JP3673954B2 - 傾斜センサ及びこれを使用した測量機 - Google Patents

傾斜センサ及びこれを使用した測量機 Download PDF

Info

Publication number
JP3673954B2
JP3673954B2 JP11975996A JP11975996A JP3673954B2 JP 3673954 B2 JP3673954 B2 JP 3673954B2 JP 11975996 A JP11975996 A JP 11975996A JP 11975996 A JP11975996 A JP 11975996A JP 3673954 B2 JP3673954 B2 JP 3673954B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
light
optical system
dark field
receiving means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP11975996A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09280859A (ja
Inventor
薫 熊谷
文夫 大友
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=14769475&utm_source=***_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3673954(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP11975996A priority Critical patent/JP3673954B2/ja
Priority to CN97110370A priority patent/CN1093255C/zh
Priority to EP97106197A priority patent/EP0802396B2/en
Priority to DE69726487T priority patent/DE69726487T3/de
Priority to US08/843,586 priority patent/US5893215A/en
Publication of JPH09280859A publication Critical patent/JPH09280859A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3673954B2 publication Critical patent/JP3673954B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G01C9/02Details
    • G01C9/06Electric or photoelectric indication or reading means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G01C9/02Details
    • G01C9/06Electric or photoelectric indication or reading means
    • G01C2009/066Electric or photoelectric indication or reading means optical

