JP3894903B2 - 射出成形機の型締制御方法 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、所定の監視区間における負荷トルクが、設定したトルク制限値を越えないようにトルク制御を行う射出成形機の型締制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、サーボモータとボールねじ機構を有する駆動部を備え、この駆動部の進退運動を、トグルリンク機構を介して可動盤に伝達する射出成形機の型締装置において、可動盤を型閉方向へ移動させた際における可動型と固定型間に挟まった異物（成形品等）を検出する異物検出方法としては、既に、本出願人が提案した特開２００２−１７２６７０号公報で開示される射出成形機の異物検出方法が知られている。
【０００３】
同公報で開示される異物検出方法は、型締工程における監視区間の型閉動作に伴う物理量を検出するとともに、当該物理量の検出値と予め設定した設定値との偏差が予め設定した閾値以上になったなら異物検出処理を行う方法であって、特に、予め試型締を行うことにより当該偏差の最大値を検出し、この最大値を予め設定した基準値に加算することにより閾値を設定するものである。
【特許文献１】
特開２００２−１７２６７０号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した異物検出方法（型締制御方法）では、可動型と固定型間に異物が挟まった場合、型閉動作に伴う物理量が正常に検出されなくなり、サーボ制御系では、サーボモータのトルクが急激に増加するフィードバック制御が行われことになる。したがって、トルクを制限しない場合には、金型に無理な加圧力が付加されてしまう。このため、異物検出を行う監視区間では、サーボ回路にトルク制限信号を付与することにより、予め設定したトルク制限値となるようにトルク出力を制限している。
【０００５】
一方、トルク制限値は、低く設定しすぎた場合、サーボモータの駆動力が抑制され、回転速度が低下するなどの動作の不安定化を招き、誤検出の原因にもなる。このため、トルク制限値は、通常、成形品や成形条件等を考慮して、ユーザ（オペレータ）自身が所望の値に設定している。
【０００６】
しかし、各種の要因を考慮しなければならないトルク制限値の設定は、ユーザにとって容易でないとともに、特に、ユーザは金型の保護を重視する観点から、トルク制限値を低めに設定する傾向があり、動作の不安定化、更には誤検出が発生し易くなるなどの解決すべき課題が存在した。
【０００７】
本発明は、このような従来の技術に存在する課題を解決したものであり、特に、的確なトルク制限値を自動で設定し、動作の安定化、更には誤検出の発生防止を図ることにより、型締制御に対する高度の安定性及び信頼性を確保できるようにした射出成形機の型締制御方法の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段及び実施の形態】
本発明は、型締工程の型閉動作に対して設定した所定の監視区間における負荷トルクを検出するとともに、検出により得たトルク検出値Ｔｄが、設定したトルク制限値Ｔｕに達したなら、このトルク制限値Ｔｕを越えないようにトルク制御を行う射出成形機１の型締制御方法において、自動設定モードを設け、この自動設定モードにより、監視区間におけるトルク検出値Ｔｄを、予め設定したサンプリング周期Δｔｓにより順次検出し、かつ予め設定したショット回数Ｎ分だけ検出するとともに、得られたトルク検出値Ｔｄ…から各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…に対する平均値Ａｉ及び前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値Ａｗを求め、この平均値Ａｉと最大値Ａｗから、又は、得られたトルク検出値Ｔｄ…から各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…に対する最小値Ａｓ及び前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値Ａｗを求めるとともに、この最小値Ａｓと最大値Ａｗから中央値Ａｊを求め、この中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各サンプリング順位毎のトルク制限値Ｔｕ…を、所定の演算式により求めて自動設定するようにしたことを特徴とする。
