JP3745212B2 - Bonded body of silicon carbide member and bonding method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は炭化珪素部材の接合体およびその接合方法に係わり、特に接合部を特定の形状にしスリップ状の接着材を用いて接合した炭化珪素部材の接合体とその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造時の種々の熱処理工程において、炭化珪素部材はその高純度、耐熱性等優れた特性を有するため、熱処理装置あるいは熱処理治具として用いられている。しかし、Si−SiC系材質は緻密性と高硬度であるため、これらの熱処理装置あるいは熱処理治具の構成部品間の接合は接着ペーストを用いて行っていた。
【0003】
図10に示すように、半導体炉芯管31は、大型でありスリップキャストなどにより管体とガス導入管を一体に成形することは容易なことではなく、従来一般には管体32にガス導入管33を取り付けるには、このガス導入管33の周囲に設けられたリング形状の立上34と管体32の開口35の内周端部35a間に形成される接合部36に接着ペーストPを充填して行っていた。
【0004】
しかし、従来の接着ペーストPを用いる接合方法では、接着ペーストPの粘度が高いため、接着ペーストPが接合部36の細部まで回り込みにくく、また、接着ペーストPは空気を巻き込み易い。その結果、接着ペーストPの回り込み不足や空気の巻き込みによって、接着ペーストP内にポアが発生する。
【0005】
このポアが発生すると、強度的に弱くなり、さらに、炉芯管31の使用を止めた後、再度使用する場合など、接着ペーストPのポアに水分が溜まり、半導体炉芯管31の使用時に、水分が膨張して接合部が破損するおそれがあった。
【0006】
また、図11に示すように、半導体ウェーハを支持する支持溝52が多数設けられた複数本の支持体53により支持して、半導体ウェーハを熱処理するのに用いられるウェーハボート51は、底板に立設された支持体53に天板54が取り付けられている。
【0007】
天板54の支持体53への取り付けは、天板54に設けられた取付孔55と支持体53に設けられた取付部56間の接合部57に接着ペーストPを充填して行っていた。
【0008】
しかし、従来の接着ペーストPを用いる接合方法では、接着ペーストPの回り込み不足や空気の巻き込みによって、ポアが発生する。
【0009】
このポアが発生すると、強度的に弱くなり、さらに、ウェーハボート51の洗浄などにより、接着ペーストPのポアに洗浄水が残留し、このウェーハボート51を用いて熱処理を行うと、ポア内に残留する洗浄水が膨張して接合部が破損するおそれがあった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、接合が容易で、使用中に破損のおそれがない炭化珪素部材の接合体およびその接合方法が要望されており、本発明は接合が容易で、使用中に破損のおそれがない炭化珪素部材の接合体およびその接合方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するためになされた本願請求項1の発明は、一の炭化珪素製部材と、この一の炭化珪素製部材に接合された他の接合部材と、前記両部材間に形成された接合部と、この接合部に充填され前記両部材を接合させた接着材とを有し、前記接合部には、一側開口から断面積が漸次減少して狭小部が設けられかつ、この狭小部から折曲して連通する他側開口が設けられたことを特徴とする炭化珪素部材の接合体であることを要旨としている。
【0012】
本願請求項2の発明では、上記接合部の断面積が漸次減少する開先を形成し、この開先角度は20〜45°、狭小部の間隔は1〜3mmであることを特徴とする請求項1に記載の炭化珪素部材の接合体であることを要旨としている。
【0013】
本願請求項3の発明は、接合する両炭化珪素焼結体間に接合部を形成し、この接合部にスリップ状の接着材を流し込む開先を形成するように離間して配置し、しかる後、開先から接着材を接合部に流し込み、その一部が流出口から流出するように充填し、乾燥し、シリコンを含浸させることを特徴とする炭化珪素部材の接合方法であることを要旨としている。
【0014】
本願請求項4の発明では、上記接着材の粘度は0〜1(N・s/m2)であることを特徴とする請求項3に記載の炭化珪素部材の接合方法であることを要旨としている。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第1実施形態についてシリコン含浸炭化珪素半導体熱処理用炉芯管を例にとり添付図面を参照して説明する。
【0016】
図1に示すような炭化珪素部材の接合体、例えば横型炉芯管1は、管体2の一端部にガス導入部3、他端部にガス排気部4が設けられ、さらに、これらの両端部間には均熱部2aが形成されている。
【0017】
