JP3721363B2

JP3721363B2 - Load driving IC

Info

Publication number: JP3721363B2
Application number: JP2003001680A
Authority: JP
Inventors: 紀章木村; 至田辺
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Car Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Automotive Systems Engineering Co Ltd
Priority date: 2003-01-08
Filing date: 2003-01-08
Publication date: 2005-11-30
Anticipated expiration: 2023-01-08
Also published as: JP2004212306A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣの異常診断方法に関する。特に負荷駆動用のドライバ素子と負荷の異常診断機能を有するＩＣに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、負荷駆動用のドライバ素子を複数個有するＩＣの異常診断方法は、少なくともドライバ素子と同じ数の異常診断信号出力端子を有していた。また、異常診断信号出力端子の数が、ドライバ素子の数より少ないＩＣの場合、複数個のドライバ素子をまとめて監視し、いずれかのドライバ素子が異常となったとき、異常診断信号を出力するというものであった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術は、例えば二つ以上のドライバ素子を備え、かつ、前記ドライバ素子群を各々独立して異常診断しようとした場合、異常診断信号出力端子は少なくとも二つ以上必要となり、ＩＣの端子数が増加するため、ＩＣの専有面積の拡大やコストが増大するという課題があった。また、二つ以上のドライバ素子を備え、かつ、前記ドライバ素子群をまとめて監視することで、ＩＣの端子数を減らした場合、どのドライバ素子が異常であるか特定することができないため機能が低下してしまうという課題があった。
【０００４】
本発明の目的は、ＩＣの実装面積が低減でき、かつ、低コストで高機能なＩＣの異常診断方法を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、異常診断信号出力端子の信号をＤＵＴＹ幅，電圧レベル，周波数，単位時間当たりのパルス数等の方法を用いることによって、複数個あるドライバ素子の診断結果毎に任意の値を割り当て、その結果を検出することで、最低一本の診断用端子のみで、各ドライバＩＣ毎の診断結果を得ることができる。この結果、ＩＣを構成するのに必要な端子の数を最小限に留めることが可能となり、かつ、どのドライバ素子にどのような状態の異常が発生しているかの特定が容易に可能となる。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、実施例を図１により説明する。
【０００７】
図１はＩＣの異常診断方法の一実施例である。
【０００８】
ＩＣ１は、複数個のドライバ素子１１ａから１１ｄ、前記ドライバ素子１１ａから１１ｄの駆動状態が入力される異常診断回路（ＤＵＴＹ幅可変）１２、前記ドライバ素子１１ａから１１ｄを動作させる指令信号を入力する端子(入力信号)１３ａから１３ｄ、また、前記異常診断回路（ＤＵＴＹ幅可変）１２の結果を出力する診断用端子１４から構成される。
【０００９】
ここで、本実施例の動作を図２のチャートも合わせて用い説明する。
【００１０】
前記ＩＣ１の外部から負荷を駆動するための指令信号である入力信号１３ａから１３ｄに負荷駆動信号が入力されると、入力信号１３ａから１３ｄは各々のドライバ素子１１ａから１１ｄを動作させ、各々のドライバ素子毎に接続されている駆動負荷１５ａから１５ｄを動作させる。前記ドライバ素子１１ａから１１ｄが正常に動作しているとき、
異常診断回路（ＤＵＴＹ幅可変）１２は各ドライバ素子全てが正常であると診断し、診断用端子１４にＯＮ−ＤＵＴＹ＝Ａ［％］、例えば１００［％］を出力する。
【００１１】
次に、例えば、負荷１５ａがオープン状態で故障したとする。
【００１２】
このとき、あらかじめ、負荷１５ａがオープン故障したときは、異常診断回路（ＤＵＴＹ幅可変）１２の出力がＯＮ−ＤＵＴＹ＝Ｂ［％］、例えば９０［％］を出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４はＯＮ−ＤＵＴＹ＝９０［％］を出力する。
【００１３】
次に、例えば、負荷１５ａがショート状態で故障したとする。
【００１４】
このときも同様に、あらかじめ、負荷１５ａがショート故障したときは、異常診断回路（ＤＵＴＹ幅可変）１２の出力がＯＮ−ＤＵＴＹ＝Ｃ［％］、例えば８０［％］を出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４はＯＮ−ＤＵＴＹ＝８０［％］を出力する。
【００１５】