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、自由表面を有する液体部材を利用した傾斜センサに係わり、特に、測量機の傾斜センサに最適であり、1個のリニアセンサのみで、X軸及びY軸の2軸方向の傾きを検出することのできる傾斜センサ及びこれを使用した測量機に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来から測量機の傾きを検出する素子として、図9に示す気泡管10000が使用されていた。この気泡管10000は、内部に気泡5000を封入すると共に、電極6000、7000を形成し、静電容量を電気的に計測することにより、傾きを測定することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記気泡管10000は、外周部をガラスから構成しているため、衝撃に弱く、高い機械精度を要求されるので、コストが高いという問題点があった。
【0004】
更に、X、Y方向の傾きを計測するためには、2軸方向に2個の気泡管10000を必要とし、コスト高の原因となっていた。
【0005】
また、気泡管10000は、周囲の温度変化にも影響を受け、温度変化に対する補正等を施さなければならないという問題点があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題に鑑み案出されたもので、光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを転向させるためのハーフミラーと、このハーフミラーにより転向されたパターンを反射させるための自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材で反射されたパターンを結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像された像を受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されて構成されている。
【0007】
また本発明は、光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを斜め方向から入射する様に配置され、自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材で反射されたパターンを結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像されたパターンを受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されて構成されている。
【0008】
次に本発明は、光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを鉛直方向から入射する様に配置され、自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材を透過した光を結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像された像を受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されて構成されている。
【0009】
更に本発明は、暗視野パターンを転向させるためのハーフミラーを透過した光を反射させ、第2の光学系を経由し、同一の受光手段に入射させるための自由表面を有する第2の液体部材とを備えており、2方向使用可能に構成することもできる。
【0010】
そして本発明の受光手段は、複数のスリット列の像と直交する方向(X方向)に配置されたリニアセンサであり、演算処理手段が、パターンのピッチ間隔以上の動きを、リニアセンサに対する移動量により求め、パターンのピッチ間隔以下の動きを、フーリエ変換によるパターンの位相を演算することにより求めることにより、X方向の傾きを求める様になっており、Y方向に変化するスリット像の幅を利用することにより、Y方向の傾きを求める様に構成することもできる。
【0011】
また本発明は、自由表面を有する液体部材に代えて、揺動自在な懸垂部材とすることもできる。
【0012】
更に本発明の傾斜センサを使用した測量機は、測量装置本体に取り付けられており、測量装置本体のX方向及びY方向の傾きを検出する構成にすることもできる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以上の様に構成された本発明は、第1の光学系が、光源からの光を平行にし、暗視野パターンが、第1の光学系からの光を通過させ、ハーフミラーが暗視野パターンを転向させ、自由表面を有する第1の液体部材が、ハーフミラーにより転向されたパターンを反射させ、第2の光学系が、第1の液体部材で反射されたパターンを結像させ、受光手段が、第2の光学系で結像された像を受光し、演算処理手段が、受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算する様になっており、暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている。
【0014】
また本発明は、第1の光学系が、光源からの光を平行にし、暗視野パターンが、第1の光学系からの光を通過させ、自由表面を有する第1の液体部材が、暗視野パターンを斜め方向から入射する様に配置されており、第2の光学系が、第1の液体部材で反射されたパターンを結像させ、受光手段が、第2の光学系で結像されたパターンを受光し、演算処理手段が、受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算する様になっており、暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている。
【0015】
次に本発明は、第1の光学系が、光源からの光を平行にし、暗視野パターンが第1の光学系からの光を通過させ、自由表面を有する第1の液体部材が、暗視野パターンを鉛直方向から入射する様に配置されており、第2の光学系が、第1の液体部材を透過した光を結像させ、受光手段が、第2の光学系で結像された像を受光し、演算処理手段が、受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算する様になっており、暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている。
【0016】
更に本発明は、自由表面を有する第2の液体部材が、暗視野パターンを転向させるためのハーフミラーを透過した光を反射させ、第2の光学系を経由し、同一の受光手段に入射させる様になっており、2方向使用可能にすることもできる。
【0017】
そして本発明の受光手段は、リニアセンサを、複数のスリット列の像と直交する方向(X方向)に配置し、演算処理手段が、パターンのピッチ間隔以上の動きを、リニアセンサに対する移動量により求め、パターンのピッチ間隔以下の動きを、フーリエ変換によるパターンの位相を演算することにより求めることにより、X方向の傾きを求める様になっており、Y方向に変化するスリット像の幅を利用することにより、Y方向の傾きを求める様になっている。
【0018】
また本発明は、自由表面を有する液体部材に代えて、揺動自在な懸垂部材とすることもできる。
【0019】
更に本発明の傾斜センサを使用した測量機は、測量装置本体に取り付けられており、測量装置本体のX方向及びY方向の傾きを検出する様にすることもできる。
【0020】
【実施例】
【0021】
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【0022】
「第1実施例」
【0023】
図1は、本第1実施例の傾斜センサ1000の光学的構成を示すもので、光源100と、コンデンサーレンズ200と、暗視野パターン300と、第1のパターンリレーレンズ400と、ハーフミラー500と、自由表面を有する第1の液体部材600と、第2のパターンリレーレンズ700と、受光手段800と、演算処理手段900とから構成されている。
【0024】
本第1実施例の光源100はLEDであるが、何れの光源を使用することができる。
【0025】
コンデンサーレンズ200は、光源100からの光を平行にするためのものであり、第1の光学系に該当するものである。
【0026】
暗視野パターン300は、受光手段800にパターン像を形成するためのものである。
【0027】
図2は、本第1実施例の暗視野パターン300を示すもので、複数のスリット列310、310・・・・から構成されている。ここで、複数のスリット列310、310・・・・と直交する方向をX方向とし、スリット310の長手方向をY方向とする。
【0028】
この複数のスリット列310、310・・・・は、各スリット310の中心点が間隔Pで等間隔に配置されており、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている。
【0029】
第1のパターンリレーレンズ400は、暗視野パターン300を通過した光をハーフミラー500に導くものである。
【0030】
ハーフミラー500で転向された光は上方に向かい、自由表面を有する第1の液体部材600に入射する。そして、自由表面を有する第1の液体部材600で反射された光は、ハーフミラー500を透過して、下方の受光手段800に向かう様になっている。
【0031】
自由表面を有する第1の液体部材600は、シリコンオイル等の適度の粘性を有する液体が充填されている。第1の液体部材600は、自由表面を有するので、表面は必ず水平を保つ様になっている。
【0032】
第2のパターンリレーレンズ700は、自由表面を有する第1の液体部材600で反射され、ハーフミラー500を透過した光を、受光手段800上に結像するためのものである。即ち、第2のパターンリレーレンズ700は、暗視野パターン300の像を受光手段800上に形成するためのものである。
【0033】
なお、第2のパターンリレーレンズ700は、第2の光学系に該当するものであり、受光手段800から、第2のパターンリレーレンズ700の焦点距離f離れた位置に配置されている。
【0034】
受光手段800は、暗視野パターン300の像を受光し、電気信号に変換するためのものであり、本第1実施例では、CCD(電荷結合素子)リニアセンサが採用されている。
【0035】
演算処理手段900は、CPUを含む演算処理装置であり、全体の制御を司ると共に、暗視野パターン300のスリット像の移動距離を算出し、対応する傾き角を演算するためのものである。
【0036】
以上の様に構成された本第1実施例では、傾斜センサ1000が傾けば、第1の液体部材600の自由表面は水平を保つので、傾斜角度に比例して、受光手段800上の暗視野パターン300の像が移動することになる。
【0037】
ここで傾斜センサ1000が角度θ傾いた場合には、図6に示す様に、第1の液体部材600の屈折率をnとすると、自由表面からの反射光は2nθ傾くことになる。受光手段800であるリニアセンサ上の距離をLとすると、
【0038】
L=f*tan(2nθ) ・・・・・第1式
【0039】
となる。
【0040】
従って、暗視野パターン300のスリット310の移動量を受光手段800が検出し、演算処理手段900が傾き角に変換すれば、傾斜センサ1000の傾きθを測定することができる。
【0041】
「第2実施例」
【0042】
図3は、本第2実施例の傾斜センサ2000の光学的構成を示すもので、光源100と、コンデンサーレンズ200と、暗視野パターン300と、第1のパターンリレーレンズ400と、自由表面を有する第1の液体部材600と、第2のパターンリレーレンズ700と、受光手段800と、演算処理手段900とから構成されている。
【0043】
本第2実施例の傾斜センサ2000は、第1実施例の傾斜センサ1000の
ハーフミラー500が省略されており、第1のパターンリレーレンズ400により、自由表面を有する第1の液体部材600に対して、斜めの方向から光を入射させる構成となっており、自由表面を有する第1の液体部材600で反射した光も、斜めの方向に出射し、第2のパターンリレーレンズ700により、受光手段800上に結像する様になっている。従って受光手段800は、傾けて配置されている。
【0044】
なお、その他の構成は、第1実施例と同様であるから、説明を省略する。
【0045】
「第3実施例」
【0046】
図4は、本第3実施例の傾斜センサ3000の光学的構成を示すもので、光源100と、コンデンサーレンズ200と、暗視野パターン300と、第1のパターンリレーレンズ400と、自由表面を有する第1の液体部材600と、第2のパターンリレーレンズ700と、受光手段800と、演算処理手段900とから構成されている。
【0047】
本第3実施例の傾斜センサ3000は、第1実施例の傾斜センサ1000の
ハーフミラー500と第1のパターンリレーレンズ400とが省略されており、自由表面を有する第1の液体部材600に対して、鉛直上方の方向から光を入射させる構成となっており、自由表面を有する第1の液体部材600を透過した光は、鉛直下方に出射し、第2のパターンリレーレンズ700により、受光手段800上に結像する様になっている。
【0048】
なお、その他の構成は、第1実施例及び第2の実施例と同様であるから、説明を省略する。
【0049】
次に、演算処理手段900の傾き角の演算処理を詳細に説明する。
【0050】
受光手段800であるリニアセンサは、複数のスリット列310、310・・・・・の像と直交する方向(X方向)に配置されている。
【0051】
従って、X方向の傾き角については、図7に示す様に、スリット310・・・・・の特定のパターンをスタートパターンとして着目し、予め設定しておく水平基準位置から距離dxを測定すればよい。
【0052】
またピッチ間隔以下の距離に関しては、リニアセンサの出力のフーリエ変換を行うことにより、ピッチ間隔に対する水平基準位置との位相差φを計算し、
【0053】
φ*p/(2π) ・・・・・・第2式
【0054】
