JP3946189B2 - スクラッチ処理装置,スクラッチ処理方法,スクラッチ管理方法,及び記録媒体 - Google Patents

スクラッチ処理装置,スクラッチ処理方法,スクラッチ管理方法,及び記録媒体 Download PDF

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Description

本発明はハードディスクのスクラッチによるディフェクトを処理する装置及び方法並びにその関連技術に係り,特に予測されるディフェクトをディフェクトリストに追加してユーザーのデータを正常的セクターに記録させるためのハードディスクドライブ(以下,HDD)のディフェクトフリーアルゴリズムに関する。
図1は従来の垂直方向のスクラッチ処理アルゴリズムの第1段階を表す図面である。
ディフェクトリストから第n番目のトラックのセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定する(11)。トラック方向に対して垂直方向に第n番目のトラックから10トラック内にディフェクトを有するセクターがあるかどうかを検査する。この例では第n+8トラックのセクターが実際ディフェクトを有していることが分かる。第n番目のトラックのセクターから10トラック内にディフェクトを有するセクターがあれば,第n番目のトラックのセクターから10トラック内の残りのセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
ディフェクトリストから第n番目のトラックのセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定する(12)。トラック方向に対して垂直方向に第n番目のトラックのセクターから10トラック内にディフェクトを有するセクターがあるかどうかを検査する。この例のように,第n番目のトラックのセクターから10トラック内にいくつかのディフェクトを有するセクターがあれば,最も遠くにあるトラックのセクターをターゲットセクターに設定する。この例では第n+8トラックのセクターがターゲットセクターとなる。第n番目のトラックのセクターから10トラック内にディフェクトを有するセクターがあれば,第n番目のトラックのセクターから10トラック内の残りのセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
図2は従来の垂直方向のスクラッチ処理アルゴリズムの第2段階を示した図面である。
前記図1の説明のような過程を経た後,ディフェクトリストから第n番目のトラックから下方にディフェクトを有するセクターがあるかどうかを検査する。下方に24トラック内にディフェクトを有するセクターがあれば,その間のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。同様に,第n番目のトラックから上方にディフェクトを有するセクターがあるかどうかを検査する。上方に24トラック内にディフェクトを有するセクターがあれば,その間のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
図3は従来の垂直方向のスクラッチ処理アルゴリズムの第3段階を示す図面である。
図示されたように第n−20トラックと第n+28トラック,及びその間にディフェクトを有するセクターがあったと仮定すれば,その中間のセクターはいずれも仮想ディフェクトに設定されてスクラッチと処理される。第3段階として次の過程を経る。
まず,サイズ=(ディフェクトの長さ)/8+5を計算する。次いで,計算されたサイズ値ほど追加的にスクラッチと処理する。図示された例の場合にはサイズ=49/8+5であり,この値ほど第n−20トラック下に,及び第n+28トラック上に追加的にスクラッチと処理する。
ハードディスク自体が部品として工場に入庫される時にはスクラッチがほとんどないが,ハードディスクにHDA(Head/Disk Assembly,ヘッド/ディスク組立て部)をジグで組立てる時にディスクが停止した状態でピボットを中心にヘッドを動かして組立てるために,ヘッドに沿って大きなアーク状のスクラッチが発生しうるが,この時,顕微鏡でみればトラック方向に垂直なスクラッチが発生する。したがって,従来の場合,垂直方向に生じるスクラッチだけを予想してスクラッチフィルを行った。
しかし,現在のHDDは益々高いrpmで回転すると同時にTPI(Track Per Inch,ディスク表面のインチ当りトラック数)及びBPI(Bits Per Inch,ディスク表面のインチ当りビット数)が高まるにつれて衝撃及びその他の要因によって多様な方向のスクラッチが発生する可能性が多くなった。特に,回転するディスク上で弧を描きながら往復動をするヘッドによってトラック方向に対して斜線及び水平方向のスクラッチが発生する可能性が大きくなっており,これにより従来の垂直方向のスクラッチフィルだけではこれを対応できないという問題点があった。
本発明が解決しようとする技術的課題は,ハードディスクに発生する任意方向のスクラッチによるディフェクトを予測して処理する装置及び方法を提供するところにある。
前記技術的課題を解決するための本発明による任意方向のスクラッチ処理装置は,所定のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記セクターの距離が一つの連続したスクラッチの長さ以下である場合,前記セクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,前記スクラッチ判断部により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記セクター周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する仮想ディフェクト設定部と,を含む。
前記他の技術的課題を解決するための本発明によるハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理装置は,所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,前記スクラッチ判断部により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する中間仮想ディフェクト設定部と,前記スクラッチ判断部により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が前記スクラッチ処理限界値より小さな場合,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する両端仮想ディフェクト設定部と,を含む。