【０００９】
この場合、好適な実施の態様により、平均値Ａｉと最大値Ａｗから、各トルク検出値Ｔｕを、Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｉ）×ｋｐ｝＋Ａｉ〕＋ｋｑ（ただし、ｋｐ，ｋｑは定数）の演算式により求め、或いは中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各閾値Ｄｉを、Ｄｉ＝〔｛（Ａｗ−Ａｊ）×ｋｐ｝＋Ａｊ〕＋ｋｑの演算式により求めることができる。また、トルク制限値Ｔｕを設定した後、ショット回数が設定数Ｍ（０を含む）に達する毎に、自動設定モードを実行してトルク制限値Ｔｕを更新することができる。
【００１０】
【実施例】
次に、本発明に係る好適な実施例を挙げ、図面に基づき詳細に説明する。
【００１１】
まず、本実施例に係る型締制御方法を実施できる射出成形機１の概略構成について、図４及び図５を参照して説明する。
【００１２】
図４に示す射出成形機１は、型締装置１ｃと仮想線で示す射出装置１ｉを備える。型締装置１ｃは離間して配した固定盤３ｃと駆動盤３ｒを備え、この固定盤３ｃと駆動盤３ｒは不図示の機台上に固定されている。また、固定盤３ｃと駆動盤３ｒ間には、四本のタイバー４…を架設し、このタイバー４…に可動盤３ｍをスライド自在に装填する。そして、この可動盤３ｍには可動型Ｃｍを取付けるとともに、固定盤３ｃには固定型Ｃｃを取付ける。この可動型Ｃｍと固定型Ｃｃは金型Ｃを構成する。
【００１３】
一方、駆動盤３ｒと可動盤３ｍ間には駆動機構部５を配設する。この駆動機構部５は、駆動盤３ｒに取付けたサーボモータ２と、この駆動盤３ｒに回動自在に支持されたボールねじ部６ｓ及びこのボールねじ部６ｓに螺合するナット部６ｎからなるボールねじ機構６と、サーボモータ２の回転をボールねじ部６ｓに伝達する回転伝達機構７からなる駆動部８を備えるとともに、駆動盤３ｒと可動盤３ｍ間に取付けたトグルリンク機構９を備える。トグルリンク機構９は、複数のトグルリンクメンバ９ｒ…の組合わせにより構成し、入力部となるクロスヘッド９ｈはナット部６ｎに固定する。これにより、ナット部６ｎの進退運動は、トグルリンク機構９を介して可動盤３ｍに伝達される。なお、１０はエジェクタ機構を示す。
【００１４】
他方、Ｓは制御系を示す。制御系Ｓにおいて、１１はサーボ回路であり、このサーボ回路１１にはサーボモータ２及びこのサーボモータ２に付設したロータリエンコーダ１２を接続する。また、サーボ回路１１には、シーケンスコントローラ１３を接続するとともに、このシーケンスコントローラ１３には、メモリ１４及びタッチパネルを付設したディスプレイ１５を接続する。
【００１５】
図５には、サーボ回路１１の具体的構成を示す。サーボ回路１１は、偏差演算部２１，２２、加算器２３、位置ループゲイン設定部２４、フィードフォワードゲイン設定部２５、加減速時間設定部２６、速度変換器２７、速度ループゲイン設定部２８、ドライバ２９、トルク比較処理部３０、トルク微分器３１、トルク微分比較処理部３２をそれぞれ備え、同図に示す系統によりサーボ制御系を構成する。なお、各部の機能（動作）は後述する型締装置１ｃの全体動作により説明する。
【００１６】
次に、本実施例に係る型締制御方法を含む型締装置１ｃの全体動作について、図１〜図８を参照して説明する。
【００１７】
まず、本実施例に係る型締制御方法に用いるトルク制限値Ｔｕの設定方法について、図１に示すフローチャートを参照して説明する。
【００１８】
