JP3949531B2

JP3949531B2 - X-ray inspection equipment

Info

Publication number: JP3949531B2
Application number: JP2002216693A
Authority: JP
Inventors: 幸彦戎
Original assignee: Ishida Co Ltd
Current assignee: Ishida Co Ltd
Priority date: 2002-07-25
Filing date: 2002-07-25
Publication date: 2007-07-25
Anticipated expiration: 2022-07-25
Also published as: JP2004061168A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、搬送中の物品の検査を行うＸ線検査装置に関するものである。
【０００２】
【発明の背景】
近年、各種の商品についての安全性に関する要求が高まっており、特に食品などの物品においては、異物が混入したのを確実に発見する必要がある。そこで、例えば特開平９−１１３６３１号公報または特開平９−１２７０１７号公報に開示されているようなＸ線を用いたＸ線検査装置が実用化されている。
かかるＸ線検査装置は、コンベヤにより搬送される物品にＸ線照射手段からＸ線を照射し、該物品を透過したＸ線をＸ線検出器（ラインセンサ）に入射させ、該Ｘ線検出器からの出力をコンピュータで連続的に処理することによって異物検出を行う。
【０００３】
ところで、図５（ａ）に示すように、前記Ｘ線Ｌは、コンベヤ５の搬送面５１上に斜線で示す照射領域Ａに照射される。奥から手前に向って搬送された物品Ｍは、図５（ｂ）に示すように、前記照射領域Ａ内を通過し、異物検出が行われる。しかし、図５（ｃ）に示すように、前記物品Ｍが左右方向に偏って搬送された場合には、物品Ｍが前記照射領域Ａを外れ、異物検出が不可能なはみ出し部分Brが生じ、検査の信頼性が低下する。
【０００４】
そこで、Ｘ線照射手段とＸ線検出器からなる光学系を、それぞれ２組設け、前記２組の光学系の照射領域を、互いに異なる領域に設定する方法が開示されている（特開昭６１−２０５８５１号参照）。
しかし、かかる従来技術では、２組の光学系を用いているので、コスト高になるのは避けられない。また、各々の光学系について照射距離や照射角度などの調整が必要であり、設計や調整が煩雑である。
【０００５】
一方、特開２０００−２４１３６８号公報に開示されているように、物品に応じてＸ線照射手段およびＸ線検出器を相対移動させることが考えられる。
しかし、前記移動によりＸ線の照射距離が変化するので、ラインセンサの感度調整等が煩雑になる。また、Ｘ線照射手段の位置が変化するので、該Ｘ線照射手段の位置によっては、乱反射したＸ線が外部に漏れるおそれがある。
【０００６】
本発明は、かかる従来の問題に鑑みてなされたもので、その目的は、コスト高を招くことなくＸ線の漏洩防止を図ると共に、Ｘ線検査装置の検査の信頼性を向上させることである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明のＸ線検査装置は、物品を搬送するコンベヤにより物品が搬送されている間に、前記物品にＸ線を照射し、該物品を通過したＸ線を画像処理して物品を検査するＸ線検査装置であって、物品が幅方向の左右の端に最も偏って搬送された場合の前記コンベヤ上における物品の通過領域がＸ線の照射される照射領域からはみ出す場合には、当該物品が搬送される前に当該物品の通過領域を変更する手段を備えることを特徴とする。
【０００８】
本発明によれば、前記照射領域から当該物品がはみ出した状態で搬送されるか否かの領域チェックが行われる。そのため、前記領域チェックによる判別結果に従い、物品を常に照射領域内に搬送するように設定することができるから、検査の信頼性を向上させることができる。
また、光学系を２組用いたり、Ｘ線照射手段および検出器を移動させないのでコストダウンを図り得る。さらに、Ｘ線照射手段を移動させないので、乱反射したＸ線が外部に漏れるのを防止することができる。
【０００９】