前記さらに他の技術的課題を解決するための本発明によるハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理装置は,所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,前記スクラッチ判断部により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する仮想ディフェクト設定部と,を含む。
前記さらに他の技術的課題を解決するための本発明による任意方向のスクラッチ処理方法は,(a)所定のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記セクターの距離が一つの連続したスクラッチの長さ以下である場合,前記セクターを一つの連続したスクラッチと判断する段階と,(b)前記(a)段階により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記セクター周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含む。
前記さらに他の技術的課題を解決するための本発明によるハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理方法は,所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する段階と,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が前記スクラッチ処理限界値より小さな場合,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含む。
前記さらに他の技術的課題を解決するための本発明によるハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理方法は,(b)所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する段階と,(c)前記(b)段階により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含む。
なお,特許請求の範囲の記載において,(a)段階〜(e)段階は,(a)段階,(b)段階,(c)段階,(d)段階,(e)段階の順に行われるものである。
また,本発明の他の観点によれば,コンピュータを上記スクラッチ処理装置として機能させるため,あるいは,コンピュータに上記スクラッチ処理方法またはスクラッチ管理方法を実行させるためのプログラムと,そのプログラムを記録した,コンピュータにより読み取り可能な記録媒体が提供される。ここで,プログラムはいかなるプログラム言語により記述されていてもよい。また,記録媒体としては,例えば,CD−ROM,DVD−ROM,フロッピー(登録商標)ディスク(FD:Floppy(登録商標)Disk)など,プログラムを記録可能な記録媒体として現在一般に用いられている記録媒体,あるいは将来用いられるいかなる記録媒体をも採用することができる。
以上のように本発明によれば,ハードディスク上に発生した任意方向のスクラッチによるディフェクトを事前に予測して処理することにより,ユーザーがHDDを使用する時にディフェクトを有すると予測されるセクターをスキップし,正常的なセクターにのみデータの読出し/書込みを行い,その結果,製品で発生しうるディフェクトエラーを最小化して品質向上を図る効果がある。実行条件をコード修正なしにHDD MCに記録されている値を変更することによって条件の流動性が確保できるようになった。
以下に添付図面を参照しながら,本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお,本明細書および図面において,実質的に同一の機能構成を有する構成要素については,同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
図4Aは,本実施の形態にかかるハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理装置の構成図である。
ハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理装置は,実際ディフェクト情報読出部411,スクラッチ判断部412,中間仮想ディフェクト設定部413,両端仮想ディフェクト設定部414,及び仮想ディフェクト情報記録部415で構成される。
実際ディフェクト情報読出部411は所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す。前記のように,ハードディスク自体が部品として工場に入庫される時にはスクラッチがほとんどないが,HDDを組立てる時,部品間の接触によってスクラッチが発生する可能性が大きい。また,HDDの組立てが完了した場合,発売される前にあらゆるハードディスクはB/I(Burn In,特定条件,特定時間の間に回路を動作させて初期故障が審査される部品検査の段階)テスト及びファンクションテスト工程を経るが,この時ヘッドスラップやその他の衝撃によってスクラッチが発生する可能性が大きい。ディスク表面の検査を経て,ディフェクトが見つけられたセクターに対してはディフェクトリストが作成される。このディフェクトリストはHDD内の不揮発性メモリに保存される。前記のように,実際ディフェクト情報読出部411は所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出すことによって,いずれのセクターにディフェクトがあるかが分かる。但し,前記ディスク表面検査はヘッドの不正確性によって完壁でないため,本実施の形態のようなアルゴリズムを適用することによってディフェクトと予想されるセクターをいずれも除去してPCからみれば全く不良セクターのないように管理する。このような技術をディフェクト管理という。
スクラッチ判断部412は所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,m値とn値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する。スクラッチ処理条件値は第M番目のトラック及び第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,スクラッチ処理限界値は第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値をいい,ここで,スクラッチ処理限界値とはトラック上で工程上一般的に発生しうるスクラッチの長さをいう。また,m値とn値との差値とは,実際ディフェクトを有する第m番目のセクターと第n番目のセクターとの距離をいい,これが工程上一般的に発生しうるスクラッチの長さ以下である場合,スクラッチ判断部412は第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する。