本実施例に係る型締制御方法を実行するに際しては、ディスプレイ１５に表示される機能キーにより、自動設定モードを選択する。これにより、トルク制限は解除状態となり、トルク制限値Ｔｕの初期設定が実行される（ステップＳ１）。この初期設定は、通常、試成形により行うことができる。今、可動盤３ｍは型開位置にあるものとする。試成形の開始によりサーボモータ２が作動し、可動盤３ｍは型開位置から前進移動する（ステップＳ２）。この場合、最初は可動盤３ｍが型閉方向へ高速で前進移動する高速型閉が行われる。この際、サーボ回路１１により可動盤３ｍに対する速度制御及び位置制御が行われる。即ち、シーケンスコントローラ１３からサーボ回路１１の偏差演算部２１に対して位置指令値が付与され、ロータリエンコーダ１２の検出パルスに基づいて得られる位置検出値と比較される。これにより、位置偏差分が得られるため、この位置偏差分に基づいて位置のフィードバック制御が行われる。なお、位置偏差分は、位置ループゲイン設定部２４，フィードフォワードゲイン設定部２５及び加減速時間設定部２６により補償される。また、加減速時間設定部２６の出力は、偏差演算部２２に付与され、速度変換器２７の出力と比較される。これにより、速度偏差分が得られるため、この速度偏差分に基づいて速度のフィードバック制御が行われる。なお、速度偏差分は、速度ループゲイン設定部２８により補償される。
【００１９】
そして、可動盤３ｍが型閉方向へ前進移動し、予め設定したサンプリング区間（＝監視区間）の開始点に達すれば、設定したサンプリング周期Δｔｓ毎に、負荷トルク（トルク検出値Ｔｄ）の検出を行う（ステップＳ３，Ｓ４）。この場合、サンプリング区間は、低圧型締（低速型閉）開始点から高圧型締開始点までの間を設定できる。これらの開始点は、位置により設定してもよいし時間により設定してもよい。なお、サンプリング周期Δｔｓは、一例として、２．５〔ｍｓ〕に設定することができる。これにより、サンプリング区間の時間を８秒間と想定すれば、全サンプリング回数は３２００回となる。
【００２０】
また、トルク検出値Ｔｄ（負荷トルク）は、速度ループゲイン設定部２８から出力する速度制御信号Ｓｃを取込むことにより検出する。即ち、速度制御信号Ｓｃの大きさは、負荷トルクの大きさに対応するため、速度制御信号Ｓｃの電圧値をトルク検出値Ｔｄとして用いる。そして、サンプリング周期Δｔｓ毎に検出されるトルク検出値Ｔｄは、シーケンスコントローラ１３を介してメモリ１４のデータエリアに書き込まれる（ステップＳ５）。このようなトルク検出値Ｔｄの検出処理は、サンプリング区間が終了するまで、サンプリング周期Δｔｓ毎に順次実行される（ステップＳ６，Ｓ４…）。
【００２１】
さらに、一回目のショット（成形サイクル）が終了したなら、次のショットを行い、同様にトルク検出値Ｔｄの検出を行うとともに、トルク検出値Ｔｄに対する同様の検出を、予め設定したショット回数Ｎ分だけ行う（ステップＳ７，Ｓ２…）。図７は、メモリ１４のデータエリアに書き込まれたトルク検出値Ｔｄ…を一覧表で示す。実施例は、ショット回数Ｎを「１０」に設定し、かつ一回のショットにおいて、ｔ０，ｔ１…ｔｎの順位でサンプリングを行った例を示す。
【００２２】
一方、ショット回数Ｎ分の検出が終了したなら、得られたトルク検出値Ｔｄ…から、各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…に対する平均値Ａｉを算出する（ステップＳ８）。図７における、例えば、サンプリング順位ｔ１でのトルク検出値Ｔｄ…（１０回分）の平均値Ａｉは、「１．１７」であることを示している。また、各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…から最大値Ａｗを選出する（ステップＳ８）。図７における、例えば、サンプリング順位ｔ１での最大値Ａｗは、「１．２８」であることを示している。
【００２３】
この場合、最大値Ａｗは、前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値を選出する。この理由について図８を参照して説明する。今、最大値を同一サンプリング順位の中から選出したとすれば、各トルク制限値Ｔｕ…を時系列的にグラフ化したトルク制限値データは、図８に示すＴｕｒのように変化し、このトルク制限値データＴｕｒは、同図に示すトルク検出値データＴｄｄの変化に対して上側にオフセットする点を除いて同じ傾向で変化する。なお、このトルク検出値データＴｄｄは、各トルク検出値Ｔｄ…を時系列的にグラフ化したものである。しかし、このトルク検出値データＴｄｄは、必ずしもトルク制限値データＴｕｒに同期して検出されるものではなく、時間的な遅れが生じるなど時間軸方向Ｆｔにバラツキを生じる。この結果、トルク検出値データＴｄｄが時間軸方向Ｆｔにおいてトルク制限値データＴｕｒに達してしまう事態も発生し、本来制限しなくてもよい大きさのトルクに対してもトルク制限を実行してしまう誤制御を生じることになる。
【００２４】
そこで、最大値Ａｗを、前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値を選択し、図８に示すトルク制限値データＴｕｓのように、トルク制限値データＴｕｒのピーク値を時間軸方向Ｆｔへ所定の時間幅だけ広げることにより、この問題を回避した。この場合、広げる範囲（所定の範囲）は、「１，２，３，４…」の数値を選択することにより任意に設定できる。即ち、「１」は、前後に一回分のサンプリング順位を広げることを意味し、「１」を選択した場合、所定の範囲は、三回分のサンプリング順位、具体的には、サンプリング順位ｔ１の場合、ｔ０，ｔ１，ｔ２の三回分のサンプリング順位の中から最も大きい最大値Ａｗを選択することになる。同様に、「２」は、前後に二回分のサンプリング順位を広げることになり、所定の範囲は、五回分のサンプリング順位を含むことになる。なお、図７におけるサンプリング順位ｔ１の最大値Ａｗは、サンプリング順位ｔ２の最大値（不図示）を用いた例である。
【００２５】
そして、得られた平均値Ａｉと最大値Ａｗから、各サンプリング順位毎のトルク制限値Ｔｕを、
Ｔｕ＝Ｑｉ＋ｋｑ
＝〔｛（Ａｗ−Ａｉ）×ｋｐ｝＋Ａｉ〕＋ｋｑ
（ただし、ｋｐ，ｋｑは定数）
の演算式により求める（ステップＳ９）。この場合、Ｑｉは基準値であり、定数ｋｑは、この基準値Ｑｉに対して所定の余裕度（オフセット）を設定するための定数となる。また、定数ｋｐは、通常、「１〜２」の間の任意数に設定することができる。
【００２６】
なお、平均値Ａｉの代わりに中央値Ａｊを用いることもできる。即ち、各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…に対する最小値Ａｓと最大値Ａｗを求め、この最小値Ａｓと最大値Ａｗから中央値Ａｊを、Ａｊ＝（Ａｗ−Ａｓ）／２の演算式により求めるとともに、この中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各トルク制限値Ｔｕを、
Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｊ）×ｋｐ｝＋Ａｊ〕＋ｋｑ
（ただし、ｋｐ，ｋｑは定数）
の演算式により求めることもできる。この定数ｋｐ，ｋｑは、前述した定数ｋｐ，ｋｑと同一値であってもよいし、必要に応じて異ならせてもよい。
【００２７】
また、得られたトルク制限値Ｔｕは、メモリ１４に自動設定されるとともに、さらに、図６に示すディスプレイ１５のデータ表示部１５ｓに表示される（ステップＳ１０）。同図に示すＴｕｓは、このようにして設定した各トルク制限値Ｔｕ…をグラフ化したトルク制限値データである。以上のトルク制限値Ｔｕ…（トルク制限値データＴｕｓ）を求める一連の処理は、全てシーケンス動作により自動で実行される。
【００２８】
他方、トルク制限値Ｔｕの初期設定と同時に、型締工程の監視区間において行う異物検出のための閾値Ｄｉの設定が行われる。この場合、サンプリング周期Δｔｓ毎に検出されたトルク検出値Ｔｄは、トルク微分器３１により微分され、微分検出値Ｄｄに変換される。そして、この微分検出値Ｄｄは、シーケンスコントローラ１３を介してメモリ１４のデータエリアに書き込まれる。このような微分検出値Ｄｄの検出処理は、サンプリング区間が終了するまで、サンプリング周期Δｔｓ毎に順次実行されるとともに、予め設定したショット回数Ｎ分だけ行われる。
【００２９】
一方、ショット回数Ｎ分の全ての検出が終了したなら、得られた微分検出値Ｄｄ…から、各ショットにおける同一サンプリング順位の微分検出値Ｄｄ…に対する平均値Ｘｉを算出するとともに、各ショットにおける同一サンプリング順位の微分検出値Ｄｄ…から最大値Ｘｗを選出する。この場合、前述したトルク制限値Ｔｕの初期設定の場合と同様に、最大値Ｘｗは、前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値を選出する。
【００３０】
そして、得られた平均値Ｘｉと最大値Ｘｗから、各サンプリング順位毎の閾値Ｄｉを、
Ｄｉ＝Ｐｉ＋ｋｂ
＝〔｛（Ｘｗ−Ｘｉ）×ｋａ｝＋Ｘｉ〕＋ｋｂ
（ただし、ｋａ，ｋｂは定数）
の演算式により求める。この場合、Ｐｉは基準値であり、定数ｋｂは、この基準値Ｐｉに対して所定の余裕度（オフセット）を設定するための定数となる。また、定数ｋａは、通常、「１〜２」の間の任意数に設定される。
【００３１】
なお、各ショットにおける同一サンプリング順位の微分検出値Ｄｄ…に対する最小値Ｘｓと最大値Ｘｗを求め、この最小値Ｘｓと最大値Ｘｗから中央値Ｘｊを、Ｘｊ＝（Ｘｗ−Ｘｓ）／２の演算式により求めるとともに、この中央値Ｘｊと最大値Ｘｗから、各閾値Ｄｉを、
Ｄｉ＝〔｛（Ｘｗ−Ｘｊ）×ｋａ｝＋Ｘｊ〕＋ｋｂ
（ただし、ｋａ，ｋｂは定数）
の演算式により求めることもできる。この定数ｋａ，ｋｂは、前述した定数ｋａ，ｋｂと同一値であってもよいし、必要に応じて異ならせてもよい。
【００３２】
また、得られた閾値Ｄｉは、メモリ１４に設定されるとともに、さらに、図６に示すディスプレイ１５のデータ表示部１５ｓに表示される。同図に示すＤｉｓは、このようにして設定した各閾値Ｄｉ…をグラフ化した閾値データである。以上の閾値Ｄｉ…（閾値データＤｉｓ）を求める一連の処理は、全てシーケンス動作により自動で実行される。
【００３３】
次に、生産稼働時における全体の動作について、図２に示すフローチャートを参照して説明する。
【００３４】
今、型締装置１ｃの可動盤３ｍは型開位置にあるものとする。型締工程では、まず、サーボモータ２が作動し、可動盤３ｍは型開位置から前進移動する（ステップＳ２１）。この場合、最初は可動盤３ｍが型閉方向へ高速で前進移動する高速型閉が行われる。この際、サーボ回路１１により可動盤３ｍに対する速度制御及び位置制御が行われる点は前述した閾値Ｄｉを初期設定する場合と同じである。そして、可動盤３ｍが型閉方向へ移動し、予め設定した監視区間に達すれば、前述したサンプリング周期Δｔｓ毎に負荷トルクの検出を行う（ステップＳ２２，Ｓ２３）。この監視区間は、前述したサンプリング区間と同じである。
【００３５】
また、負荷トルクの検出は、前述したトルク制限値Ｔｕを初期設定する場合と同様に、速度ループゲイン設定部２８から出力する速度制御信号Ｓｃを取込むことにより行う。これにより、サンプリング周期Δｔｓ毎に検出されたトルク検出値Ｔｄは、トルク微分器３１に付与され、このトルク微分器３１により微分されるとともに、微分後の微分検出値Ｄｄは、トルク微分比較処理部３２に付与される。他方、トルク微分比較処理部３２には、シーケンスコントローラ１３から、微分検出値Ｄｄと同じサンプリング順位の閾値Ｄｉが付与され、このトルク微分比較処理部３２により、同じサンプリング順位の閾値Ｄｉと微分検出値Ｄｄが比較処理される。
【００３６】
今、可動型Ｃｍと固定型Ｃｃ間に異物が挟まった状態を想定する。この場合、異物を挟んだ時点で負荷トルクが急上昇するため、速度制御信号Ｓｃの大きさも急激に大きくなる。したがって、トルク微分器３１から得られる微分検出値Ｄｄも急激に大きくなり、偏差データＤｉｓを越えるため、トルク微分比較処理部３２は、異物が挟まったものとして検出し、サーボ回路１１からシーケンスコントローラ１３に異物検出信号Ｓｅを付与する。これにより、シーケンスコントローラ１３は、サーボモータ２の後退動作及び警報の発生等の所定の異常処理（異物検出処理）を行う。一方、異物が挟まることなく正常な動作を継続すれば、検出値データＤｄｄが閾値データＤｉｓを越えることが無いため、設定したサンプリング期間Δｔｓ毎に、微分検出値Ｄｄの検出処理がそのまま繰り返される。
【００３７】
他方、サンプリング周期Δｔｓ毎に検出されたトルク検出値Ｔｄは、トルク比較処理部３０に付与される。トルク比較処理部３０には、シーケンスコントローラ１３から、当該トルク検出値Ｔｄと同じサンプリング順位のトルク制限値Ｔｕが付与されており、このトルク比較処理部３０において、同じサンプリング順位におけるトルク制限値Ｔｕとトルク検出値Ｔｄが比較処理される（ステップＳ２４）。そして、トルク検出値Ｔｄが増加し、トルク制限値Ｔｕに達した場合には、トルク制限値Ｔｕを越えないように、シーケンスコントローラ１３及びサーボ回路１１によるトルク制御（トルク制限処理）が行われる（ステップＳ２５，Ｓ２６）。なお、図６に示すＴｄｄは、各トルク検出値Ｔｄ…をグラフ化したトルク検出値データである。
【００３８】
そして、監視区間の終了により、可動盤３ｍが低圧型締の終了する低圧終了位置、即ち、高圧型締開始位置に達すれば、高圧制御による高圧型締が行われ、さらに、所定の成形動作が終了すれば、型開きが行われる（ステップＳ２７，Ｓ２８）。なお、図６に示すＤｄｄは、各微分検出値Ｄｄ…をグラフ化した検出値データである。
【００３９】
次に、トルク制限値データＴｕｓの更新方法について、図３に示すフローチャートを参照して説明する。
【００４０】
本実施例では、ショット回数が予め設定した設定数Ｍに達する毎に、前述した自動設定モードを実行、即ち、図１に示したフローチャートに基づく処理を実行し、トルク制限値データＴｕｓを定期的に自動更新するようにした。なお、設定数Ｍは、一例として「１００」を設定することができる。この場合、異常（異物検出）が発生しない限り、生産を継続した状態で自動設定モードを実行し、トルク制限値データＴｕｓの更新を行うことができる。図３において、ステップＳ３１は、図１のフローチャートによる初期設定処理を示す。トルク制限値Ｔｕ（トルク制限値データＴｕｓ）が初期設定されることにより、このトルク制限値Ｔｕ（トルク制限値データＴｕｓ）を用いた成形処理が行われる（ステップＳ３２）。そして、ショット数が予め設定した設定数Ｍに達したなら、トルク検出値Ｔｄ（トルク検出値データＴｄｄ）の検出処理を行う（ステップＳ３３，Ｓ３４）。この場合、図１に示すフローチャートに従ってトルク検出値Ｔｄの取込みをショット回数Ｎ分だけ行う。一方、ショット回数Ｎ分が終了したなら、新たなトルク制限値データＴｕｓを求めることにより自動更新を行う（ステップＳ３５，Ｓ３６）。
【００４１】
トルク制限値Ｔｕ（トルク制限値データＴｕｓ）が更新されることにより、更新されたトルク制限値Ｔｕ（トルク制限値データＴｕｓ）を用いた成形処理が同様に継続して行われる（ステップＳ３７）。以後、生産計画による生産が終了するまで同様の更新処理を繰り返して行う。即ち、ショット数が設定数Ｍに達したなら、初期設定の場合と同様に、トルク検出値Ｔｄの検出処理を行うとともに、図１に示すフローチャートに従ってトルク検出値Ｔｄの取込みをショット回数Ｎ分だけ行い、この後、新たなトルク制限値データＴｕｓを求めることにより更新を行う（ステップＳ３８，Ｓ３９，Ｓ３４…）。
【００４２】
よって、このような本実施例に係る型締制御方法によれば、自動設定モードを設け、この自動設定モードにより、監視区間における負荷トルク（トルク検出値Ｔｄ）を、予め設定したサンプリング周期Δｔｓにより順次検出し、かつ予め設定したショット回数Ｎ分だけ検出するとともに、得られたトルク検出値Ｔｄ…から、各サンプリング順位毎のトルク制限値Ｔｕ…を、所定の演算式により求めて設定するようにしたため、的確なトルク制限値Ｔｕを自動で設定し、動作の安定化、更には誤検出の発生防止を図ることにより、型締制御に対する高度の安定性及び信頼性を確保できる。特に、各トルク制限値Ｔｕは、各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…に対する平均値Ａｉと最大値Ａｗを求め、この平均値Ａｉと最大値Ａｗから、Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｉ）×ｋｐ｝＋Ａｉ〕＋ｋｑの演算式により求め、或いは各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値Ｔｄ…に対する最小値Ａｓと最大値Ａｗを求め、この最小値Ａｓと最大値Ａｗから中央値Ａｊを、Ａｊ＝（Ａｗ−Ａｓ）／２により求めるとともに、この中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各閾値Ｄｉを、Ｄｉ＝〔｛（Ａｗ−Ａｊ）×ｋｐ｝＋Ａｊ〕＋ｋｑの演算式により求めるようにしたため、的確なトルク制限値Ｔｕを確実かつ安定して求めることができる。
【００４３】
また、最大値Ａｗを選定するに際して、前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値を用いるようにしたため、時間軸方向Ｆｔのバラツキに対しても所定の余裕度を設定することができ、時間軸方向Ｆｔにおけるバラツキによる誤検出を回避することができる。さらに、トルク制限値Ｔｕを設定した後、ショット回数が設定数Ｍに達する毎に、自動設定モードを実行してトルク制限値Ｔｕを更新するようにしたため、特に、昼夜の温度変化等により、時間帯によって負荷トルクの大きさが変動する場合であっても、誤ったトルク制限を確実に回避することができる。
【００４４】
以上、実施例について詳細に説明したが、本発明はこのような実施例に限定されるものではなく、細部の構成，手法等において、本発明の要旨を逸脱しない範囲で任意に変更，追加，削除することができる。例えば、演算式は、必要により他の演算式を用いてもよく、例示の演算式に限定されるものではない。また、実施例は、駆動機構部５にトグルリンク機構９を用いた場合を示したが、トグルリンク機構を用いない直圧形式の駆動機構部にも同様に利用することができる。
【００４５】
【発明の効果】
このように、本発明に係る射出成形機の型締制御方法は、自動設定モードを設け、この自動設定モードにより、監視区間におけるトルク検出値を、予め設定したサンプリング周期により順次検出し、かつ予め設定したショット回数分だけ検出するとともに、得られたトルク検出値から各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値に対する平均値Ａｉ及び前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値Ａｗを求め、この平均値Ａｉと最大値Ａｗから、又は、得られたトルク検出値から各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値に対する最小値Ａｓ及び前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値Ａｗを求めるとともに、この最小値Ａｓと最大値Ａｗから中央値Ａｊを求め、この中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各サンプリング順位毎のトルク制限値を、所定の演算式により求めて自動設定するようにしたため、次のような顕著な効果を奏する。
【００４６】
（１） 的確なトルク制限値を自動で設定し、動作の安定化、更には誤検出の発生防止を図ることにより、型締制御に対する高度の安定性及び信頼性を確保することができる。
【００４７】
（２） 各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値に対する平均値Ａｉと最大値Ａｗを求め、この平均値Ａｉと最大値Ａｗから、各トルク制限値Ｔｕを、例えば、Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｉ）×ｋｐ｝＋Ａｉ〕＋ｋｑの演算式により求め、或いは平均値Ａｉの代わりに中央値Ａｊを求め、この中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各トルク制限値Ｔｕを、例えば、Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｊ）×ｋｐ｝＋Ａｊ〕＋ｋｑの演算式により求めるようにしたため、的確なトルク制限値Ｔｕを確実かつ安定して得ることができる。
