いる積層セラミックコンデンサをその範囲から除外するものではなく、貴金属内部電極を用いた積層セラミックコンデンサにも技術的に十分に対応することが可能である。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を示して、その特徴とするところをさらに詳しく説明する。なお、図１(ａ)は、本発明の一実施形態にかかる積層セラミックコンデンサを示す斜視図、(ｂ)は正面断面図である。
【００１４】
この実施形態の積層セラミックコンデンサは、図１(ａ)，(ｂ)に示すように、セラミック１中に卑金属（例えばニッケル）からなる複数の内部電極２，２…が、セラミック層１ａを介して互いに対向するように配設されているとともに、内部電極２，２…の一端側が交互に逆側に引き出された構造を有するコンデンサ素子３の両端側に、内部電極２，２…と導通する外部電極４ａ，４ｂを配設することにより形成されている。
【００１５】
そして、この積層セラミックコンデンサにおいて、
(１)コンデンサ素子３の内部電極２の引出し方向の長さＬに対する、交互に積層された内部電極の重なり部分の長さＬ１の割合（Ｌ１／Ｌ）、
(２)内部電極２の総面積、
(３)内部電極２の総体積のコンデンサ素子３の体積に対する割合（Ｖ１／Ｖ）
(４)素子数
などを表１に示すような範囲で変化させ、静電容量の大きさ、及び定格電圧を１回目に印加したときと２回目に印加したときのＣ落ち不良率（静電容量不足による不良発生率）を調べた。その結果を表１に示す。
【００１６】
【表１】

