JP3951021B2 - 補償光学用参照点光源の作成法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、補償光学技術を各種映像装置に適用する場合に必要な、参照点光源を人工的に作成する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
光の波面歪みを実時間で検出し補正する補償光学装置は、大気ゆらぎの影響によりぼやけた天体像を改善することを目的として、主に、天文学の分野で利用されてきた。
【0003】
この従来技術を図2に示す。光路中の媒質のゆらぎによって乱された参照光の波面21を形状可変鏡22で反射させ、その波面の一部をビームスプリッター(BS)25によって取り出し、それを波面センサー26に入射させる。ここで、形状可変鏡とは、薄い鏡23の背面にアクチュエーター24が複数個取り付けられ、それぞれのアクチュエーターを制御することによって鏡の形状を任意に変化させることができる装置である。
【0004】
波面センサー26では波面の歪みが計測され、その計測結果が制御装置27に入力される。制御装置27では、その計測結果に基づいて波面を補正するために必要な鏡の形状が計算され、それに基づいて個々のアクチュエーター24を制御することにより形状可変鏡22の形状を変化させる。この一連の動作を素早く行うことで、入射光の波面の歪みを形状可変鏡22での反射により実時間で補正することができる。(補償光学装置に関しては、例えば、特許文献1、特許文献2、特許文献3参照)。
【0005】
この補償光学装置を天体望遠鏡に組み込む際には、観測対象となる天体の近傍に存在する明るい恒星を参照光として利用する。恒星からの光は地球上の大気層に突入するまでは平面波として伝搬するが、望遠鏡に入射するまでに大気の影響を受け、その波面は歪んでしまう。この歪んだ参照光を利用して上述のように光路中に存在する大気のゆらぎの影響を打ち消すように形状可変鏡を制御し、その制御された形状可変鏡を通して観測対象となる天体を観測することにより、大気ゆらぎの影響を排除した鮮明な天体像を観測することができる。
【0006】
また、観測対象となる天体の近傍に明るい星がない場合には、波長589nmで発振する高出力のレーザー光を空に向かって出射し、高度90km付近のナトリウム原子層において共鳴散乱による発光を起こし(人工星)、それを参照光として利用することもできる。(人工星については、例えば、特許文献4参照。)。
【0007】
さらに、この補償光学装置を眼底カメラに組み込む際には、参照光として、レーザー光を眼に入射し網膜上で鋭く絞ることによって作成された網膜上の輝点を利用する。網膜上の輝点からは球面波状の反射光が得られるため、角膜や水晶体に歪みがない場合には、角膜や水晶体のレンズ作用により、網膜上の輝点からの球面波は平面波となり眼から出射される。しかし、一般には、人の眼の角膜や水晶体には歪みがあるため、眼から出射される網膜上の輝点からの光の波面は歪んでしまう。
【0008】
この参照光に基づいて光路中に存在する角膜や水晶体の歪みの影響を打ち消すように形状可変鏡を制御し、その制御された形状可変鏡を通して観測対象となる網膜を観察することにより、角膜や水晶体の歪みの影響を排除した高分解能の網膜像を観測することができる。(例えば、特許文献5参照。)。
【0009】
一方、レーザー光源及びレーザービームを走査するためのガルバノミラー等で構成され、レーザー光の放射圧を利用して金属や誘電体の微粒子、分子、細胞等を非接触で捕捉し移動させる装置(例えば、特許文献6、特許文献7、特許文献8参照。)が知られており、本明細書ではこのような装置を光ピンセット装置と言う。
【0010】
【特許文献1】
特開平5−323213号公報
【特許文献2】
特開平6−250108号公報
【特許文献3】
特許第3070892号公報
【特許文献4】
特開2002−335218号公報
【特許文献5】
特表2001−507258号公報
【特許文献6】
特開平5−107498号公報
【特許文献7】
特開平5−93871号公報
【特許文献8】
特許第2947971号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
補償光学装置を各種映像装置、特に、脳室鏡や膀胱鏡をはじめとする医療用内視鏡や生物観察用の顕微鏡に適用する場合、眼底カメラに適用する場合と同様に、レーザー光を絞って被測定物体に照射し、そこに形成される輝点を参照光として利用する方法も考えられる。しかし、医療用内視鏡や生物顕微鏡における被測定物体は、一般に、その表面形状が不規則でかつ反射率が低いため、その表面上に輝点を作成して参照光として利用することは困難である。
【0012】
本発明は、このように補償光学装置を各種映像装置に適用する際に必要となる参照点光源を、被測定物体の性状に依存することなく作成する手法を提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決するために、映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、上記被測定物体の近傍に金属や誘電体の微粒子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉し、該捕捉された微粒子に鋭く絞った光を入射して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される反射光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法を提供する。
【0014】
本発明は上記課題を解決するために、映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、上記被測定物体の近傍に蛍光分子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される蛍光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法を提供する。
【0015】
本発明は上記課題を解決するために、映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、上記被測定物体の近傍に色素を添加した微粒子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される蛍光もしくはレーザー光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法を提供する。
【0016】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を実施例に基づいて図面を参照して説明する。本発明に係る補償光学用参照点光源の作成法は、図1に示すように、補償光学装置13の設置された映像装置12、及び測定系11で構成されるシステムにおいて利用され、それを実現するために、光ピンセット装置20及び必要に応じて参照点光源用の光源19が設置される。
【0017】
この映像装置12は、対物レンズL1と結像レンズL2の2枚のレンズの作用により、被測定物体Oの像をCCDカメラ17上に形成する作用があり、例えば、脳室鏡や膀胱鏡などの医療用内視鏡、もしくは生体組織や微生物を観察するための顕微鏡を表している。また、補償光学装置13は、一般的には、形状可変鏡16、ビームスプリッター(BS3)、波面センサー14、制御装置15で構成される。
【0018】
(実施例)
映像装置12が医療用内視鏡である場合を例として、本発明の実施例を以下に説明する。測定系11に存在する被測定物体Oは、映像装置12が脳室鏡の場合には脳であり、膀胱鏡の場合には膀胱壁となる。被測定物体Oを照明し(照明用の光学系は、図には記載せず)反射した光を映像装置12の対物レンズL1、ビームスプリッターBS1、光ピンセット装置用のレーザー光を遮断する光学フィルターF、補償光学装置13、結像レンズL2を介してCCDカメラ17で撮影し、モニター18上に被測定物体Oの像を表示する。
【0019】
このとき、被測定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質(脳室鏡の場合には脳脊髄液、膀胱鏡の場合には膀胱に注入する水)のゆらぎと、対物レンズL1の収差の影響により、取得される映像は一般に不鮮明となる。
【0020】
上記被測定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差を補正し、鮮明な物体像を得ることを目的として、映像装置12に設置された補償光学装置13を駆動する。なお、この例における映像装置12は、対物レンズL1と結像レンズL2の2枚のレンズで構成されているが、像の品質を向上させるために組合せレンズを用いたり、像を内視鏡の内部で伝達させるためにリレーレンズ系を加えたり等、同様の動作をするその他の構成も考えられる。一方、上記映像装置12に組み込まれる補償光学装置13についても、形状可変鏡16に代わり液晶位相変調素子が用いられる等(例えば、特開2002−40368「光駆動型波面補正映像方法及び装置」を参照)、同様の動作をするその他の構成も考えられる。
【0021】
補償光学装置13を駆動するためには、上記被測定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差を忠実に反映して歪んだ光の波面を上記補償光学装置13に入力しなければならない。そのためには、被測定物体Oの近傍に理想的な点光源を作成し、そこから放射される球面波状の光を利用する方法が考えられる。
