JP3750924B2

JP3750924B2 - Radiation monitor

Info

Publication number: JP3750924B2
Application number: JP2001245418A
Authority: JP
Inventors: 健一茂木
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2001-08-13
Filing date: 2001-08-13
Publication date: 2006-03-01
Anticipated expiration: 2021-08-13
Also published as: JP2003057354A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、原子力発電所等で使用する放射線モニタに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
原子力発電所等では、従来から半導体検出器を使用した放射線モニタが使用されている。図７は、従来の半導体検出器を使用した放射線モニタの構成を示すブロック図である。図７において、１は第１の半導体検出器、２は第２の半導体検出器、３は波高弁別計数回路、４は演算器、５はメモリ、６は表示器である。
【０００３】
第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２は、入射した放射線のエネルギーを吸収し、吸収したエネルギーに比例した電圧波高のアナログ信号パルスに変換して出力する。第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２の出力は合流され、波高弁別計数回路３に入力される。波高弁別計数回路３は、アナログ信号パルスを入力して所定の弁別レベル以上の波高値のパルスを計数する。演算器４は、波高弁別計数回路３とメモリ５及び表示器６を制御し、定周期で波高弁別計数回路３の計数値を読み込んでメモリ５に格納し、メモリ５に格納されている演算プログラム及びデータにより計数率等の演算を実行し、演算結果をメモリ５に格納するとともに表示器６に表示する。ここで、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２は、例えばＣｄＴｅ半導体センサ、ＰＩＮ（Ｐ層、空乏層、Ｎ層の構造）型Ｓｉ半導体センサが用いられ、それぞれ半導体センサを１個または複数個備えている。
【０００４】
図８は、図７に示すＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄにおける信号波形を示すものである。図８において、ａ１、ａ７は第１の半導体検出器１が放射線を検出した結果としてのアナログ信号パルス、ａ３は第１の半導体検出器１の内部ノイズ、ａ５、ａ６は外来ノイズである。同様に、ｂ４、ｂ８は第２の半導体検出器２が放射線を検出した結果としてのアナログ信号パルス、ｂ２は第２の半導体検出器２の内部ノイズ、ｂ５、ｂ６は外来ノイズである。第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２の出力は合流して波高弁別計数回路３に入力される。
【０００５】
このため、同時タイミングの波形ａ５とｂ５、ａ６とｂ６は、それぞれ波高値が加算されてｃ５、ｃ６となる。非同時タイミングの波形ａ１、ａ３、ａ７、ｂ２、ｂ４、ｂ８は、そのままの波高値で、それぞれｃ１、ｃ３、ｃ７、ｃ２、ｃ４、ｃ８となる。波高弁別計数回路３において、波高弁別レベルを超えたアナログ信号パルスｃ１、ｃ４、ｃ７、ｃ８及び波高弁別レベルを超えた外来ノイズｃ５、ｃ６はそれぞれデジタルパルスｄ１、ｄ４、ｄ７、ｄ８、ｄ５、ｄ６に変換されて計数される。第１の半導体検出器１の内部ノイズｄ３、第２の半導体検出器２の内部ノイズｄ２は波高値が小さいため計数から除外される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の放射線モニタにおいて、第１及び第２の半導体検出器１及び２に用いられる半導体検出器は、シンチレーション検出器に比べて出力信号パルスの波高値が小さく、また、検出感度を高める目的等で複数の検出器を並列接続した場合に外来ノイズが増幅されるため、外来ノイズ対策としてノイズを排除した測定が課題であった。
【０００７】
この発明は上述した従来例に係る問題点を解消するためになされたもので、外来ノイズが混入することを防止できる放射線モニタを得ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る放射線モニタは、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する１個または複数の半導体センサをそれぞれ有し、２つのグループに分けて備えられた第１及び第２の半導体検出器と、前記第１及び第２の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する非同時計数回路とを備えたものである。
【０００９】
また、前記第１及び第２の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する同時計数回路と、前記非同時計数回路及び前記同時計数回路から出力される非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その比Ｋが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｋが所定値以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Ｐが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｐが所定値以上の時に、今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力する演算器とを備えたものである。
【００１０】
さらに、前記演算器は、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信するものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１を図に基づいて説明する。
図１は、この発明の実施の形態１に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。図７に示す従来例と同一部分は同一符号を付してその説明は省略する。新たな符号として、７は非同時計数回路であり、この非同時計数回路７は、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する。なお、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２は、それぞれ半導体センサを１個または複数個備えたものである。また、非同時計数回路７の波高弁別の条件は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レベル以下としても、あるいはそれを多重に積み上げた波高分析条件としてもよいことは言うまでもない。
【００１２】
図２は、図１に示すＡ、Ｂ、Ｅにおける信号波形を示すもので、非同時計数回路７において、アナログ信号パルスａ１、ａ７、ｂ４、ｂ８は波高値が弁別レベル以上かつ非同時タイミングの条件を満たすので計数される。外来ノイズａ５とｂ５は、破線で示す波高弁別レベルを超えているものの同時タイミングのため計数から除外される。外来ノイズａ６とｂ６、内部ノイズａ３、ｂ２は破線で示す波高弁別レベル以下のため計数から除外される。
【００１３】
非同時計数回路７による計数値は、演算器４に入力され、演算器４は、非同時計数回路７とメモリ５及び表示器６を制御し、定周期で非同時計数回路７の計数値を読み込んでメモリ５に格納し、メモリ５に格納されている演算プログラム及びデータにより計数率等の演算を実行し、演算結果をメモリ５に格納するとともに表示器６に表示する。
【００１４】
従って、上記実施の形態１によれば、非同時計数回路７により、非同時タイミングのアナログ信号パルスを選択的に計数することにより、計数に外来ノイズが混入することを防止できる。
【００１５】
実施の形態２．
この発明の実施の形態２を図に基づいて説明する。
図３は、この発明の実施の形態２に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。図１に示す実施の形態１と同一部分は同一符号を付してその説明は省略する。新たな符号として、８は同時計数回路であり、この同時計数回路８は、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する。なお、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２は、それぞれ半導体センサを１個または複数個備えたものである。また、同時計数回路８の波高弁別の条件は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レベル以下としても、あるいはそれを多重に積み上げた波高分析条件としてもよいことは言うまでもない。
【００１６】
図４は、図３に示すＡ、Ｂ、Ｅ、Ｆにおける信号波形を示すもので、同時計数回路８において、外来ノイズａ５とｂ５は、波高弁別レベル以上かつ同時タイミングの条件を満たすため計数される。外来ノイズａ６とｂ６は、波高弁別レベル以下のため計数から除外される。
【００１７】
このように、同時計数回路８により同時タイミングのパルスを計数することにより、外来ノイズの侵入の程度を把握することできる。
【００１８】
図５は、演算器４の演算処理フローを示すものである。ステップｆ１では、非同時計数回路７から出力される今回非同時計数値を入力しメモリ５に記憶する。ステップｆ２では、同時計数回路８から出力される今回同時計数値を入力しメモリ５に記憶する。ステップｆ３では、今回非同時計数値と前回非同時計数値とを比較する。前回非同時計数値の代わりに前回計測値に積算時間を掛けた平均非同時計数値を基準値としてもよい。
【００１９】
その比較結果して、今回非同時計数値≧Ｋ・前回非同時計数値の場合は、ステップｆ４に進み、今回非同時計数値＜Ｋ・前回非同時計数値の場合は、ステップｆ６に進む。ステップｆ４では、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比較結果、今回同時計数値≧Ｐ・今回非同時計数値の場合は、ステップｆ５に進み、今回同時計数値＜Ｐ・今回非同時計数値の場合は、ステップｆ６に進む。なお、Ｋは計測時間に関係する値で、計測時間が長くなれば１に近づく値であり、また、Ｐはノイズ混入許容率である。
【００２０】
ステップｆ５では、今回非同時計数値を廃却し、非同時計数値の最新値は前回値のままとする。ステップｆ６では、今回計測値の演算を行う。今回計測値は、例えば今回計数値を積算時間で割って計数率として求められる。また、最新の複数回の非同時計数値の平均値として求められる。その平均値の演算方法としては、積算時間が一定になるように移動平均してもよいし、または、積算計数値が一定になるように積算時間を制御してもよい。ステップｆ７では、ステップｆ６の演算結果の今回計測値を表示器６により表示させる。
【００２１】
従って、上記実施の形態２によれば、外来ノイズの侵入の程度を把握し、非同時計数値が急激に上昇し、急激なノイズ侵入と同期している場合は、当該非同時計数を計測値演算のデータから排除することにより、非同時タイミングのアナログ信号パルスを選択的に計数しても排除しきれないような高周波ノイズに対して、指示上昇を防止できる。
【００２２】
実施の形態３．
この発明の実施の形態３を図に基づいて説明する。
この実施の形態３では、実施の形態２と同様な図３に示す構成を備え、演算器４は、実施の形態２と同様に図５に示すフローに従って演算処理を実行するが、図５に示すステップｆ７の処理内容が異なる。
【００２３】
図６は、この発明の実施の形態３に係る放射線モニタの演算器４の演算処理フローを示すものであり、図５に示すステップｆ７に相当し、ステップｆ７１，ｆ７２，ｆ７３を有する。ステップｆ７１では、今回非同時計数値の廃棄回数と基準値Ｒを比較し、今回非同時計数値の廃棄回数≧Ｒの場合は、ステップｆ７２に進み、警報を発信し、今回非同時計数値の廃棄回数＜Ｒの場合は、ステップｆ７３に進み、今回計数値を表示すると共に、警報が発信された場合に警報を表示する。
【００２４】
従って、上記実施の形態３によれば、継続するノイズ源の存在を報知することにより、トラブルを未然に防止できる。
【００２５】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する複数の半導体検出器を２つのグループに分け、その非同時出力パルスを計数ようにしたので、計数に外来ノイズが混入することを防止できる。
【００２６】
また、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する複数の半導体検出器を２つのグループに分け、その非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その比Ｋが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｋが所定値以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Ｐが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｐが所定値以上の時に、今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力するようにしたので、非同時計数で排除しきれない高周波ノイズに対しても指示上昇を防止できる。