【００１７】
なお、表１において、Ｃ落ち不良率は、試料番号１，２及び３に関しては、静電容量が７μＦ以下、試料番号４に関しては、静電容量が１２ｎＦ以下になったものの割合（％）を示している。
また、表１において、有効面積は、隣接する内部電極どうしの重なり面積を示している。
【００１８】
表１より、Ｌ１／Ｌの値を小さくし（すなわち、内部電極の重なり面積（有効面積）を減らし）、素子数（内部電極の積み枚数）を増やすとともに、内部電極の体積を増やすことにより、Ｃ落ち不良率を低減できることがわかる。
【００１９】
すなわち、Ｌ１／Ｌを０．５０以下とし、内部電極の積み枚数を増やすことにより、コンデンサ素子の体積に対する内部電極の体積を１．２〜１．８７％とすることが可能になり、焼成時に、内部電極の引出し部分で内部電極切れが発生することを防止してＣ落ち不良率を効率よく減らすことが可能になる。
【００２０】
上述のように、本発明においては、内部電極が導電体として機能材料的に利用されているとともに、セラミック中に内部電極を配設した構造を有するコンデンサ素子を強制的に収縮させるという構造材料的な面にも利用されている。その結果、内部電極の総体積をある程度以上大きくすることにより、コンデンサ素子全体を収縮させ、従来のように主に内部電極だけが収縮する場合に比べて、内部電極の引出し部分などにおける電極切れの発生を防止することが可能になる。
【００２１】
なお、図２は、コンデンサ素子３が内部電極２とともに収縮している状態を模式的に示す図である。図２に示すように、コンデンサ素子３全体が収縮して、側面側が凹状になるように湾曲することにより、内部電極２の引出し部分などに応力が加わることが抑制されるため、内部電極切れが生じることを防止して所望の静電容量を得ることが可能になる。
【００２２】
なお、上記実施形態では、内部電極としてニッケル電極を用いた場合を例にとって説明したが、内部電極をその他の卑金属材料から構成することも可能である。また、本発明は、内部電極として貴金属電極を用いた積層セラミックコンデンサにも適用することが可能であり、その場合にも上記実施形態の場合と同様の効果を得ることができる。
【００２３】
本発明は、さらにその他の点においても上記実施形態に限定されるものではなく、内部電極の具体的な形状、積み枚数などに関し、発明の要旨の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが可能である。
【００２４】
【発明の効果】
上述のように、本発明の積層セラミックコンデンサは、セラミック層を介して対向する一対の内部電極により形成される、静電容量を発生させる素子の数である素子数が１２〜１６、取得される静電容量が１００ｎＦ以下の要件を満たす積層セラミックコンデンサにおいて、コンデンサ素子の長さＬに対する内部電極の重なり部分の長さＬ１の割合（Ｌ１／Ｌ）を０．５０以下とし、コンデンサ素子の体積Ｖに対する内部電極の総体積Ｖ１の割合（Ｖ１／Ｖ）を１．２〜１．８７％としているので、内部電極の積み枚数が極端に小さくなることを避けるとともに、焼成時に主として内部電極のみが収縮することを抑制して、コンデンサ素子全体を収縮させることが可能になり、従来のように主に内部電極だけが収縮する場合に比べて、内部電極の引出し部分などにおける電極切れの発生を防止することが可能になる。その結果、内部電極切れなどによる静電容量不足の発生を防止することが可能になる。すなわち、焼成時に内部電極のみが収縮するのではなく、コンデンサ素子全体が収縮し、コンデンサ素子の側面が凹状に湾曲した形状となることにより、内部電極だけが収縮する場合に比べて、内部電極の引出し部分などに応力が加わることによる内部電極切れの発生が抑制、防止され、所望の静電容量を得ることが可能になる。
したがって、本発明によれば、低容量で所望の特性を有する積層セラミックコンデンサを確実に得ることが可能になる。
【００２５】
また、本発明の積層セラミックコンデンサにおいては、内部電極の総体積がコンデンサ素子の体積に対して所定の割合以上になるようにしているので、内部電極材料の使用量が増大する傾向にある。したがって、安価な卑金属内部電極を用いる積層セラミックコンデンサに適用した場合に特に有意義である。但し、本発明は貴金属内部電極を用いる積層セラミックコンデンサをその範囲から除外するものではなく、貴金属内部電極を用いた積層セラミックコンデンサにも技術的に十分に対応することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】 (ａ)は、本発明の一実施形態にかかる積層セラミックコンデンサを示す斜視図、(ｂ)は正面断面図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる積層セラミックコンデンサを構成するコンデンサ素子全体が収縮した状態を模式的に示す断面図である。
【図３】従来の積層セラミックコンデンサの構造を示す断面図である。
【図４】従来の低容量の積層セラミックコンデンサを示す断面図である。
【符号の説明】
１セラミック
１ａセラミック層
２内部電極
３コンデンサ素子
４ａ，４ｂ外部電極
Ｌコンデンサ素子の長さ
Ｗコンデンサ素子の幅
Ｔコンデンサ素子の厚み
Ｌ１内部電極の重なり部分の長さ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a multilayer ceramic capacitor, and more particularly to a surface mount type low-capacitance multilayer ceramic capacitor.
[0002]
[Prior art and problems to be solved by the invention]
For example, as shown in FIG. 3, a surface-mount type multilayer ceramic capacitor is provided such that a plurality of

internal electrodes

2, 2... Are opposed to each other through a ceramic layer 1a in a ceramic 1 that is a dielectric. In addition,

external electrodes

4a and 4b that are electrically connected to the

internal electrodes

2, 2... Are disposed on both ends of the capacitor element 3 having a structure in which one end sides of the