また、物品の大きさを検出する検出手段を設ければ、ランダムな大きさの物品であっても、物品ごとに照射領域からはみ出すか否かの判別を行うことができる。かかる検出手段としては、たとえば、物品を撮像する撮像手段からの撮像信号に基づき、前記照射領域に対応する物品の通過領域を求める画像処理手段を用いる。
なお、「物品の大きさ」とは、物品の幅および高さのみならず、鉛直面への物品の投影面積を含んでもよい。さらに、本発明における「はみ出し判別」では、物品の大きさに加え、物品の形状等を加味して、物品が照射領域からはみ出すか否かを判別してもよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面にしたがって説明する。
図１〜図５は、第１実施形態を示す。
図１はＸ線検査装置１の一部破断した側面図であり、図２は要部の平面図である。図１および図２に示すように、物品の搬送ライン上に設けられたＸ線検査装置１は、その両側に物品Ｍの入口１ａおよび出口１ｂの設けられたＸ線シールドボックス１Ｓを有している。Ｘ線シールドボックス１Ｓ内にはコンベヤ（搬送手段）５が配置されている。前記コンベヤ５によって、入口１ａから搬入された物品Ｍは、該コンベヤ５の搬送面５１上を搬送され、後述するように、異物検査が行われた後、出口１ｂから搬出される。
【００１１】
図１の前記Ｘ線シールドボックス１Ｓ内には、光学系２０、ガイド３１およびガイド駆動手段３０などが設けられている。
前記光学系２０は、Ｘ線照射手段２１およびＸ線検出器２２を備えている。前記Ｘ線照射手段２１はＸ線Ｌを発生させ、該Ｘ線ＬをＸ線検出器２２に向って照射する。図５は図２における要部のＡ−Ａ線断面図である。図５（ａ）に示すように、前記Ｘ線照射手段２１から照射されたＸ線Ｌにより、物品Ｍの搬送方向Ｙ（図２）に直交する平面において、Ｘ線照射手段２１とコンベヤ５の搬送面５１との間に照射領域Ａが形成される。
図１の前記Ｘ線検出器２２は、多数の画素を所定間隔にコンベヤの幅方向に配設したラインセンサからなる。
【００１２】
図２に示すように、前記コンベヤ５の左右には、ガイド駆動手段３０およびガイド３１が、それぞれ設けられている。前記ガイド駆動手段３０が、図５（ｄ）に示すように、前記コンベヤ５上に設けられたガイド３１を、略水平方向に移動させると、搬送面５１上の物品Ｍが左右に偏って搬送されている場合には、該物品Ｍがガイド３１に当接し搬送経路が変更される。したがって、ガイド駆動手段３０およびガイド３１は、物品Ｍの搬送経路の変更を行う搬送経路変更手段（通過領域を変更する手段）を構成している。
なお、Ｘ線検査装置１の下流には、不良物品をラインアウトさせるための振り分け装置９が設けられている。
【００１３】
つぎに、Ｘ線検査装置の制御の構成について説明する。
図３（ａ）に示すように、前記Ｘ線検査装置１は振り分け装置９に接続されている。Ｘ線検査装置１はマイコン１０を有している。マイコン１０には、表示器７、テンキー８、前記Ｘ線照射手段２１、Ｘ線検出器２２、ガイド駆動手段３０およびローカル制御装置２５が、図示しないインターフェイスを介してそれぞれ接続されている。
【００１４】
前記マイコン１０はＣＰＵ１１およびメモリ（記憶手段）１２を備えている。前記メモリ１２は物品情報記憶部１２ａおよび領域記憶部１２ｂを備えている。
図３（ｂ）に示すように、前記物品情報記憶部１２ａには、物品No. ごとに、物品の品名と共に、幅および高さからなる物品の大きさなどが互いに関連付けられて予め記憶されている。図５（ｂ）に示すように、前記物品の幅および高さは、前記物品Ｍの搬送方向Ｙに直交する物品Ｍの幅方向Ｘおよび高さ方向Ｚの寸法からなる。
前記領域記憶部１２ｂは、前記照射領域Ａの大きさおよび位置などを記憶している。
【００１５】
前記ＣＰＵ１１は、後述するように、物品Ｍが指定されると、当該物品No. に関連付けられた物品の幅や高さなどを読み出す。
前記ＣＰＵ１１は、以下に説明するように、前記照射領域Ａに対する物品の大きさおよび位置に基づいて、物品がはみ出した状態で搬送されるか否かの領域チェックを行う判別手段を構成している。
【００１６】
前記ＣＰＵ１１は、まず、前記物品Ｍの幅および高さに基づき、図５（ｂ）に示す通過領域Ｂを算出する。この通過領域Ｂは、物品Ｍが最も左右の端に偏って搬送された場合の、コンベヤ５上における物品Ｍの領域である。前記通過領域Ｂは物品Ｍの幅、高さおよびコンベヤ５上における物品Ｍの幅方向の位置により決定される。つぎに、ＣＰＵ１１は、図５（ａ）に示す前記Ｘ線Ｌの照射領域Ａに、図５（ｂ）の前記通過領域Ｂを重ね、通過領域Ｂが照射領域Ａからはみ出すか否かの領域チェックを行う。