中間仮想ディフェクト設定部413は,スクラッチ判断部412により第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,m値とn値との差値が1より大きい場合,第M番目のトラック及び第N番目のトラックの第m番目のセクターと第n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する。前記のようにm値とn値との差値とは,実際ディフェクトを有する第m番目のセクターと第n番目のセクターとの距離をいい,これが1より大きい場合とは,第m番目のセクター及び第n番目のセクターが連続的に配置されておらず,互いに離れて配置されている場合をいう。このような場合,中間仮想ディフェクト設定部413は第m番目のセクターと第n番目のセクターとの中間に配置されているあらゆるセクターを不良セクターと設定する。すなわち,第m番目のセクターと第n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する。第m番目のセクターと第n番目のセクターとの中間に配置されているあらゆるセクターが不良セクターと推定されるからである。
両端仮想ディフェクト設定部414は,スクラッチ判断部412により第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,m値とn値との差値がスクラッチ処理限界値より小さな場合,第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する。スクラッチは第m番目のセクターから始めて第n番目のセクターに終わる確率はほとんどない。セクターはディスク上の非常に微細な空間であり,スクラッチは工場で製作される途中で,またはユーザーが使用する途中で発生する掻かれた跡であるからである。したがって,第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断された場合,両端仮想ディフェクト設定部414はスクラッチと推定されうる長さほど第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する。すなわち,両端仮想ディフェクト設定部414は前記m値と前記n値との差値と前記スクラッチ処理限界値との差値ほど仮想ディフェクトに設定する。
仮想ディフェクト情報記録部415は,中間仮想ディフェクト設定部413及び両端仮想ディフェクト設定部44で設定された仮想ディフェクトに関する情報をディフェクトリストが保存されたメモリに記録する。中間仮想ディフェクト設定部413及び両端仮想ディフェクト設定部414で設定された仮想ディフェクトに関する情報,すなわち仮想ディフェクトを有するセクターのアドレスをディフェクトリストに反映する。このようにすることによってディフェクトと予想されるセクターをいずれも除去してPCからみれば全く不良セクターのないように管理する。
図4Bは本実施の形態によるハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理装置の構成図である。
斜線方向のスクラッチ処理装置は実際ディフェクト情報読出部421,スクラッチ判断部422,仮想ディフェクト設定部423,及び仮想ディフェクト情報記録部424で構成される。
実際ディフェクト情報読出部421は所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す。スクラッチ判断部422は,所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,M値とN値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,m値とn値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する。ここで,スクラッチ処理条件値は第M番目のトラック及び第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,スクラッチ処理限界値は第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値である。
仮想ディフェクト設定部423は,スクラッチ判断部422により第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,m値とn値との差値が1より大きい場合,第M番目のトラック及び第N番目のトラックの第m番目のセクターと第n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する。仮想ディフェクト設定部423はm値とn値との差値とスクラッチ処理限界値との差値ほど第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する。
仮想ディフェクト情報記録部424は仮想ディフェクト設定部423で設定された仮想ディフェクトに関する情報をディフェクトリストが保存されたメモリに記録する。
図5は一実施例であって,実際ディフェクトを有するセクターの2トラックが1トラック間隔をおいて離れている場合を示す図面である。
M値とN値とが相異なり,前記m値と前記n値とが相異なる場合,実際ディフェクトを有する第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターに繋がる方向はトラック方向を基準に斜線方向であり,m値及びn値が固定されている場合,M値とN値との差に比例してトラック方向を基準に傾斜度が増加する。
図示された例に本実施の形態を適用して説明すれば次の通りである。ディフェクトリストから第N番目のトラックの第n+1番目のセクター,及び第N+2番目のトラックにある第n−3番目のセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定しよう。第n+1番目のセクターと第n−3番目のセクター間の長さを表すセクターアドレス値の差である4がスクラッチ処理限界値以下であるかどうかを確認する。もし,4がスクラッチ処理限界値以下である場合であれば,第n+1番目のセクターと第n−3番目のセクター間のセクター,すなわち第N+1番目のトラックの第n−3番目のセクター,第n−2番目のセクター,第n−1番目のセクター,第n番目のセクター,及び第n+1番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