以下、同様に、負荷１５ｂのオープン故障時、およびショート故障時のＯＮ−ＤＵＴＹ幅（Ｄ［％］，Ｅ［％］）、負荷１５ｃのオープン故障時、およびショート故障時のＯＮ−ＤＵＴＹ幅（Ｆ［％］，Ｇ［％］）をあらかじめ設定しておくことで、いずれのドライバ素子がどのような状態で異常になっているのか、診断用端子１４のＯＮ−ＤＵＴＹ幅をモニタすることで、容易に判断できる。
【００１６】
したがって、実施例によれば、異常診断信号出力端子の信号をＯＮ−ＤＵＴＹ幅とし、複数個あるドライバ素子の診断結果毎に任意のＯＮ−ＤＵＴＹ幅を割り当て、その結果をモニタすることで、最低一本の診断用端子のみで、各ドライバ素子毎の診断結果を得ることができる。この結果、ＩＣを構成するのに必要な端子の数を最小限に留めることが可能となるため、ＩＣサイズを小さくでき、コスト低減で有利となる。また、どのドライバ素子にどのような状態の異常が発生しているかの特定も可能であるため、例えば異常が発生しているドライバ素子のみ動作を停止できるなど、異常検出後の制御性も向上する。
【００１７】
また、本実施例では、異常診断信号をＯＮ−ＤＵＴＹ幅で規定したが、これをＯＦＦ−ＤＵＴＹとしても同様の効果を得ることができることは言うまでもない。
【００１８】
また、本実施例では、ドライバ素子が各々独立して故障した場合について説明したが、複数のドライバ素子が同時に異なるモードで故障した場合でも、各々所定のＯＮ−ＤＵＴＹ幅を割り当てることで実現可能であることは言うまでもない。
【００１９】
また、本実施例では、ドライバ素子をハイサイドドライバとして説明したが、ロウサイドドライバを用いても同様の効果を得ることができることは明白である。
【００２０】
第２の実施例を図３により説明する。
【００２１】
図３は本実施例が関わるＩＣの異常診断方法の一実施例である。
【００２２】
本実施例は、図１に対し、ドライバ素子１１ａから１１ｄの異常を検出したとき、診断結果を電圧レベルに置き換えて出力する異常診断回路(電圧レベル可変)３１で構成される。
【００２３】
ここで、本実施例の動作を図４のチャートも合わせて用い説明する。
【００２４】
前記ＩＣ１の外部から負荷を駆動するための指令信号である入力信号１３ａから１３ｄに負荷駆動信号が入力されると、入力信号１３ａから１３ｄは各々のドライバ素子１１ａから１１ｄを動作させ、各々のドライバ素子毎に接続されている駆動負荷１５ａから１５ｄを動作させる。前記ドライバ素子１１ａから１１ｄが正常に動作しているとき、
異常診断回路（電圧レベル可変）３１は各ドライバ素子全てが正常であると診断し、診断用端子１４に電圧レベル＝ａ［Ｖ］、例えば５Ｖを出力する。
【００２５】
次に、例えば、負荷１５ａがオープン状態で故障したとする。
【００２６】
このとき、あらかじめ、負荷１５ａがオープン故障したときは、異常診断回路（電圧レベル可変）３１の出力が電圧レベル＝ｂ［Ｖ］、例えば４.５Ｖを出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４は電圧レベル＝４.５Ｖを出力する。
【００２７】
次に、例えば、負荷１５ａがショート状態で故障したとする。
【００２８】
このときも同様に、あらかじめ、負荷１５ａがショート故障したときは、異常診断回路（電圧レベル可変）３１の出力が電圧レベル＝ｃ［Ｖ］、例えば４Ｖを出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４は電圧レベル＝４Ｖを出力する。
【００２９】
以下、同様に、負荷１５ｂのオープン故障時、およびショート故障時の電圧レベル（ｄ［Ｖ］，ｅ［Ｖ］）、負荷１５ｃのオープン故障時、およびショート故障時の電圧レベル（ｆ［Ｖ］，ｇ［Ｖ］）をあらかじめ設定しておくことで、いずれのドライバ素子がどのような状態で異常になっているのか、診断用端子１４の電圧レベルをモニタすることで、容易に判断できる。
【００３０】
したがって、本実施例によれば、異常診断信号出力端子の信号を電圧レベルとし、複数個あるドライバ素子の診断結果毎に任意の電圧レベルを割り当て、その結果をモニタすることで、最低一本の診断用端子のみで、各ドライバ素子毎の診断結果を得ることができる。この結果、ＩＣを構成するのに必要な端子の数を最小限に留めることが可能となるため、ＩＣサイズを小さくでき、コスト低減で有利となる。また、どのドライバ素子にどのような状態の異常が発生しているかの特定も可能であるため、例えば異常が発生しているドライバ素子のみ動作を停止できるなど、異常検出後の制御性も向上する。
【００３１】
また、本実施例では、ドライバ素子が各々独立して故障した場合について説明したが、複数のドライバ素子が同時に異なるモードで故障した場合でも、各々所定の電圧レベルを割り当てることで実現可能であることは言うまでもない。
【００３２】
また、本実施例では、ドライバ素子をハイサイドドライバとして説明したが、ロウサイドドライバを用いても同様の効果を得ることができることは明白である。
【００３３】
本実施例の第３の実施例を図５により説明する。
【００３４】
図５は本実施例が関わるＩＣの異常診断方法の一実施例である。
【００３５】
本実施例は、図１に対し、ドライバ素子１１ａから１１ｄの異常を検出したとき、診断結果をある周波数のパルス信号に置き換えて出力する異常診断回路（周波数可変）５１で構成される。
【００３６】
ここで、本実施例の動作を図６のチャートも合わせて用い説明する。
【００３７】
