JP3810531B2 - 光位相特性測定装置及び測定方法 - Google Patents
光位相特性測定装置及び測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3810531B2 JP3810531B2 JP26206497A JP26206497A JP3810531B2 JP 3810531 B2 JP3810531 B2 JP 3810531B2 JP 26206497 A JP26206497 A JP 26206497A JP 26206497 A JP26206497 A JP 26206497A JP 3810531 B2 JP3810531 B2 JP 3810531B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- output
- component
- signal
- harmonic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光位相を測定する装置及びその測定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、光の位相を測定する方法としては、ホモダイン位相検波法または、ヘテロダイン検波後の位相検出が用いられている。しかし、いずれの方法も、基本的には干渉計を構成しているために、干渉計を安定化しなければならない。
【0003】
この干渉計の安定化は、干渉計の位相変動を安定させるために、被測定信号の位相変化と、干渉計の位相変動を分離して、高感度な位相特性の測定を行うことは困難である。
【0004】
また、波長の異なる光源を用いて、干渉計の変動を検出する方法が用いられるが、構成が複雑になることに加えて、干渉計内の光路を完全に一致させることが困難であると共に、検出された二つの位相信号から、目的とする位相信号を抽出するには、複雑な処理を必要とする。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記したように従来の技術では、光の位相の測定には、干渉計を安定化したり、二つの波長の異なる光源を必要とするために、測定方法に問題がある。
【0006】
本発明は、上記問題点を除去し、干渉計を安定化することなく、単一の光源を用いて、高感度、かつ高安定な光位相の測定を行うことができる光位相特性測定装置及びその測定方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために、
〔1〕光位相特性測定装置において、光源の出力光の基本波成分を分岐する光分岐器と、この光分岐器の出力のどちらか一方の光路に配置される被測定試料と、前記光分岐器の出力の他方に高調波を発生させる手段と、前記被測定試料からの出力光の光路差を変調する手段と、前記光分岐器からの出力光と前記光路差が変調された出力光とを合波する光合波器と、この光合波器の出力光を基本波成分と高調波成分に分波する光分波器と、この光分波器の出力の基本波成分を検波する第1の光検波器と、前記光分波器の出力の高調波成分を検波する第2の光検波器と、前記二つの光検波器の出力交流信号の位相差を検出する手段とを備えたことを特徴とする。
【0008】
〔2〕光位相特性測定方法において、光源の出力光の基本波を分岐する光分岐器と、この光分岐器の出力のどちらか一方の光路に被測定試料を配置し、前記光分岐器の出力の他方に高調波を発生させる手段を配置し、前記被測定試料からの出力光の光路差を変調する手段と、前記光分岐器からの出力光と前記光路差が変調された出力光とを合波する光合波器と、この光合波器の出力光を基本波成分と高調波成分に分波する光分波器と、この光分波器の基本波成分を検波する第1の光検波器と、前記光分波器の出力の高調波成分を検波する第2の光検波器と、前記二つの光検波器の出力交流信号の位相差を検出する手段とを配置し、光源の出力光の基本波を前記光分岐器で分岐後、どちらか一方に配置した高調波を発生させる手段で発生させた高調波成分と、他方に配置した被測定試料で発生させた高調波成分と、前記被測定試料を介する方の光路差を変調して、前記基本波成分と高調波成分をそれぞれ別にホモダイン検波を行い、光路差の変調によって発生する交流信号成分間の位相を測定することを特徴とする。
【0009】
〔3〕上記〔1〕記載の光位相特性測定装置において、前記高調波を発生させる手段の高調波の次数をNとしたときに、基本波成分を検波する第1の光検波器の出力交流信号の周波数をN倍にする手段と、前記高調波成分を検波する第2の光検波器の出力と前記交流信号の周波数のN倍の信号との位相差を測定する手段とを備えたことを特徴とする。
【0010】
〔4〕上記〔2〕記載の光位相特性測定方法において、前記高調波を発生させる手段の高調波の次数をNとしたときに、基本波成分を検波する第1の光検波器の出力交流信号の周波数をN倍にし、前記高調波成分を検波する第2の光検波器の出力と前記交流信号の周波数のN倍の信号との位相差を測定することを特徴とする。
【0011】
〔5〕上記〔1〕記載の光位相特性測定装置において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、この共振器の出力交流成分の波形を三角波状に変換する手段とを備えたことを特徴とする。
【0012】
〔6〕上記〔2〕記載の光位相特性測定方法において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、この共振器の出力交流成分の波形を三角波状に変換する手段とを配置し、光路差の変調によって発生する交流信号を、前記光路差を変調する手段に帰還して、自励発振状態にして、交流信号を発生することを特徴とする。
【0013】
〔7〕上記〔5〕記載の光位相特性測定装置において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、この共振器の出力交流成分の周波数と同じ周波数で発振する手段とを備えたことを特徴とする。