internal electrodes

2, 2. It is formed by.
[0003]
The multilayer ceramic capacitor is usually manufactured through a process in which an external electrode paste is applied and baked onto the capacitor element 3 obtained by firing a multilayer block formed by laminating and crimping ceramic green sheets and internal electrodes. Yes.
[0004]
By the way, the monolithic ceramic capacitor has a feature that it is small and can obtain a large capacity. However, a small and low-capacity surface mount monolithic ceramic capacitor may be required depending on applications. And in the low capacity | capacitance goods with the acquired electrostatic capacitance of about 10 nF, as shown in FIG. 4, about several sheets of internal electrodes 2 may be sufficient.
[0005]
However, when the number of stacked internal electrodes decreases, the acquired capacitance may fall below the target (so-called C drop defect may occur). This is considered to be due to the internal electrode shrinking and the internal electrode being cut off in the step of firing the laminated block formed by laminating and pressing the ceramic green sheet and the internal electrode.
[0006]
The present invention solves the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a surface-mounting type multilayer ceramic capacitor capable of reliably obtaining a desired low capacitance.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the multilayer ceramic capacitor of the present invention comprises:
A surface-mounting type multilayer ceramic capacitor having a structure in which internal electrodes for forming a capacitor are arranged in a ceramic constituting a capacitor element, and the internal electrodes are drawn out to the opposite ends of the capacitor element. Because
(a) The acquired capacitance is 100 nF or less,
(b) The ratio (L1 / L) of the length L1 of the overlapping portions of the alternately stacked internal electrodes to the length L in the lead-out direction of the internal electrodes of the capacitor element is 0.50 or less,
(c) The ratio (V1 / V) of the total volume V1 of the internal electrodes to the volume V of the capacitor element is 1.2 to 1.87%,
(d) the side surface of the capacitor element is concavely curved ;
( e ) It is characterized by satisfying each requirement that the number of elements, which is the number of elements that generate capacitance, formed by a pair of internal electrodes facing each other through a ceramic layer is 12 to 16 .
[0008]
A multilayer ceramic capacitor satisfying the requirement that the number of elements, which is the number of elements generating electrostatic capacity, is 12 to 16, and the acquired electrostatic capacity is 100 nF or less, formed by a pair of internal electrodes opposed via a ceramic layer , The ratio of the length L1 of the overlapping portion of the internal electrodes to the length L of the capacitor element (L1 / L) is 0.50 or less, and the ratio of the total volume V1 of the internal electrodes to the volume V of the capacitor element (V1 / V ) Of 1.2 to 1.87%, the number of stacked internal electrodes (number of elements) is avoided to be extremely small, and the shrinkage of only the internal electrodes during firing is reduced. Compared to the case where only the internal electrode contracts mainly as in the past, it is possible to prevent the occurrence of electrode breakage in the lead-out portion of the internal electrode. Rukoto becomes possible. As a result, it is possible to prevent the occurrence of insufficient capacitance due to internal electrode shortage and the like, and to obtain a multilayer ceramic capacitor having low capacitance and desired characteristics.
That is, not only the internal electrode contracts during firing, but the entire capacitor element contracts, and the side surface of the capacitor element is curved in a concave shape, so that only the internal electrode contracts. The occurrence of internal electrode breakage due to stress applied to the lead-out portion or the like is suppressed and prevented, and a desired capacitance can be obtained.
In the present invention, in the case of a capacitor element having a length L = 2.00 mm or less in the drawing direction of the internal electrode and a width W = 1.25 mm or less, the occurrence of insufficient capacitance due to internal electrode breakage or the like occurs. This makes it possible to reliably obtain a multilayer ceramic capacitor having a desired characteristic with a low capacity, which is particularly significant.
[0009]
That is, in the present invention, the internal electrode works as a functional material as a conductor, and the internal electrode itself contracts by setting the volume of the internal electrode to 1.2 to 1.87% of the volume of the capacitor element. As a result, it also functions as a structural material for forcibly shrinking a capacitor element having a structure in which internal electrodes are arranged in ceramic. As a result, it is possible to prevent only the internal electrode from contracting and prevent the internal electrode from being cut.
[0010]
The requirement for the acquired capacitance to be 100 nF or less is that in multilayer ceramic capacitors with a capacitance of 100 nF or less, electrode shortage occurs due to the small number of stacked internal electrodes. This is because the occurrence rate of the so-called C drop defect is lower than the target, and the significance of the present invention is increased.
[0011]
The multilayer ceramic capacitor of the present invention is characterized in that an electrode made of a base metal is used as the internal electrode.
[0012]
In the multilayer ceramic capacitor of the present invention, the total volume of the internal electrodes is set to a predetermined ratio or more with respect to the volume of the capacitor element, so that the amount of the internal electrode material used tends to increase. Therefore, it is particularly meaningful when applied to a multilayer ceramic capacitor using an inexpensive base metal internal electrode. However, the present invention does not exclude the multilayer ceramic capacitor using the noble metal internal electrode from the range, and can technically sufficiently cope with the multilayer ceramic capacitor using the noble metal internal electrode.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the embodiment of the present invention will be shown and the features thereof will be described in more detail. 1A is a perspective view showing a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a front sectional view.
[0014]
In the multilayer ceramic capacitor of this embodiment, as shown in FIGS. 1A and 1B, a plurality of