【0022】
なお、作成される点光源は、上記被測定定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差が全くない場合に、補償光学装置13に平面波が入力されるように配置されなければならない。このとき作成される点光源の位置は、必然的に、対物レンズL1の焦点面上であり、被測定物体Oの近傍となる。
【0023】
上記の点光源を作成するために、最初に、金属もしくは誘電体の微粒子Pを被測定物体Oの近くに導入する。この微粒子Pに光ピンセット装置20からのレーザー光を鋭く絞って照射し、その微粒子Pを焦点付近に捕捉する。次に、微粒子Pを捕捉したままレーザー光の焦点位置を走査して、この微粒子Pを上記点光源を配置すべき位置に移動させる。所定の位置で捕捉された金属もしくは誘電体の微粒子Pに、参照点光源用の光源19からのレーザー光をビームスプリッターBS2及びビームスプリッターBS1を介して、対物レンズL1により鋭く絞って照射する。この場合の上記微粒子Pの大きさ及び形状は、照射された鋭く絞ったレーザー光が、球面波状の反射光となって放射されるように適宜選択する必要がある。
【0024】
例えば、上記微粒子Pの大きさが照射するレーザーのスポットサイズよりも小さい場合には、ミー散乱の理論に基づいてほぼ球面波状の反射光が得られるように、その形状はほぼ球形でなければならない。このようにして実現される、鋭く絞ったレーザー光を照射した上記微粒子Pが、補償光学装置を駆動するための参照点光源となる。
【0025】
光ピンセット装置20において微粒子を捕捉するために利用されるレーザー光の波長と、参照点光源用の光源19において利用されるレーザー光の波長は、一般的な光学フィルターで分離できる程度に異なっていなければならない。なお、図1では、光ピンセット装置から出射される微粒子捕捉用のレーザー光を、微粒子Pを捕捉する位置まで導入するために、映像装置12の内部のビームスプリッターBS1と対物レンズL1を介した光路を採用しているが、上記ビームスプリッターBS1及び対物レンズL1を利用せずに、その他の光学素子を利用して同様の動作を実現することも可能である。
【0026】
上記微粒子Pからの球面波状の反射光は対物レンズL1、ビームスプリッターBS1、及び光学フィルターFを通過して補償光学装置13へ入射される。光学フィルターFは、光ピンセット装置用のレーザー光が微粒子Pを捕捉する際に発生する散乱光が、補償光学装置13に入射するのを防ぐために設置される。
【0027】
微粒子Pからの球面波状の反射光は、被測定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差がなければ、理想的に平面波となって補償光学装置13に入射される。しかし、多くの場合には、それら被測定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差の影響により、補償光学装置13には歪みをもった波面が入射される。その歪んだ波面は形状可変鏡16で反射され、ビームスプリッターBS3によって、その反射波面の一部が波面センサー14に入力される。波面センサー14では波面の歪みが計測され、その計測結果が制御装置15に入力される。
【0028】
制御装置15では、その計測結果に基づいて形状可変鏡16の形状を変化させる。例えば、波面が凸面状の歪みをもっていた場合には、反射の過程で凸面状の波面が平坦な波面に変換されるように形状可変鏡を凹面状に変形させる。被測定物体Oからの反射光(被測定物体Oの情報を含んでいる撮影用の光)についても、微粒子Pからの反射光と同様の理由により波面が歪み、その影響でCCDカメラ17で撮影される被測定物体Oの像は不鮮明となる。そのため、微粒子Pからの反射光を利用して制御された形状可変鏡を通して被測定物体Oを観察すると、上記被測定定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差による波面の歪みが補正され、原理的には鮮明な物体像を得ることが可能となる。
【0029】
以上述べてきた方法では、補償光学装置13を駆動するための参照点光源として、金属もしくは誘電体の微粒子Pを利用した。次に、上記微粒子Pの代わりに、1個もしくは複数個の蛍光分子P(実施例1と同様に図1、2を説明で利用する都合上、「微粒子P」と同じ「P」を付す。)を上記光ピンセット装置20を用いて上述の位置に捕捉することを考える。
【0030】
