JP3933533B2 - One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit - Google Patents

One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit Download PDF

Info

Publication number
JP3933533B2
JP3933533B2 JP2002180329A JP2002180329A JP3933533B2 JP 3933533 B2 JP3933533 B2 JP 3933533B2 JP 2002180329 A JP2002180329 A JP 2002180329A JP 2002180329 A JP2002180329 A JP 2002180329A JP 3933533 B2 JP3933533 B2 JP 3933533B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
test
voltage
switch element
shot pulse
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002180329A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004020544A (en
Inventor
満弘 田中
健二 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2002180329A priority Critical patent/JP3933533B2/en
Publication of JP2004020544A publication Critical patent/JP2004020544A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3933533B2 publication Critical patent/JP3933533B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、入力電圧が所定値になると所定のワンショットパルスを生成して出力するワンショットパルス発生装置のテスト用回路及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ワンショットパルス発生装置は、電源投入時や、入力電圧をなす電源電圧が所定の電圧より低下したとき等に、所定のパルス幅のワンショットパルスを出力して該電源電圧を電源とする回路に対してリセット等の動作を行わせ、該回路を常に正常な状態に保つようにするためのものである。ワンショットパルス発生装置は、１つのＩＣとして作られたり、他の回路と共に１つのＩＣに集積化されたりしている。
【０００３】
図４は、従来のワンショットパルス発生装置の例を示した回路図である。図４において、ワンショットパルス発生装置１００は、電源電圧Ｖｄｄから抵抗１０１を介してコンデンサ１０２を充電し、該コンデンサ１０２における充電時の高圧側電圧（以下、単に高圧側電圧と呼ぶ）が所定の基準電圧Ｖｒになるまでの時間のパルス幅を有するワンショットパルスを発生するものである。
電源が投入されると電源電圧Ｖｄｄが急速に上昇し、Ｐチャネル形ＭＯＳトランジスタ（以下、ＰＭＯＳトランジスタと呼ぶ）１０３のしきい値電圧以上になると、ＰＭＯＳトランジスタ１０３がオンしてコンデンサ１０２の充電が開始される。
【０００４】
電源電圧ＶｄｄはＲＳフリップフロップの入力端をなすＮＯＲ回路１０４の一方の入力端にも入力されており、ＮＯＲ回路１０４の出力端はロー（Ｌｏｗ）レベルになる。また、ＲＳフリップフロップの他方の入力端をなすＮＯＲ回路１０５の一方の入力端には、電圧比較器１０６の出力端が接続されている。電圧比較器１０６において、反転入力端には所定の基準電圧Ｖｒが入力されており、非反転入力端にはコンデンサ１０２の高圧側電圧が入力されている。電源投入時には、コンデンサ１０２の高圧側電圧が基準電圧Ｖｒよりも小さいため、電圧比較器１０６の出力端はローレベルである。
【０００５】
したがって、ＮＯＲ回路１０５の出力端はハイレベルであり、ＰＭＯＳトランジスタ１０３がオンすると共にＮチャネル形ＭＯＳトランジスタ（以下、ＮＭＯＳトランジスタと呼ぶ）１０７がオフする。コンデンサ１０２は、ＰＭＯＳトランジスタ１０３及び抵抗１０１を介して電源電圧Ｖｄｄで充電される。また、ＮＯＲ回路１０５の出力信号は、インバータ１０８及び１０９を介してテスト用端子ＴＥに出力されると共に、所定の機能を有する内部回路１２０に出力される。
【０００６】
コンデンサ１０２が充電されて高圧側電圧が上昇し、高圧側電圧が基準電圧Ｖｒ以上になると、電圧比較器１０６の出力信号はローレベルからハイレベルに反転する。電圧比較器１０６の出力端がハイレベルになると、ＮＯＲ回路１０５の出力信号はローレベルとなり、ＰＭＯＳトランジスタ１０３がオフすると共にＮＭＯＳトランジスタ１０７がオンして、コンデンサ１０２への充電が停止する。このようにして、コンデンサ１０２が充電されている時間と等しいパルス幅のワンショットパルスがテスト用端子ＴＥから出力され、動作テスト時にパルスカウンタ等を用いてテスト用端子ＴＥから出力されるワンショットパルスのパルス幅を測定していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、ワンショットパルス発生装置において、生成されるワンショットパルス信号のパルス幅は、仕様によって異なっていた。このようなパルス幅が異なるワンショットパルス発生装置の動作テストを行う方法として、出力される信号のパルス幅を測定する方法が考えられるが、このような方法では、出力される信号のパルス幅が広い場合は測定に時間がかかり、出力される信号のパルス幅が狭い場合は測定精度が悪くなる等の問題があった。また、動作テスト時に、コンデンサ１０２の値をパルス幅が測定しやすい値になるように設定することもできるが、動作テスト時に精度のよいコンデンサが必要となり、しかも仕様が異なるワンショットパルス発生装置ごとに多くの種類のコンデンサを用意する必要があるため、動作テストが煩雑になっていた。
【０００８】
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであり、動作テスト時間の短縮を図ることができ、出力信号のパルス幅を精度よく測定することができるテスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置及びそのテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法を得ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るテスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置は、
所定の端子Ｃに接続されたコンデンサと、
制御信号入力端に入力される制御信号に応じて、該端子Ｃに対する所定の入力電圧の出力制御を行うスイッチ素子と、
該スイッチ素子から前記コンデンサに流れる電流を制限する抵抗と、