図５（ｃ）に示すように、前記領域チェックの結果、前記はみ出し部分Ｂｒが生じる場合には、図５（ｄ）に示すように、ＣＰＵ１１が通過領域Ｂに基づき、該はみ出し部分Ｂｒが無くなるように、ガイド３１の移動距離αを算出する。
前記移動距離αに基づいて、左右のガイド駆動手段３０が当該移動距離αだけ、ガイド３１を互いに接近する方向に、それぞれ移動させる。
【００１７】
前記コンベヤ５上の物品Ｍは、前記ガイド３１によって搬送経路が変更された後、前記Ｘ線照射手段２１に搬送され、該Ｘ線照射手段２１によって撮像される。
図３の前記ＣＰＵ１１はＸ線画像処理部１１ａを備えている。
前記Ｘ線画像処理部１１ａは、前記Ｘ線検出器２２からの出力を受信順に連続的に処理することにより、透過Ｘ線の量に応じた明暗の分布を有する画像を作成する。ＣＰＵ１１は当該画像において周辺の部位に対して明度の大きく異なる部位があるか否かを判別することで、当該物品Ｍに異物が付着ないし混入しているか否かの異物検出を行い、物品Ｍの合否を判定する。
前記ＣＰＵ１１は、前記異物検出の結果、物品Ｍに異物が付着ないし混入していると判別した場合、当該物品Ｍを不合格とし、振り分け信号を振り分け装置９に送信する。
【００１８】
つぎに、本Ｘ線検査装置の動作について、図４に示すフローチャートに基づいて説明する。
オペレータが所定の操作を行い、これから検査を行う物品の指定を行った後、本装置をスタートさせる。なお、前記物品の指定は、上流のコントローラからの物品情報に基づいて指定されてもよい。
本装置がスタートすると、ステップＳ１において、図３のＣＰＵ１１が前記物品情報記憶部１２ａから当該物品の物品No. に関連付けられた幅および高さなどを読み出し、ステップＳ２に進む。
ステップＳ２では、当該物品Ｍの前記通過領域Ｂの算出を行う。すなわち、前記ＣＰＵ１１は、前記読み出された幅および高さと、コンベヤ５上のガイド３１の初期位置に基づき、図５（ｂ）に示すように、物品Ｍが最も左右端に偏った場合、すなわち、初期位置のガイド３１に物品Ｍが接触する場合の物品Ｍの通過領域Ｂを算出し、ステップＳ３に進む。
【００１９】
ステップＳ３では、前記通過領域Ｂと、図５（ａ）の照射領域Ａとを比較し、図５（ｃ）のはみ出し部分Ｂｒが生じるか否かの領域チェックを行う。前記はみ出し部分Ｂｒが生じる場合にはステップＳ４に進む。一方、はみ出し部分Ｂｒが生じない場合にはステップＳ６に進む。
【００２０】
ステップＳ４では、図５（ｄ）に示すように、前記はみ出し部分Ｂｒが解消されるガイド３１の移動距離αを算出して、ステップＳ５に進む。
ステップＳ５では、前記移動距離αだけガイド３１を、それぞれ内側に移動させてステップＳ６に進む。
【００２１】
ステップＳ６では、前記Ｘ線照射手段２１の下方に搬送された物品Ｍの異物検査を行う。すなわち、前記Ｘ線画像処理部１１ａがＸ線検出器２２からの透過Ｘ線の検出信号に基づいて画像を作成し、ＣＰＵ１１が該画像を表示器７に表示させる。同時に、ＣＰＵ１１は当該画像に基づいて異物検出を行う。前記異物検出において、当該物品Ｍに異物が付着ないし混入しているので不合格であると判別した場合には、振り分け装置９に振り分け信号を送信する。
【００２２】
ここで、物品Ｍが左右何れかの方向に偏って搬送された場合には、前記ガイド３１に当接し、該物品Ｍが照射領域Ａ内に入るように、その搬送経路が変更される。
その後、物品Ｍは出口１ｂからＸ線シールドボックス１Ｓの外に搬送され、下流の振り分け装置９に送られる。
【００２３】
このように、物品Ｍの領域チェックを行い、物品Ｍが照射領域Ａからはみ出す場合には、ガイド３１を移動させて物品Ｍの搬送経路を変更することにより、物品Ｍが照射領域Ａからはみ出して搬送されるのを防止することができる。したがって、物品Ｍが常に照射領域Ａ内を搬送されるので、検査の信頼性を向上させることができる。
【００２５】
図６は第２実施形態を示す。
図６に示すように、Ｘ線検査装置１Ａのマイコン１０には、ＣＣＤカメラ（撮像手段）６が接続されている。前記ＣＣＤカメラ６は、Ｘ線照射手段２１の上流に設けられており、コンベヤ５上の物品Ｍを撮像して、輝度情報（撮像情報）をマイコン１０に出力する。
【００２６】
