JP3865674B2 - Optical switch test equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の入力ポートと出力ポートを有し、その入力ポートと出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する光スイッチの試験を効率的に行なうための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、光信号を光のまま経路変更する中継装置である光クロスコネクトには、複数の入力ポートと出力ポートを有する光スイッチが用いられる。
【0003】
この種の光スイッチを試験する場合に、従来では、入力ポートの一つに光を入射し、その入力ポートに接続されているはずの出力ポートに光パワー計を接続して、その出力ポートから所定以上のパワーの光が出射されていることを確認するという作業を、全ての接続パターンおよび全ての入力ポートについて行なっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光スイッチに要求される入力ポートと出力ポートの数は年々増大(例えば100以上)しており、このような多ポート型の光スイッチの試験を上記のように1ポート毎に行なっていたのでは、膨大な試験時間を要する。
【0005】
これを解決するために、波長の異なる複数の光を被試験光スイッチの複数の入力ポートにそれぞれ同時に与え、被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される各光の波長とパワーを並列に検出する方法が考えられる。
【0006】
さらに被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される各光の波長とパワーを並列に検出するため方法としては、各出力ポート毎にパワー検出手段と波長検出手段とをそれぞれ設けるか、あるいは、複数の出力ポートから出射される各光を波長合波器で合波し、その合波光を光スペクトラムアナライザに入射し、各波長毎のパワーを検出する方法が考えられる。
【0007】
しかし、各出力ポート毎に波長とパワーと検出する手段をそれぞれ設ける方法では、装置の構成が膨大化して、実現が困難である。
【0008】
また、複数の出力ポートから出射される各光を波長合波器で合波し、その合波光のスペクトラムを解析する方法は、一見可能に思えるが、一般的に波長合波器は、予め決められた波長の光がその波長に対応する入力ポートに正しく入射されていないと合波処理を正常に行なえないので、被試験光スイッチの接続パターンの切り換えに全く対応できない。
【0009】
本発明は、この問題を解決し、多ポート型の光スイッチの試験を短時間に行なえる光スイッチ試験装置を提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の請求項1の光スイッチ試験装置は、
複数の入力ポート(11)と複数の出力ポート(12)を有し、該複数の入力ポートと複数の出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する多ポート型の光スイッチ(10)を試験するための光スイッチ試験装置において、
波長が異なる複数の光を並列に出射する多波長光源(21)と、
複数の入力ポート(26)と複数の出力ポート(27)を有し、前記多波長光源から並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射し、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートに入射させる光スイッチ(25)と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート(31)を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される光を受ける波長合波部(30)と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段(40a)と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部(35)と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段(40b)とを備えている。
【0011】
また、本発明の請求項2の光スイッチ試験装置は、
複数の入力ポート(11)と複数の出力ポート(12)を有し、該複数の入力ポートと複数の出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する多ポート型の光スイッチ(10)を試験するための光スイッチ試験装置において、
波長が異なる複数の光を並列に出射して、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートにそれぞれ入射させる多波長光源(21)と、