【００２７】
さらに、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信するようにしたので、継続するノイズ源の存在を報知してトラブルを未然に防止できる
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係る放射線モニタの信号波形を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態２に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図４】この発明の実施の形態１に係る放射線モニタの信号波形を示す図である。
【図５】この発明の実施の形態３に係る放射線モニタの演算処理フローを示す図である。
【図６】この発明の実施の形態３に係る放射線モニタの演算処理フローを示す図である。
【図７】従来の半導体検出器を用いた放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図８】従来の半導体検出器を用いた放射線モニタの信号波形を示す図である。
【符号の説明】
１第１の半導体検出器、２第２の半導体検出器、４演算器、５メモリ、６表示器、７非同時計数回路、８同時計数回路。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a radiation monitor used in a nuclear power plant or the like.
[0002]
[Prior art]
In a nuclear power plant or the like, a radiation monitor using a semiconductor detector has been conventionally used. FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor using a conventional semiconductor detector. In FIG. 7, 1 is a first semiconductor detector, 2 is a second semiconductor detector, 3 is a pulse height discrimination counter circuit, 4 is a calculator, 5 is a memory, and 6 is a display.
[0003]
The first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 absorb the energy of the incident radiation, convert it into an analog signal pulse having a voltage peak proportional to the absorbed energy, and output it. The outputs of the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 are merged and input to the wave height discrimination counting circuit 3. The crest discrimination counting circuit 3 receives analog signal pulses and counts crest pulses having a predetermined discrimination level or higher. The arithmetic unit 4 controls the wave height discrimination counting circuit 3, the memory 5 and the display 6, reads the count value of the wave height discrimination counting circuit 3 at a fixed period, stores it in the memory 5, and the arithmetic program stored in the memory 5 And the calculation such as the counting rate is executed with the data, and the calculation result is stored in the memory 5 and displayed on the display 6. Here, as the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2, for example, a CdTe semiconductor sensor or a PIN (P layer, depletion layer, N layer structure) type Si semiconductor sensor is used. One or more.
[0004]
FIG. 8 shows signal waveforms at A, B, C, and D shown in FIG. In FIG. 8, a1 and a7 are analog signal pulses as a result of detection of radiation by the first semiconductor detector 1, a3 is internal noise of the first semiconductor detector 1, and a5 and a6 are external noise. Similarly, b4 and b8 are analog signal pulses as a result of detection of radiation by the second semiconductor detector 2, b2 is internal noise of the second semiconductor detector 2, and b5 and b6 are external noise. The outputs of the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 merge and are input to the wave height discrimination counting circuit 3.