internal electrodes

2, 2... Made of a base metal (for example, nickel) are provided in a ceramic 1 through a ceramic layer 1a. The external electrodes that are disposed so as to face each other and that are electrically connected to the

internal electrodes

2, 2... Are connected to both ends of the capacitor element 3 having a structure in which one end sides of the

internal electrodes

2, 2. It is formed by disposing the

electrodes

4a and 4b.
[0015]
And in this multilayer ceramic capacitor,
(1) The ratio (L1 / L) of the length L1 of the overlapping portions of the alternately stacked internal electrodes to the length L in the lead-out direction of the internal electrodes 2 of the capacitor element 3;
(2) Total area of internal electrode 2;
(3) Ratio of the total volume of the internal electrode 2 to the volume of the capacitor element 3 (V1 / V)
(4) The number of elements is changed within the range shown in Table 1, the size of the capacitance, and the C drop defect rate when the rated voltage is applied for the first time and for the second time (static The failure rate due to lack of capacity) was investigated. The results are shown in Table 1.
[0016]
[Table 1]

[0017]
In Table 1, the C drop defect rate is the ratio (%) of the

sample numbers

1, 2 and 3 where the capacitance was 7 μF or less, and for sample number 4, the capacitance was 12 nF or less. Show.
In Table 1, the effective area indicates the overlapping area between adjacent internal electrodes.
[0018]
From Table 1, by reducing the value of L1 / L (that is, reducing the overlapping area (effective area) of the internal electrodes), increasing the number of elements (the number of stacked internal electrodes), and increasing the volume of the internal electrodes, It can be seen that the C drop defect rate can be reduced.
[0019]
That is, by setting L1 / L to 0.50 or less and increasing the number of stacked internal electrodes, the volume of the internal electrodes with respect to the volume of the capacitor element can be 1.2 to 1.87%. Further, it is possible to prevent the internal electrode from being cut at the internal electrode lead-out portion and to efficiently reduce the C drop defect rate.
[0020]
As described above, in the present invention, the internal electrode is used as a functional material as a conductor, and the capacitor element having a structure in which the internal electrode is disposed in the ceramic is forcibly contracted. It is also used for various aspects. As a result, by increasing the total volume of the internal electrode to a certain extent, the entire capacitor element is contracted, and compared to the case where only the internal electrode is contracted as in the prior art, the electrode breakage at the lead-out portion of the internal electrode, etc. Occurrence can be prevented.
[0021]
FIG. 2 is a diagram schematically showing a state in which the capacitor element 3 is contracted together with the internal electrode 2. As shown in FIG. 2, since the capacitor element 3 as a whole is contracted and curved so that the side surface is concave, it is possible to prevent stress from being applied to the lead-out portion of the internal electrode 2 and so It is possible to prevent the occurrence and obtain a desired capacitance.
[0022]
In the above-described embodiment, the case where a nickel electrode is used as the internal electrode has been described as an example. However, the internal electrode can be made of other base metal materials. The present invention can also be applied to a multilayer ceramic capacitor using a noble metal electrode as an internal electrode. In this case, the same effect as in the case of the above embodiment can be obtained.
[0023]
The present invention is not limited to the above-described embodiment in other respects, and various applications and modifications are made within the scope of the invention regarding the specific shape and number of stacked internal electrodes. Is possible.
[0024]
【The invention's effect】
As described above, in the multilayer ceramic capacitor of the present invention, 12 to 16 elements, which are the number of elements that generate capacitance, formed by a pair of internal electrodes facing each other through the ceramic layer, are obtained. In a multilayer ceramic capacitor satisfying the requirement that the capacitance is 100 nF or less, the ratio (L1 / L) of the overlapping portion length L1 of the internal electrode to the length L of the capacitor element is 0.50 or less, and the volume V of the capacitor element The ratio (V1 / V) of the total volume V1 of the internal electrode to 1.2 to 1.87% prevents an extremely small number of internal electrodes from being stacked, and only the internal electrode contracts mainly during firing. This makes it possible to shrink the entire capacitor element, compared to the case where only the internal electrode contracts as in the prior art. It is possible to prevent the occurrence of electrode disconnection, such as in a drawer portion. As a result, it is possible to prevent the occurrence of insufficient capacitance due to internal electrode shortage or the like. That is, not only the internal electrode contracts during firing, but the entire capacitor element contracts, and the side surface of the capacitor element is curved in a concave shape, so that only the internal electrode contracts. The occurrence of internal electrode breakage due to stress applied to the lead-out portion or the like is suppressed and prevented, and a desired capacitance can be obtained.
Therefore, according to the present invention, it is possible to reliably obtain a monolithic ceramic capacitor having desired characteristics with a low capacity.
[0025]
Moreover, in the multilayer ceramic capacitor of the present invention, the total volume of the internal electrodes is set to a predetermined ratio or more with respect to the volume of the capacitor element, so that the amount of internal electrode material used tends to increase. Therefore, it is particularly meaningful when applied to a multilayer ceramic capacitor using an inexpensive base metal internal electrode. However, the present invention does not exclude the multilayer ceramic capacitor using the noble metal internal electrode from the range, and can technically sufficiently cope with the multilayer ceramic capacitor using the noble metal internal electrode.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1A is a perspective view showing a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a state in which the entire capacitor element constituting the multilayer ceramic capacitor according to the embodiment of the present invention is contracted.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing the structure of a conventional multilayer ceramic capacitor.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a conventional low-capacitance multilayer ceramic capacitor.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Ceramic 1a Ceramic layer 2 Internal electrode 3