前記マイコン１０のＣＰＵ１１には、Ｘ線画像処理部１１ａの他に撮像画像処理部（画像処理手段）１１ｂが設けられている。前記撮像画像処理部１１ｂは、前記ＣＣＤカメラ６から入力された前記輝度情報に基づき、物品Ｍの平面的なエッジＭｅの位置を検出し、更に、該エッジＭｅの位置から物品Ｍの幅、高さおよび物品Ｍのコンベヤ５上の位置からなる通過領域Ｂを算出する。したがって、ＣＣＤカメラ６および撮像画像処理部１１ｂは、物品Ｍの大きさを検出する検出手段を構成している。
なお、物品Ｍの幅および高さの算出方法としては、特開平１１−３３７３１５号（特願平１０−１６２８８８号）などに開示された公知の方法がある。
その他の構成は、第１実施形態と同様であり、同一部分または相当部分に同一符号を付して、その詳しい説明および図示を省略する。
【００２７】
前記撮像画像処理部１１ｂは、物品ＭがＣＣＤカメラ６の下方に搬送される毎に、当該物品Ｍの幅および高さを算出する。ＣＰＵ１１は、前記幅および高さに基づいて物品Ｍの通過領域Ｂを算出し、領域チェックを行う。
前記ＣＰＵ１１は、前記領域チェックの判別結果に基づき、物品Ｍがはみ出す場合には、当該物品Ｍに応じた移動距離αだけガイド３１を移動させる。ＣＰＵ１１は、それぞれの物品ごとに前記領域チェックおよびガイド３１の移動を繰り返す。
【００２８】
このように、それぞれの物品Ｍごとに領域チェックを行い、ガイド３１の移動を行うので、たとえば、果物や野菜などランダムな大きさを有する物品であっても、確実に照射領域Ａ内に入るように搬送することができる。したがって、検査の信頼性が著しく向上する。
【００２９】
ところで、図１のように、Ｘ線Ｌを搬送面５１に直交する方向に照射する必要はない。たとえば、図７のように、Ｘ線照射手段２１から搬送面５１に向ってＸ線Ｌを出射してもよい。この場合、前記照射領域Ａは、搬送方向Ｙに直交する仮想の平面Ｐ１に投影した大きさで記憶される。すなわち、照射領域Ａは、前記直交平面Ｐ１におけるＸ線照射手段２１と搬送面５１との間で形成され、物品Ｍの搬送面５１の搬送方向ＹおよびＸ線照射手段２１の位置に基づき決定される。
【００３０】
なお、前記両実施形態において、はみ出し部分Ｂｒの算出は必ずしも必要ではなく、たとえば、Ｘ線画像処理部１１ａに、物品No. ごとに前記移動距離αを関連付けて予め記憶させ、物品Ｍが指定されると、当該物品Ｍに対応する移動距離αを読み出すようにしてもよい。
【００３１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、物品が照射領域からはみ出して検査されないという検査ミスを生じるおそれがない。
また、光学系を２組用いたり、Ｘ線照射手段および検出器を移動させる必要がないので、コスト高を招くことがない。
さらに、Ｘ線照射手段を移動させないので、乱反射したＸ線が外部に漏れにくい。
【００３４】
また、物品の通過領域が照射領域に納まるように、物品の通過領域を変更するので、物品が照射領域に入るようにできるから、自動、かつ、連続的に検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態にかかるＸ線検査装置を示す一部断面した概略側面図である。
【図２】同Ｘ線検査装置を示す概略平面図である。
【図３】（ａ）はＸ線検査装置を示す概略構成図であり、（ｂ）は記憶部の記憶内容を示す図表である。
【図４】Ｘ線検査装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】搬送経路の変更方法を示す要部の概略正面図である。
【図６】本発明の第２実施形態にかかるＸ線検査装置を示す概略構成図である。
【図７】Ｘ線の照射領域の概念を示すための仮想の斜視図である。
【符号の説明】
５：コンベヤ（搬送手段）
６：ＣＣＤカメラ（検出手段）
７：表示器（警告手段）
１１：ＣＰＵ（判別手段）
１１ｂ：撮像画像処理部（検出手段）
１２：メモリ（記憶手段）
３０：ガイド駆動手段（搬送経路変更手段）
３１：ガイド（搬送経路変更手段）
Ａ：照射領域
Ｂ：通過領域
Ｍ：物品
Ｌ：Ｘ線
Ｙ：搬送方向[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an X-ray inspection apparatus that inspects an article being conveyed.
