JP3948218B2 - Solid-state imaging device and driving method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、1ラインを複数のチャンネルで出力する固体撮像素子を備える固体撮像装置において、各チャンネルの信号レベルが略均等になるように各チャンネル信号を増幅する場合のゲインを補正する固体撮像装置およびその駆動方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
固体撮像素子であるCCD(charge coupled devices)は、受光部と垂直転送部と水平転送部とを備えて構成される。CCDは、受光部で光学画像に応じた光電変換が行われると、生じた電荷を垂直転送部に転送する。垂直転送部に転送された電荷は、最初の1行から水平転送部へ転送され、水平転送部は、1走査線に相当する画像信号として、電荷を出力する。水平転送部から電荷が転送されると、次の1行分が垂直転送部から転送される。この動作が、垂直転送部の全行について行われるまで順次に繰り返される。
【0003】
こうしてCCDは、所定の期間内にすべての転送を終了し、1フレーム分(1フィールド分)の信号を出力する。
【0004】
CCDから出力された信号は、所定の信号レベルまで増幅され、必要な画像処理が諸回路で行われる。
【0005】
CCDがビデオカメラなど動画を記録する記録装置における撮像部に使用される場合には、例えば、1フレーム分の画像信号は、1/30秒以下の期間内に終了する必要がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年のCCDの多画素化に伴い、所定の期間内にすべての転送を終了することができないという事態が生じた。これに対応するために、受光部を左右の2チャンネルに分割し、これに応じて水平転送部も左右の2チャンネルに分割することによって、1ライン信号を左チャンネル信号と右チャンネル信号とに分割して出力する2チャンネル出力CCDが考えられた。この2チャンネル出力CCDは、画素数が同数の1チャンネルCCD(受光部および水平転送部が2分割されていないCCD)に較べ、略半分の時間で転送を終了することができる。
【0007】
しかし、この2チャンネル出力CCDにおいて、左右のチャンネル間にレベル差が生じるという問題がある。このため、画像信号を再生・表示した場合に、1画像中の左画像と右画像とにおいて輝度が異なり、画質が劣化するという問題となる。
【0008】
そこで、本発明では、左チャンネル信号と右チャンネル信号とをそれぞれ増幅する増幅部のゲインを補正することによって、左右チャンネル信号間に生じるレベル差を補償する固体撮像装置およびその駆動方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の固体撮像装置は、複数の出力部からそれぞれ撮像信号を出力する固体撮像素子と、
複数の測定点において測定された撮像信号間のレベル差に基づいて、固体撮像素子の信号レベルとゲイン差の乗数特性を求め、乗数特性を記憶する記憶手段と、
記憶手段に記憶されている乗数特性に基づいて各撮像信号のレベルが実質的に等しくなるように撮像信号のそれぞれに対するゲインを決定した後に、該各ゲインで各撮像信号のレベルをそれぞれ調整するゲイン補正手段と
を備えることを特徴とする固体撮像装置である。
【0010】
このように固体撮像素子の各撮像信号間に生じるレベル差を実際に測定し、この測定結果に基づいて各チャンネル信号間のレベルが実質的に等しくなるように調整するので、再生画像の画質は、向上する。すなわち、レベル差を調整しなければ再生画像の左半分と右半分の境界で明るさの差が生じるが、レベル差を調整することによりこの明るさの差が無くなるかまたは視覚的に違和感を感じない程度に実質的に画質が改善される。
【0011】
そして、調整値は、各撮像信号のレベルに依存するが、検出手段が複数のレベルでレベル差を測定するので、この依存性を補償することができる。さらに、固体撮像装置ごとに実測されるので、チップ間のバラツキも確実に補償される。
【0012】
また、本発明の固体撮像装置は、前記固体撮像素子から出力される各撮像信号をそれぞれ処理する複数の信号処理回路系をさらに備え、前記検出手段は、前記各信号処理回路系を経た後に、前記レベル差を検出するように構成してもよい。
【0013】
このように構成することにより、固体撮像素子で生じるレベル差だけでなく、周辺回路、特に信号をアナログ処理する周辺回路によって生じるレベル差も含めて、依存性を補償することができる。
