JP3707188B2

JP3707188B2 - Insulation deterioration diagnosis device

Info

Publication number: JP3707188B2
Application number: JP06770397A
Authority: JP
Inventors: 英紀渡邉; 正守屋; 昌純吉沢; 美菜中島
Original assignee: Meidensha Corp
Current assignee: Meidensha Corp
Priority date: 1997-03-21
Filing date: 1997-03-21
Publication date: 2005-10-19
Anticipated expiration: 2017-03-21
Also published as: JPH10260166A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高電圧機器を対象として超音波によって絶縁劣化診断を行なう装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
高電圧機器の絶縁診断技術としては、種々のものがあり、例えば内部ボイド，クラック，剥離などによる部分放電を測定し、放電電荷量や発生頻度を推定する方法、部分放電により生ずる電磁波や超音波を測定し位置を評定する方法、メグ値や漏れ電流など絶縁抵抗により吸湿劣化や汚損劣化を診断する方法、 tanδ値や静電容量を測定することにより熱劣化，吸湿，汚損劣化を診断する方法、警報接点付き温度計，光ファイバ温度計により機器表面の温度を測定し過負荷や局部短絡による過熱を診断する方法、Ａｅ耐電圧，インパルス耐電圧試験により絶縁耐力を測定する方法などがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
このような各種絶縁診断にあって、クラック等の欠陥の検出に当っては、部分放電や電磁波の検出方法があるが、かかる診断には、一般的に、ノイズにうもれた信号検出でありノイズの影響を無視できないという問題、運転中には測定しにくいという問題、正確な欠陥位置標定が難しいという問題が存在し、また超音波を捕える方法では運転中の発生超音波を捕えており、前述のノイズの影響が大きく、また受信のみを行なっているにとどまっている。
【０００４】
本発明は、上述の問題に鑑み、欠陥の検出に当り、ノイズの影響を軽くし運転中でも可能で欠陥位置標定が正確な送，受信を行なう自動絶縁劣化診断装置の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成する発明特定事項は次の如くである。
（１）超音波発振器からの超音波を対象絶縁物に発射しこの対象絶縁物からの反射波を受信するプローブと、
このプローブによる受信信号を重畳によってノイズが除去可能な回数だけ積算し、この積算したデータの包絡線を正常データの包絡線である標準パターンと比較し、比較結果が「異常」の場合のデータを登録し、上記プローブの変更を初期設定値に応じて行なう機能を有し、前記対象絶縁物に前記プローブから発射する超音波を、まず低周波帯域の超音波パルスとし、この低周波帯域の診断後異常箇所にて高周波帯域の超音波パルスとする指令を出すコンピュータと、
このコンピュータの指令により、前記対象絶縁物に前記プローブから発射する超音波を、まず低周波帯域の超音波パルスとし、この低周波帯域の診断後異常箇所にて高周波帯域の超音波パルスとする指令を前記超音波発信器に出す超音波周波数制御部と、
を有することを特徴とする。
（２）上記（１）において、上記プローブの変更は、対象絶縁物に沿って移動するための駆動部を備えたことを特徴とする。
（３）上記（１）において、上記プローブには、対象絶縁物に沿って複数個配置したプローブの切替によることを特徴とする。
（４）上記（１）において、高周波帯域での絶縁劣化診断にあって、上記比較結果が「異常」の場合のデータの登録内容は、モニタにより表示するようにしたことを特徴とする。
（５）上記（１）において、上記超音波周波数制御部では、樹脂材料内の充填材のレイリー散乱による散乱波を加味して上記充填材粒子径に見合う超音波波長の周波数帯域としたことを特徴とする。
【０００６】
【発明の実施の形態】