前記ＩＣ１の外部から負荷を駆動するための指令信号である入力信号１３ａから１３ｄに負荷駆動信号が入力されると、入力信号１３ａから１３ｄは各々のドライバ素子１１ａから１１ｄを動作させ、各々のドライバ素子毎に接続されている駆動負荷１５ａから１５ｄを動作させる。前記ドライバ素子１１ａから１１ｄが正常に動作しているとき、
異常診断回路（周波数可変）５１は各ドライバ素子全てが正常であると診断し、診断用端子１４にパルス信号＝ｆ［Ｈｚ］、例えば１００［Ｈｚ］を出力する。
【００３８】
次に、例えば、負荷１５ａがオープン状態で故障したとする。
【００３９】
このとき、あらかじめ、負荷１５ａがオープン故障したときは、異常診断回路（周波数可変）５１の出力パルス信号＝ｆ１［Ｈｚ］、例えば９０［Ｈｚ］を出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４はパルス信号＝９０［Ｈｚ］を出力する。
【００４０】
次に、例えば、負荷１５ａがショート状態で故障したとする。
【００４１】
このときも同様に、あらかじめ、負荷１５ａがショート故障したときは、異常診断回路（周波数可変）５１の出力パルス＝ｆ２［Ｈｚ］、例えば８０［Ｈｚ］を出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４は出力パルス＝８０［Ｈｚ］を出力する。
【００４２】
以下、同様に、負荷１５ｂのオープン故障時、およびショート故障時の出力パルス（ｆ３［Ｈｚ］，ｆ４［Ｈｚ］）、負荷１５ｃのオープン故障時、およびショート故障時の出力パルス（ｆ５［Ｈｚ］，ｆ６［Ｈｚ］）をあらかじめ設定しておくことで、いずれのドライバ素子がどのような状態で異常になっているのか、診断用端子１４の出力パルスの周波数をモニタすることで、容易に判断できる。
【００４３】
したがって、本実施例によれば、異常診断信号出力端子の信号を出力パルスとし、複数個あるドライバ素子の診断結果毎に任意の周波数のパルスを割り当て、その結果をモニタすることで、最低一本の診断用端子のみで、各ドライバ素子毎の診断結果を得ることができる。この結果、ＩＣを構成するのに必要な端子の数を最小限に留めることが可能となるため、ＩＣサイズを小さくでき、コスト低減で有利となる。また、どのドライバ素子にどのような状態の異常が発生しているかの特定も可能であるため、例えば異常が発生しているドライバ素子のみ動作を停止できるなど、異常検出後の制御性も向上する。
【００４４】
また、本実施例では、ドライバ素子が各々独立して故障した場合について説明したが、複数のドライバ素子が同時に異なるモードで故障した場合でも、各々所定の周波数のパルスを割り当てることで実現可能であることは言うまでもない。
【００４５】
また、本実施例では、ドライバ素子をハイサイドドライバとして説明したが、ロウサイドドライバを用いても同様の効果を得ることができることは明白である。
【００４６】
本実施例の第４の実施例を図７により説明する。
【００４７】
図７は本実施例が関わるＩＣの異常診断方法の一実施例である。
【００４８】
本実施例は、図１に対し、ドライバ素子１１ａから１１ｄの異常を検出したとき、診断結果をある単位時間におけるパルス数に置き換えて出力する異常診断回路（単位時間パルス数可変）７１で構成される。
【００４９】
ここで、本実施例の動作を図８のチャートも合わせて用い説明する。
【００５０】
前記ＩＣ１の外部から負荷を駆動するための指令信号である入力信号１３ａから１３ｄに負荷駆動信号が入力されると、入力信号１３ａから１３ｄは各々のドライバ素子１１ａから１１ｄを動作させ、各々のドライバ素子毎に接続されている駆動負荷１５ａから１５ｄを動作させる。前記ドライバ素子１１ａから１１ｄが正常に動作しているとき、
異常診断回路（単位時間パルス数可変）７１は各ドライバ素子全てが正常であると診断し、診断用端子１４に単位時間当たりのパルス数＝Ａ［回］、例えば単位時間ｔ秒毎にパルスを９［回］を出力する。
【００５１】
次に、例えば、負荷１５ａがオープン状態で故障したとする。
【００５２】
このとき、あらかじめ、負荷１５ａがオープン故障したときは、異常診断回路（単位時間パルス数可変）７１の単位時間当たりのパルス数＝Ｂ［回］、例えば単位時間ｔ秒毎にパルスを８［回］出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４は単位時間１秒毎にパルスを８［回］を出力する。
【００５３】
次に、例えば、負荷１５ａがショート状態で故障したとする。
【００５４】
このときも同様に、あらかじめ、負荷１５ａがショート故障したときは、異常診断回路（単位時間パルス数可変）７１の単位時間当たりのパルス数＝Ｃ［回］、例えば７［回］を出力するように設定しておく。したがって、診断用端子１４は単位時間ｔ秒毎にパルスを７［回］を出力する。
【００５５】
以下、同様に、負荷１５ｂのオープン故障時、およびショート故障時の単位時間毎のパルス数（Ｄ［回］，Ｅ［回］）、負荷１５ｃのオープン故障時、およびショート故障時の単位時間毎のパルス数（Ｆ［回］，Ｇ［回］）をあらかじめ設定しておくことで、いずれのドライバ素子がどのような状態で異常になっているのか、診断用端子１４の単位時間毎のパルス数をカウントすることで、容易に判断できる。
【００５６】
したがって、本実施例によれば、異常診断信号出力端子の信号を単位時間毎のパルス数とし、複数個あるドライバ素子の診断結果毎に任意のパルス数を割り当て、その結果をモニタすることで、最低一本の診断用端子のみで、各ドライバ素子毎の診断結果を得ることができる。この結果、ＩＣを構成するのに必要な端子の数を最小限に留めることが可能となるため、ＩＣサイズを小さくでき、コスト低減で有利となる。また、どのドライバ素子にどのような状態の異常が発生しているかの特定も可能であるため、例えば異常が発生しているドライバ素子のみ動作を停止できるなど、異常検出後の制御性も向上する。
【００５７】
また、本実施例では、ドライバ素子が各々独立して故障した場合について説明したが、複数のドライバ素子が同時に異なるモードで故障した場合でも、各々所定のパルス数を割り当てることで実現可能であることは言うまでもない。
【００５８】
また、本実施例では、ドライバ素子をハイサイドドライバとして説明したが、ロウサイドドライバを用いても同様の効果を得ることができることは明白である。
【００５９】
以上、各実施例によれば、特にドライバ素子を複数個有し、かつ診断機能を備えたＩＣにおいて、複数個あるドライバ素子を各々独立して診断でき、かつ、診断用の端子を最低一つとすることができるため、ＩＣの端子数を少なくすることで実装面積が低減でき、かつ、低コストで高機能なＩＣの異常診断方法を提供できる効果がある。
【００６０】
【発明の効果】
本発明によれば、ＩＣの実装面積が低減でき、かつ、低コストで高機能なＩＣの異常診断方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＩＣの異常診断方法の一実施例を示す構成図。
【図２】ＩＣの異常診断出力信号。
【図３】ＩＣの異常診断方法の一実施例を示す構成図。
【図４】ＩＣの付加状態を示す図。
【図５】ＩＣの異常診断方法の一実施例を示す構成図。
【図６】ＩＣの異常診断信号出力を示す図。
【図７】ＩＣの異常診断方法の一実施例を示す構成図である。
【図８】ＩＣの異常診断信号出力を示す図。
【符号の説明】
１…ＩＣ、１１ａ〜１１ｄ…ドライバ素子、１２…異常診断回路（ＤＵＴＹ幅可変）、１４…診断用端子、１５ａ〜１５ｄ…負荷、３１…異常診断回路（電圧レベル可変）、５１…異常診断回路（周波数可変）、７１…異常診断回路（単位時間パルス数可変）。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an IC abnormality diagnosis method. In particular, the present invention relates to a driver element for driving a load and an IC having a load abnormality diagnosis function.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, an abnormality diagnosis method for an IC having a plurality of driver elements for driving a load has at least the same number of abnormality diagnosis signal output terminals as driver elements. Also, in the case of an IC in which the number of abnormality diagnosis signal output terminals is smaller than the number of driver elements, a plurality of driver elements are monitored together and an abnormality diagnosis signal is output when any of the driver elements becomes abnormal. It was that.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
For example, when the conventional technology includes two or more driver elements and an attempt is made to diagnose each of the driver elements independently, at least two abnormality diagnosis signal output terminals are required. Therefore, there is a problem that the area occupied by the IC is increased and the cost is increased. In addition, when two or more driver elements are provided and the number of IC terminals is reduced by collectively monitoring the driver element group, it is impossible to specify which driver element is abnormal. There was a problem that it would decrease.