次いで,第N+2番目のトラックの第n−3番目のセクター周辺のセクター,すなわち第N+2番目のトラックの第n−5番目のセクター,及び第n−4番目のセクター,第N+3番目のトラックの第n−5番目のセクター,第n−4番目のセクター,及び第n−3番目のセクター,第N+2番目のトラックの第n−5番目のセクター,第n−4番目のセクター,及び第n−3番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理し,第N番目のトラックの第n+1番目のセクター周辺のセクター,すなわち第N番目のトラックの第n+2番目のセクター,及び第n+3番目のセクター,第N−1番目のトラックの第n+1番目のセクター,第n+2番目のセクター,及び第n+3番目のセクター,第N−2番目のトラックの第n+1番目のセクター,第n+2番目のセクター,及び第n+3番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
前記の場合のように,2トラックが1トラック間隔をおいて離れている場合,すなわちN=M+2である場合,数多くの実験を通じてスクラッチ処理限界値をトラック当りセクター数の1%とすることが実際スクラッチとほぼ同一にかつ効果的にスクラッチと処理できることが分かる。スクラッチ処理限界値は変更できる。
図6は一実施例であって,実際ディフェクトを有するセクターの2トラックが連続的に繋がっている場合を示す図面である。
図示された例に本実施の形態を適用して説明すれば次の通りである。ディフェクトリストから第N番目のトラックの第n+1番目のセクター,及び第N+1番目のトラックにある第n−2番目のセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定しよう。第n+1番目のセクターと第n−2番目のセクター間の長さを表すセクターアドレス値の差である3がスクラッチ処理限界値以下であるかどうかを確認する。もし,3がスクラッチ処理限界値以下である場合ならば第n+1番目のセクターと第n−2番目のセクター間のセクター,すなわち第N番目のトラックの第n−2番目のセクター,第n−1番目のセクター,及び第n番目のセクター,第N+1番目のトラックの第n+1番目のセクター,第n番目のセクター,及び第n+1番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
次いで,第N+1番目のトラックの第n−2番目のセクター周辺のセクター,すなわち第N+1番目のトラックの第n−4番目のセクター,及び第n−3番目のセクター,第N+2番目のトラックの第n−4番目のセクター,第n−3番目のセクター,及び第n−2番目のセクター,第N+3番目のトラックの第n−4番目のセクター,第n−3番目のセクター,及び第n−2番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理し,第N番目のトラックの第n+1番目のセクター周辺のセクター,すなわち第N番目のトラックの第n+2番目のセクター,及び第n+3番目のセクター,第N−1番目のトラックの第n+1番目のセクター,第n+2番目のセクター,及び第n+3番目のセクター,第N−2番目のトラックの第n+1番目のセクター,第n+2番目のセクター,及び第n+3番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
前記の場合のように,2トラックが連続的に繋がっている場合,すなわちN=M+1の場合,数多くの実験を通じてスクラッチ処理限界値を3とすることが実際スクラッチとほぼ同一にかつ効果的にスクラッチと処理できることが分かる。
図7は一実施例であって,実際ディフェクトを有するセクターが1トラック内にある場合を示す図面である。
実際ディフェクトを有するセクターが1トラック内にある場合,すなわちM値とN値とが同じ場合,実際ディフェクトを有するセクターはトラック方向を基準に水平方向に置かれる。一方,実際ディフェクトを有するセクターのアドレスが同じ場合,m値とn値とが同じ場合,実際ディフェクトを有するセクターはトラック方向を基準に垂直方向に置かれる。実際ディフェクトを有するセクターがトラック方向を基準に垂直方向に置かれている場合には従来のアルゴリズムで処理され,前記図5,または前記図6に図示された例とほとんど差がないので実際ディフェクトを有するセクターがトラック方向を基準に水平方向に置かれている場合を例として説明する。
すなわち,図示された3つの例に本実施の形態を適用して説明すれば次の通りである。
第1の例71について説明する。ディフェクトリストから第N番目のトラックの第n+5番目のセクター,及び第n+6番目のセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定しよう。第n+5番目のセクター及び第n+6番目のセクターは連続的に繋がっているので,すなわち第n+5番目のセクターと第n+6番目のセクター間のセクターはないのでセクター両端周辺のセクターのみが仮想ディフェクトを有していると設定すればよい。ここで,スクラッチ処理限界値が3であれば(一般的にスクラッチの長さがセクター4個であると想定),第n+5番目のセクター周辺のセクターである第n+4番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理し,第n+6番目のセクター周辺のセクターである第n+7番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
第2の例72について説明する。ディフェクトリストから第N番目のトラックの第n+4番目のセクター,及び第n+7番目のセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定しよう。ここで,スクラッチ処理限界値が3であれば(一般的にスクラッチの長さがセクター4個であると想定),第n+4番目のセクター及び第n+7番目のセクターは一つのスクラッチの両端に位置したセクターに該当するので,第n+4番目のセクターと第n+7番目のセクター間のセクターのみが仮想ディフェクトを有していると設定すればよい。すなわち,第n+5番目のセクター,及び第n+6番目のセクター周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
第3の例73について説明する。ディフェクトリストから第N番目のトラックの第n+5番目のセクター及び第n+7番目のセクターが実際ディフェクトを有しているという情報を読出したと仮定しよう。ここで,スクラッチ処理限界値が3であれば(一般的にスクラッチの長さがセクター4個であると想定),まず第n+5番目のセクターと第n+7番目のセクター間のセクターである第n+6番目のセクターを仮想ディフェクトを有していると設定し,次に第n+5番目のセクター周辺のセクターである第n+4番目のセクター,及び第n+7番目のセクター周辺のセクターである第n+8番目のセクターを仮想ディフェクトに設定してスクラッチと処理する。
図8A,図8Bは,本実施の形態によるハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理方法のフローチャートである。
所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す(S811)。次いで,所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において(S812),M値とNと値の差値が所定のスクラッチ処理条件値であり(S813),m値とn値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合(S814),第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する(S815)。スクラッチ処理条件値は第M番目のトラック及び第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,スクラッチ処理限界値は第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値である。
次いで,第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,m値とn値との差値が1より大きい場合(S816),第M番目のトラック及び第N番目のトラックの第m番目のセクターとn番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する(S817)。次いで,第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,m値とn値との差値がスクラッチ処理限界値より小さな場合(S818),第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する(S819)。ここで,m値とn値との差値とスクラッチ処理限界値との差値ほど仮想ディフェクトに設定する。次いで,設定された仮想ディフェクトに関する情報をディフェクトリストが保存されたメモリに記録する(S820)。
ここで,M値とN値とが相異なり,m値とn値とが相異なる場合にはスクラッチ方向はトラック方向を基準に斜線方向になり,M値とN値との差に比例してトラック方向を基準に傾斜度が増加する斜線方向になる。NがM+2である場合,スクラッチ処理限界値をトラック当りセクター数の実質的に1%とし,NがM+1である場合,スクラッチ処理限界値を3とすることが最も効果が大きいということがいろいろな製造工程を通じて実験的に立証された。また,M値とN値とが同じ場合にはスクラッチ方向はトラック方向を基準に水平方向になり,m値とn値とが同じ場合にはスクラッチ方向はトラック方向を基準に垂直方向になる。
図8C,図8Dは,本実施の形態によるハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理方法のフローチャートである。
所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す(S821)。次いで,所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において(S822),M値とN値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり(S823),m値とn値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合(S824),第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する(S825)。ここで,スクラッチ処理条件値は第M番目のトラック及び第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,スクラッチ処理限界値は第m番目のセクター及び第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値である。
次いで,第m番目のセクター及び第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば(S825),m値とn値との差値が1より大きい場合(S826),第M番目のトラック及び第N番目のトラックの第m番目のセクターとn番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し(S827),第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する(S828)。ここで,m値とn値との差値とスクラッチ処理限界値との差値ほど第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する。次いで,設定された仮想ディフェクトに関する情報をディフェクトリストが保存されたメモリに記録する(S829)。
図9は,本実施の形態を適用する前のハードディスクのディフェクトマップを示す図面である。
ディフェクトマップとは,ディスク上のディフェクト情報を表示したものであって,ディスクのメンテナンスシリンダー(MC;Maintenance Cylinder)のような一般のユーザーが接近し難い場所に保存してドライブ運用時にコントローラで参照とする。図示されたディフェクトマップから円形で表示された所に点々と実際ディフェクトがあることが分かる。連続的に繋がるスクラッチの特性上,実際ディフェクト間に正常的に表示された部分も実際にはディフェクトであることが分かる。
図10は,本実施の形態を適用した後のハードディスクのディフェクトマップを示す図面である。
前記図9のディフェクトマップを情報として本実施の形態を適用すれば,図示されたようなディフェクトマップを得られる。点々と表示された実際ディフェクトが一つのスクラッチに連結されて表示されていることが分かる。このような工程を経てディフェクトと予想されるほとんどのセクターをディフェクトを有していると処理することによってハードディスクへのデータ記録の信頼性を高めることができる。