ここで、図を参照しつつ本発明の実施の形態を説明する。図１は、絶縁劣化診断装置の一例の全体ブロック図であり、機能的には電圧印加部１による電圧にて超音波発振器２が駆動され、超音波送受信探触子であるプローブ３より、対象絶縁物に超音波パルスが発射される。この場合、超音波周波数制御部４は、送信する超音波周波数が低周波数帯域か高周波数帯域かを定めて超音波発振器２に指令を出すもので、後述のコンピュータ５からの指令によって制御される。なお、プローブ３の発射周波数は、超音波周波数制御部４へ取り込まれ、超音波発振器２への指令帯域がプローブ３の発射周波数帯域と一致しているか否かの確認をとっている。
【０００７】
プローブ３は、超音波パルスを対象絶縁物に発射する送信用の他に、対象絶縁物からの反射パルスを受信するもので、ノイズ除去のため高感度信号検出器例えばボックスカー積分器等が備えられ、高周波・低周波の区別なく、確実な信号検出を可能とする。
【０００８】
また、コンピュータ５は、図２に示す構成を有する。すなわち、プローブ３からの対象絶縁物の反射パルスである受信信号を取り込み、まずデータ積算部５ａにて積算が行なわれる。このデータの積算は、受信信号であるデータを例えば１００回取り込んで重畳させ、この重畳によって所望の信号を抽出しノイズを除去するために行なわれる。つまり、変化しない所望の信号を検査の対象とするためである。
【０００９】
ついで、データ積算部５ａから出力される信号データは、マッチング処理部５ｂに入力される。このマッチング処理部５ｂは、データ積算部５ａからのデータの包絡線検波を行なって包絡線を取り出すと共に正常なデータの包絡線との比較と判断を行なうものである。すなわち、正常な欠陥のない絶縁物での受信信号データの包絡線を標準パターン部５ｃに記憶してこの包絡線によってしきい値を決めておき、マッチング処理部５ｂではこのしきい値と一定期間毎に計測する反射パルスの包絡線とを比較して「正常」「異常」を判断するものである。
【００１０】
マッチング処理部５ｂの判断が「異常」の場合、そのデータをデータ登録部５ｄに登録する。そして、この登録後、次のプローブ３による信号の受信のため複数個のプローブの場合にはその切替えを行ない、プローブ移動可能な場合には、その駆動を処理部５ｅにて行なっている。なお、「異常」でなく「正常」の場合でもそのプローブ３での検査終了後はプローブの切替えや移動が行なわれる。
処理部５ｅにつながる初期設定部５ｆには、対象絶縁物に対応するプローブ３の移動距離、すなわち、プローブ３によって計測可能な範囲に応じた移動距離とか、対象絶縁物に応じた超音波周波数、絶縁物が繊維にて強化されているか、充填材が入っているか（これは超音波周波数の選択に影響する）等の検査に当り予め入力すべき設定データが入力されている。
なお、データの「異常」によってデータ登録部５ｄにデータが登録された場合、後述の高周波帯域による診断では「異常」内容がモニタ６に表示される。
【００１１】
図３，図４は、プローブ３と対象絶縁物との配置関係を示しており、図４は複数個のプローブを設置した例、図３はプローブを移動する例を示している。つまり、高電圧導体７を覆う絶縁物８に沿って図４では複数のプローブ３（図４では４個）が配置され、図３では絶縁物８に沿って移動可能にプローブ３が配置される。そして、図３の場合にはプローブ３内に駆動部（図示省略）が備えられている。そして、前述したコンピュータ５の処理部５ｅでは、図４に示す複数個のプローブ３の切替え指令が出力され、また図３のプローブ３の移動量が初期設定部５ｆでの移動データに従って出力されることになる。ここで、絶縁物８は例えば熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂のモールドであり、場合によっては充填材が入っていたり繊維にて強化されている樹脂である。
【００１２】
さて、コンピュータ５の指令により、詳しくは処理部５ｅによる一連のプローブ３による診断での超音波制御部４にて制御される超音波の周波数帯域は、低周波帯域と高周波帯域とに分けられ、このうち浸透深度が深い低周波帯域（５ＭＨｚ〜１０ＭＨｚ）の超音波を使用して、まず大まかな欠陥診断を行ない、欠陥の発見とだいたいの位置標定を行なう。
ついで、欠陥部分が発見された場合、その位置でのプローブ３により高周波帯域（１０ＭＨｚ〜２５ＭＨｚ）の超音波を発射し、欠陥の正確な位置標定を行なうものである。
【００１３】
プローブ３からの発射超音波パルスは、前述のように低周波と高周波であるが、この超音波パルス発射後の反射パルスでは超音波は単調な減衰振動を行ない、その包絡線は過渡的に一定の減衰曲線となる。そして、欠陥が存在する場合には、図７に示すように（図７は充填材と欠陥との関係の図であるが）波形が突出するという現象が存在するため、この包絡線付近にしきい値を定めて波形の突出程度を判定することにより、正常・異常を判断することができる。かかる処理が図２のマッチング処理部５ｂにて行なわれる。
【００１４】
図５は、低周波帯域による位置特定処理を示している。ここで、Ｘはプローブ位置、Ｙは読み込み回数を示している。図５はプローブ移動の例を示しているが、切替えの場合はプローブ切替えとなる。図５において、プローブ３の位置を変え（ステップＳ１，Ｓ２）、超音波の反射波を１００個取込み（ステップＳ３〜Ｓ６）、この積算後包絡線検波によるデータ変換（ステップＳ７）を行ない、入力データと標準データの比較（ステップＳ８）後、「異常」か否かの判定を行ない（ステップＳ９）、異常の場合は登録部５ｄに入力（ステップＳ１０）し、例えばプローブ位置５０ｃｍの長さにて位置Ｘの変更を行なうものである。ここでＸ＞５０は５０ｃｍの長さをとしてもよいし、５０分割した場合の数値としてもよい（ステップＳ１１）。
【００１５】
図６は高周波による劣化診断を示しており、図５との違いはプローブ位置Ｘは「異常」があった登録部まで移動させ（ステップＳ１２）、ここで改めて「異常」が出た場合にはＸ値をモニタ出力するものである（ステップＳ１３）。
【００１６】
包絡線による異常検出は、上述のとおりであるが、更にニューラルネットワークとパターン認識により、オンラインによる絶縁診断や欠陥の画像処理化も可能である。すなわち、ニューラルネットワークによる並列処理にて異常モデルとその標準パターンを作成し、パターン認識の結果、劣化の診断を行なうと同時に、パターン認識の結果、欠陥の特徴パターンより画像化することができる。そして、この画像化では実験上１０μｍ程度又はそれ以上細かな欠陥を得ることができる。かかる処理にあっては、絶縁物の完全な自動診断及び画像化が可能となる。
【００１７】
次に、絶縁物８に樹脂を用いる場合であっても充填材が入っている場合、等材質の違いが絶縁の目的と強度に応じて変ってくる。本例での樹脂による絶縁物８にあって充填材が入っている場合、例えば充填量３０％程度、粒子径１１μｍ程度の絶縁物８でも測定可能となっている。すなわち、充填材入りの樹脂材料中の進行超音波特性を把握することにより、かかる材料に対しても欠陥検出が可能となる。すなわち、充填材粒子による進行超音波の散乱についてはレイリー散乱理論が適用でき、充填材粒子は全て球形でその大きさは超音波の波長に比べて充分小さいとしたときの、散乱波の強さは次式［数１］となる。
【００１８】
【数１】

ここで、θ＝１８０°すなわち後方散乱の強さψ_bsとして計算すると、ｋａ＝１程度で透明領域，不透明領域に分けられるので、ｋａ＜１になるように充填材粒径を選ぶのがよい。すなわち、充填材粒子径と超音波波長とが細粒子で長波長、大きめの粒子では短波長となる傾向にて充填材粒子と超音波波長とを決めてやれば、図７に示すようにクラック等の欠陥が発生した時点で樹脂（充填材）からの反射信号と欠陥部からの反射信号を区別することができる。
【００１９】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、超音波による送受信を利用して、高電圧機器の絶縁診断を非破壊にて行なうことができ、また機器を停止することなく運転中の絶縁診断をすることができるのみならず、高感度信号検出器による確実な信号検出と、低周波と高周波の各帯域での測定による欠陥位置の標定及び認識が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態を説明する一例のためのブロック図。
【図２】コンピュータ５の細部ブロック図。
【図３】プローブ配置状態図。
【図４】プローブ配置状態図。
【図５】低周波による位置特定処理フローチャート。
【図６】高周波による劣化診断処理フローチャート。
【図７】反射信号波形図。
【符号の説明】
２超音波発振器
３プローブ
４超音波周波数制御部
５コンピュータ
５ａデータ積算部
５ｂマッチング処理部
５ｃ標準パターン部
５ｄデータ登録部
５ｅ処理部
５ｆ初期設定部
６モニタ
８絶縁物[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to equipment for performing insulation degradation diagnosis by ultrasound targeting the high voltage equipment.