【００４８】
（３） 最大値Ａｗを選定するに際して、前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値を用いるようにしたため、特に時間軸方向のバラツキによる誤検出を回避することができる。
【００４９】
（４） 好適な実施の態様により、トルク制限値を設定した後、ショット回数が設定数に達する毎に、自動設定モードを実行してトルク制限値を更新するようにすれば、特に昼夜の温度変化等により、時間帯によって負荷トルクの大きさが変動する場合であっても、誤ったトルク制限を確実に回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の好適な実施例に係る型締制御方法に用いるトルク制限値の設定方法を示すフローチャート、
【図２】同型締制御方法を含む生産稼働時における全体の動作を説明するためのフローチャート、
【図３】同型締制御方法に用いるトルク制限値データの更新方法を説明するためのフローチャート、
【図４】同型締制御方法を実施できる射出成形機の構成図、
【図５】同射出成形機におけるサーボ回路の構成図、
【図６】同型締制御方法を実施する際におけるディスプレイの画面構成図、
【図７】同型締制御方法により検出したトルク検出値の一覧表、
【図８】同型締制御方法を用いた際における最大値の選出方法説明図、
【符号の説明】
１ 射出成形機
Ｔｄ トルク検出値
Ｔｕ トルク制限値
Δｔｓ サンプリング周期

Claims (4)

1. 型締工程の型閉動作に対して設定した所定の監視区間における負荷トルクを検出するとともに、検出により得たトルク検出値が、設定したトルク制限値に達したなら、このトルク制限値を越えないようにトルク制御を行う射出成形機の型締制御方法において、自動設定モードを設け、この自動設定モードにより、前記監視区間におけるトルク検出値を、予め設定したサンプリング周期により順次検出し、かつ予め設定したショット回数分だけ検出するとともに、得られたトルク検出値から各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値に対する平均値Ａｉ及び前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値Ａｗを求め、この平均値Ａｉと最大値Ａｗから、又は、得られたトルク検出値から各ショットにおける同一サンプリング順位のトルク検出値に対する最小値Ａｓ及び前後のサンプリング順位に対して設定した所定の範囲における複数のサンプリング順位の中の最も大きい最大値Ａｗを求めるとともに、この最小値Ａｓと最大値Ａｗから中央値Ａｊを求め、この中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各サンプリング順位毎のトルク制限値を、所定の演算式により求めて自動設定することを特徴とする射出成形機の型締制御方法。
2. 前記平均値Ａｉと最大値Ａｗから、各トルク制限値Ｔｕを、
   Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｉ）×ｋｐ｝＋Ａｉ〕＋ｋｑ
   （ただし、ｋｐ，ｋｑは定数）
   の演算式により求めることを特徴とする請求項１記載の射出成形機の型締制御方法。
3. 前記中央値Ａｊと最大値Ａｗから、各トルク制限値Ｔｕを、
   Ｔｕ＝〔｛（Ａｗ−Ａｊ）×ｋｐ｝＋Ａｊ〕＋ｋｑ
   （ただし、ｋｐ，ｋｑは定数）
   の演算式により求めることを特徴とする請求項１記載の射出成形機の型締制御方法。
4. 前記トルク制限値を設定した後、ショット回数が設定数（０を含む）に達する毎に、前記自動設定モードを実行して前記トルク制限値を更新することを特徴とする請求項１記載の射出成形機の型締制御方法。

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