複数の入力ポート(26)と複数の出力ポート(27)を有し、前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射する光スイッチ(25)と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート(31)を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記光スイッチの複数の出力ポートから出射される光をそれぞれ受ける波長合波部(30)と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段(40a)と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部(35)と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段(40b)とを備えている。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明を適用した光スイッチ試験装置20の構成を示している。
【0013】
この光スイッチ試験装置20は、多波長光源21、光スイッチ25、波長合波部30、スペクトラム解析部35および制御部40によって構成されている。
【0014】
多波長光源21は、異なる波長λ(1)〜λ(n)の複数の光を出力ポート22(1)〜22(n)から並列に出射するものである。
【0015】
この多波長光源21は、例えば、図2の(a)に示すように、モードロックレーザやスーパコンティニウム光源等からなり、異なる複数の波長λ(1)〜λ(n)の光を含む多数の波長の光を出射する多波長型レーザ光源21aと、多波長型レーザ光源21aが出射する光から、波長λ(1)〜λ(n)の光のみを抽出して、それぞれの波長に対応した出力ポート22(1)〜22(n)から並列に出射する波長分波部21bとで構成することができる。
【0016】
また、図2の(b)に示すように、半導体レーザアンプやファイバアンプ等からなり、波長λ(1)〜λ(n)を含む広帯域な光を出射する広帯域光源21cと、広帯域光源21cが出射する光から、波長λ(1)〜λ(n)の光成分を抽出して、それぞれの波長に対応した出力ポート22(1)〜22(n)から並列に出射する波長分波部21bとで構成することができる。
【0017】
なお、波長分波部21bは、AWG(アレー導波路型回折格子)のみ、あるいはAWGと、その各出力ポート毎に挿入され波長λ(1)〜λ(n)に対応する波長のみを選択的に通過させるフィルタとを組み合わせて構成することができる。
【0018】
多波長光源21の各出力ポート22(1)〜22(n)は、光スイッチ25の各入力ポート26(1)〜26(n)にそれぞれファイバ接続されている。
【0019】
光スイッチ25は、複数の入力ポート26(1)〜26(n)と複数の出力ポート27(1)〜27(n)とを有し、多波長光源21から並列に出射された複数の光を複数の入力ポート26(1)〜26(n)でそれぞれ受け、制御部40から指定された接続パターンにしたがって複数の出力ポート27(1)〜27(n)からそれぞれ出射する。
【0020】
光スイッチ25の各出力ポート27(1)〜27(n)のうちの出力ポート27(1)〜27(m)は、被試験光スイッチ10の入力ポート11(1)〜11(m)にそれぞれファイバ接続され、被試験光スイッチ10の出力ポート12(1)〜12(m)は、波長合波部30の入力ポート31(1)〜31(n)のうちの入力ポート31(1)〜31(m)にそれぞれファイバ接続されている。
【0021】
なお、図1では、被試験光スイッチ10の入出力ポート数mを多波長光源21が出射する光の波長数nより少ない場合で説明しているが、m=nの場合であってもよい。
【0022】
波長合波部30は、例えば前記したAWGによって構成されており、その入力ポート31(1)〜31(n)は、多波長光源21が出射する各光の波長λ(1)〜λ(n)毎にそれぞれ専用化され、決められた波長の光が決められた入力ポートに入力されたときに、それらの光を正しく合波し、その合波光Hを出射する。
【0023】
スペクトラム解析部35は、波長合波部30から出射される合波光Hのスペクトラムを解析し、被試験光スイッチ10に入射される光の各波長λ(1)〜λ(m)についての各パワーP(1)〜P(m)を検出し、これを解析結果として制御部40へ出力する。
【0024】
制御部40は、接続パターン制御手段40aと特性取得手段40bとを有し、図示しない操作部等からの試験に必要な情報(被試験光スイッチ10のポート数や試験項目等)と試験の開始を指示する情報を受けて、被試験光スイッチ10および光スイッチ25の接続パターンを順次切り換えながら、スペクトラム解析部35の解析結果を受け、接続パターンと解析結果とに基づいて被試験光スイッチ10の入出力ポート間の特性を求める。
【0025】
接続パターン制御手段40aは、被試験光スイッチ10の入出力接続パターンを任意に指定するとともに、その指定した接続パターンに対して、被試験光スイッチ10の複数の出力ポート12(1)〜12(m)から出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した波長合波部30の各入力ポート31(1)〜31(m)に正しく入射されるように光スイッチ25の入出力接続パターンを指定する。
【0026】
特性取得手段40bは、スペクトラム解析部35の解析結果と、被試験光スイッチ10に指定した接続パターンとに基づいて、その被試験光スイッチ10の入出力ポート間の特性を求め、その特性あるいはその評価結果を図示しない表示器や他のシステム等に出力する。
【0027】
なお、制御部40には、光スイッチ25の入出力ポート間の各波長毎および接続パターン毎の損失、多波長光源21が出射する光の各波長毎のパワー、波長合波部30の各波長毎の合波損失等のデータが予め記憶されているものとする。