[0005]
For this reason, the waveform a5 and b5 and a6 and b6 of the simultaneous timing are respectively added to the crest values to become c5 and c6. Waveforms a1, a3, a7, b2, b4, and b8 of non-simultaneous timing are crest values as they are, and are c1, c3, c7, c2, c4, and c8, respectively. In the wave height discrimination counting circuit 3, analog signal pulses c1, c4, c7, c8 exceeding the wave height discrimination level and external noise c5, c6 exceeding the wave height discrimination level are digital pulses d1, d4, d7, d8, d5, d6, respectively. Is converted to and counted. The internal noise d3 of the first semiconductor detector 1 and the internal noise d2 of the second semiconductor detector 2 are excluded from the count because the crest value is small.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional radiation monitor described above, the semiconductor detectors used for the first and second semiconductor detectors 1 and 2 have a smaller peak value of the output signal pulse than the scintillation detector, and are intended to increase the detection sensitivity. Since external noise is amplified when a plurality of detectors are connected in parallel, etc., measurement with noise eliminated as a countermeasure against external noise has been a problem.
[0007]
The present invention has been made in order to solve the problems associated with the above-described conventional example, and an object thereof is to obtain a radiation monitor capable of preventing external noise from being mixed.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The radiation monitor according to the present invention includes first and second semiconductor detectors each having one or a plurality of semiconductor sensors that detect radiation and output analog signal pulses, and are provided in two groups. A non-simultaneous counting circuit that receives analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors, and counts pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a condition of non-simultaneous timing; It is provided.
[0009]
Also, a coincidence counting circuit for inputting analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors, counting pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a simultaneous timing condition, and The non-simultaneous counting circuit and the non-simultaneous output pulses and simultaneous output pulses output from the coincidence counting circuit are counted at regular intervals, respectively, and the average non-synchronized value calculated from the current non-simultaneous clock value and the previous non-simultaneous clock value or the previous measured value The clock value is compared as a reference value, and when the ratio K is less than a predetermined value, the current measurement value is calculated and output from the current non-same clock value or the latest non-same clock value including the current time, and the ratio When K is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is compared with the current non-clock value, and when the ratio P is less than the predetermined value, the current clock value or the latest multiple non-clock values including this time To this time When the ratio P is equal to or greater than a predetermined value, the current non-same clock value is discarded, and the previous non-same clock value or the latest multiple non-same clock values including the previous time are calculated. This time, it has an arithmetic unit that calculates and outputs the measured value.
[0010]
Further, the computing unit issues a failure alarm when the number of times of discarding the non-clock value this time continues for a predetermined number of times.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor according to Embodiment 1 of the present invention. The same parts as those of the conventional example shown in FIG. As a new code, reference numeral 7 denotes a non-coincidence counting circuit. The non-coincidence counting circuit 7 inputs analog signal pulses output from the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 and outputs a peak value. Are counted above a predetermined discrimination level and satisfy the condition of non-simultaneous timing. Each of the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 includes one or more semiconductor sensors. Needless to say, the condition for discriminating the wave height of the non-simultaneous counting circuit 7 may be that the wave height value is not less than a predetermined lower limit level and not more than the upper limit level, or may be a wave height analysis condition obtained by multiplying the wave height values.
[0012]
FIG. 2 shows signal waveforms at A, B, and E shown in FIG. 1. In the non-coincidence counting circuit 7, analog signal pulses a1, a7, b4, and b8 have peak values equal to or higher than the discrimination level and non-simultaneous timing. It counts because it satisfies the condition. The external noises a5 and b5 are excluded from the count because of the simultaneous timing although they exceed the wave height discrimination level indicated by the broken line. The external noises a6 and b6 and the internal noises a3 and b2 are excluded from the count because they are below the wave height discrimination level indicated by the broken line.
[0013]
The count value obtained by the non-simultaneous counting circuit 7 is input to the arithmetic unit 4, and the arithmetic unit 4 controls the non-simultaneous counting circuit 7, the memory 5, and the display 6, and calculates the count value of the non-simultaneous counting circuit 7 at a fixed period. The data is read and stored in the memory 5, the calculation such as the counting rate is executed by the calculation program and data stored in the memory 5, and the calculation result is stored in the memory 5 and displayed on the display 6.