【0014】
本発明の固体撮像装置の検出手段は、所定の時期に1度だけ動作するようにしてもよい。
【0015】
依存性が経年変化することが少ないことから、このように構成することにより、固体撮像装置を使用する度ごとに調整する煩わしさから解放され、しかも確実に依存性を補償することができる。
【0016】
なお、必要に応じて依存性を検出するようにしてもよい。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。
【0018】
図1は、固体撮像装置の構成を示すブロック図である。
【0019】
本実施形態の固体撮像装置は、2チャンネル出力CCD10、アナログ/ディジタル変換回路(以下、「A/D回路」と略記する。)14、複数ラインゲイン検波回路15、黒レベル検波回路16、画素並替回路17、黒レベル補正回路18、ゲイン補正回路19、遅延回路20、CCD信号処理回路21、Y信号処理回路22-Y、C信号処理回路22-C、制御マイコン23およびメモリ24を備えて構成される。
【0020】
2チャンネル出力CCD10は、受光画素および垂直レジスタ11、水平レジスタL12-L、水平レジスタR12-R、アンプ13-Lおよびアンプ13-Rを備えて構成される。
【0021】
受光画素および垂直レジスタ11は、フォトダイオードなどの光電変換素子である複数の受光画素がマトリクス状に配置され、垂直方向の受光画素間に垂直レジスタが配置されて構成される。
【0022】
光学系を介した被写体の撮像光は、各受光画素で受光されて光電変換される。各受光画素は、受光した光の強度に従う電荷量の電荷を生成する。生成された電荷は、所定のタイミングで垂直レジスタに転送される。
【0023】
受光画素および垂直レジスタ11は、垂直方向で左右に2分割されている。転送された電荷を1行ずつ所定のタイミングで、左半分の垂直レジスタは、水平レジスタL12-Lに転送し、一方、右半分の垂直レジスタは、水平レジスタR12-Rに転送する。
【0024】
水平レジスタL12-Lは、転送された電荷列を左チャンネル信号としてアンプ13-Lに出力し、水平レジスタL12-Rは、転送された電荷列を右チャンネル信号としてアンプ13-Rに出力する。
アンプ13-Lは、水平レジスタ12-Lの出力を電流値から電圧値に変換し、A/D回路14-Lに出力する。アンプ13-Rは、水平レジスタ12-Rの出力を電流値から電圧値に変換し、A/D回路14-Rに出力する。
【0025】
A/D回路14-L、14-Rは、アナログ信号をディジタル信号に変換する回路であり、入力された各電圧値をそれぞれ変換した後に複数ラインゲイン検波回路15に出力する。
【0026】
ここで、1ラインを分けた左右2チャンネル信号間に生じるレベル差は、信号をアナログで扱う、2チャンネル出力CCD10およびA/D回路14で主に生じることが実験により認められた。そして、レベル差は、受光画素の出力レベル(すなわち、受光光量、被写体の明暗)に依存することが認められた。したがって、各チャンネル信号を増幅する場合のゲインは、このレベル差を補償するために差が生じ、このゲイン差も受光画素の出力レベルに依存することになる。この出力レベル−ゲイン差の依存性を示す特性曲線を乗数特性曲線と呼称することにする。さらに、この乗数特性曲線は、2チャンネル出力CCD10のチップごとやA/D回路14の部品ごとに異なることも認められた。
【0027】
複数ラインゲイン検波回路15は、同一ラインの各チャンネルにおいて、右チャンネル信号のレベルと左チャンネル信号のレベルとの差を所定の測定点ごとに検出し、ゲイン差を検出する。例えば、右チャンネル信号に対するゲインを基準にゲイン差を検出する。あるいは、左チャンネル信号に対するゲインを基準にゲイン差を検出する。
【0028】
測定は、画素信号レベルにおいて所定の間隔で測定される。所定の間隔は、各測定点に対し等間隔でもよいし、明暗によってゲイン差の変化の割合が変わる場合には、ゲイン差が急激に変化する範囲については間隔を狭め、ゲイン差が緩やかに変化する範囲については間隔を広げるように、間隔を調整してもよい。
【0029】
本実施形態では、例えば、Lev0、Lev1、Lev2およびLev3についてゲイン差がそれぞれ測定され、それに対して測定結果がGa0、Ga1、Ga2およびGa3としてそれぞれ得られた。
【0030】
また、測定点の個数は、乗数特性のプロファイルに基づいて決定される。各画素信号レベルに対する乗数特性の各微分係数がほとんど同じ場合には、測定点数は少なくし、異なる場合には測定点数はより多くする。
【0031】