[0002]
[Prior art]
There are various types of insulation diagnosis technology for high-voltage equipment. For example, partial discharge due to internal voids, cracks, peeling, etc. is measured, and the amount of discharge charge and frequency of occurrence are estimated. A method of measuring the position and measuring the position, a method of diagnosing moisture absorption and fouling deterioration by insulation resistance such as Meg value and leakage current, and a method of diagnosing heat deterioration, moisture absorption and fouling deterioration by measuring tanδ value and capacitance There are methods such as a thermometer with an alarm contact and an optical fiber thermometer to measure the surface temperature of the device and diagnose overheating due to overload and local short circuit, and a method of measuring dielectric strength by Ae withstanding voltage and impulse withstanding voltage tests.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In such various insulation diagnoses, there are methods for detecting partial discharges and electromagnetic waves in detecting defects such as cracks. In general, such diagnoses are signal detection that is affected by noise, and noise. There is a problem that the influence of noise cannot be ignored, a problem that it is difficult to measure during operation, a problem that accurate defect location is difficult, and the method of capturing ultrasonic waves captures the generated ultrasonic waves during operation. The influence of noise is large, and only reception is performed.
[0004]
In view of the above problems, hit the detection of the defect, impact lightly possible defect position location even during operation of the noise accurate transmission, and to provide an automatic insulation degradation diagnosis equipment for receiving.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
The invention specific items for achieving the above-described object are as follows.
(1) a probe that emits ultrasonic waves from an ultrasonic oscillator to a target insulator and receives a reflected wave from the target insulator;
The received signal from this probe is integrated as many times as noise can be removed by superposition, the envelope of this integrated data is compared with the standard pattern that is the envelope of normal data, and the data when the comparison result is `` abnormal '' It has a function of registering and changing the probe according to an initial setting value, and the ultrasonic wave emitted from the probe to the target insulator is first converted into an ultrasonic pulse of a low frequency band, and this low frequency band diagnosis A computer that issues a command to make an ultrasonic pulse in a high frequency band at a later abnormal point ;
By this computer command, the ultrasonic wave emitted from the probe to the target insulator is first converted into an ultrasonic pulse in a low frequency band, and an ultrasonic pulse in a high frequency band at an abnormal location after diagnosis in the low frequency band. An ultrasonic frequency control unit for outputting to the ultrasonic transmitter ;
It is characterized by having.
(2) In the above (1), the change of the probe includes a drive unit for moving along the target insulator.
(3) In the above (1), the probe is characterized by switching a plurality of probes arranged along the target insulator.
(4) In the above (1), in the insulation deterioration diagnosis in the high frequency band, the registered content of data when the comparison result is “abnormal” is displayed on a monitor.
(5) In the above (1), the ultrasonic frequency control unit takes into account the scattered wave due to Rayleigh scattering of the filler in the resin material and sets the frequency band of the ultrasonic wavelength to match the filler particle diameter. Features .
[0006]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Here, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall block diagram of an example of an insulation deterioration diagnosis apparatus. Functionally, an ultrasonic oscillator 2 is driven by a voltage applied by a voltage application unit 1, and an object is detected by a probe 3 which is an ultrasonic transmission / reception probe. An ultrasonic pulse is emitted to the insulator. In this case, the ultrasonic frequency control unit 4 determines whether the ultrasonic frequency to be transmitted is a low frequency band or a high frequency band and issues a command to the ultrasonic oscillator 2 and is controlled by a command from the computer 5 described later. . Note that the emission frequency of the probe 3 is taken into the ultrasonic frequency control unit 4 to check whether or not the command band for the ultrasonic oscillator 2 matches the emission frequency band of the probe 3.
[0007]
The probe 3 receives a reflected pulse from the target insulator in addition to the transmission for emitting an ultrasonic pulse to the target insulator, and includes a high-sensitivity signal detector such as a boxcar integrator for noise removal. Therefore, reliable signal detection is possible without distinguishing between high and low frequencies.
[0008]
The computer 5 has the configuration shown in FIG. That is, a reception signal that is a reflected pulse of the target insulator from the probe 3 is captured, and integration is first performed by the data integration unit 5a. The integration of this data is performed in order to extract and superimpose data which is a received signal, for example, 100 times, extract a desired signal by this superposition, and remove noise. In other words, this is because the desired signal that does not change is to be inspected.
[0009]
Next, the signal data output from the data integration unit 5a is input to the matching processing unit 5b. The matching processing unit 5b performs envelope detection of the data from the data integration unit 5a to extract the envelope, and compares and determines the envelope with normal data. That is, the envelope of the received signal data of an insulator having no normal defect is stored in the standard pattern portion 5c, and a threshold value is determined by this envelope, and the matching processing portion 5b determines this threshold value and a certain period of time. The “normal” and “abnormal” are determined by comparing the envelope of the reflected pulse measured every time.
[0010]
When the judgment of the matching processing unit 5b is “abnormal”, the data is registered in the data registration unit 5d. After this registration, in order to receive a signal by the next probe 3, switching is performed in the case of a plurality of probes, and when the probe is movable, the processing unit 5e drives it. Even if “normal” instead of “abnormal”, the probe is switched or moved after the inspection with the probe 3 is completed.
The initial setting unit 5f connected to the processing unit 5e includes a moving distance of the probe 3 corresponding to the target insulator, that is, a moving distance corresponding to a range measurable by the probe 3, an ultrasonic frequency corresponding to the target insulator, Setting data to be input in advance for inspection such as whether the insulator is reinforced with fibers or contains a filler (this affects the selection of the ultrasonic frequency) is input.
When data is registered in the data registration unit 5d due to data “abnormality”, the content of “abnormality” is displayed on the monitor 6 in the diagnosis using the high frequency band described later.
[0011]
3 and 4 show the positional relationship between the probe 3 and the target insulator, FIG. 4 shows an example in which a plurality of probes are installed, and FIG. 3 shows an example in which the probe is moved. That is, in FIG. 4, a plurality of probes 3 (four in FIG. 4) are arranged along the insulator 8 covering the high voltage conductor 7, and in FIG. 3, the probes 3 are arranged so as to be movable along the insulator 8. . In the case of FIG. 3, a drive unit (not shown) is provided in the probe 3. Then, in the processing unit 5e of the computer 5 described above, a switching command for the plurality of probes 3 shown in FIG. 4 is output, and the movement amount of the probe 3 in FIG. 3 is output according to the movement data in the initial setting unit 5f. It will be. Here, the insulator 8 is a mold of, for example, a thermosetting resin or a thermoplastic resin, and in some cases, is a resin containing a filler or reinforced with fibers.
[0012]
By the command of the computer 5, in detail, the frequency band of the ultrasonic wave controlled by the ultrasonic control unit 4 in the diagnosis by the series of probes 3 by the processing unit 5e is divided into a low frequency band and a high frequency band, Of these, first, a rough defect diagnosis is performed using ultrasonic waves in a low frequency band (5 MHz to 10 MHz) having a deep penetration depth, and a defect is found and a position is roughly determined.