[0014]
Therefore, according to the first embodiment, the non-simultaneous counting circuit 7 can selectively count analog signal pulses with non-simultaneous timing, thereby preventing external noise from being mixed in the counting.
[0015]
Embodiment 2. FIG.
A second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the radiation monitor according to Embodiment 2 of the present invention. The same parts as those in the first embodiment shown in FIG. As a new code, reference numeral 8 denotes a coincidence counting circuit. The coincidence counting circuit 8 inputs analog signal pulses output from the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 and has a predetermined peak value. The number of pulses that are equal to or higher than the discrimination level and satisfy the simultaneous timing condition are counted. Each of the first semiconductor detector 1 and the second semiconductor detector 2 includes one or more semiconductor sensors. Needless to say, the condition for discriminating the wave height of the coincidence counting circuit 8 may be that the wave height value is not less than a predetermined lower limit level and not more than the upper limit level, or may be a wave height analysis condition obtained by multiplying the wave height values.
[0016]
FIG. 4 shows signal waveforms at A, B, E, and F shown in FIG. 3. In the coincidence counting circuit 8, the external noises a5 and b5 are counted because they satisfy the condition of simultaneous timing and higher than the wave height discrimination level. The External noises a6 and b6 are excluded from the count because they are below the wave height discrimination level.
[0017]
Thus, by counting the simultaneous timing pulses by the coincidence counting circuit 8, the degree of intrusion of external noise can be grasped.
[0018]
FIG. 5 shows a calculation processing flow of the calculator 4. In step f 1, the current asynchronous clock value output from the non-simultaneous counting circuit 7 is input and stored in the memory 5. In step f 2, the current clock value output from the coincidence counting circuit 8 is input and stored in the memory 5. In step f3, the current non-same clock value is compared with the previous non-same clock value. Instead of the previous non-clock value, an average non-clock value obtained by multiplying the previous measurement value by the integration time may be used as the reference value.
[0019]
As a result of the comparison, if the current non-same clock value ≧ K · previous non-same clock value, the process proceeds to step f4. If the current non-same clock value <K · previous non-same clock value, the process proceeds to step f6. In step f4, the current clock value is compared with the current non-clock value, and if the comparison result shows that the current clock value is greater than or equal to P. If it is a non-same clock value this time, the process proceeds to step f6. Note that K is a value related to the measurement time, and is a value that approaches 1 when the measurement time is long, and P is a noise mixture allowable rate.
[0020]
In step f5, the current non-clock value is discarded, and the latest value of the non-clock value remains the previous value. In step f6, the current measurement value is calculated. The current measurement value is obtained as a count rate by dividing the current count value by the accumulated time, for example. Moreover, it is calculated | required as an average value of the newest non-same clock numerical value. As a calculation method of the average value, a moving average may be performed so that the integration time becomes constant, or the integration time may be controlled so that the integration count value becomes constant. In step f7, the present measurement value of the calculation result of step f6 is displayed on the display 6.
[0021]
Therefore, according to the second embodiment, the degree of intrusion of external noise is grasped, and when the non-clockwise value increases rapidly and is synchronized with the rapid noise intrusion, the non-coincidence count is measured. By eliminating the calculation data, it is possible to prevent an increase in instruction for high-frequency noise that cannot be excluded even by selectively counting analog signal pulses at non-simultaneous timing.
[0022]
Embodiment 3 FIG.
Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to the drawings.
In the third embodiment, the configuration shown in FIG. 3 similar to that of the second embodiment is provided, and the arithmetic unit 4 executes arithmetic processing according to the flow shown in FIG. 5 as in the second embodiment. The processing content of step f7 shown is different.
[0023]
FIG. 6 shows a calculation process flow of the calculator 4 of the radiation monitor according to the third embodiment of the present invention, which corresponds to step f7 shown in FIG. 5 and includes steps f71, f72, and f73. In step f71, the number of discards of the current non-clock value is compared with the reference value R. If the number of times of discard of the current clock value is greater than or equal to R, the process proceeds to step f72 to issue an alarm and If the number of times of disposal is less than R, the process proceeds to step f73, where the current count value is displayed, and when an alarm is issued, an alarm is displayed.