複数ラインゲイン検波回路15は、この測定結果を測定点とともに制御マイコン23に出力する。すなわち、複数ラインゲイン検波回路15は、測定点a(Lev0、Ga0)、測定点b(Lev1、Ga1)、測定点c(Lev2、Ga2)および測定点d(Lev3、Ga3)を制御マイコン23に出力する。
【0032】
制御マイコン23は、測定結果をEEP−ROM(electrically erasable programmable read-only memory)などの書き換え可能な不揮発性のメモリ24に格納する。
【0033】
複数ラインゲイン検波回路15は、このような乗数特性の測定は、明るさに分布のある被写体に対して、固体撮像装置の初期設定の際、例えば、工場出荷の際やユーザが固体撮像装置を備えたカメラを初めて使用開始する際などに測定される。このため、各固体撮像装置ごとに乗数特性がばらついたとしても、該装置に対する測定結果がメモリ24に格納されるので、的確に装置ごとの特性を反映することができる。
【0034】
複数ラインゲイン検波回路15は、乗数特性の測定を行う場合を除き、左右チャンネルの各信号をそのまま黒レベル検波回路16に出力する。
【0035】
黒レベル検波回路16は、各チャンネル信号に対して、画像の黒色とディジタルコードの0との差を検出する。黒レベル検波回路16は、左右チャンネルの各信号をそのまま画素並替回路17に出力するとともに、検出した結果を黒レベル補正回路18に出力する。
【0036】
画素並替回路17は、2チャンネル出力CCD10が1ラインを左右2チャンネルに分割して出力したため、これらを1ラインに再構成する。すなわち、第1ラインの右チャンネル信号に第1ラインの左チャンネル信号を続ける。第2ラインの右チャンネル信号に第2ラインの左チャンネル信号を続ける。そして、第3ラインの右チャンネル信号に第3ラインの左チャンネル信号を続ける。以下、同様に各信号を続け、1フレーム(またはフィールド)分の信号を構成する。これら再構成された1ライン分の各ライン信号は、画素並替回路17から黒レベル補正回路18に順次に出力される。
【0037】
黒レベル補正回路18は、黒レベル検波回路16の出力に基づいて、画像の黒色とディジタルコードの0とを一致させた後に、ゲイン補正回路19に出力する。
【0038】
A/D回路14において、画像の黒色とディジタルコードの0とを一致させると、仮にノイズなどでA/D回路14に負電圧が入力された場合に、該負電圧に対応する画素が、本来黒色となるべきにも拘わらず欠落してしまう。このため、A/D回路14でオフセット電圧が予め印加された後に、A/D変換されているため、黒レベル検波回路16で上述の差を検出し、黒レベル補正回路18でこのオフセット電圧分を除去する。
【0039】
ゲイン補正回路19は、制御マイコン23を介してメモリ24に格納されている乗数特性を参照し、入力されたライン信号のレベルに応じたゲイン差を算出する。そして、ゲイン補正回路19は、左チャンネル信号を増幅すべき左ゲインおよび右チャンネル信号を増幅すべき右ゲインをゲイン差に応じてそれぞれ決定する。ゲイン補正回路19は、各ライン信号において、決定された各ゲインによって各チャンネルごとにそれぞれ増幅した後に、遅延回路20に出力する。すなわち、ゲイン補正回路19は、ライン信号中における左チャンネル信号に相当する部分に対しては左ゲインで増幅し、ライン信号中における右チャンネル信号に相当する部分に対しては右ゲインで増幅する。これによって、各チャンネル信号に対して適正なゲインでそれぞれ増幅されるため、2チャンネル出力CCDからレベル差を以て各チャンネル信号が出力されたとしても、確実にレベル差を補正することができる。
【0040】
ここで、ゲイン補正回路19について、より詳細に説明する。
【0041】
図2は、ゲイン補正回路の構成を示す図である。
【0042】
ゲイン補正回路19は、加算器31、乗算器32および乗数算出回路33を備えて構成される。
【0043】
黒レベル補正回路18から出力された各ライン信号は、加算器31、乗算器32および乗数算出回路33にそれぞれ入力される。
【0044】
乗数算出回路33は、制御マイコン23を介してメモリ24に格納されている乗数特性を参照して、入力された入力ライン信号からゲイン差を算出し、ゲイン差からライン信号中の各チャンネルごとに各ゲインを決定する。入力された入力ライン信号が、各測定点の間である場合には、隣接する2測定点における乗数特性から線形補完することによって、当該入力ライン信号におけるゲイン差を算出する。
【0045】
上述の乗数特性から各測定点間を線形補完することによって得られた乗数特性曲線を図3に示す。図3の横軸は、受光画素の信号レベルを示し、図3の縦軸は、ゲイン差を示す。
【0046】