所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路と、
前記コンデンサにおける充電時の高圧側電圧が該基準電圧未満である間、所定レベルのワンショットパルス信号を外部へそれぞれ出力するパルス発生回路と、を備えるワンショットパルス発生装置において、
外部から入力される所定のテスト用信号に応じて、前記パルス発生回路部の出力信号を前記スイッチ素子の制御信号として出力する第１スイッチ回路部と、
前記テスト用信号に応じて、前記スイッチ素子の制御信号入力端に対する、該スイッチ素子をオンさせて導通状態にする電圧の出力制御を行う第２スイッチ回路部と、
前記テスト用信号に応じて、所定の端子ＴＥ２への前記基準電圧の出力制御を行う第３スイッチ回路部と、
を有するテスト用回路を備えるものである。
【００１０】
具体的には、前記テスト用信号が所定のテスト動作を行うことを示している場合、前記第１スイッチ回路部はオフしてパルス発生回路の出力信号の前記スイッチ素子への入力を遮断すると共に、前記第２スイッチ回路部及び第３スイッチ回路部はそれぞれオンして、前記スイッチ素子に対して該スイッチ素子をオンさせて導通状態にする電圧が出力され、端子ＴＥ２に前記基準電圧が出力されるようにした。
【００１１】
この場合、前記テスト動作時に、前記コンデンサの代わりに電流計を前記端子Ｃに接続すると共に、前記端子ＴＥ２に電圧計を接続するようにした。
【００１２】
また、前記スイッチ素子、抵抗、基準電圧発生回路、パルス発生回路及びテスト用回路は１つのＩＣに集積されるようにしてもよい。
【００１３】
また、この発明に係るテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法は、
所定の端子Ｃに接続されたコンデンサと、
制御信号入力端に入力される制御信号に応じて、該端子Ｃに対する所定の入力電圧の出力制御を行うスイッチ素子と、
該スイッチ素子から前記コンデンサに流れる電流を制限する抵抗と、
所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路と、
前記コンデンサにおける充電時の高圧側電圧が該基準電圧未満である間、所定レベルのワンショットパルス信号を外部へそれぞれ出力するパルス発生回路と、外部から入力される所定のテスト用信号に応じて、前記パルス発生回路の出力信号を前記スイッチ素子の制御信号として出力する第１スイッチ回路部、前記テスト用信号に応じて、前記スイッチ素子の制御信号入力端に対する、該スイッチ素子をオフさせて遮断状態にする電圧の出力制御を行う第２スイッチ回路部、及び前記テスト用信号に応じて、所定の端子ＴＥ２への前記基準電圧の出力制御を行う第３スイッチ回路部とを有するテスト用回路と、
を備えたワンショットパルス発生装置におけるテスト方法において、
前記コンデンサの代わりに電流計を前記端子Ｃに接続すると共に、前記端子ＴＥ２に電圧計を接続し、
テスト動作を行うことを示す前記テスト用信号が入力されると、前記スイッチ素子をオンさせて導通状態にし、
前記端子Ｃから出力される電流を前記電流計で測定し、
該測定した電流値から前記抵抗の抵抗値を算出し、
前記端子ＴＥ２の電圧である前記基準電圧を前記電圧計で測定し、
前記算出した抵抗値及び該測定した基準電圧から、所望のパルス幅の前記ワンショットパルス信号が得られる前記コンデンサの容量を算出するようにした。
【００１４】
【発明の実施の形態】
次に、図面に示す実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
第１の実施の形態．
図１は、本発明の第１の実施の形態におけるワンショットパルス発生装置の例を示した回路図である。
図１において、ワンショットパルス発生装置１は、所定のパルス幅のワンショットパルス信号を生成して出力するワンショットパルス発生回路２と、該ワンショットパルス発生回路２の動作テストを行うためのテスト用回路３とで構成されている。
【００１５】
ワンショットパルス発生回路２は、ＰＭＯＳトランジスタ１１、ＮＭＯＳトランジスタ１２、抵抗１３、コンデンサ１４、所定の基準電圧Ｖｒを生成して出力する基準電圧発生回路１５、電圧比較器１６、ＮＯＲ回路１７，１８及びインバータ１９，２０で構成されている。また、テスト用回路３は、外部から入力される信号に応じてスイッチングを行うトランスミッションゲート２１〜２３及びインバータ２４で構成されている。ワンショットパルス発生回路２及びテスト用回路３において、コンデンサ１４を除く各素子は、１つのＩＣに集積されている。
【００１６】
なお、ＰＭＯＳトランジスタ１１はスイッチ素子をなし、電圧比較器１６、ＮＯＲ回路１７，１８及びインバータ１９，２０はパルス発生回路をなし、トランスミッションゲート２１及びインバータ２４は第１スイッチ回路部を、トランスミッションゲート２２及びインバータ２４は第２スイッチ回路部を、トランスミッションゲート２３及びインバータ２４は第３スイッチ回路部をそれぞれなす。
【００１７】
電源電圧Ｖｄｄと接地電圧との間には、ＰＭＯＳトランジスタ１１、抵抗１３及びＮＭＯＳトランジスタ１２が直列に接続されており、抵抗１３とＮＭＯＳトランジスタ１２との接続部は端子Ｃに接続され、端子Ｃと接地電圧との間にコンデンサ１４が接続されている。ＮＯＲ回路１７及び１８はＲＳフリップフロップを形成しており、該ＲＳフリップフロップの一方の入力端をなすＮＯＲ回路１７の入力端には電源電圧Ｖｄｄが入力されている。
【００１８】
ＮＯＲ回路１７において、出力端はＮＯＲ回路１８の一方の入力端に接続され、他方の入力端はＮＯＲ回路１８の出力端に接続されている。また、ＲＳフリップフロップの他方の入力端をなすＮＯＲ回路１８の他方の入力端は、電圧比較器１６の出力端に接続され、ＮＯＲ回路１８の出力端から出力される信号は、インバータ１９及びトランスミッションゲート２１を介してＰＭＯＳトランジスタ１１及びＮＭＯＳトランジスタ１２の各ゲートにそれぞれ入力される。更に、インバータ１９の出力信号はインバータ２０を介して、所定の機能を有する内部回路１０及び所定のテスト用端子ＴＥ１に出力信号Ｓｏとしてそれぞれ出力される。
【００１９】
また、ＰＭＯＳトランジスタ１１及びＮＭＯＳトランジスタ１２の各ゲートは、トランスミッションゲート２２を介して接地電圧に接続されている。一方、電圧比較器１６において、非反転入力端は端子Ｃに接続され、反転入力端には、基準電圧発生回路部１５から所定の基準電圧Ｖｒが入力されている。更に、電圧比較器１６の反転入力端は、トランスミッションゲート２３を介して所定のテスト用端子ＴＥ２に接続されている。
【００２０】
ここで、トランスミッションゲートは、ＰＭＯＳトランジスタとＮＭＯＳトランジスタが並列に接続されてなるものであり、以下、トランスミッションゲートにおいて、ＰＭＯＳトランジスタのゲートを反転制御入力端と呼ぶと共にＮＭＯＳトランジスタのゲートを非反転制御入力端と呼ぶ。トランスミッションゲート２１の反転制御入力端、並びにトランスミッションゲート２２及び２３の非反転制御入力端は、所定のテスト用端子ＴＥ３にそれぞれ接続され、該テスト用端子ＴＥ３を介して外部からのテスト用信号Ｓｔが入力される。更に、該テスト用信号Ｓｔは、インバータ２４を介して、トランスミッションゲート２１の非反転制御入力端、並びにトランスミッションゲート２２及び２３の反転制御入力端にそれぞれ入力される。
【００２１】
このような構成において、通常動作時には、端子Ｃにコンデンサ１４が接続されると共にテスト用端子ＴＥ１及びＴＥ２は開放状態であり、テスト用端子ＴＥ３にはローレベルのテスト用信号Ｓｔが入力されている。このため、トランスミッションゲート２１がオンして導通状態になると共にトランスミッションゲート２２及び２３はそれぞれオフして遮断状態になっている。
【００２２】
ここで、図２は通常動作時における電源電圧Ｖｄｄ、端子Ｃの電圧Ｖｃ及び出力信号Ｓｏの波形例を示した図である。図２を参照しながら通常動作時における、ワンショットパルス発生装置１の動作例について説明する。
電源が投入されると電源電圧Ｖｄｄが急速に上昇し、ＰＭＯＳトランジスタ１１のしきい値電圧Ｖ１以上になると、ＰＭＯＳトランジスタ１１がオンしてコンデンサ１４の充電が開始される。電源電圧ＶｄｄはＮＯＲ回路１７の一方の入力端にも入力され、ＮＯＲ回路１７の出力端はローレベルとなり、ＮＯＲ回路１８の一方の入力端はローレベルとなる。
【００２３】
一方、電圧比較器１６において、反転入力端には基準電圧Ｖｒが入力され、非反転入力端には端子Ｃの電圧Ｖｃ、すなわちコンデンサ１４の高圧側電圧が入力されている。電源投入時には、コンデンサ１４の高圧側電圧が基準電圧Ｖｒよりも小さいことから、電圧比較器１６からはローレベルの信号が出力される。このため、ＮＯＲ回路１８の他方の入力端もローレベルとなり、ＮＯＲ回路１８の出力端はハイレベルとなる。
【００２４】
ＮＯＲ回路１８の出力信号はインバータ１９で信号レベルが反転されることから、インバータ１９の出力端はローレベルとなる。ここで、トランスミッションゲート２１がオンして導通状態であり、トランスミッションゲート２２がオフして遮断状態であることから、ＰＭＯＳトランジスタ１１はオンし、ＮＭＯＳトランジスタ１２はオフしている。このため、コンデンサ１４は、ＰＭＯＳトランジスタ１１、抵抗１３及び端子Ｃを介して電源電圧Ｖｄｄで充電され、高圧側電圧が上昇する。また、インバータ１９の出力信号は、インバータ２０で信号レベルが反転され、出力信号Ｓｏとして内部回路１０に出力される。
【００２５】
コンデンサ１４の高圧側電圧が次第に上昇して、電圧Ｖｃが基準電圧Ｖｒ以上になると、電圧比較器１６の出力信号はハイレベルに立ち上がり、ＮＯＲ回路１８の出力端はローレベルに立ち下がる。このため、インバータ１９の出力端はハイレベルになり、ＰＭＯＳトランジスタ１１がオフしＮＭＯＳトランジスタ１２がオンしてコンデンサ１４の充電が停止する。このように、電源電圧ＶｄｄがＰＭＯＳトランジスタ１１のしきい値電圧Ｖ１になってから、電圧Ｖｃが基準電圧Ｖｒになるまでの間がパルス幅Ｗとなるワンショットパルスが、出力信号Ｓｏとしてインバータ２０から内部回路１０に出力される。
【００２６】
次に、テスト動作時におけるワンショットパルス発生装置１の動作例について説明する。
テスト動作時には、図３で示すように、端子Ｃにコンデンサ１４の代わりに電流計３１が接続されると共にテスト用端子ＴＥ２に電圧計３２が接続され、テスト用端子ＴＥ３にはハイレベルのテスト用信号Ｓｔが入力される。このため、トランスミッションゲート２１がオフして遮断状態になると共にトランスミッションゲート２２及び２３はそれぞれオンして導通状態になり、インバータ１９の出力端と、ＰＭＯＳトランジスタ１１及びＮＭＯＳトランジスタ１２の各ゲートとの接続がそれぞれ遮断される。
【００２７】
また、トランスミッションゲート２２がオンして導通状態になることから、ＰＭＯＳトランジスタ１１及びＮＭＯＳトランジスタ１３の各ゲートは接地電圧にそれぞれ接続され、ＰＭＯＳトランジスタ１１がオンすると共にＮＭＯＳトランジスタ１３がオフする。端子Ｃに接続された電流計３１を用いて、端子Ｃから接地電圧に流れる電流を測定する。該測定した電流値をｉｃとすると下記（１）式から抵抗１３の抵抗値Ｒを算出することができる。
Ｒ＝Ｖｄｄ／ｉｃ………………（１）
【００２８】
また、トランスミッションゲート２２もオンして導通状態になることから、テスト用端子ＴＥ２に接続された電圧計３２を用いて、基準電圧Ｖｒを測定することができる。このため、内部回路１０に出力される信号Ｓｏのパルス幅Ｗは、下記（２）式から算出することができる。
Ｗ＝Ｃ１４×Ｒ１３×ｌｎ(１−Ｖｒ／Ｖｄｄ)………………（２）
なお、前記式（２）において、Ｃ１４はコンデンサ１４の容量を、Ｒ１３は抵抗１３の抵抗値をそれぞれ示している。
前記（２）式から、抵抗１３の抵抗値Ｒ１３及び基準電圧Ｖｒが分かればコンデンサ１４の容量に応じたパルス幅Ｗを算出することができる。
【００２９】
このように、本第１の実施の形態におけるテスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置は、実際にコンデンサ１４を接続して、出力信号Ｓｏのパルス幅Ｗを測定しなくても、ＩＣ内部にある場合もある抵抗１３の抵抗値と基準電圧Ｖｒの電圧値を測定することによって、コンデンサ１４の容量からパルス幅Ｗを算出することができる。更に、電流計３１及び電圧計３２を用いた電流と電圧の測定は、短時間でかつ高い精度で行うことができ、実際にパルス幅Ｗを測定する従来の方法と比較して、極めて短時間で、しかも高精度にパルス幅Ｗを得ることができるため、検査に要する時間を大幅に短縮することができると共に、検査精度の向上を図ることができる。
【００３０】
なお、前記第１の実施の形態では、入力電圧が電源電圧Ｖｄｄである場合を例にして説明したが、本発明はこれに限定するものではなく、入力電圧に応じてワンショットパルスを生成して出力するワンショットパルス発生装置に適用するものである。
【００３１】
【発明の効果】
上記の説明から明らかなように、本発明のテスト用回路を備えたワンショットパルス発生装置によれば、テスト動作時において、スイッチ素子に対するパルス発生回路の出力信号を遮断すると共にスイッチ素子を常時オンさせて導通状態にし、所定の端子ＴＥ２に基準電圧が出力されるようにした。このことから、端子Ｃにコンデンサの代わりに電流計を接続し、端子ＴＥ２に電圧計を接続することにより、抵抗の抵抗値及び基準電圧発生回路から出力される基準電圧を測定することができ、コンデンサの容量からワンショットパルス信号のパルス幅を得ることができる。このため、実際にワンショットパルス信号のパルス幅を測定する従来の方法と比較して、極めて短時間で、しかも高精度にワンショットパルス信号のパルス幅を得ることができ、テスト時間を大幅に短縮することできると共にテストの精度を向上させることができる。また、ワンショットパルス信号の所望のパルス幅を得るためのコンデンサの容量を短時間で容易かつ正確に得ることができる。
【００３２】
また、本発明のテスト用回路を使用したワンショットパルス発生装置のテスト方法によれば、抵抗の抵抗値を、コンデンサの代わりに端子Ｃに接続した電流計で測定される電流値から算出し、基準電圧の電圧値を端子ＴＥに接続した電圧計で測定することによって、コンデンサの容量からワンショットパルス信号のパルス幅を得るようにした。このことから、実際にワンショットパルス信号のパルス幅を測定する従来の方法と比較して、極めて短時間で、しかも高精度にワンショットパルス信号のパルス幅を得ることができ、テスト時間を大幅に短縮することできると共にテストの精度を向上させることができる。また、ワンショットパルス信号の所望のパルス幅を得るためのコンデンサの容量を短時間で容易かつ正確に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１の実施の形態におけるワンショットパルス発生装置の例を示した回路図である。
【図２】 図１の各信号の波形例を示したタイミングチャートである。
【図３】 テスト動作時における図１のワンショットパルス発生装置１の例を示した回路図である。
【図４】 従来のワンショットパルス発生装置の例を示した回路図である。
【符号の説明】
１ ワンショットパルス発生装置
２ ワンショットパルス発生回路
３ テスト用回路
１０ 内部回路
２１〜２３ トランスミッションゲート
Ｃ 端子
ＴＥ１〜ＴＥ３ テスト用端子[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a test circuit for a one-shot pulse generator that generates and outputs a predetermined one-shot pulse when an input voltage reaches a predetermined value, and a test method for the one-shot pulse generator using the test circuit.
[0002]
[Prior art]
A one-shot pulse generator is a circuit that outputs a one-shot pulse with a predetermined pulse width and uses the power supply voltage as a power source when the power is turned on or when the power supply voltage forming the input voltage falls below a predetermined voltage. For this purpose, an operation such as a reset is performed to keep the circuit in a normal state. The one-shot pulse generator is manufactured as one IC, or is integrated into one IC together with other circuits.
[0003]
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a conventional one-shot pulse generator. In FIG. 4, a one-shot pulse generator 100 charges a capacitor 102 from a power supply voltage Vdd through a resistor 101, and a high-voltage side voltage (hereinafter simply referred to as a high-voltage side voltage) at the time of charging in the capacitor 102 is a predetermined value. A one-shot pulse having a pulse width of time until the reference voltage Vr is reached is generated.
When the power is turned on, the power supply voltage Vdd rises rapidly, and when it exceeds the threshold voltage of the P-channel MOS transistor (hereinafter referred to as PMOS transistor) 103, the PMOS transistor 103 is turned on and the capacitor 102 is charged. Be started.
[0004]
The power supply voltage Vdd is also input to one input terminal of the NOR circuit 104 serving as the input terminal of the RS flip-flop, and the output terminal of the NOR circuit 104 is at a low level. The output terminal of the voltage comparator 106 is connected to one input terminal of the NOR circuit 105 that forms the other input terminal of the RS flip-flop. In the voltage comparator 106, the predetermined reference voltage Vr is input to the inverting input terminal, and the high-voltage side voltage of the capacitor 102 is input to the non-inverting input terminal. When the power is turned on, since the high voltage side voltage of the capacitor 102 is smaller than the reference voltage Vr, the output terminal of the voltage comparator 106 is at a low level.
[0005]
Therefore, the output terminal of the NOR circuit 105 is at a high level, and the PMOS transistor 103 is turned on and the N-channel MOS transistor (hereinafter referred to as NMOS transistor) 107 is turned off. The capacitor 102 is charged with the power supply voltage Vdd via the PMOS transistor 103 and the resistor 101. Further, the output signal of the NOR circuit 105 is output to the test terminal TE via the inverters 108 and 109 and also to the internal circuit 120 having a predetermined function.
[0006]
When the capacitor 102 is charged to increase the high-voltage side voltage and the high-voltage side voltage becomes equal to or higher than the reference voltage Vr, the output signal of the voltage comparator 106 is inverted from the low level to the high level. When the output terminal of the voltage comparator 106 becomes high level, the output signal of the NOR circuit 105 becomes low level, the PMOS transistor 103 is turned off, the NMOS transistor 107 is turned on, and charging of the capacitor 102 is stopped. In this manner, a one-shot pulse having a pulse width equal to the time during which the capacitor 102 is charged is output from the test terminal TE, and is output from the test terminal TE using a pulse counter or the like during an operation test. The pulse width of was measured.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the one-shot pulse generator, the pulse width of the generated one-shot pulse signal differs depending on the specifications. As a method of performing an operation test of such a one-shot pulse generator with different pulse widths, a method of measuring the pulse width of the output signal is conceivable. In such a method, the pulse width of the output signal is If it is wide, the measurement takes time, and if the pulse width of the output signal is narrow, there is a problem that the measurement accuracy is deteriorated. In addition, it is possible to set the value of the capacitor 102 so that the pulse width can be easily measured at the time of the operation test, but an accurate capacitor is required at the time of the operation test, and each one-shot pulse generator with different specifications is used. Therefore, it is necessary to prepare many types of capacitors, and the operation test is complicated.
[0008]
The present invention has been made to solve the above problems, and includes a test circuit that can shorten the operation test time and can accurately measure the pulse width of the output signal. It is an object to obtain a test method for a one-shot pulse generator using the one-shot pulse generator and its test circuit.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
A one-shot pulse generator provided with a test circuit according to the present invention,
A capacitor connected to a predetermined terminal C;
A switch element that performs output control of a predetermined input voltage to the terminal C in accordance with a control signal input to the control signal input terminal;
A resistor for limiting a current flowing from the switch element to the capacitor;
A reference voltage generation circuit for generating and outputting a predetermined reference voltage;
In the one-shot pulse generator comprising: a pulse generation circuit that outputs a one-shot pulse signal of a predetermined level to the outside while the high-voltage side voltage at the time of charging in the capacitor is less than the reference voltage,
A first switch circuit unit that outputs an output signal of the pulse generation circuit unit as a control signal of the switch element in accordance with a predetermined test signal input from the outside;
A second switch circuit unit that performs output control of a voltage for turning on the switch element to bring it into a conductive state with respect to a control signal input terminal of the switch element in accordance with the test signal;
A third switch circuit unit for controlling output of the reference voltage to a predetermined terminal TE2 in accordance with the test signal;
A test circuit having the following.
[0010]
Specifically, when the test signal indicates that a predetermined test operation is performed, the first switch circuit unit is turned off to cut off the input of the output signal of the pulse generation circuit to the switch element. The second switch circuit unit and the third switch circuit unit are turned on to output a voltage for turning on the switch element to turn on the switch element, and the reference voltage is output to the terminal TE2. It was to so.
[0011]
In this case, during the test operation, an ammeter is connected to the terminal C instead of the capacitor, and a voltmeter is connected to the terminal TE2.
[0012]
The switch element, the resistor, the reference voltage generation circuit, the pulse generation circuit, and the test circuit may be integrated in one IC.
[0013]
A test method for a one-shot pulse generator using the test circuit according to the present invention is as follows:
A capacitor connected to a predetermined terminal C;
A switch element that performs output control of a predetermined input voltage to the terminal C in accordance with a control signal input to the control signal input terminal;
A resistor for limiting a current flowing from the switch element to the capacitor;
A reference voltage generation circuit for generating and outputting a predetermined reference voltage;
While the high-voltage side voltage at the time of charging in the capacitor is less than the reference voltage, according to a pulse generation circuit that outputs a one-shot pulse signal of a predetermined level to the outside, and a predetermined test signal input from the outside, A first switch circuit unit that outputs an output signal of the pulse generation circuit as a control signal of the switch element, and in accordance with the test signal, the switch element is turned off with respect to the control signal input terminal of the switch element to be cut off A test circuit comprising: a second switch circuit unit that performs output control of a voltage to be applied; and a third switch circuit unit that performs output control of the reference voltage to a predetermined terminal TE2 in accordance with the test signal;
In the test method in the one-shot pulse generator equipped with
An ammeter is connected to the terminal C instead of the capacitor, and a voltmeter is connected to the terminal TE2.
When the test signal indicating that a test operation is performed is input, the switch element is turned on to be in a conductive state,
Measure the current output from the terminal C with the ammeter,
Calculate the resistance value of the resistor from the measured current value,
Measure the reference voltage, which is the voltage of the terminal TE2, with the voltmeter,
The capacitance of the capacitor capable of obtaining the one-shot pulse signal having a desired pulse width is calculated from the calculated resistance value and the measured reference voltage.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, the present invention will be described in detail based on the embodiments shown in the drawings.
First embodiment.
FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a one-shot pulse generator according to the first embodiment of the present invention.
Referring to FIG. 1, a one-shot pulse generator 1 includes a one-shot pulse generation circuit 2 that generates and outputs a one-shot pulse signal having a predetermined pulse width, and a test for performing an operation test of the one-shot pulse generation circuit 2. And circuit 3 for use.
[0015]
The one-shot pulse generation circuit 2 includes a PMOS transistor 11, an NMOS transistor 12, a resistor 13, a capacitor 14, a reference voltage generation circuit 15 that generates and outputs a predetermined reference voltage Vr, a voltage comparator 16, NOR circuits 17, 18 and The inverters 19 and 20 are used. The test circuit 3 includes transmission gates 21 to 23 that perform switching according to a signal input from the outside and an inverter 24. In the one-shot pulse generation circuit 2 and the test circuit 3, each element except the capacitor 14 is integrated in one IC.
[0016]
The PMOS transistor 11 is a switching element, the voltage comparator 16, the NOR circuits 17 and 18, and the inverters 19 and 20 are pulse generating circuits, the transmission gate 21 and the inverter 24 are the first switching circuit section, and the transmission gate 22 The inverter 24 and the inverter 24 form a second switch circuit unit, and the transmission gate 23 and the inverter 24 form a third switch circuit unit.
[0017]
Between the power supply voltage Vdd and the ground voltage, a PMOS transistor 11, a resistor 13 and an NMOS transistor 12 are connected in series. A connection between the resistor 13 and the NMOS transistor 12 is connected to a terminal C. A capacitor 14 is connected to the ground voltage. The NOR circuits 17 and 18 form an RS flip-flop, and the power supply voltage Vdd is input to the input terminal of the NOR circuit 17 that forms one input terminal of the RS flip-flop.
[0018]
In the NOR circuit 17, the output terminal is connected to one input terminal of the NOR circuit 18, and the other input terminal is connected to the output terminal of the NOR circuit 18. The other input terminal of the NOR circuit 18 forming the other input terminal of the RS flip-flop is connected to the output terminal of the voltage comparator 16, and the signal output from the output terminal of the NOR circuit 18 is an inverter 19 and a transmission. The signals are input to the gates of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12 through the gate 21. Further, the output signal of the inverter 19 is output as an output signal So through the inverter 20 to the internal circuit 10 having a predetermined function and the predetermined test terminal TE1.
[0019]
The gates of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12 are connected to the ground voltage via the transmission gate 22. On the other hand, in the voltage comparator 16, the non-inverting input terminal is connected to the terminal C, and a predetermined reference voltage Vr is input from the reference voltage generating circuit unit 15 to the inverting input terminal. Further, the inverting input terminal of the voltage comparator 16 is connected to a predetermined test terminal TE2 via the transmission gate 23.
[0020]
Here, the transmission gate is formed by connecting a PMOS transistor and an NMOS transistor in parallel. Hereinafter, in the transmission gate, the gate of the PMOS transistor is called an inversion control input terminal and the gate of the NMOS transistor is a non-inversion control input. Call the end. An inversion control input terminal of the transmission gate 21 and a non-inversion control input terminal of the transmission gates 22 and 23 are connected to a predetermined test terminal TE3, respectively, and an external test signal St is received via the test terminal TE3. Entered. Further, the test signal St is input via the inverter 24 to the non-inverting control input terminal of the transmission gate 21 and the inverting control input terminals of the transmission gates 22 and 23.
[0021]
In such a configuration, during normal operation, the capacitor 14 is connected to the terminal C, the test terminals TE1 and TE2 are open, and the low-level test signal St is input to the test terminal TE3. . Therefore, the transmission gate 21 is turned on and becomes conductive, and the transmission gates 22 and 23 are turned off and are cut off.
[0022]
Here, FIG. 2 is a diagram showing waveform examples of the power supply voltage Vdd, the voltage Vc at the terminal C, and the output signal So during normal operation. An example of operation of the one-shot pulse generator 1 during normal operation will be described with reference to FIG.
When the power is turned on, the power supply voltage Vdd rises rapidly, and when the voltage exceeds the threshold voltage V1 of the PMOS transistor 11, the PMOS transistor 11 is turned on and charging of the capacitor 14 is started. The power supply voltage Vdd is also input to one input terminal of the NOR circuit 17, the output terminal of the NOR circuit 17 becomes low level, and one input terminal of the NOR circuit 18 becomes low level.
[0023]
On the other hand, in the voltage comparator 16, the reference voltage Vr is input to the inverting input terminal, and the voltage Vc of the terminal C, that is, the high-voltage side voltage of the capacitor 14 is input to the non-inverting input terminal. When the power is turned on, the voltage comparator 16 outputs a low level signal because the high-voltage side voltage of the capacitor 14 is smaller than the reference voltage Vr. For this reason, the other input terminal of the NOR circuit 18 is also at a low level, and the output terminal of the NOR circuit 18 is at a high level.
[0024]
Since the signal level of the output signal of the NOR circuit 18 is inverted by the inverter 19, the output terminal of the inverter 19 becomes low level. Here, since the transmission gate 21 is turned on and in the conductive state, and the transmission gate 22 is turned off and in the cut-off state, the PMOS transistor 11 is turned on and the NMOS transistor 12 is turned off. For this reason, the capacitor 14 is charged with the power supply voltage Vdd via the PMOS transistor 11, the resistor 13, and the terminal C, and the high-voltage side voltage rises. Further, the signal level of the output signal of the inverter 19 is inverted by the inverter 20 and is output to the internal circuit 10 as the output signal So.
[0025]
When the high-voltage side voltage of the capacitor 14 gradually increases and the voltage Vc becomes equal to or higher than the reference voltage Vr, the output signal of the voltage comparator 16 rises to a high level and the output terminal of the NOR circuit 18 falls to a low level. For this reason, the output terminal of the inverter 19 becomes high level, the PMOS transistor 11 is turned off, the NMOS transistor 12 is turned on, and the charging of the capacitor 14 is stopped. As described above, the one-shot pulse having the pulse width W from the time when the power supply voltage Vdd becomes the threshold voltage V1 of the PMOS transistor 11 to the time when the voltage Vc becomes the reference voltage Vr is generated as the output signal So. To the internal circuit 10.
[0026]
Next, an operation example of the one-shot pulse generator 1 during the test operation will be described.
At the time of the test operation, as shown in FIG. 3, the ammeter 31 is connected to the terminal C instead of the capacitor 14, the voltmeter 32 is connected to the test terminal TE2, and the test terminal TE3 has a high level test purpose. A signal St is input. Therefore, the transmission gate 21 is turned off to be cut off, and the transmission gates 22 and 23 are turned on to be in a conductive state. The output terminal of the inverter 19 is connected to the gates of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 12. Are blocked.
[0027]
Further, since the transmission gate 22 is turned on and becomes conductive, the gates of the PMOS transistor 11 and the NMOS transistor 13 are connected to the ground voltage, so that the PMOS transistor 11 is turned on and the NMOS transistor 13 is turned off. Using the ammeter 31 connected to the terminal C, the current flowing from the terminal C to the ground voltage is measured. When the measured current value is ic, the resistance value R of the resistor 13 can be calculated from the following equation (1).
R = Vdd / ic ............ (1)
[0028]
Further, since the transmission gate 22 is also turned on and becomes conductive, the reference voltage Vr can be measured using the voltmeter 32 connected to the test terminal TE2. For this reason, the pulse width W of the signal So output to the internal circuit 10 can be calculated from the following equation (2).
W = C14 × R13 × ln (1-Vr / Vdd) (2)
In the equation (2), C14 represents the capacitance of the capacitor 14, and R13 represents the resistance value of the resistor 13.
From the equation (2), if the resistance value R13 of the resistor 13 and the reference voltage Vr are known, the pulse width W corresponding to the capacity of the capacitor 14 can be calculated.
[0029]
As described above, the one-shot pulse generator provided with the test circuit in the first embodiment can be connected to the IC without actually connecting the capacitor 14 and measuring the pulse width W of the output signal So. The pulse width W can be calculated from the capacitance of the capacitor 14 by measuring the resistance value of the resistor 13 and the voltage value of the reference voltage Vr. Furthermore, the measurement of current and voltage using the ammeter 31 and the voltmeter 32 can be performed in a short time and with high accuracy, and is extremely short compared with the conventional method for actually measuring the pulse width W. In addition, since the pulse width W can be obtained with high accuracy, the time required for inspection can be greatly shortened, and the inspection accuracy can be improved.
[0030]
In the first embodiment, the case where the input voltage is the power supply voltage Vdd has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and a one-shot pulse is generated according to the input voltage. The present invention is applied to a one-shot pulse generator that outputs in the same manner.
[0031]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, according to the one-shot pulse generator having the test circuit of the present invention, during the test operation, the output signal of the pulse generator circuit to the switch element is cut off and the switch element is always turned on. The reference voltage is output to a predetermined terminal TE2. From this, by connecting an ammeter instead of a capacitor to the terminal C and connecting a voltmeter to the terminal TE2, the resistance value of the resistor and the reference voltage output from the reference voltage generation circuit can be measured. The pulse width of the one-shot pulse signal can be obtained from the capacitance of the capacitor. For this reason, compared with the conventional method of actually measuring the pulse width of the one-shot pulse signal, the pulse width of the one-shot pulse signal can be obtained in a very short time and with high accuracy, and the test time is greatly increased. It can be shortened and the test accuracy can be improved. Further, the capacitance of the capacitor for obtaining a desired pulse width of the one-shot pulse signal can be obtained easily and accurately in a short time.
[0032]
Further, according to the test method of the one-shot pulse generator using the test circuit of the present invention, the resistance value of the resistor is calculated from the current value measured by the ammeter connected to the terminal C instead of the capacitor, The pulse width of the one-shot pulse signal is obtained from the capacitance of the capacitor by measuring the voltage value of the reference voltage with a voltmeter connected to the terminal TE. This makes it possible to obtain the pulse width of the one-shot pulse signal in an extremely short time and with high accuracy compared to the conventional method of actually measuring the pulse width of the one-shot pulse signal, and greatly increasing the test time. And the test accuracy can be improved. Further, the capacitance of the capacitor for obtaining a desired pulse width of the one-shot pulse signal can be obtained easily and accurately in a short time.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a one-shot pulse generator in a first embodiment of the present invention.
2 is a timing chart showing an example of the waveform of each signal in FIG.
3 is a circuit diagram showing an example of the one-shot pulse generator 1 of FIG. 1 during a test operation.
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a conventional one-shot pulse generator.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 One shot pulse generator 2 One shot pulse generation circuit 3 Test circuit 10 Internal circuit 21-23 Transmission gate C Terminal TE1-TE3 Test terminal

Claims (5)

所定の端子Ｃに接続されたコンデンサと、
制御信号入力端に入力される制御信号に応じて、該端子Ｃに対する所定の入力電圧の出力制御を行うスイッチ素子と、
該スイッチ素子から前記コンデンサに流れる電流を制限する抵抗と、
所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路と、
前記コンデンサにおける充電時の高圧側電圧が該基準電圧未満である間、所定レベルのワンショットパルス信号を外部へそれぞれ出力するパルス発生回路と、を備えるワンショットパルス発生装置において、
外部から入力される所定のテスト用信号に応じて、前記パルス発生回路の出力信号を前記スイッチ素子の制御信号として出力する第１スイッチ回路部と、
前記テスト用信号に応じて、前記スイッチ素子の制御信号入力端に対する、該スイッチ素子をオンさせて導通状態にする電圧の出力制御を行う第２スイッチ回路部と、
前記テスト用信号に応じて、所定の端子ＴＥ２への前記基準電圧の出力制御を行う第３スイッチ回路部と、
を有するテスト用回路を備えること特徴とするワンショットパルス発生装置。A capacitor connected to a predetermined terminal C;
A switch element that performs output control of a predetermined input voltage to the terminal C in accordance with a control signal input to the control signal input terminal;
A resistor for limiting a current flowing from the switch element to the capacitor;
A reference voltage generation circuit for generating and outputting a predetermined reference voltage;
In the one-shot pulse generator comprising: a pulse generation circuit that outputs a one-shot pulse signal of a predetermined level to the outside while the high-voltage side voltage at the time of charging in the capacitor is less than the reference voltage,
A first switch circuit unit that outputs an output signal of the pulse generation circuit as a control signal of the switch element in accordance with a predetermined test signal input from the outside;
A second switch circuit unit that performs output control of a voltage for turning on the switch element to bring it into a conductive state with respect to a control signal input terminal of the switch element in accordance with the test signal;
A third switch circuit unit for controlling output of the reference voltage to a predetermined terminal TE2 in accordance with the test signal;
A one-shot pulse generator comprising: a test circuit having: 前記テスト用信号が所定のテスト動作を行うことを示している場合、前記第１スイッチ回路部はオフしてパルス発生回路の出力信号の前記スイッチ素子への入力を遮断すると共に、前記第２スイッチ回路部及び第３スイッチ回路部はそれぞれオンして、前記スイッチ素子に対して該スイッチ素子をオンさせて導通状態にする電圧が出力され、端子ＴＥ２に前記基準電圧が出力されることを特徴とする請求項１記載のワンショットパルス発生装置。When the test signal indicates that a predetermined test operation is to be performed, the first switch circuit unit is turned off to block the input of the output signal of the pulse generation circuit to the switch element, and the second switch Each of the circuit unit and the third switch circuit unit is turned on to output a voltage for turning on the switch element and turning on the switch element, and the reference voltage is output to the terminal TE2. The one-shot pulse generator according to claim 1. 前記テスト動作時に、前記コンデンサの代わりに電流計を前記端子Ｃに接続すると共に、前記端子ＴＥ２に電圧計を接続することを特徴とする請求項２記載のワンショットパルス発生装置。3. The one-shot pulse generator according to claim 2, wherein an ammeter is connected to the terminal C instead of the capacitor and a voltmeter is connected to the terminal TE2 during the test operation. 前記スイッチ素子、抵抗、基準電圧発生回路、パルス発生回路及びテスト用回路は１つのＩＣに集積されることを特徴とする請求項１、２又は３記載のワンショットパルス発生装置。4. The one-shot pulse generator according to claim 1, wherein the switch element, the resistor, the reference voltage generation circuit, the pulse generation circuit, and the test circuit are integrated in one IC. 所定の端子Ｃに接続されたコンデンサと、
制御信号入力端に入力される制御信号に応じて、該端子Ｃに対する所定の入力電圧の出力制御を行うスイッチ素子と、
該スイッチ素子から前記コンデンサに流れる電流を制限する抵抗と、
所定の基準電圧を生成して出力する基準電圧発生回路と、
前記コンデンサにおける充電時の高圧側電圧が該基準電圧未満である間、所定レベルのワンショットパルス信号を外部へそれぞれ出力するパルス発生回路と、外部から入力される所定のテスト用信号に応じて、前記パルス発生回路の出力信号を前記スイッチ素子の制御信号として出力する第１スイッチ回路部、前記テスト用信号に応じて、前記スイッチ素子の制御信号入力端に対する、該スイッチ素子をオフさせて遮断状態にする電圧の出力制御を行う第２スイッチ回路部、及び前記テスト用信号に応じて、所定の端子ＴＥ２への前記基準電圧の出力制御を行う第３スイッチ回路部とを有するテスト用回路と、
を備えたワンショットパルス発生装置におけるテスト方法において、
前記コンデンサの代わりに電流計を前記端子Ｃに接続すると共に、前記端子ＴＥ２に電圧計を接続し、
テスト動作を行うことを示す前記テスト用信号が入力されると、前記スイッチ素子をオンさせて導通状態にし、
前記端子Ｃから出力される電流を前記電流計で測定し、
該測定した電流値から前記抵抗の抵抗値を算出し、
前記端子ＴＥ２の電圧である前記基準電圧を前記電圧計で測定し、
前記算出した抵抗値及び該測定した基準電圧から、所望のパルス幅の前記ワンショットパルス信号が得られる前記コンデンサの容量を算出することを特徴とするワンショットパルス発生装置におけるテスト方法。A capacitor connected to a predetermined terminal C;
A switch element that performs output control of a predetermined input voltage to the terminal C in accordance with a control signal input to the control signal input terminal;
A resistor for limiting a current flowing from the switch element to the capacitor;
A reference voltage generation circuit for generating and outputting a predetermined reference voltage;
While the high-voltage side voltage at the time of charging in the capacitor is less than the reference voltage, according to a pulse generation circuit that outputs a one-shot pulse signal of a predetermined level to the outside, and a predetermined test signal input from the outside, A first switch circuit unit that outputs an output signal of the pulse generation circuit as a control signal of the switch element, and in accordance with the test signal, the switch element is turned off with respect to the control signal input terminal of the switch element to be cut off A test circuit comprising: a second switch circuit unit that performs output control of a voltage to be applied; and a third switch circuit unit that performs output control of the reference voltage to a predetermined terminal TE2 in accordance with the test signal;
In the test method in the one-shot pulse generator equipped with
An ammeter is connected to the terminal C instead of the capacitor, and a voltmeter is connected to the terminal TE2.
When the test signal indicating that a test operation is performed is input, the switch element is turned on to be in a conductive state,
Measure the current output from the terminal C with the ammeter,
Calculate the resistance value of the resistor from the measured current value,
Measure the reference voltage, which is the voltage of the terminal TE2, with the voltmeter,
A test method for a one-shot pulse generator, comprising calculating the capacitance of the capacitor from which the one-shot pulse signal having a desired pulse width is obtained from the calculated resistance value and the measured reference voltage.
JP2002180329A 2002-06-20 2002-06-20 One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit Expired - Fee Related JP3933533B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002180329A JP3933533B2 (en) 2002-06-20 2002-06-20 One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002180329A JP3933533B2 (en) 2002-06-20 2002-06-20 One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004020544A JP2004020544A (en) 2004-01-22
JP3933533B2 true JP3933533B2 (en) 2007-06-20

Family

ID=31177493

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002180329A Expired - Fee Related JP3933533B2 (en) 2002-06-20 2002-06-20 One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3933533B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110444004B (en) * 2019-08-20 2024-05-03 杭州思泰微电子有限公司 Output signal control system and control method of infrared remote control receiving chip

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004020544A (en) 2004-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8866499B2 (en) System and method for measuring capacitance
US6885210B1 (en) System and method for measuring transistor leakage current with a ring oscillator with backbias controls
US7518390B2 (en) Semiconductor integrated circuit device with a test circuit that measures a period to select a test mode
US7952343B2 (en) Current measurement circuit and method
CN110622012B (en) Current measuring apparatus including charging/discharging device and current measuring method using the same
JPH0933618A (en) Method and apparatus for measuring threshold characteristic of semiconductor integrated circuit
US8310269B2 (en) Measurement of partially depleted silicon-on-insulator CMOS circuit leakage current under different steady state switching conditions
US6614251B2 (en) Electromigration evaluation circuit
JP3933533B2 (en) One-shot pulse generator with test circuit and test method for one-shot pulse generator using the test circuit
JP2008064700A (en) Internal resistance measuring device for electric double layer capacitor
JP4227314B2 (en) Voltage detection circuit
TWI809945B (en) Semiconductor device and method of monitoring temperature of semiconductor device
JP6541456B2 (en) Test equipment
KR101719098B1 (en) Circuit and method for pulse width measurement
JP2004170117A (en) Insulation detecting device of non-grounded power source
JP4255343B2 (en) Semiconductor device having delay time inspection circuit generated in semiconductor device
JP3160185B2 (en) Hysteresis inspection method for comparator circuit
JP2009264833A (en) Test circuit and method for schmitt trigger buffer
JP2003069341A (en) Rc oscillation circuit
JPH0720205A (en) Method for measuring output signal change of semiconductor integrated circuit
JPH0798354A (en) Inspecting device for semiconductor integrated circuit
JPH05346440A (en) Peak voltage detecting circuit
JPH07211096A (en) High speed sampling circuit
JP2002122636A (en) Semiconductor integrated circuit device and test method therefor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070313

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130330

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140330

Year of fee payment: 7

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees