JP3808482B2 - イオン源、質量分析方法及び質量分析計 - Google Patents
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Description
A+B-→(A−H)-+BH (プロトン脱離反応)
従って、図8に示した従来技術では、大気中でコロナ放電を起こすことによってヒドロニウムイオン(H3O+)を生成し、それと試料分子Aとの以下の反応を利用して試料Aに関するイオンAH+ を生成する。
イオン化部6において、以上に示した反応に代表される化学反応により生成された試料に関するイオンは、イオン導入細孔9a,排気系10aにより排気された差動排気部11,イオン導入細孔9bを通して、排気系10bにより高真空に排気された高真空部12に導入される。真空中に導入されたイオンは質量分析部13で質量分析される。
このような理由により、移動相溶媒中の不揮発性塩の影響を受けにくく、LCの高い分離能力を十分に活用できるLC/MSが求められている。
液滴の気化により得られたガス状の試料分子がコロナ放電部分に到達すると、コロナ放電により生成されたヒドロニウムイオンなどの一次イオンと化学反応を起こし、試料分子のイオン化が達成される。この時、溶媒中の難揮発性塩は解離しイオンとなっているため、静電噴霧するだけでガス状のイオンに変換されてしまう。
Claims (5)
- 液体クロマトグラフから溶出された試料溶液が導入される金属管と、前記金属管との間に電圧を印加することにより前記試料溶液を静電噴霧させる金属ブロックと、電圧を印加することによりコロナ放電を発生させ前記試料溶液中の試料分子をイオン化する針状電極とを有することを特徴とするイオン源。
- 液体クロマトグラフから溶出された試料溶液が導入される金属管と、前記金属管との間に電圧を印加することにより前記試料溶液を静電噴霧させるメッシュ電極と、電圧を印加することによりコロナ放電を発生させ前記試料溶液中の試料分子をイオン化する針状電極を具備するイオン化部とを有し、前記試料溶液が前記メッシュ電極に向けて静電噴霧され、前記メッシュ電極は前記金属管の末端と前記イオン化部とを遮蔽し、静電噴霧で生成される液滴が前記針状電極に付着することを回避することを特徴とするイオン源。
- 溶液中の混合試料を分離する液体クロマトグラフから溶出された試料溶液を静電噴霧法により霧化する霧化工程と、該霧化工程で得られた液滴を気化させて得られるガス状の試料分子を化学反応によりイオン化するイオン化工程と、前記試料分子に関するイオンを質量分析する質量分析工程とを有することを特徴とする質量分析方法。
- 溶液中の混合試料を分離する液体クロマトグラフから溶出された試料を含む溶液を静電噴霧法により霧化させる霧化工程と、該霧化工程で得られた液滴を気化する気化工程と、気化したガスが通過する通路に設けられた針状電極で放電を発生させ、前記通路を通過する前記試料のイオンを生成するイオン化工程と、該イオン化工程で生成された前記試料のイオンの質量分析をする質量分析工程とを有することを特徴とする質量分析方法。
- 溶液中の試料を分離するための液体クロマトグラフと、
該液体クロマトグラフで分離された試料を霧化しイオン化するためのイオン源と、
該イオン源で生成されたイオンをイオン導入細孔を介して導入し質量分析するための質量分析手段からなる質量分析計であって、
該イオン源は、試料を静電噴霧する静電噴霧部とコロナ放電を発生させる針状電極とを具備することを特徴とする質量分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004216922A JP3808482B2 (ja) | 2004-07-26 | 2004-07-26 | イオン源、質量分析方法及び質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004216922A JP3808482B2 (ja) | 2004-07-26 | 2004-07-26 | イオン源、質量分析方法及び質量分析計 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29046599A Division JP3618262B2 (ja) | 1999-10-13 | 1999-10-13 | 質量分析計及びそのイオン源 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004294453A JP2004294453A (ja) | 2004-10-21 |
JP3808482B2 true JP3808482B2 (ja) | 2006-08-09 |
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ID=33411468
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004216922A Expired - Fee Related JP3808482B2 (ja) | 2004-07-26 | 2004-07-26 | イオン源、質量分析方法及び質量分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3808482B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7812308B2 (en) | 2005-09-16 | 2010-10-12 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
EP3285059A1 (en) | 2009-05-27 | 2018-02-21 | Micromass UK Limited | System and method for identification of biological tissues |
US20140166875A1 (en) | 2010-09-02 | 2014-06-19 | Wayne State University | Systems and methods for high throughput solvent assisted ionization inlet for mass spectrometry |
WO2012031082A2 (en) * | 2010-09-02 | 2012-03-08 | University Of The Sciences In Philadelphia | System and method for ionization of molecules for mass spectrometry and ion mobility spectrometry |
WO2012058248A2 (en) | 2010-10-25 | 2012-05-03 | Wayne State University | Systems and methods extending the laserspray ionization mass spectrometry concept from atmospheric pressure to vacuum |
JP6456863B2 (ja) * | 2016-03-04 | 2019-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオン移動度分離部を備える分析装置 |
CN115097057B (zh) * | 2022-06-02 | 2023-07-21 | 浙江大学 | 基于热辅助中性双喷雾快速蒸发的可直接分析含盐样品的液质联用检测方法 |
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2004
- 2004-07-26 JP JP2004216922A patent/JP3808482B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004294453A (ja) | 2004-10-21 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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