例えば、図3において、Lev1とLev2との間におけるLevXが入力された場合、測定点b(Lev1,Ga1)と測定点c(Lev2,Ga2)とによって線形補完された関係でGaXが算出される。すなわち、
GaX={(Lev2-LevX)×Ga1+( LevX-Lev1)×Ga2}/(Lev2-Lev1)
によって、GaXは、算出される。
【0047】
乗算器32は、入力ライン信号を各チャンネルごとに各チャンネルに対応するゲインで増幅した後に、増幅した増幅ライン信号を加算器31に出力する。
【0048】
加算器31は、入力ライン信号に増幅ライン信号を加算した後に出力する。
【0049】
したがって、ゲイン補正回路19の出力<Sig>は、入力ライン信号中における左チャンネル信号Sig-L、左チャンネル信号に対して決定されたゲインGa-L、入力ライン信号中における右チャンネル信号Sig-R、右チャンネル信号に対して決定されたゲインGa-R、右チャンネル信号に対するゲインGabasを基準としゲイン差をGasubとすると、画面右においては、
となり、画面左においては、
となる。
【0050】
図1に戻って、遅延回路20は、垂直方向(V方向)にエッジを取って輪郭をより明瞭にするために必要な回路であり、入力信号を所定時間遅らせてCCD信号処理回路21に出力する。
【0051】
CCD信号処理回路21は、黄、緑、シアンおよびマゼンダの各信号から輝度信号(Y信号)およびクロマ信号(C信号)を生成するために必要な前処理を行い、Y信号処理回路22-YおよびC信号処理回路22-Cに出力する。
【0052】
Y信号処理回路22-Yは、入力された信号からY信号を生成して出力し、C信号処理回路22-Cは、入力された信号からRGB信号を生成し後にC信号を生成して出力する。
【0053】
なお、図4は、乗数が一定の場合におけるゲイン補正回路の構成を示す図であり、乗数が一定の場合では、乗数特性曲線は、図3で破線で示すように、Ga0の一定の直線となる。
【0054】
このため、このようなゲイン補正回路の場合では、受光画素の出力レベルに応じて変化するゲイン差に対応することができない。
【0055】
なお、本実施形態では、所定の時期に実測した乗数特性を制御マイコン23を介してメモリ24に蓄積し、ゲイン補正回路19は、必要に応じて制御マイコン23を介してメモリ24から取得するようにしたが、ゲイン補正回路19内にメモリを備え、複数ラインゲイン検波回路15から直接ゲイン補正回路19内のメモリに乗数特性を格納するようにしてもよい。
【0056】
【発明の効果】
本発明は、2チャンネルCCDにおけるゲイン差を受光画素の出力レベルに応じて調整することができるので、2チャンネル出力CCD10およびA/D回路14で各チャンネル信号間に生じるレベル差を実質的に無くすことができる。
【0057】
さらに、本発明は、乗数特性を所定の時期に実測してメモリに格納するので、各チャンネル信号間に生じるレベル差を装置ごとに的確な乗数特性で補償することができる。
【0058】
したがって、本発明では、乗数特性曲線を装置ごとにプログラマブルに設定することができる。
【0059】
このため、2チャンネル出力CCDで撮像された画像を再生・表示する場合に、画像の劣化を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】固体撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図2】ゲイン補正回路の構成を示す図である。
【図3】乗数特性の一例を示す図である。
【図4】乗数が一定の場合におけるゲイン補正回路の構成を示す図である。
【符号の説明】
10 2チャンネル出力CCD
11 受光画素および垂直レジスタ
12 水平レジスタ
13 アンプ
14 A/D回路
15 複数ラインゲイン検波回路
19 ゲイン補正回路
23 制御マイコン
24 メモリ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a solid-state imaging device including a solid-state imaging device that outputs one line through a plurality of channels, and corrects the gain when amplifying each channel signal so that the signal level of each channel is substantially equal. And a driving method thereof .