[0004]
An object of the present invention is to provide an IC abnormality diagnosis method that can reduce the mounting area of an IC and is low-cost and highly functional.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
The present invention assigns an arbitrary value to each diagnosis result of a plurality of driver elements by using a method such as DUTY width, voltage level, frequency, number of pulses per unit time, etc. for the signal of the abnormality diagnosis signal output terminal. By detecting the result, a diagnosis result for each driver IC can be obtained with at least one diagnostic terminal. As a result, it is possible to minimize the number of terminals necessary for configuring the IC, and it is possible to easily identify what state abnormality is occurring in which driver element.
[0006]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The embodiment will be described below with reference to FIG.
[0007]
FIG. 1 shows an embodiment of an IC abnormality diagnosis method.
[0008]
The IC 1 has a plurality of driver elements 11a to 11d, an abnormality diagnosis circuit (duty width variable) 12 to which the driving state of the driver elements 11a to 11d is input, and a terminal for inputting a command signal for operating the driver elements 11a to 11d. (Input signals) 13a to 13d, and a diagnosis terminal 14 for outputting the result of the abnormality diagnosis circuit (variable DUTY width) 12.
[0009]
Here, the operation of the present embodiment will be described with reference to the chart of FIG.
[0010]
When a load driving signal is input to the input signals 13a to 13d which are command signals for driving the load from the outside of the IC1, the input signals 13a to 13d operate the respective driver elements 11a to 11d, and the respective drivers The drive loads 15a to 15d connected to each element are operated. When the driver elements 11a to 11d are operating normally,
The abnormality diagnosis circuit (variable DUTY width) 12 diagnoses that all the driver elements are normal, and outputs ON-DUTY = A [%], for example, 100 [%], to the diagnosis terminal 14.
[0011]
Next, for example, assume that the load 15a has failed in an open state.
[0012]
At this time, when the load 15a has an open failure, the output of the abnormality diagnosis circuit (DUTY width variable) 12 is set to output ON-DUTY = B [%], for example, 90 [%]. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs ON-DUTY = 90 [%].
[0013]
Next, for example, it is assumed that the load 15a has failed in a short state.
[0014]
Similarly, at this time, when the load 15a is short-circuited, the output of the abnormality diagnosis circuit (DUTY width variable) 12 is set to output ON-DUTY = C [%], for example, 80 [%]. Keep it. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs ON-DUTY = 80 [%].
[0015]
Similarly, the ON-DUTY width (D [%], E [%]) at the time of open failure and short failure of the load 15b, and the ON-DUTY width at the time of open failure and short failure of the load 15c ( By setting F [%], G [%]) in advance, it is possible to monitor the ON-DUTY width of the diagnostic terminal 14 to determine which driver element is abnormal in what state. Easy to judge.
[0016]
Therefore, according to the embodiment, the signal of the abnormality diagnosis signal output terminal is set to the ON-DUTY width, an arbitrary ON-DUTY width is assigned to each diagnosis result of a plurality of driver elements, and the result is monitored. A diagnostic result for each driver element can be obtained with only one diagnostic terminal. As a result, the number of terminals necessary for configuring the IC can be minimized, so that the IC size can be reduced, which is advantageous in terms of cost reduction. In addition, since it is possible to identify which state of abnormality is occurring in which driver element, the controllability after abnormality detection is improved, for example, the operation can be stopped only for the driver element in which the abnormality has occurred. .
[0017]
Further, in this embodiment, the abnormality diagnosis signal is defined by the ON-DUTY width, but it goes without saying that the same effect can be obtained even if this is set to OFF-DUTY.
[0018]
Further, in this embodiment, the case where the driver elements have failed independently has been described. However, even when a plurality of driver elements have failed simultaneously in different modes, this can be realized by assigning a predetermined ON-DUTY width to each. Needless to say.
[0019]
In this embodiment, the driver element is described as a high-side driver. However, it is obvious that the same effect can be obtained even when a low-side driver is used.