【0014】
〔8〕上記〔6〕記載の光位相特性測定方法において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、この共振器の出力交流成分の周波数と同じ周波数で発振する手段と光路差の変調によって発生する交流信号を、自励発振状態で発振する発振器に注入同期して交流信号を発生することを特徴とする。
【0015】
上記のように構成したので、
光の位相測定において、ホモダイン干渉計を安定化せずに、干渉計の光路差を変調することによって発生する、基本波成分と高調波成分の二つの交流信号間の位相差を測定することができる。
【0016】
ホモダイン干渉計の不安定性の原因は、干渉計の光路差の変動による位相変化である。一般的に、この位相変化を検出して、負帰還制御によって干渉計を安定化しているために、測定のための位相信号と負帰還制御信号を分離することは困難である。
【0017】
いま、干渉計を安定化させずに、一方の光路差を変調すると、その変調速度と振幅にしたがって干渉縞が変化し、交流信号が発生する。
【0018】
この交流信号の振幅は干渉計の可視度に一致しているために、非常に安定である(参考文献:特願平8−185235号)。
【0019】
しかし、干渉計が安定化されていないために生じる不安定性は、この交流信号の位相に変換されるので、このままでは、安定に位相特性を測定することはできない。
【0020】
そこで、別の光源で位相変化を相互に参照する方法を採用する。いま、光源の出力光によって発生させたN次高調波(周波数がN倍、波長が1/N)を用いるとすると、基本波とN次高調波との間では位相関係が保たれるために、前記交流信号の間の位相に強い相関を持つ。
【0021】
いま、高調波発生器で2次高調波を発生させるとする。ここで、光路差の変調波形を三角波で行い、その周期を100Hz、振幅を基本波の波長の10倍とする。基本波成分と2次高調波成分を分波器で分離して、それぞれホモダイン検波を行うと、基本波成分で発生する交流信号の周波数は2kHz、2次高調波成分で発生する交流信号の周波数は、波長が1/2になるために、4kHzとなり、それぞれの交流信号の間では位相相関が保存される。
【0022】
したがって、この二つの交流信号間の位相差の変化を測定すれば、被測定試料の光位相特性を測定することができる。
【0023】
この干渉計はホモダイン検波方式であるため、一方の光路を局部発振光として十分な光量を用いれば、他方の光路の信号光の強度を非常に小さくすることが可能で、高感度な位相特性の測定と同時に振幅特性も測定可能である。
【0024】
さらに、ここで用いる光検波器は、光路差を変調したときに発生する交流信号を検波するに必要な帯域幅で十分であり、広帯域特性を必要としない。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【0026】
まず、本発明の第1実施例について説明する。
【0027】
図1は本発明の第1実施例を示す光位相特性測定装置の全体構成図である。
【0028】
この図に示すように、光位相測定装置は、光源1、高調波発生装置2、光分岐器3、ミラー4、被測定試料5、光路差変調用信号発生器6、光路差変調用ミラー7、光合波器8、光分波器9,10、光検波器11,12,13,14(第1の光検波器11,12、第2の光検波器13,14)、差動増幅器15,16、位相検出器17により構成される。
【0029】
ここで、高調波発生装置2は基本波から高調波を発生させる手段に、光路差変調用信号発生器6、光路差変調用ミラー7は光路差を変調する手段に、光検波器11,12と差動増幅器15は、基本波成分を検波する手段に、光検波器13,14と差動増幅器16は高調波成分を検波する手段にそれぞれ対応する。
【0030】
光分岐器3は基本波成分と高調波成分を同時に分岐するものであり、光合波器8は基本波成分と高調波成分を同時に合波するものであり、ハーフミラー、無偏光ビームスプリッタ、偏光ビームスプリッタ、光方向性結合器などが使用可能である。
【0031】
光路差変調用ミラー7は光波長の数倍程度の振動が得られれば十分であり、ピエゾ素子に光学ミラーを張り付けたものが使用可能である。さらに、この作用は光の位相を連続的に変化させるもので、同等の位相変化が得られるものならばどのようなものでも良い。
【0032】
光分波器9,10は基本波成分と高調波成分を分波するもので、分光プリズム、ダイクロイックミラーなどが使用可能である。
【0033】
光分波器9,10の出力の光検波器として、1個の光検波器を用いる方法もあるが、この実施例に示すように、2個の光検波器11,12と差動増幅器15、及び光検出器13,14と差動増幅器16の組合せによるバランスド検波による構成の方が、光源1の出力光の持つ振幅雑音が抑圧され、測定系の雑音がショット雑音レベルになるので、SN比が改善されて高感度になることは明らかである。
【0034】
図1において、いま、光源1からの出力光から、高調波発生装置2で2次高調波(以下、SHG波と呼ぶ)を発生させるとする。通常の場合には、高調波の発生効率が小さいために、高調波発生装置2の出力には基本波成分と2次高調波成分が含まれる。この二つの成分を光分岐器3で分岐し、一方はホモダイン検波の局部発振光としてミラー4で反射され、光合波器8に導かれる。光分岐器3で分岐されたもう一方は、信号光として被測定試料5に入射し、その出力は光路差変調用信号発生器6で作動する光路差変調用ミラー7で反射され、光合波器8に導かれる。
【0035】