Capacitor element

4a, 4b External electrode L Length of capacitor element W Width of capacitor element T Thickness of capacitor element L1 Length of overlapping part of internal electrode

Claims

コンデンサ素子を構成するセラミック中に容量形成用の内部電極が配設され、かつ、内部電極が一層おきに互いにコンデンサ素子の逆側の端部に引き出された構造を有する表面実装型の積層セラミックコンデンサであって、
(ａ)取得される静電容量が１００ｎＦ以下であること、
(ｂ)コンデンサ素子の前記内部電極の引出し方向の長さＬに対する、交互に積層された内部電極の重なり部分の長さＬ１の割合（Ｌ１／Ｌ）が０．５０以下であること、
(ｃ)コンデンサ素子の体積Ｖに対する内部電極の総体積Ｖ１の割合（Ｖ１／Ｖ）が１．２〜１．８７％であること、
(ｄ)コンデンサ素子の側面が凹状に湾曲していること、
( ｅ ) セラミック層を介して対向する一対の内部電極により形成される、静電容量を発生させる素子の数である素子数が１２〜１６であること
の各要件を満たすこと
を特徴とする積層セラミックコンデンサ。A surface-mounting type multilayer ceramic capacitor having a structure in which internal electrodes for forming a capacitor are arranged in a ceramic constituting a capacitor element, and the internal electrodes are drawn out to the opposite ends of the capacitor element. Because
(a) The acquired capacitance is 100 nF or less,
(b) The ratio (L1 / L) of the length L1 of the overlapping portions of the alternately stacked internal electrodes to the length L in the lead-out direction of the internal electrodes of the capacitor element is 0.50 or less,
(c) The ratio (V1 / V) of the total volume V1 of the internal electrodes to the volume V of the capacitor element is 1.2 to 1.87%,
(d) the side surface of the capacitor element is concavely curved;
( e ) satisfying each requirement that the number of elements, which is the number of elements that generate capacitance, formed by a pair of internal electrodes opposed via a ceramic layer is 12 to 16 ; Characteristic multilayer ceramic capacitor.

前記内部電極として卑金属からなる電極が用いられていることを特徴とする請求項１記載の積層セラミックコンデンサ。 2. The multilayer ceramic capacitor according to claim 1, wherein an electrode made of a base metal is used as the internal electrode.