を求めることにより、ピッチ間隔以下の距離を高精度に測定可能である。そして、上記スタートパターンの距離から求めたピッチ間隔以上の距離と合わせることにより、全体の距離を演算することができる。
【0055】
そして演算処理手段900は、全体の移動量から、対応するX方向の傾き角を演算することができる。
【0056】
次にY方向の傾き角であるが、Y方向の傾き角は、幅が変化する3角形のスリット310bより演算する。
【0057】
即ち、X方向にリニアセンサが配置されているので、Y方向に傾くと、3角形のスリット310bの受光幅が変化することになる。この変化量は、Y方向の傾き角と比例するため、演算処理手段900はY方向に傾き角を算出することができる。
【0058】
Y方向の幅の測定は、図7に示す様に、リニアセンサの出力を微分することにより、その立ち上がりと立ち下がりの距離を測定することができる。また、測定精度を上げるために、全ての信号について演算を行い、平均の幅dyave を求め、フーリエ変換により得られたピッチ幅p及び予め決められた比例関係kより、リニアセンサ上の距離Lを
【0059】
L=k*dyave/p ・・・・・第3式
【0060】
と表すことができる。更に、第1式よりY方向の傾きを計算することができる。
【0061】
なお、幅が変化するスリットは、3角形に限ることなく、幅が変化し、傾きとの対応が設定されるものであればよい。
【0062】
以上の様に、1つのリニアセンサを利用するだけで、X方向及びY方向の2軸方向の傾きを検出することができる。
【0063】
また、リニアセンサでなく、エリアセンサを採用すれば、等間隔に形成された複数のスリット310、310・・・を使用することで、X方向及びY方向の2軸の傾きを検出することができる。
【0064】
更に、自由表面を有する第1の液体部材600に代えて、揺動自在な懸垂部材とすることもできる。
【0065】
「第4実施例」
【0066】
図5は、本第4実施例の傾斜センサ4000の光学的構成を示すもので、光源100と、コンデンサーレンズ200と、暗視野パターン300と、第1のパターンリレーレンズ400と、ハーフミラー500と、自由表面を有する第1の液体部材600と、自由表面を有する第2の液体部材610と、第2のパターンリレーレンズ700と、受光手段800と、演算処理手段900とから構成されている。
【0067】
上記第1の実施例と同様な方法にて実施する場合には、第1の液体部材600は自由表面を形成し、第2の液体部材610は光路上より外れるため、第1の実施例と同様な構成となる。
【0068】
図5に示す様に本第4実施例は、全体を左に90度回転させると、第2の液体部材610が自由表面を形成し、第1の液体部材600が光路から外れる様になる。即ち、第1実施例を90度回転させても使用可能な様に、第2の液体部材610を配置したものである。
【0069】
従って、傾斜センサ4000が傾けば、第2の液体部材610の自由表面は水平を保つため、傾斜角度に比例して、受光手段800上の暗視野パターン300の像が移動することになる。
【0070】
ハーフミラー500を透過したパターン像は、第2の液体部材610で反射し、更に、ハーフミラー500及び第2のパターンリレーレンズ700を経由して、受光手段800上に結像される。この場合、第1の液体部材600に入射した光は、液体が光路上より外れるため、反射されることはない。
【0071】
即ち、第2の液体部材610を追加するだけで、図5の傾斜センサ4000は2方向で使用可能となる。
【0072】
また、図10及び図11に示す様な電子式セオドライト20000等に傾斜センサを取り付ければ、測量装置本体のX方向及びY方向の傾きを検出することができる。
【0073】
【効果】
以上の様に構成された本発明は、光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを転向させるためのハーフミラーと、このハーフミラーにより転向されたパターンを反射させるための自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材で反射されたパターンを結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像された像を受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されているので、機械的強度が高く、高精度な傾斜センサを提供することができるという効果がある。
【0074】
そして本発明の受光手段は、受光手段は、複数のスリット列の像と直交する方向(X方向)に配置されたリニアセンサであり、演算処理手段が、パターンのピッチ間隔以上の動きを、リニアセンサに対する移動量により求め、パターンのピッチ間隔以下の動きを、フーリエ変換によるパターンの位相を演算することにより求めることにより、X方向の傾きを求める様に構成されており、Y方向に変化するスリット像の幅を利用することにより、Y方向の傾きを求める様に構成されているので、1つのリニアセンサで、X方向及びY方向の2軸の傾きを検出することができ、構造が簡便となって信頼性が向上し、コストも安価となるという卓越した効果がある。
【0075】
更に本発明は、スリット像のピッチ間隔以下の移動量については、演算処理手段が、フーリエ変換によりスリットパターンの位相を演算することにより算出するので、暗視野パターンの精度を必要以上に高くする必要がなく、高精度な傾き角測定を行うことができる。特に、フーリエ変換を使用しているので、暗視野パターンのスリットの形状誤差及びピッチ誤差が、最終的な傾き角には軽減されて伝播するという卓越した効果がある。
【0076】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の傾斜センサ1000の構成を示す図である。
【図2】本実施例の暗視野パターン300を説明する図である。
【図3】第2実施例の傾斜センサ2000の構成を示す図である。
【図4】第3実施例の傾斜センサ3000の構成を示す図である。
【図5】第4実施例の傾斜センサ4000の構成を示す図である。
【図6】第1実施例の第1の流体部材600を説明する図である。
【図7】演算処理手段900の傾き角の演算処理を説明する図である。
【図8】演算処理手段900の傾き角の演算処理を説明する図である。
【図9】従来技術を説明する図である。
【図10】本実施例を電子式セオドライト20000に応用した例を説明する図である。
【図11】本実施例を電子式セオドライト20000に応用した例を説明する図である。
【符号の説明】
20000 電子式セオドライト
1000 第1実施例の傾斜センサ
2000 第2実施例の傾斜センサ
3000 第3実施例の傾斜センサ
4000 第4実施例の傾斜センサ
100 光源
200 コンデンサーレンズ
300 暗視野パターン
310 スリット
400 第1のパターンリレーレンズ
500 ハーフミラー
600 自由表面を有する第1の液体部材
610 自由表面を有する第2の液体部材
700 第2のパターンリレーレンズ
800 受光手段
900 演算処理手段

Claims (7)

  1. 光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを転向させるためのハーフミラーと、このハーフミラーにより転向されたパターンを反射させるための自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材で反射されたパターンを結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像された像を受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている傾斜センサ。
  2. 光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを斜め方向から入射する様に配置され、自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材で反射されたパターンを結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像されたパターンを受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている傾斜センサ。
  3. 光源と、この光源からの光を平行にするための第1の光学系と、この第1の光学系からの光を通過させる暗視野パターンと、この暗視野パターンを鉛直方向から入射する様に配置され、自由表面を有する第1の液体部材と、この第1の液体部材を透過した光を結像させるための第2の光学系と、この第2の光学系で結像された像を受光するための受光手段と、この受光手段の受光信号に基づき、傾きを演算するための演算処理手段とからなり、前記暗視野パターンは、複数のスリットから形成されており、一方向にはパターンの中心線が等ピッチに配置され、かつ、直交する方向に沿ってはパターン幅が変化する様に配置されている傾斜センサ。
  4. 暗視野パターンを転向させるためのハーフミラーを透過した光を反射させ、第2の光学系を経由し、同一の受光手段に入射させるための自由表面を有する第2の液体部材とを備えており、2方向使用可能に構成されている請求項1記載の傾斜センサ。
  5. 受光手段は、複数のスリット列の像と直交する方向(X方向)に配置されたリニアセンサであり、演算処理手段が、パターンのピッチ間隔以上の動きを、リニアセンサに対する移動量により求め、パターンのピッチ間隔以下の動きを、フーリエ変換によるパターンの位相を演算することにより求めることにより、X方向の傾きを求める様に構成されており、Y方向に変化するスリット像の幅を利用することにより、Y方向の傾きを求める様に構成されている請求項1〜4の何れか1項記載の傾斜センサ。
  6. 自由表面を有する液体部材に代えて、揺動自在な懸垂部材となっている請求項1〜5の何れか1項記載の傾斜センサ。
  7. 測量装置本体に取り付けられており、測量装置本体のX方向及びY方向の傾きを検出する請求項1〜6の何れか1項記載の傾斜センサを使用した測量機。
JP11975996A 1996-04-17 1996-04-17 傾斜センサ及びこれを使用した測量機 Expired - Lifetime JP3673954B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11975996A JP3673954B2 (ja) 1996-04-17 1996-04-17 傾斜センサ及びこれを使用した測量機
CN97110370A CN1093255C (zh) 1996-04-17 1997-04-14 倾斜传感器以及采用它的测量仪
EP97106197A EP0802396B2 (en) 1996-04-17 1997-04-15 Inclination sensor and surveying instrument using the same
DE69726487T DE69726487T3 (de) 1996-04-17 1997-04-15 Neigungssensor und diesen verwendendes Vermessungsinstrument
US08/843,586 US5893215A (en) 1996-04-17 1997-04-16 Inclination sensor and surveying instrument using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11975996A JP3673954B2 (ja) 1996-04-17 1996-04-17 傾斜センサ及びこれを使用した測量機

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09280859A JPH09280859A (ja) 1997-10-31
JP3673954B2 true JP3673954B2 (ja) 2005-07-20

Family

ID=14769475

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11975996A Expired - Lifetime JP3673954B2 (ja) 1996-04-17 1996-04-17 傾斜センサ及びこれを使用した測量機

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5893215A (ja)
EP (1) EP0802396B2 (ja)
JP (1) JP3673954B2 (ja)
CN (1) CN1093255C (ja)
DE (1) DE69726487T3 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3787736B2 (ja) * 1997-10-08 2006-06-21 株式会社トプコン 傾斜センサ
AUPP561398A0 (en) * 1998-09-02 1998-09-24 Connolly, Michael Laser level assembly
US6473714B1 (en) * 1998-09-29 2002-10-29 Kabushiki Kaisha Topcon Inclination measuring apparatus
JP4653898B2 (ja) 2001-03-28 2011-03-16 株式会社トプコン 傾斜検出装置
DE202004010922U1 (de) * 2004-07-12 2005-11-24 Leica Geosystems Ag Neigungssensor
CN100395520C (zh) * 2004-12-23 2008-06-18 西安华腾光电有限责任公司 高精度光电三维倾角测量方法及其测量仪
JP2007127628A (ja) * 2005-10-07 2007-05-24 Topcon Corp 位置検出装置及びこれを使用した測量機の傾斜センサ装置
US7733506B2 (en) * 2007-03-29 2010-06-08 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. Optical tilt monitoring apparatus
CN101825461B (zh) * 2010-02-10 2012-06-27 浙江工业大学 基于圆柱形模型的平台调平装置
CN101900548B (zh) * 2010-02-11 2012-07-25 浙江工业大学 基于机器视觉的全方位倾斜传感器
CN104669153B (zh) * 2013-12-02 2017-02-08 昌河飞机工业(集团)有限责任公司 桨叶扭角测量夹具及其方法
JP6324270B2 (ja) * 2014-08-28 2018-05-16 株式会社トプコン 測定装置および傾斜センサ装置
JP2016109602A (ja) * 2014-12-09 2016-06-20 株式会社トプコン 傾斜検出装置
CN105004319A (zh) * 2015-06-01 2015-10-28 苏州一光仪器有限公司 倾斜传感器
CN109073371B (zh) * 2016-04-19 2020-06-02 Abb瑞士股份有限公司 倾斜检测的设备及方法
CN109540102A (zh) * 2018-12-14 2019-03-29 中铁建设集团有限公司 一种基于ccd线阵的高精度倾角测量装置及方法
CN110631552A (zh) * 2019-09-27 2019-12-31 西安华腾光电有限责任公司 一种光电式液体摆二维倾角传感器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3009255A (en) * 1957-04-25 1961-11-21 Motorola Inc Horizon indicating system
GB1550339A (en) * 1975-08-28 1979-08-15 Elliott Brothers London Ltd Optical angular position sensors
FR2564580B1 (fr) * 1984-05-16 1986-10-31 Dousset Robert Niveau a bulle quatre quadrants
CH673707A5 (ja) * 1987-07-24 1990-03-30 Kern & Co Ag
GB8719154D0 (en) 1987-08-13 1987-09-23 Coal Industry Patents Ltd Optically measuring relative angular movement
CH677403A5 (en) * 1988-06-17 1991-05-15 Wild Leitz Ag Dual-axis inclination indicator - has imaged markings on rotatable disc split into measuring channel and reference channel for phase comparison
DE4110858A1 (de) * 1991-04-04 1992-10-08 Wild Heerbrugg Ag Zweiachsiger neigungsmesser
JP2913984B2 (ja) 1992-03-11 1999-06-28 株式会社ニコン 傾斜角測定装置
WO1994011704A1 (en) * 1992-11-12 1994-05-26 Kabushiki Kaisha Topcon Automatic inclination angle compensator
JPH07208986A (ja) * 1994-01-17 1995-08-11 Nikon Corp 傾斜角測定装置
KR960001716A (ko) * 1994-06-17 1996-01-25 전성원 경사 감지센서
JPH0814903A (ja) * 1994-06-23 1996-01-19 Nikon Corp 測量機