【0028】
図3は、指定された試験項目がポート間損失の場合の制御部40の処理手順を示すフローチャートである。
【0029】
以下、このフローチャートに基づいて、この光スイッチ試験装置20の動作を説明する。
【0030】
始めに、被試験光スイッチ10の入出力接続パターンを、例えば図4の(a)に示すように、1〜mの値iについて入力ポート11(i)と出力ポート12(i)とが1対1で接続されるパターンに初期化する(S1)。なお、図4および後述の図5で丸印が付してある交差位置の入出力ポートが接続される。
【0031】
また、上記の被試験光スイッチ10の入出力接続パターンに対して、波長合波部30の各入力ポート31(1)〜31(m)に波長λ(1)〜λ(m)の光がそれぞれ入射されるように、光スイッチ25の入出力接続パターンを図4の(b)に示すように、入力ポート26(i)と出力ポート26(i)とが1対1で接続されるようにする(S2)。ただし、余っている入力ポート26(m+1)〜26(n)は、それぞれ出力ポート27(m+1)〜26(n)に接続する。
【0032】
この接続パターンの設定により、図5に示すように、多波長光源21の出力ポート21(1)から出射される波長λ(1)の光が、光スイッチ25の入力ポート26(1)に入射され、出力ポート27(1)から出射されて、被試験光スイッチ10の入力ポート11(1)に入射され、出力ポート12(1)から出射されて、波長合波部30の入力ポート31(1)に入力される。
【0033】
同様に、2〜mの値jについて、多波長光源21の出力ポート22(j)から出射される波長λ(j)の光が、光スイッチ25の入力ポート26(j)に入射され、出力ポート27(j)から出射されて、被試験光スイッチ10の入力ポート11(j)に入射され、出力ポート12(j)から出射されて、波長合波部30の入力ポート31(j)に入射される。
【0034】
波長合波部30では、各入力ポート31(1)〜31(m)に入射される光を合波し、その合波光Hをスペクトラム解析部35に出射し、スペクトラム解析部35では、合波光Hのスペクトラム解析を行い、各波長λ(1)〜λ(m)の光のパワーP(1)〜P(m)を求め、これを解析結果として制御部40に出力する。
【0035】
制御部40は、被試験光スイッチ10に指定した接続パターンと、スペクトラム解析部35からの解析結果、および前記した光スイッチ25の損失データ、多波長光源21が出射する光の各波長のパワーデータ、波長合波部30の損失データに基づいて、被試験光スイッチ10の入出力ポート間の損失L(1,1)、L(2,2)、…、L(m,m)を求める(S3)。
【0036】
なお、ここで損失L(x,y)は、x番目の入力ポート11(x)とy番目の出力ポート12(y)との間の損失を表す。
【0037】
次に、被試験光スイッチ10の入出力接続パターンの全パターンについての試験が終了していないことを確認して、入出力接続パターンを、例えば図6の(a)に示すように、1〜mの値iについて入力ポート11(i)と出力ポート12(i+1)とが1対1で接続されるパターンに変更する(S4、S6)。ただし、m+1は1とする。
【0038】
そして、処理S2に戻り、変更された被試験光スイッチ10の接続パターンに対し、波長合波部30の各入力ポート31(1)〜31(m)に波長λ(1)〜λ(m)の光がそれぞれ入射されるように、光スイッチ25の入出力接続パターンを指定する。なお、上記図6の(a)の接続パターンに対しては、図6の(b)に示すように、被試験光スイッチ10の入出力接続パターンとは入出力の関係が逆になるように、入力ポート11(i+1)と出力ポート12(i)とが1対1で接続されるパターンに変更する。ただし、m+1は1とする。
【0039】
この接続パターンの変更設定により、図7のように、1〜mの値iについて、多波長光源21の出力ポート22(i+1)から出射されて光スイッチ25の入力ポート26(i+1)に入射される波長λ(i+1)の光は、出力ポート27(i)から出射されて、被試験光スイッチ10の入力ポート11(i)に入射され、出力ポート12(i+1)から出射されて、波長合波部21の入力ポート22(i+1)に入力される。ただし、上記同様に、m+1は1とする。
【0040】
つまり、被試験光スイッチ10の接続パターンによらずに、波長合波部30の各入力ポート31(1)〜31(m)に、そのポート専用の波長λ(1)〜λ(m)の光がそれぞれ正しく入射されて合波され、その合波光Hが前記同様にスペクトラム解析部35に入射されてその合波光Hのスペクトラム解析結果が制御部40に出力される。
【0041】
制御部40では、再び処理Sによって、接続パターン、解析結果および前記した光スイッチ35の損失データ、多波長光源21の各波長のパワーデータ、波長合波部30の損失データに基づいて、被試験光スイッチ10の入出力ポート間の損失L(1,2)、L(2,3)、…、L(m−1,m)、L(m,1)を求める。
【0042】
以下同様に、被試験光スイッチ10の接続パターンと光スイッチ25の接続パターンを順次切り換えて、その接続パターンとスペクトラム解析部35の解析結果から被試験光スイッチ10の各入出力ポート間の損失を求めるという処理を繰り返し、被試験光スイッチ10の全接続パターンについての損失L(1,1)〜L(1,m)、L(2,l)〜L(2,m)、…、L(m,l)〜L(m,m)が得られると、その得られた損失特性あるいはその損特性に対する評価結果等を出力する(S6)。
【0043】