Next, when a defective portion is found, an ultrasonic wave in a high frequency band (10 MHz to 25 MHz) is emitted by the probe 3 at that position to accurately position the defect.
[0013]
The ultrasonic pulse emitted from the probe 3 has a low frequency and a high frequency as described above, but the ultrasonic wave monotonously attenuates in the reflected pulse after the ultrasonic pulse is emitted, and the envelope is transiently constant. The attenuation curve becomes. When there is a defect, as shown in FIG. 7 (FIG. 7 is a diagram of the relationship between the filler and the defect), there is a phenomenon in which the waveform protrudes, so the threshold is near the envelope. Normality / abnormality can be determined by determining the degree of protrusion of the waveform by determining the value. Such processing is performed by the matching processing unit 5b in FIG.
[0014]
FIG. 5 shows the position specifying process by the low frequency band. Here, X indicates the probe position, and Y indicates the number of readings. FIG. 5 shows an example of probe movement. In the case of switching, probe switching is performed. In FIG. 5, the position of the probe 3 is changed (steps S1 and S2), 100 reflected ultrasonic waves are captured (steps S3 to S6), and data conversion is performed by this envelope detection after integration (step S7). After the comparison between the data and the standard data (step S8), it is determined whether or not “abnormal” (step S9). If abnormal, it is input to the registration unit 5d (step S10). The position X is changed. Here, X> 50 may be a length of 50 cm, or may be a numerical value when divided into 50 (step S11).
[0015]
FIG. 6 shows deterioration diagnosis by high frequency, and the difference from FIG. 5 is that the probe position X is moved to the registration section where “abnormal” has occurred (step S12). The X value is output on a monitor (step S13).
[0016]
Abnormality detection by the envelope is as described above, but further, insulation diagnosis and defect image processing can be performed online by using a neural network and pattern recognition. That is, an abnormal model and its standard pattern are created by parallel processing using a neural network, and the pattern recognition and deterioration are diagnosed as a result of pattern recognition. In this imaging, a fine defect of about 10 μm or more can be obtained experimentally. Such processing allows for fully automatic diagnosis and imaging of the insulator.
[0017]
Next, even when a resin is used for the insulator 8, when a filler is contained, the difference in the material varies depending on the purpose and strength of the insulation. In the case of the insulator 8 made of resin in this example and containing a filler, for example, the insulator 8 having a filling amount of about 30% and a particle diameter of about 11 μm can be measured. That is, by detecting the traveling ultrasonic characteristics in the resin material containing the filler, it becomes possible to detect defects even for such a material. In other words, the Rayleigh scattering theory can be applied to the scattering of traveling ultrasonic waves by filler particles, and the intensity of the scattered wave when the filler particles are all spherical and the size is sufficiently smaller than the wavelength of the ultrasonic waves. Is expressed by the following equation [Formula 1].
[0018]
[Expression 1]

Here, when calculating as θ = 180 °, that is, the backscattering intensity ψ _bs , it is divided into a transparent region and an opaque region when ka = 1, so it is preferable to select the filler particle size so that ka <1. . In other words, if the filler particle and the ultrasonic wavelength are determined so that the filler particle diameter and the ultrasonic wavelength tend to be long for fine particles and short for larger particles, cracks as shown in FIG. When a defect such as this occurs, the reflected signal from the resin (filler) and the reflected signal from the defective portion can be distinguished.
[0019]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, insulation diagnosis of high-voltage equipment can be performed nondestructively using transmission and reception using ultrasonic waves, and insulation diagnosis during operation can be performed without stopping the equipment. In addition, it is possible to reliably detect a signal by a high-sensitivity signal detector, and to determine and recognize a defect position by measurement in each of a low frequency band and a high frequency band.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram for an example illustrating an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a detailed block diagram of the computer 5;
FIG. 3 is a probe arrangement state diagram.
