JP3949531B2 - X-ray inspection equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、搬送中の物品の検査を行うX線検査装置に関するものである。
【0002】
【発明の背景】
近年、各種の商品についての安全性に関する要求が高まっており、特に食品などの物品においては、異物が混入したのを確実に発見する必要がある。そこで、例えば特開平9−113631号公報または特開平9−127017号公報に開示されているようなX線を用いたX線検査装置が実用化されている。
かかるX線検査装置は、コンベヤにより搬送される物品にX線照射手段からX線を照射し、該物品を透過したX線をX線検出器(ラインセンサ)に入射させ、該X線検出器からの出力をコンピュータで連続的に処理することによって異物検出を行う。
【0003】
ところで、図5(a)に示すように、前記X線Lは、コンベヤ5の搬送面51上に斜線で示す照射領域Aに照射される。奥から手前に向って搬送された物品Mは、図5(b)に示すように、前記照射領域A内を通過し、異物検出が行われる。しかし、図5(c)に示すように、前記物品Mが左右方向に偏って搬送された場合には、物品Mが前記照射領域Aを外れ、異物検出が不可能なはみ出し部分Brが生じ、検査の信頼性が低下する。
【0004】
そこで、X線照射手段とX線検出器からなる光学系を、それぞれ2組設け、前記2組の光学系の照射領域を、互いに異なる領域に設定する方法が開示されている(特開昭61−205851号参照)。
しかし、かかる従来技術では、2組の光学系を用いているので、コスト高になるのは避けられない。また、各々の光学系について照射距離や照射角度などの調整が必要であり、設計や調整が煩雑である。
【0005】
一方、特開2000−241368号公報に開示されているように、物品に応じてX線照射手段およびX線検出器を相対移動させることが考えられる。
しかし、前記移動によりX線の照射距離が変化するので、ラインセンサの感度調整等が煩雑になる。また、X線照射手段の位置が変化するので、該X線照射手段の位置によっては、乱反射したX線が外部に漏れるおそれがある。
【0006】
本発明は、かかる従来の問題に鑑みてなされたもので、その目的は、コスト高を招くことなくX線の漏洩防止を図ると共に、X線検査装置の検査の信頼性を向上させることである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明のX線検査装置は、物品を搬送するコンベヤにより物品が搬送されている間に、前記物品にX線を照射し、該物品を通過したX線を画像処理して物品を検査するX線検査装置であって、物品が幅方向の左右の端に最も偏って搬送された場合の前記コンベヤ上における物品の通過領域がX線の照射される照射領域からはみ出す場合には、当該物品が搬送される前に当該物品の通過領域を変更する手段を備えることを特徴とする。
【0008】
本発明によれば、前記照射領域から当該物品がはみ出した状態で搬送されるか否かの領域チェックが行われる。そのため、前記領域チェックによる判別結果に従い、物品を常に照射領域内に搬送するように設定することができるから、検査の信頼性を向上させることができる。
また、光学系を2組用いたり、X線照射手段および検出器を移動させないのでコストダウンを図り得る。さらに、X線照射手段を移動させないので、乱反射したX線が外部に漏れるのを防止することができる。
【0009】
また、物品の大きさを検出する検出手段を設ければ、ランダムな大きさの物品であっても、物品ごとに照射領域からはみ出すか否かの判別を行うことができる。かかる検出手段としては、たとえば、物品を撮像する撮像手段からの撮像信号に基づき、前記照射領域に対応する物品の通過領域を求める画像処理手段を用いる。
なお、「物品の大きさ」とは、物品の幅および高さのみならず、鉛直面への物品の投影面積を含んでもよい。さらに、本発明における「はみ出し判別」では、物品の大きさに加え、物品の形状等を加味して、物品が照射領域からはみ出すか否かを判別してもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面にしたがって説明する。
図1〜図5は、第1実施形態を示す。
図1はX線検査装置1の一部破断した側面図であり、図2は要部の平面図である。図1および図2に示すように、物品の搬送ライン上に設けられたX線検査装置1は、その両側に物品Mの入口1aおよび出口1bの設けられたX線シールドボックス1Sを有している。X線シールドボックス1S内にはコンベヤ(搬送手段)5が配置されている。前記コンベヤ5によって、入口1aから搬入された物品Mは、該コンベヤ5の搬送面51上を搬送され、後述するように、異物検査が行われた後、出口1bから搬出される。
【0011】
図1の前記X線シールドボックス1S内には、光学系20、ガイド31およびガイド駆動手段30などが設けられている。
前記光学系20は、X線照射手段21およびX線検出器22を備えている。前記X線照射手段21はX線Lを発生させ、該X線LをX線検出器22に向って照射する。図5は図2における要部のA−A線断面図である。図5(a)に示すように、前記X線照射手段21から照射されたX線Lにより、物品Mの搬送方向Y(図2)に直交する平面において、X線照射手段21とコンベヤ5の搬送面51との間に照射領域Aが形成される。