なお、損失特性に対する評価は、例えば、得られた損失と予め設定された許容値とを比較して、全ての接続パターンにおける損失が許容値以下であれば、その被試験光スイッチ10の入出力ポート間の損失試験に合格であることを示す情報を出力し、許容値より大きい損失が有る場合には、その損失と入出力ポート番号等を不合格情報として出力する。
【0044】
また、この評価は、一つの接続パターンについて損失が得られる毎に、その都度行ない、許容値より大きい損失が発見された時点でこれを報知して試験を中断あるいは中止してもよい。
【0045】
このように、実施形態の光スイッチ試験装置20では、多波長光源21から並列に出射された異なる波長の光を光スイッチ25を介して被試験光スイッチ10の各入力ポートに入射し、その被試験光スイッチ10の各出力ポートから出射された各波長の光を、その波長毎に予め決められている波長合波部30の入力ポートに入射して合波し、その合波光をスペクトラム解析部35に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求め、その解析結果の情報と接続パターンとから被試験光スイッチ10の入出力間の特性を求めるように構成されている。
【0046】
このため、多ポート型の光スイッチに対する試験を、短時間に且つ正確に行なうことができる。
【0047】
なお、上記した光スイッチ試験装置20では、光スイッチ25を多波長光源21と被試験光スイッチ10の間に設けていたが、図8に示す光スイッチ試験装置20′のように、光スイッチ25を被試験光スイッチ10と波長合波部30との間に設け、前記同様に被試験光スイッチ10の接続パターンによらずに、波長合波部30の各入力ポート31(1)〜31(m)にそれぞれ固有の波長λ(1)〜λ(m)の光が入射されるように光スイッチ25を制御してもよい。
【0048】
また、上記説明では、入力ポートと出力ポートの数が等しい光スイッチ10を試験していたが、入力ポートと出力ポートの数が異なる光スイッチの試験も前記同様に可能である。
【0049】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の請求項1の光スイッチ試験装置は、多波長光源から並列に出射された異なる波長の光を光スイッチを介して被試験光スイッチの各入力ポートに入射し、その被試験光スイッチの各出力ポートから出射された各波長の光を、その波長毎に予め決められている波長合波部の入力ポートに入射して合波し、その合波光をスペクトラム解析部に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求め、その情報と接続パターンとから被試験光スイッチの入出力間の特性を求めるように構成されている。
【0050】
また、本発明の請求項2の光スイッチ試験装置は、多波長光源から並列に出射された異なる波長の光を被試験光スイッチの各入力ポートに入射し、その被試験光スイッチの各出力ポートから出射された各波長の光を、光スイッチによってその波長毎に予め決められている波長合波部の入力ポートに入射して合波し、その合波光をスペクトラム解析部に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求め、その情報と接続パターンとから被試験光スイッチの入出力間の特性を求めるように構成されている。
【0051】
このため、多ポート型の光スイッチに対する試験を、短時間に且つ正確に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の構成を示す図
【図2】実施形態の要部の構成例を示す図
【図3】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャート
【図4】被試験光スイッチおよび光スイッチに指定する接続パターンの一例を示す図
【図5】図4の接続パターンに対応する光スイッチの接続状態を示す図
【図6】被試験光スイッチおよび光スイッチに指定する接続パターンの一例を示す図
【図7】図6の接続パターンに対応する光スイッチの接続状態を示す図
【図8】本発明の他の実施形態の構成を示す図
【符号の説明】
10……被試験光スイッチ、11(1)〜11(m)……入力ポート、12(1)〜12(m)……出力ポート、20、20′……光スイッチ試験装置、21……多波長光源、22(1)〜22(n)……出力ポート、25……光スイッチ、26(1)〜26(n)……入力ポート、27(1)〜27(n)……出力ポート、30……波長合波部、31(1)〜31(n)……入力ポート、35……スペクトラム解析部、40……制御部、40a……接続パターン制御手段、40b……特性取得手段[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique for efficiently performing a test of an optical switch having a plurality of input ports and output ports and optically connecting the input ports and output ports with an arbitrary connection pattern.
[0002]
[Prior art]
For example, an optical switch having a plurality of input ports and output ports is used for an optical cross-connect that is a relay device that changes the route of an optical signal as it is.