FIG. 4 is a probe arrangement state diagram.
FIG. 5 is a flowchart of position specifying processing by low frequency.
FIG. 6 is a flowchart of deterioration diagnosis processing using high frequencies.
FIG. 7 is a reflected signal waveform diagram.
[Explanation of symbols]
2 Ultrasonic oscillator 3 Probe 4 Ultrasonic frequency control unit 5 Computer 5a Data integration unit 5b Matching processing unit 5c Standard pattern unit 5d Data registration unit 5e Processing unit 5f Initial setting unit 6 Monitor 8 Insulator

Claims

超音波発振器からの超音波を対象絶縁物に発射しこの対象絶縁物からの反射波を受信するプローブと、
このプローブによる受信信号を重畳によってノイズが除去可能な回数だけ積算し、この積算したデータの包絡線を正常データの包絡線である標準パターンと比較し、比較結果が「異常」の場合のデータを登録し、上記プローブの変更を初期設定値に応じて行なう機能を有し、前記対象絶縁物に前記プローブから発射する超音波を、まず低周波帯域の超音波パルスとし、この低周波帯域の診断後異常箇所にて高周波帯域の超音波パルスとする指令を出すコンピュータと、
このコンピュータの指令により、前記対象絶縁物に前記プローブから発射する超音波を、まず低周波帯域の超音波パルスとし、この低周波帯域の診断後異常箇所にて高周波帯域の超音波パルスとする指令を前記超音波発信器に出す超音波周波数制御部と、
を有する絶縁劣化診断装置。A probe for emitting ultrasonic waves from an ultrasonic oscillator to a target insulator and receiving a reflected wave from the target insulator;
The received signal from this probe is integrated as many times as noise can be removed by superposition, the envelope of this integrated data is compared with the standard pattern that is the envelope of normal data, and the data when the comparison result is `` abnormal '' It has a function of registering and changing the probe according to an initial setting value, and the ultrasonic wave emitted from the probe to the target insulator is first converted into an ultrasonic pulse of a low frequency band, and this low frequency band diagnosis A computer that issues a command to make an ultrasonic pulse in a high frequency band at a later abnormal point ;
By this computer command, the ultrasonic wave emitted from the probe to the target insulator is first converted into an ultrasonic pulse in a low frequency band, and an ultrasonic pulse in a high frequency band at an abnormal location after diagnosis in the low frequency band. An ultrasonic frequency control unit for outputting to the ultrasonic transmitter ;
Insulation deterioration diagnosis device having

上記プローブには、対象絶縁物に沿って移動するための駆動部を備えた請求項１記載の絶縁劣化診断装置。 The insulation deterioration diagnosis apparatus according to claim 1, wherein the probe includes a drive unit for moving along the target insulator.

上記プローブの変更は、対象絶縁物に沿って複数個配置したプローブの切替による請求項１記載の絶縁劣化診断装置。 The insulation deterioration diagnosis apparatus according to claim 1, wherein the probe is changed by switching a plurality of probes arranged along the target insulator.

高周波帯域での絶縁劣化診断にあって、上記比較結果が「異常」の場合のデータの登録内容は、モニタにより表示するようにした請求項１記載の絶縁劣化診断装置。 The insulation deterioration diagnosis apparatus according to claim 1, wherein in the insulation deterioration diagnosis in a high frequency band, the registered content of data when the comparison result is "abnormal" is displayed on a monitor.

上記超音波周波数制御部では、樹脂材料内の充填材のレイリー散乱による散乱波を加味して上記充填材粒子径に見合う超音波波長の周波数帯域とした請求項１記載の絶縁劣化診断装置。 2. The insulation deterioration diagnosis apparatus according to claim 1, wherein the ultrasonic frequency control unit takes into account a scattered wave due to Rayleigh scattering of the filler in the resin material to obtain an ultrasonic wavelength frequency band suitable for the filler particle diameter.