[0002]
[Prior art]
A CCD (charge coupled devices) that is a solid-state imaging device includes a light receiving unit, a vertical transfer unit, and a horizontal transfer unit. When the photoelectric conversion corresponding to the optical image is performed in the light receiving unit, the CCD transfers the generated charges to the vertical transfer unit. The charge transferred to the vertical transfer unit is transferred from the first row to the horizontal transfer unit, and the horizontal transfer unit outputs the charge as an image signal corresponding to one scanning line. When charges are transferred from the horizontal transfer unit, the next row is transferred from the vertical transfer unit. This operation is sequentially repeated until it is performed for all rows of the vertical transfer unit.
[0003]
Thus, the CCD finishes all transfers within a predetermined period and outputs a signal for one frame (one field).
[0004]
The signal output from the CCD is amplified to a predetermined signal level, and necessary image processing is performed by various circuits.
[0005]
When the CCD is used in an imaging unit in a recording apparatus that records a moving image such as a video camera, for example, an image signal for one frame needs to be completed within a period of 1/30 seconds or less.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, with the recent increase in the number of CCD pixels, there has been a situation in which all transfers cannot be completed within a predetermined period. To cope with this, the light receiving unit is divided into two left and right channels, and the horizontal transfer unit is also divided into two left and right channels accordingly, thereby dividing one line signal into a left channel signal and a right channel signal. Thus, a two-channel output CCD that can be output has been considered. The two-channel output CCD can complete the transfer in approximately half the time compared to a one-channel CCD having the same number of pixels (a CCD in which the light receiving unit and the horizontal transfer unit are not divided into two).
[0007]
However, the two-channel output CCD has a problem that a level difference is generated between the left and right channels. For this reason, when an image signal is reproduced / displayed, there is a problem in that the luminance is different between the left image and the right image in one image and the image quality is deteriorated.
[0008]
Accordingly, the present invention provides a solid-state imaging device that compensates for a level difference generated between left and right channel signals by correcting the gain of an amplification unit that amplifies the left channel signal and the right channel signal, respectively, and a driving method thereof. With the goal.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The solid-state imaging device of the present invention, a solid-state imaging device to output the respective image pickup signals from the plurality of output portions,
Storage means for determining a multiplier characteristic of the signal level and gain difference of the solid-state imaging device based on the level difference between the imaging signals measured at a plurality of measurement points, and storing the multiplier characteristic ;
After level based on the multiplier characteristic stored in the storage means each of the image pickup signal to determine the gain for each of the substantially equal manner, since the image pickup signal, gain for adjusting the level of each image signal respectively respective gains A solid-state imaging device comprising: a correction unit.
[0010]
In this way, the level difference generated between the respective imaging signals of the solid-state imaging device is actually measured, and the level between the channel signals is adjusted to be substantially equal based on the measurement result. ,improves. In other words, if the level difference is not adjusted, a difference in brightness occurs at the boundary between the left half and the right half of the playback image, but this difference in brightness is eliminated by adjusting the level difference, or a visually uncomfortable feeling is felt. The image quality is substantially improved to the extent that it is not.
[0011]
The adjustment value depends on the level of each imaging signal, but since the detection means measures the level difference at a plurality of levels, this dependency can be compensated. Furthermore, since measurement is performed for each solid-state imaging device, variations between chips are reliably compensated.
[0012]
In addition, the solid-state imaging device of the present invention further includes a plurality of signal processing circuit systems for processing each imaging signal output from the solid-state imaging device, and the detection unit passes through each signal processing circuit system, You may comprise so that the said level difference may be detected.
[0013]
By configuring in this manner, not only the level difference caused by the solid-state imaging device but also the dependency including the level difference caused by the peripheral circuit, particularly the peripheral circuit for analog processing of the signal can be compensated.
[0014]
The detection means of the solid-state imaging device of the present invention may be operated only once at a predetermined time.
[0015]
Since the dependency is less likely to change over time, such a configuration frees you from the trouble of adjusting each time the solid-state imaging device is used, and can reliably compensate for the dependency.
[0016]
Note that the dependency may be detected as necessary.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0018]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a solid-state imaging device.
[0019]
The solid-state imaging device according to the present embodiment includes a two-
[0020]
The two-
[0021]
The light receiving pixels and the
[0022]
Imaging light of the subject via the optical system is received by each light receiving pixel and subjected to photoelectric conversion. Each light receiving pixel generates a charge having a charge amount according to the intensity of the received light. The generated charge is transferred to the vertical register at a predetermined timing.