[0003]
When testing this type of optical switch, conventionally, light is incident on one of the input ports, and an optical power meter is connected to the output port that should have been connected to the input port. The operation of confirming that light having a predetermined power or more is emitted is performed for all connection patterns and all input ports.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, the number of input ports and output ports required for optical switches has been increasing year by year (for example, 100 or more), and such multi-port type optical switches have been tested for each port as described above. Therefore, enormous test time is required.
[0005]
In order to solve this problem, a plurality of lights having different wavelengths are simultaneously applied to a plurality of input ports of the optical switch under test, and the wavelength and power of each light emitted from the plurality of output ports of the optical switch under test are parallelized. A method of detection is conceivable.
[0006]
Furthermore, as a method for detecting in parallel the wavelength and power of each light emitted from the plurality of output ports of the optical switch under test, each of the output ports is provided with a power detection means and a wavelength detection means, or A method is conceivable in which light emitted from a plurality of output ports is multiplexed by a wavelength multiplexer, the combined light is incident on an optical spectrum analyzer, and the power for each wavelength is detected.
[0007]
However, the method of providing the means for detecting the wavelength and power for each output port makes the configuration of the apparatus enormous and difficult to implement.
[0008]
In addition, it seems that a method of combining each light emitted from a plurality of output ports with a wavelength multiplexer and analyzing the spectrum of the combined light seems to be possible at first glance, but in general, a wavelength multiplexer is determined in advance. If the light of the specified wavelength is not correctly incident on the input port corresponding to that wavelength, the multiplexing process cannot be performed normally, and therefore, it cannot cope with the switching of the connection pattern of the optical switch under test.
[0009]
An object of the present invention is to solve this problem and provide an optical switch test apparatus capable of testing a multi-port optical switch in a short time.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an optical switch test apparatus according to
A multi-port optical switch (10) having a plurality of input ports (11) and a plurality of output ports (12), and optically connecting the plurality of input ports and the plurality of output ports with an arbitrary connection pattern. In the optical switch testing device for testing)
A multi-wavelength light source (21) that emits a plurality of lights having different wavelengths in parallel;
A plurality of input ports (26) and a plurality of output ports (27), each receiving a plurality of light beams emitted in parallel from the multi-wavelength light source at the plurality of input ports, and according to a designated connection pattern; An optical switch (25) that respectively emits from a plurality of output ports and enters a plurality of input ports of the optical switch under test;
The multi-wavelength light source has a dedicated input port (31) for each wavelength of a plurality of lights emitted in parallel, and multiplexes light of wavelengths corresponding to the respective input ports received from the input ports. A wavelength multiplexing unit (30) for receiving light emitted from a plurality of output ports of the optical switch under test at each input port;
The input / output connection pattern of the optical switch under test is arbitrarily designated, and a plurality of lights emitted from a plurality of output ports of the optical switch under test corresponding to the designated connection pattern correspond to respective wavelengths. Connection pattern control means (40a) for designating an input / output connection pattern of the optical switch so as to be incident on each input port of the wavelength multiplexing unit;
A spectrum analysis unit (35) for analyzing a spectrum of light combined by the wavelength combining unit;
A characteristic acquisition unit (40b) for obtaining a characteristic between the input and output ports of the optical switch under test based on the analysis result of the spectrum analysis unit and the connection pattern designated for the optical switch under test by the connection pattern control unit And.
[0011]
An optical switch test apparatus according to
A multi-port optical switch (10) having a plurality of input ports (11) and a plurality of output ports (12), and optically connecting the plurality of input ports and the plurality of output ports with an arbitrary connection pattern. In the optical switch testing device for testing)
A multi-wavelength light source (21) that emits a plurality of lights having different wavelengths in parallel and enters the plurality of input ports of the optical switch under test,
A plurality of input ports (26) and a plurality of output ports (27), each of which receives a plurality of lights emitted in parallel from a plurality of output ports of the optical switch under test at the plurality of input ports, and is designated Optical switches (25) respectively emitting from the plurality of output ports in accordance with the connection pattern;
The multi-wavelength light source has a dedicated input port (31) for each wavelength of a plurality of lights emitted in parallel, and multiplexes light of wavelengths corresponding to the respective input ports received from the input ports. A wavelength multiplexing unit (30) for receiving light emitted from a plurality of output ports of the optical switch at each input port,
The input / output connection pattern of the optical switch to be tested is arbitrarily designated, and the plurality of lights emitted from the plurality of output ports of the optical switch with respect to the designated connection pattern correspond to the respective wavelengths. Connection pattern control means (40a) for designating an input / output connection pattern of the optical switch so as to be incident on each input port of the multiplexing unit;
A spectrum analysis unit (35) for analyzing a spectrum of light combined by the wavelength combining unit;
A characteristic acquisition unit (40b) for obtaining a characteristic between the input and output ports of the optical switch under test based on the analysis result of the spectrum analysis unit and the connection pattern designated for the optical switch under test by the connection pattern control unit And.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 shows the configuration of an optical
[0013]
The optical
[0014]
The
[0015]
For example, as shown in FIG. 2A, the
[0016]
Further, as shown in FIG. 2B, a broadband light source 21c, which is composed of a semiconductor laser amplifier, a fiber amplifier, or the like and emits broadband light including wavelengths λ (1) to λ (n), and a broadband light source 21c, A wavelength demultiplexing unit 21b that extracts light components of wavelengths λ (1) to λ (n) from the emitted light and emits them in parallel from the output ports 22 (1) to 22 (n) corresponding to the respective wavelengths. And can be configured.
[0017]
The wavelength demultiplexing unit 21b selectively selects only the AWG (array waveguide type diffraction grating) or only the wavelength corresponding to the wavelengths λ (1) to λ (n) inserted into the AWG and each output port. It can be configured in combination with a filter that is passed through.
[0018]
The output ports 22 (1) to 22 (n) of the multi-wavelength
[0019]
The
[0020]
Of the output ports 27 (1) to 27 (n) of the
[0021]
1 illustrates the case where the number of input / output ports m of the optical switch under
[0022]
The
[0023]
The
[0024]
The
[0025]
The connection pattern control means 40a arbitrarily designates the input / output connection pattern of the optical switch under
[0026]
The characteristic acquisition means 40b obtains the characteristic between the input and output ports of the optical switch under
[0027]
The
[0028]
FIG. 3 is a flowchart showing a processing procedure of the
[0029]
The operation of the optical
[0030]
First, the input / output connection pattern of the optical switch under
[0031]
In addition, with respect to the input / output connection pattern of the
[0032]
With this connection pattern setting, as shown in FIG. 5, light of wavelength λ (1) emitted from the output port 21 (1) of the multi-wavelength
[0033]
Similarly, for a value j of 2 to m, light of wavelength λ (j) emitted from the output port 22 (j) of the multi-wavelength
[0034]
The
[0035]
The
[0036]
Here, the loss L (x, y) represents a loss between the xth input port 11 (x) and the yth output port 12 (y).
[0037]
Next, it is confirmed that the test for all the input / output connection patterns of the optical switch under
[0038]
Then, the process returns to step S2, and the wavelengths λ (1) to λ (m) are input to the input ports 31 (1) to 31 (m) of the
[0039]
With this connection pattern change setting, as shown in FIG. 7, the value i of 1 to m is emitted from the output port 22 (i + 1) of the multi-wavelength
[0040]
That is, regardless of the connection pattern of the
[0041]
In the
[0042]
Similarly, the connection pattern of the optical switch under
[0043]
For example, the loss characteristic is evaluated by comparing the obtained loss with a preset allowable value, and if the loss in all connection patterns is less than the allowable value, the input / output of the optical switch under
[0044]
This evaluation may be performed each time a loss is obtained for one connection pattern, and when a loss larger than the allowable value is found, this may be notified and the test may be interrupted or stopped.
[0045]
As described above, in the optical
[0046]
For this reason, the test for the multi-port optical switch can be accurately performed in a short time.
[0047]
In the optical
[0048]
In the above description, the
[0049]
【The invention's effect】
As described above, the optical switch test apparatus according to
[0050]
According to another aspect of the present invention, there is provided an optical switch test apparatus that injects light of different wavelengths emitted in parallel from a multi-wavelength light source into each input port of the optical switch under test, and outputs each port of the optical switch under test. The light of each wavelength emitted from the light is input to the input port of the wavelength combining unit determined for each wavelength by the optical switch and combined, and the combined light is input to the spectrum analysis unit and combined. Wavelength spectrum analysis is performed to determine the power of each wavelength, and the characteristics between the input and output of the optical switch under test are determined from the information and the connection pattern.
[0051]
For this reason, the test for the multi-port optical switch can be accurately performed in a short time.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of a main part of the embodiment. FIG. 3 is a flowchart showing a processing procedure of a main part of the embodiment. FIG. 5 is a diagram showing an example of an optical switch and a connection pattern designated for the optical switch. FIG. 5 is a diagram showing a connection state of the optical switch corresponding to the connection pattern of FIG. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a pattern. FIG. 7 is a diagram illustrating a connection state of optical switches corresponding to the connection pattern of FIG. 6. FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of another embodiment of the present invention.