光合波器8で合波された二組の光信号は光分波器9,10でそれぞれ基本波成分とSHG波成分に分波される。光分波器9,10で分波された基本波の成分は光検波器11,12で検波され、差動増幅器15で光路差の変調によって生じた交流信号成分を増幅して、位相検出器17に導かれる。また、光分波器9,10で分波されたSHG波の成分は光検波器13,14で検波され、差動増幅器16で光路差の変調によって生じた交流信号成分を増幅して、位相検出器17に導かれ、基本波成分とSHG波成分の位相差を測定する。
【0036】
このとき、SHG波成分の検波器出力の交流信号の周波数は、基本波成分の二倍になっているために、位相検出器17には、ロックインアンプリファイアを使用し、差動増幅器16のSHG波成分を信号入力端子に、差動増幅器15の基本波の検波成分を参照信号入力端子に接続して、2fモードで動作させる。このようにすれば、基本波成分に対する高調波成分の位相差を直接測定することができる。
【0037】
次に、本発明の第1実施例を用いて被測定試料の位相特性を測定する方法について説明する。
【0038】
(1)高調波発生装置2で高調波を発生させる。
【0039】
(2)光分岐器3の分岐比を調整して、基本波及び高調波に対して、必要かつ十分な局部発振光側の光量を設定する。
【0040】
(3)信号光側に設置した被測定試料5からの透過光、反射光、または発光光の信号波成分は、光路差変調用ミラー7で光路差を変調して、光合波器8で局部発振光成分と合波する。
【0041】
(4)光合波器8のそれぞれの出力光を光分波器9,10で基本波成分と高調波成分とに分波し、それぞれを光ホモダイン検波する。
【0042】
(5)光検波後の、光路差の変調による二つの交流信号は、位相検出器17で基本波成分と高調波成分との間の位相差を求める。
【0043】
次に、本発明の第2実施例について説明する。
【0044】
図2は本発明の第2実施例を示す位相特性測定装置の全体構成図である。なお、第1実施例と同じ部分には同じ符号を付してそれらの説明は省略する。
【0045】
この実施例の特徴は、被測定試料5で発生する高調波成分を用いて、試料の位相特性を測定するもので、高調波発生装置2′は、光分岐器3とミラー4と光合波器8の間、つまり、局部発振光側のみに用いる。
【0046】
次に、本発明の第3実施例について説明する。
【0047】
図3は本発明の第3実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図であり、本発明の第1実施例に基づいたものであるが、第2実施例においても実施が可能である。
【0048】
この図に示すように、周波数逓倍器18が基本波成分による交流信号の周波数をN倍にする手段に、位相検波器19が位相差を検出する手段に相当する。このような構成では、位相検波器19の二つの入力信号の周波数は等しくなり、通常の位相検波器の使用が可能である。
【0049】
次に、本発明の第4実施例について説明する。
【0050】
図4は本発明の第4実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図であり、本発明の第1実施例に基づいたものであるが、第2実施例においても実施が可能である。
【0051】
この図に示すように、分波器20は被検波手段の出力信号の基本波成分と高調波成分を分離する電気回路である。この実施例の特徴は、第1、第2実施例で用いた光分波器9,10を用いずに、一つの光を検波する手段で基本波成分と高調波成分を同時に検波し、この光検波器11,12の出力の基本波成分とSHG波成分を分波器20で分波して、二つの出力交流信号間の位相差を測定するものである。
【0052】
次に、本発明の第5実施例について説明する。
【0053】
図5は本発明の第5実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図であり、本発明の第1実施例に基づいたものであるが、第2実施例においても実施が可能である。
【0054】
第1〜4実施例では、光路差変調用の信号は、光路差変調用信号発生器6の波形が三角波であるために、三角波の頂点で光路差の変調が折り返され、位相が不連続の交流信号が発生して、位相測定の不安定性の要因になる。
【0055】
そこで、この実施例では、図5に示すように、基本波に対する、差動増幅器15の出力交流信号を、共振器21で基本波成分のみを分離して、波形変換回路22で、その波形を三角波に変換して、光路差変調用ミラー7に接続する。
【0056】
このような構成では、光路差変調用ミラー7は自励発振状態になる。この自励発振状態では、光路差変調用ミラー7は基本波の位相が180度だけ変化する量しか変化しないために、発生する交流信号の位相は連続的になり、安定した位相測定が可能になる。さらに、波形変換回路22は、共振器21の出力が正弦波になるために、これを三角波状の波形に変換するために用いている。
【0057】
次に、本発明の第6実施例について説明する。
【0058】
図6は本発明の第6実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図であり、本発明の第1実施例に基づいたものであるが、第2実施例においても実施が可能である。
【0059】
本発明の第5実施例では、基本波による交流成分が存在しないときには、自励発振の状態にはならない。そこで、基本波による交流成分の振幅が不十分の時には、自励発振状態で発振し、基本波による交流成分の振幅が十分大きくなったときには、この交流信号の周波数に同期して発振する注入同期発振器23を用いて、安定した光路差変調用信号を発生させるものである。
【0060】
ここで、上記した第2実施例による実験結果について説明する。
【0061】
第2実施例の実験結果である光源にパルスレーザを用いて、被測定試料であるSi表面で発生する第2高調波(SHG波)の振幅及び位相特性を測定した結果を図7、8に示す。この図7は被測定試料を回転したときのSHG波の強度の変化を示したもので、横軸に試料の回転角、縦軸にSHG波の強度を示す。この結果から、回転角120度毎に大きなSHG波のピークと、その中間に小さなピークが測定されていることが分かる。