[0023]
The light receiving pixel and the
[0024]
The horizontal register L12-L outputs the transferred charge string to the amplifier 13-L as a left channel signal, and the horizontal register L12-R outputs the transferred charge string to the amplifier 13-R as a right channel signal.
The amplifier 13-L converts the output of the horizontal register 12-L from a current value to a voltage value and outputs the voltage value to the A / D circuit 14-L. The amplifier 13-R converts the output of the horizontal register 12-R from a current value into a voltage value, and outputs it to the A / D circuit 14-R.
[0025]
The A / D circuits 14-L and 14-R are circuits that convert an analog signal into a digital signal, and each input voltage value is converted and then output to the multi-line gain detection circuit 15.
[0026]
Here, it was experimentally confirmed that the level difference generated between the left and right two-channel signals dividing one line mainly occurs in the two-
[0027]
The multiple line gain detection circuit 15 detects the difference between the level of the right channel signal and the level of the left channel signal for each predetermined measurement point in each channel of the same line, and detects the gain difference. For example, the gain difference is detected based on the gain for the right channel signal. Alternatively, the gain difference is detected based on the gain for the left channel signal.
[0028]
Measurements are taken at predetermined intervals at the pixel signal level. The predetermined interval may be equal to each measurement point, or when the rate of change in gain difference changes depending on light and dark, the interval is narrowed for the range where the gain difference changes rapidly, and the gain difference changes gradually. The range may be adjusted so as to widen the range.
[0029]
In the present embodiment, for example, gain differences were measured for Lev0, Lev1, Lev2, and Lev3, and the measurement results were obtained as Ga0, Ga1, Ga2, and Ga3, respectively.
[0030]
The number of measurement points is determined based on a profile of the multiplier characteristic. When the differential coefficients of the multiplier characteristic for each pixel signal level are almost the same, the number of measurement points is decreased, and when they are different, the number of measurement points is increased.
[0031]
The multiple line gain detection circuit 15 outputs the measurement result to the
[0032]
The
[0033]
The multi-line gain detection circuit 15 is configured to measure such a multiplier characteristic at the time of initial setting of the solid-state imaging device, for example, at the time of factory shipment or for the user with respect to a subject having a brightness distribution. It is measured when the camera is first used. For this reason, even if the multiplier characteristic varies for each solid-state imaging device, the measurement result for the device is stored in the
[0034]
The multi-line gain detection circuit 15 outputs each signal of the left and right channels to the black level detection circuit 16 as it is, except when measuring the multiplier characteristic.
[0035]
The black level detection circuit 16 detects the difference between the black color of the image and the digital code 0 for each channel signal. The black level detection circuit 16 outputs the signals of the left and right channels as they are to the pixel rearrangement circuit 17 and outputs the detection result to the black level correction circuit 18.
[0036]
The pixel rearrangement circuit 17 reconfigures them into one line because the 2-
[0037]
Based on the output of the black level detection circuit 16, the black level correction circuit 18 matches the black color of the image with 0 of the digital code, and then outputs it to the
[0038]
In the A /
[0039]
The
[0040]
Here, the
[0041]
FIG. 2 is a diagram illustrating the configuration of the gain correction circuit.
[0042]
The
[0043]
Each line signal output from the black level correction circuit 18 is input to the
[0044]
The multiplier calculation circuit 33 refers to the multiplier characteristic stored in the
[0045]
FIG. 3 shows a multiplier characteristic curve obtained by linearly interpolating between the measurement points from the above-described multiplier characteristic. The horizontal axis in FIG. 3 indicates the signal level of the light receiving pixel, and the vertical axis in FIG. 3 indicates the gain difference.
[0046]
For example, in FIG. 3, when LevX between Lev1 and Lev2 is input, GaX is calculated in a linearly complemented relationship between the measurement point b (Lev1, Ga1) and the measurement point c (Lev2, Ga2). . That is,
GaX = {(Lev2-LevX) × Ga1 + (LevX-Lev1) × Ga2} / (Lev2-Lev1)
Thus, GaX is calculated.
[0047]
The
[0048]
The
[0049]
Therefore, the output <Sig> of the
On the left side of the screen,
It becomes.
[0050]
Returning to FIG. 1, the delay circuit 20 is a circuit necessary for making the contour clearer by taking an edge in the vertical direction (V direction), and delays the input signal by a predetermined time and outputs it to the CCD signal processing circuit 21. To do.
[0051]
The CCD signal processing circuit 21 performs preprocessing necessary for generating a luminance signal (Y signal) and a chroma signal (C signal) from the yellow, green, cyan, and magenta signals, and a Y signal processing circuit 22-Y. And output to the C signal processing circuit 22-C.
[0052]
The Y signal processing circuit 22-Y generates and outputs a Y signal from the input signal, and the C signal processing circuit 22-C generates an RGB signal from the input signal and then generates and outputs a C signal. To do.
[0053]
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the gain correction circuit when the multiplier is constant. When the multiplier is constant, the multiplier characteristic curve is a constant straight line of Ga0 as shown by a broken line in FIG. Become.
[0054]
For this reason, in the case of such a gain correction circuit, it is not possible to cope with a gain difference that changes in accordance with the output level of the light receiving pixels.
[0055]
In the present embodiment, the multiplier characteristic measured at a predetermined time is stored in the
[0056]
【The invention's effect】
In the present invention, the gain difference in the two-channel CCD can be adjusted in accordance with the output level of the light receiving pixel, so that the level difference generated between the channel signals in the two-
[0057]
Further, according to the present invention, since the multiplier characteristic is measured at a predetermined time and stored in the memory, the level difference generated between the respective channel signals can be compensated with an accurate multiplier characteristic for each apparatus.
[0058]
Therefore, in the present invention, the multiplier characteristic curve can be set programmable for each apparatus.
[0059]
For this reason, when reproducing and displaying an image captured by the two-channel output CCD, it is possible to prevent image deterioration.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a solid-state imaging device.
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a gain correction circuit.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a multiplier characteristic.
FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration of a gain correction circuit when a multiplier is constant.
[Explanation of symbols]
10 2-channel output CCD
DESCRIPTION OF
Claims (4)
複数の測定点において測定された前記撮像信号間のレベル差に基づいて、前記固体撮像素子の信号レベルとゲイン差の乗数特性を求め、前記乗数特性を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記乗数特性に基づいて各撮像信号のレベルが実質的に等しくなるように前記撮像信号のそれぞれに対するゲインを決定した後に、該各ゲインで前記各撮像信号のレベルをそれぞれ調整するゲイン補正手段と
を備えることを特徴とする固体撮像装置。And the solid-state image sensor to output the imaging signal from each of the plurality of output portions,
Storage means for determining a multiplier characteristic of the signal level and gain difference of the solid-state image sensor based on the level difference between the imaging signals measured at a plurality of measurement points, and storing the multiplier characteristic ;
After determining the gain for each of the imaging signals based on the multiplier characteristic stored in the storage means so that the level of each imaging signal becomes substantially equal, the level of each imaging signal is set with each gain. A solid-state imaging device comprising: a gain correction unit that adjusts each.
を特徴とする請求項1に記載の固体撮像素子。The solid-state imaging device according to claim 1, wherein the solid-state imaging device is a two-channel output CCD having two output units.
特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。The solid-state imaging apparatus according to claim 1, wherein the storage unit performs a storage operation only once at a predetermined time.
複数の測定点において測定された前記撮像信号間のレベル差に基づいて、前記固体撮像素子の信号レベルとゲイン差の乗数特性を求め、前記乗数特性を記憶手段に記憶する記憶ステップと、
前記記憶手段に記憶されている前記乗数特性に基づいて各撮像信号のレベルが実質的に等しくなるように前記撮像信号のそれぞれに対するゲインを決定した後に、該各ゲインで前記各撮像信号のレベルをそれぞれ調整するゲイン補正ステップと
を備えることを特徴とする固体撮像装置の駆動方法。 An output step of outputting an imaging signal from each of a plurality of output units of the individual imaging element;
A storage step of determining a multiplier characteristic of a signal level and a gain difference of the solid-state image sensor based on a level difference between the imaging signals measured at a plurality of measurement points, and storing the multiplier characteristic in a storage unit;
After determining the gain for each of the imaging signals based on the multiplier characteristic stored in the storage means so that the level of each imaging signal becomes substantially equal, the level of each imaging signal is set with each gain. Each gain adjustment step to adjust
A method for driving a solid-state imaging device.
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