図1の前記X線検出器22は、多数の画素を所定間隔にコンベヤの幅方向に配設したラインセンサからなる。
【0012】
図2に示すように、前記コンベヤ5の左右には、ガイド駆動手段30およびガイド31が、それぞれ設けられている。前記ガイド駆動手段30が、図5(d)に示すように、前記コンベヤ5上に設けられたガイド31を、略水平方向に移動させると、搬送面51上の物品Mが左右に偏って搬送されている場合には、該物品Mがガイド31に当接し搬送経路が変更される。したがって、ガイド駆動手段30およびガイド31は、物品Mの搬送経路の変更を行う搬送経路変更手段(通過領域を変更する手段)を構成している。
なお、X線検査装置1の下流には、不良物品をラインアウトさせるための振り分け装置9が設けられている。
【0013】
つぎに、X線検査装置の制御の構成について説明する。
図3(a)に示すように、前記X線検査装置1は振り分け装置9に接続されている。X線検査装置1はマイコン10を有している。マイコン10には、表示器7、テンキー8、前記X線照射手段21、X線検出器22、ガイド駆動手段30およびローカル制御装置25が、図示しないインターフェイスを介してそれぞれ接続されている。
【0014】
前記マイコン10はCPU11およびメモリ(記憶手段)12を備えている。前記メモリ12は物品情報記憶部12aおよび領域記憶部12bを備えている。
図3(b)に示すように、前記物品情報記憶部12aには、物品No. ごとに、物品の品名と共に、幅および高さからなる物品の大きさなどが互いに関連付けられて予め記憶されている。図5(b)に示すように、前記物品の幅および高さは、前記物品Mの搬送方向Yに直交する物品Mの幅方向Xおよび高さ方向Zの寸法からなる。
前記領域記憶部12bは、前記照射領域Aの大きさおよび位置などを記憶している。
【0015】
前記CPU11は、後述するように、物品Mが指定されると、当該物品No. に関連付けられた物品の幅や高さなどを読み出す。
前記CPU11は、以下に説明するように、前記照射領域Aに対する物品の大きさおよび位置に基づいて、物品がはみ出した状態で搬送されるか否かの領域チェックを行う判別手段を構成している。
【0016】
前記CPU11は、まず、前記物品Mの幅および高さに基づき、図5(b)に示す通過領域Bを算出する。この通過領域Bは、物品Mが最も左右の端に偏って搬送された場合の、コンベヤ5上における物品Mの領域である。前記通過領域Bは物品Mの幅、高さおよびコンベヤ5上における物品Mの幅方向の位置により決定される。つぎに、CPU11は、図5(a)に示す前記X線Lの照射領域Aに、図5(b)の前記通過領域Bを重ね、通過領域Bが照射領域Aからはみ出すか否かの領域チェックを行う。
図5(c)に示すように、前記領域チェックの結果、前記はみ出し部分Brが生じる場合には、図5(d)に示すように、CPU11が通過領域Bに基づき、該はみ出し部分Brが無くなるように、ガイド31の移動距離αを算出する。
前記移動距離αに基づいて、左右のガイド駆動手段30が当該移動距離αだけ、ガイド31を互いに接近する方向に、それぞれ移動させる。
【0017】
前記コンベヤ5上の物品Mは、前記ガイド31によって搬送経路が変更された後、前記X線照射手段21に搬送され、該X線照射手段21によって撮像される。
図3の前記CPU11はX線画像処理部11aを備えている。
前記X線画像処理部11aは、前記X線検出器22からの出力を受信順に連続的に処理することにより、透過X線の量に応じた明暗の分布を有する画像を作成する。CPU11は当該画像において周辺の部位に対して明度の大きく異なる部位があるか否かを判別することで、当該物品Mに異物が付着ないし混入しているか否かの異物検出を行い、物品Mの合否を判定する。
前記CPU11は、前記異物検出の結果、物品Mに異物が付着ないし混入していると判別した場合、当該物品Mを不合格とし、振り分け信号を振り分け装置9に送信する。
【0018】
つぎに、本X線検査装置の動作について、図4に示すフローチャートに基づいて説明する。
オペレータが所定の操作を行い、これから検査を行う物品の指定を行った後、本装置をスタートさせる。なお、前記物品の指定は、上流のコントローラからの物品情報に基づいて指定されてもよい。
本装置がスタートすると、ステップS1において、図3のCPU11が前記物品情報記憶部12aから当該物品の物品No. に関連付けられた幅および高さなどを読み出し、ステップS2に進む。
ステップS2では、当該物品Mの前記通過領域Bの算出を行う。すなわち、前記CPU11は、前記読み出された幅および高さと、コンベヤ5上のガイド31の初期位置に基づき、図5(b)に示すように、物品Mが最も左右端に偏った場合、すなわち、初期位置のガイド31に物品Mが接触する場合の物品Mの通過領域Bを算出し、ステップS3に進む。
【0019】
ステップS3では、前記通過領域Bと、図5(a)の照射領域Aとを比較し、図5(c)のはみ出し部分Brが生じるか否かの領域チェックを行う。前記はみ出し部分Brが生じる場合にはステップS4に進む。一方、はみ出し部分Brが生じない場合にはステップS6に進む。
【0020】
ステップS4では、図5(d)に示すように、前記はみ出し部分Brが解消されるガイド31の移動距離αを算出して、ステップS5に進む。
ステップS5では、前記移動距離αだけガイド31を、それぞれ内側に移動させてステップS6に進む。
【0021】