Also Published As

Publication number Publication date
CN1167907A (zh) 1997-12-17
CN1093255C (zh) 2002-10-23
JPH09280859A (ja) 1997-10-31
DE69726487D1 (de) 2004-01-15
US5893215A (en) 1999-04-13
DE69726487T3 (de) 2008-05-21
EP0802396B1 (en) 2003-12-03
EP0802396A3 (en) 1998-11-25
EP0802396A2 (en) 1997-10-22
EP0802396B2 (en) 2007-12-26
DE69726487T2 (de) 2004-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3673954B2 (ja) 傾斜センサ及びこれを使用した測量機
JP3119715B2 (ja) 2軸式傾斜測定装置
KR100576526B1 (ko) 거리 측정 장치
JP3787736B2 (ja) 傾斜センサ
JP2913984B2 (ja) 傾斜角測定装置
JP3965593B2 (ja) 測量機の求心位置測定装置及び測量機
US6473714B1 (en) Inclination measuring apparatus
JP2005529323A5 (ja)
US7692777B1 (en) Optical clinometer
JPH0345322B2 (ja)
US4641961A (en) Apparatus for measuring the optical characteristics of an optical system to be examined
JP4653898B2 (ja) 傾斜検出装置
JP4074971B2 (ja) 傾斜設定回転レーザー装置
JP4243695B2 (ja) 位置測定装置及びこれを使用した測量機
JP3421922B2 (ja) アライメント変動測定装置
JPH0798429A (ja) 距離計測装置
JP3883083B2 (ja) 移動物体の位置及び姿勢検出方法
SU1052864A1 (ru) Устройство дл измерени углов наклона объекта
JPH0453532Y2 (ja)
SU1370455A1 (ru) Устройство дл измерени угла отклонени объекта
JPS6262209A (ja) 傾斜角測定装置
JPH01233307A (ja) 差動オートコリメーションセンサ
JPS6285813A (ja) 距離測定装置
JPH0464408B2 (ja)
JPH0479523B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050104

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050303

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050405

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050414

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090513

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090513

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100513

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110513

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110513

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120513

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130513

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140513

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term