この場合、上記蛍光分子(群)を捕捉するための上記光ピンセット装置からのレーザー光の作用により、上記蛍光分子から上記レーザー光とは異なる波長の蛍光が発せられる。蛍光分子(群)の大きさが十分に小さく、そこからの蛍光が球面波状に放射される場合を考える。これを上記補償光学装置13を駆動するための参照点光源として利用すると、これまでに述べてきた原理に基づき、上記補償光学装置13を動作させることができ、最終的には、上記被測定定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差の影響を排除した鮮明な物体像を得ることができる。
【0031】
次に、蛍光分子Pに代わって、色素を添加した微粒子P(実施例1と同様に図1、2を説明で利用する都合上、「微粒子P」と同じ「P」を付す。)を上記光ピンセット装置20を用いて上述の位置に捕捉することを考える。この場合、蛍光分子の場合と同様に、上記微粒子Pを捕捉するための上記光ピンセット装置からのレーザー光の作用により、上記微粒子Pから上記レーザー光とは異なる波長の蛍光が発せられる。
【0032】
また、条件によっては、微粒子が共振器として振る舞い、レーザー発振が生じる。これらの色素を添加した微粒子から球面波状に放射される蛍光もしくはレーザー光を上記補償光学装置13を駆動するための参照点光源として利用すると、これまでに述べてきた原理に基づき、上記補償光学装置13を動作させることができ、最終的には、上記被測定物体Oと対物レンズL1との間にある媒質のゆらぎと、対物レンズL1の収差の影響を排除した鮮明な物体像を得ることができる。
【0033】
なお,上記微粒子にて発振したレーザーを利用する際には、金属もしくは誘電体微粒子を利用する場合と同様に、参照点光源用の光源からのレーザー光を上記微粒子に照射してそれを励起光としてレーザー発振させることも可能である。
【0034】
以上本発明に係る補償光学用参照点光源の作成法の実施の形態を実施例に基づいて説明したが、本発明はこのような実施例に限定されることなく特許請求の範囲記載の範囲内でいろいろな実施例があることは言うまでもない。
【0035】
【発明の効果】
上述したように本発明の補償光学用参照点光源の作成法によると、補償光学装置を各種映像装置に適用する際に必要となる参照点光源を、被測定物体の性状に依存することなく作成することができ、補償光学装置の適用分野を拡大することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す概念図である。
【図2】形状可変鏡を用いた従来の補償光学システムの概念図である。
【符号の説明】
11 測定系
12 映像装置
13 補償光学装置
14 波面センサー
15 制御装置
16 形状可変鏡
17 CCDカメラ
18 モニター
19 参照点光源用の光源
20 光ピンセット装置
21 参照光の波面
22 形状可変鏡
23 薄い鏡
24 アクチュエーター
25 ビームスプリッター(BS)
26 波面センサー
27 制御装置
P 金属もしくは誘電体の微粒子、蛍光分子、色素を添加した微粒子
O 被測定物体
L1 対物レンズ
L2 結像レンズ
F 光学フィルター
BS1、BS2、BS3、BS ビームスプリッター
Claims (3)
- 映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、
上記被測定物体の近傍に金属や誘電体の微粒子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉し、該捕捉された微粒子に鋭く絞った光を入射して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される反射光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法。 - 映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、
上記被測定物体の近傍に蛍光分子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される蛍光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法。 - 映像装置で撮影される被測定物体と上記映像装置との間に存在する媒質のゆらぎ、及び上記映像装置に設置される対物レンズの収差に起因する物体像の歪みを補正するための補償光学装置を駆動する補償光学用参照点光源の作成法であって、
上記被測定物体の近傍に色素を添加した微粒子を光ピンセット装置を用いて非接触で捕捉して点光源を作成し、該点光源から球面波状に放射される蛍光もしくはレーザー光を上記補償光学装置を駆動するための参照光として利用することを特徴とする補償光学用参照点光源の作成法。
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