図2に示すように、ガス導入部3はフランジ5を具備するガス導入管6の端部に設けられている。このガス導入管6の近傍には、熱電対挿入管7が取り付けられている。また、熱電対8は炉内の温度を測定し、炉内温度を制御するためのもので、管体2に取り付けられた熱電対挿入管7を貫通する保護管9内に収納されて、管体2内に挿入される。
【0018】
ガス導入管6は、図1および図2に示すように円筒形状をなし、図3に示すような接合構造10により、その一端で管体2に接着材Bにより管体開口部11に取り付けられている。
【0019】
例えば、図3に示す接合構造10は、管体2とガス導入管6間に形成される接合部12にスリップ状で充填され焼成、固化した接着材Bにより、管体2ガスと導入管6とを接合する構造になっている。そして、接合部12は、一側開口である接着材流し込み時の流入口13から断面積が、例えば最小になる狭小部14にかけて設けられた垂直接合部12vと、狭小部14から他側開口である接着材の流出口15にかけて折曲して設けられた水平接合部12hからなっている。
【0020】
さらに、垂直接合部12vは、導入管6のガス流入路16の周囲から一体的に立ち上がった立上部17の立上テーパ部17tと管体開口部11の開口テーパ部11tにより形成されている。また、垂直接合部12vは、ガス導入管6を管体2に接合するときに、スリップ状の接着材Bが容易に流し込めるように、立上テーパ部17tと開口テーパ部11t間に開先18が形成されるようになっており、この開先18は、後述理由により、好ましくは20〜45°の開先角度θを有している。また、開先18の最下端部には上記狭小部14が形成され、この狭小部14の最小間隙Wは1〜3mmが好ましい。1mmより小さいと接着材が流入しにくく、内部に気泡を巻き込む危険があり、3mmを超えるとスリップ状の接着材乾燥時の収縮によりクラックが入る危険性があり、また、接着材の体積が大きくなり強度が低下する。
【0021】
狭小部14と流出口15間に設けられる上記水平接合部12hは、立上部17の立上水平部17hと管体開口部11の開口水平部11h間に形成され、垂直接合部12vから、例えば90°折曲している。
【0022】
次に本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の製造方法の実施形態をシリコン含浸炭化珪素半導体熱処理用炉芯管を例にとり説明する。
【0023】
第1実施形態のシリコン含浸炭化珪素半導体熱処理用炉芯管1は、図4に示すような製造工程フロー図により製造される。
【0024】
高純度炭化珪素粉末とバインダーを混練して成形し、これを焼成して、図1に示すような管体2およびガス導入管6の焼成体を製造する(P1)。
【0025】
管体2およびガス導入管6の焼成体を用い、図5に示すように、接合部12には、垂直接合部12vが形成され、好ましくは20〜45°の開先角度θが形成され、また、好ましくは1〜3mmの狭小部14の最小間隔wが形成され、さらに、水平接合部12hが形成されるように配置する(P2)。
【0026】
ここで開先角度θが、20°未満では接合は可能であるが、内部に気泡を巻き込む危険性があり、45°を超えるとスリップ状の接着材乾燥時の収縮によりクラックが入る危険性がある。
【0027】
また、狭小部14の最小間隔wが、1mm未満では接合が可能であるが、内部に気泡を巻き込む危険があり、3mmを超えるとスリップ状の接着材乾燥時の収縮によりクラックが入る危険性があり、また、接着材の体積が大きくなり強度が低下する。
【0028】
次にスリップ状の接着材Bを開先18から接合部12に流し込み、水平接合部12hの端部から一部bが流出するようにする(P3)。
【0029】
この流し込んだ接着材Bは空気を追い出しながら、接合部12を充填し、接着材Bの脱泡と細部までの回り込みにより接着材B内のポアが減少し、ポアが膨張することにより起こる破損を減少させることができる。
【0030】
上記スリップ状の接着材Bの流し込み接合にとって好ましい粘度は、0.2〜1(N・s/m 2 )であり、より好ましくは0.2〜0.5(N・s/m 2 )である。この範囲であれば、作業性、接着材Bの回り込みの両方を満足する。
【0031】
しかし、この範囲より粘度が低い場合には、乾燥時間が遅く接着材Bの回りはよいが、作業性が悪くなり、粘度が高い場合には、乾燥時間は速いが、接着材Bの回り込みが悪くなり、気泡を巻き込み易くなる。
【0032】
上記スリップ状の接着材Bは、SiC粉末、バインダーおよび溶媒の混合割合が最適に調整され、さらに、SiC粉末の粒径あるいは粒形(球状、粉砕状形等)によって調整される。例えば、SiC粉の粒径は0.1〜100μmが好ましく、スリップ状の接着材Bの組成はSiC粉100重量部に対して、バインダーとしてアクリル樹脂を0〜6重量部、溶媒として水8〜40重量部とすることが好ましい。
【0033】
その他のバインダーとしては、プロピレングリコール、フェノール樹脂等を用いることができ、また、溶媒はバインダーの種類によって、水の他にアルコールやアセトンを適宜選択することができる。