[0020]
A second embodiment will be described with reference to FIG.
[0021]
FIG. 3 shows an embodiment of an IC abnormality diagnosis method according to this embodiment.
[0022]
This embodiment is composed of an abnormality diagnosis circuit (voltage level variable) 31 that outputs a diagnosis result by replacing the diagnosis result with a voltage level when an abnormality of the driver elements 11a to 11d is detected with respect to FIG.
[0023]
Here, the operation of this embodiment will be described with reference to the chart of FIG.
[0024]
When a load driving signal is input to the input signals 13a to 13d which are command signals for driving the load from the outside of the IC1, the input signals 13a to 13d operate the respective driver elements 11a to 11d, and the respective drivers The drive loads 15a to 15d connected to each element are operated. When the driver elements 11a to 11d are operating normally,
The abnormality diagnosis circuit (voltage level variable) 31 diagnoses that all the driver elements are normal, and outputs a voltage level = a [V], for example, 5 V to the diagnosis terminal 14.
[0025]
Next, for example, assume that the load 15a has failed in an open state.
[0026]
At this time, when the load 15a has an open failure, the output of the abnormality diagnosis circuit (voltage level variable) 31 is set to output voltage level = b [V], for example, 4.5V. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs a voltage level = 4.5V.
[0027]
Next, for example, it is assumed that the load 15a has failed in a short state.
[0028]
Similarly, at this time, when the load 15a has a short circuit failure, the output of the abnormality diagnosis circuit (voltage level variable) 31 is set to output voltage level = c [V], for example, 4V. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs a voltage level = 4V.
[0029]
Hereinafter, similarly, the voltage level (d [V], e [V]) at the time of open failure and short circuit failure of the load 15b, and the voltage level (f [V] at the time of open failure and short circuit failure of the load 15c) , G [V]) in advance, it can be easily determined by monitoring the voltage level of the diagnostic terminal 14 as to which driver element is abnormal in what state.
[0030]
Therefore, according to this embodiment, the signal of the abnormality diagnosis signal output terminal is set to a voltage level, an arbitrary voltage level is assigned to each diagnosis result of a plurality of driver elements, and the result is monitored, so that at least one A diagnostic result for each driver element can be obtained by using only the diagnostic terminal. As a result, the number of terminals necessary for configuring the IC can be minimized, so that the IC size can be reduced, which is advantageous in terms of cost reduction. In addition, since it is possible to identify which state of abnormality is occurring in which driver element, the controllability after abnormality detection is improved, for example, the operation can be stopped only for the driver element in which the abnormality has occurred. .
[0031]
Further, in the present embodiment, the case where the driver elements fail independently has been described, but even when a plurality of driver elements fail simultaneously in different modes, it can be realized by assigning a predetermined voltage level to each. Needless to say.
[0032]
In this embodiment, the driver element is described as a high-side driver. However, it is obvious that the same effect can be obtained even when a low-side driver is used.
[0033]
A third embodiment of the present embodiment will be described with reference to FIG.
[0034]
FIG. 5 shows an example of an IC abnormality diagnosis method according to this embodiment.
[0035]
In this embodiment, an abnormality diagnosis circuit (variable frequency) 51 is provided that outputs a result of replacing a diagnosis result with a pulse signal of a certain frequency when an abnormality of the driver elements 11a to 11d is detected with respect to FIG.
[0036]
Here, the operation of this embodiment will be described with reference to the chart of FIG.
[0037]
When a load driving signal is input to the input signals 13a to 13d which are command signals for driving the load from the outside of the IC1, the input signals 13a to 13d operate the respective driver elements 11a to 11d, and the respective drivers The drive loads 15a to 15d connected to each element are operated. When the driver elements 11a to 11d are operating normally,
The abnormality diagnosis circuit (variable frequency) 51 diagnoses that all the driver elements are normal, and outputs a pulse signal = f [Hz], for example, 100 [Hz] to the diagnosis terminal 14.
[0038]
Next, for example, assume that the load 15a has failed in an open state.
[0039]
At this time, when the load 15a has an open failure, the output pulse signal of the abnormality diagnosis circuit (variable frequency) 51 = f1 [Hz], for example, 90 [Hz] is output. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs a pulse signal = 90 [Hz].
[0040]
Next, for example, it is assumed that the load 15a has failed in a short state.
[0041]
At this time, similarly, when the load 15a is short-circuited, the output pulse of the abnormality diagnosis circuit (frequency variable) 51 = f2 [Hz], for example, 80 [Hz] is set to be output in advance. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs an output pulse = 80 [Hz].