ステップS6では、前記X線照射手段21の下方に搬送された物品Mの異物検査を行う。すなわち、前記X線画像処理部11aがX線検出器22からの透過X線の検出信号に基づいて画像を作成し、CPU11が該画像を表示器7に表示させる。同時に、CPU11は当該画像に基づいて異物検出を行う。前記異物検出において、当該物品Mに異物が付着ないし混入しているので不合格であると判別した場合には、振り分け装置9に振り分け信号を送信する。
【0022】
ここで、物品Mが左右何れかの方向に偏って搬送された場合には、前記ガイド31に当接し、該物品Mが照射領域A内に入るように、その搬送経路が変更される。
その後、物品Mは出口1bからX線シールドボックス1Sの外に搬送され、下流の振り分け装置9に送られる。
【0023】
このように、物品Mの領域チェックを行い、物品Mが照射領域Aからはみ出す場合には、ガイド31を移動させて物品Mの搬送経路を変更することにより、物品Mが照射領域Aからはみ出して搬送されるのを防止することができる。したがって、物品Mが常に照射領域A内を搬送されるので、検査の信頼性を向上させることができる。
【0025】
図6は第2実施形態を示す。
図6に示すように、X線検査装置1Aのマイコン10には、CCDカメラ(撮像手段)6が接続されている。前記CCDカメラ6は、X線照射手段21の上流に設けられており、コンベヤ5上の物品Mを撮像して、輝度情報(撮像情報)をマイコン10に出力する。
【0026】
前記マイコン10のCPU11には、X線画像処理部11aの他に撮像画像処理部(画像処理手段)11bが設けられている。前記撮像画像処理部11bは、前記CCDカメラ6から入力された前記輝度情報に基づき、物品Mの平面的なエッジMeの位置を検出し、更に、該エッジMeの位置から物品Mの幅、高さおよび物品Mのコンベヤ5上の位置からなる通過領域Bを算出する。したがって、CCDカメラ6および撮像画像処理部11bは、物品Mの大きさを検出する検出手段を構成している。
なお、物品Mの幅および高さの算出方法としては、特開平11−337315号(特願平10−162888号)などに開示された公知の方法がある。
その他の構成は、第1実施形態と同様であり、同一部分または相当部分に同一符号を付して、その詳しい説明および図示を省略する。
【0027】
前記撮像画像処理部11bは、物品MがCCDカメラ6の下方に搬送される毎に、当該物品Mの幅および高さを算出する。CPU11は、前記幅および高さに基づいて物品Mの通過領域Bを算出し、領域チェックを行う。
前記CPU11は、前記領域チェックの判別結果に基づき、物品Mがはみ出す場合には、当該物品Mに応じた移動距離αだけガイド31を移動させる。CPU11は、それぞれの物品ごとに前記領域チェックおよびガイド31の移動を繰り返す。
【0028】
このように、それぞれの物品Mごとに領域チェックを行い、ガイド31の移動を行うので、たとえば、果物や野菜などランダムな大きさを有する物品であっても、確実に照射領域A内に入るように搬送することができる。したがって、検査の信頼性が著しく向上する。
【0029】
ところで、図1のように、X線Lを搬送面51に直交する方向に照射する必要はない。たとえば、図7のように、X線照射手段21から搬送面51に向ってX線Lを出射してもよい。この場合、前記照射領域Aは、搬送方向Yに直交する仮想の平面P1に投影した大きさで記憶される。すなわち、照射領域Aは、前記直交平面P1におけるX線照射手段21と搬送面51との間で形成され、物品Mの搬送面51の搬送方向YおよびX線照射手段21の位置に基づき決定される。
【0030】
なお、前記両実施形態において、はみ出し部分Brの算出は必ずしも必要ではなく、たとえば、X線画像処理部11aに、物品No. ごとに前記移動距離αを関連付けて予め記憶させ、物品Mが指定されると、当該物品Mに対応する移動距離αを読み出すようにしてもよい。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、物品が照射領域からはみ出して検査されないという検査ミスを生じるおそれがない。
また、光学系を2組用いたり、X線照射手段および検出器を移動させる必要がないので、コスト高を招くことがない。
さらに、X線照射手段を移動させないので、乱反射したX線が外部に漏れにくい。
【0034】
また、物品の通過領域が照射領域に納まるように、物品の通過領域を変更するので、物品が照射領域に入るようにできるから、自動、かつ、連続的に検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態にかかるX線検査装置を示す一部断面した概略側面図である。
【図2】同X線検査装置を示す概略平面図である。
【図3】(a)はX線検査装置を示す概略構成図であり、(b)は記憶部の記憶内容を示す図表である。
【図4】X線検査装置の動作を示すフローチャートである。
【図5】搬送経路の変更方法を示す要部の概略正面図である。
【図6】本発明の第2実施形態にかかるX線検査装置を示す概略構成図である。
【図7】X線の照射領域の概念を示すための仮想の斜視図である。
【符号の説明】
5:コンベヤ(搬送手段)
6:CCDカメラ(検出手段)
7:表示器(警告手段)
11:CPU(判別手段)
11b:撮像画像処理部(検出手段)
12:メモリ(記憶手段)
30:ガイド駆動手段(搬送経路変更手段)
31:ガイド(搬送経路変更手段)
A:照射領域
B:通過領域
M:物品
L:X線
Y:搬送方向[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an X-ray inspection apparatus that inspects an article being conveyed.
[0002]
BACKGROUND OF THE INVENTION
In recent years, there has been an increasing demand for safety regarding various products, and it is necessary to surely find out that foreign matters have been mixed, particularly in articles such as food. Thus, for example, an X-ray inspection apparatus using X-rays as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-113631 or Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-1207017 has been put into practical use.
Such an X-ray inspection apparatus irradiates an article conveyed by a conveyor with X-rays from an X-ray irradiating means, and causes X-rays transmitted through the article to enter an X-ray detector (line sensor). Foreign matter is detected by continuously processing the output from the computer.
[0003]
By the way, as shown in FIG. 5A, the X-ray L is irradiated on the irradiation area A indicated by oblique lines on the
[0004]
Therefore, a method is disclosed in which two sets of optical systems each consisting of an X-ray irradiation means and an X-ray detector are provided, and the irradiation areas of the two sets of optical systems are set to different areas (Japanese Patent Laid-Open No. 61). -205851).
However, in this conventional technique, since two sets of optical systems are used, it is inevitable that the cost is increased. Further, it is necessary to adjust the irradiation distance and the irradiation angle for each optical system, and the design and adjustment are complicated.
[0005]
On the other hand, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-241368, it is conceivable to relatively move the X-ray irradiation means and the X-ray detector according to the article.
However, since the X-ray irradiation distance is changed by the movement, the sensitivity adjustment of the line sensor becomes complicated. In addition, since the position of the X-ray irradiation means changes, depending on the position of the X-ray irradiation means, the irregularly reflected X-rays may leak to the outside.
[0006]
The present invention has been made in view of such conventional problems, and an object of the present invention is to prevent X-ray leakage without increasing the cost and to improve the reliability of inspection of the X-ray inspection apparatus. .
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the X-ray inspection apparatus of the present invention irradiates an X-ray on the article while the article is being conveyed by a conveyor for conveying the article, and images the X-rays that have passed through the article. An X-ray inspection apparatus for processing and inspecting an article, wherein a passage area of the article on the conveyor when the article is conveyed most biased to the left and right ends in the width direction is from an irradiation area irradiated with X-rays In the case of protruding, it is provided with means for changing the passage area of the article before the article is conveyed .
[0008]
According to the present invention, whether the area check the article is transported in a state of protruding is performed before Symbol irradiation region. Therefore, according to the determination result by the area check, it can be set to always convey the article into the irradiation area, so that the reliability of the inspection can be improved.
Further, the cost can be reduced because two sets of optical systems are not used and the X-ray irradiation means and detector are not moved. Furthermore, since the X-ray irradiation means is not moved, it is possible to prevent the irregularly reflected X-rays from leaking outside.
[0009]
Further, if a detection means for detecting the size of the article is provided, it is possible to determine whether or not the article protrudes from the irradiation region for each article even if the article has a random size. As such a detection means, for example, an image processing means for obtaining a passing area of the article corresponding to the irradiation area based on an imaging signal from an imaging means for imaging the article is used.
The “size of the article” may include not only the width and height of the article but also the projected area of the article on the vertical plane. Furthermore, in the “extrusion determination” in the present invention, it may be determined whether or not the article protrudes from the irradiation region in consideration of the shape of the article in addition to the size of the article.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 to 5 show a first embodiment.
FIG. 1 is a partially cutaway side view of the
[0011]
In the X-ray shield box 1S of FIG. 1, an
The
The
[0012]
As shown in FIG. 2, guide driving means 30 and
A
[0013]
Next, the control configuration of the X-ray inspection apparatus will be described.
As shown in FIG. 3A, the
[0014]
The microcomputer 10 includes a CPU 11 and a memory (storage means) 12. The memory 12 includes an article information storage unit 12a and an area storage unit 12b.
As shown in FIG. 3 (b), in the article information storage unit 12a, for each article No., the article name including the article name including the article width and height is stored in advance in association with each other. Yes. As shown in FIG. 5B, the width and height of the article are determined by dimensions in the width direction X and the height direction Z of the article M orthogonal to the conveyance direction Y of the article M.
The area storage unit 12b stores the size and position of the irradiation area A.
[0015]
As will be described later, when the article M is designated, the CPU 11 reads the width and height of the article associated with the article number.
As will be described below, the CPU 11 constitutes a discriminating unit that performs a region check as to whether or not an article is conveyed in a protruding state based on the size and position of the article with respect to the irradiation area A. .
[0016]
First, the CPU 11 calculates a passing area B shown in FIG. 5B based on the width and height of the article M. This passing area B is an area of the article M on the
As shown in FIG. 5C, when the protruding portion Br occurs as a result of the region check, the protruding portion Br disappears based on the passage region B by the CPU 11 as shown in FIG. Thus, the movement distance α of the
Based on the moving distance α, the left and right guide driving means 30 move the
[0017]
The article M on the
The CPU 11 shown in FIG. 3 includes an X-ray image processing unit 11a.
The X-ray image processing unit 11a continuously processes the output from the
When the CPU 11 determines that a foreign matter is attached or mixed in the article M as a result of the foreign matter detection, the CPU 11 rejects the article M and transmits a sorting signal to the
[0018]
Next, the operation of the X-ray inspection apparatus will be described based on the flowchart shown in FIG.
After the operator performs a predetermined operation and designates an article to be inspected, the apparatus is started. The designation of the article may be designated based on article information from an upstream controller.
When the apparatus starts, in step S1, the CPU 11 of FIG. 3 reads the width and height associated with the article number of the article from the article information storage unit 12a, and proceeds to step S2.
In step S2, the passage area B of the article M is calculated. That is, when the article M is most biased to the left and right ends as shown in FIG. 5 (b) based on the read width and height and the initial position of the
[0019]
In step S3, the passage area B is compared with the irradiation area A in FIG. 5A, and an area check is performed to determine whether or not the protruding portion Br in FIG. 5C occurs. If the protruding portion Br is generated, the process proceeds to step S4. On the other hand, when the protruding portion Br does not occur, the process proceeds to step S6.