【0034】
さらに、接合部11に接着材Bを充填して乾燥する(P4)。
【0035】
乾燥後必要に応じて、水平接合部12hの端部から流出した接着材Bの一部bおよび開先端部の露出部分を切除して、端面をきれいに整える。
【0036】
次にガス導入管6が取り付けられた管体2を大型シリコン含浸炉に入れて、管体2、ガス導入管6および接着材Bに溶融シリコンを含浸させる(P5)。
【0037】
上述のような製造工程により製造された炉芯管1には、スリップ状の接着材Bを接合部12に流し込むことにより、空気を追い出し、かつ、接着材Bの脱泡と細部までの回り込みによりポアを減少させることができシリコン含浸により強固にガス導入管6が接合される。
【0038】
従って、炉芯管1の使用停止後、再使用する場合など、接着材Bのポアに水分が溜まり、水分が膨張して接合部12を破損することがない。
【0039】
次に本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第2実施形態をシリコン含浸炭化珪素ウェーハボートを例にとり説明する。
【0040】
図6に示すように、シリコン含浸炭化珪素半導体ウェーハボート21は、底板22と、この底板22に立設され、半導体ウェーハ支持用の多数の支持溝23が設けられた断面円形状の4本の支持部材24と、この支持部材24に取り付けられた天板25からなっている。
【0041】
図7に示すように、支持部材24には截頭円錐形状の接合凸部26が形成され、この接合凸部26には凸部テーパ部26tが形成されている。また、天板25には接合凸部26が挿入される接合孔27が穿設されており、この接合孔27には孔テーパ部27tが形成されている。
【0042】
天板25が支持部材24に取り付けられた状態で、接合部28が形成され、接合部28にはスリップ状で充填され、焼成、固化した接着材Bが充填され、天板25が支持部材24に強固に接合されている。
【0043】
接合部28は垂直接合部28vと水平接合部28hからなり、垂直接合部28vは天板25を支持部材24に接合するときに、スリップ状の接着材Bが流し込まれ、凸部テーパ部26tと孔テーパ部27t間に形成される開先29が設けられている。この開先29は、第1実施形態に述べた理由により、好ましくは20〜45°の開先角度θを有している。また、開先29の終端部にはその開口幅が最小になる狭小部30が形成され、この狭小部30の最小間隔wは好ましくは1〜3mmである。さらに、狭小部30で90°折曲した垂直接合部28vが天板25と支持部材24の端面24e間に形成されている。
【0044】
上記シリコン含浸炭化珪素ウェーハボート21も図4に示すような製造工程フローに沿って製造される。
【0045】
このようにして製造されたシリコン含浸炭化珪素ウェーハボート21の使用後、洗浄して再使用する場合など、ポアに洗浄水が残留し、シリコン含浸炭化珪素ウェーハボート21の使用時に、この水分が膨張して接合部28が破損することがない。また、水分によって熱処理環境や半導体ウェーハを汚染することがない。
【0046】
【実施例】
1.試験方法: 本発明に係わる炭化珪素部材の接合体として、図8に示すような形状を有する支持体と天板の炭化珪素焼成体を製造し、下記のような接着材を用い、接合後は100℃、3時間の乾燥処理を行い、塩酸含有雰囲気中、1500℃、2時間の純化処理を行った後に、1500℃、2時間のシリコン含浸処理を行った。図9に示すような開先角度θおよび最小間隔wを変化させて行い、各10個の試料について接着材部分を顕微鏡により観察した。
【0047】
【外1】
【0048】
2.結果: 結果を表1に示す。
【0049】
【表1】
【0050】
上記実施例1〜6いずれにおいても、開先角度を設けない従来例に比べ、接着材部分のポア発生状況において、優位性が認められた。
【0051】
また、上記実施例1〜6の中でも、開先角度を20〜45°、最小間隔を1〜3mmとした実施例2〜4が特に優れた効果を奏することが確認された。
【0052】
【発明の効果】
本発明に係わる炭化珪素部材の接合体およびその接合方法によれば、接合が容易で、使用中に破損のおそれがない炭化珪素部材の接合体およびその接合方法を提供することができる。
【0053】
すなわち、一の炭化珪素製部材と、この一の炭化珪素製部材に接合される他の接合部材と、両部材間に形成された接合部と、この接合部に充填され両部材を接合する接着材と有し、接合部は流入口から断面積が漸次減少して狭小部を形成し、かつ、この狭小部から折曲し流出口に連通するので、接合部材は強固に接合される。さらに、スリップ状の接着材を接合部に流し込むことにより、空気を追い出し、かつ、接着材の脱泡と細部までの回り込みによりポアを減少させることができる。接合体が炉芯管やウェーハボート等である場合には、再使用時に、接着材のポアに水分が溜まっていないので、水分が膨張して接合部が破損することがなく、また、水分によって熱処理環境や半導体ウェーハを汚染することがない。
【0054】