[0042]
Hereinafter, similarly, output pulses (f3 [Hz], f4 [Hz]) at the time of open failure and short failure of the load 15b, output pulses (f5 [Hz] at the time of open failure and short failure of the load 15c) , F6 [Hz]) in advance, it is easy to determine which driver element is in an abnormal state by monitoring the frequency of the output pulse of the diagnostic terminal 14. it can.
[0043]
Therefore, according to this embodiment, the signal of the abnormality diagnosis signal output terminal is used as an output pulse, a pulse of an arbitrary frequency is assigned to each diagnosis result of a plurality of driver elements, and the result is monitored, so that at least one A diagnostic result for each driver element can be obtained by using only the diagnostic terminals. As a result, the number of terminals necessary for configuring the IC can be minimized, so that the IC size can be reduced, which is advantageous in terms of cost reduction. In addition, since it is possible to identify which state of abnormality is occurring in which driver element, the controllability after abnormality detection is improved, for example, the operation can be stopped only for the driver element in which the abnormality has occurred. .
[0044]
Further, in the present embodiment, the case where the driver elements have failed independently has been described. However, even when a plurality of driver elements have failed in different modes at the same time, it can be realized by allocating pulses having a predetermined frequency. Needless to say.
[0045]
In this embodiment, the driver element is described as a high-side driver. However, it is obvious that the same effect can be obtained even when a low-side driver is used.
[0046]
A fourth embodiment of the present embodiment will be described with reference to FIG.
[0047]
FIG. 7 shows an embodiment of an IC abnormality diagnosis method according to this embodiment.
[0048]
This embodiment is composed of an abnormality diagnosis circuit (variable unit time pulse number) 71 that outputs the result of replacing the diagnosis result with the number of pulses in a certain unit time when an abnormality of the driver elements 11a to 11d is detected with respect to FIG. The
[0049]
Here, the operation of this embodiment will be described with reference to the chart of FIG.
[0050]
When a load driving signal is input to the input signals 13a to 13d which are command signals for driving the load from the outside of the IC1, the input signals 13a to 13d operate the respective driver elements 11a to 11d, and the respective drivers The drive loads 15a to 15d connected to each element are operated. When the driver elements 11a to 11d are operating normally,
An abnormality diagnosis circuit (variable unit time pulse number) 71 diagnoses that all the driver elements are normal, and applies a pulse to the diagnosis terminal 14 per unit time = A [times], for example, every unit time t seconds. Outputs 9 [times].
[0051]
Next, for example, assume that the load 15a has failed in an open state.
[0052]
At this time, when the load 15a has an open failure in advance, the number of pulses per unit time of the abnormality diagnosis circuit (variable unit time pulse number) 71 = B [times], for example, 8 pulses per unit time t seconds ] Set to output. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs 8 [times] pulses per second of unit time.
[0053]
Next, for example, it is assumed that the load 15a has failed in a short state.
[0054]
At this time, similarly, when the load 15a is short-circuited in advance, the abnormality diagnosis circuit (unit time pulse number variable) 71 outputs the number of pulses per unit time = C [times], for example, 7 [times]. Set to. Therefore, the diagnostic terminal 14 outputs 7 [times] pulses every unit time t seconds.
[0055]
Hereinafter, similarly, the number of pulses per unit time (D [times], E [times]) at the time of open failure and short failure of the load 15b, and the unit time at the time of open failure and short failure of the load 15c By setting the number of pulses (F [times], G [times]) in advance, it is possible to determine which driver element is in an abnormal state and in what state, the pulse per unit time of the diagnostic terminal 14. It can be easily judged by counting the number.
[0056]
Therefore, according to this embodiment, the signal of the abnormality diagnosis signal output terminal is set to the number of pulses per unit time, an arbitrary number of pulses is assigned to each diagnosis result of a plurality of driver elements, and the result is monitored. A diagnosis result for each driver element can be obtained with at least one diagnostic terminal. As a result, the number of terminals necessary for configuring the IC can be minimized, so that the IC size can be reduced, which is advantageous in terms of cost reduction. In addition, since it is possible to identify which state of abnormality is occurring in which driver element, controllability after abnormality detection is improved, for example, the operation can be stopped only for the driver element in which the abnormality has occurred. .
[0057]
Further, in the present embodiment, the case where the driver elements have failed independently has been described, but even when a plurality of driver elements have failed simultaneously in different modes, it can be realized by assigning a predetermined number of pulses to each. Needless to say.
[0058]
In this embodiment, the driver element is described as a high-side driver. However, it is obvious that the same effect can be obtained even when a low-side driver is used.
[0059]
As described above, according to each embodiment, particularly in an IC having a plurality of driver elements and having a diagnostic function, a plurality of driver elements can be diagnosed independently, and at least one diagnostic terminal is provided. Therefore, it is possible to reduce the mounting area by reducing the number of IC terminals, and to provide a low-cost and highly functional IC abnormality diagnosis method.
[0060]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to provide an IC abnormality diagnosis method that can reduce the mounting area of an IC and is low-cost and highly functional.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of an IC abnormality diagnosis method.
FIG. 2 is an IC abnormality diagnosis output signal.
FIG. 3 is a configuration diagram showing an embodiment of an IC abnormality diagnosis method.
FIG. 4 is a diagram showing an addition state of an IC.
FIG. 5 is a configuration diagram showing an embodiment of an IC abnormality diagnosis method.
FIG. 6 is a diagram showing an output of an abnormality diagnosis signal for an IC.
FIG. 7 is a block diagram showing an example of an IC abnormality diagnosis method.
FIG. 8 is a diagram showing an IC abnormality diagnosis signal output.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... IC, 11a-11d ... Driver element, 12 ... Abnormality diagnostic circuit (DUTY width variable), 14 ... Diagnosis terminal, 15a-15d ... Load, 31 ... Abnormality diagnostic circuit (voltage level variable), 51 ... Abnormality diagnostic circuit (Variable frequency), 71 ... Abnormality diagnosis circuit (variable unit time pulse number).

Claims

外部の負荷を駆動する複数のドライバ素子と、
前記複数のドライバ素子の各々の出力から得られた信号を前記負荷に伝達するための複数のドライバ出力端子と、
前記複数のドライバ素子の出力が異常であるか否かを診断する異常診断回路と、
前記異常診断回路による診断結果を外部に伝達するための少なくとも一つの診断用端子とを有する負荷駆動用ＩＣであって、
前記異常診断回路は、前記複数のドライバ素子の診断結果を各々異なる信号にして前記診断用端子へ伝達するように構成され、
前記診断用端子の数は、前記ドライバ出力端子の数より少ないことを特徴とする負荷駆動用ＩＣ。A plurality of driver elements for driving an external load;
A plurality of driver output terminals for transmitting a signal obtained from the output of each of the plurality of driver elements to the load;
An abnormality diagnosis circuit for diagnosing whether or not the outputs of the plurality of driver elements are abnormal; and
A load driving IC having at least one diagnosis terminal for transmitting a diagnosis result of the abnormality diagnosis circuit to the outside;
The abnormality diagnosis circuit is configured to transmit the diagnosis results of the plurality of driver elements as different signals to the diagnosis terminal,
The load driving IC, wherein the number of the diagnostic terminals is smaller than the number of the driver output terminals.

請求項１記載の負荷駆動用ＩＣにおいて、
前記異常診断回路は、前記複数のドライバ素子の前記診断結果を各々異なるＤＵＴＹ出力信号にして前記診断用端子へ伝達するように構成されていることを特徴とする負荷駆動用ＩＣ。The load driving IC according to claim 1,
The load driving IC, wherein the abnormality diagnosis circuit is configured to transmit the diagnosis results of the plurality of driver elements to the diagnosis terminals as different DUTY output signals.

請求項１記載の負荷駆動用ＩＣにおいて、
前記異常診断回路は、前記複数のドライバ素子の前記診断結果を各々異なる電圧信号にして前記診断用端子へ伝達するように構成されていることを特徴とする負荷駆動用ＩＣ。The load driving IC according to claim 1,
The load driving IC, wherein the abnormality diagnosis circuit is configured to transmit the diagnosis results of the plurality of driver elements as different voltage signals to the diagnosis terminal.

請求項１記載の負荷駆動用ＩＣにおいて、
前記異常診断回路は、前記複数のドライバ素子の前記診断結果を各々異なる周波数信号にして前記診断用端子へ伝達するように構成されていることを特徴とする負荷駆動用ＩＣ。The load driving IC according to claim 1,
The load driving IC, wherein the abnormality diagnosis circuit is configured to transmit the diagnosis results of the plurality of driver elements as different frequency signals to the diagnosis terminal.

請求項１記載の負荷駆動用ＩＣにおいて、
前記異常診断回路は、前記複数のドライバ素子の前記診断結果を各々異なる単位時間当たりのパルス数信号にして前記診断用端子へ伝達するように構成されていることを特徴とする負荷駆動用ＩＣ。The load driving IC according to claim 1,
The load driving IC, wherein the abnormality diagnosis circuit is configured to transmit the diagnosis results of the plurality of driver elements to the diagnosis terminal as different pulse number signals per unit time.