[0002]
BACKGROUND OF THE INVENTION
In recent years, there has been an increasing demand for safety regarding various products, and it is necessary to surely find out that foreign matters have been mixed, particularly in articles such as food. Thus, for example, an X-ray inspection apparatus using X-rays as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-113631 or Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-1207017 has been put into practical use.
Such an X-ray inspection apparatus irradiates an article conveyed by a conveyor with X-rays from an X-ray irradiating means, and causes X-rays transmitted through the article to enter an X-ray detector (line sensor). Foreign matter is detected by continuously processing the output from the computer.
[0003]
By the way, as shown in FIG. 5A, the X-ray L is irradiated on the irradiation area A indicated by oblique lines on the transport surface 51 of the conveyor 5. The article M transported from the back toward the front passes through the irradiation area A as shown in FIG. 5B, and foreign matter detection is performed. However, as shown in FIG. 5 (c), when the article M is conveyed while being biased in the left-right direction, the article M is out of the irradiation area A, and a protruding portion Br in which foreign matter cannot be detected is generated. The reliability of inspection decreases.
[0004]
Therefore, a method is disclosed in which two sets of optical systems each consisting of an X-ray irradiation means and an X-ray detector are provided, and the irradiation areas of the two sets of optical systems are set to different areas (Japanese Patent Laid-Open No. 61). -205851).
However, in this conventional technique, since two sets of optical systems are used, it is inevitable that the cost is increased. Further, it is necessary to adjust the irradiation distance and the irradiation angle for each optical system, and the design and adjustment are complicated.
[0005]
On the other hand, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-241368, it is conceivable to relatively move the X-ray irradiation means and the X-ray detector according to the article.
However, since the X-ray irradiation distance is changed by the movement, the sensitivity adjustment of the line sensor becomes complicated. In addition, since the position of the X-ray irradiation means changes, depending on the position of the X-ray irradiation means, the irregularly reflected X-rays may leak to the outside.
[0006]
The present invention has been made in view of such conventional problems, and an object of the present invention is to prevent X-ray leakage without increasing the cost and to improve the reliability of inspection of the X-ray inspection apparatus. .
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the X-ray inspection apparatus of the present invention irradiates an X-ray on the article while the article is being conveyed by a conveyor for conveying the article, and images the X-rays that have passed through the article. An X-ray inspection apparatus for processing and inspecting an article, wherein a passage area of the article on the conveyor when the article is conveyed most biased to the left and right ends in the width direction is from an irradiation area irradiated with X-rays In the case of protruding, it is provided with means for changing the passage area of the article before the article is conveyed .
[0008]
According to the present invention, whether the area check the article is transported in a state of protruding is performed before Symbol irradiation region. Therefore, according to the determination result by the area check, it can be set to always convey the article into the irradiation area, so that the reliability of the inspection can be improved.
Further, the cost can be reduced because two sets of optical systems are not used and the X-ray irradiation means and detector are not moved. Furthermore, since the X-ray irradiation means is not moved, it is possible to prevent the irregularly reflected X-rays from leaking outside.
[0009]
Further, if a detection means for detecting the size of the article is provided, it is possible to determine whether or not the article protrudes from the irradiation region for each article even if the article has a random size. As such a detection means, for example, an image processing means for obtaining a passing area of the article corresponding to the irradiation area based on an imaging signal from an imaging means for imaging the article is used.
The “size of the article” may include not only the width and height of the article but also the projected area of the article on the vertical plane. Furthermore, in the “extrusion determination” in the present invention, it may be determined whether or not the article protrudes from the irradiation region in consideration of the shape of the article in addition to the size of the article.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 to 5 show a first embodiment.
FIG. 1 is a partially cutaway side view of the X-ray inspection apparatus 1, and FIG. As shown in FIGS. 1 and 2, the X-ray inspection apparatus 1 provided on the article conveyance line has X-ray shield boxes 1S provided with an inlet 1a and an outlet 1b for the article M on both sides thereof. Yes. A conveyor (conveying means) 5 is disposed in the X-ray shield box 1S. The articles M carried in from the inlet 1a by the conveyor 5 are conveyed on the conveying surface 51 of the conveyor 5, and after being subjected to foreign matter inspection as will be described later, are carried out from the outlet 1b.
[0011]
In the X-ray shield box 1S of FIG. 1, an optical system 20, a guide 31, a guide driving means 30, and the like are provided.
The optical system 20 includes an X-ray irradiation means 21 and an X-ray detector 22. The X-ray irradiation means 21 generates X-rays L and irradiates the X-rays L toward the X-ray detector 22. 5 is a cross-sectional view taken along line AA of the main part in FIG. As shown in FIG. 5 (a), the X-ray irradiation means 21 and the conveyor 5 are arranged in a plane perpendicular to the conveying direction Y (FIG. 2) of the article M by the X-rays L emitted from the X-ray irradiation means 21. An irradiation area A is formed between the transfer surface 51 and the transfer surface 51.
The X-ray detector 22 shown in FIG. 1 includes a line sensor in which a large number of pixels are arranged at predetermined intervals in the width direction of the conveyor.
[0012]
As shown in FIG. 2, guide driving means 30 and guides 31 are provided on the left and right sides of the conveyor 5, respectively. When the guide driving unit 30 moves the guide 31 provided on the conveyor 5 in a substantially horizontal direction as shown in FIG. If it is, the article M comes into contact with the guide 31 and the conveyance path is changed. Therefore, the guide driving means 30 and the guide 31 constitute a conveyance path changing means (means for changing the passage area) for changing the conveyance path of the article M.
A sorting device 9 for line-out of defective articles is provided downstream of the X-ray inspection apparatus 1.
[0013]
Next, the control configuration of the X-ray inspection apparatus will be described.
As shown in FIG. 3A, the X-ray inspection apparatus 1 is connected to a sorting apparatus 9. The X-ray inspection apparatus 1 has a microcomputer 10. The microcomputer 10 is connected to the display 7, the numeric keypad 8, the X-ray irradiation means 21, the X-ray detector 22, the guide driving means 30 and the local control device 25 via an interface (not shown).
[0014]
The microcomputer 10 includes a CPU 11 and a memory (storage means) 12. The memory 12 includes an article information storage unit 12a and an area storage unit 12b.
As shown in FIG. 3 (b), in the article information storage unit 12a, for each article No., the article name including the article name including the article width and height is stored in advance in association with each other. Yes. As shown in FIG. 5B, the width and height of the article are determined by dimensions in the width direction X and the height direction Z of the article M orthogonal to the conveyance direction Y of the article M.
The area storage unit 12b stores the size and position of the irradiation area A.
[0015]
As will be described later, when the article M is designated, the CPU 11 reads the width and height of the article associated with the article number.
As will be described below, the CPU 11 constitutes a discriminating unit that performs a region check as to whether or not an article is conveyed in a protruding state based on the size and position of the article with respect to the irradiation area A. .
[0016]
First, the CPU 11 calculates a passing area B shown in FIG. 5B based on the width and height of the article M. This passing area B is an area of the article M on the conveyor 5 when the article M is conveyed to the left and right ends. The passing area B is determined by the width and height of the article M and the position of the article M on the conveyor 5 in the width direction. Next, the CPU 11 superimposes the passage area B of FIG. 5B on the irradiation area A of the X-ray L shown in FIG. 5A, and whether or not the passage area B protrudes from the irradiation area A. Check.
As shown in FIG. 5C, when the protruding portion Br occurs as a result of the region check, the protruding portion Br disappears based on the passage region B by the CPU 11 as shown in FIG. Thus, the movement distance α of the guide 31 is calculated.
Based on the moving distance α, the left and right guide driving means 30 move the guides 31 in the directions approaching each other by the moving distance α.
[0017]
The article M on the conveyor 5 is transported to the X-ray irradiating means 21 after the transport path is changed by the guide 31, and is imaged by the X-ray irradiating means 21.
The CPU 11 shown in FIG. 3 includes an X-ray image processing unit 11a.
The X-ray image processing unit 11a continuously processes the output from the X-ray detector 22 in the order of reception, thereby creating an image having a light and dark distribution corresponding to the amount of transmitted X-rays. The CPU 11 determines whether or not a foreign matter is attached to or mixed in the article M by determining whether or not there is a part whose brightness is significantly different from the surrounding parts in the image. Judge pass / fail.
When the CPU 11 determines that a foreign matter is attached or mixed in the article M as a result of the foreign matter detection, the CPU 11 rejects the article M and transmits a sorting signal to the sorting device 9.
[0018]
Next, the operation of the X-ray inspection apparatus will be described based on the flowchart shown in FIG.
After the operator performs a predetermined operation and designates an article to be inspected, the apparatus is started. The designation of the article may be designated based on article information from an upstream controller.
When the apparatus starts, in step S1, the CPU 11 of FIG. 3 reads the width and height associated with the article number of the article from the article information storage unit 12a, and proceeds to step S2.
In step S2, the passage area B of the article M is calculated. That is, when the article M is most biased to the left and right ends as shown in FIG. 5 (b) based on the read width and height and the initial position of the guide 31 on the conveyor 5, The passage area B of the article M when the article M comes into contact with the guide 31 at the initial position is calculated, and the process proceeds to step S3.
[0019]
In step S3, the passage area B is compared with the irradiation area A in FIG. 5A, and an area check is performed to determine whether or not the protruding portion Br in FIG. 5C occurs. If the protruding portion Br is generated, the process proceeds to step S4. On the other hand, when the protruding portion Br does not occur, the process proceeds to step S6.
[0020]
In step S4, as shown in FIG. 5 (d), the movement distance α of the guide 31 that eliminates the protruding portion Br is calculated, and the process proceeds to step S5.
In step S5, the guide 31 is moved inward by the movement distance α, and the process proceeds to step S6.
[0021]
In step S6, foreign matter inspection is performed on the article M conveyed below the X-ray irradiation means 21. That is, the X-ray image processing unit 11 a creates an image based on the transmission X-ray detection signal from the X-ray detector 22, and the CPU 11 displays the image on the display 7. At the same time, the CPU 11 performs foreign object detection based on the image. In the foreign object detection, when it is determined that the foreign object is rejected because foreign matter is attached or mixed in the article M, a distribution signal is transmitted to the distribution device 9.
[0022]
Here, when the article M is conveyed in a biased direction in either the left or right direction, the conveyance path is changed so that the article M comes into contact with the guide 31 and enters the irradiation area A.
Thereafter, the article M is conveyed from the outlet 1b to the outside of the X-ray shield box 1S and sent to the sorting device 9 downstream.
[0023]
As described above, when the area of the article M is checked and the article M protrudes from the irradiation area A, the article M protrudes from the irradiation area A by moving the guide 31 and changing the conveyance path of the article M. It can be prevented from being conveyed. Accordingly, since the article M is always conveyed in the irradiation area A, the reliability of the inspection can be improved.
[0025]
FIG. 6 shows a second embodiment.
As shown in FIG. 6, a CCD camera (imaging means) 6 is connected to the microcomputer 10 of the X-ray inspection apparatus 1A. The CCD camera 6 is provided upstream of the X-ray irradiation means 21, images the article M on the conveyor 5, and outputs luminance information (imaging information) to the microcomputer 10.
[0026]
The CPU 11 of the microcomputer 10 is provided with a captured image processing unit (image processing means) 11b in addition to the X-ray image processing unit 11a. The captured image processing unit 11b detects the position of the planar edge Me of the article M based on the luminance information input from the CCD camera 6, and further determines the width and height of the article M from the position of the edge Me. Then, a passing area B composed of the position of the article M on the conveyor 5 is calculated. Therefore, the CCD camera 6 and the captured image processing unit 11b constitute detection means for detecting the size of the article M.
As a method for calculating the width and height of the article M, there is a known method disclosed in JP-A-11-337315 (Japanese Patent Application No. 10-162888).
Other configurations are the same as those in the first embodiment, and the same parts or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and detailed description and illustration thereof are omitted.
[0027]
The captured image processing unit 11 b calculates the width and height of the article M every time the article M is conveyed below the CCD camera 6. The CPU 11 calculates the passage area B of the article M based on the width and height, and performs an area check.
Based on the determination result of the area check, the CPU 11 moves the guide 31 by the moving distance α corresponding to the article M when the article M protrudes. The CPU 11 repeats the area check and the movement of the guide 31 for each article.
[0028]
Thus, since the area check is performed for each article M and the guide 31 is moved, for example, an article having a random size such as a fruit or a vegetable can surely enter the irradiation area A. Can be conveyed. Therefore, the reliability of inspection is significantly improved.
[0029]
Incidentally, as shown in FIG. 1, it is not necessary to irradiate the X-ray L in the direction orthogonal to the transport surface 51. For example, as shown in FIG. 7, X-ray L may be emitted from the X-ray irradiation unit 21 toward the transport surface 51. In this case, the irradiation area A is stored in a size projected onto a virtual plane P1 orthogonal to the transport direction Y. That is, the irradiation area A is formed between the X-ray irradiation means 21 and the conveyance surface 51 in the orthogonal plane P1, and is determined based on the conveyance direction Y of the conveyance surface 51 of the article M and the position of the X-ray irradiation means 21. The
[0030]
In both the embodiments, the calculation of the protruding portion Br is not necessarily required. For example, the X-ray image processing unit 11a stores the movement distance α in advance in association with each article number, and the article M is designated. Then, the movement distance α corresponding to the article M may be read out.
[0031]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, there is no possibility of causing the inspection mistake that goods products not inspected protrude from the irradiation area.
Further, it is not necessary to use two sets of optical systems or move the X-ray irradiation means and the detector, so that the cost is not increased.
Furthermore, since the X-ray irradiation means is not moved, the irregularly reflected X-rays are difficult to leak to the outside.
[0034]
Further, as passing area of the article is fit on the irradiation region, so to change the passage region of the article, because it so things article enters the irradiation area, automatic, and can be performed continuously inspected.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic side view, partially in section, showing an X-ray inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic plan view showing the X-ray inspection apparatus.
FIG. 3A is a schematic configuration diagram showing an X-ray inspection apparatus, and FIG. 3B is a chart showing storage contents of a storage unit.
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the X-ray inspection apparatus.
FIG. 5 is a schematic front view of a main part illustrating a method for changing a conveyance path.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing an X-ray inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a hypothetical perspective view for illustrating a concept of an X-ray irradiation region.
[Explanation of symbols]
5: Conveyor (conveying means)
6: CCD camera (detection means)
7: Indicator (Warning means)
11: CPU (discriminating means)
11b: Captured image processing unit (detection means)
12: Memory (storage means)
30: Guide driving means (conveyance path changing means)
31: Guide (conveyance path changing means)
A: Irradiation area B: Passing area M: Article L: X-ray Y: Transport direction

Claims

物品を搬送するコンベヤにより物品が搬送されている間に、前記物品にＸ線を照射し、該物品を通過したＸ線を画像処理して物品を検査するＸ線検査装置であって、
物品が幅方向の左右の端に最も偏って搬送された場合の前記コンベヤ上における物品の通過領域がＸ線の照射される照射領域からはみ出す場合には、当該物品が搬送される前に当該物品の通過領域を変更する手段を備えたＸ線検査装置。An X-ray inspection apparatus that inspects an article by irradiating the article with X-rays while the article is being conveyed by a conveyor that conveys the article, and performing image processing on the X-ray that has passed through the article,
When the article passing area on the conveyor protrudes from the irradiation area irradiated with X-rays when the article is conveyed most biased to the left and right ends in the width direction, the article is conveyed before the article is conveyed. X-ray inspection apparatus provided with a means for changing the passage area .

請求項１において、前記変更する手段が搬送面上の物品が幅方向の左右に偏って搬送された場合に当該物品に当接するガイドと、前記ガイドを移動させる駆動手段とを備え、In Claim 1, the means for changing comprises a guide that comes into contact with the article when the article on the conveying surface is conveyed to the left and right in the width direction, and a driving means for moving the guide,
前記ガイドの位置を前記駆動手段が移動することで、前記通過領域が変更されるＸ線検査装置。 An X-ray inspection apparatus in which the passing area is changed by the drive means moving the position of the guide.