また、接合部の断面積が漸次減少する開先を形成し、この開先角度は20〜45°、狭小部の間隔は1〜3mmであるので、接合部材を容易かつ強固に接合することができる。さらに、炉芯管やウェーハボート等を製造するのに用いる場合には、これらの再使用時に、接着材のポアに水分が溜まっていないので、水分が膨張して接合部が破損することがなく、また、水分によって熱処理環境や半導体ウェーハを汚染することがない。
【0055】
また、接着材の粘度は0〜1(N・s/m2)であるので、この範囲であれば、作業性、接着材の回り込みの両方を満足し、生産性が向上し、さらに、接着材のポアに水分が溜まるのを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第1実施形態である横型炉芯管の断面図。
【図2】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第1実施形態である横型炉芯管の側面図。
【図3】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第1実施形態である横型炉芯管の管体にガス導入管を接合した状態を示す断面図。
【図4】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の製造方法の工程フロー図。
【図5】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の製造方法による横型炉芯管の管体にガス導入管を接着する工程の断面図。
【図6】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第2実施形態であるウェーハボートの斜視図。
【図7】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の第2実施形態であるウェーハボートの支持体と天板を接合した状態を示す断面図。
【図8】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の実施例に用いられる支持体と板体の組立て工程を示す説明図。
【図9】本発明に係わる炭化珪素部材の接合体の実施例に用いられる支持体と板体の組立て状態を示す断面図。
【図10】従来の横型炉芯管の管体にガス導入管を接着した状態を示す断面図。
【図11】従来のウェーハボートの支持体と天板を接着した状態を示す断面図。
【符号の説明】
1 横型炉芯管
2 管体
2a 均熱部
3 ガス導入部
4 ガス排気部
5 フランジ
6 ガス導入管
7 熱電対挿入管
8 熱電対
9 保護管
10 接着構造
11 管体開口部
11h 開口水平部
11t 開口テーパ部
12 接合部
12h 水平接合部
12v 垂直接合部
13 流入口
14 狭小部
15 流出口
16 ガス流入口
17 立上部
17h 立上水平部
17t 立上テーパ部
18 開先
21 シリコン含浸炭化珪素半導体ウェーハボート
22 底板
23 支持溝
24 支持部材
24e 端面
25 天板
26 接合凸部
26t 凸部テーパ部
27 接合孔
27t 孔テーパ部
28 接合部
28v 垂直接合部
28h 水平接合部
29 開先
30 狭小部
B 接着材
θ 開先角度
w 最小間隔[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a bonded body of a silicon carbide member and a bonding method thereof, and more particularly to a bonded body of a silicon carbide member having a bonded portion formed in a specific shape and bonded using a slip-like adhesive and a manufacturing method thereof.
[0002]
[Prior art]
Silicon carbide members are used as heat treatment apparatuses or heat treatment jigs in various heat treatment processes during semiconductor manufacturing because they have excellent characteristics such as high purity and heat resistance. However, since Si—SiC materials are dense and have high hardness, bonding between the components of these heat treatment apparatuses or heat treatment jigs has been performed using an adhesive paste.
[0003]
As shown in FIG. 10, the semiconductor
[0004]
However, in the conventional bonding method using the adhesive paste P, since the viscosity of the adhesive paste P is high, the adhesive paste P is difficult to wrap around the details of the joint portion 36, and the adhesive paste P is easy to entrain air. As a result, pores are generated in the adhesive paste P due to insufficient wraparound of the adhesive paste P or air entrainment.
[0005]
When this pore is generated, the strength is weakened. Furthermore, after the use of the
[0006]
Further, as shown in FIG. 11, a
[0007]
The
[0008]
However, in the conventional bonding method using the adhesive paste P, pores are generated due to insufficient wraparound of the adhesive paste P or air entrainment.
[0009]
When this pore is generated, the strength is weakened, and further, cleaning water remains in the pores of the adhesive paste P due to cleaning of the
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
Accordingly, there is a need for a bonded body of silicon carbide member that can be easily joined and is not likely to be damaged during use, and a joining method thereof. The present invention is a silicon carbide member that can be easily joined and is not likely to be damaged during use. An object of the present invention is to provide a joined body and a joining method thereof.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The invention of
[0012]
In the invention of
[0013]
In the invention of
[0014]
According to a fourth aspect of the present invention, the viscosity of the adhesive material is 0 to 1 (N · s / m 2 ). Yes.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a silicon carbide member bonded body according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings by taking a silicon-impregnated silicon carbide semiconductor heat treatment furnace core tube as an example.
[0016]
A joined body of silicon carbide members as shown in FIG. 1, for example, a horizontal
[0017]
As shown in FIG. 2, the
[0018]
The
[0019]
For example, the joining
[0020]
Further, the vertical
[0021]
The horizontal
[0022]
Next, an embodiment of a method for producing a bonded body of silicon carbide members according to the present invention will be described by taking a silicon-impregnated silicon carbide semiconductor heat treatment furnace core tube as an example.
[0023]
The silicon-impregnated silicon carbide semiconductor heat treatment
[0024]
A high-purity silicon carbide powder and a binder are kneaded and molded and fired to produce a fired body of the
[0025]
Using the fired body of the
[0026]
Here, when the groove angle θ is less than 20 °, joining is possible, but there is a risk of entrapment of air bubbles inside, and when it exceeds 45 °, there is a risk of cracking due to shrinkage when drying the slip-like adhesive. is there.
[0027]
In addition, when the minimum interval w of the
[0028]
Next, the slip-like adhesive material B is poured from the
[0029]
The poured adhesive B fills the joint 12 while expelling air, and the pores in the adhesive B decrease due to defoaming and wrapping around the details of the adhesive B, and damage caused by the expansion of the pores. Can be reduced.
[0030]
The preferred viscosity for pouring junction of the slip-like adhesive B is 0.2~1 (N · s / m 2 ), more preferably 0.2~0.5 (N · s / m 2 ) is there. If it is this range, both workability | operativity and the wraparound of the adhesive material B will be satisfied.
[0031]
However, when the viscosity is lower than this range, the drying time is slow and the surroundings of the adhesive B are good, but the workability is poor, and when the viscosity is high, the drying time is fast, but the adhesive B wraps around. It becomes bad and it becomes easy to entrain air bubbles.
[0032]
In the slip-like adhesive B, the mixing ratio of the SiC powder, the binder, and the solvent is optimally adjusted, and further adjusted by the particle size or particle shape (spherical, pulverized shape, etc.) of the SiC powder. For example, the particle size of the SiC powder is preferably 0.1 to 100 μm, and the composition of the slip-like adhesive B is 0 to 6 parts by weight of acrylic resin as a binder and 8 to 8 water as a solvent with respect to 100 parts by weight of SiC powder. The amount is preferably 40 parts by weight.
[0033]
As the other binder, propylene glycol, a phenol resin, or the like can be used, and as the solvent, alcohol or acetone can be appropriately selected in addition to water depending on the type of the binder.
[0034]
Furthermore, the
[0035]
If necessary after drying, a part b of the adhesive B that has flowed out from the end of the horizontal joint 12h and an exposed part of the open tip are excised to clean the end face.
[0036]
Next, the
[0037]
In the
[0038]
Therefore, when the
[0039]
Next, a silicon carbide member joined body according to a second embodiment of the present invention will be described by taking a silicon-impregnated silicon carbide wafer boat as an example.
[0040]
As shown in FIG. 6, the silicon-impregnated silicon carbide
[0041]
As shown in FIG. 7, the
[0042]
In the state where the
[0043]
The joining
[0044]
The silicon-impregnated silicon
[0045]
When the silicon-impregnated silicon
[0046]
【Example】
1. Test method: As a bonded body of silicon carbide members according to the present invention, a support body having a shape as shown in FIG. 8 and a silicon carbide fired body of a top plate are manufactured, and the following adhesive is used, and after bonding, A drying treatment was performed at 100 ° C. for 3 hours, and after a purification treatment at 1500 ° C. for 2 hours in an atmosphere containing hydrochloric acid, a silicon impregnation treatment was performed at 1500 ° C. for 2 hours. The groove angle θ and the minimum interval w as shown in FIG. 9 were changed, and the adhesive material portion of each of the ten samples was observed with a microscope.
[0047]
[Outside 1]
[0048]
2. Results: The results are shown in Table 1.
[0049]
[Table 1]
[0050]
In any of the above Examples 1 to 6, superiority was recognized in the occurrence of pores in the adhesive portion compared to the conventional example in which no groove angle was provided.
[0051]
In addition, among Examples 1 to 6, it was confirmed that Examples 2 to 4 having a groove angle of 20 to 45 ° and a minimum interval of 1 to 3 mm exhibited particularly excellent effects.
[0052]
【The invention's effect】
According to the joined body of silicon carbide member and the joining method thereof according to the present invention, it is possible to provide a joined body of silicon carbide member that is easy to join and that is not likely to be damaged during use, and a joining method thereof.
[0053]
That is, one silicon carbide member, another joint member joined to the one silicon carbide member, a joint formed between the two members, and an adhesive filling the joint and joining the two members Since the cross-sectional area gradually decreases from the inflow port to form a narrow portion, and the joint portion is bent from the narrow portion and communicates with the outflow port, the joint member is firmly joined. Furthermore, by pouring slip-like adhesive into the joint, air can be expelled, and pores can be reduced by defoaming the adhesive and wrapping around the details. When the joined body is a furnace core tube, a wafer boat, or the like, since moisture does not accumulate in the pores of the adhesive when reused, the moisture will not expand and the joint will not be damaged. It does not contaminate the heat treatment environment or the semiconductor wafer.
[0054]
Moreover, since the groove | channel where the cross-sectional area of a junction part reduces gradually is formed, this groove angle is 20-45 degrees and the space | interval of a narrow part is 1-3 mm, it can join a joining member easily and firmly. it can. Furthermore, when used to manufacture furnace core tubes, wafer boats, etc., when these are reused, moisture does not accumulate in the pores of the adhesive, so that the moisture does not expand and the joints are not damaged. In addition, the heat treatment environment and the semiconductor wafer are not contaminated by moisture.
[0055]
In addition, since the viscosity of the adhesive is 0 to 1 (N · s / m 2 ), within this range, both the workability and the wraparound of the adhesive are satisfied, and the productivity is improved. It is possible to prevent water from accumulating in the pores of the material.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a horizontal furnace core tube which is a first embodiment of a joined body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 2 is a side view of a horizontal furnace core tube which is a first embodiment of a joined body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state where a gas introduction pipe is joined to a tubular body of a horizontal furnace core pipe which is a first embodiment of a joined body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 4 is a process flow diagram of a method for manufacturing a joined body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 5 is a cross-sectional view of a process of bonding a gas introduction pipe to a tubular body of a horizontal furnace core pipe by a method for manufacturing a joined body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 6 is a perspective view of a wafer boat which is a second embodiment of the joined body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which a support body and a top plate of a wafer boat which is a second embodiment of a bonded body of silicon carbide members according to the present invention are bonded together.
FIG. 8 is an explanatory view showing an assembling process of a support and a plate used in an embodiment of a bonded body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 9 is a cross-sectional view showing an assembled state of a support and a plate used in an embodiment of a bonded body of silicon carbide members according to the present invention.
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state in which a gas introduction pipe is bonded to a tubular body of a conventional horizontal furnace core pipe.
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in which a conventional wafer boat support and a top plate are bonded together.
[Explanation of symbols]
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