10: Optical switch to be tested, 11 (1) to 11 (m) ... Input port, 12 (1) to 12 (m) ... Output port, 20, 20 '... Optical switch test device, 21 ... Multi-wavelength light source, 22 (1) to 22 (n) ... output port, 25 ... optical switch, 26 (1) to 26 (n) ... input port, 27 (1) to 27 (n) ... output Port, 30 ... Wavelength multiplexing unit, 31 (1) to 31 (n) ... Input port, 35 ... Spectrum analysis unit, 40 ... Control unit, 40a ... Connection pattern control means, 40b ... Characteristic acquisition means
Claims (2)
波長が異なる複数の光を並列に出射する多波長光源(21)と、
複数の入力ポート(26)と複数の出力ポート(27)を有し、前記多波長光源から並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射し、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートに入射させる光スイッチ(25)と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート(31)を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される光を受ける波長合波部(30)と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段(40a)と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部(35)と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段(40b)とを備えた光スイッチ試験装置。A multi-port optical switch (10) having a plurality of input ports (11) and a plurality of output ports (12), and optically connecting the plurality of input ports and the plurality of output ports in an arbitrary connection pattern. In the optical switch testing device for testing)
A multi-wavelength light source (21) that emits a plurality of lights having different wavelengths in parallel;
A plurality of input ports (26) and a plurality of output ports (27), each receiving a plurality of light beams emitted in parallel from the multi-wavelength light source at the plurality of input ports, and according to a designated connection pattern; An optical switch (25) that respectively emits from a plurality of output ports and enters a plurality of input ports of the optical switch under test;
The multi-wavelength light source has a dedicated input port (31) for each wavelength of a plurality of lights emitted in parallel, and multiplexes light of wavelengths corresponding to the respective input ports received from the input ports. A wavelength multiplexing unit (30) that receives light emitted from a plurality of output ports of the optical switch under test at each input port;
The input / output connection pattern of the optical switch under test is arbitrarily designated, and a plurality of lights emitted from a plurality of output ports of the optical switch under test corresponding to the designated connection pattern correspond to respective wavelengths. Connection pattern control means (40a) for designating an input / output connection pattern of the optical switch so as to be incident on each input port of the wavelength multiplexing unit;
A spectrum analysis unit (35) for analyzing a spectrum of light combined by the wavelength combining unit;
A characteristic acquisition unit (40b) for obtaining a characteristic between the input and output ports of the optical switch under test based on the analysis result of the spectrum analysis unit and the connection pattern designated for the optical switch under test by the connection pattern control unit And an optical switch testing device.
波長が異なる複数の光を並列に出射して、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートにそれぞれ入射させる多波長光源(21)と、
複数の入力ポート(26)と複数の出力ポート(27)を有し、前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射する光スイッチ(25)と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート(31)を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記光スイッチの複数の出力ポートから出射される光をそれぞれ受ける波長合波部(30)と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段(40a)と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部(35)と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段(40b)とを備えた光スイッチ試験装置。A multi-port optical switch (10) having a plurality of input ports (11) and a plurality of output ports (12), and optically connecting the plurality of input ports and the plurality of output ports in an arbitrary connection pattern. In the optical switch testing device for testing)
A multi-wavelength light source (21) that emits a plurality of lights having different wavelengths in parallel and enters the plurality of input ports of the optical switch under test,
A plurality of input ports (26) and a plurality of output ports (27), each of which receives a plurality of lights emitted in parallel from a plurality of output ports of the optical switch under test at the plurality of input ports, and is designated Optical switches (25) respectively emitting from the plurality of output ports in accordance with the connection pattern;
The multi-wavelength light source has a dedicated input port (31) for each wavelength of a plurality of lights emitted in parallel, and multiplexes light of wavelengths corresponding to the respective input ports received from the input ports. A wavelength multiplexing unit (30) for receiving light emitted from a plurality of output ports of the optical switch at each input port,
The input / output connection pattern of the optical switch to be tested is arbitrarily designated, and the plurality of lights emitted from the plurality of output ports of the optical switch with respect to the designated connection pattern correspond to the respective wavelengths. Connection pattern control means (40a) for designating an input / output connection pattern of the optical switch so as to be incident on each input port of the multiplexing unit;
A spectrum analysis unit (35) for analyzing a spectrum of light combined by the wavelength combining unit;
A characteristic acquisition unit (40b) for obtaining a characteristic between the input and output ports of the optical switch under test based on the analysis result of the spectrum analysis unit and the connection pattern designated for the optical switch under test by the connection pattern control unit And an optical switch testing device.
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