[0020]
In step S4, as shown in FIG. 5 (d), the movement distance α of the
In step S5, the
[0021]
In step S6, foreign matter inspection is performed on the article M conveyed below the X-ray irradiation means 21. That is, the X-ray image processing unit 11 a creates an image based on the transmission X-ray detection signal from the
[0022]
Here, when the article M is conveyed in a biased direction in either the left or right direction, the conveyance path is changed so that the article M comes into contact with the
Thereafter, the article M is conveyed from the
[0023]
As described above, when the area of the article M is checked and the article M protrudes from the irradiation area A, the article M protrudes from the irradiation area A by moving the
[0025]
FIG. 6 shows a second embodiment.
As shown in FIG. 6, a CCD camera (imaging means) 6 is connected to the microcomputer 10 of the X-ray inspection apparatus 1A. The CCD camera 6 is provided upstream of the X-ray irradiation means 21, images the article M on the
[0026]
The CPU 11 of the microcomputer 10 is provided with a captured image processing unit (image processing means) 11b in addition to the X-ray image processing unit 11a. The captured image processing unit 11b detects the position of the planar edge Me of the article M based on the luminance information input from the CCD camera 6, and further determines the width and height of the article M from the position of the edge Me. Then, a passing area B composed of the position of the article M on the
As a method for calculating the width and height of the article M, there is a known method disclosed in JP-A-11-337315 (Japanese Patent Application No. 10-162888).
Other configurations are the same as those in the first embodiment, and the same parts or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and detailed description and illustration thereof are omitted.
[0027]
The captured image processing unit 11 b calculates the width and height of the article M every time the article M is conveyed below the CCD camera 6. The CPU 11 calculates the passage area B of the article M based on the width and height, and performs an area check.
Based on the determination result of the area check, the CPU 11 moves the
[0028]
Thus, since the area check is performed for each article M and the
[0029]
Incidentally, as shown in FIG. 1, it is not necessary to irradiate the X-ray L in the direction orthogonal to the
[0030]
In both the embodiments, the calculation of the protruding portion Br is not necessarily required. For example, the X-ray image processing unit 11a stores the movement distance α in advance in association with each article number, and the article M is designated. Then, the movement distance α corresponding to the article M may be read out.
[0031]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, there is no possibility of causing the inspection mistake that goods products not inspected protrude from the irradiation area.
Further, it is not necessary to use two sets of optical systems or move the X-ray irradiation means and the detector, so that the cost is not increased.
Furthermore, since the X-ray irradiation means is not moved, the irregularly reflected X-rays are difficult to leak to the outside.
[0034]
Further, as passing area of the article is fit on the irradiation region, so to change the passage region of the article, because it so things article enters the irradiation area, automatic, and can be performed continuously inspected.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic side view, partially in section, showing an X-ray inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic plan view showing the X-ray inspection apparatus.
FIG. 3A is a schematic configuration diagram showing an X-ray inspection apparatus, and FIG. 3B is a chart showing storage contents of a storage unit.
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the X-ray inspection apparatus.
FIG. 5 is a schematic front view of a main part illustrating a method for changing a conveyance path.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing an X-ray inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a hypothetical perspective view for illustrating a concept of an X-ray irradiation region.
[Explanation of symbols]
5: Conveyor (conveying means)
6: CCD camera (detection means)
7: Indicator (Warning means)
11: CPU (discriminating means)
11b: Captured image processing unit (detection means)
12: Memory (storage means)
30: Guide driving means (conveyance path changing means)
31: Guide (conveyance path changing means)
A: Irradiation area B: Passing area M: Article L: X-ray Y: Transport direction
Claims (2)
物品が幅方向の左右の端に最も偏って搬送された場合の前記コンベヤ上における物品の通過領域がX線の照射される照射領域からはみ出す場合には、当該物品が搬送される前に当該物品の通過領域を変更する手段を備えたX線検査装置。An X-ray inspection apparatus that inspects an article by irradiating the article with X-rays while the article is being conveyed by a conveyor that conveys the article, and performing image processing on the X-ray that has passed through the article,
When the article passing area on the conveyor protrudes from the irradiation area irradiated with X-rays when the article is conveyed most biased to the left and right ends in the width direction, the article is conveyed before the article is conveyed. X-ray inspection apparatus provided with a means for changing the passage area .
前記ガイドの位置を前記駆動手段が移動することで、前記通過領域が変更されるX線検査装置。 An X-ray inspection apparatus in which the passing area is changed by the drive means moving the position of the guide.
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