【0062】
図8はこのときのSHG波の位相特性を測定した図であり、横軸に試料の回転角、縦軸に位相角を示している。
【0063】
この図においては、大きな振幅を示すピークの位相に対して、小さい振幅の位相差が180度になっていることを示している。
【0064】
このように、この実施例では基本波成分の位相を参照して、被測定試料で発生するSHG波の位相を測定することができる。さらに、参考文献(特願平8−185235号)のホモダイン検波法を用いているので、微小な振幅の検出も同時に行うことができる。
【0065】
この実験では、パルス幅の非常に狭い光パルスを光源に用いたので、光分波器の出力から光合波器入力までの二つの光路において、使用部品の屈折率分散で生じる、基本波とSHG波の到達時間差は、どちらか一方の光路に屈折率分散を持つ媒質を挿入して補正した。
【0066】
さらに、第2実施例で信号光の偏光方向を半波長(λ/2)板などで変化させたときには、局部発振光側の高調波発生装置2′の出力側に、SHG波に対しては0またはλで、かつ基本波に対しては、λ/4になる波長板を挿入して、基本波を円偏光にすることにより、基本波成分を安定に発生させることができる。
【0067】
また、前記波長板を基本波に対してλ/2になる波長板を挿入して、信号光側の半波長板と同期して回転させる方法も、同様な効果を得ることができた。
【0068】
なお、第1実施例及び第2実施例ではマッハツェンダー形干渉計での構成を示したが、マイケルソン形干渉計などの構成でも同様の動作を行わせることができる。さらに、構成部品も光ファイバを用いた部品の使用も可能である。
【0069】
このように構成したので、
(1)光源の基本波と位相相関を持った高調波を用い、光路差を変調して発生する交流信号成分を測定する際に、干渉計を安定化する必要がなく、しかも、非常に安定である。
【0070】
(2)ホモダイン検波法を用いるので、非常に高感度であり、振幅特性も同時に測定することが可能である。
【0071】
(3)光検波器の周波数特性に広帯域特性を必要とせず、構成も簡単である。
【0072】
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
【0073】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、以下のような効果を奏することができる。
【0074】
(A)干渉計を安定化することなく、単一の光源を用いて、高感度かつ高安定な光位相の測定を行うことができる。すなわち、光源の基本波と位相相関を持った高調波を用い、光路差を変調して発生する交流信号成分を測定しているために、干渉計を安定化する必要がなく、しかも、非常に安定である。
【0075】
(B)ホモダイン検波法を用いているので、非常に高感度であり、振幅特性も同時に測定することが可能である。
【0076】
(C)光検波器の周波数特性に広帯域特性を必要とせず、構成も簡単である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施例を示す光位相特性測定装置の全体構成図である。
【図2】 本発明の第2実施例を示す光位相特性測定装置の全体構成図である。
【図3】 本発明の第3実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図である。
【図4】 本発明の第4実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図である。
【図5】 本発明の第5実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図である。
【図6】 本発明の第6実施例を示す光位相特性測定装置の要部構成図である。
【図7】 本発明の第2実施例による実験結果を示す図である。
【図8】 本発明の第2実施例による試料回転角に対する位相角の特性を示す図である。
【符号の説明】
1 光源
2,2′ 高調波発生装置
3 光分岐器
4 ミラー
5 被測定試料
6 光路差変調用信号発生器
7 光路差変調用ミラー
8 光合波器
9,10 光分波器
11,12,13,14 光検波器
15,16 差動増幅器
17 位相検出器
18 周波数逓倍器
19 位相検波器
20 分波器
21 共振器
22 波形変換回路
23 注入同期発振器
Claims (8)
- 光位相特性測定装置において、
(a)光源の出力光の基本波成分を分岐する光分岐器と、
(b)該光分岐器の出力のどちらか一方の光路に配置される被測定試料と、
(c)前記光分岐器の出力の他方に高調波を発生させる手段と、
(d)前記被測定試料からの出力光の光路差を変調する手段と、
(e)前記光分岐器からの出力光と前記光路差が変調された出力光とを合波する光合波器と、
(f)該光合波器の出力光を基本波成分と高調波成分に分波する光分波器と、
(g)該光分波器の出力の基本波成分を検波する第1の光検波器と、
(h)前記光分波器の出力の高調波成分を検波する第2の光検波器と、
(i)前記二つの光検波器の出力交流信号の位相差を検出する手段とを備えたことを特徴とする光位相特性測定装置。 - 光位相特性測定方法において、
光源の出力光の基本波を分岐する光分岐器と、該光分岐器の出力のどちらか一方の光路に被測定試料を配置し、前記光分岐器の出力の他方に高調波を発生させる手段を配置し、前記被測定試料からの出力光の光路差を変調する手段と、前記光分岐器からの出力光と前記光路差が変調された出力光とを合波する光合波器と、該光合波器の出力光を基本波成分と高調波成分に分波する光分波器と、該光分波器の基本波成分を検波する第1の光検波器と、前記光分波器の出力の高調波成分を検波する第2の光検波器と、前記二つの光検波器の出力交流信号の位相差を検出する手段とを配置し、
