JP3908786B2 - 基板上のインディシアのocrのための照明システム - Google Patents

基板上のインディシアのocrのための照明システム Download PDF

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Description

技術分野
本発明は光学の分野に関するもので、さらに詳しくいえば、基板上のインディシアの光学的文字認識に対するLED照明システムに関する。
本発明の背景
半導体ウエファ(wafers)及びその他の基板は、なかんずくウエファ番号と製造業者を示すインディシア(indicia)が与えられている。インディシアというのは、例えば、長さが1.59-1.91cm(5/8-3/4インチ)の、典型的には、レーザで腐刻されたところの***(laser-etched pits)のマトリックスで構成される。
半導体ウエファ上のレーザで焼き付けられたインディシアの機械読みを実現する難しさは、文字自体が該ウエファ基板と同色であり小さな浮き彫りを示す事実から、文字を読むために使用される光が反射されるようにウエファ表面が研磨される事実から、並びに、ウエファの表面は、文字が覆われ、その寸法と浮き彫りが減少するような数回のコーティング処理が実施される事実から発生する。
現在まで知られている光学的文字認識(OCR)システムは、光をカメラに反射するためにインディシアにより導入される表面の小さな不規則性を使用してきた。しかし、点が非常に滑らかなため、非常に小さい角度から、更に時として、極端に小さな角度からのみ光を分散させる。その結果、光源は視線から非常に小さい角度でなければならず、且つ相対的に強くなければならない。これは、光源をカメラの視野内に置くことになり、その結果、多くの場合カメラはブラインドにされる。光を視線に沿った方向に向けるビーム分割器を使用するこの分野の技術が今まで使用されてきたが、これらの技術は多くの上塗りされた層を持つ小さな文字を照明するに足るほど強力ではなかった。高密度ファイバ光源は他の一つのこの分野での既存技術ではあり、より大きな角度でも機能する非常に強力な光を供給するが、高価且つ大型であると共に望ましくない熱と振動を発生する可成りの不利な条件を持つ。
本発明の概要
従って、文字が1個の層又は複数の層でオーバコートされているような場合でも、基板上のインディシアの光学的文字認識のための、強力ではあるが高価でない発光ダイオード(LED)照明システムを供給するのが、本発明の主要な目的である。
これに基づく1つの実施例では、基板の法線(normal)に第1の鋭角の角度の視野を持つカメラが、その視野内においてインディシアを読むために与えられる。第2鋭角は、角度は第1の鋭角と同じであるが、法線に対して反対側にあり、基板の法線に対しての第2鋭角の両側にそれぞれ配置される光路を定義する第1及び第2のLEDアレイが、基板上のインディシアを照明するために与えられる。この第1及び第2のLEDアレイの光路に沿ってそれぞれ配置される第1及び第2そらせ板(baffles)は、各LEDアレイを遮蔽し、それによりインディシアはLEDアレイの光によりカメラによる読取を許す一方で、カメラの視野内にLEDアレイが像を作ることを防ぐ。
これに基づく他の1つの実施例では、視野の長軸が基板の法線に対して平行の方向を持つカメラが、その視野内にインディシアを読むために与えられる。カメラ及び基板の両方に光学的に対面している光学構成要素が、入力及びカメラへの光の屈曲(deviating)のために与えられる。該光学構成要素は、カメラと基板の両者に対面するように角度が付けられた平面鏡;その第1の鏡要素は基板に対面するような角度で配置され、第2鏡要素はカメラと第1の鏡要素の両者に対面する角度に配置される2面の平面鏡;又はプリズムであろう。基板の法線に関して定義される鋭角の両側にそれぞれ配置される光路を定義する第1及び第2のLEDアレイは基板上のインディシアの照明のために与えられる。第1及び第2のLEDアレイの光路に沿ってそれぞれ配置される第1及び第2そらせ板は、それぞれのLEDアレイを遮蔽し、カメラの視野内に像を作ることを防ぐ一方で、インディシアをLEDアレイの光の中でカメラによって読み取られることを許すために与えられる。
これらの実施例において、LEDアレイは1個のレンズ又は複数のレンズを持つか又はレンズを持たない。更に、LEDアレイの近辺にマスクが与えられることにより、カメラの視野内にその像を作ること無しに比較的大形で容易に入手できるLEDを基板に近接して配置し、全体のパッケージ寸法を減少することが出来る。
他の1つの実施例において、視野の長さ方向の軸が基板の法線に垂直な関係にあるカメラが、その視野内にインディシアを読み取るために与えられる。複数の光学素子が用意され、該光学素子の1つは第1及び第2のLEDアレイに対面し、そこからの光をそらせ板の間を通過させて電球配列を他の光学素子から遮蔽し、それから先は他の素子に向けられ、その1つはカメラに対面していて、電球光によってカメラがインディシアを読み取れるようにしている。
ソフト及びハード印字刻印の両者の読取用に特別に構成される更に別の実施例において、その長さ方向の軸が基板の法線との関係で垂直の方向にある視野を持つカメラが、その視野内にインディシアが読み取れるように与えられる。複数の光学素子が用意され、該光学素子の1つは第1及び第2のLEDアレイに対面し、そこからの光をそらせ板の間を通過させてLEDアレイを他の光学素子から遮蔽し、そこから先は他の素子に向けられ、その1つはカメラに対面していて、LED光によってカメラがインディシアを読み取れるようにしている。更に、本実施例は、ハード印字の読取のために2種類の補助的な照明モードを持っている。
第1の追加モードは、暗い下地用照明であり、基板上のインディシアの近くに取り付けられるがカメラの視野外の白熱電球のアレイから構成される。
第2のモードは、明るい下地用照明であり、カメラの視野の近辺の白熱電球の第1及び第2アレイによって照明はされるが、カメラの視野からは遮蔽されているカメラの視野に位置する散光の、白色が好ましい、反射板から構成される。該反射板は、LEDの第1及び第2アレイの間で、ソフト印字照明に使用されるマスクの全面に取り付けられる。電球アレイは反射板に均一な照明を与える方法で、LEDアレイに近接して設置される。反射板は刻字窓に対する明るい背景を与えるのに丁度十分な寸法に限定される。他の全ての光は、電球収容器及びソフト印字照明に使用されるそらせ板によって、ウエファ及びカメラの視野から遮られる。反射板の寸法の最小化、及びウエファからの他の全ての光の遮断は、明るい反射板の明瞭な像を反射する研磨されたウエファ面と、光を拡散しそのため暗く見える刻字印字の間のコントラストを最大にする。もし、反射板が刻字窓より大きいか、又は電球からの残留光がウエファを照明することが許されれば、刻字から散乱された余分の光がカメラに入り刻字を明るく見せるために、像のコントラストは低下するであろう。
本発明は、多糖類の刻字の読取を強化するために、適切な光源と照明の強さを選択するための操作入力と制御論理に応答する4個の照明源を制御する多チャネル光制御ユニットを与える。制御ユニットは布線論理であるか、又はカメラからのフィードバックに応えて照明源を調整できる利用者プログラマブルなソフトウエアを含んでいる。
更に別の実施例に、照明源により定義される光路は平面鏡により両側が拘束されている。該平面鏡は照明源からカメラの視野への、そうでなければ視野外へ失われる、光を反射する。該鏡は、これがなければ失われたであろう光を使用することにより、光源の幅の減少を可能にする。このようにして、より少ないLED又は白熱電球により同一の視野の照明が可能になる。これは、顕著に狭い光源で足りることと、必要とするLED又は電球の数の減少をもたらす。
【図面の簡単な説明】
本発明の、これら並びに他の目的、形態及び利点は、好ましい実施例の以下の詳細説明及びそれに伴う図面の参照により明確になるであろう:
図1は、本発明による基板上のインディシアのOCRのための強力LED照明システムの1つの実施例を表すところの、一部は絵画的で一部は断面図的な図であり;
図2は、本発明による基板上のインディシアのOCRのための強力LED照明システムの他の1つの実施例を表すところの、一部は絵画的で一部は断面図的な図であり;
図3A及び図3B(まとめて図3)は、本発明による基板上のインディシアのOCRのための強力LED照明システムの、図2の実施例に有効な他の光学的構成要素を表す切断面を示す図であり;
図4は、本発明による基板上のインディシアのOCRのための照明システムの他の1つの実施例を表すところの、一部は絵画的で一部は断面図的な図であり;
図5は、基板上のインディシアのOCRのための照明システムの更に他の1つの実施例を表すところの、一部は絵画的で一部は断面図的な図であり;
図6は、図5の照明システムの6−6の線での切断面を示す図であり;
図7は、本発明の照明システムの概略図であり;
図8は、図5の照明システムの他の1つの実施例を表すところの、一部は絵画的で一部は断面図的な図であり;
図9は、図8の照明システムの9−9の線での切断面を示す図であり;
図10は、図8の照明システムの展開した光経路の切断面を示す図である。
好適な実施例の詳細な説明
図1は(半導体ウエファのような)基板上の(レーザで腐刻した文字列のような)インディシアの光学的文字認識(OCR)に対する強力なLED照明システム10の実施例を表す概略図である。カメラ12は、鋭角“θc”で表示されるところの、半導体ウエファ18に対する法線16に対して定義される矢印14の範囲内に設けられる。該カメラ12は、該ウエファ18上に矢印22により概略的に表示されているインディシアを読む視野を持つレンズ20を持っている。
それぞれがカメラの視野の幅一杯に均等に分散されている第1及び第2のLEDアレイは、第2の鋭角“θL”で表示されるところの、矢印28により一般的に明示される範囲の両側にそれぞれ配置される。該鋭角28の角度は鋭角14の角度と大きさで等しいが、第2の鋭角は基板18に対する法線16の反対側になる。レンズを持たないLEDを分離した円柱状レンズと共に与えることも出来るが、LEDアレイ24及び26のLEDはそれぞれレンズ付きが好ましい。LEDの数は基板18上のインディシア22へ強力な照明が与えられるように選択される。それらは、インディシア22の典型的な直線状配置に一致するようにそれぞれ直線に並べられる。他のパターンも可能である。
LEDアレイ24及び26は、それぞれの光ビームが該基板上の該インディシアをその両側から照明する光路を供給する。該LEDアレイ24の光路に沿って不透明そらせ板(opaque baffle)が配置される;且つ該LEDアレイ26の光路に沿って不透明そらせ板32が配置され;そらせ板30と32とは事前に選択した距離間隔を置かれる。アルミニュームのような何らかの不透明材料である該そらせ板30は、その法線が該基板18の法線16に直交するように方角が決められ、そらせ板32はその法線が該基板18の法線16に平行するように方角が決められる。インディシア22がLEDアレイ24及び26により供給される照明光中で読まれることを許しながら、対応するアレイの直接の像が基板18の鏡面から返され、それによりカメラ12のレンズ20の視野により捕捉されることが対応するそらせ板によって妨げられる限り、そらせ板30及び32の他の方角は可能である。
図2は、本発明による基板上のインディシアのOCRのための強力LED照明システム40の他の実施例である。図2のシステム40は図1のシステム10とは、2つの主要点で異なる。第1の点は、視界を与えるレンズ44を持つカメラ42は、カメラの軸が基板48の法線46に一般的に平行に取り付けられ;平面鏡のような光学的構成要素50は事前に選択された鋭角でカメラ42のレンズ44の視野内に配置される。レンズ44の視野内で鏡の方角を決められる角度は、カメラ42を図示の垂直位置に保たせながら、ウエファ48の表面から反射された光がカメラ42のレンズ44から外れるように選ばれる。該カメラの垂直方向の配置は、他の有利なことの中でも、容器の寸法の減少を可能にし、据え付けを簡単にできる。
図2のシステム40が図1のシステム10とは異なる第2の点は、長方形をしたマスク54がLEDアレイ58及び60の近辺に与えられることである。該マスク54は、市場で容易に入手可能な大型のLEDを、典型的には半導体ウエファである基板48に一層近く、カメラの視野内に見えるようにしないで、配置できることを可能にする。
この実施例において、LEDアレイからのLEDの光学的経路に沿って一層均一な照明を与えるために円柱形レンズをレンズが付けられていないLEDに付加することも出来るが、LEDアレイ58及び60の各LEDはレンズ付きが望ましい。
図3Aに示されるように、一般的に該基板から反射された光がカメラへ行くのを逸らせるために、選定62された2重の平面鏡は(図2の)平面鏡50の場所に用意されるであろう。その第1の平面鏡構成要素64は該基板に向き合うような角度に置かれ、その第2の平面鏡構成要素66は鏡構成要素64及び該カメラに向かい合う角度に置かれる。2重の反射によって、読み取るべき該インディシアの真の像が得られる。
図3Bに見られるように、68により一般的に明示されたプリズムは、基板からカメラに向かって反射され光をずらせるために、平面鏡50に代わって与えられる。該プリズム68は(図3の)構成要素64と66が基板をカメラの視野中に該基板の像を写せるように機能する銀メッキ面70と72を持っている。
オーバコートされた文字読取の困難を克服するのに加えて、OCRシステムは、特有の性質を持つ印字で構成される各種の印字手段の何れかによって作り出される文字を読み取るという挑戦に対面する。基板上にインディシアを作り出す一つの方法はレーザの使用である。レーザ技術の如何により、印字は滑らかに曲がった端を持つウエファ上の浅い窪みにより特徴付けられる「ソフト」印字、又は非常に鋭い角とウエファ面でギザギザの膨れ上がりを持つ噴火口のような「ハード」印字であろう。
図4は本発明による他の一つの実施例の照明システム74を示す。図4の照明システム74は2点で図2のシステム40と異なる。第1はレンズ78を持つカメラ76は、カメラ76の軸が一般的に鏡面基板80の法線に垂直であるように組み立てられる。図4の照明システム74が図2のシステム40と異なる第2の点はLEDアレイのような光源82は、その軸が一般的に基板80の法線に垂直になるように配置される。カメラ76と光源82の水平配置は、設置と調整操作中にカメラ76とレンズ78に便利に近付けると共に、容器の全高を最小化する有利さを持つ。
光源82は、図2のシステムに関連して記述されたように、光源の近辺に長方形のマスク84と共に準備されている。該マスク84及び光源82は、第1鏡88,第2鏡90,第3鏡92,第1のそらせ板94,及び第2そらせ板96も収容する囲い(enclosure)86の内部に位置する。第2及び第3の鏡90及び92は図3Bに図示されるようにプリズムで置き換えられる。該囲い86は、更に基板80上の読まれるべきマークと関係付けられる第1の開口部98又は記入窓、基板80から反射された光を受け取るためにカメラ76と関係付けられる第2開口部99、並びに鏡88、90及び92を含む。カメラ76は、カメラ76及びレンズ78の配置を第2開口部99との間で精度を高めるために調整可能な搭載ブラケットで囲い86に固定される。
第1の平面鏡88は、光源82と基板を対面するのに、光が基板80を垂直ではなく或る角度を持って照射するような角度を持たされている。第1及び第2そらせ板94及び96は、基板とその上のインディシアを照明するために、第1鏡88から基板80への光の通路を制御するために与えられる。第1鏡88から受けたのに対する余角で基板80から反射される光は、光源82の反対側の第2そらせ板96の側面を通過し、基板に対面する第2平面鏡90へと達する。第3平面鏡92に対面する第2平面鏡90は、基板80から受けた光をカメラレンズ78に角度を持って対面する第3平面鏡92へ反射する。第3の鏡92から反射される光は、囲い86中の第2開口部99を通過して、従ってレンズ78を通過してカメラ76に達する。
視野の寸法は、選択されたレンズ78の光学的拡大、光学的構成要素、及び光学的延長筒の寸法の関数である。1つの実施例では、75mmレンズに35mm長の延長筒が使用され、50mmレンズには10mmの延長筒が使用される。例えば、約33mm(1.30インチ)幅の視野が、各目拡大率0.25を持つ50mmレンズ78及び6.6×8.8mm電荷結合素子(CCD)を持つカメラ76に対して与えられる。しかし、図示のシステム74が、拡大率0.50で動作する75mmレンズで構成されれば、視野の寸法は16.5mm(0.65インチ)に減少する。この寸法の視野は、小さい刻印(0.8mm高)の観測に適している。延長筒79及びカメラ搭載位置の変更により拡大率の少しの調整(近似的に±10%)が可能である。異なる寸法のCCDを持つカメラ、異なる焦点距離を持つレンズ、及び異なる長さを持つ延長筒が、他の拡大率を得るのに使用されるだろう。カメラとレンズに精通している人は、特別な適用に最適の拡大率を与える組み合わせを選択できる。
図5は本発明の他の1つの実施例である。図5の参照において、OCRシステム100は、75mmレンズ104を持つカメラ102,延長筒103,第1光源システム106,及びマークの付された基板110と平行に並べられた第2光源システムを持つ。本実施例は「ソフト」マーク読取のためのLED及び「ハード」マーク読取のための広帯域スペクトラムの白熱電球を有する。カメラ102のための取付けブラケット114を持つ囲い112は、該照明システム及びそれらの制御用の4チャネル光源制御ユニット116を収容するために設けられる。
図6は図5の照明システムの切断面であり、以下の記述に関し、図5と共に参照されるべきである。図示の実施例において、第1光源システム106は、その内2列はカメラ102の視野の上部にあり且つ2列はその視野の下部にある、4列のLED118を所有している。最も内側の中央に近い2列は該光源制御ユニット116の第1チャネルにより制御される。最も外側の2列のLED118は、LED118の第2のアレイを構成し該光源制御ユニット116の第2チャネルにより第1のアレイとは独立に制御できる。図示の実施例において、各内側列は9個のLED118を含み、各外側列は8個のLED118を含む。
第1光源システム106はまた薄く着色された背景上の暗い文字又は刻字に対する、明るい下地の照明(bright field illumination)として知られる、強化された照明を与える。明るい下地照明構成要素は、光反射容器内のLED180の近くに搭載され、光源制御ユニット116の第3チャネルに反応する2列アレイの白熱の明るい下地用電球120を含む。該明るい下地用電球120は、カメラの視野に存在する反射の強い、通常白色である薄く着色された目標122を鏡の組み合わせによって照明する。
第2の光源システム108は、暗い下地の照明(dark field illumination)として知られる暗い(黒い)背景上の明るく着色された文字の照明のための白熱電球のアレイ124を含む。図示の実施例において、光反射容器内に位置し、該光源制御ユニット116の第4チャネルに反応する6個の暗い下地用電球124がある。これらの電球は基板110を照明し、カメラの視野内には入らない。
暗い下地用白熱電球及び明るい下地用白熱電球は、標準的な小型の透明な白色光電球であり、20,000時間又はそれ以上の時間である寿命を延ばすために電圧を下げた状態で動作させるのが好ましい。現在の適応では、白熱電球は可視から赤外線にまで広がる、波長の一層広いスペクトルを発生し、且つ処理されたウエファのような基板上に見られる薄い被膜(coating)から生じる干渉効果に感応しにくいため、白熱電球はLEDに較べて有利である。また、白熱電球は蛍光灯より少ない熱を発生し(蛍光灯はプラズマ放電に必要な電子を発生させるための「ヒータ」を持っている)、且つ寸法が小さいのに加えて制御が用意である長所がある。更に、白熱電球は、ソフト印字を照明するのに使用されるLED118に類似の電力への要件をもっているので、両者は同一の電子技術とソフトウエアにより制御される。
他の点では、第1鏡126,第2鏡128,第3鏡130,第1そらせ板132,及び第2そらせ板134を含む鏡とそらせ板の配置は図4の場合と同様である。基板110から第2鏡128までの光路115が示されている。
各実施例において、光源制御ユニット116は、特有の刻字により生じる種々の観測条件の下での光学的文字解読に対して、基板の照明を制御する。システム100の1つの実施例においては、光源制御ユニット116はソフトウエア制御のスイッチ操作により照明の光源と強さを自動的に制御するために、カメラ102からフイードバックを受ける。
図5のシステム100に対する典型的な光源制御ユニット116が、LED118の内側列、LED118の外側列、明るい下地用電球120、及び暗い下地用電球124に対応するそれぞれ146,148,150,及び152と番号が付された4個の光源A,B,C,及びDの制御のために、図7に該略図として図示されている。システム操作を行う者は、光源選択制御154及び強さ選択制御156を使用して、光源及び強さの選択を行う。制御論理158は付線論理又はソフトウエアの形式で、使用者が適切な命令の選択により照明の種類と強さを定義できるようにする。従って、該システムは、多種類の印字の解読のための最初の設定以降は、機械的調整を事実上必要としない。
次に図8及び図9を同時に参照してOCRシステムの他の1つの実施例が図示されている。図9は図8に示される該実施例の線9-9に沿った部分切断図である。図8及び図9に図示された該実施例は、75mmレンズ104を備えたカメラ102,延長筒103,第1光源システム106,及び印字された基板110に平行に並べられた第2光源システム108を含む。本発明は、「ソフト」印字を読み取るためのLED及び「ハード」印字を読み取るための広帯域スペクトル白熱電球を含む。カメラ102用の搭載ブラケット114を持つ囲い112は光源システム及びそれらを制御するための4チャネル光源制御ユニット116を収容するために与えられる。更に、本発明は、光源から送出された光を基板上のカメラの視野の方へ反射させ、それにより比較的に少数のLEDと白熱電球を使用しながら、一層狭いパッケージ中の基板にほぼ同等の照明が達成できる第1及び第2平面形光源鏡202及び204を含む。
第1及び第2光源鏡202及び204は、それぞれ、光源システム106の外側の点から、そらせ板132及び134の近辺の点まで延びている。LEDアレイから発した光は第1及び第2光源鏡202及び204により光を基板110に反射させる第1鏡126の方へ反射され、それにより該基板上の有効光強度を増加させる。同様に、明るい下地用電球120は、目標122により、続いて、第1及び第2光源鏡202及び204により反射され、該基板へ光を反射する第1鏡126の方へ達する光を発する。図9に描かれた実施例に示されるように、該囲い112の幅は、比較的少数の電球とLEDが使用されるので、顕著に減少させることが出来る。例えば、図4乃至図6に図示されている実施例は約9.1cm(3.6インチ)の幅を持つが、光源鏡を使用する実施例は6.1cm(2.4インチ)又はそれ以下の幅の容器である。
次に、図10を参照して、図8の実施例の折り曲げたのを伸ばした光経路の切断図が示される。図10は、LED118の最も内部の列から発した光が第2光源鏡204により基板110の方向へ反射され、LED118の幅の実際の寸法214の関数であるカメラの視野210に達する。示されてはいないが、光は同様に第1光源鏡202により反射される。さもなければ、カメラの視野外に失われたであろうLEDからの光は、第1及び第2光源鏡202及び204により第1鏡126へ、更に基板110上カメラの視野へ反射され、これにより実質的な照明が増加するためLED118の幅を一層大きい見かけの寸法216へ実質上拡大する。第1及び第2光源鏡202及び204により反射された光は、一層広いLEDアレイのLEDから発せられたであろう光の代わりを果たす。LED118の最も外側の列からの光はアナログの方法で反射されることは当業者には容易に理解される。同様に、目標122及び白熱電球124から発する光は、第1及び第2光源鏡202及び204により基板110のカメラ視野の方向へ反射される。
このようにして、第1及び第2光源鏡202及び204は、囲い112の幅、並びにLEDおよび電球の所要数を劇的に減少させる。図9に示す実施例では、LED118の最も内側の列は5個のLEDの列を含み、LED118の最も外側の列は4個のLEDの列を含み、且つ白熱電球120の2個のアレイはそれぞれ2個の電球を含む。該LED118は約3.8cm(1.5インチ)の幅を必要とする。これは、8個のLED118の外側2列及び9個のLED118の内側2列が、約6.9cm(2.7インチ)の幅を必要とし、囲いが約9.1cm(3.6インチ)である図6の実施例と対照的である。更に、白熱電球120の2個のアレイはそれぞれ3個の電球を含む。
本発明の概念から離れることなく現在の開示からの利益を受けて、現在開示した発明の多くの変形は当業者には明らかになるであろう。例えば、第1鏡126へ向けて光を反射するため、囲い112の頂点及び底部に鏡を配置することも可能であろう。更に、LEDおよび電球の多数の組み合わせ及び数の選択も本発明の範囲から逸れることなく使用できるであろう。

Claims (22)

  1. 基板(110)の表面上のインディシアを照らすための照明システム(100)において、
    上記照明システム(100)は、上記基板(110)の表面上の第1のタイプのインディシアを照らすための第1のタイプの第1の光システム(118)を有して成り;この第1の光システム(118)は該第1の光システム(118)から上記基板(110)への第1の光路を定義し且つ第1の光路に垂直な光源幅を持ち、該光源幅は実際の寸法(214)を持ち、また
    上記照明システム(100)は、第2のタイプのインディシアを照らすための第2のタイプの第2の光システム(120)を有して成り;この第2の光システム(120)は該第2の光システム(120)から上記基板(110)への第2の光路を定義し、更にまた
    上記照明システム(100)は、上記第1の光システム(118)と上記基板(110)との間、及び上記第2の光システム(120)と上記基板(110)との間にそれぞれ上記第1の光路及び第2の光路の一部分を拘束して、上記第1及び第2の光システム(118、120)からの光の一部分を上記基板(110)の方に向けるために配置されるところの第1の側面鏡(204)を有して成り;この第1の側面鏡(204)は上記実際の寸法(214)より大きいところの光源に対する見かけ上の寸法(216)作り出し、更にまた
    上記照明システム(100)は、上記基板(110)を含み且つ上記光源幅の見かけの寸法(216)の関数である所の視野(210)を持つカメラを有して成る;
    ことを特徴とする照明システム。
  2. 請求項1に記載の照明システム(100)において、
    上記第1及び第2の光システム(118,120)から光学要素(126)に入射する光を上記基板(110)に向かって屈曲させるために、上記第1及び第2の光路に沿って配置される光学要素(126)を更に有して成り;
    その配置は、上記第1の光システム(118)と上記光学要素(126)との間、及び上記第2の光システム(120)と上記光学要素(126)との間でそれぞれ、上記第1及び第2の光路の一部分に沿って、上記第1の側面鏡(204)が位置して、それにより上記光の一部分を、上記第1及び第2の光システム(118,120)から上記光学要素(126)の方向に指向させ、また上記上記光学要素(126)から上記基板(110)の方向に指向させるようにする
    ことを特徴とする照明システム。
  3. 請求項1に記載の照明システム(100)において、第1の側面鏡(204)に対面する第2の側面鏡(202)を更に有して成ることを特徴とする照明システム。
  4. 請求項3に記載の照明システム(100)において、第1の側面鏡(204)は平面であることを特徴とする照明システム。
  5. 請求項4に記載の照明システム(100)において、第1の側面鏡(204)は第2の側面鏡(202)に平行であることを特徴とする照明システム。
  6. 請求項5に記載の照明システム(100)において、第1の側面鏡は第2の側面鏡から、6.1cm(2.4インチ)より小さい距離の間隔で離れていることを特徴とする照明システム。
  7. 請求項1に記載の照明システム(100)において、第1又は第2の光システム(118,120)のどちらかからカメラに向かって発する光によって定義される第3の光路の少なくとも一部分を取り巻くところの、囲い(112)を更に有して成ることを特徴とする照明システム。
  8. 請求項1に記載の照明システム(100)において、第1光のシステムはLEDアレイ(118)を有し、また第2の光システムは白熱電球のアレイ(120)を有することを特徴とする照明システム。
  9. 請求項8に記載の照明システム(100)において、上記第1又は第2の光システム(118,120)は明るい下地用照明を供給し、また第3の光システム(108)が暗い下地用照明を供給することを特徴とする照明システム。
  10. 請求項3に記載の照明システム(100)において、第1及び第2の光路の少なくとも一部分を取り巻く囲い(112)を更に有して成り;この囲い(112)は、第1の側面鏡(204)がそれに固定される第1の壁、及び第2の側面鏡(202)がそれに固定される第2の壁を含むことを特徴とする照明システム。
  11. 請求項1に記載の照明システム(100)において、第1及び第2のインディシアは、少なくとも1枚の層でその上を覆われていることを特徴とする照明システム。
  12. 請求項8に記載の照明システム(100)において、上記第1のタイプのインディシアは「ソフト」印字を含み、第2のタイプのインディシアは「ハード」印字を含むことを特徴とする照明システム。
  13. 請求項1に記載の照明システム(100)において、上記第1の光システム(118)は、第1の光路の向かい合う対称な1対をそれぞれ定義するところの第1のアレイ対(118)を含み、それは上記基板(110)上の第1のタイプのインディシアを照らすために、上記第1の光路が上記基板(110)の法線に関して定義される鋭角の両側にそれぞれ置かれるようにしてあることを特徴とする照明システム。
  14. 請求項1に記載の照明システム(100)において、上記第2の光システム(120)は、第2の光路の向かい合う対称な1対をそれぞれ定義するところの第2のアレイ対(120)を含み、それは上記基板(110)上の第2のタイプのインディシアを照らすために、上記第2の光路が上記基板(110)の法線に関して定義される鋭角の両側にそれぞれ置かれるようにしてあることを特徴とする照明システム。
  15. 請求項1に記載の照明システム(100)において、
    上記照明システムは、上記基板(110)から第2の光学構成要素(128)に入射する光を第3の光学構成要素(130)に向かって屈曲させるために、上記基板(110)に直面する第2の光学構成要素(128)を、及び上記第2の光学構成要素(128)から上記第3の光学構成要素に入射する光をカメラ(102)に向かって屈曲させるために、第2の光学構成要素(128)に直面する第3の光学構成要素を、更に有して成り;また
    上記照明システムは、第1及び第2の光源の光路(118,120)に沿ってそれぞれ置かれる第1及び第2のそらせ板(94,96)を更に有して成り;これらのそらせ板は、それぞれの光源を遮蔽し、それによって第2及び第3の光学構成要素(128,130)上に直接それらが像を作ることを防止するが、第1及び第2のタイプのインディシアが第2の光学構成要素(128)により像を作り、其処から第3の光学構成要素(130)の方に、すなわちカメラ(102)の方に屈曲して、カメラが第1及び第2のタイプのインディシアを読み取ることができるようにすることを許容する
    ことを特徴とする照明システム。
  16. 請求項1に記載の照明システム(100)において、カメラ(102)の視野(210)は、その縦方向の軸が一般的には基板(110)の法線に垂直な方向を指向することを特徴とする照明システム。
  17. 請求項1に記載の照明システム(100)において、カメラ(102)の視野(210)は、その縦方向の軸が一般的には基板(110)の法線に平行な方向を指向する平面上に或る見かけの大きさの寸法を持つことを特徴とする照明システム。
  18. 請求項3に記載の照明システム(100)において、上記第1及び第2の側面鏡(204,202)は、上記光システム(118,120)の上方及び下方にそれぞれ位置することを特徴とする照明システム。
  19. 請求項2に記載の照明システム(100)において、上記第1の側面鏡(204)は上記第1及び第2の光システムから上記基板にまで延在することを特徴とする照明システム。
  20. 基板(110)の表面上のインディシアを照らすための照明システム(100)において、該照明システムは:
    その縦方向の軸が一般的には上記基板(110)の法線に垂直な方向を指向する視野(210)を持つカメラ(102);
    上記基板(110)の表面上のインディシアを照らすために、上記基板(110)の法線に関し定義される鋭角の両側にその一部分がそれぞれ置かれるところの光路を定義する光源の第1及び第2のアレイ(118);
    上記光源の第1及び第2のアレイ(118)から第1の光学構成要素(126)に入射する光を上記基板(110)の方向に屈曲させるために、上記光源の第1及び第2のアレイ(118)に直面する第1の光学構成要素(126);
    上記基板(110)から第2の光学構成要素(128)に入射する光を第3の光学構成要素(130)の方向に屈曲させるために上記基板(110)に直面する第2の光学構成要素(128);及び上記第2の光学構成要素(128)から第3の光学構成要素に入射する光をカメラ(102)の方向に屈曲させるために、第2の光学構成要素(128)に直面する第3の光学構成要素(130);
    光源の第1及び第2のアレイ(118)の光路に沿ってそれぞれ置かれる第1及び第2のそらせ板(94,96)であって、これらのそらせ板は、それぞれのアレイを遮蔽し、それによって第2及び第3の光学構成要素(128,130)上に直接それらが結像することを防止するが、上記インディシアが第2の光学構成要素(128)により結像し、其処から第3の光学構成要素(130)の方に、すなわちカメラ(102)の方に屈曲して、カメラが上記インディシアを読み取ることができるようにすることを許容するところの第1及び第2のそらせ板(94,96);
    上記光源の第1及び第2のアレイ(118)の近傍の1つの点から上記基板(110)の近傍の1つの点にまで延在する第1及び第2の側面鏡(204,202);
    を有して成り、
    上記第1及び第2のアレイは共にLEDアレイ(118)であり、
    上記照明システムは、第2のタイプのインディシアを照らすために白熱電球の第3及び第4のアレイ(120)を更に有して成り;
    該第3及び第4のアレイ(120)は基板(110)の法線に関し定義される鋭角の両側にそれぞれ配置される部分を持つ第2の光路を定義し、該第2の光路は第1の光路とは異なるものであり;
    第1の光学構成要素(126)は第2の光路に沿った位置に置かれて、第3及び第4のアレイ(120)から第1の光学構成要素(126)に入射する光を基板の方に向けて屈曲させ;
    第1及び第2の側面鏡(204,202)は、第3及び第4のアレイ(120)と第1の光学構成要素(126)との間にそれぞれ配置されて、第3及び第4のアレイ(120)からの光の一部分を第1の光学構成要素(126)の方向に指向させ、光学構成要素(126)からの光の一部分を基板(110)の方向に指向させる;
    ことを特徴とする照明システム。
  21. 請求項20に記載の照明システム(100)において、上記第1の側面鏡(204)は上記第2の側面鏡(202)から、6.1cm(2.4インチ)より小さい距離の間隔で離れていることを特徴とする照明システム。
  22. 請求項20に記載の照明システム(100)において、
    第1のアレイは、第1の光路に対し垂直な光源幅を持ち、その光源幅は実際の寸法(214)を持ち;また
    側面鏡(204、202)は、光源幅に対し実際の寸法(214)より大きい見かけ上の寸法(216)を作りだし;更にまた
    視野(210)は光源幅の見かけ上の寸法(216)の関数である;
    ことを特徴とする照明システム。
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Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE204661T1 (de) * 1998-06-01 2001-09-15 Datalogic Spa Vorrichtung und verfahren zum lesen eines optischen kodes
US6275388B1 (en) * 1998-07-08 2001-08-14 Welch Allyn Data Collection, Inc. Image sensor mounting system
US6661521B1 (en) * 1998-09-11 2003-12-09 Robotic Vision Systems, Inc. Diffuse surface illumination apparatus and methods
US6429934B1 (en) * 1998-09-11 2002-08-06 Robotic Vision Systems, Inc. Optimal symbology illumination-apparatus and method
US6633338B1 (en) 1999-04-27 2003-10-14 Gsi Lumonics, Inc. Programmable illuminator for vision system
US6707544B1 (en) 1999-09-07 2004-03-16 Applied Materials, Inc. Particle detection and embedded vision system to enhance substrate yield and throughput
US6693708B1 (en) 1999-09-07 2004-02-17 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for substrate surface inspection using spectral profiling techniques
US7012684B1 (en) 1999-09-07 2006-03-14 Applied Materials, Inc. Method and apparatus to provide for automated process verification and hierarchical substrate examination
US6813032B1 (en) 1999-09-07 2004-11-02 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for enhanced embedded substrate inspection through process data collection and substrate imaging techniques
US6630995B1 (en) * 1999-09-07 2003-10-07 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for embedded substrate and system status monitoring
US6886284B2 (en) * 1999-10-08 2005-05-03 Identification Dynamics, Llc Firearm microstamping and micromarking insert for stamping a firearm identification code and serial number into cartridge shell casings and projectiles
US6310701B1 (en) 1999-10-08 2001-10-30 Nanovia Lp Method and apparatus for ablating high-density array of vias or indentation in surface of object
US6256121B1 (en) 1999-10-08 2001-07-03 Nanovia, Lp Apparatus for ablating high-density array of vias or indentation in surface of object
US6653593B2 (en) 1999-10-08 2003-11-25 Nanovia, Lp Control system for ablating high-density array of vias or indentation in surface of object
US7111423B2 (en) * 1999-10-08 2006-09-26 Identification Dynamics, Llc Method and apparatus for reading firearm microstamping
US6833911B2 (en) 1999-10-08 2004-12-21 Identification Dynamics, Inc. Method and apparatus for reading firearm microstamping
US6420675B1 (en) 1999-10-08 2002-07-16 Nanovia, Lp Control system for ablating high-density array of vias or indentation in surface of object
US20030024913A1 (en) * 2002-04-15 2003-02-06 Downes Joseph P. Laser scanning method and system for marking articles such as printed circuit boards, integrated circuits and the like
US6352349B1 (en) * 2000-03-24 2002-03-05 United Parcel Services Of America, Inc. Illumination system for use in imaging moving articles
SE516239C2 (sv) 2000-04-28 2001-12-03 Mydata Automation Ab Metod och anordning för bestämning av nominella data för elektroniska kretsar, genom att ta en digital bild och jämföra med lagrade nominella data.
KR100378988B1 (ko) * 2000-10-27 2003-04-08 한국과학기술연구원 반도체 패키지의 삼차원 시각 검사방법
US20030029916A1 (en) * 2001-08-10 2003-02-13 John Merva Apparatus and process for simultaneously handling a plurality of symbology encoded articles
US7119351B2 (en) * 2002-05-17 2006-10-10 Gsi Group Corporation Method and system for machine vision-based feature detection and mark verification in a workpiece or wafer marking system
WO2004008496A2 (en) * 2002-07-16 2004-01-22 Electro Scientific Industries, Inc. Non-oriented optical character recognition of a wafer mark
US7204419B2 (en) * 2003-05-01 2007-04-17 Identifcation Dynamics, Llc Method and apparatus for reading firearm microstamping
JP3906194B2 (ja) * 2002-11-29 2007-04-18 株式会社東芝 キャリブレーション方法、キャリブレーション支援装置、キャリブレーション装置およびカメラシステムの製造方法
US6870949B2 (en) * 2003-02-26 2005-03-22 Electro Scientific Industries Coaxial narrow angle dark field lighting
US20050241203A1 (en) * 2003-05-01 2005-11-03 Lizotte Todd E Method and apparatus for cartridge identification imprinting in difficult contexts by recess protected indicia
US7599576B2 (en) * 2004-01-23 2009-10-06 Electro Scientific Industries, Inc. Image subtraction of illumination artifacts
US7705268B2 (en) * 2004-11-11 2010-04-27 Gsi Group Corporation Method and system for laser soft marking
US20060189091A1 (en) * 2004-11-11 2006-08-24 Bo Gu Method and system for laser hard marking
CN101218500B (zh) 2005-07-08 2010-12-08 伊雷克托科学工业股份有限公司 远心轴上暗场照明所实施的光学***的优化使用及性能
US7787159B2 (en) * 2005-07-08 2010-08-31 Electro Scientific Industries, Inc. Achieving convergent light rays emitted by planar array of light sources
US20070125863A1 (en) * 2005-12-05 2007-06-07 Jakoboski Timothy A System and method for employing infrared illumination for machine vision
DE102005061834B4 (de) * 2005-12-23 2007-11-08 Ioss Intelligente Optische Sensoren & Systeme Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum optischen Prüfen einer Oberfläche
US20070153084A1 (en) * 2005-12-30 2007-07-05 George Deveau Semiconductor wafer reader and illumination system
US7589869B2 (en) * 2006-04-28 2009-09-15 Electro Scientific Industries, Inc. Adjusting image quality using multi-wavelength light
US8233696B2 (en) 2007-09-22 2012-07-31 Dynamic Micro System Semiconductor Equipment GmbH Simultaneous wafer ID reading
US8608076B2 (en) * 2008-02-12 2013-12-17 Datalogic ADC, Inc. Monolithic mirror structure for use in a multi-perspective optical code reader
US8353457B2 (en) * 2008-02-12 2013-01-15 Datalogic ADC, Inc. Systems and methods for forming a composite image of multiple portions of an object from multiple perspectives
US8678287B2 (en) * 2008-02-12 2014-03-25 Datalogic ADC, Inc. Two-plane optical code reader for acquisition of multiple views of an object
CN101999128B (zh) 2008-02-12 2014-07-30 数据逻辑Adc公司 从多个方位形成物体的多个部分的合成图像的***和方法
US8618468B2 (en) 2008-06-30 2013-12-31 Symbol Technologies, Inc. Imaging module with folded illuminating and imaging paths
JP5069191B2 (ja) * 2008-08-22 2012-11-07 興和株式会社 光学読み取り装置
US8261990B2 (en) 2008-12-26 2012-09-11 Datalogic ADC, Inc. Data reader having compact arrangement for acquisition of multiple views of an object
US8322621B2 (en) * 2008-12-26 2012-12-04 Datalogic ADC, Inc. Image-based code reader for acquisition of multiple views of an object and methods for employing same
EP2545491B1 (en) * 2010-03-11 2015-05-06 Datalogic IP TECH S.r.l. Image capturing device
US9269035B2 (en) 2014-02-28 2016-02-23 Electro Scientific Industries, Inc. Modified two-dimensional codes, and laser systems and methods for producing such codes
US9594937B2 (en) 2014-02-28 2017-03-14 Electro Scientific Industries, Inc. Optical mark reader
US10198647B2 (en) 2015-09-25 2019-02-05 Datalogic IP Tech, S.r.l. Compact imaging module with range finder

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS503355A (ja) * 1973-05-11 1975-01-14
DE2331750C3 (de) * 1973-06-22 1978-04-20 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Auflicht-Beleuchtungseinrichtung für wahlweise Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung
DE2542075A1 (de) * 1975-09-20 1977-07-21 Leitz Ernst Gmbh Auflicht-beleuchtungseinrichtung fuer hell- und dunkelfeldbeleuchtung
US4232937A (en) * 1978-10-16 1980-11-11 American Optical Corporation Bright field-dark field illumination system
DE7917232U1 (de) * 1979-06-15 1979-09-20 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6300 Lahn- Wetzlar Auflichtilluminator fuer hell- und dunkelfeldbeleuchtung
JPS5699332A (en) * 1980-01-10 1981-08-10 Canon Inc Information mark display device
US4337442A (en) * 1980-03-28 1982-06-29 Electro Scientific Industries, Inc. First laser pulse amplitude modulation
US4412330A (en) * 1981-04-16 1983-10-25 Electro Scientific Industries, Inc. Q-Switched laser with stable output and method of making the same
JPS582018A (ja) * 1981-06-26 1983-01-07 Toshiba Corp ウエハ及び半導体装置の製造方法
US4483005A (en) * 1981-09-24 1984-11-13 Teradyne, Inc. Affecting laser beam pulse width
US4444492A (en) * 1982-05-15 1984-04-24 General Signal Corporation Apparatus for projecting a series of images onto dies of a semiconductor wafer
JPS5972728A (ja) * 1982-10-20 1984-04-24 Canon Inc 自動整合装置
US4871257A (en) * 1982-12-01 1989-10-03 Canon Kabushiki Kaisha Optical apparatus for observing patterned article
US4558926A (en) * 1983-01-20 1985-12-17 Electro Scientific Industries, Inc. Acousto-optic beam deflector
US4601551A (en) * 1984-01-23 1986-07-22 The Micromanipulator Microscope Company, Inc. Manipulation of embryos and ova
US4636080A (en) * 1984-05-07 1987-01-13 At&T Bell Laboratories Two-dimensional imaging with line arrays
DE3422143A1 (de) * 1984-06-14 1985-12-19 Josef Prof. Dr. Bille Geraet zur wafer-inspektion
DE3588012T2 (de) * 1984-06-21 1995-09-14 At & T Corp., New York, N.Y. Lithographie im fernen UV-Gebiet.
JPS6180471A (ja) * 1984-09-28 1986-04-24 Hamamatsu Photonics Kk バ−コ−ドリ−ダの走査ヘツド
US4585315A (en) * 1984-11-13 1986-04-29 International Business Machines Corporation Brightfield/darkfield microscope illuminator
US4769523A (en) * 1985-03-08 1988-09-06 Nippon Kogaku K.K. Laser processing apparatus
JP2503388B2 (ja) * 1985-04-17 1996-06-05 株式会社ニコン レ−ザ−加工用光学装置
US4685775A (en) * 1985-11-15 1987-08-11 Teradyne, Inc. Light beam positioning apparatus
US4704027A (en) * 1986-06-19 1987-11-03 Compact Spindle Bearing Corporation Dark field alignment and alignment mark systems
US4697087A (en) * 1986-07-31 1987-09-29 The Perkin-Elmer Corporation Reverse dark field alignment system for scanning lithographic aligner
US4872052A (en) * 1986-12-03 1989-10-03 View Engineering, Inc. Semiconductor device inspection system
IT209972Z2 (it) * 1987-02-20 1988-11-14 Argon Ind Mecc Srl Dispositivo di lettura ottica per il rilevamento dei segni di registro di un supporto di stampa e di un telaio di stampa.
DE3714830A1 (de) * 1987-05-05 1988-11-17 Leitz Ernst Gmbh Kombinierte hellfeld-dunkelfeld- auflichtbeleuchtungseinrichtung
US4795881A (en) * 1987-06-02 1989-01-03 Teradyne, Inc. Curved electrical components and laser trimming thereof
US4772774A (en) * 1987-06-02 1988-09-20 Teradyne, Inc. Laser trimming of electrical components
US4941082A (en) * 1988-04-25 1990-07-10 Electro Scientific Industries, Inc. Light beam positioning system
US4918284A (en) * 1988-10-14 1990-04-17 Teradyne Laser Systems, Inc. Calibrating laser trimming apparatus
US4930901A (en) * 1988-12-23 1990-06-05 Electro Scientific Industries, Inc. Method of and apparatus for modulating a laser beam
US4884178A (en) * 1989-03-13 1989-11-28 Roberts James R Indirect lighting fixture
US4939376A (en) * 1989-04-14 1990-07-03 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Light collection device for flame emission detectors
US5057664A (en) * 1989-10-20 1991-10-15 Electro Scientific Industries, Inc. Method and apparatus for laser processing a target material to provide a uniformly smooth, continuous trim profile
US5265170A (en) * 1990-01-11 1993-11-23 Hine Design, Inc. Devices and methods for reading identification marks on semiconductor wafers
US5231536A (en) * 1992-05-01 1993-07-27 Xrl, Inc. Robust, LED illumination system for OCR of indicia on a substrate
US5469294A (en) * 1992-05-01 1995-11-21 Xrl, Inc. Illumination system for OCR of indicia on a substrate

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