一方,前述した実施の形態はコンピュータで実行できるプログラムで作成可能であり,コンピュータで再生できる記録媒体を利用して前記プログラムを動作させる汎用ディジタルコンピュータで具現できる。
また前述した本実施の形態で使われたデータの構造はコンピュータで再生できる記録媒体にいろいろな手段を通じて記録できる。
前記コンピュータで再生できる記録媒体はマグネチック保存媒体(例えば,ROM,フロッピー(登録商標)ディスク,ハードディスク等),光学的判読媒体(例えば,CD−ROM,DVD等)及びキャリヤウェーブ(例えば,インターネットを通じた伝送)などの保存媒体を含む。
今まで本発明についてその望ましい実施例を中心に説明した。当業者は本発明が本発明の本質的な特性から離脱しない範囲内で変形された形態に具現されることが理解できる。したがって,開示された実施例は限定的な観点ではなく説明的な観点で考慮されねばならない。本発明の範囲は前述した説明でなく特許請求の範囲に現れており,それと同等な範囲内にあるあらゆる差異点は本発明に含まれていると解釈されねばならない。
本発明はハードディスクのスクラッチによるディフェクトを処理するスクラッチ処理装置,スクラッチ処理方法,スクラッチ管理方法,及び記録媒体に利用可能であり,本発明はHDDを製造する工程に適用できる。
従来の垂直方向のスクラッチ処理アルゴリズムの第1段階を示した説明図である。 従来の垂直方向のスクラッチ処理アルゴリズムの第2段階を示した説明図である。 従来の垂直方向のスクラッチ処理アルゴリズムの第3段階を示した説明図である。 ハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理装置の構成を示す説明図である。 ハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理装置の構成を示す説明図である。 実際ディフェクトを有するセクターの2トラックが1トラック間隔をおいて離れている場合を示す説明図である。 実際ディフェクトを有するセクターの2トラックが連続で繋がっている場合を示す説明図である。 実際ディフェクトを有するセクターが1トラック内にある場合を示す説明図である。 ハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理方法のフローチャートである。 ハードディスク上の任意方向のスクラッチ処理方法のフローチャートである。 ハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理方法のフローチャートである。 ハードディスク上の斜線方向のスクラッチ処理方法のフローチャートである。 本発明の一実施形態を適用する前のハードディスクのディフェクトマップを示す説明図である。 本発明の一実施形態を適用した後のハードディスクのディフェクトマップを示す説明図である。
符号の説明
411 実際ディフェクト情報読出部
412 スクラッチ判断部
413 中間仮想ディフェクト設定部
414 両端仮想ディフェクト設定部
415 仮想ディフェクト情報記録部
421 実際ディフェクト情報読出部
422 スクラッチ判断部
423 仮想ディフェクト設定部
424 仮想ディフェクト情報記録部

Claims (37)

  1. ハードディスク上の任意方向のスクラッチを処理するスクラッチ処理装置であって,
    所定のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記セクターの距離が一つの連続したスクラッチの長さ以下である場合,前記セクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,
    前記スクラッチ判断部により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記セクター周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する仮想ディフェクト設定部と,
    を含むことを特徴とする,スクラッチ処理装置。
  2. 前記仮想ディフェクト設定部は,
    前記スクラッチ判断部により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する中間仮想ディフェクト設定部と,
    前記スクラッチ判断部により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する両端仮想ディフェクト設定部と,
    を含むことを特徴とする,請求項1に記載のスクラッチ処理装置。
  3. ハードディスク上の任意方向のスクラッチを処理するスクラッチ処理装置であって,
    所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,
    前記スクラッチ判断部により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する中間仮想ディフェクト設定部と,
    前記スクラッチ判断部により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が前記スクラッチ処理限界値より小さな場合,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する両端仮想ディフェクト設定部と,
    を含むことを特徴とする,スクラッチ処理装置。
  4. 所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す実際ディフェクト情報読出部と,
    前記中間仮想ディフェクト設定部及び前記両端仮想ディフェクト設定部で設定された仮想ディフェクトに関する情報を前記ディフェクトリストが保存されたメモリに記録する仮想ディフェクト情報記録部と,
    を含むことを特徴とする,請求項3に記載のスクラッチ処理装置。
  5. 前記両端仮想ディフェクト設定部は,前記m値と前記n値との差値と前記スクラッチ処理限界値との差値ほど仮想ディフェクトに設定することを特徴とする,請求項3または4に記載のスクラッチ処理装置。
  6. 前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックはトラック当りセクターの数が同じ領域に属していることを特徴とする,請求項3〜5のいずれかに記載のスクラッチ処理装置。
  7. 前記スクラッチ処理条件値は前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,前記スクラッチ処理限界値は前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値であることを特徴とする,請求項6に記載のスクラッチ処理装置。
  8. 前記M値と前記N値とが相異なり,前記m値と前記n値とが相異なる場合,前記方向はトラック方向を基準に斜線方向であり,前記M値と前記N値との差に比例して前記方向はトラック方向を基準に傾斜度が増加する斜線方向であることを特徴とする,請求項7に記載のスクラッチ処理装置。
  9. ハードディスク上の斜線方向のスクラッチを処理するスクラッチ処理装置であって,
    所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,
    前記スクラッチ判断部により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する仮想ディフェクト設定部と,
    を含むことを特徴とする,スクラッチ処理装置。
  10. 所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す実際ディフェクト情報読出部と,
    前記仮想ディフェクト設定部で設定された仮想ディフェクトに関する情報を前記ディフェクトリストが保存されたメモリに記録する仮想ディフェクト情報記録部と,
    を含むことを特徴とする,請求項9に記載のスクラッチ処理装置。
  11. 前記仮想ディフェクト設定部は前記m値と前記n値との差値と前記スクラッチ処理限界値の差値ほど前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定することを特徴とする,請求項10に記載のスクラッチ処理装置。
  12. 前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックはトラック当りセクターの数が同じ領域に属していることを特徴とする,請求項10または11に記載のスクラッチ処理装置。
  13. 前記スクラッチ処理条件値は前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,前記スクラッチ処理限界値は前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値であることを特徴とする,請求項12に記載のスクラッチ処理装置。
  14. ハードディスク上の任意方向のスクラッチを処理するスクラッチ処理方法であって,
    (a)所定のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記セクターの距離が一つの連続したスクラッチの長さ以下である場合,前記セクターを一つの連続したスクラッチと判断する段階と,
    (b)前記(a)段階により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記セクター周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,
    を含むことを特徴とする,スクラッチ処理方法。
  15. 前記(b)段階は,
    (b1)前記(a)段階により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,
    (b2)前記(a)段階により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,
    を含むことを特徴とする,請求項14に記載のスクラッチ処理方法。
  16. ハードディスク上の任意方向のスクラッチを処理するスクラッチ処理方法であって,
    (b)所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する段階と,
    (c)前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,
    (d)前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が前記スクラッチ処理限界値より小さな場合,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含むことを特徴とする,スクラッチ処理方法。
  17. (a)所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す段階と,
    (e)前記設定された仮想ディフェクトに関する情報を前記ディフェクトリストが保存されたメモリに記録する段階と,を含むことを特徴とする,請求項16に記載のスクラッチ処理方法。
  18. 前記(d)段階は,前記m値と前記n値との差値と前記スクラッチ処理限界値との差値ほど仮想ディフェクトに設定することを特徴とする,請求項16または17に記載のスクラッチ処理方法。
  19. 前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックはトラック当りセクターの数が同じ領域に属していることを特徴とする,請求項16〜18のいずれかに記載のスクラッチ処理方法。
  20. 前記スクラッチ処理条件値は前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,前記スクラッチ処理限界値は前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値であることを特徴とする,請求項19に記載のスクラッチ処理方法。
  21. 前記M値と前記N値とが相異なり,前記m値と前記n値とが相異なる場合,前記方向はトラック方向を基準に斜線方向であり,前記M値と前記N値との差に比例して前記方向はトラック方向を基準に傾斜度が増加する斜線方向であることを特徴とする,請求項20に記載のスクラッチ処理方法。
  22. ハードディスク上の斜線方向のスクラッチを処理するスクラッチ処理方法であって,
    (b)所定の方向に置かれている第M番目のトラックの第m番目のセクター及び第N番目のトラックの第n番目のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記M値と前記N値との差値が所定のスクラッチ処理条件値であり,前記m値と前記n値との差値が所定のスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断する段階と,
    (c)前記(b)段階により前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記m値と前記n値との差値が1より大きい場合,前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックの前記第m番目のセクターと前記n番目のセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含むことを特徴とする,スクラッチ処理方法。
  23. (a)所定のディフェクトリストが保存されたメモリから実際ディフェクトに関する情報を読出す段階と,
    (d)前記(c)段階で設定された仮想ディフェクトに関する情報を前記ディフェクトリストが保存されたメモリに記録する段階と,を含むことを特徴とする,請求項22に記載のスクラッチ処理方法。
  24. 前記(c)段階は,前記m値と前記n値との差値と前記スクラッチ処理限界値の差値ほど前記第m番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクター及び前記第n番目のセクター周辺のあらかじめ決定されたセクターを仮想ディフェクトに設定することを特徴とする,請求項23に記載のスクラッチ処理方法。
  25. 前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックはトラック当りセクターの数が同じ領域に属していることを特徴とする,請求項24に記載のスクラッチ処理方法。
  26. 前記スクラッチ処理条件値は前記第M番目のトラック及び前記第N番目のトラックを一つの連続したスクラッチと判断できる領域に設定した値であり,前記スクラッチ処理限界値は前記第m番目のセクター及び前記第n番目のセクターを一つの連続したスクラッチと判断できる限界値であることを特徴とする,請求項25に記載のスクラッチ処理方法。
  27. ハードディスク上のスクラッチを管理するスクラッチ管理方法であって,
    (a)ハードディスクのトラックのセクターを選択する段階と,
    (b)前記選択されたセクターが実際ディフェクトである場合,前記セクターの距離を所定の値と比較する段階と,
    (c)前記比較の結果に基づいて前記選択されたセクター間のセクター及び周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含むことを特徴とする,スクラッチ管理方法。
  28. 前記(a)段階はメモリからディフェクトリストを読出し,前記読出されたディフェクトリストに基づいて前記セクターを選択することを特徴とする,請求項27に記載のスクラッチ管理方法。
  29. (d)前記設定された仮想ディフェクトに基づいて前記ディフェクトリストを更新する段階を含むことを特徴とする,請求項28に記載のスクラッチ管理方法。
  30. (a)ハードディスクのトラックのセクターを選択する段階と,
    (b)前記選択されたセクターが実際ディフェクトである場合,前記セクターの距離を所定の値と比較する段階と,
    (c)前記比較の結果に基づいて前記選択されたセクター間のセクター及び周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含むことを特徴とする,ハードディスク上のスクラッチ管理方法をコンピュータで実行させるためのプログラムを記録したコンピュータで再生できる記録媒体。
  31. 前記(b)段階は,
    (b1)第1トラックと第2トラック間の第1距離を所定のスクラッチ処理限界値と比較する段階と,
    (b2)第1セクターと第2セクター間の第2距離を所定のスクラッチ処理限界値と比較する段階と,
    を含み,
    前記第1距離が前記スクラッチ処理条件値であり,前記第2距離が前記スクラッチ処理限界値以下である場合,前記セクターは一つの連続したスクラッチと判断されることを特徴とする,請求項30に記載の記録媒体。
  32. 前記(c)段階は前記第2距離が1より大きい場合,前記選択されたセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記選択されたセクター周辺のセクターのクラスターを仮想ディフェクトに設定することを特徴とする,請求項31に記載の記録媒体。
  33. 前記(c)段階は,
    (c1)前記第2距離が1より大きい場合,前記選択されたセクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定する段階と,
    (c2)前記第2距離が前記スクラッチ処理限界値以下である場合,前記選択されたセクター周辺のセクターのクラスターを仮想ディフェクトに設定する段階と,を含むことを特徴とする,請求項31または32に記載の記録媒体。
  34. (d)前記設定された仮想ディフェクトに基づいてディフェクトリストを更新する段階を含むことを特徴とする,請求項30〜33のいずれかに記載の記録媒体。
  35. 所定のセクターが実際ディフェクトである場合において,前記セクターの距離が一つの連続したスクラッチの長さ以下である場合,前記セクターを一つの連続したスクラッチと判断するスクラッチ判断部と,
    前記スクラッチ判断部により,前記セクターが一つの連続したスクラッチと判断されれば,前記セクター間のセクターを仮想ディフェクトに設定し,前記セクター周辺のセクターを仮想ディフェクトに設定する仮想ディフェクト設定部と,
    モリ上のディフェクトリストに前記仮想ディフェクトを保存するディフェクト管理部と,を含むことを特徴とする,ディフェクト管理装置。
  36. ハードディスク上の連続したスクラッチによるセクターディフェクトに基づいてスクラッチセクターディフェクトを認識するセクター認識部と,
    前記スクラッチセクターディフェクト周辺のセクターを仮想ディフェクトセクターに設定し,メモリ上のディフェクトリストに前記仮想ディフェクトセクターを保存するディフェクト管理部と,を含み,
    前記ディフェクト管理部は,
    第1スクラッチセクターディフェクトと第2スクラッチセクターディフェクト間の距離が1より大きい場合,前記第1スクラッチセクターディフェクトと前記第2スクラッチセクターディフェクト間のセクターを仮想ディフェクトセクターに設定する間ディフェクト管理部と,
    前記第1スクラッチセクターディフェクトと前記第2スクラッチセクターディフェクト間の距離がスクラッチ処理限界値以下である場合,前記第1スクラッチセクターディフェクト及び前記第2スクラッチセクターディフェクト周辺のセクターのクラスターを仮想ディフェクトセクターに設定する間ディフェクト管理部と,を含むことを特徴とする,ディフェクト管理装置。
  37. 前記メモリは前記ハードディスクのメンテナンスシリンダーを含むことを特徴とする,請求項35または36に記載のディフェクト管理装置。
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