光源の出力光の基本波を前記光分岐器で分岐後、どちらか一方に配置した高調波を発生させる手段で発生させた高調波成分と、他方に配置した被測定試料で発生させた高調波成分と、前記被測定試料を介する方の光路差を変調して、前記基本波成分と高調波成分をそれぞれ別にホモダイン検波を行い、光路差の変調によって発生する交流信号成分間の位相を測定することを特徴とする光位相特性測定方法。 - 請求項1記載の光位相特性測定装置において、前記高調波を発生させる手段の高調波の次数をNとしたときに、基本波成分を検波する第1の光検波器の出力交流信号の周波数をN倍にする手段と、前記高調波成分を検波する第2の光検波器の出力と前記交流信号の周波数のN倍の信号との位相差を測定する手段とを備えたことを特徴とする光位相特性測定装置。
- 請求項2記載の光位相特性測定方法において、前記高調波を発生させる手段の高調波の次数をNとしたときに、基本波成分を検波する第1の光検波器の出力交流信号の周波数をN倍にし、前記高調波成分を検波する第2の光検波器の出力と前記交流信号の周波数のN倍の信号との位相差を測定することを特徴とする光位相特性測定方法。
- 請求項1記載の光位相特性測定装置において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、該共振器の出力交流成分の波形を三角波状に変換する手段とを備えたことを特徴とする光位相測定装置。
- 請求項2記載の光位相特性測定方法において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、該共振器の出力交流成分の波形を三角波状に変換する手段とを配置し、光路差の変調によって発生する交流信号を、前記光路差を変調する手段に帰還して、自励発振状態にして、交流信号を発生することを特徴とする光位相測定方法。
- 請求項5記載の光位相特性測定装置において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、該共振器の出力交流成分の周波数と同じ周波数で発振する手段とを備えたことを特徴とする光位相測定装置。
- 請求項6記載の光位相特性測定方法において、前記検波器出力信号の交流成分を通過させる共振器と、該共振器の出力交流成分の周波数と同じ周波数で発振する手段と光路差の変調によって発生する交流信号を、自励発振状態で発振する発振器に注入同期して交流信号を発生することを特徴とする光位相測定方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26206497A JP3810531B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 光位相特性測定装置及び測定方法 |
DE69839617T DE69839617D1 (de) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Eigenschaften des Lichts |
DE69839596T DE69839596D1 (de) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Lichteigenschaften |
EP98118233A EP0908710B1 (en) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | Apparatus and method for measuring characteristics of light |
EP04013967A EP1455170B1 (en) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | Apparatus and method for measuring characteristics of light |
US09/160,910 US6141138A (en) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | Apparatus and method for measuring characteristics of light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26206497A JP3810531B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 光位相特性測定装置及び測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11101694A JPH11101694A (ja) | 1999-04-13 |
JP3810531B2 true JP3810531B2 (ja) | 2006-08-16 |
Family
ID=17370537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26206497A Expired - Fee Related JP3810531B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 光位相特性測定装置及び測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3810531B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100465595C (zh) * | 2000-04-24 | 2009-03-04 | 周晟 | 相位差测量装置及应用该装置的外差干涉测量*** |
JP2008141175A (ja) * | 2006-11-07 | 2008-06-19 | Canon Inc | 注入同期型レーザ装置、干渉計測装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