[0024]
Therefore, according to the third embodiment, it is possible to prevent trouble by notifying the existence of a continuous noise source.
[0025]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a plurality of semiconductor detectors that detect radiation and output analog signal pulses are divided into two groups, and the non-simultaneous output pulses are counted. Can be prevented.
[0026]
In addition, a plurality of semiconductor detectors that detect radiation and output analog signal pulses are divided into two groups, and the non-simultaneous output pulses and simultaneous output pulses are counted at regular intervals, respectively. When the same clock value or the average non-clock value obtained from the previous measurement value is compared as a reference value, and the ratio K is less than the predetermined value, the current non-clock value or the latest multiple times When the ratio K is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is compared with the current non-clock value, and when the ratio P is less than the predetermined value, the current clock value is calculated. Alternatively, the current measurement value is calculated and output from the latest multiple times of the same clock value including the current time, and when the ratio P is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is discarded and the previous clock value or the previous clock value is discarded. Previous multiple including Since so calculates and outputs a current measurement value from the non-coincidence count of an instruction rise against high-frequency noise that can not be eliminated by the non-coincidence can be prevented.
[0027]
In addition, since a failure alarm is issued when the number of discarded non-same clock values continues for a predetermined number of times this time, it is possible to prevent the trouble by notifying the existence of a continuing noise source. ]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of the radiation monitor according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor according to Embodiment 2 of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing signal waveforms of the radiation monitor according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a calculation processing flow of a radiation monitor according to Embodiment 3 of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing a calculation processing flow of the radiation monitor according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a radiation monitor using a conventional semiconductor detector.
FIG. 8 is a diagram showing signal waveforms of a radiation monitor using a conventional semiconductor detector.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st semiconductor detector, 2nd 2nd semiconductor detector, 4 arithmetic unit, 5 memory, 6 indicator, 7 non coincidence counting circuit, 8 coincidence counting circuit.

Claims

放射線を検出してアナログ信号パルスを出力する１個または複数の半導体センサをそれぞれ有し、２つのグループに分けて備えられた第１及び第２の半導体検出器と、
前記第１及び第２の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する非同時計数回路と、
前記第１及び第２の半導体検出器から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数する同時計数回路と、
前記非同時計数回路及び前記同時計数回路から出力される非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その比Ｋが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｋが所定値以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Ｐが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｐが所定値以上の時に、今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力する演算器と
を備えた放射線モニタ。First and second semiconductor detectors each having one or a plurality of semiconductor sensors that detect radiation and output analog signal pulses and are provided in two groups;
A non-simultaneous counting circuit that receives analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors and counts pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a condition of non-simultaneous timing ;
A coincidence counting circuit for inputting analog signal pulses output from the first and second semiconductor detectors, counting pulses having a peak value equal to or higher than a predetermined discrimination level and satisfying a simultaneous timing condition;
The non-simultaneous counting circuit and the non-simultaneous output pulse and the simultaneous output pulse output from the coincidence counting circuit are respectively counted at a fixed period, and the average non-simultaneous value obtained from the current non-simultaneous clock value and the previous non-simultaneous clock value or the previous measured value are calculated. The same clock value is compared as a reference value, and when the ratio K is less than a predetermined value, the current measurement value is calculated and output from the current non-same clock value or the latest non-same clock value including the current time, When the ratio K is equal to or greater than a predetermined value, the current clock value is compared with the current non-clock value, and when the ratio P is less than the predetermined value, the current non-clock value or the latest plurality of non-clock clocks including the current time. The current measurement value is calculated and output from the numerical value, and when the ratio P is equal to or greater than the predetermined value, the current non-same clock value is discarded, and the previous non-same clock value or the latest multiple non-same times including the previous time. Calculate and output the current measurement value from the clock value Radiation monitor comprising a calculator that.

請求項１に記載の放射線モニタにおいて、
前記演算器は、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信する
ことを特徴とする放射線モニタ。The radiation monitor according to claim 1 .
The arithmetic unit issues a failure warning when the number of times the non-clockwise clock value is discarded continues for a predetermined number of times.