US7608808B2 (en) | 2006-11-07 | 2009-10-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Injection-locked pulsed laser with high wavelength stability |
CN109683332B (zh) * | 2019-01-07 | 2021-06-22 | 广东电网有限责任公司广州供电局 | 基于光程延时激光背光照相装置 |
-
1997
- 1997-09-26 JP JP26206497A patent/JP3810531B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11101694A (ja) | 1999-04-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3828111B2 (ja) | 伝搬測定装置及び伝搬測定方法 | |
JP3657362B2 (ja) | 光パルス特性測定装置およびその測定方法 | |
US5619326A (en) | Method of sample valuation based on the measurement of photothermal displacement | |
JPH01503172A (ja) | 光学的ヘテロダイン処理を有する2波長のインターフェロメトリーのための方法および装置と位置または距離測定のための使用 | |
JPH03197817A (ja) | 信号抽出装置および方法 | |
EP0908710B1 (en) | Apparatus and method for measuring characteristics of light | |
JP3810531B2 (ja) | 光位相特性測定装置及び測定方法 | |
WO2022029867A1 (ja) | 光複素振幅計測装置及び光複素振幅計測方法 | |
JP4008823B2 (ja) | 光ネットワークアナライザ | |
Arablu et al. | Polydyne displacement interferometer using frequency-modulated light | |
JP2744728B2 (ja) | ガス濃度測定方法およびその測定装置 | |
JP2006337832A (ja) | 光周波数コム発生方法及び光周波数コム発生装置 | |
US20070024859A1 (en) | Method for determining the refractive index during interferometric length measurement and interferometric arrangement therefor | |
JP2000329651A (ja) | 偏波モード分散測定装置 | |
WO2022024217A1 (ja) | 音計測方法 | |
JP2726881B2 (ja) | 後方散乱光測定装置 | |
JP3701457B2 (ja) | 光振幅位相特性測定装置およびその測定方法 | |
JPS63241440A (ja) | 光学検出器の周波数応答を測定する方法および装置 | |
US6507404B1 (en) | Method and apparatus for measuring optical wavelength | |
JP3369538B2 (ja) | 光偏光特性測定装置およびその測定方法 | |
JP2003270127A (ja) | 光振幅位相時間応答測定装置 | |
JPH1096601A (ja) | 光波干渉測定装置 | |
EP4123257A1 (en) | Phase tuning and phase stabilization of an interferometer | |
JPH08278202A (ja) | 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置 | |
Onodera et al. | Fringe counting method for synthetic phase with frequency-modulated laser diodes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20031031 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040122 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20040129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060124 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060314 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060418 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060419 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060523 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060524 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100602 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |